JP2009230788A - 信号処理回路、磁気記憶装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ヘッドにより媒体からリードされた信号から所定の波形を抽出する信号処理回路、磁気記憶装置を提供する。
【解決手段】ヘッドにより出力されるアナログ信号の処理を行う信号処理回路であって、アナログ信号に基づいてデジタル信号を生成する変換部と、変換部出力の等化を行う第１フィルタと、第１フィルタ出力からデータの復調を行う復調部と、復調部により復調されたデータに基づく波形の変調を行う変調部と、変調部出力の等化を行う第２フィルタと、第２フィルタ出力が変換部出力に等しくなるように、第２フィルタの応答を適応させる適応部とを備える。
【選択図】図２

Description

本発明は、ヘッドにより出力されるアナログ信号の処理を行う信号処理回路、磁気記憶装置に関するものである。

ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等の磁気記憶装置の開発過程及び製造過程において、ヘッド及び媒体の品質を見るために、ヘッドにより媒体から読み出されたリード信号の測定が行われる。測定の一つとして、媒体に孤立波や固有パターンをライトし、リードされた信号を測定器を介して測定する技術がある。この測定により得られる記録ビット密度（Ｄｕ）は、ヘッド及び媒体の品質や装置設計に関わる重要な測定項目である。

また、ＲＤＣ（Read Channel Combo）の信号等化処理における設定パラメータの最適値を求める手法の中には、実測された孤立波等の波形を必要とする手法がある。この手法は、必要なパターンを媒体にライトし、そのパターンをリードし、測定器を介して波形を計算機へ取り込み、計算機により設定パラメータの最適値を求める。

しかしながら、上述した孤立波を用いる測定を行うためには、手間、工数、測定のための機器が必要となり、コスト負担が大きい。また、磁気記憶装置の量産時において、個体毎に設定パラメータの最適値を求めることは困難である。また、ヘッド及び媒体を使用せずに、磁気記憶装置におけるＬＳＩ（Large Scale Integration）単体の評価を行う場合、ＬＳＩへの入力信号として任意波形発生器等の高価な設備が必要となるため、コスト負担が大きい。

本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、ヘッドにより媒体からリードされた信号から所定の波形を抽出する信号処理回路、磁気記憶装置を提供することを目的とする。

上述した課題を解決するため、本発明の一態様は、ヘッドにより出力されるアナログ信号の処理を行う信号処理回路であって、前記アナログ信号に基づいてデジタル信号を生成する変換部と、前記変換部出力の等化を行う第１フィルタと、前記第１フィルタ出力からデータの復調を行う復調部と、前記復調部により復調されたデータに基づく波形の変調を行う変調部と、前記変調部出力の等化を行う第２フィルタと、前記第２フィルタ出力が前記変換部出力に等しくなるように、前記第２フィルタの応答を適応させる適応部とを備える。

また、本発明の一態様は、データが書き込まれる媒体と、前記媒体からの読み出しを行い、該読み出しの結果をアナログ信号として出力するヘッドと、前記ヘッドにより出力されるアナログ信号に基づいてデジタル信号を生成する変換部と、前記変換部出力の等化を行う第１フィルタと、前記第１フィルタ出力からデータの復調を行う復調部と、前記復調部により復調されたデータに基づく波形の変調を行う変調部と、前記変調部出力の等化を行う第２フィルタと、前記第２フィルタ出力が前記変換部出力に等しくなるように、前記第２フィルタの応答を適応させる適応部とを備える。

開示の信号処理回路、磁気記憶装置によれば、ヘッドにより媒体からリードされた信号から所定の波形を抽出することができる。

以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。

実施の形態１．
まず、本実施の形態に係るＨＤＤの構成について説明する。

図１は、本実施の形態に係るＨＤＤの構成の一例を示すブロック図である。この磁気記憶装置は、媒体１１、ヘッド１２、ＲＤＣ１３ａ（信号処理回路）、ＨＤＣ（Hard Disk Controller）１４、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）１５、サーボ制御部１６、ＳＰＭ（Spindle Motor）１７、ＶＣＭ（Voice Coil Motor）１８、メモリ１９を備える。

