JP2009533651A - センサー障害モード検出を具備する静電容量デジタル変調器 - Google Patents

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Abstract

静電容量デジタル変調器を有する圧力トランスミッターはセンサー静電容量とリファレンス静電容量の比率に応じてアウトプットを生成する。トランスミッターはまた、センサー障害モード検出器を含む。センサー障害モード検出器は、アウトプット信号を生成し、センサー・キャパシタ及びリファレンス・キャパシタの障害モードを識別する。

Description

本発明は測定システムに関する。より詳細には、容量圧力センサーを用いた使用のための静電容量デジタル変調器に関する。
フィールド・トランスミッターは、産業プロセスにおける動作を監視するよう用いられる装置である。フィールド・トランスミッターは、トランスデューサを含む。そのトランスデューサは検出素子を用いて、測定したプロセス変数に応答する。そして、測定した変数に応じて規格化された伝達信号(standardized transmission signal)に変換する。「プロセス変数」は物質やエネルギーの変換の物理的又は化学的な状態を示す用語である。例えば、プロセス変数は圧力、温度、流れ、伝導率、ペーハーなどを含む。
その一つのトランスミッターが、Roger L. Frick及びDavid A. Brodenによる米国特許6,295,875号に記載されている。このトランスミッターは容量センサーを採用し、この容量センサーは歪めることが可能な検出ダイアフラムと、そのダイアフラムを用いて個々の容量性の検出素子を形成する三又はそれ以上のキャパシタ電極を有する。2つのキャパシタ素子はプライマリ検出キャパシタである。その検出キャパシタは距離をもって配列されている。その結果、プライマリ検出キャパシタの静電容量は、プロセス変数の比例に反して帯電する。第三及び第四のキャパシタ素子は補償キャパシタである。その補償キャパシタは、プライマリ・キャパシタに関連するオフセット・エラー(offset errors)又はヒステリシス(hysteresis)を表す信号を提供する。圧力をダイアフラムの片側又は両面に加え、ダイアフラムを歪める。歪みに関連する電気容量の割合の変化を測定することによって、ダイアフラムの歪みを検出することができる。この静電容量比は、アナログ・デジタル変換器を用いてデジタル・フォーマットに変換される。
異なるタイプのトランスミッターが、Roger L. Frick、Bennett L. Louwagie 及び Adrian C. Toyによる米国特許5,637,802号及び6,089,097号に記載されている。これら2つの特許に記載されたトランスミッターは、2つの絶対圧センサー(absolute pressure sensor)を使用し、圧力差測定における高い分解能力を用いて、圧力差だけでなく2つの絶対圧力を測定する。
アナログ・デジタル変換器における特に有効な形態の一つでは、シグマ・デルタ変調器(又はデルタ・シグマ変調器)を使用する。トランスミッターにおけるシグマ・デルタ変調器の使用は、Roger L. Frick及びJohn P. Schulteによる米国特許5,083,091号、 Michael Gabouryによる米国特許6,140,952号、 Rongtai Wangによる米国特許6,509,746号、Rongtai Wangによる米国特許6,516,672号に記載されている。
静電容量デジタル(CD)変換器として作動するシグマ・デルタ変調器を有するトランスミッターにおいて、励起回路は、電化パケット(charge packets)を容量センサー素子に提供する。センサー素子は、その容量素子の静電容量値に基づく量によって帯電される。電荷は、静電容量比の相関要素である1ビット・バイナリのアウトプットを生成するよう、シグマ・デルタ変調器の積分器/増幅器に移動する。
CD変調器の基本機能は、静電容量比をPCM(パルス符号変調)信号に変換することである。シグマ・デルタ構造を用いるCD変調器に関して、実際のプロセスは、電荷比をPCM信号に変換することを含む。通常の動作状態の下では、電荷は静電容量に比例することから、電荷比は静電容量比と等しくなる。
しかしながら、ある異常な動作状態の下では、この等しいという関係は成立しない。センサー障害モード状態は、CD変換器から切り離されている又は物理的な完全性の欠損(a loss of physical integrity)に起因した障害で、発生する。圧力の測定値は測定時の正しい圧力を表さないにも関わらず、CD変調器は、警告信号を提供することなく通常通り動作し続ける可能性がある。
本発明の概要
センサー静電容量、リファレンス静電容量、プライマリ静電容量デジタル(CD)変調器を含む圧力トランスミッターは、センサー静電容量又はリファレンス静電容量が障害モードである場合を識別するよう、センサー障害モード検出を提供する。セカンダリ・センサー障害モード変調器は、パルス符号変換信号を生成するためにリファレンス静電容量がアクティブである間、動作する。そのパルス符号変換信号は、リファレンス静電容量の相関要素である。プライマリ及びセカンダリ変調器のアウトプットに基づいてセンサー障害モード状態を識別することができる。
図1は圧力トランスミッター10を示す。圧力トランスミッター10は、静電容量に基づく圧力トランスミッターであって、センサー・キャパシタCS、リファレンス・キャパシタCR、CD変調器12、デジタル・セクション14、レベル・シフター16、マイクロプロセッサー18及びインターフェース20を含む。圧力トランスミッター10は、センサー・キャパシタCSによって検出される圧力の相関要素であるアウトプット信号を生成する。
