JP2010135792A - 1次化学的機械的研磨用スラリー組成物および化学的機械的研磨方法 - Google Patents
1次化学的機械的研磨用スラリー組成物および化学的機械的研磨方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010135792A JP2010135792A JP2009274699A JP2009274699A JP2010135792A JP 2010135792 A JP2010135792 A JP 2010135792A JP 2009274699 A JP2009274699 A JP 2009274699A JP 2009274699 A JP2009274699 A JP 2009274699A JP 2010135792 A JP2010135792 A JP 2010135792A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- copper
- acid
- slurry composition
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K3/00—Materials not provided for elsewhere
- C09K3/14—Anti-slip materials; Abrasives
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K3/00—Materials not provided for elsewhere
- C09K3/14—Anti-slip materials; Abrasives
- C09K3/1454—Abrasive powders, suspensions and pastes for polishing
- C09K3/1463—Aqueous liquid suspensions
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09G—POLISHING COMPOSITIONS; SKI WAXES
- C09G1/00—Polishing compositions
- C09G1/02—Polishing compositions containing abrasives or grinding agents
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/3205—Deposition of non-insulating-, e.g. conductive- or resistive-, layers on insulating layers; After-treatment of these layers
- H01L21/321—After treatment
- H01L21/32115—Planarisation
- H01L21/3212—Planarisation by chemical mechanical polishing [CMP]
Abstract
【解決手段】前記1次化学的機械的研磨用スラリー組成物は、研磨粒子;酸化剤;有機酸;所定の腐蝕抑制剤;および重量平均分子量3,000乃至100,000のポリビニルピロリドンを含む高分子添加剤;を含み、銅膜に対する研磨率:タンタル膜に対する研磨率が30:1以上の研磨選択比を有する。
【選択図】図1
Description
前記1次CMP用スラリー組成物は、研磨対象膜の機械的研磨のための研磨粒子を含む。このような研磨粒子としては、以前からCMP用スラリー組成物に研磨粒子として使用されていた通常の物質粒子を特別な制限なく使用することができ、例えば金属酸化物粒子、有機粒子、または有機無機複合粒子などを使用することができる。
先ず、1次CMP用スラリー組成物の製造のための各構成成分としては、次のような物質を使用した。研磨粒子であるシリカとしては、扶桑化学工業株式会社のコロイダルシリカ Quartron PLのシリーズのうちのPL−1またはPL−3Lを購入して使用し、ポリビニルピロリドン高分子添加剤の溶解度を上昇させるために、各スラリー組成物に対してドデシルベンゼンスルホン酸(DBSA)500ppmを添加した。
まず、1L入りのポリプロピレン瓶に研磨粒子、有機酸、腐蝕抑制剤、および酸化剤を表1に示した組成の通り添加し、脱イオン水を添加した後、pH調節剤を使用してpHを調節し、スラリー組成物全体の重量を合わせた。このような組成物を10分間高速攪拌して、最終的に実施例1乃至16の1次CMP用スラリー組成物を製造した。
*前記表1の組成で、表1に示した各成分の含有量、及び表1に示していないドデシルベンゼンスルホン酸(DBSA)およびpH調節剤の含有量を除いた残量は、水の含有量になる。
*前記表1で、DPEA:4,4’−ジピリジルエタン、APS:過硫酸アンモニウム、PVP:ポリビニルピロリドンをそれぞれ示す。また、Random:aldrich社のプロピレンオキシドエチレンオキシドランダム共重合体、F88:BASF社のプロピレンオキシドエチレンオキシド共重合体、Surfynol 485:エチレンオキシド85重量%を含有するAir product社の界面活性剤をそれぞれ示す。
1次CMP用スラリーの組成を以下の表2のように異ならせたことを除いては、前記実施例1乃至16と同様な方法で、比較例1乃至3の1次CMP用スラリー組成物を製造した。
*前記表2の組成で、表2に示した各成分の含有量、及び表2に示していないドデシルベンゼンスルホン酸(DBSA)およびpH調節剤の含有量を除いた残量は、水の含有量になる。
*前記表2で、DPEA:4,4’−ジピリジルエタン、APS:過硫酸アンモニウム、PEG:ポリエチレングリコールをそれぞれ示す。
前記実施例1乃至16および比較例1乃至3のスラリー組成物を使用して、次の通り研磨工程を試験進行した後、その研磨特性を次の方法で評価した。
