JP2009004714A - 部品実装装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】生産効率を向上させることが可能な部品実装装置を提供する。
【解決手段】搬入された基板に部品を実装し、部品が実装された基板を搬出する部品実装装置100であって、搬入された基板の表面を撮像し、撮像した画像を示す画像情報を出力する第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)と、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)から出力される画像情報に基づいて、基板の不良の原因となる異物が基板上にあるか否かを判定する判定部152と、判定部152により基板上に異物があると判定された場合に、基板が搬出されるまでに異物を基板上から除去する除去ノズル110(130)とを備える。
【選択図】図5

Description

本発明は、基板に部品を実装する部品実装装置に関する。
電子部品などの部品が基板に実装された部品実装基板は、基板にはんだを印刷する印刷装置、はんだが印刷された基板に部品を実装する部品実装装置、部品が実装された基板をはんだ付けするリフロー装置など複数の装置で構成される生産ラインで生産される。
部品実装装置では、部品を装着する位置がずれたり、本来装着されるべき部品が搬送中に落下するなどにより装着されていないなどのために、不良な部品実装基板が生産される場合がある。
また、実際の生産ラインでは、チップ部品のような小さな部品が、基板上に落下等の要因で存在する場合に、IC(Integrated Circuit)等のような大型部品と基板との間に小さな部品を挟みこんだ状態で実装し、はんだ付けをされることがある。このような部品実装基板の不良を解消するには、その部品実装基板から大型部品を取り除き、小さな部品を手作業で除去することがあるが、修正の手間がかかり、また、修正により配線や大型部品の損傷等の2次不良が発生する場合がある。
生産ラインでの生産効率の向上は重要な課題であるが、上記のような不良な部品実装基板の生産数を減少させ生産ラインでの歩留まり率を向上させることによって、生産効率を向上させることができる。
従来、部品実装装置は実装後の部品の実装状態を認識する認識手段を備え、実装ずれが発生した基板に対しては次の部品の実装やリフローを実行しない技術が提案されている(例えば、特許文献1を参照)。
特開平5−251897号公報
しかしながら、従来の技術では、不良が認識された基板は生産ラインから排出される。そのため、不良が認識される前に基板に対して実行された処理が無駄になるという問題がある。
上記のように、はんだの印刷、部品の実装、はんだ付けという一連の処理を経て部品実装基板が生産される。部品の実装の前に不良が認識されれば、基板へのはんだの印刷が無駄になる。また、部品の実装中に不良が認識されれば、基板へのはんだの印刷とそれまでに実行された部品の実装が無駄になる。また、はんだ付けの前に不良が認識されれば、当該基板へのはんだの印刷と部品の実装が無駄になる。
このように、実行された処理が結果的に無駄になることは生産効率の低下の一因となる。
また、不良が認識された基板を生産ラインから排出する場合には、そのために生産ラインを停止させるなどの対応が必要になる。生産ラインを停止させることは、時間当たりに生産される部品実装基板の数量を低減させ、生産効率を悪化させるという問題もある。
本発明は、上記の問題を解決するためになされたもので、生産効率を向上させることが可能な部品実装装置の提供を目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明に係る部品実装装置は、搬入された基板に部品を実装し、部品が実装された基板を搬出する部品実装装置であって、前記搬入された基板の実装面を撮像し、撮像した画像を示す画像情報を出力する撮像手段と、前記撮像手段から出力される画像情報に基づいて、前記実装面上に異物があるか否かを判定する判定手段と、前記判定手段により前記実装面上に前記異物があると判定された場合に、当該基板が搬出されるまでに前記異物を当該実装面上から除去する除去手段とを備える。
このように、基板上に異物があると判断された場合、その異物を基板上から除去する。そのため、異物があると判断された基板に、それ以降の処理を実行してもその基板から生産される部品実装基板が不良品になることはない。
また、異物があると判断された場合、生産ラインを止めることなくその基板を復旧するため、単位時間当たりに生産される部品実装基板の数量をほとんど変えることはない。
したがって、部品実装装置に搬入された基板の数量に対する、不良でない部品実装基板の生産数の割合を向上させることが可能になる。
好ましくは、前記除去手段は、前記異物を吸い込む口を形成する先端部を有する。
このように基板上の異物を吸い込む。これにより、基板上の異物を除去することができる。したがって、その基板に対して後続する処理を実行し、不良でない部品実装基板を生産することが可能になる。
さらに好ましくは、前記除去手段は、前記異物を吸着する吸着口を形成する先端部を有し、前記先端部は可撓部材である。
このように、除去手段は、先端部により形成される吸引口に異物を吸着し、先端部は可撓性を有する。これにより、開口部と異物の一面とが密着させることができる。開口部が異物の一面と密着することにより、異物を確実に吸着し、除去することが可能になる。
また、前記除去手段は、前記基板の方向に気体を吐き出す吐出部と、前記吐出部から吐き出された前記気体を吸い込む吸引部とを有してもよい。
このように基板上の異物を吹き飛ばす。これにより、基板上の異物を除去することができる。したがって、その基板に対して後続する処理を実行し、不良でない部品実装基板を生産することが可能になる。
さらに好ましくは、前記除去手段は、前記部品を基板に実装するノズルである。
これにより、通常の部品実装装置が備えるノズルにより異物を除去することができる。そのため、部品実装装置の構成を複雑にすることなく、異物を除去することが可能になる。
さらに好ましくは、前記撮像手段は、前記部品を基板に実装する実装ノズルの両側のそれぞれに配置される。
このように、ノズルの両側のそれぞれにカメラを備える。これにより、基板の実装面を立体的に認識することができ、異物があるか否かを正確に判断することが可能になる。
また、上記の本発明に係る部品実装方法は、部品を吸着し、吸着した部品を搬送し、搬入された基板に搬送した部品を装着し、部品が装着された基板を搬出する部品実装方法であって、前記吸着した部品を実装する前に、当該部品を実装する基板の実装面を撮像し、撮像した画像を示す画像情報に基づいて前記実装面に異物があるか否かを判断し、前記実装面上に異物があると判断された場合に、前記異物を除去し、その後に当該部品を基板上に装着する。
このように、部品を装着する直前に撮像し、実装面に異物があるか否かを判断する。
また、上記の本発明に係る部品実装基板の生産ラインは、はんだを基板上に印刷する印刷装置と、はんだが印刷された前記基板の実装面に部品を実装する部品実装装置と、前記部品が実装された基板を加熱してはんだ付けするはんだ付け装置とで構成される部品実装基板の生産ラインであって、前記部品実装装置は、上記の部品実装装置のいずれかであってもよい。
これにより、生産ラインにおける一連の工程の中で、異物の検出と除去ができ、部品実装装置に搬入された基板の数量に対する、不良でない部品実装基板の生産数の割合を向上させることが可能になる。
また、上記の本発明に係る部品実装基板の生産ラインは、はんだを基板上に印刷する印刷装置と、部品を前記基板の実装面に実装する実装装置と、前記部品を実装した基板を加熱してはんだ付けするはんだ付け装置とから構成される部品実装基板の生産ラインであって、前記部品実装装置は、前記印刷装置から前記基板が搬入され、搬入された前記基板の実装面上の異物を除去する第1の異物除去機と、部品が実装された部品実装基板上を撮像し、撮像した画像を示す画像情報に基づいて、前記部品実装基板上に異物があるか否かを判定し、前記部品実装基板上に前記異物があると判定された場合に、当該部品実装基板が搬出されるまでに前記異物を当該部品実装基板上から除去する除去手段とを有する第2の異物除去機との少なくとも一方を有する。
このように、基板の流れに沿って、部品を実装する前後のいずれかに異物を除去する専用機を備える。部品実装前から基板上にある異物は、基板上に部品が実装された後よりも部品を実装する前に除去する方が容易である。また、はんだ付けの後に異物を除去するにははんだを溶かして異物を除去することになるため、手間がかかる。はんだ付けの前に異物を除去する方がはんだ付けの後に異物を除去するよりも容易である。したがって、このような専用機を備えることによって、異物を基板から容易に除去することが可能になる。
なお、本発明は、このような手段を備える部品実装装置として実現することができるだけでなく、その方法やプログラム、そのプログラムが格納されている記憶媒体、または集積回路として実現することもできる。
本発明によれば、不良の原因となる基板上の異物を判断し除去するため、部品実装装置に搬入された部品の数量に対する不良でない部品実装基板の生産数量の割合を向上させることができる。また、異物があると判断された基板を排出することはないため、生産ラインを一時的に停止させることがなくなる。
したがって、不良でない部品実装基板の生産数量の割合、および生産ラインの稼働率を向上させることができ、生産効率を向上させることが可能になる。
以下に、図面を参照しながら、本発明に係る部品実装装置の実施の形態について説明する。
図1は、部品実装装置100の外観を示す斜視図である。
部品実装装置100は、基板20の表面を検査し、基板20に電子部品を実装する装置である。部品実装装置100は、コンベア(図示しない)によりX方向に印刷装置(図示しない)から搬入される基板20の表面に異物があるか否かを検査し、また基板20に電子部品を実装し、部品実装装置100から電子部品が実装された状態で図示しないリフロー装置(図示しない)に搬出する装置である。
ここで、「異物」とは、基板の表面に付着するもので、何も取り付けられていない基板から半製品としての部品実装基板が生産されるまでの各過程で生産ラインを構成する各装置により付着されまたは装着される物以外の物をいう。このような異物は、部品実装基板の不良の原因となる。
例えば、印刷装置から部品実装装置に搬入された直後においては、印刷装置により基板20上に付着されたはんだ以外の物が「異物」である。また例えば、部品実装装置100での部品実装では、予め決定された計画に従った順序で基板20上に電子部品が装着されるが、部品実装装置100での部品実装中においては、各時期において計画上、基板20に装着されているべき電子部品以外の物が「異物」である。
図2は、部品実装装置100が備える機構の概要を示す平面図である。
部品実装装置100は、XY方向に移動可能なロボットにより基板20の上方を移動するヘッド108(128)と、コンベアのように基板20を搬送する搬送部114と、基板20の表面に検出された異物を廃棄する廃棄口を形成する廃棄部105(135)とを備える。
ヘッド108およびヘッド128は、本図に示すように基板20を挟んで対面する位置関係で備えられる。ヘッド108およびヘッド128の各々は、同様の構成を備える。
また、撮像手段としての第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)は、ヘッド108(128)の左右にそれぞれ備えられる。第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)は、XY方向に移動可能なロボットによりヘッド108(128)とともに基板20の上方を移動し、基板20の表面を撮像し、撮像した画像を示す情報を出力する。
ここで、図3および図4を参照してヘッド108(128)と第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)とについて詳細に説明する。
図3は、ヘッド108(128)と第2カメラ112(132)と部品フィーダ106(126)と部品リール136とを示す斜視図である。
部品フィーダ106(126)は、部品リール136に保持されている電子部品を順次、自身が有する部品供給部107に繰り出す。
ヘッド108(128)は、電子部品を基板20に実装する実装ノズル109(129)と基板20の表面に検出される異物を除去する除去ノズル110(130)とを備える。
実装ノズル109(129)は、部品供給部107(127)で供給される電子部品を吸着し、基板20上の装着すべき位置まで吸着した部品を搬送し、搬送した部品を基板20に装着するマルチノズルヘッドである。図3に示すように、本実施の形態の実装ノズル109(129)は、8つのノズルを備え、各ノズルには各々に対応する部品供給部107(127)から電子部品が供給される。実装ノズル109(129)は、ヘッド108に対して上下に伸縮可能である。
ここで、「実装」とは、部品供給部で供給される電子部品を吸着し、吸着した電子部品を搬送し、搬送した電子部品を基板に取り付けるという実装ノズル109(129)が実行する一連の動作をいう。
また、「装着」とは、基板に電子部品を取り付ける動作のみをいう。
第2カメラ112(132)は、搬送部114により搬入された基板20の表面を撮像し、撮像した画像を示す画像情報を出力する。本図には、第2カメラ112(132)のみが示される。第1カメラ111(131)は、第2カメラ112(132)に対してヘッド108(128)の反対側に備えられており、本図には示されていない。
除去ノズル110(130)は、後述する部品実装装置100の判定部(152)により基板20の表面にあると判断された異物を除去する。除去ノズル110(130)は、異物を吸着する吸着口を形成する先端部113を有し、先端部113は可撓部材である。
先端部113は、例えばゴムや合成樹脂などの弾性を有する材料で形成される管である。なお、先端部113は蛇腹構造を有し、それにより撓む部材であってもよい。
このように、先端部113を可撓部材とすることにより、吸着口の向きが変わる。そのため、異物の一面を吸着し易くなり、異物を確実に除去することが可能になる。
このような除去ノズル110(130)は、基板20の表面にある異物を吸着し、後述する廃棄部105(135)まで搬送し、廃棄部105(135)に廃棄する。また、除去ノズル110(130)は、ヘッド108に対して上下に伸縮可能である。
また、除去ノズル110(130)が異物を吸着する力は、実装ノズル109(129)が異物を吸着する力よりも強い。基板20上の異物は印刷されたはんだの粘性により取れにくい場合があるが、吸引力を強くすることにより、確実に異物を吸着することが可能になる。また、これにより、吸着した異物を搬送する途中に落下することをより確実に防ぐことが可能になる。
図4は、ヘッド108(128)と、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)と、基板20とを示す正面図である。
本図に示すように、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)は基板20上の同一の箇所を異なる方向から撮像するように傾斜して取り付けられており、第1カメラ111(131)が左側から基板20の表面を撮像し、第2カメラ112(132)は右側から基板20の表面を撮像する。これにより、基板20の表面を3次元的に認識することができる。このような画像情報に基づいて基板表面の異物の有無を判断することにより、判断の精度を向上させることが可能になる。
また、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)から出力される画像情報は、実装ノズル109(129)が基板20上に電子部品を装着するための伸縮および除去ノズル110(130)が基板20上の異物を吸着するための伸縮の制御に利用される。異物は大きさや落下している状態が様々である。このように除去ノズル110(130)の伸縮の制御に、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)から出力される画像情報を利用することにより、異物を確実にかつ適切な強さで異物に接触するように制御することが可能になる。
ここから図2を参照する説明に戻る。
廃棄部105および廃棄部135は、部品が廃棄される廃棄口を形成する部位である。廃棄部105には、除去ノズル110により吸着された異物が廃棄され、廃棄部135には、除去ノズル130により吸着された異物が廃棄される。廃棄部105および廃棄部135は、図2に示すように基板20を挟んでY方向に対面する位置関係に備えられる。廃棄部105および廃棄部135は、同様の構成を有する。
廃棄部105(135)は、部品が供給される部品供給部107の横に配置される。このように配置されることにより、実装ノズル109(129)と除去ノズル110(130)とが一体である場合、除去ノズル110(130)が異物を廃棄した後に、実装ノズル109(129)が電子部品を吸着するために移動する距離が短くなる。したがって、電子部品の実装の効率を向上させることが可能になる。
図5は、部品実装装置100が備える構成を示すブロック図である。
部品実装装置100は、機構部140と、制御部150と、記憶部160と、入力部170と、出力部180と、通信I/F(インターフェース)部190と、内部バス200とを備える。
内部バス200は、機構部140と、制御部150と、記憶部160と、入力部170と、出力部180と、通信I/F部190とを相互に接続する。
機構部140は、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)と、搬送部114と、ヘッド108と、実装ノズル109(129)と、除去ノズル110(130)とを備える。機構部140が備える各部については既に説明したため、ここでの説明は省略する。
記憶部160は、基板20の実装面上に異物があるか否かを判断する基準となる基板20の表面の画像を示す基準情報161を記憶している。
図6は、基準情報161の一例を示す図である。
本図に示すように基準情報161には、基準A162から基準Z165までが含まれ、それぞれは基板の表面に異物があるか否かを装着前に判断すべき時期を示す情報(以下、「検査時期情報」という。)と、その情報により示される時期での標準的な基板の表面の画像を示す画像情報(以下、「基板表面情報」という。)とを含む。
例えば、基準情報161の基準A162は、検査時期情報として「実装前」を含む。また、基準A162は、基板表面情報として部品を実装する前の標準的な基板の表面の画像を3次元で示す情報を含む。
基準情報161の基準B163は、判断部品特定情報として「10番目」を含む。「10番目」という検査時期情報は、部品実装装置100において当該基板に対して10番目の部品が装着された後を示す。また、基準B163は、基板表面情報として10番目の部品が装着された後の標準的な基板の表面の画像を3次元で示す情報を含む。
基準情報161の基準C164は、判断部品特定情報として「12番目」を含む。「12番目」という検査時期情報は、部品実装装置100において当該基板に対して12番目の部品が装着された後を示す。また、基準C164は、基板表面情報として12番目の部品が装着された後の標準的な基板の表面の画像を3次元で示す情報を含む。
基準情報161の基準Z165は、判断部品特定情報として「実装後」を含む。また、基準Z165は、基板表面情報として当該基板に実装される全ての部品が実装された後の標準的な基板の表面の画像を3次元で示す情報を含む。
このように、基板の表面に異物があるか否かを検査する時期は、検査時期情報により予め定められる。例えば、比較的大きな部品を実装する前に、特にその部品が装着される位置にその部品より小さな部品があるか否かを判断するように定められる。これにより、大きな部品が小さな部品を基板との間に挟みこんだ状態ではんだ付けされることを防ぐことができる。このような部品の挟み込みは、部品実装基板の不良の原因であり、しかも外観からは見つけにくい不良である。比較的大きな部品を実装する前に検査することにより、このような不良を未然に防止することができ、生産効率を向上させることが可能になる。
なお、電子部品を基板に装着する度に、基板の表面に異物があるか否かを検査してもよい。これにより、より確実に基板上の異物を除去することができ、歩留まり率の向上を図ることが可能になる。
次に、図5に示す制御部150について説明する。
制御部150は、判定部152と、移動制御部154と、ヘッド・ノズル制御部156とを有する。
判定部152は、記憶部160から基準情報161の検査時期情報を取得し、基板の表面に異物があるか否かを判断する時期であるか否かを判断する。
さらに、判定部152は、基板の表面に異物があるか否かを判断する時期であると判断した場合に、その検査時期情報に対応する基板表面情報を記憶部160の基準情報161から抽出するとともに、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)により撮像された画像を示す画像情報を取得し、基板表面情報と画像情報との差分を算出する。
さらに、判定部152は、算出された差分と予め定められた閾値とを比較し、比較した結果である差分と閾値との違いが許容範囲内であるか否かを比較結果として出力する。
さらに、判定部152は、出力される比較結果が許容範囲内である場合に、基板の表面に異物がないと判断する。また、出力される比較結果が許容範囲を超える場合に、基板の表面に異物があると判断する。
移動制御部154は、部品実装装置100に基板20を搬入し、また部品実装装置100から基板20を搬出する搬送部114を制御する。
ヘッド・ノズル制御部156は、図示しない予め設定される実装に関する情報および第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)から出力される画像情報に基づいて、ヘッド108(128)のXY方向の移動を制御し、実装ノズル109(129)の伸縮および除去ノズル110(130)の伸縮を制御する。
通信I/F部190は、外部の装置と通信するためのインターフェースである。外部の装置には、例えば、印刷装置、リフロー装置、各装置を管理するコンピュータなどが挙げられる。
図7は、部品実装装置100が実行する処理の流れを示すフローチャートである。
移動制御部154は、搬送部114を制御し、基板20を部品実装装置100内に搬入させる(S1)。
部品実装装置100は、搬送部114により搬入された基板20に部品が実装される前の検査処理(以下、「実装前検査処理」という。)を実行する(S2)。
判定部152は、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)から出力される画像情報に基づいて、基板20上に異物があるか否かを判断する(S3)。
異物があると判断された場合に(S3でYes)、判定部152は、さらに、その異物を除去できるか否かを判断する(S4)。
異物を除去できないと判断された場合に(S4でNo)、移動制御部154は、搬送部114を制御し、基板20を部品実装装置100外へ搬出させる(S5)。これにより、当該基板20に対する処理は終了する。
異物を除去できると判断された場合(S4でYes)、ヘッド・ノズル制御部156は、ヘッド108(128)および除去ノズル110(130)を制御し、異物を基板20上から除去させる処理(以下、「除去処理」という。)を実行する(S6)。
部品実装装置100は、除去処理(S6)の後、および、異物がないと判断された場合に(S3でNo)、基板20に対して実装する全ての部品の各々について、以下の処理を繰り返す(S7)。
判定部152は、記憶部160から基準情報161の検査時期情報を取得し、基板20の表面に異物があるか否かを判断する時期であるか否かを判断する(S8)。
検査時期であると判断された場合(S8でYes)、部品実装装置100は、基板20に部品を装着する前の検査処理(以下、「装着前検査処理」という。)を実行する(S9)。
判定部152は、基板20上に異物があるか否かを判断する(S10)。
異物があると判断された場合に(S10でYes)、判定部152は、さらに、その異物を除去できるか否かを判断する(S11)。
異物を除去できないと判断された場合に(S11でNo)、移動制御部154は、搬送部114を制御し、基板20を部品実装装置100から搬出させる(S5)。これにより、当該基板20に対する処理は終了する。
異物を除去できると判断された場合(S11でYes)、ヘッド・ノズル制御部156は、ヘッド108(128)を基板20上の異物の上方に移動させ、除去ノズル110(130)に異物を吸着させる(S12)。
ヘッド・ノズル制御部156は、実装ノズル109(129)により吸着される電子部品を装着すべき装着位置にヘッド108(128)を移動させ、実装ノズル109(129)により吸着される電子部品を装着させる(S13)。
ヘッド・ノズル制御部156は、除去ノズル110(130)に異物が吸着されているか否かを判断する(S14)。
異物が吸着されていると判断された場合に(S14でYes)、ヘッド・ノズル制御部156は、ヘッド108(128)を廃棄部105(135)の上方に移動させ、除去ノズル110(130)が吸着している異物を開放させる(S15)。これにより、異物は廃棄部105(135)により形成される廃棄口に廃棄される。
以上の検査時期判断処理(S8)から異物吸着判断処理(S14)または廃棄処理(S15)までを基板20に対して実装する全ての部品の各々について繰り返す。
判定部152は、基板20に部品を装着した後の検査処理(以下、「実装後検査処理」という。)を実行する(S16)。
判定部152は、基板20の表面に異物があるか否かを判断する(S17)。
異物があると判断された場合に(S17でYes)、判定部152は、さらに、その異物を除去できるか否かを判断する(S18)。
異物を除去できないと判断された場合に(S18でNo)、移動制御部154は、搬送部114を制御し、基板20を部品実装装置100から搬出させる(S5)。これにより、当該基板20に対する処理は終了する。
異物を除去できると判断された場合(S18でYes)、除去ノズル110(130)は、ヘッド・ノズル制御部156の制御の下、異物を基板20上から除去する処理(以下、「除去処理」という。)を実行する(S19)。
判定部152は、基板表面情報と画像情報とを比較することにより、電子部品が装着されるべき位置に装着されていない未装着部品があるか否かを判断する(S20)。
未装着部品があると判断された場合に(S20)、ヘッド・ノズル制御部156は、ヘッド108(128)を未装着の電子部品を供給する部品供給部107(127)に移動させ、実装ノズル109(129)に未装着の電子部品を吸着させ、吸着した未装着の電子部品を実装ノズル109(129)に吸着するヘッド108(128)をその装着位置に移動させ、未装着の部品をその装着位置に装着させる(S21)。
このように、基板20を部品実装装置100から搬出する(S5)前に未装着部品を装着する。これにより、不良でない部品実装基板を搬出することができ、生産効率を向上させることが可能になる。
装着処理(S21)の後、未装着部品がないと判断された場合(S20でNo)および異物がないと判断された場合(S17)、移動制御部154は、搬送部114を制御し、基板20を部品実装装置100から搬出させる(S5)。これにより、当該基板20に対する処理を終了する。
図8は、実装前検査処理(S2)の詳細を示すフローチャートである。
第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)は、搬送部114により搬入された基板20の表面を撮像し、撮像した画像を示す画像情報を出力する(S31)。
判定部152は、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)から画像情報を取得する(S32)。
判定部152は、実装前検査処理(S2)での検査時期情報である「実装前」に対応する基準情報161の基準A162に含まれる基板表面情報を取得する(S33)。
判定部152は、画像情報と基準A162に含まれる基板表面情報との差分を算出し、算出された差分と予め定められた閾値とを比較し、比較した結果である差分と閾値との違いが許容範囲内であるか否かを比較結果として出力する(S34)。
このように、電子部品の実装前に、基板上に異物があるか否かを検査する処理を実行する。実装前に基板上に付着する異物には、例えば、基板そのものの製造工程で基板端部の処理で発生するマイクロダスト、生産ライン内部に外部から入り込んだ物などがある。この検査処理により、上記のように実装前の基板上に異物があるか否かを判断することができ、異物がある場合にはそれを除去することが可能になる。
図9は、装着前検査処理(S9)の詳細を示すフローチャートである。
第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)は、搬送部114により搬入された基板20の表面を撮像し、撮像した画像を示す画像情報を出力する(S41)。
判定部152は、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)から画像情報を取得する(S42)。
判定部152は、検査時期判断処理(S8)での判断された検査時期情報に対応する基準情報161の基板表面情報を取得する。例えば、検査時期判断処理(S8)での検査時期情報が「10番目」である場合、基準情報161の基準B163に含まれる基板表面情報を取得する(S43)。
判定部152は、画像情報と基準B163に含まれる基板表面情報との差分を算出し、算出された差分と予め定められた閾値とを比較し、比較した結果である差分と閾値との違いが許容範囲内であるか否かを比較結果として出力する(S44)。
このように、予め定められた電子部品の装着前に、基板上に異物があるか否かを検査する処理を実行する。電子部品の装着中に基板上に付着する異物には、例えば、検査前に装着するために搬送する途中に基板上に落下した電子部品などがある。この検査処理により、上記のように実装前の基板上に異物があるか否かを判断することができ、異物がある場合にはそれを除去することが可能になる。
特に、上記のように、異物としての小さな部品を挟み込んで大きな部品が装着され、部品実装基板が生産されるとその後の外観検査では不良が発見され難い。部品実装基板が家電製品などの最終製品に組み込まれて、最終製品の機能検査の時に検出される機能不良が部品実装基板での小さな電子部品の挟み込みであるという場合もある。これは生産工程の大きな無駄を生じさせるが、実装途中に異物を検査することにより、後述する実装後検査処理(S16)では検出することが困難な異物を確実に検出することが可能になり、その基板を確実に良品に復旧することが可能になる。
図10は、実装後検査処理(S16)の詳細を示すフローチャートである。
第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)は、搬送部114により搬入された基板20の表面を撮像し、撮像した画像を示す画像情報を出力する(S51)。
判定部152は、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)から画像情報を取得する(S52)。
判定部152は、実装後検査処理(S16)での検査時期情報である「実装後」に対応する基準情報161の基準Z165に含まれる基板表面情報を取得する(S53)。
判定部152は、画像情報と基準Z165に含まれる基板表面情報との差分を算出し、算出された差分と予め定められた閾値とを比較し、比較した結果である差分と閾値との違いが許容範囲内であるか否かを比較結果として出力する(S54)。
このように、電子部品の実装後に、基板上に異物があるか否かを検査する処理を実行する。実装後に基板上に付着する異物には、例えば、部品実装中に基板上に落下した電子部品などがある。この検査処理により、上記のように実装後の基板上に異物があるか否かを判断することができ、異物がある場合にはそれを除去することが可能になる。
また、電子部品の実装後とは、すなわちリフロー装置によるはんだ付けの前である。電子部品がはんだ付けされると電子部品を基板から取り外すには、はんだを溶かすために手間がかかる。基板の不良の原因となる異物は、はんだ付けの前に除去する方がはんだ付けの後に除去するよりも効率的である。したがって、電子部品の実装後の検査により、基板から不良の原因を容易に取り除き良品に復旧することが可能になる。
図11は、除去処理(S6およびS19)の詳細を示すフローチャートである。
ヘッド・ノズル制御部156は、ヘッド108(128)を基板20上の異物の上方まで移動させ、除去ノズル110(130)に異物を吸着させる(S61)。
ヘッド・ノズル制御部156は、除去ノズル110(130)に異物を吸着するヘッド108(128)を廃棄部105(135)に移動させる(S62)。
ヘッド・ノズル制御部156は、吸着した異物を除去ノズル110(130)に開放させる(S63)。具体的には、ヘッド・ノズル制御部156は、除去ノズル110(130)による異物の吸引を停止させる。これにより、異物は廃棄口に廃棄される。
なお、ヘッド・ノズル制御部156は、異物を廃棄する時に、除去ノズル110(130)から気体を吐出させてもよい。これにより、確実に除去ノズル110(130)から異物を離脱させることが可能になる。
このように、基板の表面に検出された異物を除去する。これにより、その基板を良品に復旧することが可能になる。
次に、部品実装装置100が基板20の表面を検査し、基板20上に異物がある場合にそれを除去する方法について、図を参照して具体的な例で説明する。
図12から図14までを参照して、部品実装中に基板20の表面を検査(S9)し、装着位置に検出された異物を吸着し(S12)、部品装着位置に電子部品を装着する(S13)時の基板20に対するヘッド108の動作について説明する。
図12は、10番目の電子部品までが装着された基板20の表面を示す図である。
本図は、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)により、撮像された画像情報が示す画像の一例である。すなわち、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)は、本図に示す画像を含む画像情報を出力する(S41)。
本図に示す基板20では、第1装着位置204に取り付けられるべき第1電子部品202が、次に取り付けられる電子部品である第2電子部品(208)の装着位置(以下、「第2装着位置」という。)206の内部に落下している。
判定部152は、本図に示す画像を含む画像情報を取得し(S42)、続けて、検査時期判断処理(S8)での検査時期情報が「10番目」であるため、基準情報161の基準B163に含まれる基板表面情報を取得する(S43)。さらに、判定部152は、画像情報と基準B163に含まれる基板表面情報との比較結果を出力する(S44)。
図13は、除去ノズル110が基板20上の異物としての第1電子部品202を吸着する様子を示す図である。
本図は異物吸着処理(S12)の一例を示す図である。本図は、図12に示す基板20の表面を含む画像情報に基づいて、基板20上に異物としての第1電子部品202があると判断され(S10でYes)、また、第1電子部品202を除去できる(S11でYes)と判断された場合の異物吸着処理(S12)である。
本図に示すように、ヘッド・ノズル制御部156は、除去ノズル110の先端部113を基板20がある鉛直下方に伸ばし、第1電子部品202を吸着する(S12)。
図14は、除去ノズル110が基板20上の異物としての第1電子部品202を吸着し、第2電子部品208を装着する様子を示す図である。
本図に示すように、ヘッド・ノズル制御部156は、異物としての第1電子部品202を除去ノズル110に吸着した状態でヘッド108を移動させ、実装ノズル109に吸着している第2電子部品208を基板20に装着させる(S13)。
その後に、図示しないが、ヘッド・ノズル制御部156は、ヘッド108および除去ノズル110を制御し、除去ノズル110に吸着される異物としての第1電子部品202を廃棄口に廃棄させる(S15)。
このように、部品実装中に異物が検出された場合、部品実装装置100は、異物を吸着し(S12)、部品を装着し(S13)、異物を廃棄する(S15)。すなわち、除去ノズル110(130)に異物を吸着した(S12)後に、直ちにそれを廃棄するのではなく、実装ノズル109(129)に吸着している電子部品を基板に装着し(S13)その後に異物を廃棄する(S15)。これにより、実装ノズル109(129)と除去ノズル110(130)とを一体で備えるヘッド108(128)の移動距離を増やすことなく、異物の吸着および廃棄という除去処理を実行することが可能になる。
図15および図16は、基板20上に傾いた状態である異物の例を示す図であり、図17から図19までは、傾いた状態である異物を吸着する除去ノズル110の動作を示す図である。
図15は、基板20の表面に傾いて落下している異物の例を示す図である。
異物としての第3電子部品220は、基板20に正しく装着された第4電子部品222の上に一部が重なるように落下している。図16は、図15に示す基板20を矢印方向から見た正面図である。
図17は、除去ノズル110の先端部113が異物としての第3電子部品220に接近する様子を示す図である。
異物としての第3電子部品220が基板20上にあると判断され(S10でYes)、その異物が除去できると判断された場合(S11でYes)、ヘッド・ノズル制御部156は、ヘッド108の除去ノズル110を異物としての第3電子部品220の上方にまで移動させる。
さらに、ヘッド・ノズル制御部156は、除去ノズル110の先端部113を鉛直下方に伸ばす。
図18は、除去ノズル110の先端部113の一端が異物としての第3電子部品220に接触した状態を示す図である。
除去ノズル110の先端部113は、本図に示すように、ヘッド・ノズル制御部156の制御の下、鉛直下方に伸びることにより、その一端が異物としての第3電子部品220に接触する。
図19は、除去ノズル110の先端部113により形成される吸引口が異物としての第3電子部品220に密着した状態を示す図である。
図18に示す状態からさらにヘッド・ノズル制御部156は、除去ノズル110の先端部113を鉛直下方に伸ばす。先端部113は可撓部材であるため、先端部113を伸ばすことによる押し下げる力と、吸引口から気体を吸引する力とにより、自身により形成される吸引口に異物の一面が密着するように向きが変わる。そのため、先端部113を鉛直下方に伸ばすことによって、本図に示すように、先端部113により形成される吸引口は、異物としての第3電子部品220の一面に完全に密着する。
また、先端部113は、異物を吸着した後に鉛直上方に縮めることにより、通常の状態である直線状態に戻る。このとき、先端部113を形成する部材が有する弾性や、先端部113は自重や吸着する異物の重量により直線状態に戻る。
このように、先端部113が可撓部材であることにより、除去ノズル110の先端部113を鉛直下方に伸ばすだけで、先端部113により形成される吸引口が傾いている異物の一面に密着する。そのため、傾いている異物であっても、確実に吸引することができる。したがって、不良な基板20を確実に復旧し、歩留まり率を向上させることが可能になる。
以上、本発明の実施の形態に係る部品実装装置100について説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。
例えば、ヘッド108(128)は、実施の形態では一列のマルチノズルを備えるとしたが、ロータリータイプのマルチノズルを備えてもよい。
また例えば、除去ノズルは、先端部により形成される吸引口に異物を吸着するとしたが、異物よりも大きい径を有する吸い込み口によって異物を完全に吸い込んでもよい。この場合、異物を廃棄するための廃棄部は不要になり、部品実装装置の構成を簡素化することが可能になる。
さらに例えば、除去手段として除去ノズルを備えることとしたが、除去手段はこれに限られず、例えば、図20に示すように、ヘッド108は除去手段としてのチャック110aを備えてもよい。チャック110aは基板20上に検出された異物を挟んで保持する。
さらに例えば、異物の除去を部品実装前に実行する専用機や部品実装後に実行する専用機を備えてもよい。
また、実施例の除去ノズルの代わりに、部品を吸着していない実装ノズルを用いて、認識した異物を除去してもよい。このような場合には、実装ノズルの吸着力が少なく、傾いている異物を除去することが難しい場合には、前記実装ノズルの吸着力を、吸着圧を増加させることで増やしてものよい。これにより、前記異物を確実に除去することが可能になる。
図21は、部品実装前および部品実装後に異物を除去する専用機を備える部品実装装置100aの構成例を示す平面図である。
本図に示す部品実装装置100aは、基板上にはんだを印刷する印刷装置300と、電子部品が実装された基板を加熱してはんだ付けするはんだ付け装置としてのリフロー装置302とにより部品実装基板の生産ラインを構成する装置である。
搬送部114aは、印刷装置300と、部品実装装置100aと、リフロー装置302とに順に基板を搬送する。
部品実装装置100aは、実装前に異物を除去する第1専用機303と、電子部品の実装と実装中に異物の検査・除去を実行する部品実装機304と、実装後に検査・除去する第2専用機305とを備える。
第1専用機303は、部品実装前に異物を除去する専用機であり、印刷装置300から基板(図示しない)が搬送部114aにより搬入される。第1専用機303は、除去手段としての吐出部306および吸引部307を有する。
吐出部306は空気などの気体を吐き出す。吸引部307は吐出部306から吐き出された気体とそれに巻き込まれる異物を吸い込む。
このように、吐出部306および吸引部307を有することにより、基板20上に気体を拭き付け、その風圧により異物を除去することができる。はんだが印刷された基板には、基板の生産工程の仕上げである端部の面取りなどで発生する粉塵(マイクロダスト)が異物として付着している場合がある。風圧で異物を除去することにより、このような細かい多数の異物を容易に基板上から除去することが可能になる。
部品実装機304は、電子部品を実装し、実装中に異物の有無を検査し、異物がある場合にそれを除去する。部品実装機304は、ヘッド108a(128a)と、第1カメラ111a(131a)および第2カメラ112a(132a)と、廃棄部105a(135a)とを備えており、実施の形態の部品実装装置100が備えるヘッド108(128)と、第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)と、廃棄部105(135)とそれぞれ同様の機能を有するため、ここでの説明は省略する。
第2専用機305は、部品実装後に異物を除去する専用機であり、リフロー装置302へ基板(図示しない)が搬送部114aにより搬出される。
第2専用機305は、除去ノズルのみを備えるヘッド108bと、第1カメラ111bおよび第2カメラ112bと、廃棄部105bとを備える。
第1カメラ111bおよび第2カメラ112bは、実施の形態の部品実装装置100が備える第1カメラ111および第2カメラ112と同様であるため、ここでの説明は省略する。
廃棄部105bは、実施の形態の部品実装装置100が備える廃棄部105と同様であるため、ここでの説明は省略する。
ヘッド108bは、除去ノズルのみを有しており、第1カメラ111bおよび第2カメラ112bから出力される画像に基づいて、基板上に異物があると判断された場合にそれを吸着し、搬送し、廃棄部105bに廃棄する。
このような第1専用機または第2専用機を任意に組み合わせて備えることにより、検査および除去を素早く処理することが可能になり、部品実装装置100aのスループットを上げることが可能になり、生産効率を向上させることが可能になる。
さらに例えば、検査時期情報は部品の大きさを示す情報であってもよい。この場合、判定部は次に装着する部品の大きさと検査時期情報に含まれる情報が示す部品の大きさとを比較し、次に装着する部品の大きさの方が検査時期情報に含まれる情報が示す部品より大きい場合に、次に部品を装着する前が検査時期であると判断する。
これにより、検査時期情報として全ての部品を登録されなくても、部品の大きさを示す情報を登録するだけで自動的に検査される。したがって、検査時期の登録という設定の手間を省くことが可能になる。
さらに例えば、実施の形態では、基板の実装面上に異物があるか否かを検査し、異物が検出された場合にそれを除去することとしたが、電子部品を実装した直後に、ヘッド108(128)に備えられた第1カメラ111(131)および第2カメラ112(132)により、実装した電子部品含む基板の実装面を撮像し、撮像した画像を示す画像情報に基づいて、正しく実装されているか否かを判定してもよい。部品実装装置は、さらに、正しく実装されていないと判定された場合に、その電子部品を除去ノズル110(130)により除去し、除去した後に再度、実装ノズル109(129)により電子部品を実装してもよい。
この場合、記憶部160は、基準情報161に加えて、基板20の実装面上に電子部品が正しく装着されているか否かを判断する基準となる実装基準情報を記憶している。実装基準情報には、予め定められた一部または全部の電子部品が実装された基板20の実装面の画像を示す情報である。
このように、電子部品の実装の不良を修復する。これにより、部品実装装置100に搬入された基板20の数量に対する不良でない部品実装基板の生産枚数の割合を向上させることができる。したがって、生産効率を向上させることが可能になる。
さらに例えば、実施の形態では、基板の実装面上に異物があるか否かを検査し、異物が検出された場合にそれを除去することとしたが、吸着した部品を基板上に実装する前に、当該部品の実装位置のはんだの印刷状態を検査し、はんだが正しく印刷されているか否かを判断してもよい。部品実装装置は、さらに、正しく印刷されていないと判断された場合に、さらに、塗布量が少ないか否かを判断し、塗布量が少ない場合には、ヘッド108(128)にさらに備えられる塗布部により、部品を実装する前に、正常な状態になるように、はんだを塗布してもよい。
この場合、記憶部160は、基準情報161に加えて、基板20の実装面上にはんだが正しく印刷されているか否かを判断する基準となる印刷基準情報を記憶している。印刷基準情報には、予め定められたようにはんだが印刷された基板20の実装面の画像を示す情報である。
このように、はんだの印刷の不良を修復する。これにより、部品実装装置100に搬入された基板20の数量に対する不良でない部品実装基板の生産枚数の割合を向上させることができる。したがって、生産効率を向上させることが可能になる。
さらに例えば、実施の形態では、第1カメラ111(131)と第2カメラ112(132)とを使用して、実装面を三次元的に認識するとしたが、従来行われているように1台のカメラによって平面的な撮像を行ってもよい。
本発明は、部品実装装置等に適用できる。
部品実装機の外観を示す斜視図である。 部品実装装置が備える機構の概要を示す平面図である。 ヘッドと第2カメラと部品フィーダ、部品リールとを示す斜視図である。 ヘッドと、第1カメラおよび第2カメラと、基板とを示す正面図である。 部品実装装置が備える構成を示すブロック図である。 基準情報の一例を示す図である。 部品実装装置が実行する処理の流れを示すフローチャートである。 実装前検査処理の詳細を示すフローチャートである。 装着前検査処理の詳細を示すフローチャートである。 実装後検査処理の詳細を示すフローチャートである。 除去処理の詳細を示すフローチャートである。 10番目の電子部品までが装着された基板の表面を示す図である。 除去ノズルが基板上の異物としての第1電子部品を吸着する様子を示す図である。 除去ノズルが基板上の異物としての第1電子部品を吸着し、第2電子部品を装着する様子を示す図である。 基板の表面に傾いて落下している異物の例を示す図である。 図15に示す基板を矢印方向から見た正面図である。 除去ノズルの先端部が異物としての第3電子部品に接近する様子を示す図である。 除去ノズルの先端部の一端が異物としての第3電子部品に接触した状態を示す図である。 除去ノズルの先端部により形成される吸引口が異物としての第3電子部品に密着した状態を示す図である。 除去手段の他の例を示す図である。 部品実装前および部品実装後に異物を除去する専用機を備える部品実装装置の構成例を示す平面図である。
符号の説明
20 基板
100 部品実装装置
105、135 廃棄部
106、126 フィーダ
107、127 部品供給部
108、128 ヘッド
109、129 実装ノズル
110、130 除去ノズル
111、112、131、132 カメラ
140 機構部
150 制御部
152 判定部
154 移動制御部
156 ヘッド・ノズル制御部
160 記憶部
170 入力部
180 出力部
190 通信I/F部
200 内部バス

Claims (10)

  1. 搬入された基板に部品を実装し、部品が実装された基板を搬出する部品実装装置であって、
    前記搬入された基板の実装面を撮像し、撮像した画像を示す画像情報を出力する撮像手段と、
    前記撮像手段から出力される画像情報に基づいて、前記実装面上に異物があるか否かを判定する判定手段と、
    前記判定手段により前記実装面上に前記異物があると判定された場合に、当該基板が搬出されるまでに前記異物を当該実装面上から除去する除去手段とを備える
    ことを特徴とする部品実装装置。
  2. 前記除去手段は、
    前記異物を吸い込む口を形成する先端部を有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の部品実装装置。
  3. 前記除去手段は、
    前記異物を吸着する吸着口を形成する先端部を有し、
    前記先端部は可撓部材である
    ことを特徴とする請求項1に記載の部品実装装置。
  4. 前記除去手段は、
    前記基板の方向に気体を吐き出す吐出部と、
    前記吐出部から吐き出された前記気体を吸い込む吸引部とを有する
    ことを特徴とする請求項1に記載の部品実装装置。
  5. 前記除去手段は、前記部品を基板に実装するノズルである
    ことを特徴とする請求項1に記載の部品実装装置。
  6. 前記撮像手段は、前記部品を基板に実装する実装ノズルの両側のそれぞれに配置される
    ことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の部品実装装置。
  7. 部品を吸着し、吸着した部品を搬送し、搬入された基板に搬送した部品を装着し、部品が装着された基板を搬出する部品実装方法であって、
    前記基板上に第1部品が装着された後に、前記第1部品の次に装着される第2部品の大きさが閾値以上であるか否かを判定する部品サイズ判定ステップと、
    前記部品サイズ判定ステップにおいて前記第2部品の大きさが閾値以上であると判定された場合に、前記第2部品が装着される前記基板上の部分である装着部分を撮像し、撮像した画像を示す画像情報を出力する撮像ステップと、
    前記撮像ステップにおいて出力された前記画像情報に基づいて、異物が前記装着部分にあるか否かを判定する判定ステップと、
    前記判定ステップにおいて前記装着部分に前記異物があると判定された場合に、前記第2部品が装着されるまでに前記異物を除去する除去ステップとを含む
    ことを特徴とする部品実装方法。
  8. 部品を吸着し、吸着した部品を搬送し、搬入された基板に搬送した部品を装着し、部品が装着された基板を搬出する部品実装方法であって、
    前記吸着した部品を実装する前に、当該部品を実装する基板の実装面を撮像し、
    撮像した画像を示す画像情報に基づいて前記実装面に異物があるか否かを判断し、
    前記実装面上に異物があると判断された場合に、前記異物を除去し、その後に当該部品を基板上に装着する
    ことを特徴とする部品実装方法。
  9. はんだを基板上に印刷する印刷装置と、
    はんだが印刷された前記基板の実装面に部品を実装する部品実装装置と、
    前記部品が実装された基板を加熱してはんだ付けするはんだ付け装置とで構成される部品実装基板の生産ラインであって、
    前記部品実装装置は、
    請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の部品実装装置である
    ことを特徴とする部品実装基板の生産ライン。
  10. はんだを基板上に印刷する印刷装置と、
    部品を前記基板の実装面に実装する実装装置と、
    前記部品を実装した基板を加熱してはんだ付けするはんだ付け装置とから構成される部品実装基板の生産ラインであって、
    前記部品実装装置は、
    前記印刷装置から前記基板が搬入され、搬入された前記基板の実装面上の異物を除去する第1の異物除去機と、
    部品が実装された部品実装基板上を撮像し、撮像した画像を示す画像情報に基づいて、前記部品実装基板上に異物があるか否かを判定し、前記部品実装基板上に前記異物があると判定された場合に、当該部品実装基板が搬出されるまでに前記異物を当該部品実装基板上から除去する除去手段とを有する第2の異物除去機との少なくとも一方を有する
    ことを特徴とする部品実装基板の生産ライン。
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