JP2008219022A - 結晶欠陥の回復方法、結晶体の作製方法、パターン形成方法、x線量の検出体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】酸化マグネシウム単結晶からなる基板1の中央部分12に、イオン注入を行う。これにより、この部分が着色領域2となる。この基板1の着色領域2が形成された面に、中央に円形の孔を開けたマスクを載せた状態でX線を照射する。これにより、着色領域2のX線が照射された円形部分の色が薄くなって、円形のパターン3が形成される。
【選択図】図1
Description
また、下記の非特許文献1には、ドーピングされたGaAsのキャリア移動度がレーザー照射により回復された例について記載されている。
さらに、NECのMiyamotoらのグループは、光や電子励起による結晶欠陥の回復をコンピュータシミュレーションによって実証する研究を進めており(非特許文献2参照)、この研究は世界的に注目を集めている。
本発明の課題は、温度上昇を伴わずに結晶欠陥を回復できる方法と非金属の結晶欠陥を容易に制御できる方法を提供することにある。
従来から知られているように、格子欠陥の無い、ほぼ完全な結晶体にX線照射を行うと、この結晶体に欠陥が導入される。本発明者は、このように欠陥を導入する作用が有るX線照射を、過剰な欠陥を有する非金属の結晶体に対して行うと、欠陥が回復することを見出した。
本発明はまた、非金属の結晶体からなる基材の表面の所定領域にイオン注入を行った後に、前記所定領域に部分的にX線を照射して光吸収波長を変化させることにより、前記表面に光吸収波長の違いで識別されるパターンを形成する方法を提供する。
本発明はまた、非金属の結晶体からなる基材の表面にイオン注入による格子欠陥が導入されていることを特徴とするX線量の検出体を提供する。
本発明の「結晶体の作製方法」によれば、イオン注入工程とX線照射工程とにより、欠陥部分と欠陥が回復された部分とを有する結晶体を容易に作製することができる。すなわち、非金属の結晶欠陥を容易に制御することができる。
本発明の「結晶体の作製方法」によれば、非金属の結晶体からなる基材の表面の所定領域にイオン注入を行った後に、前記所定領域に部分的にX線を照射して光吸収波長を変化させることにより、前記表面に光吸収波長の違いで識別されるパターンを形成することができる。
熱処理法では、微細な部分のみを温度上昇させることが困難であるが、イオン注入およびX線照射は微細な部分のみに行うことができるため、本発明の「パターン形成方法」によれば、微細なパターンを形成することができる。
図1を用いて、本発明の「パターン形成方法」の一実施形態を説明する。
先ず、図1(a)に示すように、酸化マグネシウム単結晶(非金属の結晶体)からなる基板(基材)1を用意する。この基板1は透明である。この基板1の表面の中央部分(所定領域)12に、イオンビーム走査法によりイオン注入を行った。これにより、この部分が着色領域2となった。図1(b)はこの状態を示す。イオン注入は、金(Au)イオンを用い、加速電圧:3.1MeV、注入量:2×1016 ion/cm2 の条件で行った。
ここで、パターン3の部分と、着色領域2の部分(パターン3から外れる部分)と、基板1の部分(着色領域2から外れる部分)について、光吸収スペクトルを測定した。その結果を図2に示す。図2のチャートから分かるように、波長575nm付近に中心を有するピークがX線照射により小さくなっている。
また、エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX)により、各断面を深さ方向に元素分析した。その結果を図5および図6に示す。図5が、X線照射前の着色領域2に相当する図3の点A1〜A12での分析結果を示す。図6が、X線照射後のパターン部3に相当する図4の点B1〜B12での分析結果を示す。
以上のことから、MgO単結晶からなる透明な基板に金をイオン注入することにより、格子欠陥が形成されて、その部分が吸収波長575nm付近の色に着色され、その部分にX線を照射することにより、格子欠陥の回復と、これに伴う色の変化、イオン注入された原子の拡散が生じることが分かった。
さらに、非金属の結晶体からなる基材の表面にイオン注入による格子欠陥が導入されていると、この格子欠陥の光吸収波長(基材表面の色)がX線照射によって変化するため、この基材はX線量の検出体として使用することができる。例えば、前記基材の表面にイオン注入を行って着色されたものは色の変化により、前記基材の表面にイオン注入を行っても人間の目で透明に見えるものは色が着くことにより、X線量が検出できる。
また、この実施形態ではMgO単結晶からなる基板を「基材」として用いているが、他の非金属の結晶体(多結晶を含む)からなるものであってもよいし、形状も板状に限定されない。
12 基板の表面の中央部分(所定領域)
2 着色領域
3 パターン
Claims (1)
- 非金属の結晶体からなる基材の表面にイオン注入による格子欠陥が導入されている着色部分を有し、該着色部分の色がX線照射により変化することを特徴とするX線量の検出体。
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