CD変調器12は、二次シグマ・デルタ変換器である。CD変調器12の主機能は、静電容量比CR/(CS+CR)をパルス符号変調信号PCMPに変換することである。アウトプット信号SENEXは、CD変調器12によって生成された励起信号である。SENEX信号は、センサー・キャパシタCS及びリファレンス・キャパシタCRの共通プレート(common plate)に繋がる。センサー・キャパシタCSとリファレンス・キャパシタCRの他のプレートは、それぞれCD変調器12のインプット・ノード、CSEMとCREFに繋がる。CD変調器12はまた、センサー・キャパシタCSが障害動作モードである場合を識別するセンサー障害モード検出器を含む。センサー障害モード検出器がアクティブである場合、CD変調器12がパルス符号変調信号PCMRを生成する。パルス符号変調信号PCMRは、センサーCSが通常モード又は障害モードで動作しているかどうかを識別するよう用いることができる。
デジタル・セクション14はSINCフィルターを含む。SINCフィルターはパルス符号変調信号PCMP及びPCMRを、より高い分解能力の測定値に変換する。デジタル・セクション14はまた、測定値を記憶し、CD変調器12の動作を制御する制御及びタイミング信号を提供する。デジタル・セクション14によって生成される制御及びタイミング信号は、クロック信号PCLKD、リセット信号PRSTD、変調器動作制御信号DMAD及びDMBD、センサー障害モード検出機能イネーブル信号SFDD、そして、変調器テスト・イネーブル信号CTDDを含む。
レベル・シフター16は、デジタル・セクション14とCD変調器12のアナログ回路の間のインターフェースを提供する。レベル・シフター16は、デジタル・セクション14からのタイミング及び制御信号を、CD変調器12で用いられるインプット信号PCLK、PRST、DMA、DMD、SFD、そして、CTDに変換する。
マイクロプロセッサー18はデジタル・セクション14からデジタル・データを受け、動作上の指示及びパラメータをデジタル・セクション14に提供する。トランスミッター10と制御ルームの間の通信は、インターフェース20を介してマイクロプロセッサー18によって提供される。通信は、2つのワイヤー・ループや、アナログ信号、デジタル信号又はアナログとデジタルの組み合わせの信号によって送信されるネットワークを介して行われる。また、無線送信を介しても良い。
図2はCD変調器のブロック図である。CD変調器は、二次シグマ・デルタ変換器30、センサー障害モード検出器32、タイミング回路(timing circuit)34、バイアス回路(bias circuit)36、バッファー・バンク(buffer bank)38、診断静電容量(diagnostic capacitances)C1及びC2を含む。シグマ・デルタ変換器30は、第一段階の積分器(first stage integrator)40、第二段階の積分器(second stage integrator)42、量子化器(quantizer)44、励起制御ユニット(excitation control unit)46を含む。センサー障害モード検出器32は一次シグマ・デルタ変換器であって、SFD積分器(SFD integrator)50、SFD量子化器(SFD quantizer)52、SFD制御ユニット54を含む。
二次シグマ・デルタ変調器30は、第一段階の積分器40のインプットに接続する実効インプット静電容量CH及びCLの相関要素としてPCMPアウトプットを生成する。変調器30の一般的な伝達相関要素はDP=CL/(CH+CL)である。ここで、DPはPCMP信号のパルス密度である。
第一段階の積分器40はシグマ・デルタ積分器である。シグマ・デルタ積分器は、静電容量CH及びCLの相関要素である第一段階のアウトプットVout1を生成する。第二段階の積分器42はシグマ・デルタ積分器である。シグマ・デルタ積分器は、第一段階の積分器のアウトプットVout1を標本化し、量子化器44に供給するアウトプットVout2を生成する。
量子化器44の機能は、第二段階の積分器42のVout2アウトプット信号をパルス符号変調信号PCMPに変換する。デジタル・セクション14にパルス符号変調信号PCMPを渡す。量子化器44のアウトプットはまた、SENEX及びDGNEX励起信号を生成する励起制御ユニット46によって用いられる。
CD変調器12は2つの主な動作モード(通常モード及びビルト・イン・テスト・モード)を有する。その動作モードは、デジタル・セクション14及びレベル・シフター16からのロジック制御信号DMA及びDMBによって選択される。SENEX励起信号は、変調器30が通常モードの間、キャパシタCS及びCRに渡される。DGNEX信号は、ビルト・イン・テスト(BIT)モードの間、オン・チップ静電容量C1及びC2に供給される。
DMA=DMB=0の場合、変調器12は通常モードである。DMA=1又はDMB=1の場合、変調器12はBITモードである。CD変調器が通常モードである場合、外部センサー・キャパシタCS及びリファレンス・キャパシタCRは、それぞれ、CH及びCLとして変調器30に接続する。CD変調器12がビルト・イン・テスト(BIT)モードである場合、選択可能なオン・チップ静電容量C1及びC2は、それぞれ、CH及びCLとして変調器30に接続する。
表 1
Figure 2009533651

