JP2010114141A - 受光・発光一体型光半導体装置および電子機器 - Google Patents

受光・発光一体型光半導体装置および電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】近接する受光素子と発光素子との間の光学的または電磁的な干渉を防止する。
【解決手段】リードフレーム11上に搭載された発光素子12と受光素子17とをシリコーン樹脂14,19で個別に覆い、シリコーン樹脂14,19における発光素子12の発光部と受光素子17の受光部とに対向する領域を除いた領域とドライバーIC13と集積回路チップ18とを、遮光性モールド樹脂15,20で個別に封止して、発光素子部16と受光素子部21とを形成し、全体を透光性モールド樹脂22で覆う。さらに、両素子部16,21間の透光性モールド樹脂22に溝24を形成し、この溝24内にグラウンド端子23を配置する。こうして、溝24で両素子部16,21間を遮光して、両素子12,17をPDやLED等の小さい半導体素子で構成して互いを近接可能にする。また、グラウンド端子23でドライバーIC13や集積回路チップ18からの電磁ノイズを除去する。
【選択図】図1

Description

この発明は、発光素子および受光素子を有する受光・発光一体型光半導体装置、および、この受光・発光一体型光半導体装置を備えた電子機器に関する。
従来より、発光ダイオード(LED)やフォトダイオード(PD)等の半導体素子と光ファイバーとを結合させた光半導体装置が知られており、機器間や家庭内や自動車内での光通信に利用されている。
これらの光半導体装置としては、図16に示すように、透明樹脂を用いたトランスファー成型を利用して作製された光結合器が広く使用されている。図16に示す光結合器においては、リードフレーム1に配置されたLEDやPD等の半導体素子2を透明樹脂モールド3で覆い、透明樹脂モールド3の表面に形成されたレンズ4によって、半導体素子2と光ファイバー5とを光学的に結合させている。尚、半導体素子2は、リードフレーム1とワイヤー6によって電気的に結合されている。さらに、半導体素子2を駆動・制御するための半導体素子7が、リードフレーム1に搭載されている場合もある。このようなトランスファ成型を利用した光結合器は、例えば、ガラスレンズを使用した光結合器の場合と比較すると、安価で作製が容易であるという特徴を有している。
一方、樹脂モールド材料にフィラーを添加することによって、熱膨張係数や熱伝導率を調整できることが知られており、光学特性を必要としない半導体素子の場合には、フィラーが添加されたモールド樹脂(通常は黒色)によって封止が行われている。
しかしながら、上述したような透明樹脂モールドを用いた光結合器の場合には、光学特性を重視するため、目的の特性を十分に得るための量のフィラーを添加できないため、耐環境性(耐熱衝撃・耐熱性)が劣るという問題がある。
そのため、特開2000‐173947号公報(特許文献1)に開示されたプラスティックパケージの如く、リードフレームにおけるダイパッドの上面にCCD(Charge Coupled Devices:電荷結合素子)チップを実装し、CCDチップの受光部に絶縁性および光透過性のガラス製レンズをダイレクトボンディングし、CCDチップの受光部を除いた部分を絶縁性のモールド樹脂材料からなるモールド部で覆うように設ける。その際に、絶縁性のモールド樹脂材料には、目的とする熱膨張係数を得るために十分な量のガラスフィラーが添加された光結合器が提案されている。
また、LEDやPD等のチップサイズが小さい光半導体素子を利用でき、信頼性が高く光伝送品質が良好な光結合器も提案されている。
このような光結合器としては、特開2007‐36019号公報(特許文献2)に開示された光半導体装置の如く、リードフレーム上に搭載された光半導体素子の表面の光の授受部をシリコーン樹脂部で覆って光経路を確保した上で、このシリコーン樹脂部における上記光半導体素子の上記光授受部に対向する領域を除く全体を、上記リードフレームの熱膨張係数に近似した熱膨張係数を有する遮光性のモールド樹脂部で封止している光半導体装置がある。さらに、この光半導体装置においては、上記シリコーン樹脂の表面を保護するために、上記遮光性のモールド樹脂部から露出している上記シリコーン樹脂の露出面を透光性のモールド樹脂部で覆うことも提案されている。
一方において、従来は、受光素子と発光素子とを個別にパッケージングして光半導体装置としたものを別々に組み立てて使用していたが、市場の小型化の要求に対応するため、受光素子と発光素子とをひとつのパッケージに収めた受光・発光一体型光半導体素子が開発されている。
上記受光・発光一体型光半導体装置としては、以下のような従来技術が知られている。
(1) 上記特許文献2には、さらに、リードフレーム上に搭載された送信用の発光素子および受信用の受光素子の夫々の光の授受部を個別にシリコーン樹脂部で覆い、このシリコーン樹脂部における上記発光素子または上記受光素子の上記光授受部に対向する領域を除く全体を、上記リードフレームの熱膨張係数に近似した熱膨張係数を有する遮光性のモールド樹脂部によって一体にパッケージし、この遮光性のモールド樹脂部における上記発光素子と上記受光素子との間の領域を除いて、レンズ部を有する上記透光性のモールド樹脂部によって覆った光通信装置が開示されている。
(2) 特開2006‐30716号公報(特許文献3)には、受光素子および発光素子を配線基板の別々の配線パターン上に実装し、封止樹脂によって個別に封止すると共に、受光側・発光側の間に遮光樹脂を埋めて光漏れを防止したパッケージを、ハウジングの収納凹部に収納した表面実装型モジュールが開示されている。
(3) 特開2005‐340727号公報(特許文献4)には、プリント配線板上に受光素子および発光素子を実装し、この受光素子および発光素子を光透過性樹脂で一体に封止した後、上記発光素子と上記受光素子との間の光透過性樹脂を除去して溝状の凹部を形成し、上記凹部内に遮光性樹脂を充填して光漏れを防止した受発光素子の製造方法が開示されている。
しかしながら、上記従来の上記受光・発光一体型光半導体装置には、以下のような問題がある。
先ず、上記特許文献3に開示された表面実装型モジュールにおけるパッケージ構造は、受光部側と発光側とを個別に透明樹脂によって封止し、遮光樹脂によって受光側・発光側の間を遮光したパッケージを、ハウジングに収納した構造を有している。しかしながら、このようなパッケージ構造では、実装工数が多くなるのみならず、受光側のパッケージと発光側のパッケージとの実装精度が確保できない。
さらに、上記ハウジングを含めた表面実装型モジュールの全体のサイズが非常に大きくなり、パッケージサイズを小さくしようとすると、十分な遮光樹脂を受光側のパッケージと発光側のパッケージとの間に設けることが困難になるという問題がある。また、電磁ノイズに対する対策が皆無であるという問題もある。
また、上記特許文献4に開示された受発光素子におけるパッケージ構造は、受光・発光素子一体型のパッケージ構造を有し、小型化を図っている。しかしながら、発光素子と受光素子との間に遮光性樹脂を充填しただけの構造であって、電磁的なノイズ対策が全く図られてはいないという問題がある。
また、上記特許文献2に開示された光半導体装置におけるパッケージ構造は、受光・発光素子一体型のパッケージ構造を有し、遮光対策として、発光素子および受光素子を透光性のシリコーン樹脂で被覆して光行路を確保した上で、遮光性のモールド樹脂で1次モールドし、さらに、上記透光性のモールド樹脂を保護するために、透光性のモールド樹脂で2次モールドしており、遮光性に関しては十分な対策がとられている。しかしながら、発光素子と受光素子との間を遮光性のモールド樹脂で遮光しているだけであるため、パッケージが小型化した場合、上記受光素子と上記発光素子との距離が非常に近くなるため、遮光構造に課題が残るという問題がある。さらに、電磁的なノイズに関しては、対策がとられていないという問題もある。
特開2000‐173947号公報 特開2007‐36019号公報 特開2006‐30716号公報 特開2005‐340727号公報
そこで、この発明の課題は、LEDやPD等の半導体素子からなると共に、互いに近接する受光素子と発光素子との間に生ずる光学的または電磁的な干渉を効果的に防止でき、且つ小型の受光・発光一体型光半導体装置、および、それを含む電子機器を提供することにある。
上記課題を解決するため、この発明の受光・発光一体型光半導体装置は、
搭載部上に搭載された発光素子および受光素子と、
少なくとも上記発光素子の発光部を覆う透光性の第1緩衝樹脂と、
少なくとも上記受光素子の受光部を覆う透光性の第2緩衝樹脂と、
上記第1緩衝樹脂における上記発光部に対向する領域のみを開口するように上記第1緩衝樹脂を封止して発光素子部を形成すると共に、上記搭載部と略同一の熱膨張係数を有する第1遮光性モールド樹脂と、
上記第2緩衝樹脂における上記受光部に対向する領域のみを開口するように上記第2緩衝樹脂を封止して受光素子部を形成すると共に、上記搭載部と略同一の熱膨張係数を有する第2遮光性モールド樹脂と、
上記発光素子部と上記受光素子部とを一体に覆うと共に、上記発光素子部と上記受光素子部とを繋ぎ合わせて一つのパッケージを形成する透光性モールド樹脂と、
上記透光性モールド樹脂における上記発光素子部と上記受光素子部との間に設けられると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光溝と、
上記遮光溝の底部に配設されたグラウンド端子と
を備えたことを特徴としている。
上記構成によれば、発光素子部と受光素子部とを繋ぎ合わせて一つのパッケージを形成する透光性モールド樹脂における上記発光素子部と上記受光素子部との間に形成された遮光溝によって、上記発光素子部と上記受光素子部との間を遮光することができる。したがって、発光素子と受光素子とをPDやLEDのようなサイズの小さい半導体素子で構成することができ、上記発光素子と上記受光素子との間隔を縮めることが可能になる。
さらに、上記遮光溝内にグラウンド端子を配置しているので、このグラウンド端子によって、上記発光素子を駆動する駆動回路や上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路で発生する電磁ノイズを除去することが可能になる。
すなわち、この発明によれば、安価で耐環境性に優れた小型の受光・発光一体型光半導体装置を提供することができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記搭載部は、単一のリードフレームあるいはガラスエポキシ基板である。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記発光素子および上記受光素子は、上記リードフレーム上に搭載されており、
