JP2009176726A - プラズマ室と電源との間に流れる電流の電流変化を制限する方法、プラズマ室と電源との間に流れる電流の電流変化を制限するために電源とプラズマ室との間に設けられた電流変化分制限装置、ならびに電流変化分制限回路 - Google Patents
プラズマ室と電源との間に流れる電流の電流変化を制限する方法、プラズマ室と電源との間に流れる電流の電流変化を制限するために電源とプラズマ室との間に設けられた電流変化分制限装置、ならびに電流変化分制限回路 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】プラズマ室3と電源2との間に流れる電流Ioutの電流変化分di/dtを制限するために電源2とプラズマ室3との間の電流路に設けられる電流変化分制限装置20であって、電流変化分制限装置20は非線形装置およびインダクタLを有し、インダクタLにDC電流を供給することによってインダクタLはプリチャージされる。尚、電流センサ28は、プラズマ室3と電源2との間の電流を測定する。
【選択図】図3a
Description
1.所定の電流を超えると直ちに(遅延なしで)電流制限回路が作動される。というのもこのことは、直接応答回路で行われるからである。換言すると、電流変化分は電流自体の値によって制限することができる。
・極度に大きい負荷変動で電圧が完全に安定的であること。
・短絡(アーク)が発生した場合にアークエネルギーが低いこと。
IL=Iout+Iadd(回路トポロジに起因して)(01)
したがって
IMAX=Iout+Iadd(02)
Iout=IMAX−Iadd(03)
また、
Iadd=IMAX−Iout(04)
しかし
Iadd≧0(ダイオード)(05)
Claims (21)
- プラズマ室(3)と電源(2)との間に流れる電流(Iout)の電流変化分を制限する方法であって、
該電源(2)と該プラズマ室(3)との間の電流路に設けられた電流変化分制限装置(7,40)によって設定された所定の電流を該電流(Iout)が超えた場合、該電流変化分di/dtを制限する方法において、
該電源(2)と該プラズマ室(3)との間の電流路に設けられたインダクタ(L)にDC電流を供給することにより、該インダクタ(L)をプリチャージすることを特徴とする方法。 - 前記電源(2)は電圧源として動作する、請求項1記載の方法。
- 前記プラズマ室(3)と前記電源(2)との間に流れる電流を測定する、請求項1または2記載の方法。
- 前記インダクタ(L)を流れる電流を測定する、請求項1または2記載の方法。
- 前記所定の電流を、通常動作最大期待電流より高くなるように選択する、請求項1から4までのいずれか1項記載の方法。
- 前記電流変化分制限装置(7,40)に電流制限設定点を入力する、請求項1から5までのいずれか1項記載の方法。
- 前記DC電流を、前記プラズマ室(3)と前記電源(2)との間に流れる電流に依存して制御する、請求項1から6までのいずれか1項記載の方法。
- 前記電流変化分制限装置の電圧(UCL)を測定する、請求項1から7までのいずれか1項記載の方法。
- 前記電流変化分制限装置(7,40)の電圧(UCL)が所定値を超える場合、アークが検出される、請求項1から8までのいずれか1項記載の方法。
- 前記電流変化分di/dtを制限した後に、前記電源(2)と前記プラズマ室(3)との間の電流路を中断する、請求項1から9までのいずれか1項記載の方法。
- プラズマ室(3)と電源(2)との間に流れる電流(Iout)の電流変化分di/dtを制限するために電源(2)とプラズマ室(3)との間の電流路に設けられる電流変化分制限装置において、
非線形装置およびインダクタ(L)を有し、
該インダクタ(L)にDC電流を供給することによって該インダクタ(L)はプリチャージされることを特徴とする、電流変化分制限装置。 - 前記電源(2)は電圧源である、請求項11記載の電流変化分制限装置。
- 前記プラズマ室(3)と前記電源(2)との間に流れる電流を測定するための測定装置(25)が設けられている、請求項11または12記載の電流変化分制限装置。
- 電流制限設定点を入力するための入力端(8)を有する、請求項11から13までのいずれか1項記載の電流変化分制限装置。
- 電圧源(21)または電流源(42)を有する、請求項11から14までのいずれか1項記載の電流変化分制限装置。
- 前記非線形装置はダイオードを含む、請求項11から15までのいずれか1項記載の電流変化分制限装置。
- 前記DC電圧は、補助電源(23)に接続されたダイオードブリッジ回路によって供給される、請求項11から16までのいずれか1項記載の電流変化分制限装置。
- 電源(2)とプラズマ室(3)との間の電流路に設けられる電流変化分制限回路において、
該プラズマ室(3)と該電源(2)との間に流れる電流(Iout)が所定の電流を超えた場合に該電流(Iout)の電流変化分di/dtを制限する直接応答回路と、
該電源と該プラズマ室との間に電流が流れるのを中断するための間接応答回路とが設けられていることを特徴とする、電流変化分制限回路。 - 請求項11から16までのいずれか1項記載の電流変化分制限装置を含む、請求項18記載の電流変化分制限装置。
- 前記間接応答回路は、測定装置に応答する半導体スイッチを含む、請求項19記載の電流変化分制限回路。
- 電源(2)と、プラズマ室(3)と、請求項11から17までのいずれか1項記載の電流変化分制限回路(7,40)とを有することを特徴とする、真空処理装置。
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