通常モードでは、DP=CR/(CR+CS
ビット・モードAでは、DP=1/3
ビット・モードBでは、DP=2/3
ビット・モードCでは、DP=1/2
BITモードは、トランスミッター10に対して、CD変調器12及びデジタル・セクション14の信号処理回路が適切に動作するか否かを確認させることを可能にする。これは、既知の静電容量を第一段階の積分器40のインプットに接続し、そして、期待されたPCMP信号のパルス密度に到達したか否かをチェックすることによって、達成される。
しかしながら、BITモードは、センサー・キャパシタCSが正常に動作しているか又は障害モードであるか否かを決定することはない。CD変調器12はセンサー障害モード検出器32を含み、センサー障害モード検出器32は、センサーが障害モードである場合を識別するPCMR信号を提供する。例えば、サファイア容量圧力センサー(sapphire capacitive pressure sensor)は、オープン・センサー・モード(OSモード)及びオイル・フィルド(oil filled )モード(OFモード)とされる2つの障害動作モードを有する。
OSモードは高圧力(10kpsiaより大きい)の結果として発生させることができる。高圧力によって発生したサファイア材料内の亀裂の伝播に起因して、センサー・キャパシタCSのリード線はセンサー励起信号SENEXから切り離すことができる。OSモードにおいて、第一段階の積分器40への実効インプット静電容量CHは通常の範囲より低く減少する。
センサー・キャパシタCSを形成するサファイア・スタックの融着が障害状態である場合、OFモードが発生する。結果として、圧力を埋める媒体は、サファイア・スタックの内部に入ることができる。圧力を埋める媒体の誘電率は真空の誘電率より非常に大きいことから、OFモードでのインプット静電容量CHは通常動作の間より非常に大きくすることができる。
センサーCSが障害モードでの動作であるか確認するために、SFD検出器32が、リファレンス・キャパシタCR及びセンサー・キャパシタCSの静電容量を監視することができるようにする必要がある。監視プロセス上の重要な制限事項は、CD変調器の通常動作を中断又は妨げないようにしなくてはならないことである。
SFD検出器32はセカンダリ・オーバーサンプリング・アナログ・デジタル変換器である。CRはリファレンス・キャパシタ、CF1は第一段階の積分器40のフィードバック・キャパシタであるとすると、SFD検出器32の基本機能は静電容量比CR/CF1をPCMR信号に変換することである。
メインCD変調器の測定の下での静電容量比は、ηm=CR/(CR+CS)である。
SFD検出器32の測定の下での静電容量比は、ηR=CR/CF1である。
オン・チップ・フィードバック・キャパシタCF1に対するセンサー・キャパシタの静電容量比は、ηS=CS/CF1である。
比率ηSは、ηS=ηR((1/ηm)−1)として、測定した比率ηm及びηRの表現で表すことが可能である。したがって、静電容量比ηSの測定は、CS(又はCR)が障害モードであるか否かを決定するために必要では無い。それは、上記数式を用いて、ηm及びηRの測定結果に基づき、マイクロプロセッサー18によって計算することができるからである。
数値の例として、通常モードにおけるリファレンス・キャパシタCRの静電容量は約15pFである。通常モードにおけるセンサー・キャパシタCSの静電容量は、加えた圧力に応じて、およそ15pF乃至30pFである。オン・チップ・キャパシタCFは60pFである。センサーが障害モードで動作している場合、実効静電容量値は、それらの通常値から著しく異なる。
比率ηRが1/30以下である場合、リファレンス・キャパシタCRはOSモードにある。比率ηRが1/2以上である場合、リファレンス・キャパシタCRはOFモードにある。比率ηRがほぼ1/4である場合、リファレンス・キャパシタCRは通常モードにある。
同様に、比率ηSが1/30以下である場合、センサー・キャパシタCSはOSモードにある。比率ηSが5/6以上である場合、センサー・キャパシタCSはOFモードにある。比率ηSが1/4>ηS>3/4の範囲内である場合、センサー・キャパシタCSは通常モードにある。
タイマー34は、メイン変調器30及びSFD変調器32の相互で用いられるタイミング信号を提供する。タイマー34のインプット及びアウトプット信号を表2に一覧する。非オーバーサンプリング2相クロック・ジェネレーターは、信号Z及びI、そして、それらの遅延バージョンであるZD及びIDを生成するよう設計されている。信号PCLK、Z、ZD、I、IDの波形を図3に示す。信号SCK及びDCKの時間相関を図8に示す。CD変調器リセット信号は
Figure 2009533651
である。
表2 - I/O タイミング回路の信号一覧
Figure 2009533651
図4は積分器40の簡略化した回路図を示す。それは、SW1乃至SW9、フィードバック・キャパシタCF1そして、2つのオート・ゼロ・キャパシタCZH及びCZLを含む。一つの実施例では、CF1=60pF、CZH=CZL=15pFである。Yp(n)は量子化器によって生成された制御信号、CF1は積分器のフィードバック・キャパシタ、ΔVexは励起電圧の差異(VP−VN)であるとすると、第一段階の積分器40の動作の増分は、
Figure 2009533651
と表される。
第一段階の積分器40の基本動作は以下の通りである。
スイッチSW2及びSW5はCZHのためにオート・ゼロ経路(auto-zero path)を提供する。スイッチSW4及びSW5はCZLのためにオート・ゼロ経路を提供する。スイッチSW1及びSW7はCHのためにインテグレーション経路(integration path)を提供する。スイッチSW3及びSW8はCLのためにインテグレーション経路を提供する。
スイッチ制御信号のロジックを以下に一覧する。
Figure 2009533651