上記第1遮光性モールド樹脂および上記第2遮光性モールド樹脂は、上記リードフレームと略同一の熱膨張係数を有している。
この実施の形態によれば、上記発光素子および上記受光素子は、上記リードフレーム上に搭載されている。したがって、リードフレームを用いることによって、本受光・発光一体型光半導体装置を、容易に且つ安価に形成することが可能になる。
さらに、上記リードフレームに対して加工を施すことによって、後に詳述するような様々な実施の形態が可能になる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記遮光溝内に挿通されて、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光すると共に、上記遮光溝の底部に配設された上記グラウンド端子と電気的に接続された金属製の遮光板を備えている。
この実施の形態によれば、上記遮光溝内に金属製の遮光板を挿通しているので、上記発光素子部と上記受光素子部との間をさらに効果的に遮光することができ、上記発光素子と上記受光素子との間隔をさらに縮めることが可能になる。さらに、上記遮光板は上記グラウンド端子と電気的に接続されているので、上記電磁ノイズをさらに効果的に除去することが可能になる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記グラウンド端子は、上記リードフレームの本体部よりも厚い厚みを有すると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光板として機能する。
この実施の形態によれば、上記グラウンド端子を上記リードフレームの本体部よりも厚く形成して遮光板として機能させるので、上記発光素子部と上記受光素子部との間をさらに効果的に遮光することができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記遮光板として機能するグラウンド端子は、他よりも厚みが厚い部分を有するリードフレームにおける上記厚い部分によって構成されている。
この実施の形態によれば、上記遮光板として機能するグラウンド端子を上記リードフレームで構成するので、上記金属製の遮光板の場合のように、上記グラウンド端子と電気的に接続する必要が無く、製造工程を簡略にすることができると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光物の機械的強度を高めることができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記遮光溝内に充填されると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光性と、上記発光素子を駆動する駆動回路および上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路からの電磁ノイズを除去する導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を備えている。
この実施の形態によれば、上記遮光溝内に遮光性と導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を充填するので、上記遮光溝内に金属製の遮光板を挿通する場合と同様に、上記発光素子部と上記受光素子部との間をさらに効果的に遮光することができると共に、上記電磁ノイズをさらに効果的に除去することが可能になる。さらに、上記遮光溝内に金属製の遮光板を挿通する場合に比して、熱応力に強いパッケージを構成することが可能になる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記リードフレームは、フォーミングが施されて、上記発光素子部側と上記受光素子部側とに段差が設けられており、
上記発光素子部は、上記リードフレームに設けられた上記段差における上段側に形成される一方、上記受光素子部は、上記段差における下段側に形成されている。
この実施の形態によれば、上記発光素子部を段差が設けられたリードフレームの上段側に形成する一方、上記受光素子部を下段側に形成するようにしている。したがって、上記発光素子の上記発光部と上記受光素子の上記受光部との距離を広げると共に、上記発光素子から上記受光素子への光の回りこみを少なくすることができ、より効果的に遮光することができる。さらに、上記発光素子部と上記受光素子部とを一体に覆う上記透光性モールド樹脂の体積を大きくして、パッケージ強度を向上することができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記リードフレームは、フォーミングが施されて、上記発光素子部側と上記受光素子部側とに段差が設けられており、
上記発光素子部は、上記リードフレームに設けられた上記段差における下段側に形成される一方、上記受光素子部は、上記段差における上段側に形成されている。
この実施の形態によれば、上記発光素子部を段差が設けられたリードフレームの下段側に形成する一方、上記受光素子部を上段側に形成するようにしている。したがって、上記発光素子の上記発光部と上記受光素子の上記受光部との距離を広げると共に、上記発光素子から上記受光素子への光の回りこみを少なくすることができ、より効果的に遮光することができる。さらに、上記発光素子部と上記受光素子部とを一体に覆う上記透光性モールド樹脂の体積を大きくして、パッケージ強度を向上することができる。
その際に、上記受光素子部よりも高さが低い上記発光素子部を下段側に配置するので、高さが高い上記受光素子部下段側に配置する場合に比して、上記リードフレームの上記段差を低くすることができ、上記リードフレームのフォーミング加工を容易にすることができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記遮光溝内に挿通されて、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光すると共に、上記遮光溝の底部に配設された上記グラウンド端子と電気的に接続された金属製の遮光板を備えている。
この実施の形態によれば、上記発光素子部を、段差が設けられたリードフレームの上段側あるいは下段側に形成するので、上記発光素子から上記受光素子への光の回りこみを少なくしてより効果的に遮光することができる。
さらに、上記遮光溝内に金属製の遮光板を挿通すると共に、上記グラウンド端子と電気的に接続しているので、上記発光素子部と上記受光素子部との間をさらに効果的に遮光することができ、上記電磁ノイズをさらに効果的に除去することができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記グラウンド端子は、他よりも厚みが厚い部分を有するリードフレームにおける上記厚い部分によって構成されており、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光板として機能する。
この実施の形態によれば、上記発光素子部を、段差が設けられたリードフレームの上段側あるいは下段側に形成するので、上記発光素子から上記受光素子への光の回りこみを少なくしてより効果的に遮光することができる。
さらに、上記グラウンド端子を上記リードフレームの厚い部分で構成して遮光板として機能させるので、上記金属製の遮光板の場合のように、上記グラウンド端子と電気的に接続する必要が無く、製造工程を簡略にすることができると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光物の強度を高めることができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記遮光溝内に充填されると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光性と、上記発光素子を駆動する駆動回路および上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路からの電磁ノイズを除去する導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を備えている。
この実施の形態によれば、上記発光素子部を、段差が設けられたリードフレームの上段側あるいは下段側に形成するので、上記発光素子から上記受光素子への光の回りこみを少なくしてより効果的に遮光することができる。
さらに、上記遮光溝内に遮光性と導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を充填するので、上記遮光溝内に金属製の遮光板を挿通する場合と同様に、上記発光素子部と上記受光素子部との間をさらに効果的に遮光することができると共に、上記電磁ノイズをさらに効果的に除去することが可能になる。さらに、上記遮光溝内に金属製の遮光板を挿通する場合に比して、熱応力に強いパッケージを構成することが可能になる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記第1遮光性モールド樹脂と上記第2遮光性モールド樹脂との間に、熱可塑性樹脂を成型してなる樹脂遮光板が設けられており、
上記遮光溝は、上記発光素子部と上記受光素子部との間における上記透光性モールド樹脂および上記樹脂遮光板に設けられている。
この実施の形態によれば、上記発光素子部における上記第1遮光性モールド樹脂と、上記受光素子部における上記第2遮光性モールド樹脂との間に、熱可塑性樹脂を成型してなる樹脂遮光板を設けている。したがって、トランスファーモールド成型した熱硬化性樹脂では得られない高強度な特性を得ることができ、パッケージ強度を向上させることができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記樹脂遮光板の表面に金属メッキが施されている。
この実施の形態によれば、上記樹脂遮光板の表面に金属メッキが施されているので、上記金属メッキの表面で光を反射することができる。したがって、上記樹脂遮光板の遮光性を向上でき、上記金属メッキを施さない場合に比べて小さい体積の上記樹脂遮光板で同等の遮光性を確保することができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記発光素子および上記受光素子は、上記ガラスエポキシ基板上に搭載されており、
上記第1遮光性モールド樹脂および上記第2遮光性モールド樹脂は、上記ガラスエポキシ基板と略同一の熱膨張係数を有している。
