JP2009239358A - 画像読取装置及びその制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】画像読取位置上に付着したゴミにより発生したゴミスジの補正精度を向上させる。
【解決手段】自動原稿給送装置が原稿の読み取り台へ原稿を給送すると、ＣＣＤラインセンサが原稿の給送方向に直交した主走査方向に沿った原稿を読み取る。スジ検出回路は、同一の主走査位置に発生するスジ状のスジ像を検出する。スジ補正回路は、検出されたスジ像を補正する。とりわけ、スジ検出回路によりスジ像が検出された主走査位置と同一の主走査位置であって、かつ、スジ像が検出された副走査位置以降に存在する所定数の副走査位置については、スジ検出回路によりスジ像が検出されていなくてもスジ補正回路により補正させる。
【選択図】図３Ａ

Description

本発明は、原稿に記録された画像情報を読み取る画像読取装置に関する。

従来、複写機等に使用される画像読取装置には、いわゆる「流し読み」を行うものが知られている。このような装置では、自動原稿給送装置が原稿を１ページずつ原稿台ガラス上に搬送する。露光装置が原稿台ガラス上の原稿を露光しつつ、ＣＭＯＳやＣＣＤなどのイメージセンサが原稿の画像を読み取る。

ところで、原稿台ガラスの画像読取位置にゴミが付着していると、読み取った画像にスジ状の画像不良（スジ像）が発生することがある。スジ像は、読み取った画像内の同一の主走査位置に発生する画像であり、原稿に元から存在するスジ状の細線とは異なる。ここでは、ゴミに起因したスジ像を「ゴミスジ」と呼ぶことにする。なお、ゴミスジは、原稿の下地に依存して、白スジとなったり黒スジとなったりする。

スジを改善する発明として、読み取った１ページの画像からスジを検出する発明（特許文献１）が知られている。具体的には、注目画素と周囲の画素との相関性を判別し、相関性がないときにはさらに副走査方向における連続性を判別し、副走査方向の連続性が認められた注目画素のデータが他の画素のデータと置換される。
特開２００５−１１７０９０号公報

しかし、特許文献１に記載の発明では、ゴミスジを検知できなかったり、ゴミスジではない原稿上の細線をゴミスジとして検知してしまったりすることがあった。
図１１は、関連技術に係るゴミスジ検知の一例を示した図である。（ａ）は、読み取った原稿画像にゴミスジ３００１が発生しているものとする。なお、ゴミスジ３００１は文字３００２と重なっている。（ｂ）は、副走査位置Ａにおける輝度を示す図である。（ｂ）によれば、ゴミスジ３００１に対応する主走査位置で輝度が周辺よりも低下していることがわかる。（ｃ）は、副走査位置Ｂにおける輝度を示す図である。（ｃ）によれば、ゴミスジ３００１に対応する主走査位置で輝度が周辺よりも若干低下していることがわかる。しかし、文字３００２が存在するため、周辺の主走査位置でも輝度が低下している。（ｄ）は、副走査位置Ｃにおける輝度を示す図である。（ｄ）によれば、ゴミスジ３００１に対応する主走査位置で輝度が周辺よりも低下していることがわかる。このような結果となるため、ある主走査位置の輝度が周辺よりも低下していることをもってゴミスジと判定する場合、副走査位置Ｂでゴミスジがなくなったと誤判定するおそれがある。
（ｅ）は、関連技術に係るゴミスジの補正方法の一例を示した図である。関連技術では、ゴミスジの連続性に着目してゴミスジ３００１を検知して、検知したゴミスジに続くゴミスジを周辺の画素によって補正している。そのため、原稿の文字３００２や罫線とゴミスジとが重なってしまうと、ゴミスジが消えたと誤判定し、新たな連続的なゴミスジを検知するまでは、ゴミスジ補正が行われない場合がある。この場合、（ｅ）が示すように、ゴミスジが文字や罫線と交差する箇所に、ゴミスジ補正されない短いゴミスジが画像に残存してしまうため、好ましくない。

そこで、本発明は、このような課題および他の課題のうち、少なくとも１つを解決することを目的とする。例えば、本発明は、ゴミスジの補正精度を向上させることを目的とする。なお、他の課題については明細書の全体を通して理解できよう。

本発明は、画像読取装置に適用できる。給送手段が原稿の読み取り台へ原稿を給送すると、読取手段が原稿の給送方向に直交した主走査方向に沿った原稿を読み取る。検出手段は、同一の主走査位置に発生するスジ状のスジ像を検出する。補正手段は、検出されたスジ像を補正する。とりわけ、検出手段によりスジ像が検出された主走査位置と同一の主走査位置であって、かつ、スジ像が検出された副走査位置以降に存在する所定数の副走査位置については、検出手段によりスジ像が検出されていなくても補正手段により補正させる。

本実施形態によれば、スジ像が検知されなくなっても所定ラインはスジ像として補正することで、スジの補正精度を向上させることができる。

以下に本発明の一実施形態を示す。以下で説明される個別の実施形態は、本発明の上位概念、中位概念および下位概念など種々の概念を理解するために役立つであろう。また、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって確定されるのであって、以下の個別の実施形態によって限定されるわけではない。

