JP2010004456A - Piezoelectric vibrating piece and piezoelectric device - Google Patents

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JP2010004456A JP2008163242A JP2008163242A JP2010004456A JP 2010004456 A JP2010004456 A JP 2010004456A JP 2008163242 A JP2008163242 A JP 2008163242A JP 2008163242 A JP2008163242 A JP 2008163242A JP 2010004456 A JP2010004456 A JP 2010004456A
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Shingo Kawanishi
信吾 川西
Hiroshi Uehara
博 上原
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Nihon Dempa Kogyo Co Ltd
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  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a tuning fork type piezoelectric vibrating piece for facilitating frequency adjustment even when the tuning fork type piezoelectric vibrating piece is further downsized. <P>SOLUTION: A piezoelectric vibrating piece (100), from a first point of view, is provided with: a pair of vibrating arms (21) extending in a predetermined direction from one end side of a base (23) and having a predetermined width; only one groove (24) formed on front and rear sides of the pair of vibrating arms (21) and having a width that is 25% or less of the predetermined width of the vibrating arms; and excitation electrodes (33, 34) formed from the base to the groove for exciting the vibrating arms. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は例えば水晶からなる圧電基板を用いて、支持腕を持つ音叉型の圧電振動素子を製造する技術に関する。   The present invention relates to a technique for manufacturing a tuning-fork type piezoelectric vibration element having a support arm using a piezoelectric substrate made of, for example, quartz.

従来、時計や家電製品、各種情報・通信機器やOA機器等の民生・産業用電子機器には、その電子回路のクロック源として圧電振動子、圧電振動片とICチップとを同一パッケージ内に封止した発振器やリアルタイムクロックモジュール等の圧電デバイスが広く使用されている。   Conventionally, in consumer and industrial electronic devices such as watches, home appliances, various information / communication devices and OA devices, a piezoelectric vibrator, a piezoelectric vibrating piece and an IC chip are sealed in the same package as a clock source for the electronic circuit. Piezoelectric devices such as stopped oscillators and real-time clock modules are widely used.

特に最近、これら圧電デバイスは、それを搭載する電子機器の小型化・薄型化に伴い、より一層の小型化・薄型化が要求されている。また、低いCI(クリスタルインピーダンス)値を確保して、高品質で安定性に優れた圧電デバイスが要求されている。圧電デバイスはCI値を低く保持するために、たとえば振動腕構造を有する音叉型圧電振動片が開発され、さらに小型化するために、基部の長さを短くし、支持腕を持つ音叉型圧電振動片が提供されている。   In particular, these piezoelectric devices have recently been required to be further reduced in size and thickness as the electronic equipment on which they are mounted is reduced in size and thickness. In addition, there is a demand for a piezoelectric device that secures a low CI (crystal impedance) value and has high quality and excellent stability. In order to keep the CI value low, for example, a tuning fork type piezoelectric vibrating piece having a vibrating arm structure has been developed, and in order to further reduce the size of the piezoelectric device, the length of the base is shortened and the tuning fork type piezoelectric vibration having a supporting arm is developed. A piece is provided.

音叉型圧電振動片は、小型化により電極間距離が近くなり、直列共振容量が大きくなることによって周波数可変感度が高くなる。周波数可変感度が高くなると目的の周波数、例えば32.768KHZに合わせることが難しくなる。周波数可変感度Sは次の関係式(数1)が成り立つ。
ここで、S : 周波数可変感度(ppm/pF)
: 並列静電容量 (pF)
: 負荷容量 (pF)
: 直列共振容量 (fF)
である。
  The tuning fork type piezoelectric vibrating piece is close in distance between electrodes due to miniaturization, and the frequency resonance sensitivity is increased by increasing the series resonance capacity. As the frequency variable sensitivity increases, it becomes difficult to match the target frequency, for example, 32.768 KHZ. For the frequency variable sensitivity S, the following relational expression (Equation 1) holds.
Where S : Frequency variable sensitivity (ppm / pF)
        C0  : Parallel capacitance (pF)
        CL  : Load capacity (pF)
        C1  : Series resonance capacitance (fF)
It is.

特許文献1によれば、振動腕構造を有する音叉型圧電振動片の小型化を実現する構造として、振動腕に溝部を設ける場合に、振動腕の幅一杯に溝部を設け、溝部の縁の厚さを薄くすることで電界効率の向上が成されている。特許文献2によれば、振動腕に振動腕の長手方向に延びる複数本の溝部を形成することで電界効率の向上が成されている。
特開2003−60482 特開2006−60727
According to Patent Document 1, as a structure that realizes downsizing of a tuning-fork type piezoelectric vibrating piece having a vibrating arm structure, when a groove is provided in the vibrating arm, the groove is provided to the full width of the vibrating arm, and the thickness of the edge of the groove is The field efficiency is improved by reducing the thickness. According to Patent Document 2, the field efficiency is improved by forming a plurality of grooves extending in the longitudinal direction of the vibrating arm in the vibrating arm.
JP2003-60482 JP 2006-60727 A

しかしながら、特許文献1による製造方法では、溝部の幅を大きく取りすぎると、振動腕の強度が弱くなることと、エッチングする際に深さ方向の浸食が早く進行するため、加工制御が難しくなる問題点がある。特許文献2による製造方法では、音叉型圧電振動片の外形部と複数の溝部とを同時にエッチングするため、音叉型圧電振動片の外形部に対して溝部の浸食速度を1/2未満となるよう制御する必要があり、加工制御が難しくなる問題点がある。   However, in the manufacturing method according to Patent Document 1, if the width of the groove is excessively large, the strength of the vibrating arm is weakened, and the erosion in the depth direction progresses quickly during etching, which makes processing control difficult. There is a point. In the manufacturing method according to Patent Document 2, the outer portion of the tuning fork type piezoelectric vibrating piece and the plurality of groove portions are etched simultaneously, so that the erosion rate of the groove portion is less than ½ with respect to the outer portion of the tuning fork type piezoelectric vibrating piece. There is a problem that it is necessary to control and machining control becomes difficult.

本発明の目的は、音叉型圧電振動片をさらに小型化しても周波数調整が容易になる音叉型圧電振動片を提供する。   An object of the present invention is to provide a tuning fork type piezoelectric vibrating piece that allows easy frequency adjustment even if the tuning fork type piezoelectric vibrating piece is further downsized.

第1の観点の圧電振動片は、基部の一端側から所定方向に伸びる所定幅を有する一対の振動腕と、一対の振動腕の表裏に形成され振動腕の所定幅の25パーセント以下の幅を有する一本のみの溝部と、基部から溝部に形成され、振動腕の励振する励振電極と、を備える。
このように、振動腕の所定幅の25パーセント以下の幅を有する一本のみの溝部を設けると周波数可変感度Sが低くなり、目的の周波数に調整し易くなる。
The piezoelectric vibrating piece according to the first aspect has a pair of vibrating arms having a predetermined width extending in a predetermined direction from one end of the base, and a width of 25% or less of the predetermined width of the vibrating arms formed on the front and back of the pair of vibrating arms. A single groove portion, and an excitation electrode formed from the base portion to the groove portion and exciting the vibrating arm.
As described above, when only one groove portion having a width of 25% or less of the predetermined width of the vibrating arm is provided, the frequency variable sensitivity S is lowered and it is easy to adjust to the target frequency.

第2の観点の圧電振動片は、基部の一端側から且つ振動腕の両外側において所定方向に伸びる一対の支持腕を備える。
この構成により、圧電振動片を小型化した際に、振動漏れの影響を受けにくくなる。
The piezoelectric vibrating piece according to the second aspect includes a pair of support arms extending in a predetermined direction from one end side of the base and on both outer sides of the vibrating arm.
With this configuration, when the piezoelectric vibrating piece is downsized, it is less susceptible to vibration leakage.