この実施の形態によれば、上記発光素子および上記受光素子は、上記ガラスエポキシ基板上に搭載されている。したがって、上記リードフレーム上に搭載した場合と同様に、上記遮光溝によって、上記発光素子部と上記受光素子部との間を遮光することができ、上記発光素子と上記受光素子との間隔を縮めることが可能になる。さらに、上記遮光溝内に配置された上記グラウンド端子によって、上記発光素子を駆動する駆動回路や上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路で発生する電磁ノイズを除去することが可能になる。
さらに、表面実装型の受光・発光一体型光半導体装置を構成できると共に、上記発光素子部と上記受光素子部とが上記ガラスエポキシ基板で繋がっているので、パッケージ強度を向上させることができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記遮光溝内に挿通されて、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光すると共に、上記遮光溝の底部に配設された上記グラウンド端子と電気的に接続された金属製の遮光板を備えている。
この実施の形態によれば、上記発光素子および上記受光素子をガラスエポキシ基板上に搭載するので、表面実装型の受光・発光一体型光半導体装置を構成できると共に、パッケージ強度を向上させることができる。
さらに、上記遮光溝内に金属製の遮光板を挿通すると共に、上記グラウンド端子と電気的に接続しているので、上記発光素子部と上記受光素子部との間をさらに効果的に遮光することができ、上記電磁ノイズをさらに効果的に除去することができる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記遮光溝内に充填されると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光性と、上記発光素子を駆動する駆動回路および上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路からの電磁ノイズを除去する導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を備えている。
この実施の形態によれば、上記発光素子および上記受光素子をガラスエポキシ基板上に搭載するので、表面実装型の受光・発光一体型光半導体装置を構成できると共に、パッケージ強度を向上させることができる。
さらに、上記遮光溝内に遮光性と導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を充填するので、上記遮光溝内に金属製の遮光板を挿通する場合と同様に、上記発光素子部と上記受光素子部との間をさらに効果的に遮光することができると共に、上記電磁ノイズをさらに効果的に除去することが可能になる。さらに、上記遮光溝内に金属製の遮光板を挿通する場合に比して、熱応力に強いパッケージを構成することが可能になる。
また、1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置では、
上記受光・発光一体型光半導体装置に装着されて少なくとも上記発光素子および上記受光素子の搭載側を被覆すると共に、上記第1遮光性モールド樹脂の上記開口に第1光ファイバの端面が対向する一方、上記第2遮光性モールド樹脂の上記開口に第2光ファイバの端面が対向するように、上記第1光ファイバおよび上記第2光ファイバと上記受光・発光一体型光半導体装置とを接続する光ファイバコネクタを備えている。
この実施の形態によれば、上記受光・発光一体型光半導体装置と第1光ファイバおよび第2光ファイバとを接続する光ファイバコネクタを備えているので、上記受光・発光一体型光半導体装置に対する光ファイバの装着を容易にすることができる。さらに、上記光ファイバコネクタを、導電性および遮光性を有する材料で形成すると共に、上記遮光溝内にも装着されて上記グラウンド端子と電気的に接続されるようにすれば、上記光ファイバコネクタによって、上記発光素子と上記受光素子との間を遮光すると共に、上記電磁ノイズによる誤作動を防止することができる。
また、この発明の電子機器は、この発明の受光・発光一体型光半導体装置を備えたことを特徴としている。
上記構成によれば、透光性モールド樹脂における発光素子部と受光素子部との間に形成された遮光溝によって、上記発光素子部と上記受光素子部との間を遮光することができるため、上記発光素子と上記受光素子との間隔を縮めることが可能であり、上記遮光溝内に配置されたグラウンド端子によって電磁ノイズを除去することができる受光・発光一体型光半導体装置を、電子機器に搭載している。したがって、当該電子機器の小型化と、動作の安定化とを図ることができる。
以上より明らかなように、この発明の受光・発光一体型光半導体装置は、発光素子部と受光素子部とを繋ぎ合わせて一つのパッケージを形成する透光性モールド樹脂における上記発光素子部と上記受光素子部との間に形成された遮光溝によって、上記発光素子部と上記受光素子部との間を遮光するので、発光素子と受光素子とをPDやLEDのようなサイズの小さい半導体素子で構成することができ、上記発光素子と上記受光素子との間隔を縮めることができる。
さらに、上記遮光溝内にグラウンド端子を配置しているので、このグラウンド端子によって、上記発光素子を駆動する駆動回路や上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路で発生する電磁ノイズを除去することができる。
すなわち、この発明によれば、安価で耐環境性に優れた小型の受光・発光一体型光半導体装置を提供することができる。
また、上記遮光溝内に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光すると共に、上記遮光溝の底部に配設された上記グラウンド端子と電気的に接続された金属製の遮光板を挿通したり、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光性と、上記発光素子を駆動する駆動回路および上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路からの電磁ノイズを除去する導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を充填したりすれば、上記発光素子部と上記受光素子部との間をさらに効果的に遮光することができると共に、上記電磁ノイズをさらに効果的に除去することができる。
また、この発明の電子機器は、透光性モールド樹脂における発光素子部と受光素子部との間に形成された遮光溝によって、上記発光素子部と上記受光素子部との間を遮光することによって、上記発光素子と上記受光素子との間隔を縮めることができ、上記遮光溝内に配置されたグラウンド端子によって電磁ノイズを除去することができる受光・発光一体型光半導体装置を搭載したので、当該電子機器の小型化と、動作の安定化とを図ることができる。
以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。
・第1実施の形態
図1は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。
図1において、本受光・発光一体型光半導体装置においては、リードフレーム11上に発光素子12とこの発光素子12を駆動させる上記駆動回路としてのドライバーIC13とが実装され、この発光素子12が上記第1緩衝樹脂としてのシリコーン樹脂14で覆われ、このシリコーン樹脂14における発光素子12の発光部に対向する領域を除いて、少なくともシリコーン樹脂14およびドライバーIC13が上記第1遮光性モールド樹脂としての遮光性モールド樹脂15で封止されて、発光素子部16が形成されている。
一方、同じリードフレーム11上に、受光素子17とこの受光素子17からの受光信号を処理する上記信号処理回路としての集積回路チップ18とが実装され、この受光素子17が上記第2緩衝樹脂としてのシリコーン樹脂19で覆われ、このシリコーン樹脂19における受光素子17の受光部に対向する領域を除いて、少なくともシリコーン樹脂19および集積回路チップ18が上記第2遮光性モールド樹脂としての遮光性モールド樹脂20で封止されて、受光素子部21が形成されている。尚、上記駆動回路および上記信号処理回路を含む回路全体を電気回路と定義する。
さらに、上記発光素子部16と受光素子部21とにおける遮光性モールド樹脂15,20から露出しているシリコーン樹脂14,19を含む全体が、透光性モールド樹脂22で覆われて、発光素子部16と受光素子部21とが一体にパッケージされている。
その際に、上記シリコーン樹脂14および透光性モールド樹脂22における発光素子12の発光部に対向する領域は、外方に向かってドーム状に突出して、レンズを形成している。同様に、シリコーン樹脂19および透光性モールド樹脂22における受光素子17の受光部に対向する領域は、外方に向かってドーム状に突出して、レンズを形成している。
また、上記発光素子部16と受光素子部21との間に、リードフレーム11の一部で構成された発光素子12と受光素子17とのグラウンド端子23を配置し、このグラウンド端子23における少なくとも一方の面は、遮光性モールド樹脂15,20および透光性モールド樹脂22によって覆われないようにしている。本実施の形態においては、発光素子部16と受光素子部21との間における透光性モールド樹脂22に略リードフレーム11のレベルまで形成された上記遮光溝としての受光・発光素子部間溝24内にグラウンド端子23を配置することによって、グラウンド端子23の上面が遮光性モールド樹脂15,20および透光性モールド樹脂22で覆われないようにしている。
ここで、上記発光素子12,ドライバーIC13,受光素子17および集積回路チップ18は、銀ペーストのような導電性の高い接着剤を用いて、リードフレーム11上に接着されることによって実装されている。尚、上記導電性の高い接着剤としては、熱伝導性の高い材料や薄膜の材料を用いれば、熱的なコンタクトを十分に得ることができ、且つリードフレーム11と発光素子12および受光素子17である光半導体素子との線膨張係数の差を吸収できるので好ましい。さらに、発光素子12および受光素子17は、リードフレーム11と金属ワイヤーによって電気的に接続されている。
本実施の形態において使用される上記光半導体素子としては、LED,PD,面発光レーザ(VCSEL)あるいはCCD、および、それらとICとを集積化したOPICを用いることができる。
