JP2009170447A - Conductive pattern formation material, conductive pattern formation method, and wiring board - Google Patents

Conductive pattern formation material, conductive pattern formation method, and wiring board Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a material for forming a low-resistance extra-fine conductive pattern having a dense film condition and small surface roughness; a conductive pattern formation method; and a wiring board. <P>SOLUTION: This conductive pattern formation material comprises a combination of a first material 1 prepared by dispersing and mixing first conductive particles in a mixture of a thermally-degradable polymer material and a solvent, and a second material 2 prepared by dispersing second conductive particles with particle sizes smaller than those of the first conductive particles in a dispersion medium, and in the first material 1, the ratio of the weight of the first conductive particles to that of the thermally-degradable polymer material is 10:1 to 100:1. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、導電性パターン形成材料、導電性パターン形成方法および配線基板に関する。詳しくは、導電性パターンの内部および表面の細孔率を低減し、導電性を向上する導電性パターン形成材料、導電性パターン形成方法および配線基板に関する。   The present invention relates to a conductive pattern forming material, a conductive pattern forming method, and a wiring board. Specifically, the present invention relates to a conductive pattern forming material, a conductive pattern forming method, and a wiring board that reduce the porosity of the inside and the surface of the conductive pattern and improve the conductivity.

近年、電子機器、電子デバイスの小型化に付随して、基板上に形成される回路配線パターンもより微細化することが要望されており、導電性ペーストを基材に塗布して配線パターンを形成する方法が盛んに研究されている。
導電性パターンを微細化する方法として、平均粒子径が1〜100nmの導電性ナノ粒子を含むペースト液を基板表面に数μmのラインおよびスペースを有するパターンで塗布し、ナノ粒子を焼き固めることで低抵抗の導電性パターンを形成する方法が公知である。
導電性ナノ粒子を含むペースト液の塗布方法としては、インクジェット法、スクリーン印刷法、リバーサルインプリント法、オフセット印刷法が挙げられる。
In recent years, along with the downsizing of electronic equipment and electronic devices, there has been a demand for further miniaturization of circuit wiring patterns formed on a substrate, and a conductive paste is applied to a substrate to form a wiring pattern. The method of doing is actively researched.
As a method of refining the conductive pattern, a paste liquid containing conductive nanoparticles having an average particle diameter of 1 to 100 nm is applied in a pattern having lines and spaces of several μm on the substrate surface, and the nanoparticles are baked and hardened. A method for forming a low-resistance conductive pattern is known.
Examples of the method for applying the paste liquid containing conductive nanoparticles include an inkjet method, a screen printing method, a reversal imprint method, and an offset printing method.

インクジェット法は、インクヘッドから吐出されたpLオーダーの導電性パターン材料であるインクを基板に塗布する方法である(例えば、特許文献1参照)。
スクリーン印刷法は、基板にパターンメッシュを介してインクを染み出させる方法である。
The ink jet method is a method of applying ink, which is a pL order conductive pattern material, ejected from an ink head to a substrate (see, for example, Patent Document 1).
The screen printing method is a method in which ink is oozed out on a substrate through a pattern mesh.

リバーサルインプリント法は、所定の微細パターンが形成されている型に、加熱消滅性材料中に導電性ナノ粒子を混合したペースト材料を塗布して転写用パターンを形成し、前記微細パターンに応じて転写用パターンを基板上に転写し、その後、基板上の転写パターンを加熱することにより前記加熱消滅性材料を消滅させて導電性パターンを形成する方法である(例えば、特許文献2参照)。特許文献2において、加熱消滅性材料としてポリオキシアルキレン樹脂が用いられている。   In the reversal imprint method, a paste material in which conductive nanoparticles are mixed in a heat extinguishing material is applied to a mold in which a predetermined fine pattern is formed, and a transfer pattern is formed. In this method, a transfer pattern is transferred onto a substrate, and then the transfer pattern on the substrate is heated to extinguish the heat extinguishing material to form a conductive pattern (see, for example, Patent Document 2). In Patent Document 2, a polyoxyalkylene resin is used as a heat extinguishing material.

リバーサルインプリント法において、前記加熱消滅性材料は、前記型および基板に対してペースト材料が密着性を有するためのバインダー成分とされている。通常、導電性粒子の表面は分散剤によってコートされており、それによって分散媒中での導電性粒子の均一分散性確保し、導電性粒子同士の凝集を防ぐようにされている。この分散剤によって、導電性粒子自体の型および基板との密着性は低いため、型から被転写物である基板上に所定パターン形状でペースト材料を転写する上でバインダー成分は必要である。   In the reversal imprint method, the heat extinguishing material is a binder component for allowing the paste material to adhere to the mold and the substrate. Usually, the surface of the conductive particles is coated with a dispersant, thereby ensuring uniform dispersibility of the conductive particles in the dispersion medium and preventing aggregation of the conductive particles. Since this conductive agent has low adhesion to the mold and the substrate of the conductive particles themselves, a binder component is necessary to transfer the paste material in a predetermined pattern shape from the mold onto the substrate to be transferred.

オフセット印刷法は、剥離性表面を有するブランケットの全面にペースト状の転写物の層を形成し、このブランケットを凸版に密着させ離すことで、転写物のうち凸版の凸部に接触した部分をブランケットから除去して転写物を所定パターンに形成した後、所定パターンの転写物に被転写物を密着させ離すことで、転写物をブランケットから被転写物へ転写する印刷パターニング法である。   In the offset printing method, a paste-like transfer material layer is formed on the entire surface of a blanket having a peelable surface, and this blanket is brought into intimate contact with the relief printing plate so that the portion of the transfer material that contacts the relief of the relief printing plate is blanketed. The transfer pattern is transferred from the blanket to the transfer object by bringing the transfer object into close contact with the transfer object of the predetermined pattern, and then transferring the transfer object from the blanket to the transfer object.

また、その他の方法として、導電性粒子から形成された多孔質膜に導電性物質前駆体を塗布して多孔質膜の細孔内に導電性物質前駆体を浸透させた後、多孔質膜を加熱することにより、導電性物質前駆体を導電性物質に変化させて多孔質膜の細孔を埋めかつその表面の凹凸を緩和する方法が提案されている(例えば、特許文献3)。   As another method, after applying a conductive material precursor to a porous film formed of conductive particles and infiltrating the conductive material precursor into the pores of the porous film, the porous film is A method has been proposed in which the conductive material precursor is changed to a conductive material by heating to fill the pores of the porous film and to relieve the irregularities on the surface (for example, Patent Document 3).

特開2006−279038号公報JP 2006-279038 A 特開2006−173277号公報JP 2006-173277 A 特開2005−100941号公報JP 2005-1000094 A1

しかしながら、特許文献1に記載のインクジェット法では、インクを基板に到達させるまでの間の空気抵抗によってインクの到達位置の位置精度が低下するという問題がある。
また、スクリーン印刷法では、メッシュパターン精度の問題により30μm程度までの精度しか得られていないのが現状である。
However, the ink jet method described in Patent Document 1 has a problem that the position accuracy of the ink arrival position is lowered by the air resistance until the ink reaches the substrate.
Further, in the screen printing method, only the accuracy up to about 30 μm is obtained at present due to the problem of mesh pattern accuracy.

また、特許文献2に記載のリバーサルインプリント法では、基板上のペースト材料からなる転写パターンを加熱することにより、加熱消滅性材料(ポリオキシアルキレン樹脂)消滅させて導電性パターンを形成するが、加熱消滅性材料が占めていた部分が空激となる。したがって、形成された導電性パターンはポーラス質の膜となり、表面ラフネスも大きいため、高抵抗となる。   In the reversal imprint method described in Patent Document 2, the transfer pattern made of the paste material on the substrate is heated to extinguish the heat extinguishing material (polyoxyalkylene resin) to form a conductive pattern. The portion occupied by the heat extinguishing material becomes aerodynamic. Therefore, the formed conductive pattern becomes a porous film and has a high surface roughness, and therefore has a high resistance.

また、導電性パターンをトランジスタにおけるゲート、ソースおよびドレイン電極として用いたとき、それらへの電界のかかり方が不均一になるために、トランジスタ素子のバラツキが大きくなってしまう。さらに、ポーラス質な導電性パターンの上に例えばレジストやポリイミドからなるコート材を塗布すると、導電性パターン表面の凹凸によってコート材の表面均一性に影響を及ぼしてしまう。
なお、前記バインダー成分として、転写パターンの加熱温度で消滅しない樹脂材料(例えばセルロース等)を用いた場合は、形成された導電性パターン中に樹脂材料が残存し、この樹脂材料は絶縁性であるため、導電性パターンの抵抗が大きくなるという問題が発生する。
In addition, when the conductive pattern is used as a gate, source, and drain electrode in a transistor, the manner in which the electric field is applied to them becomes non-uniform, resulting in large variations in transistor elements. Furthermore, when a coating material made of, for example, a resist or polyimide is applied on the porous conductive pattern, the surface uniformity of the coating material is affected by the unevenness of the surface of the conductive pattern.
When a resin material (such as cellulose) that does not disappear at the heating temperature of the transfer pattern is used as the binder component, the resin material remains in the formed conductive pattern, and this resin material is insulative. Therefore, there arises a problem that the resistance of the conductive pattern is increased.

また、前記特許文献3の方法の場合、前記前駆体は、加熱よって導電性物質に変化する材料であるが、変化した導電性物質は加熱状態によって特性が変化するおそれがある。特に、導電性パターンが無機酸化物によって構成される場合、無機酸化物は酸化状態によって導電率および透過率が変化する。つまり、多孔質導電膜の表面側に存在する前駆体の周囲の酸素量の方が、多孔質導電膜の内部側に存在する前駆体の周囲の酸素量よりも多いため、多孔質導電膜の表面の前駆体と内部の前駆体の酸化状態が異なってしまう。その結果、多孔質導電膜全体では導電率および透過率に分布が生じることとなり、低抵抗および高透過率の透明導電膜を得ることはできない。   In the case of the method of Patent Document 3, the precursor is a material that changes to a conductive substance by heating, but the changed conductive substance may change its characteristics depending on the heating state. In particular, when the conductive pattern is composed of an inorganic oxide, the conductivity and transmittance of the inorganic oxide change depending on the oxidation state. In other words, the amount of oxygen around the precursor existing on the surface side of the porous conductive film is larger than the amount of oxygen around the precursor existing inside the porous conductive film. The oxidation state of the surface precursor and the internal precursor will be different. As a result, the entire porous conductive film is distributed in conductivity and transmittance, and a transparent conductive film having low resistance and high transmittance cannot be obtained.

本発明は、上記課題を鑑みなされたものであり、導電性パターンの内部および表面の細孔が低減し、低抵抗化する導電性パターンを形成するための形成材料、導電性パターン形成方法および配線基板を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and a forming material, a conductive pattern forming method, and a wiring for forming a conductive pattern in which pores inside and on the surface of the conductive pattern are reduced and resistance is reduced. An object is to provide a substrate.

かくして、本発明によれば、第1導電性粒子が熱分解性高分子材料と溶剤の混合液中に分散混合してなる第1材料と、前記第1導電性粒子よりも粒子サイズが小さい第2導電性粒子が分散媒中に分散した第2材料との組み合わせからなり、前記第1材料において、前記第1導電性粒子の重量と前記熱分解性高分子材料の重量との比が10:1から100:1である導電性パターン形成材料が提供される。   Thus, according to the present invention, the first material in which the first conductive particles are dispersed and mixed in the mixture of the thermally decomposable polymer material and the solvent, and the first conductive particles having a particle size smaller than that of the first conductive particles. It consists of a combination of a second material in which two conductive particles are dispersed in a dispersion medium, and in the first material, the ratio of the weight of the first conductive particles to the weight of the thermally decomposable polymer material is 10: A conductive patterning material is provided that is 1 to 100: 1.