Figure 2009533651

Figure 2009533651

Figure 2009533651

Figure 2009533651

Figure 2009533651

Figure 2009533651

Figure 2009533651

Figure 2009533651
図5は、スイッチSW7乃至SW14を含む積分器40のためのキャパシタ・インプット制御回路の回路図を示す。オン・チップ・キャパシタCA=CB=CC=20pFは、ビルト・イン・テスト機能で用いる。キャパシタ組み合わせ制御信号は
Figure 2009533651

Figure 2009533651
である。
ビルト・イン・テスト・キャパシタ・インプット制御信号は
Figure 2009533651

Figure 2009533651
である。
図6は積分器42の簡略化した回路図を示す。それは増幅器A2、フィードバック・キャパシタCF2=40pF、オート・ゼロ・キャパシタCZ=10pF、サンプリング・キャパシタC21=20pF及びC22=10pF、そして、スイッチSW21乃至SW28を含む。U(n)は現在の積分器から1を引いたアウトプット、U(n−1)は直前の積分器から1を引いたアウトプットであるとすると、第二段階の積分器42の動作の増分は、
Figure 2009533651
と表される。積分器42のためのスイッチ制御信号は以下の通りである。
インプット・スイッチ・キャパシタ・サンプリング制御信号(input switched-capacitor sampling control signals)は
Figure 2009533651

Figure 2009533651
と表される。
オート・ゼロ・キャパシタCZスイッチ制御は
Figure 2009533651

Figure 2009533651
と表される。
リセット・スイッチ制御は
Figure 2009533651
と表される。
図7は、比較器(comparator)60、インバーター62及び64、そして、D型フリップ・フロップ66を含む量子化器44の回路図を示す。量子化器44の基本機能は積分器42のアナログ・アウトプットを1ビットのデジタル信号に変換する。
2つのタイミング信号SCK及びDCKは量子化器回路内で必要とされる。SCK及びDCKの波形を図8に示す。タイミング信号SCKは、インテグレーション位相(Integration Phase)の最後で負のパルスとなることを用いて、比較器60ためにアクティブ・ロー・トリガーを提供する。
比較器60の正のインプット・ノードはVMIDに接続される。比較器60の負のインプット・ノードは積分器42のアウトプットに接続される。積分器42のアウトプット電圧VOUT2がVMIDの電圧より低い場合、比較器のアウトプットCMPOUTは「1」となり、他の場合は「0」となる。
D型フリップ・フロップは比較器のアウトプット信号を同期する。D型フリップ・フロップは、クロック・インプットとしてのDCKを用いて同期した信号YP(N)を生成する。信号YP(N)はインバーター64によって反転される。生じた信号PDATAはデジタル・セクション14内のデジタル・フィルターに送られる。同時に、それと同等な信号YBPは変調器スイッチ・ロジック信号のために用いる。
励起信号ジェネレーター46の全体構造を図9に示す。A、Bはスイッチであって、VP=0.75Vdda及びVN=0.25ddaは励起信号を生成するための電源である。励起信号の極性はスイッチA及びBの制御信号によって決定する。表3において、正の励起信号又は負の励起信号を生成するためのスイッチ制御信号を、タイミング信号ZD及びIDの用語によって一覧する。正の励起信号及び負の励起信号の波形を図10A及び10Bに示す。
表3 -励起極性の制御
Figure 2009533651
CD変調器制御ユニット内に2つの励起信号ジェネレーターが存在する。そのジェネレーターはセンサー励起信号(SENEX)ジェネレーター及びビルト・イン・テスト励起信号(DGNEX)ジェネレーターである。SENEXを生成する要件を以下に挙げる。1)量子化器アウトプット・ロジック信号YP(N)=1の場合、SENEX信号の極性は正である。2)量子化器アウトプット・ロジック信号YP(N)=0の場合、信号の極性は負である。3)通常動作モードに限って、SENEX信号がアクティブであると、DMOD=0となる。表4にSENEX信号を生成するためのスイッチ制御ロジックを示す。
表4 -SENEXを生成するためのスイッチ制御信号
Figure 2009533651
DGNEXを生成する要件を以下に挙げる。1)量子化器ロジック・アウトプットYP(N)=1の場合、DGNEX信号の極性は正である。2)量子化器ロジック・アウトプットYP(N)=0の場合、DGNEX信号の極性は負である。3)BITモードに限って、DGNEX信号がアクティブであると、DMOD−1となる。表5にDGNEX信号を生成するためのスイッチ制御ロジックを示す。
表5 -DGNEXを生成するためのスイッチ制御信号
Figure 2009533651
SFD検出器32はセカンダリ・オーバーサンプリングAD変調器である。SFD検出器の基本機能は静電容量比CR/CF1をPCMR信号に変換することである。ここで、CRはリファレンス・キャパシタであり、CF1は第一段階の積分器40のフィードバック・キャパシタである。図11は簡略化したブロック図を示す。それは、SFD積分器50、SFD量子化器52、SFD制御ユニットの3つのブロックを含む。
SFD検出器32はSFD=1の場合に限ってアクティブとなる。SFD=0の場合、スリープ・モード(ゼロ電力消費)になる。U(N)とU(n−1)は積分器40の現在と直前のアウトプット(VOUT1)を意味する。SFD積分器50の動作の増分は、
Figure 2009533651
と表される。
図12に簡略化したSFD積分器50の回路図を示す。それは、スイッチSW31乃至SW38、増幅器A3、フィードバック・キャパシタCF3、そして、オート・ゼロ・キャパシタCZ3を含む。例を挙げると、CF3=20pF、CZ=10pF、C3H=C3L=C3R=5pFである。基本動作を以下に示す。
SW35がインテグレーション経路を提供する間、スイッチSW36及びSW37はオート・ゼロ・キャパシタCZ3とともに、オート・ゼロ経路を提供する。スイッチSW38は積分器リセットに用いる。キャパシタC3HはU(n)の標本化に用いる。キャパシタC3LはU(n−1)の標本化に用いる。キャパシタC3RはΔVREF=VP−VNを提供する。励起信号REFEXはSFD制御ユニット54によって生成される。
スイッチSW31乃至SW38の制御ロジックを以下に一覧する。
Figure 2009533651