また、上記リードフレーム11は、上記光半導体素子やドライバーIC13や集積回路チップ18等の部品を搭載して支えると共に、各部品へ電気を伝える役割を果たす薄板上の金属板である。リードフレーム11としては、導電性を有すると共に熱伝導率の高い銅やその合金や42アロイ等の金属からなる薄板状の平面金属板に対して、エッチング,プレス,切削加工等によって形状を成形し、高い反射率が得られるように表面に銀やパラジウム等によってメッキを施したものが用いられる。
上記第1,第2緩衝樹脂としてのシリコーン樹脂14,19は、耐寒性を有し、発光素子12の少なくとも発光部および受光素子17の少なくとも受光部を、完全に覆っていればよい。
上記遮光性モールド樹脂15,20は、上記シリコーン樹脂14,19における上面(つまり、上記発光部および上記受光部に対向する面)を除いた部分,ドライバーIC13,集積回路チップ18および上記金属ワイヤーを封止し、リードフレーム11の両面を覆っている。また、遮光性モールド樹脂15,20は、リードフレーム11の熱膨張係数に略同じ熱膨張係数を有しており、遮光性のフィラー等を添加することによって線膨張係数が小さく調整されている。
例えば、上記光半導体素子の線膨張係数が2.8×10-6/℃であり、上記金属ワイヤーの線膨張係数が14.2×10-6/℃である場合、遮光性モールド樹脂15,20の線膨張係数は20×10-6/℃以下に調整することが好ましい(通常、フィラーが添加されていないエポキシ樹脂の熱膨張係数は60×10-6/℃程度)。
上記遮光性モールド樹脂15,20を覆い、発光素子部16と受光素子部21をつなぎ合わせている透光性モールド樹脂22としては、遮光性モールド樹脂15,20よりも線膨張係数が大きい樹脂が使用されている。こうすることによって、透光性モールド樹脂22は遮光性モールド樹脂15,20の全体を覆っているため、透光性モールド樹脂22は遮光性モールド樹脂15,20から剥離し難いのである。
ここで、光学的に「透明」とは、使用されている波長領域の光を透過できるという意味であり、その透過率は70%以上であることが好ましい。
上記グラウンド端子23は、上記発光素子部16および受光素子部21に共通のグラウンド端子であることが好ましい。尚、発光素子部16と受光素子部21との夫々にグランド端子を設けることも可能であるが、発光素子部16と受光素子部21とに共通の端子とすることによって、通常、発光素子部16および受光素子部21の夫々に必要なグラウンド端子を1本のグラウンド端子23にまとめることができ、端子数を減らすことができるのである。さらに、グラウンド端子23は、遮光性モールド樹脂15,20および透光性モールド樹脂22の何れからも完全には覆われていない。
また、上記透光性モールド樹脂22におけるグラウンド端子23の上部に受光・発光素子部間溝24を形成して、グラウンド端子23を外部に対して剥き出し状態にすることによって、本受光・発光一体型光半導体装置を光結合器として光ファイバユニットに組み込む場合、グラウンド端子23を上記光ファイバユニット全体のグラウンド端子として使用することができる。さらに、グラウンド端子23を、本受光・発光一体型光半導体装置とコネクタ等の外付けユニットとの位置決め用の基準としても使用できるため、高精度な組み立てを行うことが可能になる。また、透光性モールド樹脂22に受光・発光素子部間溝24を形成することによって、発光素子部16と受光素子部21とをつなぎ合わせている透光性モールド樹脂22全体の熱応力を低減することもできる。
また、上記各構成部材における好ましい寸法としては、上記光半導体素子としてLEDを用いた場合の素子サイズは数百μm程度であり、上記光半導体素子としてPDを用いた場合の素子サイズは1mm程度である。リードフレーム11の板厚は100μm〜500μm程度が好ましい。発光素子部16における上記発光部と受光素子部21における上記受光部との間隔は6mm程度が好ましい。
以上のごとく、本実施の形態においては、同一のリードフレーム11上に発光素子12と受光素子17とを搭載し、この発光素子12と受光素子17とを透光性のシリコーン樹脂(緩衝樹脂)14,19で個別に覆い、シリコーン樹脂14における発光素子12の発光部に対向する領域を除いた領域とドライバーIC13とを、および、シリコーン樹脂19における受光素子17の受光部に対向する領域を除いた領域と集積回路チップ18とを、リードフレーム11と略同一の熱膨張係数を有する遮光性モールド樹脂15,20で個別に封止して、発光素子部16と受光素子部21とを形成する。さらに、上記発光素子部16と受光素子部21とにおける遮光性モールド樹脂15,20から露出しているシリコーン樹脂14,19を含む全体を、透光性モールド樹脂22で覆って、発光素子部16と受光素子部21とを一体につなぎ合わせてパッケージされた受光・発光一体型光半導体装置を形成している。
そして、上記透光性モールド樹脂22における発光素子部16と受光素子部21との間に受光・発光素子部間溝24を形成し、この受光・発光素子部間溝24内にグラウンド端子23を配置して、グラウンド端子23の上面が遮光性モールド樹脂15,20および透光性モールド樹脂22で覆われないようにしている。
このような構造をとることにより、上記受光・発光素子部間溝24によって発光素子部16と受光素子部21との間を遮光することができ、発光素子12と受光素子17とをPDやLEDのようなサイズの小さい半導体素子で構成することができ、発光素子12と受光素子17との間隔を縮めることが可能になる。
また、上記受光・発光素子部間溝24内にグラウンド端子23を配置しているので、発光素子12を駆動するドライバーIC13や受光素子17からの受光信号を処理する集積回路チップ18から発生する電磁ノイズを除去することが可能になる。
このように、本実施の形態によれば、安価で耐環境性に優れた小型の受光・発光一体型光半導体装置を得ることができるのである。
・第2実施の形態
図2は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。
図2において、リードフレーム11,発光素子12,ドライバーIC13,シリコーン樹脂14,遮光性モールド樹脂15,発光素子部16,受光素子17,集積回路チップ18,シリコーン樹脂19,遮光性モールド樹脂20,受光素子部21,透光性モールド樹脂22,グラウンド端子23および受光・発光素子部間溝24は、図1に示す上記第1実施の形態の場合と同様であり、上記第1実施の形態の場合と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第1実施の形態との相違点は、上記受光・発光素子部間溝24内に配置されて剥き出しとなっているグラウンド端子23上に、金属製の遮光板25を挿入し、グラウンド端子23と接続することよって、グラウンド端子23と電気的に接合させている点である。ここで、遮光板25は、受光・発光素子部間溝24の上端から突出しており、透光性モールド樹脂22の上面よりも高くなっている。
上記遮光板25とグラウンド端子23とを接続する接着剤としては、銀ペーストのような高い電気伝導性に加え、外部に対して露出するために高強度および高耐候性を有する優れた接着剤であることが好ましい。
また、上記遮光板25としては、リードフレーム11と同じ材質であって、高い反射率が得られるように表面に銀やパラジウム等によるメッキを施したものが好ましい。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、発光素子12を遮光性モールド樹脂15で封止する一方、受光素子17を遮光性モールド樹脂20で封止することに加え、透光性モールド樹脂22における発光素子部16と受光素子部21との間に金属製の遮光板25を挿入している。したがって、発光素子部16と受光素子部21との間を効率的に遮光することができ、発光素子12と受光素子17との間隔が非常に狭い受光・発光一体型光半導体装置を得ることができる。
さらに、上記遮光板25をグラウンド端子23と電気的に接合させているため、ドライバーIC13や集積回路チップ18から発生する電磁ノイズを効率的に除去することが可能になる。
また、上記遮光板25を、受光・発光素子部間溝24の上端から突出させて、透光性モールド樹脂22の上面よりも高く設置している。したがって、本受光・発光一体型光半導体装置を光結合器として光ファイバユニットに組み込む場合、遮光板25に対して、本受光・発光一体型光半導体装置とコネクタ等の外付けユニットとの位置決め用のピンとしての役割を付与することができ、本受光・発光一体型光半導体装置と上記外付けユニットとの高精度な組み立てが可能になる。
・第3実施の形態
図3は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図3において、図1に示す上記第1実施の形態の場合と同じ部材には図1と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第1実施の形態との相違点は、上記第1実施の形態においては、平面な(凹凸がない)リードフレーム11を使用しているのに対し、本実施の形態においては、グラウンド端子26の部分のみ厚みが厚いリードフレーム11を使用しており、グラウンド端子26を遮光板として機能させる点である。
上記リードフレーム11としては、グラウンド端子26の部分のみの板厚ををできるだけ厚くし、他の部分とに段差を付けることが好ましい。例えば、リードフレーム11の本体の板厚が0.4mmである場合、グラウンド端子26の部分の板厚が0.8mm以上が好ましい。
尚、上述のような厚みの異なるリードフレーム11の製造方法としては、エッチングで製造する方法と、プレス加工によって製造する方法とが考えられる。上記エッチング法の場合は、大きな板厚差を有するリードフレーム11を形成できるが、上記プレス加工の場合に比べて寸法精度が劣るという欠点がある。一方、上記プレス加工法の場合には、上記エッチング法の場合に比べて寸法精度は高いが、2倍程度の板厚差しか設けることができず、例えばリードフレーム11の本体の板厚が0.4mmの場合には、最大0.8mm程度のグラウンド端子26しか形成できない。したがって、本受光・発光一体型光半導体装置を組み込む用途に応じて、リードフレーム11およびグラウンド端子26の製造方法を選択することが好ましい。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、発光素子12を遮光性モールド樹脂15で封止する一方、受光素子17を遮光性モールド樹脂20で封止することに加え、透光性モールド樹脂22における発光素子部16と受光素子部21との間に遮光板として機能する高さが高いグラウンド端子26を配置している。したがって、上記第2実施の形態の場合と同様に、発光素子部16と受光素子部21との間を効率的に遮光することが可能になる。さらに、ドライバーIC13や集積回路チップ18から発生する電磁ノイズを効率的に除去することが可能になる。
