JP2010066081A

JP2010066081A - 装置試験システム

Info

Publication number: JP2010066081A
Application number: JP2008231705A
Authority: JP
Inventors: Teruhisa Yoshida; 輝久吉田
Original assignee: Hitachi Kokusai Electric Inc
Current assignee: Hitachi Kokusai Electric Inc
Priority date: 2008-09-10
Filing date: 2008-09-10
Publication date: 2010-03-25

Abstract

【課題】試験の結果が異常であるときに、その原因が被試験装置の故障によるものであるのか、それ以外であるのかを判定し、早期に異常原因を特定する。
【解決手段】本発明に係る装置試験システムは、試験対象となる１つ以上の被試験装置に対して、設定に従って１つ以上の試験を行う装置試験システムであって、試験の結果が正常であるか否かを判定するための第１の試験情報と、試験が有効であるか否かを判定するための第２の試験情報を、試験ごとに記憶する試験情報記憶手段と、記憶された第１の試験情報に基づいて、試験の結果が異常であるか否かを判定する結果判定手段と、試験の結果が異常であると判定されるときに、記憶された第２の試験情報に基づいて、試験結果の異常原因を判定する原因判定手段と、前記試験結果と結果判定手段による判定結果を表示し、原因判定手段による判定結果に応じて、原因判定結果に基づく情報をさらに表示する表示手段とを有する。
【選択図】図２

Description

本発明は、試験の対象となる被試験装置を試験する装置試験システムに関する。

例えば、特許文献１は、試験結果である測定データを計測器から受け取って、測定データと測定結果が正常であるか否かを判断する判断基準とを比較し、測定データが正常であるか否かを判断することにより、被試験装置の故障部位を特定する試験装置を開示する。
特開平９−３０４１２９号公報

本発明は、上述のような背景からなされたものであり、試験の結果が異常であるときに、その原因が被試験装置の故障によるものであるのか、それ以外であるのかを判定し、早期に異常原因を特定できるよう改良された装置試験システムを提供する。

上記目的を達成するために、本発明に係る装置試験システムは、試験対象となる１つ以上の被試験装置に対して、設定に従って、１つ以上の試験を行う装置試験システム（１）であって、前記試験の結果が正常であるか否かを判定するための第１の試験情報と、前記試験が有効であるか否かを判定するための第２の試験情報を、前記試験ごとに記憶する試験情報記憶手段（２２４）と、前記記憶された第１の試験情報に基づいて、前記試験の結果が異常であるか否かを判定する結果判定手段（２３０）と、前記試験の結果が異常であると判定されるときに、前記記憶された第２の試験情報に基づいて、試験結果の異常原因を判定する原因判定手段（２３２）と、前記試験結果と前記結果判定手段による判定結果を表示し、前記原因判定手段による判定結果に応じて、原因判定結果に基づく情報をさらに表示する表示手段（２３４）とを有する。
なお、ここで付された符号は、本願発明の理解を助けることを意図するものであり、本願発明の技術的範囲を限定することを意図するものではない。

本発明に係る装置試験システムによれば、試験の結果が異常であるときに、その原因が被試験装置の故障によるものであるのか、それ以外であるのかを判定し、早期に異常原因を特定することができる。

［本発明がなされるに至った経緯］
図１（Ａ）は、本発明に係る試験システム１（試験システム）の構成を示す図である。
図１（Ａ）に示すように、試験システム１は、制御装置１２と、被試験装置用制御装置１４と、ｎ個の測定装置１６−１〜１６−ｎ（ｎ≧１；ただし、全てのｎが常に同数を示すとは限らない。）と、ｎ個の被試験装置２０−１〜２０−ｎ（被試験装置）とが、ＬＡＮなどのネットワーク１０に接続され、ｎ個の測定装置１６−１〜１６−ｎと、ｎ個の被試験装置２０−１〜２０−ｎとが、切替装置１８を介して接続されて構成される。

本願発明にかかる試験システム１の説明に先立ち、試験システム１の理解を助けるために、まず、本発明がなされるに至った経緯を説明する。
なお、以下、測定装置１６−１〜１６−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定装置１６と記載することがある。
以下、各図において、実質的に同じ構成部分・処理には、同じ符号が付される。
試験システム１においては、制御装置１２および被試験装置用制御装置１４の制御に従って、被試験装置２０の試験が開始され、被試験装置２０から出力される試験信号を、切替装置１８を介して接続された測定装置１６が測定し、測定値を制御装置１２に対して出力する。
さらに、試験システム１においては、制御装置１２に対して出力された測定値と、測定値が正常であるか異常であるかの判断基準とを比較して、被試験装置２０の故障部位を特定する。