また、本発明の別の観点によれば、第1導電性粒子と熱分解性高分子材料と溶剤とを含み、かつ前記第1導電性粒子の重量と前記熱分解性高分子材料の重量との比を10:1から100:1として第1導電性粒子を分散混合してなる第1材料を、版の表面の転写パターン領域に塗布して、転写用パターンを形成する工程(1)と、前記版上の前記転写用パターンを基板の表面に転写する工程(2)と、前記基板の表面上に転写された前記第1材料のパターンを加熱することにより、前記熱分解性高分子材料を加熱分解し、かつ前記第1導電性粒子が粒成長してなる多孔性導電膜を形成する工程(3)と、前記第1導電性粒子よりも粒子サイズが小さい第2導電性粒子が分散媒中に分散した第2材料を、基板の表面上に形成された前記多孔性導電膜上に塗布して、前記第2材料を多孔性導電膜の表面および内部の細孔に浸透させる工程(4)と、前記多孔性導電膜上に塗布された第2材料を加熱することにより、前記多孔性導電膜の細孔内における前記第2導電性粒子を粒成長させる工程(5)とを備えた導電性パターン形成方法が提供される。   According to another aspect of the present invention, the first conductive particles, the thermally decomposable polymer material, and a solvent are included, and the weight of the first conductive particles, the weight of the thermally decomposable polymer material, Applying a first material obtained by dispersing and mixing the first conductive particles at a ratio of 10: 1 to 100: 1 to a transfer pattern region on the surface of the plate to form a transfer pattern (1); (2) transferring the transfer pattern on the plate to the surface of the substrate, and heating the pattern of the first material transferred onto the surface of the substrate, thereby And (2) forming a porous conductive film in which the first conductive particles are grown, and second conductive particles having a particle size smaller than that of the first conductive particles are dispersed. The porous material formed on the surface of the substrate is coated with the second material dispersed in the medium. A step (4) of applying on the film and allowing the second material to permeate into the surface and internal pores of the porous conductive film; and heating the second material applied on the porous conductive film There is provided a conductive pattern forming method comprising the step (5) of growing the second conductive particles in the pores of the porous conductive film.

また、本発明のさらに別の観点によれば、基板と、前記導電性パターン形成方法によって前記基板の表面に形成された前記導電性パターンとを備えた配線基板であって、前記導電性パターンの表面の算術平均粗さが100nm以下である配線基板が提供される。   According to still another aspect of the present invention, there is provided a wiring board comprising a substrate and the conductive pattern formed on the surface of the substrate by the conductive pattern forming method, wherein the conductive pattern A wiring substrate having a surface arithmetic average roughness of 100 nm or less is provided.

本発明によれば、転写性を利用した印刷方法により導電性パターン作製することができるので、微細な導電性パターンを形成することができる。また、導電性パターンは、内部に多孔質な細孔が極めて少ないため、体積抵抗率が小さいものとなる。また、導電性パターンの表面においても、表面ラフネスがなく、電圧印加した場合電界を全方位に均一にかけることができ、かつ後工程で導電性パターン上層にコート材を塗布する場合に、導電性パターン表面の凹凸による影響を軽減することができる。さらに、導電性パターンは、前駆体型ではない導電性粒子そのものを用いているので、膜内部での導電率および透過率の分布の少ないものとなる。   According to the present invention, since a conductive pattern can be produced by a printing method using transferability, a fine conductive pattern can be formed. In addition, since the conductive pattern has very few porous pores inside, the volume resistivity is small. Also, there is no surface roughness on the surface of the conductive pattern, and when a voltage is applied, the electric field can be applied uniformly in all directions. The influence of unevenness on the pattern surface can be reduced. Furthermore, since the conductive pattern uses conductive particles that are not of the precursor type, the distribution of conductivity and transmittance within the film is small.

(導電性パターン形成材料の説明)
本発明の導電性パターン形成材料は、第1導電性粒子が熱分解性高分子材料と溶剤の混合液中に分散混合してなる第1材料と、前記第1導電性粒子よりも粒子サイズが小さい第2導電性粒子が分散媒中に分散した第2材料との組み合わせからなり、前記第1材料において、前記第1導電性粒子の重量と前記熱分解性高分子材料の重量との比が10:1から100:1であることを特徴とする。
(Description of conductive pattern forming material)
The conductive pattern forming material of the present invention has a first material obtained by dispersing and mixing first conductive particles in a mixture of a thermally decomposable polymer material and a solvent, and a particle size larger than that of the first conductive particles. A combination of a second material in which small second conductive particles are dispersed in a dispersion medium, and in the first material, the ratio of the weight of the first conductive particles to the weight of the thermally decomposable polymer material is It is characterized by being 10: 1 to 100: 1.

この導電性パターン形成材料は、後述する導電性パターン形成方法によって低抵抗の導電性パターンを形成するための材料である。
第1材料は、それに含まれる第1導電性粒子が焼成により粒成長して多孔性導電膜となるための材料であり、多孔性導電膜内の細孔は第1導電性粒子のサイズよりも小さい。
第2材料は、それに含まれる第2導電性粒子が前記多孔性導電膜の細孔内に流入して緻密な導電膜にするための材料であるため、第2導電性粒子のサイズは、第1導電性粒子のサイズよりも小さい必要があり、細孔のサイズよりも小さいことが望ましい。
This conductive pattern forming material is a material for forming a low resistance conductive pattern by a conductive pattern forming method described later.
The first material is a material for allowing the first conductive particles contained therein to grow into a porous conductive film by firing, and the pores in the porous conductive film are smaller than the size of the first conductive particles. small.
Since the second material is a material for allowing the second conductive particles contained therein to flow into the pores of the porous conductive film to form a dense conductive film, the size of the second conductive particles is It must be smaller than the size of one conductive particle, and is desirably smaller than the size of the pores.

<第1材料>
第1材料において、第1導電性粒子は、導電性材料からなる粒子であれば特に限定されないが、例えば、金(Au)、銀(Ag)、銅(Cu)、鉄(Fe)、白金(Pt)、クロム(Cr)、ニッケル(Ni)、タンタル(Ta)、インジウム(In)、イリジウム(Ir)、錫(Sn)、亜鉛(Zn)、ガリウム(Ga)、イットリウム(Y)およびこれらの金属の酸化物から選択された1種類以上の粒子からなることが好ましい。つまり、これらの材料からなる粒子が単一成分で含まれているあるいは複数成分で含まれていることが好ましい。
導電性パターンに透明性が必要な場合、第1導電性粒子としては、インジウム・スズ酸化物(ITO)からなる粒子、酸化スズ(SnO2)からなる粒子、酸化亜鉛(ZnO)からなる粒子が単一成分で用いられる。
<First material>
In the first material, the first conductive particles are not particularly limited as long as they are particles made of a conductive material. For example, gold (Au), silver (Ag), copper (Cu), iron (Fe), platinum ( Pt), chromium (Cr), nickel (Ni), tantalum (Ta), indium (In), iridium (Ir), tin (Sn), zinc (Zn), gallium (Ga), yttrium (Y) and these It is preferably composed of one or more kinds of particles selected from metal oxides. That is, it is preferable that particles made of these materials are contained as a single component or as a plurality of components.
When the conductive pattern requires transparency, the first conductive particles include particles made of indium tin oxide (ITO), particles made of tin oxide (SnO 2 ), and particles made of zinc oxide (ZnO). Used with a single component.

微細パターンを形成するためには、第1導電性粒子のサイズとしては平均1次粒径が10〜500nmが好ましく、30〜300nmがさらに好ましく、30〜100nmが特に好ましい。第1導電性粒子の平均1次粒径が500nmより大きくなると、数μmの微細パターンを形成することが困難になる。また、第2導電性粒子の平均1次粒径が1nmより小さい粒子サイズの揃った微粒子は安定的に合成することが困難である。   In order to form a fine pattern, the average primary particle size is preferably 10 to 500 nm, more preferably 30 to 300 nm, and particularly preferably 30 to 100 nm as the size of the first conductive particles. When the average primary particle size of the first conductive particles is larger than 500 nm, it becomes difficult to form a fine pattern of several μm. In addition, it is difficult to stably synthesize fine particles having the average primary particle size of the second conductive particles having a particle size smaller than 1 nm.

第1導電性粒子が第1材料中で均一に分散した状態で存在するためには、粒子同士の凝集を防ぎ、溶剤との親和性を高める分散剤によって第1導電性粒子の表面が被覆されていることが望ましい。
分散剤としては、第1導電性粒子との相互作用により第1導電性粒子に吸着する第1の官能基および分散媒中での分散性を保つ第2の官能基を有している低分子量の界面活性剤が好ましい。具体的に、第1の官能基としてはシリル基、チオール基、アミノ基、カルボキシル基、カルボニル基が挙げられ、第2の官能基としてはアルキル基、フルオロアルキル基が挙げられる。これら第1と第2の官能基の組み合わせは、特に制限されない。
In order for the first conductive particles to be present in a uniformly dispersed state in the first material, the surface of the first conductive particles is coated with a dispersant that prevents the particles from aggregating and increases the affinity with the solvent. It is desirable that
As the dispersant, a low molecular weight having a first functional group that adsorbs to the first conductive particles by interaction with the first conductive particles and a second functional group that maintains dispersibility in the dispersion medium. These surfactants are preferred. Specifically, examples of the first functional group include a silyl group, a thiol group, an amino group, a carboxyl group, and a carbonyl group, and examples of the second functional group include an alkyl group and a fluoroalkyl group. The combination of these first and second functional groups is not particularly limited.

第1材料中の熱分解性高分子材料は、第1材料にて上述の多孔性導電膜を焼成する際の少なくとも焼成温度でガス化(分解)して消滅する高分子材料であれば特に限定されず、例えば、150℃以上300℃以下の温度で加熱することで95重量%以上消滅(加熱分解)する高分子材料が好ましく、さらには、カルボキシル基、エーテル基、エステル基等の熱酸化分解反応を生じる基を含む高分子材料であることが好ましい。この熱分解性高分子材料は、第1材料が後述する版および基板と密着するために必要なバインダー成分であり、第1導電性粒子の分散性に影響を与えないものが好ましい。   The thermally decomposable polymer material in the first material is particularly limited as long as it is a polymer material that gasifies (decomposes) and disappears at least at the firing temperature when firing the porous conductive film with the first material. For example, a polymer material that disappears (heat decomposition) by 95% by weight or more by heating at a temperature of 150 ° C. or higher and 300 ° C. or lower is preferable. A polymer material containing a group that causes a reaction is preferable. This thermally decomposable polymer material is a binder component necessary for the first material to be in close contact with the plate and substrate described later, and preferably does not affect the dispersibility of the first conductive particles.

このような熱分解性高分子材料として具体的には、例えば、メチルセルロース、エチルセルロース、ニトロセルロース、ポリメチルメタクリレート、ポリメタクリル酸エステル、ポリオキシメチレン、ポリオキシエチレン等が挙げられ、これらが単一成分で含まれていても複数成分で含まれていてもどちらでもよく、版および基板の材料に応じて適度な密着性が得られる材料を選択することができる。
また、熱分解性高分子材料の重量平均分子量としては1000〜100000であることが好ましく、1000〜50000がさらに好ましく、1000〜10000が特に好ましい。なお、1000以下であると転写性を向上させるためのバインダーとしての効果を発現することが困難であり、100000超では加熱分解する時間が長くなるため好ましくない。
Specific examples of such a thermally decomposable polymer material include methyl cellulose, ethyl cellulose, nitrocellulose, polymethyl methacrylate, polymethacrylic acid ester, polyoxymethylene, polyoxyethylene, etc., and these are single components. It may be contained in a plurality of components, or a material capable of obtaining appropriate adhesion can be selected according to the material of the plate and the substrate.
Further, the weight average molecular weight of the thermally decomposable polymer material is preferably 1000 to 100,000, more preferably 1000 to 50000, and particularly preferably 1000 to 10,000. In addition, when it is 1000 or less, it is difficult to express the effect as a binder for improving transferability, and when it exceeds 100,000, it takes a long time for thermal decomposition, which is not preferable.

