JP2008269635A - Semiconductor processor - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor processor such as a card type electronic device, for eliminating relatively easily trouble due to power interruption caused by removal of a card. <P>SOLUTION: This semiconductor processor is provided with an interface control circuit 4 and a processing circuit 5, and is attached to an external device, for example, a card slot 11, to receive operation power. The processing circuit is a nonvolatile memory erasable and writable electrically. The interface control circuit detects a potential change generated in the first external terminal H1 separated from a prescribed terminal P1 of the card slot, before the power interruption from the card slot, when removed from the card slot, in order to eliminate the trouble due to the power interruption caused by the removal of the card, and instructs end processing to the processing circuit in operation. The semiconductor processor carries out the end processing by itself, before the supply of the power is interrupted completely. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、ATA(ATアタッチメント)カード又はCF(コンパクトフラッシュ)カード等の規格に準拠したフラッシュメモリカードに代表されるカード型電子装置等の半導体処理装置に関し、特に動作中における半導体処理装置の不所望な抜き取りによるデータ破壊の防止もしくはデータ復旧を可能にする技術に適用して有効な技術に関する。   The present invention relates to a semiconductor processing apparatus such as a card-type electronic device typified by a flash memory card conforming to a standard such as an ATA (AT attachment) card or a CF (compact flash) card, and more particularly to a malfunction of the semiconductor processing apparatus during operation. The present invention relates to a technique effective when applied to a technique that enables prevention of data destruction or data recovery due to desired extraction.

カードスロットに対するATAカード等の装着及び引き抜き検出にはカード内でプルダウンされた端子とカードスロット内部でプルアップされた端子との対応端子を用いる。カードスロットにカードが装着されて前記対応端子が接続されるとカードスロットの対応端子がグランドに引かれ、当該対応端子を監視するカードスロット内のインタフェース回路がカードの装着を検出してカードに動作電源の供給を開始する。カードの引き抜き時は先に前記対応端子が分離することによってカードスロットのインタフェース回路が当該端子が電源電圧にされるのを検出することによりカード引き抜きを検出する。カードスロットのインタフェース回路はカード引き抜きを検出して動作電源の供給を停止する(特許文献1参照)。   For detection of attachment or withdrawal of an ATA card or the like with respect to the card slot, a corresponding terminal between a terminal pulled down in the card and a terminal pulled up in the card slot is used. When a card is inserted into the card slot and the corresponding terminal is connected, the corresponding terminal of the card slot is pulled to the ground, and the interface circuit in the card slot that monitors the corresponding terminal detects the insertion of the card and operates on the card Start supplying power. When the card is pulled out, the corresponding terminal is separated before the card slot interface circuit detects that the terminal is set to the power supply voltage, thereby detecting the card pulling out. The card slot interface circuit detects card removal and stops the operation power supply (see Patent Document 1).

特開2000−99215号公報(図5)JP 2000-99215 A (FIG. 5)

しかしながら上記従来技術はカード引き抜きによる電源遮断によってカード側で発生する不都合について考慮されていない。本発明者の検討によれば、フラッシュメモリカードにデータの書込みを行っている最中にカードが引き抜かれて動作電源の供給が遮断され、電源電圧が低下する中でメモリ部に単にデータ書き込み動作を続けるとメモリ部に悪影響を及ぼす場合がある。例えば、書込み処理前の消去処理を行ったところで動作電源が遮断されると、過消去状態の不揮発性メモリセルが残る場合がある。ここで過消去状態の不揮発性メモリセルとは、消去状態のメモリセルのしきい値電圧が含まれるべきしきい値電圧分布を超えて、メモリセルのしきい値電圧が変化している状態をいい、例えば消去状態のしきい値電圧分布が低電圧側にある場合、しきい値電圧がしきい値電圧分布よりも低い電圧になり負電圧状態になっている様なメモリセルを指す。しきい値電圧が負電圧になっている様なメモリセルではワード線に非選択レベルの電圧(例えば0V)を印可したとしても、メモリセルはオン状態となりチャネルに電流が流れてしまう。このような過消去メモリセルがノーマリ・オンの状態になると、これとビット線を共有するメモリセルは誤動作を生ずる。これに対しては、過消去メモリセルを残さないようにする、過消去メモリセルの発生の虞を把握して後から復旧や救済処理を可能にする、或は、誤動作の虞のある回路部分を後から切り離し可能にする、等の対策を講ずることが必要になる。   However, the above prior art does not take into account the inconvenience that occurs on the card side when the power is cut off by pulling out the card. According to the study of the present inventor, while data is being written to the flash memory card, the card is pulled out, the supply of the operating power is cut off, and the data writing operation is simply performed in the memory unit while the power supply voltage decreases. Continued operation may adversely affect the memory unit. For example, if the operating power supply is cut off after performing the erasing process before the writing process, an over-erased nonvolatile memory cell may remain. Here, the over-erased nonvolatile memory cell is a state in which the threshold voltage of the memory cell is changed beyond the threshold voltage distribution that should include the threshold voltage of the erased memory cell. For example, when the threshold voltage distribution in the erased state is on the low voltage side, it indicates a memory cell whose threshold voltage is lower than the threshold voltage distribution and is in a negative voltage state. In a memory cell in which the threshold voltage is a negative voltage, even if a non-selection level voltage (for example, 0 V) is applied to the word line, the memory cell is turned on and a current flows through the channel. When such an overerased memory cell is normally on, the memory cell sharing the bit line with it will malfunction. To avoid this, do not leave over-erased memory cells, grasp the possibility of over-erased memory cells and enable recovery or repair later, or circuit parts that may malfunction It is necessary to take measures such as making it possible to detach it later.

そのために、(1)予備バッテリを持つ、(2)容量の大きなコンデンサを持つ、(3)データ領域の2重化、(4)ユーザへの注意徹底等で対処することも可能である。しかしながら、(1)については小型のカードでは予備バッテリを搭載する容積的な余裕はない。また原価も上昇する。(2)については容量の大きなコンデンサも項目(1)と同様である。(3)についてはデータの管理方式が複雑になる。(4)については全てのユーザへの徹底は不可能である。   Therefore, it is possible to deal with (1) having a spare battery, (2) having a large capacity capacitor, (3) duplicating the data area, and (4) thorough attention to the user. However, with regard to (1), a small card does not have the capacity to mount a spare battery. Costs will also rise. Regarding (2), a capacitor having a large capacity is the same as item (1). For (3), the data management method is complicated. Regarding (4), it is impossible to make all users thorough.

本発明の目的は、カード引き抜きによる電源遮断による不都合を比較的容易に解消することができるカード型電子装置に代表される半導体処理装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a semiconductor processing apparatus typified by a card-type electronic device that can relatively easily eliminate the inconvenience due to power interruption caused by card removal.

本発明の別の目的は、カード引き抜きによる電源遮断による不都合をメモリやデータ管理方式等に応じて対策することが可能なカード型電子装置に代表される半導体処理装置を提供することにある。   Another object of the present invention is to provide a semiconductor processing apparatus typified by a card-type electronic apparatus capable of taking measures against the inconvenience caused by power supply interruption due to card removal in accordance with a memory, a data management system, or the like.

本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。   The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。   The following is a brief description of an outline of typical inventions disclosed in the present application.

〔1〕半導体処理装置例えばカード型電子装置(1)は、インタフェース制御回路(4)と処理回路(5)を有し外部装置例えばカードスロット(11)に装着されて動作電源の供給を受ける。カード引き抜きによる電源遮断による不都合を解消する第1形態として、前記インタフェース制御回路は、カードスロットから引き抜かれるときカードスロットからの電源供給遮断前にカードスロットの所定の端子(P1、Pvs2)から分離する第1外部端子(H1、Fvs2)に生ずる電位変化を検出し、動作状態の処理回路に終了処理を指示する。上記より、電源供給が完全に遮断される前にカード型電子装置は自らで終了処理を行うことができる。   [1] A semiconductor processing device such as a card-type electronic device (1) has an interface control circuit (4) and a processing circuit (5), and is mounted in an external device such as a card slot (11) to receive operation power. As a first mode for solving the inconvenience due to power interruption due to card removal, the interface control circuit separates from a predetermined terminal (P1, Pvs2) of the card slot before power supply from the card slot is interrupted when being pulled out from the card slot. A potential change occurring at the first external terminal (H1, Fvs2) is detected, and an end process is instructed to the processing circuit in the operating state. As described above, the card type electronic device can perform the termination process by itself before the power supply is completely cut off.

第2形態として、前記インタフェース制御回路は、カードスロットから引き抜かれるときカードスロットからの電源供給遮断前にカードスロットの所定の端子から分離する第1外部端子に生ずる電位変化を検出し、電源遮断の発生を示すフラグを不揮発性ラッチ回路(25)に保持する。上記より、インタフェース制御回路は電源投入後にフラグをチェックし、電源遮断発生の有無を判別し、電源遮断が有ったときは、処理回路の異常を検出し、必要に応じて復旧処理を行えばよい。   As a second form, the interface control circuit detects a potential change occurring at a first external terminal separated from a predetermined terminal of the card slot before the power supply from the card slot is cut off when the interface control circuit is pulled out from the card slot. A flag indicating the occurrence is held in the nonvolatile latch circuit (25). From the above, the interface control circuit checks the flag after turning on the power, determines whether or not the power is cut off, and if the power is cut off, detects an abnormality in the processing circuit and performs recovery processing if necessary. Good.

第3形態として、前記インタフェース制御回路は、カードスロットから引き抜かれるときカードスロットからの電源供給遮断前にカードスロットの所定の端子から分離する第1外部端子に生ずる電位変化を検出し、電源回路例えばチャージポンプ回路(30)を起動させて処理回路の動作電源を補う。上記より、電源供給が完全に遮断されるまでの時間を引き延ばすことができ、その間に必要な処理を完了することが容易になる。チャージポンプ回路のような電源回路は元々処理回路に内蔵されているもの、或はそれ専用に増設されたもの、の何れであってもよい。   As a third form, the interface control circuit detects a potential change occurring at a first external terminal separated from a predetermined terminal of the card slot before the power supply from the card slot is cut off when the interface control circuit is pulled out from the card slot. The charge pump circuit (30) is activated to supplement the operation power supply of the processing circuit. From the above, it is possible to extend the time until the power supply is completely cut off, and it becomes easy to complete necessary processing during that time. The power supply circuit such as a charge pump circuit may be either one originally built in the processing circuit or one added exclusively for it.

動作状態の処理回路に対する終了処理の指示状況を逸早くホスト装置にも知らせるには、前記第1外部端子に接続するモニタ端子(H2)を設ける。前記モニタ端子は前記第1外部端子に生ずる電位変化をホスト装置にモニタ可能にする端子である。   In order to quickly inform the host device of the end processing instruction status for the processing circuit in the operating state, a monitor terminal (H2) connected to the first external terminal is provided. The monitor terminal is a terminal that enables a host device to monitor a potential change occurring in the first external terminal.

〔2〕電源遮断検出の第1形態として、前記第1外部端子(H1)はリセット指示の解除後に第1電圧にされるリセット端子であり、前記リセット端子は第2外部端子(Hvd)に抵抗素子(7)を介して接続され、前記第2外部端子はカードスロットから前記第1電圧とは逆極性の第2電圧が供給される。   [2] As a first form of power shutoff detection, the first external terminal (H1) is a reset terminal that is set to the first voltage after canceling the reset instruction, and the reset terminal is a resistance to the second external terminal (Hvd). The second external terminal is connected via an element (7), and a second voltage having a polarity opposite to the first voltage is supplied from the card slot.

第2形態として、前記第1外部端子は処理回路の動作状態において第1電圧にされる外部端子であり、前記外部端子は第2外部端子に抵抗素子を介して接続され、前記第2外部端子はカードスロットから前記第1電圧とは逆極性の第2電圧が供給される。前記外部端子は、例えば処理回路が動作中であることを間接的に示し得る信号端子である。   As a second form, the first external terminal is an external terminal that is set to a first voltage in an operating state of the processing circuit, the external terminal is connected to the second external terminal via a resistance element, and the second external terminal A second voltage having a polarity opposite to the first voltage is supplied from the card slot. The external terminal is, for example, a signal terminal that can indirectly indicate that the processing circuit is operating.

上記第1及び第2形態において、前記第1電圧は回路の接地電圧(GND)であり第2電圧は電源電圧(Vdd)であり、第2外部端子は外部電源端子(Hvd)である。その逆であってもよい。即ち、前記第1電圧は電源電圧(Vdd)であり第2電圧は回路の接地電圧(GND)であり、第2外部端子はグランド源端(Hvs)である。   In the first and second embodiments, the first voltage is a circuit ground voltage (GND), the second voltage is a power supply voltage (Vdd), and the second external terminal is an external power supply terminal (Hvd). The reverse is also possible. That is, the first voltage is a power supply voltage (Vdd), the second voltage is a circuit ground voltage (GND), and the second external terminal is a ground source terminal (Hvs).

電源遮断検出の第3形態として、第1外部端子は複数のグランド端子(Fvs1,Fvs2)の内の一つ(Fvs2)であり、前記一つのグランド端子は抵抗素子(7)を介して電源端子(Fvd)に接続される。   As a third form of power shutdown detection, the first external terminal is one (Fvs2) of a plurality of ground terminals (Fvs1, Fvs2), and the one ground terminal is a power supply terminal via a resistance element (7). Connected to (Fvd).

電源遮断検出の何れの形態であっても、電源供給端子はカードスロットの対応端子に対し第1外部端子が分離された後に分離される。   In any form of power shutdown detection, the power supply terminal is separated after the first external terminal is separated from the corresponding terminal of the card slot.

〔3〕本発明が不揮発性メモリカードに適用される場合、前処理回路は電気的に消去及び書き込み可能な不揮発性メモリ(5)であり、前記インタフェース制御回路は外部インタフェース制御と前記不揮発性メモリに対すメモリ制御を行う制御回路(4)である。   [3] When the present invention is applied to a nonvolatile memory card, the preprocessing circuit is an electrically erasable and writable nonvolatile memory (5), and the interface control circuit includes an external interface control and the nonvolatile memory. 4 is a control circuit (4) for performing memory control on the.

このとき、前記終了処理は、例えば消去及び書き込み処理途中の不揮発性メモリセルの閾値電圧を所定の閾値電圧分布に揃える処理である。データの書込み途中で不所望な電源遮断が発生しても過消去状態のメモリセルが残らない。   At this time, the termination process is a process for aligning the threshold voltages of the nonvolatile memory cells in the middle of the erase and write processes with a predetermined threshold voltage distribution, for example. Even if an undesired power interruption occurs during data writing, no overerased memory cells remain.

別の例として前記終了処理は、消去及び書き込み処理途中の不揮発性メモリセルのブロック(消去及び書き込み単位)を識別可能な識別フラグをフラッシュメモリにセットして保存する処理である。これにより、インタフェース制御回路は電源投入後に不揮発性メモリ上の識別フラグをチェックし、消去及び書き込み処理途中で電源遮断が発生したメモリブロックの有無を判別し、そのようなメモリブロックに対しては過消去による不都合を生じないように、データ管理方式等に応じてメモリブロックの代替などの復旧処理を行えばよい。   As another example, the termination process is a process of setting an identification flag that can identify a block (erase and write unit) of a nonvolatile memory cell that is in the process of being erased and written in a flash memory. As a result, the interface control circuit checks the identification flag on the non-volatile memory after the power is turned on, determines whether there is a memory block in which the power is cut off during the erasing and writing process, and overloads such a memory block. Recovery processing such as replacement of a memory block may be performed in accordance with a data management method or the like so as not to cause inconvenience due to erasure.

識別フラグのセットと共に消去及び書き込み処理途中の不揮発性メモリセルに対する完全遂行処理を併用してもよい。   The complete execution process for the nonvolatile memory cell in the middle of the erasing and writing process may be used together with the setting of the identification flag.

〔4〕本発明の別の観点による半導体処理装置例えばカード型電子装置は、外部装置例えばカードスロットの対応端子に着脱可能な複数の外部端子と、前記複数の外部端子に接続する第1処理回路(4)と、前記第1処理回路の制御を受ける第2処理回路(5)と、前記複数の外部端子の内の第1外部端子と第2外部端子とを接続する抵抗素子(7)と、を有する。前記第1外部端子は第2処理回路の動作状態において第1電圧にされる。前記第2外部端子は第2電圧を受ける。前記第1処理回路は、前記カードスロットから離脱するときカードスロットからの電源供給が遮断される前に前記第1外部端子が前記第1電圧から第2圧に変化するのを検出してそれに応答する処理を行う。応答する処理は前記終了処理の指示などである。   [4] A semiconductor processing device according to another aspect of the present invention, for example, a card-type electronic device, includes a plurality of external terminals that can be attached to and detached from corresponding terminals of an external device such as a card slot, and a first processing circuit that is connected to the plurality of external terminals. (4), a second processing circuit (5) that is controlled by the first processing circuit, and a resistance element (7) that connects a first external terminal and a second external terminal of the plurality of external terminals. Have. The first external terminal is set to the first voltage in the operating state of the second processing circuit. The second external terminal receives a second voltage. The first processing circuit detects that the first external terminal changes from the first voltage to the second pressure before the power supply from the card slot is cut off when the card is removed from the card slot, and responds to the detection. Perform the process. The process to respond is an instruction of the end process.

前記第1外部端子は、例えば、リセット指示の解除後に第1電圧にされるリセット端子である。   The first external terminal is, for example, a reset terminal that is set to the first voltage after the reset instruction is canceled.

例えば前記第2処理回路は電気的に消去及び書き込み可能な不揮発性メモリであり、前記第1処理回路は外部インタフェース制御と前記不揮発性メモリに対すメモリ制御を行う制御回路である。   For example, the second processing circuit is an electrically erasable and writable nonvolatile memory, and the first processing circuit is a control circuit that performs external interface control and memory control for the nonvolatile memory.

本発明の更に別の観点による半導体処理装置例えばカード型電子装置は、外部装置例えばカードスロットの対応端子に着脱可能な複数の外部端子と、前記複数の外部端子に接続する第1処理回路と、前記第1処理回路の制御を受ける第2処理回路と、前記複数の外部端子の内の第1外部端子と第2外部端子とを接続する抵抗素子と、を有する。前記第1外部端子は複数のグランド端子の内の一つである。前記第2端子は電源端子である。前記第1処理回路は、前記カードスロットから離脱するときカードスロットからの電源供給が遮断される前に前記第1外部端子が回路の接地電圧から電源電圧に変化するのを検出してそれに応答する処理を行う。例えば、前記第1外部端子は、カードスロットから引き抜かれるとき他のグランド端子に比べてカードスロットの対応端子からの早く分離される配置を有する。   A semiconductor processing device, for example, a card-type electronic device according to still another aspect of the present invention, includes a plurality of external terminals that can be attached to and detached from corresponding terminals of an external device, such as a card slot, and a first processing circuit connected to the plurality of external terminals A second processing circuit that is controlled by the first processing circuit; and a resistance element that connects the first external terminal and the second external terminal of the plurality of external terminals. The first external terminal is one of a plurality of ground terminals. The second terminal is a power supply terminal. The first processing circuit detects and responds to the change of the first external terminal from the circuit ground voltage to the power supply voltage before the power supply from the card slot is cut off when the first processing circuit is detached from the card slot. Process. For example, when the first external terminal is pulled out from the card slot, the first external terminal is separated earlier from the corresponding terminal of the card slot than other ground terminals.

本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである。   The effects obtained by the representative ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

すなわち、電源供給が完全に遮断される前にカード型電子装置に代表される半導体処理装置それ自体で引き抜きを検出し、電源遮断に至る前にそれに対所することができる。したがって、メモリカードであれば、メモリやデータ管理方式に応じて遮断対策を講ずることができる。これにより、予備バッテリを備えたり、大きなコンデンサを持たなくても済み、原価低減と小型軽量化に寄与することができる。電源遮断による不良が減り、カード型電子装置等の半導体処理装置の信頼性を向上させることができる。   That is, before the power supply is completely cut off, the semiconductor processing apparatus represented by the card-type electronic device itself can detect the pulling out and can take action against it before the power is cut off. Therefore, in the case of a memory card, a blocking measure can be taken according to the memory and the data management method. Thereby, it is not necessary to provide a spare battery or a large capacitor, which can contribute to cost reduction and reduction in size and weight. Defects due to power interruption are reduced, and the reliability of a semiconductor processing apparatus such as a card-type electronic apparatus can be improved.

図1には本発明に係る半導体処理装置の一例であるフラッシュメモリカードが例示される。同図に示されるフラッシュメモリカードは例えばPCMCIA(Personal Computer Memory Card International Association)の規格に準拠したPCカードの一種である。   FIG. 1 illustrates a flash memory card which is an example of a semiconductor processing apparatus according to the present invention. The flash memory card shown in FIG. 1 is a kind of PC card that conforms to the standard of PCMCIA (Personal Computer Memory Card International Association), for example.

フラッシュメモリカード1はカード基板2にインタフェース端子部3、コントローラ4及び電気的に消去及び書込み可能な不揮発性メモリの一種であるフラッシュメモリメモリ5が搭載されて構成される。インタフェース端子部3はパーソナルコンピュータなどのカードホスト装置10に設けられているカードスロット11に着脱される。インタフェース端子の種類及び物理的構成はメモリカードが準拠する規格に従って決定される。例えば、インタフェース端子部3には電源端子Hvd、接地端子Hvs、カードディテクト端子Hcd、及び複数の信号端子H1〜Hnが設けられる。信号端子H1〜Hnにはクロック信号端子を含んでいる。カードスロット11にはそれらに対応する端子として、電源端子Pvd、接地端子Pvs、カードディテクト端子Pcd、及び複数の信号端子P1〜Pnが設けられる。例えばカードスロット11側のインタフェース端子Pvd、Pvs、Pcd、P1〜Pnはピン、メモリカード側のインタフェース端子Hvd、Hvs、Hcd、H1〜Hnはピンが挿入されるホールによって構成される。ホールで構成されるインタフェース端子Hvd、Hvs、Hcd、H1〜Hnの先端部は揃えられている。ピンで構成されるインタフェース端子Pvd、Pvs、Pcd、P1〜Pnは電源系端子Pvd,Pvsの先端部が最も突出され、その次に信号端子P1〜Pn、カードディテクト端子Pcdの順に短くされる。   The flash memory card 1 is configured by mounting an interface terminal unit 3, a controller 4, and a flash memory memory 5 which is a kind of electrically erasable and writable nonvolatile memory on a card substrate 2. The interface terminal unit 3 is attached to and detached from a card slot 11 provided in a card host device 10 such as a personal computer. The type and physical configuration of the interface terminal are determined according to the standard to which the memory card conforms. For example, the interface terminal unit 3 includes a power supply terminal Hvd, a ground terminal Hvs, a card detect terminal Hcd, and a plurality of signal terminals H1 to Hn. The signal terminals H1 to Hn include clock signal terminals. The card slot 11 is provided with a power terminal Pvd, a ground terminal Pvs, a card detect terminal Pcd, and a plurality of signal terminals P1 to Pn as corresponding terminals. For example, the interface terminals Pvd, Pvs, Pcd, P1 to Pn on the card slot 11 side are constituted by pins, and the interface terminals Hvd, Hvs, Hcd, H1 to Hn on the memory card side are constituted by holes into which pins are inserted. The front ends of the interface terminals Hvd, Hvs, Hcd, and H1 to Hn configured by holes are aligned. The interface terminals Pvd, Pvs, Pcd, and P1 to Pn configured by pins are protruded most at the front ends of the power supply system terminals Pvd and Pvs, and then shortened in order of the signal terminals P1 to Pn and the card detect terminal Pcd.

カードスロット11のインタフェース端子Pvd,Pvs,Pcd,P1〜Pnは図示を省略するカード制御部に接続され、カード装着分離の検出、カード装着分離検出に応ずる電源の供給と停止の制御、信号インタフェース制御を行う。特に図示はしないが、メモリカード内でカードディテクト端子Hcdはプルダウンされ、カードスロット内部でカードディテクト端子Pcdはプルアップされる。カードスロット11にメモリカード1が装着されて前記対応端子HcdとPcdが接続されるとカードスロット11の端子Pcdが回路の接地電圧(グランド電圧)GNDに引かれ、当該対応端子を監視するカードスロット11内のインタフェース回路がカードの装着を検出してメモリカード1に動作電源の供給を開始する。メモリカード1の引き抜き時は先に前記カードディテクト端子PcdとHcdが分離することによってカードスロット11のインタフェース回路が当該端子が電源電圧にされるのを検出することによりカード引き抜きを検出する。カードスロット11のインタフェース回路はカード引き抜きを検出して動作電源の供給を停止する。   The interface terminals Pvd, Pvs, Pcd, P1 to Pn of the card slot 11 are connected to a card control unit (not shown), detection of card attachment separation, control of power supply and stop according to card attachment separation detection, signal interface control I do. Although not specifically shown, the card detect terminal Hcd is pulled down in the memory card, and the card detect terminal Pcd is pulled up in the card slot. When the memory card 1 is inserted into the card slot 11 and the corresponding terminals Hcd and Pcd are connected, the terminal Pcd of the card slot 11 is pulled to the circuit ground voltage (ground voltage) GND, and the card slot for monitoring the corresponding terminal The interface circuit in 11 detects the insertion of the card and starts supplying the operation power to the memory card 1. When the memory card 1 is pulled out, the card detect terminal Pcd and Hcd are separated first, so that the interface circuit of the card slot 11 detects that the terminal is set to the power supply voltage, thereby detecting the card pulling out. The interface circuit of the card slot 11 detects the card removal and stops supplying the operating power.

メモリカード1においてコントローラ4及びフラッシュメモリ5は電源端子Hvdとグランド端子Hvsに接続され、カードスロット11より動作電源の供給を受ける。コントローラ4はホスト装置とのインタフェース制御を行い、またフラッシュメモリ5に対しメモリインタフェース制御を行う。   In the memory card 1, the controller 4 and the flash memory 5 are connected to the power supply terminal Hvd and the ground terminal Hvs, and are supplied with operating power from the card slot 11. The controller 4 performs interface control with the host device and performs memory interface control for the flash memory 5.

フラッシュメモリ5は、電気的に消去及び書き込み可能な多数の不揮発性メモリセルがマトリクス配置されたメモリマットを有する。前記不揮発性メモリセルは、特に制限されないが、ソース(ソース線接続)、ドレイン(ビット線接続)、チャネル、チャネル上に相互に絶縁されて積み上げられたフローティングゲート及びコントロールゲート(ワード線接続)を持つスタックドゲート構造とされる。例えばワード線に負の高電圧を印加してフローティングゲートから電子をウェル領域に引き抜くことによって消去処理が行なわれ、また、ワード線電圧に正の高電圧を印加してドレイン領域からフローティングゲートへホットキャリアを注入して書込み処理が行なわれる。消去処理と書込み処理ではその後のコントロールゲートから見た閾値電圧が相違され、この相違により情報記憶を行う。   The flash memory 5 has a memory mat in which a large number of electrically erasable and writable nonvolatile memory cells are arranged in a matrix. The nonvolatile memory cell is not particularly limited, but includes a source (source line connection), a drain (bit line connection), a channel, a floating gate and a control gate (word line connection) stacked on each other and insulated from each other. It has a stacked gate structure. For example, an erase process is performed by applying a negative high voltage to the word line and extracting electrons from the floating gate to the well region, and applying a positive high voltage to the word line voltage to hot the drain region to the floating gate. Writing processing is performed by injecting carriers. The threshold voltage viewed from the subsequent control gate is different between the erasing process and the writing process, and information is stored by this difference.

コントローラ4はフラッシュメモリ5をハードディスク互換のファイルメモリとしてアクセス制御する。例えば、フラッシュメモリ5のデータ領域をセクタ単位でアクセス可能にアドレス管理すると共に、不良セクタに対する代替セクタの割り当て制御などを行う。フラッシュメモリ5に対するアクセスでは、物理アドレスを用いて、消去処理、書込み処理、読み出し処理のアクセス制御を行う。   The controller 4 controls access to the flash memory 5 as a hard disk compatible file memory. For example, address management is performed so that the data area of the flash memory 5 can be accessed in units of sectors, and allocation of alternative sectors to defective sectors is controlled. In access to the flash memory 5, access control of erase processing, write processing, and read processing is performed using a physical address.

メモリカード1自らがカードスロット11からの引き抜きを検出する構成について説明する。図1の例では信号端子H1が電源端子Hvdに抵抗素子7でプルアップされる。信号端子H1は、カードホスト装置10の対応端子P1に接続されているとき、カードホスト装置10からのリセット指示の解除後に接地電圧GNDにされるリセット端子である。リセット端子P1は出力端子であり、カードホスト装置10はメモリカード1の装着を検出すると、リセット端子P1をハイレベルのパルス状に変化させてコントローラ4を初期化する。その後リセット端子P1は常時ローレベルを維持する。この意味において、コントローラ4からの指示に応答してフラッシュメモリ5が消去及び書込み処理等を行っているビジー状態においてローレベルにされる信号の一つと位置付けることができる。   A configuration in which the memory card 1 itself detects removal from the card slot 11 will be described. In the example of FIG. 1, the signal terminal H1 is pulled up by the resistance element 7 to the power supply terminal Hvd. The signal terminal H1 is a reset terminal that is set to the ground voltage GND after the reset instruction from the card host device 10 is canceled when connected to the corresponding terminal P1 of the card host device 10. The reset terminal P1 is an output terminal, and when the card host device 10 detects the mounting of the memory card 1, the controller 4 is initialized by changing the reset terminal P1 to a high level pulse. Thereafter, the reset terminal P1 always maintains a low level. In this sense, in response to an instruction from the controller 4, the flash memory 5 can be positioned as one of signals that are set to a low level in a busy state in which erasing and writing processes are performed.

図2にはメモリカード1がカードホスト装置10に装着されている状態を示す。図2においてリセット端子P1とグランド端子Pvsの間にスイッチが図示されているが、このスイッチはリセット解除後にオン状態にされてリセット端子P1をローレベルにするための回路要素を模式的に示すものである。   FIG. 2 shows a state in which the memory card 1 is mounted on the card host device 10. In FIG. 2, a switch is shown between the reset terminal P1 and the ground terminal Pvs. This switch schematically shows a circuit element for turning on the reset terminal P1 after the reset is released. It is.

図2の状態において、リセット端子H1は接地電圧GNDを維持する。カードホスト装置10からメモリカード1を引き抜こうとすると、先ず最初にカードディテクト端子Hcdがカードスロット11の対応端子Pcdから分離し、カードホスト装置10のカードコントローラは端子Pvdに対する動作電源の供給を停止する。動作電源の供給が停止されてもカードホスト装置10側の電源供給系における寄生容量成分により、実際に端子Pvd,Hvdの電源電圧が低下するには比較的時間がかかる。この間に、先ず、リセット端子H1がカードホスト装置10の信号端子P1から離脱する。これにより、リセット端子H1は抵抗素子7を介して電源電圧Vddが印加され、ハイレベルに反転される。リセット端子H1のハイレベルはラッチ回路22に保持され、ラッチ回路22の出力信号23によってフラッシュメモリ5に終了処理が指示される。この後、更にメモリカード1が引き抜かれてカードスロット11の端子Pvd,Pvsからメモリカード1の端子Hvd,Hvsが離脱するまでには時間が有り、この間に、フラッシュメモリ5は前記指示に応答して終了処理を完了する。   In the state of FIG. 2, the reset terminal H1 maintains the ground voltage GND. When an attempt is made to pull out the memory card 1 from the card host device 10, the card detect terminal Hcd is first separated from the corresponding terminal Pcd of the card slot 11, and the card controller of the card host device 10 stops supplying operating power to the terminal Pvd. . Even if the supply of operating power is stopped, it takes a relatively long time to actually reduce the power supply voltages of the terminals Pvd and Hvd due to the parasitic capacitance component in the power supply system on the card host device 10 side. During this time, first, the reset terminal H1 is disconnected from the signal terminal P1 of the card host device 10. As a result, the power supply voltage Vdd is applied to the reset terminal H1 via the resistance element 7, and the reset terminal H1 is inverted to a high level. The high level of the reset terminal H1 is held in the latch circuit 22, and an end process is instructed to the flash memory 5 by the output signal 23 of the latch circuit 22. After that, there is a time until the memory card 1 is further pulled out and the terminals Hvd and Hvs of the memory card 1 are disconnected from the terminals Pvd and Pvs of the card slot 11, during which the flash memory 5 responds to the instruction. To complete the termination process.

前記終了処理は、例えば消去及び書き込み処理途中の不揮発性メモリセルの閾値電圧を所定の閾値電圧分布に揃える処理(書き上げ処理とも称する)である。ここでは終了処理の指示信号23はフラッシュメモリ5のリセット信号(reset)である。フラッシュメモリ5は消去処理又は書き込み処理の途中でリセット信号がアサートされると、書き上げ処理を行う。例えばフラッシュメモリにおいて消去及び書込みがワード線単位のメモリセルに対して行なわれるとすると、書き上げ処理とは過消去もしくはそれに近い消去状態のメモリセルに対して軽い書き込みを行う処理である。軽い書き込みとは、書き込み高電圧印加時間を通常の書き込み処理よりも短くする書き込み処理であり、消去対象のメモリセルのうち、しきい値電圧が負電圧となっているメモリセルのしきい値電圧を正電圧にまで高くする処理である。ワード線単位に消去及び書込が行われる場合に、ワード線に書込電圧を印可した場合、しきい値電圧が負電圧となっているメモリセルでは電荷を蓄積する電荷蓄積層に印可される電位差が、しきい値電圧が正電圧となっているメモリセルの電荷蓄積層に印可される電位差に比べて大きくなるため、しきい値電圧が負電圧となっているメモリセル程、早く書込が行われることになる。書き上げ処理では過消去状態特にしきい値電圧が負電圧状態になっているメモリセルのしきい値電圧を正電圧にすることが目的であるため、通常の書込処理よりも書込電圧の印加時間は短くて良い。これにより、フラッシュメモリカード1は、電源供給が完全に遮断される前に、データの書込み途中で不所望な電源遮断が発生しても過消去状態のメモリセルが残らないように、自らで処理を行うことができる。   The termination process is, for example, a process (also referred to as a write-up process) for aligning the threshold voltages of the nonvolatile memory cells in the middle of the erase and write processes with a predetermined threshold voltage distribution. Here, the end processing instruction signal 23 is a reset signal (reset) of the flash memory 5. The flash memory 5 performs a writing process when a reset signal is asserted during the erasing process or the writing process. For example, if erasing and writing are performed on a memory cell in units of word lines in a flash memory, the writing process is a process of performing light writing on a memory cell in an over-erased state or an erased state close thereto. Light write is a write process in which the write high voltage application time is made shorter than the normal write process. Among the memory cells to be erased, the threshold voltage of the memory cell whose threshold voltage is a negative voltage Is a process of increasing the voltage to a positive voltage. When erasing and writing are performed in units of word lines, if a write voltage is applied to the word line, the memory cell having a negative threshold voltage is applied to the charge storage layer that stores charges. Since the potential difference is larger than the potential difference applied to the charge storage layer of the memory cell having a positive threshold voltage, the memory cell having a negative threshold voltage is written earlier. Will be done. In write-up processing, the purpose is to make the threshold voltage of an over-erased state, in particular a memory cell in which the threshold voltage is in a negative voltage state, positive. The time can be short. As a result, before the power supply is completely shut down, the flash memory card 1 processes itself so that no over-erased memory cells remain even if an undesired power cut occurs during data writing. It can be performed.

別の終了処理として、消去及び書き込み処理途中の不揮発性メモリセルのブロックを識別可能な識別フラグをセットして保存する。識別フラグの格納場所はフラッシュメモリの識別フラグ専用領域であっても、或はセクタ管理領域であってもよい。セクタ管理領域の場合には、その後の電源投入によって読み出し可能であることが保証されなければならない。この意味では、識別フラグ専用領域を用いた方が高い信頼性を得る。この時の終了処理の指示もフラッシュメモリ5に対するリセット信号(seset)として与えられればよい。このリセット信号(reset)がアサートされたとき消去処理又は書き込み処理中であれば上記識別フラグを格納する終了処理を行えばよい。これにより、コントローラ4は電源投入後にフラッシュメモリ5上の識別フラグをチェックし、消去及び書き込み処理途中で電源遮断が発生したメモリブロックの有無を判別し、そのようなメモリブロックに対しては過消去による不都合を生じないように、データ管理方式等に応じてメモリブロックの代替などの復旧処理を行えばよい。   As another end process, an identification flag that can identify a block of the nonvolatile memory cell in the middle of the erase and write process is set and stored. The storage location of the identification flag may be an identification flag dedicated area of the flash memory or a sector management area. In the case of the sector management area, it must be ensured that the data can be read by subsequent power-on. In this sense, higher reliability is obtained by using the identification flag dedicated area. An instruction for termination processing at this time may also be given as a reset signal (set) to the flash memory 5. When the reset signal (reset) is asserted, if the erase process or the write process is in progress, an end process for storing the identification flag may be performed. As a result, the controller 4 checks the identification flag on the flash memory 5 after the power is turned on, determines whether or not there is a memory block in which the power is cut off during the erasing and writing process, and over-erasing such a memory block. In order to avoid the inconvenience caused by the above, recovery processing such as replacement of a memory block may be performed according to a data management method or the like.

識別フラグのセットと共に消去及び書き込み処理途中の不揮発性メモリセルに対する完全遂行処理を併用してもよい。セクタの代替を減らすことができ、代替セクタの消費を抑えることが可能になる。   The complete execution process for the nonvolatile memory cell in the middle of the erasing and writing process may be used together with the setting of the identification flag. Sector replacement can be reduced, and consumption of alternative sectors can be suppressed.

図4には終了処理の指示経路の別の例が示される。コントローラ4にはインタフェース制御及びメモリ制御用のマイクロコンピュータ20が設けられている。マイクロコンピュータ20のコントロールレジスタ(図示を省略)の1ビットはカード引き抜き検出機能を有効にするか否かを設定するための設定ビットを有する。この設定ビットは論理値“1”でカード引き抜き検出機能を有効とする。この有効ビット信号は端子H1の信号と共に2入力論理積(AND)ゲート21に入力され、その出力をD型ラッチ回路22のクロック端子で受ける。D型ラッチ回路22のデータ端子Dは接地端子Vssに接続され、その出力端子Qからフラッシュメモリに対するリセット信号23(reset)が出力される。フラッシュメモリーカード1はカードスロット11に対して任意の着脱を許容しない、ハードディスクと完全互換の用途もあり、その時は終了処理の指示は全く不用になる。このとき設定ビットは論理値“0”固定されればよい。   FIG. 4 shows another example of an instruction path for end processing. The controller 4 is provided with a microcomputer 20 for interface control and memory control. One bit of the control register (not shown) of the microcomputer 20 has a setting bit for setting whether or not to enable the card removal detection function. This set bit has a logical value of “1” to enable the card removal detection function. This valid bit signal is input to a two-input AND gate 21 together with the signal at the terminal H 1, and its output is received at the clock terminal of the D-type latch circuit 22. The data terminal D of the D-type latch circuit 22 is connected to the ground terminal Vss, and a reset signal 23 (reset) for the flash memory is output from the output terminal Q. The flash memory card 1 does not allow arbitrary attachment / detachment to / from the card slot 11 and is completely compatible with a hard disk. At that time, an instruction for termination processing is completely unnecessary. At this time, the setting bit may be fixed to the logical value “0”.

図5には終了処理のモニタ端子を設けた例が示される。フラッシュメモリ5に対する終了処理の指示状況を逸早くカードホスト装置10にも知らせるには、前記外部端子H1に接続するモニタ端子H2を設ける。前記モニタ端子H2は前記外部端子H1に生ずる電位変化をカードホスト装置10にモニタ可能にする端子である。これにより、カードホスト装置10は書き込みデータの待避などを行って電源遮断時のデータを再度書き込みを可能にすることが可能になる。また、消去及び書き込み処理中のカード引き抜き禁止についてユーザに注意を促すことができる。   FIG. 5 shows an example in which a monitor terminal for termination processing is provided. In order to promptly notify the card host device 10 of the end processing instruction status for the flash memory 5, a monitor terminal H2 connected to the external terminal H1 is provided. The monitor terminal H2 is a terminal that enables the card host device 10 to monitor a potential change occurring in the external terminal H1. As a result, the card host device 10 can rewrite the data when the power is shut off by saving the write data. In addition, the user can be alerted about the card withdrawal prohibition during the erasing and writing process.

カードスロット11からの引き抜き検出の別の構成について説明する。図6の例では信号端子H1がグランド端子Hvsに抵抗素子7でプルダウンされる。信号端子H1に供給されるリセット信号RSTは上記とは逆にローレベルパルスでリセット処理を指示し、その後ハイレベルに維持される。図6にはメモリカード1がカードホスト装置10に装着されている状態を示す。この状態において、信号端子H1は電源電圧Vddを維持する。図7のようにカードホスト装置10からメモリカード1を引き抜こうとすると、先ず最初にカードディテクト端子Hcdがカードスロット11の対応端子Pcdから分離し、カードホスト装置10のカードコントローラ4は端子Pvdに対する動作電源の供給を停止する。動作電源の供給が停止されてもカードホスト装置10側の電源供給系における寄生容量成分により、実際に端子Pvd,Hvdの電源電圧が低下するには比較的時間がかかる。この間に、先ず、信号端子H1がカードホスト装置10の信号端子P1から離脱する。これにより、信号端子H1は抵抗素子7を介して接地電圧GNDが印加され、ローレベルに反転される。端子H1のローレベルはラッチ回路22に保持され、ラッチ回路22の出力信号23によってフラッシュメモリ5に終了処理が指示される。この後、更にメモリカード1が引き抜かれてカードスロット11の端子Pvd,Pvsからカードの端子Hvd,Hvsが離脱するまでには時間が有り、この間に、フラッシュメモリ5は前記指示に応答して前記同様の終了処理を完了する。   Another configuration for detecting withdrawal from the card slot 11 will be described. In the example of FIG. 6, the signal terminal H1 is pulled down by the resistance element 7 to the ground terminal Hvs. Contrary to the above, the reset signal RST supplied to the signal terminal H1 instructs a reset process with a low level pulse, and is thereafter maintained at a high level. FIG. 6 shows a state in which the memory card 1 is mounted on the card host device 10. In this state, the signal terminal H1 maintains the power supply voltage Vdd. When trying to pull out the memory card 1 from the card host device 10 as shown in FIG. 7, the card detect terminal Hcd is first separated from the corresponding terminal Pcd of the card slot 11, and the card controller 4 of the card host device 10 operates on the terminal Pvd. Stop supplying power. Even if the supply of operating power is stopped, it takes a relatively long time to actually reduce the power supply voltages of the terminals Pvd and Hvd due to the parasitic capacitance component in the power supply system on the card host device 10 side. During this time, first, the signal terminal H1 is disconnected from the signal terminal P1 of the card host device 10. As a result, the ground voltage GND is applied to the signal terminal H1 via the resistance element 7, and the signal terminal H1 is inverted to a low level. The low level of the terminal H1 is held in the latch circuit 22, and an end process is instructed to the flash memory 5 by the output signal 23 of the latch circuit 22. Thereafter, there is time until the memory card 1 is further pulled out and the card terminals Hvd and Hvs are detached from the terminals Pvd and Pvs of the card slot 11, during which time the flash memory 5 responds to the instruction and A similar end process is completed.

カードスロット11からの引き抜き検出の別の構成について説明する。図8の例ではカードの引き抜きによる信号端子H1の電位変化を検出する点は上記の例と同様であり、コントローラ4はその電位変化に応答して電源遮断発生を示すフラグを保存する。保存先はフラッシュメモリ5ではなく、コントローラ4内部の不揮発性ラッチ回路25である。不揮発性ラッチ回路25は各ビットにフラッシュメモリ5と同様の不揮発性メモリセルを採用して構成される。コントローラ4は、カードホスト装置10からメモリカード1が引き抜かれようとするとき、信号端子H1のレベルが反転されると、前記不揮発性ラッチ回路25に電源遮断の発生を示すフラグとセクタアドレスを保存する。コントローラ4は電源投入後に前記フラグをチェックし、電源遮断発生の有無を判別し、電源遮断が有ったときは、フラッシュメモリ5の電源遮断発生セクタの異常を判別し、必要に応じてセクタ代替などの復旧処理を行えばよい。   Another configuration for detecting withdrawal from the card slot 11 will be described. In the example of FIG. 8, the change in the potential of the signal terminal H1 due to card removal is detected in the same manner as in the above example, and the controller 4 stores a flag indicating the occurrence of power interruption in response to the change in potential. The storage destination is not the flash memory 5 but the nonvolatile latch circuit 25 in the controller 4. The nonvolatile latch circuit 25 is configured by employing a nonvolatile memory cell similar to the flash memory 5 for each bit. When the level of the signal terminal H1 is inverted when the memory card 1 is about to be pulled out from the card host device 10, the controller 4 stores a flag indicating the occurrence of power shutdown and a sector address in the nonvolatile latch circuit 25. To do. The controller 4 checks the flag after turning on the power to determine whether or not the power is cut off. If the power is cut off, the controller 4 determines the abnormality of the power cut off sector of the flash memory 5 and replaces the sector as necessary. Recovery processing such as

カードスロット11からの引き抜き検出の別の構成について説明する。図9の例ではメモリカード1の引き抜きによる信号端子H1の電位変化を検出する点は上記の例と同様であり、コントローラ4はその電位変化に応答して、チャージポンプ回路30を起動させてフラッシュメモリ5の動作電源を補う。上記より、電源供給が完全に遮断されるまでの時間を引き延ばすことができ、その間に必要な処理を完了することが容易になる。チャージポンプ回路30は元々フラッシュ5に内蔵されているもの、或はそれ専用に増設されたもの、の何れであってもよい。   Another configuration for detecting withdrawal from the card slot 11 will be described. In the example of FIG. 9, the point of detecting the potential change of the signal terminal H1 due to the extraction of the memory card 1 is the same as the above example, and the controller 4 activates the charge pump circuit 30 in response to the potential change and performs flashing. Supplement the operating power supply of the memory 5. From the above, it is possible to extend the time until the power supply is completely cut off, and it becomes easy to complete necessary processing during that time. The charge pump circuit 30 may be either the one originally built in the flash 5 or the one added exclusively for it.

図10には本発明に係るカード型電子装置の別の例であるフラッシュメモリカードが例示される。同図に示されるフラッシュメモリカードは例えばMMC(Multi Medium Card)の規格に準拠する。   FIG. 10 illustrates a flash memory card which is another example of the card type electronic device according to the present invention. The flash memory card shown in the figure complies with the MMC (Multi Medium Card) standard, for example.