媒体１１は、磁気ディスクである。ヘッド１２は、媒体１１に対してライト及びリードを行う。ＲＤＣ１３ａは、ＬＳＩであり、リード信号の復調等を行う。ＨＤＣ１４は、ホスト（コンピュータ）との通信を行う。ＭＰＵ１５は、各部の制御を行う。サーボ制御部１６は、ＳＰＭ１７、ＶＣＭ１８の制御を行う。ＳＰＭ１７は、媒体１１を駆動する。ＶＣＭ１８は、ヘッド１２を駆動する。メモリ１９は、ＭＰＵ１５の動作に必要な情報を格納する。

図２は、本実施の形態に係るＲＤＣの構成の一例を示すブロック図である。本実施の形態に係るＲＤＣ１３ａは、リード処理部２１、波形抽出部２２、記録ビット密度算出部２３を備える。

リード処理部２１は、ヘッド１２により媒体１１からリードされたリード信号の復調を行い、１／０のデータを出力する。波形抽出部２２は、リード処理部２１における信号から所定の波形を抽出する。波形抽出部２２が抽出すべき波形である抽出波形は、例えば孤立波やＤｉ−Ｐｕｌｓｅであり、本実施の形態では孤立波とする。

リード処理部２１は、ＶＧＡ（Variable Gain Amplifier）３１、ＣＴＦ（Continuous Time Filter）３２（第３フィルタ）、ＡＤＣ（Analog Digital Converter）３３（変換部）、ＦＩＲ（Finite Impulse Response）３４（第１フィルタ）、適応部（Adaptation）３５、再構成フィルタ（Reconstruction Filter）３６、Ｖｉｔｅｒｂｉ検出器３７（Viterbi）（復調部）、タイミング補正部（Timing Recovery）３８、ＡＧＣ（Automatic Gain Controller）３９、減算器４０を備える。

ここで、抽出波形をＣｉ、ヘッド１２のヘッド再生特性をＰＲ（１，−１）で表す。ＰＲ（１，−１）は、ヘッド１２がデータ“１”（前後はデータ“０”）を再生した場合のリード波形でＤｉ−Ｐｕｌｓｅ（正のパルスの後に負のパルスが続く波形）を表す。ヘッド１２によりデータ“１”がリードされた場合、ＲＤＣ１３ａに入力されるリード信号は、１＊Ｃｉ＊ＰＲ（１，−１）で表される。ここで、＊は、畳み込み演算子を表す。

ＲＤＣ１３ａへ入力されたリード信号（Input waveform）は、ＶＧＡ３１により一定振幅へ調整される。次に、ＶＧＡ３１出力は、アナログのＬＰＦ（Low Pass Filter）であるＣＴＦ３２でフィルタリングされた後、ＡＤＣ３３でデジタル値に変換される。ＡＤＣ３３出力は、等化のためのＦＩＲ３４でフィルタリングされ、後段のＶｉｔｅｒｂｉ検出器３７により、１または０の２値データとして復調される。ここで、ＣＴＦ３２の時間応答をＣｃｔｆとすると、ＡＤＣ３３出力は、１＊Ｃｉ＊ＰＲ（１，−１）＊Ｃｃｔｆで表される。また、Ｖｉｔｅｒｂｉ検出器３７出力は、１で表される。

再構成フィルタ３６は、Ｖｉｔｅｒｂｉ検出器３７出力に×（１−Ｄ）演算（ＰＲ（１，−１）を畳み込む演算）を行うことによりリード波形を再構成する。減算器４０は、ＦＩＲ３４出力と再構成フィルタ３６出力の散文を算出して誤差量とする。適応部３５は、再構成フィルタ３６出力と誤差量を用いてＦＩＲ３４のＴＡＰ値を適応させていく。適応部３５のＴＡＰ適応アルゴリズムは、ＬＭＳ（Least Mean Square）方式など既知のものである。

タイミング補正部３８は、誤差量を用いてＡＤＣ３３のサンプルタイミングを補正する。ＡＧＣ３９は、誤差量を用いてＶＧＡ３１のゲインを調整する。

波形抽出部２２は、オーバサンプリング部４１（Over Sampling ×N）（第１オーバサンプリング部）、オーバサンプリング部４２（Over Sampling ×N）（第２オーバサンプリング部）、ＦＩＲ４４（第２フィルタ）、適応部４５（Adaptation）（適応部）、再構成フィルタ（Reconstruction Filter）４６（変調部）、抽出波形記憶部４７、減算器５０、ＣＴＦ特性除去部６０（除去部）を備える。

