JP2009239000A - 基板処理システム - Google Patents

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智巳 岩田
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Abstract

【課題】枚葉方式で基板を薬液処理した後にリンス処理し乾燥処理する場合に、スループットおよびメンテナンス性を向上させることができるシステムを提供する。
【解決手段】基板Wを1枚ずつ薬液およびリンス液で処理する薬液処理部38およびリンス処理部40を連接して処理ユニット14a〜14cを構成し、1つの装置ベース上に複数の処理ユニット、基板搬送部22および乾燥ユニット16を設ける。処理ユニット14a〜14cにおいて基板Wを薬液処理部38で薬液処理した後にリンス処理部40でリンス処理する一連の処理を処理単位とし、1枚の基板に対し一連の処理を複数回行うときは、1つの処理ユニットから別の処理ユニットへ基板を順次搬送して、処理ユニットの設置数に対応する回数以内で適宜必要とする回数だけ処理単位を繰り返してから、基板を乾燥ユニット16へ搬送して乾燥処理する
【選択図】図1−A

Description

この発明は、半導体ウエハ、液晶表示装置(LCD)用/プラズマディスプレイ(PDP)用のガラス基板、磁気/光ディスク用のガラス/セラミック基板、電子デバイス基板等の各種の基板を1枚ずつ薬液で処理した後にリンス液で処理し乾燥させる枚様式基板処理システムに関する。
半導体デバイスの製造プロセスは、近年における一般的な傾向として、複数枚の基板を一度に処理するバッチ方式から基板を1枚ずつ処理する枚葉方式へと移行しつつある。種々の処理プロセスにおいてバッチ方式に比べて優れている枚葉方式であっても、処理装置のスループットに関してはまだまだバッチ式処理装置に追いついていないのが現状である。しかしながら、今後は、バッチ式処理装置と同様に枚葉式処理装置についてもスループットの向上に対する要求が高まってくるものと考えられる。
枚葉式の基板処理装置として、例えば、搬入部、洗浄部、液滴除去部および搬出部から構成された連続枚葉式の洗浄処理ユニットを備え、その洗浄処理ユニットにおいて基板をローラコンベアによって搬送しつつ、洗浄部でスクラブ洗浄および純水での洗浄を行った後、基板表面に残留する純水の液滴を液滴除去部で除去する、といった処理装置が開示されている(例えば、特許文献1参照。)。また、真空チャックに吸着・保持された基板を、薬液処理室、洗浄室(あるいは1次洗浄室および2次洗浄室)ならびに乾燥室へと順次移送しながら、薬液処理室で薬液洗浄し、洗浄室でリンス洗浄し、乾燥室で乾燥させる、といった処理装置が開示されている(例えば、特許文献2参照。)。
また、基板を1枚ずつ薬液処理しリンス処理した後に乾燥処理する枚葉式の処理装置として、従来、図4に模式的に平面配置図を示すように、薬液処理、リンス処理および乾燥処理を行う処理ユニットを複数配設し、図示例では4つの処理ユニット1a〜1dを、中央に基板搬送部2を設けて対角状に配設し、基板搬送部2にセンターロボット3を設置し、各処理ユニット1a〜1dで併行して基板の処理が行えるようにした装置が使用されている。
特開2000−183019号公報(第5−6頁、図1) 特開2001−53044号公報(第4−5頁、図4、図6)
図4に示したような従来の処理装置では、1つのセンターロボット3によって基板の搬送を行われ、かつ、1つの処理ユニット1a〜1dにおいて、薬液処理から乾燥処理までの一連の処理が行われていた。このため、併行処理が可能である基板の枚数は、処理ユニットの設置数に対応する4枚まである。そして、例えば第1の薬液処理→リンス処理→第2の薬液処理→リンス処理→乾燥処理といった一連の処理を行う場合にも、その一連の処理を1つの処理ユニット1a〜1dにおいて行うようにしていた。このため、各処理ユニット1a〜1dにおける基板の処理時間が常に一定であるとは限らない。この結果、複数枚の基板を処理するときの全体としての処理時間が長くかかり、スループットを向上させるにしても限界があった。また、センターロボット3の周囲に複数の処理ユニット1a〜1dを配置する、といった構成であるため、装置のメンテナンス性が悪い、といった問題点がある。