［実施形態１］
図１は、実施形態における自動原稿搬送装置を搭載した画像読取装置の概略断面図である。自動原稿給送装置１００は、原稿トレイ１０１に載置されている原稿１０２を給紙ローラ１０３と分離搬送ローラ１０４とによって原稿を給紙する。自動原稿給送装置１００は、原稿の読み取り台へ原稿を給送する給送手段の一例である。

分離搬送従動ローラ１０５は、分離搬送ローラ１０４の対向側に配置されており、分離搬送ローラ１０４側に押圧されている。分離搬送従動ローラ１０５は、分離搬送ローラ１０４と協働して、給紙ローラ１０３によって給紙される原稿１０２を１枚ずつ分離して給紙する。

レジストローラ１０６およびレジスト従動ローラ１０７は、給紙された原稿の先端を揃えるために設けられている。リードローラ１０８およびリード従動ローラ１０９は、原稿を流し読みガラス１１６に向けて搬送する。流し読みガラス１１６は、読み取り台の一例である。流し読みガラス１１６の対向側には、プラテンローラ１１０が配置されている。

流し読みガラス１１６上を通過する原稿１０２の画像情報をＣＣＤラインセンサ１２６にて読み取る。ＣＣＤラインセンサ１２６は、原稿の給送方向に直交した主走査方向に沿って１ライン又は複数ラインずつ原稿を読み取る読取手段の一例である。

ＣＣＤラインセンサ１２６が原稿１０２の画像読み取りを終了すると、リード排出ローラ１１１およびリード排出従動ローラ１１２は、原稿を排紙ローラ１１３に向けて搬送する。ジャンプ台１１５は、流し読みガラス１１６からシートをすくい上げるために設けられている。排紙ローラ１１３は原稿を排紙トレイ１１４に排出する。

画像読取装置１１７は、原稿の読み取り面に対して光を照射するランプ１１９およびミラー１２０、１２１、１２２を有する。なお、自動原稿給送装置１００は、画像読取装置１１７の一部と考えてもよい。

ミラー１２０、１２１、１２２は、原稿１０２からの反射光をレンズ１２５およびＣＣＤラインセンサ１２６に導く。ランプ１１９およびミラー１２０は、第１ミラー台１２３に取り付けられている。また、ミラー１２１、１２２は、第２ミラー台１２４に取り付けられている。

第１ミラー台１２３および第２ミラー台１２４は、ワイヤ（図示せず）によって駆動モータ（図示せず）と結合され、駆動モータの回転駆動により原稿台ガラス１１８と平行に移動する。原稿からの反射光は、ミラー１２０、１２１、１２２を介してレンズ１２５に導かれ、レンズ１２５によってＣＣＤラインセンサ１２６の受光部に結像される。ＣＣＤラインセンサ１２６は、結像した反射光を受光素子で光電変換し、入射光量に応じた電気信号を出力する。

画像読取装置１１７は、原稿固定読み取りモードと流し読みモードとを備えている。原稿固定読み取りモードは、原稿台ガラス１１８上に載置された原稿１０２を第１ミラー台１２３および第２ミラー台１２４を移動させながら読み取るモードである。流し読みモードは、停止した状態の第１ミラー台１２３および第２ミラー台１２４が、自動原稿給送装置１００によって搬送されている原稿１０２を流し読みガラス１１６の画像読取位置で読み取るモードである。すなわち、原稿固定読み取りモードでは読み取り中に原稿１０２は停止しているが、流し読みモードでは読み取り中にも原稿１０２が移動していることになる。それゆえ、流し読みモードでは、画像読取位置に付着した付着物によって、スジ状の画像不良（スジ像／ゴミスジ）が発生してしまう。

図２Ａは、流し読みモードにおける付着物の影響を説明するための図である。流し読みガラス１１６上の画像読取位置の近傍にゴミなどの付着物２０１が付着することがある。付着物２０１は、原稿の画像ととも読み取られてしまう。

明るい原稿を読み取った場合、ゴミに対応する主走査位置の画素のレベルがその周辺の画素のレベルに対し低下してしまう。すなわち、黒ゴミスジが画像に出現する。一方、暗い原稿を読み取った場合、ゴミに対応する主走査位置の画素のレベルが周辺の画素のレベルに対し増加してしまう。すなわち、白ゴミスジが画像に出現する。

図２Ｂは、画像読取装置の画像読取面、付着物に起因した画像レベル及びゴミスジの出現した画像の一例を示す図である。とりわけ、（ａ）によれば、画像読取位置（流し読み位置）は、流し読みガラス１１６の略中央に存在する。この線状の画像読取位置に単一の付着物２０１が付着している。なお、付着物２０１の付着位置に相当する主走査位置をＸとする。

図２Ｂの（ｂ）は、付着物に起因した画像レベルの低下を説明するための図である。横軸は主走査位置を示し、縦軸は画像レベル（画素の値）を示している。（ｂ）から、付着物２０１の付着位置に相当する主走査位置Ｘでは、画像レベルが低下していることがわかる。