ＡＤＣ３３により入力信号に同期サンプリングされた信号は、オーバサンプリング部４１によりＮ倍オーバサンプリングされる。ここでオーバサンプリング数Ｎが、後述する抽出波形の精度（分解能）を決定する。本実施の形態では、Ｎ＝４とする。減算器５０は、オーバサンプリング部４１出力とＦＩＲ４４出力の差分を算出して誤差量とする。適応部４５は、再構成フィルタ４６出力と誤差量を用いてＦＩＲ４４のＴＡＰ値を適応させていく。適応部４５のＴＡＰ適応アルゴリズムは、ＬＭＳ方式など既知のものである。

ここで、適応部４５の動作により減算器５０出力である誤差量が０に収束するため、収束したＦＩＲ４４の時間応答（ＴＡＰ値）をＣｆｉｒとすると、１＊Ｃｉ＊ＰＲ（１，−１）＊Ｃｃｔｆ＝Ｃｆｉｒ＊１＊ＰＲ（１，−１）となる。即ち、Ｃｆｉｒ＝Ｃｉ＊Ｃｃｔｆになる。

ＦＩＲ３４とＦＩＲ４４、適応部３５と適応部４５は、それぞれ同じ回路で実現が可能である。一方、ＦＩＲ４４へは、Ｖｉｔｅｒｂｉ検出器３７出力のデジタル系列は、オーバサンプリング部４２によりＮ倍オーバサンプリングされ、再構成フィルタ４６により抽出波形に応じた演算が行われる。再構成フィルタ４６出力は、ＦＩＲ４４により等化される。

抽出波形が孤立波である場合、再構成フィルタ４６は、×（１−Ｄ）計算（＊ＰＲ（１、−１））を行う。

以上の処理を繰返しおこない、適応部４５出力であるＦＩＲ４４のＴＡＰ値を適応させていく。適応した時点でＦＩＲ４４のＴＡＰ値は、ＡＤＣ３３出力の波形に対応する。

ＲＤＣ１３ａへの入力信号における抽出波形を求めるため、更にＣＴＦ特性除去部６０は、ＦＩＲ４４のＴＡＰ値からＣＴＦ３２の特性を除去する処理をおこなう。ＣＴＦ特性除去部６０は、伝達関数記憶部５１（Transfer function of CTF）、ＤＦＴ（Discrete Fourier Transform：離散フーリエ変換）５２、除算器５３、ＩＤＦＴ（Inverse Discrete Fourier Transform：逆離散フーリエ変換）５４を備える。

ＤＦＴ５２は、ＦＩＲ４４のＴＡＰ値のＤＦＴ処理を行う。除算器５３は、ＤＦＴ５２出力を伝達関数記憶部５１に格納されたＣＴＦ３２の伝達関数で除算する。ＩＤＦＴ５４は、除算器５３出力のＩＤＦＴ処理を行い、抽出波形を抽出波形記憶部４７（レジスタやメモリ）へ格納する。

つまり、ＣＴＦ特性除去部６０は、収束したＦＩＲ４４のＴＡＰ値Ｃｉ＊ＣｃｔｆからＣｃｔｆを除去し、抽出波形（Output waveform）Ｃｉを得る。

また、抽出波形がＤｉ−Ｐｕｌｓｅである場合、再構成フィルタ４６は、×１計算を行う。

これにより、ＣＴＦ３２によるフィルタリング前の入力信号における抽出波形（孤立波やＤｉ−Ｐｕｌｓｅ）をデジタル値で再生することができる（Reproduced Isolate Pulse／Reproduced Isolate Di-Pulse）。

上述したように抽出波形としてデジタル値で再生された孤立波を、以下、デジタル再生孤立波と呼ぶ。このデジタル再生孤立波は、抽出波形記憶部４７に保存されて利用される。

図３は、本実施の形態によりデジタル再生孤立波の波形の一例を示す図である。この図は、デジタル再生孤立波の波形と、比較のため、Ｌｏｒｅｎｔｚ式で表された孤立波の波形とを示す。横軸は、サンプル数、縦軸は、規格化された振幅レベルを示す。