しかしながら、測定値が異常である原因は、被試験装置の故障によるものだけでなく、測定装置１６の故障や、切替装置１８を介した測定装置１６と被試験装置２０との接続の失敗（測定経路損失）といった試験システム１そのものの不具合によるものも考えられる。
したがって、測定値が正常であるか異常であるかの判断基準だけでは、測定値の異常の原因が、被試験装置の故障によるものであるのか、それ以外であるのかを判断することは困難であるので、異常原因の特定には、多くの時間を要する。
本発明にかかる試験システム１は、以上に説明した経緯によりなされたものであり、測定値の異常の原因が、被試験装置の故障によるものであるのか、それ以外であるのかを判定し、早期に異常原因が特定できるよう改良されている。

［試験システム１］
以下、図１（Ａ）に示した本発明にかかる試験システム１を説明する。
図１（Ｂ）は、図１（Ａ）に示した制御装置１２および被試験装置用制御装置１４のハードウェア構成を例示する図である。
図１（Ｂ）に示すように、制御装置１２及び被試験装置用制御装置１４はそれぞれ、メモリ１２２およびＣＰＵ１２４などを含む情報処理装置１２０、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置１２６、データ通信を行うための通信装置１２８、および、ハードディスクなどの記録媒体１３２に対してデータの記録を行う記録装置１３０などから構成される。
つまり、制御装置１２および被試験装置用制御装置１４は、情報処理およびデータ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。

また、制御装置１２は、図２に示す制御装置プログラム２２を実行し、被試験装置２０に対する試験を開始し、試験結果である測定値が異常であるか否かを判定し、
異常であると判定したときは、異常原因が被試験装置の故障によるものであるのか、それ以外であるのかを判定する。
なお、試験システム１においては、被試験装置２０に対して複数の試験が行われる。これら複数の試験は、各試験が１つの「試験項目」と対応付けられ、一意に識別される。
また、以下、「試験項目に対応付けられる試験」を単に「試験項目」と記述する。
つまり、例えば、「試験項目に対応付けられる試験の実行」は、「試験項目の実行」と記述し、「試験項目に対応付けられる試験についての測定値」は、「試験項目についての測定値」と記述する。

［制御装置プログラム２２］
図２は、試験システム１の制御装置１２（図１（Ａ）、（Ｂ））上で実行される制御装置プログラム２２を示す図である。
図２に示すように、制御装置プログラム２２は、ユーザインタフェース（ＵＩ）部２２０、試験手順作成部２２２、試験情報データベース（ＤＢ）２２４、試験制御部２２６、試験結果ＤＢ２２８、結果判定部２３０、原因判定部２３２、表示部２３４から構成される。
制御プログラム２２は、例えば、メモリ１２２（図１（Ｂ））に記憶されて制御装置１２に供給され、必要に応じて、制御装置１２にインストールされたＯＳ（図示せず）上で、制御装置１２のハードウェア資源を、具体的に利用して実行される。

ＵＩ部２２０は、外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））を介して入力された複数の試験項目を受け付けて、試験手順作成部２２２に対して出力する。
また、ＵＩ部２２０は、外部入出力装置１２６を介して入力された各試験項目の試験情報（図４（Ａ）を参照して後述）を受け付けて、試験情報ＤＢ２２４に記憶する。
また、ＵＩ部２２０は、後述する表示部２３４から出力される情報を受け付けて、外部入出力装置１２６に表示させる。

試験手順作成部２２２は、ＵＩ部２２０から入力された複数の試験項目に基づいて、試験手順を作成する。
試験手順は、各試験項目の実行順序情報および各試験項目を実行する際の測定装置１６（図１（Ａ））と被試験装置２０の接続の組（接続情報）を含む。
試験手順作成部２２２は、試験制御部２２６に対して、作成した試験手順を出力する。
また、試験手順作成部２２２は、表示部２３４に対して、作成した試験手順のうち、各試験項目の実行順序情報を出力する。

図４（Ａ）は、試験情報ＤＢ２２４が記憶する試験情報を試験項目ごとに管理するテーブルを例示する図である。
試験情報ＤＢ２２４は、ＵＩ部２２０から入力された各試験項目の試験情報を受受け取り、記憶する。
図４（Ａ）に示すように、試験情報は、例えば、試験の結果が正常であるか否かを判断するための正常基準値の下限と上限（第１の試験情報）、試験が有効であるか否かを判断するための有効測定値の下限と上限（第２の試験情報）、試験に使用した測定装置名である。