次のような研磨対象膜が形成されたウェハーに対して実施例1乃至16および比較例1乃至3のスラリー組成物をそれぞれ使用して、CMP方法で研磨を進めた。
○PVD(物理的気相蒸着法;Physical Vapor Deposition)により銅膜15,000Åが蒸着された8インチウェハー
○PVDによりタンタル膜3,000Åが蒸着された8インチウェハー
○PETEOSによりシリコン酸化膜7,000Åが蒸着された8インチウェハー
この時、研磨を進めた具体的な条件は、次の通りである。
研磨装備:UNIPLA210(斗山メカテク社)
研磨パッド:IC1000/SubaIV Stacked(Rodel社)
定盤速度:24rpm
ヘッド速度:100rpm
ウェハー圧力:1.5psi
リテーナーリング圧力:2.5psi
スラリー流速:200ml/min
研磨装備:GnP Poli−500(ジーエヌピーテクノロジー社)
研磨パッド:IC1000/SubaIV Stacked(Rodel社)
定盤速度:93rpm
ヘッド速度:87rpm
ウェハー圧力:1.5psi
リテーナーリング圧力:3.5psi
スラリー流速:200ml/min
銅膜またはタンタル膜の金属膜の厚さは、LEI1510 Rs Mapping(LEI社)を使用して各薄膜の面抵抗を測定した後、次の式で算出した。
[銅膜の厚さ(Å)]=[銅膜比抵抗値(Ω/cm)÷シート抵抗値(Ω/square(□))]×108
[タンタル膜の厚さ(Å)]=[タンタル膜比抵抗値(Ω/cm)÷シート抵抗値(Ω/square(□))]×108
シリコン酸化膜の厚さは、Nanospec6100装備を使用して測定した。
Claims (23)
- 研磨粒子;酸化剤;有機酸;ピリジン系化合物、ピラゾール系化合物、およびキノリン系化合物からなるグループより選択される少なくとも1種以上の腐蝕抑制剤;および重量平均分子量3,000乃至100,000であるポリビニルピロリドンを含む高分子添加剤;を含み、
銅膜に対する研磨率:タンタル膜に対する研磨率が30:1以上の研磨選択比を有する、1次化学的機械的研磨用スラリー組成物。 - 銅膜に対して3,000Å/min以上の研磨率を示す、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 銅膜を研磨した後、前記銅膜のウェハー内の研磨均一度が5%以下である、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記研磨粒子は、シリカ粒子、アルミナ粒子、セリア粒子、ジルコニア粒子、チタニア粒子、スチレン系重合体粒子、アクリル系重合体粒子、ポリ塩化ビニル粒子、およびポリアミド粒子からなるグループより選択された少なくとも1種以上を含む、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記研磨粒子は、10乃至500nmの平均粒径を有する、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記酸化剤は、過酸化水素、過酢酸、過安息香酸、tert−ブチルヒドロペルオキシド、過硫酸アンモニウム(APS)、過硫酸カリウム(KPS)、次亜塩素酸、過マンガン酸カリウム、硝酸鉄、フェリシアン化カリウム、過ヨウ素酸カリウム、次亜塩素酸ナトリウム、三酸化バナジウム、および臭素酸カリウムからなるグループより選択された少なくとも一つ以上を含む、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記有機酸は、アラニン、グリシン、シスチン、ヒスチジン、およびこれらの塩からなるグループより選択された少なくとも一つ以上のアミノ酸を含む、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記有機酸は、アスパラギン、グアニジン、ヒドラジン、エチレンジアミン、およびこれらの塩からなるグループより選択された少なくとも一つ以上のアミン系化合物を含む、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記有機酸は、マレイン酸、リンゴ酸、酒石酸、クエン酸、マロン酸、ギ酸、酢酸、乳酸、ピリジンカルボン酸、ピリジルジカルボン酸およびこれらの塩からなるグループより選択された少なくとも一つ以上のカルボン酸化合物を含む、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記腐蝕抑制剤は、4,4’−ジピリジルエタン、4,4’−ジピリジルエテン、4,4’−ジピリジルプロパン、4,4’−ジピリジルプロペン、3,5−ピラゾールジカルボン酸、キナルジン酸、2−キナゾリンカルボン酸、4−キナゾリンカルボン酸、2−キノリンカルボキシアルデヒド、8−キノリノール、2−キノリノール、およびこれらの塩からなるグループより選択された少なくとも一つ以上を含む、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記高分子添加剤は、プロピレンオキシドエチレンオキシド共重合体、ポリエチレングリコール、およびポリオキシエチレンエーテルからなるグループより選択された少なくとも一つ以上の高分子を更に含む、請求項1に記載のスラリー組成物。
- ドデシルベンゼンスルホン酸またはドデシルスルフェートを更に含む、請求項1に記載のスラリー組成物。
- pH調節剤を更に含む、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記pH調節剤は、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、アンモニア水、水酸化ルビジウム、水酸化セシウム、炭酸水素ナトリウム、および炭酸ナトリウムからなるグループより選択された少なくとも一つ以上の塩基性pH調節剤;または塩酸、硝酸、硫酸、燐酸、ギ酸および酢酸からなるグループより選択された少なくとも一つ以上の酸性pH調節剤;を含む、請求項13に記載のスラリー組成物。