次に、デジタル再生孤立波を用いた記録ビット密度（Ｄｕ）の計測方法について説明する。

従来、記録ビット密度Ｄｕの計測には、オシロスコープ等の設備を要し、計測のための手間がかかっていた。本実施の形態においては、記録ビット密度算出部２３は、抽出波形記憶部４７からデジタル再生孤立波を読み出し、デジタル再生孤立波と記録ビット密度算出式を用いて、記録ビット密度（Ｄｕ）を算出する。

また、本実施の形態において、コンピュータにより任意の波形をリードする命令がＨＤＤへ入力されると、ＨＤＤは、Ｄｕ値をコンピュータに返す。なお、本実施の形態に係るＨＤＤから記録ビット密度算出部２３を省き、外部のコンピュータが記録ビット密度を算出しても良い。

図４は、本実施の形態に係る記録ビット密度算出式の一例を示す図である。ここで、Ｔは、１ｂｉｔ時間、Ｎは、オーバサンプル数を表す。

ここで、デジタル再生孤立波の半値幅を求める。図５は、本実施の形態に係るデジタル再生孤立波における半値幅の一例を示す図である。デジタル再生孤立波のピークが位置するＸｐ番目のサンプル値をＹｐとする。デジタル再生孤立波は、デジタル値であるため、その最大値＝波形ピークを容易に求めることができる。

次に、記録ビット密度算出部２３は、半値幅の定義により、ＴＡＰ値がＹｐ／２となるＴＡＰ位置Ｘ１，Ｘ２を、それぞれ（１＜Ｘ１＜Ｘｐ），（Ｘｐ＜Ｘ２＜ＴＡＰ数）の範囲で求める。ここで、Ｘ１は、例えば、ＴＡＰ値がＹｐ／２の前後となるＴＡＰ位置（Ｘ１ａ，Ｙｐ／２−α），（Ｘ１ｂ，Ｙｐ／２＋β）の２点を直線補間することにより求められる。Ｘ２もＸ１と同様にして求められる。これにより、記録ビット密度算出部２３は、半値幅＝Ｘ２−Ｘ１［サンプル数］が求める。

このような記録ビット密度算出部２３をＲＤＣ１３ａに内蔵することにより、ＲＤＣ１３ａのＬＳＩ単体が任意パターンのリード信号からＤｕを計測することができる。従って、従来、振幅測定やＤｕの計測に要していたオシロスコープ等の設備が不要となると共に、計測のための手間を大幅に削減することができる。これにより、ＨＤＤの個体毎にＤｕを計測することができる。更に、製造におけるＤｕトレンドを正確に取得することができる。

実施の形態２．

波形等化をおこなうＦＩＲ及び適応部は、ＴＡＰ Ａｄａｐｔａｔｉｏｎ機能により、波形をリードして学習させていくことで、最適なＴＡＰ値に近づけることができる。しかし、全ＴＡＰを可変にすると発散する恐れがあるため、従来の波形等化は、中央付近の数個のＴＡＰ値を固定にした固定ＴＡＰとし、他のＴＡＰを適応させている。そのため、これらの固定ＴＡＰは、適応部により最適化されることはなかった。

本実施の形態においては、ＦＩＲの全ＴＡＰの初期値を算出するＲＤＣについて説明する。

図６は、本実施の形態に係るＨＤＤの構成の一例を示すブロック図である。この図において、図１と同一符号は図１に示された対象と同一又は相当物を示しており、ここでの説明を省略する。図１のＨＤＤと比較すると、このＨＤＤは、ＲＤＣ１３ａの代わりにＲＤＣ１３ｂを備える。

図７は、本実施の形態に係るＲＤＣの構成の一例を示すブロック図である。この図において、図２と同一符号は図２に示された対象と同一又は相当物を示しており、ここでの説明を省略する。図２のＲＤＣ１３ａと比較すると、本実施の形態に係るＲＤＣ１３ｂは、新たに、最適化部２４（応答算出部）を備える。最適化部２４は、等化ターゲット記憶部６１（Target）、ＤＦＴ６２，６３、除算器６４、ＩＤＦＴ６５、ＴＡＰ値記憶部６６（TAP）、ダウンサンプリング部６７（Down Sampling ÷Ｎ）を備える。等化ターゲット記憶部６１は、予めビット時間間隔でサンプリングされた孤立波の等化ターゲットを格納する。