測定値が有効測定値の下限から上限の範囲外のときは、その測定値は、たとえ被試験装置２０が故障していたとしても、被試験装置２０に対する試験についての測定値として取り得ない値であるので、試験システム１そのものの不具合により異常な値が測定されていると考えられる。
つまり、試験が有効であるとは、試験システム１そのものに不具合は起きておらず、試験の結果は、試験システム１の不具合を考慮することなく、被試験装置２０の故障の有無を判断する情報として利用できることを意味する。
したがって、試験の結果が異常であると判定されたときであっても、試験が有効であると判断されたとき以外は、異常の原因は、必ずしも被試験装置２０の故障であるとは限らず、試験システム１そのものの不具合である可能性があると判定される。

試験制御部２２６は、試験手順作成部２２２から入力された試験手順に従って、切替装置１８（図１（Ａ））を制御して、接続情報に基づいて、測定装置１６と被試験装置２０を接続させる。
試験制御部２２６は、試験手順作成部２２２から入力された試験手順に従って、被試験装置用制御装置１４を制御して、被試験装置２０に試験信号を出力させる。
また、試験制御部２２６は、測定装置１６から、被試験装置２０から出力された試験信号の測定値を受信し、受信した測定値を試験結果ＤＢ２２８に記憶する。

さらに、試験制御部２２６は、すべての試験項目についての測定値を受信すると、結果判定部２３０に対して、各測定値が正常であるか異常であるかの判定を開始するよう通知する。
試験結果ＤＢ２２８は、試験制御部２２６から入力された測定値を受け取り、記憶する。
また、試験結果ＤＢ２２８は、後述する結果判定部２３０と原因判定部２３２から入力されたそれぞれの判定結果を受け取り、記憶する。

結果判定部２３０は、試験制御部２２６から測定値の判定開始通知を受け取ると、試験情報ＤＢ２２４から各試験項目に対応する第１の試験情報を、試験結果ＤＢ２２８から各試験項目の測定値を、それぞれ読み出す。
結果判定部２３０は、読み出した第１の試験情報に基づいて、測定値が正常であるか異常であるかを判定し、判定結果を試験結果ＤＢ２２８に記憶する。
また、結果判定部２３０は、測定値が異常であると判定すると、原因判定部２３２に対して、異常原因の判定を開始するよう通知する。

さらに、結果判定部２３０は、すべての測定値の判定が終了すると、表示部２３４に対して、測定値と判定結果を表示するよう通知する。
原因判定部２３２は、結果判定部２３０から原因判定開始通知を受け取ると、試験情報ＤＢ２２４から試験項目に対応する第２の試験情報を、試験結果ＤＢ２２８から試験項目の測定値を、それぞれ読み出す。
原因判定部２３２は、読み出した第２の試験情報に基づいて、測定値の異常原因が、被試験装置の故障によるものであるのか、それ以外であるのかを判定し、判定結果を試験結果ＤＢ２２８に記憶する。

また、原因判定部２３２は、測定値の異常原因が被試験装置の故障以外であると判断すると、試験情報ＤＢ２２４から、当該測定値を測定した測定装置名を読み出し、試験結果ＤＢ２２８に記憶する。
表示部２３４は、結果判定部２３０から表示通知を受け取ると、試験手順作成部２２２から入力された各試験項目の実行順序情報に従って、試験結果ＤＢ２２８から測定値と対応する測定値の判定結果および原因判定結果を読み出す。
表示部２３４は、各試験項目の実行順序情報と、読み出した測定値と、測定値の判定結果および原因判定結果に基づいて、試験結果表示画面を作成し、ＵＩ部２２０を介して、外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示させる。

［結果判定部３０の処理］
図３（Ａ）は、図２に示した結果判定部３０の処理を示すフローチャートである。
以下、図３（Ａ）を参照して、結果判定部３０の処理をさらに説明する。
上述したように、試験制御部２２６から判定開始通知を受け取ることによって、結果判定部３０の処理が開始する。
処理が開始すると、図３（Ａ）に示すように、ステップ３００（Ｓ３００）において、結果判定部３０は、試験結果ＤＢ２２８から、試験項目に対応する測定値を取得する。