第1材料に用いられる溶媒としては、熱分解性高分子材料を溶解し、第1導電性粒子を均一に分散させ、版および基板に対して濡れ性を示し、さらには、版から基板へ第1材料を転写する際に乾燥が影響しない高沸点溶剤が好ましく、例えば、デカン、ドデカン、トルエン、キシレン、シクロヘキサン等の炭化水素系、デカノール、ドデカノール、ターピネオール等のアルコール系、テトラヒドロフラン、ジエチレングリコールジメチルエーテル等のエーテル系、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン系、ジエチレングリコールモノアセテート、ステアリン酸エステル等のエステル系、イソブチルアミン、アニリン、ピロール等のアミン系の溶剤を用いることができる。   As the solvent used for the first material, the thermally decomposable polymer material is dissolved, the first conductive particles are uniformly dispersed, exhibit wettability to the plate and the substrate, and further, A high-boiling solvent that does not affect drying when transferring one material is preferable. For example, hydrocarbons such as decane, dodecane, toluene, xylene and cyclohexane, alcohols such as decanol, dodecanol and terpineol, tetrahydrofuran, diethylene glycol dimethyl ether Ether-based solvents such as ether solvents, ketone solvents such as methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone, ester solvents such as diethylene glycol monoacetate and stearates, and amine solvents such as isobutylamine, aniline and pyrrole can be used.

第1材料中の第1導電性粒子と熱分解性高分子材料との重量比は、熱分解性高分子材料が第1導電性粒子よりも少ない(小さい)ことが好ましく、第1導電性粒子の重量と熱分解性高分子材料の重量との比が10:1から100:1であることがさらに好ましい。
第1導電性粒子10重量部に対して熱分解性高分子材料が1重量部よりも大きくなると、熱分解性高分子材料を加熱飛散させた後の多孔性導電膜パターンの形状を保つことが困難となる傾向にある。また、第1導電性粒子100重量部に対して熱分解性高分子材料が1重量部よりも小さくなると、後述の導電性パターンの形成工程において、第1材料のパターンを版から基板へ転写する際の転写性が低下する傾向にある。
なお、第1導電性粒子の重量と熱分解性高分子材料の重量との重量比は、使用する第1導電性粒子の材料の比重と熱分解性高分子材料の比重が考慮されており、これについて詳しくは後述する。
The weight ratio of the first conductive particles to the thermally decomposable polymer material in the first material is preferably less (smaller) than the first conductive particles. More preferably, the ratio of the weight of the heat-decomposable polymer material is 10: 1 to 100: 1.
When the thermally decomposable polymer material is larger than 1 part by weight with respect to 10 parts by weight of the first conductive particles, the shape of the porous conductive film pattern after the thermally decomposable polymer material is heated and scattered can be maintained. It tends to be difficult. Further, when the thermally decomposable polymer material becomes smaller than 1 part by weight with respect to 100 parts by weight of the first conductive particles, the pattern of the first material is transferred from the plate to the substrate in the conductive pattern forming process described later. The transferability at the time tends to decrease.
The weight ratio between the weight of the first conductive particles and the weight of the thermally decomposable polymer material takes into consideration the specific gravity of the material of the first conductive particles to be used and the specific gravity of the thermally decomposable polymer material, This will be described in detail later.

また、版上の転写パターン領域へ第1材料を塗布しかつそのパターンを高精度に基板へ転写する上で、第1材料の粘度はある程度低粘度であることが好ましく、53mPa・s未満がさらに好ましく、50mPa・s以下であることが特に好ましい。第1材料の粘度が53mPa・s以上では、膜厚が厚くなる傾向にあるため、第1材料を版上に所定の膜厚で塗布することが難しくなる傾向にあり、粘度が高くなり過ぎると基板へ転写するときに第1材料の膜が膜厚方向で引きちぎれる(断線した状態となる)場合がある。第1材料の粘度の下限は特に制限されないが、例えば1Pa・s以上が適当である。   In addition, when the first material is applied to the transfer pattern region on the plate and the pattern is transferred to the substrate with high accuracy, the viscosity of the first material is preferably low to some extent, and is less than 53 mPa · s. It is preferably 50 mPa · s or less. When the viscosity of the first material is 53 mPa · s or more, the film thickness tends to be thick, so it tends to be difficult to apply the first material with a predetermined film thickness on the plate, and the viscosity becomes too high. When transferring to the substrate, the film of the first material may be torn in the film thickness direction (becomes disconnected). The lower limit of the viscosity of the first material is not particularly limited, but for example, 1 Pa · s or more is appropriate.

ここで、第1材料の粘度とは、少なくとも第1材料の使用時の粘度を意味し、第1材料が調製された直後の粘度をも包含する。つまり、第1材料は、その調製時に所望の粘度でなくとも、使用時に所望の粘度であればよい。
第1材料の粘度は、第1導電性粒子と熱分解性高分子材料と溶剤との混合比(重量比)によって調整することができる。第1導電性粒子と熱分解性高分子材料との重量比は上述の10:1〜100:1が好ましいため、第1導電性粒子と熱分解性高分子材料の重量比を予め決定しておき、溶剤の重量比を調整することにより第1材料の粘度を調整することが好ましい。なお、所望の粘度に調整した第1材料を加温してさらに粘度を下げて使用しても構わない。
なお、本発明において、第1材料の粘度測定は、「JISZ8803:液体の粘度−測定方法」に記載の毛細管粘度計、落球粘度計、回転粘度計を用いて行われている。
Here, the viscosity of the first material means at least the viscosity when the first material is used, and includes the viscosity immediately after the first material is prepared. That is, the first material may have a desired viscosity at the time of use, even if it is not a desired viscosity at the time of preparation.
The viscosity of the first material can be adjusted by the mixing ratio (weight ratio) of the first conductive particles, the thermally decomposable polymer material, and the solvent. Since the weight ratio between the first conductive particles and the thermally decomposable polymer material is preferably 10: 1 to 100: 1, the weight ratio between the first conductive particles and the thermally decomposable polymer material is determined in advance. It is preferable to adjust the viscosity of the first material by adjusting the weight ratio of the solvent. Note that the first material adjusted to a desired viscosity may be heated to further reduce the viscosity.
In the present invention, the viscosity of the first material is measured using a capillary viscometer, a falling ball viscometer, and a rotational viscometer described in “JISZ8803: Viscosity of liquid—Measurement method”.

<第2材料>
第2材料において、第2導電性粒子は、導電性材料からなる粒子であれば特に限定されず、例えば第1導電性粒子と同じ材料からなる粒子を単独または複数種類混合して用いることができる。なお、導電性パターンに透明性が必要な場合は、第1導電性粒子と同様に、第2導電性粒子としても、インジウム・スズ酸化物(ITO)からなる粒子、酸化スズ(SnO2)からなる粒子、酸化亜鉛(ZnO)からなる粒子が単一成分で用いられる。
第2導電性粒子のサイズとしては、第1導電性粒子のサイズよりも小さければ特に限定されないが、例えば、平均1次粒径が1〜100nmが好ましく、1〜50nmがさらに好ましく、1〜30nmが特に好ましい。
<Second material>
In the second material, the second conductive particles are not particularly limited as long as they are particles made of a conductive material. For example, particles made of the same material as the first conductive particles can be used alone or in combination. . In addition, when transparency is required for the conductive pattern, similarly to the first conductive particles, the second conductive particles can be made of particles made of indium tin oxide (ITO), tin oxide (SnO 2 ). And particles made of zinc oxide (ZnO) are used as a single component.
The size of the second conductive particles is not particularly limited as long as it is smaller than the size of the first conductive particles. For example, the average primary particle size is preferably 1 to 100 nm, more preferably 1 to 50 nm, and 1 to 30 nm. Is particularly preferred.

第2導電性粒子が第2材料中で均一に分散した状態で存在するためには、粒子同士の凝集を防ぎ、分散媒との親和性を高める分散剤によって第2導電性粒子の表面が被覆されていることが望ましい。この第2導電性粒子用の分散剤としては、第1導電性粒子用の分散剤を用いることができる。   In order for the second conductive particles to be present in a uniformly dispersed state in the second material, the surface of the second conductive particles is coated with a dispersant that prevents the particles from aggregating and increases the affinity with the dispersion medium. It is desirable that As the dispersant for the second conductive particles, a dispersant for the first conductive particles can be used.

第2材料に用いられる分散媒としては、第2導電性粒子を分散可能なものであれば特に限定されないが、第1材料に用いられる溶剤を用いることが好ましい。さらには、第1材料を焼成してなる多孔性導電膜の細孔内に第2材料が侵入する必要があるため、表面自由エネルギーが低く濡れ性の高い溶媒が好ましく、例えば、デカン、ドデカン、トルエン、キシレン、シクロヘキサン等の炭化水素系、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン等のケトン系の溶媒が好ましい。   The dispersion medium used for the second material is not particularly limited as long as it can disperse the second conductive particles, but a solvent used for the first material is preferably used. Furthermore, since it is necessary for the second material to penetrate into the pores of the porous conductive film formed by firing the first material, a solvent having low surface free energy and high wettability is preferable. For example, decane, dodecane, Preferred are hydrocarbon solvents such as toluene, xylene and cyclohexane, and ketone solvents such as methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone.

第2材料の粘度は、第1材料を焼成してなる多孔性導電膜の細孔内に第2材料が侵入する粘度であれば特に制限されないが、ある程度低粘度であることが好ましく、第1材料の粘度と同様に1〜50mPa・sとすることが好ましい。
ここで、第2材料の粘度とは、少なくとも第2材料の使用時の粘度を意味し、第2材料が調製された直後の粘度をも包含する。つまり、第2材料は、その調製時に所望の粘度でなくとも、使用時に所望の粘度であればよい。
第2材料中の分散媒の重量は、第2材料が所望の粘度となるように調整される重量であればよく、例えば、第2材料の粘度を1〜50mPa・sとする場合、第2材料中の分散媒の重量を10〜60重量%とすることができる。なお、所望の粘度に調整した第2材料を加温してさらに粘度を下げて使用しても構わない。
The viscosity of the second material is not particularly limited as long as the second material penetrates into the pores of the porous conductive film obtained by firing the first material, but the viscosity is preferably low to some extent. It is preferable to set it as 1-50 mPa * s similarly to the viscosity of material.
Here, the viscosity of the second material means at least the viscosity at the time of use of the second material, and includes the viscosity immediately after the second material is prepared. That is, the second material may have a desired viscosity at the time of use, even if it is not a desired viscosity at the time of preparation.
The weight of the dispersion medium in the second material may be a weight adjusted so that the second material has a desired viscosity. For example, when the viscosity of the second material is 1 to 50 mPa · s, The weight of the dispersion medium in the material can be 10 to 60% by weight. In addition, you may heat and use the 2nd material adjusted to desired viscosity, and also reduce a viscosity.

(導電性パターン形成方法の説明)
上述の導電性パターン形成材料を用いた導電性パターンの形成は、以下の導電性パターン形成方法に準じて行われる。
すなわち、図1を参照しながら説明すると、この導電性パターン形成方法は、第1導電性粒子と熱分解性高分子材料と溶剤とを含み、かつ第1導電性粒子の重量と熱分解性高分子材料の重量との比を10:1から100:1として第1導電性粒子を分散混合してなる第1材料1を、版Pの表面の転写パターン領域eに塗布して、転写用パターンを形成する工程(1)(図1(b))と、版P上の転写用パターンを基板Sの表面に転写する工程(2)(図1(c))と、基板Sの表面上に転写された第1材料1のパターンを加熱することにより、熱分解性高分子材料を加熱分解し、かつ第1導電性粒子が粒成長してなる多孔性導電膜1aを形成する工程(3)(図1(d))と、第1導電性粒子よりも粒子サイズが小さい第2導電性粒子が分散媒中に分散した第2材料2を、基板Sの表面上に形成された多孔性導電膜1a上に塗布して、第2材料2を多孔性導電膜1aの表面および内部の細孔に浸透させる工程(4)(図1(e))と、多孔性導電膜1a上に塗布された第2材料2を加熱することにより、多孔性導電膜1aの細孔内における第2導電性粒子を粒成長させる工程(5)(図1(f))とを備え、これにより所定パターンの導電性パターン3を形成することができる。
なお、図1(d)において、曲線矢印は、熱分解性高分子材料がガス化して空中へ飛散する状態を表している。
(Description of conductive pattern formation method)
Formation of the conductive pattern using the above-described conductive pattern forming material is performed according to the following conductive pattern forming method.
That is, with reference to FIG. 1, this conductive pattern forming method includes first conductive particles, a thermally decomposable polymer material, and a solvent, and the weight of the first conductive particles and the high thermal decomposability. The first material 1 formed by dispersing and mixing the first conductive particles at a ratio of 10: 1 to 100: 1 with respect to the weight of the molecular material is applied to the transfer pattern region e on the surface of the plate P, thereby transferring the pattern for transfer. (1) (FIG. 1 (b)), forming the transfer pattern on the plate P onto the surface of the substrate S (2) (FIG. 1 (c)), and on the surface of the substrate S. Step (3) of heating the transferred pattern of the first material 1 to thermally decompose the thermally decomposable polymer material and forming a porous conductive film 1a in which the first conductive particles are grown. (FIG. 1 (d)) and second conductive particles having a smaller particle size than the first conductive particles are dispersed. The second material 2 dispersed therein is applied onto the porous conductive film 1a formed on the surface of the substrate S, and the second material 2 is permeated into the surface of the porous conductive film 1a and the internal pores. Step (4) (FIG. 1 (e)) and the second material 2 applied on the porous conductive film 1a are heated to form second conductive particles in the pores of the porous conductive film 1a. Step (5) (FIG. 1 (f)) of growing is provided, whereby the conductive pattern 3 having a predetermined pattern can be formed.
In FIG. 1D, a curved arrow represents a state in which the thermally decomposable polymer material is gasified and scattered into the air.