図２Ｂの（ｃ）は、ゴミスジの出現した画像の一例を示す図である。ゴミスジは、読み取り台における読取位置に滞留しているゴミを読取手段が読み取ってしまうことで同一の主走査位置に発生する。（ｃ）によれば、付着物２０１の付着位置に相当する主走査位置Ｘにゴミスジが形成されている。原稿の給送方向と副走査方向とは平行であるため、ゴミスジは、副走査方向に延在することになる。

図３Ａ、３Ｂは、実施形態に係るゴミスジの検知方法と補正方法の一例を示す図である。本実施形態では、注目画素の周辺に位置する１つ以上の周辺画素の値に応じてゴミスジの終端となる終端画素が特定される。なお、終端画素は、実際のゴミスジの端部ではなく、検知アルゴリズムによって端部と判断された画素のことである。次に、終端画素の主走査位置と同一の主走査位置に属し、かつ、副走査方向で終端画素から連なっている所定数の画素もゴミスジの一部として補正の対象に追加される。すなわち、従来は、ゴミスジを横切るようなオブジェクト（文字、図形その他）が原稿に存在すると、ゴミスジの検知又は補正が停止してしまい、一部のゴミスジが画像中に残存してしまっていた。本実施形態では、ゴミスジの終端が検知されたとしても、補正を継続できるため、ゴミスジとオブジェクトが交差する位置においてゴミスジの一部が残存しないようにすることができる。

図３Ａ、３Ｂによれば、同一の主走査位置で副走査方向に向かって発生するゴミスジの特徴を有している連続した画素の数をカウントするカウンタが採用されている。このカウンタをスジカウンタと呼ぶことにする。スジカウンタのカウント値は、１ラインごとに増加又は減少する。実際のゴミスジかどうかは別として、ゴミスジの特徴を有している可能性のある画素が検出されれば、スジカウンタは１つカウントアップする。一方で、周辺画素の状況からゴミスジかどうか不明の画素が検出されると、スジカウンタは１つカウントダウン（減算）する。

スジカウンタのカウント値が閾値Ｔｈを超えると、その画素から補正が開始される。なお、スジカウンタのカウント値が閾値Ｔｈを超えると、スジカウンタのカウント値をスジカウンタの上限値（最大値）に設定してもよい。

このように、本実施形態では、ゴミスジが一旦途切れたと検出された場合であっても、所定ラインは継続してゴミスジが連なっていると擬制して補正を継続させる。これにより、ページメモリを用いることなく、読み取った画像を逐次補正する場合でも、ゴミスジとオブジェクトが交差する度にゴミスジが補正されずに髭状のゴミスジが残るということが減少する。よって、ゴミスジ補正の精度が向上する。なお、ゴミスジは、一般に細線となる。よって、実際はゴミスジでない画素まで補正したとしても、画質の低下は極めて小さいと考えられる。また、ページメモリを用いることなく、読み取った画像を逐次補正する場合に、ゴミスジと検知されるまでの所定ラインだけはゴミスジが補正されない。しかし、ゴミスジの先端の短い範囲であり、また、オブジェクト付近に現れるゴミスジと比べると、読取画像に与える影響は小さい。

図４は、実施形態に係る画像読取装置のブロック図である。ＣＣＤラインセンサ１２６は、原稿画像の濃度に応じた各色のアナログ電気信号をＡ／Ｄ変換回路４０１へ出力する。アナログ電気信号は、１ライン又は複数ラインずつ出力される。Ａ／Ｄ変換回路４０１は、各色のアナログ電気信号を各々デジタル画像信号（画像データ）に変換し、画像処理用ＡＳＩＣ４０２へ出力する。Ａ／Ｄ変換回路４０１及び画像処理用ＡＳＩＣ４０２は、ＣＰＵ４０６により制御される。

画像処理用ＡＳＩＣ４０２に入力された画像データについて、シェーディング補正回路４０３は、ランプ１１９の光量の不均一性を補正する。次に、画像データはスジ検出回路４０４に入力される。

スジ検出回路４０４は、ゴミスジを所定の検出条件にしたがって検出する検出手の一例である。スジ検出回路４０４は、ラインメモリを備え、１ライン分の画像データを記憶する。よって、スジ検出回路４０４は、１ラインごとにゴミスジを検出する。ラインメモリを採用する理由は、画像処理のリアルタイム性を確保しつつ、必要なメモリ量を少なくするためである。

スジ検出回路４０４によりゴミスジが検出され領域はスジ補正回路４０５により補正される。スジ補正回路４０５は、検出されたゴミスジを補正する補正手段の一例である。スジ補正回路４０５は、例えば、ゴミスジの一部と認識された注目画素をその周辺画素の画素値を用いて補正（例：線形補間などの補間処理）する。