また、上記第2実施の形態の場合には、上記遮光板25とグラウンド端子23とをボンディングによって電気的に接続する必要がある。しかしながら、本実施の形態では、上記遮光板を上記グラウンド端子に電気的に接続する工程を必要とはせず、上記遮光板の強度も確保することができるのである。
・第4実施の形態
図4は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図4において、図1に示す上記第1実施の形態の場合と同じ部材には図1と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第1実施の形態との相違点は、発光素子部16と受光素子部21との間に設けた受光・発光素子部間溝24内に、電気伝導性と遮光性とを併せ持つ遮光性充填樹脂27を充填して硬化させる点である。
上記遮光性充填樹脂27としては、エポキシ樹脂やシリコーン樹脂等の熱硬化性樹脂にカーボンブラック等の導電性と遮光性とを併せ持つフィラーを添加した遮光性の液状樹脂が好ましい。また、受光・発光素子部間溝24内への遮光性充填樹脂27の充填は、ポッティング法や印刷法等による。その際における充填量は、透光性モールド樹脂22の上面よりやや低い位置で止めることが好ましい。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、透光性モールド樹脂22における発光素子部16と受光素子部21との間の受光・発光素子部間溝24内に、遮光性充填樹脂27でなる軟質の遮光板を充填している。したがって、上記第2実施の形態の場合のように、金属製の遮光板25を挿入する場合に比べて、熱応力に強いパッケージを得ることができる。また、受光・発光素子部間溝24内への遮光性充填樹脂27の充填を、透光性モールド樹脂22の上面よりやや低い位置で停止することによって、本受光・発光一体型光半導体装置を光結合器として光ファイバユニットに組み込む場合の位置決め用の溝を確保することができる。したがって、本受光・発光一体型光半導体装置と上記外付けユニットとの高精度な組み立てが可能になる。
・第5実施の形態
図5は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図5において、図1に示す上記第1実施の形態の場合と同じ部材には図1と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第1実施の形態との相違点は、遮光性モールド樹脂15で封止されてなる発光素子部16と、遮光性モールド樹脂20で封止されてなる受光素子部21とが同一平面状になく、発光素子部16が受光素子部21よりも上側に位置している点である。また、それに応じて、発光素子部16と受光素子部21とにおける遮光性モールド樹脂15,20から露出しているシリコーン樹脂14,19を含む全体を覆う透光性モールド樹脂28は、上面には発光素子部16と受光素子部21とで段差が設けられる一方、下面は発光素子部16と受光素子部21とにおいて平坦に形成されている点である。
本実施の形態において使用されるリードフレーム11は、発光素子側に発光素子12とドライバーIC13とを実装する前に、金型等によって予めフォーミング処理を行い、グラウンド端子23となる部分と受光素子部21となる部分とに段差を設けることが好ましい。また、その際における発光素子部16の部分と受光素子部21の部分との段差は、受光素子17の素子高さよりも大きいことが好ましい。例えば、上記素子高さが370μmの受光素子17を実装した場合には、リードフレーム11における発光素子部16の部分と受光素子部21の部分との間には400μm以上の段差を設けるのである。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、発光素子部16を受光素子部21よりも上側に位置することによって、発光素子12の発光点と受光素子17の受光点との距離を広げることができる。それと同時に、発光素子12と受光素子17との間の段差によって発光素子12からの光の回りこみを少なくすることができるため、より効率的に遮光することができる。さらに、発光素子部16と受光素子部21とを覆う透光性モールド樹脂28の体積を、上記第1実施の形態の場合の透光性モールド樹脂22よりも大きくすることができ、パッケージ強度が向上することも期待できる。
・第6実施の形態
図6は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図6において、図1に示す上記第1実施の形態の場合と同じ部材には図1と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第1実施の形態との相違点は、遮光性モールド樹脂15で封止されてなる発光素子部16と、遮光性モールド樹脂20で封止されてなる受光素子部21とが同一平面状になく、受光素子部21が発光素子部16よりも上側に位置している点である。また、それに応じて、発光素子部16と受光素子部21とにおける遮光性モールド樹脂15,20から露出しているシリコーン樹脂14,19を含む全体を覆う透光性モールド樹脂29は、上面には受光素子部21と発光素子部16とで段差が設けられる一方、下面は受光素子部21と発光素子部16とにおいて平坦に形成されている点である。
本実施の形態において使用されるリードフレーム11は、発光素子側に発光素子12とドライバーIC13とを実装する前に、金型等によって予めフォーミング処理を行い、グラウンド端子23となる部分と発光素子部16となる部分とに段差を設けることは、上記第5実施の形態の場合と同様であるが、発光素子部16と受光素子部21との段差は、発光素子12の素子高さ以上が好ましい。例えば、上記素子高さが170μmの発光素子12を実装した場合には、200μm以上の段差を設けるのである。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、受光素子部21を発光素子部16よりも上側に位置することによって、上記第5実施の形態の場合と同様の効果を奏することができる。さらに、それに加えて、リードフレーム11の段差を上記第5実施の形態の場合よりも小さくしても、その効果が期待できるところにある。例えば、一般に、発光素子12の素子高さは100μm〜200μmであるが、受光素子17の素子高さは300μm以上と発光素子12の場合よりも高い。そのため、受光素子部21を下段に配置した場合には、リードフレーム11の段差を大きくする必要がある。それに対し、発光素子部16を下段に配置した場合には、200μm程度の段差で効果が期待できるのである。
・第7実施の形態
図7は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図7において、図5に示す上記第5実施の形態の場合と同じ部材には図5と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第5実施の形態との相違点は、上記受光・発光素子部間溝24内に配置されて剥き出しとなっているグラウンド端子23上に、金属製の遮光板30を挿入し、グラウンド端子23と接続することよって、グラウンド端子23と電気的に接合させている点である。ここで、遮光板30は、受光・発光素子部間溝24の上端から突出しており、透光性モールド樹脂22の上面よりも高くなっている。
上記遮光板30とグラウンド端子23を接続する接着剤としては、銀ペーストのような高い電気伝導性に加え、外部に対して露出するために高強度および高耐候性を有する優れた接着剤であることが好ましい。
また、上記遮光板30としては、リードフレーム11と同じ材質であって、高い反射率が得られるように表面に銀やパラジウム等によるメッキを施したものが好ましい。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、発光素子部16を受光素子部21よりも上側に位置することによって、上記第5実施の形態の場合と同様の効果を奏することができる。さらに加え、透光性モールド樹脂28における発光素子部16と受光素子部21との間に金属製の遮光板30を挿入している。したがって、発光素子部16と受光素子部21との間をさらに効率的に遮光することができ、発光素子12と受光素子17との間隔が非常に狭い受光・発光一体型光半導体装置を得ることができる。
さらに、上記遮光板30をグラウンド端子23と電気的に接合させているため、ドライバーIC13や集積回路チップ18から発生する電磁ノイズを効率的に除去することが可能になる。
・第8実施の形態
図8は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図8において、図5に示す上記第5実施の形態の場合と同じ部材には図5と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第5実施の形態との相違点は、上記第5実施の形態においては、平面な(凹凸がない)リードフレーム11を使用しているのに対し、本実施の形態においては、グラウンド端子31の部分のみ厚みが厚いリードフレーム11を使用しており、グラウンド端子31を遮光板として機能させる点である。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、発光素子部16を受光素子部21よりも上側に位置することによって、上記第5実施の形態の場合と同様の効果を奏することができる。さらに加え、透光性モールド樹脂28における発光素子部16と受光素子部21との間に遮光板として機能する高さが高いグラウンド端子31を配置している。したがって、発光素子部16と受光素子部21との間を効率的に遮光することが可能になる。また、ドライバーIC13や集積回路チップ18から発生する電磁ノイズを効率的に除去することが可能になる。
・第9実施の形態
図9は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図9において、図5に示す上記第5実施の形態の場合と同じ部材には図5と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第5実施の形態との相違点は、発光素子部16と受光素子部21との間に設けた受光・発光素子部間溝24内に、電気伝導性と遮光性とを併せ持つ遮光性充填樹脂32を充填して硬化させる点である。