特許文献1に記載された処理装置も、1つの洗浄処理ユニットにおいてスクラブ洗浄および純水での洗浄を行った後に基板表面上の純水の液滴を除去する、といった一連の処理が行われる。したがって、複数枚の基板を併行して処理しようとすると、図4に示した処理装置のように、洗浄処理ユニットを複数配設して、それぞれの洗浄処理ユニットに対する基板の搬入および搬出をセンターロボットで行う、といった装置構成となるため、上記したのと同様の問題を生じる。
また、特許文献2に記載された処理装置では、基板を真空チャックに吸着・保持した状態で薬液処理室、洗浄室および乾燥室へと順次移送しながら、薬液洗浄、リンス洗浄および乾燥が行われる。このため、例えば第1の薬液処理→リンス処理→第2の薬液処理→リンス処理→乾燥処理といった一連の処理を行うことができるようにするためには、第1の薬液処理室、第1の洗浄室、第2の薬液処理室、第2の洗浄室および乾燥室を連接した装置構成とする必要がある。ところが、薬液処理→リンス処理→乾燥処理といっただけの一連の処理を行う場合には、第2の薬液処理室や第2の洗浄室では基板に対し処理を行うことなくそれらの室を通って基板を搬送しなければならない。このため、スループットの向上が妨げられる。
この発明は、以上のような事情に鑑みてなされたものであり、枚葉方式で基板を薬液処理した後にリンス処理し乾燥処理する場合において、スループットを向上させることができ、また、装置のメンテナンス性も高めることができる基板処理システムを提供することを目的とする。
請求項1に係る発明は、基板を1枚ずつ順次搬送しつつ薬液で処理した後にリンス液で処理し乾燥させる基板処理システムであって、基板を1枚ずつ薬液で処理する1つの枚葉薬液処理部と、基板を1枚ずつリンス液で処理する1つの枚葉リンス処理部と、を連接して処理ユニットを構成し、その処理ユニットを複数、1つの装置ベース上に並列させて配設し、前記装置ベース上に、前記各処理ユニットにおいてそれぞれ前記枚葉薬液処理部から前記枚葉リンス処理部へ基板を搬送する基板搬送手段、および、基板を乾燥処理する乾燥ユニットを設けた。そして、前記各処理ユニットにおいてそれぞれ前記枚葉薬液処理部で基板を薬液処理した後に前記枚葉リンス処理部で基板をリンス処理する一連の処理を処理単位として、1枚の基板に対し前記一連の処理を複数回行うときは、1つの処理ユニットから別の処理ユニットへ当該基板を順次搬送して、前記処理ユニットの設置数に対応する回数以内で適宜必要とする回数だけ前記処理単位を繰り返してから、当該基板を前記乾燥ユニットへ搬送して乾燥処理することを特徴とする。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載の処理システムにおいて、枚葉薬液処理部が、基板を静止した状態で薬液に浸漬させる処理槽を有し、枚葉リンス処理部が、基板を静止した状態でリンス液に浸漬させる処理槽を有することを特徴とする。
請求項3に係る発明は、請求項1または請求項2に記載の処理システムにおいて、複数の処理ユニットのうち最後尾に位置する処理ユニットに連接して共通の乾燥ユニットを配設したことを特徴とする。
請求項4に係る発明は、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の処理システムにおいて、共通の搬送手段により、各処理ユニットにおける枚葉薬液処理部から枚葉リンス処理部への基板の搬送をそれぞれ行うようにしたことを特徴とする。
請求項5に係る発明は、請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の処理システムにおいて、複数の並列された処理ユニットの下方に、処理済みの基板を返送する返送手段の搬送路を設けたことを特徴とする。