第3の観点の圧電振動片は、一対の振動腕の間に形成される振動根元部と一対の振動腕と一対の支持腕との間に形成される支持根元部とは同一形状である。
この構成により、圧電振動片を小型化しても振動片を製造し易くなる。
In the piezoelectric vibrating piece according to the third aspect, the vibration root portion formed between the pair of vibration arms and the support root portion formed between the pair of vibration arms and the pair of support arms have the same shape.
With this configuration, the resonator element can be easily manufactured even if the piezoelectric resonator element is downsized.

第4の観点の圧電振動片は、振動腕の先端側には所定幅よりも幅広い錘部が形成され、振動腕の厚さは振動腕の幅の1.5倍以上である。
第5の観点の圧電デバイスは、第1の観点から第4の観点による圧電振動片と、この圧電振動片を覆う蓋部と、圧電振動片を支えるベースと、を備える。
In the piezoelectric vibrating piece according to the fourth aspect, a weight portion wider than a predetermined width is formed on the tip side of the vibrating arm, and the thickness of the vibrating arm is 1.5 times or more the width of the vibrating arm.
A piezoelectric device according to a fifth aspect includes the piezoelectric vibrating piece according to the first to fourth aspects, a lid that covers the piezoelectric vibrating piece, and a base that supports the piezoelectric vibrating piece.

第6の観点の圧電フレームは、基部の一端側から所定方向に伸びる所定幅の一対の振動腕と、一対の振動腕の表裏に形成され、振動腕の所定幅の25パーセント以下の幅を有する一本のみの溝部と、基部から溝部に形成され、振動腕の励振する励振電極と、一対の振動腕の両外側において基部の一端側から所定方向に伸びる一対の支持腕と、一対の支持腕から所定方向と交差する方向に伸びる調整腕と、調整腕と接続されるとともに基部及び振動腕を囲む外枠部と、を備える。
このように、振動腕の所定幅の25パーセント以下の幅を有する一本のみの溝部が設けられていると、振動椀を目的の周波数に調整し易くなる。
A piezoelectric frame according to a sixth aspect is formed on a pair of vibrating arms having a predetermined width extending in a predetermined direction from one end side of the base, and on the front and back of the pair of vibrating arms, and has a width of 25% or less of the predetermined width of the vibrating arms. Only one groove portion, a base-to-groove excitation electrode for excitation of the vibrating arm, a pair of support arms extending in a predetermined direction from one end of the base portion on both outer sides of the pair of vibrating arms, and a pair of support arms An adjustment arm extending in a direction intersecting with a predetermined direction from the first position, and an outer frame portion connected to the adjustment arm and surrounding the base portion and the vibrating arm.
As described above, when only one groove portion having a width of 25% or less of the predetermined width of the vibrating arm is provided, the vibrating rod is easily adjusted to a target frequency.

第7の観点の圧電デバイスは、第6の観点の記載の圧電フレームと、この圧電フレームを覆う蓋部と、圧電フレームを支えるベースと、を備える。   A piezoelectric device according to a seventh aspect includes the piezoelectric frame according to the sixth aspect, a lid that covers the piezoelectric frame, and a base that supports the piezoelectric frame.

本発明の圧電振動片は小型化しても周波数可変感度Sを低減できる。またその圧電振動片を使った圧電デバイスは小型化の要望に応えることができる。   Even if the piezoelectric vibrating piece of the present invention is downsized, the frequency variable sensitivity S can be reduced. In addition, the piezoelectric device using the piezoelectric vibrating piece can meet the demand for downsizing.

本発明の音叉型水晶振動片は、例えば32.768kHzで信号を発信する振動片でY軸方向の長さが1.45mm程度、X方向の長さが0.5mm程度、Z方向の厚さが0.12mm前後の小型な形状となっている。この音叉型水晶振動片の外形を形成するエッチング工程で、同時に振動腕に振動腕の幅の25%以下の幅を有する一本のみの溝部を設け、周波数可変感度Sを低減した小型な音叉型水晶振動片の形状を示す。   The tuning fork type crystal vibrating piece of the present invention is a vibrating piece that transmits a signal at, for example, 32.768 kHz. The length in the Y-axis direction is about 1.45 mm, the length in the X direction is about 0.5 mm, and the thickness in the Z direction. Has a small shape of around 0.12 mm. In the etching process for forming the outer shape of the tuning-fork type crystal vibrating piece, a small tuning-fork type in which only one groove portion having a width of 25% or less of the width of the vibrating arm is provided in the vibrating arm at the same time and the frequency variable sensitivity S is reduced. The shape of a crystal vibrating piece is shown.

<実施例1>
図1(a)は本実施例の第1音叉型水晶振動片100である。第1音叉型水晶振動片100は振動腕21を持ち、さらに支持腕22で構成されている。図1(b)は(a)のA−A断面図である。
第1音叉型水晶振動片100は基部23に音叉型の一対の振動腕21を持ち、基部23の長さLKは0.20mm程度で、一対の第1振動腕21の長さは1.25mm程度の長さである。
<Example 1>
FIG. 1A shows a first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 of this embodiment. The first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 has a vibrating arm 21 and further includes a support arm 22. FIG.1 (b) is AA sectional drawing of (a).
The first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 has a pair of tuning-fork type vibrating arms 21 at the base 23, the length LK of the base 23 is about 0.20 mm, and the length of the pair of first vibrating arms 21 is 1.25 mm. It is about the length.

振動腕21は基部よりほぼ平行に伸び、振動腕21の表裏両面には、溝部24が形成されている。例えば、一本の振動腕21の表面には1本の溝部24が形成されており、振動腕21の裏面側にも同様に1本の溝部24が形成されている。つまり、一対の振動腕21には4本の溝部24が形成される。図1(b)に示すように溝部24の断面は、略H型に形成され第1音叉型水晶振動片100のCI値を低下させる効果がある。   The vibrating arm 21 extends substantially parallel to the base portion, and grooves 24 are formed on both front and back surfaces of the vibrating arm 21. For example, one groove portion 24 is formed on the surface of one vibrating arm 21, and one groove portion 24 is similarly formed on the back surface side of the vibrating arm 21. That is, four groove portions 24 are formed in the pair of vibrating arms 21. As shown in FIG. 1B, the cross section of the groove 24 is formed in a substantially H shape, and has the effect of reducing the CI value of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100.

振動腕21の根元部分は幅広に形成されている。これは振動腕21の振動が根元部分に集中していた応力を振動根元部26の幅広い方向に移動させ、基部23への振動漏れを減少させるためである。また、溝部24の形成は以下の実施例2についても同様である。   The base portion of the vibrating arm 21 is formed wide. This is to reduce the vibration leakage to the base 23 by moving the stress concentrated in the root portion of the vibrating arm 21 in a wide direction of the vibration root portion 26. The formation of the groove 24 is the same as in the second embodiment.

第1音叉型水晶振動片100の基部23は、その全体が略板状に形成されている。基部23の長さLKは第1音叉型水晶振動片100の全長を短くするために、できるだけ短いほうが望ましい。しかし、基部の長さLKを短くすると、振動腕21の振動がパッケージ外部へ振動漏れとして伝わるおそれがあり、またパッケージ外部の温度変化又は衝撃の影響を受けやすくなる。このため、本実施例では第1音叉型水晶振動片100に支持腕22を形成することで、振動腕21の振動漏れや外部変化の影響を少なくしている。さらに、第1音叉型水晶振動片100とパッケージとの接合部25は基部より離れた支持腕22の端部に設置することで、振動漏れや外部変化の影響を少なくしている。また第1音叉型水晶振動片100の外形を以下に示すような構造にすることでエッチングの異形部の影響を抑え、左右均等でバランスのとれた第1音叉型水晶振動片100を形成することができる。   The entire base 23 of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 is formed in a substantially plate shape. The length LK of the base 23 is preferably as short as possible in order to shorten the overall length of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100. However, when the length LK of the base portion is shortened, the vibration of the vibrating arm 21 may be transmitted to the outside of the package as vibration leakage, and is easily affected by a temperature change or an impact outside the package. For this reason, in the present embodiment, the support arm 22 is formed on the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100, thereby reducing the influence of vibration leakage of the vibrating arm 21 and external changes. Further, the joint 25 between the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 and the package is installed at the end of the support arm 22 away from the base, thereby reducing the influence of vibration leakage and external changes. Further, by forming the first tuning fork type crystal vibrating piece 100 with the following structure, the influence of the irregular portion of the etching is suppressed, and the first tuning fork type crystal vibrating piece 100 which is equally balanced on the left and right is formed. Can do.