上記遮光性充填樹脂32としては、エポキシ樹脂やシリコーン樹脂等の熱硬化性樹脂にカーボンブラック等の導電性と遮光性とを併せ持つフィラーを添加した遮光性の液状樹脂が好ましい。また、受光・発光素子部間溝24内への遮光性充填樹脂32の充填は、ポッティング法や印刷法等による。その際における充填量は、透光性モールド樹脂28の上面よりやや低い位置で止めることが好ましい。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、発光素子部16を受光素子部21よりも上側に位置することによって、上記第5実施の形態の場合と同様の効果を奏することができる。さらに加え、透光性モールド樹脂28における発光素子部16と受光素子部21との間に、遮光性充填樹脂32でなる軟質の遮光板を配置している。したがって、上記第7実施の形態の場合のように、金属製の遮光板30を挿入する場合に比べて熱応力に強いパッケージを得ることができる。
・第10実施の形態
図10は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図10において、図1に示す上記第1実施の形態の場合と同じ部材には図1と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第1実施の形態との相違点は、発光素子部16における遮光性モールド樹脂15と受光素子部21における遮光性モールド樹脂20との間に、予め熱可塑性樹脂を成型して得られる樹脂遮光板33を設けた点。さらに、樹脂遮光板33に略リードフレーム11のレベルまで形成された受光・発光素子部間溝34内に、リードフレーム11の一部で構成されるグラウンド端子23を配置することによって、グラウンド端子23の上面が遮光性モールド樹脂15,20,透光性モールド樹脂22および樹脂遮光板33で覆われないようにした点である。
上記樹脂遮光板33としては、ポリフタルアミド等の白色材料を用い、遮光性と同時に高強度な特性を有する材料が好ましい。尚、樹脂遮光板33は、リードフレーム11上に発光素子12,ドライバーIC13,受光素子17および集積回路チップ18を実装する前に、予め上記熱可塑性樹脂をインジェクション成型等で成型することによって形成しておく。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、発光素子部16と受光素子部21との間に設ける遮光板として、熱可塑性樹脂を成型して得られる樹脂遮光板33を用いている。したがって、トランスファーモールド成型した熱硬化性樹脂では得られない高強度な特性を得ることができ、パッケージ強度を向上すると共に、添加するフィラーの選択肢も増える。さらに、受光・発光素子部間溝34を、本受光・発光一体型光半導体装置を光結合器として光ファイバユニットに組み込む場合の位置決め用の溝とすることができる。したがって、本受光・発光一体型光半導体装置と上記外付けユニットとの高精度な組み立てが可能になる。
尚、本実施の形態においては、上記樹脂遮光板33を、発光素子部16における遮光性モールド樹脂15と受光素子部21における遮光性モールド樹脂20とに隣接させて配置している。しかしながら、樹脂遮光板33と遮光性モールド樹脂15との間、および、樹脂遮光板33と遮光性モールド樹脂20との間に、透光性モールド樹脂22が存在していても一向に差し支えない。
・第11実施の形態
図11は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図11において、図10に示す上記第10実施の形態の場合と同じ部材には図1と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第10実施の形態との相違点は、上記第10実施の形態における熱可塑性樹脂で成型した樹脂遮光板33の表面に、反射率の高いメッキ35を蒸着している点である。
上記メッキ35としては、銀メッキ,金メッキあるいはパラジウムメッキ等が考えられるが、銀メッキが好ましい。また、メッキ厚としては、反射効率を考慮して20μm以上が好ましい。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、上記透光性モールド樹脂22における発光素子部16と受光素子部21との間に、遮光板として樹脂遮光板33を設け、樹脂遮光板33の表面にメッキ35を施しているので、メッキ35の表面で光を反射することができる。したがって、樹脂遮光板33の遮光性を向上でき、メッキ35を蒸着しない場合に比べ、小さい樹脂体積の樹脂遮光板33で同等の遮光性を確保することができる。
・第12実施の形態
図12は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図12において、図1に示す上記第1実施の形態の場合と同じ部材には図1と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第1実施の形態との相違点は、発光素子12,ドライバーIC13,受光素子17および集積回路チップ18等の半導体素子を実装する基材を、リードフレームではなく基板36としている点。そのため、シリコーン樹脂14およびドライバーIC13を封止する遮光性モールド樹脂37、シリコーン樹脂19および集積回路チップ18を封止する遮光性モールド樹脂38、および、遮光性モールド樹脂37,38から露出しているシリコーン樹脂14,19を含む全体を覆う透光性モールド樹脂39が、基板36における発光素子12および受光素子17の実装側の面のみに形成されている点である。
さらに、上記発光素子12と受光素子17とのグラウンド端子40を、上記第1実施の形態〜上記第11実施の形態の場合におけるグラウンド端子23のごとくリードフレーム11の一部で構成するのではなく、リードフレーム11と同様に導電性を有すると共に熱伝導率の高い金属を、発光素子部16と受光素子部21との間における透光性モールド樹脂39に基板36に達するように形成された受光・発光素子部間溝24内の基板36上に成膜して形成している点においても上記第1実施の形態とは相違している。
上記基板36として代表的なものとしては、ガラスエポキシ基板が考えられる。また、遮光性モールド樹脂37,38の素材としては、使用する基板36の膨張係数と略同じ熱膨張係数を有する樹脂を選択することが好ましい。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、基本的には上記第1実施の形態の場合と同様の構成を有しているため、上記第1実施の形態の場合と同様に、受光・発光素子部間溝24によって発光素子部16と受光素子部21との間を遮光することができ、発光素子12と受光素子17とをPDやLEDのようなサイズの小さい半導体素子で構成することができ、発光素子12と受光素子17との間隔を縮めることが可能になる。
また、上記受光・発光素子部間溝24内にグラウンド端子40を配置しているので、発光素子12を駆動するドライバーIC13や受光素子17からの受光信号を処理する集積回路チップ18から発生する電磁ノイズを除去することが可能になる。
本実施の形態によれば、さらに加えて、表面実装型の受光・発光一体型光半導体装置を構成できると同時に、発光素子部16と受光素子部21とは基板36でつながっているため、パッケージ強度を向上させることができるという利点もある。
・第13実施の形態
図13は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図13において、図12示す上記第12実施の形態の場合と同じ部材には図12と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第12実施の形態との相違点は、上記受光・発光素子部間溝24内に配置されて剥き出しとなっているグラウンド端子40上に、金属製の遮光板41を配置し、グラウンド端子40と接続することよって、グラウンド端子40と電気的に接合させている点である。ここで、遮光板41は、受光・発光素子部間溝40の上端から突出しており、透光性モールド樹脂39の上面よりも高くなっている。
上記遮光板41とグラウンド端子40とを接続する接着剤としては、銀ペーストのような高い電気伝導性に加え、外部に対して露出するために高強度および高耐候性を有する優れた接着剤であることが好ましい。
また、上記遮光板41としては、リードフレーム11と同じ材質であって銅やその合金や42アロイ等のごとく導電性を有し、高い反射率が得られるように表面に銀やパラジウム等によるメッキを施したものが好ましい。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、発光素子12を遮光性モールド樹脂15で封止する一方、受光素子17を遮光性モールド樹脂20で封止することに加え、透光性モールド樹脂39における発光素子部16と受光素子部21との間に金属製の遮光板41を挿入している。したがって、発光素子部16と受光素子部21との間を効率的に遮光することができ、発光素子12と受光素子17との間隔が非常に狭い受光・発光一体型光半導体装置を得ることができる。
さらに、上記遮光板41をグラウンド端子40と電気的に接合させているため、ドライバーIC13や集積回路チップ18から発生する電磁ノイズを効率的に除去することが可能になる。
さらに加えて、上記発光素子部16と受光素子部21とは基板36でつながっているため、高強度なパッケージ強度を有する表面実装型の受光・発光一体型光半導体装置を得ることができる。
・第14実施の形態
図14は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。図14において、図12に示す上記第12実施の形態の場合と同じ部材には図12と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
本実施の形態における上記第12実施の形態との相違点は、発光素子部16と受光素子部21との間に設けた受光・発光素子部間溝24内に、電気伝導性と遮光性とを併せ持つ遮光性充填樹脂42を充填して硬化させる点である。
上記遮光性充填樹脂42としては、エポキシ樹脂やシリコーン樹脂等の熱硬化性樹脂にカーボンブラック等の導電性と遮光性とを併せ持つフィラーを添加した遮光性の液状樹脂が好ましい。また、受光・発光素子部間溝24内への遮光性充填樹脂42の充填は、ポッティング法や印刷法等による。その際における充填量は、透光性モールド樹脂39の上面よりやや低い位置で止めることが好ましい。