請求項6に係る発明は、請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の処理システムにおいて、各処理ユニットの上方に、枚葉薬液処理部および枚葉リンス処理部へ薬液およびリンス液を送給する処理液供給ユニットをそれぞれ積層して配設したことを特徴とする。
請求項7に係る発明は、請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の処理システムにおいて、複数の並列された処理ユニットからなる処理ユニット群を上下方向に積層して配設したことを特徴とする。
請求項8に係る発明は、請求項7に記載の処理システムにおいて、上下方向に積層された処理ユニット群のうち最上に位置する処理ユニット群の、各処理ユニットの上方に、枚葉薬液処理部および枚葉リンス処理部へ薬液およびリンス液を送給する共通の処理液供給ユニットをそれぞれ積層して配設したことを特徴とする。
請求項1に係る発明の基板処理システムにおいては、枚葉薬液処理部では基板の薬液処理のみが行われ、枚葉リンス処理部では基板のリンス処理のみが行われるので、それぞれの処理ユニットにおいて、枚葉薬液処理部での薬液処理が終わった基板が枚葉薬液処理部から枚葉リンス処理部へ搬送されると、次の基板を枚葉薬液処理部へ搬入して薬液処理することが可能となり、枚葉リンス処理部での先の基板のリンス処理が終了するのを待つ必要が無い。そして、例えば薬液処理→リンス処理→乾燥処理といった一連の処理を行うときは、1つの処理ユニットにおいて基板を薬液処理しリンス処理した後に、当該基板を乾燥ユニットへ搬送して乾燥処理すればよい。また、例えば第1の薬液処理→リンス処理→第2の薬液処理→リンス処理→乾燥処理といった一連の処理を行うときは、1つの処理ユニットにおいて基板を薬液処理しリンス処理した後、その処理ユニットから別の処理ユニットへ当該基板を搬送し、その別の処理ユニットにおいて基板を薬液処理しリンス処理した後に、当該基板を乾燥ユニットへ搬送して乾燥処理すればよい。このように、基板に対し処理が行われない枚葉薬液処理部や枚葉リンス処理部へは、基板が搬送されることはない。
したがって、請求項1に係る発明の基板処理システムを使用して枚葉方式で基板の処理を行うときは、スループットを向上させることができる。また、複数の処理ユニットに対する基板の搬入および搬出をセンターロボットで行う、といった装置構成にはならないので、装置のメンテナンス性が向上する。
請求項2に係る発明は、基板を1枚ずつ浸漬処理する装置に適用されて、上記した効果を奏することができる。
請求項3に係る発明の処理システムでは、装置の設置スペースを小さくすることができる。
請求項4に係る発明の処理システムでは、装置の構成を簡単にすることができる。
請求項5ないし請求項8に係る各発明の処理システムでは、それぞれ装置のフットプリントを小さくすることができる。
以下、この発明の最良の実施形態について図面を参照しながら説明する。
図1−Aおよび図1−Bは、この発明の実施形態の1例を示し、図1−Aは、基板処理システムの全体構成を示す概略平面図であって要部を横断面で模式的に表した図であり、図1−Bは、その処理システムを正面から見た概略図であって要部を縦断面で模式的に表した図である。
この基板処理システムは、複数枚の基板Wを上下方向に整列して収納したカセットCや空のカセットCを複数、並列して載置することができるカセット載置台10を有するインデクサ部(ローダ・アンローダ部)12、複数、図示例では3つの処理ユニット14a〜14cと共通の乾燥ユニット16とから構成された基板処理部18、共通の基板搬送ロボット20を有する基板搬送部22、基板移載ロボット24を有する基板移載部26、ローラコンベア28を有する基板返送部30、ならびに、基板移載ロボット32を有する処理済み基板移載部34を備えている。