まず、ＨＤＤの製造時におけるＴＡＰ初期値の算出の動作について説明する。

ダウンサンプリング部６７は、抽出波形記憶部４７に格納されたデジタル再生孤立波を１／Ｎ倍にダウンサンプルすることによりビット時間間隔のサンプルにする。次に、ＤＦＴ６２は、ダウンサンプリング部６７出力をＤＦＴ処理する。ＤＦＴ６３は、等化ターゲット記憶部６１に格納された等化ターゲットをＤＦＴ処理する。次に、除算器６４は、ＤＦＴ６３出力をＤＦＴ６２出力で除算する。次に、ＩＤＦＴ６５は、除算器６４出力のＩＤＦＴ処理を行い、ＩＤＦＴ結果であるビット時間間隔のＴＡＰ値をＴＡＰ値記憶部６６へ格納する。

次に、ＭＰＵ１５（書き込み部）は、ＴＡＰ値記憶部６６に格納されたＴＡＰ値を媒体１１のシステムエリアへ記録する。なお、ＴＡＰ値がシステムエリアへ記録される代わりに、ＴＡＰ値記憶部６６が不揮発性メモリであっても良い。

次に、ＨＤＤの起動時におけるＴＡＰ初期値の設定の動作について説明する。

ＨＤＤが起動される度、ＭＰＵ１５（応答設定部）は、媒体１１のシステムエリアからＴＡＰ値を読み出し、ＦＩＲ３４に設定する。これにより、固定ＴＡＰに対しても初期値として最適値を設定することができるため、ＦＩＲ３４による等化の精度が向上する。

実施の形態３．

従来、ＲＤＣへ任意のビットパターンのリード波形を入力してＲＤＣ単体のテストを行うためには、任意波形発生器等の高価な機器が必要であった。

本実施の形態においては、デジタル再生孤立波を基にして、別のＲＤＣへ入力するための任意のビットパターンのリード波形を生成するＲＤＣについて説明する。

図８は、本実施の形態に係るＲＤＣの構成の一例を示すブロック図である。この図において、図２と同一符号は図２に示された対象と同一又は相当物を示しており、ここでの説明を省略する。図２のＲＤＣ１３ａと比較すると、このＲＤＣは、新たに、波形生成部２５を備える。波形生成部２５は、任意パターン記憶部７１（Pattern）、畳み込み演算部７２（Convolution）、ＤＡＣ（Digital Analog Converter）７３を備える。ＤＡＣ７３出力は、他のＲＤＣに接続され、リード信号として用いられる。

任意パターン記憶部７１は、予め任意のビットパターンを記憶する。畳み込み演算部７２は、抽出波形記憶部４７に格納されたデジタル再生孤立波と任意パターン記憶部７１に格納されたビットパターンとの畳み込み演算処理を行う。ＤＡＣ７３は、畳み込み演算部７２出力であるデジタル信号をアナログ信号に変換して他のＲＤＣへ出力する。これにより、デジタル再生孤立波を基にして任意のビットパターンに変調されたアナログ波形を他のＲＤＣへ出力してテストを行うことができる。この様なＲＤＣを利用することにより、任意波形発生器を用意する必要がなくなる。

本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他の様々な形で実施することができる。そのため、前述の実施の形態は、あらゆる点で単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、何ら拘束されない。更に、特許請求の範囲の均等範囲に属する全ての変形、様々な改良、代替および改質は、全て本発明の範囲内のものである。