- 0.1乃至30重量%の研磨粒子、0.1乃至10重量%の酸化剤、0.05乃至2重量%の有機酸、0.001乃至2重量%の腐蝕抑制剤、0.0001乃至1重量%の高分子添加剤、残量のpH調節剤および水を含む、請求項13に記載のスラリー組成物。
- 銅含有膜の1次化学的機械的研磨のために使用される、請求項1に記載のスラリー組成物。
- 前記銅含有膜は、半導体素子の銅配線層を含む、請求項16に記載のスラリー組成物。
- 基板上の銅含有膜と研磨パッドとの間に請求項1のスラリー組成物を供給して、前記銅含有膜および研磨パッドを接触させた状態で相対的に移動させて、前記銅含有膜を1次研磨する段階を含む、化学的機械的研磨方法。
- 前記1次研磨された銅含有膜と研磨パッドとの間に2次化学的機械的研磨用スラリー組成物を供給して、前記銅含有膜および研磨パッドを接触させた状態で相対的に移動させて、前記銅含有膜を2次研磨する段階を更に含む、請求項18に記載の化学的機械的研磨方法。
- 前記銅含有膜は、前記基板上の研磨停止層および銅配線層を含み、前記1次研磨段階は、前記研磨停止層の上面が露出されるまで進められる、請求項18に記載の化学的機械的研磨方法。
- 前記研磨停止層は、タンタル含有膜を含む、請求項20に記載の化学的機械的研磨方法。
- 前記銅含有膜および研磨パッドを接触させた状態で停止した研磨パッド上で基板を回転させて、前記基板上の銅含有膜を研磨する、請求項18または請求項19に記載の化学的機械的研磨方法。
- 前記銅含有膜および研磨パッドを接触させた状態で前記研磨パッドおよび基板を回転させて、前記基板上の銅含有膜を研磨する、請求項18または請求項19に記載の化学的機械的研磨方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20080122084 | 2008-12-03 | ||
KR10-2008-0122084 | 2008-12-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010135792A true JP2010135792A (ja) | 2010-06-17 |
JP5572371B2 JP5572371B2 (ja) | 2014-08-13 |
Family
ID=42241043
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009274699A Active JP5572371B2 (ja) | 2008-12-03 | 2009-12-02 | 1次化学的機械的研磨用スラリー組成物および化学的機械的研磨方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100151684A1 (ja) |
JP (1) | JP5572371B2 (ja) |
KR (1) | KR101084676B1 (ja) |
TW (1) | TWI412582B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013042132A (ja) * | 2011-08-15 | 2013-02-28 | Rohm & Haas Electronic Materials Cmp Holdings Inc | 銅をケミカルメカニカルポリッシングするための方法 |
JP2014116557A (ja) * | 2012-12-12 | 2014-06-26 | Fujimi Inc | 研磨用組成物およびその利用 |
JP2015528036A (ja) * | 2012-07-11 | 2015-09-24 | キャボット マイクロエレクトロニクス コーポレイション | 窒化ケイ素材料の選択的な研磨のための組成物および方法 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2577281C2 (ru) * | 2010-09-08 | 2016-03-10 | Басф Се | Водная полирующая композиция и способ химико-механического полирования материалов подложек для электрических, механических и оптических устройств |
JP2014027012A (ja) * | 2012-07-24 | 2014-02-06 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置 |
KR101526006B1 (ko) * | 2012-12-31 | 2015-06-04 | 제일모직주식회사 | 구리 연마용 cmp 슬러리 조성물 및 이를 이용한 연마 방법 |
US9340706B2 (en) * | 2013-10-10 | 2016-05-17 | Cabot Microelectronics Corporation | Mixed abrasive polishing compositions |
US20150104940A1 (en) | 2013-10-11 | 2015-04-16 | Air Products And Chemicals Inc. | Barrier chemical mechanical planarization composition and method thereof |
KR101655849B1 (ko) * | 2014-08-26 | 2016-09-08 | 주식회사 케이씨텍 | 다공성 연마입자 및 이를 포함하는 연마용 슬러리 조성물 |