基板移載部26に設置された基板移載ロボット24は、カセット載置台10上に載置され処理前の基板Wが収納されたカセットCから1枚ずつ基板Wを取り出し、その基板Wを基板搬送部22の基板搬送ロボット20へ引き渡す。また、基板移載ロボット24は、処理済みの基板Wを基板返送部30のローラコンベア28の端部から取り上げて、その基板Wをカセット載置台10上に載置された空の(もしくは空きのある)カセットC内へ挿入し収容する。基板移載部26の上部には、クリーンエアーをダウンフローさせるファンフィルタユニット(FFU)36が配設されている。
基板処理部18の各処理ユニット14a〜14cはそれぞれ、基板Wを1枚ずつ薬液で処理する1つの薬液処理部38と、薬液処理後の基板Wを1枚ずつリンス液、例えば純水で処理する1つのリンス処理部40とを連接して構成されている。詳しい説明は省略するが、薬液処理部38は、例えば、薬液を貯留する処理槽および処理槽内で基板Wを保持する基板保持部を有し、基板Wを静止した状態で薬液中に浸漬させて薬液処理する。また、リンス処理部38は、純水を貯留する処理槽および処理槽内で基板Wを保持する基板保持部を有し、基板Wを静止した状態で純水中に浸漬させてリンス処理する。各処理ユニット14a〜14cの上方にはそれぞれ、薬液処理部38およびリンス処理部40へ薬液および純水を送給する処理液供給ユニット42a〜42cが積層して配設されている。乾燥ユニット16は、複数の処理ユニットのうち最後尾に位置する処理ユニット14cに連接して配設されており、上面に基板Wを載置して乾燥させるホットプレート44を具備している。
基板搬送部22に設置された基板搬送ロボット20は、基板移載部26、3つの処理ユニット14a〜14cおよび乾燥ユニット16が並列された方向に沿って往復移動することができるように走行機構を具備している。この基板搬送ロボット20により、基板移載部26の基板移載ロボット24からの基板Wの受け取り、各処理ユニット14a〜14cの薬液処理部38への基板Wの搬入およびリンス処理部40からの基板Wの搬出、ならびに、乾燥ユニット16のホットプレート44への基板Wの搬入のそれぞれの操作が行われる。また、基板搬送ロボット20は、各処理ユニット14a〜14cにおける薬液処理部38からリンス処理部40への基板Wの搬送も行う。
処理済み基板移載部34は、乾燥ユニット16に連接して配設されており、処理済み基板移載部34に設置された基板移載ロボット32は、乾燥ユニット16のホットプレート44上から処理済みの基板Wを取り出し、その基板Wを基板返送部30のローラコンベア28の端部に載置する。ローラコンベア28は、3つの処理ユニット14a〜14cおよび乾燥ユニット16の下方に、それらが並列された方向に沿って配設されている。このローラコンベア28により、基板移載ロボット32から受け取った処理済みの基板Wを一端部から他端部まで搬送して、基板移載部26の基板移載ロボット24へ引き渡せるようにする。
図1−Aおよび図1−Bに示す基板処理システムを使用した一連の処理操作は、以下のようにして行われる。
基板移載部26の基板移載ロボット24により、カセット載置台10上に載置されたカセットCから処理前の基板Wが1枚ずつ取り出され、基板搬送部22の、基板移載部26と対向する位置に待機している基板搬送ロボット20へ基板Wが引き渡される。基板搬送ロボット20は、基板Wを受け取ると、複数の処理ユニット14a〜14cのうち薬液処理部38での処理が行われていないいずれかの処理ユニットの前まで移動し、薬液処理部38へ基板Wを搬入する。ハンド部が開放された基板搬送ロボット20は、複数の処理ユニット14a〜14cのうち薬液処理部38での薬液処理が終了したいずれかの処理ユニットの前まで移動し、薬液処理部38から薬液処理後の基板Wを搬出して、隣接するリンス処理部40へ基板Wを搬入する。あるいは、ハンド部が開放された状態の基板搬送ロボット20は、複数の処理ユニット14a〜14cのうちリンス処理部40でのリンス処理が終了したいずれかの処理ユニットの前まで移動し、リンス処理部38からリンス処理後の基板Wを搬出した後、乾燥ユニット16の前まで移動し、ホットプレート44へ基板Wを搬入する。以上のような基板搬送ロボット20の動作は、図示しない制御装置により統括的に管理・制御される。