第1材料1を版Pの表面の転写パターン領域eに塗布する方法をとしては特に限定されるものではなく、例えば、版Pの表面に、第1材料1と密着する(なじむ)層と、第1材料1をはじく層とを所定パターンで形成し、この版Pの表面全面に第1材料を塗布する方法が挙げられる。このようにすれば、前記工程(1)において、第1材料1をはじく層には第1材料1が載らず、第1材料1となじむ層にのみに容易に第1材料1を載せることができる。   The method for applying the first material 1 to the transfer pattern region e on the surface of the plate P is not particularly limited. For example, a layer that adheres (adheres to) the first material 1 to the surface of the plate P; There is a method in which a layer that repels the first material 1 is formed in a predetermined pattern, and the first material is applied to the entire surface of the plate P. In this way, in the step (1), the first material 1 is not placed on the layer that repels the first material 1, and the first material 1 can be easily placed only on the layer that is compatible with the first material 1. it can.

具体的には、前記版Pが、第1材料1と密着する材料からなる基版Paと、該基版Paの表面上の転写パターン領域eを除く領域に形成された第1材料1をはじく層Pbとを有してなるものであれば、第1材料1を版Pの転写パターン領域eにのみ容易に塗布することができる。この際、第1材料1の版Pへの塗布方法は特に制限はなく、例えば、スピンコート法、スリットコート法、ダイコート法、キャスト法、ディップコート法等を用いることができる。なお、第1材料1を版Pへ塗布する際、上述したように第1材料1を室温より1〜5℃程度加温してさらに粘度を下げてもよい。   Specifically, the plate P repels the base plate Pa made of a material that is in close contact with the first material 1 and the first material 1 formed in a region excluding the transfer pattern region e on the surface of the base plate Pa. If it has a layer Pb, the first material 1 can be easily applied only to the transfer pattern region e of the plate P. At this time, the method for applying the first material 1 to the plate P is not particularly limited, and for example, a spin coating method, a slit coating method, a die coating method, a casting method, a dip coating method, or the like can be used. In addition, when apply | coating the 1st material 1 to the plate | version | printing P, as above-mentioned, the 1st material 1 may be heated about 1-5 degreeC from room temperature, and a viscosity may be lowered | hung further.

このような版Pは、図1(a)に示すように、まず、基版paの表面の全面に、感光性樹脂材料を溶媒に溶解した塗布液を塗布して第1の塗布膜を形成し、この第1の塗布膜上に第1材料1をはじく性質を有する樹脂材料を塗布して第2の塗布膜を形成し、これらの塗布膜にマスクを介してパターン露光し現像して、基版Paの表面における転写パターン領域eを露出させることによって作製することができる。つまり、基版Paの表面の非転写パターン領域のみにはじく層Pbを形成する。
第1材料1と密着する基版Paの材料としては、アルミニウム、銅、ニッケル、タンタル等が挙げられ、これらの中でもアルミニウムが易加工性、良成形性であるため好ましい。
第1材料1をはじく樹脂材料としては、シリコーン系樹脂、フッ素系樹脂等が挙げられる。
In such a plate P, as shown in FIG. 1A, first, a first coating film is formed by applying a coating solution in which a photosensitive resin material is dissolved in a solvent over the entire surface of the base plate pa. Then, a resin material having a property of repelling the first material 1 is applied onto the first coating film to form a second coating film, and pattern exposure is performed on these coating films through a mask, and development is performed. It can be produced by exposing the transfer pattern region e on the surface of the base plate Pa. That is, the layer Pb that repels only the non-transfer pattern area on the surface of the base plate Pa is formed.
Examples of the material of the base plate Pa that is in close contact with the first material 1 include aluminum, copper, nickel, tantalum, and the like. Among these, aluminum is preferable because it has easy processability and good moldability.
Examples of the resin material that repels the first material 1 include silicone resins and fluorine resins.

被転写材である基板Sとしては、均一な厚さを有し、平滑な表面形状をもった耐熱性の材料からなるものであればよく、例えば、ガラス、シリコン、酸化シリコン、石英、ポリエチレンテレフタラート、ポリエチレンナフタレート、ポリエーテルスルフォン、ポリイミドフィルム等からなる基板を用いることができる。   The substrate S, which is a transfer material, may be made of a heat-resistant material having a uniform thickness and a smooth surface shape. For example, glass, silicon, silicon oxide, quartz, polyethylene A substrate made of tarate, polyethylene naphthalate, polyethersulfone, polyimide film, or the like can be used.

上述のように、前記工程(2)では、版P上の所定パターンの第1材料1が基板Sへ転写される。第1材料1は、上述したように第1導電性粒子が熱分解性高分子材料および溶剤の混合液中に均一に分散されている。
第1導電性粒子は、上述したようにナノメートルサイズの微粒子として第1材料中で分散かつ安定して存在するために、第1導電性粒子表面が分散剤にてコートされていることが好ましい。この場合、第1導電性粒子同士はお互いに引きつけ合う力が弱められており、版Pから基板Sへ第1材料1を転写する際に、版Pと基板Sとの間で転写が十分に行われずに転写物(第1材料の層)が内部で分断されてしまうことが考えられるが、熱分解性高分子材料は第1材料1の層内部の凝集力を向上させて内部での分断をなくす役割を有しているため、このような問題は生じない。なお、このような第1材料1の層の内部が分断すると、転写後の第1材料1の膜厚のバラツキおよび表面凹凸が大きくなってしまうだけでなく、形成された導電性パターン3が断線を生じる原因となる。
As described above, in the step (2), the first material 1 having a predetermined pattern on the plate P is transferred to the substrate S. As described above, in the first material 1, the first conductive particles are uniformly dispersed in the mixture of the thermally decomposable polymer material and the solvent.
Since the first conductive particles are dispersed and stably present in the first material as nanometer-sized fine particles as described above, the surface of the first conductive particles is preferably coated with a dispersant. . In this case, the first conductive particles are weakened in attracting each other, and when the first material 1 is transferred from the plate P to the substrate S, the transfer between the plate P and the substrate S is sufficiently performed. It is conceivable that the transferred material (the first material layer) is divided inside without being performed, but the thermally decomposable polymer material improves the cohesive force inside the layer of the first material 1 and is divided inside. Such a problem does not occur because it has a role of eliminating. When the inside of the layer of the first material 1 is divided, not only the film thickness variation and surface irregularity of the first material 1 after transfer become large, but the formed conductive pattern 3 is broken. Cause.

前記工程(3)において、基板Sにパターン転写された第1材料1を焼成処理することにより、第1導電性粒子が融着し、熱分解性高分子材料が熱分解しガス化して飛散する。この際、第1材料1を加熱する加熱温度(焼成温度)は、その後の工程(5)における第2材料2を加熱する加熱温度(焼成温度)よりも高いことが好ましく、200〜300℃であることがさらに好ましい。なお、第1材料1の加熱温度が300℃を超える高温では、プロセス温度として高すぎるため、基板Sなどの他の構成材料に影響を及ぼす傾向があり、200℃より低い温度では、第1導電性粒子の焼成が十分に進行せず、かつ熱分解性高分子材料が完全に熱分解せず膜内に残留する場合があるため、低抵抗の導電性パターン3を得難くなる。また、焼成温度が200℃より低いと、十分な粒成長が進行しないために第1導電性粒子と基板Sとの密着性が十分とれず、膜剥がれがおきやすい膜となってしまう。
なお、工程(3)において、第1導電性粒子をコートする分散剤は、焼成処理によって焼失あるいはガス化して蒸発するため、第1導電性粒子同士の融着を妨げることがなく、多孔性導電膜内に残留して抵抗となることもない。
In the step (3), by firing the first material 1 pattern transferred to the substrate S, the first conductive particles are fused, and the thermally decomposable polymer material is thermally decomposed, gasified and scattered. . Under the present circumstances, it is preferable that the heating temperature (baking temperature) which heats the 1st material 1 is higher than the heating temperature (baking temperature) which heats the 2nd material 2 in a subsequent process (5), and is 200-300 degreeC. More preferably it is. Note that when the heating temperature of the first material 1 is higher than 300 ° C., the process temperature is too high, which tends to affect other constituent materials such as the substrate S. At temperatures lower than 200 ° C., the first conductivity Since the firing of the conductive particles does not proceed sufficiently, and the thermally decomposable polymer material may not be completely thermally decomposed and remain in the film, it is difficult to obtain the conductive pattern 3 having a low resistance. On the other hand, when the firing temperature is lower than 200 ° C., sufficient grain growth does not proceed, so that the adhesion between the first conductive particles and the substrate S is not sufficient, and the film is easily peeled off.
In the step (3), since the dispersing agent for coating the first conductive particles is burnt down or gasified and evaporated by the baking treatment, the porous conductive material is not hindered from fusing between the first conductive particles. It does not remain in the film and become a resistance.

導電性粒子は、そのサイズ効果によって、バルク状態の融点よりも融点が低くなる。例えば、Agの場合、バルクの融点は900℃以上であるが、粒子サイズが100nm程度から融点が落ち始めて10nm以下では200℃付近まで低下する。工程(3)では、このサイズ効果を利用して、300℃以下の温度での加熱によって、ナノ粒子の融着による粒成長をさせる。導電性粒子は焼成により、微粒子がそれぞれ互いに融着することで成長し、焼成前の粒子サイズよりも10倍〜500倍程度に大きく成長する。基板S上に転写された第1材料1中の第1導電性粒子は、その周辺に成長を阻害するものがないので、膜面内方向に概ね等方的に粒成長することが可能である。以下、第1導電性粒子が成長した成長粒を第1成長粒と称する場合がある。   The conductive particles have a melting point lower than the melting point in the bulk state due to the size effect. For example, in the case of Ag, the melting point of the bulk is 900 ° C. or higher, but the melting point starts to drop from about 100 nm, and decreases to around 200 ° C. when the particle size is 10 nm or less. In the step (3), using this size effect, grain growth is performed by fusion of nanoparticles by heating at a temperature of 300 ° C. or less. The conductive particles grow as the fine particles are fused to each other by firing, and grow to be about 10 to 500 times larger than the particle size before firing. Since the first conductive particles in the first material 1 transferred onto the substrate S do not inhibit the growth in the periphery, the first conductive particles can grow in a substantially isotropic manner in the in-plane direction of the film. . Hereinafter, the grown grains in which the first conductive particles are grown may be referred to as first grown grains.