US9530655B2 (en) * | 2014-09-08 | 2016-12-27 | Taiwan Semiconductor Manufacting Company, Ltd. | Slurry composition for chemical mechanical polishing of Ge-based materials and devices |
CN105778774A (zh) * | 2014-12-23 | 2016-07-20 | 安集微电子(上海)有限公司 | 一种化学机械抛光液 |
JP7027323B2 (ja) * | 2016-10-21 | 2022-03-01 | 株式会社Adeka | エッチング液組成物及びエッチング方法 |
JP7330966B2 (ja) * | 2017-11-22 | 2023-08-22 | ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア | 化学機械研磨組成物 |
KR102308353B1 (ko) * | 2018-10-05 | 2021-10-01 | 삼성에스디아이 주식회사 | 구리 배리어층 연마용 cmp 슬러리 조성물 및 이를 이용한 연마 방법 |
FR3103894A1 (fr) | 2019-12-03 | 2021-06-04 | Damae Medical | Dispositifs et procédés de microscopie à balayage linéaire |
CN113122142B (zh) * | 2019-12-31 | 2024-04-12 | 安集微电子科技(上海)股份有限公司 | 一种化学机械抛光液 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003282494A (ja) * | 2002-03-22 | 2003-10-03 | Asahi Kasei Corp | 金属用研磨組成物 |
JP2007088424A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-04-05 | Jsr Corp | 化学機械研磨用水系分散体、該水系分散体を調製するためのキット、化学機械研磨方法、および半導体装置の製造方法 |
WO2007116770A1 (ja) * | 2006-04-03 | 2007-10-18 | Jsr Corporation | 化学機械研磨用水系分散体および化学機械研磨方法、ならびに化学機械研磨用水系分散体を調製するためのキット |
WO2008044477A1 (fr) * | 2006-10-06 | 2008-04-17 | Jsr Corporation | Dispersion aqueuse pour polissage chimico-mécanique et procédé de polissage chimico-mécanique pour dispositif semi-conducteur |
WO2008082177A1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-10 | Lg Chem, Ltd. | Cmp slurry composition for forming metal wiring line |
WO2008117573A1 (ja) * | 2007-03-27 | 2008-10-02 | Jsr Corporation | 化学機械研磨用水系分散体、該水系分散体を調製するためのキット、化学機械研磨方法、および半導体装置の製造方法 |
JP2008277723A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-11-13 | Fujifilm Corp | 金属用研磨液及び研磨方法 |
JP2008288509A (ja) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Fujifilm Corp | 金属用研磨液 |
JP2008288537A (ja) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Fujifilm Corp | 金属用研磨液及び化学的機械的研磨方法 |
JP2010016341A (ja) * | 2008-02-06 | 2010-01-21 | Jsr Corp | 化学機械研磨用水系分散体およびその製造方法、ならびに化学機械研磨方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6276996B1 (en) * | 1998-11-10 | 2001-08-21 | Micron Technology, Inc. | Copper chemical-mechanical polishing process using a fixed abrasive polishing pad and a copper layer chemical-mechanical polishing solution specifically adapted for chemical-mechanical polishing with a fixed abrasive pad |
EP1068928A3 (en) * | 1999-02-11 | 2003-08-13 | Applied Materials, Inc. | Chemical mechanical polishing processes and components |
JP3941284B2 (ja) * | 1999-04-13 | 2007-07-04 | 株式会社日立製作所 | 研磨方法 |