乾燥ユニット16へ搬入された基板Wは、ホットプレート44で加熱されて乾燥処理される。乾燥処理が終了した処理済みの基板Wは、処理済み基板移載部34に設置された基板移載ロボット32により、ホットプレート44上から取り出されて、基板返送部30のローラコンベア28の一端部に載置される。そして、処理済みの基板Wは、基板返送部30のローラコンベア28によって基板移載部26と対向する位置まで搬送され、基板移載ロボット24により、ローラコンベア28の端部から取り出されて、カセット載置台10上に載置された空の(もしくは空きのある)カセットC内へ挿入され収容される。
上記したように、この基板処理システムでは、薬液処理部38では基板Wの薬液処理のみが行われ、リンス処理部40では基板Wのリンス処理のみが行われる。したがって、それぞれの処理ユニット14a〜14cにおいて、薬液処理部38での薬液処理が終わった基板Wが薬液処理部38から隣接するリンス処理部40へ搬送されると、次の基板Wを薬液処理部38へ搬入して薬液処理することが可能となる。このため、先の基板Wのリンス処理が終了してリンス処理部40から先の基板Wが搬出されるのを待って次の基板Wを薬液処理部38へ搬入する、といったことを行う必要が無く、また、リンス処理が終了した基板Wは、基板搬送ロボット20により乾燥ユニット16へ直ちに搬送して乾燥処理すればよいので、複数枚の基板Wを効率良く処理していくことができる。
また、第1の薬液処理→リンス処理→第2の薬液処理→リンス処理→乾燥処理といった連続処理を行うときは、1つの処理ユニット14a〜14cにおいて基板Wを薬液処理部38で薬液処理した後にリンス処理部40でリンス処理する一連の処理を処理単位として、例えば、処理ユニット14aにおいて基板Wを薬液処理しリンス処理した後、その処理ユニット14aから別の処理ユニット14b(または14c)へ当該基板Wを搬送し、その別の処理ユニット14b(または14c)において基板Wを薬液処理しリンス処理した後に、当該基板Wを乾燥ユニット16へ搬送して乾燥処理すればよい。さらに、第1の薬液処理→リンス処理→第2の薬液処理→リンス処理→第3の薬液処理→リンス処理→乾燥処理といった連続処理を行うときは、例えば、処理ユニット14aにおいて基板Wを薬液処理しリンス処理した後、その処理ユニット14aから別の処理ユニット14b(または14c)へ当該基板Wを搬送し、その処理ユニット14b(または14c)において基板Wを薬液処理しリンス処理した後、その別の処理ユニット14b(または14c)からさらに別の処理ユニット14c(または14b)へ当該基板Wを搬送し、その処理ユニット14c(または14b)において基板Wを薬液処理しリンス処理した後に、当該基板Wを乾燥ユニット16へ搬送して乾燥処理すればよい。このようにして、基板Wに対し処理が行われない薬液処理部38やリンス処理部40へ基板Wを搬送するようなことは行われない。
次に、図2−A〜図2−Cは、この発明の別の実施形態を示し、図2−Aは、基板処理システムの全体構成を示す概略平面図であって要部を横断面で模式的に表した図であり、図2−Bは、その処理システムを正面から見た概略図であって要部を縦断面で模式的に表した図であり、図2−Cは、その処理システムを正面から見た概略図であって要部を別の縦断面で模式的に表した図である。これらの図において、図1−Aおよび図1−Bで使用された符号と同一符号を付した構成要素は、図1−Aおよび図1−Bに関して上記で説明したものと同一機能を有する同一要素であり、それらについての説明を省略する。