図1(a)で示すように、第1音叉型水晶振動片100の基部23は同じ基部の長さLKで幅方向に伸び、その伸びた基部23から支持腕22が伸びた形状である。支持腕22の長さは振動腕21の長さより短く形成する。振動腕21の先端付近は一定幅で幅広となりハンマー形の形状となっている。ハンマー形の形状部分は金属膜を備えた錘部28を形成している。錘部28は振動腕21に電圧をかけた際に振動しやすくさせ、圧電デバイスとして搭載した第1音叉型水晶振動片100の周波数調整をしやすくするために形成される。   As shown in FIG. 1A, the base portion 23 of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 extends in the width direction with the same base length LK, and the support arm 22 extends from the extended base portion 23. The length of the support arm 22 is shorter than the length of the vibrating arm 21. The vicinity of the tip of the vibrating arm 21 has a constant width and is wide and has a hammer shape. The hammer-shaped portion forms a weight portion 28 having a metal film. The weight portion 28 is formed to easily vibrate when a voltage is applied to the vibrating arm 21 and to facilitate frequency adjustment of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 mounted as a piezoelectric device.

基部23と一対の振動腕21とで成す振動根元部26の形状は角ばった(直線的な)U字形状をしている。また、基部23と振動腕21と支持腕22とで成す2箇所の支持根元部27の形状も同一の角ばったU字形状をしている。振動根元部26と支持根元部27との形状とが角ばったU字形状をしているが、滑らかなU字形状をしていても良い。また、第1音叉型水晶振動片100の基部23は同じ基部の長さLKで幅方向に伸ばして設計するため、振動根元部26の最深部の基部23の長さK1と2箇所ある支持根元部27の最深部の長さK2とが同じ長さで形成される。   The shape of the vibration base portion 26 formed by the base portion 23 and the pair of vibration arms 21 is an angular (linear) U-shape. Also, the shape of the two support base portions 27 formed by the base 23, the vibrating arm 21 and the support arm 22 is also the same square U shape. Although the shape of the vibration root portion 26 and the shape of the support root portion 27 is a square shape, it may be a smooth U shape. Further, since the base portion 23 of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 is designed to extend in the width direction with the same base length LK, there are two support roots with the length K1 of the base portion 23 at the deepest part of the vibration base portion 26. The length K2 of the deepest part of the part 27 is formed with the same length.

振動根元部26と支持根元部27との形状と、基部23の長さK1と長さK2とを同一にすることで、水晶の異方性によるエッチングの異型部は同一形状となるため、全体で均一な形状となる。つまり、第1音叉型水晶振動片100は上記の各幅と、各根元部形状と、各基部の長さとを揃えることで、エッチングを行っても左右対称に形成することができ、左右でバランスがとれた構造となる。   Since the shape of the vibration root portion 26 and the support root portion 27 and the length K1 and the length K2 of the base portion 23 are the same, the atypical portions of etching due to crystal anisotropy have the same shape. It becomes a uniform shape. That is, the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 can be formed symmetrically even if etching is performed by aligning the above widths, the shape of each root portion, and the length of each base portion. The structure is removed.

図1(b)で示すように、第1音叉型水晶振動片100の振動腕21と振動腕21との距離である第2幅W2は第1振動腕の幅である第1幅W1と同じであり、また第1振動腕21と支持椀22との距離である第3幅W3も第1幅W1と同じ長さで形成されている。つまり第1音叉型水晶振動片100は第1幅W1と、第2幅W2と、第3幅W3とを同一幅で設計する。   As shown in FIG. 1B, the second width W2 that is the distance between the vibrating arm 21 and the vibrating arm 21 of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 is the same as the first width W1 that is the width of the first vibrating arm. The third width W3, which is the distance between the first vibrating arm 21 and the support rod 22, is also formed with the same length as the first width W1. That is, the first tuning fork type crystal vibrating piece 100 is designed so that the first width W1, the second width W2, and the third width W3 are the same width.

また、振動腕21の溝部24の幅W5は、振動腕21の幅W1の25%以下の幅である。振動腕21の厚さT1は、振動腕21の幅W1の2倍以上である。第1幅W1と、第2幅W2と、第3幅W3とを同一幅で設計することはエッチング工程でエッチング液の流れが同一となり、左右でバランスがとれた第1音叉型水晶振動片100を形成することができる。これらの第1音叉型水晶振動片100の外形と溝部24との形成は公知のフォトリソ・エッチング技術で形成されている。以下は外形及び溝部24のエッチングによる形成方法の概略を示す。   The width W5 of the groove 24 of the vibrating arm 21 is 25% or less of the width W1 of the vibrating arm 21. The thickness T1 of the vibrating arm 21 is at least twice the width W1 of the vibrating arm 21. When the first width W1, the second width W2, and the third width W3 are designed to have the same width, the flow of the etching solution is the same in the etching process, and the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 is balanced on the left and right. Can be formed. The outer shape of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 and the groove 24 are formed by a known photolithography etching technique. The outline of the outer shape and a method for forming the groove 24 by etching will be described below.

(外形の形成)
外形のエッチングは、丸型又は角型の水晶ウエハより同時に多数の第1音叉型水晶振動片100の外形を形成する。第1音叉型水晶振動片100の外形は図示しない耐蝕膜などを用いて、耐蝕膜から露出した水晶ウエハに対して、例えば、フッ酸溶液をエッチング液として、第1音叉型水晶振動片100の外形のエッチングを行う。耐蝕膜としては、例えば、クロムを下地として、金を蒸着した金属被膜などを用いることができる。このエッチング工程は、ウエットエッチングで、フッ酸溶液の濃度や種類、温度等によりエッチング速度が変化する。
(Formation)
The outer shape etching forms the outer shapes of a large number of first tuning-fork type crystal vibrating pieces 100 simultaneously from a round or square crystal wafer. The outer shape of the first tuning-fork type quartz vibrating piece 100 is formed on the quartz wafer exposed from the corrosion-resistant film by using, for example, a hydrofluoric acid solution as an etching solution. Etching the outer shape. As the corrosion-resistant film, for example, a metal film in which gold is vapor-deposited with chromium as a base can be used. This etching process is wet etching, and the etching rate varies depending on the concentration, type, temperature, and the like of the hydrofluoric acid solution.

エッチング進行上の異方性はこれらのエッチング工程でおこり、図1に示された結晶軸(XYZ)のX軸を第1音叉型水晶振動片100の幅、Y軸を長さ、Z軸を厚さZに関して発生する。
すなわち、第1音叉型水晶振動片100に関するエッチングレートは、Z軸方向が大きく、次にプラスX軸方向が大きく、次にマイナスX軸方向が大きく、Y軸方向が一番小さい。
Anisotropy in the etching progress occurs in these etching processes. The X axis of the crystal axis (XYZ) shown in FIG. 1 is the width of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100, the Y axis is the length, and the Z axis is Occurs for thickness Z.
That is, the etching rate related to the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 is large in the Z-axis direction, next largest in the plus X-axis direction, next largest in the minus X-axis direction, and smallest in the Y-axis direction.

このようなエッチング進行上の異方性により、第1音叉型水晶振動片100には、各振動腕及び各支持腕の外側側面に、ヒレ状に突出した異形部(図示しない)が形成される。   Due to such anisotropy in etching progress, the first tuning-fork type quartz vibrating piece 100 is formed with a deformed portion (not shown) protruding in a fin shape on the outer side surface of each vibrating arm and each supporting arm. .