Figure 2009533651

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Figure 2009533651
SFD量子化器52はメイン量子化器44と同様である。それは、比較器、インバーター、そして、D型フリップ・フロップを含む。比較器の正のインプット・ノードはSFD積分器50のアウトプットに接続される。比較器の負のインプット・ノードはリファレンス電圧VMIDに接続される。比較器のトリガー信号DSCKは
Figure 2009533651
である。
パルス符号変調信号PCMR
Figure 2009533651
である。
SFD制御ユニット54の主機能はSFD積分器50内のキャパシタC3Rのために励起信号を生成することである。メイン励起制御ユニット46内で説明したのと同様な記載を用いて、励起信号を生成するためのスイッチ制御信号REFEXを表6に一覧する。
表6 - REFEX スイッチ制御信号
Figure 2009533651
P0はYPの「0」の数、NX0はYXの「0」の数を表し、パルス密度DX0を定義すると
Figure 2009533651
となる。

SFD検出器32の測定関係は
Figure 2009533651
と表すことができる。
センサー障害を監視するCD変調器12内のSFD検出器32の使用は、いくつかの利点を有する。第一に、SFD機能は妨害されない。言い換えれば、SFD機能はオンラインである場合、SFD検出器32によって導かれる監視プロセスは、CD変調器12の動作を中断又は妨げることが無い。
第二に、SFD機能は、センサー障害モードを識別するよう用いられる閾値に柔軟性を提供する。PCMR信号がOS障害モードかそれともOF障害モードかを識別する際に、識別するのに用いる閾値はデジタル・セクション14内に記憶できる。そして、その閾値は、経験に基づいて又はインターフェース20を介して受信したオペレータのコマンドに基づいて、マイクロプロセッサー18によって変更することができる。
第三はSFD機能の高い信頼性である。監視されている変化は、オン・チップ・キャパシタCF1に対するリファレンス・キャパシタCRの静電容量比だからである。
第四に、SFD機能は利用者が選択することができる。SFD機能を無効とする場合、SFD検出器32はスリープ・モードとなり、電流を消費しない。
第五に、SFD機能は低い電力のみを用いて提供され、追加コストは低廉であって、CD変調器12内の集積回路チップの小さい領域のみを必要とする。例えば、メイン変調器30が96kHzで動作した場合、SFD検出器32は4.35ボルトの供給で80マイクロアンペアしか消費しない。これはメイン変調器30によって消費される電流の1/6より小さい。SFD検出器32なしのCD変調器12の集積回路チップ領域は約1.28mm2である。SFD検出器32を有するCD変調器12の領域は約1.68mm2である。したがって、領域は、SFD機能を提供するために約0.4mm2しか大きくならない。この小さい領域のおかげで、CD変調器12にSFD機能を加えることの単位コストもまた低廉である。
本発明は、望ましい実施例の参照とともに記載されたが、当業者であれば、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく変更することができることは分かるであろう。
センサー・キャパシタ、リファレンス・キャパシタ、静電容量デジタル(CD)変調器を含む圧力トランスミッターのブロック図である。 図1のトランスミッターにおけるCD変調器のブロック図である。 図2のCD変調器のためのタイミング信号PCLK、Z、ZD、I、及びIDの波形を示す。 図2のCD変調器における第一段階の積分器の回路図である。 図4の第一段階の積分器のためのキャパシタ・インプット制御回路の回路図を示す。 図2のCD変調器における第二段階の積分器の回路図である。 CD変調器の量子化器の回路図である。 タイミング信号SCK及びDCKの波形を示す。 CD変調器の励起信号ジェネレーター回路図である。 正の励起についてのZD、ID、VEXの波形である。 負の励起についてのZD、ID、VEXの波形である。 図2のCD変調器におけるセンサー障害モード検出変調器の機能ブロック図である。 センサー障害モード検出変調器の量子化器の回路図である。

Claims (12)

