JP2008281360A - Probe unit and inspection apparatus - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 192
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 25
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 23
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 7
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
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- F16B—DEVICES FOR FASTENING OR SECURING CONSTRUCTIONAL ELEMENTS OR MACHINE PARTS TOGETHER, e.g. NAILS, BOLTS, CIRCLIPS, CLAMPS, CLIPS OR WEDGES; JOINTS OR JOINTING
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Abstract
Description
本発明は、液晶パネル、集積回路等の平板状の被検査体の検査に用いるプローブユニット及び検査装置に関する。 The present invention relates to a probe unit and an inspection apparatus used for inspecting a flat object such as a liquid crystal panel and an integrated circuit.
液晶パネル等の平板状の被検査体は、一般にプローブユニットを用いて検査される。この種のプローブユニットとしては、薄い板状のブレード型プローブを複数枚並べて構成するタイプのものがある。この例としては特許文献1がある。この特許文献1の発明を以下に概説する。
A flat inspection object such as a liquid crystal panel is generally inspected using a probe unit. As this type of probe unit, there is a type in which a plurality of thin plate-like blade-type probes are arranged side by side. There exists
プローブ組立体1は、図2及び図3に示すように、ブロック2と、ブロック2の下側に並列的に配置された帯状の複数のプローブ3と、プローブ3を貫通する細長い一対のガイドバー4と、プローブ3の一部を受け入れる一対のスリットバー5と、プローブ3の後端側に針先の位置を安定化させる長尺のガイド部材6と、ガイドバー4をブロック2に支持させる一対のサイドカバー7とを含んで構成されている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
各プローブ3は、帯状の中央領域3Aと、該中央領域の先端および後端から前方および後方へ伸びる一対の針先領域3Bおよび3Cとを備える。中央領域3Aは、ガイドバー4が貫通するガイド穴3Dを各端部に有する。各プローブ3は、そのガイド穴3Dにガイドバー4が通され、各針先領域3Bおよび3Cがスリットバー5に嵌合されて、ブロック2の下側に配設されている。
Each
これにより、針先領域3Bのプローブが液晶パネル上に横一列に設けられた電極に接触されて電気的に接続され、制御信号送信等が行われる。 As a result, the probes in the needle tip region 3B are brought into contact with and electrically connected to the electrodes provided in a horizontal row on the liquid crystal panel, and control signal transmission or the like is performed.
ところで、液晶パネル等においては、近年、集積化が進んで回路の電極を極めて狭い間隔で配列される場合がある。これに対応するプローブユニットとしては、接触子の位置が異なるブレード型プローブを組み合わせて配設して千鳥状のプローブを構成するプローブユニットがある。
ところで、前記接触子の位置が異なるブレード型プローブを配設して千鳥状のプローブを構成するプローブユニットでは、前記接触子の位置が異なる複数種類のブレード型プローブを多数正確に配置して支持するのが容易でなく、ブレード型プローブのよれ、ゆがみ、破損等が生じてしまうことがあるという問題がある。 By the way, in a probe unit in which blade-type probes having different contact positions are arranged to form a staggered probe, a plurality of types of blade-type probes having different contact positions are accurately arranged and supported. This is not easy, and there is a problem that the blade type probe may be distorted, distorted, or damaged.
本発明は、上述の問題点を解決するためになされたものであり、ブレード型プローブのよれ、ゆがみ、破損等を抑えて各接触子を正確に支持して各電極に確実に接触させることができるプローブユニット及び検査装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and can accurately support each contactor and reliably contact each electrode while suppressing the swaying, distortion, and breakage of the blade-type probe. An object of the present invention is to provide a probe unit and an inspection device that can be used.
前記課題を解決するために本発明に係るプローブユニットは、ブレード型プローブを支持して被検査体の電極に電気的に接触させるプローブ組立体を備えたプローブユニットであって、前記ブレード型プローブが、正確に位置決めされて支持される本体板部と、当該本体板部の先端側に支持されて接触子を支持する先端側腕部と、前記本体板部のFPC側に支持されて接触子を支持するFPC側腕部とを備えると共に、当該ブレード型プローブが第1列用ブレード型プローブと他列用ブレード型プローブとから構成され、前記第1列用ブレード型プローブは、前記先端側腕部の接触子を、前記被検査体の複数列千鳥状に配設される電極の1列目に整合する位置で且つ先端位置に設け、前記他列用ブレード型プローブは、前記先端側腕部の接触子を、前記被検査体の複数列千鳥状に配設される電極の2列目以降に整合する位置に設けると共に、前記接触子の先端側に、前記第1列用ブレード型プローブの先端側腕部とほぼ同じになるように設定された保持板部を設けたことを特徴とする。 In order to solve the above problems, a probe unit according to the present invention is a probe unit including a probe assembly that supports a blade-type probe and makes electrical contact with an electrode of an object to be inspected. A main body plate portion that is accurately positioned and supported; a front arm portion that is supported on the front end side of the main body plate portion to support the contact; and a contact member that is supported on the FPC side of the main body plate portion. And an FPC side arm portion to be supported, and the blade type probe is composed of a first row blade type probe and a second row blade type probe, and the first row blade type probe includes the tip side arm portion. Are provided at a position corresponding to the first row of the electrodes arranged in a staggered manner in the plurality of rows of the object to be inspected, and the blade probe for the other row is provided on the tip side arm portion. contact At the position aligned with the second and subsequent rows of electrodes arranged in a plurality of rows of the test subject, and on the tip side of the contact, the tip side arm of the blade type probe for the first row The holding plate part set so that it may become substantially the same as the part may be provided.
前記構成により、前記第1列用ブレード型プローブの前記先端側腕部の接触子が、前記被検査体の複数列千鳥状の電極の1列目に接触し、前記他列用ブレード型プローブの前記先端側腕部の接触子が、前記被検査体の複数列千鳥状の電極の2列目以降に接触して、制御信号を送信する。このとき、前記他列用ブレード型プローブの保持板部によって、当該他列用ブレード型プローブの先端側腕部と前記第1列用ブレード型プローブの先端側腕部とがほぼ同じ長さになる。 With this configuration, the contact of the tip side arm portion of the first row blade type probe contacts the first row of the plurality of rows of staggered electrodes of the object to be inspected, and the blade type probe of the other row The contact of the tip side arm part contacts the second and subsequent rows of the plurality of staggered electrodes of the object to be inspected and transmits a control signal. At this time, due to the holding plate portion of the blade-type probe for the other row, the tip-side arm portion of the blade-type probe for the other row and the tip-side arm portion of the blade-type probe for the first row have substantially the same length. .
前記他列用ブレード型プローブの保持板部によって、前記スリットとの保持面積を増やすことが望ましい。 It is desirable that the holding area with the slit is increased by the holding plate portion of the blade probe for the other row.
被検査体を外部から搬入し、検査終了後に外部へ搬送するセット部と、当該セット部から渡された被検査体を支持して試験する測定部とを備えた検査装置であって、前記測定部のプローブユニットとして、前記プローブユニットを用いることが望ましい。 An inspection apparatus comprising a set unit that carries an object to be inspected from outside and conveys the object to be inspected after completion of the inspection, and a measuring unit that supports and inspects the object to be inspected delivered from the set unit. It is desirable to use the probe unit as the probe unit of the part.
以上のように、前記他列用ブレード型プローブの保持板部によって、当該他列用ブレード型プローブの先端側腕部と前記第1列用ブレード型プローブの先端側腕部とがほぼ同じ長さになるため、各ブレード型プローブのよれ、ゆがみ、破損等を抑えて各接触子を正確に支持して各電極に確実に接触させることができる。 As described above, due to the holding plate portion of the blade-type probe for the other row, the tip-side arm portion of the blade-type probe for the other row and the tip-side arm portion of the blade-type probe for the first row are almost the same length. Therefore, each blade type probe can be prevented from being warped, distorted, broken, etc., and each contactor can be accurately supported and reliably brought into contact with each electrode.
以下、本発明の実施形態に係るプローブユニット及び検査装置について、添付図面を参照しながら説明する。本実施形態の検査装置は、被検査体の検査に用いる検査装置であって、被検査体を外部から搬入し、検査終了後に外部へ搬送するセット部と、当該セット部から渡された被検査体を支持して試験する測定部とを備えものである。この検査装置の前記測定部のプローブユニットとして、本実施形態に係るプローブユニットを用いる。なお、本実施形態の検査装置は、前記従来の検査装置とほぼ同様であるため、ここではプローブユニットを中心に説明する。また、本発明に係る検査装置としては、本実施形態に係るプローブユニットを用いることができる装置すべてに適用することができる。 Hereinafter, a probe unit and an inspection apparatus according to embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. The inspection apparatus according to the present embodiment is an inspection apparatus used for inspecting an object to be inspected, and includes a set unit that carries the object to be inspected from the outside and conveys the object to the outside after the inspection is completed, and the object to be inspected delivered from the set unit And a measuring unit for supporting and testing the body. The probe unit according to this embodiment is used as the probe unit of the measurement unit of the inspection apparatus. In addition, since the inspection apparatus of this embodiment is substantially the same as the conventional inspection apparatus, the probe unit will be mainly described here. The inspection apparatus according to the present invention can be applied to all apparatuses that can use the probe unit according to the present embodiment.
本実施形態のプローブユニット11は、図4に示すように、被検査体としての液晶パネル12の検査装置に用いられる装置である。液晶パネル12は、長方形の形状をしており、また複数の電極(図示せず)を長方形の隣り合う2つの辺に対応する縁部に所定のピッチで形成している。各電極は、液晶パネル12の表面の回路の高集積化に伴って複数段の千鳥状に配設されている。
As shown in FIG. 4, the
プローブユニット11は主に、プローブベース13と、プローブ組立体14とを備えて構成されている。
The
プローブベース13は、検査装置の本体フレーム側に固定される部材である。プローブベース13は、本体フレーム側に固定された状態で、プローブ組立体14を支持している。
The
プローブ組立体14は、プローブを支持して液晶パネル12の電極に電気的に接触させるための装置である。プローブ組立体14は図5に示すように主に、サスペンションベース16と、スライドブロック17と、プローブプレート18と、FPCベース19と、プローブブロック20とを備えて構成されている。
The
サスペンションベース16は、スライドブロック17等を介して後述するプローブブロック20のブレード型プローブ38を支持するための部材である。サスペンションベース16は、全体をほぼ立方体状に形成されてプローブベース13に固定されている。サスペンションベース16の先端側には、スライドブロック17を上側から付勢するための庇部16Aが設けられている。庇部16Aにはボルト穴22が設けられ、ボルト23がねじ込まれている。このボルト23の先端側が後述するスライドブロック17のスプリング穴17Bに挿入されている。サスペンションベース16の先端側面の前記庇部16Aの下側には、スライドブロック17を上下方向にスライド可能に案内するレール24が設けられている。
The
スライドブロック17は、上下へスライドしてプローブブロック20を支持するための部材である。スライドブロック17はおおむね立方体状に形成されている。スライドブロック17の下部には、プローブプレート18を覆う大きさの庇部17Aが形成されている。プローブプレート18は、この庇部17Aを含むスライドブロック17の下側面に当接して支持される。スライドブロック17の基端面(図5中の右側面)には、サスペンションベース16のレール24に嵌合してスライドブロック17の上下への移動を支持するガイド26が取り付けられている。スライドブロック17の上側面には、スプリング28を挿入するためのスプリング穴17Bが設けられている。スプリング28は、ボルト23に支持されてスプリング穴17B内に挿入され、スライドブロック17を下方へ付勢している。このスプリング28による付勢力によって、後述する各接触子56,64が液晶パネル12の各電極に接触した状態で各接触子56,64を各電極側に付勢している。
The
プローブプレート18は、スライドブロック17に支持された状態で、FPCベース19とプローブブロック20とを支持するための部材である。プローブプレート18は、その上側面がスライドブロック17の下側面に固定された状態で、下側面にFPCベース19とプローブブロック20とが固定されている。
The
FPCベース19は、FPCケーブル27を支持して外部装置と後述するブレード型プローブ38とを電気的に接続するための部材である。FPCケーブル27は、その基端部がプローブベース13の下側面に取り付けられた中継基板29に接続され、先端部がFPCベース19の下側面に取り付けられている。FPCベース19の先端部には、後述するブレード型プローブ38のFPC側の接触子57に電気的に接触する端子(図示せず)、この端子を保護するガイドフィルム30、駆動用集積回路(図示せず)等が設けられている。
The FPC
プローブブロック20は、液晶パネル12の回路(図示せず)に検査信号送信等を行うために液晶パネル12の電極に電気的に接触するための部材である。プローブブロック20は、図6,7に示すように、ブロック片33と、スリットバー34と、ガイドバー35と、サポートピン36と、カバー37と、ブレード型プローブ38とから構成されている。
The
ブロック片33は、その下側面に複数のブレード型プローブ38を一定間隔を空けて一体的に支持するための部材である。ブロック片33は、その下側面がブレード型プローブ38の上側面形状に合わせて凹ませて形成されている。ブロック片33の左右両側(図6中の左上右下方向の両側)には、カバー37を固定するためのネジ穴40が複数設けられている。ブロック片33の上側面には、プローブブロック20をプローブプレート18に固定するためのネジ穴41が複数設けられている。
The
スリットバー34は、多数配設されるブレード型プローブ38のうち後述する各先端側腕部51,61と各FPC側腕部52,62とをそれぞれ正確に位置決めして支持するための部材である。このスリットバー34は、セラミックスで形成され、熱による影響を受けずにブレード型プローブ38を正確に支持するようになっている。先端側スリットバー34Aはブレード型プローブ38の各先端側腕部51,61を支持し、FPC側スリットバー34Bはブレード型プローブ38の各FPC側腕部52を支持する。各スリットバー34A,34Bは、多数のスリット43を設けて構成されている。各スリット43は、ブレード型プローブ38の各先端側腕部51,61及び各FPC側腕部52,62を設定間隔を空けて支持するためのスリットである。先端側スリットバー34Aの各スリット43の間隔は、各スリット43に嵌合する先端側腕部51,61の後述する接触子56,64が液晶パネル12の各電極の間隔に整合するように設定されている。FPC側スリットバー34Bのスリット43の間隔は、各スリット43に嵌合するFPC側腕部52の後述する接触子57がFPCケーブル27の端子の間隔に整合するように設定されている。
The
ガイドバー35は、ブレード型プローブ38を支持するための部材である。ガイドバー35は大径円柱状に形成されている。大径円柱状のガイドバー35の直径は、ブレード型プローブ38の後述する位置決め穴53の内径に整合する寸法に設定されている。これは、ガイドバー35を介してブレード型プローブ38の位置決めをするためである。即ち、ブレード型プローブ38の位置決め穴53にガイドバー35が嵌合した状態でこのガイドバー35を位置決めすると、このガイドバー35の中心軸に直交する方向のブレード型プローブ38の位置が正確に決まる。このため、ガイドバー35の直径をブレード型プローブ38の位置決め穴53の内径に整合する寸法に設定して、ガイドバー35を位置決めすることで、このガイドバー35の中心軸に直交する方向のブレード型プローブ38の位置決めが正確にできるようになっている。
The
サポートピン36は、ガイドバー35と共に、ブレード型プローブ38を支持するための部材である。サポートピン36は円形棒状に形成されている。このサポートピン36の直径は、ブレード型プローブ38の後述するサポートピン穴54の内径に整合する寸法に設定されている。これは、ガイドバー35と共にサポートピン36を介してブレード型プローブ38の位置決めをするためである。
The
カバー37は、ガイドバー35とサポートピン36を支持するための板材である。カバー37は2枚用いられ、ブロック片33の両側に取り付けられている。カバー37には、カバー固定用ネジ穴45と、ガイドバー固定用ネジ穴46と、サポートピン固定用ネジ穴47とが設けられている。カバー固定用ネジ穴45は8個、ガイドバー固定用ネジ穴46は2個、サポートピン固定用ネジ穴47は2個設けられている。各ネジ穴は正確に位置決めして設けられ、ブロック片33に対してガイドバー35とサポートピン36を正確に位置決めして支持するようになっている。各ネジ穴45にネジ48がねじ込まれてカバー37がブロック片33に固定される。
The
ブレード型プローブ38は、液晶パネル12の回路の電極に直接に接触して検査信号送信等を行うため部材である。ブレード型プローブ38は、図1,8,9に示すように構成されている。なお、図1においては、本願発明と従来のプローブとの比較のために、本実施形態に係る2種類のブレード型プローブ38と、従来のブレード型プローブとを並べて記載している。
The blade-
本実施形態に係るブレード型プローブ38は、第1列用ブレード型プローブ38Aと第2列用ブレード型プローブ38Bとから構成されている。
The
第1列用ブレード型プローブ38Aは、複数列千鳥状に配設された電極の1列目に整合するプローブである。ここでは、電極が2列千鳥状に配設されているが、3列以上に配列される場合もある。第1列用ブレード型プローブ38Aは、図1(a)に示すように、本体板部50と、先端側腕部51と、FPC側腕部52とから構成されている。
The first-row blade-
本体板部50は、ガイドバー35とサポートピン36とを通すためのガイドバー穴53と、サポートピン穴54とが設けられている。ガイドバー穴53は、その内径がガイドバー35の外径寸法と整合する寸法に設定されている。サポートピン穴54は、その内径がサポートピン36の外径寸法と整合する寸法に設定されている。これにより、本体板部50は、正確に位置決めされて支持される。
The main
先端側腕部51は、その先端部で下側に向いた接触子56を支持するための部材である。先端側腕部51では、2列千鳥状に配設される液晶パネル12の電極の1列目に整合する先端位置に接触子56が設けられている。
The distal end
FPC側腕部52は、その基端部(図1中の右側端部)で上側に向いた接触子57を支持するための部材である。FPC側腕部52では、FPCケーブル27の端子に整合する位置に接触子57が設けられている。
The FPC
第2列用ブレード型プローブ38Bは、複数列千鳥状に配設された電極の2列目に整合する他列用ブレード型プローブである。ここでは、電極を2列千鳥状に配設しているため、他列用ブレード型プローブは、第2列用ブレード型プローブ38Bだけとなる。第2列用ブレード型プローブ38Bは、図1(c)に示すように、本体板部60と、先端側腕部61と、FPC側腕部62とから構成されている。
The second-row blade-
本体板部60は、前記第1列用ブレード型プローブ38Aの本体板部50と同様に構成されている。
The main
先端側腕部61は、その先端近傍で下側に向いた接触子64を支持するための部材である。先端側腕部61は、その全長を第1列用ブレード型プローブ38Aの先端側腕部51と同じ位置まで延ばして形成されている。先端側腕部61の先端部には、図9に示すように、接触子64と保持板部65が設けられている。接触子64は、2列千鳥状に配設される液晶パネル12の電極の2列目に整合する位置(先端側腕部61の先端部から電極1列分ずれた位置)に設けられている。この接触子64の位置は、図1(b)の従来のブレード型プローブの接触子と同じ位置である。なお、液晶パネル12の電極が3列千鳥状に配設されているときは、それぞれの列の電極に整合するように接触子64を設けたブレード型プローブ38が構成される。
The distal end
前記接触子64の先端側の保持板部65は、スリットバー34の各スリット43との間での保持面積を増やすための部材である。保持板部65は、接触子64の先端側に角状に突き出して設けられている。この保持板部65の寸法は、その先端部が第1列用ブレード型プローブ38Aの先端側腕部51の先端部と同じ位置になるように設定されている。保持板部65の寸法を第1列用ブレード型プローブ38Aの先端側腕部51の寸法と同じにするのは、コンタクト位置の精度を確保すると共に、ブレード型プローブ38のよれ、歪みを抑えて、スリットバー34の各スリット43の破損を防止するためである。図10のように、保持板部65を設けない先端側腕部61の場合は、スリットバー34に対してガイドバー35及びサポートピン36が多少ずれると、短い先端側腕部61に比べて長い先端側腕部51が相対的に大きく移動してずれてしまう。これにより、先端側腕部51のよれ、歪みが大きくなってしまい、またスリットバー34のスリット43がよれたり、歪んだり、破損したりしてしまうことがある。
The holding
これに対して図8のように、第1列用ブレード型プローブ38A及び第2列用ブレード型プローブ38Bの全てのブレード型プローブ38が同じ長さになると、全てのブレード型プローブ38が均等にスリットバー34のスリット43に接触して局部的な応力の集中を防止できる。これにより、スリットバー34の各スリット43に対して各先端側腕部51,61のズレを抑えて、プローブコンタクト位置精度を確保すると共に、各ブレード型プローブ38の各先端側腕部51,61のよれ、歪みを抑えて、スリット43の破損を防止している。
On the other hand, as shown in FIG. 8, when all the blade type probes 38 of the first row
保持板部65は接触子64の先端部(下端部)に対して十分な高さを確保できる形状にする。具体的には、接触子64の先端部が液晶パネル12の電極に接触したときに、保持板部65の先端部が液晶パネル12の表面の回路に接触しないように、十分な高さを確保できる形状にする。さらに、スリットバー34のスリット43に確実に挿入される形状にする。保持板部65の厚さは、先端側腕部61と同様に、スリット43に挿入できる厚さである。
The holding
なお、保持板部65の寸法は、その先端部が第1列用ブレード型プローブ38Aの先端側腕部51の先端部と同じ位置になるように設定する場合以外に、保持板部65の寸法を、第1列用ブレード型プローブ38Aの先端側腕部51よりも多少短く又は長くなるように設定しても良い。ミクロン単位で見た場合に、スリット43の幅、先端側腕部51の寸法等の諸条件で、多少の違いが出るため、それに合わせて保持板部65の寸法を設定する。
Note that the dimensions of the holding
FPC側腕部62は、前記第1列用ブレード型プローブ38AのFPC側腕部52と同様に構成されている。
The FPC
以上のように構成されたプローブユニット11は次のように作用する。なお、検査装置全体の作用は従来の検査装置と同様であるため、ここでは、プローブユニット11の作用のみを説明する。
The
ブレード型プローブ38がガイドバー35とサポートピン36とに通されて、ガイドバー35とサポートピン36が2つのカバー37に固定され、さらに、各カバー37がブロック片33に固定されてプローブ組立体14が構成される。そして、プローブ組立体14がプローブベース13に固定されて、プローブ組立体14のブレード型プローブ38の接触子56,64が液晶パネル12の各電極に接触される。
The
この状態で、第1列用ブレード型プローブ38Aの接触子56の先端側腕部51と、第2列用ブレード型プローブ38Bの接触子64の先端側腕部61は、スリットバー34の各スリット43にそれぞれ嵌合されて支持されている。
In this state, the distal end
このとき、第1列用ブレード型プローブ38Aの先端側腕部51の最先端部である接触子56と、第2列用ブレード型プローブ38Bの先端側腕部61の最先端部である保持板部65がほぼ同じ長さになる。このため、先端側腕部51,61は、スリットバー34の各スリット43に嵌合した状態で、ほぼ同じ面積、ほぼ同じ力で各スリット43に接触している。
At this time, the
これにより、各ブレード型プローブ38A,38Bのよれ、ゆがみ、破損等が抑えられる。この結果、各接触子56,64を正確に支持して液晶パネル12の各電極に確実に接触させることができる。
As a result, the blade type probes 38A and 38B can be prevented from being warped, distorted, damaged, or the like. As a result, the
[変形例]
前記実施形態では、ガイドバー35と共にサポートピン36を設けたが、サポートピン36は設けない場合もある。精度を高める必要がある場合にサポートピン36を設ける。
[Modification]
In the embodiment, the
前記実施形態では、液晶パネル12の電極が2列千鳥状に配設された場合を例に説明したが、3列以上の千鳥状に配設される場合も、前記同様の作用、効果を奏することができる。
In the above embodiment, the case where the electrodes of the
11:プローブユニット、12:液晶パネル、13:プローブベース、14:プローブ組立体、16:サスペンションベース、17:スライドブロック、18:プローブプレート、19:FPCベース、20:プローブブロック、22:ボルト穴、23:ボルト、24:レール、26:ガイド、27:FPCケーブル、28:スプリング、29:中継基板、30:ガイドフィルム、33:ブロック片、34:スリットバー、34A:先端側スリットバー、34B:FPC側スリットバー、35:ガイドバー、36:サポートピン、37:カバー、38:ブレード型プローブ、38A:第1列用ブレード型プローブ、38B:第2列用ブレード型プローブ、40:ネジ穴、41:ネジ穴、43:スリット、45:カバー固定用ネジ穴、46:ガイドバー固定用ネジ穴、47:サポートピン固定用ネジ穴、48:ネジ、50:本体板部、51,61:先端側腕部、52,62:各FPC側腕部、53:位置決め穴、54:サポートピン穴、56,64:接触子、57:接触子、60:本体板部、62:FPC側腕部、65:保持板部、 11: Probe unit, 12: Liquid crystal panel, 13: Probe base, 14: Probe assembly, 16: Suspension base, 17: Slide block, 18: Probe plate, 19: FPC base, 20: Probe block, 22: Bolt hole , 23: bolt, 24: rail, 26: guide, 27: FPC cable, 28: spring, 29: relay board, 30: guide film, 33: block piece, 34: slit bar, 34A: tip side slit bar, 34B : FPC side slit bar, 35: guide bar, 36: support pin, 37: cover, 38: blade type probe, 38A: blade type probe for first row, 38B: blade type probe for second row, 40: screw hole , 41: screw hole, 43: slit, 45: screw hole for fixing the cover, 46: screw Dover fixing screw hole, 47: screw pin for supporting pin, 48: screw, 50: main body plate part, 51, 61: tip side arm part, 52, 62: each FPC side arm part, 53: positioning hole, 54 : Support pin hole, 56, 64: contactor, 57: contactor, 60: body plate part, 62: FPC side arm part, 65: holding plate part,
Claims (3)
前記ブレード型プローブが、正確に位置決めされて支持される本体板部と、当該本体板部の先端側に支持されて接触子を支持する先端側腕部と、前記本体板部のFPC側に支持されて接触子を支持するFPC側腕部とを備えると共に、当該ブレード型プローブが第1列用ブレード型プローブと他列用ブレード型プローブとから構成され、
前記第1列用ブレード型プローブは、前記先端側腕部の接触子を、複数列千鳥状の配列のうちの1列目に整合する位置で且つ先端位置に設け、
前記他列用ブレード型プローブは、前記先端側腕部の接触子を、複数列千鳥状の配列のうちの2列目以降に整合する位置に設けると共に、前記接触子の先端側に、前記第1列用ブレード型プローブの先端側腕部とほぼ同じになるように設定された保持板部を設けたことを特徴とするプローブユニット。 A probe unit comprising a probe assembly that supports a blade-type probe and makes electrical contact with an electrode of a device under test,
The blade type probe is supported on the FPC side of the main body plate portion, the main body plate portion that is accurately positioned and supported, the front end side arm portion that is supported on the front end side of the main body plate portion, and supports the contactor. And an FPC side arm portion supporting the contact, and the blade type probe is composed of a first row blade type probe and another row blade type probe,
The first-row blade-type probe is provided with a contact on the tip-side arm at a position that matches the first row of a plurality of staggered arrangements at the tip position,
The blade probe for the other row is provided with a contact of the tip side arm portion at a position aligned with the second row or later of the plurality of rows of staggered arrangements, and on the tip side of the contact, A probe unit comprising a holding plate portion set so as to be substantially the same as the distal end side arm portion of the one-row blade type probe.
ブレード型プローブの先端側腕部及びFPC側腕部を挿入するスリットを複数設けたスリットバーを備え、
前記他列用ブレード型プローブの保持板部が、前記スリットとの保持面積を増やすことを特徴とするプローブユニット。 The probe unit according to claim 1, wherein
A slit bar provided with a plurality of slits for inserting the tip side arm portion and the FPC side arm portion of the blade type probe;
The probe unit, wherein the holding plate portion of the blade probe for the other row increases a holding area with the slit.
被検査体を外部から搬入し、検査終了後に外部へ搬送するセット部と、当該セット部から渡された被検査体を支持して試験する測定部とを備え、
前記測定部のプローブユニットとして、請求項1又は2に記載のプローブユニットを用いたことを特徴とする検査装置。 An inspection apparatus used for inspecting an object to be inspected,
A set unit that carries the object to be inspected from the outside and conveys it to the outside after the inspection is completed, and a measuring unit that supports and inspects the object to be inspected passed from the set part,
An inspection apparatus using the probe unit according to claim 1 or 2 as a probe unit of the measurement unit.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007123646A JP5459646B2 (en) | 2007-05-08 | 2007-05-08 | Probe unit and inspection device |
TW097112340A TWI361896B (en) | 2007-05-08 | 2008-04-03 | Probe unit and inspection apparatus |
KR1020080032100A KR100965195B1 (en) | 2007-05-08 | 2008-04-07 | Probe Unit and Inspection Apparatus |
CN2008100818537A CN101303370B (en) | 2007-05-08 | 2008-05-08 | Probe unit and detection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007123646A JP5459646B2 (en) | 2007-05-08 | 2007-05-08 | Probe unit and inspection device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008281360A true JP2008281360A (en) | 2008-11-20 |
JP5459646B2 JP5459646B2 (en) | 2014-04-02 |
Family
ID=40113374
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007123646A Active JP5459646B2 (en) | 2007-05-08 | 2007-05-08 | Probe unit and inspection device |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5459646B2 (en) |
KR (1) | KR100965195B1 (en) |
CN (1) | CN101303370B (en) |
TW (1) | TWI361896B (en) |
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---|---|
JP5459646B2 (en) | 2014-04-02 |
CN101303370A (en) | 2008-11-12 |
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TWI361896B (en) | 2012-04-11 |
TW200909815A (en) | 2009-03-01 |
CN101303370B (en) | 2011-09-07 |
KR20080099130A (en) | 2008-11-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
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R250 | Receipt of annual fees |
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