(溝形の形成)
次に、溝形成用レジストにより、各溝部24を挟む両側の壁部を残す様にして、溝部24を形成しない部分に耐蝕膜を残し、外形エッチングと同じエッチング条件で振動腕21の表面と裏面とを、それぞれウエットエッチングすることにより溝部24を形成する。溝部24の深さは水晶ウエハの厚みに対して、30ないし45パーセント程度とで形成する。
(Groove shape formation)
Next, with the groove forming resist, the wall portions on both sides sandwiching each groove portion 24 are left, and a corrosion-resistant film is left on a portion where the groove portion 24 is not formed, and the front and back surfaces of the vibrating arm 21 are etched under the same etching conditions as the outer shape etching. The groove 24 is formed by wet etching. The depth of the groove 24 is about 30 to 45 percent with respect to the thickness of the quartz wafer.

なお、上記の外形エッチングおよび溝エッチングは、その一方もしくは両方をドライエッチングにより形成してもよい。その場合には、例えば、水晶ウエハ上に、第1音叉型水晶振動片100の外形や、外形形成後には、溝部24に相当する領域を、その都度メタルマスクを配置して覆う。この状態で、例えば、図示しないチャンバ内に収容し、所定の真空度でエッチングガスを供給して、エッチングプラズマを生成しドライエッチングすることができる。つまり、真空チャンバ(図示せず)には、例えば、フレオンガスボンベと酸素ガスボンベとが接続され、さらに、真空チャンバには、排気管が設けられ、所定の真空度に真空引きされるようになっている。   Note that one or both of the above-described outer shape etching and groove etching may be formed by dry etching. In that case, for example, on the quartz wafer, the outer shape of the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 and the region corresponding to the groove 24 are formed and covered with a metal mask each time the outer shape is formed. In this state, for example, it can be housed in a chamber (not shown), and an etching gas can be supplied at a predetermined degree of vacuum to generate etching plasma for dry etching. That is, for example, a freon gas cylinder and an oxygen gas cylinder are connected to a vacuum chamber (not shown), and an exhaust pipe is provided in the vacuum chamber so that the vacuum chamber is evacuated to a predetermined degree of vacuum. Yes.

真空チャンバ内が、所定の真空度に真空排気され、フレオンガスと、酸素ガスが送られ、その混合ガスが所定の気圧になるまで充填された状態にて、直流電圧が印加されると、プラズマが発生する。そして、イオン化された粒子を含む混合ガスは、メタルマスクから露出した圧電材料に当たる。この衝撃により、物理的に削り取られて飛散し、エッチングが進行する。   When a DC voltage is applied in a state where the inside of the vacuum chamber is evacuated to a predetermined degree of vacuum, a freon gas and an oxygen gas are sent, and the mixed gas is filled to a predetermined atmospheric pressure, plasma is generated. appear. The mixed gas containing ionized particles hits the piezoelectric material exposed from the metal mask. Due to this impact, it is physically scraped off and scattered, and etching proceeds.

(電極の形成)
電極は、図1(a)で示されるように第1基部電極31及び第2基部電極32並びに第1励振電極33及び第2励振電極34で形成される。第1励振電極33及び第2励振電極34は図1(b)で示されるように振動腕21の側面にも形成されている。第1基部電極31及び第2基部電極32並びに第1励振電極33及び第2励振電極34は例えばNi膜からなる下地にAu膜を設けた2層構造で形成されている。
(Formation of electrodes)
As shown in FIG. 1A, the electrodes are formed of a first base electrode 31, a second base electrode 32, a first excitation electrode 33, and a second excitation electrode. The first excitation electrode 33 and the second excitation electrode 34 are also formed on the side surface of the vibrating arm 21 as shown in FIG. The first base electrode 31, the second base electrode 32, the first excitation electrode 33, and the second excitation electrode 34 are formed in a two-layer structure in which an Au film is provided on a base made of, for example, a Ni film.

電極の形成は蒸着もしくはスパッタリングなどによって、電極となる金属を全面に被覆し、次いで、電極を形成しない箇所を露出したレジストを用いて、フォトリソグラフィの手法により、電極を形成する。その後、振動腕21の先端部には、スパッタリングや蒸着により、錘付け電極(金属被膜)が形成される。錘付け電極は周波数調整に利用される。   The electrode is formed by covering the entire surface with a metal to be an electrode by vapor deposition or sputtering, and then forming the electrode by a photolithography technique using a resist exposing a portion where the electrode is not formed. Thereafter, a weighting electrode (metal coating) is formed on the tip of the vibrating arm 21 by sputtering or vapor deposition. The weighted electrode is used for frequency adjustment.

(圧電デバイスの形成)
図2(a)は第1圧電デバイス50の概略上面図であり、図2(b)は(a)のB−B概略断面図である。第1圧電デバイス50は真空チャンバ内で窪みを持つパッケージPKGに第1音叉型水晶振動片100を入れ、真空状態で蓋体53とパッケージPKGとを封止材54により接合する。蓋体53は硼珪酸ガラスなどで形成することで圧電デバイスを構築した後でも周波数の調整をすることができる。
(Formation of piezoelectric device)
2A is a schematic top view of the first piezoelectric device 50, and FIG. 2B is a schematic cross-sectional view taken along the line BB of FIG. 2A. In the first piezoelectric device 50, the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 is placed in a package PKG having a depression in a vacuum chamber, and the lid 53 and the package PKG are joined together by a sealing material 54 in a vacuum state. The lid 53 is formed of borosilicate glass or the like, so that the frequency can be adjusted even after the piezoelectric device is constructed.

パッケージPKGは例えばセラミックからなるセラミックパッケージであり、複数枚のセラミックシートを積層して箱状に形成してある。パッケージPKGの底部には外部電極51が形成され表面実装(SMD:Surface Mount Device)できるタイプとなる。   The package PKG is a ceramic package made of ceramic, for example, and is formed in a box shape by laminating a plurality of ceramic sheets. An external electrode 51 is formed on the bottom of the package PKG, and is a type that can be surface mounted (SMD: Surface Mount Device).

第1音叉型水晶振動片100は支持腕22の接合部25で圧電デバイス50のパッケージPKGと接合している。例えば、接合部25はパッケージPKGの電極(図示しない)に塗布した導電性接着剤の上に載置して、導電性接着剤を仮硬化させる。次に、硬化炉で導電性接着剤を本硬化することで接合部25は第1音叉型水晶振動片100とパッケージPKGとで導電性を持たせたまま接合されパッケージ外部の外部電極51と電気的に接続される。   The first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 is joined to the package PKG of the piezoelectric device 50 at the joint portion 25 of the support arm 22. For example, the joint portion 25 is placed on a conductive adhesive applied to an electrode (not shown) of the package PKG, and the conductive adhesive is temporarily cured. Next, the joint 25 is joined with the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 and the package PKG to be electrically conductive by the main curing of the conductive adhesive in a curing furnace, and the external electrode 51 outside the package is electrically connected. Connected.

第1圧電デバイス50は第1音叉型水晶振動片100の振動腕21の先端の錘部28にレーザー光を照射して、錘部28の金属被膜の一部を蒸散・昇華させ、質量削減方式による周波数の調整を行う。また第1圧電デバイス50は駆動特性などの検査を行うことで完成する。   The first piezoelectric device 50 irradiates a weight 28 at the tip of the vibrating arm 21 of the first tuning-fork type quartz vibrating piece 100 to evaporate and sublimate a part of the metal coating on the weight 28 to reduce the mass. Adjust the frequency with. Further, the first piezoelectric device 50 is completed by inspecting driving characteristics and the like.