ステップ３０２（Ｓ３０２）において、結果判定部３０は、試験情報ＤＢ２２４から、試験項目に対応する正常基準値の下限と上限を取得する。
ステップ３０４（Ｓ３０４）において、結果判定部３０は、ステップ３００（Ｓ３００）で取得した測定値が、ステップ３０２（Ｓ３０２）で取得した正常基準値の下限から上限の範囲内（以下、「正常基準値の範囲内」と記述する）であるか否かを判断する。
つまり、測定値が、正常基準値の下限よりも大きく、上限よりも小さい値であるか否かを判断する。
測定値が、正常基準値の範囲内であると判断するときは、Ｓ３０６の処理に進み、それ以外のときは、Ｓ３０８の処理（図３（Ｂ）を参照して後述）に進む。

ステップ３０６（Ｓ３０６）において、結果判定部３０は、測定値が正常であるとの判定結果を、試験結果ＤＢ２２８に対して出力する。
ステップ３１０（Ｓ３１０）において、結果判定部３０は、試験手順作成部２２２から入力された各試験項目の実行順序情報から、次に測定値を判定すべき試験項目が存在するか否かを判断する。
次に測定値を判定すべき試験項目が存在すれば、Ｓ３００の処理に進み、それ以外のときは、処理が終了する。

［原因判定部３２の処理］
図３（Ｂ）は、図２に示した原因判定部３２による原因判定処理（Ｓ３０８；図３（Ａ））を示すフローチャートである。
以下、図３（Ｂ）を参照して、原因判定部３２による原因判定処理をさらに説明する。
ステップ３２０（Ｓ３２０）において、原因判定部３２は、試験結果ＤＢ２２８から、試験項目に対応する測定値を取得する。
ステップ３２２（Ｓ３２２）において、原因判定部３２は、試験情報ＤＢ２２４から、試験項目に対応する有効測定値の下限と上限を取得する。

ステップ３２４（Ｓ３２４）において、原因判定部３０は、ステップ３２０（Ｓ３２０）で取得した測定値が、ステップ３２２（Ｓ３２２）において取得した有効基準値の下限から上限の範囲内（以下、「有効基準値の範囲内」と記述する）であるか否かを判断する。
つまり、測定値が、有効基準値の下限よりも大きく、上限よりも小さい値であるか否かを判断する。
測定値が、有効基準値の範囲内であると判断するときは、Ｓ３２６の処理に進み、それ以外のときは、Ｓ３２８の処理に進む。

ステップ３２６（Ｓ３２６）において、原因判定部３０は、測定値が異常であるとの判定結果を、試験結果ＤＢ２２８に対して出力する。
なお、ステップ３２６（Ｓ３２６）においては、測定値が有効測定値の範囲内であるから、測定値の異常原因は、被試験装置の故障によるものであることを意味する。
ステップ３２８（Ｓ３２８）において、原因判定部３２は、試験情報ＤＢ２２４から、当該測定値の測定に使用した測定装置名を読み出す。

ステップ３３０（Ｓ３３０）において、原因判定部３２は、測定値が異常である、および、当該試験項目において再測定が必要であるとの判定結果と、ステップ３２８（Ｓ３２８）において取得した使用測定装置名を試験結果ＤＢ２２８に対して出力する。
再測定が必要であるとは、測定値の異常原因が、試験システム１そのものの不具合によるものである可能性があるため、測定に使用した測定装置１６の状態検査や測定経路検査後に、再度被試験装置２０の試験信号を測定することが必要であることを意味する。

［試験システム１の全体動作例］
以下、試験システム１（図１（Ａ））の全体動作例を説明する。
制御装置１２は、外部から入力された各試験項目の試験情報を受け取り、試験項目ごとに記憶する。
制御装置１２は、外部から入力された複数の試験項目に基づいて作成した試験手順に従って、切替装置１８を制御して、測定装置１６と被試験装置２０とを接続させる。
次に、制御装置１２は、作成した試験手順に従って、被試験装置用制御装置１４を制御して、被試験装置２０に試験信号を出力させる。

被試験装置用制御装置１４は、制御装置１２からの制御に従って、被試験装置２０に試験信号の出力を通知する。
被試験装置２０は、被試験装置用制御装置１４からの試験信号出力通知を受け取り、切替装置１８を介して接続された測定装置１６に対して試験信号を出力する。
測定装置１６は、切替装置１８を介して接続された被試験装置２０から入力された試験信号を受け取り、制御装置１２に対して試験信号の測定値を出力する。

制御装置１２は、測定装置１６から入力された測定値を受け取り、記憶する。
制御装置１２は、測定装置１６からすべての試験項目についての測定値を受け取ると、各測定値と、対応する試験情報に基づいて、測定値が正常であるか異常であるかを判定する。
さらに、制御装置１２は、測定値が異常であるときに、試験情報に基づいて、その原因が、被試験装置の故障によるものであるのか、それ以外であるのかを判定する。

