JP2008196028A - Base material treating apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、帯状の被処理用の基材にメッキ液等の処理液によってメッキ処理等の湿式処理を施し、フレキシブル基板等を製造する基材処理装置に関するものである。 The present invention relates to a base material processing apparatus for manufacturing a flexible substrate or the like by performing wet processing such as plating processing on a strip-shaped base material to be processed with a processing solution such as a plating solution.
このフレキシブル基板の一例として、例えば、携帯電話やディスプレイ等のプリント配線板として利用される銅積層ポリイミドフィルム等がある。この銅積層ポリイミドフィルムは、一般的に、厚さ数十μmのポリイミドフィルムの片面又は両面に、順次、ニッケルクロム合金のスパッタ層と、この合金スパッタ層の上に銅スパッタ層とが形成された帯状の被処理用の基材に、銅メッキ処理が施されることによって構成されている。 As an example of this flexible substrate, there is, for example, a copper laminated polyimide film used as a printed wiring board for a mobile phone or a display. In general, this copper laminated polyimide film has a nickel chromium alloy sputter layer and a copper sputter layer formed on the alloy sputter layer sequentially on one or both sides of a polyimide film having a thickness of several tens of μm. The belt-shaped substrate for processing is configured by performing copper plating.
そして、この銅メッキ処理は、基材を硫酸銅等のメッキ液が充填されたメッキ槽に供給し、メッキ槽の外部に配設された電極によって合金スパッタ層と銅スパッタ層とからなるスパッタ層が通電され、銅スパッタ層の上に、メッキ層を形成することにより行われる。その際、基材は、スパッタ層の膜厚が著しく薄いため、スパッタ層を流れる電流量に上限があり、1槽のメッキ槽によるメッキ処理では、銅スパッタ層上に薄いメッキ層しか形成されない。 And this copper plating process supplies a base material to the plating tank filled with plating solutions, such as copper sulfate, and the sputter layer which consists of an alloy sputter layer and a copper sputter layer with the electrode arrange | positioned outside the plating tank Is carried out by forming a plating layer on the copper sputter layer. In that case, since the film thickness of the sputter layer is extremely thin, there is an upper limit on the amount of current flowing through the sputter layer, and only a thin plating layer is formed on the copper sputter layer in the plating process by one plating tank.
このため、銅積層ポリイミドフィルムの製造装置は、一般に、製造ラインに沿って複数のメッキ槽が配設されており、各メッキ槽は、対向側面にそれぞれ基板を通過させる細長状の開口が上下方向に向けて形成されている。 For this reason, the copper laminated polyimide film manufacturing apparatus is generally provided with a plurality of plating tanks along the manufacturing line, and each plating tank has an elongated opening through which the substrate passes on the opposite side surface in the vertical direction. It is formed towards.
一方、基材は、その帯幅方向が上下方向に向けて配設され、順次、各メッキ槽に形成された開口を通じて、各メッキ槽内に供給されるとともに、各メッキ槽外に排出され、製造ラインに沿って搬送される。そして基材は、1槽目のメッキ槽において薄いメッキ層が形成されると、2槽目のメッキ槽においてスパッタ層と銅メッキ層の肉厚分だけ電流量が流れるため、1槽目のメッキ層よりも膜厚のメッキ層が形成され、同様に、3槽目、4槽目と段階的に膜厚のメッキ層が形成され、最終的に薄いスパッタ層上に漸次、膜厚の銅メッキ層が形成され、所望の厚みの銅メッキ層が形成された銅積層ポリイミドフィルムとなる。 On the other hand, the base material is disposed in the vertical direction in the band width direction, and is sequentially supplied into each plating tank through an opening formed in each plating tank, and is discharged out of each plating tank. It is transported along the production line. And when a thin plating layer is formed in the first plating tank, the substrate flows in the second plating tank because the amount of current flows by the thickness of the sputter layer and the copper plating layer. A plating layer having a thickness larger than that of the first layer is formed, and similarly, a plating layer having a film thickness is formed step by step in the third and fourth tanks, and finally, copper plating having a thickness is gradually formed on the thin sputter layer. A layer is formed, and a copper laminated polyimide film in which a copper plating layer having a desired thickness is formed.