図3(a)は、溝部24の幅の違いと周波数可変感度Sとの関係を示す図である。図3(a)の横軸の溝幅比率(%)は、図1(b)に示された振動腕21の溝部の幅W5を振動腕21の幅W1で割ったものを百分率表記している。縦軸に周波数可変感度S(ppm/pF)を表示している。溝幅比率(%)が25%の時に、周波数可変感度Sは10ppm/pFであり、溝幅が25%を超えると周波数可変感度Sは10ppm/pFより高くなり、溝幅が25%以下では周波数可変感度Sが10ppm/pFより低くなる。振動腕21の溝部の幅W5は、振動腕21の幅W1の25%以下が好ましい。周波数可変感度Sが10ppm/pF以下であると目的の周波数、例えば32.768KHZに合わせることが容易になる。   FIG. 3A is a diagram showing the relationship between the difference in width of the groove 24 and the frequency variable sensitivity S. FIG. The groove width ratio (%) on the horizontal axis in FIG. 3A is expressed as a percentage obtained by dividing the groove width W5 of the vibrating arm 21 shown in FIG. 1B by the width W1 of the vibrating arm 21. Yes. The vertical axis represents the frequency variable sensitivity S (ppm / pF). When the groove width ratio (%) is 25%, the frequency variable sensitivity S is 10 ppm / pF. When the groove width exceeds 25%, the frequency variable sensitivity S becomes higher than 10 ppm / pF, and when the groove width is 25% or less. The frequency variable sensitivity S becomes lower than 10 ppm / pF. The width W5 of the groove portion of the vibrating arm 21 is preferably 25% or less of the width W1 of the vibrating arm 21. When the frequency variable sensitivity S is 10 ppm / pF or less, it becomes easy to match the target frequency, for example, 32.768 KHZ.

図3(b)は、直列共振容量C1と周波数可変感度Sとの関係を示す図である。直列共振容量C1(fF)が小さくなれば周波数可変感度S(ppm/pF)が低くなることを示している。直列共振容量C1(fF)を4fF以下にすることが好ましい。   FIG. 3B is a diagram showing the relationship between the series resonant capacitor C1 and the frequency variable sensitivity S. It shows that the frequency variable sensitivity S (ppm / pF) decreases as the series resonant capacitance C1 (fF) decreases. The series resonance capacitance C1 (fF) is preferably 4 fF or less.

<実施例2>
図4は、本実施例の第2音叉型水晶振動片110を備えた第2圧電デバイス60の概略図を示している。第2音叉型水晶振動片110と第1音叉型水晶振動片100との違いは、基部及び振動腕を囲む外枠部を備え、一対の支持腕からY軸方向と交差する方向に延びる調整腕(接続腕)により外枠部と接続した形状にある。
<Example 2>
FIG. 4 shows a schematic diagram of the second piezoelectric device 60 including the second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 of the present embodiment. The difference between the second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 and the first tuning-fork type crystal vibrating piece 100 is that an adjustment arm that includes an outer frame portion surrounding the base and the vibrating arm and extends in a direction intersecting the Y-axis direction from a pair of support arms. It is in a shape connected to the outer frame portion by (connecting arm).

図4(a)は、分割した状態の第2圧電デバイス60を、リッド10のリッド部側からみた斜視図である。図4(b)は、(a)のC−C断面で第2圧電デバイス60の断面構成図である。   FIG. 4A is a perspective view of the second piezoelectric device 60 in a divided state as viewed from the lid portion side of the lid 10. FIG. 4B is a cross-sectional configuration diagram of the second piezoelectric device 60 in the CC cross section of FIG.

図4(a)及び(b)に示されるように、第2圧電デバイス60は、最上部のリッド10、水晶フレーム20及びベース40から構成される。リッド10、水晶フレーム20及びベース40は水晶材料から形成される。水晶フレーム20は、エッチングにより形成された第2音叉型水晶振動片110を有している。   As shown in FIGS. 4A and 4B, the second piezoelectric device 60 includes the uppermost lid 10, the crystal frame 20, and the base 40. The lid 10, the crystal frame 20 and the base 40 are made of a crystal material. The crystal frame 20 has a second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 formed by etching.

第2圧電デバイス60は、第2音叉型水晶振動片110を備えた圧電フレーム20を中心に挟んで、その圧電フレーム20の上にリッド10が接合され、水晶フレーム20の下にベース40が接合されてパッケージ80が形成されている。つまり、リッド10は水晶フレーム20に、ベース40は水晶フレーム20にシロキサン接合(Si−O−Si)により封止する構成になっている。   In the second piezoelectric device 60, the lid 10 is bonded on the piezoelectric frame 20 with the piezoelectric frame 20 including the second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 at the center, and the base 40 is bonded under the crystal frame 20. Thus, a package 80 is formed. That is, the lid 10 is sealed to the crystal frame 20 and the base 40 is sealed to the crystal frame 20 by siloxane bonding (Si—O—Si).

水晶フレーム20は、その中央部にいわゆる第2音叉型水晶振動片110と外側に外枠部29とを有しており、第2音叉型水晶振動片110と外枠部29との間には空間部30が形成されている。第2音叉型水晶振動片110の外形を規定する空間部30は水晶エッチングにより形成されている。第2音叉型水晶振動片110は、外枠部29とおなじ厚さである。第2音叉型水晶振動片110は、基部23と基部23から伸びる一対の振動腕21とを有している。基部23と外枠部29とは一体に形成されている。基部23及び外枠部29の第1主面に第1基部電極31と第2基部電極32とが形成され、第2主面にも同様に第1基部電極31と第2基部電極32とが形成されている。   The crystal frame 20 has a so-called second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 at the center portion and an outer frame portion 29 on the outside, and the second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 and the outer frame portion 29 are interposed between them. A space 30 is formed. The space 30 that defines the outer shape of the second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 is formed by crystal etching. The second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 has the same thickness as the outer frame portion 29. The second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 includes a base portion 23 and a pair of vibrating arms 21 extending from the base portion 23. The base portion 23 and the outer frame portion 29 are integrally formed. The first base electrode 31 and the second base electrode 32 are formed on the first main surface of the base 23 and the outer frame portion 29, and the first base electrode 31 and the second base electrode 32 are similarly formed on the second main surface. Is formed.

リッド10は、水晶フレーム20側にリッド用凹部17を備える。ベース40は、水晶フレーム20側にベース用凹部47を備える。ベース40は第1スルーホール41及び第2スルーホール43並びに段差部49を形成する。段差部49には、第1スルーホール41及び第2スルーホール43と接続する第1接続電極42及び第2接続電極44を形成する。ベース40の底部には、第1外部電極45及び第2外部電極46が形成されている。 The lid 10 includes a lid recess 17 on the crystal frame 20 side. The base 40 includes a base recess 47 on the side of the crystal frame 20. The base 40 forms a first through hole 41, a second through hole 43, and a stepped portion 49. A first connection electrode 42 and a second connection electrode 44 connected to the first through hole 41 and the second through hole 43 are formed in the stepped portion 49. A first external electrode 45 and a second external electrode 46 are formed on the bottom of the base 40.

第1スルーホール41及び第2スルーホール43は、その内面に金属膜が形成される。内面の金属膜は、第1接続電極42及び第2接続電極44並びに第1外部電極45及び第2外部電極46と同時にフォトリソグラフィ工程で作成される。金属膜は2層から成り、50オングストローム〜700オングストロームのニッケル(Ni)層の上に400オングストローム〜2000オングストロームの金(Au)層が形成された構成である。ニッケル(Ni)層の代わりに、クロム(Cr)層又はチタン(Ti)層を使用されることもある。   A metal film is formed on the inner surface of the first through hole 41 and the second through hole 43. The metal film on the inner surface is formed by a photolithography process simultaneously with the first connection electrode 42 and the second connection electrode 44, and the first external electrode 45 and the second external electrode 46. The metal film is composed of two layers, and a gold (Au) layer of 400 angstroms to 2000 angstroms is formed on a nickel (Ni) layer of 50 angstroms to 700 angstroms. Instead of the nickel (Ni) layer, a chromium (Cr) layer or a titanium (Ti) layer may be used.