この基板処理システムでは、基板搬送部22の下方に、ローラコンベアに代えて基板搬送ロボット46を有する基板返送部48が配設されている。基板搬送ロボット46は、基板搬送部22の基板搬送ロボット20と同様の構成であり、基板搬送ロボット20の走行路と平行な方向に往復移動することができるように走行機構を具備している。また、この処理システムでは、各処理ユニット14a〜14cの下方に、ホットプレート50を具備した乾燥ユニット52a〜52cがそれぞれ配設されている。さらに、複数の処理ユニットのうち最後尾に位置する処理ユニット14cおよびその下方に配置された乾燥ユニット52cに連接して、基板移し替えロボット54を有する基板移し替え部56が配設されている。なお、図2−Cにおいては図面が見づらくなるのを避けるため、基板搬送部22および基板返送部48越しに見える薬液処理部38およびリンス処理部40を、処理ユニット14cについてだけ図示し他の処理ユニット14a、14bについては図示を省略している。
この処理システムでは、基板返送部48に設置された基板搬送ロボット46により、乾燥ユニット52a〜52cのホットプレート44への基板Wの搬入およびホットプレート44からの処理済みの基板Wの搬出、ならびに、基板移載部26と対向する位置への処理済み基板Wの搬送のそれぞれの操作が行われる。また、基板移し替え部56に設置された基板移し替えロボット54は、薬液処理およびリンス処理が終了した基板Wを基板搬送部22の基板搬送ロボット20から受け取り、その基板Wを基板返送部48の基板搬送ロボット46へ引き渡す。そして、基板移載ロボット24は、カセット載置台10上に載置されたカセットCから処理前の基板Wを取り出して基板搬送部22の基板搬送ロボット20へ引き渡す上記操作の他に、処理済みの基板Wを基板返送部48の基板搬送ロボット46から受け取って、その基板Wをカセット載置台10上に載置された空の(もしくは空きのある)カセットC内へ挿入し収容する操作を行う。
図2−A〜図2−Cに示す基板処理システムを使用した一連の処理操作において、基板の薬液処理およびリンス処理までの操作は、図1−Aおよび図1−Bに示した上記処理システムと同様に行われる。
図2−A〜図2−Cに示した処理システムでは、薬液処理およびリンス処理が終了した基板Wは、基板搬送部22の基板搬送ロボット20によって処理ユニット14a〜14cのリンス処理部40から搬出され、基板移し替え部56と対向する位置まで搬送される。そして、基板Wは、基板移し替えロボット54により、基板搬送ロボット20から取り出されて、基板移し替え部56と対向する位置に待機する基板返送部48の基板搬送ロボット46へ引き渡される。基板Wを受け取った基板搬送ロボット46は、複数の乾燥ユニット52a〜52bのうち基板が搬入されていない(空いている)適当な乾燥ユニットの前まで移動し、乾燥ユニット52a〜52bのホットプレート50へ基板Wを搬入する。乾燥ユニット52a〜52cへ搬入された基板Wは、ホットプレート50で加熱されて乾燥処理される。乾燥処理が終了した処理済みの基板Wは、基板返送部48の基板搬送ロボット46によって搬出され、基板移載部26と対向する位置まで搬送される。そして、処理済みの基板Wは、基板移載ロボット24により基板搬送ロボット46から取り出されて、カセット載置台10上に載置された空の(もしくは空きのある)カセットC内へ挿入され収容される。
次に、図3−Aおよび図3−Bは、この発明のさらに別の実施形態を示し、図3−Aは、基板処理システムの全体構成を示す概略平面図であって要部を横断面で模式的に表した図であり、図3−Bは、その処理システムを正面から見た概略図であって要部を縦断面で模式的に表した図である。これらの図において、図1−Aおよび図1−Bで使用された符号と同一符号を付した構成要素は、図1−Aおよび図1−Bに関して上記で説明したものと同一機能を有する同一要素であり、それらについての説明を省略する。
この基板処理システムでは、3つの処理ユニット14a〜14cの下方に、それらが並列された方向に沿って配設されているローラコンベア58を具備した基板返送部60が配設されている。そして、ローラコンベア58の直上に、ローラコンベア58と平行にヒータ62が連設されている。また、複数の処理ユニットのうち最後尾に位置する処理ユニット14cに連接して、基板移載ロボット64を有する基板移載部66が配設されている。
この処理システムにおいて、薬液処理およびリンス処理が終了した基板Wは、基板搬送部22の基板搬送ロボット20によって処理ユニット14a〜14cのリンス処理部40から搬出され、基板移載部66と対向する位置まで搬送される。そして、基板Wは、基板移載ロボット64により基板搬送ロボット20から取り出されて、基板返送部60のローラコンベア58の一端部に載置される。ローラコンベア58は、基板移載ロボット64から受け取った基板Wを一端部から他端部まで搬送する。このローラコンベア58によって基板Wが搬送される間に、基板Wは、ローラコンベア58の直上に配設されたヒータ62により加熱されて乾燥処理される。
以上のように複数の処理ユニット14a〜14c、基板搬送部22、基板返送部60、ヒータ62および基板移載部66から構成されたユニット群が上下方向に複数段、図示例では5段積層されている。そして、上下方向に積層されたユニット群のうち最上に位置するユニット群の、各処理ユニット14a〜14cの上方に、薬液処理部38およびリンス処理部40へ薬液および純水を送給する共通の処理液供給ユニット42a〜42cがそれぞれ積層して配設されている。処理液供給ユニット42a、42b、42cからは、上下方向に並んだ同列に属する5つの処理ユニット14a、14b、14cのそれぞれへ薬液および純水が送給される。
また、インデクサ部12と処理ユニット14a〜14cとの間に介在する基板移載部68には、共通の基板移載ロボット70が設置されている。この基板移載ロボット70は、アーム部が上下方向へ大きく移動可能であり、アーム部を昇降させることにより、各段の基板搬送部22の基板搬送ロボット20および基板返送部60のローラコンベア58の端部に対してそれぞれアクセスすることができる。この基板移載ロボット70により、カセット載置台10上に載置されたカセットCから1枚ずつ処理前の基板Wを取り出し、その基板Wを、いずれかの段のユニット群における基板搬送部22の基板搬送ロボット20へ引き渡す。また、基板移載ロボット70は、いずれかの段のユニット群において処理済みの基板Wを基板返送部60のローラコンベア58の端部から取り上げて、その基板Wをカセット載置台10上に載置された空の(もしくは空きのある)カセットC内へ挿入し収容する。
なお、図3−Aおよび図3−Bに示した基板処理システムでは、ユニット群を複数段上下方向に積層しているが、横方向(紙面に対し直交する方向)にも、複数段(5段)のユニット群と複数(3つ)の処理液供給ユニット42a〜42cとから構成されるブロックを並列して配設するようにしてもよい。また、その場合には、メンテナンス性を考慮して、各ブロックを分離および移動可能とするとよい。
また、上記した実施形態では、基板搬送部22に設置された基板搬送ロボット20が、各処理ユニット14a〜14cにおける薬液処理部38からリンス処理部40への基板Wの搬送も行うようにしているが、各処理ユニット14a〜14cに別の搬送ロボットをそれぞれ設置しておいて、その搬送ロボットにより薬液処理部38からリンス処理部40への基板Wの搬送を行うようにしてもよい。
この発明の実施形態の1例を示し、基板処理システムの全体構成を示す概略平面図であって要部を横断面で模式的に表した図である。 図1−Aに示した基板処理システムを正面から見た概略図であって要部を縦断面で模式的に表した図である。 この発明の別の実施形態を示し、基板処理システムの全体構成を示す概略平面図であって要部を横断面で模式的に表した図である。 図2−Aに示した基板処理システムを正面から見た概略図であって要部を縦断面で模式的に表した図である。 図2−Aに示した基板処理システムを正面から見た概略図であって要部を別の縦断面で模式的に表した図である。 この発明のさらに別の実施形態を示し、基板処理システムの全体構成を示す概略平面図であって要部を横断面で模式的に表した図である。 図3−Aに示した基板処理システムを正面から見た概略図であって要部を縦断面で模式的に表した図である。 従来の枚葉式基板処理装置の1例を模式的に示す平面配置図である。
符号の説明
10 カセット載置台