以上のごとく、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置によれば、上記透光性モールド樹脂39における発光素子部16と受光素子部21との間に、遮光性充填樹脂42でなる軟質の遮光板を配置している。したがって、上記第13実施の形態の場合のように、金属製の遮光板41を配置する場合に比べて、熱応力に強いパッケージを得ることができる。また、本受光・発光一体型光半導体装置を光結合器として光ファイバユニットに組み込む場合の位置決め用の溝を確保することができる。したがって、本受光・発光一体型光半導体装置と上記外付けユニットとの高精度な組み立てが可能になる。
さらに加えて、上記第13実施の形態の場合と同様に、発光素子部16と受光素子部21とは基板36でつながっているため、高強度なパッケージ強度を有する表面実装型の受光・発光一体型光半導体装置を得ることができる。
・第15実施の形態
本実施の形態は、上記各実施の形態における受光・発光一体型光半導体装置に装着されて、光ファイバと上記受光・発光一体型光半導体装置とを接続する光ファイバコネクタを備えた受光・発光一体型光半導体装置に関する。
図15は、本実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。但し、本実施の形態においては、上記光ファイバコネクタを上記第1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置に装着した場合を例に説明する。そこで、図1に示す上記第1実施の形態の場合と同じ部材には図1と同じ番号を付して、詳細な説明は省略する。
図15において、上記光ファイバコネクタ43は、上記受光・発光一体型光半導体装置における底面を除く全体を被覆すると共に、リードフレーム11に対して発光素子12および受光素子17の搭載側に突出して、導電性と遮光性とを併せ持つ熱可塑性樹脂あるいは金属で形成されている。光ファイバコネクタ43における突出部45の先端面44は、リードフレーム11と略平行に且つ平坦に構成されている。ここで、光ファイバコネクタ43は、上記受光・発光一体型光半導体装置の一部を被覆しているが、全体を被覆していても一向に構わない。
上記光ファイバコネクタ43の突出部45における先端面44には、発光素子12の光軸と略一致する中心軸を有すると共に、上記受光・発光一体型光半導体装置の透光性モールド樹脂22に至る円筒状の第1段付貫通穴46が形成されている。同様に、突出部45には、受光素子17の光軸と略一致する中心軸を有すると共に、上記受光・発光一体型光半導体装置の透光性モールド樹脂22に至る円筒状の第2段付貫通穴47が形成されている。
上記構成を有する光ファイバコネクタ43の第1段付貫通穴46には、光送信用の第1光ファイバが装着されて、発光素子12と上記第1光ファイバとの光結合が行われる。また、第2段付貫通穴47には、光受信用の第2光ファイバが装着されて、受光素子17と上記第2光ファイバとの光結合が行われる。こうして、上記受光・発光一体型光半導体装置に対する光ファイバの装着を容易にすることができるのである。
その際に、導電性および遮光性を有する材料で形成された光ファイバコネクタ43は、受光・発光素子部間溝24内にも装着されて、グラウンド端子23と電気的に接続されている。したがって、光ファイバコネクタ43に上記第1光ファイバおよび上記第2光ファイバを接続した際に、発光素子12と受光素子17との間を遮光すると共に、上記電磁ノイズによる誤作動を防止することができるのである。
尚、本実施の形態においては、上記光ファイバコネクタ43を上記第1実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置に適用した場合を例示しているが、上記第2実施の形態〜上記第14実施の形態の受光・発光一体型光半導体装置に適用しても、同様の効果を奏することができる。
以上のごとく、上記各実施の形態によれば、安価で耐環境性に優れた小型の受光・発光一体型光半導体装置を提供することができ、これらは、車載用MOSTデバイスとして、車に搭載される光ネットワーク間の電子機器として利用することができる。
この発明の受光・発光一体型光半導体装置における概略構造を示す断面図である。 図1とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1および図2とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図3とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図4とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図5とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図6とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図7とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図8とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図9とはことなる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図10とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図11とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図12とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図13とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 図1〜図14とは異なる受光・発光一体型光半導体装置の断面図である。 従来の光半導体装置の断面図である。
符号の説明
11…リードフレーム、
12…発光素子、
13…ドライバーIC、
14,19…シリコーン樹脂、
15,20,37,38…遮光性モールド樹脂、
16…発光素子部、
17…受光素子、
18…集積回路チップ、
21…受光素子部、
22,28,29,39…透光性モールド樹脂、
23,40,26,31…グラウンド端子、
24,34…受光・発光素子部間溝、
25,30,41…遮光板、
27,32,42…遮光性充填樹脂、
33…樹脂遮光板、
35…メッキ、
36…基板、
43…光ファイバコネクタ、
45…突出部、
46,47…段付貫通穴。

Claims (19)

  1. 搭載部上に搭載された発光素子および受光素子と、
    少なくとも上記発光素子の発光部を覆う透光性の第1緩衝樹脂と、
    少なくとも上記受光素子の受光部を覆う透光性の第2緩衝樹脂と、
    上記第1緩衝樹脂における上記発光部に対向する領域のみを開口するように上記第1緩衝樹脂を封止して発光素子部を形成すると共に、上記搭載部と略同一の熱膨張係数を有する第1遮光性モールド樹脂と、
    上記第2緩衝樹脂における上記受光部に対向する領域のみを開口するように上記第2緩衝樹脂を封止して受光素子部を形成すると共に、上記搭載部と略同一の熱膨張係数を有する第2遮光性モールド樹脂と、
    上記発光素子部と上記受光素子部とを一体に覆うと共に、上記発光素子部と上記受光素子部とを繋ぎ合わせて一つのパッケージを形成する透光性モールド樹脂と、
    上記透光性モールド樹脂における上記発光素子部と上記受光素子部との間に設けられると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光溝と、
    上記遮光溝の底部に配設されたグラウンド端子と
    を備えたことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  2. 請求項1に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記搭載部は、単一のリードフレームあるいはガラスエポキシ基板である
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  3. 請求項2に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記発光素子および上記受光素子は、上記リードフレーム上に搭載されており、
    上記第1遮光性モールド樹脂および上記第2遮光性モールド樹脂は、上記リードフレームと略同一の熱膨張係数を有している
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  4. 請求項3に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記遮光溝内に挿通されて、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光すると共に、上記遮光溝の底部に配設された上記グラウンド端子と電気的に接続された金属製の遮光板を備えた
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  5. 請求項3に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記グラウンド端子は、上記リードフレームの本体部よりも厚い厚みを有すると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光板として機能する
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  6. 請求項5に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記遮光板として機能するグラウンド端子は、他よりも厚みが厚い部分を有するリードフレームにおける上記厚い部分によって構成されている
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  7. 請求項3記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記遮光溝内に充填されると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光性と、上記発光素子を駆動する駆動回路および上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路からの電磁ノイズを除去する導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を備えた