  1. センサー静電容量CS及びリファレンス静電容量CRをパルス符号変調(PCM)信号に変換するための静電容量デジタル(CD)変調器であって、
    第一の局面の間にCS及びCR内の電荷パケットを選択的に形成し、第二の局面の間にCS及びCRから電荷を積分し、第一段階のアウトプットVOUT1を生成する第一段階のシグマ・デルタ積分器であって、静電容量CF1を有するためのフィードバック・キャパシタを具備する前記第一段階のシグマ・デルタ積分器と、
    前記第一段階のアウトプットVOUT1を標本化し、標本化した前記第一段階のアウトプットを積分し、第二段階のアウトプットVOUT2を生成する第二段階のシグマ・デルタ積分器と、
    前記第二段階のアウトプットVOUT2を前記PCM信号に変換するための量子化器と、
    S及びCRの障害モードを識別するセンサー障害モード検出(SFD)信号をVOUT1から得るためのセンサー障害モード検出(SFD)回路であって、前記SFD信号は静電容量比CR/CF1を表すことを特徴とする前記SFD回路と、
    を備える前記CD変調器。
  2. 請求項1に記載のCD変調器であって、前記PCM信号に応じて前記センサー静電容量CSと前記リファレンス静電容量CRに励起信号を選択的に提供するためのCD制御ユニットをさらに備えることを特徴とする変調器。
  3. 請求項2に記載のCD変調器であって、
    前記第一段階のシグマ・デルタ積分器は、
    積分器インプット・ノードと、
    第一インプット、第二インプット、及びアウトプットを有する増幅器と、
    前記積分器インプット・ノードと前記増幅器の前記第一インプットとの間に接続されたオート・ゼロ・キャパシタCZ1と、
    を備え、静電容量CF1を有する前記フィードバック・キャパシタは前記増幅器の前記アウトプットに接続されていることを特徴とする変調器。
  4. 請求項3に記載のCD変調器であって、前記SFD信号はパルス符号変換されることを特徴とする変調器。
  5. 請求項1に記載のCD変調器であって、
    前記SFD回路は、
    OUT1を標本化し、アウトプットVOUT3を生成するためのSFD積分器と、
    OUT3を前記SFD信号に変換するためのSFD量子化器と、
    前記SFD信号に応じて前記SFD積分器にSFD励起信号を提供するためのSFD制御ユニットと、
    を備えることを特徴とする変調器。
  6. 請求項1に記載のCD変調器であって、
    前記SFD回路は、
    OUT1を標本化するためのオーバーサンプリング・アナログ・デジタル変換器を備えることを特徴とする変調器。
  7. 請求項6に記載のCD変調器であって、CRが前記第一段階のシグマ・デルタ積分器に接続されている場合、前記SFD回路はアクティブであることを特徴とする変調器。
  8. センサー静電容量と、
    リファレンス静電容量と、
    検出した圧力を表すパルス符号変調信号PCMPを生成するためのプライマリ静電容量デジタル(CD)変調器と、
    を備え、
    前記プライマリCD変調器は、
    センサー静電容量とリファレンス静電容量に応じて電荷パケットを選択的に形成し、前記電荷パケットを積分し、第一段階のアウトプットVOUT1を生成する第一段階のシグマ・デルタ積分器と、
    前記第一段階のアウトプットVOUT1を標本化し、標本化した前記第一段階のアウトプットを積分し、第二段階のアウトプットVOUT2を生成する第二段階のシグマ・デルタ積分器と、
    前記第二段階のアウトプットVOUT2を前記PCMP信号に変換するための量子化器と、
    OUT1を標本化し、前記センサー静電容量及び前記リファレンス静電容量が障害モードであるか否かを示すパルス符号変調信号PCMRを生成するセカンダリ変調器と、
    を備え、
    Rは前記リファレンス静電容量であり、CF1は前記第一段階のシグマ・デルタ積分器のフィードバック・キャパシタにおける静電容量であるとすると、前記信号PCMRは静電容量比CR/CF1を表すことを特徴とする圧力トランスミッター。
  9. 請求項8に記載の圧力トランスミッターであって、
    前記第一段階のシグマ・デルタ積分器は、
    積分器インプット・ノードと、
    第一インプット、第二インプット、及びアウトプットを有する増幅器と、
    共通ノードと前記増幅器の前記第一インプットとの間に接続されたオート・ゼロ・キャパシタと、
    を備え、前記フィードバック・キャパシタは前記増幅器の前記アウトプットに接続されていることを特徴とするトランスミッター。
  10. 請求項8に記載の圧力トランスミッターであって、
    前記セカンダリ変調器は、
    OUT1を標本化し、アウトプットVOUT3を生成するための積分器と、
    OUT3を前記信号PCMRに変換するための量子化器と、
    前記信号に応じて励起信号を前記積分器に提供するための制御ユニットと、
    を備えることを特徴とするトランスミッター。
  11. 請求項9に記載の圧力トランスミッターであって、前記リファレンス静電容量が前記第一段階のシグマ・デルタ積分器に接続されている場合、前記セカンダリ変調器はアクティブであることを特徴とするトランスミッター。
  12. 請求項8に記載の圧力トランスミッターであって、前記信号PCMRに基づいて、障害モードが存在するか否かを決定するためのマイクロプロセッサーをさらに備えることを特徴とするトランスミッター。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018509620A (ja) * 2015-03-13 2018-04-05 ローズマウント インコーポレイテッド 静電容量式センサの電極変位計測のための高分解能デルタシグマ変調器
JP2021167807A (ja) * 2020-04-09 2021-10-21 アルプスアルパイン株式会社 振幅及び位相がプログラム可能な正弦波発生器を使用してオフセット信号を形成するためのシステム及び方法