第1接続電極42は、第1スルーホール41を通じてベース40に設けた第1外部電極45に電気的に接続する。第2接続電極44は、第2スルーホール43を通じてベース40に設けた第2外部電極46に電気的に接続する。   The first connection electrode 42 is electrically connected to the first external electrode 45 provided on the base 40 through the first through hole 41. The second connection electrode 44 is electrically connected to the second external electrode 46 provided on the base 40 through the second through hole 43.

第2圧電デバイス60は、リッド10、水晶フレーム20及びベース40が接合されてパッケージ80が形成される。つまり、第1基部電極31はベース40の第1外部電極45と電気的に接合し、第2基部電極32はベース40の第2外部電極46と電気的に接合する。   In the second piezoelectric device 60, the lid 10, the crystal frame 20, and the base 40 are joined to form a package 80. That is, the first base electrode 31 is electrically joined to the first external electrode 45 of the base 40, and the second base electrode 32 is electrically joined to the second external electrode 46 of the base 40.

(水晶フレーム20の構成)
図5(a)は、水晶フレーム20の上面図である。図5(b)は、(a)のD−D断面図である。
図5(a)に示されるように、水晶フレーム20は、基部23及び振動腕21からなる第2音叉型水晶振動片110と、スルーホールTHを備えた外枠部29と、支持腕22と、接続部36とから構成され、同じ厚さの水晶基板で一体に形成されている。水晶フレーム20は、外枠部29と、基部23と、支持腕22と、接続部36とに第1基部電極31及び第2基部電極32を備える。第2音叉型水晶振動片110は、たとえば32.768kHzで信号を発振する振動片で、極めて小型の振動片となっている。図5では第1実施例と重複する説明を省く。尚、スルーホールTHを設けずに電極が水晶フレーム20の内側側壁に設けられても良い。
(Configuration of crystal frame 20)
FIG. 5A is a top view of the crystal frame 20. FIG.5 (b) is DD sectional drawing of (a).
As shown in FIG. 5A, the crystal frame 20 includes a second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 including a base portion 23 and a vibrating arm 21, an outer frame portion 29 provided with a through hole TH, a support arm 22, And a connecting portion 36, which are integrally formed of a quartz substrate having the same thickness. The crystal frame 20 includes a first base electrode 31 and a second base electrode 32 on an outer frame portion 29, a base portion 23, a support arm 22, and a connection portion 36. The second tuning-fork type crystal vibrating piece 110 is a vibrating piece that oscillates a signal at, for example, 32.768 kHz, and is an extremely small vibrating piece. In FIG. 5, the description overlapping with the first embodiment is omitted. The electrode may be provided on the inner side wall of the crystal frame 20 without providing the through hole TH.

一対の振動腕21は基部23の一端からY方向に延びており、振動腕21の表裏両面には振動腕の幅の25%以下の幅を有する一本のみの溝部24が形成されている。つまり、一対の振動腕21には表裏合わせて4本の溝部24が形成されている。溝部24の断面は略H型に形成され、第2音叉型水晶振動片110のCI値を低下させる効果がある。振動腕21の厚さは、振動腕21の幅の2倍以上である。   The pair of vibrating arms 21 extends in the Y direction from one end of the base portion 23, and only one groove portion 24 having a width of 25% or less of the width of the vibrating arms is formed on both front and back surfaces of the vibrating arm 21. That is, the pair of vibrating arms 21 is formed with four groove portions 24 on both sides. The cross section of the groove portion 24 is formed in a substantially H shape, and has an effect of reducing the CI value of the second tuning fork type crystal vibrating piece 110. The thickness of the vibrating arm 21 is at least twice the width of the vibrating arm 21.

基部23と一対の振動腕21とで成す振動根元部及び基部23と振動腕21と支持腕22とで成す2箇所の支持根元部の形状は、滑らかなU字形状をしている。第2音叉型水晶振動片110は、第1音叉型水晶振動片100と同様に振動腕21及び支持椀22の各幅並びに間隙を揃え、各根元部形状及び各基部の長さを揃えることで、エッチングを行っても左右対称に形成することができ、左右でバランスがとれた構造となる。   The shape of the vibration base portion formed by the base portion 23 and the pair of vibration arms 21 and the two support root portions formed by the base portion 23, the vibration arm 21 and the support arm 22 have a smooth U shape. Similar to the first tuning fork type quartz crystal vibrating piece 100, the second tuning fork type crystal vibrating piece 110 has the same width and gap between the vibrating arm 21 and the support rod 22, and the same base portion shape and each base length. Even if etching is performed, it can be formed symmetrically, resulting in a balanced structure on the left and right.

振動腕21の先端付近は一定幅で幅広となりハンマー型の形状となっている。ハンマー型の形状部分は金属膜を備えた錘部28を形成している。錘部28は振動腕21に電圧をかけた際に振動しやすくさせ、また安定した振動をするために形成されている。一対の振動腕21は、表面、裏面及び側面に第1励振電極33及び第2励振電極34が形成されており、第1励振電極33は第1基部電極31につながっており、第2励振電極34は第2基部電極32につながっている。 The vicinity of the tip of the vibrating arm 21 has a constant width and is wide and has a hammer shape. The hammer-shaped portion forms a weight portion 28 having a metal film. The weight portion 28 is formed to easily vibrate when a voltage is applied to the vibrating arm 21 and to stably vibrate. The pair of vibrating arms 21 includes a first excitation electrode 33 and a second excitation electrode 34 formed on the front surface, the back surface, and the side surface. The first excitation electrode 33 is connected to the first base electrode 31, and the second excitation electrode 34 is connected to the second base electrode 32.

第1基部電極31、第2基部電極32、第1励振電極33、第2励振電極34及び錘部28は、50オングストローム〜700オングストロームのクロム(Cr)層の上に400オングストローム〜2000オングストロームの金(Au)層が形成された構成である。クロム(Cr)層の代わりに、チタン(Ti)層を使用してもよく、また金(Au)層の代わりに、銀(Ag)層を使用してもよい。   The first base electrode 31, the second base electrode 32, the first excitation electrode 33, the second excitation electrode 34, and the weight portion 28 are formed on a chromium (Cr) layer of 50 angstroms to 700 angstroms and gold of 400 angstroms to 2000 angstroms. The (Au) layer is formed. A titanium (Ti) layer may be used instead of the chromium (Cr) layer, and a silver (Ag) layer may be used instead of the gold (Au) layer.

一対の支持腕22は、基部23の一端から振動腕21が伸びる方向(Y方向)に伸びて接続部36と外枠部29とに接続している。一対の支持腕22は、振動腕21の振動を第2圧電デバイス60の外部へ振動漏れとして伝えづらくさせ、またパッケージ外部の温度変化又は衝撃の影響を受けづらくさせる効果を持つ。   The pair of support arms 22 extends from one end of the base portion 23 in the direction in which the vibrating arm 21 extends (Y direction) and is connected to the connection portion 36 and the outer frame portion 29. The pair of support arms 22 has an effect of making it difficult to transmit the vibration of the vibrating arm 21 to the outside of the second piezoelectric device 60 as a vibration leak, and to make it difficult to be affected by a temperature change or impact outside the package.

図6(a)は、第2圧電デバイス60を構成するリッド10の内面図であり、(b)は第2音叉型水晶振動片110を有する水晶フレーム20の上面図であり、(c)はベース40の上面図であり、(d)は(a)から(c)のE−E断面で第2圧電デバイス60を示した断面構成図である。   6A is an internal view of the lid 10 constituting the second piezoelectric device 60, FIG. 6B is a top view of the crystal frame 20 having the second tuning-fork type crystal vibrating piece 110, and FIG. It is a top view of base 40, (d) is a section lineblock diagram showing the 2nd piezoelectric device 60 in the EE section from (a) to (c).

図6(a)に示されるようにリッド10は、リッド用凹部17を水晶フレーム20側の片面に有している。図6(b)は、図5で説明した水晶フレーム20であり説明を省略する。   As shown in FIG. 6A, the lid 10 has a lid recess 17 on one side of the crystal frame 20 side. FIG. 6B is the crystal frame 20 described in FIG.

