JP2009278129A - 固体撮像装置およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】受光部4が形成された半導体基板1の裏面には、酸化シリコン膜8と、窒化シリコン膜9が積層されている。酸化シリコン膜8と窒化シリコン膜9の界面あるいは窒化シリコン膜9の膜中には、負電荷(電子)が蓄積されている。この負電荷により、半導体基板1において、裏面付近に正孔蓄積層10が誘起される。酸化シリコン膜8は15nm〜40nmの厚さであり、窒化シリコン膜9は20nm〜50nmの厚さである。酸化シリコン膜8と窒化シリコン膜9の積層膜を用いた光の多重干渉効果により、酸化シリコン膜8を単独で用いた場合に比べて、入射光に対する透過率が向上する。
【選択図】図1
Description
また、第1絶縁膜上には第2絶縁膜が形成され、両者の膜厚が調整されていることから、第1絶縁膜のみを用いた場合と比べて、光の多重干渉効果により入射光に対して高い透過率が得られる。
本実施形態では、例えばp型シリコンからなる半導体基板1を用いる。半導体基板1の厚さは、固体撮像装置の仕様にもよるが、可視光用の場合には4〜6μmであり、近赤外線用では6〜10μmとなる。
図5(a)は、窒化シリコン膜9がない場合における半導体基板1の裏面付近のエネルギーバンドを示す図である。図5(a)に示すように、通常、半導体基板1上に酸化シリコン8を堆積させると、酸化シリコン膜8中、あるいは半導体基板1と酸化シリコン膜8との界面にはプラスの電荷が生じやすい。これは、酸化シリコンのみならず、他の絶縁膜にも当てはまる。この結果、半導体基板1の裏面付近のポテンシャルが引き上げられ、電位の井戸が生じる。半導体基板1の裏面付近に、電位の井戸が形成されてしまうと、光電変換によって生じた電子がこの裏面付近にも蓄積されてしまって感度に寄与しないことや、界面からの少数キャリア(p型半導体基板1の場合には電子)の熱的発生が増加し暗電流が増加し、その結果撮像素子としてのS/N比が減少してしまう。
図6(a)に示すように、比較例として半導体基板1の第2面側に2μmの膜厚の酸化シリコン膜8のみを形成した。図6(a)に示す構造において、入射光Lに対する透過光TLの割合(透過率)と、反射光RLの割合(反射率)を測定した結果を図6(b)に示す。図6(b)では、T1が透過率を示すグラフであり、R1が反射率を示すグラフである。
信号電荷として正孔を用いる場合には、酸化シリコン膜8と窒化シリコン膜9との界面および窒化シリコン膜9の膜中に正孔を蓄積させ、半導体基板1の裏面に電子蓄積層を誘起させればよい。また、信号電荷として正孔を用いる場合には、各種の半導体領域の極性を逆にすればよい。さらに、本実施形態では、第1絶縁膜として酸化シリコン膜8を用い、第2絶縁膜として窒化シリコン膜9を用いる例について説明したが、他の絶縁膜を使用したり、不純物を注入してもよい。他の絶縁膜を採用する場合には、相対的に、第2絶縁膜の方が、第1絶縁膜に比べて屈折率の高くなるようにすればよい。
その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の変更が可能である。
Claims (6)
- 基板の第1面側に画素回路が形成され、第2面側から光が入射する固体撮像装置であって、
前記基板に形成され、入射光量に応じて信号電荷を生成して当該信号電荷を蓄積する受光部と、
前記基板の第2面上に形成された透明性の第1絶縁膜と、
前記第1絶縁膜上に形成され、前記第1絶縁膜との界面あるいは膜中に前記信号電荷と同じ極性の電荷を保持する透明性の第2絶縁膜とを有し、
前記第1絶縁膜のみを用いた場合と比べて、光の多重干渉効果により入射光に対して高い透過率が得られるように、前記第1絶縁膜および前記第2絶縁膜の膜厚が規定された
固体撮像装置。 - 前記第2絶縁膜上に、前記第1絶縁膜との界面あるいは前記第2絶縁膜中に保持された電荷が外部へ拡散することを防止する保護膜が形成された
請求項1記載の固体撮像装置。 - 前記第1絶縁膜は酸化シリコンを含む
請求項1記載の固体撮像装置。 - 前記第2絶縁膜は窒化シリコンを含む
請求項1記載の固体撮像装置。 - 前記第1絶縁膜は酸化シリコンを含み、前記第2絶縁膜は窒化シリコンを含む
請求項1記載の固体撮像装置。 - 前記酸化シリコン膜の膜厚が15nm以上40nm以下の範囲であり、前記窒化シリコン膜の膜厚が20nm以上50nm以下の範囲である
請求項5記載の固体撮像装置。
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