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6910381B2 (en) * 2002-05-31 2005-06-28 Mykrolis Corporation System and method of operation of an embedded system for a digital capacitance diaphragm gauge
KR100794310B1 (ko) * 2006-11-21 2008-01-11 삼성전자주식회사 스위치드 커패시터 회로 및 그것의 증폭 방법
TW200907823A (en) * 2007-04-11 2009-02-16 Silverbrook Res Pty Co Ltd Sensing device having capacitive force sensor
US7420494B1 (en) * 2007-04-30 2008-09-02 Analog Devices, Inc. Mismatch shaping Δ-Σ analog to digital converter system
US7663377B2 (en) * 2007-08-03 2010-02-16 Pepperl +Fuchs, Inc. System and method for high resolution sensing of capacitance or other reactive impedance change in a large dynamic range
US8444473B2 (en) 2007-11-09 2013-05-21 Igt Gaming system, gaming device, and gaming method for shifting symbols from a staging area to a symbol matrix
US8105151B2 (en) 2008-07-02 2012-01-31 Igt Gaming system, gaming device and method for providing cascading symbols with wild features
US8790169B2 (en) 2008-07-23 2014-07-29 Igt Gaming system, gaming device, and method for providing a cascading symbols game with wild symbols usable for a designated quantity of symbol generations
US8662986B2 (en) 2008-11-13 2014-03-04 Igt Gaming system, gaming device, and method for providing a cascading symbols game having magnetic symbols and target symbols
US8574059B2 (en) 2008-11-14 2013-11-05 Igt Gaming system and method for providing a cascading symbol game including a plurality of independent reels which provide a stacked symbol functionality
CN102326333B (zh) * 2009-01-12 2014-10-22 核心微电子德累斯顿股份公司 电容输入测试方法
US20110084711A1 (en) * 2009-10-08 2011-04-14 Sitronix Technology Corp. Capacitance sensing circuit with anti-electromagnetic interference capability
US9165433B2 (en) 2009-11-10 2015-10-20 Igt Gaming system, gaming device, and method for providing a cascading symbol game including shifting symbols according to directional indicators
US8323091B2 (en) 2010-08-09 2012-12-04 Igt Gaming system, gaming device, and method for providing a cascading symbol game including shifting different determined symbols
CN103119473B (zh) * 2010-09-28 2016-06-08 株式会社藤仓 静电电容传感器以及静电电容传感器的故障判定方法
US8366538B1 (en) 2011-07-21 2013-02-05 Igt Gaming system, gaming device and method for providing a multiple dimension cascading symbols game
US8371930B1 (en) 2011-07-21 2013-02-12 Igt Gaming system, gaming device and method for providing a multiple dimension cascading symbols game with a time element
US8430737B2 (en) 2011-07-21 2013-04-30 Igt Gaming system and method providing multi-dimensional symbol wagering game
US8485901B2 (en) 2011-07-21 2013-07-16 Igt Gaming system and method for providing a multi-dimensional symbol wagering game with rotating symbols
US8357041B1 (en) 2011-07-21 2013-01-22 Igt Gaming system and method for providing a multi-dimensional cascading symbols game with player selection of symbols
US8414380B2 (en) 2011-07-21 2013-04-09 Igt Gaming system, gaming device and method for providing a multiple dimension cascading symbols game with three dimensional symbols
US8847612B2 (en) * 2011-09-08 2014-09-30 Atmel Corporation Integrated test system for a touch sensor
US8608545B2 (en) 2011-12-06 2013-12-17 Igt Gaming system, gaming device, and method providing a game including a cascading symbols feature causing one or more repositioned symbols to be wild symbols
US8882578B2 (en) 2012-01-19 2014-11-11 Igt Gaming system, gaming device, and method for providing a cascading symbols game which reuses discarded symbols
US8512138B2 (en) 2012-01-19 2013-08-20 Igt Gaming system, gaming device, and method for providing a cascading symbols game which reuses discarded symbols
US9005022B2 (en) 2012-01-19 2015-04-14 Igt Gaming system, gaming device, and method for providing a cascading symbols game which builds layers of multiple dimension symbols
US9103738B2 (en) 2012-09-07 2015-08-11 Dynisco Instruments Llc Capacitive pressure sensor with intrinsic temperature compensation
US8943895B2 (en) 2012-09-07 2015-02-03 Dynisco Instruments Llc Capacitive pressure sensor
US8984952B2 (en) 2012-09-07 2015-03-24 Dynisco Instruments Llc Capacitive pressure sensor
US10607448B2 (en) 2012-09-27 2020-03-31 Igt Gaming system and method for providing a cascading multiple sided symbol game
DE102013100045B4 (de) * 2012-12-18 2022-07-14 Endress + Hauser Wetzer Gmbh + Co Kg Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Prozessgröße
US9978221B2 (en) 2013-03-22 2018-05-22 Igt Gaming system and method for providing a multiple dimension symbol game with expanding wild symbols
US9385739B1 (en) * 2013-06-28 2016-07-05 Dennis Michael Koglin Matched charge exchange circuit for analog and digital conversion
DE102013107267A1 (de) * 2013-07-09 2015-01-15 Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg Messumformer zum Umformen eines analogen elektrischen Eingangssignals in ein analoges elektrisches Ausgangssignal
DE102013222252B4 (de) 2013-10-31 2023-06-15 Renesas Electronics Germany GmbH Verfahren und Schaltung für einen Analog-Digital-Kapazitätswandler
US10382312B2 (en) * 2016-03-02 2019-08-13 Fisher-Rosemount Systems, Inc. Detecting and locating process control communication line faults from a handheld maintenance tool
US9641192B1 (en) * 2016-06-14 2017-05-02 Semiconductor Components Industries, Llc Methods and apparatus for a delta sigma ADC with parallel-connected integrators
CN109683538B (zh) * 2019-02-22 2023-09-15 无锡昆仑富士仪表有限公司 一种功能安全压力变送器
WO2020195955A1 (ja) * 2019-03-28 2020-10-01 パナソニックIpマネジメント株式会社 アナログデジタルコンバータ、センサシステム、及びテストシステム
CN113834558B (zh) * 2020-06-24 2024-05-14 宝山钢铁股份有限公司 钢包称量传感器远程故障检测方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6171468A (ja) * 1984-09-14 1986-04-12 Pioneer Electronic Corp 信号切換装置
JPH07177602A (ja) * 1992-10-13 1995-07-14 Hitachi Ltd 電気自動車用故障検出法及びそれを用いたフェールセイフ制御方法
US6356085B1 (en) * 2000-05-09 2002-03-12 Pacesetter, Inc. Method and apparatus for converting capacitance to voltage
JP2003028741A (ja) * 2001-07-11 2003-01-29 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 静電容量型センサ装置
US6516672B2 (en) * 2001-05-21 2003-02-11 Rosemount Inc. Sigma-delta analog to digital converter for capacitive pressure sensor and process transmitter
JP2006512679A (ja) * 2002-12-31 2006-04-13 ローズマウント インコーポレイテッド 診断自己検査モードを有するフィールド送信機