図５は、実施形態に係るスジ検出回路の構成を示す図である。スジ検出回路４０４は、細線を検出するための細線検出回路５０１、主走査輝度差算出回路５０２、副走査輝度差算出回路５０３、副走査連続性検出回路５０４を含む。なお、主走査輝度差とは、注目画素と、この注目画素と主走査位置が同一の周辺画素（例：上下の２画素）との輝度差をいう。また、副走査輝度差とは、注目画素と、この注目画素と副走査位置が同一の周辺画素（例：左右の２画素）との輝度差をいう。副走査連続性検出回路５０４は、細線検出回路５０１の検出結果、主走査輝度差算出回路５０２の算出結果及び副走査輝度差算出回路５０３の算出結果を用いて、注目画素について副走査方向の連続性を検出する。なお、シェーディング補正回路により光量の不均一性の影響を補正された画像データは、細線検出回路５０１、主走査輝度差算出回路５０２及び副走査輝度差算出回路５０３へ入力される。なお、副走査連続性検出回路５０４は、同一の主走査位置で副走査方向に連続した、検出条件を満たす画素の数をカウントするカウンタの一例であるスジカウンタ５０５を備えている。

図６Ａは、実施形態に係る細線検出回路５０１の一例を示す図である。細線検出回路５０１は、読取手段により取得された画像に含まれる細線を検出する細線検出手段の一例である。スジ補正回路４０５は、細線検出手段により細線を検出された画像領域をゴミスジが存在する領域として補正することになる。

明暗エッジ検出回路６０１は、入力された画像データをもとに主走査方向の輝度が急激に減少する輝度明暗エッジを検出する。一方、暗明エッジ検出回路６０２は、画像データの主走査方向輝度が急激に増加する暗明エッジを検出する。明暗エッジ検出回路６０１は、明暗エッジを検出すると、明暗エッジを検出した旨の信号を後段のエッジ間隔検出回路６０３に出力する。同様に、暗明エッジ検出回路６０２は、暗明エッジを検出すると、暗明エッジを検出した旨の信号を後段のエッジ間隔検出回路６０３に出力する。明暗エッジ検出回路６０１や暗明エッジ検出回路６０２は、読取手段により取得された画像に含まれるエッジを検出するエッジ検出手段の一例である。なお、スジ補正回路４０５は、エッジ検出手段によりエッジを検出された画像領域をゴミスジが存在する領域として補正することになる。

図６Ｂは、実施形態に係る明暗エッジを検出するためのフィルタの一例である。本実施形態では、明暗エッジを検出する手法として、画像データに３×３フィルタを施しその結果より明暗エッジを検出する手法が採用されている。フィルタの係数は原稿の状態により最適な値に設定されることが望ましい。なお、暗明エッジを検出する手法としても、画像データに３×３フィルタを施しその結果より暗明エッジを検出する手法が採用されてもよい。このフィルタの係数も原稿の状態により最適な値に設定されることが望ましい。明暗エッジを検出するためのフィルタと、暗明エッジを検出するためのフィルタは異なってもよいし、同一であってもよい。

エッジ間隔検出回路６０３は、明暗エッジ検出回路６０１から明暗エッジを検出した旨の信号、暗明エッジ検出回路６０２から暗明エッジを検出した旨の信号を受信する。エッジ間隔検出回路６０３は、受信した信号が主走査方向に暗明エッジと明暗エッジが近接していることを示しているか否かを判定する。例えば、両エッジの間隔が５画素以内であれば、近接しているものとする。エッジ間隔検出回路６０３は、暗明エッジと明暗エッジが近接していることを検出すると、後段の回路に対して白細線を検出した旨の信号（例えば２ｂｉｔ信号で"０１"）を出力する。

図６Ｃは、白細線を検出したときの画像データと対応する画素のレベルの一例を示すである。

主走査方向に明暗エッジと暗明エッジが近接していた場合（例えば５画素以内）、エッジ間隔検出回路６０３は、後段の回路に対して黒細線を検出した旨の信号（例えば２ｂｉｔ信号で"１０"）を出力する。

図６Ｄは、黒細線を検出したときの画像データと対応する画素のレベルの一例を示す図である。

なお、白細線及び黒細線の両方とも検知しなかった場合、エッジ間隔検出回路６０３は、後段の回路に対して細線を検知しなかった旨の信号（例えば２ｂｉｔ信号で"００"）を出力する。

図６Ｅは、縦線検出フィルタの一例を示す図である。このような縦線検出フィルタが、エッジ検出に代えて採用されてもよい。

図５に関して説明した主走査輝度差算出回路５０２は、注目画素の輝度と、この注目画素と主走査位置が同一である周辺画素（例：注目画素の上下２画素の平均値）の輝度との差（主走査輝度差）を算出する回路である。輝度差が所定値を超えると、主走査輝度差算出回路５０２は、後段の回路に対し主走査輝度差が所定値を超えた旨の信号（例えば１ｂｉｔ信号で'０'）を出力する。一方、主走査輝度差が所定値を超えていないときは、主走査輝度差算出回路５０２は、後段の回路に対し主走査輝度差が所定値を超えていない旨の信号（例えば１ｂｉｔ信号で'１'）を出力する。

ラインセンサは主走査方向に１列に並んだ撮像素子を備えている。そして、ゴミスジは、同一の素子が同一のゴミを読み続けることで発生する。一般に、ゴミスジが存在する主走査位置では、副走査方向での読み取りレベル差（主走査方向輝度差）が小さくなる。よって、主走査方向輝度差が相対的に小さければゴミスジが副走査方向に連なっている蓋然性が高いといえる。一方、主走査方向輝度差が相対的に大きければゴミスジが終端している蓋然性が高い（そのときの注目画素がゴミスジの終端画素となる）。このように、主走査方向輝度差に着目すれば、原稿細線とゴミスジとを区別することが可能となる。