以上の工程によって、基板S上に第1成長粒からなる所定パターンの導電膜1aが形成されるが、該導電膜1aは熱分解性高分子材料が除去された領域が概ねそのまま細孔となるために、導電膜1aは内部および表面が多孔質な状態となる。つまり、前記工程(1)における版P上の第1材料のパターンからは溶剤が蒸発し続けているため、基板S上の第1材料の転写パターンを焼成する時点には溶剤は概ね抜けている。したがって、多孔性導電膜の細孔の体積分は概ね熱分解性高分子材料の体積分に相当している。   Through the above steps, the conductive film 1a having a predetermined pattern made of the first grown grains is formed on the substrate S. In the conductive film 1a, the region from which the thermally decomposable polymer material has been removed becomes pores as it is. Therefore, the conductive film 1a is in a porous state inside and on the surface. That is, since the solvent continues to evaporate from the pattern of the first material on the plate P in the step (1), the solvent is almost eliminated when the transfer pattern of the first material on the substrate S is baked. . Therefore, the volume fraction of the pores of the porous conductive film generally corresponds to the volume fraction of the thermally decomposable polymer material.

例えば、第1導電性粒子として比較的比重(密度)が大きい部類である白金(比重:21.41g/cm3)を使用し、熱分解性高分子材料としては比重2以下のものを使用し、白金および熱分解性高分子材料の重量比を10:1とした場合で計算すると、第1成長粒からなる多孔性導電膜1aにおける固形部分が占める体積割合は約50%となり、残りの約50%が細孔部分となる。つまり、この場合の多孔性導電膜1aの空隙率は約50%である。
また、第1導電性粒子として比較的比重が小さい部類である銀(比重:10.49g/cm3)を使用し、熱分解性高分子材料としては比重2以下のものを使用し、銀および熱分解性高分子材料の重量比を100:1とした場合で計算すると、第1成長粒からなる多孔性導電膜1aにおける固形部分が占める体積割合は約95%となり、残りの約5%が細孔部分となる。つまり、この場合の多孔性導電膜1aの空隙率は約5%である。
なお、多孔性導電膜1aの膜表面および膜断面を走査電子顕微鏡(SEM)により観察し、画像解析をすることによって、多孔性導電膜1aの空隙率を確認することができる。
For example, a relatively specific gravity as the first conductive particles (density) are a class is larger platinum (specific gravity: 21.41 g / cm 3) using, as the thermally decomposable polymer material using those specific gravity than 2, When the weight ratio of platinum and the thermally decomposable polymer material is 10: 1, the volume ratio occupied by the solid portion in the porous conductive film 1a made of the first grown grains is about 50%, and the remaining about 50 % Is the pore portion. That is, the porosity of the porous conductive film 1a in this case is about 50%.
In addition, silver (specific gravity: 10.49 g / cm 3 ), which has a relatively low specific gravity, is used as the first conductive particles, and those having a specific gravity of 2 or less are used as the thermally decomposable polymer material. When the weight ratio of the degradable polymer material is set to 100: 1, the volume ratio occupied by the solid portion in the porous conductive film 1a made of the first grown grains is about 95%, and the remaining about 5% is fine. It becomes a hole part. That is, the porosity of the porous conductive film 1a in this case is about 5%.
In addition, the porosity of the porous conductive film 1a can be confirmed by observing the film surface and film cross section of the porous conductive film 1a with a scanning electron microscope (SEM) and performing image analysis.

本発明において、緻密で低抵抗な導電性パターン3を得るためには、導電性パターン3の空隙率を低く抑える必要がある。この導電性パターン3の空隙率は、基板に転写された第1材料中の第1導電性粒子を焼成した多孔性導電膜1aの空隙率が大きく影響し、導電性パターン3の空隙率を低く抑える上では多孔性導電膜1aの空隙率を低くしておくことが有利となる。よって、多孔性導電膜1aの空隙率は50%以下であることが好ましい。
この多孔性導電膜1aの空隙率は、第1材料中の第1導電性粒子と熱分解性高分子材料の割合およびそれらの比重によって概ね決定されるものである。上述のように、比重の大きい白金を第1導電性粒子として用いた場合は、比重2以下の熱分解高分子材料1重量部に対して第1導電性粒子を10重量部以上に設定することにより、空隙率約50%以下の多孔性導電膜1aを形成することができる。
In the present invention, in order to obtain a dense and low-resistance conductive pattern 3, it is necessary to keep the porosity of the conductive pattern 3 low. The porosity of the conductive pattern 3 is greatly influenced by the porosity of the porous conductive film 1a obtained by firing the first conductive particles in the first material transferred to the substrate, and the porosity of the conductive pattern 3 is reduced. In order to suppress it, it is advantageous to keep the porosity of the porous conductive film 1a low. Therefore, the porosity of the porous conductive film 1a is preferably 50% or less.
The porosity of the porous conductive film 1a is generally determined by the ratio of the first conductive particles and the thermally decomposable polymer material in the first material and their specific gravity. As described above, when platinum having a large specific gravity is used as the first conductive particles, the first conductive particles should be set to 10 parts by weight or more with respect to 1 part by weight of the pyrolytic polymer material having a specific gravity of 2 or less. Thus, a porous conductive film 1a having a porosity of about 50% or less can be formed.

前記工程(4)では、上述したように第2材料2を多孔性導電膜1a上に塗布してその表面に付着させかつ内部細孔に浸透させる。第2材料2中の分散媒は上述したように表面自由エネルギーの低い溶媒が用いられ、かつ第2導電性粒子は第1導電性粒子よりも小さいサイズのものが用いられるため、多孔性導電膜1aの細孔に毛管力を利用して分散媒が第2導電性粒子と共に侵入する結果、第2導電性粒子が多孔性導電膜1aの細孔に取り込まれて内部が緻密でかつ表面がフラットな導電性パターン3を形成することが可能となる。なお、第2材料2を多孔性導電膜1a上に塗布する際、上述したように第2材料2を室温よりも1〜5℃程度加温してさらに粘度を下げてもよい。   In the step (4), as described above, the second material 2 is applied onto the porous conductive film 1a, adhered to the surface thereof, and penetrated into the internal pores. As described above, a solvent having a low surface free energy is used as the dispersion medium in the second material 2 and the second conductive particles are smaller in size than the first conductive particles. As a result of the penetration of the dispersion medium together with the second conductive particles using capillary force into the pores of 1a, the second conductive particles are taken into the pores of the porous conductive film 1a and the inside is dense and the surface is flat It becomes possible to form a conductive pattern 3. In addition, when apply | coating the 2nd material 2 on the porous electrically conductive film 1a, as above-mentioned, the 2nd material 2 may be heated about 1-5 degreeC rather than room temperature, and a viscosity may be lowered | hung further.

この工程(4)では、第2材料2を多孔性導電膜1a上に選択的に塗布する選択的塗布方法と、多孔性導電膜1aを含む基板Sの表面全面に第2材料2を塗布する全面的塗布方法のいずれかを用いることができる。
選択的塗布方法では、インクジェット法、ディスペンサー法等を用いて所定パターンの多孔性導電膜1a上のみに選択的に第2材料2を塗布することができる。この場合、多孔性導電膜1a内に毛細管現象により浸透する第2材料2の液滴量を適宜調整することが好ましい。なお、図1(e)において、符号Nは第2材料の液滴を吐出する吐出ノズルを表している。
In this step (4), the second material 2 is selectively applied to the porous conductive film 1a and the second material 2 is applied to the entire surface of the substrate S including the porous conductive film 1a. Any of the full coating methods can be used.
In the selective coating method, the second material 2 can be selectively coated only on the porous conductive film 1a having a predetermined pattern by using an inkjet method, a dispenser method, or the like. In this case, it is preferable to appropriately adjust the droplet amount of the second material 2 penetrating into the porous conductive film 1a by capillary action. In FIG. 1E, the symbol N represents a discharge nozzle that discharges droplets of the second material.

一方、全面的塗布方法では、スピンコート法、スリットコート法、ディップコート法、キャスト法等を用いて多孔性導電膜1aを含む基板Sの表面全面に第2材料2を塗布することができる。この場合、多孔性導電膜1a上に塗布された第2材料2は内部に浸透するが、転写パターン領域e以外の基板Sの表面上にも第2材料2が塗布される。よって、その後の工程(5)で第2材料2を焼成すると、転写パターン領域e以外の基板Sの表面上に第2導電性粒子の成長粒(以下、第2成長粒と称する場合がある)が存在するため、転写パターン領域e以外の領域に付着した第2成長粒を除去する工程が行われる。なお、これについて詳しくは後述する。   On the other hand, in the overall coating method, the second material 2 can be applied to the entire surface of the substrate S including the porous conductive film 1a by using a spin coating method, a slit coating method, a dip coating method, a casting method, or the like. In this case, the second material 2 applied on the porous conductive film 1a penetrates into the inside, but the second material 2 is also applied on the surface of the substrate S other than the transfer pattern region e. Therefore, when the second material 2 is baked in the subsequent step (5), the grown grains of the second conductive particles on the surface of the substrate S other than the transfer pattern region e (hereinafter sometimes referred to as second grown grains). Therefore, the step of removing the second growth grains attached to the region other than the transfer pattern region e is performed. This will be described in detail later.

工程(5)では、上述したように多孔性導電膜1a上に塗布された第2材料2を加熱することにより、分散媒を蒸発させ、かつ多孔性導電膜1aの表面および内部細孔における第2導電性粒子を粒成長させる。この場合、第2導電性粒子は、第1成長粒からなる多孔性導電膜1a内の細孔を埋めるように成長するために成長方向が抑制されており、非等方的に成長する。よって、焼成後の導電性パターン3は、概ね等方的に成長した第1成長粒と非等方的に成長した第2成長粒とから構成される。   In the step (5), as described above, the second material 2 applied onto the porous conductive film 1a is heated to evaporate the dispersion medium, and the surface and inner pores of the porous conductive film 1a are evaporated. 2 Conductive grains are grown. In this case, the second conductive particles grow anisotropically because the growth direction is suppressed in order to grow so as to fill the pores in the porous conductive film 1a made of the first grown grains. Therefore, the conductive pattern 3 after firing is composed of first and second growth grains that have grown substantially isotropically and second growth grains that have grown anisotropically.

第2材料2の加熱温度は、第1材料1の加熱温度よりも低いことが好ましい。具体的には、150〜200℃である。第2材料2の加熱温度を第1材料1の加熱温度よりも低くすることにより、第1導電性粒子が焼成してなる多孔性導電膜1aの基板Sとの密着性と、第2導電性粒子が焼成してなる成長粒の基板Sとの密着性にコントラストをつけることができる。
一般的に焼結前の導電性粒子は、ガラスやPET等の基板に対して密着性をもたない。焼成した導電性粒子と基板との密着力は、基板とのアンカー効果(基板と膜との絡み合い)により発現するが、このアンカー効果は焼成温度が高い方が強く、200℃以下の焼成温度では基板に対して密着性をもたないことを実験から得ている。また、アンカー効果は、成長粒のサイズが小さいと発現しない。
The heating temperature of the second material 2 is preferably lower than the heating temperature of the first material 1. Specifically, it is 150-200 degreeC. By making the heating temperature of the second material 2 lower than the heating temperature of the first material 1, the adhesion of the porous conductive film 1a formed by firing the first conductive particles to the substrate S, and the second conductivity Contrast can be given to the adhesion between the grown grains obtained by firing the particles and the substrate S.
Generally, the conductive particles before sintering do not have adhesion to a substrate such as glass or PET. The adhesive force between the fired conductive particles and the substrate is manifested by an anchor effect with the substrate (entanglement between the substrate and the film). This anchor effect is stronger at higher firing temperatures, and at a firing temperature of 200 ° C. or lower. It has been obtained from experiments that it has no adhesion to the substrate. In addition, the anchor effect does not appear when the size of the grown grain is small.