ATE405618T1 (de) * | 1999-08-13 | 2008-09-15 | Cabot Microelectronics Corp | Chemisch-mechanische poliersysteme und verfahren zu ihrer verwendung |
WO2003094216A1 (fr) * | 2002-04-30 | 2003-11-13 | Hitachi Chemical Co., Ltd. | Fluide de polissage et procede de polissage |
CN1919955A (zh) * | 2005-08-24 | 2007-02-28 | 捷时雅株式会社 | 化学机械研磨用水性分散质、配制该分散质的工具、化学机械研磨方法及半导体装置的制造方法 |
US20080135520A1 (en) * | 2006-12-12 | 2008-06-12 | Tao Sun | Chemical composition for chemical mechanical planarization |
JP2008177180A (ja) * | 2007-01-16 | 2008-07-31 | Ebara Corp | 配線基板研磨用前処理液、研磨方法、配線基板製造方法及び配線基板製造装置 |
JP2009081200A (ja) * | 2007-09-25 | 2009-04-16 | Fujifilm Corp | 研磨液 |
-
2009
- 2009-11-25 KR KR1020090114477A patent/KR101084676B1/ko active IP Right Grant
- 2009-12-02 TW TW098141166A patent/TWI412582B/zh active
- 2009-12-02 JP JP2009274699A patent/JP5572371B2/ja active Active
- 2009-12-03 US US12/630,556 patent/US20100151684A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003282494A (ja) * | 2002-03-22 | 2003-10-03 | Asahi Kasei Corp | 金属用研磨組成物 |
JP2007088424A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-04-05 | Jsr Corp | 化学機械研磨用水系分散体、該水系分散体を調製するためのキット、化学機械研磨方法、および半導体装置の製造方法 |
WO2007116770A1 (ja) * | 2006-04-03 | 2007-10-18 | Jsr Corporation | 化学機械研磨用水系分散体および化学機械研磨方法、ならびに化学機械研磨用水系分散体を調製するためのキット |
WO2008044477A1 (fr) * | 2006-10-06 | 2008-04-17 | Jsr Corporation | Dispersion aqueuse pour polissage chimico-mécanique et procédé de polissage chimico-mécanique pour dispositif semi-conducteur |
WO2008082177A1 (en) * | 2006-12-29 | 2008-07-10 | Lg Chem, Ltd. | Cmp slurry composition for forming metal wiring line |
WO2008117573A1 (ja) * | 2007-03-27 | 2008-10-02 | Jsr Corporation | 化学機械研磨用水系分散体、該水系分散体を調製するためのキット、化学機械研磨方法、および半導体装置の製造方法 |
JP2008277723A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-11-13 | Fujifilm Corp | 金属用研磨液及び研磨方法 |
JP2008288509A (ja) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Fujifilm Corp | 金属用研磨液 |
JP2008288537A (ja) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Fujifilm Corp | 金属用研磨液及び化学的機械的研磨方法 |
JP2010016341A (ja) * | 2008-02-06 | 2010-01-21 | Jsr Corp | 化学機械研磨用水系分散体およびその製造方法、ならびに化学機械研磨方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013042132A (ja) * | 2011-08-15 | 2013-02-28 | Rohm & Haas Electronic Materials Cmp Holdings Inc | 銅をケミカルメカニカルポリッシングするための方法 |
TWI594310B (zh) * | 2011-08-15 | 2017-08-01 | 羅門哈斯電子材料Cmp控股公司 | 用於化學機械研磨銅之方法 |
KR101945221B1 (ko) | 2011-08-15 | 2019-02-07 | 롬 앤드 하스 일렉트로닉 머티리얼스 씨엠피 홀딩스 인코포레이티드 | 구리의 화학 기계적 연마 방법 |
JP2015528036A (ja) * | 2012-07-11 | 2015-09-24 | キャボット マイクロエレクトロニクス コーポレイション | 窒化ケイ素材料の選択的な研磨のための組成物および方法 |