副走査輝度差算出回路５０３は、注目画素の輝度と、この注目画素と副走査位置が同一である周辺画素の輝度との差（副走査輝度差）を算出する回路である。周辺画素の輝度は、例えば、注目画素の左右にある１６画素の平均値としてもよい。副走査輝度差算出回路５０３は、副走査輝度差が所定値を超えた場合に後段の回路に対し副走査輝度差が所定値を超えた旨の信号（例えば１ｂｉｔ信号で'０'）を出力する。一方、副走査輝度差が所定値を超えていない場合に、副走査輝度差算出回路５０３は、後段の回路に対し副走査輝度差が所定値を超えていない旨の信号（例えば１ｂｉｔ信号で'１'）を出力する。このように、副走査輝度差算出回路５０３は、注目画素の輝度と、副走査方向で注目画素の周辺に存在する周辺画素の輝度との差が所定値以内である場合に、注目画素をゴミスジと判別する判別手段の一例である。

一般に、ゴミスジは微小なゴミを読み取ってしまうことで発生する。よって、ゴミと下地（ゴミを読み取っている注目画素と主走査位置が同一の周辺画素）との輝度差が一定以上大きくなることは稀である。この特徴を用いれば、原稿細線とゴミスジとを区別することが可能となる。

副走査連続性検出回路５０４は、細線検出回路５０１からの細線検出信号、主走査輝度差算出回路５０２からの主走査輝度差信号及び副走査輝度差算出回路５０３からの副走査輝度差信号を受信する。細線検出信号は、画像データ内の白細線を検出したことや検出していないことを示す信号である。主走査輝度差信号は、主走査輝度差が所定値を超えているかいないかを示す信号である。副走査輝度差信号は、副走査輝度差が所定値を超えているかいないかを示す信号である。

副走査連続性検出回路５０４は、副走査方向でのゴミスジの連続性を判別するために、各主走査位置に対応するスジカウンタ５０５を有している。スジカウンタ５０５の数は、主走査位置の数と同数である。なお、ゴミスジの検出精度を低下させてもよい場合は、スジカウンタ５０５の数を主走査位置の数よりも削減してもよい。このように、スジカウンタ５０５は、同一の主走査位置で副走査方向に向かって発生するゴミスジの特徴を有している連続した画素の数をカウントするカウンタの一例である。

本実施形態の副走査連続性検出回路５０４は、スジ像が検出された主走査位置と同一の主走査位置であってかつスジ像が検出された副走査位置以降に存在する所定数の副走査位置については、スジ像が検出されていなくても補正させる制御手段の一例である。また、副走査連続性検出回路５０４は、スジ像が検出された主走査位置と同一の主走査位置であってかつスジ像が検出された副走査位置以降に存在する所定数の副走査位置については、スジ像が検出されたものと擬制して補正させる制御手段の一例でもある。このように、本発明の技術思想としては、ゴミスジが検出されるとそれ以降の副走査位置についても補正することを特徴としている。これには、ゴミスジが検出されかった副走査位置もゴミスジが検出されたものとして補正の対象に追加する手法と、ゴミスジが検出されかった副走査位置の検出結果をゴミジスが検出されたものと書き換えてしまう手法がある。

図７は、実施形態に係る副走査連続性検出回路における白ゴミスジの検知動作の一例を示すフローチャートである。ステップＳ７０１で、副走査連続性検出回路５０４は、原稿先端にて全てのスジカウンタ５０５を０クリアする。これは、原稿ごとに独立した検出を行うためである。

ステップＳ７０２で、副走査連続性検出回路５０４は、スジカウンタのカウント値が所定閾値Ｔｈ以上か否かを判定する。この所定閾値Ｔｈは、ゴミスジを検出するために理論的又は経験的に設定される値（例：３２）である。スジカウンタのカウント値が閾値Ｔｈ以上であれば、このスジカウンタに対応する主走査位置にゴミスジが発生していると推定できる。逆に、スジカウンタのカウント値が閾値Ｔｈ未満であれば、このスジカウンタに対応する主走査位置にはゴミスジが発生していないと推定できる。スジカウンタのカウント値が所定閾値Ｔｈ未満の場合、ステップＳ７０３に進む。

ステップＳ７０３で、副走査連続性検出回路５０４は、注目画素の主走査位置に対応したスジカウンタをカウントアップすべきか０にクリアすべきかを判定する。例えば、画像データの白細線を検出した旨の信号"０１"、主走査輝度差が所定値を超えていない旨の信号'１'、副走査輝度差が所定値を超えていない旨の信号'１'が入力されていれば、副走査連続性検出回路５０４は、カウントアップすべきと判定する。カウントアップすべき場合、ステップＳ７０４に進む。一方、これらの３つある信号のうちいずれか１つでも入力されていなければ、副走査連続性検出回路５０４は、カウント値をゼロにクリアすべきと判定する。ゼロクリアすべき場合、ステップＳ７０５に進む。

ステップＳ７０４で、副走査連続性検出回路５０４は、対応するスジカウンタのカウント値を１つカウントアップする。その後、ステップＳ７１３に進む。

ステップＳ７０５で、副走査連続性検出回路５０４は、対応するスジカウンタのカウント値をゼロにクリアする。その後、ステップＳ７１３に進む。

ステップＳ７０２においてスジカウンタのカウント値が閾値Ｔｈ以上と判定されると、ステップＳ７０６に進む。ステップＳ７０６で、副走査連続性検出回路５０４は、注目画素が白ゴミスジであると決定し、スジ補正回路４０５にゴミスジを検出した旨の信号を出力する。この信号は、補正開始信号に相当する。補正開始信号を受信したスジ補正回路４０５は、補正停止信号が出力されるまで、補正を継続する。補正停止信号は、ステップＳ７０２で、カウント値が閾値Ｔｈ未満となると副走査連続性検出回路５０４がスジ補正回路４０５に出力する。このように、スジ補正回路４０５は、カウント値が所定の閾値を超えている主走査位置の画素を補正する。

なお、補正開始信号には、補正を開始すること、補正対象の主走査位置の情報が含まれていてもよい。補正対象の主走査位置については、別の方法で、スジ補正回路４０５へ伝達されてもよい。ただし、１度ゴミスジが検知されると（スジカウンタのカウント値が所定閾値Ｔｈを上まわっている場合）、スジカウンタ５０５の加減算の条件を以下のように変更する。

ステップＳ７０７で、副走査連続性検出回路５０４は、細線検出信号が白細線を検出したことを示しているか否かを判定する。細線検出信号が"０１"であれば、白細線が検出されているため、ステップＳ７０９に進む。ステップＳ７０９で、副走査連続性検出回路５０４は、スジカウンタ５０５のカウント値を１つ増分する。その後、ステップＳ７１３に進む。

一方、白細線が検出されていなければ、ステップＳ７１０に進む。なお、一度ゴミスジが検出された後で細線が検出されなくなった場合、ゴミスジの終端となる終端画素が特定されたことになる。すなわち、副走査連続性検出回路５０４は、注目画素の周辺に位置する１つ以上の周辺画素の値に応じてゴミスジの終端となる終端画素を特定する特定手段の一例である。

ステップＳ７１０で、副走査連続性検出回路５０４は、主走査輝度差が所定値を超えておらず、かつ、副走査輝度差も所定値を超えていないか否かを判定する。例えば、主走査輝度差信号が'１'であれば所定値を超えていることになる。また、副走査輝度差信号が'１'であれば所定値を超えていることになる。このように、双方の信号とも１であれば、ステップＳ７１１に進む。

ステップＳ７１１で、副走査連続性検出回路５０４は、スジカウンタのカウント値を１つ減算（カウントダウン）する。その後、ステップＳ７１３に進む。副走査連続性検出回路５０４は、検出条件を満たさない画素が検出されるとカウンタのカウント値を１つ減算する減算手段の一例である。

本実施形態では、終端画素が検知されたとしても、所定ラインは、ゴミスジが連なっていると仮定して補正を継続させる必要がある。そこで、スジカウンタ５０５のカウント値をゼロクリアせずに、１つカウントダウンしている。これは、ゴミスジかどうか不明の周辺画素も補正対象に追加することを意味する。よって、副走査連続性検出回路５０４は、終端画素の主走査位置と同一の主走査位置に属し、かつ、副走査方向で終端画素から連なっている所定数の画素もゴミスジの一部として補正手段による補正の対象に追加する追加手段の一例である。

一方、主走査輝度差信号と副走査輝度差信号のいずれか一方が０であれば、ステップＳ７１２へ進む。ステップＳ７１２で、副走査連続性検出回路５０４は、スジカウンタのカウント値を予め定められた減算値Ｚだけ減算する。その後、ステップＳ７１３に進む。なお、この減算値Ｚを小さくすればするほど、下地の変化によりゴミスジが検知できなくなることを抑え易くなってゆく。しかし、実際にゴミスジがなくなっても、ゴミスジが誤検知されてしまう。よって、減算値Ｚは経験的に適切な値（例：４）に設定することが望ましい。

ステップＳ７１３で、副走査連続性検出回路５０４は、現在走査しているラインが原稿後端であるかどうか（現在の副走査位置が最終の副走査位置であるか否か）を判定する。原稿後端であれば、本処理を終了する。一方で、まだ原稿後端でなければ、ステップＳ７１４に進む。ステップＳ７１４で、副走査連続性検出回路５０４は、次副走査位置に処理対象の副走査位置を変更し、Ｓ７０２に戻る。その後、ステップＳ７０２ないしＳ７１３が繰り返されることになる。

図８は、実施形態に係る黒ゴミスジの検知動作の一例を示すフローチャートである。図７で説明した箇所には同一の参照符号を付与している。図８では、図７に示したステップＳ７０６がＳ８０６に変更され、ステップＳ７０７がＳ８０７に変更されている。ステップＳ７０２においてスジカウンタのカウント値が閾値Ｔｈ以上と判定されると、ステップＳ８０６に進む。

ステップＳ８０６で、副走査連続性検出回路５０４は、注目画素が黒ゴミスジであると決定し、スジ補正回路４０５に黒ゴミスジを検出した旨の信号を出力する。この信号は、補正開始信号に相当する。補正開始信号には、補正を開始すること、補正対象の主走査位置の情報が含まれていてもよい。

ステップＳ８０７で、副走査連続性検出回路５０４は、細線検出信号が黒細線を検出したことを示しているか否かを判定する。細線検出信号が"１０"であれば、黒細線が検出されているため、ステップＳ７０９に進む。一方、細線検出信号が"１０"でなければ、黒細線が検出されていないため、ステップＳ７１０に進む。

本実施形態では同一原稿かつ同一主走査位置で、１度、ゴミスジを検出した場合と同一原稿かつ同一主走査位置でゴミスジを検出していない場合とで、スジカウンタのカウント制御を切り替えることを特徴としている。前者のゴミスジの検出条件は、後者のゴミスジの検出条件よりも緩和されているため、ゴミスジの下地に変化があったとしてもゴミスジを補正し続けることができる。よって、ゴミスジの補正精度が向上することになる。すなわち、ゴミスジの終端と思われる終端画素が検出されたとしても、終端画素以降の周辺画素も補正対象に追加することで、ゴミスジの補正精度が向上することになる。

また、スジカウンタを用いてゴミスジに属する画素の数をカウントして行き、カウント値が閾値を超えると補正を開始するが、ゴミスジかどうか不明な画素を検出したときはカウント値を減算する。これにより、ゴミスジの補正を継続できるため、ゴミスジの補正精度が向上することになる。

上述の実施形態に係る発明によれば、原稿が文書であっても写真などの自然画像であってもゴミスジの補正精度が向上することになる。また、本実施形態及び以下で説明する実施形態は、モノクロ原稿だけでなく、カラー原稿であっても適用できる。カラー原稿の画像データが複数の色成分（例：ＲＧＢ）によって表現される場合、各色成分ごとに上述したゴミスジの検知方法が適用されることになる。そして、いずれか１つの色成分においてゴミスジが検知されると、その色成分についてスジ補正が適用される。ただし、スジ補正は、ゴミスジの検知されなかった他の色成分について実行されてもよい。その理由は、ゴミスジを検知するための条件を辛うじて満たしていない色成分であっても僅かながらゴミスジが含まれているため、スジ補正を適用する意味があるからである。また、スジ補正は、隣接画素などを使用した補間処理であるため、ゴミスジがない場合に適用されても、画質の劣化は微小だからである。

［実施形態２］
本実施形態では、図３Ａ、３Ｂで説明したように、カウント値が閾値Ｔｈ以上になったときにカウント値をスジカウンタの上限値へ強制的に設定しまうことで、ゴミスジの補正を継続させようとするものである。

図９は、実施形態に係る副走査連続性検出回路における白ゴミスジを検知する動作の他の一例を示すフローチャートである。なお、既に説明済みのステップには同一の参照符号を付与することで、説明を簡潔化する。図７と比較するとわかるように、ステップＳ７０９がステップＳ９０８及びＳ９０９に置換されている。ステップＳ７０７で細線検出信号が"０１"であれば、ステップＳ９０８に進む。

ステップＳ９０８で、副走査連続性検出回路５０４は、スジカウント値が上限値に達しているか否かを判定する。上限値に達していれば、ステップＳ７１３に進む。一方、上限値に達していなければステップＳ９０９に進む。

ステップＳ９０９で、副走査連続性検出回路５０４は、白ゴミスジが検出されている主走査位置に対応するスジカウンタ５０５のカウント値を上限値に設定する。その後、ステップＳ７１３に進む。このように、副走査連続性検出回路５０４は、カウント値が所定の閾値を超えると、カウント値をカウンタの上限値に設定する設定手段の一例である。

図１０は、実施形態に係る副走査連続性検出回路における黒ゴミスジを検知する動作の他の一例を示すフローチャートである。なお、既に説明済みのステップには同一の参照符号を付与することで、説明を簡潔化する。図８と比較するとわかるように、ステップＳ８０９がステップＳ１００８及びＳ１００９に置換されている。ステップＳ７０７で細線検出信号が"１０"であれば、ステップＳ１００８に進む。

ステップＳ１００８で、副走査連続性検出回路５０４は、スジカウント値が上限値に達しているか否かを判定する。上限値に達していれば、ステップＳ７１３に進む。一方、上限値に達していなければステップＳ９０９に進む。ステップＳ１００９で、副走査連続性検出回路５０４は、黒ゴミスジが検出されている主走査位置に対応するスジカウンタ５０５のカウント値を上限値に設定する。その後、ステップＳ７１３に進む。

実施形態２によれば、カウント値が所定の閾値を超えると、カウント値をスジカウンタの上限値に設定してしまうことで、スジ補正を継続することが可能となる。よって、実施形態２でも実施形態１と同等の効果が得られることになる。