上述したように工程(4)において基板Sの全面に第2材料2を塗布した場合、多孔性導電膜1a以外の領域の基板S表面に第2成長粒が付着しているため、第1材料1の焼成温度よりも第2材料2の焼成温度を低くする温度制御によって、第2成長粒の基板Sとの密着力を多孔性導電膜1aの基板Sとの密着力よりも弱くすることにより、工程(5)の後に第2成長粒を基板S表面から洗浄剥離することができる。また、選択的塗布方法の場合でも、第2材料2が多孔性導電膜1a上からこぼれる、または多孔性導電膜1a内から染み出る、または第2材料2の液滴が飛散して基板S表面に付着し、それが第2成長粒となることもあり得るため、この第2成長粒を基板S表面から洗浄剥離する。
洗浄剥離する方法としては、純水、有機溶剤のリンス洗浄、超音波洗浄が挙げられる。
As described above, when the second material 2 is applied to the entire surface of the substrate S in the step (4), the second growth grains adhere to the surface of the substrate S in the region other than the porous conductive film 1a. By making the firing temperature of the second material 2 lower than the firing temperature of 1, the adhesion force of the second growth grain to the substrate S is made weaker than the adhesion force of the porous conductive film 1a to the substrate S. After the step (5), the second grown grains can be washed and separated from the surface of the substrate S. Even in the case of the selective coating method, the second material 2 spills from the porous conductive film 1a or oozes out from the porous conductive film 1a, or the droplets of the second material 2 scatter and the surface of the substrate S. Therefore, the second growth grains may be washed and separated from the surface of the substrate S.
Examples of the cleaning and peeling method include pure water, rinsing with an organic solvent, and ultrasonic cleaning.

以上の方法により、多孔性導電膜1aの内部および表面が第2成長粒によって緻密に充填され、かつ表面均一性の高い導電性パターン3を得ることが可能となると共に、この導電性パターン3が基板S上に形成された配線基板Fを得ることができる。   By the above method, the inside and the surface of the porous conductive film 1a can be densely filled with the second grown grains, and the conductive pattern 3 with high surface uniformity can be obtained. A wiring board F formed on the substrate S can be obtained.

(配線基板の説明)
基板S上に前記導電性パターン3が形成された配線基板Fにおいて、導電性パターン3は、上述のように空隙率50%以下の多孔性導電膜1aの細孔内に第2成長粒が充填されたものである。したがって、導電性パターン3の空隙率は50%未満であり、現実的には30〜50%程度の低い空隙率である。
なお、導電性パターン3の膜表面および膜断面を走査電子顕微鏡(SEM)により観察し、画像解析をすることで、導電性パターン3の空隙率を測定することができる。
(Description of wiring board)
In the wiring board F in which the conductive pattern 3 is formed on the substrate S, the conductive pattern 3 is filled with the second growth grains in the pores of the porous conductive film 1a having a porosity of 50% or less as described above. It has been done. Therefore, the porosity of the conductive pattern 3 is less than 50%, and is actually a low porosity of about 30 to 50%.
In addition, the porosity of the electroconductive pattern 3 can be measured by observing the film | membrane surface and film | membrane cross section of the electroconductive pattern 3 with a scanning electron microscope (SEM), and analyzing an image.

また、この導電性パターン3は、上述のように内部の細孔が第2成長粒にて充填されると共に、表面の凹凸も第2成長粒によって平坦化されている。具体的には、導電性パターン3の表面の算術平均粗さ(JIS B 0601-1994)は100nm以下に平坦化されており、断線やグレイン境界による影響を受け難いものとなっている。なお、導電性パターン3の表面の算術平均粗さが100nmを上回ると、断線やグレイン境界による影響を受け易い傾向にある。   Further, as described above, the conductive pattern 3 is filled with the inner growth pores with the second growth grains, and the surface irregularities are also flattened with the second growth grains. Specifically, the arithmetic average roughness (JIS B 0601-1994) of the surface of the conductive pattern 3 is flattened to 100 nm or less, and is hardly affected by disconnection or grain boundaries. In addition, when the arithmetic average roughness of the surface of the conductive pattern 3 exceeds 100 nm, it tends to be easily affected by disconnection or grain boundaries.

また、導電パターン3における導電性粒子のグレインサイズは、第1材料1中の第1導電性粒子および第2材料2中の第2導電性粒子のサイズおよび各材料を焼成する焼成温度によって少なくとも2つ以上の分布をもつ。特に焼成温度は、微粒子の融着反応の反応ネルギーを与える重要なファクターである。
一般に、高温で焼成する方が、大きなサイズのグレインに成長する。例えば、粒径40nmの導電性粒子を、150℃、200℃、250℃で焼成したところ、グレインサイズは、100nm、350nm、1200nmである結果が得られている。第1材料1の焼成温度は200〜300℃であり、第2材料2の焼成温度は150〜200℃であることから、導電性パターン3は少なくとも2つ以上のグレインサイズの分布をもつ膜となっている。
The grain size of the conductive particles in the conductive pattern 3 is at least 2 depending on the size of the first conductive particles in the first material 1 and the second conductive particles in the second material 2 and the firing temperature at which each material is fired. Have more than one distribution. In particular, the firing temperature is an important factor that gives a reaction energy for the fusion reaction of fine particles.
In general, firing at a higher temperature grows into larger size grains. For example, when conductive particles having a particle size of 40 nm are baked at 150 ° C., 200 ° C., and 250 ° C., the grain size is 100 nm, 350 nm, and 1200 nm. Since the firing temperature of the first material 1 is 200 to 300 ° C. and the firing temperature of the second material 2 is 150 to 200 ° C., the conductive pattern 3 is a film having at least two or more grain size distributions. It has become.

ここで、この導電性パターン3における第1成長粒と第2成長粒との体積分率は以下のように考えられる。
第1導電性粒子として比重(密度)が白金よりも大きいイリジウム(比重:22.61g/cm3)を使用し、熱分解性高分子材料としては比重2以下のものを使用し、イリジウムおよび熱分解性高分子材料の重量比を10:1とした場合で計算すると、第1成長粒からなる多孔性導電膜1aにおける固形部分が占める体積割合は約47%となり、残りの約53%が細孔部分となる。つまり、この場合の多孔性導電膜1aの空隙率は約53%である。この多孔性導電膜1aの細孔内に第2成長粒が隙間なく充填された場合、導電性パターン3における第1成長粒と第2成長粒との体積分率は47:53≒1:1.1である。
また、第1導電性粒子として比重(密度)が銀よりも小さいイットリウム(比重:4.5g/cm3)を使用し、熱分解性高分子材料としては比重2以下のものを使用し、イットリウムおよび熱分解性高分子材料の重量比を100:1とした場合で計算すると、第1成長粒からなる多孔性導電膜1aにおける固形部分が占める体積割合は約98%となり、残りの約2%が細孔部分となる。つまり、この場合の多孔性導電膜1aの空隙率は約2%である。この多孔性導電膜1aの細孔内に第2成長粒が隙間なく充填された場合、導電性パターン3における第1成長粒と第2成長粒との体積分率は98:2≒49:1である。
したがって、本発明の導電性パターン3は、第1成長粒と第2成長粒の体積分率が1:1.1から49:1の範囲にあると考えることができる。
Here, the volume fraction of the first grown grains and the second grown grains in the conductive pattern 3 is considered as follows.
As the first conductive particles, iridium having a specific gravity (density) larger than that of platinum (specific gravity: 22.61 g / cm 3 ) is used, and a thermally decomposable polymer material having a specific gravity of 2 or less is used. When the weight ratio of the degradable polymer material is 10: 1, the volume ratio occupied by the solid portion in the porous conductive film 1a made of the first grown grains is about 47%, and the remaining about 53% is fine. It becomes a hole part. That is, the porosity of the porous conductive film 1a in this case is about 53%. When the second growth grains are filled in the pores of the porous conductive film 1a without any gap, the volume fraction of the first growth grains and the second growth grains in the conductive pattern 3 is 47: 53≈1: 1. .1.
Further, yttrium having a specific gravity (density) smaller than silver (specific gravity: 4.5 g / cm 3 ) is used as the first conductive particles, and a pyrolytic polymer material having a specific gravity of 2 or less is used. When the weight ratio of the thermally decomposable polymer material is 100: 1, the volume ratio occupied by the solid portion in the porous conductive film 1a made of the first grown grains is about 98%, and the remaining about 2% Becomes the pore portion. That is, the porosity of the porous conductive film 1a in this case is about 2%. When the second growth grains are filled in the pores of the porous conductive film 1a without any gap, the volume fraction of the first growth grains and the second growth grains in the conductive pattern 3 is 98: 2≈49: 1. It is.
Therefore, in the conductive pattern 3 of the present invention, it can be considered that the volume fraction of the first grown grains and the second grown grains is in the range of 1: 1.1 to 49: 1.

(実験例1)
下記の材料を用いて調製した粘度の異なる10種類の第1材料を用意し、図1(a)〜(c)で説明した方法によって版P上に第1材料のパターンを形成し、その第1材料のパターンを版Pから基板Sへ転写し、その際の転写性を評価し、その結果を表1に示した。なお、転写性の判定は、版Pのパターン形状をパターン形状通りで基板S上に転写できたか否かにより行い、転写性が良好である場合は○、転写性が不良である場合は×を記した。
<第1材料>
第1導電性粒子:銀粒子(平均一次粒径100nm)、10重量部
熱分解性高分子材料:エチルセルロース、0.5重量部
溶剤:トルエン、10〜100重量部(10重量部ずつ10段階で増加)
(Experimental example 1)
Ten types of first materials having different viscosities prepared using the following materials are prepared, and a pattern of the first material is formed on the plate P by the method described in FIGS. A pattern of one material was transferred from the plate P to the substrate S, the transferability at that time was evaluated, and the results are shown in Table 1. The determination of transferability is made based on whether or not the pattern shape of the plate P has been transferred onto the substrate S in accordance with the pattern shape. If the transferability is good, ○, and if the transferability is poor, ×. I wrote.
<First material>
First conductive particles: silver particles (average primary particle size 100 nm), 10 parts by weight Thermally decomposable polymer material: ethyl cellulose, 0.5 parts by weight Solvent: toluene, 10-100 parts by weight (10 parts by weight in 10 steps) increase)

Figure 2009170447
Figure 2009170447

この実験では、表1に示すように、粘度50mPa・s付近にパターン転写性可否の閾値がみられた。この結果から、本発明において第1材料の粘度は50mPa・s以下が好ましいことが確認された。
しかしながら、本発明において、第1材料の粘度は50mPa・sに限定されるものではなく、粘度が50mPa・sを越える第1材料であっても加温して50mPa・s以下に低下させて使用することができる。
In this experiment, as shown in Table 1, a threshold value indicating whether or not pattern transfer was possible was observed near a viscosity of 50 mPa · s. From this result, it was confirmed that the viscosity of the first material is preferably 50 mPa · s or less in the present invention.
However, in the present invention, the viscosity of the first material is not limited to 50 mPa · s, and even the first material having a viscosity exceeding 50 mPa · s is heated to be lowered to 50 mPa · s or less. can do.

(実施例1)
ガラス基板上に、ライン幅W1が10μmおよびスペース幅W2が30μmの導電性パターンを以下のようにして形成した(図1(f)参照)。
第1材料は、分散剤によって表面がコートされた第1導電性粒子として平均1次粒径100nmの銀微粒子(アルバックマテリアル製)と、熱分解性高分子材料としてのエチルセルロース(日進化成製)とをターピネオール溶剤に対して重量比で20:1:100で混合分散して調製した。この第1材料の粘度を測定したところ3.4mPa・sであった。
第2材料は、第2導電性粒子として分散剤がコートされた平均1次粒径30nmの銀微粒子(アルバックマテリアル製)を溶剤としてのドデカンに対して重量比30:1で分散混合して調製した。この第2材料の粘度を測定したところ2.7mPa・sであった。
また、第1材料および第2材料を超音波処理して、銀微粒子の分散性を高めた。
Example 1
A conductive pattern having a line width W 1 of 10 μm and a space width W 2 of 30 μm was formed on a glass substrate as follows (see FIG. 1F).
The first material is silver fine particles having an average primary particle diameter of 100 nm (manufactured by ULVAC Material) as the first conductive particles whose surface is coated with a dispersant, and ethyl cellulose (manufactured by Nihon Kasei Co., Ltd.) as the thermally decomposable polymer material. Were mixed and dispersed at a weight ratio of 20: 1: 100 with respect to the terpineol solvent. The viscosity of the first material was measured and found to be 3.4 mPa · s.
The second material is prepared by dispersing and mixing silver fine particles (manufactured by ULVAC MATERIAL) with an average primary particle size of 30 nm coated with a dispersant as second conductive particles at a weight ratio of 30: 1 with respect to dodecane as a solvent. did. The viscosity of the second material was measured and found to be 2.7 mPa · s.
Further, the first material and the second material were subjected to ultrasonic treatment to improve the dispersibility of the silver fine particles.