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  8. 請求項3記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記リードフレームは、フォーミングが施されて、上記発光素子部側と上記受光素子部側とに段差が設けられており、
    上記発光素子部は、上記リードフレームに設けられた上記段差における上段側に形成される一方、上記受光素子部は、上記段差における下段側に形成されている
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  9. 請求項3に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記リードフレームは、フォーミングが施されて、上記発光素子部側と上記受光素子部側とに段差が設けられており、
    上記発光素子部は、上記リードフレームに設けられた上記段差における下段側に形成される一方、上記受光素子部は、上記段差における上段側に形成されている
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  10. 請求項8あるいは請求項9に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記遮光溝内に挿通されて、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光すると共に、上記遮光溝の底部に配設された上記グラウンド端子と電気的に接続された金属製の遮光板を備えた
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  11. 請求項8あるいは請求項9に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記グラウンド端子は、他よりも厚みが厚い部分を有するリードフレームにおける上記厚い部分によって構成されており、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光板として機能する
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  12. 請求項8あるいは請求項9に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記遮光溝内に充填されると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光性と、上記発光素子を駆動する駆動回路および上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路からの電磁ノイズを除去する導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を備えた
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  13. 請求項3に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記第1遮光性モールド樹脂と上記第2遮光性モールド樹脂との間に、熱可塑性樹脂を成型してなる樹脂遮光板が設けられており、
    上記遮光溝は、上記発光素子部と上記受光素子部との間における上記透光性モールド樹脂および上記樹脂遮光板に設けられている
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  14. 請求項13に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記樹脂遮光板の表面に金属メッキが施されている
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  15. 請求項2に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記発光素子および上記受光素子は、上記ガラスエポキシ基板上に搭載されており、
    上記第1遮光性モールド樹脂および上記第2遮光性モールド樹脂は、上記ガラスエポキシ基板と略同一の熱膨張係数を有している
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  16. 請求項15に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記遮光溝内に挿通されて、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光すると共に、上記遮光溝の底部に配設された上記グラウンド端子と電気的に接続された金属製の遮光板を備えた
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  17. 請求項15に記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記遮光溝内に充填されると共に、上記発光素子から出射されて上記受光素子に至る光を遮光する遮光性と、上記発光素子を駆動する駆動回路および上記受光素子からの受光信号を処理する信号処理回路を含む電気回路からの電磁ノイズを除去する導電性とを併せ持つ遮光性充填樹脂を備えた
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  18. 請求項1から請求項17までの何れか一つに記載の受光・発光一体型光半導体装置において、
    上記受光・発光一体型光半導体装置に装着されて少なくとも上記発光素子および上記受光素子の搭載側を被覆すると共に、上記第1遮光性モールド樹脂の上記開口に第1光ファイバの端面が対向する一方、上記第2遮光性モールド樹脂の上記開口に第2光ファイバの端面が対向するように、上記第1光ファイバおよび上記第2光ファイバと上記受光・発光一体型光半導体装置とを接続する光ファイバコネクタを備えた
    ことを特徴とする受光・発光一体型光半導体装置。
  19. 請求項1から請求項17までの何れか一つに記載の受光・発光一体型光半導体装置を備えたことを特徴とする電子機器。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013235887A (ja) * 2012-05-07 2013-11-21 Aoi Electronics Co Ltd 光源一体型光センサの製造方法
JP2013254930A (ja) * 2012-05-07 2013-12-19 Aoi Electronics Co Ltd 光源一体型光センサ
US8624286B2 (en) 2012-03-19 2014-01-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device
WO2014017256A1 (ja) * 2012-07-24 2014-01-30 シャープ株式会社 光学式測距装置および電子機器
KR20140141691A (ko) * 2012-05-07 2014-12-10 아오이 전자 주식회사 광원 일체형 광센서 및 광원 일체형 광센서의 제조방법
KR20150072939A (ko) 2013-12-20 2015-06-30 삼성전기주식회사 전력 반도체 패키지 및 그 제조 방법
JP2017092483A (ja) * 2015-04-02 2017-05-25 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP2019135558A (ja) * 2019-04-19 2019-08-15 ヒロセ電機株式会社 光電気変換コネクタ及びその製造方法
US11955466B2 (en) 2020-08-25 2024-04-09 Nichia Corporation Light emitting device
US12002909B2 (en) 2020-08-25 2024-06-04 Nichia Corporation Surface-mounted multi-colored light emitting device

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8624286B2 (en) 2012-03-19 2014-01-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device
JP2013235887A (ja) * 2012-05-07 2013-11-21 Aoi Electronics Co Ltd 光源一体型光センサの製造方法
JP2013254930A (ja) * 2012-05-07 2013-12-19 Aoi Electronics Co Ltd 光源一体型光センサ
KR20140141691A (ko) * 2012-05-07 2014-12-10 아오이 전자 주식회사 광원 일체형 광센서 및 광원 일체형 광센서의 제조방법
KR101659677B1 (ko) * 2012-05-07 2016-09-26 아오이 전자 주식회사 광원 일체형 광센서 및 광원 일체형 광센서의 제조방법
WO2014017256A1 (ja) * 2012-07-24 2014-01-30 シャープ株式会社 光学式測距装置および電子機器
KR20150072939A (ko) 2013-12-20 2015-06-30 삼성전기주식회사 전력 반도체 패키지 및 그 제조 방법
JP2017092483A (ja) * 2015-04-02 2017-05-25 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP2019135558A (ja) * 2019-04-19 2019-08-15 ヒロセ電機株式会社 光電気変換コネクタ及びその製造方法
US11955466B2 (en) 2020-08-25 2024-04-09 Nichia Corporation Light emitting device
US12002909B2 (en) 2020-08-25 2024-06-04 Nichia Corporation Surface-mounted multi-colored light emitting device

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