JP2008506749A - オキシム誘導体および潜在酸としてのそれらの使用 - Google Patents

オキシム誘導体および潜在酸としてのそれらの使用 Download PDF

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Abstract

本発明は、式(I、IIまたはIII)の新規な光酸発生剤化合物であり、ここで、R1は、例えばC1〜C18アルキルスルホニルまたはフェニルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり、すべては、場合により置換されているか、あるいはR1は、基(a,bまたはc)であり;X1、X2およびX3は、互いに独立に、OまたはSであり;R’1は、例えば、フェニレンジスルホニル、ナフチレンジスルホニル、ジフェニレンジスルホニルまたはオキシジフェニレンジスルホニルであり、すべては、場合により置換されているか;R2は、ハロゲンまたはC1〜C10ハロアルキルであり;Xは、ハロゲンであり;Ar1はヘテロアリーレンであり、例えば、ビフェニリルまたはフルオレニルであり、あるいは置換ナフチルであり;Ar’1は、場合により置換されており;R8、R9、R10およびR11は、例えば、非置換またはハロゲンで置換されているC1〜C6アルキルであるか;あるいはR8、R9およびR10は、非置換またはC1〜C4アルキルもしくはハロゲンで置換されているフェニルであるか;あるいはR10およびR11は一緒に、非置換またはC1〜C4アルキルもしくはハロゲンで置換されている1,2−フェニレンまたはC2〜C6アルキレンである。

Description

本発明は、新規なオキシム誘導体、その化合物を含む化学増幅されたフォトレジスト組成物および化学線作用性電磁波および電子ビームでの照射により活性化されうる潜在酸としてのその化合物の使用に関する。
US4540598には、感光性オキシムスルホネート化合物、例えば、4−クロロ−α−トリフルオロアセトフェノンオキシムベンゼンスルホネートおよび慣用の酸硬化性樹脂を含む表面コーティング組成物が開示されている。US4736055には、ポジティブフォトレジストにおいて樹脂として使用することができるポリマーの製造用の成分として、2,2,2−トリフルオロ−1−フェニル−エタノンオキシム−O−(4−ヒドロキシフエニルスルホネート)が記載されている。US5627011およびUS5759740には、340〜390nmの波長用の化学的に増幅されたポジティブおよびネガティブフォトレジスト、特に水銀i線(365nm)の放射領域のものにおける潜在酸触媒としてのα−(4−トルエン−スルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアン化物およびα−(4−トルエン−スルホニルオキシイミノ)−3−チエニルメチルシアン化物の使用が記載されている。GB2306958には、180〜600nmの波長用のポジティブおよびネガティブフォトレジスト、特に390nmを超える放射領域のものにおける潜在酸供与剤としてのオキシム−スルホネートの使用が報告されている。US5714625には、非芳香族α−(アルキルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリルおよびα−(アルキルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリルが開示されている。EP241423では、オキシムスルホネート化合物が、非化学的に増幅されたポジティブレジストにおける光潜在酸発生剤として約25%の濃度で使用されている。Chemical Abstracts No.97:144503, 78: 97752, Synthesis (1995), 553には、いくつかのフルオロケトキシムスルホネート化合物が合成研究のための実験生成物として記載されている。US6261738およびWO02/025376には、オキシムスルホネート化合物が、遠紫外領域での応用に特に好適であるポジティブおよびネガティブフォトレジストにおける潜在酸供与剤として記載されている。US4566901には、1−(4−クロロフェニル)−1−トリクロロメチルスルホニルオキシイミノ−2,2,2−トリフルオロエタン、1−フェニル−1−トリクロロメチルスルホニルオキシイミノ−2,2,2−トリフルオロエタン、1−(4−クロロフェニル)−1−トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ−2,2,2−トリフルオロエタンおよび1−(4−クロロフェニル)−1−クロロメチルスルホニルオキシイミノ−2,2,2−トリフルオロエタンが、栽培植物を攻撃的除草剤の植物毒性作用から保護するための解毒剤として記載されている。J. Chem. Soc. Perkin Trans I (1989), 1172-74には、フルオロケトキシムスルホネート化合物が、ジアジリジンの前駆体として記載されている。
当該技術分野では、熱的および化学的に安定でありそして光、紫外線、X線照射または電子ビームにより活性化された後、種々の酸触媒反応、例えば、重縮合反応、酸触媒解重合反応、酸触媒求電子置換反応または保護基の酸触媒除去のための触媒として使用することができる反応性非イオン性潜在酸供与剤に対するニーズが存在する。遠紫外領域のみならず、i線(365nm)のようなより長波長において高い安定性と高い感度を有する潜在酸触媒に対する特別のニーズが存在する。
驚くべきことに、以下に記載する特定のオキシム誘導体は、安定でありそして遠紫外領域のみならず、i線に対しても高度に活性であることが今や見出された。本発明におけるオキシム誘導体は、化学増幅されたフォトレジスト用途における上記の酸触媒反応用の触媒として特に適切である。さらに、本発明のオキシム誘導体を含む化学増幅されたフォトレジスト組成物は、加工中の高いベーク温度ですら熱的に安定であり、そして高いフォト速度(photospeed)を与える。
式I、IIまたはIII:
Figure 2008506749

〔式中、
1は、C1〜C18アルキルスルホニルまたはフェニルスルホニルであり;その双方は、1個以上のC1〜C18アルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで場合により置換されているか;またはNO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;
あるいはR1は、カンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり、ここで、そのカンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルは、1個以上のC1〜C18アルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで場合により置換されているか;またはハロゲン、C1〜C10ハロアルキル、NO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;
あるいはR1は、基
Figure 2008506749

であり;
1、X2およびX3は、互いに独立に、OまたはSであり;
R’1は、フェニレンジスルホニル、ナフチレンジスルホニル、
Figure 2008506749

、ジフェニレンジスルホニルまたはオキシジフェニレンジスルホニルであり、ここでこれらの基は、非置換またはC1〜C12アルキルで置換されており;あるいはR’1は、C1〜C12アルキレンジスルホニルであり;
2は、ハロゲンまたはC1〜C10ハロアルキルであり;
Xは、ハロゲンであり;
Ar1は、フルオレニルであり;それは、1個以上のC1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)、もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで場合により置換されているか;またはハロゲン、NO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;場合により、その置換基(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、−NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27は、基R3、R4、R5、R6および/またはR7を介して、フルオレニル環上のさらなる置換基と共にまたはフルオレニル環の炭素原子の一つと共に、5−、6−または7−員環を形成し;あるいは場合により、その置換基C1〜C18アルキルは、フルオレニル環の一つの炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、場合によりさらなるフェニル環と縮合しており;
あるいはAr1は、ビフェニリルまたはナフチルであり、双方は、1個以上のC1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで置換されているか;またはハロゲン、NO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており、場合により、その置換基(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27、および/またはOSO27は、基R3、R4、R5、R6および/またはR7を介して、ビフェニリルまたはナフチル環上のさらなる置換基と共にまたはビフェニリルまたはナフチル環の炭素原子の一つと共に、5−、6−または7−員環を形成し;あるいは場合により、その置換基C1〜C18アルキルは、ビフェニリルまたはナフチル環の一つの炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、さらなるフェニル環と場合により縮合しており;
ここで、すべての基Ar1は、場合によりさらに、酸の作用により切断される−O−C−結合または−O−Si−結合を有する基で置換されており;
Ar’1は、ヘテロアリーレンであり;それは、非置換あるいは1個以上のC1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;
ここで、すべての基Ar’1は、場合によりさらに、酸の作用により切断される−O−C−結合または−O−Si−結合を有する基で置換されており;
3は、フェニル、ナフチル、C3〜C30シクロアルキル、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、C2〜C18アルケニル、C4〜C30シクロアルケニルであるか;または1個以上のOで中断されているC2〜C18アルキルであるか;または1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルであるか;あるいはR3は、C2〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり;
そのすべては、1個以上のAr2、OH、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、C1〜C18アルコキシ、フェノキシ、フェノキシカルボニル、フェニルチオ、フェニルチオカルボニル、NR45、C1〜C12アルキルチオ、C2〜C18アルコキシカルボニル、C2〜C10ハロアルカノイル、ハロベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、(4−メチルフェニル)スルホニル、C1〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C2〜C18アルカノイル、C2〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルおよび/またはベンゾイルオキシで場合により置換されており;
あるいはR3は、水素であり;
4およびR5は、互いに独立に、フェニル、ナフチル、C3〜C30シクロアルキル、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、C2〜C12アルケニル、C4〜C30シクロアルケニルであり;または1個以上のOで中断されているC2〜C18アルキルであり;または1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルであり;またはC2〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり;
そのすべては、1個以上のAr2、OH、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、C1〜C18アルコキシ、フェノキシ、フェノキシカルボニル、フェニルチオ、フェニルチオカルボニル、NR45、C1〜C12アルキルチオ、C2〜C18アルコキシカルボニル、C2〜C10ハロアルカノイル、ハロベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、(4−メチルフェニル)スルホニル、C1〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C2〜C18アルカノイル、C2〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルおよび/またはベンゾイルオキシで場合により置換されており;
あるいは、R4およびR5は、互いに独立に、水素であり;
あるいは、R4およびR5は、それらが結合している窒素原子と一緒になって、場合により1個以上のO、NR6もしくはCOで中断されている5−、6−または7−員環を形成し;
6は、フェニル、ナフチル、C3〜C30シクロアルキル、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、C2〜C12アルケニル、C4〜C30シクロアルケニルであり;または1個以上のOで中断されているC2〜C18アルキルであり;または1個以上のO、S、NR6、O(CO)、もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルであり;またはC2〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり;
そのすべては、1個以上のAr2、OH、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、C1〜C18アルコキシ、フェノキシ、フェノキシカルボニル、フェニルチオ、フェニルチオカルボニル、NR45、C1〜C12アルキルチオ、C2〜C18アルコキシカルボニル、C2〜C10ハロアルカノイル、ハロベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、(4−メチルフェニル)スルホニル、C1〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C2〜C18アルカノイル、C2〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルおよび/またはベンゾイルオキシで場合により置換されており;
あるいは、R6は水素であり;
7は、フェニル、ナフチル、C3〜C30シクロアルキル、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、C2〜C12アルケニル、C4〜C30シクロアルケニルであり;または1個以上のOで中断されているC2〜C18アルキルであり;または1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルであり;
そのすべては、1個以上のAr2、OH、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、C1〜C18アルコキシ、フェノキシ、フェノキシカルボニル、フェニルチオ、フェニルチオカルボニル、NR45、C1〜C12アルキルチオ、C2〜C18アルコキシカルボニル、C2〜C10ハロアルカノイル、ハロベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、(4−メチルフェニル)スルホニル、C1〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C2〜C18アルカノイル、C2〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルおよび/またはベンゾイルオキシで場合により置換されており;
あるいは、R7は水素であり;
Ar2は、フェニル、ナフチル、アントラシル、フェナントリルまたはヘテロアリールであり;そのすべては、1個以上のC1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで場合により置換されており;またはハロゲン、NO2、CN、フェニル、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で場合により置換されており、その置換基(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27は、場合により、基R3、R4、R5、R6および/またはR7を介して、フェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントラシル、フェナントリル、ヘテロアリールもしくはフルオレニル環上のさらなる置換基と共に、またはフェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントラシル、フェナントリル、ヘテロアリールもしくはフルオレニル環の炭素原子の1つと共に、5−、6−または7−員環を形成し;あるいは場合により、置換基C1〜C18アルキルは、フェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントラシル、フェナントリル、ヘテロアリールもしくはフルオレニル環の1個の炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、さらなるフェニル環と場合により縮合しており;
8、R9、R10およびR11は、互いに独立に、非置換またはハロゲンで置換されているC1〜C6アルキルであるか;あるいはR8、R9およびR10は、非置換またはC1〜C4アルキルもしくはハロゲンで置換されているフェニルであるか;あるいはR10およびR11は一緒に、非置換またはC1〜C4アルキルもしくはハロゲンで置換されている1,2−フェニレンまたはC2〜C6アルキレンである〕
の化合物である。
式I、IIまたはIIIの化合物は、それらが、オキシム部分に隣接したハロアルキル基およびビフェニリル、ナフチル、フルオレニルまたはヘテロアリーレン基を含有することを特徴とする。
1〜C18アルキルは、直鎖状または分岐状であり、そして、例えば、C1〜C16−、C1〜C12−、C1〜C8−、C1〜C6−またはC1〜C4−アルキルである。例は、メチル、エチル、プロピル、イソプロピル、n−ブチル、sec−ブチル、イソブチル、tert−ブチル、ペンチル、ヘキシル、ヘプチル、2,4,4−トリメチルペンチル、2−エチルヘキシル、オクチル、ノニル、デシル、ウンデシル、ドデシル、テトラデシル、ペンタデシル、ヘキサデシル、ヘプタデシルおよびオクタデシル、好ましくは、C1〜C4アルキル、例えば、メチル、イソプロピルまたはブチルである。
1個以上のOにより中断されているC2〜C18アルキルは、非連続的Oにより、例えば、1〜5回、例えば1〜3回または1回もしくは2回中断されている。したがって、得られる構造単位は、例えば、−O(CH22OH、−O(CH22OCH3、−O(CH2CH2O)2CH2CH3、−CH2−O−CH3、−CH2CH2−O−CH2CH3、−[CH2CH2O]yCH3(式中、y=1〜5)、−(CH2CH2O)5CH2CH3、−CH2−CH(CH3)−O−CH2−CH2CH3または−CH2CH(CH3)−O−CH2−CH3である。
3〜C30シクロアルキルは、単環式もしくは多環式脂肪族環、例えば、単環式、二環式もしくは三環式脂肪族環、例えば、C3〜C20−、C3〜C18−、C3〜C12−、C3〜C10−シクロアルキルである。単環式環の例は、シクロプロピル、シクロブチル、シクロペンチル、シクロヘキシル、またはシクロヘプチル、特にシクロペンチルおよびシクロヘキシルである。多環式環の例は、ペルヒドロアントラシル、ペルヒドロフェニアスリル、ペルヒドロナフチル、ペルヒドロフルオレニル、ペルヒドロクリセニル、ペルヒドロピセニル、アダマンチル、ビシクロ[1.1.1]ペンチル、ビシクロ[4.2.2]デシル、ビシクロ[2.2.2]オクチル、ビシクロ[3.3.2]デシル、ビシクロ[4.3.2]ウンデシル、ビシクロ[4.3.3]ドデシル、ビシクロ[3.3.3]ウンデシル、ビシクロ[4.3.1]デシル、ビシクロ[4.2.1]ノニル、ビシクロ[3.3.1]ノニル、ビシクロ[3.2.1]オクチル等である。「スピロ」−シクロアルキル化合物、例えば、スピロ[5.2]オクチル、スピロ[5.4]デシル、スピロ[5.5]ウンデシルも、本発明における定義C3〜C30シクロアルキルに包含される。本発明の化合物におけるそれぞれの定義の主題である多環式シクロアルキル基のさらなる例は、EP878738、11頁および12頁に列挙されており、そこで、式(1)〜(46)に「イル」を達成するための結合が加えられなければならない。当業者はこのことを承知している。
一般に、環式脂肪族環は反復構造単位を形成することができる。
1個以上のO、S、NR6、O(CO)、NR6COで中断されているC3〜C30シクロアルキルは、1個以上のO、S、NR6、O(CO)、SCO、NR6COで中断されている単環式脂肪族環または多環式脂肪族環、例えば、
Figure 2008506749

である。
2〜C12アルケニル基は、モノ不飽和もしくは多不飽和で、直鎖状もしくは分岐状であってもよく、そして、例えば、C2〜C8−、C2〜C6−またはC2〜C4アルケニルである。例は、アリル、メタリル、ビニル、1,1−ジメチルアリル、1−ブテニル、3−ブテニル、2−ブテニル、1,3−ペンタジエニル、5−ヘキセニルまたは7−オクテニル、特に、アリルまたはビニルである。
4〜C30シクロアルケニルは、単環式もしくは多環式のそして多不飽和の環、例えば、単環式、二環式または三環式多不飽和環、例えば、C4〜C20−、C4〜C18−、C4〜C12−、C4〜C10シクロアルケニルである。シクロアルケニルの例は、シクロブテニル、シクロペンテニル、シクロヘキセニルまたはシクロヘプテニル、特に、シクロペンテニルおよびシクロヘキセニルである。
2〜C6アルキレンは、直鎖状または分岐状である。例は、エチレン、プロピレン、ブチレン、ペンチレン、ヘキシレンである。
置換されたフェニルは、フェニル環に、1〜5個、例えば、1個、2個または3個、特に1個または2個の置換基を有する。置換は、好ましくは、フェニル環の4位、3,4位、3,5位または3,4,5位である。
基フェニル、ビフェニリル、ナフチル、フルオレニル、フェナントリル、アントラシルおよびヘテロアリールが1個以上の基で置換されている場合には、それらは、例えば、一置換〜五置換されており、例えば、一、二または三置換されており、特に、一置換または二置換されている。
Ar1が、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されているビフェニリル、ナフチルまたはフルオレニル基であり、そして置換基(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27およびOSO27が、基R3、R4、R5、R6および/またはR7を介して、ビフェニリル、ナフチルまたはフルオレニル環におけるさらなる置換基と共に、またはビフェニリル、ナフチルまたはフルオレニル環の炭素原子の1つと共に、5−、6−または7−員環を形成する場合には、例えば、以下の構造単位、
Figure 2008506749

が得られる。
Ar1において、置換基C1〜C18アルキルがビフェニリル、ナフチルまたはフルオレニル環の1個の炭素原子からその環の他の炭素原子へのアルキレン架橋を形成する場合には、特にエチレン、プロピレンおよびブチレン架橋が形成されそして、例えば、以下の構造
Figure 2008506749

が得られる。この関連の本願にしたがう定義は、分岐状アルキレン架橋:
Figure 2008506749

を包含することをも意図する。そのアルキレン架橋がさらなるフェニル環と縮合している場合には、例えば、下記の構造
Figure 2008506749

が与えられる。カンホリル、10−カンホリルは、カンファー−10−イル、すなわち、
Figure 2008506749

である。
2〜C18アルカノイルは、例えば、C2〜C12、C2〜C8−、C2〜C6−またはC2〜C4アルカノイルであり、ここで、アルキル部分は直鎖状または分岐状である。例は、アセチル、プロピオニル、ブタノイルまたはヘキサノイル、特に、アセチルである。
1〜C18アルコキシは、例えば、C1〜C12−、C1〜C8−、C1〜C6−、C1〜C4アルコキシであり、そして直鎖状または分岐状である。例は、メトキシ、エトキシ、プロポキシ、n−ブトキシ、t−ブトキシ、オクチルオキシおよびドデシルオキシである。
1〜C12アルキルチオにおいて、アルキル部分は、例えば直鎖状または分岐状である。例は、メチルチオ、エチルチオ、プロピルチエまたはブチルチオである。
2〜C18アルコキシカルボニルは、(C1〜C17アルキル)−O−C(O)−(式中、C1〜C17アルキルは直鎖状または分岐状でありそして適切な数の炭素原子までの上記に定義したとおりである)である。例は、C2〜C10−、C2〜C8−、C2〜C6−またはC2〜C4アルコキシカルボニル、例えば、メトキシカルボニル、エトキシカルボニル、プロポキシカルボニル、ブトキシカルボニルまたはペントキシカルボニルである。
1〜C10ハロアルキルは、例えば、ハロゲンにより一置換または多置換されたC1〜C8−、C1〜C6−またはC1〜C4−アルキルであり、そのアルキル部分は、例えば、上記に定義したとおりである。アルキル基には、例えば、1〜3個、または1個もしくは2個のハロゲン置換基が存在する。例は、クロロメチル、トリクロロメチル、トリフルオロメチルまたは2−ブロモプロピル、特にトリフルオロメチルまたはトリクロロメチルである。好ましいものはC1〜C10フルオロアルキルである。
2〜C10ハロアルカノイルは、(C1〜C9ハロアルキル)−C(O)−(式中、C1〜C9ハロアルキルは、適切な数の炭素原子までの上記に定義したとおりである)である。例は、クロロアセチル、トリクロロアセチル、トリフルオロアセチル、ペンタフルオロプロピオニル、ペルフルオロオクタノイルまたは2−ブロモプロピオニル、特に、トリフルオロアセチルまたはトリクロロアセチルである。
ハロベンゾイルは、ハロゲンおよび/またはC1〜C4ハロアルキルにより一置換または多置換されているベンゾイルであり、C1〜C4−ハロアルキルは上記したとおりである。例は、ペンタフルオロベンゾイル、トリクロロベンゾイル、トリフルオロメチルベンゾイル、特に、ペンタフルオロベンゾイルである。
ハロゲンは、フッ素、塩素、臭素またはヨウ素、特に、塩素またはフッ素、好ましくはフッ素である。
フェニル−C1〜C3アルキルは、例えば、ベンジル、2−フェニルエチル、3−フェニルプロピル、α−メチルベンジルまたはα,α−ジメチルベンジル、特にベンジルである。
オキシジフェニレンは、
Figure 2008506749

である。
4とR5が、それらが結合している窒素原子と一緒になって、場合によりO、NR6−もしくはO(CO)で中断されている5−、6−または7−員環を形成する場合には、例えば、下記の構造
Figure 2008506749

が得られる。
定義C1〜C18アルキルスルホニル、カンホリルスルホニル、フェニル−C1−C3−アルキルスルホニル、およびC3〜C30シクロアルキルスルホニルは、上記で詳細に説明したとおり、スルホニル基(−SO2−)に結合している対応する基C1〜C18アルキル、カンホリル、フェニル−C1〜C3−アルキルおよびC3〜C30シクロアルキルを意味する。したがって、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルおよびフェナントリルスルホニルも、スルホニル基に結合している対応する基を意味する。
2〜C18アルカノイルオキシは、(C1〜C17アルキル)−C(O)−O−(式中、C1〜C17アルキルは、直鎖状または分岐状であり、そして炭素原子の適切な数までの上記したとおりである)である。例は、C2〜C10−、C2〜C8−、C2〜C6−またはC2〜C4アルカノイルオキシ、例えばアセチルオキシ、エタノイルオキシ、プロパノイルオキシ、ブタノイルオキシまたはヘキサノイルオキシである。
1〜C18アルキルスルホニルオキシは、(C1〜C18アルキル)−S(O)2−O−(式中、C1〜C18アルキルは、直鎖状もしくは分岐状でありそして炭素原子の適切な数までの上記したとおりである)である。例は、C1〜C10−、C1〜C8−、C1〜C6−またはC1〜C4アルキルスルホニルオキシ、例えば、メタンスルホニルオキシ、プロパンスルホニルオキシまたはヘキサンスルホニルオキシである。
したがって、フェニルスルホニルオキシおよび(4−メチルフェニル)スルホニルオキシも、−S(O)2−O−基に結合した対応する基を意味する。
本願では、「ヘテロアリール」という用語は、置換されていない基および置換されている基、例えば、3−チエニル、2−チエニル、
Figure 2008506749

(式中、R4およびR5は上記したとおりである)、チアントレニル、イソベンゾフラニル、キサンテニル、フェノキサンチイニル、
Figure 2008506749

(式中、YはS、OまたはNR6であり、R6は上記したとおりである)を示す。その例は、ピラゾリル、チアゾリル、オキサゾリル、イソチアゾリルまたはイソオキサゾリルである。例えば、フリル、ピロリル、1,2,4−トリアゾリル、
Figure 2008506749

または融合した芳香族基を有する5員環複素環、例えば、ベンゾイミダゾリル、ベンゾチエニル、ベンゾフラニル、ベンゾオキサゾリルおよびベンゾチアゾリルも含まれる。
「ヘテロアリール」の他の例は、ピリジル、特に、3−ピリジル、
Figure 2008506749

(式中、R3は上記したとおりである)、ピリミジニル、ピラジニル、1,3,5−トリアジニル、2,4−、2,2−もしくは2,3−ジアジニル、インドリジニル、イソインドリル、インドリル、インダゾリル、プリニル、イソキノリル、キノリル、フェノキサジニルまたはフェナジニルである。本願においては、「ヘテロアリール」という用語は、基チオキサンチル、キサンチル、
Figure 2008506749

(式中、mは0または1であり、R3、R4、R5は上記したとおりである)、
Figure 2008506749

アントラキノリルをも示す。ヘテロアリールの各々は上記したまたは請求項1に示された置換基を有していてもよい。
フェニレンは、
Figure 2008506749

である。ナフチレンは
Figure 2008506749

である。ジフェニレンは、
Figure 2008506749

である。ヘテロアリーレンは、上記したヘテロアリール環の二価の基、例えば
Figure 2008506749

である。
酸の作用により開裂する−O−C−結合またはO−Si−結合を有しかつ基Ar1およびAr’1の置換基である基は、酸との反応の後、アルカリ現像剤中で式I、IIまたはIIIの化合物の溶解度を増加させる、酸で開裂可能な基である。この効果は、例えばUS4883740に記載されている。
このような置換基として適切な基の例は、例えば、公知のオルトエステル、トリチルおよびベンジル基、カルボン酸のtert−ブチルエステル、フェノールのtert−ブチルカーボネートまたはフェノールのシリルエステル、例えば、
Figure 2008506749

(式中、Z1およびZ2は、互いに独立に、水素、C1〜C5アルキル、C3〜C8−シクロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキルであるか、またはZ1およびZ2は、一緒になって、C2〜C5アルキレンであり、そして
3は、非置換もしくはハロゲンで置換されたC1〜C5アルキル、非置換もしくはハロゲンで置換されたC3〜C8シクロアルキル、またはフェニル−C1〜C3アルキルであり、あるいはもしZ1およびZ2が一緒になってC2−C5アルキレンでないならば、Z3およびZ2は、一緒になって、−O−原子またはS−原子で中断されていてもよいC2〜C5アルキレンであることができる)である。
特許請求の範囲においておよび明細書全体にわたって、「および/または」または「または/および」という用語は、定義された選択肢(置換基)の1つのみならず、定義された選択肢(置換基)のいくつかも一緒になって、すなわち、種々の選択肢(置換基)の混合物も存在することができるということを表現することを意味する。
「場合により置換されている」という用語は、置換されていないかまたは置換されていることを意味する。
「少なくとも」という用語は、1個または1個より多くの、例えば、1個または2個または3個、好ましくは、1個または2個を定義することを意味する。
興味深いものは、
Ar1が、フルオレニルであり;それは、場合により1個以上のC1〜C18アルキル、OR3、ハロゲンおよび/またはAr2で置換されており;あるいは場合により、その置換基C1〜C18アルキルが、フルオレニル環の一つの炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、場合によりさらなるフェニル環と縮合しており;
あるいはAr1が、ビフェニリルまたはナフチルであり、双方は、1個以上のC1〜C18アルキル、OR3、ハロゲンおよび/またはAr2で置換されており;あるいは場合により置換基C1〜C18アルキルは、ビフェニリルまたはナフチル環の一つの炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、場合によりさらなるフェニル環と縮合しており;
Ar’1が、ヘテロアリーレンであり;それは、非置換あるいは1個以上のC1〜C18アルキル、OR3、ハロゲンおよび/またはAr2で置換されており;
3はC1〜C12アルキルであり;そして
Ar2は、フェニルである、
上記の式I、IIまたはIIIの化合物である。
ビフェニリルとしてのAr1は、例えば、置換されているビフェニリル、特に、フェニルおよび場合により上記の1個以上のさらなる置換基で置換されているビフェニリルである。フェニルで置換されているビフェニリルは、好ましくは4位で置換されて、ターフェニル基
Figure 2008506749

を与える。
ナフチルとしてのAr1は、C1〜C18アルキルで置換されているナフチルであり、ここで置換基C1〜C18アルキルは、ナフチル環の一つの炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し、例えば、基アセナフチル
Figure 2008506749

を与える。
1は、例えば、C1〜C18アルキルスルホニルまたはフェニルスルホニルであり;その双方は、場合により1個以上のC1〜C18アルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;
あるいはR1は、カンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり、ここで、そのカンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルは、場合により1個以上のC1〜C18アルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;
あるいはR1は、基
Figure 2008506749

である。
1は、例えば、C1〜C18アルキルスルホニルまたはフェニルスルホニルであり;その双方は、場合により1個以上のC1〜C18アルキル、フェニル、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;
あるいはR1は、カンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり、ここで、そのカンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルは、場合により1個以上のC1〜C18アルキル、フェニル、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27、および/またはOSO27で置換されており;
あるいはR1は、基
Figure 2008506749

である。
さらに、R1は、C1〜C18アルキルスルホニルまたはフェニルスルホニルであり;その双方は、場合により1個以上のC1〜C18アルキル、OR3、NR45、SR6、SO27で置換されており;
あるいはR1は、カンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり、ここで、そのカンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルは、場合により1個以上のC1〜C18アルキル、OR3、NR45、SR6、SO27で置換されており;
あるいはR1は、基
Figure 2008506749

である。
特に好ましいものは、上記の式IおよびIIの化合物である。
興味深いものは、
1が、C1〜C18アルキルスルホニルまたはフェニルスルホニルであり、場合により1個以上のC1〜C18アルキルまたはOR3で置換されており、あるいはR1が、ナフチルスルホニル、カンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、または基
Figure 2008506749

であり;
1、X2およびX3が、Oであり;
R’1が、フェニレンジスルホニルであり;
2が、ハロゲンまたはC1〜C10ハロアルキルであり;
Xが、ハロゲンであり;
Ar1が、フルオレニルであり;あるいはAr1が、Ar2で置換されているビフェニリルであるかあるいはC1〜C18アルキルで置換されているナフチルであり、ここで置換基C1〜C18アルキルがナフチル環の1個の炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;
Ar’1が、ヘテロアリーレンであり;それは、非置換またはAr2で置換されており;
3がC1〜C18アルキルであり;
Ar2が、フェニルであり;そして
10およびR11がフェニルである、
上記の式I、IIまたはIIIの化合物である。
興味深い他の化合物は、
1が、C1〜C18アルキルスルホニルまたはフェニルスルホニルであり、場合により1個以上のC1〜C18アルキル、−OR3で置換されており、
あるいはR1が、フェニル−C1〜C3−アルキル、ナフチルスルホニル、基
Figure 2008506749

であり;
1、X2およびX3が、互いに独立にOであり;
R’1が、フェニレンジスルホニルであり;
2が、ハロゲンまたはC1〜C10ハロアルキルであり;
Xが、ハロゲンであり;
Ar1が、ビフェニリルまたはフルオレニルであり、双方が場合により−Ar2で置換されており;
あるいはAr1がナフチルであり、場合により置換基C1〜C18アルキルがナフチル環の1個の炭素原子からその環のもう一つの炭素原子にアルキレン架橋を形成し;
Ar’1が、ヘテロアリーレンであり、それは、非置換または−Ar2で置換されており;
3がC1〜C18アルキルであり;
Ar2がフェニルであり;そして
10およびR11がフェニルである、
上記の式I、IIまたはIIIの化合物である。
式I、IIまたはIIIのオキシム誘導体は、一般に、例えば、式I”またはII”の適切な遊離オキシム(R1=H)を式VまたはVIの所望の(例えば、スルホン)酸ハロゲン化物または酸無水物(例えば、R1ClまたはR1−O−R1)と反応させることにより、文献に記載の方法により製造することができる。
Figure 2008506749

(式中、R1、R2、X、Ar1およびAr’1は上記に定義したとおりである)。
これらの反応は、通常、塩基、例えば、ピリジン、三級アミン、例えばトリエチルアミンの存在下に、不活性溶媒、例えばトルエン、塩化メチレン、テトラヒドロフラン(THF)またはジメチルホルムアミド(DMF)中で行われるか、あるいはオキシムの塩を所望の酸塩化物と反応させることにより行われる。これらの方法は、例えば、EP48615に開示されている。オキシムのナトリウム塩は、例えば、問題のオキシムをジメチルホルムアミド中のナトリウムアルコラートと反応させることにより得ることができる。このような反応は、当業者に周知でありそして一般に−15〜+50℃、好ましくは、0〜20℃の範囲の温度で行われる。
出発物質として必要とされるオキシムは、標準化学テキストブック(例えば、J. March, Advanced Organic Chemistry, 4th Edition, Wiley Interscience, 1992)または専門的モノグラフ、例えば、S. R. Sandler & W. Karo, Organic functional group preparations, Vol.3, Academic Pressに記載の種々の方法により得ることができる。
最も好都合な方法の1つは、例えば、エタノールまたは水性エタノールのような極性溶媒中でケトンとヒドロキシルアミンまたはその塩を反応させることである。その場合に、塩基、例えば酢酸ナトリウムを加えて反応混合物のpHを制御する。反応速度はpH依存性であり、そして塩基を最初にまたは反応期間中連続的に加えることができることは周知である。塩基性溶媒、例えばピリジンを塩基および/または溶媒または共溶媒として使用することもできる。反応温度は、一般に、混合物の還流温度、通常約60〜120℃である。
オキシムの他の便利な合成は、亜硝酸または亜硝酸アルキルによる「活性」メチレン基のニトロソ化である。例えば、Organic Syntheses coll. Vol. VI (J. Wiley & Sons, New York, 1988), pp 199 および 840に記載のアルカリ性条件、および例えば、Organic Synthesis coll. vol V, pp 32 および 373, coll. vol. III, pp 191 および 513, coll. vol. II, pp. 202, 204 および 363に記載の酸性条件の両方が、本発明に係る化合物のための出発物質として使用されるオキシムの製造に好適である。亜硝酸は、通常亜硝酸ナトリウムから発生させる。亜硝酸アルキルは、例えば、亜硝酸メチル、亜硝酸エチル、亜硝酸イソプロピル、亜硝酸ブチル、亜硝酸イソアミルであることができる。
記載された合成は、式I、IIまたはIIIの化合物の異性体形態の形成をもたらすことができる。オキシミノ基の二重結合は、syn(シス、Z)およびanti(トランス、E)体で存在することができまたは2つの幾何異性体の混合物として存在することができる。本発明において、個々の幾何異性体と2つの幾何異性体のいかなる混合物の双方を使用することができる。したがって、本発明は、式I、IIまたはIIIの化合物の異性体の混合物にも関する。
個々の幾何異性体(ZおよびE体)の式I、IIまたはIIIの化合物および2つの幾何異性体のいかなる混合物も使用することができる。しかしながら、特定の立体配置の(暫定的にE体とされた)式I、IIまたはIIIの化合物は、他の立体配置の(暫定的にZ体とされた)化合物よりもより熱的に安定であるということが見出された。そのため、本発明の化合物の好ましい使用は、単一の熱的により安定な異性体の(暫定的にE体とされた)式I、IIまたはIIIのものの使用である。
出発物質として必要なオキシムの合成は、異性体形態の混合物の形成をもたらすことができる。驚くべきことに、出発物質として必要なオキシムの異性体形態の混合物は、酸で処理することにより単一の異性体形態(暫定的にE体とされた)に転換されることが見出された。出発物質として単一異性体(Z体)のこれらのオキシムを使用すると、熱的により安定な単一異性体の式I、IIまたはIIIの化合物が得られる。したがって、本発明は、1)オキシムの対応する異性体混合物を酸での処理によって単一異性体に転換し、そして2)単一異性体形態のオキシムを所望の酸ハロゲン化物または酸無水物と反応させることによる、式I、IIまたはIIIの化合物の熱的により安定な異性体を合成する方法にも関する。
したがって、本発明の主題は、
(1)慣用の方法により得られた式I”またはII”
Figure 2008506749

(式中、R2、Ar1、Ar’1およびXは請求項1で定義されたとおりである)
で示される対応する遊離オキシム化合物の異性体混合物を酸で処理し、そして
(2)このようにして製造された単一異性体遊離オキシム化合物を、式VまたはVI
Figure 2008506749

の対応する酸ハロゲン化物または酸無水物と反応させる、
ことによる、式I、IIまたはIIIのオキシムエステル化合物の熱的に安定な異性体の特定の製造方法である。
オキシムの異性体混合物を所望の単一異性体に転換する反応は、通常、酸、例えば塩酸、硫酸、酢酸、硝酸、トリフルオロ酢酸またはトリフルオロメタンスルホン酸の存在下に、不活性溶媒、例えば、塩化メチレン、酢酸エチル、トルエン、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミドまたは無水酢酸中で行われる。転換反応は、酸溶媒、例えば、ギ酸、酢酸中で、場合により他の酸、例えば塩酸、硫酸、硝酸、トリフルオロ酢酸またはトリフルオロメタンスルホン酸の存在下に行うこともできる。このような反応は、通常、−15℃〜+120℃、好ましくは0℃〜80℃、さらに好ましくは5℃〜40℃の範囲の温度で行う。化合物を、当業者に知られている方法、例えば、蒸留、再結晶、クロマトグラフィー法により単離する。
出発物質としての式I’およびII’のオキシム化合物を得るための慣用の方法の例は、上に記載されている。
式I、IIまたはIIIの化合物は、フォトレジストにおける感光性酸供与剤として使用することができる。レジストシステムは、式I、IIまたはIIIの化合物を含むシステムの像様照射、次いで現像段階により製造することができる。
したがって、本発明は、
(a)酸の作用により硬化する化合物または酸の作用によりその溶解度が増加する化合物;および
(b)感光性酸供与剤として、少なくとも1種の式I、IIまたはIIIの化合物、
を含む化学増幅されたフォトレジスト組成物に関する。
化学増幅されたフォトレジストは、放射感受性成分が触媒量の酸を与え、この酸は、その後レジストの少なくとも1種の酸感受性成分の化学反応を触媒する、レジスト組成物であると理解される。その結果、レジストの照射された区域と非照射区域間の溶解度の差を誘発する。このプロセスの触媒的性質のゆえに、1つの酸分子は、それが何らかの二次反応によって捕捉または破壊されない限り、それが反応性ポリマーマトリックスを通って、1つの反応部位から次の反応部位に拡散するにつれて、多数の部位で反応を誘発することができる。したがって、小さい酸濃度が、レジストの露光した区域と非露光区域間の溶解度の高い差を誘発させるのに十分である。このようにして、ほんの小さな濃度の潜在酸化合物が必要とされる。結果として、光学的像形成において露光波長における高いコントラストおよび高い透明性を有するレジストを配合することができ、これは、高い感光度での急勾配の垂直像プロフィルを順に生成する。しかしながら、この触媒プロセスの結果として、潜在酸触媒が、レジスト貯蔵期間中または加工期間中に酸を発生しないように、化学的および熱的に極めて安定である(照射されない限り)ことが必要であり、これは、大抵の場合に、溶解度差をもたらす触媒反応を開始または終了させるための露光後のベークステップを必要とする。マイクロエレクトロニック製造プロセスにおいてこれらのレジストの適用を妨害する如何なる粒子の発生をも回避するために、液体レジスト配合物および固体レジストフイルムにおいて潜在触媒が良好な溶解度を有することも必要である。
対照的に、化学増幅機構に基づいていないポジティブレジスト材料は、高濃度の潜在酸を含有しなければならない。それは、露光区域のアルカリ現像剤への増加した溶解度に寄与するのは、露光下の潜在酸から発生される酸濃度のみであるからである。小さな酸濃度は、このようなレジストの溶解率の変化に対して僅かな効果しか及ぼさずそして反応は、典型的にはここでは露光後のベークなしに進行するので、潜在酸の化学的および熱的安定性に関する要求は、化学増幅されたポジティブレジストの場合より少ない。これらのレジストは、露光区域におけるアルカリ現像剤への十分な溶解度を達成するのに十分な酸を発生させるのに遥かに高い露光線量も必要とし、また相対的に低い光学的透明性(必要な潜在酸の高い濃度による)という問題があり、そこで、より低い解像力および傾斜のついた像という問題がある。したがって、非化学的に増幅された技術に基づくレジスト組成物は、化学増幅されたレジストに比べて、感光度、解像力および像の品質が劣っている。
上記から、潜在触媒の化学的および熱的安定性は、化学増幅されたレジストのために必須であることおよび、非化学的に増幅されたレジストにおいて作用することができる潜在酸は、異なる酸拡散の要件、酸強度の要件および熱的および化学的安定性の要件の故に、化学増幅されたレジストには必ずしも適用可能ではないことが明らかである。
レジストの照射中または照射後のレジスト材料の酸触媒反応の結果として生じる照射された区域と非照射区域とのレジスト溶解度の差は、レジスト中にどのようなさらなる成分が存在するかに依存して2つのタイプであることができる。本発明に係る組成物が照射後に現像剤への組成物の溶解度を増加させる成分を含む場合には、レジストはポジティブである。
したがって、本発明は化学増幅されたポジティブフォトレジストに関する。
他方、配合物の成分が照射後の組成物の溶解度を減少させるならば、レジストはネガティブである。
したがって、本発明は、化学増幅されたネガティブフォトレジストにも関する。
露光しなかった区域において、レジスト配合物中に追加的に存在するアルカリ可溶性結合剤樹脂の溶解率を減少させ、および露光しなかった区域において本質的にアルカリ不溶性であり、その結果レジストフイルムがアルカリ溶液中での現像の後、露光しなかった区域に残存するが、酸の存在下に開裂されるかまたはその反応生成物がアルカリ現像剤中に可溶性となるように再調整されることができる、モノマーまたはポリマー化合物は、以後溶解抑制剤と呼ばれる。
本発明は、
(a1)酸の存在下に分解しそして露光された区域において水性アルカリ現像剤溶液へのレジストフイルムの溶解度を増加させる酸に不安定な基を有する少なくとも1種のポリマー、および
(b)式I、IIまたはIIIの少なくとも1種の化合物
を含む、化学増幅されたアルカリ現像可能なポジティブフォトレジスト組成物を、特定の態様として含む。
本発明のさらなる態様は、
(a2)酸の存在下に分解しそして水性アルカリ現像剤溶液への溶解度を増加させる、少なくとも1個の酸に不安定な基を有する少なくとも1種のモノマーまたはオリゴマー溶解抑制剤および少なくとも1種のアルカリ可溶性ポリマー、ならびに
b)少なくとも1種の式I、IIまたはIIIの化合物
を含む化学増幅されたアルカリ現像可能なポジティブフォトレジスト組成物である。
本発明の他の態様は、
(a1)酸の存在下に分解しそして露光された区域においてアルカリ現像剤溶液への溶解度を増加させる、酸に不安定な基を有する少なくとも1種のポリマー、
(a2)酸の存在下に分解しそして露光された区域においてアルカリ溶解度を増加させる、少なくとも1個の酸に不安定な基を有する、モノマ−またはオリゴマー溶解抑制剤、
(a3)露光しなかった区域におけるレジストフイルムを依然としてアルカリ現像剤に本質的に不溶性に保つ濃度のアルカリ可溶性モノマー、オリゴマーまたはポリマー化合物、および
b)少なくとも1種の式I、IIまたはIIIの化合物
を含む化学増幅されたアルカリ現像可能なポジティブフォトレジスト組成物である。
したがって、本発明は、
(a1)酸の存在下に分解して水性アルカリ現像剤溶液への溶解度を増加させる、酸に不安定な基を有する少なくとも1種のポリマー、および/または
(a2)酸の存在下に分解して水性アルカリ現像剤溶液への溶解度を増加させる、酸に不安定な基を有する少なくとも1種のモノマ−またはオリゴマー溶解抑制剤、および/または
(a3)少なくとも1種のアルカリ可溶性モノマー、オリゴマーまたはポリマー化合物、および
b)感光性酸供与剤として、少なくとも1種の式I、IIまたはIIIの化合物
を含む化学増幅されたフォトレジスト組成物に関する。
組成物は、成分(b)に追加して、他の感光性酸供与剤および/または(c)他の添加剤を含むことができる。
このような化学的に増幅されたポジティブレジストシステムは、例えば、E. Reichmanis, F. M. Houlihan, O. Nalamasu, T. X. Neenan, Chem. Mater. 1991, 3, 394; または、C. G. Willson, "Introduction to Microlithography, 2nd. Ed.; L. S. Thompson, C. G. Willson, M. J. Bowden, Eds., Amer. Chem. Soc., Washington DC, 1994, p. 139に記載されている。
酸の存在下に分解して、芳香族ヒドロキシ基、カルボキシル基、ケト基およびアルデヒド基を生成しそして水性アルカリ現像剤溶液への溶解度を増加させる酸に不安定な基の適切な例は、例えば、アルコキシアルキルエーテル基、テトラヒドロフラニルエーテル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、tert−アルキルエステル基、トリチルエーテル基、シリルエーテル基、アルキルカーボネート基、例えば、tert−ブチルオキシカルボニルオキシ−、トリチルエステル基、シリルエステル基、アルコキシメチルエステル基、クミルエステル基、アセタール基、ケタール基、テトラヒドロピラニルエステル基、テトラフラニルエステル基、三級アルキルエーテル基、三級アルキルエステル基等である。このような基の例は、アルキルエステル、例えば、メチルエステルおよびtert−ブチルエステル、アセタール型エステル、例えば、メトキシメチルエステル、エトキシメチルエステル、1−エトキシエチルエステル、1−イソブトキシエチルエステル、1−イソプロポキシエチルエステル、1−エトキシプロピルエステル、1−(2−メトキシエトキシ)エチルエステル、1−(2−アセトキシエトキシ)エチルエステル、1−[2−(1−アダマンチルオキシ)エトキシ]エチルエステル、1−[2−(1−アダマンチルカルボニルオキシ)エトキシ]エチルエステル、テトラヒドロ−2−フリルエステルおよびテトラヒドロ−2−ピラニルエステルおよび脂環式エステル、例えば、イソボルニルエステルである。
本発明に係るポジティブレジストに含ませることができるポリマーであって、酸の作用により分解してアルカリ現像溶液へのこのポリマーを含むレジストフイルムの溶解度を高めることができる官能基を有するポリマーは、その主鎖および/またはその側鎖、好ましくはその側鎖に酸に不安定な基を有することができる。
本発明で使用するのに適切な酸に不安定な基を有するポリマーは、例えば、EP254853、EP878738、EP877293、特開平2−25850、特開平3−223860および特開平4−251259に開示されているとおり、アルカリ可溶性基をそれぞれの酸に不安定な基に部分的にまたは完全に転換するポリマー類似反応で、または既に結合した酸に不安定な基を有するモノマーの(共)重合により直接得ることができる。
本発明において、ポリマー主鎖にぶら下がっている酸に不安定な基を有するポリマーは、好ましくは、相対的に低い露光後ベーク温度(典型的には室温と110℃との間)で完全に開裂する、例えば、シリルエーテル、アセタール、ケタールおよびアルコキシアルキルエステル基(「低活性化エネルギーブロッキング基」と呼ばれる)を有するポリマー、および酸の存在下に脱ブロッキング反応を完了させるために、より高いベーク温度(典型的には、>110℃)を必要とするエステル結合の酸素原子に隣接した二級または三級炭素原子を含有する、例えばtert−ブチルエステル基もしくはtert−ブチルオキシカルボニル(TBOC)基または他のエステル基(「高活性化エネルギーブロッキング基」と呼ばれる)を有するポリマーである。1つのポリマー内に高活性化エネルギーブロッキング基と低活性化エネルギーブロッキング基が存在するハイブリッドシステムを適用することもできる。あるいは、各々異なるブロッキング基の化学を利用するポリマーのポリマーブレンドを、本発明に係る感光性ポジティブレジスト組成物に使用することができる。
酸に不安定な基を有する好ましいポリマーは、下記の異なるモノマータイプ:
(1)酸の存在下に分解して水性アルカリ現像剤溶液への溶解度を増加させる酸に不安定な基を含有するモノマー、および
(2)酸に不安定な基を含まずそしてアルカリ溶解度に寄与する基を含まないモノマーおよび/または
(3)ポリマーの水性アルカリ溶解度に寄与するモノマー
を含むポリマーおよびコポリマーである。
1)型のモノマーの例は、
非環式もしくは環式二級および三級アルキル(メタ)アクリレート、例えば、t−ブチルアクリレートを含むブチルアクリレート、t−ブチルメタクリレートを含むブチルメタクリレート、3−オキソシクロヘキシル(メタ)アクリレート、テトラヒドロピラニル(メタ)アクリレート、2−メチル−アダマンチル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ノルボルニル(メタ)アクリレート、(2−テトラヒドロピラニル)オキシノルボルニルアルコールアクリレート、(2−テトラヒドロピラニル)オキシメチルトリシクロドデカンメタノールメタクリレート、トリメチルシリルメチル(メタ)アクリレート、(2−テトラヒドロピラニル)オキシノルボルニルアルコールアクリレート、(2−テトラヒドロピラニル)オキシメチルトリシクロドデカンメタノールメタクリレート、トリメチルシリルメチル(メタ)アクリレート、o−/m−/p−(3−オキソシクロヘキシルオキシ)スチレン、o−/m−/p−(1−メチル−1−フェニルエトキシ)スチレン、o−/m−/p−テトラヒドロピラニルオキシスチレン、o−/m−/p−アダマンチルオキシスチレン、o−/m−/p−シクロヘキシルオキシスチレン、o−/m−/p−ノルボルニルオキシスチレン、非環式もしくは環式アルコキシカルボニルスチレン、例えば、p−t−ブトキシカルボニルスチレンを含むo−/m−/p−ブトキシカルボニルスチレン、o−/m−/p−(3−オキソシクロヘキシルオキシカルボニル)スチレン、o−/m−/p−(1−メチル−1−フェニルエトキシカルボニル)スチレン、o−/m−/p−テトラヒドロピラニルオキシカルボニルスチレン,o−/m−/p−アダマンチルオキシカルボニルスチレン、o−/m−/p−シクロヘキシルオキシカルボニルスチレン、o−/m−/p−ノルボルニルオキシカルボニルスチレン、非環式もしくは環式アルコキシカルボニルオキシスチレン、例えば、p−t−ブトキシカルボニルオキシスチレンを含むo−/m−/p−ブトキシカルボニルオキシスチレン、o−/m−/p−(3−オキソシクロヘキシルオキシカルボニルオキシ)スチレン、o−/m−/p−(1−メチル−1−フェニルエトキシカルボニルオキシ)スチレン、o−/m−/p−テトラヒドロピラニルオキシカルボニルオキシスチレン、o−/m−/p−アダマンチルオキシカルボニルオキシスチレン、o−/m−/p−シクロヘキシルオキシカルボニルオキシスチレン、o−/m−/p−ノルボルニルオキシカルボニルオキシスチレン、非環式もしくは環式アルコキシカルボニルアルコキシスチレン、例えば、o/m/p−ブトキシカルボニルメトキシスチレン、p−t−ブトキシカルボニルメトキシスチレン、o−/m−/p−(3−オキソシクロヘキシルオキシカルボニルメトキシ)スチレン、o−/m−/p−(1−メチル−1−フェニルエトキシカルボニルメトキシ)スチレン、o−/m−/p−テトラヒドロピラニルオキシカルボニルメトキシスチレン、o−/m−/p−アダマンチルオキシカルボニルメトキシスチレン、o−/m−/p−シクロヘキシルオキシカルボニルメトキシスチレン、o−/m−/p−ノルボルニルオキシカルボニルメトキシスチレン、トリメチルシロキシスチレン、ジメチル(ブチル)シロキシスチレン、不飽和アルキルアセテート、例えば、イソプロペニルアセテートおよびその誘導体である。
低活性化エネルギーの酸に不安定な基を有するタイプ1)のモノマーとして、例えば、p−もしくはm−(1−メトキシ−1−メチルエトキシ)−スチレン、p−もしくはm−(1−メトキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−メトキシ−1−メチルプロポキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−メトキシ−1−メチルプロポキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−メトキシエトキシ)−スチレン、p−もしくはm−(1−メトキシエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−エトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−エトキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−エトキシ−1−メチルプロポキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−エトキシ−1−メチルプロポキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−エトキシエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−エトキシエトキシ)−メチルスチレン、p−(1−エトキシフェニル−エトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−n−プロポキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−n−プロポキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−プロポキシエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−n−プロポキシエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−イソプロポキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−イソプロポキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−イソプロポキシエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−イソプロポキシエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−イソプロポキシ−1−メチルプロポキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−イソプロポキシ−1−メチルプロポキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−イソプロポキシプロポキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−イソプロポキシプロポキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−n−ブトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−n−ブトキシエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−イソブトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−tert−ブトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−n−ペントキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−イソアミルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−n−ヘキシルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−シクロヘキシルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−トリメチルシリルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−トリメチルシリルオキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−ベンジルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−ベンジルオキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−メトキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−メトキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレン、p−もしくはm−(1−トリメチルシリルオキシ−1−メチルエトキシ)スチレン、p−もしくはm−(1−トリメチルシリルオキシ−1−メチルエトキシ)−メチルスチレンが挙げられる。アルコキシアルキルエステルである酸に不安定な基を有するポリマーの他の例は、US5225316およびEP829766に示されている。アセタールブロッキング基を有するポリマーの例は、US5670299、EP780732、US5627006、US5558976、US5558971、US5468589、EP704762、EP762206、EP342498、EP553737に示されており、またACS Symp. Ser. 614, Microelectronics Technology, pp. 35-55 (1995)およびJ. Photopolymer Sci. Technol. Vol. 10, No. 4 (1997), pp. 571-578に記載されている。本発明で使用されるポリマーはそれらに限定はされない。
酸に不安定な基としてアセタール基を有するポリマーに関しては、例えば、H. -T. Schacht, P. Falcigno, N. Muenzel, R. Schulz, and A. Medina, ACS Symp. Ser. 706 (Micro- and Nanopatterning Polymers), p. 78-94, 1997; H. -T. Schacht, N. Muenzel, P. Falcigno, H. Holzwath, and J. Schneider, J. Photopolymer Science and Technology, Vol. 9, (1996), 573-586に記載の酸に不安定な架橋を含ませることが可能である。この架橋されたシステムはレジストパターンの耐熱性の観点から好ましい。
高活性化エネルギーの酸に不安定な基を有するモノマーは、例えば、p−tert−ブトキシカルボニルオキシスチレン、tert−ブチルアクリレート、tert−ブチルメタクリレート、2−メチル−2−アダマンチルメタクリレート、イソボルニルメタクリレートである。
特にArFレジスト技術に適切なタイプ1)のモノマーとして、例えば、2−メチル−2−アダマンチルアクリレート、2−エチル−2−アダマンチルアクリレート、2−n−ブチル−2−アダマンチルアクリレート、2−n−ブチル−2−アダマンチルメタクリレート、2−メチル−2−アダマンチルメタクリレートおよび2−エチル−2−アダマンチルメタクリレートが挙げられる。酸に不安定なアダマンチル部分を含む他のモノマーは、特開2002−1265530、特開2002−338627、特開2002−169290、特開2002−241442、特開2002−145954、特開2002−275215、特開2002−156750、特開2002−268222、特開2002−169292、特開2002−162745、特開2002−301161、WO02/06901A2、特開2002−311590、特開2002−182393、特開2002−371114、特開2002−162745に開示されている。
酸に不安定な基を有する特定のオレフィンは、例えば、特開2002−308938、特開2002−308869、特開2002−206009、特開2002−179624、特開2002−161116に示されたArFレジスト技術にも好適である。
タイプ2)に従うコモノマーの例は、
芳香族ビニルモノマー、例えば、スチレン、α−メチルスチレン、アセトキシスチレン、α−メチルナフチレン、アセナフチレン、ビニル脂環式化合物、例えば、ビニルノルボルナン、ビニルアダマンタン、ビニルシクロヘキサン、アルキル(メタ)アクリレート、例えば、メチルメタクリレート、(メタ)アクリロニトリル、ビニルシクロヘキサン、ビニルシクロヘキサノール、無水イタコン酸および無水マレイン酸である。
特にArFレジスト技術に適切なタイプ2)に従うコモノマーとして、例えば、α−アクリロイルオキシ−γ−ブチロラクトン、α−メタクリロイルオキシ−γ−ブチロラクトン、α−アクリロイルオキシ−β,β−ジメチル−γ−ブチロラクトン、α−メタクリロイルオキシ−β,β−ジメチル−γ−ブチロラクトン、α−アクリロイルオキシ−α−メチル−γ−ブチロラクトン、α−メタクリロイルオキシ−α−メチル−γ−ブチロラクトン、β−アクリロイルオキシ−γ,β−メタクリロイルオキシ−α−メチル−γ−ブチロラクトン、5−アクリロイルオキシ−2,6−ノルボルナンカルボラクトン、5−メタクリロイルオキシ−2,6−ノルボルナンカルボラクトン、2−ノルボルネン、メチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、tert−ブチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−シクロヘキシル−1−メチルエチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−(4−メチルシクロヘキシル)−1−メチルエチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−メチル−1−(4−オキソシクロヘキシル)エチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−(1−アダマンチル)−1−メチルエチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、1−メチルシクロヘキシル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、2−メチル−2−アダマンチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、2−エチル−2−アダマンチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸無水物、2(5H)−フラノン、3−ビニル−γ−ブチロラクトンが挙げられる。
タイプ3)に従うコモノマーの例は、
ビニル芳香族化合物、例えば、ヒドロキシスチレン、アクリル酸化合物、例えばメタクリル酸、エチルカルボニルオキシスチレンおよびそれらの誘導体である。これらのポリマーは、例えばUS5827634、US5625020、US5492793、US5372912、EP660187、US5679495、EP813113およびEP831369に記載されている。さらなる例は、クロトン酸、イソクロトン酸、3−ブテン酸、アクリル酸、4−ペンテン酸、プロピオル酸、2−ブチン酸、マレイン酸、フマル酸およびアセチレンカルボン酸である。本発明で使用されるポリマーは、これらに限定はされない。
特にArFレジスト技術に適切なタイプ3)に従うコモノマーとして、例えば、3−ヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート、3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート、3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート、3,5−ジヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート、2−ヒドロキシ−5−ノルボルネン、5−ノルボルネン−2−カルボン酸、1−(4−ヒドロキシシクロヘキシル)−1−メチルエチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、2−ヒドロキシ−1−エチル5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、5−ノルボルネン−2−メタノールが挙げられる。
ArF技術に適切なラクトン部分を含む他のモノマーは、例えば特開2002−6502、特開2002−145955、EP1127870A1、特開2002−357905、特開2002−296783に開示されている。ArF技術に適切な他のオレフィンは、例えば特開2002−351078、特開2002−234918、特開2002−251009、EP1127870A1、特開2002−328475、特開2002−278069、特開2003−43689、特開2002−202604、WO01/86353、特開2002−23371、特開2002−72484、特開2002−202604、特開2001−330959、特開2002−3537、特開2002−30114、特開2002−278071、特開2002−251011、特開2003−122010、特開2002−139837、特開2003−195504、特開2001−264984、特開2002−278069、特開2002−328475、US6379861、US6599677、US2002/119391、US6277538、US2003/78354に公表されている。
ポリマー中の酸に不安定なモノマーの含有量は、広い範囲にわたり変えることができ、そして他のコモノマーの量および脱保護されたポリマーのアルカリ溶解度に依存する。典型的には、ポリマー中の酸に不安定な基を有するモノマーの含有量は、5〜60モル%である。含有量があまりにも少ないと、現像速度が低くなりすぎ、また露光区域のレジストの残留物が生じる。酸に不安定なモノマーの含有量があまりにも多いと、レジストパターンは、現像後劣悪な輪郭となり(侵食され)そして幅の狭い特徴はもはや解像されえず、および/またはレジストは、現像期間中に基材に対するその接着が緩む。好ましくは、酸に不安定な基を有するコポリマーは、約3,000〜約200,000、より好ましくは、約5,000〜約50,000のMwを有し、約3以下の分子量分布、より好ましくは、約2以下の分子量分布を有する。非フェノール性ポリマー、例えばアルキルアクリレート、例えばt−ブチルアクリレートまたはt−ブチルメタクリレートとビニル脂環式化合物、例えば、ビニルノルボナニルまたはビニルシクロヘキサノール化合物のコポリマーも、このようなフリーラジカル重合または他の公知の方法により製造することができ、そして好適には約8,000〜約50,000のMwおよび約3以下の分子量分布を有する。
他のコモノマーをポリマーのガラス転移点等を制御する目的で適切な量で好適に加えることができる。
本発明では、酸に不安定な基を有する2種以上のポリマーの混合物を使用することができる。例えば、極めて容易に開裂される酸に不安定な基、例えば、アセタール基またはテトラヒドロピラニルオキシ−基を有するポリマーとそれほど容易には開裂されない酸で開裂されうる基、例えば、三級アルキルエステル基を有するポリマーとの混合物を使用することができる。異なる酸で開裂されうる基、例えばtert−ブチルエステル基および2−メチルアダマンチル基または1−エトキシ−エトキシ基およびテトラヒドロピラニルオキシ基を有する2種以上のポリマーをブレンドすることにより、異なるサイズの酸で開裂されうる基を組み合わせることができる。架橋されていない樹脂と架橋された樹脂の混合物を使用することもできる。本発明におけるこれらのポリマーの量は、すべての固体成分の総量を基準として好ましくは30〜99重量%、より好ましくは50〜98重量%である。アルカリ溶解度を制御するために、酸に不安定な基を持たないアルカリ可溶性樹脂またはモノマーもしくはオリゴマー化合物を組成物中にさらに含ませることができる。
異なる酸に不安定な基を有するポリマーとのポリマーブレンドの例は、EP780732、EP679951およびUS5817444に示される。
好ましくは、モノマーおよびオリゴマー溶解抑制剤(a2)が、本発明で使用される。
本発明で使用するための酸に不安定な基を有するモノマーまたはオリゴマー溶解抑制剤は、酸の存在下に分解して水性アルカリ現像剤溶液への溶解度を増加させる、分子構造中に少なくとも1個の酸に不安定な基を有する化合物である。例は、アルコキシメチルエーテル基、テトラヒドロフラニルエーテル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、アルコキシエチルエーテル基、トリチルエーテル基、シリルエーテル基、アルキルカーボネート基、トリチルエステル基、シリルエステル基、アルコキシメチルエステル基、ビニルカルバメート基、三級アルキルカルバメート基、トリチルアミノ基、クミルエステル基、アセタール基、ケタール基、テトラヒドロピラニルエステル基、テトラフラニルエステル基、三級アルキルエーテル基、三級アルキルエステル基等である。本発明で使用するための酸で分解可能な溶解抑制化合物の分子量は、3,000以下、好ましくは100〜3,000、より好ましくは、200〜2,500である。
酸に不安定な基を有するモノマーおよびオリゴマー溶解抑制剤の例は、EP0831369に式(I)〜(XVI)として記載されている。酸に不安定な基を有する他の適切な溶解抑制剤は、US5356752、US5037721、US5015554、特開平1−289946、特開平1−289947、特開平2−2560、特開平3−128959、特開平3−158855、特開平3−179353、特開平3−191351、特開平3−200251、特開平3−200252、特開平3−200253、特開平3−200254、特開平3−200255、特開平3−259149、特開平3−279958、特開平3−279959、特開平4−1650、特開平4−1651、特開平1−1260、特開平4−12356、特開平4−123567、特開平1−289946、特開平3−128959、特開平3−158855、特開平3−179353、特開平3−191351、特開平3−200251、特開平3−200252、特開平3−200253、特開平3−200254、特開平3−200255、特開平3−259149、特開平3−279958、特開平3−279959、特開平4−1650、特開平4−1651、特開平11260、特開平4−12356、特開平4−12357、ならびに特願平3−33229、3−230790、3−320438、4−254157、4−52732、4−103215、4−104542、4−107885、4−107889、4−152195、4−254157、4−103215、4−104542、4−107885、4−107889および4−152195に示される。
組成物は、ポリマー溶解抑制剤、例えば、US5354643に記載のポリアセタールまたはポリ−N,O−アセタール、例えばUS5498506に記載のそれらを、アルカリ可溶性ポリマーと組み合わせて、または露光後に現像剤へのレジストフイルムの溶解度を増加させる酸に不安定な基を含有するポリマーと組合わせて、または両タイプのポリマーと組合わせて、含有することもできる。
酸に不安定な基を有する溶解抑制剤が本発明において、式I、IIまたはIIIのスルホネート誘導体、アルカリ可溶性ポリマーおよび/または酸に不安定な基を有するポリマーと組合わせて使用される場合には、溶解抑制剤の量は、感光性組成物のすべての固体成分の総量を基準として、3〜55重量%、好ましくは5〜45重量%、最も好ましくは10〜35重量%である。
水性アルカリ溶液に可溶性のポリマー(a3)は、好ましくは本発明で使用される。これらのポリマーの例として、ノボラック樹脂、水素化ノボラック樹脂、アセトン−ピロガロール樹脂、ポリ(o−ヒドロキシスチレン)、ポリ(m−ヒドロキシスチレン)、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、水素化ポリ(ヒドロキシスチレン)、ハロゲン−もしくはアルキル−置換されたポリ(ヒドロキシスチレン)、ヒドロキシスチレン/N−置換マレイミドコポリマー、o/p−およびm/p−ヒドロキシスチレンコポリマー、部分的にo−アルキル化されたポリ(ヒドロキシスチレン)、[例えば、ヒドロキシル基の5〜30モル%の置換度を有するo−メチル化、o−(1−メトキシ)エチル化、o−(1−エトキシ)エチル化、o−2−テトラヒドロピラニル化およびo−(t−ブトキシカルボニル)メチル化ポリ(ヒドロキシスチレン)]、o−アシル化ポリ(ヒドロキシスチレン)[例えば、ヒドロキシル基の5〜30モル%の置換度を有するo−アセチル化およびo−(t−ブトキシ)カルボニル化ポリ(ヒドロキシスチレン)]、スチレン/無水マレイン酸コポリマー、スチレン/ヒドロキシスチレンコポリマー,α−メチルスチレン/ヒドロキシスチレンコポリマー、カルボキシル化メタクリル樹脂、およびそれらの誘導体が挙げられる。さらなる適切なものは、ポリ(メタ)アクリル酸[例えば、ポリ(アクリル酸)]、(メタ)アクリル酸/(メタ)アクリレートコポリマー[例えばアクリル酸/メチルアクリレートコポリマー、メタクリル酸/メチルメタクリレートコポリマーまたはメタクリル酸/メチルメタクリレート/t−ブチルメタクリレートコポリマー]、(メタ)アクリル酸/アルケンコポリマー[例えばアクリル酸/エチレンコポリマー]、(メタ)アクリル酸/(メタ)アクリルアミドコポリマー[例えばアクリル酸/アクリルアミドコポリマー]、(メタ)アクリル酸/塩化ビニルコポリマー[例えばアクリル酸/塩化ビニルコポリマー]、(メタ)アクリル酸/酢酸ビニルコポリマー[例えばアクリル酸/酢酸ビニルコポリマー]、マレイン酸/ビニルエーテルコポリマー[例えばマレイン酸/メチルビニルエーテルコポリマー]、マレイン酸モノエステル/メチルビニルエステルコポリマー[例えばマレイン酸モノメチルエステル/メチルビニルエーテルコポリマー]、マレイン酸/(メタ)アクリル酸コポリマー[例えばマレイン酸/アクリル酸コポリマーまたはマレイン酸/メタクリル酸コポリマー]、マレイン酸/(メタ)アクリレートコポリマー[例えばマレイン酸/メチルアクリレートコポリマー]、マレイン酸/塩化ビニルコポリマー、マレイン酸/酢酸ビニルコポリマー、およびマレイン酸/アルケンコポリマー[例えば、マレイン酸/エチレンコポリマーおよびマレイン酸/1−クロロプロペンコポリマー]である。しかしながら、本発明で使用するためのアルカリ可溶性ポリマーはこれらの例に限定されるものと解釈すべきではない。
特に好ましいアルカリ可溶性ポリマー(a3)は、ノボラック樹脂、ポリ(o−ヒドロキシスチレン)、ポリ(m−ヒドロキシスチレン)、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、それぞれのヒドロキシスチレンモノマーと例えばp−ビニルシクロヘキサノールとのコポリマー、アルキル置換ポリ(ヒドロキシスチレン)、部分的にo−もしくはm−アルキル化されたおよびo−もしくはm−アシル化されたポリ(ヒドロキシスチレン)、スチレン/ヒドロキシスチレンコポリマーおよびα−メチルスチレン/ヒドロキシスチレンコポリマーである。ノボラック樹脂は、主成分として1種以上の与えられたモノマーを酸触媒の存在下に1種以上のアルデヒドと付加縮合させることにより得られる。
アルカリ可溶性樹脂を製造するのに有用なモノマーの例として、ヒドロキシル化芳香族化合物、例えば、フェノール、クレゾール、すなわち、m−クレゾール、p−クレゾールおよびo−クレゾール、キシレノール、例えば、2,5−キシレノール、3,5−キシレノール、3,4−キシレノールおよび2,3−キシレノール、アルコキシフェノール、例えば、p−メトキシフェノール、m−メトキシフェノール、3,5−ジメトキシフェノール、2−メトキシ−4−メチルフェノール、m−エトキシフェノール、p−エトキシフェノール、m−プロポキシフェノール、p−プロポキシフェノール、m−ブトキシフェノールおよびp−ブトキシフェノール、ジアルキルフェノール、例えば、2−メチル−4−イソプロピルフェノール、ならびに、m−クロロフェノール、p−クロロフェノール、o−クロロフェノール、ジヒドロキシビフェニル、ビスフェノールA、フェニルフェノール、レゾルシノールおよびナフトールを含む他のヒドロキシル化芳香族化合物が挙げられる。これらの化合物は単独でまたはその2種以上の混合物として使用することができる。ノボラック樹脂のための主モノマーは上記例に限定されるものと解釈すべきではない。
フェノール化合物と重縮合してノボラックを得るためのアルデヒドの例として、ホルムアミド、p−ホルムアミド、アセトアルデヒド、プロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセトアルデヒド、α−フェニルプロピオンアルデヒド、β−フェニルプロピオンアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒド、m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズアルデヒド、o−メチルベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラール、クロロアセトアルデヒド、およびこれらから誘導されたアセタール、例えば、クロロアセトアルデヒドジエチルアセタールが挙げられる。これらのうちの好ましいものは、ホルムアルデヒドである。
これらのアルデヒドは、単独でまたはそれらの2種以上の組合わせにおいて使用することができる。酸触媒の例として、塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸およびシュウ酸が挙げられる。
このようにして得られたノボラック樹脂の重量平均分子量は、1,000〜30,000であることが適切である。その重量平均分子量が1,000より低いならば、現像期間中に露光しなかった部分におけるフイルムの減少が大きくなりがちである。その重量平均分子量が50,000を超えるならば、現像率はあまりにも低いことがある。ノボラック樹脂の分子量の特に好ましい範囲は2,000〜20,000である。
ノボラック樹脂以外のアルカリ可溶性ポリマーとして上に示されたポリ(ヒドロキシスチレン)ならびにその誘導体およびコポリマーは、各々2,000以上、好ましくは4,000〜200,000、より好ましくは5,000〜50,000の重量平均分子量を有する。改良された耐熱性を有するポリマーフイルムを得るという観点から、その重量平均分子量は望ましくは少なくとも5,000以上である。
本発明に関して、重量平均分子量は、ゲル透過クロマトグラフィーにより決定されそしてポリスチレン標準を使用して較正された重量平均分子量であることを意味する。
本発明では、アルカリ可溶性ポリマーは、その2種以上の混合物として使用することができる。アルカリ可溶性ポリマーおよび酸の作用により分解してアルカリ現像溶液への溶解度を高める基を有するポリマーとの混合物を使用する場合には、アルカリ可溶性ポリマーの添加量は、感光性組成物(溶媒を除く)の全量を基準として、好ましくは80重量%まで、より好ましくは60重量%まで、最も好ましくは40重量%までである。80重量%を超える量は望ましくない。なぜなら、レジストパターンは厚さの相当な減少をこうむり、その結果劣悪な像および低い解像力となるからである。
酸の作用により分解してアルカリ現像溶液への溶解度を高める基を有するポリマーなしで、アルカリ可溶性ポリマーを溶解抑制剤と共に使用する場合には、アルカリ可溶性ポリマーの量は、好ましくは40〜90重量%、より好ましくは50〜85重量%、最も好ましくは60〜80重量%である。その量が40重量%より少ないと、望ましくない結果、例えば、感度の減少が起こる。他方、もしそれが90重量%を越えるならば、レジストパターンはフイルム厚さがかなり減少し、解像力および像の再現が劣悪となる。
本発明に係るポジティブレジストにおける式I、IIまたはIIIのスルホネート誘導体(成分(b))の含有率は、好ましくは、フォトレジストにおけるすべての固体成分の全量を基準として、好ましくは0.01〜20重量%である。
ポリマーから保護基を除去するという原理に基づいて操作する化学増幅されたシステムにおける本発明に係るスルホネート誘導体の使用は、一般にポジティブレジストを生成する。ポジティブレジストは、特にそのより高い解像力の故に、多くの用途でネガティブレジストより好ましい。しかしながら、ポジティブレジストの高度な解像力の利点をネガティブレジストの性質と組み合わせるために、ポジティブレジスト機構を使用してネガティブ像を生成することにも興味がある。これは、例えばEP361906に記載のいわゆる像反転段階を導入することにより達成することができる。この目的で、像様に(image-wise)照射されたレジスト材料を、現像段階の前に、例えばガス状塩基で処理し、それにより生成していた酸を像様に中和する。次いで、全区域にわたる第二の照射および熱的後処理を行い、次いでネガティブ像を慣用の方法で現像する。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、ArFレジスト技術、すなわち、像形成段階のためにArFエキシマレーザー(193nm)を使用する技術において光潜在酸として特に適切である。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合および適切なポリマー/コポリマーの製造は、例えば、
Proceeding of SPIE 2438, 474 (1995); Proceeding of SPIE 3049,44 (1997); Proceeding of SPIE 3333,144 (1998); J. Photopolym. Sci. Technol. 14, 631 (2001); Proceeding of SPIE 3333, 546 (1998); J. Photopolym. Sci. Technol. 13, 601 (2000);特開2001−242627;特開2001−290274;特開2001−235863;特開2001−228612;Proceeding of SPIE 3333, 144 (1998);特開2001−5184、三菱レーヨンからLithomax α-7Kとして商業的に入手可能;特開2001−272783;US Patent Application No. 09/413763 (1999.10.7出願); EP1091249;特開2000−292917;特開2003−241385;J. Photopolym. Sci. Technol. 14, 631 (2001); Proceeding of SPIE 3333, 11 (1998); ACS 1998 (University of Texas);特開2001−290274;特開2001−235863;特開2001−228612;Proceeding of SPIE 3999, 13 (2000);特開2001−296663;US Patent Application No.09/567814 (2000.5.9出願);EP1128213; Proceeding of SPIE 3049,104(1997); J.Photopolym.Sci.Technol.10,521(1997);特開2001−290274;特開2001−235863;特開2001−228612;Proceeding of SPIE 4345, 680 (2001); J. Vac. Sci. Technol. B 16(6), p. 3716, 1998; Proceeding of SPIE 2724, 356 (1996); Proceeding of SPIE 4345,67 (2001); Proceeding of SPIE 3333, 546 (1998); Proceeding of SPIE 4345, 87 (2001); Proceeding of SPIE 4345, 159(2001); Proceeding of SPIE 3049, 92 (1997); Proceeding of SPIE 3049, 92 (1997); Proceeding of SPIE 3049, 92 (1997); Proceeding of SPIE 3999, 2 (2000); Proceeding of SPIE 3999, 23 (2000); Proceeding of SPIE 3999, 54 (2000); Proceeding of SPIE 4345, 119 (2001)に公表されている。
上記刊行物に開示された配合物は参照により本明細書に組み込まれる。本発明の化合物は、これらの引用された刊行物に記載されたすべてのポリマー/コポリマーおよび組成物において光潜在酸として使用するのに特に適切であることが理解される。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、二層レジストにおける光潜在酸として適切である。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物および適切なポリマー/コポリマーの製造は、例えば、Proc. SPIE 4345, 361-370 (2001)、Proc. SPIE 4345, 406-416 (2001)、特開2002−278073、特開2002−30116、特開2002−30118、特開2002−72477、特開2002−348332、特開2003−207896、特開2002−82437、US2003/65101、US2003/64321に公表されている。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、多層レジストにおける光潜在酸として適切である。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物および適切なポリマー/コポリマーの製造は、例えば、特開2003−177540、特開2003−280207、特開2003−149822、特開2003−177544に公表されている。
微細な穴パターンを作るために、熱流動法または化学的収縮法、いわゆるRELACS(化学的収縮により支援された解像力増強リソグラフィー)法が、化学増幅されたレジストに適用される。本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、熱流動法またはRELACS法のためのレジストにおける光潜在酸として適切である。これらの技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物および適切なポリマー/コポリマーの製造は、例えば、特開2003−167357、特開2001−337457、特開2003−66626、US2001/53496、Proceeding of SPIE 5039, 789 (2003)、IEDM98, Dig., 333 (1998), Proceeding Silicon Technology 11, 12 (1999)に公表されている。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、F2レジスト技術、すなわち、像形成段階のためのF2エキシマレーザー(157nm)を使用する技術における光潜在酸として適切である。この技術は、157nmで高い透明性を有する特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。この用途に適切なポリマーの例は、例えば、Proc. SPIE 3999, 330-334 (2000)、Proc. SPIE 3999, 357-364 (2000)、Proc. SPIE 4345, 273-284 (2001)、Proc. SPIE 4345, 285-295 (2001)、Proc. SPIE 4345, 296-307 (2001)、Proc. SPIE 4345, 327-334 (2001)、Proc. SPIE 4345, 350-360 (2001)、Proc. SPIE 4345, 379-384 (2001)、Proc. SPIE 4345, 385-395 (2001)、Proc. SPIE 4345, 417-427 (2001)、Proc. SPIE 4345, 428-438 (2001)、Proc. SPIE 4345, 439-447 (2001)、Proc. SPIE 4345, 1048-1055 (2001)、Proc. SPIE 4345, 1066-1072 (2001)、Proc. SPIE 4690, 191-199 (2002)、Proc. SPIE 4690, 200-211 (2002)、Proc. SPIE 4690, 486-496 (2002)、Proc. SPIE 4690, 497-503 (2002)、Proc. SPIE 4690, 504-511 (2002)、Proc. SPIE 4690, 522-532 (2002)、US20020031718、US20020051938、US20020055060、US20020058199、US20020102490、US20020146639、US20030003379、US20030017404、WO2002021212、WO2002073316、WO2003006413、特開2001−296662、特開2001−350263、特開2001−350264、特開2001−350265、特開2001−356480、特開2002−60475、特開2002−90996、特開2002−90997、特開2002−155112、特開2002−155118、特開2002−155119、特開2002−303982、特開2002−327013、特開2002−363222、特開2003−2925、特開2003−15301、特開2003−2925、特開2003−177539、特開2003−192735、特開2002−155115、特開2003−241386、特開2003−255544、US2003/36016、US2002/81499に記載されたフルオロポリマーである。F2レジスト用の他の適切なポリマーは、例えば、Proc. SPIE 3999, 365-374 (2000)、Proc. SPIE 3999, 423-430 (2000)、Proc. SPIE 4345, 319-326 (2001)、US20020025495、特開2001−296664、特開2002−179795、特開2003−20335、特開2002−278073、特開2002−55456、特開2002−348332に記載のケイ素含有ポリマーである。例えば、特開2002−196495に記載の(メタ)アクリロニトリルモノマー単位を含有するポリマーもF2レジストのために適切である。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、EUVレジスト、すなわち、像形成段階のための極紫外線(13nm)の光源を使用する技術における光潜在酸として適切である。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物および適切なポリマー/コポリマーの製造は、例えば、特開2002−55452、特開2003−177537、特開2003−280199、特開2002−323758、US2002/51932に公表されている。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、EB(電子ビーム)またはX線レジスト、すなわち、像形成段階のためのEBまたはX線を使用する技術における光潜在酸として適切である。これらの技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物および適切なポリマー/コポリマーの製造は、例えば、特開2002−99088、特開2002−99089、特開2002−99090、特開2002−244297、特開2003−5355、特開2003−5356、特開2003−162051、特開2002−278068、特開2002−333713、特開2002−31892に公表されている。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、浸漬リソグラフィーのための化学増幅されたレジストにおける光潜在酸として適切である。この技術は、Proceeding of SPIE 5040, 667 (2003)、Proceeding of SPIE 5040, 679 (2003)、Proceeding of SPIE 5040, 690 (2003)、Proceeding of SPIE 5040, 724 (2003)に記載の、光源とレジストとの間に液体媒体を使用してレジストパターンの最小特徴サイズを減少させる。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、ポジティブおよびネガティブ感光性ポリイミドにおける光潜在酸として適切である。この技術は、特定のポリマー/コポリマーの使用を必要とする。適切な配合物および適切なポリマー/コポリマーの製造は、例えば、特開平9−127697、特開平10−307393、特開平10−228110、特開平10−186664、特開平11−338154、特開平11−315141、特開平11−202489、特開平11−153866、特開平11−84653、特開2000−241974、特開2000−221681、特開2000−34348、特開2000−34347、特開2000−34346、特開2000−26603、特開2001−290270、特開2001−281440、特開2001−264980、特開2001−255657、特開2001−214056、特開2001−214055、特開2001−166484、特開2001−147533、特開2001−125267、特開2001−83704、特開2001−66781、特開2001−56559、特開2001−33963、特開2002−356555、特開2002−356554、特開2002−303977、特開2002−284875、特開2002−268221、特開2002−162743、特開2002−122993、特開2002−99084、特開2002−40658、特開2002−37885、特開2003−26919に公表されている。上記刊行物に開示された配合物は、参照により本明細書に組み込まれる。本発明の化合物は、これらの引用された刊行物に記載のすべてのポリマー/コポリマーおよび組成物における光潜在酸として使用するのに特に適切であることが理解される。
ネガティブレジストを特徴的に生成する酸に感受性の成分は、特に、酸(例えば、式I、IIまたはIIIの化合物の照射期間中に形成された酸)により触媒されるとき、それ自体および/または組成物の1種以上のさらなる成分との架橋反応を受けることができる化合物である。このタイプの化合物は、例えば、公知の酸硬化可能な樹脂、例えば、アクリル、ポリエステル、アルキド、メラミン、尿素、エポキシおよびフェノール樹脂またはそれらの混合物である。アミノ樹脂、フェノール樹脂およびエポキシ樹脂は非常に適切である。このタイプの酸で硬化性の樹脂は、公知でありそして、例えば、"Ullmann’s Encyclopaedie der technischen Chemie" [Ulmanns Enceclopedia of Technical Chemistry], 4th Edition, Vol. 15 (1978), p. 613-628に記載されている。架橋剤成分は、一般にネガティブレジスト組成物の全固体分を基準として、2〜40、好ましくは、5〜30重量%の濃度で存在する必要がある。
このように、本発明は、特定の態様として、
(a4)結合剤としてアルカリ可溶性樹脂、
(a5)酸により触媒されるとき、それ自体および/または結合剤との架橋反応を行う成分、および
(b)感光性酸供与体として式I、IIまたはIIIのスルホネート誘導体
を含む化学増幅されたアルカリ現像可能なネガティブフォトレジストを含む。
組成物は、成分(b)に加えて、他の感光性酸供与体(b1)、他の光開始剤(d)および/または(c)他の添加剤を含むことができる。
酸で硬化性の樹脂(a5)として特に好ましいのは、アミノ樹脂、例えば、エーテル化されていないかまたはエーテル化されているメラミン、尿素、グアニジンまたはビウレット樹脂、特にメチル化メラミン樹脂またはブチル化メラミン樹脂、対応するグリコールウリル(glycolurils)およびウロンである。この文脈において、「樹脂」とは、一般にオリゴマーをも含む慣用の工業的混合物ならびに純粋で高純度の化合物の双方であると理解されるべきである。N−ヘキサ(メトキシメチル)メラミンおよびテトラメトキシメチルグルコリル(tetramethoxymethyl glucoril)およびN,N’−ジメトキシメチルウロンは最も良い性能を与える酸硬化性の樹脂である。
ネガティブレジストにおける式I、IIまたはIIIの化合物の濃度は、一般に、組成物の全体の固体分を基準として、0.1〜30重量%、好ましくは20重量%までである。1〜15重量%が特に好ましい。
適切ならば、ネガテイブ組成物は、フイルム形成性ポリマー結合剤(a4)を含むことができる。この結合剤は好ましくはアルカリ可溶性フェノール樹脂である。この目的によく適しているものは、例えば、ノボラックであり、アルデヒド、例えば、アセトアルデヒドまたはフルフラルデヒド、しかし特にホルムアルデヒド、およびフェノール、例えば、置換されていないフェノール、モノ−もしくはジ−クロロ置換されたフェノール、例えば、p−クロロフェノール、C1〜C9アルキルにより一置換もしくは二置換されたフェノール、例えば、o−、m−もしくはp−クレゾール、種々のキシレノール、p−tert−ブチルフェノール、p−ノニルフェノール、p−フェニルフェノール、レゾルシノール、ビス−(4−ヒドロキシフェニル)メタンまたは2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパンから誘導される。エチレン系不飽和フェノールに基づくホモポリマーおよびコポリマー、例えば、ビニル−および1−プロペニル−置換されたフェノール、例えば、p−ビニルフェノールもしくはp−(1−プロペニル)フェノールのホモポリマー、またはこれらのフェノールと1種以上のエチレン系不飽和物質、例えばスチレンとのコポリマーも適切である。結合剤の量は、一般に30〜95重量%、または好ましくは、40〜80重量%であるべきである。
特に好ましいネガティブレジスト組成物は、組成物の固体含量を基準として、式I、IIまたはIIIのスルホネート誘導体(成分(b))0.5〜15重量%、結合剤としてフェノール樹脂(成分(a4))、例えば、上記したものの内の1種40〜99重量%、および架橋剤としてメラミン樹脂(成分(a5))0.5〜30重量%を含む。結合剤としてノボラックを使用するかまたは特にポリビニルフェノールを使用すると、特に良好な性質を有するネガティブレジストが得られる。
スルホネート誘導体は、ネガティブレジストシステムにおける、例えば、ポリ(グリシジル)メタクリレートの酸触媒架橋のための、光化学的に活性化されうる酸発生剤として使用することもできる。このような架橋反応は、例えば、Chae et al. in Pollimo 1993, 17(3), 292に記載されている。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物を使用するネガティブレジスト用の適切な組成物および適切なポリマー/コポリマーの製造は、例えば、特開2003−43688、特開2003−114531、特開2002−287359、特開2001−255656、特開2001−305727、特開2003−233185、特開2003−186195、US6576394に公表されている。
ポジティブおよびネガティブレジスト組成物は、式式I、IIまたはIIIの感光性酸供与体化合物に加えて、さらなる感光性酸供与体化合物(b1)、さらなる添加剤(c)、他の光開始剤(d)、および/または増感剤(e)を含むことができる。したがって、本発明の主題は、成分(a)および(b)、または成分(a1)、(a2)、(a3)および(b)または成分(a4)、(a5)および(b)に加えて、さらなる添加剤(c)、さらなる感光性酸供与体化合物(b1)、他の光開始剤(d)および/または増感剤(e)を含む、上記の化学増幅されたレジスト組成物でもある。
ポジティブおよびネガティブレジストにおける本発明のスルホネート誘導体は、他の公知の光潜在酸(b1)、例えば、オニウム塩、6−ニトロベンジルスルホネート、ビス−スルホニルジアゾメタン化合物、シアノ基含有オキシムスルホネート化合物等と共に使用することもできる。化学増幅されたレジスト用の公知の光潜在酸の例は、US5731364、US5800964、EP704762、US5468589、US5558971、US5558976、US6004724、GB2348644および特にEP794457およびEP795786に記載されている。
光潜在酸の混合物が本発明に係るレジスト組成物に使用されるならば、式I、IIまたはIIIのスルホネート誘導体の混合物中の他の光潜在酸(b1)に対する重量比は、好ましくは1:99〜99:1である。
式I、IIまたはIIIの化合物と混合して使用するのに適切な光潜在酸の例は、
(1)オニウム塩化合物、例えば、
ヨードニウム塩、スルホニウム塩、ホスホニウム塩、ジアゾニウム塩、ピリジニウム塩である。好ましいものは、ジフェニルヨードニウムトリフラート、ピレンスルホン酸ジフェニルヨードニウム、ドデシルベンゼンスルホン酸ジフェニルヨードニウム、トリフェニルスルホニウムトリフラート、ヘキサフルオロアンチモン酸トリフェニルスルホニウム、ヘキサフルオロアンチモン酸ジフェニルヨードニウム、ナフタレンスルホン酸トリフェニルスルホニウム、トルエンスルホン酸(ヒドロキシフェニル)ベンジルメチルスルホニウム等であり;ヨードニウムカチオンは、4−メチルフェニル−4’−イソブチルフェニルヨードニウムまたは4−メチルフェニル−4’−イソプロピルフェニルヨードニウムであってもよい。特に好ましいものは、トリフェニルスルホニウムトリフラート、ヘキサフルオロアンチモン酸ジフェニルヨードニウムである。他の例は、特開2002−229192,特開2003−140332、特開2002−128755、特開2003−35948、特開2003−149800、特開2002−6480、特開2002−116546、特開2002−156750、US6458506、US2003/27061、US5554664に記載されている。
(2)ハロゲン含有化合物
ハロアルキル基含有複素環式化合物、ハロアルキル基含有炭化水素化合物等。好ましいものは、(トリクロロメチル)−s−トリアジン誘導体、例えば、フェニル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、メトジフェニル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン、ナフチル−ビス(トリクロロメチル)−s−トリアジン等;1.1−ビス(4−クロロフェニル)−2,2,2−トリクロロエタン;等。
(3)スルホン化合物、例えば、式
Figure 2008506749

(式中、RおよびRは、互いに独立に、アルキル、シクロアルキルまたはアリールであり、その各々は、少なくとも1個の置換基を有していてもよい)のスルホン化合物、例えば、
Figure 2008506749

このような化合物は、例えば、US2002/0172886−A、特開2003−192665、US2002/9663に開示されている。さらなる例は、β−ケトスルホン、β−スルホニルスルホンおよびそれらのα−ジアゾ誘導体等である。好ましいものは、フェナシルフェニルスルホン、メシチルフェナシルスルホン、ビス(フェニルスルホニル)メタン、ビス(フェニルスルホニル)ジアゾメタンである。
(4)スルホネート化合物、例えば、
アルキルスルホン酸エステル、ハロアルキルスルホン酸エステル、アリールスルホン酸エステル、イミノスルホネート、イミドスルホネート等。好ましいイミドスルホネート化合物は、例えば、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−ビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)7−オキサビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−ビシクロ−[2,2,1]−ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−[2,2,1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−[2,2,1]−ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(4−メチルフェニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−[2,2,1]−ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)−ビシクロ−[2,2,1]−ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシミド等。
他の適切なスルホネート化合物は、例えば、ベンゾイントシラート、ピロガロールトリストリフラート、ピロガロロメタンスルホン酸トリエステル、ニトロベンジル−9,10−ジエチオキシアントラセン−2−スルホネート、α−(4−トルエン−スルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアン化物、α−(4−トルエン−スルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアン化物、α−(4−トルエン−スルホニルオキシイミノ)−2−チエニルメチルシアン化物、α−(メタンスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(ブチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、(4−メチルスルホニルオキシイミノ−シクロヘキサ−2,5−ジエニリデン)−フェニル−アセトニトリル、(5−メチルスルホニルオキシイミノ−5H−チオフェン−2−イリデン)−フェニル−アセトニトリル、(5−メチルスルホニルオキシイミノ−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−メチルフェニル)−アセトニトリル、(5−プロピルスルホニルオキシイミノ−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−メチルフェニル)−アセトニトリル、(5−(p−トルエンスルホニルオキシイミノ)−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−メチルフェニル)−アセトニトリル、(5−(10−カンファースルホニルオキシイミノ)−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−メチルフェニル)−アセトニトリル、(5−メチルスルホニルオキシイミノ−5H−チオフェン−2−イリデン)−(2−クロロフェニル)−アセトニトリル、2,2,2−トリフルオロ−1−{4−(3−[4−{2,2,2−トリフルオロ−1−(1−プロパンスルホニルオキシイミノ)−エチル}−フェノキシ]プロポキシ)−フェニル}−エタノンオキシム1−プロパンスルホネート、2,2,2−トリフルオロ−1−{4−(3−[4−{2,2,2−トリフルオロ−1−(1−p−トルエンスルホニルオキシイミノ)−エチル}−フェノキシ]プロポキシ)−フェニル}−エタノンオキシム1−p−トルエンスルホネート等である。
本発明の放射感受性樹脂組成物において、特に好ましいスルホネート化合物として、ピロガロールメタンスルホン酸トリエステル、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)ビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)−ビシクロ−[2,2,1]−ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシミド、N−(カンファニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)フタルイミド等が挙げられる。
(5)キノンジアジド化合物、例えば、ポリヒドロキシ化合物の1,2−キノンジアジドスルホン酸エステル化合物。好ましいものは、1,2−キノンジアジドスルホニル基、例えば、1,2−ベンゾキノンジアジド−4−スルホニル基、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニル基、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニル基、1,2−ナフトキノンジアジド−6−スルホニル基等を有する化合物である。特に好ましいものは、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホニル基または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニル基を有する化合物である。特に適切なものは、(ポリ)ヒドロキシフェニルアリールケトン、例えば、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,4,6−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,3,4−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,3,4,4’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,3,2,6’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,3,3’,4,4’,5’−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン、2,3’,4,4’,5’,6−ヘキサヒドロキシベンゾフェノン等の1,2−キノンジアジドスルホン酸エステル;ビス−[(ポリ)ヒドロキシフェニル]アルカン、例えば、ビス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、ビス(2,4−ジヒドロキシフェニル)エタン、2,2−ビス(4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(2,4−ジヒドロキシフェニル)プロパン、2,2−ビス(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)プロパン等の1,2−キノンジアジドスルホン酸エステル;(ポリ)ヒドロキシフェニルアルカン、例えば、4,4’−ジヒドロキシトリフェニルメタン、4,4’,4”−トリヒドロキシトリフェニルメタン、4,4’,5,5’−テトラメチル−2,2’,2”−トリヒドロキシトリフェニルメタン、2,2,5,5’−テトラメチル−4,4’,4”−トリヒドロキシトリフェニルメタン、1,1,1−トリス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−フェニルエタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−(4−[1−(ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]フェニル)エタン等の1,2−キノンジアジドスルホン酸エステル;(ポリ)ヒドロキシフェニルフラバン、例えば、2,4,4−トリメチル−2’,4’,7−トリヒドロキシ−2−フェニルフラバン、2,4,4−トリメチル−2’,4’,5’,6,7−ペンタヒドロキシ−2−フェニルフラバン等の1,2−キノンジアジドスルホン酸エステルである。
本発明に係る化合物と混合して使用するのに適切な光潜在酸の他の例は、特開2003−43678、特開2003−5372、特開2003−43677、特開2002−357904、特開2002−229192に記載されている。
本発明のポジティブおよびネガティブフォトレジスト組成物は、場合により、当業者に公知の慣用の量でフォトレジストに通常使用される1種以上の添加剤(c)、例えば、染料、顔料、可塑剤、界面活性剤、流動性改良剤、湿潤剤、接着促進剤、チキソトロープ剤、着色剤、充填剤、溶解度促進剤、酸増幅剤、光増感剤および有機塩基性化合物を含有することができる。
本発明のレジスト組成物に使用することができる有機塩基性化合物のさらなる例は、フェノールより強い塩基である化合物、特に、窒素含有塩基性化合物である。これらの化合物は、例えば、テトラアルキルアンモニウム塩のようにイオン性であるかまたは非イオン性であることができる。好ましい有機塩基性化合物は、分子当たり、異なる化学的環境を有する2個以上の窒素原子を有する窒素含有塩基性化合物である。特に好ましいものは、少なくとも1個の置換されたアミノ基または置換されていないアミノ基ならびに少なくとも1個の窒素含有環構造を含有する化合物および少なくとも1個のアルキルアミノ基を有する化合物である。このような好ましい化合物の例として、グアニジン、アミノピリジン、アミノアルキルピリジン、アミノピロリジン、インダゾール、イミダゾール、ピラゾール、ピラジン、ピリミジン、プリン、イミダゾリン、ピラゾリン、ピペラジン、アミノモルホリン、およびアミノアルキルモルホリンが挙げられる。置換されていない化合物またはその置換された誘導体の両方が適切である。好ましい置換基として、アミノ、アミノアルキル基、アルキルアミノ基、アミノアリール基、アリールアミノ基、アルキル基、アルコキシ基、アシル基、アシルオキシ基、アリール基、アリールオキシ基、ニトロ、ヒドロキシおよびシアノが挙げられる。特に好ましい有機塩基性化合物の特定の例として、グアニジン、1,1−ジメチルグアニジン、1,1,3,3−テトラメチルグアニジン、2−アミノピリジン、3−アミノピリジン、4−アミノピリジン、2−ジメチルアミノピリジン、4−ジメチルアミノピリジン、2−ジエチルアミノピリジン、2−(アミノメチル)ピリジン、2−アミノ−3−メチルピリジン、2−アミノ−4−メチルピリジン、2−アミノ−5−メチルピリジン、2−アミノ−6−メチルピリジン、3−アミノエチルピリジン、4−アミノエチルピリジン、3−アミノピロリジン、ピペラジン、N−(2−アミノエチル)ピペラジン N−(2−アミノエチル)ピペリジン、4−アミノ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジン、4−ピペリジノピペリジン、2−イミモピペリジン、1−(2−アミノエチル)ピロリジン、ピラゾール、3−アミノ−5−メチルピラゾール、5−アミノ−3−メチル−1−p−トリルピラゾール、ピラジン、2−(アミノメチル)−5−メチルピラジン、ピリミジン、2,4−ジアミノピリミジン、4,6−ジヒドロキシビリミジン、2−ピラゾリン、3−ピラゾリン、N−アミノモルホリンおよびN−(2−アミノエチル)モルホリンが挙げられる。
適切な有機塩基性化合物の他の例は、DE4408318、US5609989、US5556734、EP762207、DE4306069、EP611998、EP813113、EP611998およびUS5498506、特開2003−43677、特開2003−43678、特開2002−226470、特開2002−363146、特開2002−363148、特開2002−363152、特開2003−98672、特開2003−122013、特開2002−341522に記載されている。しかしながら、本発明で適切な有機塩基性化合物はこれらの例に限定はされない。
窒素含有塩基性化合物は、単独でまたはその2種以上の組み合わせで使用することができる。窒素含有塩基性化合物の添加量は、通常、感光性樹脂組成物(溶媒を除く)100重量部当たり0.001〜10重量部、好ましくは0.01〜5重量部である。その量が0.001重量部より小さいならば、本発明の効果を得ることはできない。他方、それが10重量部を越えるならば、露光されなかった区域の感度の減少が起きやすくまた現像性が損なわれやすい。
組成物は、例えばEP710885、US5663035、US5595855、US5525453およびEP611998に記載のような化学線作用性放射の下に分解する塩基性有機化合物(「自殺塩基」)をさらに含有することができる。
本発明の組成物のための適切な染料(c)の例は、油溶性染料および塩基性染料、例えば、Oil Yellow#101、Oil Yellow #103、Oil Pink #312、Oil Green BG、Oil Blue BOS、Oil Blue #603、Oil Black BY、Oil Black BS、Oil Black T-505 (すべてOrient Chemical Industries Ltd., Japan製)、クリスタル バイオレット(CI42555)、メチルバイオレット(CI42535)、ローダミンB(CI45170B)、マラカイトグリーン(CI42000)およびメチレンブルー(CI52015)である。
さらに、スペクトル増感剤(e)を加えて、光潜在酸を増感して遠紫外線より長い波長の領域で吸収を示し、それにより本発明の感光性組成物を、例えば、i線またはg線放射に感受性にすることができる。適切な分光増感剤の例として、ベンゾフェノン、p,p’−テトラメチルジアミノベンゾフェノン、p,p’−テトラエチルエチルアミノベンゾフェノン、チオキサントン、2−クロロチオキサントン、アントロン、ピレン、ペリレン、フェノチアジン、ベンジル、アクリジンオレンジ、ベンゾフラビン、セトフラビンT、9,10−ジフェニルアントラセン、9−フルオレノン、アセトフェノン、フェナントレン、2−ニトロフルオレン、5−ニトロアセナフテン、ベンゾキノン、2−クロロ−4−ニトロアニリン、N−アセチル−p−ニトロアニリン、p−ニトロアニリン、N−アセチル−4−ニトロ−1−ナフチルアミン、ピクラミド、アントラキノン、2−エチルアントラキノン、2−tert−ブチルアントラキノン、1,2−ベンゾアントラキノン、3−メチル−1,3−ジアザ−1,9−ベンゾアントロン、ジベンザルアセトン、1,2−ナフトキノン、3−アシルクマリン誘導体、3,3’−カルボニルビス(5,7−ジメトキシカルボニルクマリン)、3−(アロイルメチレン)チアゾリン、エオシン、ローダミン、エリスロシンおよびコロネンが挙げられる。しかしながら、適切な分光増感剤はこれらの例に限定はされない。
これらの分光増感剤は、光源により放射される遠紫外線を吸収するための光吸収剤として使用することもできる。この場合に、光吸収剤は、基材からの光反射を減少させそしてレジストフイルム内の多重反射の影響をより少なくし、それにより定在波の効果を減少させる。
そのような化合物の特定の例は、
1.チオキサントン
チオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、2−クロロチオキサントン、1−クロロ−4−プロポキシチオキサントン、2−ドデシルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、2,4−ジメチルチオキサントン、1−メトキシカルボニルチオキサントン、2−エトキシカルボニルチオキサントン、3−(2−メトキシエトキシカルボニル)−チオキサントン、4−ブトキシカルボニルチオキサントン、3−ブトキシカルボニル−7−メチルチオキサントン、1−シアノ−3−クロロチオキサントン、1−エトキシカルボニル−3−クロロチオキサントン、1−エトキシカルボニル−3−エトキシチオキサントン、1−エトキシカルボニル−3−アミノチオキサントン、1−エトキシカルボニル−3−フェニルスルフリルチオキサントン、3,4−ジ−[2−(2−メトキシエトキシ)エトキシカルボニル]−チオキサントン、1,3−ジメチル−2−ヒドロキシ−9H−チオキサンテン−9−オン 2−エチルヘキシルエーテル、1−エトキシカルボニル−3−(1−メチル−1−モルホリノエチル)−チオキサントン、2−メチル−6−ジメトキシメチル−チオキサントン、2−メチル−6−(1,1−ジメトキシベンジル)−チオキサントン、2−モルホリノメチルチオキサントン、2−メチル−6−モルホリノメチルチオキサントン、N−アリルチオキサントン−3,4−ジカルボキシイミド、N−オクチルチオキサントン−3,4−ジカルボキシイミド、N−(1,1,3,3−テトラメチルブチル)−チオキサントン−3,4−ジカルボキシイミド、1−フェノキシチオキサントン、6−エトキシカルボニル−2−メトキシチオキサントン、6−エトキシカルボニル−2−メチルチオキサントン、チオキサントン−2−カルボン酸ポリエチレングリコールエステル、塩化2−ヒドロキシ−3−(3,4−ジメチル−9−オキソ−9H−チオキサントン−2−イルオキシ)−N,N,N−トリメチル−1−プロパナミニウム;
2.ベンゾフェノン
ベンゾフェノン、4−フェニルベンゾフェノン、4−メトキシベンゾフェノン、4,4’−ジメトキシベンゾフェノン、4,4’−ジメチルベンゾフェノン、4,4’−ジクロロベンゾフェノン 4,4’−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4’−ビス(メチルエチルアミノ)ベンゾフェノン、4,4’−ビス(p−イソプロピルフェノキシ)ベンゾフェノン、4−メチルベンゾフェノン、2,4,6−トリメチルベンゾフェノン、3−メチル−4’−フェニル−ベンゾフェノン、2,4,6−トリメチル−4’−フェニル−ベンゾフェノン、4−(4−メチルチオフェニル)−ベンゾフェノン、3,3’−ジメチル−4−メトキシベンゾフェノン、メチル−2−ベンゾイルベンゾエート、4−(2−ヒドロキシエチルチオ)−ベンゾフェノン、4−(4−トリルチオ)ベンゾフェノン、1−[4−(4−ベンゾイル−フェニルスルファニル)−フェニル]−2−メチル−2−(トルエン−4−スルホニル)−プロパン−1−オン、塩化4−ベンゾイル−N,N,N−トリメチルベンゼンメタナミニウム、塩化2−ヒドロキシ−3−(4−ベンゾイルフェノキシ)−N,N,N−トリメチル−1−プロパナミニウム一水塩、4−(13−アクリロイル−1,4,7,10,13−ペンタオキサトリデシル)−ベンゾフェノン、塩化4−ベンゾイル−N,N−ジメチル−N−[2−(1−オキソ−2−プロペニル)オキシ]エチル−ベンゼンメタナミニウム;
3.クマリン
クマリン1、クマリン2、クマリン6、クマリン7、クマリン30、クマリン102、クマリン106、クマリン138、クマリン152、クマリン153、クマリン307、クマリン314、クマリン314T、クマリン334、クマリン337、クマリン500、3−ベンゾイルクマリン、3−ベンゾイル−7−メトキシクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジメトキシクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジプロポキシクマリン、3−ベンゾイル−6,8−ジクロロクマリン、3−ベンゾイル−6−クロロクマリン、3,3’−カルボニル−ビス[5,7−ジ(プロポキシ)クマリン]、3,3’−カルボニル−ビス(7−メトキシクマリン)、3,3’−カルボニル−ビス(7−ジメチルアミノ−クマリン)、3−イソブチロイルクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジメトキシクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジエトキシクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジブトキシクマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジ(メトキシエトキシ)クマリン、3−ベンゾイル−5,7−ジ(アリルオキシ)クマリン、3−ベンゾイル−7−ジメチルアミノクマリン、3−ベンゾイル−7−ジエチルアミノクマリン、3−イソブチロイル−7−ジメチルアミノクマリン、5,7−ジメトキシ−3−(1−ナフトイル)−クマリン、5,7−ジエトキシ−3−(1−ナフトイル)−クマリン、3−ベンゾイルベンゾ[f]クマリン、7−ジエチルアミノ−3−チエノイルクマリン、3−(4−シアノベンゾイル)−5,7−ジメトキシクマリン、3−(4−シアノベンゾイル)−5,7−ジプロポキシクマリン、7−ジメチルアミノ−3−フェニルクマリン、7−ジエチルアミノ−3−フェニルクマリン、特開平9−179299および特開平9−325209に開示のクマリン誘導体、例えば7−[{4−クロロ−6−(ジエチルアミノ)−S−トリアジン−2−イル}アミノ]−3−フェニルクマリン;
4.3−(アロイルメチレン)チアゾリン
3−メチル−2−ベンゾイルメチレン−β−ナフトチアゾリン、3−メチル−2−ベンゾイルメチレン−ベンゾチアゾリン、3−エチル−2−プロピオニルメチレン−β−ナフトチアゾリン;
5.ローダミン
4−ジメチルアミノベンザルローダミン、4−ジエチルアミノベンザルローダミン、3−エチル−5−(3−オクチル−2−ベンゾチアゾリニリジン)ローダミン、特開平8−305019に開示の式[1]、[2]、[7]のローダミン誘導体;
6.他の化合物
アセトフェノン、3−メトキシアセトフェノン、4−フェニルアセトフェノン、ベンジル、4,4’−ビス(ジメチルアミノ)ベンジル、2−アセチルナフタレン、2−ナフトアルデヒド、ダンシル酸誘導体、9,10−アントラキノン、アントラセン、ピレン、アミノピレン、ペリレン、フェナントレン、フェナントレンキノン、9−フルオレノン、ジベンゾスベロン、クルクミン、キサントン、チオミヘラーケトン、α−(4−ジメチルアミノベンジリデン)ケトン、例えば、2,5−ビス(4−ジエチルアミノベンジリデン)シクロペンタノン、2−(4−ジメチルアミノベンジリデン)インダン−1−オン、3−(4−ジメチルアミノフェニル)−1−インダン−5−イル−プロペノン、3−フェニルチオフタルイミド、N−メチル−3,5−ジ(エチルチオ)−フタルイミド、N−メチル−3,5−ジ(エチルチオ)−フタルイミド、フェノチアジン、メチルフェノチアジン、アミン、例えば、N−フェニルグリシン、4−ジメチルアミノ安息香酸エチル、4−ジメチルアミノ安息香酸ブトキシエチル、4−ジメチルアミノアセトフェノン、トリエタノールアミン、メチルジエタノールアミン、ジメチルアミノエタノール、安息香酸2−(ジメチルアミノ)エチル、ポリ(プロピレングリコール)−4−(ジメチルアミノ)ベンゾエート、ピロメテン、例えば、1,3,5,7,9−ペンタメチル ピロメテン BF2錯体、2,8−ジエチル−1,3,5,7,9−ペンタメチル ピロメテン BF2錯体、2,8−ジエチル−5−フェニル−1,3,7,9−テトラメチル ピロメテン BF2錯体、9,10−ビス(フェニルエチニル)−1,8−ジメトキシアントラセン、ベンゾ[1,2,3−kl:4,5,6−k’l’]ジキサンテン。
さらなる適切な添加剤(c)は、「酸増幅剤」、すなわち、酸形成を促進するかまたは酸濃度を高める化合物である。このような化合物は、ポジティブレジストまたはネガティブレジストにおいてまたは像形成システムおよびすべてのコーティング用途において本発明に係る式I、IIまたはIIIのスルホネート誘導体と組み合わせて使用することもできる。このような酸増幅剤は、例えば、Arimitsu, K. et al. J. Photopolym. Sci. Technol. 1995, 8, pp 43; Kudo, K. et al. J. Photopolym. Sci. Technol. 1995, 8, pp 45; Ichimura, K. et al. Chem. Letters 1995, pp 551に記載されている。
レジスト性能、例えば、解像力、パターンプロフィル、プロセス許容度、線エッジ粗さ、安定性を改良するための他の添加剤(c)は、特開2002−122992、特開2002−303986、特開2002−278071、特開2003−57827、特開2003−140348、特開2002−6495、特開2002−23374、特開2002−90987、特開2002−91004、特開2002−131913、特開2002−131916、特開2002−214768、特開2001−318464、特開2001−330947、特開2003−57815、特開2003−280200、特開2002−287362、特開2001−343750に記載されている。このような化合物は、ポジティブまたはネガティブレジストにおける本発明に係る式I、IIまたはIIIのスルホネート誘導体と組み合わせて使用することもできる。
通常、本発明の感光性組成物を基材に適用するために、組成物を適切な溶媒に溶解する。これらの溶媒の好ましい例として、二塩化エチレン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、2−ヘプタノン、γ−ブチロラクトン、メチルエチルケトン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸2−メトキシエチル、酢酸2−エトキシエチル、2−エトキシエタノール、ジエチルグリコールジメチルエーテル、酢酸エチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノメチルエーテル、トルエン、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシシプロピオン酸エチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、ピルビン酸プロピル、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、N−メチルピロリドンおよびテトラヒドロフランが挙げられる。これらの溶媒は、単独でまたは混合物として使用することができる。溶媒の好ましい例は、エステル、例えば、酢酸2−メトキシエチル、酢酸エチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノメチルエーテル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシプロピオン酸エチルおよび乳酸エチルである。このような溶媒の使用は有利である。何故ならば、本発明に係る式I、IIまたはIIIで示されるスルホネート誘導体は、それらとの良好な適合性およびそれらへのより良好な溶解度を有するからである。
界面活性剤を溶媒に加えることができる。適切な界面活性剤の例として、非イオン性界面活性剤、例えば、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、例えば、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチレンアセチルエーテルおよびポリオキシエチレンオレイルエーテル;ポリオキシエチレンアルキルアリールエーテル、例えば、ポリオキシエチレンオクチルフェノールエーテルおよびポリオキシエチレンノニルフェノールエーテル;ポリオキシエチレン/ポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ソルビタン/脂肪酸エステル、例えば、モノラウリン酸ソルビタン、モノパルミチン酸ソルビタン、モノステアリン酸ソルビタン、モノオレイン酸ソルビタン、トリオレイン酸ソルビタン;フッ素系界面活性剤、例えば、F-top EF301、EF303およびEF352(New Akita Chemical Company, Japan製)、Megafac F171およびF17.3(Dainippon Ink & Chemicals, Inc., Japan製)、Fluorad FC430およびFC431(Sumitomo 3M Ltd.,Japan製)、Asahi Guard AG710およびSurflon S-382, SC101、SC102、SC103、SC104、SC105およびSC106(Asahi Grass Co., Ltd., Japan製);オルガノシロキサンポリマーKP341(Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., Japan製);およびアクリルまたはメタクリル(コ)ポリマーPoly-flow Now.75およびNo.95(Kyoeisha Chemical Co., Ltd., Japan製)が挙げられる。他の例は、特開2001−318459、特開2002−6483に記載されている。界面活性剤の添加量は、通常、本発明の組成物の固体成分100重量部当たり2重量部以下、望ましくは0.5重量部以下である。界面活性剤は単独でまたはその2種以上を組み合わせて加えることができる。
溶液は、公知のコーティング方法により、例えば、スピンコーティング、浸漬、ナイフコーティング、カーテン注入法、ブラシ塗布、噴霧およびローラーコーティングにより基材に均一に適用される。感光性層を一時的な柔軟性支持体に適用し、次いでコーティングトランスファーにより最終基材をコーティングする(ラミネーティング)ことも可能である。
適用される量(コーティング厚さ)および基材の性質(コーティング基材)は、所望の使用分野に依存する。コーティング厚さの範囲は、一般に約0.01μm〜100μm以上の値を含むことができる。
コーティング操作の後、一般に溶媒は、加熱により除去され、その結果基材上にフォトレジストの層がもたらされる。乾燥温度は、もちろん、レジストのある成分が反応または分解することがありうる温度より低くしなければならない。一般に、乾燥温度は、60〜160℃の範囲である。
次いでレジストコーティングを像様に照射する。「像様に照射」という表現は、化学線作用性放射を使用する所定のパターンにおける照射、すなわち、所定のパターンを含むマスク、例えば、透明な、クロムマスクまたはレチクルを通しての照射、および例えばコンピューターの制御下にレジスト表面に直接描画し、かくして像を生成するレーザービームまたは電子ビームを使用する照射の双方を含む。パターンを生成するための他の方法は、例えば、ホログラフィー用途で使用されるような、2つのビームまたは像の干渉による。例えば、A. Bertsch; J. Y. Jezequel; J. C. AndreによりJournal of Photochemistry and Photobioloy A: Chemistry 1997, 107 pp. 275-281に、およびK. P. NicolayによりOffset Printing 1997, 6, pp. 34-37に記載されているように、画素毎にアドレスされうる液晶から作られたマスクを使用して、デジタル像を発生させることも可能である。
照射および必要に応じて熱処理した後、組成物の照射された部位(ポジティブレジストの場合)または非照射部位(ネガティブレジストの場合)を、現像剤を使用してそれ自体公知の方法で除去する。
触媒反応およびしたがって現像剤へのレジストコーティングの照射区域と非照射区域間の溶解度の十分な差の発生を促進するために、好ましくはコーティングを加熱した後現像する。加熱は、照射期間中に行うかまたは始めることもできる。好ましくは、60〜160℃の温度が使用される。時間の長さは加熱方法に依存しそして、必要ならば、当業者は、いくつかのルーチンな実験によって最適期間を容易に決定することができる。それは一般に数秒〜数分である。例えば、ホットプレートが使用される場合には10〜300秒の期間が極めて好適であり、対流オーブンが使用される場合には、1〜30分である。レジスト上の非照射部位における本発明に係る潜在酸供与体がこれらの処理条件下に安定であることが重要である。
次いで、コーティングを現像し、照射後に現像剤への溶解性のより高いコーティングの部分を除去する。必要ならば、加工片を僅かに攪拌すること、現像浴においてコーティングを穏やかにブラッシングすることまたは噴霧現像は、その処理段階を促進することができる。例えば、レジスト技術において慣用の水性アルカリ現像剤を現像のために使用することができる。このような現像剤は、例えば、水酸化ナトリウムもしく水酸化カリウム、対応する炭酸塩、炭酸水素塩、ケイ酸塩もしくはメタケイ酸塩を含むが、好ましくは、金属を含まない塩基、例えば、アンモニアもしくはアミン、例えば、エチルアミン、n−プロピルアミン、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン、アルカノ−ルアミン、例えば、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン、水酸化四級アンモニウム、例えば、水酸化テトラメチルアンモニウムまたは水酸化テトラエチルアンモニウムを含む。現像剤溶液は、一般に0.5Nまでであるが、通常、使用の前に適切な方法で希釈される。例えば、約0.1〜0.3の規定度を有する溶液がよく適している。現像剤の選択は、光硬化性表面コーティングの性質、特に使用される結合剤の性質または得られる光分解生成物の性質に依存する。水性現像剤溶液は、必要ならば、相対的に少量の湿潤剤および/または有機溶媒を含んでいてもよい。現像剤流体に加えることができる典型的な有機溶媒は、例えば、シクロヘキサノン、2−エトキシエタノール、トルエン、アセトン、イソプロパノールおよびこれらの溶媒の2種以上の混合物である。典型的な水性/有機現像剤システムは、ブチルセロソルブ(登録商標)/水に基づいている。
本発明の主題は、また、
(1)上記の組成物を基材に塗布し、
(2)60℃〜160℃の間の温度で組成物を塗布後ベークし、
(3)10nm〜1500nmの間の波長の光で像様に照射し、
(4)場合により、60℃〜160℃の間の温度で組成物を露光後ベークし、そして
(5)溶媒または水性アルカリ現像剤で現像する、
ことによりフォトレジストを製造する方法である。
像様に照射することを150〜450nmの波長範囲、特に190〜260nmの範囲の単色または多色放射で行う方法が好ましい。
フォトレジスト組成物は、すべての基材に対して使用することができ、そして当業者に公知のすべての露光技術にと共に使用することができる。例えば、半導体基材、例えば、シリコン、砒化ガリウム、ゲルマニウム、アンチモン化インジウム;さらに酸化物または窒化物層、例えば、二酸化ケイ素、窒化ケイ素、窒化チタン、シロキサンにより覆われた基材ならびに金属基材および、金属、例えばアルミニウムム、銅、タングステン等で金属コーティングされた基材を使用することができる。基材は、フォトレジストでコーティングする前に、ポリマー材料、例えば、ポリマー材料からの有機反射防止コーティング、絶縁層および誘電性コーティングでコーティングすることもできる。
フォトレジスト層は、すべての通常の技術、例えば、直接描画、すなわち、レーザービームによる描画、または段階的様式および反復様式もしくは走査様式における投影リソグラフィー、またはマスクを通しての接触プリンティングにより露光させることもできる。
投影リソグラフィーの場合には、広い範囲の光学的条件、例えば、干渉性照射、部分的干渉性照射または非干渉性照射を使用することができる。これは、軸外照明技術、例えば、放射がレンズの中心を除外してレンズのある領域のみを通過することを可能とする環状照明および四重極照明を含む。
パターンを複製するのに使用されるマスクは、硬質マスクまたは柔軟性マスクであることができる。マスクは、透明なパターン、半透明なパターンおよび不透明なパターンを含むことができる。パターンサイズは、投影光学の解像力の限界以下でありそしてマスクを通過した後、照射の空中像、強度および位相変調を改変するためにある種の仕方でマスク上に置かれるパターンを含むこともできる。これは、位相シフトマスク及びハーフトーン位相シフトマスクを含む。
フォトレジスト組成物のパターン化プロセスは、任意の所望の幾何学および形状のパターン、例えば、濃くて分離した線、コンタクトホール、トレンチ、ドット等のパターンを発生させるのに使用することができる。
フォトレジストの組成物のパターン化プロセスは、いかなる所望の幾何学および形状のパターン、例えば、濃い且つ分離した線、コンタクトホール、トレンチ、ドット等のパターンを発生させるのに使用することができる。
本発明によるフォトレジストは、優れたリソグラフィー特性、特に高感度、及び像放射のために高レジスト透光性を有する。
本発明に係る組成物の使用の可能な分野は、下記のとおりである:エレクトロニクスのためのフォトレジスト、例えば、エッチングレジスト、イオン注入レジスト、電気メッキレジストまたはソルダーレジストとしての使用、集積回路または薄膜トランジスタレジスト(TFT)の製造;印刷版の製造、例えば、オフセット印刷版またはスクリーン印刷ステンシルの製造、成形品のエッチングまたはステレオリソグラフィーまたはホログラフィー技術(これらは、種々の用途、例えば、J. Photochem. Photobio. A, 158, 163 (2003), Chem. Mater. 14, 3656 (2002)に記載の三次元光学的情報記憶のために使用される)における使用。本発明に係る組成物は、金属間誘電体層、バッファー層、半導体デバイスの不働体化コートを製造するのにも好適でありそしてオプトエレクトロニクス用の導波路を製造するのにも好適である。MEMS(マイクロエレクトロメカニカルシステム)用途では、本発明に係る組成物は、エッチングレジスト、材料デポジション用のモールド、およびデバイス自体の三次元物体として使用することができる。したがって、コーティング基材および加工条件は変わる。そのような例はUS6391523に記載されている。
本発明に係る式I、IIまたはIIIの化合物は、また、上記の増感剤化合物と組み合わせて、例えば、WO03/021358に記載のホログラフデータ記憶装置(HDS)系に使用できる。
本発明に係る組成物は、すべてのタイプの基材用のコーティング組成物として極めて好適であり、これらの基材には、木材、テキスタイル、紙、セラミックス、ガラス、プラスチック、例えば、ポリエステル、ポリエチレンテレフタレート、ポリオレフィンまたは酢酸セルロースであって、特にフイルムの形態のものが含まれるが、しかし特に、像が像様照射によって適用される金属、例えば、Ni、Fe、Zn、Mg、Coまたは特にCuおよびAlならびに、Si、酸化ケイ素または窒化ケイ素をコーティングするために極めて好適である。
本発明は、酸の作用下に架橋されうる組成物中の光潜在酸供与剤としてのおよび/または酸の作用下に溶解度が増加される組成物中の溶解増強剤としての、式I、IIまたはIIIの化合物の使用にも関する。
さらに、本発明の主題は、酸の作用下に架橋されうる化合物を架橋する方法であって、式I、IIまたはIIIの化合物を上記の化合物に加え、次いで、10〜1500nmの波長を有する光で、像様に照射するかまたは全区域にわたって照射することを含む方法である。
本発明は、着色および非着色表面コーティング、接着剤、積層用接着剤、構造用接着剤、感圧接着剤、印刷インキ、印刷版、凸版、平板印刷版、凹版、無処理印刷版、スクリーン印刷用ステンシル、歯科用組成物、色フィルター、スペーサー、エレクトロルミネセンスディスプレイおよび液晶ディスプレイ(LCD)、導波路、光学スィッチ、色補強系、レジスト、エレクトロニクス用フォトレジスト、電気メッキレジスト、液体フィルムおよびドライフィルムの双方用のエッチングレジスト、ソルダーレジスト、UVおよび可視レーザー直接結像系、プリント基板の逐次的積層における誘電体層形成用のフォトレジスト材料、像記録材料、ホログラフィー像を記録するための像記録材料、光学的情報記憶装置又はホログラフィーデータ記憶装置、脱色材料、像記録材料用の脱色材料、マイクロカプセルを使用する像記録材料、磁気記録材料、マイクロメカニカル部品、メッキマスク、エッチングマスク、ガラスファイバーケーブルコーティング、マイクロエレクトロニクス回路の製造における感光性酸供与剤としての式I、IIまたはIIIの化合物の使用;ならびに着色および非着色表面コーティング、接着剤、積層用接着剤、構造用接着剤、感圧接着剤、印刷インキ、印刷版、凸版、平板印刷版、凹版、無処理印刷版、スクリーン印刷用ステンシル、歯科用組成物、色フィルター、スペーサー、エレクトロルミネセンスディスプレイおよび液晶ディスプレイ(LCD)、導波路、光学スィッチ、色補強系、レジスト、エレクトロニクス用フォトレジスト、電気メッキレジスト、液体フィルムおよびドライフィルムの双方用のエッチングレジスト、ソルダーレジスト、UVおよび可視レーザー直接結像系、プリント基板の逐次的積層における誘電体層形成用のフォトレジスト材料、像記録材料、ホログラフィー像を記録するための像記録材料、光学的情報記憶装置又はホログラフィーデータ記憶装置、脱色材料、像記録材料用の脱色材料、マイクロカプセルを使用する像記録材料、磁気記録材料、マイクロメカニカル部品、メッキマスク、エッチングマスク、ガラスファイバーケーブルコーティング、マイクロエレクトロニクス回路の製造方法にも関する。
本発明の主題は、色フィルターまたは化学増幅されたレジスト材料の製造における感光性酸供与剤としての式I、IIまたはIIIの化合物の使用、ならびに色フィルターまたは化学増幅されたレジスト材料の製造方法にも関する。
本発明はさらに、すべてが感光性樹脂ならびに顔料および/または染料を含む赤、緑および青色画素ならびに黒色マトリックスを透明な基材上に設け、そして基材の表面または色フィルター層の表面に透明な電極を設けることにより製造される色フィルターであって、その感光性樹脂は、感光性酸供与剤として請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物を含む、色フィルターに関する。
例えば、特開平9−203806、特開平10−282650、特開平10−333334、特開平11−194494、特開平10−203037、特開2003−5371に示されているとおり、当業者は、色要素を与えるための適切な顔料または染料ならびに黒色マトリックスおよび対応する適切な樹脂について知っている。
既に上記したとおり、光架橋性組成物において、スルホネート誘導体は潜在硬化触媒として作用する、すなわち、光で照射されるとき、それらは架橋反応を触媒する酸を放出する。さらに、放射により放出された酸は、例えば、ポリマー構造からの適切な酸に感受性の保護基の除去またはポリマー主鎖における酸に感受性の基を含有するポリマーの開裂を触媒することができる。他の用途は、例えば、pHの変化または例えば、酸に感受性の保護基により保護された顔料の溶解度の変化に基づく色変化システムである。
本発明に係るスルホネート誘導体は、例えば、特開平4−328552またはUS5237059に記載のとおり、pHが変化するとき色を変える着色剤と一緒にその化合物が使用されるとき、いわゆる「プリントアウトされた」像を生成するのにも使用することができる。このような色変化システムは、EP199672にしたがって使用して、熱または放射に感受性の物品をモニターすることもできる。
色変化に加えて、可溶性顔料分子(例えば、EP648770、EP648817およびEP742255に記載のような)の酸触媒脱保護中に、顔料結晶を析出させることが可能であり;これは、潜在顔料前駆体の色が析出した顔料結晶の色と異なるときに、例えばEP654711に記載の色フィルターまたはプリントアウトされた像の製造および指示薬用途に使用することができる。
スルホネート誘導体と組み合わせてpH感受性染料または潜在顔料を使用する組成物は、電磁波、例えば、γ線、電子ビーム、紫外光または可視光のための指示体または簡単なスローアウエイ線量計として使用することができる。特に、紫外光又は赤外光のように、ヒトの目には見えない光については、このような線量計は興味深い。
最後に、水性アルカリ現像剤に僅かに可溶性のスルホネート誘導体は、遊離酸への光誘導転換によって現像剤に可溶性とすることができ、その結果、適切なフイルム形成性樹脂と組み合わせて溶解度増強剤としてそれらを使用することができる。
酸触媒作用により、従って本発明に係る式I、IIまたはIIIの光潜在酸により架橋されうる樹脂は、例えば、多官能性アルコールまたはヒドロキシ基含有アクリル樹脂およびポリエステル樹脂、または部分的に加水分解されたポリビニルアセタールまたはポリビニルアルコールと多官能性アセタール誘導体との混合物である。ある条件下に、例えば、アセタール官能化樹脂の酸触媒自己縮合も可能である。
一般に、適切な酸硬化性樹脂は、酸触媒によりその硬化が促進されうるすべての樹脂、例えば、アミノプラストまたはフェノール性レゾール樹脂である。これらの樹脂は、例えば、メラミン樹脂、尿素樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂およびアルキド樹脂であるが、特にアクリル樹脂、ポリエステル樹脂またはアルキド樹脂とメラミン樹脂との混合物である。変性された表面コーティング樹脂、例えば、アクリル変性ポリエステル樹脂およびアルキド樹脂も含まれる。アクリル樹脂、ポリエステル樹脂およびアルキド樹脂という表現によりカバーされる個々のタイプの樹脂の例は、例えば、Wagner, Sarx, Lackkunstharze (Munich, 1971), pp. 86-123 および pp. 229-238; またはUllmann, Encyclopaedie der techn. Chemie, 4th Ed., Vol. 15 (1978), pp. 613-628, またはUllmann's Encyclopedia of Industrial Chemistry, Verlag Chemie, 1991, Vol. 18,p. 360 ff., Vol. A19, p. 371 ff..に記載されている。
コーティング用途において、表面コーティングは、好ましくはアミノ樹脂を含む。その例は、エーテル化されたまたはエーテル化されていないメラミン、尿素、グアニジンまたはビウレット樹脂である。酸触媒作用は、エーテル化されたアミノ樹脂、例えばメチル化されたまたはブチル化されたメラミン樹脂(N−メトキシメチル−またはN−ブトキシメチル−メラミン)またはメチル化された/ブチル化されたグリコールウリルを含む表面コーティングの硬化において特に重要である。他の樹脂組成物の例は、多官能性アルコールまたはヒドロキシ基含有アクリルおよびポリエステル樹脂、または部分的に加水分解されたポリ酢酸ビニルまたはポリビニルアルコールと多官能性ジヒドロプロパニル誘導体、例えば、3,4−ジヒドロ−2H−ピラン−2−カルボン酸の誘導体との混合物である。ポリシロキサンも酸触媒作用を使用して架橋することができる。これらのシロキサン基含有樹脂は、例えば、酸触媒作用下の加水分解により自己縮合を受けることができまたは樹脂の第2成分、例えば、多官能性アルコール、ヒドロキシ基含有アクリルもしくはポリエステル樹脂、部分的に加水分解されたポリビニルアセタールまたはポリビニルアルコールと架橋されうる。ポリシロキサンのこのタイプの重縮合は、例えば、J. J. Lebrun, H. Pode, Comprehensive polymer Science, Vol. 5, p. 593, Pergamon Press, Oxford, 1989に記載されている。表面コーティングの製造に適切な他のカチオン重合性材料は、カチオン機構により重合可能なエチレン系不飽和化合物、例えば、ビニルエーテル、例えば、メチルビニルエーテル、イソブチルビニルエーテル、トリメチロールプロパントリビニルエーテル、エチレングリコールジビニルエーテル;環状ビニルエーテル、例えば、3,4−ジヒドロ−2−ホルミル−2H−ピラン(二量体アクロレイン)または、2−ヒドロキシメチル−3,4−ジヒドロ−2H−ピランの3,4−ジヒドロ−2H−ピラン−2−カルボン酸エステル;ビニルエステル、例えば、酢酸ビニルおよびステアリン酸ビニル、モノ−およびジ−オレフィン、例えば、α−メチルスチレン、N−ビニルピロリドンまたはN−ビニルカルバゾールである。
ある目的で、重合性不飽和基を含有するモノマーまたはオリゴマー成分を有する樹脂混合物が使用される。このような表面コーティングは、式I、IIまたはIIIの化合物を使用して硬化させることもできる。その方法においては、ラジカル重合開始剤または光開始剤をさらに使用することができる。前者は熱処理期間中に不飽和基の重合を開始し、後者は紫外線照射期間中に不飽和基の重合を開始する。
本発明は、
(a)酸の作用により硬化する化合物または酸の作用によりその溶解度が増加する化合物;および
(b)感光性酸供与剤として、上記した式I、IIまたはIIIの少なくとも1種の化合物
を含む組成物にも関する。
式I、IIまたはIIIの化合物は、それぞれ、一般に、0.1〜30重量%、例えば、0.5〜10重量%、特に1〜5重量%の量で組成物に加える。
本発明に従えば、式I、IIまたはIIIの化合物は、さらなる感光性酸供与剤化合物(b1)、さらなる光開始剤(d)、増感剤(e)および/または添加剤(c)と共に使用することができる。
適切な感光性酸供与剤化合物(b1)、増感剤(e)および添加剤(c)は上記されている。
追加の光開始剤(d)の例は、ラジカル光開始剤、例えば、ベンゾフェノン、アセトフェノン誘導体、例えば、α−ヒドロキシシクロアルキルフェニルケトン、ジアルコキシアセトフェノン、α−ヒドロキシ−もしくはα−アミノ−アセトフェノン、4−アロイル−1,3−ジオキソラン、ベンゾインアルキルエーテルおよびベンジルケタール、フェニルグリオキサレート、二量体フェニルグリオキサレート、モノアシルホスフィンオキシド、ビスアシルホスフィンオキシドまたはチタノセンのクラスからのものである。特に適切な追加の光開始剤の例は、1−(4−ドデシルベンゾイル)−1−ヒドロキシ−1−メチル−エタン、1−(4−イソプロピルベンゾイル)−1−ヒドロキシ−1−メチル−エタン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパノン[DAROCUR(登録商標)1173]、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)−フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン[IRGACURE(登録商標)2959]、1−[4−(アクリロイルオキシエトキシ)−ベンゾイル]−1−ヒドロキシ−1−メチル−エタン、2−ヒドロキシ−1−{4−[4−(2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオニル)−ベンジル]フェニル}−2−メチル−プロパン−1−オン[IRGACURE(登録商標)127]、2−ヒドロキシ−1−{4−[4−(2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオニル)−フェノキシ]フェニル}−2−メチル−プロパン−1−オン、ジフェニルケトン、フェニル−1−ヒドロキシ−シクロヘキシルケトン[IRGACURE(登録商標)184]、(4−モルホリノベンゾイル)−1−ベンジル−1−ジメチルアミノ−プロパン[IRGACURE(登録商標)369]、(4−モルホリノベンゾイル)−1−(4−メチルベンジル)−1−ジメチルアミノ−プロパン[IRGACURE(登録商標)379]、1−(3,4−ジメトキシフェニル)−2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−ブタン−1−オン、(4−(2−ヒドロキシエチル)アミノベンゾイル)−1−ベンジル−1−ジメチルアミノプロパン)、(4−メチルチオベンゾイル)−1−メチル−1−モルホリノ−エタン[IRGACURE(登録商標)907]、ベンジルジメチルケタール[IRGACURE(登録商標)651]、ビス(シクロペンタジエニル)−ビス(2,6−ジフルオロ−3−ピリル−フェニル)チタン、オキソ−フェニル酢酸2−(2−ヒドロキシ−エトキシ)−エチルエステル、オキソ−フェニル酢酸1−メチル−[2−(2−オキソ−2−フェニル−アセトキシ)プロポキシ]−エチルエステル[IRGACURE(登録商標)754]、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキシド[DAROCUR(登録商標)TPO]、2,4,6−トリメチルベンゾイルフェニルエトキシ−ホスフィンオキシド、ビス(2,6−ジメトキシ−ベンゾイル)−(2,4,4−トリメチル−ペンチル)−ホスフィンオキシド、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−2,4−ジペンチルオキシフェニル−ホスフィンオキシドまたはビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)フェニル−ホスフィンオキシド[IRGACURE(登録商標)819]、オキシムエステル、例えば、1,2−オクタンジオン1−[4−(フェニルチオ)フェニル]−2−(O−ベンゾイルオキシム)[IRGACURE(登録商標)OXE01]、エタノン1−[9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル]−1−(O−アセチルオキシム)[IRGACURE(登録商標)OXE02]、9H−チオキサンテン−2−カルボキシアルデヒド9−オキソ−2−(O−アセチルオキシム)である。さらなる適切な追加の光開始剤は、US4950581、20欄、35行〜21欄、35行に見出される。他の例は、トリハロメチルトリアジン誘導体またはヘキサアリールビスイミダゾリル化合物である。追加の光開始剤のさらなる例は、例えば、US4772530、EP775706、GB2307474、GB2307473およびGB2304472に記載のとおりの、ボレート化合物である。ボレート化合物は、好ましくは、電子受容体化合物、例えば、染料カチオンまたはチオキサントン誘導体と組み合わせて使用される。
追加の光開始剤のさらなる例は、過酸化物化合物、例えば過酸化ペンゾイル(他の適切な過酸化物は、US4950581、19欄、17〜25行に記載されている)またはカチオン光開始剤、例えば、芳香族スルホニウム塩またはヨードニウム塩、例えば、US4950581、18欄、60行〜19欄、10行に見出されるものまたはシクロペンタジエニル−アレーン−鉄(II)錯塩、例えば、(η6−イソプロピルベンゼン)(η5−シクロペンタジエニル)−鉄(II)ヘキサフルオロホスフェートである。
表面コーティングは、有機溶媒または水中の表面コーティング樹脂の溶液または分散液であることができるが、それらは無溶媒であってもよい。低い溶媒含有量を有する表面コーティング、いわゆる「高固形分表面コーティング」および粉末コーティング組成物は特に興味深い。表面コーティングは、例えば、多層コーティング用の仕上げラッカーとして自動車工業において使用される透明なラッカーであることができる。それらは、無機または有機化合物であってもよい顔料および/または充填剤ならびに金属効果仕上げのための金属粉末を含むこともできる。
表面コーティングは、表面コーティング技術において慣用の相対的に少量の特定の添加剤、例えば、流動性改良剤、チキソトロープ剤、レベリング剤、発泡防止剤、湿潤剤、接着促進剤、光安定剤、酸化防止剤または増感剤をも含むことができる。
紫外線吸収剤、例えば、ヒドロキシフェニル−ベンゾトリアゾール、ヒドロキシフェニル−ベンゾフェノン、シュウ酸アミドまたはヒドロキシフェニル−s−トリアジン型の紫外線吸収剤を光安定剤として本発明に係る組成物に加えることができる。個々の化合物またはこれらの化合物の混合物は立体障害性アミン(HALS)を添加してまたは添加しないで使用することができる。
このような紫外線吸収剤および光安定剤の例は、
1.2−(2’−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、例えば、2−(2’−ヒドロキシ−5’−メチルフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3’,5’−ジ−tert−ブチル−2’−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(5’−tert−ブチル−2’−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(2’−ヒドロキシ−5’−(1,1,3,3−テトラメチルブチル)フェニル)−ベンゾトリアゾール、(2−(3’,5’−ジ−t−ブチル−2’−ヒドロキシフェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾール、(2−(3’−tert−ブチル−2’−ヒドロキシ−5’−メチルフェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾール、(2−(3’−sec−ブチル−5’−tert−ブチル−2’−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、(2−(2’−ヒドロキシ−4’−オクチルオキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3’,5’−ジ−tert−アミル−2’−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3’,5’−ビス−(a,a−ジメチルベンジル)−2’−ヒドロキシフェニル)−ベンゾトリアゾール、混合物であって、2−(3’−tert−ブチル−2’−ヒドロキシ−5’−(2−オクチルオキシカルボニルエチル)フェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾール、2−(3’−tert−ブチル−5’−[2−(2−エチルヘキシルオキシ)カルボニルエチル]−2’−ヒドロキシフェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾール、2−(3’−tert−ブチル−2’−ヒドロキシ−5’−(2−メトキシカルボニルエチル)フェニル)−5−クロロ−ベンゾトリアゾール、2−(3’−tert−ブチル−2’−ヒドロキシ−5’−(2−メトキシカルボニルエチル)フェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3’−tert−ブチル−2’−ヒドロキシ−5’−(2−オクチルオキシカルボニルエチル)フェニル)−ベンゾトリアゾール、2−(3’−tert−ブチル−5’−[2−(2−エチル−ヘキシルオキシ)−カルボニルエチル]−2’−ヒドロキシフェニル)ベンゾトリアゾール、2−(3’−ドデシル−2’−ヒドロキシ−5’−メチルフェニル)−ベンゾトリアゾールおよび2−(3’−tert−ブチル−2’−ヒドロキシ−5’−(2−イソオクチルオキシカルボニルエチル)フェニル−ベンゾトリアゾールの混合物、2,2’−メチレン−ビス[4−(1,1,3,3−テトラメチルブチル)−6−ベンゾトリアゾール−2−イル−フェノール];2−[3’−tert−ブチル−5’−(2−メトキシカルボニルエチル)−2’−ヒドロキシ−フェニル]−ベンゾトリアゾールとポリエチレングリコール300とのエステル交換反応生成物;[R−CH2CH2−COO(CH232−(式中、R=3’−tert−ブチル−4’−ヒドロキシ−5’−2H−ベンゾトリアゾール−2−イル−フェニル)。
2.2−ヒドロキシベンゾフェノン、例えば、4−ヒドロキシ、4−メトキシ、4−オクチルオキシ、4−デシルオキシ、4−ドデシルオキシ、4−ベンジルオキシ、4,2’,4’−トリヒドロキシまたは2’−ヒドロキシ−4,4’−ジメトキシ誘導体。
3.非置換または置換安息香酸のエステル、例えば、サリチル酸4−tert−ブチル−フェニル、サリチル酸フェニル、サリチル酸オクチルフェニル、ジベンゾイルレゾルシノール、ビス(4−tert−ブチルベンゾイル)レゾルシノール、ベンゾイルレゾルシノール、3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシ安息香酸2,4−ジ−tert−ブチルフェニルエステル、3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシ安息香酸ヘキサデシルエステル、3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシ安息香酸オクタデシルエステル、3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシ安息香酸2−メチル−4,6−ジ−tert−ブチルフェニルエステル。
4.アクリレート、例えば、a−シアノ−b,b−ジフェニルアクリル酸エチルエステルもしくはイソオクチルエステル、a−カルボメトキシ−ケイ皮酸メチルエステル、a−シアノ−b−メチル−p−メトキシ−ケイ皮酸メチルエステルもしくはブチルエステル、a−カルボメトキシ−p−メトキシ−ケイ皮酸メチルエステル、N−(b−カルボメトキシ−b−シアノビニル)−2−メチル−インドリン。
5.立体障害性アミン、例えば、ビス(2,2,6,6−テトラメチル−ピペリジル)セバケート、ビス(2,2,6,6−テトラメチル−ピペリジル)スクシネート、ビス(1,2,2,6,6−ペンタメチル−ピペリジル)セバケート、n−ブチル−3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシベンジル−マロン酸ビス(1,2,2,6,6−ペンタメチルピペリジル)エステル、1−ヒドロキシエチル−2,2,6,6−テトラメチル−4−ヒドロキシピペリジンとコハク酸の縮合生成物、N,N’−ビス(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)ヘキサメチレンジアミンと4−tert−オクチルアミノ−2,6−ジクロロ−1,3,5−s−トリアジンとの縮合生成物、トリス(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)ニトリロトリアセテート、テトラキス(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)−1,2,3,4−ブタンテトラオエート、1,1’−(1,2−エタンジイル)−ビス(3,3,5,5−テトラメチル−ピペラジノン)、4−ベンゾイル−2,2,6,6−テトラメチルピペリジン、4−ステアリルオキシ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジン、ビス(1,2,2,6,6−ペンタメチルピペリジル)−2−n−ブチル−2−(2−ヒドロキシ−3,5−ジ−tert−ブチルベンジル)マロネート、3−n−オクチル−7,7,9,9−テトラメチル−1,3,8−トリアザスピロ[4.5]デカン−2,4−ジオン、ビス(1−オクチルオキシ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジル)セバケート、ビス(1−オクチルオキシ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジル)スクシネート、N,N’−ビス(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)ヘキサメチレンジアミンと4−モルホリノ−2,6−ジクロロ−1,3,5−トリアジンとの縮合生成物、2−クロロ−4,6−ジ(4−n−ブチルアミノ−2,2,6,6−テトラメチルピペリジル)−1,3,5−トリアジンと1,2−ビス(3−アミノプロピルアミノ)エタンとの縮合生成物、2−クロロ−4,6−ジ(4−n−ブチルアミノ−1,2,2,6,6−ペンタメチルピペリジル)−1,3,5−トリアジンと1,2−ビス(3−アミノプロピルアミノ)エタンとの縮合生成物、8−アセチル−3−ドデシル−7,7,9,9−テトラメチル−1,3,8−トリアザスピロ[4.5]デカン−2,4−ジオン、3−ドデシル−1−(2,2,6,6−テトラメチル−4−ピペリジル)ピロリジン−2,5−ジオン、3−ドデシル−1−(1,2,2,6,6−ペンタメチル−4−ピペリジル)ピロリジン−2,5−ジオン。
6.シュウ酸ジアミド、例えば、4,4’−ジオクチルオキシ−オキサニリド、2,2’−ジエトキシ−オキサニリド、2,2’−ジ−オクチルオキシ−5,5’−ジ−tert−ブチル−オキサニリド、2,2’−ジドデシルオキシ−5,5’−ジ−tert−ブチル−オキサニリド、2−エトキシ−2’−エチル−オキサニリド、N,N’−ビス(3−ジメチルアミノプロピル)オキサルアミド、2−エトキシ−5−tert−ブチル−2’−エチルオキサニリドおよびそれと2−エトキシ−2’−エチル−5,4’−ジ−tert−ブチル−オキサニリドの混合物、o−およびp−メトキシ−ならびにo−およびp−エトキシ−ジ−置換されたオキサニリドの混合物。
7.2−(2−ヒドロキシフェニル)−1,3,5−トリアジン、例えば、2,4,6−トリス(2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−(2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシフェニル)−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2,4−ビス(2−ヒドロキシ−4−プロポキシフェニル)−6−(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−(2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシフェニル)−4,6−ビス(4−メチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−(2−ヒドロキシ−4−ドデシルオキシフェニル)−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン、2−[2−ヒドロキシ−4−(2−ヒドロキシ−3−ブチルオキシ−プロピルオキシ)フェニル]−4,6−ビス(2,4−ジメチル−フェニル)−1,3,5−トリアジン、2−[2−ヒドロキシ−4−(2−ヒドロキシ−3−オクチルオキシ−プロピルオキシ)フェニル]−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン 、2−[4−ドデシル−/トリデシル−オキシ−(2−ヒドロキシプロピル)オキシ−2−ヒドロキシ−フェニル]−4,6−ビス(2,4−ジメチルフェニル)−1,3,5−トリアジン。
8.ホスファイトおよびホスホナイト、例えば、トリフェニルホスファイト、ジフェニルアルキルホスファイト、フェニルジアルキルホスファイト、トリス(ノニルフェニル)ホスファイト、トリラウリルホスファイト、トリオクタデシルホスファイト、ジステアリル−ペンタエリトリトールジホスファイト、トリス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ホスファイト、ジイソデシルペンタエリトリトールジホスファイト、ビス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)ペンタエリトリトールジホスファイト、ビス(2,6−ジ−tert−ブチル−4−メチルフェニル)ペンタエリトリトールジホスファイト、ビス−イソデシルオキシ−ペンタエリトリトールジホスファイト、ビス(2,4−ジ−tert−ブチル−6−メチルフェニル)ペンタエリトリトールジホスファイト、ビス(2,4,6−トリ−tert−ブチルフェニル)ペンタエリトリトールジホスファイト、トリステアリル−ソルビトールトリホスファイト、テトラキス(2,4−ジ−tert−ブチルフェニル)−4,4’−ビフェニレンジホスホナイト、6−イソオクチルオキシ−2,4,8,10−テトラ−tert−ブチル−12H−ジベンゾ[d,g]−1,3,2−ジオキサホスホシン、6−フルオロ−2,4,8,10−テトラ−tert−ブチル−12−メチル−ジベンゾ[d,g]−1,3,2−ジオキサホスホシン、ビス(2,4−ジ−tert−ブチル−6−メチルフェニル)メチルホスファイト、ビス(2,4−ジ−tert−ブチル−6−メチルフェニル)エチルホスファイト。
このような光安定剤を、例えば隣接する表面コーティング層に添加することもでき、その層からそれらは保護されるべき焼付けラッカーの層に徐々に拡散する。隣接表面コーティング層は焼付けラッカーの下のプライマーまたは焼付けラッカーの上の仕上げラッカーであることができる。
例えば、分光感度をシフトさせるかまたは増加させて照射時間を減少させることができおよび/または他の光源を使用することができるようにする光増感剤を樹脂に加えることも可能である。光増感剤の例は、芳香族ケトンもしくは芳香族アルデヒド(例えば、US4017652に記載)、3−アシル−クマリン、(例えば、US4366228、EP738928、EP22188に記載)、ケト−クマリン(例えば、US5534633、EP538997、JP8272095−Aに記載)、スチリル−クマリン(例えば、EP624580に記載)、3−(アロイルメチレン)−チアゾリン、チオキサントン、縮合した芳香族化合物、例えば、ペリレン、芳香族アミン(例えば、US4069954またはWO96/41237に記載)またはカチオン性および塩基性着色剤(例えば、US4026705に記載)、例えば、エオシン、ロダニンおよびエリトロシン着色剤、ならびに例えば、JP8320551−A、EP747771、JP7036179−A、EP619520、JP6161109−A、JP6043641、JP6035198−A、WO93/15440、EP568993、JP5005005−A、JP5027432−A、JP5301910−A、JP4014083−A、JP4294148−A、EP359431、EP103294、US4282309、EP39025、EP5274、EP727713、EP726497またはDE2027467に記載の染料および顔料である。
他の慣用の添加剤は、意図する用途に依存して、蛍光増白剤、充填剤、顔料、着色剤、湿潤剤または流動性改良剤および接着促進剤である。
厚くかつ着色されたコーティングを硬化させるためには、US5013768に記載のとおり、マイクロガラスビーズまたは粉末状ガラス繊維の添加は好適である。
スルホネート誘導体は、例えば、ハイブリッドシステムにおいて使用することもできる。これらのシステムは、2つの異なる反応機構により完全に硬化される配合物に基づいている。その例は、酸触媒架橋反応または重合反応を受けることができる成分を含むが、第二の機構により架橋するさらなる成分をも含むシステムである。第二の機構の例は、ラジカル完全硬化、酸化的架橋または湿気で開始される架橋である。第二の硬化機構は、必要ならば、適切な触媒を使用して純粋に熱的に開始してもよく、または第二の光開始剤を使用して光によって開始してもよい。適切な追加の光開始剤は上記されている。
組成物がラジカルで架橋可能な成分を含むならば、特に着色された(例えば二酸化チタンを有する)組成物の硬化プロセスは、熱条件下にラジカル形成性である成分、例えば、アゾ化合物、例えば、2,2’−アゾビス(4−メトキシ−2,4−ジメチルバレロニトリル)、トリアゼン、ジアゾスルフィド、ペントアザジエンまたはペルオキシ化合物、例えば、ヒドロペルオキシドまたはペルオキシカーボネート、例えば、EP245639に記載のtert−ブチルヒドロペルオキシドの添加により支援することもできる。レドックス開始剤、例えばコバルト塩の添加は、空気からの酸素での酸化的架橋により、硬化を支援することを可能とする。
表面コーティングは、当該技術分野で慣用の方法の一つ、例えば、噴霧、塗装または浸漬により適用することができる。適切な表面コーティングが使用されると、例えば陽極電気泳動析出による電気的適用も可能である。乾燥後、表面コーティングフイルムを照射する。必要ならば、表面コーティングフイルムを次いで熱処理により完全に硬化させる。
式I、IIまたはIIIの化合物は、複合体から製造された成形品を硬化させるのに使用することもできる。複合体は、例えば、光硬化性配合物で含浸された、自己支持性マトリックス材料、例えば、ガラス繊維布からなる。
スルホネート誘導体を、酸発生剤として使用することができ、それは、ガラス、アルミニウムおよび鋼表面の表面処理および浄化に好適である組成物中で光により活性化されうることは、EP592139から知られている。オルガノシランシステムにおけるこのような化合物の使用は、遊離酸を使用する場合に得られるものよりも、有意に良好な貯蔵安定性を有する組成物をもたらす。式I、IIまたはIIIの化合物は、この用途にも好適である。
本発明のスルホネート誘導体は、ポリマーが必要な性質を有する状態への酸で誘発される遷移を受けるポリマーを、フォトリソグラフィーを使用して成形するために使用することもできる。例えば、スルホネート誘導体を使用して、例えばM. L. Renak; C. Bazan; D. Roitman; Advanced materials 1997, 9, 392に記載の共役発光ポリマーをパターン化するのに使用することができる。このようなパターン化された発光ポリマーを使用して、ミクロスケールのパターン化された発光ダイオード(LED)を製造することができ、この発光ダイオードは、ディスプレーおよびデータ記憶媒体を製造するのに使用することができる。同様な方法で、ポリイミドの前駆体(例えば、現像剤への溶解度を変化させる酸に不安定な保護基を有するポリイミド前駆体)を照射して、マイクロチップおよびプリント回路板の製造における保護コーティング、絶縁層およびバッファー層として機能することができるパターン化されたポリイミド層を形成することができる。
本発明の配合物は、それらがプリント回路板のための連続組み立てシステムに使用される時の絶縁保護コーティング、光像形成性絶縁層および誘電体として、集積回路の製造における応力バッファー層として使用することもできる。
例えばポリアニリンのような共役ポリマーは、プロトンドーピングによって半導体状態から導体状態に転換することができることが知られている。本発明のスルホネート誘導体は、絶縁材料(露光されなかった区域)中に埋め込まれた伝導性構造(露光した区域)を形成するために、このような共役ポリマーを含む組成物を像様に照射するのに使用することもできる。これらの材料は、電気デバイスおよび電子デバイスの製造用のワイヤリングおよびコネクティング部品として使用することもできる。
式I、IIまたはIIIの化合物を含む組成物のための適切な放射源は、約150〜1500ナノメートル、例えば180〜1000ナノメートル、好ましくは190〜700ナノメートルの波長の放射ならびに電子ビーム放射および高エネルギー電磁波、例えばX線を放出する放射源である。点源および平板型投影機(ランプカーペツト)の双方とも適切である。例は、カーボンアークランプ、キセノンアークランプ、金属ハロゲン化物で場合によりドーピングされている(メタルハライドランプ)中圧、高圧および低圧水銀ランプ、マイクロ波で励起される金属蒸気ランプ、エキシマランプ、超化学線作用性蛍光管、蛍光ランプ、アルゴンフィラメントランプ、電子せん光ランプ、写真フラッド灯、シンクロトロンまたはレーザープラズマにより発生させた電子ビームおよびX線ビームである。放射源と照射されるべき本発明に係る基材との間の距離は、例えば、目的の用途ならびに放射源のタイプおよび/または強度にしたがって、2cmから150cmまで変わることができる。適切な放射源は、特に水銀蒸気ランプ、特に、中圧および高圧水銀ランプであり、その放射からの他の波長の発光線は、所望によりフィルターにかけて除外することができる。それは、特に相対的に短い波長の放射についてそうである。しかしながら、適切な波長範囲で発光することができる低エネルギーランプ(例えば、蛍光管)を使用することも可能である。その例は、Philips TL03ランプである。使用することができる他のタイプの放射源は、小さなバンドの発光源としてまたはブロードバンド(白色光)源として全体のスペクトルにわたって種々の波長で発光する発光ダイオード(LED)である。同じく適切なものは、レーザー放射源、例えば、エキシマレーザー、例えば、248nmでの照射用のKr−Fレーザー、193nmでのAr−Fレーザー、または157nmでのF2レーザーである。可視範囲のレーザーおよび赤外範囲のレーザーを使用することもできる。365、405および436ナノメートルの波長の水銀i、hおよびg線の放射は特に適切である。光源として、13nmでのさらなるEUV(極紫外線)も適切である。適切なレーザービーム源は、例えば、454、458、466、472、478、488および514ナノメートルの波長の放射を放出するアルゴン−イオンレーザーである。1064nmの光を発するNd−YAG−レーザーおよびその第二および第三高調波(それぞれ、532nmおよび355nm)を使用することもできる。例えば、442nmの発光を有するヘリウム/カドミウムレーザーまたはUV範囲で発光するレーザーも適切である。そのタイプの照射を使用すると、フォトポリマーコーティングと接触するフォトマスクを使用してポジティブレジストまたはネガティブレジストを製造することは絶対に必須ではなく;制御されたレーザービームはコーティング上に直接描画することができる。その目的で、本発明に係る高感度の材料は極めて有利であり、相対的に低い強度で高い描画速度を可能とする。照射すると、表面コーティングの照射された区域の組成物中のスルホネート誘導体は、分解して酸を形成する。
高強度放射による慣用の紫外線硬化と対照的に、本発明に係る化合物により、相対的に低い強度の放射の作用下に活性化が達成される。このような放射は、例えば、昼光(日光)および昼光と同等な放射源を含む。日光は、紫外線硬化で慣用される人口放射源の光とはスペクトル組成および強度において異なる。本発明に係る化合物の吸収特性は、硬化するための天然の放射源として日光を利用するためにも好適である。本発明に係る化合物を活性化するのに使用することができる昼光と同等な人工光源は、低強度のプロジェクター、例えば、ある蛍光ランプ、例えば、Philips TL05特殊蛍光ランプまたはPhilips TL09特殊蛍光ランプであると理解されるべきである。高い昼光含有率を有するランプおよび昼光自体は、粘着性のない方式で、特に、表面コーティング層の表面を満足に硬化させることができる。その場合に、費用のかかる硬化装置は不必要でありそして組成物は特に屋外仕上げに使用することができる。昼光または昼光と同等な光源による硬化は、エネルギーを節約する方法でありそして屋外用途において揮発性有機成分の放出を防止する。平坦な部品に適切なコンベヤーベルト法と対照的に、昼光硬化は、静止または固定物品および構造物上の屋外仕上げのために使用することもできる。
硬化されるべき表面コーティングは、日光または昼光と同等な光源に直接露光させることができる。しかしながら、硬化は、透明な層(例えばガラスの平面またはプラスチックのシート)の後ろで行うこともできる。
下記する実施例は、本発明をさらに詳細に説明する。部および百分率は、説明の残部および特許請求の範囲におけると同じく、特記しない限り重量による。3個より多くの炭素原子を有するアルキル基が特定の異性体についてのなんらの説明なしで言及される場合には、各々の場合でn−異性体を意味する。
実施例1:
Figure 2008506749

1.1:
Figure 2008506749

p−ターフェニル63.1g(0.27モル)をCH2Cl2 550mlに加え、氷浴により冷却した。この溶液に、AlCl3 40.1g(0.30モル)を加え、続いて7H−ドデカフルオロヘプタノイルクロリド100g(0.27モル)を滴下した。反応混合物を室温で一夜攪拌し、氷水中に注ぎ、そしてCH2Cl2で抽出した。有機相を水で洗浄し、MgSO4で乾燥し、濃縮した。粗生成物をさらに精製しないで、次の段階で使用した。構造は以下により確認した。
Figure 2008506749
1.2:
Figure 2008506749

実施例1.1の化合物123g(0.22モル)をエタノール650mlに溶解した。この溶液に、塩化ヒドロキシルアンモニウム76.6g(1.10モル)およびピリジン209.2g(2.64モル)を加えた。反応混合物を一夜還流し、溶媒をロータリーエバポレーターにより留去した。残渣を水に注ぎ、次いでCH2Cl2で抽出した。有機相を1N HCl、水、食塩水で洗浄し、そしてMgSO4で乾燥した。MgSO4をろ過により除去した後、1M HCl/CH3CO2H220mlを溶液に加え、室温で一夜攪拌した。反応混合物を水および食塩水で洗浄し、MgSO4で乾燥しそして濃縮した。残渣を、トルエンから再結晶することにより精製して、実施例1.2の表題の化合物65.7g(0.115モル;52%)を黄色固体として得た。構造は以下により確認した。
Figure 2008506749

スペクトルは、化合物が、暫定的にE−立体配置とされる、単一の異性体であることを示す。
1.3:
Figure 2008506749

実施例1.2の化合物2.0g(3.49ミリモル)をCH2Cl2 40mlに溶解し、次いで氷浴中で冷却した。この溶液に、トリエチルアミン0.53g(5.23ミリモル)を加え、続いてCH2Cl2 5mlに溶解したp−トルエンスルホニルクロリド0.73g(3.84ミリモル)を滴下した。反応混合物を0℃で1.5時間攪拌し、氷水中に注ぎ、そしてCH2Cl2で抽出した。有機相を1N HClおよび水で洗浄し、MgSO4で乾燥し、濃縮した。残渣を、2−プロパノールから再結晶することにより精製して、実施例1.3の表題化合物1.91g(2.63ミリモル;75%)を、融点138〜140℃のベージュ色固体として得た。構造は以下により確認した。
Figure 2008506749
実施例2:
Figure 2008506749

2.1:
Figure 2008506749

フルオレン45.5g(0.27モル)をCH2Cl2 400ml中に加え、そして氷浴により冷却した。この溶液に、AlCl3 40.1g(0.30モル)を加え、CH2Cl2 50mlに溶解した7H−ドデカフルオロヘプタノイルクロリド100g(0.27モル)を滴下した。反応混合物を室温で一夜攪拌し、氷水に注ぎ、CH2Cl2で抽出した。有機相を水で洗浄し、MgSO4で乾燥し、濃縮した。粗生成物をさらに精製することなく次の段階で使用した。構造は以下により確認した。
Figure 2008506749
2.2:
Figure 2008506749

実施例2.1の化合物130g(0.26モル)をエタノール500mlに溶解した。この溶液に、塩化ヒドロキシルアンモニウム43.9g(0.63モル)およびピリジン124.8g(1.58モル)を加えた。反応混合物を一夜還流し、溶媒をロータリーエバポレーターにより留去した。残渣を水に注ぎ、CH2Cl2で抽出した。有機相を1N HCl、水、食塩水で洗浄し、次いでMgSO4で乾燥した。MgSO4をろ過により除去した後、1M HCl/CH3CO2H260mlを溶液に加え、室温で一夜攪拌した。反応混合物を水および食塩水で洗浄し、MgSO4で乾燥し、濃縮した。残渣を、トルエンから再結晶することにより精製して、実施例2.2の表題化合物114g(0.22モル;86%)を融点120〜121℃のベージュ色固体として得た。構造は以下により確認した。
Figure 2008506749

スペクトルは、化合物が、暫定的にE−立体配置とされる、単一の異性体であることを示す。
2.3:
Figure 2008506749

実施例2.2の化合物2.0g(3.49ミリモル)をCH2Cl2 15mlに溶解し、そして氷浴中で冷却した。この溶液に、トリエチルアミン0.44g(4.32ミリモル)を加え、続いて、CH2Cl2 5mlに溶解したp−トルエンスルホニルクロリド1.12g(5.89ミリモル)を滴下した。反応混合物を室温で一晩攪拌し、氷水中に注ぎ、そしてCH2Cl2で抽出した。有機相を1N HClおよび水で洗浄し、MgSO4で乾燥し、濃縮した。残渣を、2−プロパノールから再結晶することにより精製して、実施例2.3の表題化合物2.04g(3.07ミリモル;78%)を、融点167〜168℃の淡黄色固体として得た。構造は以下により確認した。
Figure 2008506749

スペクトルは、化合物が、暫定的にE−立体配置とされる、単一の異性体であることを示す。
実施例3〜12
対応する物質を使用して、実施例1または2に記載の方法に従って、実施例3〜12の化合物を得た。中間体および生成物の構造および物理的データを表1に列挙する。
Figure 2008506749

Figure 2008506749

Figure 2008506749
実施例13:
下記の成分を混合することにより、化学増幅されたポジティブレジスト配合物を製造した:
樹脂結合剤A50.00部(Nisso, Japan供給のVP8000(Mw:11900)由来の、p−ヒドロキシスチレン62モル%とp−(1−エトキシエトキシ)スチレン38モル%のコポリマー)
樹脂結合剤B50.00部(Mw6592を有するm−クレゾールノボラック樹脂;Asahi Organic Chemicals Industry Co., Japan供給の、EP0010A)
酢酸プロピレングリコールメチルエーテル(PGMEA)400.00部(Tokyo Kasei, Japan供給)
試験されるべき光酸発生剤4.00部
レジスト配合物を、予め底部反射防止用コーティング(Nissan Chemical Industries, Japan供給のXHRiC−11)を塗布したシリコンウエハー上にスピンコーティングし、そしてホットプレート上で90℃で60秒間ソフトベークして、1000nmのフィルム厚さを得た。次いで、レジストフィルムをUshioの高圧水銀ランプ、HB-25106APおよびマスクアライナーCanon PLA-501を使用して、狭いバンド干渉フィルターおよび多濃度石英マスクを通して365nmの波長のi線放射に露光させた。その後、サンプルをホットプレート上で90℃で60秒間露光後ベークし、そして現像した。2.38%水性水酸化テトラメチルアンモニウム現像剤(TOK供給のNMD-3)中での60秒間の浸漬現像によりレジストフイルムを完全に除去するのに丁度十分な線量である、除去線量(E0)を、測定した対照曲線から決定した。必要な線量が小さければ小さいほど、レジスト配合物は感度が高い。
Figure 2008506749
実施例14:
下記の成分を混合することにより化学増幅されたポジティブレジスト配合物を製造する:
樹脂結合剤100.00部(Mw19460を有する、p−ヒドロキシスチレン61モル%とt−ブチルアクリレート39モル%のコポリマー;Maruzen Oil Company, Japan供給の、登録商標Maruzen MARUKA LYNCUR PHS/TBA)
レベリング剤0.05部(3M供給のFC−430)
酢酸プロピレングリコールメチルエーテル(PGMEA)500.00部(Tokyo Kasei, Japan供給)
試験されるべき光酸発生剤4.0部
レジスト配合物を、ヘキサメチルジメチルシラン処理されたシリコンウエーハ上に3000rpmで45秒間スピンコーティングし、そしてホットプレート上で120℃で60秒間ソフトベークして、800nmのフイルム厚さを得た。次いで、レジストフィルムをUshioの高圧水銀ランプ、UXM-501MDおよびマスクアライナーCanon PLA-521を使用して、狭いバンド干渉フィルターおよび多濃度石英マスクを通して254nmの波長の遠紫外線に露光させた。その後、サンプルをホットプレート上で120℃で60秒間露光後ベークし、そして現像した。露光強度は、UshioからのUnimeter UIT-150で測定した。1.79%水性水酸化テトラメチルアンモニウム現像剤中での60秒間の浸漬現像によりレジストフイルムを完全に除去するのに丁度十分な線量である、除去線量(E0)を、測定した対照曲線から決定した。必要な線量が小さければ小さいほど、レジスト配合物は感度が高い。結果は、表3に集められ、組成物がポジティブフォトレジストの製造に好適であることを証明している。
Figure 2008506749

Claims (19)

  1. 式I、IIまたはIII:
    Figure 2008506749

    〔式中、
    1は、C1〜C18アルキルスルホニルまたはフェニルスルホニルであり;その双方は、1個以上のC1〜C18アルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで場合により置換されているか;またはNO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;
    あるいはR1は、カンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり、ここで、そのカンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、C3〜C30シクロアルキルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルは、1個以上のC1〜C18アルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで場合により置換されているか;またはハロゲン、C1〜C10ハロアルキル、NO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;
    あるいはR1は、基
    Figure 2008506749

    であり;
    1、X2およびX3は、互いに独立に、OまたはSであり;
    R’1は、フェニレンジスルホニル、ナフチレンジスルホニル、
    Figure 2008506749

    、ジフェニレンジスルホニルまたはオキシジフェニレンジスルホニルであり、ここでこれらの基は、非置換またはC1〜C12アルキルで置換されており;あるいはR’1は、C1〜C12アルキレンジスルホニルであり;
    2は、ハロゲンまたはC1〜C10ハロアルキルであり;
    Xは、ハロゲンであり;
    Ar1は、フルオレニルであり;それは、1個以上のC1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)、もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで場合により置換されているか;またはハロゲン、NO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;場合により、その置換基(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、−NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27は、基R3、R4、R5、R6および/またはR7を介して、フルオレニル環上のさらなる置換基と共にまたはフルオレニル環の炭素原子の一つと共に、5−、6−または7−員環を形成し;あるいは場合により、その置換基C1〜C18アルキルは、フルオレニル環の一つの炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、場合によりさらなるフェニル環と縮合しており;
    あるいはAr1は、ビフェニリルまたはナフチルであり、双方は、1個以上のC1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで置換されているか;またはハロゲン、NO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;場合により、その置換基(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27、および/またはOSO27は、基R3、R4、R5、R6および/またはR7を介して、ビフェニリルまたはナフチル環上のさらなる置換基と共にまたはビフェニリルまたはナフチル環の炭素原子の一つと共に、5−、6−または7−員環を形成し;あるいは場合により、その置換基C1〜C18アルキルは、ビフェニリルまたはナフチル環の一つの炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、さらなるフェニル環と場合により縮合しており;
    ここで、すべての基Ar1は、場合によりさらに、酸の作用により切断される−O−C−結合または−O−Si−結合を有する基で置換されており;
    Ar’1は、ヘテロアリーレンであり;それは、非置換あるいは1個以上のC1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、Ar2、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で置換されており;
    ここで、すべての基Ar’1は、場合によりさらに、酸の作用により切断される−O−C−結合または−O−Si−結合を有する基で置換されており;
    3は、フェニル、ナフチル、C3〜C30シクロアルキル、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、C2〜C18アルケニル、C4〜C30シクロアルケニルであるか;または1個以上のOで中断されているC2〜C18アルキルであるか;または1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルであるか;あるいはR3は、C2〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり;
    そのすべては、1個以上のAr2、OH、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、C1〜C18アルコキシ、フェノキシ、フェノキシカルボニル、フェニルチオ、フェニルチオカルボニル、NR45、C1〜C12アルキルチオ、C2〜C18アルコキシカルボニル、C2〜C10ハロアルカノイル、ハロベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、(4−メチルフェニル)スルホニル、C1〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C2〜C18アルカノイル、C2〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルおよび/またはベンゾイルオキシで場合により置換されており;
    あるいはR3は、水素であり;
    4およびR5は、互いに独立に、フェニル、ナフチル、C3〜C30シクロアルキル、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、C2〜C12アルケニル、C4〜C30シクロアルケニルであり;または1個以上のOで中断されているC2〜C18アルキルであり;または1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルであり;またはC2〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり;
    そのすべては、1個以上のAr2、OH、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、C1〜C18アルコキシ、フェノキシ、フェノキシカルボニル、フェニルチオ、フェニルチオカルボニル、NR45、C1〜C12アルキルチオ、C2〜C18アルコキシカルボニル、C2〜C10ハロアルカノイル、ハロベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、(4−メチルフェニル)スルホニル、C1〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C2〜C18アルカノイル、C2〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルおよび/またはベンゾイルオキシで場合により置換されており;
    あるいは、R4およびR5は、互いに独立に、水素であり;
    あるいは、R4およびR5は、それらが結合している窒素原子と一緒になって、場合により1個以上のO、NR6もしくはCOで中断されている5−、6−または7−員環を形成し;
    6は、フェニル、ナフチル、C3〜C30シクロアルキル、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、C2〜C12アルケニル、C4〜C30シクロアルケニルであり;または1個以上のOで中断されているC2〜C18アルキルであり;または1個以上のO、S、NR6、O(CO)、もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルであり;またはC2〜C18アルカノイル、ベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、ナフチルスルホニル、アントラシルスルホニルまたはフェナントリルスルホニルであり;
    そのすべては、1個以上のAr2、OH、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、C1〜C18アルコキシ、フェノキシ、フェノキシカルボニル、フェニルチオ、フェニルチオカルボニル、NR45、C1〜C12アルキルチオ、C2〜C18アルコキシカルボニル、C2〜C10ハロアルカノイル、ハロベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、(4−メチルフェニル)スルホニル、C1〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C2〜C18アルカノイル、C2〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルおよび/またはベンゾイルオキシで場合により置換されており;
    あるいは、R6は水素であり;
    7は、フェニル、ナフチル、C3〜C30シクロアルキル、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、C2〜C12アルケニル、C4〜C30シクロアルケニルであり;または1個以上のOで中断されているC2〜C18アルキルであり;または1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルであり;
    そのすべては、1個以上のAr2、OH、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、ハロゲン、NO2、CN、C1〜C18アルコキシ、フェノキシ、フェノキシカルボニル、フェニルチオ、フェニルチオカルボニル、NR45、C1〜C12アルキルチオ、C2〜C18アルコキシカルボニル、C2〜C10ハロアルカノイル、ハロベンゾイル、C1〜C18アルキルスルホニル、フェニルスルホニル、(4−メチルフェニル)スルホニル、C1〜C18アルキルスルホニルオキシ、フェニルスルホニルオキシ、(4−メチルフェニル)スルホニルオキシ、C2〜C18アルカノイル、C2〜C18アルカノイルオキシ、ベンゾイルおよび/またはベンゾイルオキシで場合により置換されており;
    あるいは、R7は水素であり;
    Ar2は、フェニル、ナフチル、アントラシル、フェナントリルまたはヘテロアリールであり;そのすべては、1個以上の、C1〜C18アルキル、C1〜C10ハロアルキル、フェニル−C1〜C3−アルキル、C3〜C30シクロアルキル、1個以上のO、S、NR6、O(CO)もしくはNR6(CO)で中断されているC3〜C30シクロアルキルで場合により置換されており;またはハロゲン、NO2、CN、フェニル、(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27で場合により置換されており、その置換基(CO)R7、(CO)OR3、(CO)NR45、O(CO)R7、O(CO)OR3、O(CO)NR45、NR6(CO)R7、NR6(CO)OR3、OR3、NR45、SR6、SOR7、SO27および/またはOSO27は、場合により、基R3、R4、R5、R6および/またはR7を介して、フェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントラシル、フェナントリル、ヘテロアリールもしくはフルオレニル環上のさらなる置換基と共に、またはフェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントラシル、フェナントリル、ヘテロアリールもしくはフルオレニル環の炭素原子の1つと共に、5−、6−または7−員環を形成し;あるいは場合により、置換基C1〜C18アルキルは、フェニル、ビフェニリル、ナフチル、アントラシル、フェナントリル、ヘテロアリールもしくはフルオレニル環の1個の炭素原子から、その環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、さらなるフェニル環と場合により縮合しており;
    8、R9、R10およびR11は、互いに独立に、非置換またはハロゲンで置換されているC1〜C6アルキルであるか;あるいはR8、R9およびR10は、非置換またはC1〜C4アルキルもしくはハロゲンで置換されているフェニルであるか;あるいはR10およびR11は一緒に、非置換またはC1〜C4アルキルもしくはハロゲンで置換されている1,2−フェニレンまたはC2〜C6アルキレンである〕
    の化合物。
  2. Ar1が、フルオレニルであり;それは、1個以上のC1〜C18アルキル、OR3、ハロゲンおよび/またはAr2で場合により置換されており;あるいは場合により置換基C1〜C18アルキルは、フルオレニル環の1個の炭素原子からその環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、さらなるフェニル環と場合により縮合しており;
    あるいはAr1が、ビフェニリルまたはナフチルであり、双方は、1個以上のC1〜C18アルキル、OR3、ハロゲンおよび/またはAr2で置換されており;あるいは場合により置換基C1〜C18アルキルは、ビフェニリルまたはナフチル環の1個の炭素原子からその環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成し;そのアルキレン架橋は、場合によりさらなるフェニル環と縮合しており;
    Ar’1が、ヘテロアリーレンであり、それは、非置換あるいは1個以上のC1〜C18アルキル、OR3、ハロゲンおよび/またはAr2で置換されており;
    3が、C1〜C12アルキルであり;そして
    Ar2が、フェニルである、
    請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物。
  3. 1が、C1〜C18アルキルスルホニルまたはフェニルスルホニルであり、場合により1個以上のC1〜C18アルキルまたはOR3で置換されており、あるいはR1が、ナフチルスルホニル、カンホリルスルホニル、フェニル−C1〜C3アルキルスルホニル、または基
    Figure 2008506749

    であり;
    1、X2およびX3が、Oであり;
    R’1が、フェニレンジスルホニルであり;
    2が、ハロゲンまたはC1〜C10ハロアルキルであり;
    Xが、ハロゲンであり;
    Ar1が、フルオレニルであり;あるいはAr1が、Ar2で置換されているビフェニリルであるかまたはC1〜C18アルキルで置換されているナフチルであり、ここで、置換基C1〜C18アルキルがナフチル環の1個の炭素原子からその環のもう一つの炭素原子へのアルキレン架橋を形成しており;
    Ar’1が、ヘテロアリーレンであり;それは、非置換またはAr2で置換されており;
    3が、C1〜C18アルキルであり;
    Ar2が、フェニルであり;そして
    10およびR11がフェニルである、
    請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物。
  4. (a)酸の作用により硬化する化合物または酸の作用によりその溶解度が増加する化合物;および
    (b)感光性酸供与剤として、請求項1に記載の少なくとも1種の式I、IIまたはIIIの化合物、
    を含む化学増幅されたフォトレジスト組成物。
  5. ポジティブレジストである、請求項4に記載の化学増幅されたフォトレジスト組成物。
  6. (a1)酸の存在下に分解して水性アルカリ現像剤溶液への溶解度を増加させる、酸に不安定な基を有する少なくとも1種のポリマー;および/または
    (a2)酸の存在下に分解して水性アルカリ現像剤溶液への溶解度を増加させる、酸に不安定な基を有する少なくとも1種のモノマ−またはオリゴマー溶解抑制剤;および/または
    (a3)少なくとも1種のアルカリ可溶性のモノマー、オリゴマーまたはポリマー化合物;および、
    (b)感光性酸供与剤として、少なくとも1種の請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物、
    を含む、請求項5に記載の化学増幅されたポジティブフォトレジスト組成物。
  7. ネガティブレジストである、請求項4に記載の化学増幅されたフォトレジスト組成物。
  8. (a4)結合剤としてアルカリ可溶性樹脂;
    (a5)酸により触媒されるとき、それ自体および/または結合剤との架橋反応を行う成分;および
    (b)感光性酸供与剤として、少なくとも1種の請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物、
    を含む、請求項7に記載の化学増幅されたネガティブフォトレジスト組成物。
  9. 成分(a)および(b)、または成分(a1)、(a2)、(a3)および(b)、または成分(a4)、(a5)および(b)に加えて、さらなる添加剤(c)、さらなる感光性酸供与剤化合物(b1)、他の光開始剤(d)、および/または増感剤(e)を含む、請求項4〜8のいずれか一項に記載の化学増幅されたフォトレジスト組成物。
  10. (1)請求項4に記載の組成物を基材に塗布し;
    (2)その組成物を60℃〜160℃の間の温度で塗布後ベークを行い;
    (3)10nm〜1500nmの間の波長の光で像様に照射し;
    (4)場合により、60℃〜160℃の間の温度でその組成物を露光後ベークし;そして
    (5)溶媒または水性アルカリ現像剤で現像する;
    ことによりフォトレジストを製造する方法。
  11. (1)慣用の方法により得られた式I”またはII”:
    Figure 2008506749

    (式中、R2、Ar1、Ar’1およびXは請求項1に記載したとおりである)
    の対応する遊離オキシム化合物の異性体混合物を酸で処理し;そして
    (2)このようにして製造された単一異性体遊離オキシム化合物を、式VまたはVI
    Figure 2008506749

    の対応する酸ハロゲン化物または酸無水物と反応させる、
    ことによる、請求項1に記載の式I、IIまたはIIIのオキシムエステル化合物の熱的に安定な異性体の特定の製造方法。
  12. (a)酸の作用により硬化する化合物または酸の作用によりその溶解度が増加する化合物;および
    (b)感光性酸供与剤として、請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの少なくとも1種の化合物、
    を含む組成物。
  13. 酸の作用下に架橋されうる組成物中の感光性酸供与剤としておよび/または酸の作用下に溶解度が増加する組成物中の溶解増強剤としての、請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物の使用。
  14. 酸の作用下に架橋されうる化合物を架橋する方法であって、上記した化合物に請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物を加え、次いで10〜1500nmの波長を有する光で像様に照射するかまたは全区域にわたって照射することを含む方法。
  15. 着色および非着色表面コーティング、接着剤、積層用接着剤、構造用接着剤、感圧接着剤、印刷インキ、印刷版、凸版、平板印刷版、凹版、無処理印刷版、スクリーン印刷用ステンシル、歯科用組成物、色フィルター、スペーサー、エレクトロルミネセンスディスプレイおよび液晶ディスプレイ(LCD)、導波路、光学スィッチ、色補強系、レジスト、エレクトロニクス用フォトレジスト、電気メッキレジスト、液体フィルムおよびドライフィルムの双方用のエッチングレジスト、ソルダーレジスト、UVおよび可視レーザー直接結像系用のフォトレジスト材料、プリント基板の逐次的積層における誘電体層形成用のフォトレジスト材料、像記録材料、ホログラフィー像を記録するための像記録材料、光学的情報記憶装置又はホログラフィーデータ記憶装置、脱色材料、像記録材料用の脱色材料、マイクロカプセルを使用する像記録材料、磁気記録材料、マイクロメカニカル部品、メッキマスク、エッチングマスク、ガラスファイバーケーブルコーティング、マイクロエレクトロニクス回路の製造における感光性酸供与剤としての、請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物の使用。
  16. 着色および非着色表面コーティング、接着剤、積層用接着剤、構造用接着剤、感圧接着剤、印刷インキ、印刷版、凸版、平板印刷版、凹版、無処理印刷版、スクリーン印刷用ステンシル、歯科用組成物、色フィルター、スペーサー、エレクトロルミネセンスディスプレイおよび液晶ディスプレイ(LCD)、導波路、光学スィッチ、色補強系、レジスト、エレクトロニクス用フォトレジスト、電気メッキレジスト、液体フィルムおよびドライフィルムの双方用のエッチングレジスト、ソルダーレジスト、UVおよび可視レーザー直接結像系用のフォトレジスト材料、プリント基板の逐次的積層における誘電体層形成用のフォトレジスト材料、像記録材料、ホログラフィー像を記録するための像記録材料、光学的情報記憶装置又はホログラフィーデータ記憶装置、脱色材料、像記録材料用の脱色材料、マイクロカプセルを使用する像記録材料、磁気記録材料、マイクロメカニカル部品、メッキマスク、エッチングマスク、ガラスファイバーケーブルコーティング、マイクロエレクトロニクス回路の製造のための請求項13に記載の方法。
  17. 色フィルターまたは化学増幅されたレジストの製造における感光性酸供与剤としての、請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物の使用。
  18. 色フィルターまたは化学増幅されたレジストの製造のための請求項13に記載の方法。
  19. すべてに感光性樹脂ならびに顔料および/または染料を含む、赤色、緑色および青色画素および黒色マトリックスを透明な基材上に設け、次いで基材の表面または色フィルター層の表面に透明な電極を設けることにより製造される色フィルターであって、その感光性樹脂が、感光性酸供与剤として請求項1に記載の式I、IIまたはIIIの化合物を含む、色フィルター。
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