版は、アルミニウム製の基版上にポジ型感光性樹脂(東京応化社製)を塗布し、次いでその上にシリコーン樹脂(東芝GE製)を塗布し、複数本のライン(幅W1=10μm)およびスペース(幅W2=30μm)のパターンを有するフォトマスクを介して紫外線露光して現像することにより作製した(図1(a)参照)。なお、得られたシリコーン層の厚みは500nmであった。 For the plate, a positive photosensitive resin (manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.) is applied on an aluminum base plate, and then a silicone resin (manufactured by Toshiba GE) is applied thereon, and a plurality of lines (width W 1 = 10 μm). ) And a space (width W 2 = 30 μm), and was developed by exposure to ultraviolet rays through a photomask (see FIG. 1A). In addition, the thickness of the obtained silicone layer was 500 nm.

次に、スリットコーターを用いて第1材料を版上に塗布することにより、シリコーン層上には第1材料がなく、露出した基版表面上にウエット状態の第1材料が膜厚8μmでパターン形成された塗布膜を得た(図1(b)参照)。
続いて、この版上の第1材料パターンにガラス基板を密着させ、ガラス基板を剥離することにより、版上の第1材料パターンをガラス基板上に転写した(図1(c)参照)。
その後、第1材料パターンを有するガラス基板を炉内へ入れ、250℃で10分間焼成することにより、第1成長粒からなる多孔性導電膜を形成した(図1(d)参照)。
Next, the first material is applied on the plate using a slit coater, so that there is no first material on the silicone layer, and the wet first material has a film thickness of 8 μm on the exposed base plate surface. A formed coating film was obtained (see FIG. 1B).
Subsequently, the glass substrate was brought into close contact with the first material pattern on the plate, and the glass substrate was peeled off to transfer the first material pattern on the plate onto the glass substrate (see FIG. 1C).
Then, the glass substrate which has a 1st material pattern was put in the furnace, and the porous electrically conductive film which consists of a 1st growth grain was formed by baking for 10 minutes at 250 degreeC (refer FIG.1 (d)).

次に、ディスペンサーを用いた選択的塗布方法により第2材料を多孔性導電膜上に液滴量0.3ml/mmで塗布し、多孔性導電膜内に第2材料を浸透させた(図1(e)参照)。この際、多孔性導電膜から部分的に第2材料があふれてガラス基板表面に付着した。
続いて、多孔性導電膜に第2材料を浸透させたガラス基板を炉内に入れ、150℃で10分間焼成させて、多孔性導電膜の内部および表面上で第2導電性粒子を成長させた(図1(f)参照)。
その後、ガラス基板をエタノール中に浸漬し、超音波洗浄することにより、基板表面に付着した第2成長粒を剥離して、ガラス基板上にライン幅W1が10μmおよびスペース幅W2が30μmを有する導電性パターンを形成して、配線基板を得た。
Next, the second material was applied onto the porous conductive film at a droplet amount of 0.3 ml / mm by a selective application method using a dispenser, and the second material was infiltrated into the porous conductive film (FIG. 1). (See (e)). At this time, the second material partially overflowed from the porous conductive film and adhered to the glass substrate surface.
Subsequently, a glass substrate in which the second material is infiltrated into the porous conductive film is placed in a furnace and baked at 150 ° C. for 10 minutes to grow second conductive particles inside and on the surface of the porous conductive film. (See FIG. 1 (f)).
Thereafter, the glass substrate is immersed in ethanol and subjected to ultrasonic cleaning to peel off the second growth grains adhering to the substrate surface, and the line width W 1 is 10 μm and the space width W 2 is 30 μm on the glass substrate. A conductive substrate having a conductive pattern was formed to obtain a wiring board.

形成した導電性パターンの体積抵抗率を測定したところ、5μΩcmであり、バルク銀と同じオーダーの低抵抗のパターンであることが分かった。
また、導電性パターンの膜の構造を評価するために、SEMで膜表面および断面形状を観察した。膜表面のSEM観察から、銀粒子のグレイン成長は、概ね等方的に球状に成長したサイズ1000〜12000nmの第1成長粒と、第1成長粒間を埋めるように非等方的に成長したサイズ100nm前後の第2成長粒が存在していた。また膜断面のSEM観察から、膜内部においても細孔の少ない緻密な膜であり、空間充填率は85%以上であることが分かった。
また、導電性パターンの表面を原子間力顕微鏡(AFM)において観察し、算術平均粗さを算出したところ60nmであり、非常にフラットな膜であることが分かった。
When the volume resistivity of the formed conductive pattern was measured, it was found to be 5 μΩcm, which is a low resistance pattern in the same order as bulk silver.
Moreover, in order to evaluate the structure of the film | membrane of an electroconductive pattern, the film | membrane surface and cross-sectional shape were observed with SEM. From the SEM observation of the film surface, the grain growth of the silver particles grew anisotropically so as to fill the space between the first growth grains and the first growth grains having a size of 1000 to 12000 nm which were grown in an approximately isotropic spherical shape. Second grown grains having a size of around 100 nm were present. Further, SEM observation of the cross section of the film revealed that the film was a dense film with few pores even inside the film, and the space filling rate was 85% or more.
Moreover, when the surface of the conductive pattern was observed with an atomic force microscope (AFM) and the arithmetic average roughness was calculated, it was 60 nm, which was found to be a very flat film.

(比較例1)
実施例1と同様に、図1(a)〜(d)の工程を行い、第2材料を用いた図1(e)および(f)の工程は行わずに、第1成長粒のみからなる多孔性導電膜の導電性パターンを作製した。この導電性パターンの体積抵抗率を測定したところ27μΩcmであり、実施例1よりも抵抗値が大きくなった。
また、SEMで膜形状を観察したところ、導電性パターンのグレインサイズは実施例1と同様に1000〜12000nmであり、空間充填率は40%程度であった。また、この導電性パターンの表面をAFMで観測して算出した算出平均粗さは540nmであり、実施例1よりも大幅に粗いものであることがわかった。
(Comparative Example 1)
As in Example 1, the steps of FIGS. 1A to 1D are performed, and the steps of FIGS. 1E and 1F using the second material are not performed, and only the first grown grains are formed. A conductive pattern of a porous conductive film was prepared. When the volume resistivity of this conductive pattern was measured, it was 27 μΩcm, and the resistance value was larger than that of Example 1.
Moreover, when the film | membrane shape was observed by SEM, the grain size of the electroconductive pattern was 1000-12000 nm similarly to Example 1, and the space filling rate was about 40%. The calculated average roughness calculated by observing the surface of this conductive pattern with AFM was 540 nm, which was found to be significantly rougher than Example 1.

(比較例2)
実施例1における第1材料中の第1導電性粒子とエチルセルロースとターピネオールとを重量比で110:1:550に変更して、実施例1と同様に図1(a)〜(c)の工程を行ったところ、版から基板へ第1材料パターン転写ができず、導電性パターンを形成することができなかった。
(Comparative Example 2)
1A to 1C in the same manner as in Example 1 except that the first conductive particles in the first material in Example 1 and ethyl cellulose and terpineol are changed to a weight ratio of 110: 1: 550. As a result, the first material pattern could not be transferred from the plate to the substrate, and a conductive pattern could not be formed.

(比較例3)
実施例1における第1材料中の第1導電性粒子とエチルセルロースとターピネオールとを重量比で150:1:750に変更して、実施例1と同様に図1(a)〜(c)の工程を行ったところ、版から基板へ第1材料パターンの転写が全くできず、導電性パターンを形成することができなかった。
(Comparative Example 3)
1A to 1C in the same manner as in Example 1 except that the first conductive particles in the first material in Example 1 and ethyl cellulose and terpineol are changed in weight ratio to 150: 1: 750. As a result, the first material pattern could not be transferred from the plate to the substrate at all, and a conductive pattern could not be formed.

(比較例4)
実施例1における第1材料中の第1導電性粒子とエチルセルロースとターピネオールとを重量比で9:1:220に変更して、実施例1と同様に図1(a)〜(d)の工程を行ったところ、第1材料を焼成してなる多孔性導電膜のパターン中に断線が生じたため、それ以降の工程を行うことができなかった。
(Comparative Example 4)
1 (a) to (d) in the same manner as in Example 1, except that the first conductive particles, ethylcellulose, and terpineol in the first material in Example 1 are changed to a weight ratio of 9: 1: 220. As a result, a disconnection occurred in the pattern of the porous conductive film obtained by firing the first material, and the subsequent steps could not be performed.

(比較例5)
実施例1における第1材料中の第1導電性粒子とエチルセルロースとターピネオールとを重量比で1:1:2000に変更して、実施例1と同様に図1(a)〜(d)の工程を行ったところ、第1材料を焼成してなる多孔性導電膜のパターン中に比較例4よりもさらに断線が生じたため、それ以降の工程を行うことができなかった。
(Comparative Example 5)
1A to 1D in the same manner as in Example 1 except that the first conductive particles, ethylcellulose, and terpineol in the first material in Example 1 are changed to a weight ratio of 1: 1: 2000. As a result, disconnection further occurred in the pattern of the porous conductive film formed by firing the first material than in Comparative Example 4, and therefore the subsequent steps could not be performed.

比較例1は、実施例1のように第2材料を用いて多孔性導電膜内に第2導電性粒子を充填しない多孔質な導電性パターンであるため、表面も粗く、体積低効率が高いものとなった。比較例2および比較例3は、第1材料中の熱分解性高分子材料の重量比が小さ過ぎるため、版から基板へパターン転写することができなかったと思われる。逆に、比較例4および比較例5は、第1材料中の熱分解性高分子材料の重量比が大き過ぎるため、多孔性導電膜の空隙率が大きくなり過ぎて断線を生じたと考えられる。
これらに対して、本発明の条件を備える実施例1では、比較例1〜5のような問題を生じることなく、表面がフラットで低抵抗な緻密な膜を形成することができた。
Since Comparative Example 1 is a porous conductive pattern in which the second conductive material is not filled in the porous conductive film using the second material as in Example 1, the surface is also rough and the volume low efficiency is high. It became a thing. In Comparative Examples 2 and 3, it seems that the pattern transfer from the plate to the substrate could not be performed because the weight ratio of the thermally decomposable polymer material in the first material was too small. Conversely, in Comparative Example 4 and Comparative Example 5, the weight ratio of the thermally decomposable polymer material in the first material is too large, so it is considered that the porosity of the porous conductive film was too large and the disconnection occurred.
On the other hand, in Example 1 having the conditions of the present invention, a dense film having a flat surface and low resistance could be formed without causing the problems as in Comparative Examples 1 to 5.

本発明は、各種電子デバイスに組み込まれるμmオーダーの微細配線パターンを有する配線基板、集積回路等の形成に用いることができる。   The present invention can be used for forming a wiring board, an integrated circuit, and the like having a fine wiring pattern of μm order incorporated in various electronic devices.