ところで、この銅積層ポリイミドフィルムの製造装置は、上述のように、メッキ槽の対向側面に一対の開口が形成され、この開口を通じて基材が搬送されるため、そのままでは基材とともに開口から硫酸銅等のメッキ液が流出してしまう。
このため、各メッキ槽は、それぞれ上記開口の周囲に、上記メッキ液の流出を抑制するシール機構を設けて、製造ラインに沿って配設される必要があり、このシール機構としては、一般的に、特許文献1に示すように、上記開口の周囲において基材を挟持する一対のシールローラを備えたものが知られている。
この一対のシールローラは、上記開口を封じるように配設することによって、基材を挟持しつつ上記メッキ液の流出を抑制することができる。
By the way, this copper laminated polyimide film manufacturing apparatus, as described above, has a pair of openings formed on the opposite side surfaces of the plating tank, and the base material is conveyed through these openings. The plating solution such as spills out.
For this reason, each plating tank needs to be provided along the production line by providing a sealing mechanism that suppresses the outflow of the plating solution around the opening. In addition, as shown in
By arranging the pair of seal rollers so as to seal the opening, it is possible to suppress the outflow of the plating solution while sandwiching the base material.
しかしながら、このシールローラは、上記開口からのメッキ液の流出を抑制するために基材に強く密着させており、これによって、当該ローラに異物が付着している場合、この異物を基材に転写してしまう恐れがある。一方、基材は、繰り返し、メッキ槽に供給されるために、銅スパッタ層又はメッキ層上に異物が転写される確率が高くなり、異物が転写されると、その転写された異物上にメッキ処理が施されてしまう。このため、基板には、異物上にメッキ層が形成されることによって突起が形成され、又は異物上にメッキ層が付着しないことによって凹部が形成されてしまう。 However, this seal roller is in close contact with the base material in order to suppress the outflow of the plating solution from the opening, and when the foreign matter adheres to the roller, the foreign matter is transferred to the base material. There is a risk of doing. On the other hand, since the base material is repeatedly supplied to the plating tank, the probability that foreign matter is transferred onto the copper sputtered layer or the plating layer increases, and when the foreign matter is transferred, plating is performed on the transferred foreign matter. Processing will be performed. For this reason, protrusions are formed on the substrate by forming the plating layer on the foreign matter, or concave portions are formed by not attaching the plating layer on the foreign matter.
加えて、シールローラは、その回転速度が基材の搬送速度と一致していない場合に、基材の表面を擦りつけて、基材の表面に擦り傷を形成してしまうことがある。すると、基材には、繰り返しのメッキ処理によって、この擦り傷上に所望の膜厚のメッキ層が形成されずに凹部が形成され、又はメッキ層の下に擦り傷が残存してしまう。
このようにして、シールローラは、銅メッキ層の欠陥発生原因となっていた。
In addition, when the rotational speed of the seal roller does not coincide with the conveyance speed of the substrate, the surface of the substrate may be rubbed to form a scratch on the surface of the substrate. As a result, a repeated plating treatment does not form a plating layer having a desired film thickness on the scratches, but a recess is formed on the substrate, or scratches remain below the plating layer.
In this way, the seal roller has caused a defect in the copper plating layer.
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので、シールローラによって基材を挟持することなく、メッキ槽等の処理槽に形成された開口からのメッキ液等の処理液の流出を抑制できるシール機構を備えた基材処理装置を提供することを課題とするものである。 The present invention has been made in view of such circumstances, and a seal capable of suppressing the outflow of a processing solution such as a plating solution from an opening formed in a processing bath such as a plating bath without sandwiching a base material by a seal roller. It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus provided with a mechanism.
本発明者らは、シールローラによって基材に付着する異物がメッキ液中に浮遊するメッキ処理用のアノード電極から発生するスライムであり、シールローラの材質を変更してもシールローラによる基材への異物の転写を防ぐことができないことを見出し、本発明を完成させたものである。 The present inventors are slimes generated from the anode electrode for the plating process in which foreign matter adhering to the base material by the seal roller floats in the plating solution, and even if the material of the seal roller is changed, the base material by the seal roller is used. The present invention has been completed by finding out that the transfer of foreign matter cannot be prevented.
すなわち、請求項1に記載の発明に係る基材処理装置は、内部に処理液が収容された処理槽を有し、上記処理槽の対向側面に、それぞれ帯幅方向を上下方向に向けた状態で搬送される帯状の基材を通過させる細長状の開口が形成され、上記開口の周囲にそれぞれ上記処理液の流出を抑制するシール機構が備えられた基材処理装置であって、上記シール機構は、上記基材の両側方に軸線方向を上下方向に向けて回転自在に配設された一対の回転ローラと、これら回転ローラの回転駆動手段とを備えており、上記回転ローラは、少なくとも上記開口の液面下から当該開口の下端部に至る長さ寸法を有し、かつその外周面が上記基材との間に0.1mm以上であって2.5mm以下の間隔を隔てた位置に配設されるとともに、上記回転駆動手段は、上記外周面の周速が上記基材の搬送速度と同期して、上記外周面の上記基材側の対向部が上記基材と同方向に回転するように、上記回転ローラを駆動することを特徴としている。 That is, the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention has a processing tank in which a processing liquid is accommodated, and the band width direction is directed vertically on the opposite side surfaces of the processing tank. A substrate processing apparatus provided with a sealing mechanism for forming a long and narrow opening through which the belt-shaped substrate conveyed by the substrate passes, and suppressing the outflow of the processing liquid around each of the openings. Comprises a pair of rotating rollers rotatably disposed on both sides of the base material with the axial direction facing the up and down direction, and a rotation driving means for the rotating rollers, and the rotating roller includes at least the above-described rotating rollers. It has a length dimension from below the liquid level of the opening to the lower end of the opening, and its outer peripheral surface is at a position of 0.1 mm or more and 2.5 mm or less from the base material. And the rotational drive means is The rotation roller is driven so that the peripheral speed of the outer peripheral surface is synchronized with the conveyance speed of the base material and the facing portion of the outer peripheral surface on the base material side rotates in the same direction as the base material. It is a feature.
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の基材処理装置において、上記処理槽の外部には、上記対向側面を一側面として上記開口を囲繞し、当該開口から流出した上記処理液を回収する有底筒状の回収槽が設けられており、上記回転ローラは、上記回収槽内に設けられるとともに、それぞれ当該回転ローラの上記基材に対して背面側の外方に設けられた流路形成部材によって回転自在に支持されており、上記流路形成部材は、上記一側面と一体的に設けられるとともに、少なくとも上記回転ローラよりも上下方向に向けて大きく形成されて、上記回転ローラ側の対向面と上記基材との間には、上記開口に連通する上記処理液の狭小の流出路が形成され、かつ上記対向面には、上記回転ローラに対向する位置に凹部が形成されて、この凹部と回転ローラとの間には、最小の路幅が0.05mm以上であって0.5mm以下の幅狭の流路が形成されていることを特徴としている。 According to a second aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first aspect, the processing liquid that surrounds the opening with the opposite side surface as one side surface and flows out from the opening is disposed outside the processing tank. A bottomed cylindrical recovery tank is provided, and the rotating roller is provided in the recovery tank and is provided on the outer side of the back surface of the rotating roller with respect to the base material. The flow path forming member is rotatably supported by the flow path forming member, and the flow path forming member is provided integrally with the one side surface and is formed to be at least larger in the vertical direction than the rotary roller, and the rotary roller A narrow outflow passage for the processing liquid communicating with the opening is formed between the opposite facing surface and the base material, and a recess is formed on the facing surface at a position facing the rotating roller. And this recess Rolling between the rollers, the minimum road width is characterized in that the flow path of the following narrow a is 0.05mm or 0.5mm are formed.
請求項1又は2に記載の発明によれば、基材の両側方に、少なくとも開口の液面下から開口の下端部に至る長さ寸法を有する回転ローラを、基材との間に0.1mm以上であって2.5mm以下の間隔を保つようにして配設したため、処理槽の開口から基材の両面に沿っての処理液の流出を充分に抑制できるとともに、回転ローラによる基材表面への異物の転写を防止することができる。
加えて、回転駆動手段によって、回転ローラを、外周面の周速が基材の搬送速度と同期して、基材側の対向部が基材と同方向に回転するように駆動させるため、万が一、回転ローラが基材に接触して、基材に点状の傷が形成されることがあっても、基材表面を擦ってしまうことにより、基材に線状の擦り傷が形成されることを阻止でき、基材やメッキ層に製品化に際して問題となる欠陥が生じることを防止できる。
According to the first or second aspect of the present invention, a rotating roller having a length dimension extending at least from the lower surface of the opening to the lower end of the opening is provided between the substrate and the both sides of the substrate. Since it was arranged so as to maintain an interval of 1 mm or more and 2.5 mm or less, the outflow of the processing liquid along both surfaces of the base material from the opening of the processing tank can be sufficiently suppressed, and the base material surface by the rotating roller It is possible to prevent the transfer of foreign matter to the surface.
In addition, the rotation driving means drives the rotating roller so that the peripheral speed of the outer peripheral surface is synchronized with the transport speed of the base material so that the facing portion on the base material side rotates in the same direction as the base material. Even if the rotating roller comes into contact with the base material and dot-like scratches may be formed on the base material, linear scratches may be formed on the base material by rubbing the surface of the base material. It is possible to prevent the occurrence of defects that cause problems in the production of the substrate and the plating layer.
特に、請求項2に記載の発明によれば、回転ローラを回転自在に支持する流路形成部材を、一側面と一体的に設けるとともに、少なくとも上記回転ローラよりも上下方向に向けて大きく形成して、流路形成部材の回転ローラ側の対向面と基材との間に開口に連通する狭小の流出路を形成したため、この流出路に滞留する処理液の液圧によって上流側の処理液を処理槽側に押圧することができ、処理液の流出量を減少させることができる。 In particular, according to the second aspect of the present invention, the flow path forming member that rotatably supports the rotating roller is provided integrally with one side surface, and at least larger than the rotating roller in the vertical direction. Thus, a narrow outflow passage communicating with the opening is formed between the opposite surface of the flow path forming member on the rotating roller side and the base material, so that the upstream processing liquid is discharged by the liquid pressure of the processing liquid staying in the outflow path. The pressure can be pushed to the treatment tank side, and the outflow amount of the treatment liquid can be reduced.
加えて、この流路形成部材における回転ローラに対向する位置に凹部を形成することによって、この凹部と回転ローラとの間に形成される狭小の流路の最小の路幅を0.5mm以下としたため、回転ローラの基材wに対して背面側の離間部が処理槽側に向けて回転することによって流路内の処理液を処理槽側に向けて流動させることができ、処理液の流出を抑制することができる。
他方、この流路の最小の路幅を0.05mm以上としたため、回転ローラの回転の自由度を確保することができ、確実に回転ローラを基材と同期させて回転させることができる。
In addition, by forming a recess at a position facing the rotating roller in the channel forming member, the minimum path width of the narrow channel formed between the recess and the rotating roller is 0.5 mm or less. Therefore, the processing liquid in the flow path can be made to flow toward the processing tank side by rotating the separation portion on the back side with respect to the base material w of the rotating roller toward the processing tank side, and the outflow of the processing liquid Can be suppressed.
On the other hand, since the minimum path width of the flow path is set to 0.05 mm or more, the degree of freedom of rotation of the rotating roller can be ensured, and the rotating roller can be reliably rotated in synchronization with the base material.
以下、本発明に係るメッキ装置について、図1ないし図5を用いて説明する。 Hereinafter, a plating apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS.
本実施形態のメッキ装置は、内部に硫酸銅のメッキ液が充填されるメッキ槽(処理槽)1を有しており、このメッキ槽1は基体19によって床上に支持されている。
The plating apparatus of this embodiment has a plating tank (treatment tank) 1 in which a copper sulfate plating solution is filled, and this
メッキ槽1は、上部が大気中に開放された平面視長方形状に構成されており、長手方向に沿って配設された1対の側壁1aと長手方向の両端部に配設された1対の端部側壁(対向側面)1bと底部とによって構成されている。そして、端部側壁1bには、それぞれ側壁1a間の中央部に帯状の基材wを通過させる細長矩形状のスリット(開口)10が互いに対向して垂直に形成されている。これらのスリット10は、それぞれスリット幅が基材wの厚みよりも大きく形成されるとともに、基材wの接触防止及びメッキ液の流出防止の観点から、その全長が基材wの垂直方向の全長よりも長く形成されて、その上端及び下端がそれぞれ基材wの上端及び下端との間に、10mm以下、より好ましくは5mm以下の隙間を有するように形成されている。
The
ここで、基材wは、厚さ数十μmの帯状のポリイミドフィルムの片面全体にニッケルクロム合金のスパッタ層が形成され、この合金スパッタ層上に銅スパッタ層が形成された状態で、帯幅方向が垂直方向に向けて配設されている。そして、基材wは、スリット10を通過して、メッキ槽1内に供給されるとともに、メッキ装置の上流側及び下流側の外部にそれぞれ配設された電極(図示を略す)によって、上記合金スパッタ層及び上記銅スパッタ層がメッキ装置内において通電されている。
Here, the substrate w has a band width in a state in which a sputter layer of a nickel chrome alloy is formed on one surface of a strip-shaped polyimide film having a thickness of several tens of μm, and a copper sputter layer is formed on the alloy sputter layer. The direction is arranged in the vertical direction. The base material w passes through the
また、側壁1aの上部には、基材wの上端よりも上方位置において、長手方向に沿ってメッキ槽1内の液面高さを一定に保持するためのスリット111が形成され、このスリット111から流出するメッキ液を一時的に貯留するオーバーフロー槽112が一体的に設けられている。このオーバーフロー槽112は、底板に接続された排出管113によって、スリット111から流出したメッキ液をメッキ槽1の下方に配設された循環液貯留槽3に排出するようになっている。
In addition, a
メッキ槽1の底部は、側壁1a間の中央部が最深部となるように、漸次、幅方向の両端部から上記中央部に向けて下方に位置するように傾斜して形成されており、メッキ槽1の上記最深部には、長手方向に沿ってメッキ液を流動させるディフューザー13が配設されている。
The bottom of the
このディフューザー13は、円筒状に形成され、内部に、配設方向に沿ってエアーを噴出させるパイプ13aが配設されるとともに、循環液貯留槽3内のメッキ液が配管及びポンプ等を備えた送液手段(図示を略す)によって供給されるようになっており、外周壁面に多数の穴が形成されている。
The
さらに、両端部側壁1bには、それぞれ端部側壁1bを一側面として、スリット10を囲繞し、スリット10から流出したメッキ液を回収する有底筒状の回収槽22が一体に形成されている。そして、これらの回収槽22は、それぞれ端部側壁1bに対向する壁面27に、基材wを通過させる細長状のスリット27aが垂直に形成されるとともに、内部にシール機構2が設けられている。
Further, the both end side walls 1b are integrally formed with a bottomed
このシール機構2は、基材wの両側方に軸線方向を上下方向に向けて配設された円柱状の1対の回転ローラ20と、これら回転ローラ20を回転自在に支持する流路形成部材21と、これら回転ローラ20の回転駆動手段4とによって概略構成されている。
The
この回転ローラ20は、少なくともスリット10の液面下からスリット10の下端部に至る長さ寸法を有し、かつ外周面と基材wとの間に0.1mm以上であって2.5mm以下、より好ましくは0.2mm以上であって1.5mm以下の微少の間隔L1を保つようにして配設されて、その外周面の基材w側の対向部が基材wと同方向に回転するようになっている。
これは、間隔L1が0.1mm未満であると、基材wが回転ローラ20に接触する可能性が高くなるとともに、間隔L1が2.5mmを超えると、基材wと回転ローラ20との間から流出するメッキ液量が著しく増大するためである。
The rotating
This is because when the distance L1 is less than 0.1 mm, the possibility that the base material w comes into contact with the rotating
また、回転ローラ20は、基材wの接触による基材wの傷の形成を抑制すべく、少なくとも外周面がテフロン(登録商標)等の撥水性素材によって形成されている。さらに、回転ローラ20は、その上下端部に回転軸20aが一体に設けられるとともに、この回転軸20aにブッシュ44が嵌合されており、このブッシュ44は、スラスト軸受け及びラジアル軸受けとして作用する。
The rotating
流路形成部材21は、表面が端部側壁1bに接触している平板状の固定部210と、この固定部210の基材w側の内方端部よりメッキ槽1から離間する方向に形成されて、回転ローラ20の基材wに対して背面側の外方に設けられた流路形成部211とが一体に形成されている。
The flow
固定部210は、それぞれ基材wの背面側の外方端部が複数のボルトナット等の固定部材214によって端部側壁1bに固定されており、これによって、流路形成部材21は、端部側壁1bと一体的に設けられている。
また、流路形成部211は、少なくとも回転ローラ20よりも上下方向に向けて大きく形成されており、この流路形成部211の回転ローラ20側の対向面212と基材wとの間には、スリット10に連通するメッキ液の狭小の流出路24が形成されている。さらに、対向面212には、回転ローラ20の外周に沿って略半円弧状に形成された凹部213を有しており、この凹部213と回転ローラ20との間には、幅狭の流路26が形成されている。そして、この流路26は、その全長に亘って0.05mm以上であって0.5mm以下、より好ましくは0.1mm以上であって0.3mm以下の略同一の路幅L2を有している。
Each of the fixed
Further, the flow
これは、路幅L2が0.05mm未満であると、回転ローラ20の回転の自由度を確実に確保することができないためであり、路幅L2が0.5mmを超えると、回転ローラ20の回転によって、すなわち、回転ローラ20の基材wに対して背面側の離間部がメッキ槽1側に回転することによって、流路26に滞留するメッキ液をメッキ槽1側に向けて流動させることができず、メッキ液の流出量が増大するためである。
This is because if the road width L2 is less than 0.05 mm, the degree of freedom of rotation of the
さらに、流路形成部211は、その上下端部に、それぞれブッシュ44及び回転軸20aを挿通させる円環状の軸受け部材216が固定部材215によって一体的に設けられている。
他方、上部の回転軸20aは、軸受け部材216を貫通しており、その上端部には、水平に配設された略円板状の歯車20bが一体に設けられている。
Furthermore, in the flow
On the other hand, the upper rotating shaft 20a passes through the bearing
上記回転駆動手段4は、この歯車20bに噛合する駆動歯車40aと、この駆動歯車40aを回転させるモータ40とが備えられており、このモータ40によって駆動歯車40aを所定回転数で回転させることによって、回転ローラ20は、外周面の周速が基材wの搬送速度と同速度で同期して回転するようになっている。
The rotational driving means 4 includes a driving gear 40a meshing with the
次ぎに、上述のメッキ装置の作用について、説明する。
まず、基材wは、メッキ装置の上流側及び下流側の外部にそれぞれ配設された電極によって、スパッタ層が通電された状態で、順次、回収槽22のスリット27aを通過し、一対の回転ローラ20間を移動し、一方の端部側壁1bに形成されたスリット10からメッキ槽1内に搬送される。
Next, the operation of the above plating apparatus will be described.
First, the base material w sequentially passes through the slit 27a of the
その際、基材wの両面に沿ってメッキ槽1内のメッキ液がスリット10から流出するものの、このメッキ液は、狭小の流出路24において、特に、基材wと回転ローラ20との間隔L1によって、液圧が高くなるため、上流側のメッキ液をメッキ槽1側に押圧する。従って、メッキ液の流出量が減少するとともに、間隔L1が設けられているため、回転ローラ20による基材wの表面への異物の転写が防止される。また、回転ローラ20を基材wと同方向かつ同速度で回転させているため、万が一、回転ローラ20が基材wに接触した場合にも、基材wの表面を擦って、基材wに線状の擦り傷が形成されて、基材wやメッキ層に製品化に際して問題となる欠陥が生じることが防止される。
At that time, although the plating solution in the
他方、流出路24から流出したメッキ液は、排出口22aから排出管25を通じて循環液貯留槽3に排出される。
On the other hand, the plating solution flowing out from the
一方、メッキ槽1内に供給された基材wは、漸次、メッキ液によってスパッタ層上に銅メッキ層が形成された後、メッキ槽1の他方の端部側壁1bに形成されたスリット10を通過し、一対の回転ローラ20間を移動し、壁面27のスリット27aから外方へと搬出される。
On the other hand, the base material w supplied into the
その際、メッキ液は、前述と同様に、スリット10から基材wの両面に沿って流出するものの、流出路24の液圧によってメッキ槽1内に向けて押圧されて、流出量が減少するとともに、流出路24から流出したメッキ液は、排出口22aから排出管25を通じて循環液貯留槽3に排出される。
At that time, the plating solution flows out from the
一方、メッキ槽1内のメッキ液は、スリット111から溢れた場合にも、オーバーフロー槽112を介して循環液貯留槽3に排出されるとともに、循環液貯留槽3から上記送液手段によってディフューザー13内に循環供給され、攪拌されるようになっている。
On the other hand, when the plating solution in the
上述のメッキ装置によれば、基材wの両側方に、少なくともスリット10の液面下からスリット10の下端部に至る長さ寸法を有する回転ローラ20を、基材wとの間に間隔L1を保つようにして配設し、かつこれら回転ローラ20の背面側の外方に流路形成部材21を設けて、これらの流路形成部材21の基材w側の対向面212と基材wとの間にそれぞれ狭小の流出路24を形成したため、特に、間隔L1によって流出路24の液圧が高圧になり、これによって、スリット10から基材wの両面に沿って流出するメッキ液の流出量を減少させることができるとともに、回転ローラ20の接触による基材wへの異物の転写を防止することができる。
According to the above-described plating apparatus, the distance L1 between the
さらには、回転駆動手段4によって、回転ローラ20の対向部を、基材wと同方向かつ同速度で回転させるため、万が一、回転ローラ20が基材wに接触した場合にも、基材wに線状の擦り傷が形成されることを阻止でき、これによって、基材wやメッキ層に製品化に際して問題となる欠陥が生じることを防止できる。
加えて、流路形成部材21の凹部213と回転ローラ20との間に流路26が形成されているため、回転ローラ20の回転の自由度を確保することができるとともに、回転ローラ20の背面側の離間部がメッキ槽1側に向けて回転するため、流路26に滞留するメッキ液をメッキ槽1側に向けて流動させることができ、メッキ液の流出を抑制することができる。
Furthermore, since the rotation roller 4 rotates the opposite portion of the
In addition, since the
なお、本発明は、上述の実施形態に何ら限定されるものでなく、例えば、回転ローラ20は、上述の円柱状でなく、漸次上部から下部に向けて拡径する切頭円錐状に形成されていてもよい。
この場合には、メッキ槽1が大気中に開放されているため、スリット10の下部から流出するメッキ液の流出圧力が高くなるが、基材wの下部に沿って流出されるメッキ液の液量を減少させることが可能である。他方、基材wの上部が液圧が低いために基材wの搬送方向に交差する方向に左右に振れやすいものの、基材wと回転ローラ20とが離間して位置するため、回転ローラ20の接触による基材w表面の傷の形成が抑制される。
但し、この場合にも、回転ローラ20は、長手方向の全長に亘って、基材wとの間の間隔L1及び対向面212との間の路幅L2を保つように配設されている。
The present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the rotating
In this case, since the
However, also in this case, the
また、流路形成部材21の対向面212に形成された凹部213は、回転ローラ20の外周に沿って略半円弧状に形成されて、回転ローラ20との間に形成される流路26が全長に亘って略同一の路幅L2を有するように形成されたものに限らず、流路26の幅が全長に亘って増減するように形成されたものであってもよい。この場合には、流路26の最小幅が上記路幅L2に相当する。
Further, the
1 処理槽(メッキ槽)
1b 端部側壁(対向側面)
2 シール機構
4 回転駆動手段
10 スリット(開口)
20 回転ローラ
1 treatment tank (plating tank)
1b End side wall (opposite side)
2 Seal mechanism 4 Rotation drive means 10 Slit (opening)
20 Rotating roller
Claims (2)
上記シール機構は、上記基材の両側方に軸線方向を上下方向に向けて回転自在に配設された一対の回転ローラと、これら回転ローラの回転駆動手段とを備えており、
上記回転ローラは、少なくとも上記開口の液面下から当該開口の下端部に至る長さ寸法を有し、かつその外周面が上記基材との間に0.1mm以上であって2.5mm以下の間隔を隔てた位置に配設されるとともに、
上記回転駆動手段は、上記外周面の周速が上記基材の搬送速度と同期して、上記外周面の上記基材側の対向部が上記基材と同方向に回転するように、上記回転ローラを駆動することを特徴とする基材処理装置。 An elongated opening is formed on the opposite side surface of the treatment tank, through which the belt-shaped base material that is transported in a state where the band width direction is directed in the vertical direction is passed through the treatment tank. And a substrate processing apparatus provided with a sealing mechanism for suppressing the outflow of the processing liquid around each of the openings,
The sealing mechanism includes a pair of rotating rollers disposed on both sides of the base material so as to be rotatable with the axial direction facing the up and down direction, and rotation driving means for the rotating rollers,
The rotating roller has at least a length from the bottom of the opening to the lower end of the opening, and the outer peripheral surface is 0.1 mm or more and 2.5 mm or less between the base material. Are arranged at positions spaced apart from each other,
The rotation driving means is configured to rotate the outer peripheral surface so that a peripheral portion of the outer peripheral surface is rotated in the same direction as the base material in synchronism with a conveyance speed of the base material. A substrate processing apparatus characterized by driving a roller.
上記回転ローラは、上記回収槽内に設けられるとともに、それぞれ当該回転ローラの上記基材に対して背面側の外方に設けられた流路形成部材によって回転自在に支持されており、
上記流路形成部材は、上記一側面と一体的に設けられるとともに、少なくとも上記回転ローラよりも上下方向に向けて大きく形成されて、上記回転ローラ側の対向面と上記基材との間には、上記開口に連通する上記処理液の狭小の流出路が形成され、かつ
上記対向面には、上記回転ローラに対向する位置に凹部が形成されて、この凹部と回転ローラとの間には、最小の路幅が0.05mm以上であって0.5mm以下の幅狭の流路が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の基材処理装置。 Outside the processing tank, a bottomed cylindrical recovery tank is provided that surrounds the opening with the opposite side surface as one side surface and recovers the processing liquid flowing out from the opening,
The rotating roller is provided in the recovery tank, and is rotatably supported by a flow path forming member provided on the outer side of the back side with respect to the base material of the rotating roller,
The flow path forming member is provided integrally with the one side surface, and is formed to be larger in the vertical direction than at least the rotating roller, and between the facing surface on the rotating roller side and the base material. In addition, a narrow outflow path of the processing liquid communicating with the opening is formed, and a concave portion is formed on the facing surface at a position facing the rotating roller. Between the concave portion and the rotating roller, The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein a narrow channel having a minimum channel width of 0.05 mm or more and 0.5 mm or less is formed.
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