図6(c)に示されるように、ベース40は、ベース用凹部47を水晶フレーム20側の片面に有している。ベース40は、エッチングによりベース用凹部47を設ける際、同時に第1スルーホール41と第2スルーホール43と段差部49とを形成する。ベース40の表面の段差部49に、第1接続電極42及び第2接続電極44を形成する。   As shown in FIG. 6C, the base 40 has a base recess 47 on one side of the crystal frame 20 side. The base 40 simultaneously forms the first through hole 41, the second through hole 43, and the stepped portion 49 when the base recess 47 is provided by etching. The first connection electrode 42 and the second connection electrode 44 are formed on the stepped portion 49 on the surface of the base 40.

第1スルーホール41及び第2スルーホール43は、その内面に金属膜が形成され、その内面の金属膜は、第1接続電極42及び第2接続電極44と同時にフォトリソグラフィ工程で作成される。内面の金属膜はクロム(Cr)層の上に金(Au)層又は銀(Ag)層が形成される。ベース40は、底面にメタライジングされた第1外部電極45及び第2外部電極46を備える。第1接続電極41は、第1スルーホール41を通じてベース40の底面に設けた第1外部電極45に接続する。第2接続電極44は、第2スルーホール43を通じてベース40の底面に設けた第2外部電極46に接続する。   The first through-hole 41 and the second through-hole 43 are formed with a metal film on the inner surface, and the metal film on the inner surface is formed simultaneously with the first connection electrode 42 and the second connection electrode 44 by a photolithography process. As the inner metal film, a gold (Au) layer or a silver (Ag) layer is formed on a chromium (Cr) layer. The base 40 includes a first external electrode 45 and a second external electrode 46 that are metallized on the bottom surface. The first connection electrode 41 is connected to the first external electrode 45 provided on the bottom surface of the base 40 through the first through hole 41. The second connection electrode 44 is connected to the second external electrode 46 provided on the bottom surface of the base 40 through the second through hole 43.

外枠部29の裏面に形成された第1基部電極31と第2基部電極32とは、それぞれベース40の表面の第1接続電極42及び第2接続電極44に接続する。つまり、第1基部電極31は第1外部電極45と電気的に接続し、第2基部電極32は第2外部電極46と電気的に接続している。   The first base electrode 31 and the second base electrode 32 formed on the back surface of the outer frame portion 29 are connected to the first connection electrode 42 and the second connection electrode 44 on the surface of the base 40, respectively. That is, the first base electrode 31 is electrically connected to the first external electrode 45, and the second base electrode 32 is electrically connected to the second external electrode 46.

図6(d)の概略断面構成図で示されるように、第2圧電デバイス60は,図6(a)のリッド10と水晶フレーム20とベース40とを重ね合わせ、1個の圧電デバイスをシロキサン結合する前の図を示している。しかし実際の製造においては、1枚の水晶ウエハに数百から数千の水晶フレーム20と、1枚の水晶ウエハに数百から数千のリッド10と、1枚の水晶ウエハに数百から数千のベース40とを用意し、それらをウエハ単位で接合して一度に数百から数千の圧電デバイスを製造する。   As shown in the schematic cross-sectional configuration diagram of FIG. 6D, the second piezoelectric device 60 is formed by superimposing the lid 10, the crystal frame 20, and the base 40 of FIG. 6A on one piezoelectric device. The figure before joining is shown. However, in actual manufacturing, hundreds to thousands of crystal frames 20 are formed on one crystal wafer, hundreds to thousands of lids 10 are formed on one crystal wafer, and hundreds to several hundreds are formed on one crystal wafer. Thousands of bases 40 are prepared and bonded in units of wafers to produce hundreds to thousands of piezoelectric devices at a time.

第2圧電デバイス60は,シロキサン結合終了後、第1スルーホール41及び第2スルーホール43の封止を行う。例えば、第1スルーホール41及び第2スルーホール43に金・ゲルマニューム合金を充填し、400°Cの真空中もしくは不活性ガス中の不図示の真空リフロー炉に保持し封止する。或いは、シロキサン結合する前にスルーホールの封止を行い、真空リフロー炉で一定時間真空中又は不活性雰囲気中に保持して加熱してシロキサン結合してもよい。これにより、パッケージ80内が真空になった又は不活性ガスで満たされた第2圧電デバイス60が完成する。   The second piezoelectric device 60 seals the first through hole 41 and the second through hole 43 after completion of the siloxane bond. For example, the first through hole 41 and the second through hole 43 are filled with gold / germanium alloy, and held and sealed in a vacuum reflow furnace (not shown) in a vacuum of 400 ° C. or in an inert gas. Alternatively, the through holes may be sealed before siloxane bonding, and the siloxane bonds may be bonded by heating in a vacuum reflow oven for a certain period of time in a vacuum or in an inert atmosphere. Thereby, the second piezoelectric device 60 in which the inside of the package 80 is evacuated or filled with the inert gas is completed.

以上、本発明の好適実施例について詳細に説明したが、当業者に明らかなように、本発明はその技術的範囲内において上記各実施例に様々な変更・変形を加えて実施することができる。たとえば、本発明の圧電振動片は、水晶以外にニオブ酸リチウム等の様々な圧電単結晶材料を用いることができる。   The preferred embodiments of the present invention have been described in detail above. However, as will be apparent to those skilled in the art, the present invention can be carried out with various modifications and changes made to the above embodiments within the technical scope thereof. . For example, the piezoelectric vibrating piece of the present invention can use various piezoelectric single crystal materials such as lithium niobate in addition to quartz.

(a)は、第1音叉型圧電振動片100の上面図である。 (b)は、(a)に示した音叉型圧電振動片100のA−A断面図である。FIG. 3A is a top view of the first tuning-fork type piezoelectric vibrating piece 100. FIG. (B) is AA sectional drawing of the tuning fork type piezoelectric vibrating piece 100 shown to (a). (a)は、圧電デバイス50の上面図である。 (b)は、(a)に示した圧電デバイス50のB−B断面図である。FIG. 4A is a top view of the piezoelectric device 50. FIG. (B) is BB sectional drawing of the piezoelectric device 50 shown to (a). (a)は、溝幅比率と周波数可変感度Sとの関係を示す図である。 (b)は、直列共振容量C1と周波数可変感度Sとの関係を示す図である。(A) is a figure which shows the relationship between a groove width ratio and the frequency variable sensitivity S. FIG. (B) is a figure which shows the relationship between the series resonance capacity | capacitance C1 and the frequency variable sensitivity S. FIG. (a)は、分割した状態の第2圧電デバイス60を、リッド10のリッド部側からみた斜視図である。(b)は、(a)に示した第2圧電デバイス60のC−C断面構成図である。(A) is the perspective view which looked at the 2nd piezoelectric device 60 of the divided state from the lid part side of lid 10. FIG. (B) is CC cross-section block diagram of the 2nd piezoelectric device 60 shown to (a). (a)は、水晶フレーム20の上面図である。(b)は、(a)に示した水晶フレーム20のD−D断面図である。(A) is a top view of the crystal frame 20. (B) is DD sectional drawing of the crystal frame 20 shown to (a). (a)は、第2圧電デバイス60を構成するリッド10の内面図である。(b)は、第2音叉型水晶振動片110を有する水晶フレーム20の上面図である。(c)は、ベース40の上面図である。(d)は、(a)から(c)のE−E断面で第2圧電デバイス60を示した断面構成図である。(A) is an inner surface view of the lid 10 constituting the second piezoelectric device 60. FIG. 6B is a top view of the crystal frame 20 having the second tuning-fork type crystal vibrating piece 110. (C) is a top view of the base 40. (D) is the cross-sectional block diagram which showed the 2nd piezoelectric device 60 in the EE cross section of (a) to (c).