以上の実施の形態１〜３に関し、更に以下の付記を開示する。

（付記１） ヘッドにより出力されるアナログ信号の処理を行う信号処理回路であって、
前記アナログ信号に基づいてデジタル信号を生成する変換部と、
前記変換部出力の等化を行う第１フィルタと、
前記第１フィルタ出力からデータの復調を行う復調部と、
前記復調部により復調されたデータに基づく波形の変調を行う変調部と、
前記変調部出力の等化を行う第２フィルタと、
前記第２フィルタ出力が前記変換部出力に等しくなるように、前記第２フィルタの応答を適応させる適応部と
を備える信号処理回路。
（付記２） 付記１に記載の信号処理回路において、
更に、前記リード信号のフィルタリングを行って前記変換部へ入力する前記第３フィルタと、
前記第２フィルタの応答から前記第３フィルタの応答の除去を行う除去部と
を備える信号処理回路。
（付記３） 付記１に記載の信号処理回路において、
前記第２フィルタの応答の波形は、孤立波であり、
前記変調部は、前記復調部出力にダイパルス波形の畳み込み演算を行う信号処理回路。
（付記４） 付記１に記載の信号処理回路において、
前記第２フィルタは、ＦＩＲフィルタであり、
前記第２フィルタの応答は、前記第２フィルタのタップ値である信号処理回路。
（付記５） 付記１に記載の信号処理回路において、
更に、前記変換部出力のオーバサンプリングを行う第１オーバサンプリング部と、
前記復調部出力のオーバサンプリングを行う第２オーバサンプリング部とを備え、
前記変調部は、前記第２オーバサンプリング部出力の変調を行い、
前記適応部は、前記第２フィルタ出力が前記第１オーバサンプリング部出力に等しくなるように、前記第２フィルタの応答を適応させる信号処理回路。
（付記６） 付記２に記載の信号処理回路において、
前記除去部出力の波形は、孤立波であり、
更に、前記除去部により出力された孤立波に基づいて記録ビット密度を算出する記録ビット密度算出部を備える信号処理回路。
（付記７） 付記６に記載の信号処理回路において、
前記記録ビット密度算出部は、前記除去部により出力された孤立波の半値幅を算出し、該半値幅に基づいて記録ビット密度を算出する信号処理回路。
（付記８） 付記２に記載の信号処理回路において、
更に、前記除去部出力から前記第１フィルタの等化ターゲットの応答を除去し、該除去の結果を前記第１フィルタの応答として出力する応答算出部を備える信号処理回路。
（付記９） 付記８に記載の信号処理回路において、
更に、記憶装置に格納された前記第１フィルタの応答を読み出し、該応答を前記第１フィルタに設定する応答設定部を備える信号処理回路。
（付記１０） 付記２に記載の信号処理回路において、
更に、前記除去部出力の波形を記憶し、入力されたビットパターンに該波形の畳み込み演算を行い、該畳み込み演算の結果を外部へ出力する畳み込み演算部を備える信号処理回路。
（付記１１） 付記２に記載の信号処理回路において、
前記除去部は、前記第２フィルタの応答のＤＦＴ処理を行い、該ＤＦＴの結果を前記第３フィルタの伝達関数で除算し、該除算の結果のＩＤＦＴ処理を行う信号処理回路。
（付記１２） データが書き込まれる媒体と、
前記媒体からの読み出しを行い、該読み出しの結果をアナログ信号として出力するヘッドと、
前記ヘッドにより出力されるアナログ信号に基づいてデジタル信号を生成する変換部と、
前記変換部出力の等化を行う第１フィルタと、
前記第１フィルタ出力からデータの復調を行う復調部と、
前記復調部により復調されたデータに基づく波形の変調を行う変調部と、
前記変調部出力の等化を行う第２フィルタと、
前記第２フィルタ出力が前記変換部出力に等しくなるように、前記第２フィルタの応答を適応させる適応部と
を備える磁気記憶装置。
（付記１３） 付記１２に記載の磁気記憶装置において、
更に、前記リード信号のフィルタリングを行って前記変換部へ入力する前記第３フィルタと、
前記第２フィルタの応答から前記第３フィルタの応答の除去を行う除去部と
を備える磁気記憶装置。
（付記１４） 付記１２に記載の磁気記憶装置において、
前記第２フィルタの応答の波形は、孤立波であり、
前記変調部は、前記復調部出力にダイパルス波形の畳み込み演算を行う磁気記憶装置。
（付記１５） 付記１２に記載の磁気記憶装置において、
前記第２フィルタは、ＦＩＲフィルタであり、
前記第２フィルタの応答は、前記第２フィルタのタップ値である磁気記憶装置。
（付記１６） 付記１２に記載の磁気記憶装置において、
更に、前記変換部出力のオーバサンプリングを行う第１オーバサンプリング部と、
前記復調部出力のオーバサンプリングを行う第２オーバサンプリング部とを備え、
前記変調部は、前記第２オーバサンプリング部出力の変調を行い、
前記適応部は、前記第２フィルタ出力が前記第１オーバサンプリング部出力に等しくなるように、前記第２フィルタの応答を適応させる磁気記憶装置。
（付記１７） 付記１３に記載の磁気記憶装置において、
前記除去部出力の波形は、孤立波であり、
更に、前記除去部により出力された孤立波に基づいて記録ビット密度を算出する記録ビット密度算出部を備える磁気記憶装置。
（付記１８） 付記１３に記載の磁気記憶装置において、
更に、前記除去部出力から前記第１フィルタの等化ターゲットの応答を除去し、該除去の結果を前記第１フィルタの応答として出力する応答算出部を備える磁気記憶装置。
（付記１９） 付記１８に記載の磁気記憶装置において、
更に、前記応答算出部により算出された前記第１フィルタの応答を書き込む書き込み部を備える磁気記憶装置。
（付記２０） 付記１９に記載の磁気記憶装置において、
更に、前記書き込み部により書き込まれた前記第１フィルタの応答を読み出し、該応答を前記第１フィルタに設定する応答設定部を備える磁気記憶装置。