図４（Ｂ）は、制御装置１２が表示する試験結果画面を例示する図である。
制御装置１２は、各試験項目の測定値と、測定値の判定結果、および、原因判定結果に応じて、原因判定結果に基づく情報を表示する。
例えば、図４（Ｂ）に示すように、試験項目１における測定値は６５であり、図４（Ａ）に示すように、試験項目１における正常基準値の下限と上限は、それぞれ５０と８０である。
したがって、試験項目１における測定値は、正常基準値の範囲内であるので、測定結果は「正常」と表示される。

また、例えば、図４（Ｂ）に示すように、試験項目２における測定値は５０であり、図４（Ａ）に示すように、試験項目２における正常基準値の下限と上限は、それぞれ６０と９０であり、有効測定値の下限と上限は、それぞれ３０と１５０である。
したがって、試験項目２における測定値は、正常基準値の範囲内ではないが、有効測定値の範囲内である。
よって、測定結果は「異常」と表示されるが、異常の原因は被試験装置の故障であるので、図４（Ｂ）の備考欄には何も表示されない。

また、例えば、図４（Ｂ）に示すように、試験項目３における測定値は１３０であり、図４（Ａ）に示すように、試験項目３における正常基準値の上限と下限はそれぞれ０と９０であり、有効測定値の下限と上限は、それぞれ０と１２０である。
したがって、試験項目３における測定値は、正常基準値の範囲内ではなく、有効測定値の範囲内でもない。
よって、測定結果は「異常」と表示され、さらに、異常の原因は試験システム１そのものの不具合である可能性があるので、図４（Ｂ）の備考欄には、異常の原因や対処法などの情報が表示される。

具体的には、図４（Ｂ）に示すように、試験項目３に対応する備考欄には、測定値が有効測定値の範囲内にない旨と、試験項目３における測定に使用した測定装置Ｃの状態検査および測定経路を検査し、再測定を行うべき旨が表示される。
また、例えば、図４（Ｂ）に示すように、測定結果が異常であるときや、備考欄に表示があるときは、測定結果の欄や備考欄が斜線で塗りつぶされて表示される。

図１（Ａ）は、本発明に係る試験システムの構成を例示する図であり、図１（Ｂ）は、制御装置および被試験装置用制御装置のハードウェア構成を例示する図である。図２は、図１（Ａ）、（Ｂ）の制御装置上で実行される制御装置プログラムの構成を例示する図である。図３（Ａ）は、図２に示した結果判定部の処理を示すフローチャートであり、図３（Ｂ）は、図２に示した原因判定部の処理を示すフローチャートである。図４（Ａ）は、図２に示した試験情報ＤＢが記憶する試験情報を試験項目ごとに管理するテーブルを例示する図であり、図４（Ｂ）は、図２に示した表示部が表示する試験結果画面を例示する図である。

符号の説明

１・・・試験システム
１０・・・ネットワーク
１２・・・制御装置
１２０・・・情報処理装置
１２２・・・メモリ
１２４・・・ＣＰＵ
１２６・・・外部入出力装置
１２８・・・通信装置
１３０・・・記録装置
１３２・・・記録媒体
１４・・・被試験装置用制御装置
１６・・・測定装置
１８・・・切替装置
２０・・・被試験装置
２２・・・制御装置プログラム
２２０・・・ＵＩ部
２２２・・・試験手順作成部
２２４・・・試験情報ＤＢ
２２６・・・試験制御部
２２８・・・試験結果ＤＢ
２３０・・・結果判定部
２３２・・・原因判定部
２３４・・・表示部

Claims

試験対象となる１つ以上の被試験装置に対して、設定に従って、１つ以上の試験を行う装置試験システムであって、
前記試験の結果が正常であるか否かを判定するための第１の試験情報と、前記試験が有効であるか否かを判定するための第２の試験情報を、前記試験ごとに記憶する試験情報記憶手段と、
前記記憶された第１の試験情報に基づいて、前記試験の結果が異常であるか否かを判定する結果判定手段と、
前記試験の結果が異常であると判定されるときに、前記記憶された第２の試験情報に基づいて、試験結果の異常原因を判定する原因判定手段と、
前記試験結果と前記結果判定手段による判定結果を表示し、前記原因判定手段による判定結果に応じて、原因判定結果に基づく情報をさらに表示する表示手段と
を有する装置試験システム。