図1(a)〜(f)は本発明の導電性パターン形成方法を示す工程図である。1A to 1F are process diagrams showing a conductive pattern forming method of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 第1材料
1a 多孔性導電膜
2 第2材料
3 導電性パターン
e 転写パターン領域
F 配線基板
N 吐出ノズル
P 版
Pa 基版
Pb 第1材料をはじく層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 1st material 1a Porous conductive film 2 2nd material 3 Conductive pattern e Transfer pattern area F Wiring board N Discharge nozzle P Plate Pa Base plate Pb Layer which repels 1st material

Claims (16)

第1導電性粒子が熱分解性高分子材料と溶剤の混合液中に分散混合してなる第1材料と、前記第1導電性粒子よりも粒子サイズが小さい第2導電性粒子が分散媒中に分散した第2材料との組み合わせからなり、
前記第1材料において、前記第1導電性粒子の重量と前記熱分解性高分子材料の重量との比が10:1から100:1であることを特徴とする導電性パターン形成材料。
A first material in which first conductive particles are dispersed and mixed in a mixture of a thermally decomposable polymer material and a solvent, and second conductive particles having a particle size smaller than that of the first conductive particles are in a dispersion medium. A combination with a second material dispersed in
In the first material, the ratio of the weight of the first conductive particles to the weight of the thermally decomposable polymer material is 10: 1 to 100: 1.
前記第1材料および第2材料は、粘度が1〜50mPa・sである請求項1に記載の導電性パターン形成材料。   The conductive pattern forming material according to claim 1, wherein the first material and the second material have a viscosity of 1 to 50 mPa · s. 前記第1導電性粒子の平均1次粒径が10〜500nmであり、前記第2導電性粒子の平均1次粒径が1〜100nmである請求項1または2に記載の導電性パターン形成材料。   3. The conductive pattern forming material according to claim 1, wherein an average primary particle size of the first conductive particles is 10 to 500 nm, and an average primary particle size of the second conductive particles is 1 to 100 nm. . 前記熱分解性高分子材料が150℃以上300℃以下の温度で熱分解する高分子材料からなる請求項1〜3のいずれか1つに記載の導電性パターン形成材料。   The conductive pattern forming material according to claim 1, wherein the thermally decomposable polymer material is made of a polymer material that is thermally decomposed at a temperature of 150 ° C. or higher and 300 ° C. or lower. 前記熱分解性高分子材料が、重量平均分子量1000〜100000を有する熱分解性高分子材料を含む請求項1〜4のいずれか1つに記載の導電性パターン形成材料。   The conductive pattern forming material according to claim 1, wherein the thermally decomposable polymer material includes a thermally decomposable polymer material having a weight average molecular weight of 1000 to 100,000. 前記第1導電性粒子および第2導電性粒子は、その表面が分散剤にて覆われている請求項1〜5のいずれか1つに記載の導電性パターン形成材料。   The conductive pattern forming material according to claim 1, wherein surfaces of the first conductive particles and the second conductive particles are covered with a dispersant. 前記第1導電性粒子および第2導電性粒子が、金、銀、銅、鉄、白金、クロム、ニッケル、タンタル、インジウム、イリジウム、錫、亜鉛、ガリウム、イットリウムおよびこれらの金属の酸化物から選択された1種類以上の粒子からなる請求項1〜6のいずれか1つに記載の導電性パターン形成材料。   The first conductive particles and the second conductive particles are selected from gold, silver, copper, iron, platinum, chromium, nickel, tantalum, indium, iridium, tin, zinc, gallium, yttrium, and oxides of these metals. The conductive pattern forming material according to claim 1, comprising one or more kinds of particles. 第1導電性粒子と熱分解性高分子材料と溶剤とを含み、かつ前記第1導電性粒子の重量と前記熱分解性高分子材料の重量との比を10:1から100:1として第1導電性粒子を分散混合してなる第1材料を、版の表面の転写パターン領域に塗布して、転写用パターンを形成する工程(1)と、
前記版上の前記転写用パターンを基板の表面に転写する工程(2)と、
前記基板の表面上に転写された前記第1材料のパターンを加熱することにより、前記熱分解性高分子材料を加熱分解し、かつ前記第1導電性粒子が粒成長してなる多孔性導電膜を形成する工程(3)と、
前記第1導電性粒子よりも粒子サイズが小さい第2導電性粒子が分散媒中に分散した第2材料を、基板の表面上に形成された前記多孔性導電膜上に塗布して、前記第2材料を多孔性導電膜の表面および内部の細孔に浸透させる工程(4)と、
前記多孔性導電膜上に塗布された第2材料を加熱することにより、前記多孔性導電膜の細孔内における前記第2導電性粒子を粒成長させる工程(5)とを備えたことを特徴とする導電性パターン形成方法。
First conductive particles, a thermally decomposable polymer material, and a solvent, and the ratio of the weight of the first conductive particles to the weight of the thermally decomposable polymer material is 10: 1 to 100: 1. (1) forming a transfer pattern by applying a first material obtained by dispersing and mixing 1 conductive particles to a transfer pattern region on the surface of the plate;
Transferring the transfer pattern on the plate to the surface of the substrate (2);
A porous conductive film obtained by thermally decomposing the thermally decomposable polymer material by heating the pattern of the first material transferred onto the surface of the substrate and growing the first conductive particles. Forming a step (3);
A second material in which second conductive particles having a particle size smaller than that of the first conductive particles are dispersed in a dispersion medium is applied onto the porous conductive film formed on the surface of the substrate, and the first A step (4) of infiltrating the two materials into the surface and the internal pores of the porous conductive film;
And (5) a step of growing the second conductive particles in the pores of the porous conductive film by heating the second material applied on the porous conductive film. A conductive pattern forming method.
前記第1材料および第2材料が、1〜50mPa・sの粘度で調製される請求項8に記載の導電性パターン形成方法。   The conductive pattern forming method according to claim 8, wherein the first material and the second material are prepared with a viscosity of 1 to 50 mPa · s. 前記工程(3)において、前記第1材料を加熱する加熱温度が、前記第2材料を加熱する加熱温度よりも高い請求項8または9に記載の導電性パターン形成方法。   The conductive pattern forming method according to claim 8 or 9, wherein, in the step (3), a heating temperature for heating the first material is higher than a heating temperature for heating the second material. 前記版が、前記第1材料と密着する材料からなる基版と、該基版の表面上の転写パターン領域を除く領域に形成された第1材料をはじく層とを有してなる請求項8〜10のいずれか1つに記載の導電性パターン形成方法。   The plate includes a base plate made of a material that is in close contact with the first material, and a layer that repels the first material formed in a region excluding a transfer pattern region on the surface of the base plate. The conductive pattern formation method as described in any one of 10-10. 前記工程(4)において、前記第2材料を前記多孔性導電膜上に選択的に塗布する請求項8〜11のいずれか1つに記載の導電性パターン形成方法。   The conductive pattern forming method according to any one of claims 8 to 11, wherein in the step (4), the second material is selectively applied onto the porous conductive film. 前記工程(4)において、多孔性導電膜を含む基板表面の全面に前記第2材料を塗布し、
さらに、前記工程(5)の後に、基板表面上で粒成長した第2導電性粒子の成長粒を除去する工程を含む請求項8〜11のいずれか1つに記載の導電性パターン形成方法。
In the step (4), the second material is applied to the entire surface of the substrate including the porous conductive film,
Furthermore, the conductive pattern formation method as described in any one of Claims 8-11 including the process of removing the growth grain of the 2nd electroconductive particle which carried out the grain growth on the substrate surface after the said process (5).
前記工程(3)にて形成された多孔性導電膜の空隙率が53%以下である請求項8〜13のいずれか1つに記載の導電性パターン形成方法。   The method for forming a conductive pattern according to claim 8, wherein the porosity of the porous conductive film formed in the step (3) is 53% or less. 基板と、前記請求項8〜14のいずれか1つに記載の導電性パターン形成方法によって前記基板の表面に形成された前記導電性パターンとを備えた配線基板であって、
前記導電性パターンの表面の算術平均粗さが100nm以下である配線基板。
A wiring board comprising a substrate and the conductive pattern formed on the surface of the substrate by the conductive pattern forming method according to any one of claims 8 to 14,
The wiring board whose arithmetic mean roughness of the surface of the said conductive pattern is 100 nm or less.
前記導電性パターンが、前記第1導電性粒子が等方的に粒成長した第1成長粒と、前記第2導電性粒子が非等方的に粒成長した第2成長粒とからなり、前記第1成長粒と第2成長粒との体積分率が1:1.1から49:1の範囲内にある請求項15に記載の配線基板。   The conductive pattern is composed of first grown grains in which the first conductive particles are grown isotropically and second grown grains in which the second conductive particles are grown anisotropically, The wiring board according to claim 15, wherein the volume fraction of the first grown grains and the second grown grains is in the range of 1: 1.1 to 49: 1.
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011146661A (en) * 2010-01-13 2011-07-28 Korea Inst Of Machinery & Materials Method for forming metal oxide thin film pattern using nanoimprint and manufacturing method of led element using the same
JP2012004547A (en) * 2010-05-19 2012-01-05 Shinshu Univ Method of forming conductor pattern using nano metal ink
JP2012142263A (en) * 2010-12-15 2012-07-26 Ngk Spark Plug Co Ltd Ink for printing conductor pattern
JP2012177098A (en) * 2011-02-02 2012-09-13 Ngk Spark Plug Co Ltd Ink and device
CN102827508A (en) * 2011-06-16 2012-12-19 株式会社大赛璐 Solvent or solvent composition for printing
JP2013077673A (en) * 2011-09-30 2013-04-25 Fuji Mach Mfg Co Ltd Manufacturing method of wiring board
WO2014190125A1 (en) * 2013-05-23 2014-11-27 E. I. Du Pont De Nemours And Company Conductive compositions and methods relating thereto
WO2017033911A1 (en) * 2015-08-25 2017-03-02 田中貴金属工業株式会社 Metal paste having excellent low-temperature sinterability and method for producing the metal paste
JP2017511820A (en) * 2014-02-03 2017-04-27 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニーE.I.Du Pont De Nemours And Company Composition for high speed printing of conductive materials for electronic circuit component type applications and related methods
JP2017088734A (en) * 2015-11-10 2017-05-25 株式会社アルバック Conductive metal ink
JP2019062167A (en) * 2017-09-28 2019-04-18 凸版印刷株式会社 Thin-film transistor

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011146661A (en) * 2010-01-13 2011-07-28 Korea Inst Of Machinery & Materials Method for forming metal oxide thin film pattern using nanoimprint and manufacturing method of led element using the same
US8486753B2 (en) 2010-01-13 2013-07-16 Korea Institute Of Machinery And Materials Patterning method of metal oxide thin film using nanoimprinting, and manufacturing method of light emitting diode
JP2012004547A (en) * 2010-05-19 2012-01-05 Shinshu Univ Method of forming conductor pattern using nano metal ink
JP2012142263A (en) * 2010-12-15 2012-07-26 Ngk Spark Plug Co Ltd Ink for printing conductor pattern
US8827435B2 (en) 2010-12-15 2014-09-09 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Conductor pattern printing ink
JP2012177098A (en) * 2011-02-02 2012-09-13 Ngk Spark Plug Co Ltd Ink and device
US8623939B2 (en) 2011-02-02 2014-01-07 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Ink
CN102827508A (en) * 2011-06-16 2012-12-19 株式会社大赛璐 Solvent or solvent composition for printing
JP2013018967A (en) * 2011-06-16 2013-01-31 Daicel Corp Solvent or solvent composition for printing
JP2013077673A (en) * 2011-09-30 2013-04-25 Fuji Mach Mfg Co Ltd Manufacturing method of wiring board
WO2014190125A1 (en) * 2013-05-23 2014-11-27 E. I. Du Pont De Nemours And Company Conductive compositions and methods relating thereto
JP2017511820A (en) * 2014-02-03 2017-04-27 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニーE.I.Du Pont De Nemours And Company Composition for high speed printing of conductive materials for electronic circuit component type applications and related methods
WO2017033911A1 (en) * 2015-08-25 2017-03-02 田中貴金属工業株式会社 Metal paste having excellent low-temperature sinterability and method for producing the metal paste
CN107921533A (en) * 2015-08-25 2018-04-17 田中贵金属工业株式会社 The manufacture method of the excellent metal paste of low-temperature sintering and the metal paste
JPWO2017033911A1 (en) * 2015-08-25 2018-06-14 田中貴金属工業株式会社 Metal paste excellent in low-temperature sinterability and method for producing the metal paste
CN107921533B (en) * 2015-08-25 2020-05-08 田中贵金属工业株式会社 Metal paste having excellent low-temperature sinterability and method for producing same
US10940534B2 (en) 2015-08-25 2021-03-09 Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. Metal paste having excellent low-temperature sinterability and method for producing the metal paste
JP2017088734A (en) * 2015-11-10 2017-05-25 株式会社アルバック Conductive metal ink
JP2019062167A (en) * 2017-09-28 2019-04-18 凸版印刷株式会社 Thin-film transistor
JP7172026B2 (en) 2017-09-28 2022-11-16 凸版印刷株式会社 thin film transistor

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