12 インデクサ部(ローダ・アンローダ部)
14a〜14c 処理ユニット
16、52a〜52c 乾燥ユニット
18 基板処理部
20、46 基板搬送ロボット
22 基板搬送部
24、32、64、70 基板移載ロボット
26、66、68 基板移載部
28、58 ローラコンベア
30、48、60 基板返送部
34 処理済み基板移載部
38 薬液処理部
40 リンス処理部
42a〜42c 処理液供給ユニット
44、50 ホットプレート
54 基板移し替えロボット
56 基板移し替え部
62 ヒータ
W 基板
C カセット

Claims (8)

  1. 基板を1枚ずつ順次搬送しつつ薬液で処理した後にリンス液で処理し乾燥させる基板処理システムであって、
    基板を1枚ずつ薬液で処理する1つの枚葉薬液処理部と、基板を1枚ずつリンス液で処理する1つの枚葉リンス処理部と、を連接して処理ユニットを構成し、その処理ユニットを複数、1つの装置ベース上に並列させて配設し、前記装置ベース上に、前記各処理ユニットにおいてそれぞれ前記枚葉薬液処理部から前記枚葉リンス処理部へ基板を搬送する基板搬送手段、および、基板を乾燥処理する乾燥ユニットを設け、
    前記各処理ユニットにおいてそれぞれ前記枚葉薬液処理部で基板を薬液処理した後に前記枚葉リンス処理部で基板をリンス処理する一連の処理を処理単位として、1枚の基板に対し前記一連の処理を複数回行うときは、1つの処理ユニットから別の処理ユニットへ当該基板を順次搬送して、前記処理ユニットの設置数に対応する回数以内で適宜必要とする回数だけ前記処理単位を繰り返してから、当該基板を前記乾燥ユニットへ搬送して乾燥処理することを特徴とする基板処理システム。
  2. 請求項1に記載の基板処理システムにおいて、
    前記枚葉薬液処理部は、基板を静止した状態で薬液に浸漬させる処理槽を有し、前記枚葉リンス処理部は、基板を静止した状態でリンス液に浸漬させる処理槽を有することを特徴とする基板処理システム。
  3. 請求項1または請求項2に記載の基板処理システムにおいて、
    前記複数の処理ユニットのうち最後尾に位置する処理ユニットに連接して共通の乾燥ユニットが配設されたことを特徴とする基板処理システム。
  4. 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の基板処理システムにおいて、
    前記基板搬送手段は、並列された前記複数の処理ユニットで共通であることを特徴とする基板処理システム。
  5. 請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の基板処理システムにおいて、
    並列された前記複数の処理ユニットの下方に、処理済みの基板を返送する返送手段の搬送路が設けられたことを特徴とする基板処理システム。
  6. 請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の基板処理システムにおいて、
    前記各処理ユニットの上方に、前記枚葉薬液処理部および前記枚葉リンス処理部へ薬液およびリンス液を送給する処理液供給ユニットがそれぞれ積層して配設されたことを特徴とする基板処理システム。
  7. 請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の基板処理システムにおいて、
    並列された前記複数の処理ユニットからなる処理ユニット群が上下方向に積層して配設されたことを特徴とする基板処理システム。
  8. 請求項7に記載の基板処理システムにおいて、
    上下方向に積層された前記処理ユニット群のうち最上に位置する処理ユニット群の、各処理ユニットの上方に、前記枚葉薬液処理部および前記枚葉リンス処理部へ薬液およびリンス液を送給する共通の処理液供給ユニットがそれぞれ積層して配設されたことを特徴とする基板処理システム。
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