実施形態における自動原稿搬送装置を搭載した画像読取装置の概略断面図である。 流し読みモードにおける付着物の影響を説明するための図である。 画像読取装置の画像読取面、付着物に起因した画像レベル及びゴミスジの出現した画像の一例を示す図である。 実施形態に係るゴミスジの検知方法と補正方法の一例を示す図である。 実施形態に係るゴミスジの検知方法と補正方法の一例を示す図である。 実施形態に係る画像読取装置のブロック図である。 実施形態に係るスジ検出回路の構成を示す図である。 実施形態に係る細線検出回路５０１の一例を示す図である。 実施形態に係る明暗エッジを検出するためのフィルタの一例を示すである。 白細線を検出したときの画像データと対応する画素のレベルの一例を示すである。 黒細線を検出したときの画像データと対応する画素のレベルの一例を示すである。 縦線検出フィルタの一例を示す図である。 実施形態に係る副走査連続性検出回路における白ゴミスジの検知動作の一例を示すフローチャートである。 実施形態に係る黒ゴミスジの検知動作の一例を示すフローチャートである。 実施形態に係る副走査連続性検出回路における白ゴミスジを検知する動作の他の一例を示すフローチャートである。 実施形態に係る副走査連続性検出回路における黒ゴミスジを検知する動作の他の一例を示すフローチャートである。 関連技術に係るスジ検知の一例を示した図である。

符号の説明

１００ 自動原稿給送装置
１０１ 原稿トレイ
１０２ 原稿
１０３ 給紙ローラ
１０４ 分離搬送ローラ
１０５ 分離搬送従動ローラ
１０６ レジストローラ
１０７ レジスト従動ローラ
１０８ リードローラ
１０９ リード従動ローラ
１１０ プラテンローラ
１１１ リード排出ローラ
１１２ リード排出従動ローラ
１１３ 排紙ローラ
１１４ 排紙トレイ
１１５ ジャンプ台
１１６ 流し読みガラス
１１７ 画像読取装置
１１８ 原稿台ガラス
１１９ ランプ
１２０ ミラー
１２１ ミラー
１２２ ミラー
１２３ 第１ミラー台
１２４ 第２ミラー台
１２５ レンズ
１２６ ＣＣＤラインセンサ

Claims (8)

1. 画像読取装置であって、
   原稿の読み取り台へ原稿を給送する給送手段と、
   前記原稿の給送方向に直交した主走査方向に沿って前記原稿を読み取る読取手段と、
   同一の主走査位置に発生するスジ状のスジ像を所定の検出条件にしたがって検出する検出手段と、
   検出された前記スジ像を補正する補正手段と、
   前記検出手段により前記スジ像が検出された主走査位置と同一の主走査位置であって、かつ、該スジ像が検出された副走査位置以降に存在する所定数の副走査位置については、前記検出手段によりスジ像が検出されていなくても前記補正手段により補正させる制御手段と
   を含むことを特徴とする画像読取装置。
2. 前記検出手段は、
   同一の主走査位置で副走査方向に連続した、前記検出条件を満たす画素の数をカウントするカウンタと、
   前記検出条件を満たさない画素が検出されると前記カウンタのカウント値を１つ減算する減算手段と
   を備え、
   前記補正手段は、前記カウント値が所定の閾値を超えている画素を補正することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
3. 前記制御手段は、
   前記カウント値が前記所定の閾値を超えると、前記カウント値を前記カウンタの上限値に設定する設定手段を含むことを特徴とする請求項２に記載の画像読取装置。
4. 前記制御手段は、
   注目画素の周辺に位置する１つ以上の周辺画素の値に応じて前記スジ像の終端となる終端画素を特定する特定手段と、
   前記終端画素の主走査位置と同一の主走査位置に属し、かつ、副走査方向で前記終端画素から連なっている所定数の画素もスジ像の一部として前記補正手段による補正の対象に追加する追加手段と
   を含むことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
5. 前記検出手段は、前記読取手段により取得された画像に含まれるエッジを検出するエッジ検出手段を含み、
   前記補正手段は、前記エッジ検出手段によりエッジを検出された画像領域をスジ像が存在する領域として補正することを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載の画像読取装置。
6. 前記検出手段は、前記読取手段により取得された画像に含まれる細線を検出する細線検出手段を有し、
   前記補正手段は、前記細線検出手段により細線を検出された画像領域をスジ像が存在する領域として補正することを特徴とする請求項１ないし５のいずれか１項に記載の画像読取装置。
7. 前記検出手段は、注目画素の輝度と、副走査方向で該注目画素の周辺に存在する周辺画素の輝度との差が所定値以内である場合に、該注目画素をスジ像と判別する判別手段を含むことを特徴とする請求項５又は６に記載の画像読取装置。
8. 画像読取装置の制御方法であって、
   原稿の読み取り台へ原稿を給送する給送工程と、
   前記原稿の給送方向に直交した主走査方向に沿って前記原稿を読み取る読取工程と、
   同一の主走査位置に発生するスジ状のスジ像を所定の検出条件にしたがって検出する検出工程と、
   検出された前記スジ像を補正する補正工程と
   を含み、さらに、
   前記検出工程により前記スジ像が検出された主走査位置と同一の主走査位置であって、かつ、該スジ像が検出された副走査位置以降に存在する所定数の副走査位置については、前記検出工程によりスジ像が検出されていなくても前記補正工程により補正させる制御工程を含むことを特徴とする画像読取装置の制御方法。

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