フラッシュメモリカード1はカード基板2にインタフェース端子部3、コントローラ4及び電気的に消去及び書込み可能な不揮発性メモリの一種であるフラッシュメモリメモリ5が搭載されて構成される。インタフェース端子部3はパーソナルコンピュータなどのカードホスト装置10に設けられているカードスロット11に着脱される。インタフェース端子の種類及び物理的構成はメモリカードが準拠する規格に従って決定される。例えば、インタフェース端子部3には電源端子Fvd、接地端子Fvs1、Fvs2、及び複数の信号端子F1〜F4が設けられる。カードスロット11にはそれらに対応する端子として、電源端子Pvd、接地端子Pvs1、Pvs2、及び複数の信号端子P1〜Pnが設けられる。例えばカードスロット11側のインタフェース端子Pvd、Pvs1、Pvs2、P1〜Pnはピン、メモリカード側のインタフェース端子Fvd、Fvs1、Fvs2、F1〜F4はピンが接触される平面よって構成される。平面で構成される電源系端子Fvd、Fvs1、Fvs2と、これに対応する電源系インタフェース端子Pvd、Pvs1、Pvs2との接続分離は、Fvd、Fvs1とPvd,Pvs1との接続分離がFvs2とPvs2の接続分離に比べて先とされる。要するに、メモリカード1をカードスロット11に挿入するとき、Pvs1、Pvdが先にFvs1、Fvdに接続し、その後にPvs2がFvs2に接続する。引き抜くときはその逆で、Pvs2がFvs2から分離した後に、Pvs1、PvdがFvs1、Fvdから分離する。例えば端子Pvs2は端子Pvd、Pvs1よりも1mm短い。   The flash memory card 1 is configured by mounting an interface terminal unit 3, a controller 4, and a flash memory memory 5 which is a kind of electrically erasable and writable nonvolatile memory on a card substrate 2. The interface terminal unit 3 is attached to and detached from a card slot 11 provided in a card host device 10 such as a personal computer. The type and physical configuration of the interface terminal are determined according to the standard to which the memory card conforms. For example, the interface terminal unit 3 is provided with a power supply terminal Fvd, ground terminals Fvs1 and Fvs2, and a plurality of signal terminals F1 to F4. The card slot 11 is provided with a power terminal Pvd, ground terminals Pvs1 and Pvs2, and a plurality of signal terminals P1 to Pn as corresponding terminals. For example, the interface terminals Pvd, Pvs1, Pvs2, and P1 to Pn on the card slot 11 side are configured with pins, and the interface terminals Fvd, Fvs1, Fvs2, and F1 to F4 on the memory card side are configured with a plane in contact with the pins. The connection separation of the power supply system terminals Fvd, Fvs1, and Fvs2 configured in a plane and the power supply system interface terminals Pvd, Pvs1, and Pvs2 corresponding thereto is the connection separation of Fvd, Fvs1, and Pvd, Pvs1 between Fvs2 and Pvs2. It is ahead of connection separation. In short, when the memory card 1 is inserted into the card slot 11, Pvs1 and Pvd are connected to Fvs1 and Fvd first, and then Pvs2 is connected to Fvs2. When pulling out, conversely, after Pvs2 is separated from Fvs2, Pvs1 and Pvd are separated from Fvs1 and Fvd. For example, the terminal Pvs2 is 1 mm shorter than the terminals Pvd and Pvs1.

カードスロット11のインタフェース端子Pvd,Pvs1,Pvs2,P1〜P4は図示を省略するカード制御部に接続され、カード装着分離の検出、カード装着分離検出に応ずる電源の供給と停止の制御、信号インタフェース制御を行う。   The interface terminals Pvd, Pvs1, Pvs2, and P1 to P4 of the card slot 11 are connected to a card control unit (not shown), detection of card mounting separation, power supply supply and stop control according to card mounting separation detection, and signal interface control I do.

メモリカード1においてコントローラ4及びフラッシュメモリ5は電源端子Fvdとグランド端子Fvsに接続され、カードスロット11より動作電源の供給を受ける。コントローラ4はカードホスト装置10とのインタフェース制御を行い、またフラッシュメモリ5に対しメモリインタフェース制御を行う。   In the memory card 1, the controller 4 and the flash memory 5 are connected to the power supply terminal Fvd and the ground terminal Fvs, and are supplied with operating power from the card slot 11. The controller 4 performs interface control with the card host device 10 and performs memory interface control with respect to the flash memory 5.

フラッシュメモリ5は、上記同様に電気的に消去及び書き込み可能な多数の不揮発性メモリセルがマトリクス配置されたメモリマットを有し、前記不揮発性メモリセルに高電圧が印加されて消去及び書き込みが可能にされる。   The flash memory 5 has a memory mat in which a large number of electrically erasable and writable nonvolatile memory cells are arranged in a matrix as described above, and can be erased and written by applying a high voltage to the nonvolatile memory cells. To be.

コントローラ4はフラッシュメモリ5をハードディスク互換のファイルメモリとしてアクセス制御する。例えば、フラッシュメモリ5のデータ領域をセクタ単位でアクセス可能にアドレス管理すると共に、不良セクタに対する代替セクタの割り当て制御などを行う。フラッシュメモリ5に対するアクセスでは、物理アドレスを用いて、消去処理、書込み処理、読み出し処理のアクセス制御を行う。   The controller 4 controls access to the flash memory 5 as a hard disk compatible file memory. For example, address management is performed so that the data area of the flash memory 5 can be accessed in units of sectors, and allocation of alternative sectors to defective sectors is controlled. In access to the flash memory 5, access control of erase processing, write processing, and read processing is performed using a physical address.

メモリカード1自らがカードスロット11からの引き抜きを検出する構成について説明する。図10の例では端子Fvdが電源端子Fvs1に抵抗素子7でプルアップされる。   A configuration in which the memory card 1 itself detects removal from the card slot 11 will be described. In the example of FIG. 10, the terminal Fvd is pulled up by the resistance element 7 to the power supply terminal Fvs1.

メモリカード1がカードホスト11に装着されている状態において、端子Fvs1は接地電圧GNDを維持する。カードホスト装置10からメモリカード1を引き抜こうとすると、端子Fvs1がカードホスト装置10の信号端子P1から離脱する。これにより、信号端子Fvs1は抵抗素子7を介して電源電圧Vddが印加され、ハイレベルに反転される。端子Fvs1のハイレベルはラッチ回路22に保持され、ラッチ回路22の出力信号23によってフラッシュメモリ5に終了処理が指示される。この後、更にメモリカード1が引き抜かれてカードスロット11の端子Pvd,Pvs2からメモリカード1の端子Fvd,Fvs2が離脱するまでには時間が有り、この間に、フラッシュメモリ5は前記指示に応答して終了処理を完了する。   In a state where the memory card 1 is attached to the card host 11, the terminal Fvs1 maintains the ground voltage GND. When an attempt is made to pull out the memory card 1 from the card host device 10, the terminal Fvs 1 is disconnected from the signal terminal P 1 of the card host device 10. As a result, the power supply voltage Vdd is applied to the signal terminal Fvs1 via the resistance element 7 and is inverted to a high level. The high level of the terminal Fvs1 is held in the latch circuit 22, and an end process is instructed to the flash memory 5 by the output signal 23 of the latch circuit 22. Thereafter, there is a time until the memory card 1 is further pulled out and the terminals Fvd and Fvs2 of the memory card 1 are detached from the terminals Pvd and Pvs2 of the card slot 11, during which the flash memory 5 responds to the instruction. To complete the termination process.

以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。   Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, it is needless to say that the present invention is not limited thereto and can be variously modified without departing from the gist thereof.

例えば、不揮発性メモリセルには、ソース(ソース線接続)、ドレイン(ビット線接続)、チャネル、前記チャネル上で隣合って相互に絶縁形成された選択ゲート(ワード線接続)及びメモリゲート(メモリゲート制御線接続)を持つスプリットゲート構造等を採用してもよい。不揮発性メモリの情報記憶は閾値電圧の相違の他に、シリコン窒化膜などの電荷トラップ膜に対するキャリアのトラップ位置の相違によって記憶情報を決定する形式であってもよい。また、一つの不揮発性メモリセルが記憶する情報量は1ビットに限定されず、2ビット以上であってもよい。   For example, a nonvolatile memory cell includes a source (source line connection), a drain (bit line connection), a channel, a selection gate (word line connection) and a memory gate (memory connected to each other adjacent to each other on the channel). A split gate structure having a gate control line connection) may be employed. The information storage of the nonvolatile memory may be a format in which the stored information is determined by the difference in the trap position of carriers with respect to the charge trap film such as a silicon nitride film in addition to the difference in threshold voltage. Further, the amount of information stored in one nonvolatile memory cell is not limited to 1 bit, and may be 2 bits or more.

カード型電子装置をフラッシュメモリカードに適用する場合にはカードの規格は上記の例に限定されず、その他種々の規格のカードに適用可能である。   When the card-type electronic device is applied to a flash memory card, the card standard is not limited to the above example, and can be applied to cards of various other standards.

カード型電子装置はフラッシュメモリカードに限定されず、SRAM(Static Random Access Memory)カード、LAN(Local area network)カード、モデムカード、グラフィックカード等であってもよい。この場合、制御情報を記憶する不揮発性記憶装置が有れば、その部分に対してはフラッシュメモリカードと同様に前記終了処理を指示すればよい。本発明は不揮発性メモリを搭載しないカード型電子装置にも適用可能である。例えば通信カードにおいて送信途中で不所望なカードの抜き出しが行なわれるときに送信先に電源遮断エラーコードを送信したり、また、通信カードにおいて受信途中で不所望なカードの抜き出しが行なわれるときには送信元に受信エラーコードを送信して、再送処理の円滑化を図るようにしてもよい。   The card-type electronic device is not limited to a flash memory card, and may be an SRAM (Static Random Access Memory) card, a LAN (Local Area Network) card, a modem card, a graphic card, or the like. In this case, if there is a non-volatile storage device that stores the control information, the end process may be instructed to that portion in the same manner as the flash memory card. The present invention is also applicable to a card-type electronic device that is not equipped with a nonvolatile memory. For example, when an undesired card is extracted during transmission in a communication card, a power-off error code is transmitted to the transmission destination, or when an undesired card is extracted during reception in a communication card The reception error code may be transmitted to the terminal to facilitate the retransmission process.

本発明はリムーバブルメディアなど種々のカード型電子装置等の半導体処理装置に広く適用することができる。   The present invention can be widely applied to semiconductor processing devices such as various card-type electronic devices such as removable media.

本発明に係る半導体処理装置の一例であるフラッシュメモリカードとカードスロットを示す概略ブロック図である。1 is a schematic block diagram showing a flash memory card and a card slot as an example of a semiconductor processing apparatus according to the present invention. メモリカードがカードホストに装着されている状態を示す概略ブロック図である。It is a schematic block diagram which shows the state with which the memory card is mounted | worn with the card host. カードホストに装着されたメモリカードの引く抜きによって電源端子の接続が保たれたままリセット端子が分離した過渡状態を示す概略ブロック図である。FIG. 5 is a schematic block diagram showing a transient state in which a reset terminal is separated while a connection of a power supply terminal is maintained by pulling out a memory card attached to a card host. 終了処理の指示経路の別の例を示すメモリカードの概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the memory card which shows another example of the instruction | indication path | route of completion | finish processing. 終了処理のモニタ端子を設けた例を示すメモリカードの概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the memory card which shows the example which provided the monitor terminal of the completion | finish process. 図1と信号端子H1の極性が異なる場合の例を示すメモリカードの概略ブロック図である。FIG. 2 is a schematic block diagram of a memory card showing an example in which the polarity of a signal terminal H1 is different from that in FIG. カードホストに装着された図6のメモリカードの引く抜きによって電源端子の接続が保たれたままリセット端子が分離した過渡状態を示す概略ブロック図である。FIG. 7 is a schematic block diagram showing a transient state in which the reset terminal is separated while the connection of the power supply terminal is maintained by pulling out the memory card of FIG. 6 attached to the card host. カードスロットからの引き抜き検出の別の構成を備えたメモリカードの概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the memory card provided with another structure of the extraction from a card slot. カードスロットからの引き抜き検出の更に別の構成を備えたメモリカードの概略ブロック図である。It is a schematic block diagram of the memory card provided with another structure of the extraction detection from a card slot. 本発明に係る半導体処理装置の別の例として図1とは異なるカード規格に準拠するフラッシュメモリカードの概略ブロック図である。FIG. 2 is a schematic block diagram of a flash memory card conforming to a card standard different from FIG. 1 as another example of the semiconductor processing apparatus according to the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 フラッシュメモリカード
2 カード基板
3 インタフェース端子部
4 コントローラ
5 フラッシュメモリ
10 ホスト装置
11 カードスロット
Hvd、Pvd 電源端子
Hvs、Pvs 接地端子
Hcd、Pcd カードディテクト端子
H1〜Hn、P1〜Pn 信号端子
7 抵抗素子
GND 接地電圧(グランド電圧)
Vdd 電源電圧
20 マイクロコンピュータ
22 D型ラッチ回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Flash memory card 2 Card board 3 Interface terminal part 4 Controller 5 Flash memory 10 Host apparatus 11 Card slot Hvd, Pvd Power supply terminal Hvs, Pvs Ground terminal Hcd, Pcd Card detect terminal H1-Hn, P1-Pn Signal terminal 7 Resistive element GND Ground voltage (Ground voltage)
Vdd power supply voltage 20 microcomputer 22 D-type latch circuit

Claims (5)

インタフェース制御回路と処理回路を有し外部装置に装着されて動作電源の供給を受ける半導体処理装置であって、
前処理回路は電気的に消去及び書き込み可能な不揮発性メモリであり、
前記インタフェース制御回路は外部インタフェース制御と前記不揮発性メモリに対すメモリ制御を行う制御回路であり、外部装置から引き抜かれるとき外部装置からの電源供給遮断前に外部装置の所定の端子から分離する第1外部端子に生ずる電位変化を検出し、動作状態の処理回路に終了処理を指示することを特徴とする半導体処理装置。
A semiconductor processing apparatus that has an interface control circuit and a processing circuit and is attached to an external device and receives supply of operating power,
The preprocessing circuit is an electrically erasable and writable nonvolatile memory,
The interface control circuit is a control circuit that performs external interface control and memory control for the non-volatile memory. When the interface control circuit is pulled out from the external device, it is separated from a predetermined terminal of the external device before the power supply from the external device is cut off. A semiconductor processing apparatus characterized by detecting a potential change occurring at an external terminal and instructing a processing circuit in an operating state to end processing.
インタフェース制御回路と処理回路を有し外部装置に装着されて動作電源の供給を受ける半導体処理装置であって、
前記インタフェース制御回路は、外部装置から引き抜かれるとき外部装置からの電源供給遮断前に外部装置の所定の端子から分離する第1外部端子に生ずる電位変化を検出し、電源遮断の発生を示すフラグを不揮発的に保存することを特徴とする半導体処理装置。
A semiconductor processing apparatus that has an interface control circuit and a processing circuit and is attached to an external device and receives supply of operating power,
The interface control circuit detects a potential change occurring at a first external terminal separated from a predetermined terminal of the external device before the power supply from the external device is cut off when the interface control circuit is pulled out from the external device, and sets a flag indicating the occurrence of the power cutoff. A semiconductor processing apparatus, wherein the semiconductor processing apparatus is stored in a nonvolatile manner.
前記第1外部端子に接続するモニタ端子を有し、前記モニタ端子は前記第1外部端子に生ずる電位変化をホスト装置にモニタ可能にする端子であることを特徴とする請求項1または2項に記載の半導体処理装置。   3. A monitor terminal connected to the first external terminal, wherein the monitor terminal is a terminal that enables a host device to monitor a potential change occurring in the first external terminal. The semiconductor processing apparatus as described. 前記終了処理は、消去及び書き込み処理途中の不揮発性メモリセルのブロックを識別可能な識別フラグをセットして保存する処理であることを特徴とする請求項1記載の半導体処理装置。   2. The semiconductor processing apparatus according to claim 1, wherein the termination process is a process of setting and storing an identification flag capable of identifying a block of a nonvolatile memory cell in the middle of erasing and writing processes. 前記終了処理は、消去及び書き込み処理の途中の不揮発性メモリセルに対する完全遂行処理を含むことを特徴とする請求項1記載の半導体処理装置。   The semiconductor processing apparatus according to claim 1, wherein the termination process includes a complete execution process for a nonvolatile memory cell in the middle of an erasing and writing process.
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