実施の形態１に係るＨＤＤの構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態１に係るＲＤＣの構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態１によりデジタル再生孤立波の一例を示す図である。 実施の形態１に係る記録ビット密度算出式の一例を示す図である。 実施の形態１に係るデジタル再生孤立波における半値幅の一例を示す図である。 実施の形態２に係るＨＤＤの構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態２に係るＲＤＣの構成の一例を示すブロック図である。 実施の形態３に係るＲＤＣの構成の一例を示すブロック図である。

符号の説明

１１ 媒体、１２ ヘッド、１３ａ，１３ｂ ＲＤＣ、１４ ＨＤＣ、１５ ＭＰＵ、２１ 復調部、２２ 波形抽出部、２３ 記録ビット密度算出部、３１ ＶＧＡ、３２ ＣＴＦ、３３ ＡＤＣ、３４ ＦＩＲ、３５ 適応部、３６ 再構成フィルタ、３７ Ｖｉｔｅｒｂｉ検出器、３８ タイミング補正部、３９ ＡＧＣ、４０ 減算器、４１ オーバサンプリング部、４２ オーバサンプリング部、４４ ＦＩＲ、４５ 適応部、４６ 再構成フィルタ、４７ 抽出波形記憶部、５０ 減算器、６０ ＣＴＦ特性除去部。

Claims (6)

1. ヘッドにより出力されるアナログ信号の処理を行う信号処理回路であって、
   前記アナログ信号に基づいてデジタル信号を生成する変換部と、
   前記変換部出力の等化を行う第１フィルタと、
   前記第１フィルタ出力からデータの復調を行う復調部と、
   前記復調部により復調されたデータに基づく波形の変調を行う変調部と、
   前記変調部出力の等化を行う第２フィルタと、
   前記第２フィルタ出力が前記変換部出力に等しくなるように、前記第２フィルタの応答を適応させる適応部と
   を備える信号処理回路。
2. 請求項１に記載の信号処理回路において、
   更に、前記リード信号のフィルタリングを行って前記変換部へ入力する前記第３フィルタと、
   前記第２フィルタの応答から前記第３フィルタの応答の除去を行う除去部と
   を備える信号処理回路。
3. 請求項１または請求項２に記載の信号処理回路において、
   前記第２フィルタの応答の波形は、孤立波であり、
   前記変調部は、前記復調部出力にダイパルス波形の畳み込み演算を行う信号処理回路。
4. 請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の信号処理回路において、
   前記第２フィルタは、ＦＩＲフィルタであり、
   前記第２フィルタの応答は、前記第２フィルタのタップ値である信号処理回路。
5. 請求項２に記載の信号処理回路において、
   前記除去部出力の波形は、孤立波であり、
   更に、前記除去部により出力された孤立波に基づいて記録ビット密度を算出する記録ビット密度算出部を備える信号処理回路。
6. データが書き込まれる媒体と、
   前記媒体からの読み出しを行い、該読み出しの結果をアナログ信号として出力するヘッドと、
   前記ヘッドにより出力されるアナログ信号に基づいてデジタル信号を生成する変換部と、
   前記変換部出力の等化を行う第１フィルタと、
   前記第１フィルタ出力からデータの復調を行う復調部と、
   前記復調部により復調されたデータに基づく波形の変調を行う変調部と、
   前記変調部出力の等化を行う第２フィルタと、
   前記第２フィルタ出力が前記変換部出力に等しくなるように、前記第２フィルタの応答を適応させる適応部と
   を備える磁気記憶装置。

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