JP2010014703A - 電磁界計測装置および方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 板状導体6と、板状導体に立設された少なくとも3本の柱状導体とを備える。板状導体6により電界を計測すると同時に、電界を計測した点と同一の計測点における磁界2成分を、板状導体6と柱状導体により形成されるループにより同時に計測する。
【選択図】 図1
Description
図1は本発明の第1の実施の形態を示す概略図である。第1の実施の形態における電磁界計測装置100は、電磁界計測センサ2、測定器3、演算機4及び表示機5を備えている。電磁界計測装置100により計測対象である電子機器のプリント回路板1等から放射される電磁界を計測する。
I1=IEz−IHx1+IHy1 ・・・(式1)
I2=IEz+IHx1+IHy1 ・・・(式2)
I3=IEz−IHx1−IHy1 ・・・(式3)
I4=IEz+IHx1−IHy1 ・・・(式4)
(式1)、(式2)、(式3)、(式4)から、電流IEz、IHx、IHyは(式5)、(式6)、(式7)で表すことができる。
IEz=(I1+I2+I3+I4)/4 ・・・(式5)
IHx1=(−I1+I2+I3−I4)/4 ・・・(式6)
IHy1=(I1+I2−I3−I4)/4 ・・・(式7)
なお、電流IEz、IHx1、IHy1は、電界強度および磁界強度そのものではなく、電界強度および磁界強度の絶対値を求めるためには、柱状導体7a、7b、7c、7dや板状導体6の透磁率やループ面積を考慮して計算しなければならない。ただし、電界強度および磁界強度の絶対値は、電流IEz、IHx1、IHy1に比例するため、プリント回路板1の電界分布および磁界分布を可視化するには、プリント回路板1の各点における相対値が分かれば良い。従って、本実施例では電流IEz、IHx1、IHy1を検出するに留めている。
図1に示した第1の実施の形態の電磁界計測装置100を使って、電磁界計測の実験を行なった。図4は、その実験の様子を示す斜視図である。なお、図4において図1と同じ部材には同じ符号を付し、その説明は省略する。
本実施の形態における電磁界センサと、図11に示した従来の電磁界センサの性能を比較するため、電磁界シミュレーションを行なった。シミュレーションモデルは、実施例1の図4で示した電磁界計測装置100と同様である。ただし、マイクロストリップライン20の長さは200mmである。ファンクションジェネレータ31から、プリント回路板1の大きさに対して1/4波長共振する193MHzの正弦波を入力した。なお図11に示した従来の電磁界センサのモデルは、磁界検出部であるループの面積が等しくなるように作成した。
図8は本発明の第2の実施の形態の電磁界計測装置102を示す概略図である。図8において図1と同じ部材には同じ符号を付し、その説明は省略する。図8に示す電磁界計測センサ24は、第1の実施の形態の電磁界計測センサ2と比較して、柱状導体の数を3本とした構成となっている。この場合においても電磁界3成分の同時に計測することができる。
IEz=(I1+I2+I3) ・・・(式11)
IHx1=(−I1+2I2−I3) ・・・(式12)
IHy1=(I1−I3) ・・・(式13)
柱状導体の数が3本の場合、図1に示した柱状導体の数が4本の場合に比べて、磁界を検出するループの数が減少するため磁界検出感度は低下する。しかしながら柱状導体および測定器3が3個で良いため、小型化およびコストを削減することが可能となる。
図9は本発明の第3の実施の形態の電磁界計測装置104を示す概略図である。図9において図1と同じ部材には同じ符号を付し、その説明は省略する。図9に示す電磁界計測センサ26は、第1の実施の形態の電磁界計測センサ2と比較して、4本の柱状導体7a、7b、7c、7dが外側に向けて傾斜している。
2、24、26 電磁界計測センサ
3a、3b、3c、3d 測定器
4 演算機
5 表示機
6 板状導体
7a、7b、7c、7d 柱状導体
20 マイクロストリップライン
21 ファンクションジェネレータ
22 オシロスコープ
100、102、104 電磁界計測装置
Claims (7)
- 電子機器から放出される電界と磁界とを計測する電磁界計測装置において、
板状導体及び前記板状導体に立設された少なくとも3本の柱状導体とからなる電磁界計測センサと、前記柱状導体に誘起される電流を独立して検出する測定器と、前記測定機による測定した各電流値を演算する演算機とを有し、
前記演算機は、前記測定器により各測定値を演算し、前記板状導体により励起される電流と、前記板状導体と前記柱状導体の任意の2本とにより形成されるループにより励起される電流とを分離して算出することを特徴とする電磁界計測装置。 - 前記板状導体は円形であり、前記柱状部材はお互いが90度回転対称の位置に4本設けられていることを特徴とする請求項1に記載の電磁界計測装置。
- 前記柱状導体は、前記板状導体に対して垂直に立設されていることを特徴とする請求項1または2に記載の電磁界計測装置。
- 前記柱状導体は、前記板状導体の外周部に等間隔に立設されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1つに記載の電磁界計測装置。
- 前記電磁界計測装置にはさらに、前記演算機により算出した結果を表示する表示機が設けられており、電子機器の各測定点における演算値から、前記電子機器から放出される電界の強度分布および磁界の強度分布を表示することを特徴とする請求項1乃至4に記載の電磁界計測装置。
- 電子機器から放出される電界と磁界とを計測する電磁界計測方法において、
板状導体及び前記板状導体に立設された少なくとも3本の柱状導体とからなる電磁界計測センサを、前記電子機器の近傍に配置し、柱状導体に誘起される電流を独立して検出し、前記測定機により測定した各電流値から、前記板状導体により励起される電流と、前記板状導体と前記柱状導体の任意の2本とにより形成されるループにより励起される電流とを分離して算出することで、前記電子機器から放出される電界と磁界を独立して算出すること特徴とする電磁界計測方法。 - 前記電子機器の複数の位置において算出した、前記板状導体により励起される電流と、前記板状導体と前記柱状導体の任意の2本とにより形成されるループにより励起される電流とから、前記電子機器から放出される電界の強度分布および磁界の強度分布を表示することを特徴とする請求項6に記載の電磁界計測方法。
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Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP5631230B2 (ja) | 2011-02-02 | 2014-11-26 | キヤノン株式会社 | 電源回路 |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001066337A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-03-16 | Sony Corp | 電界/磁界分布可視化装置 |
JP2004205416A (ja) * | 2002-12-26 | 2004-07-22 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法 |
JP2006250913A (ja) * | 2005-02-09 | 2006-09-21 | National Univ Corp Shizuoka Univ | 集積化磁界プローブ |
JP2007192744A (ja) * | 2006-01-20 | 2007-08-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電磁波解析装置、設計支援装置、電磁波解析プログラムおよび電磁波解析方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3907210B2 (ja) * | 1996-03-29 | 2007-04-18 | マシェク,フーベルトゥス | 電場および/または磁場を測定するフィールドセンサーと装置およびその方法 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001066337A (ja) * | 1999-08-27 | 2001-03-16 | Sony Corp | 電界/磁界分布可視化装置 |
JP2004205416A (ja) * | 2002-12-26 | 2004-07-22 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法 |
JP2006250913A (ja) * | 2005-02-09 | 2006-09-21 | National Univ Corp Shizuoka Univ | 集積化磁界プローブ |
JP2007192744A (ja) * | 2006-01-20 | 2007-08-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電磁波解析装置、設計支援装置、電磁波解析プログラムおよび電磁波解析方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104471418A (zh) * | 2012-07-19 | 2015-03-25 | 西班牙波控有限公司 | 用于磁场和电场的各向同性传感器 |
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