符号の説明Explanation of symbols

10 … リッド
17 … リッド用凹部
20 … 水晶フレーム
21 … 振動腕
22 … 支持腕
23 … 基部
24 … 溝部
25 … 接合部
26 … 振動根元部
27 … 支持根元部
28 … 錘部
29 … 外枠部
30 … 空間部
31,32 … 基部電極
33,34 … 励振電極
36 … 接続部
40 … ベース
41、43 … スルーホール
42、44 … 接続電極
45,46、51 … 外部電極
47 … ベース用凹部
49 … 段差部
50 … 第1圧電デバイス
53 … 蓋体
54 … 封止材
60 … 第2圧電デバイス
80 … パッケージ
100 … 第1音叉型水晶振動片
110 … 第2音叉型水晶振動片
LK … 基部の長さ
W1 … 第1幅
W2 … 第2幅
W3 … 第3幅
W5 … 溝部幅
PKG … パッケージ
T1 … 振動腕の厚さ
TH … スルーホール
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Lid 17 ... Lid recessed part 20 ... Crystal frame 21 ... Vibrating arm 22 ... Support arm 23 ... Base part 24 ... Groove part 25 ... Joint part 26 ... Vibration root part 27 ... Support base part 28 ... Weight part 29 ... Outer frame part 30 ... Space part 31, 32 ... Base electrode 33, 34 ... Excitation electrode 36 ... Connection part 40 ... Base 41, 43 ... Through hole 42, 44 ... Connection electrode 45, 46, 51 ... External electrode 47 ... Base recess 49 ... Step Part 50 ... First piezoelectric device 53 ... Lid 54 ... Sealing material 60 ... Second piezoelectric device 80 ... Package 100 ... First tuning fork type crystal vibrating piece 110 ... Second tuning fork type crystal vibrating piece LK ... Base length W1 ... 1st width W2 ... 2nd width W3 ... 3rd width W5 ... Groove width PKG ... Package T1 ... Thickness TH of vibrating arm ... Through hole

Claims (7)

基部の一端側から所定方向に伸びる所定幅を有する一対の振動腕と、
前記一対の振動腕の表裏に形成され、前記振動腕の所定幅の25パーセント以下の幅を有する一本のみの溝部と、
前記基部から前記溝部に形成され、前記振動腕の励振する励振電極と、を備えることを特徴とする圧電振動片。
A pair of vibrating arms having a predetermined width extending in a predetermined direction from one end of the base;
A single groove formed on the front and back of the pair of vibrating arms and having a width of 25% or less of a predetermined width of the vibrating arms;
A piezoelectric vibrating piece, comprising: an excitation electrode formed in the groove portion from the base portion and excited by the vibrating arm.
前記基部の前記一端側から且つ前記振動腕の両外側において前記所定方向に伸びる一対の支持腕を備えることを特徴とする請求項1に記載の圧電振動片。   2. The piezoelectric vibrating piece according to claim 1, further comprising a pair of support arms extending in the predetermined direction from the one end side of the base and on both outer sides of the vibrating arm. 前記一対の振動腕の間に形成される振動根元部と前記一対の振動腕と一対の支持腕との間に形成される支持根元部とは、同一形状であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の圧電振動片。   2. The vibration root portion formed between the pair of vibration arms and the support root portion formed between the pair of vibration arms and the pair of support arms have the same shape. Alternatively, the piezoelectric vibrating piece according to claim 2. 前記振動腕の先端側には前記所定幅よりも幅広い錘部が形成され、前記振動腕の厚さは振動腕の幅の1.5倍以上であることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載の圧電振動片。   The weight portion wider than the predetermined width is formed on the tip side of the vibrating arm, and the thickness of the vibrating arm is 1.5 times or more the width of the vibrating arm. 4. The piezoelectric vibrating piece according to claim 3. 前記請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の圧電振動片と、
この圧電振動片を覆う蓋部と、
前記圧電振動片を支えるベースと、
を備えることを特徴とする圧電デバイス。
The piezoelectric vibrating piece according to any one of claims 1 to 4,
A lid covering this piezoelectric vibrating piece;
A base that supports the piezoelectric vibrating piece;
A piezoelectric device comprising:
基部の一端側から所定方向に伸びる所定幅の一対の振動腕と、
前記一対の振動腕の表裏に形成され、前記振動腕の所定幅の25パーセント以下の幅を有する一本のみの溝部と、
前記基部から前記溝部に形成され、前記振動腕の励振する励振電極と、
前記一対の振動腕の両外側において前記基部の前記一端側から前記所定方向に伸びる一対の支持腕と、
前記一対の支持腕から前記所定方向と交差する方向に伸びる調整腕と、
前記調整腕と接続されるとともに前記基部及び前記振動腕を囲む外枠部と、
を備えることを特徴とする圧電フレーム。
A pair of vibrating arms having a predetermined width extending in a predetermined direction from one end of the base;
A single groove formed on the front and back of the pair of vibrating arms and having a width of 25% or less of a predetermined width of the vibrating arms;
An excitation electrode formed from the base to the groove and exciting the vibrating arm;
A pair of support arms extending in the predetermined direction from the one end side of the base on both outer sides of the pair of vibrating arms;
An adjustment arm extending from the pair of support arms in a direction intersecting the predetermined direction;
An outer frame connected to the adjustment arm and surrounding the base and the vibrating arm;
A piezoelectric frame comprising:
前記請求項6に記載の圧電フレームと、
この圧電フレームを覆う蓋部と、
前記圧電フレームを支えるベースと、
を備えることを特徴とする圧電デバイス。
The piezoelectric frame according to claim 6,
A lid that covers this piezoelectric frame;
A base that supports the piezoelectric frame;
A piezoelectric device comprising:
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011205266A (en) * 2010-03-24 2011-10-13 Seiko Epson Corp Vibrating reed and vibrating device
JP2011211672A (en) * 2010-03-31 2011-10-20 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd Piezoelectric vibrating piece, piezoelectric device, and method for manufacturing the piezoelectric vibrating piece
JP2011216924A (en) * 2010-03-15 2011-10-27 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd Piezoelectric vibrating piece and piezoelectric device
JP2013118633A (en) * 2011-12-01 2013-06-13 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd Piezoelectric vibrator and method of manufacturing the same
CN103363976A (en) * 2012-04-06 2013-10-23 精工爱普生株式会社 Vibrator element, manufacturing method of vibrator element, sensor unit, and electronic apparatus
US9413332B2 (en) 2013-07-18 2016-08-09 Seiko Epson Corporation Resonator element, resonator, oscillator, electronic device, and moving object
WO2022113408A1 (en) * 2020-11-26 2022-06-02 株式会社村田製作所 Piezoelectric vibration element, piezoelectric vibrator, and piezoelectric oscillator

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011216924A (en) * 2010-03-15 2011-10-27 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd Piezoelectric vibrating piece and piezoelectric device
US8736152B2 (en) 2010-03-15 2014-05-27 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Piezoelectric vibrating pieces and associated devices exhibiting enhanced electrical field
JP2011205266A (en) * 2010-03-24 2011-10-13 Seiko Epson Corp Vibrating reed and vibrating device
JP2011211672A (en) * 2010-03-31 2011-10-20 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd Piezoelectric vibrating piece, piezoelectric device, and method for manufacturing the piezoelectric vibrating piece
US8729780B2 (en) 2010-03-31 2014-05-20 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Piezoelectric vibrating pieces and corresponding devices exhibiting reduced vibration leakage
JP2013118633A (en) * 2011-12-01 2013-06-13 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd Piezoelectric vibrator and method of manufacturing the same
CN103363976A (en) * 2012-04-06 2013-10-23 精工爱普生株式会社 Vibrator element, manufacturing method of vibrator element, sensor unit, and electronic apparatus
US9413332B2 (en) 2013-07-18 2016-08-09 Seiko Epson Corporation Resonator element, resonator, oscillator, electronic device, and moving object
WO2022113408A1 (en) * 2020-11-26 2022-06-02 株式会社村田製作所 Piezoelectric vibration element, piezoelectric vibrator, and piezoelectric oscillator

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