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3532823A1 (de) * 1984-09-14 1986-03-27 Pioneer Electronic Corp., Tokio/Tokyo Aufzeichnungsplatten-datenwiedergabevorrichtung
US5083091A (en) 1986-04-23 1992-01-21 Rosemount, Inc. Charged balanced feedback measurement circuit
DE58906716D1 (de) * 1989-05-08 1994-02-24 Siemens Ag Integrierbarer Sigma-Delta-Modulator in Switched-Capacitor-Technik.
US5159341A (en) * 1991-03-12 1992-10-27 Analog Devices, Inc. Two phase sampling for a delta sigma modulator
US5323158A (en) * 1993-04-06 1994-06-21 Analog Devices, Inc. Switched capacitor one-bit digital-to-analog converter
US5637802A (en) 1995-02-28 1997-06-10 Rosemount Inc. Capacitive pressure sensor for a pressure transmitted where electric field emanates substantially from back sides of plates
DE19625666C1 (de) * 1996-06-26 1998-01-15 Siemens Ag Ausleseschaftung und kapazitiv messender Senser
US6140952A (en) * 1997-12-26 2000-10-31 Rosemount Inc. Delta sigma circuit with pulse width modulated offset
US6295875B1 (en) 1999-05-14 2001-10-02 Rosemount Inc. Process pressure measurement devices with improved error compensation
US6509746B1 (en) 2001-06-04 2003-01-21 Rosemount Inc. Excitation circuit for compensated capacitor industrial process control transmitters
US6531884B1 (en) * 2001-08-27 2003-03-11 Rosemount Inc. Diagnostics for piezoelectric sensor
US6720777B2 (en) 2002-02-15 2004-04-13 Rosemount Inc. Bridged capacitor sensor measurement circuit
US6975103B1 (en) * 2004-06-25 2005-12-13 National Semiconductor Corporation Resistance ratio digitizing ohmmeter system
US6970126B1 (en) * 2004-06-25 2005-11-29 Analog Devices, Inc. Variable capacitance switched capacitor input system and method
EP1861723B1 (en) * 2005-03-09 2017-04-19 Analog Devices, Inc. One terminal capacitor interface circuit

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6171468A (ja) * 1984-09-14 1986-04-12 Pioneer Electronic Corp 信号切換装置
JPH07177602A (ja) * 1992-10-13 1995-07-14 Hitachi Ltd 電気自動車用故障検出法及びそれを用いたフェールセイフ制御方法
US6356085B1 (en) * 2000-05-09 2002-03-12 Pacesetter, Inc. Method and apparatus for converting capacitance to voltage
US6516672B2 (en) * 2001-05-21 2003-02-11 Rosemount Inc. Sigma-delta analog to digital converter for capacitive pressure sensor and process transmitter
JP2003028741A (ja) * 2001-07-11 2003-01-29 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 静電容量型センサ装置
JP2006512679A (ja) * 2002-12-31 2006-04-13 ローズマウント インコーポレイテッド 診断自己検査モードを有するフィールド送信機

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018509620A (ja) * 2015-03-13 2018-04-05 ローズマウント インコーポレイテッド 静電容量式センサの電極変位計測のための高分解能デルタシグマ変調器
JP2021167807A (ja) * 2020-04-09 2021-10-21 アルプスアルパイン株式会社 振幅及び位相がプログラム可能な正弦波発生器を使用してオフセット信号を形成するためのシステム及び方法
JP7061710B2 (ja) 2020-04-09 2022-04-28 アルプスアルパイン株式会社 振幅及び位相がプログラム可能な正弦波発生器を使用してオフセット信号を形成するためのシステム及び方法

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