JP2014116557A (ja) * | 2012-12-12 | 2014-06-26 | Fujimi Inc | 研磨用組成物およびその利用 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101084676B1 (ko) | 2011-11-22 |
TWI412582B (zh) | 2013-10-21 |
KR20100063656A (ko) | 2010-06-11 |
JP5572371B2 (ja) | 2014-08-13 |
TW201030134A (en) | 2010-08-16 |
US20100151684A1 (en) | 2010-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5572371B2 (ja) | 1次化学的機械的研磨用スラリー組成物および化学的機械的研磨方法 | |
JP5625044B2 (ja) | 化学的機械的研磨用スラリー | |
TWI484022B (zh) | 化學機械拋光用之水性泥漿組成物以及化學機械拋光方法 | |
US8137580B2 (en) | CMP slurry composition for forming metal wiring line | |
KR101032504B1 (ko) | Cmp 슬러리 | |
TWI478227B (zh) | 用於基板之化學機械研磨之方法 | |
KR101144419B1 (ko) | 금속-함유 기판의 화학 기계적 평탄화를 위한 방법 및 조성물 | |
US20050194563A1 (en) | Bicine/tricine containing composition and method for chemical-mechanical planarization | |
US20100164106A1 (en) | CMP Slurry Composition for Barrier Polishing for Manufacturing Copper Interconnects, Polishing Method Using the Composition, and Semiconductor Device Manufactured by the Method | |
JP2006517741A (ja) | 選択的バリヤ金属研磨溶液 | |
KR101153685B1 (ko) | 연마 조성물 | |
US20080029126A1 (en) | Compositions and methods for improved planarization of copper utilizing inorganic oxide abrasive | |
KR20100022302A (ko) | Cmp 슬러리 | |
KR20160125189A (ko) | 연마 슬러리 조성물 | |
KR101095615B1 (ko) | Cmp 슬러리 | |
TWI701323B (zh) | 用於研磨銅阻障層的漿料組成物 | |
KR102210252B1 (ko) | 구리 배리어층 연마용 cmp 슬러리 조성물 및 이를 이용한 연마 방법 | |
JP5524385B2 (ja) | 研磨液 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120131 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120501 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120508 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120530 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120604 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120702 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120705 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120720 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120925 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130125 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130204 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20130412 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130723 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130731 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20140226 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20140303 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140630 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5572371 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |