JP2008229662A - Laser beam machining apparatus and method - Google Patents
Laser beam machining apparatus and method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008229662A JP2008229662A JP2007072825A JP2007072825A JP2008229662A JP 2008229662 A JP2008229662 A JP 2008229662A JP 2007072825 A JP2007072825 A JP 2007072825A JP 2007072825 A JP2007072825 A JP 2007072825A JP 2008229662 A JP2008229662 A JP 2008229662A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- shielding plate
- processing
- laser beam
- slit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
Description
本発明は、レーザ加工装置およびレーザ加工方法に関する。 The present invention relates to a laser processing apparatus and a laser processing method.
近年、レーザ加工として、溶接、切断および孔あけ等が一般的に知られているが、例えば、レーザ溶接においては、溶接の際に発生するスパッタから、レーザ照射装置のレーザ光学系を保護する保護ガラスを保護する技術が用いられている(たとえば特許文献1参照)。特許文献1では、レーザ光が通過する貫通穴が設けられた保護筒に空気を流通させて、スパッタの保護ガラスへの飛散を防止する技術が提案されている。
In recent years, welding, cutting, drilling, and the like are generally known as laser processing. For example, in laser welding, protection that protects the laser optical system of a laser irradiation device from spatter generated during welding. A technique for protecting glass is used (see, for example, Patent Document 1).
また、近年、ロボットを利用した溶接にもレーザ溶接が用いられるようになってきている。このような溶接技術として、ロボットアーム(マニュピレータ)の先端にレーザ光を照射するためのレーザ照射装置を取り付け、ロボットアームで移動させつつ、さらにレーザ照射装置からのレーザ光照射方向をも変えることで、レーザ光を移動させながらあらかじめ決められた溶接点を溶接する技術がある。このような溶接は、ワークとレーザ照射装置の間がこれまでよりも離れていることからリモート溶接と称されている。
しかしながら、このようなリモート溶接に、特許文献1に記載されるスパッタを防止する技術を適用すると、リモート溶接ではレーザ光が移動されながら照射されるため、保護筒に設けられるレーザ光を通過させるための開口が大きくなり、保護ガラスへのスパッタの飛散を防止することが困難となる。
However, when the technique for preventing spatter described in
そこで本発明は、加工用パターンを描くようにレーザ光を照射するレーザ加工において、レーザ照射装置へのスパッタの飛散を極力少なくすることができるレーザ加工装置およびレーザ加工方法を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention has an object to provide a laser processing apparatus and a laser processing method capable of reducing spatter scattering to a laser irradiation apparatus as much as possible in laser processing in which laser light is irradiated so as to draw a processing pattern. To do.
上記課題を解決するための本発明は、あらかじめ決められた加工用パターンを描くように被加工部材にレーザ光を照射するレーザ加工装置であって、前記レーザ光を照射するレーザ照射手段と前記被加工部材との間に配置され、前記加工用パターンを描くレーザ光の経路に対応する形状のスリットが形成された遮蔽板を有することを特徴とするレーザ加工装置である。 The present invention for solving the above problems is a laser processing apparatus for irradiating a member to be processed with a laser beam so as to draw a predetermined processing pattern, wherein the laser irradiation means for irradiating the laser beam and the object to be processed are provided. It is a laser processing apparatus characterized by having a shielding plate disposed between a processing member and formed with a slit having a shape corresponding to the path of the laser beam that draws the processing pattern.
上記課題を解決するための本発明は、レーザ光の照射方向を変更する反射鏡を備えたレーザ照射手段と、前記レーザ照射手段を移動させる移動手段と、前記レーザ照射手段をあらかじめ教示された移動経路に従って移動させるように前記移動手段を制御するとともに、前記レーザ光があらかじめ決められた加工用パターンを描くように前記反射鏡の動きを制御する加工用制御手段と、前記レーザ照射手段から射出されたレーザ光による加工点における入熱量を前記加工用パターンを描く前記レーザ光の移動位置に応じて変更するレーザ光制御手段と、前記レーザ光が照射される被加工部材を保持する保持手段と、前記保持手段に固定されるとともに前記レーザ照射手段と被加工部材との間に配置され、前記加工用パターンを描くレーザ光の経路に対応する形状のスリットが形成された遮蔽板と、を有すること特徴とするレーザ加工装置である。 In order to solve the above problems, the present invention provides a laser irradiation means having a reflecting mirror for changing the irradiation direction of laser light, a moving means for moving the laser irradiation means, and a movement taught in advance for the laser irradiation means. The moving means is controlled to move according to a path, and the laser light is emitted from the laser irradiation means, and the processing control means for controlling the movement of the reflecting mirror so as to draw a predetermined processing pattern. Laser light control means for changing the amount of heat input at the processing point by the laser light according to the movement position of the laser light that draws the processing pattern, and holding means for holding the workpiece to be irradiated with the laser light, The laser beam is fixed to the holding unit and disposed between the laser irradiation unit and the workpiece, and passes through the laser beam that draws the processing pattern. A laser machining apparatus characterized by having a, a shielding plate in which slits are formed in a shape corresponding to.
また上記課題を解決するための本発明は、あらかじめ決められた加工用パターンを描くようにレーザ光を被加工部材に照射するレーザ加工方法であって、前記レーザ光を照射するレーザ照射手段と被加工部材との間に、前記加工用パターンを描くレーザ光の経路に対応する形状のスリットが形成された遮蔽板を配置し、前記レーザ光を当該スリットを通過させて被加工部材に照射することを特徴とするレーザ加工方法である。 Further, the present invention for solving the above-described problems is a laser processing method for irradiating a member to be processed with a laser beam so as to draw a predetermined processing pattern, the laser irradiation means for irradiating the laser beam and a target to be processed. A shielding plate in which a slit having a shape corresponding to the path of the laser beam that draws the processing pattern is disposed between the processing member, and the laser beam is irradiated to the workpiece through the slit. The laser processing method characterized by the above.
以上のように構成された本発明によれば、加工用パターンを描くレーザ光の経路に対応する形状のスリットが形成された遮蔽板を有するため、レーザ光を、このスリットを通過させて被加工部材に照射することができ、レーザ照射装置へのスパッタの飛散を極力少なくすることができる。 According to the present invention configured as described above, since the shielding plate having the slit corresponding to the path of the laser beam that draws the processing pattern is formed, the laser beam is passed through the slit to be processed. It is possible to irradiate the member, and it is possible to minimize spatter scattering to the laser irradiation apparatus.
以下、添付した図面を参照して本発明を適用した実施形態について詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments to which the present invention is applied will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
図1は、本発明が適用されるレーザ加工システムの概略構成図であり、図2はこのレーザ加工システム内のレーザ照射装置の内部構造図であり、図3はこのレーザ加工システム内のレーザ発振器の内部構造図である。 FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a laser processing system to which the present invention is applied, FIG. 2 is an internal structure diagram of a laser irradiation apparatus in the laser processing system, and FIG. 3 is a laser oscillator in the laser processing system. FIG.
図1に示すレーザ加工システムは、加工対象物としての被加工部材であるワークWに、ワークW上に位置されるレーザ照射装置3からレーザ光100を照射することによって、直接ワークWに触れることなくワークWの加工を行うものである。
The laser processing system shown in FIG. 1 directly touches the workpiece W by irradiating the workpiece W, which is a workpiece to be processed, with the
図示するレーザ加工システムは、ロボット1(移動手段)と、ロボット1のアーム2の先端に取り付けられ、レーザ光100を照射するレーザ照射装置3(レーザ照射手段)と、レーザ光を発生させるレーザ発振器5と、レーザ発振器5からレーザ照射装置3までレーザ光を導く光ファイバーケーブル6と、ロボット1およびレーザ照射装置3の動作を制御するロボット制御装置7(加工用制御手段およびレーザ光制御手段)と、ロボット制御装置7に各種の指示を送るティーチボックス8と、ワークWを把持する少なくとも1つのクランプ31(保持手段)と、加工の際のスパッタSの飛散を遮蔽する少なくとも1つの遮蔽板32とから構成される。また、このシステムは、後述する教示データ及び加工用パターンデータをCADシステム9から取得することができるようになっている。なお、このCADシステム9は、常時接続されている必要はない。
The illustrated laser processing system includes a robot 1 (moving means), a laser irradiation device 3 (laser irradiation means) that is attached to the tip of an
ロボット1は一般的な多軸ロボットであり、教示作業によって与えられた経路データに従ってアーム2が駆動され、レーザ照射装置3を3次元のさまざまな位置および方向に移動させることができる。レーザ発振器5にはYAGレーザが用いられ、レーザ発振器5で発生されたレーザ光は光ファイバーケーブル6によってレーザ照射装置3に導かれる。
The
レーザ照射装置3は導かれたレーザ光を内蔵した反射ミラー11(反射鏡)で反射し、ワークWの加工打点(以下、加工点と称する)に対して強力なレーザ光100を走査する。走査されたレーザ光100は加工点上に照射され、レーザ照射装置3が走査した形状に従って加工点の加工(溶接ビードの形成)が行われる。
The
ロボット制御装置7はロボット1の姿勢を認識しながらロボット1の動作を制御するとともに、レーザ光の照射方向を変更し走査するためにレーザ照射装置3の制御(反射ミラー11の制御)も行っている。この反射ミラー11の制御は、後述する容易あらかじめ決められた加工用パターンを描くように行われる。また、ロボット制御装置7はレーザ発振器5からのレーザ出力のON、OFFも制御している。
The
レーザ照射装置3は、入力されたレーザ光および可視レーザ光(可視光)の照射方向を自在に変更できるように構成されている。すなわち、レーザ照射装置3は、図2に示すように、光ファイバーケーブル6によって導かれたレーザ光100を、加工点に向けて照射するための反射ミラー11(反射鏡)と、反射ミラー11を回動させるモータ16および17およびレンズ群12とを有している。
The
反射ミラー11は、鏡面を通る垂直な軸線をZ軸とし、Z軸と直交するX軸およびY軸をそれぞれ中心として独立に回動自在に支持されている。モータ16およびモータ17は、それぞれのモータの回動位置の合成によって、反射ミラー11の向きを3次元方向に変える。したがって、反射ミラー11は、光ファイバーケーブル6から入射されるレーザ光を3次元方向に放射自在に取り付けられている。反射ミラー11を3次元方向に回動させることによって、ワークW上に設定されている加工点に所定の形状となる走査パターン(加工用パターン)を描かせることができる。
The
また、この反射ミラー11の移動速度(回動速度)によって入熱量の調節も行うことができる。すなわち、反射ミラー11の移動によって加工用パターンを描くレーザ光の移動速度を遅くすれば、加工点では単位時間当たりのレーザ光の入射量が多くなり、加工点における入熱量が高くなる。一方、これを速くすれば、単位時間当たりのレーザ光の入射量が少なくなって、加工点における入熱量は低くなる。
Also, the amount of heat input can be adjusted by the moving speed (rotation speed) of the reflecting
反射ミラー11の移動速度の変更によるレーザ光強度の変更は、ロボット制御装置7からの指示によって行われる。このレーザ光強度の変更指示は、あらかじめ加工用パターンの位置に応じて行われる(詳細後述)。
The change of the laser beam intensity by changing the moving speed of the
レンズ群12は、光ファイバーケーブル6の端部から放射されたレーザ光を平行光にするためのコリメートレンズ121と平行光となったレーザ光100をワークW上で集光させるための集光レンズ122から構成される。そして、集光レンズ122の位置を変えることでレーザ照射装置3は加工点から反射ミラー11までの距離に応じてレーザ光が商店を結ぶ位置を変更する。なお、このような焦点位置の変更(集光レンズ位置の変更動作)は、ロボットによる移動経路の教示と共にあらかじめ教示される。
The
レーザ発振器5内部は、図3に示すように、YAGレーザの発振源501の他に、半導体レーザなどによる可視レーザ光発振源502が備えられている。可視レーザ光発振源502は、たとえば、レーザ照射位置の確認などに使用される。可視光を出すか加工用のレーザ光を出すかは、レーザ発振器5内部の切り替えミラー503によって切り替えられている。すなわち、切り替えミラー503が実線の位置のときは、YAGレーザ光が光ファイバーケーブル6へ出力され、点線の位置のときには可視レーザ光が光ファイバーケーブル6へ出力される。
As shown in FIG. 3, the
この切り替えミラー503の切り替えはロボット制御装置7からの指示または手動によって行われる。
The switching
また、レーザ発振器5から出力されるレーザ光の強度は、ロボット制御装置7からの指示によって変更される。このレーザ光強度の変更指示は、あらかじめ加工用パターンの位置に応じて行われる(詳細後述)。
Further, the intensity of the laser beam output from the
図4は、本実施形態に係るレーザ加工システムの制御系のブロック図である。 FIG. 4 is a block diagram of a control system of the laser processing system according to the present embodiment.
ロボット制御装置7は、教示データ記憶部21(教示データ記憶手段)、ロボット制御部22、加工用パターン記憶部23(加工用パターン記憶手段)、加工用パターン生成部24、レーザ光走査制御部25(加工用制御手段およびレーザ光制御手段)を備えている。
The
教示データ記憶部21は、あらかじめCADシステムを利用したシミュレーションによる教示作業によって教示されたロボット1の動作経路、動作速度、およびワークWの加工点を記憶している。加工点は、ワークWの加工箇所を示し3次元座標によって表されている。なお、教示データはシミュレーションによって教示されたデータではなく、実機を使用した教示データであってもよい。
The teaching
ロボット制御部22は、教示データに基づいて、ロボット1の各軸モータの回転量を制御し、レーザ照射装置3があらかじめ定められた動作経路で移動して、所定の位置、たとえば、ワークWに設定されている加工点上の決められた位置で順次停止するように制御する。
The
ロボット制御部22は、ロボット1の各軸モータの回転量(エンコーダ値)に基づいてロボット1の姿勢を認識することもできるようになっている。したがって、ロボット制御部22は、ロボット1の姿勢を認識する姿勢認識部としても機能することになる。また、ロボット制御部22は、認識されているロボットの姿勢に基づいて、レーザ照射装置3がワークWのある加工点に対してレーザ光を照射可能な位置にあるか否かを判断する機能をも備えている。
The
加工用パターン記憶部23は、レーザ照射装置3により走査されるレーザ光100の加工時の走査パターン(加工用パターン)、および加工用パターンの位置におけるレーザ光強度を記憶している。
The processing
加工用パターン記憶部23に記憶しておく加工用パターンは任意の大きさの任意の形状でよい。本実施形態では、たとえば、図5に示すC字形状の加工用パターンを記憶してある。このようなC字形状の加工用パターンは、その縦(加工長さ)が何mm、横(加工幅)が何mmというように、その大きさが加工用パターンの形状の縦と横の大きさとして規定されている。なお、本実施形態では加工用パターンをC字形状として説明するが、図6のような棒形状であっても、図7のようなS字形状であってもよい。なお、加工用パターンはCADで作成されるため、加工用パターン記憶部23にはCADからのデータが記憶されることになる。
The processing pattern stored in the processing
ここで、加工用パターンの表現方法を説明しておく。加工用パターンは、加工用パターンに定めた加工点中心座標とその加工点中心座標からのオフセット量で規定された複数の点列座標で構成し、加工点中心座標と点列座標は、ワークWと同一の座標系の座標で表している。 Here, a method for expressing the processing pattern will be described. The machining pattern includes a machining point center coordinate defined in the machining pattern and a plurality of point sequence coordinates defined by an offset amount from the machining point center coordinate. It is expressed with the coordinates of the same coordinate system.
たとえば、加工用パターンが図5に示すようなC字形状である場合、C字形状の加工長さと加工幅は図のように規定されている。C字形状の重心(加工用パターンの中心位置となる)を加工点中心座標(Wxcnt、Wycnt,Wzcnt)とし、この加工点中心座標を原点として、ワークWと同一の座標系(Wx、Wy,Wz)が規定されている。そして、C字形状を構成する80の点列座標(Wxcnt+Wx(0)、Wycnt+Wy(0),Wzcnt+Wz(0))から(Wxcnt+Wx(79)、Wycnt+Wy(79),Wzcnt+Wz(79))は、加工点中心座標からのオフセット量(図示点線で示すベクトル量)として定義されている。このベクトルで示されるオフセット量は、C字形状を構成する各点が加工点中心座標からどの程度離れているのかを示している。なお、オフセット量は、2次元のオフセット量として規定することもできるし、3次元のオフセット量として規定することもできる。 For example, when the machining pattern has a C shape as shown in FIG. 5, the machining length and the machining width of the C shape are defined as shown in the figure. The C-shaped center of gravity (which is the center position of the processing pattern) is the processing point center coordinate (Wxcnt, Wycnt, Wzcnt), and the processing point center coordinate is the origin and the same coordinate system (Wx, Wy, Wz) is defined. Then, the 80 point sequence coordinates (Wxcnt + Wx (0), Wycnt + Wy (0), Wzcnt + Wz (0)) constituting the C-shape are (Wxcnt + Wx (79), Wycnt + Wy (79), Wzcnt + Wz (79)) as processing points. It is defined as an offset amount (vector amount indicated by a dotted line in the figure) from the center coordinates. The offset amount indicated by this vector indicates how far each point constituting the C-shape is away from the processing point center coordinates. The offset amount can be defined as a two-dimensional offset amount or can be defined as a three-dimensional offset amount.
加工用パターンが図6に示すような棒形状である場合、その棒形状の重心を加工点中心座標(Wxcnt、Wycnt,Wzcnt)とし、この加工点中心座標を原点として、ワークWと同一の座標系(Wx、Wy,Wz)が規定されている。そして、棒形状を構成する30の点列座標(Wxcnt+Wx(0)、Wycnt+Wy(0),Wzcnt+Wz(0))から(Wxcnt+Wx(29)、Wycnt+Wy(29),Wzcnt+Wz(29))は、加工点中心座標からのオフセット量(図示点線で示すベクトル量)として定義されている。 When the machining pattern has a bar shape as shown in FIG. 6, the bar-shaped center of gravity is the machining point center coordinate (Wxcnt, Wycnt, Wzcnt), and this machining point center coordinate is the origin and the same coordinates as the workpiece W A system (Wx, Wy, Wz) is defined. Then, 30 point sequence coordinates (Wxcnt + Wx (0), Wycnt + Wy (0), Wzcnt + Wz (0)) constituting the bar shape are (Wxcnt + Wx (29), Wycnt + Wy (29), Wzcnt + Wz (29)). It is defined as an offset amount from the coordinates (vector amount indicated by a dotted line in the figure).
さらに、加工用パターンが図7に示すようなS字形状である場合、そのS字形状の重心を加工点中心座標(Wxcnt、Wycnt,Wzcnt)とし、この加工点中心座標を原点として、ワークWと同一の座標系(Wx、Wy,Wz)が規定されている。そして、S字形状を構成する80の点列座標(Wxcnt+Wx(0)、Wycnt+Wy(0),Wzcnt+Wz(0))から(Wxcnt+Wx(79)、Wycnt+Wy(79),Wzcnt+Wz(79))は、加工点中心座標からのオフセット量(図示点線で示すベクトル量)として定義されている。 Further, when the machining pattern has an S-shape as shown in FIG. 7, the center of gravity of the S-shape is the machining point center coordinate (Wxcnt, Wycnt, Wzcnt), and the machining point center coordinate is the origin, and the workpiece W The same coordinate system (Wx, Wy, Wz) is defined. Then, the 80 point sequence coordinates (Wxcnt + Wx (0), Wycnt + Wy (0), Wzcnt + Wz (0)) constituting the S-shape are (Wxcnt + Wx (79), Wycnt + Wy (79), Wzcnt + Wz (79)). It is defined as an offset amount (vector amount indicated by a dotted line in the figure) from the center coordinates.
加工用パターン記憶部23に記憶させる加工用パターンも加工点と同様にCADシステム9(図1参照)によって作成されるが、加工点と加工用パターンとは、CADシステム9によって個別に独立して教示させる。つまり、加工点と加工用パターンとは全く別のデータとして扱えるようになっている。そのため、教示データ記憶部21と加工用パターン記憶部23とは別々に設けている。
The machining pattern to be stored in the machining
加工用パターン生成部24は、加工用パターン記憶部23に記憶されている加工用パターンの形状から、記憶されているままの大きさの形状、または、ティーチボックス8が有している指示部26によって指示された大きさの形状を生成するものである。
From the shape of the processing pattern stored in the processing
指示部26は、任意にワークWの加工点上に描かれる加工用パターンの大きさを指示するものであって、たとえば、加工用パターンであるC形状の縦方向を、教示データ記憶部21に記憶されているC形状の3倍に、そして横方向を1.5倍にと言うように、加工点に要求されるたとえば加工強度に応じて指示する。なお、加工用パターンの大きさは、指示部26からの指示に代えて、レーザ加工を行う場合に読み込むプログラム内にあらかじめ埋め込むようにしてもよい。また、この指示部26による指示は動作教示の際に1度指示すればそれが記憶されて、レーザ加工中においては、記憶された大きさとして囲うようパターンが描かれることになる。
The instruction unit 26 arbitrarily designates the size of the machining pattern drawn on the machining point of the workpiece W. For example, the instruction
レーザ光走査制御部25は、加工用パターン生成部24によって生成された大きさの加工用パターンを入力するとともに、ロボット制御部22が認識しているロボット1の姿勢をも考慮して、加工点上に描く加工用パターン形状の点列座標(80ポイント程度)を算出し、その点列座標に基づいてレーザ照射装置3の反射ミラー11を回動させる。
The laser beam
レーザ光走査制御部25は、ワークWと同一の座標系の座標で表されている、加工用パターンの加工点中心座標およびその加工点中心座標からのオフセット量で規定された複数の点列座標を、ロボット1の座標系の座標に変換する機能をも有している。
The laser beam
さらに、このレーザ光走査制御部25は、加工点上に描かれる加工用パターンの位置に応じてレーザ光による加工点への入熱量を制御する。
Further, the laser beam
図8は実施形態に係るレーザ加工システムのクランプおよび遮蔽板を示す部分斜視図、図9は図8のIX−IX線に沿う部分断面図、図10は図8のX−X線に沿う部分断面図である。 8 is a partial perspective view showing a clamp and a shielding plate of the laser processing system according to the embodiment, FIG. 9 is a partial sectional view taken along line IX-IX in FIG. 8, and FIG. 10 is a part taken along line XX in FIG. It is sectional drawing.
ワークWを保持するクランプ31は、図8,9に示すように、加工の際にワークWが動かないように、ワークWを保持するためのものである。クランプ31は、一般的な構造であり、固定的に設けられる第2把持部34と、エアーシリンダ35によって回転的に駆動される第1把持部33とを有し、第1把持部33と第2把持部34の間に、ワークWを把持することができる。なお、第1把持部33ではなく第2把持部34が駆動されてもよく、または、第1把持部33および第2把持部34の両方が駆動されてもよい。また、駆動源は、エアーシリンダ35に限らず、例えば油圧シリンダやモータ等を用いてもよい。
As shown in FIGS. 8 and 9, the
遮蔽板32は、ワークWに形成される加工用パターン形状を覆うように、第1把持部33に固定される枠体36の内側に連結されている。すなわち、遮蔽板32は、レーザ照射装置3からのレーザ光100の経路上に配置される。遮蔽板32は、本実施形態では鉄製であるが、銅等の他の金属、ガラスまたはプラスチック等の他の材料から構成されてもよい。
The shielding
遮蔽板32は、図10に示すように、縁部に複数の貫通穴38が設けられている。また、枠体36には、複数のネジ穴39が形成されており、スペーサ40を貫通したボルト41が貫通穴38を通ってネジ穴39に螺合することにより、遮蔽板32がスペーサ40と枠体36の間に挟持される。遮蔽板32の貫通穴38は、ボルト41の径よりも大きく形成されており、遮蔽板32を枠体36の水平面方向の所定範囲内で移動させることができる。
As shown in FIG. 10, the shielding
遮蔽板32には、レーザ光100の経路に対応して、スリット42が形成される。このスリット42は、加工用パターンに対応する形状を有しており、加工用パターンと相似形状で形成される。なお、レーザ照射装置3が移動しつつレーザ光100を照射する場合には、必ずしも相似形でなくてもよい。
A
スリット42のスリット幅Lは、レーザ光100が遮蔽板32に照射されることがないように、レーザ光100の径や照射位置精度、スリット42の位置精度等を考慮して決定される。一例として、レーザ照射装置3とワークWの間の距離H1が約300mm、遮蔽板32とワークWの間の距離H2が50mm、レーザ光100のレーザ照射装置3から照射された際の径D1(焦点が絞られる前の径)が30mmである場合、相似的にスリット42を通過するレーザ光100の径D2が5mmであることから、スリット幅Lは少なくとも5mmが必要である。
The slit width L of the
スリット42の加工精度誤差等によりレーザ光100が誤って遮蔽板32に照射される場合には、遮蔽板32がレーザ光100により焼き削られ、望ましいクリアランスを有するように加工されることとなる。
When the
また、遮蔽板32には、スリット42の内壁面を含むスリット42の近傍に、レーザ光100が照射された際に遮蔽板32が溶融しないように鏡面加工を施してレーザ光100を反射させてもよく、または凸部を形成してレーザ光100を散乱させてもよい。
Further, the
また、遮蔽板32を枠体36の水平面方向の所定範囲内で移動させることができるため、レーザ光100の照射位置の変更等に対応して、スリット42の位置を変更させることができる。また、遮蔽板32が枠体36から取り外し加能であるため、加工用パターンに対応して遮蔽板32を変更することが可能である。
Further, since the shielding
次に、本実施形態におけるレーザ加工時のロボット制御装置の動作処理手順を説明する。図11は、ロボット制御装置の動作処理手順を示すフローチャートである。 Next, an operation processing procedure of the robot control device at the time of laser processing in the present embodiment will be described. FIG. 11 is a flowchart showing an operation processing procedure of the robot control apparatus.
レーザ加工時の基本動作は、ロボットを教示された位置で停止させ、その場所でレーザ照射装置3が照射可能な1つの加工点に対してレーザ加工を行い、次の加工点をレーザ加工する場合にはさらにロボットを次の位置に移動させてレーザ加工を行うという動作を繰り返し、1点ずつ順次レーザ加工を行い、すべての加工点に対するレーザ加工を完了するというものである。
The basic operation during laser processing is when the robot is stopped at the taught position, laser processing is performed on one processing point that can be irradiated by the
ロボット制御部22は、まず、レーザ加工用の教示データを読み込む(S1)。教示データは、たとえば、ロボット停止位置、動作速度、加工点中心座標、加工用パターン、反射ミラー回動速度、加工幅、加工長さ、レーザ出力強度、その他制御に必要な動作指令などが記述されている。ロボットは、これに従って動作する。
First, the
次に、ロボット制御部22は、加工用パターン記憶部23に記憶されている加工用パターンのデータを読み込むように指令する(S2)。
Next, the
ロボット制御部22は、教示データに従ってロボット1を動作させ、レーザ照射装置3を教示データに記述されている動作速度で移動させ、ロボット停止位置で位置決めする。同時に、レーザ照射装置3の反射ミラー11をワークWの加工点に向けて位置決めする(S3:ロボット動作)。詳細には、加工点中心座標にレーザ光が照射されるような向きに反射ミラー11の向きを調整する。レーザ照射装置3はこの位置から、特定の加工点に対してレーザ光を照射することができる。
The
次に、ロボット制御部22は、加工用パターン生成部24に対して、読み込んだ加工用パターンに従ってワークWの加工点に加工用パターンを描くために必要な座標点を算出させる(S4)。加工用パターン生成部24は、この指示によりワークWの座標系で記述された、読み込んだ加工用パターンの基本形状である加工点中心座標、加工幅、加工長さを取得して、加工用パターンの80点ある基本となる各点の座標を算出する(S5)。
Next, the
続いて加工用パターン生成部24は算出された80点の基本点座標を、読み込んだ教示データに記述されている「加工幅」、「加工長さ」に基づいて縦方向(加工長さ方向)および横(加工幅)方向にシフトさせて、実際に描かせる大きさの加工用パターンの座標点を生成するバイアス処理を行う(S6)。
Subsequently, the processing
次に、ロボット制御部22は、レーザ光走査制御部25に対して、生成された加工用パターンの80点の座標を、ワークの座標系からロボットの座標系に換算するように指示する(S7)。
Next, the
次に、ロボット制御部22は、現在認識しているロボット1の姿勢を入力し、現在のロボット1の姿勢でターゲットとしているワークWの加工点上に、要求されている大きさの加工用パターンを描くための反射ミラー11の回動の仕方(回動開始から終了までの加工パターンの各点(80点)に到達する各時刻における反射ミラー11の角度)を算出する(S8)。このとき、入熱量を反射ミラーの回動速度で制御する場合には、第1の入熱量の部分と第2の入熱量の部分とで、それぞれの位置に到達する各時刻における反射ミラー11の角度を求めることになる。一方、レーザ発信器によるレーザ出力強度の制御はここで算出された反射ミラー回動位置の各時刻から入熱量を変える時刻を指定して、その時刻になればレーザ出力を変えるように指示を入力しておく。
Next, the
以上の演算が終了したら、ロボット制御部22は、教示データに従ってレーザ光(YAGレーザ光)を出力するようにレーザ発振器5に対して指令する(レーザ発振器ON:S9)。そしてレーザ発振器5がONされると、反射ミラー11に向けてレーザ光が照射され、反射ミラー11は上記算出された回動の仕方で回動させるようにレーザ光走査制御部25へ指示する(S9)。
When the above calculation is completed, the
以後、レーザ光走査制御部25は、反射ミラー11の回動が終了(加工用パターンの照射が終了)するまで反射ミラー11の回動を続け、回動が終了位置に着たなら、ロボット制御部22に対して終了信号を出力する。これを受けたロボット制御部22は、レーザ発振器5からのYAGレーザの出力指令を消してレーザ光の出力を停止させる(S10)。これで一つの加工点位置におけるレーザ加工を終了する。
Thereafter, the laser beam
以上の処理によって、1箇所の加工点への加工用パターンの照射が終了する。そして複数の加工点を加工する際には、上記の処理を指定された加工点の数だけ順次実行する。 With the above processing, irradiation of the processing pattern to one processing point is completed. When machining a plurality of machining points, the above processing is sequentially executed for the number of designated machining points.
これによりワークW上の複数の加工点位置に、それぞれ決まった加工用パターンによる溶接ビードが形成される。 As a result, a weld bead having a predetermined machining pattern is formed at a plurality of machining point positions on the workpiece W.
次に、上述のレーザ加工システムの作用を説明する。 Next, the operation of the above laser processing system will be described.
上述のレーザ加工システムによれば、加工用パターンを有するレーザ光100が、この加工用パターンに対応する形状のスリット42を通って照射される。したがって、例えば図14に示すように、加工用パターンの全体を覆う1つの開口52が設けられた遮蔽板51と比較すると、ワークWの加工点から飛散するスパッタSが遮蔽板32によって効率よく遮蔽されて、スパッタSの、レーザ照射装置3のレーザ光学系を保護する保護ガラスへの飛散を抑制でき、保護ガラスの延命が可能となる。
According to the laser processing system described above, the
また、遮蔽板32が、位置精度の高いクランプ31に固定されるため、適切な形状のスリット42を精度よく配置することが加能であり、スパッタSの保護ガラスへの飛散をより一層抑制でき、保護ガラスの延命が可能となる。
In addition, since the shielding
また、遮蔽板32がクランプ31に対して移動可能に固定されており、また変更可能であるため、加工位置や加工パターンの変更に容易に対応することが可能である。
Further, since the shielding
次に、本発明が適用されるレーザ加工システムの変形例を示す。 Next, a modification of the laser processing system to which the present invention is applied will be shown.
図12は実施形態で使用する遮蔽板の変形例を示す断面図である。 FIG. 12 is a cross-sectional view showing a modification of the shielding plate used in the embodiment.
図12に示すように、2枚の第1遮蔽板53および第2遮蔽板54を設けることも加能である。第1遮蔽板53および第2遮蔽板54は、その間に例えば間隔保持用スペーサ55を挟むことにより、所定間隔離れて位置することとなる。第1、第2遮蔽板53,54には、レーザ光100の経路に対応して、第1スリット51および第2スリット52が設けられる。この第1,第2スリット51,52は、加工用パターンに対応する形状を有しており、加工用パターンと相似形状で形成される。したがって、第1,第2スリット51,52同士が相似形状を有することとなる。なお、レーザ照射装置3が移動しつつレーザ光100を照射する場合には、必ずしも相似形状でなくてもよい。
As shown in FIG. 12, providing two
第1,第2スリット51,52のスリット幅L1,L2は、レーザ光100が第1,第2遮蔽板53,54に照射されることのないように、レーザ光100の径や照射位置精度、スリット51,52の位置精度等を考慮して決定される。なお、スリット幅L2は、ワークWに近いため、レーザ光100の焦点がより絞られていることから、スリット幅L1も狭く設定される。
The slit widths L1 and L2 of the first and
一例として、レーザ照射装置3とワークWの間の距離H1が約300mm、第1遮蔽板53と第2遮蔽板54の間の距離H3が50mm、第2遮蔽板54とワークWの間の距離H4が50mm、レーザ光100のレーザ照射装置3から照射された際の径D3(焦点が絞られる前の径)が30mmである場合、相似的に、第1スリット51を通過するレーザ光100の径D4は10mm、第2スリット52を通過するレーザ光100の径D5は5mmであることから、第1スリット51および第2スリット52のスリット幅L1,L2は、それぞれ少なくとも10mmおよび5mmが必要である。
As an example, the distance H1 between the
このような変形例では、第1スリット51と第2スリット52が、第1,第2遮蔽板53,54の水平面方向へずれて(オフセットされて)配置される。したがって、遮蔽板が1枚の場合と比較すると、ワークWの加工点から飛散するスパッタSが2枚の第1,第2遮蔽板53,54によって効率よく遮蔽されるため、スパッタSの保護ガラスへの飛散をより確実に抑制でき、保護ガラスの一層の延命が可能となる。
In such a modified example, the
図13は実施形態で使用する遮蔽板の他の変形例を示す断面図である。 FIG. 13 is a cross-sectional view showing another modification of the shielding plate used in the embodiment.
