JP2010034157A - 半導体レーザの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体レーザ50の製造方法は、半導体レーザバー2を形成する工程S105と、半導体レーザバー2の第1端面2aに第1コーティング21を形成する工程S107と、半導体レーザバー2の第2端面2bに第2コーティング23を形成する工程S113とを備え、工程S107は、イオンアシスト蒸着法によって、第1端面2aに向かって60eV以上のエネルギーを有するイオンを照射しながら、第1端面2aに第1誘電体層21aを形成する工程S109を含み、工程S113は、イオンアシスト蒸着法によって、第2端面2bに向かって90eV以上のエネルギーを有するイオンを照射しながら、第2端面2bに第2誘電体層23aを形成する工程S115を含むことを特徴とする。
【選択図】図1
Description
工程S101では、半導体基板上に半導体レーザのための半導体の積層やエッチング等を行う。半導体の積層は、例えば有機金属気相成長法によって行われる。半導体の積層物は、例えば、2つのクラッド層と、これらのクラッド層の間に設けられた活性層を有する。これにより、半導体エピタキシャルウェハが得られる。
工程S103では、半導体エピタキシャルウェハ1に、真空蒸着法等によって、図3に示すようにP電極18とN電極19を形成する。P電極18とN電極19は、例えば、Au等の金属からなる。P電極18は、絶縁層15上に形成され、コンタクトホール15hを介して第2上部クラッド層11とオーミック接触する。N電極19は、半導体基板5の裏面に形成される。半導体基板5の裏面を研磨して半導体基板5を薄くした後に、N電極19の形成を行ってもよい。このようにして、アレイ状に配置された複数のレーザ素子を含む基板生成物が完成する。
工程S105では、基板生成物を劈開して、半導体レーザバーを作成する。基板生成物の劈開のために、例えばけがき装置を用いて基板生成物に2本のけがき線を入れる。これらのけがき線は、ストライプ部1aの延び方向と略直交する方向に形成される。けがき線を形成した後に半導体基板5に力をかけることによって、基板生成物を劈開する。この劈開は、メサ部6が延びる方向と直交する面(XZ面)と略平行な面で生じる。これにより、半導体レーザバーが完成する。
工程S107では、半導体レーザバーの第1端面に第1コーティングとしての低反射層を形成する。低反射層を形成するために、例えば、工程S109及び工程S111を行うことができる。工程S109では、半導体レーザバーの第1端面にイオンアシスト蒸着法によって酸化アルミニウム層を形成する。工程S111では、その酸化アルミニウム層上に酸化チタン層を形成する。
工程S109では、イオンアシスト蒸着法によって、半導体レーザバーの第1端面に酸化アルミニウム層を形成する。この工程では、容器35に収容する蒸着材料として、酸化アルミニウムを用いる。第1端面2aがイオン銃31及び容器35と対向するように、半導体レーザバー2を冶具39に固定する。即ち、第1端面2aが蒸着面となる。
工程S111では、図5(B)に示すように、酸化アルミニウム層21a上に、第3誘電体層である酸化チタン層21bを形成する。酸化チタン層21bも、イオンアシスト蒸着法によって形成することができる。酸化チタン層21bをイオンアシスト蒸着法によって形成する場合、容器35に収容する蒸着材料として、酸化チタンを用いる。また、酸化チタン層21bの形成は、アルゴンイオンからなるイオン31Aを第1端面2aに向かって照射しながら行うことができる。この際のイオン31Aのエネルギーは、例えば40〜150eVとすることができる。なお、酸化チタン層21bは、イオン31Aの照射を行わずに、真空蒸着法によって形成してもよい。酸化チタン層21bの厚さは、例えば、40〜50nmとすることができる。
工程S113では、半導体レーザバーの第2端面に第2コーティングとしての高反射層を形成する。高反射層を形成するために、例えば、工程S115、工程S117、工程S119、及び、工程S121を行うことができる。工程S115では、半導体レーザバーの第2端面にイオンアシスト蒸着法によって酸化アルミニウム層を形成する。工程S117では、その酸化アルミニウム層上に酸化チタン層を形成する。工程S119では、その酸化チタン層上に酸化アルミニウム層を形成する。工程S121では、工程S117と工程S119とを所定回数繰り返す。
工程S115では、イオンアシスト蒸着法によって、半導体レーザバーの第2端面に酸化アルミニウム層を形成する。この工程では、容器35に収容する蒸着材料として、酸化アルミニウムを用いる。第2端面2bがイオン銃31及び容器35と対向するように、半導体レーザバー2を冶具39に固定する。即ち、第2端面2bが蒸着面となる。
工程S117では、図6(B)に示すように、酸化アルミニウム層23a上に、第4誘電体層である酸化チタン層23bを形成する。酸化チタン層23bは、イオンアシスト蒸着法によって形成することができる。酸化チタン層23bをイオンアシスト蒸着法によって形成する場合、容器35に収容する蒸着材料として、酸化チタンを用いる。また、酸化チタン層23bの形成は、イオン31Aを第2端面2bに向かって照射しながら行うことができる。この際のイオン31Aのエネルギーは、例えば40〜150eVとすることができる。なお、酸化チタン層23bは、イオン31Aの照射を行わずに、真空蒸着法によって形成してもよい。酸化チタン層23bの厚さは、例えば、120〜160nmとすることができる。
工程S119では、図6(C)に示すように、酸化チタン層23b上に、第5誘電体層である酸化アルミニウム層23cを形成する。酸化アルミニウム層23cは、イオンアシスト蒸着法によって形成することができる。酸化アルミニウム層23cをイオンアシスト蒸着法によって形成する場合、容器35に収容する蒸着材料として、酸化アルミニウムを用いる。また、酸化アルミニウム層23cの形成は、イオン31Aを第2端面2bに向かって照射しながら行うことができる。この際のイオン31Aのエネルギーは、例えば40〜150eVとすることができる。なお、酸化アルミニウム層23cは、イオン31Aの照射を行わずに、真空蒸着法によって形成してもよい。酸化アルミニウム層23cの厚さは、例えば、190〜230nmとすることができる。
工程S121では、上記工程S117と上記工程S119を交互に所定回数繰り返す。即ち、図5(D)に示すように、工程S119において形成した酸化アルミニウム層23c上に、酸化チタン層23bと酸化アルミニウム層23cとを、交互に所定回数形成する。酸化チタン層23bと酸化アルミニウム層23cとを交互に形成する回数は特に制限されず、最後に形成する層は、酸化チタン層23bと酸化アルミニウム層23cのいずれの層であってもよい。
工程S123では、半導体レーザバーを個々の半導体レーザ素子に分離する。このようにして、半導体レーザ素子が完成する。
実施例1として、20個の半導体レーザ素子を作成した。実施例1の20個の半導体レーザ素子は、以下のように作成した。
比較例1として、20個の半導体レーザ素子を作成した。比較例1の半導体レーザ素子は、実施例1の半導体レーザ素子と比較して、低反射層と高反射層の形成条件のみ異なる。
比較例2として、20個の半導体レーザ素子を作成した。比較例2の半導体レーザ素子は、実施例1の半導体レーザ素子と比較して、高反射層の形成条件のみ異なる。比較例2の高反射層は、比較例1と同様とした。
比較例3として、20個の半導体レーザ素子を作成した。比較例3の半導体レーザ素子は、実施例1の半導体レーザ素子と比較して、低反射層の形成条件のみ異なる。比較例3の低反射層は、比較例1と同様とした。
実施例1及び比較例1〜3について、それぞれの20個の半導体レーザ素子のESD特性試験を行った。図16は、ESD特性試験方法の主要な工程を示すフローチャートである。
Claims (6)
- レーザ光を発生させるための活性層を含む半導体レーザバーを形成する工程と、
前記半導体レーザバーの第1端面に第1コーティングを形成する工程と、
前記半導体レーザバーの前記第1端面に対向する第2端面に第2コーティングを形成する工程と、
を備え、
前記第1コーティングを形成する工程は、イオンアシスト蒸着法によって、前記第1端面に向かって60eV以上のエネルギーを有するイオンを照射しながら、前記第1端面に第1誘電体層を形成する工程を含み、
前記第2コーティングを形成する工程は、イオンアシスト蒸着法によって、前記第2端面に向かって90eV以上のエネルギーを有するイオンを照射しながら、前記第2端面に第2誘電体層を形成する工程を含むことを特徴とする半導体レーザの製造方法。 - 前記第1コーティングを形成する工程は、前記第1誘電体層上に、前記第1誘電体層とは異なる屈折率を有する第3誘電体層を形成する工程をさらに有し、
前記第2コーティングを形成する工程は、前記第2誘電体層上に、互いに屈折率の異なる第4誘電体層と第5誘電体層とを交互に形成する工程をさらに有することを特徴とする請求項1に記載の半導体レーザの製造方法。 - 前記第1誘電体層は、酸化アルミニウムからなり、
前記第2誘電体層は、酸化アルミニウムからなることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体レーザの製造方法。 - 前記第1誘電体層は、酸化アルミニウムからなり、
前記第2誘電体層は、酸化アルミニウムからなり、
前記第3誘電体層は、酸化チタンからなり、
前記第4誘電体層は、酸化チタンからなり、
前記第5誘電体層は、酸化アルミニウムからなることを特徴とする請求項2に記載の半導体レーザの製造方法。 - 前記第1コーティングは、前記半導体レーザの低反射層であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の半導体レーザの製造方法。
- 前記第2コーティングは、前記半導体レーザの高反射層であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の半導体レーザの製造方法。
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