図13に示すように、厚い遮蔽板64を設け、スリット61をレーザ光100の傾斜に対応して設けることも加能である。このような変形例では、スリット61の、レーザ光100の入射側と出射側に対応する入口部62と出口部63が、遮蔽板64の水平面方向へずれて配置され、また入口部62と出口部63におけるスリット幅も異なる。したがって、ワークWの加工点から飛散するスパッタSが遮蔽板64によって効率よく遮蔽されるため、スパッタSのレーザ照射装置3の保護ガラスへの飛散をより確実に抑制でき、保護ガラスの一層の延命が可能となる。
As shown in FIG. 13, providing a
なお、本発明は上述した実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲の範囲内で種々改変することができる。例えば、遮蔽板は、クランプに固定されて設けられずに、クランプから独立して配置されてもよい。また、遮蔽板をワークWの近傍に配置するのではなく、ワークWよりもレーザ照射装置に近い側へ配置することもできる。この場合には、スパッタがスリットを通り抜ける確率が低くなり、より確実にスパッタの保護ガラスへの飛散を抑制できる。また、遮蔽板をクランプに対して移動可能に固定しているが、例えばモータ等を用いて移動機構を構成し、遮蔽板の移動を移動機構により可能とすることもできる。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made within the scope of the claims. For example, the shielding plate may be arranged independently of the clamp without being fixed to the clamp. Further, the shielding plate is not disposed in the vicinity of the workpiece W but can be disposed closer to the laser irradiation device than the workpiece W. In this case, the probability that the spatter passes through the slit is reduced, and the spatter of the sputter to the protective glass can be suppressed more reliably. Moreover, although the shielding plate is fixed so as to be movable with respect to the clamp, for example, a moving mechanism may be configured using a motor or the like, and the moving of the shielding plate may be enabled by the moving mechanism.
本発明は、レーザ加工に好適であり、また、レーザ切断やレーザマーキングなど加工以外のレーザ加工においても利用可能である。 The present invention is suitable for laser processing, and can also be used in laser processing other than processing such as laser cutting and laser marking.
1 ロボット(移動手段)、
2 アーム、
3 レーザ照射装置(レーザ照射手段)、
5 レーザ発振器、
6 光ファイバーケーブル、
7 ロボット制御装置(加工用制御手段およびレーザ光制御手段)、
8 ティーチボックス、
9 CADシステム、
11 反射ミラー(反射鏡)、
12 レンズ群、
21 教示データ記憶部(教示データ記憶手段)、
22 ロボット制御部、
23 加工用パターン記憶部(加工用パターン記憶手段)、
24 加工用パターン生成部、
25 レーザ光走査制御部(加工用制御手段およびレーザ光制御手段)、
26 指示部、
31 クランプ(保持手段)、
32,64 遮蔽板、
33 第1把持部、
34 第2把持部、
42,61 スリット、
51 第1スリット、
52 第2スリット、
53 第1遮蔽板、
54 第2遮蔽板、
L,L1,L2 スリット幅、
100 レーザ光、
121 コリメートレンズ、
122 集光レンズ、
S スパッタ、
W ワーク(被加工部材)。
1 Robot (moving means),
2 arms,
3 Laser irradiation device (laser irradiation means),
5 Laser oscillator,
6 Optical fiber cable
7 Robot control device (processing control means and laser light control means),
8 Teach box
9 CAD system,
11 reflection mirror (reflection mirror),
12 lens groups,
21 teaching data storage unit (teaching data storage means),
22 Robot controller,
23 processing pattern storage unit (processing pattern storage means),
24 processing pattern generator,
25 laser beam scanning control section (processing control means and laser light control means),
26 indicator,
31 Clamp (holding means),
32, 64 shielding plate,
33 first gripping part,
34 second gripping part,
42, 61 slit,
51 1st slit,
52 second slit,
53 first shielding plate,
54 second shielding plate,
L, L1, L2 slit width,
100 laser light,
121 collimating lens,
122 condenser lens,
S sputter,
W Workpiece (work piece).
Claims (11)
前記レーザ光を照射するレーザ照射手段と前記被加工部材との間に配置され、前記加工用パターンを描くレーザ光の経路に対応する形状のスリットが形成された遮蔽板を有することを特徴とするレーザ加工装置。 A laser processing apparatus for irradiating a member to be processed with a laser beam so as to draw a predetermined processing pattern,
A shielding plate is provided between the laser irradiation means for irradiating the laser beam and the workpiece, and has a shielding plate in which a slit having a shape corresponding to the path of the laser beam for drawing the processing pattern is formed. Laser processing equipment.
前記レーザ照射手段を移動させる移動手段と、
前記レーザ照射手段をあらかじめ教示された移動経路に従って移動させるように前記移動手段を制御するとともに、前記レーザ光があらかじめ決められた加工用パターンを描くように前記反射鏡の動きを制御する加工用制御手段と、
前記レーザ照射手段から射出されたレーザ光による加工点における入熱量を前記加工用パターンを描く前記レーザ光の移動位置に応じて変更するレーザ光制御手段と、
前記レーザ光が照射される被加工部材を保持する保持手段と、
前記保持手段に固定されるとともに前記レーザ照射手段と被加工部材との間に配置され、前記加工用パターンを描くレーザ光の経路に対応する形状のスリットが形成された遮蔽板と、を有すること特徴とするレーザ加工装置。 Laser irradiation means comprising a reflecting mirror for changing the irradiation direction of the laser light;
Moving means for moving the laser irradiation means;
A processing control for controlling the movement means to move the laser irradiation means according to a movement path taught in advance and for controlling the movement of the reflecting mirror so that the laser beam draws a predetermined processing pattern. Means,
Laser light control means for changing the amount of heat input at a processing point by the laser light emitted from the laser irradiation means in accordance with the moving position of the laser light that draws the processing pattern;
Holding means for holding a workpiece to be irradiated with the laser beam;
And a shielding plate that is fixed to the holding unit and is disposed between the laser irradiation unit and a member to be processed, and is formed with a slit having a shape corresponding to the path of the laser beam that draws the processing pattern. A featured laser processing apparatus.
前記レーザ光を照射するレーザ照射手段と被加工部材との間に、前記加工用パターンを描くレーザ光の経路に対応する形状のスリットが形成された遮蔽板を配置し、前記レーザ光を当該スリットを通過させて被加工部材に照射することを特徴とするレーザ加工方法。 A laser processing method for irradiating a workpiece with laser light so as to draw a predetermined processing pattern,
A shielding plate in which a slit having a shape corresponding to the path of the laser beam that draws the processing pattern is disposed between the laser irradiation unit that irradiates the laser beam and the workpiece, and the laser beam is passed through the slit. A laser processing method characterized by irradiating a member to be processed through a laser beam.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007072825A JP5320682B2 (en) | 2007-03-20 | 2007-03-20 | Laser processing apparatus and laser processing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007072825A JP5320682B2 (en) | 2007-03-20 | 2007-03-20 | Laser processing apparatus and laser processing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008229662A true JP2008229662A (en) | 2008-10-02 |
JP5320682B2 JP5320682B2 (en) | 2013-10-23 |
Family
ID=39903076
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007072825A Expired - Fee Related JP5320682B2 (en) | 2007-03-20 | 2007-03-20 | Laser processing apparatus and laser processing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5320682B2 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107921583A (en) * | 2015-09-15 | 2018-04-17 | 舒勒自动化有限及两合公司 | For the device from sheet metal strip cutting sheet metal |
CN114619141A (en) * | 2022-04-24 | 2022-06-14 | 嘉兴品格精密金属制品有限公司 | Metal plate laser cutting machine |
DE112022000515T5 (en) | 2021-03-08 | 2024-01-25 | Fanuc Corporation | CONTROL SYSTEM, CONTROLLER AND EXTERNAL DEVICE |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62270291A (en) * | 1986-05-20 | 1987-11-24 | Mitsubishi Electric Corp | Real time control device in laser beam machine |
JPH01245985A (en) * | 1988-03-26 | 1989-10-02 | Oimatsu Sangyo:Kk | Engraving method by laser beam and work moving device |
JPH0857664A (en) * | 1994-08-17 | 1996-03-05 | Komatsu Ltd | Stamping method to work |
JPH08330196A (en) * | 1995-05-30 | 1996-12-13 | Miyazaki Oki Electric Co Ltd | Method and apparatus for marking semiconductor wafer with laser |
JP2003191082A (en) * | 2001-12-21 | 2003-07-08 | Mitsubishi Electric Corp | Device and method of laser marking |
JP2005219108A (en) * | 2004-02-09 | 2005-08-18 | Nissan Motor Co Ltd | Laser machining head and laser machining method |
-
2007
- 2007-03-20 JP JP2007072825A patent/JP5320682B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62270291A (en) * | 1986-05-20 | 1987-11-24 | Mitsubishi Electric Corp | Real time control device in laser beam machine |
JPH01245985A (en) * | 1988-03-26 | 1989-10-02 | Oimatsu Sangyo:Kk | Engraving method by laser beam and work moving device |
JPH0857664A (en) * | 1994-08-17 | 1996-03-05 | Komatsu Ltd | Stamping method to work |
JPH08330196A (en) * | 1995-05-30 | 1996-12-13 | Miyazaki Oki Electric Co Ltd | Method and apparatus for marking semiconductor wafer with laser |
JP2003191082A (en) * | 2001-12-21 | 2003-07-08 | Mitsubishi Electric Corp | Device and method of laser marking |
JP2005219108A (en) * | 2004-02-09 | 2005-08-18 | Nissan Motor Co Ltd | Laser machining head and laser machining method |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107921583A (en) * | 2015-09-15 | 2018-04-17 | 舒勒自动化有限及两合公司 | For the device from sheet metal strip cutting sheet metal |
DE112022000515T5 (en) | 2021-03-08 | 2024-01-25 | Fanuc Corporation | CONTROL SYSTEM, CONTROLLER AND EXTERNAL DEVICE |
CN114619141A (en) * | 2022-04-24 | 2022-06-14 | 嘉兴品格精密金属制品有限公司 | Metal plate laser cutting machine |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5320682B2 (en) | 2013-10-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4353219B2 (en) | Laser processing apparatus and control method of laser processing apparatus | |
JP4792901B2 (en) | Laser welding apparatus and method, and irradiation apparatus | |
JP2007098464A (en) | Laser beam machining robot controller, method for controlling laser beam machining robot and laser beam machining robot controlling program | |
EP1837116B1 (en) | Laser welding apparatus for easily adjusting the laser focusing position on a workpiece | |
CN101269442B (en) | Laser welding apparatus and method | |
JP2012135781A (en) | Method and device for teaching laser machining robot | |
JP2008030091A5 (en) | ||
KR20100129207A (en) | Method and device to operate an additional tool axis of a tool guided by a manipulator | |
JP2005329436A (en) | Laser machining method | |
JP2012157867A (en) | Laser processing system, laser processing method, and teaching method | |
JP5502462B2 (en) | Control apparatus and program for arc welding robot | |
JP6327172B2 (en) | Laser welding system and laser welding method | |
JP5320682B2 (en) | Laser processing apparatus and laser processing method | |
JP2000317660A (en) | Method and device for removing burr by using laser beam | |
US20240116122A1 (en) | A method for optimising a machining time of a laser machining process, method for carrying out a laser machining process on a workpiece, and laser machining system designed for carrying out this process | |
JP5061640B2 (en) | Laser welding apparatus and laser welding method | |
JP5577927B2 (en) | Laser processing detection system | |
JP2007319922A (en) | Laser beam machining apparatus and method therefor | |
JP2007021550A (en) | Laser beam welding apparatus, laser beam welding system, and the laser beam welding method | |
JP5741417B2 (en) | Laser processing robot system | |
WO2014203489A1 (en) | Outer can sealing method and outer can sealing device | |
JP2011194476A (en) | Laser machining display device and teaching method of robot using the same | |
JP5223537B2 (en) | Laser welding quality inspection method and apparatus | |
JP6131860B2 (en) | Teaching method using laser processing robot system | |
JP6685806B2 (en) | Laser processing method and laser processing apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100126 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110916 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120313 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120514 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121009 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121207 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130205 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130425 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130508 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130618 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130701 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5320682 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |