JP2008135415A - Electronic device and manufacturing method thereof - Google Patents

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Norio Akamatsu
則男 赤松
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic device which is more miniaturized than a conventional device by realizing predetermined functions with the smaller number of elements as much as possible. <P>SOLUTION: The electronic device includes a first semiconductor device 10 comprising a nanotube 13 having the characteristics of a P-type semiconductor, and conductors 14, 16 and conductors 15, 17 opposing each other with the nanotube 13 sandwiched; and a second semiconductor device 20 comprising a nanotube 23 of a structure in which nanotubes 23a, 23c each having the characteristics of a P-type semiconductor are provided on both ends of a nanotube 23b having the characteristics of an N-type semiconductor, and conductors 24, 26 and conductors 25, 27 opposing each other with the nanotube 23 sandwiched. A voltage V1 is applied to a source electrode 11 of the first semiconductor device 10, and a voltage G1 is applied to a source electrode 21 of the second semiconductor device 20. When different voltages are applied to the conductors 14, 16 or to the conductors 15, 17, a voltage V1 is output from the first semiconductor device 10. When different voltages are applied to the conductors 24, 26 and to the conductors 25, 27, a voltage G1 is output from the second semiconductor device 20. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、電子装置及びその製造方法に関し、特に、カーボンナノチューブによる半導体装置を用いた電子装置及びその製造方法に関する。   The present invention relates to an electronic device and a manufacturing method thereof, and more particularly to an electronic device using a semiconductor device made of carbon nanotubes and a manufacturing method thereof.

相補型の論理回路を用いた電子装置が多くの分野において使用されている。相補型の論理回路は、P型半導体素子とN型半導体素子とを組み合わせて実現されている。より具体的には、相補型の論理回路は、P型半導体素子及びN型半導体素子の特性を利用して、相補接続されたP型半導体素子とN型半導体素子とに同じ入力信号を入力することで、一方の半導体素子をオン状態、他方の半導体素子をオフ状態にすることで所望の機能を実現するようになっている。相補型の論理回路では、必ず一方のトランジスタが非道通状態になるので、静的な消費電力が少なくなり、低消費電力の電子装置が実現される。   Electronic devices using complementary logic circuits are used in many fields. The complementary logic circuit is realized by combining a P-type semiconductor element and an N-type semiconductor element. More specifically, the complementary logic circuit inputs the same input signal to the complementary P-type semiconductor element and N-type semiconductor element using the characteristics of the P-type semiconductor element and the N-type semiconductor element. Thus, a desired function is realized by turning on one semiconductor element and turning off the other semiconductor element. In the complementary logic circuit, one of the transistors is always out of circuit, so that static power consumption is reduced and an electronic device with low power consumption is realized.

近年、カーボンナノチューブを用いた新たなトランジスタ(以下、「CNTトランジスタ」という)が研究、開発されている。
カーボンナノチューブの電気的特性は、直径や螺旋度(chirality:カイラリティ)によって変化する。つまり、直径や、グラファイトシートを巻く際に、円筒の軸に対してグラファイトシートをまっすぐ巻くか傾けて巻くかにより、カーボンナノチューブの導電性が大きく変化する。このような直径及びカイラリティの組み合わせにより、カーボンナノチューブは、金属、N型半導体、或いはP型半導体と同じ電気的特性を有することができる。また、カーボンナノチューブは、熱伝導性に優れている。そのために、電子デバイスにカーボンナノチューブに用いた場合、熱特性の優れた動作を示すことを期待されている。
In recent years, new transistors using carbon nanotubes (hereinafter referred to as “CNT transistors”) have been researched and developed.
The electrical properties of carbon nanotubes vary depending on the diameter and chirality. That is, when the graphite sheet is wound, the conductivity of the carbon nanotube varies greatly depending on whether the graphite sheet is wound straight or inclined with respect to the cylinder axis. Due to such a combination of diameter and chirality, the carbon nanotube can have the same electrical characteristics as a metal, an N-type semiconductor, or a P-type semiconductor. Carbon nanotubes are excellent in thermal conductivity. Therefore, when it is used for a carbon nanotube in an electronic device, it is expected to show an operation with excellent thermal characteristics.

これらのCNTトランジスタは、従来からあるシリコンのトランジスタと同様の構成である。
CNTトランジスタが従来のトランジスタと同様の構成を持つので、CNTトランジスタを用いた電子装置も従来の電子装置と基本的な構成に変わりがない。例えば、CNTトランジスタを用いてインバータ回路を構成する場合、P型トランジスタの特性を有するCNTトランジスタと、N型トランジスタの特性を有するCNTトランジスタとをそれぞれ1個ずつ用いて、従来と同様の相補型の回路として構成することで実現できる。
These CNT transistors have the same configuration as conventional silicon transistors.
Since the CNT transistor has the same configuration as that of the conventional transistor, the electronic device using the CNT transistor is not different from the basic configuration of the conventional electronic device. For example, when an inverter circuit is configured using CNT transistors, each of the CNT transistors having the characteristics of a P-type transistor and one CNT transistor having the characteristics of an N-type transistor are used, respectively. This can be realized by configuring as a circuit.

CNTトランジスタを用いた電子装置を従来の電子装置と同じ構成にすると、従来からの技術の蓄積を有効に利用できるという点では優れている。また、トランジスタのサイズがカーボンナノチューブを用いることにより小さくなるので、電子装置全体の小型化、動作速度の向上、省電力化が容易に実現される。しかし、所定の機能を実現するために必要な素子数は、従来のトランジスタを用いる場合とさほど変わらない。
集積回路等の電子装置では、それを構成する論理回路が、通常複数の素子により構成される。複数の素子の接続、印加する電圧により、所望の機能が実現できるようになっている。論理回路をできるだけ少ない素子で実現することができれば、回路全体の小型化を図ることができるようになる。
If an electronic device using a CNT transistor has the same configuration as a conventional electronic device, it is excellent in that the accumulated technology can be used effectively. In addition, since the size of the transistor is reduced by using the carbon nanotube, it is possible to easily reduce the size of the entire electronic device, improve the operation speed, and save power. However, the number of elements necessary for realizing a predetermined function is not so different from that in the case of using a conventional transistor.
In an electronic device such as an integrated circuit, a logic circuit constituting the electronic device is usually composed of a plurality of elements. A desired function can be realized by connecting a plurality of elements and applying a voltage. If the logic circuit can be realized with as few elements as possible, the entire circuit can be miniaturized.

本発明は、所定の機能をできるだけ少ない素子で実現することで、従来よりも小型化した電子装置及びその製造方法を提供することを課題とする。   An object of the present invention is to provide an electronic device and a method for manufacturing the same that are smaller than conventional devices by realizing a predetermined function with as few elements as possible.

上記の課題を解決する本発明の電子装置は、それぞれ、第1の半導体の特性を有する1以上の第1ナノチューブと第2の半導体の特性を有する2以上の第2ナノチューブとが1つずつ隣り合った構造を有して、両端に電極が設けられたナノチューブを含み、更にこのナノチューブには、これを挟んで対向する2種類の導体からなる導体対が複数組設けられている第1及び第2半導体装置と、前記第1半導体装置の前記電極の一方に第1電圧を印加するとともに、前記第2半導体装置の前記電極の一方に第2電圧を印加するための端子と、を備えて構成されている。この電子装置は、前記第1半導体装置及び前記第2半導体装置のいずれか一方の、少なくとも1組の導体対を構成する一方の導体と他方の導体とに異なる電圧を印加することで、前記第1半導体装置及び前記第2半導体装置の前記一方の前記電極間が導通して、前記第1電圧又は前記第2電圧のいずれかが出力されるように構成されている。   In the electronic device of the present invention that solves the above problems, one or more first nanotubes having the characteristics of the first semiconductor and two or more second nanotubes having the characteristics of the second semiconductor are adjacent to each other. The first and second elements include a nanotube having a combined structure and having electrodes provided at both ends, and the nanotube further includes a plurality of pairs of conductors composed of two kinds of conductors facing each other across the nanotube. And a terminal for applying a first voltage to one of the electrodes of the first semiconductor device and applying a second voltage to one of the electrodes of the second semiconductor device. Has been. The electronic device applies different voltages to one conductor and the other conductor constituting at least one pair of conductors of any one of the first semiconductor device and the second semiconductor device. The one semiconductor device and the one of the second semiconductor devices are electrically connected to each other, and either the first voltage or the second voltage is output.

第1及び第2半導体装置は、それぞれ、1個のナノチューブ及び複数の導体対により形成された半導体素子により構成されている。第1ナノチューブが有する第1の半導体の特性及び第2ナノチューブが有する第2の半導体の特性は、例えば、それぞれN型半導体の特性及びP型半導体の特性のいずれかである。第1の半導体の特性と第2の半導体の特性とは異なるものである。   Each of the first and second semiconductor devices includes a semiconductor element formed by one nanotube and a plurality of conductor pairs. The characteristic of the first semiconductor that the first nanotube has and the characteristic of the second semiconductor that the second nanotube has are, for example, one of the characteristic of the N-type semiconductor and the characteristic of the P-type semiconductor, respectively. The characteristics of the first semiconductor and the characteristics of the second semiconductor are different.

導体対には、一方の導体と他方の導体とに、異なる電圧或いは同じ電圧を印加することができる。これにより、第1ナノチューブにチャネルが形成されるか否かが決まり、この半導体装置は所定の機能を実現することができる。例えば、第1ナノチューブが複数ある場合には、チャネルが形成されるものとされないものとが出現し、この組み合わせにより、所定の機能を実現することができる。また、第1ナノチューブが1個の場合でも、例えば複数の導体対にどのような電圧を印加するかにより、所定の機能を実現することができる。   A different voltage or the same voltage can be applied to one conductor and the other conductor to the conductor pair. Thus, it is determined whether or not a channel is formed in the first nanotube, and this semiconductor device can realize a predetermined function. For example, when there are a plurality of first nanotubes, a channel is not formed and a channel is not formed, and a predetermined function can be realized by this combination. Further, even when there is one first nanotube, a predetermined function can be realized depending on, for example, what voltage is applied to a plurality of conductor pairs.

このように、第1及び第2半導体装置はそれぞれ所定の機能を実現できるようになっている。そのために、2個の半導体装置を用いた本発明の電子装置では、従来のCMOS回路のように2個の半導体装置を用いた電子装置よりも、多くの機能を実現することができるようになっている。   Thus, each of the first and second semiconductor devices can realize a predetermined function. Therefore, the electronic device of the present invention using two semiconductor devices can realize more functions than an electronic device using two semiconductor devices like a conventional CMOS circuit. ing.

このような電子装置は、例えば、前記第1半導体装置のすべての導体対の一方に第3電圧を印加するとともに、前記第2半導体装置のすべての導体対の一方に前記第3電圧とは異なる電圧値の第4電圧を印加するための端子と、前記第1半導体装置のいずれか1組の導体対の他方及び前記第2半導体装置のいずれか1組の導体対の他方に第5電圧を印加するための端子と、を更に備えて構成してもよい。
このような構成の電子装置では、例えば、前記第5電圧の電圧値が前記第3電圧の電圧値と等しい場合に、前記第2半導体装置の前記電極間が導通して前記第2電圧が出力され、前記第5電圧の電圧値が前記第4電圧の電圧値と等しい場合に、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して前記第1電圧が出力されるように構成される。
Such an electronic device, for example, applies a third voltage to one of all the conductor pairs of the first semiconductor device and is different from the third voltage to one of all the conductor pairs of the second semiconductor device. A fifth voltage is applied to a terminal for applying a fourth voltage of the voltage value, the other of any one conductor pair of the first semiconductor device, and the other one of the conductor pair of the second semiconductor device. And a terminal for applying the voltage.
In the electronic device having such a configuration, for example, when the voltage value of the fifth voltage is equal to the voltage value of the third voltage, the electrodes of the second semiconductor device are conducted and the second voltage is output. When the voltage value of the fifth voltage is equal to the voltage value of the fourth voltage, the electrodes of the first semiconductor device are electrically connected to output the first voltage.

また、この電子装置は、前記第1半導体装置の前記ナノチューブ及び前記第2半導体装置の前記ナノチューブの少なくとも一方は、前記電極が前記第2ナノチューブにより形成されて、当該電極と一体に構成されていてもよい。このような構成では、ナノチューブと電極とを一体に形成することができる。   Further, in this electronic device, at least one of the nanotube of the first semiconductor device and the nanotube of the second semiconductor device has the electrode formed by the second nanotube and is configured integrally with the electrode. Also good. In such a configuration, the nanotube and the electrode can be formed integrally.

本発明の他の電子装置は、第1の半導体の特性を有する第1ナノチューブの両端に第2の半導体の特性を有する電極が隣接する構造を有するナノチューブを含み、更にこのナノチューブを挟んで対向する2種類の導体からなる導体対が2組設けられている第1半導体装置と、第2の半導体の特性を有する第2ナノチューブの両端に第1の半導体の特性を有する第1ナノチューブが隣接し、両端に第2の半導体の特性を有する電極が隣接する構造を有するナノチューブを含み、更にこのナノチューブを挟んで対向する2種類の導体からなる導体対が2組設けられている第2半導体装置と、前記第1半導体装置の前記電極の一方に第1電圧を印加するとともに、前記第2半導体装置の前記電極の一方に第2電圧を印加するための端子と、を備えて構成されている。この電子装置は、前記第1半導体装置の少なくとも1組の導体対を構成する一方の導体と他方の導体とに異なる電圧を印加することで、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して、前記第1電圧が出力され、前記第2半導体装置のすべての導体対の各々で、導体対を構成する一方の導体と他方の導体とに異なる電圧を印加することで、前記第2半導体装置の前記電極間が導通して、前記第2電圧が出力されるように構成されている。   Another electronic device of the present invention includes a nanotube having a structure in which an electrode having a second semiconductor characteristic is adjacent to both ends of a first nanotube having a first semiconductor characteristic, and is further opposed across the nanotube. A first semiconductor device in which two pairs of conductors composed of two kinds of conductors are provided, and a first nanotube having the characteristics of the first semiconductor is adjacent to both ends of the second nanotube having the characteristics of the second semiconductor; A second semiconductor device including a nanotube having a structure in which electrodes having characteristics of a second semiconductor are adjacent to both ends, and two conductor pairs each including two kinds of conductors facing each other with the nanotube interposed therebetween; And a terminal for applying a first voltage to one of the electrodes of the first semiconductor device and applying a second voltage to one of the electrodes of the second semiconductor device. It has been made. In the electronic device, the electrodes of the first semiconductor device are electrically connected by applying different voltages to one conductor and the other conductor constituting at least one pair of conductors of the first semiconductor device. The first semiconductor device outputs the first voltage, and applies a different voltage to one conductor and the other conductor constituting each conductor pair in each of the conductor pairs of the second semiconductor device. The electrodes are electrically connected, and the second voltage is output.

この電子装置は、前記第1半導体装置のすべての導体対の一方に第3電圧を印加するとともに、前記第2半導体装置のすべての導体対の一方に前記第3電圧とは異なる電圧値の第4電圧を印加するための端子と、前記第1半導体装置の一方の組の導体対の他方及び前記第2半導体装置の一方の組の導体対の他方に第5電圧を印加するとともに、前記第1半導体装置の他方の組の導体対の他方及び前記第2半導体装置の他方の組の導体対の他方に第6電圧を印加するための端子と、を更に備えるようにしてもよい。
このような構成の電子装置は、前記第5電圧の電圧値及び前記第6電圧の電圧値が前記第3電圧の電圧値と等しい場合には、前記第2半導体装置の前記電極間が導通して前記第2電圧が出力され、前記第5電圧の電圧値が前記第3電圧の電圧値と等しく、前記第6電圧の電圧値が前記第4電圧の電圧値と等しい場合には、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して前記第1電圧が出力され、前記第5電圧の電圧値が前記第4電圧の電圧値と等しく、前記第6電圧の電圧値が前記第3電圧の電圧値と等しい場合には、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して前記第1電圧が出力され、前記第5電圧の電圧値及び前記第6電圧の電圧値が前記第4電圧の電圧値と等しい場合には、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して前記第1電圧が出力されるようになる。
The electronic device applies a third voltage to one of all the conductor pairs of the first semiconductor device, and applies a third voltage having a voltage value different from the third voltage to one of all the conductor pairs of the second semiconductor device. A fifth voltage is applied to a terminal for applying four voltages, the other of the pair of conductors of the first semiconductor device and the other of the pair of conductors of the second semiconductor device; And a terminal for applying a sixth voltage to the other of the other pair of conductor pairs of the first semiconductor device and the other of the second pair of conductor pairs of the second semiconductor device.
In the electronic device having such a configuration, when the voltage value of the fifth voltage and the voltage value of the sixth voltage are equal to the voltage value of the third voltage, the electrodes of the second semiconductor device are electrically connected. The second voltage is output, the voltage value of the fifth voltage is equal to the voltage value of the third voltage, and the voltage value of the sixth voltage is equal to the voltage value of the fourth voltage. The semiconductor device is electrically connected to output the first voltage, the voltage value of the fifth voltage is equal to the voltage value of the fourth voltage, and the voltage value of the sixth voltage is equal to the voltage of the third voltage. When the voltage value is equal, the electrodes of the first semiconductor device are electrically connected to output the first voltage, and the voltage value of the fifth voltage and the voltage value of the sixth voltage are the same as those of the fourth voltage. When the voltage value is equal, the electrodes of the first semiconductor device are conducted and the first voltage is It comes to be a force.

本発明の電子装置の製造方法は、それぞれ、第1の半導体の特性を有する1以上の第1ナノチューブと第2の半導体の特性を有する2以上の第2ナノチューブとが1つずつ隣り合った構造を有し、両端に電極が設けられたナノチューブを含み、更にこのナノチューブには、これを挟んで対向する2種類の導体からなる導体対が複数組設けられている第1及び第2半導体装置を形成する段階と、前記第1半導体装置の前記電極の一方に第1電圧を印加するための第1端子及び前記第2半導体装置の前記電極の一方に第2電圧を印加するための第2端子を形成する段階と、を含み、前記第1半導体装置及び前記第2半導体装置のいずれか一方の、少なくとも1組の導体対を構成する一方の導体と他方の導体とに異なる電圧を印加することで、前記第1半導体装置及び前記第2半導体装置の前記一方の前記電極間が導通して、前記第1電圧又は前記第2電圧のいずれかが出力されるように構成されている電子装置を製造する方法である。   The electronic device manufacturing method of the present invention has a structure in which one or more first nanotubes having the characteristics of the first semiconductor and two or more second nanotubes having the characteristics of the second semiconductor are adjacent to each other. A first and second semiconductor device including a plurality of pairs of conductors each including two types of conductors facing each other across the nanotube. Forming a first terminal for applying a first voltage to one of the electrodes of the first semiconductor device; and a second terminal for applying a second voltage to one of the electrodes of the second semiconductor device. And applying different voltages to one conductor and the other conductor constituting at least one pair of conductors in any one of the first semiconductor device and the second semiconductor device. And said A method of manufacturing an electronic device configured such that one of the electrodes of one semiconductor device and the second semiconductor device is electrically connected to output either the first voltage or the second voltage. is there.

以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

<動作原理>
図1〜図5は、本発明の、カーボンナノチューブを用いた半導体装置の動作原理を説明するための図である。このカーボンナノチューブ1は、P型半導体の特性を有するものである。
<Operating principle>
1 to 5 are diagrams for explaining the operation principle of a semiconductor device using carbon nanotubes according to the present invention. This carbon nanotube 1 has the characteristics of a P-type semiconductor.

図1では、カーボンナノチューブ1の軸に対して平行に、カーボンナノチューブ1を挟む位置に2つの電極が対向して配置される。本明細書では、一方の電極をバイアス電極2、他方の電極を制御電極3という。バイアス電極2及び制御電極3は、カーボンナノチューブ1の長さ以上の大きさで構成される。バイアス電極2には電源4から負電圧が印加されており、制御電極3には電源4から正電圧が印加されている。なお本明細書では、バイアス電極2に印加される電圧をバイアス電圧、制御電極3に印加される電圧を制御電圧という。   In FIG. 1, two electrodes are arranged opposite to each other so as to sandwich the carbon nanotube 1 in parallel with the axis of the carbon nanotube 1. In this specification, one electrode is referred to as a bias electrode 2 and the other electrode is referred to as a control electrode 3. The bias electrode 2 and the control electrode 3 are configured to be larger than the length of the carbon nanotube 1. A negative voltage is applied to the bias electrode 2 from the power source 4, and a positive voltage is applied to the control electrode 3 from the power source 4. In the present specification, the voltage applied to the bias electrode 2 is referred to as a bias voltage, and the voltage applied to the control electrode 3 is referred to as a control voltage.

図2では、バイアス電極2及び制御電極3が板状に形成されており、対向する面が、カーボンナノチューブ1を挟んで平行になっている。図3では、バイアス電極2及び制御電極3のカーボンナノチューブ1側の面が、カーボンナノチューブの側面に沿った形状に形成される。このように、バイアス電極2及び制御電極3は、カーボンナノチューブ1の側面を挟んで対向するように配置されていればよい。バイアス電極2及び制御電極3とカーボンナノチューブ1との間は絶縁されている。例えば、単にバイアス電極2及び制御電極3とカーボンナノチューブ1との間に間隙を設けて構成してもよく、またバイアス電極2及び制御電極3とカーボンナノチューブ1との間にSiO等の絶縁体を挟むように構成してもよい。 In FIG. 2, the bias electrode 2 and the control electrode 3 are formed in a plate shape, and the opposing surfaces are parallel with the carbon nanotube 1 in between. In FIG. 3, the carbon nanotube 1 side surfaces of the bias electrode 2 and the control electrode 3 are formed in a shape along the side surface of the carbon nanotube. As described above, the bias electrode 2 and the control electrode 3 may be disposed so as to face each other with the side surface of the carbon nanotube 1 interposed therebetween. The bias electrode 2 and the control electrode 3 are insulated from the carbon nanotube 1. For example, a gap may be simply provided between the bias electrode 2 and the control electrode 3 and the carbon nanotube 1, and an insulator such as SiO 2 may be provided between the bias electrode 2 and the control electrode 3 and the carbon nanotube 1. You may comprise so that may be pinched | interposed.

図4は、バイアス電極2及び制御電極3に電源4から電圧が印加された場合に発生する電界Eと、電界Eにより形成される反転層5とを表している。バイアス電極2に電源4から負電圧が印加され、制御電極3に電源4から正電圧が印加されると、制御電圧3からバイアス電極2に向かって電界Eが発生する。電界Eが発生すると、カーボンナノチューブ1内の電子がカーボンナノチューブ1の制御電極3側に移動する。これによりP型半導体の特性を有するカーボンナノチューブ1内に、N型半導体の特性を有する部分が形成される。カーボンナノチューブ1内で、電子が移動してN型半導体の特性を有することになった部分を反転層5という。バイアス電極2及び制御電極3は、カーボンナノチューブ1の長さと同じかそれ以上の長さで構成されるために、電界Eは、カーボンナノチューブ1の全体に対して平行に発生する。   FIG. 4 shows an electric field E generated when a voltage is applied from the power source 4 to the bias electrode 2 and the control electrode 3, and an inversion layer 5 formed by the electric field E. When a negative voltage is applied to the bias electrode 2 from the power supply 4 and a positive voltage is applied to the control electrode 3 from the power supply 4, an electric field E is generated from the control voltage 3 toward the bias electrode 2. When the electric field E is generated, electrons in the carbon nanotube 1 move to the control electrode 3 side of the carbon nanotube 1. As a result, a portion having the characteristics of an N-type semiconductor is formed in the carbon nanotube 1 having the characteristics of a P-type semiconductor. A portion in the carbon nanotube 1 where electrons move and have the characteristics of an N-type semiconductor is referred to as an inversion layer 5. Since the bias electrode 2 and the control electrode 3 have a length equal to or longer than the length of the carbon nanotube 1, the electric field E is generated in parallel to the entire carbon nanotube 1.

図5は、図4とは電源4の正負を逆に接続した場合の、電界Eと反転層5とを表している。電源4の正負を逆に接続した場合、つまりバイアス電極2に正電圧、制御電圧3に負電圧が印加されると、電界Eはバイアス電極2から制御電極3の向きに発生する。これにより反転層5がカーボンナノチューブ1のバイアス電極2側に形成される。
バイアス電極2及び制御電極3に同じ電圧を印加した場合、バイアス電極2と制御電極3との間に電界Eは発生しない。そのために、カーボンナノチューブ1内の電子が移動せず、反転層5が形成されることはない。
FIG. 5 shows the electric field E and the inversion layer 5 in the case where the positive and negative of the power source 4 are connected in reverse to FIG. When the positive and negative of the power supply 4 are connected in reverse, that is, when a positive voltage is applied to the bias electrode 2 and a negative voltage is applied to the control voltage 3, the electric field E is generated in the direction from the bias electrode 2 to the control electrode 3. As a result, the inversion layer 5 is formed on the bias electrode 2 side of the carbon nanotube 1.
When the same voltage is applied to the bias electrode 2 and the control electrode 3, no electric field E is generated between the bias electrode 2 and the control electrode 3. Therefore, the electrons in the carbon nanotube 1 do not move and the inversion layer 5 is not formed.

このように、バイアス電極2及び制御電極3に印加する電圧により、カーボンナノチューブ1に反転層5が形成されるか否か、また反転層5が形成される場合にそれがカーボンナノチューブ1のバイアス電極2側か或いは制御電極3側かが決まる。このようなカーボンナノチューブ1の性質を利用して本発明の半導体装置を実現することができる。   As described above, whether or not the inversion layer 5 is formed on the carbon nanotube 1 by the voltage applied to the bias electrode 2 and the control electrode 3, and when the inversion layer 5 is formed, this is the bias electrode of the carbon nanotube 1. 2 side or control electrode 3 side is determined. The semiconductor device of the present invention can be realized by utilizing such properties of the carbon nanotube 1.

以上の説明では、カーボンナノチューブ1がP型半導体の特性を持つものとして説明したが、N型半導体の特性を持つものであっても、同様に、バイアス電極2及び制御電極3に異なる電圧を印加することによって反転層5を形成することができる。この場合の反転層5は、正孔によって負電圧が印加される電極側に形成される。反転層5は、N型半導体の特性を持つカーボンナノチューブ1内のP型半導体の特性を有する部分になる。   In the above description, the carbon nanotube 1 has been described as having the characteristics of a P-type semiconductor, but different voltages are similarly applied to the bias electrode 2 and the control electrode 3 even if they have characteristics of an N-type semiconductor. By doing so, the inversion layer 5 can be formed. In this case, the inversion layer 5 is formed on the electrode side to which a negative voltage is applied by holes. The inversion layer 5 becomes a part having the characteristics of a P-type semiconductor in the carbon nanotube 1 having the characteristics of an N-type semiconductor.

<半導体装置の構成>
図6〜図8は、以上のようなカーボンナノチューブの特性を利用した半導体装置の構成を表す図である。図6は、OR論理動作を実現した半導体装置10の構造を表す図である。図7は、AND論理動作を実現した半導体装置20を表す図である。図8は、インバータ動作を実現した半導体装置30を表す図である。本実施形態に用いられるカーボンナノチューブは、長さが1μm〜1mm(10−6〜10−3m)であり、直径が0.5nm〜100nm(10−9〜10−7m)である。しかし、カーボンナノチューブの大きさはこれに限定されるものではなく、上記の動作原理で説明したような動作を行うもの出れば、本発明の半導体装置に用いることが可能である。また材質も必ずしもカーボンである必要はなく、カーボン以外の材質を用いたナノチューブであっても、本発明の半導体装置を構成することが可能である。
<Configuration of semiconductor device>
6 to 8 are diagrams showing the configuration of the semiconductor device using the characteristics of the carbon nanotube as described above. FIG. 6 is a diagram illustrating the structure of the semiconductor device 10 that realizes an OR logic operation. FIG. 7 is a diagram illustrating a semiconductor device 20 that implements an AND logic operation. FIG. 8 is a diagram illustrating a semiconductor device 30 that realizes an inverter operation. The carbon nanotube used in this embodiment has a length of 1 μm to 1 mm (10 −6 to 10 −3 m) and a diameter of 0.5 nm to 100 nm (10 −9 to 10 −7 m). However, the size of the carbon nanotube is not limited to this, and the carbon nanotube can be used in the semiconductor device of the present invention as long as it operates as described in the above operation principle. Further, the material is not necessarily carbon, and the semiconductor device of the present invention can be configured even with a nanotube using a material other than carbon.

図6の半導体装置10は、ソース電極11及びドレイン電極12が形成されたカーボンナノチューブ13と、第1、第2バイアス電極14、15と、第1、第2制御電極16、17とを備えている。カーボンナノチューブ13と、第1、第2バイアス電極14、15及び第1、第2制御電極16、17との間には、SiO等の絶縁体が設けられており、これらの間が絶縁されている。なお、カーボンナノチューブ13と、第1、第2バイアス電極14、15及び第1、第2制御電極16、17との間が狭い場合には、絶縁耐電圧の関係から、絶縁体に代えて、不活性ガスの充填、或いは真空にしてもよい。この実施形態では、カーボンナノチューブ13がP型半導体の特性を有するものである。 The semiconductor device 10 of FIG. 6 includes a carbon nanotube 13 on which a source electrode 11 and a drain electrode 12 are formed, first and second bias electrodes 14 and 15, and first and second control electrodes 16 and 17. Yes. An insulator such as SiO 2 is provided between the carbon nanotube 13 and the first and second bias electrodes 14 and 15 and the first and second control electrodes 16 and 17, and these are insulated. ing. In addition, when the space between the carbon nanotube 13 and the first and second bias electrodes 14 and 15 and the first and second control electrodes 16 and 17 is narrow, from the relationship of the insulation withstand voltage, instead of the insulator, An inert gas filling or a vacuum may be used. In this embodiment, the carbon nanotube 13 has the characteristics of a P-type semiconductor.

ソース電極11及びドレイン電極12は、N型半導体の特性を有しておりカーボンナノチューブ13の両端に形成される。ソース電極11及びドレイン電極12は、N型半導体の特性を有するカーボンナノチューブにより形成してもよく、またシリコンなどの他の素材を用いて形成してもよい。ソース電極11及びドレイン電極12をN型半導体の特性を有するカーボンナノチューブで形成する場合には、カーボンナノチューブ13と一体に形成できる。ソース電極11にはソース端子11aが設けられており、ドレイン電極12にはドレイン端子12aが設けられている。   The source electrode 11 and the drain electrode 12 have the characteristics of an N-type semiconductor and are formed at both ends of the carbon nanotube 13. The source electrode 11 and the drain electrode 12 may be formed of carbon nanotubes having the characteristics of an N-type semiconductor, or may be formed using other materials such as silicon. When the source electrode 11 and the drain electrode 12 are formed of carbon nanotubes having N-type semiconductor characteristics, they can be formed integrally with the carbon nanotubes 13. The source electrode 11 is provided with a source terminal 11a, and the drain electrode 12 is provided with a drain terminal 12a.

第1、第2バイアス電極14、15及び第1、第2制御電極16、17は、カーボンナノチューブ13の軸に平行に設けられている。第1バイアス電極14と第1制御電極16とは、カーボンナノチューブ13を挟んで対向するように設けられている。第2バイアス電極15と第2制御電極17とは、カーボンナノチューブ13を挟んで対向するように設けられている。第1バイアス電極14には第1バイアス端子14aが接続されており、第2バイアス電極15には第2バイアス端子15aが接続されている。第1制御電極16には第1制御端子16aが接続されており、第2制御電極17には第2制御端子17aが接続されている。第1、第2バイアス電極14、15及び第1、第2制御電極16、17は、カーボンナノチューブ13に反転層を形成するためのものであるので、カーボンナノチューブ13よりも大きく形成されていればよい。   The first and second bias electrodes 14 and 15 and the first and second control electrodes 16 and 17 are provided in parallel to the axis of the carbon nanotube 13. The first bias electrode 14 and the first control electrode 16 are provided so as to face each other with the carbon nanotube 13 interposed therebetween. The second bias electrode 15 and the second control electrode 17 are provided so as to face each other with the carbon nanotube 13 interposed therebetween. A first bias terminal 14 a is connected to the first bias electrode 14, and a second bias terminal 15 a is connected to the second bias electrode 15. A first control terminal 16 a is connected to the first control electrode 16, and a second control terminal 17 a is connected to the second control electrode 17. The first and second bias electrodes 14 and 15 and the first and second control electrodes 16 and 17 are for forming an inversion layer on the carbon nanotube 13, so that the first and second bias electrodes 14 and 15 are larger than the carbon nanotube 13. Good.

このような構成の半導体装置は、第1、第2バイアス端子14a、15aにロー論理を示す電圧を印加して、第1制御端子16a及び第2制御端子17aから、ロー論理又はハイ論理を示す電圧を印加することで、以下のような動作を行う。   The semiconductor device having such a configuration applies a voltage indicating low logic to the first and second bias terminals 14a and 15a, and indicates low logic or high logic from the first control terminal 16a and the second control terminal 17a. By applying a voltage, the following operation is performed.

第1制御端子16a及び第2制御端子17aからロー論理を示す電圧が印加される場合、第1、第2バイアス電極14、15にロー論理を示す電圧が印加されているので、カーボンナノチューブ1内に反転層5が形成されない。そのために、ソース電極11とドレイン電極12とが導通状態にならない。ソース電極11とドレイン電極12とが導通状態にならないために、この半導体装置はオフ状態になる。   When a voltage indicating a low logic is applied from the first control terminal 16a and the second control terminal 17a, a voltage indicating a low logic is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15; The inversion layer 5 is not formed. For this reason, the source electrode 11 and the drain electrode 12 do not become conductive. Since the source electrode 11 and the drain electrode 12 do not become conductive, the semiconductor device is turned off.

第1制御端子16aからロー論理を示す電圧が印加され、第2制御端子17aからハイ論理を示す電圧が印加される場合、第1、第2バイアス電極14、15にロー論理を示す電圧が印加されているので、第2制御電極17から第2バイアス電極15に向かって電界Eが発生する。電界Eの発生に伴い、カーボンナノチューブ1の第2制御電極17側に反転層5が形成される。反転層5がソース電極11とドレイン電極12との間のチャネルとなって、ソース電極11とドレイン電極12とが導通状態になる。ソース電極11とドレイン電極12とが導通状態になるために、この半導体装置はオン状態になる。   When a voltage indicating low logic is applied from the first control terminal 16a and a voltage indicating high logic is applied from the second control terminal 17a, a voltage indicating low logic is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15. Therefore, an electric field E is generated from the second control electrode 17 toward the second bias electrode 15. As the electric field E is generated, the inversion layer 5 is formed on the second control electrode 17 side of the carbon nanotube 1. The inversion layer 5 becomes a channel between the source electrode 11 and the drain electrode 12, and the source electrode 11 and the drain electrode 12 become conductive. Since the source electrode 11 and the drain electrode 12 are in a conductive state, the semiconductor device is turned on.

第1制御端子16aからハイ論理を示す電圧が印加され、第2制御端子17aからロー論理を示す電圧が印加される場合、第1、第2バイアス電極14、15にロー論理を示す電圧が印加されているので、第1制御電極16から第1バイアス電極14に向かって電界Eが発生する。電界Eの発生に伴い、カーボンナノチューブ1の第1制御電極16側に反転層5が形成される。反転層5がソース電極11とドレイン電極12との間のチャネルとなって、ソース電極11とドレイン電極12とが導通状態になる。ソース電極11とドレイン電極12とが導通状態になるために、この半導体装置はオン状態になる。   When a voltage indicating high logic is applied from the first control terminal 16a and a voltage indicating low logic is applied from the second control terminal 17a, a voltage indicating low logic is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15. Therefore, an electric field E is generated from the first control electrode 16 toward the first bias electrode 14. With the generation of the electric field E, the inversion layer 5 is formed on the first control electrode 16 side of the carbon nanotube 1. The inversion layer 5 becomes a channel between the source electrode 11 and the drain electrode 12, and the source electrode 11 and the drain electrode 12 become conductive. Since the source electrode 11 and the drain electrode 12 are in a conductive state, the semiconductor device is turned on.

第1制御端子16a及び第2制御端子17aからハイ論理を示す電圧が印加される場合、第1、第2バイアス電極14、15にロー論理を示す電圧が印加されているので、第1制御電極16から第1バイアス電極14に向かって電界Eが発生するとともに、第2制御電極17から第2バイアス電極15に向かって電界Eが発生する。電界Eの発生に伴い、カーボンナノチューブ1の第1制御電極16側及び第2制御電極17側に反転層5が形成される。反転層5がソース電極11とドレイン電極12との間のチャネルとなって、ソース電極11とドレイン電極12とが導通状態になる。ソース電極11とドレイン電極12とが導通状態になるために、この半導体装置はオン状態になる。   When a voltage indicating a high logic is applied from the first control terminal 16a and the second control terminal 17a, a voltage indicating a low logic is applied to the first and second bias electrodes 14, 15, so that the first control electrode An electric field E is generated from 16 toward the first bias electrode 14, and an electric field E is generated from the second control electrode 17 toward the second bias electrode 15. As the electric field E is generated, the inversion layer 5 is formed on the first control electrode 16 side and the second control electrode 17 side of the carbon nanotube 1. The inversion layer 5 becomes a channel between the source electrode 11 and the drain electrode 12, and the source electrode 11 and the drain electrode 12 become conductive. Since the source electrode 11 and the drain electrode 12 are in a conductive state, the semiconductor device is turned on.

このように、第1制御端子16a及び第2制御端子17aからともにロー論理を示す電圧が印加される場合を除いて、半導体装置はオン状態になる。つまり、この半導体装置はOR論理動作を行っている。   As described above, the semiconductor device is turned on except when a voltage indicating low logic is applied from both the first control terminal 16a and the second control terminal 17a. That is, this semiconductor device performs an OR logic operation.

図7の半導体装置20は、ソース電極21及びドレイン電極22が形成されたカーボンナノチューブ23と、第1、第2バイアス電極24、25と、第1、第2制御電極26、27とを備えている。カーボンナノチューブ23と、第1、第2バイアス電極24、25及び第1、第2制御電極26、27との間は、SiO等の絶縁体が設けられており、これらの間が絶縁されている。なお、カーボンナノチューブ23と、第1、第2バイアス電極24、25及び第1、第2制御電極26、27との間が狭い場合には、絶縁耐電圧の関係から、絶縁体に代えて、不活性ガスの充填、或いは真空にしてもよい。 The semiconductor device 20 of FIG. 7 includes a carbon nanotube 23 in which a source electrode 21 and a drain electrode 22 are formed, first and second bias electrodes 24 and 25, and first and second control electrodes 26 and 27. Yes. An insulator such as SiO 2 is provided between the carbon nanotube 23 and the first and second bias electrodes 24 and 25 and the first and second control electrodes 26 and 27, and these are insulated. Yes. In addition, when the space between the carbon nanotube 23 and the first and second bias electrodes 24 and 25 and the first and second control electrodes 26 and 27 is narrow, due to the dielectric withstand voltage, instead of the insulator, An inert gas filling or a vacuum may be used.

ソース電極21及びドレイン電極22は、図6の半導体装置10と同様にN型半導体の特性を有しており、カーボンナノチューブ23の両端に形成される。ソース電極21及びドレイン電極22は、N型半導体の特性を有するカーボンナノチューブにより形成してもよく、またシリコンなどの他の素材を用いて形成してもよい。ソース電極21及びドレイン電極22をN型半導体の特性を有するカーボンナノチューブで形成する場合には、カーボンナノチューブ23と一体に形成できる。ソース電極21にはソース端子21aが接続されており、ドレイン電極22にはドレイン端子22aが接続されている。   The source electrode 21 and the drain electrode 22 have the characteristics of an N-type semiconductor like the semiconductor device 10 of FIG. 6 and are formed at both ends of the carbon nanotube 23. The source electrode 21 and the drain electrode 22 may be formed of carbon nanotubes having N-type semiconductor characteristics, or may be formed using other materials such as silicon. When the source electrode 21 and the drain electrode 22 are formed of carbon nanotubes having N-type semiconductor characteristics, they can be formed integrally with the carbon nanotubes 23. A source terminal 21 a is connected to the source electrode 21, and a drain terminal 22 a is connected to the drain electrode 22.

カーボンナノチューブ23は、ソース電極21側から順に、P型半導体の特性を有するナノチューブ(以下、「第1P型ナノチューブ23a」という)、N型半導体の特性を有するナノチューブ(以下、「N型ナノチューブ23b」という)、P型半導体の特性を有するナノチューブ(以下、「第2P型ナノチューブ23c」という)が形成されている。   The carbon nanotubes 23 are, in order from the source electrode 21 side, nanotubes having P-type semiconductor characteristics (hereinafter referred to as “first P-type nanotubes 23a”) and nanotubes having N-type semiconductor characteristics (hereinafter referred to as “N-type nanotubes 23b”). Nanotubes having the characteristics of P-type semiconductors (hereinafter referred to as “second P-type nanotubes 23c”) are formed.

第1、第2バイアス電極24、25及び第1、第2制御電極26、27は、カーボンナノチューブ23の軸に平行に設けられている。第1バイアス電極24と第1制御電極26とは、カーボンナノチューブ23を挟んで対向するように設けられている。第1制御電極26は、ソース電極21からN型ナノチューブ23bまでの大きさを有している。第2バイアス電極25と第2制御電極27とは、カーボンナノチューブ23を挟んで対向するように設けられている。第2制御電極27は、ドレイン電極22からN型ナノチューブ23bまでの大きさを有している。第1制御電極26には第1制御端子26aが接続されており、第2制御電極27には第2制御端子27aが接続されている。第1バイアス電極24及び第1制御電極26は、第1P型ナノチューブ23aに反転層を形成でき、第2P型ナノチューブ23cに反転層によるチャネルが形成されないような大きさであればよい。第2バイアス電極25及び第2制御電極27は、第2P型ナノチューブ23cに反転層を形成でき、第1P型ナノチューブ23aに反転層によるチャネルが形成されないような大きさであればよい。   The first and second bias electrodes 24 and 25 and the first and second control electrodes 26 and 27 are provided in parallel to the axis of the carbon nanotube 23. The first bias electrode 24 and the first control electrode 26 are provided to face each other with the carbon nanotube 23 interposed therebetween. The first control electrode 26 has a size from the source electrode 21 to the N-type nanotube 23b. The second bias electrode 25 and the second control electrode 27 are provided so as to face each other with the carbon nanotube 23 interposed therebetween. The second control electrode 27 has a size from the drain electrode 22 to the N-type nanotube 23b. A first control terminal 26 a is connected to the first control electrode 26, and a second control terminal 27 a is connected to the second control electrode 27. The first bias electrode 24 and the first control electrode 26 may have such a size that an inversion layer can be formed on the first P-type nanotube 23a and a channel due to the inversion layer is not formed on the second P-type nanotube 23c. The second bias electrode 25 and the second control electrode 27 may have such a size that an inversion layer can be formed on the second P-type nanotube 23c and a channel due to the inversion layer is not formed on the first P-type nanotube 23a.

このような構成の半導体装置は、第1、第2バイアス電極24、25にロー論理を示す電圧を印加して、第1制御端子26a及び第2制御端子27aから、ロー論理又はハイ論理を示す電圧を印加することで、以下のような動作を行う。   The semiconductor device having such a configuration applies a voltage indicating low logic to the first and second bias electrodes 24 and 25 to indicate low logic or high logic from the first control terminal 26a and the second control terminal 27a. By applying a voltage, the following operation is performed.

第1制御端子26a及び第2制御端子27aからロー論理を示す電圧が印加される場合、第1、第2バイアス電極24、25にロー論理を示す電圧が印加されているので、カーボンナノチューブ23内に反転層5が形成されない。そのために、ソース電極21とドレイン電極22とが導通状態にならない。ソース電極21とドレイン電極22とが導通状態にならないために、この半導体装置20はオフ状態になる。   When a voltage indicating a low logic is applied from the first control terminal 26a and the second control terminal 27a, a voltage indicating a low logic is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25. The inversion layer 5 is not formed. For this reason, the source electrode 21 and the drain electrode 22 do not become conductive. Since the source electrode 21 and the drain electrode 22 do not become conductive, the semiconductor device 20 is turned off.

第1制御端子26aからロー論理を示す電圧が印加され、第2制御端子27aからハイ論理を示す電圧が印加される場合、第1、第2バイアス電極24、25にロー論理を示す電圧が印加されているので、第2制御電極27から第2バイアス電極25に向かって電界Eが発生する。電界Eの発生に伴い、カーボンナノチューブ23の第2P型ナノチューブ23cの第2制御電極27側に反転層5が形成される。反転層5がN型ナノチューブ23bとドレイン電極22との間のチャネルとなって、N型ナノチューブ23bとドレイン電極22とが導通状態になる。しかし反転層5が第2P型ナノチューブ23cのみに形成され、第1P型ナノチューブ23aに形成されないので、ソース電極21とドレイン電極22とは導通状態にならない。ソース電極21とドレイン電極22とが導通状態にならないために、この半導体装置20はオフ状態になる。   When a voltage indicating low logic is applied from the first control terminal 26a and a voltage indicating high logic is applied from the second control terminal 27a, a voltage indicating low logic is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25. Therefore, an electric field E is generated from the second control electrode 27 toward the second bias electrode 25. As the electric field E is generated, the inversion layer 5 is formed on the second control electrode 27 side of the second P-type nanotube 23 c of the carbon nanotube 23. The inversion layer 5 becomes a channel between the N-type nanotube 23 b and the drain electrode 22, and the N-type nanotube 23 b and the drain electrode 22 become conductive. However, since the inversion layer 5 is formed only on the second P-type nanotube 23c and not on the first P-type nanotube 23a, the source electrode 21 and the drain electrode 22 are not brought into conduction. Since the source electrode 21 and the drain electrode 22 do not become conductive, the semiconductor device 20 is turned off.

第1制御端子26aからハイ論理を示す電圧が印加され、第2制御端子27aからロー論理を示す電圧が印加される場合、第1、第2バイアス電極24、25にロー論理を示す電圧が印加されているので、第1制御電極26から第1バイアス電極24に向かって電界Eが発生する。電界Eの発生に伴い、カーボンナノチューブ23の第1P型ナノチューブ23aの第1制御電極26側に反転層5が形成される。反転層5がソース電極21とN型ナノチューブ23bとの間のチャネルとなって、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。しかし反転層5が第1P型ナノチューブ23aのみに形成され、第2P型ナノチューブ23cに形成されないので、ソース電極21とドレイン電極22とは導通状態にならない。ソース電極21とドレイン電極22とが導通状態にならないために、この半導体装置20はオフ状態になる。   When a voltage indicating high logic is applied from the first control terminal 26a and a voltage indicating low logic is applied from the second control terminal 27a, a voltage indicating low logic is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25. Therefore, an electric field E is generated from the first control electrode 26 toward the first bias electrode 24. As the electric field E is generated, the inversion layer 5 is formed on the first control electrode 26 side of the first P-type nanotube 23 a of the carbon nanotube 23. The inversion layer 5 becomes a channel between the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b, and the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b become conductive. However, since the inversion layer 5 is formed only on the first P-type nanotube 23a and not on the second P-type nanotube 23c, the source electrode 21 and the drain electrode 22 are not brought into conduction. Since the source electrode 21 and the drain electrode 22 do not become conductive, the semiconductor device 20 is turned off.

第1制御端子26a及び第2制御端子27aからハイ論理を示す電圧が印加される場合、第1、第2バイアス電極24、25にロー論理を示す電圧が印加されているので、第1制御電極26から第1バイアス電極24に向かって電界Eが発生するとともに、第2制御電極27から第2バイアス電極25に向かって電界Eが発生する。電界Eの発生に伴い、カーボンナノチューブ23の第1P型ナノチューブ23aの第1制御電極26側及び第2P型ナノチューブ23cの第2制御電極27側に反転層5が形成される。第1P型ナノチューブ23aに形成される反転層5がソース電極21とN型ナノチューブ23bとの間のチャネルとなって、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。第2P型ナノチューブ23cに形成される反転層5がN型ナノチューブ23bとドレイン電極22との間のチャネルとなって、N型ナノチューブ23bとドレイン電極22とが導通状態になる。そのために、ソース電極21とドレイン電極22とが導通状態になる。ソース電極21とドレイン電極22とが導通状態になるために、この半導体装置20はオン状態になる。   When a voltage indicating a high logic is applied from the first control terminal 26a and the second control terminal 27a, a voltage indicating a low logic is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25. Therefore, the first control electrode An electric field E is generated from 26 toward the first bias electrode 24, and an electric field E is generated from the second control electrode 27 toward the second bias electrode 25. With the generation of the electric field E, the inversion layer 5 is formed on the first control electrode 26 side of the first P-type nanotube 23a of the carbon nanotube 23 and the second control electrode 27 side of the second P-type nanotube 23c. The inversion layer 5 formed on the first P-type nanotube 23a becomes a channel between the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b, and the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b are in a conductive state. The inversion layer 5 formed on the second P-type nanotube 23 c becomes a channel between the N-type nanotube 23 b and the drain electrode 22, and the N-type nanotube 23 b and the drain electrode 22 become conductive. For this reason, the source electrode 21 and the drain electrode 22 are brought into conduction. Since the source electrode 21 and the drain electrode 22 are in a conductive state, the semiconductor device 20 is turned on.

このように、第1制御端子26a及び第2制御端子27aからハイ論理を示す電圧が印加される場合のみ、半導体装置20はオン状態になる。つまり、この半導体装置20はAND論理動作を行っている。この半導体装置20は、カーボンナノチューブ23のN型ナノチューブ23bが、金属の特性を有するものであっても同様の動作を行う。   In this way, the semiconductor device 20 is turned on only when a voltage indicating high logic is applied from the first control terminal 26a and the second control terminal 27a. That is, the semiconductor device 20 performs an AND logic operation. The semiconductor device 20 performs the same operation even if the N-type nanotubes 23b of the carbon nanotubes 23 have metal characteristics.

図8の半導体装置30は、ソース電極31及びドレイン電極32が形成されたカーボンナノチューブ33と、第1、第2バイアス電極34、35と、制御電極36とを備えている。カーボンナノチューブ33と、第1、第2バイアス電極14、15及び制御電極36との間は、SiO等の絶縁体が設けられており、これらの間が絶縁されている。なお、カーボンナノチューブ33と、第1、第2バイアス電極34、35及び制御電極36との間が狭い場合には、絶縁耐電圧の関係から、絶縁体に代えて、不活性ガスの充填、或いは真空にしてもよい。 The semiconductor device 30 in FIG. 8 includes a carbon nanotube 33 in which a source electrode 31 and a drain electrode 32 are formed, first and second bias electrodes 34 and 35, and a control electrode 36. An insulator such as SiO 2 is provided between the carbon nanotube 33 and the first and second bias electrodes 14 and 15 and the control electrode 36, and these are insulated. In addition, when the space between the carbon nanotube 33 and the first and second bias electrodes 34 and 35 and the control electrode 36 is narrow, due to the insulation withstand voltage, instead of the insulator, filling with an inert gas, or A vacuum may be applied.

ソース電極31及びドレイン電極32は、図6の半導体装置10と同様にN型半導体の特性を有しており、カーボンナノチューブ33の両端に形成される。ソース電極31及びドレイン電極32は、N型半導体の特性を有するカーボンナノチューブにより形成してもよく、またシリコンなどの他の素材を用いて形成してもよい。ソース電極31及びドレイン電極32をN型半導体の特性を有するカーボンナノチューブで形成する場合には、カーボンナノチューブ33と一体に形成できる。ソース電極31にはソース端子31aが接続されており、ドレイン電極32にはドレイン端子32aが接続されている。   The source electrode 31 and the drain electrode 32 have the characteristics of an N-type semiconductor like the semiconductor device 10 of FIG. 6 and are formed at both ends of the carbon nanotube 33. The source electrode 31 and the drain electrode 32 may be formed of carbon nanotubes having the characteristics of an N-type semiconductor, or may be formed using other materials such as silicon. When the source electrode 31 and the drain electrode 32 are formed of carbon nanotubes having N-type semiconductor characteristics, they can be formed integrally with the carbon nanotubes 33. A source terminal 31 a is connected to the source electrode 31, and a drain terminal 32 a is connected to the drain electrode 32.

カーボンナノチューブ33は、ソース電極31側から順に、P型半導体の特性を有するナノチューブ(以下、「第1P型ナノチューブ33a」という)、N型半導体の特性を有するナノチューブ(以下、「N型ナノチューブ33b」という)、P型半導体の特性を有するナノチューブ(以下、「第2P型ナノチューブ33c」という)が形成されている。   The carbon nanotubes 33 are, in order from the source electrode 31 side, nanotubes having P-type semiconductor characteristics (hereinafter referred to as “first P-type nanotubes 33a”) and nanotubes having N-type semiconductor characteristics (hereinafter referred to as “N-type nanotubes 33b”). Nanotubes having the characteristics of P-type semiconductors (hereinafter referred to as “second P-type nanotubes 33c”) are formed.

第1、第2バイアス電極34、35及び制御電極36は、カーボンナノチューブ33の軸に平行に設けられている。第1バイアス電極34と第2バイアス電極35とは、カーボンナノチューブ33から見て同じ側に直線上に並んで設けられている。第1、第2バイアス電極34、35と制御電極36とは、カーボンナノチューブ33を挟んで対向するように設けられている。第1バイアス電極34は、ソース電極31からN型ナノチューブ33bまでの長さを有している。第2バイアス電極35は、ドレイン電極32からN型ナノチューブ33bまでの大きさを有している。制御端子36には制御端子36aが接続されており、N型ナノチューブ33bには出力端子38が接続されている。第1バイアス電極34は、第1P型ナノチューブ33aに反転層を形成でき、第2P型ナノチューブ33cに反転層によるチャネルが形成されないような大きさであればよい。第2バイアス電極35は、第2P型ナノチューブ33cに反転層を形成でき、第1P型ナノチューブ33aに反転層によるチャネルが形成されないような大きさであればよい。   The first and second bias electrodes 34 and 35 and the control electrode 36 are provided in parallel to the axis of the carbon nanotube 33. The first bias electrode 34 and the second bias electrode 35 are arranged in a straight line on the same side when viewed from the carbon nanotube 33. The first and second bias electrodes 34 and 35 and the control electrode 36 are provided so as to face each other with the carbon nanotube 33 interposed therebetween. The first bias electrode 34 has a length from the source electrode 31 to the N-type nanotube 33b. The second bias electrode 35 has a size from the drain electrode 32 to the N-type nanotube 33b. A control terminal 36a is connected to the control terminal 36, and an output terminal 38 is connected to the N-type nanotube 33b. The first bias electrode 34 may have a size such that an inversion layer can be formed on the first P-type nanotube 33a and a channel due to the inversion layer is not formed on the second P-type nanotube 33c. The second bias electrode 35 may be of such a size that an inversion layer can be formed on the second P-type nanotube 33c and a channel due to the inversion layer is not formed on the first P-type nanotube 33a.

このような構成の半導体装置30は、第1バイアス電極34にハイ論理を示す電圧を印加して、第2バイアス電極35にロー論理を示す電圧を印加して、ソース電極31にハイ論理を示す電圧を印加して、ドレイン電極32にロー論理を示す電圧を印加して、制御端子36aからロー論理又はハイ論理を示す電圧を印加することで、以下のような動作を行う。   The semiconductor device 30 having such a configuration applies a voltage indicating high logic to the first bias electrode 34, applies a voltage indicating low logic to the second bias electrode 35, and indicates high logic to the source electrode 31. By applying a voltage, applying a voltage indicating low logic to the drain electrode 32, and applying a voltage indicating low logic or high logic from the control terminal 36a, the following operation is performed.

制御端子36aからロー論理を示す電圧が印加される場合、第1バイアス電極34にハイ論理を示す電圧が印加されて、第2バイアス電極35にロー論理を示す電圧が印加されているので、第1バイアス電極34から制御電極36に向かって電界Eが発生する。電界Eにより、第1P型半導体部33aの第1バイアス電極34側に反転層5が形成される。反転層5がソース電極31とN型ナノチューブ33bとの間のチャネルとなって、ソース電極31とN型ナノチューブ33bとが導通状態になる。ソース電極31にはハイ論理を示す電圧が印加されているので、出力端子38からは、ハイ論理を示す電圧が出力される。   When a voltage indicating low logic is applied from the control terminal 36a, a voltage indicating high logic is applied to the first bias electrode 34, and a voltage indicating low logic is applied to the second bias electrode 35. An electric field E is generated from the one bias electrode 34 toward the control electrode 36. The inversion layer 5 is formed on the first bias electrode 34 side of the first P-type semiconductor portion 33a by the electric field E. The inversion layer 5 becomes a channel between the source electrode 31 and the N-type nanotube 33b, and the source electrode 31 and the N-type nanotube 33b become conductive. Since a voltage indicating high logic is applied to the source electrode 31, a voltage indicating high logic is output from the output terminal 38.

制御端子36aからハイ論理を示す電圧が印加される場合、第1バイアス電極34にハイ論理を示す電圧が印加されて、第2バイアス電極35にロー論理を示す電圧が印加されているので、制御電極36から第2バイアス電極35に向かって電界Eが発生する。電界Eにより、第2P型半導体部33cの制御電極36側に反転層5が形成される。反転層5がN型ナノチューブ33bとドレイン電極32との間のチャネルとなって、N型ナノチューブ33bとドレイン電極32とが導通状態になる。ドレイン電極32にはロー論理を示す電圧が印加されているので、出力端子38からは、ロー論理を示す電圧が出力される。   When a voltage indicating high logic is applied from the control terminal 36a, a voltage indicating high logic is applied to the first bias electrode 34, and a voltage indicating low logic is applied to the second bias electrode 35. An electric field E is generated from the electrode 36 toward the second bias electrode 35. Due to the electric field E, the inversion layer 5 is formed on the control electrode 36 side of the second P-type semiconductor portion 33c. The inversion layer 5 becomes a channel between the N-type nanotube 33b and the drain electrode 32, and the N-type nanotube 33b and the drain electrode 32 are in a conductive state. Since a voltage indicating low logic is applied to the drain electrode 32, a voltage indicating low logic is output from the output terminal 38.

このように、制御端子36aからロー論理を示す電圧が印加される場合に出力端子38からハイ論理を示す電圧が出力され、制御端子36aからハイ論理を示す電圧が印加される場合に出力端子38からロー論理を示す電圧が出力される。つまり、この半導体装置30はインバータ動作を行っている。この半導体装置30は、カーボンナノチューブ30のN型ナノチューブ33bが、金属の特性を有するものであっても同様の動作を行う。   Thus, when a voltage indicating low logic is applied from the control terminal 36a, a voltage indicating high logic is output from the output terminal 38, and when a voltage indicating high logic is applied from the control terminal 36a, the output terminal 38 is output. Outputs a voltage indicating low logic. That is, the semiconductor device 30 performs an inverter operation. The semiconductor device 30 performs the same operation even if the N-type nanotube 33b of the carbon nanotube 30 has a metal characteristic.

以上のように、制御電極、バイアス電極の数、配置、長さ、印加される電圧、カーボンナノチューブの電気的な特性を様々に組み合わせることで、1個の素子により様々な機能を実現することが可能である。バイアス電極と制御電極とは対(導体対)になっている。導体対の数、チャネルが形成されるナノチューブ(上記の実施形態では、P型ナノチューブ)の数により入力数が決まる。上記の例では、2入力のOR論理、AND論理を行う半導体装置を示したが、導体対の数、P型ナノチューブの数が、3個、4個と増えると、3入力、4入力の半導体装置を実現することができる。またカーボンナノチューブ13、23、33のもつP型半導体の特性、N型半導体の特性は、逆に構成されていてもよい。反転層の形成される部分が逆になるだけで、機能としては同じものが実現可能である。   As described above, various functions can be realized by one element by variously combining the number, arrangement, length, applied voltage, and carbon nanotube electrical characteristics of the control electrode and bias electrode. Is possible. The bias electrode and the control electrode form a pair (conductor pair). The number of inputs is determined by the number of conductor pairs and the number of nanotubes in the channel (in the above embodiment, P-type nanotubes). In the above example, a semiconductor device that performs 2-input OR logic and AND logic is shown. However, if the number of conductor pairs and the number of P-type nanotubes increase to 3, 4, 3-input, 4-input semiconductor. An apparatus can be realized. In addition, the characteristics of the P-type semiconductor and the N-type semiconductor of the carbon nanotubes 13, 23, and 33 may be reversed. The same function can be realized only by reversing the portion where the inversion layer is formed.

<半導体装置の製造方法>
図9〜図15は、本発明の半導体装置を製造するための方法を説明する図である。ここでは、図6の半導体装置10を製造する手順について説明する。ここでは、ソース電極11及びドレイン電極12をN型半導体の特性を有するカーボンナノチューブにより形成する手順を説明する。
<Method for Manufacturing Semiconductor Device>
9 to 15 are views for explaining a method for manufacturing the semiconductor device of the present invention. Here, a procedure for manufacturing the semiconductor device 10 of FIG. 6 will be described. Here, a procedure for forming the source electrode 11 and the drain electrode 12 with carbon nanotubes having the characteristics of an N-type semiconductor will be described.

まず、アーク放電、レーザ蒸発、化学的気相成長(CVD:Chemical Vapor Deposition)等の既知の方法で、単層のカーボンナノチューブを形成する。図9では、基板41上に鉄の微粒子などによる金属触媒(本実施形態では鉄(Fe)触媒42)の薄膜を配置しておき、CVDによりカーボンナノチューブを形成する。基板41は、例えば従来の半導体製造に用いられるシリコンを材料とした半導体基板である。   First, single-walled carbon nanotubes are formed by a known method such as arc discharge, laser evaporation, or chemical vapor deposition (CVD). In FIG. 9, a thin film of a metal catalyst (iron (Fe) catalyst 42 in the present embodiment) made of iron fine particles or the like is placed on a substrate 41, and carbon nanotubes are formed by CVD. The substrate 41 is a semiconductor substrate made of, for example, silicon used for conventional semiconductor manufacturing.

ナノチューブは、4価の元素雰囲気で所定の温度、例えば600〜700℃に加熱することで形成することができる。本実施形態ではカーボンナノチューブを形成するので、炭素雰囲気で600〜700℃に加熱することで形成する。
カーボンナノチューブを5価の元素(例えばリン)雰囲気で600〜700℃に加熱することで、N型半導体の特性を有するものに変化させることができる。また、カーボンナノチューブを3価の元素(例えばガリウム)雰囲気で600〜700℃に加熱することで、P型半導体の特性を有するものに変化させることができる。
Nanotubes can be formed by heating to a predetermined temperature, for example, 600 to 700 ° C. in a tetravalent element atmosphere. In the present embodiment, since carbon nanotubes are formed, they are formed by heating to 600 to 700 ° C. in a carbon atmosphere.
By heating the carbon nanotube to 600 to 700 ° C. in a pentavalent element (for example, phosphorus) atmosphere, the carbon nanotube can be changed to one having the characteristics of an N-type semiconductor. Further, by heating the carbon nanotube to 600 to 700 ° C. in a trivalent element (eg, gallium) atmosphere, the carbon nanotube can be changed to one having the characteristics of a P-type semiconductor.

図9では、炭素雰囲気で600〜700℃に加熱してカーボンナノチューブを形成した後に、このカーボンナノチューブを5価の元素雰囲気で600〜700℃に加熱することで、N型半導体の特性を有するカーボンナノチューブ43に変化させる。カーボンナノチューブ43は、軸が基板41に対して垂直になるように形成される。   In FIG. 9, after carbon nanotubes are formed by heating to 600 to 700 ° C. in a carbon atmosphere, the carbon nanotubes are heated to 600 to 700 ° C. in a pentavalent element atmosphere, so that carbon having characteristics of an N-type semiconductor is obtained. Change to nanotube 43. The carbon nanotubes 43 are formed so that the axis is perpendicular to the substrate 41.

引き続きP型半導体の特性を有するカーボンナノチューブ44を形成する(図10)。炭素雰囲気で600〜700℃に加熱して、既に形成されているカーボンナノチューブ43に連続してカーボンナノチューブを形成した後に、このカーボンナノチューブを3価の元素雰囲気で600〜700℃に加熱することで、P型半導体の特性を有するカーボンナノチューブ44に変化させる。カーボンナノチューブ44を形成する際には、既に形成されたカーボンナノチューブ43をマスクしておく必要がある。マスクしなければ、電気的特性が変化するためである。また、カーボンナノチューブ44を形成する前に、既に形成されたカーボンナノチューブ43を適当な長さに成形するようにしてもよい。   Subsequently, carbon nanotubes 44 having the characteristics of a P-type semiconductor are formed (FIG. 10). By heating to 600 to 700 ° C. in a carbon atmosphere to form carbon nanotubes continuously with the already formed carbon nanotubes 43, the carbon nanotubes are heated to 600 to 700 ° C. in a trivalent element atmosphere. The carbon nanotube 44 having the characteristics of a P-type semiconductor is changed. When the carbon nanotubes 44 are formed, it is necessary to mask the already formed carbon nanotubes 43. This is because the electrical characteristics change if the mask is not used. In addition, before the carbon nanotubes 44 are formed, the already formed carbon nanotubes 43 may be formed to an appropriate length.

カーボンナノチューブ44の形成が終了すると、引き続きN型半導体の特性を有するカーボンナノチューブ45を形成する(図11)。炭素雰囲気で600〜700℃に加熱して、既に形成されているカーボンナノチューブ44の下に連続してカーボンナノチューブを形成した後に、このカーボンナノチューブを5価の元素雰囲気で600〜700℃に加熱することで、N型半導体の特性を有するカーボンナノチューブ45に変化させる。カーボンナノチューブ45を形成する際には、既に形成されたカーボンナノチューブ43、44をマスクしておく必要がある。マスクしなければ、電気的特性が変化するためである。また、カーボンナノチューブ45を形成する前に、既に形成されたカーボンナノチューブ44を適当な長さに成形するようにしてもよい。   When the formation of the carbon nanotube 44 is completed, the carbon nanotube 45 having the characteristics of an N-type semiconductor is subsequently formed (FIG. 11). After heating to 600-700 degreeC in a carbon atmosphere and forming a carbon nanotube continuously under the already formed carbon nanotube 44, this carbon nanotube is heated to 600-700 degreeC in a pentavalent element atmosphere. Thus, the carbon nanotube 45 having the characteristics of an N-type semiconductor is changed. When the carbon nanotube 45 is formed, the already formed carbon nanotubes 43 and 44 need to be masked. This is because the electrical characteristics change if the mask is not used. Further, before the carbon nanotube 45 is formed, the already formed carbon nanotube 44 may be formed into an appropriate length.

以上は、カーボンナノチューブを形成する手順の一例であり、これ以外の手順でN型半導体の特性を有するカーボンナノチューブの間にP型半導体の特性を有するカーボンナノチューブを形成するようにしてもよい。例えば、N型半導体の特性を有するカーボンナノチューブを形成しておき、その中程をP型半導体の特性を有するように変化させてもよい。これは、例えば以下のような手順で可能である。まず炭素雰囲気で600〜700℃に加熱することでカーボンナノチューブを形成しておき、次いで、このカーボンナノチューブを5価の元素雰囲気で600〜700℃に加熱することでN型半導体の特性を有するカーボンナノチューブを形成する。その後、カーボンナノチューブの両端をマスクして3価の元素雰囲気で600〜700℃に加熱することで、中程をP型半導体の特性を有するように変化させることができる。また逆に、P型半導体の特性を有するカーボンナノチューブを生成しておき、その両端をN型半導体の特性を有するように変化させてもよい。   The above is an example of a procedure for forming carbon nanotubes, and carbon nanotubes having P-type semiconductor properties may be formed between carbon nanotubes having N-type semiconductor properties by other procedures. For example, carbon nanotubes having the characteristics of an N-type semiconductor may be formed, and the middle thereof may be changed to have the characteristics of a P-type semiconductor. This is possible by the following procedure, for example. First, carbon nanotubes are formed by heating to 600 to 700 ° C. in a carbon atmosphere, and then carbon having characteristics of an N-type semiconductor by heating the carbon nanotubes to 600 to 700 ° C. in a pentavalent element atmosphere. Nanotubes are formed. After that, by masking both ends of the carbon nanotube and heating to 600 to 700 ° C. in a trivalent element atmosphere, the middle can be changed to have the characteristics of a P-type semiconductor. Conversely, carbon nanotubes having the characteristics of a P-type semiconductor may be generated, and both ends thereof may be changed to have the characteristics of an N-type semiconductor.

なお、図7、図8の半導体装置20、30のように、N型半導体の特性を有するカーボンナノチューブとP型半導体の特性を有するカーボンナノチューブが更に多層に重ねられた構成では、図11の手順の後に、図10、図11の手順を繰り返し行えばよい。   In the configuration in which the carbon nanotubes having the characteristics of the N-type semiconductor and the carbon nanotubes having the characteristics of the P-type semiconductor are further stacked in multiple layers like the semiconductor devices 20 and 30 in FIGS. After that, the procedures of FIGS. 10 and 11 may be repeated.

カーボンナノチューブの形成が終了すると、基板41上で、カーボンナノチューブを被覆するように、SiO等の絶縁体46を形成する(図12)。絶縁体46の形成は、従来の半導体製造工程でも行われており、同様の工程により形成可能である。
絶縁体46を形成した後に、カーボンナノチューブ43〜45の周囲に、導体47a〜47dを形成する(図13)。導体47a、47cは、カーボンナノチューブ43〜45の軸から見て、カーボンナノチューブ43〜45を挟んで対向するように形成され、導体47b、47dは、カーボンナノチューブ43〜45の軸から見て、カーボンナノチューブ43〜45を挟んで対向するように形成される。導体47a〜47dの形成は、従来の半導体製造工程でも行われるように、絶縁体46の導体形成部分に空隙を形成して、当該空隙に銅、金などの導体を蒸着することにより可能である。
When the formation of the carbon nanotubes is completed, an insulator 46 such as SiO 2 is formed on the substrate 41 so as to cover the carbon nanotubes (FIG. 12). The insulator 46 is formed in a conventional semiconductor manufacturing process, and can be formed by a similar process.
After forming the insulator 46, conductors 47a to 47d are formed around the carbon nanotubes 43 to 45 (FIG. 13). The conductors 47a and 47c are formed so as to face each other with the carbon nanotubes 43 to 45 sandwiched between them when viewed from the axis of the carbon nanotubes 43 to 45, and the conductors 47b and 47d are carbon atoms viewed from the axis of the carbon nanotubes 43 to 45. The nanotubes 43 to 45 are formed so as to face each other. The conductors 47a to 47d can be formed by forming a gap in the conductor forming portion of the insulator 46 and depositing a conductor such as copper or gold in the gap, as is also done in the conventional semiconductor manufacturing process. .

図7の半導体装置20の第1制御電極26、第2制御電極27のように、導体がカーボンナノチューブ43〜45の長さよりも短く形成される場合には、導体を所望の大きさに形成した後に、当該導体をマスクして、それ以上の成長を防止すればよい。   When the conductor is formed shorter than the length of the carbon nanotubes 43 to 45 as in the first control electrode 26 and the second control electrode 27 of the semiconductor device 20 in FIG. 7, the conductor is formed in a desired size. Later, the conductor may be masked to prevent further growth.

図8の半導体装置30の第1バイアス電極34、第2バイアス電極35のように、導体が途中で一端切れた構成になっている場合には、導体を所望の大きさまで形成した後に、一端絶縁体を形成し、その後再び導体を形成すればよい。   In the case where the conductor has a structure in which one end is cut halfway like the first bias electrode 34 and the second bias electrode 35 of the semiconductor device 30 in FIG. 8, after the conductor is formed to a desired size, one end insulation is performed. The body may be formed and then the conductor formed again.

導体47a〜47dの形成が終了すると、次いで、基板41及び鉄触媒42の除去、絶縁体46の一部除去を行う(図14)。基板41及び鉄触媒42の除去は、例えば研磨することで行うことができる。絶縁体46の除去は、従来の半導体製造工程でも行われており、同様の工程により可能である。この工程により、カーボンナノチューブ43、45、及び導体47a〜47dの端部が、絶縁体46から露出することになる。   When the formation of the conductors 47a to 47d is completed, the substrate 41 and the iron catalyst 42 are removed, and the insulator 46 is partially removed (FIG. 14). The removal of the substrate 41 and the iron catalyst 42 can be performed by polishing, for example. The removal of the insulator 46 is also performed in a conventional semiconductor manufacturing process, and can be performed by a similar process. By this step, the carbon nanotubes 43 and 45 and the ends of the conductors 47 a to 47 d are exposed from the insulator 46.

次いで、絶縁体46を、カーボンナノチューブ43〜45と導体47a〜47dの間に形成されているものを除いてすべて除去する(図15)。この場合も工程も、従来の半導体製造工程で可能である。この工程により、導体47a〜47dが露出され、図6の半導体装置10ような端子を設けることができるようになる。なお、単に端子を設けるだけなら、図14の工程後でも可能である。また、絶縁体46をカーボンナノチューブ43〜45の周囲を覆うように残すと、カーボンナノチューブ43〜45を周囲の環境から保護する構造となる。   Next, all of the insulator 46 is removed except for the one formed between the carbon nanotubes 43 to 45 and the conductors 47a to 47d (FIG. 15). In this case as well, the process can be performed by a conventional semiconductor manufacturing process. By this step, the conductors 47a to 47d are exposed, and a terminal like the semiconductor device 10 of FIG. 6 can be provided. Note that if a terminal is simply provided, it is possible even after the step of FIG. Further, if the insulator 46 is left so as to cover the periphery of the carbon nanotubes 43 to 45, a structure is obtained in which the carbon nanotubes 43 to 45 are protected from the surrounding environment.

カーボンナノチューブ43、45にソース端子、ドレイン端子を設けるにはカーボンナノチューブ43、45の開口部分を閉じる必要がある。例えば、カーボンナノチューブ43、45の該当箇所に導体を形成して開口部分を閉じたり、フラーレンキャップを用いることで開口部分を閉じることができる。   In order to provide the carbon nanotubes 43 and 45 with the source terminal and the drain terminal, it is necessary to close the opening portions of the carbon nanotubes 43 and 45. For example, it is possible to close the opening by forming a conductor at a corresponding portion of the carbon nanotubes 43 and 45, or to close the opening by using a fullerene cap.

ソース電極11及びドレイン電極12は、カーボンナノチューブにかえてシリコンのような従来から使用されている材質によるN型半導体で形成してもよい。例えば、図14の状態でカーボンナノチューブ43、45の開口部分に従来の材質によるN型半導体を形成する。このような構成では、ソース端子及びドレイン端子をソース電極11及びドレイン電極12に直接設けることができる。   The source electrode 11 and the drain electrode 12 may be formed of an N-type semiconductor made of a conventionally used material such as silicon instead of the carbon nanotube. For example, an N-type semiconductor made of a conventional material is formed in the opening portions of the carbon nanotubes 43 and 45 in the state shown in FIG. In such a configuration, the source terminal and the drain terminal can be provided directly on the source electrode 11 and the drain electrode 12.

また、導体47a〜47dをカーボンナノチューブにより形成してもよい。例えば、図9〜図11において、カーボンナノチューブを軸から見て十字に並ぶように形成する。その後、絶縁体46で被覆する前に、真ん中のカーボンナノチューブを除く他のカーボンナノチューブを金属の特性を有するものに変化させる。これは、真ん中のカーボンナノチューブをマスクしておき、他のカーボンナノチューブを所定の元素雰囲気で所定の温度に加熱することで可能である。   Moreover, you may form the conductors 47a-47d with a carbon nanotube. For example, in FIGS. 9 to 11, the carbon nanotubes are formed so as to be arranged in a cross as viewed from the axis. After that, before coating with the insulator 46, the other carbon nanotubes except for the middle carbon nanotube are changed to those having metallic characteristics. This is possible by masking the middle carbon nanotube and heating the other carbon nanotubes to a predetermined temperature in a predetermined element atmosphere.

<半導体装置を用いた電子装置>
以上のような半導体装置を用いて構成した電子装置の例を以下に示す。ここで挙げる電子装置は、2電源の相補論理回路等であるが、本発明はこれに限られるものでなく、使用する半導体装置の種類、接続形態、電源の接続形態等により種々多様な電子装置を実現できるものである。
<Electronic device using semiconductor device>
An example of an electronic device configured using the semiconductor device as described above is shown below. The electronic device mentioned here is a complementary logic circuit with two power supplies, but the present invention is not limited to this, and various electronic devices can be used depending on the type of semiconductor device to be used, connection form, power supply connection form, and the like. Can be realized.

[NAND論理装置]
図16は、NAND論理動作を行う電子装置の構成を表す図である。この電子装置は、図6に示すOR論理動作を行う第1半導体装置10と、図7に示すAND論理動作を行う第2半導体装置20と、第1、第2電源VDD1、VDD2とにより構成されている。この電子装置は、第1入力端子Vin1及び第2入力端子Vin2からの入力をNAND論理演算して、その結果を出力端子Voutから出力するものである。
[NAND logic device]
FIG. 16 is a diagram illustrating a configuration of an electronic device that performs a NAND logic operation. This electronic device includes a first semiconductor device 10 that performs an OR logic operation shown in FIG. 6, a second semiconductor device 20 that performs an AND logic operation shown in FIG. 7, and first and second power supplies VDD1 and VDD2. ing. This electronic device performs NAND logic operation on the inputs from the first input terminal Vin1 and the second input terminal Vin2, and outputs the result from the output terminal Vout.

第1半導体装置10は、ソース端子11aが第1電源VDD1の陽極に接続されており、第1、第2バイアス端子14a、15aが第2電源VDD2の陽極に接続されており、第1制御端子16aが第1入力端子Vin1に接続されており、第2制御端子17aが第2入力端子Vin2に接続されている。   In the first semiconductor device 10, the source terminal 11a is connected to the anode of the first power supply VDD1, the first and second bias terminals 14a and 15a are connected to the anode of the second power supply VDD2, and the first control terminal. 16a is connected to the first input terminal Vin1, and the second control terminal 17a is connected to the second input terminal Vin2.

第2半導体装置20は、ソース端子21aが第1電源VDD1の陰極に接続されており、第1、第2バイアス端子24a、25aが第2電源VDD2の陰極に接続されており、第1制御端子26aが第1入力端子Vin1に接続されており、第2制御端子27aが第2入力端子Vin2に接続されている。   In the second semiconductor device 20, the source terminal 21a is connected to the cathode of the first power supply VDD1, the first and second bias terminals 24a and 25a are connected to the cathode of the second power supply VDD2, and the first control terminal. 26a is connected to the first input terminal Vin1, and the second control terminal 27a is connected to the second input terminal Vin2.

第1半導体装置20のドレイン端子12aと第2半導体装置20のドレイン端子22aとは、出力端子Voutに接続されている。   The drain terminal 12a of the first semiconductor device 20 and the drain terminal 22a of the second semiconductor device 20 are connected to the output terminal Vout.

このような構成により、第1電源VDD1の正電圧である電圧V1が、第1半導体装置10のソース電極11に印加される。第1電源VDD1の負電圧である電圧G1が、第2半導体装置20のソース電極21に印加される。第2電源VDD2の正電圧である電圧V2が、第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15に印加される。第2電源VDD2の負電圧である電圧G2が、第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25に印加される。   With such a configuration, the voltage V <b> 1 that is the positive voltage of the first power supply VDD <b> 1 is applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10. A voltage G1 that is a negative voltage of the first power supply VDD1 is applied to the source electrode 21 of the second semiconductor device 20. A voltage V2 that is a positive voltage of the second power supply VDD2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10. A voltage G2 that is a negative voltage of the second power supply VDD2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20.

第1入力端子Vin1にロー論理(電圧G2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にロー論理(電圧G2に等しい)が入力されると、以下のような動作になる。   When low logic (equal to voltage G2) is input to the first input terminal Vin1, and low logic (equal to voltage G2) is input to the second input terminal Vin2, the following operation is performed.

第1半導体装置10は、第1入力端子Vin1から第1制御端子16aにロー論理が入力されるために、第1制御電極16に電圧G2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子17aにロー論理が入力されるために、第2制御電極17に電圧G2が印加される。第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15には、第2電源VDD2から電圧V2が印加されている。第1、第2バイアス電極14、15に印加される電圧が第1、第2制御電極16、17に印加される電圧よりも大きい。そのために、第1バイアス電極14から第1制御電極16に向かって電界Eが発生するとともに、第2バイアス電極15から第2制御電極17に向かって電界Eが発生する。これによりカーボンナノチューブ13は第1、第2バイアス電極14、15側の導通の状態になり、第1半導体装置10がオン状態になる。   In the first semiconductor device 10, since the low logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 16a, the voltage G2 is applied to the first control electrode 16. Further, since the low logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 17a, the voltage G2 is applied to the second control electrode 17. A voltage V2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 is larger than the voltage applied to the first and second control electrodes 16 and 17. Therefore, an electric field E is generated from the first bias electrode 14 toward the first control electrode 16, and an electric field E is generated from the second bias electrode 15 toward the second control electrode 17. As a result, the carbon nanotube 13 becomes conductive on the first and second bias electrodes 14 and 15 side, and the first semiconductor device 10 is turned on.

第2半導体装置20は、第1入力端子Vin1から第1制御端子26aにロー論理が入力されるために、第1制御電極26に電圧G2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子27aにロー論理が入力されるために、第2制御電極27に電圧G2が印加される。第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25には、第2電源VDD2から電圧G2が印加されている。第1、第2バイアス電極24、25に印加される電圧と第1、第2制御電極26、27に印加される電圧とが等しいために、カーボンナノチューブ23に電界Eは発生しない。これによりソース電極21とドレイン電極22との間が導通せず、第2半導体装置20がオフ状態になる。   In the second semiconductor device 20, since the low logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 26a, the voltage G2 is applied to the first control electrode 26. In addition, since the low logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 27a, the voltage G2 is applied to the second control electrode 27. A voltage G2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20 from the second power supply VDD2. Since the voltage applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 is equal to the voltage applied to the first and second control electrodes 26 and 27, the electric field E is not generated in the carbon nanotube 23. Thereby, the source electrode 21 and the drain electrode 22 do not conduct, and the second semiconductor device 20 is turned off.

第1半導体装置10がオン状態、第2半導体装置20がオフ状態になるために、出力端子Voutからは、第1半導体装置10のソース電極11に印加される電圧が出力される。ここではソース電極11に第1電源VDD1から電圧V1が印加されているので、出力端子Voutからは電圧V1がハイ論理として出力されることになる。   Since the first semiconductor device 10 is turned on and the second semiconductor device 20 is turned off, a voltage applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 is output from the output terminal Vout. Here, since the voltage V1 is applied to the source electrode 11 from the first power supply VDD1, the voltage V1 is output as high logic from the output terminal Vout.

第1入力端子Vin1にロー論理(電圧G2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力されると、以下のような動作になる。   When low logic (equal to voltage G2) is input to the first input terminal Vin1, and high logic (equal to voltage V2) is input to the second input terminal Vin2, the following operation is performed.

第1半導体装置10は、第1入力端子Vin1から第1制御端子16aにロー論理が入力されるために、第1制御電極16に電圧G2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子17aにハイ論理が入力されるために、第2制御電極17に電圧V2が印加される。第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15には、第2電源VDD2から電圧V2が印加されている。第1バイアス電極14に印加される電圧が第1制御電極16に印加される電圧よりも大きい。そのために、第1バイアス電極14から第1制御電極16に向かって電界Eが発生する。これによりカーボンナノチューブ13は第1バイアス電極14側の導通の状態になり、第1半導体装置10がオン状態になる。   In the first semiconductor device 10, since the low logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 16a, the voltage G2 is applied to the first control electrode 16. Further, since a high logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 17a, the voltage V2 is applied to the second control electrode 17. A voltage V2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the first bias electrode 14 is greater than the voltage applied to the first control electrode 16. Therefore, an electric field E is generated from the first bias electrode 14 toward the first control electrode 16. As a result, the carbon nanotube 13 becomes conductive on the first bias electrode 14 side, and the first semiconductor device 10 is turned on.

第2半導体装置20は、第1入力端子Vin1から第1制御端子26aにロー論理が入力されるために、第1制御電極26に電圧G2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子27aにハイ論理が入力されるために、第2制御電極27に電圧V2が印加される。第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25には、第2電源VDD2から電圧G2が印加されている。第1バイアス電極24に印加される電圧と第1制御電極26に印加される電圧とが等しいために、カーボンナノチューブ23の第1P型ナノチューブ23aに電界Eは発生しない。そのために、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態にならない。第2バイアス電極25に印加される電圧は第2制御電極27に印加される電圧よりも大きい。そのために、カーボンナノチューブ23の第2P型ナノチューブ23cに第2バイアス電極25から第2制御電極27に向かって電界Eが発生する。これにより第2P型ナノチューブ23cの第2バイアス電極25側に反転層5が形成される。反転層5がチャネルとなって、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態になるが、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態にないために、ソース電極21とドレイン電極22との間が導通せず、第2半導体装置20がオフ状態になる。   In the second semiconductor device 20, since the low logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 26a, the voltage G2 is applied to the first control electrode 26. Further, since a high logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 27a, the voltage V2 is applied to the second control electrode 27. A voltage G2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20 from the second power supply VDD2. Since the voltage applied to the first bias electrode 24 is equal to the voltage applied to the first control electrode 26, the electric field E is not generated in the first P-type nanotube 23 a of the carbon nanotube 23. For this reason, the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b do not become conductive. The voltage applied to the second bias electrode 25 is larger than the voltage applied to the second control electrode 27. Therefore, an electric field E is generated from the second bias electrode 25 toward the second control electrode 27 in the second P-type nanotube 23 c of the carbon nanotube 23. Thereby, the inversion layer 5 is formed on the second bias electrode 25 side of the second P-type nanotube 23c. The inversion layer 5 becomes a channel, and the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b become conductive. Although the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b are in a conductive state, the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b are not in a conductive state. The semiconductor device 20 is turned off.

第1半導体装置10がオン状態、第2半導体装置20がオフ状態になるために、出力端子Voutからは、第1半導体装置10のソース電極11に印加される電圧が出力される。ここではソース電極11に第1電源VDD1から電圧V1が印加されているので、出力端子Voutからは電圧V1がハイ論理として出力されることになる。   Since the first semiconductor device 10 is turned on and the second semiconductor device 20 is turned off, a voltage applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 is output from the output terminal Vout. Here, since the voltage V1 is applied to the source electrode 11 from the first power supply VDD1, the voltage V1 is output as high logic from the output terminal Vout.

第1入力端子Vin1にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にロー論理(電圧G2に等しい)が入力されると、以下のような動作になる。   When high logic (equal to the voltage V2) is input to the first input terminal Vin1, and low logic (equal to the voltage G2) is input to the second input terminal Vin2, the following operation is performed.

第1半導体装置10は、第1入力端子Vin1から第1制御端子16aにハイ論理が入力されるために、第1制御電極16に電圧V2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子17aにロー論理が入力されるために、第2制御電極17に電圧G2が印加される。第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15には、第2電源VDD2から電圧V2が印加されている。第2バイアス電極15に印加される電圧が第2制御電極17に印加される電圧よりも大きい。そのために、第2バイアス電極15から第2制御電極17に向かって電界Eが発生する。これによりカーボンナノチューブ13は第2バイアス電極15側の導通の状態になり、第1半導体装置10がオン状態になる。   In the first semiconductor device 10, since a high logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 16a, the voltage V2 is applied to the first control electrode 16. Further, since the low logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 17a, the voltage G2 is applied to the second control electrode 17. A voltage V2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the second bias electrode 15 is greater than the voltage applied to the second control electrode 17. Therefore, an electric field E is generated from the second bias electrode 15 toward the second control electrode 17. As a result, the carbon nanotube 13 becomes conductive on the second bias electrode 15 side, and the first semiconductor device 10 is turned on.

第2半導体装置20は、第1入力端子Vin1から第1制御端子26aにハイ論理が入力されるために、第1制御電極26に電圧V2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子27aにロー論理が入力されるために、第2制御電極27に電圧G2が印加される。第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25には、第2電源VDD2から電圧G2が印加されている。第1バイアス電極24に印加される電圧は第1制御電極26に印加される電圧よりも大きい。そのために、カーボンナノチューブ23の第1P型ナノチューブ23aに第1バイアス電極24から第1制御電極26に向かって電界Eが発生する。これにより第1P型ナノチューブ23aの第1バイアス電極24側に反転層5が形成される。反転層5がチャネルとなって、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。第2バイアス電極25に印加される電圧と第2制御電極27に印加される電圧とが等しいために、カーボンナノチューブ23の第2P型ナノチューブ23cに電界Eは発生しない。そのために、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態にならない。ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になるが、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態にないために、ソース電極21とドレイン電極22との間が導通せず、第2半導体装置20がオフ状態になる。   In the second semiconductor device 20, since a high logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 26a, the voltage V2 is applied to the first control electrode 26. In addition, since the low logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 27a, the voltage G2 is applied to the second control electrode 27. A voltage G2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the first bias electrode 24 is greater than the voltage applied to the first control electrode 26. Therefore, an electric field E is generated in the first P-type nanotube 23 a of the carbon nanotube 23 from the first bias electrode 24 toward the first control electrode 26. Thereby, the inversion layer 5 is formed on the first bias electrode 24 side of the first P-type nanotube 23a. The inversion layer 5 becomes a channel, and the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b become conductive. Since the voltage applied to the second bias electrode 25 and the voltage applied to the second control electrode 27 are equal, the electric field E is not generated in the second P-type nanotube 23 c of the carbon nanotube 23. For this reason, the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b do not become conductive. The source electrode 21 and the N-type nanotube 23b are in a conductive state, but the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b are not in a conductive state, so that the source electrode 21 and the drain electrode 22 are not conductive, and the second The semiconductor device 20 is turned off.

第1半導体装置10がオン状態、第2半導体装置20がオフ状態になるために、出力端子Voutからは、第1半導体装置10のソース電極11に印加される電圧が出力される。ここではソース電極11に第1電源VDD1から電圧V1が印加されているので、出力端子Voutからは電圧V1がハイ論理として出力されることになる。   Since the first semiconductor device 10 is turned on and the second semiconductor device 20 is turned off, a voltage applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 is output from the output terminal Vout. Here, since the voltage V1 is applied to the source electrode 11 from the first power supply VDD1, the voltage V1 is output as high logic from the output terminal Vout.

第1入力端子Vin1にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力されると、以下のような動作になる。   When high logic (equal to voltage V2) is input to the first input terminal Vin1, and high logic (equal to voltage V2) is input to the second input terminal Vin2, the following operation is performed.

第1半導体装置10は、第1入力端子Vin1から第1制御端子16aにハイ論理が入力されるために、第1制御電極16に電圧V2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子17aにハイ論理が入力されるために、第2制御電極17に電圧V2が印加される。第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15には、第2電源VDD2から電圧V2が印加されている。第1、第2制御電極16、17と第1、第2バイアス電極14、15とに印加される電圧が等しいために、電界Eが発生しない。これによりカーボンナノチューブ13は導通せず、第1半導体装置10がオフ状態になる。   In the first semiconductor device 10, since a high logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 16a, the voltage V2 is applied to the first control electrode 16. Further, since a high logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 17a, the voltage V2 is applied to the second control electrode 17. A voltage V2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10 from the second power supply VDD2. Since the voltages applied to the first and second control electrodes 16 and 17 and the first and second bias electrodes 14 and 15 are equal, the electric field E is not generated. As a result, the carbon nanotubes 13 are not conducted, and the first semiconductor device 10 is turned off.

第2半導体装置20は、第1入力端子Vin1から第1制御端子26aにハイ論理が入力されるために、第1制御電極26に電圧V2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子27aにハイ論理が入力されるために、第2制御電極27に電圧V2が印加される。第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25には、第2電源VDD2から電圧G2が印加されている。第1制御電極26に印加される電圧は第1バイアス電極24に印加される電圧よりも大きい。そのために、カーボンナノチューブ23の第1P型ナノチューブ23aに第1制御電極26から第1バイアス電極24に向かって電界Eが発生する。これにより第1P型ナノチューブ23aの第1制御電極24側に反転層5が形成される。反転層5がチャネルとなって、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。第2制御電極27に印加される電圧は第2バイアス電極25に印加される電圧よりも大きい。そのために、カーボンナノチューブ23の第2P型ナノチューブ23cに第2制御電極27から第2バイアス電極25に向かって電界Eが発生する。これにより第2P型ナノチューブ23cの第2バイアス電極25側に反転層5が形成される。反転層5がチャネルとなって、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になり、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態になるために、ソース電極21とドレイン電極22との間が導通状態になる。そのために、第2半導体装置20がオン状態になる。   In the second semiconductor device 20, since a high logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 26a, the voltage V2 is applied to the first control electrode 26. Further, since a high logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 27a, the voltage V2 is applied to the second control electrode 27. A voltage G2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the first control electrode 26 is greater than the voltage applied to the first bias electrode 24. Therefore, an electric field E is generated in the first P-type nanotube 23 a of the carbon nanotube 23 from the first control electrode 26 toward the first bias electrode 24. Thereby, the inversion layer 5 is formed on the first control electrode 24 side of the first P-type nanotube 23a. The inversion layer 5 becomes a channel, and the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b become conductive. The voltage applied to the second control electrode 27 is larger than the voltage applied to the second bias electrode 25. Therefore, an electric field E is generated from the second control electrode 27 toward the second bias electrode 25 in the second P-type nanotube 23 c of the carbon nanotube 23. Thereby, the inversion layer 5 is formed on the second bias electrode 25 side of the second P-type nanotube 23c. The inversion layer 5 becomes a channel, and the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b become conductive. Since the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b become conductive and the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b become conductive, the source electrode 21 and the drain electrode 22 become conductive. Therefore, the second semiconductor device 20 is turned on.

第2半導体装置20がオン状態、第1半導体装置10がオフ状態になるために、出力端子Voutからは、第2半導体装置20のソース電極21に印加される電圧が出力される。ここではソース電極21に第1電源VDD1から電圧G1が印加されているので、出力端子Voutからは電圧G1がロー論理として出力されることになる。   Since the second semiconductor device 20 is turned on and the first semiconductor device 10 is turned off, a voltage applied to the source electrode 21 of the second semiconductor device 20 is output from the output terminal Vout. Here, since the voltage G1 is applied to the source electrode 21 from the first power supply VDD1, the voltage G1 is output as low logic from the output terminal Vout.

以上のように、この電子装置はNAND論理の動作を行うことになる。   As described above, this electronic device performs NAND logic operation.

[AND論理装置]
図17は、AND論理動作を行う電子装置の構成を表す図である。この電子装置は、図16に示すNAND論理動作を行う電子装置と比較して、第1電源VDD1の極性が逆になることが異なるのみで、他の接続形態に違いがない。つまり、第1半導体装置10のソース端子11aに第1電源VDD1の陰極が接続され、第2半導体装置20のソース端子21aに第1電源VDD1の陽極が接続されることを除いて、図16の電子装置と図17の電子装置に違いはない。
[AND logic unit]
FIG. 17 is a diagram illustrating a configuration of an electronic device that performs an AND logic operation. This electronic device is different from the electronic device performing the NAND logic operation shown in FIG. 16 only in that the polarity of the first power supply VDD1 is reversed, and there is no difference in other connection forms. 16 except that the cathode of the first power supply VDD1 is connected to the source terminal 11a of the first semiconductor device 10 and the anode of the first power supply VDD1 is connected to the source terminal 21a of the second semiconductor device 20. There is no difference between the electronic device and the electronic device of FIG.

第1電源VDD1は、出力端子Voutから出力されるハイ論理(電源VDD1の正電圧である電圧V1に等しい)とロー論理(電源VDD1の負電圧である電圧G1に等しい)とを供給する電源であり、この電子装置において、第1半導体装置10、第2半導体装置20の導通状態に影響を及ぼすものではない。そのために、第1電源VDD1の極性が逆になっても、第1、第2入力端子Vin1、Vin2からの入力による第1半導体装置10、第2半導体装置20のオン状態、オフ状態は、図16のNAND論理動作を行う電子装置と同じである。   The first power supply VDD1 is a power supply that supplies high logic (equal to the voltage V1 that is the positive voltage of the power supply VDD1) and low logic (equal to the voltage G1 that is the negative voltage of the power supply VDD1) output from the output terminal Vout. In this electronic device, the conductive state of the first semiconductor device 10 and the second semiconductor device 20 is not affected. Therefore, even when the polarity of the first power supply VDD1 is reversed, the on state and the off state of the first semiconductor device 10 and the second semiconductor device 20 by the inputs from the first and second input terminals Vin1 and Vin2 are as shown in FIG. It is the same as an electronic device that performs 16 NAND logic operations.

よって、図17の電子装置では、第1入力端子Vin1にロー論理(電圧G2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にロー論理(電圧G2に等しい)が入力されると、第1半導体装置10がオン状態になって、出力端子Voutから第1半導体装置10のソース電極11に印加される第1電源VDD1の電圧G1がロー論理として出力される。第1入力端子Vin1にロー論理(電圧G2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力されると、第1半導体装置10がオン状態になって、出力端子Voutから第1半導体装置10のソース電極11に印加される第1電源VDD1の電圧G1がロー論理として出力される。第1入力端子Vin1にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にロー論理(電圧G2に等しい)が入力されると、第1半導体装置10がオン状態になって、出力端子Voutから第1半導体装置10のソース電極11に印加される第1電源VDD1の電圧G1がロー論理として出力される。第1入力端子Vin1にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力されると、第2半導体装置20がオン状態になって、出力端子Voutから第2半導体装置20のソース電極21に印加される第1電源VDD1の電圧V1がハイ論理として出力される。   Therefore, in the electronic device of FIG. 17, when the low logic (equal to the voltage G2) is input to the first input terminal Vin1, and the low logic (equal to the voltage G2) is input to the second input terminal Vin2, the first semiconductor The device 10 is turned on, and the voltage G1 of the first power supply VDD1 applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 from the output terminal Vout is output as low logic. When low logic (equal to voltage G2) is input to the first input terminal Vin1, and high logic (equal to voltage V2) is input to the second input terminal Vin2, the first semiconductor device 10 is turned on. The voltage G1 of the first power supply VDD1 applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 from the output terminal Vout is output as low logic. When high logic (equal to voltage V2) is input to the first input terminal Vin1 and low logic (equal to voltage G2) is input to the second input terminal Vin2, the first semiconductor device 10 is turned on. The voltage G1 of the first power supply VDD1 applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 from the output terminal Vout is output as low logic. When high logic (equal to voltage V2) is input to the first input terminal Vin1 and high logic (equal to voltage V2) is input to the second input terminal Vin2, the second semiconductor device 20 is turned on. The voltage V1 of the first power supply VDD1 applied to the source electrode 21 of the second semiconductor device 20 from the output terminal Vout is output as high logic.

以上のように、この電子装置はAND論理の動作を行うことになる。   As described above, this electronic device performs an AND logic operation.

[OR論理装置]
図18は、OR論理動作を行う電子装置の構成を表す図である。この電子装置は、図16に示すNAND論理動作を行う電子装置と比較して、第2電源VDD2の極性が逆になることが異なるのみで、他の接続形態に違いがない。つまり、第1半導体装置10の第1、第2バイアス端子14a、15aに第2電源VDD2の陰極が接続され、第2半導体装置20の第1、第2バイアス端子24a、25aに第2電源VDD2の陽極が接続されることを除いて、図16の電子装置と図18の電子装置に違いはない。
[OR logic unit]
FIG. 18 is a diagram illustrating a configuration of an electronic device that performs an OR logic operation. This electronic device is different from the electronic device performing the NAND logic operation shown in FIG. 16 only in that the polarity of the second power supply VDD2 is reversed, and there is no difference in other connection forms. That is, the cathode of the second power supply VDD2 is connected to the first and second bias terminals 14a and 15a of the first semiconductor device 10, and the second power supply VDD2 is connected to the first and second bias terminals 24a and 25a of the second semiconductor device 20. There is no difference between the electronic device shown in FIG. 16 and the electronic device shown in FIG.

このような構成の電子装置では、第1電源VDD1の正電圧である電圧V1が、第1半導体装置10のソース電極11に印加される。第1電源VDD1の負電圧である電圧G1が、第2半導体装置20のソース電極21に印加される。第2電源VDD2の正電圧である電圧V2が、第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25に印加される。第2電源VDD2の負電圧である電圧G2が、第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15に印加される。   In the electronic device having such a configuration, the voltage V <b> 1 that is the positive voltage of the first power supply VDD <b> 1 is applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10. A voltage G1 that is a negative voltage of the first power supply VDD1 is applied to the source electrode 21 of the second semiconductor device 20. A voltage V2 that is a positive voltage of the second power supply VDD2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20. A voltage G2 that is a negative voltage of the second power supply VDD2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10.

第1入力端子Vin1にロー論理(電圧G2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にロー論理(電圧G2に等しい)が入力されると、以下のような動作になる。   When low logic (equal to voltage G2) is input to the first input terminal Vin1, and low logic (equal to voltage G2) is input to the second input terminal Vin2, the following operation is performed.

第1半導体装置10は、第1入力端子Vin1から第1制御端子16aにロー論理が入力されるために、第1制御電極16に電圧G2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子17aにロー論理が入力されるために、第2制御電極17に電圧G2が印加される。第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15には、第2電源VDD2から電圧G2が印加されている。第1、第2バイアス電極14、15に印加される電圧と第1、第2制御電極16、17に印加される電圧とが等しいために、カーボンナノチューブ13に電界Eは発生しない。これによりソース電極11とドレイン電極12との間が導通せず、第1半導体装置10がオフ状態になる。   In the first semiconductor device 10, since the low logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 16a, the voltage G2 is applied to the first control electrode 16. Further, since the low logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 17a, the voltage G2 is applied to the second control electrode 17. A voltage G2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10 from the second power supply VDD2. Since the voltage applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 is equal to the voltage applied to the first and second control electrodes 16 and 17, the electric field E is not generated in the carbon nanotube 13. As a result, the source electrode 11 and the drain electrode 12 do not conduct, and the first semiconductor device 10 is turned off.

第2半導体装置20は、第1入力端子Vin1から第1制御端子26aにロー論理が入力されるために、第1制御電極26に電圧G2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子27aにロー論理が入力されるために、第2制御電極27に電圧G2が印加される。第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25には、第2電源VDD2から電圧V2が印加されている。第1バイアス電極24に印加される電圧は第1制御電極26に印加される電圧よりも大きい。そのために、カーボンナノチューブ23の第1P型ナノチューブ23aに第1バイアス電極24から第1制御電極26に向かって電界Eが発生する。これにより第1P型ナノチューブ23aの第1バイアス電極24側に反転層5が形成される。反転層5がチャネルとなって、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。第2バイアス電極25に印加される電圧は第2制御電極27に印加される電圧よりも大きい。そのために、カーボンナノチューブ23の第2P型ナノチューブ23cに第2バイアス電極25から第2制御電極27に向かって電界Eが発生する。これにより第2P型ナノチューブ23cの第2バイアス電極25側に反転層5が形成される。反転層5がチャネルとなって、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になり、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態になるために、ソース電極21とドレイン電極22との間が導通状態になる。そのために、第2半導体装置20がオン状態になる。   In the second semiconductor device 20, since the low logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 26a, the voltage G2 is applied to the first control electrode 26. In addition, since the low logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 27a, the voltage G2 is applied to the second control electrode 27. A voltage V2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the first bias electrode 24 is greater than the voltage applied to the first control electrode 26. Therefore, an electric field E is generated in the first P-type nanotube 23 a of the carbon nanotube 23 from the first bias electrode 24 toward the first control electrode 26. Thereby, the inversion layer 5 is formed on the first bias electrode 24 side of the first P-type nanotube 23a. The inversion layer 5 becomes a channel, and the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b become conductive. The voltage applied to the second bias electrode 25 is larger than the voltage applied to the second control electrode 27. Therefore, an electric field E is generated from the second bias electrode 25 toward the second control electrode 27 in the second P-type nanotube 23 c of the carbon nanotube 23. Thereby, the inversion layer 5 is formed on the second bias electrode 25 side of the second P-type nanotube 23c. The inversion layer 5 becomes a channel, and the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b become conductive. Since the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b become conductive and the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b become conductive, the source electrode 21 and the drain electrode 22 become conductive. Therefore, the second semiconductor device 20 is turned on.

第2半導体装置20がオン状態、第1半導体装置10がオフ状態になるために、出力端子Voutからは、第2半導体装置20のソース電極21に印加される電圧が出力される。ここではソース電極21に第1電源VDD1から電圧G1が印加されているので、出力端子Voutからは電圧G1がロー論理として出力されることになる。   Since the second semiconductor device 20 is turned on and the first semiconductor device 10 is turned off, a voltage applied to the source electrode 21 of the second semiconductor device 20 is output from the output terminal Vout. Here, since the voltage G1 is applied to the source electrode 21 from the first power supply VDD1, the voltage G1 is output as low logic from the output terminal Vout.

第1入力端子Vin1にロー論理(電圧G2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力されると、以下のような動作になる。   When low logic (equal to voltage G2) is input to the first input terminal Vin1, and high logic (equal to voltage V2) is input to the second input terminal Vin2, the following operation is performed.

第1半導体装置10は、第1入力端子Vin1から第1制御端子16aにロー論理が入力されるために、第1制御電極16に電圧G2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子17aにハイ論理が入力されるために、第2制御電極17に電圧V2が印加される。第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15には、第2電源VDD2から電圧G2が印加されている。第2制御電極17に印加される電圧が第2バイアス電極15に印加される電圧よりも大きい。そのために、第2制御電極17から第2バイアス電極15に向かって電界Eが発生する。これによりカーボンナノチューブ13は第2制御電極17側の導通の状態になり、第1半導体装置10がオン状態になる。   In the first semiconductor device 10, since the low logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 16a, the voltage G2 is applied to the first control electrode 16. Further, since a high logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 17a, the voltage V2 is applied to the second control electrode 17. A voltage G2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the second control electrode 17 is larger than the voltage applied to the second bias electrode 15. Therefore, an electric field E is generated from the second control electrode 17 toward the second bias electrode 15. As a result, the carbon nanotube 13 becomes conductive on the second control electrode 17 side, and the first semiconductor device 10 is turned on.

第2半導体装置20は、第1入力端子Vin1から第1制御端子26aにロー論理が入力されるために、第1制御電極26に電圧G2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子27aにハイ論理が入力されるために、第2制御電極27に電圧V2が印加される。第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25には、第2電源VDD2から電圧V2が印加されている。第1バイアス電極24に印加される電圧は第1制御電極26に印加される電圧よりも大きい。そのために、カーボンナノチューブ23の第1P型ナノチューブ23aに第1バイアス電極24から第1制御電極26に向かって電界Eが発生する。これにより第1P型ナノチューブ23aの第1バイアス電極24側に反転層5が形成される。反転層5がチャネルとなって、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。第2バイアス電極25に印加される電圧と第2制御電極27に印加される電圧とが等しいために、カーボンナノチューブ23の第2P型ナノチューブ23cに電界Eは発生しない。そのために、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態にならない。ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態になるが、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態にないために、ソース電極21とドレイン電極22との間が導通せず、第2半導体装置20がオフ状態になる。   In the second semiconductor device 20, since the low logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 26a, the voltage G2 is applied to the first control electrode 26. Further, since a high logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 27a, the voltage V2 is applied to the second control electrode 27. A voltage V2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the first bias electrode 24 is greater than the voltage applied to the first control electrode 26. Therefore, an electric field E is generated in the first P-type nanotube 23 a of the carbon nanotube 23 from the first bias electrode 24 toward the first control electrode 26. Thereby, the inversion layer 5 is formed on the first bias electrode 24 side of the first P-type nanotube 23a. The inversion layer 5 becomes a channel, and the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b become conductive. Since the voltage applied to the second bias electrode 25 and the voltage applied to the second control electrode 27 are equal, the electric field E is not generated in the second P-type nanotube 23 c of the carbon nanotube 23. For this reason, the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b do not become conductive. The source electrode 21 and the N-type nanotube 23b are in a conductive state, but the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b are not in a conductive state, so that the source electrode 21 and the drain electrode 22 are not conductive, and the second The semiconductor device 20 is turned off.

第1半導体装置10がオン状態、第2半導体装置20がオフ状態になるために、出力端子Voutからは、第1半導体装置10のソース電極11に印加される電圧が出力される。ここではソース電極11に第1電源VDD1から電圧V1が印加されているので、出力端子Voutからは電圧V1がハイ論理として出力されることになる。   Since the first semiconductor device 10 is turned on and the second semiconductor device 20 is turned off, a voltage applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 is output from the output terminal Vout. Here, since the voltage V1 is applied to the source electrode 11 from the first power supply VDD1, the voltage V1 is output as high logic from the output terminal Vout.

第1入力端子Vin1にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にロー論理(電圧G2に等しい)が入力されると、以下のような動作になる。   When high logic (equal to the voltage V2) is input to the first input terminal Vin1, and low logic (equal to the voltage G2) is input to the second input terminal Vin2, the following operation is performed.

第1半導体装置10は、第1入力端子Vin1から第1制御端子16aにハイ論理が入力されるために、第1制御電極16に電圧V2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子17aにロー論理が入力されるために、第2制御電極17に電圧G2が印加される。第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15には、第2電源VDD2から電圧G2が印加されている。第1制御電極16に印加される電圧が第1バイアス電極14に印加される電圧よりも大きい。そのために、第1制御電極16から第1バイアス電極14に向かって電界Eが発生する。これによりカーボンナノチューブ13は第1制御電極14側の導通の状態になり、第1半導体装置10がオン状態になる。   In the first semiconductor device 10, since a high logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 16a, the voltage V2 is applied to the first control electrode 16. Further, since the low logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 17a, the voltage G2 is applied to the second control electrode 17. A voltage G2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the first control electrode 16 is greater than the voltage applied to the first bias electrode 14. Therefore, an electric field E is generated from the first control electrode 16 toward the first bias electrode 14. As a result, the carbon nanotube 13 becomes conductive on the first control electrode 14 side, and the first semiconductor device 10 is turned on.

第2半導体装置20は、第1入力端子Vin1から第1制御端子26aにハイ論理が入力されるために、第1制御電極26に電圧V2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子27aにロー論理が入力されるために、第2制御電極27に電圧G2が印加される。第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25には、第2電源VDD2から電圧V2が印加されている。第1バイアス電極24に印加される電圧と第1制御電極26に印加される電圧とが等しいために、カーボンナノチューブ23の第1P型ナノチューブ23aに電界Eは発生しない。そのために、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態にならない。第2バイアス電極25に印加される電圧は第2制御電極27に印加される電圧よりも大きい。そのために、カーボンナノチューブ23の第2P型ナノチューブ23cに第2バイアス電極25から第2制御電極27に向かって電界Eが発生する。これにより第2P型ナノチューブ23cの第2バイアス電極25側に反転層5が形成される。反転層5がチャネルとなって、ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態になる。ドレイン電極22とN型ナノチューブ23bとが導通状態になるが、ソース電極21とN型ナノチューブ23bとが導通状態にないために、ソース電極21とドレイン電極22との間が導通せず、第2半導体装置20がオフ状態になる。   In the second semiconductor device 20, since a high logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 26a, the voltage V2 is applied to the first control electrode 26. In addition, since the low logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 27a, the voltage G2 is applied to the second control electrode 27. A voltage V2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20 from the second power supply VDD2. Since the voltage applied to the first bias electrode 24 is equal to the voltage applied to the first control electrode 26, the electric field E is not generated in the first P-type nanotube 23 a of the carbon nanotube 23. For this reason, the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b do not become conductive. The voltage applied to the second bias electrode 25 is larger than the voltage applied to the second control electrode 27. Therefore, an electric field E is generated from the second bias electrode 25 toward the second control electrode 27 in the second P-type nanotube 23 c of the carbon nanotube 23. Thereby, the inversion layer 5 is formed on the second bias electrode 25 side of the second P-type nanotube 23c. The inversion layer 5 becomes a channel, and the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b become conductive. Although the drain electrode 22 and the N-type nanotube 23b are in a conductive state, the source electrode 21 and the N-type nanotube 23b are not in a conductive state. The semiconductor device 20 is turned off.

第1半導体装置10がオン状態、第2半導体装置20がオフ状態になるために、出力端子Voutからは、第1半導体装置10のソース電極11に印加される電圧が出力される。ここではソース電極11に第1電源VDD1から電圧V1が印加されているので、出力端子Voutからは電圧V1がハイ論理として出力されることになる。   Since the first semiconductor device 10 is turned on and the second semiconductor device 20 is turned off, a voltage applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 is output from the output terminal Vout. Here, since the voltage V1 is applied to the source electrode 11 from the first power supply VDD1, the voltage V1 is output as high logic from the output terminal Vout.

第1入力端子Vin1にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力されると、以下のような動作になる。   When high logic (equal to voltage V2) is input to the first input terminal Vin1, and high logic (equal to voltage V2) is input to the second input terminal Vin2, the following operation is performed.

第1半導体装置10は、第1入力端子Vin1から第1制御端子16aにハイ論理が入力されるために、第1制御電極16に電圧V2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子17aにハイ論理が入力されるために、第2制御電極17に電圧V2が印加される。第1半導体装置10の第1、第2バイアス電極14、15には、第2電源VDD2から電圧G2が印加されている。第1、第2制御電極16、17に印加される電圧が第1、第2バイアス電極14、15に印加される電圧よりも大きい。そのために、第1制御電極16から第1バイアス電極14に向かって電界Eが発生するとともに、第2制御電極17から第2バイアス電極15に向かって電界Eが発生する。これによりカーボンナノチューブ13は第1、第2制御電極16、17側の導通の状態になり、第1半導体装置10がオン状態になる。   In the first semiconductor device 10, since a high logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 16a, the voltage V2 is applied to the first control electrode 16. Further, since a high logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 17a, the voltage V2 is applied to the second control electrode 17. A voltage G2 is applied to the first and second bias electrodes 14 and 15 of the first semiconductor device 10 from the second power supply VDD2. The voltage applied to the first and second control electrodes 16 and 17 is larger than the voltage applied to the first and second bias electrodes 14 and 15. Therefore, an electric field E is generated from the first control electrode 16 toward the first bias electrode 14, and an electric field E is generated from the second control electrode 17 toward the second bias electrode 15. As a result, the carbon nanotubes 13 become conductive on the first and second control electrodes 16 and 17 side, and the first semiconductor device 10 is turned on.

第2半導体装置20は、第1入力端子Vin1から第1制御端子26aにハイ論理が入力されるために、第1制御電極26に電圧V2が印加される。また、第2入力端子Vin2から第2制御端子27aにハイ論理が入力されるために、第2制御電極27に電圧V2が印加される。第2半導体装置20の第1、第2バイアス電極24、25には、第2電源VDD2から電圧V2が印加されている。第1、第2バイアス電極24、25に印加される電圧と第1、第2制御電極26、27に印加される電圧とが等しいために、カーボンナノチューブ23に電界Eは発生しない。これによりソース電極21とドレイン電極22との間が導通せず、第2半導体装置20がオフ状態になる。   In the second semiconductor device 20, since a high logic is input from the first input terminal Vin1 to the first control terminal 26a, the voltage V2 is applied to the first control electrode 26. Further, since a high logic is input from the second input terminal Vin2 to the second control terminal 27a, the voltage V2 is applied to the second control electrode 27. A voltage V2 is applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 of the second semiconductor device 20 from the second power supply VDD2. Since the voltage applied to the first and second bias electrodes 24 and 25 is equal to the voltage applied to the first and second control electrodes 26 and 27, the electric field E is not generated in the carbon nanotube 23. Thereby, the source electrode 21 and the drain electrode 22 do not conduct, and the second semiconductor device 20 is turned off.

第1半導体装置10がオン状態、第2半導体装置20がオフ状態になるために、出力端子Voutからは、第1半導体装置10のソース電極11に印加される電圧が出力される。ここではソース電極11に第1電源VDD1から電圧V1が印加されているので、出力端子Voutからは電圧V1がハイ論理として出力されることになる。   Since the first semiconductor device 10 is turned on and the second semiconductor device 20 is turned off, a voltage applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 is output from the output terminal Vout. Here, since the voltage V1 is applied to the source electrode 11 from the first power supply VDD1, the voltage V1 is output as high logic from the output terminal Vout.

以上のように、この電子装置はOR論理の動作を行うことになる。   As described above, this electronic device performs an OR logic operation.

[NOR論理装置]
図19は、NOR論理動作を行う電子装置の構成を表す図である。この電子装置は、図18に示すOR論理動作を行う電子装置と比較して、第1電源VDD1の極性が逆になることが異なるのみで、他の接続形態に違いがない。つまり、第1半導体装置10のソース端子11aに第1電源VDD1の陰極が接続され、第2半導体装置20のソース端子21aに第1電源VDD1の陽極が接続されることを除いて、図16の電子装置と図17の電子装置に違いはない。
[NOR logic device]
FIG. 19 is a diagram illustrating a configuration of an electronic device that performs a NOR logic operation. This electronic device is different from the electronic device performing the OR logic operation shown in FIG. 18 only in that the polarity of the first power supply VDD1 is reversed, and there is no difference in other connection forms. 16 except that the cathode of the first power supply VDD1 is connected to the source terminal 11a of the first semiconductor device 10 and the anode of the first power supply VDD1 is connected to the source terminal 21a of the second semiconductor device 20. There is no difference between the electronic device and the electronic device of FIG.

第1電源VDD1は、出力端子Voutから出力されるハイ論理(電源VDD1の正電圧である電圧V1に等しい)とロー論理(電源VDD1の負電圧である電圧G1に等しい)とを供給する電源であり、この電子装置において、第1半導体装置10、第2半導体装置20の導通状態に影響を及ぼすものではない。そのために、第1電源VDD1の極性が逆になっても、第1、第2入力端子Vin1、Vin2からの入力による第1半導体装置10、第2半導体装置20のオン状態、オフ状態は、図18のOR論理動作を行う電子装置と同じである。   The first power supply VDD1 is a power supply that supplies high logic (equal to the voltage V1 that is the positive voltage of the power supply VDD1) and low logic (equal to the voltage G1 that is the negative voltage of the power supply VDD1) output from the output terminal Vout. In this electronic device, the conductive state of the first semiconductor device 10 and the second semiconductor device 20 is not affected. Therefore, even when the polarity of the first power supply VDD1 is reversed, the on state and the off state of the first semiconductor device 10 and the second semiconductor device 20 by the inputs from the first and second input terminals Vin1 and Vin2 are as shown in FIG. It is the same as an electronic device that performs 18 OR logic operations.

よって、図19の電子装置では、第1入力端子Vin1にロー論理(電圧G2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にロー論理(電圧G2に等しい)が入力されると、第2半導体装置20がオン状態になって、出力端子Voutから第2半導体装置20のソース電極21に印加される第1電源VDD1の電圧V1がハイ論理として出力される。第1入力端子Vin1にロー論理(電圧G2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力されると、第1半導体装置10がオン状態になって、出力端子Voutから第1半導体装置10のソース電極11に印加される第1電源VDD1の電圧G1がロー論理として出力される。第1入力端子Vin1にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にロー論理(電圧G2に等しい)が入力されると、第1半導体装置10がオン状態になって、出力端子Voutから第1半導体装置10のソース電極11に印加される第1電源VDD1の電圧G1がロー論理として出力される。第1入力端子Vin1にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力され、第2入力端子Vin2にハイ論理(電圧V2に等しい)が入力されると、第1半導体装置10がオン状態になって、出力端子Voutから第1半導体装置10のソース電極11に印加される第1電源VDD1の電圧G1がロー論理として出力される。   Accordingly, in the electronic device of FIG. 19, when low logic (equal to voltage G2) is input to the first input terminal Vin1, and low logic (equal to voltage G2) is input to the second input terminal Vin2, the second semiconductor device. The device 20 is turned on, and the voltage V1 of the first power supply VDD1 applied to the source electrode 21 of the second semiconductor device 20 from the output terminal Vout is output as high logic. When low logic (equal to voltage G2) is input to the first input terminal Vin1, and high logic (equal to voltage V2) is input to the second input terminal Vin2, the first semiconductor device 10 is turned on. The voltage G1 of the first power supply VDD1 applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 from the output terminal Vout is output as low logic. When high logic (equal to voltage V2) is input to the first input terminal Vin1 and low logic (equal to voltage G2) is input to the second input terminal Vin2, the first semiconductor device 10 is turned on. The voltage G1 of the first power supply VDD1 applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 from the output terminal Vout is output as low logic. When high logic (equal to voltage V2) is input to the first input terminal Vin1, and high logic (equal to voltage V2) is input to the second input terminal Vin2, the first semiconductor device 10 is turned on. The voltage G1 of the first power supply VDD1 applied to the source electrode 11 of the first semiconductor device 10 from the output terminal Vout is output as low logic.

以上のように、この電子装置はAND論理の動作を行うことになる。   As described above, this electronic device performs an AND logic operation.

以上のように、本実施形態の半導体装置を、2電源を用いて様々に接続することで、多種多様な回路を実現できる。この実施形態の半導体装置は、電子のみをキャリアとした単キャリアであるので、完全動作が実現され、論理が更に明確になる。電子をキャリアとして用いると、正孔をキャリアとして用いる場合よりも高速に動作する。
なお、正孔をキャリアとして用いる場合、つまりカーボンナノチューブのチャネルが形成されるナノチューブがN型半導体の特性を有するものを用いる場合でも、チャネルが形成される場所がバイアス電極側か制御電極側かが変わるだけで、同様に、多種多様な回路を実現できることは言うまでもない。
As described above, a variety of circuits can be realized by variously connecting the semiconductor device of this embodiment using two power sources. Since the semiconductor device of this embodiment is a single carrier using only electrons as a carrier, complete operation is realized and the logic becomes clearer. When electrons are used as carriers, the operation is faster than when holes are used as carriers.
Even when holes are used as carriers, that is, when the nanotubes in which the carbon nanotube channels are formed have N-type semiconductor characteristics, whether the channel is formed on the bias electrode side or the control electrode side. It goes without saying that a wide variety of circuits can be realized as well by changing.

カーボンナノチューブを用いた半導体装置の動作原理の説明図。Explanatory drawing of the operation principle of the semiconductor device using a carbon nanotube. カーボンナノチューブを用いた半導体装置の動作原理の説明図。Explanatory drawing of the operation principle of the semiconductor device using a carbon nanotube. カーボンナノチューブを用いた半導体装置の動作原理の説明図。Explanatory drawing of the operation principle of the semiconductor device using a carbon nanotube. カーボンナノチューブを用いた半導体装置の動作原理の説明図。Explanatory drawing of the operation principle of the semiconductor device using a carbon nanotube. カーボンナノチューブを用いた半導体装置の動作原理の説明図。Explanatory drawing of the operation principle of the semiconductor device using a carbon nanotube. OR論理動作を実現した半導体装置の構成を表す図。The figure showing the structure of the semiconductor device which implement | achieved OR logic operation | movement. AND論理動作を実現した半導体装置の構成を表す図。The figure showing the structure of the semiconductor device which implement | achieved AND logic operation | movement. インバータ動作を実現した半導体装置の構成を表す図。The figure showing the structure of the semiconductor device which implement | achieved inverter operation | movement. 半導体装置を製造する手順を表す図。The figure showing the procedure which manufactures a semiconductor device. 半導体装置を製造する手順を表す図。The figure showing the procedure which manufactures a semiconductor device. 半導体装置を製造する手順を表す図。The figure showing the procedure which manufactures a semiconductor device. 半導体装置を製造する手順を表す図。The figure showing the procedure which manufactures a semiconductor device. 半導体装置を製造する手順を表す図。The figure showing the procedure which manufactures a semiconductor device. 半導体装置を製造する手順を表す図。The figure showing the procedure which manufactures a semiconductor device. 半導体装置を製造する手順を表す図。The figure showing the procedure which manufactures a semiconductor device. 本実施形態の半導体装置を用いたNAND論理回路を表す図。1 is a diagram illustrating a NAND logic circuit using a semiconductor device of an embodiment. 本実施形態の半導体装置を用いたAND論理回路を表す図。2 is a diagram illustrating an AND logic circuit using the semiconductor device of the embodiment. FIG. 本実施形態の半導体装置を用いたOR論理回路を表す図。1 is a diagram illustrating an OR logic circuit using a semiconductor device of an embodiment. 本実施形態の半導体装置を用いたNOR論理回路を表す図。1 is a diagram illustrating a NOR logic circuit using a semiconductor device of an embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1、13、23、33、43、44、45 カーボンナノチューブ
2 バイアス電極
3 制御電極
4 電源
5 反転層
10 第1半導体装置
11、21、31 ソース電極
11a、21a、31a ソース端子
12、22、32 ドレイン電極
12a、22a、32a ドレイン端子
14、24、34 第1バイアス電極
14a、24a、34a 第1バイアス端子
15、25、35 第2バイアス電極
15a、25a、35a 第2バイアス端子
16、26、36 第1制御電極
16a、26a、36a 第1制御端子
17、27、37 第2制御電極
17a、27a、37a 第2制御端子
20 第2半導体装置
30 第3半導体装置
41 基板
42 鉄触媒
46 絶縁体
47a〜47d 導体
1, 13, 23, 33, 43, 44, 45 Carbon nanotube 2 Bias electrode 3 Control electrode 4 Power supply 5 Inversion layer 10 First semiconductor device 11, 21, 31 Source electrode 11a, 21a, 31a Source terminal 12, 22, 32 Drain electrodes 12a, 22a, 32a Drain terminals 14, 24, 34 First bias electrodes 14a, 24a, 34a First bias terminals 15, 25, 35 Second bias electrodes 15a, 25a, 35a Second bias terminals 16, 26, 36 First control electrode 16a, 26a, 36a First control terminal 17, 27, 37 Second control electrode 17a, 27a, 37a Second control terminal 20 Second semiconductor device 30 Third semiconductor device 41 Substrate 42 Iron catalyst 46 Insulator 47a ~ 47d conductor

Claims (6)

それぞれ、第1の半導体の特性を有する1以上の第1ナノチューブと第2の半導体の特性を有する2以上の第2ナノチューブとが1つずつ隣り合った構造を有して、両端に電極が設けられたナノチューブを含み、更にこのナノチューブには、これを挟んで対向する2種類の導体からなる導体対が複数組設けられている第1及び第2半導体装置と、
前記第1半導体装置の前記電極の一方に第1電圧を印加するとともに、前記第2半導体装置の前記電極の一方に第2電圧を印加するための端子と、を備えており、
前記第1半導体装置及び前記第2半導体装置のいずれか一方の、少なくとも1組の導体対を構成する一方の導体と他方の導体とに異なる電圧を印加することで、前記第1半導体装置及び前記第2半導体装置の前記一方の前記電極間が導通して、前記第1電圧又は前記第2電圧のいずれかが出力されるように構成されている、
電子装置。
Each has a structure in which one or more first nanotubes having characteristics of a first semiconductor and two or more second nanotubes having characteristics of a second semiconductor are adjacent to each other, and electrodes are provided at both ends. First and second semiconductor devices each including a plurality of conductor pairs each including two kinds of conductors facing each other with the nanotube interposed therebetween,
A terminal for applying a first voltage to one of the electrodes of the first semiconductor device and applying a second voltage to one of the electrodes of the second semiconductor device;
By applying different voltages to one conductor and the other conductor constituting at least one pair of conductor pairs of any one of the first semiconductor device and the second semiconductor device, the first semiconductor device and the second semiconductor device The one of the electrodes of the second semiconductor device is electrically connected, and is configured to output either the first voltage or the second voltage.
Electronic equipment.
前記第1半導体装置のすべての導体対の一方に第3電圧を印加するとともに、前記第2半導体装置のすべての導体対の一方に前記第3電圧とは異なる電圧値の第4電圧を印加するための端子と、
前記第1半導体装置のいずれか1組の導体対の他方及び前記第2半導体装置のいずれか1組の導体対の他方に第5電圧を印加するための端子と、を更に備えており、
前記第5電圧の電圧値が前記第3電圧の電圧値と等しい場合には、前記第2半導体装置の前記電極間が導通して前記第2電圧が出力され、
前記第5電圧の電圧値が前記第4電圧の電圧値と等しい場合には、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して前記第1電圧が出力されるように構成されている、
請求項1記載の電子装置。
A third voltage is applied to one of all conductor pairs of the first semiconductor device, and a fourth voltage having a voltage value different from the third voltage is applied to one of all conductor pairs of the second semiconductor device. A terminal for
A terminal for applying a fifth voltage to the other of any one pair of conductors of the first semiconductor device and the other of any one pair of conductors of the second semiconductor device, and
When the voltage value of the fifth voltage is equal to the voltage value of the third voltage, the electrodes of the second semiconductor device are conducted to output the second voltage,
When the voltage value of the fifth voltage is equal to the voltage value of the fourth voltage, the electrodes of the first semiconductor device are electrically connected to output the first voltage.
The electronic device according to claim 1.
前記第1半導体装置の前記ナノチューブ及び前記第2半導体装置の前記ナノチューブの少なくとも一方は、前記電極が前記第2ナノチューブにより形成されて、当該電極と一体に構成されている、
請求項1記載の電子装置。
At least one of the nanotube of the first semiconductor device and the nanotube of the second semiconductor device has the electrode formed of the second nanotube and is configured integrally with the electrode.
The electronic device according to claim 1.
第1の半導体の特性を有する第1ナノチューブの両端に第2の半導体の特性を有する電極が隣接する構造を有するナノチューブを含み、更にこのナノチューブを挟んで対向する2種類の導体からなる導体対が2組設けられている第1半導体装置と、
第2の半導体の特性を有する第2ナノチューブの両端に第1の半導体の特性を有する第1ナノチューブが隣接し、両端に第2の半導体の特性を有する電極が隣接する構造を有するナノチューブを含み、更にこのナノチューブを挟んで対向する2種類の導体からなる導体対が2組設けられている第2半導体装置と、
前記第1半導体装置の前記電極の一方に第1電圧を印加するとともに、前記第2半導体装置の前記電極の一方に第2電圧を印加するための端子と、を備えており、
前記第1半導体装置の少なくとも1組の導体対を構成する一方の導体と他方の導体とに異なる電圧を印加することで、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して、前記第1電圧が出力され、
前記第2半導体装置のすべての導体対の各々で、導体対を構成する一方の導体と他方の導体とに異なる電圧を印加することで、前記第2半導体装置の前記電極間が導通して、前記第2電圧が出力されるように構成されている、
電子装置。
The first nanotube having the characteristics of the first semiconductor includes a nanotube having a structure in which electrodes having the characteristics of the second semiconductor are adjacent to each other, and a conductor pair composed of two kinds of conductors facing each other with the nanotube interposed therebetween. Two sets of first semiconductor devices;
A nanotube having a structure in which a first nanotube having the characteristics of the first semiconductor is adjacent to both ends of the second nanotube having characteristics of the second semiconductor, and an electrode having the characteristics of the second semiconductor is adjacent to both ends; Furthermore, a second semiconductor device in which two pairs of conductors composed of two kinds of conductors opposed across the nanotube are provided,
A terminal for applying a first voltage to one of the electrodes of the first semiconductor device and applying a second voltage to one of the electrodes of the second semiconductor device;
By applying different voltages to one conductor and the other conductor constituting at least one set of conductor pairs of the first semiconductor device, the electrodes of the first semiconductor device are electrically connected, and the first voltage Is output,
In each of all the conductor pairs of the second semiconductor device, by applying different voltages to one conductor and the other conductor constituting the conductor pair, the electrodes of the second semiconductor device are electrically connected, The second voltage is configured to be output.
Electronic equipment.
前記第1半導体装置のすべての導体対の一方に第3電圧を印加するとともに、前記第2半導体装置のすべての導体対の一方に前記第3電圧とは異なる電圧値の第4電圧を印加するための端子と、
前記第1半導体装置の一方の組の導体対の他方及び前記第2半導体装置の一方の組の導体対の他方に第5電圧を印加するとともに、前記第1半導体装置の他方の組の導体対の他方及び前記第2半導体装置の他方の組の導体対の他方に第6電圧を印加するための端子と、を更に備えており、
前記第5電圧の電圧値及び前記第6電圧の電圧値が前記第3電圧の電圧値と等しい場合には、前記第2半導体装置の前記電極間が導通して前記第2電圧が出力され、
前記第5電圧の電圧値が前記第3電圧の電圧値と等しく、前記第6電圧の電圧値が前記第4電圧の電圧値と等しい場合には、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して前記第1電圧が出力され、
前記第5電圧の電圧値が前記第4電圧の電圧値と等しく、前記第6電圧の電圧値が前記第3電圧の電圧値と等しい場合には、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して前記第1電圧が出力され、
前記第5電圧の電圧値及び前記第6電圧の電圧値が前記第4電圧の電圧値と等しい場合には、前記第1半導体装置の前記電極間が導通して前記第1電圧が出力されるように構成されている、
請求項4記載の電子装置。
A third voltage is applied to one of all conductor pairs of the first semiconductor device, and a fourth voltage having a voltage value different from the third voltage is applied to one of all conductor pairs of the second semiconductor device. A terminal for
A fifth voltage is applied to the other of the pair of conductors of the first semiconductor device and the other of the pair of conductors of the second semiconductor device, and the other pair of conductors of the first semiconductor device. And a terminal for applying a sixth voltage to the other of the other pair of conductor pairs of the second semiconductor device, and
When the voltage value of the fifth voltage and the voltage value of the sixth voltage are equal to the voltage value of the third voltage, the electrodes of the second semiconductor device are conducted and the second voltage is output,
When the voltage value of the fifth voltage is equal to the voltage value of the third voltage and the voltage value of the sixth voltage is equal to the voltage value of the fourth voltage, the electrodes of the first semiconductor device are electrically connected. And the first voltage is output,
When the voltage value of the fifth voltage is equal to the voltage value of the fourth voltage and the voltage value of the sixth voltage is equal to the voltage value of the third voltage, the electrodes of the first semiconductor device are electrically connected. And the first voltage is output,
When the voltage value of the fifth voltage and the voltage value of the sixth voltage are equal to the voltage value of the fourth voltage, the electrodes of the first semiconductor device are conducted and the first voltage is output. Configured as
The electronic device according to claim 4.
それぞれ、第1の半導体の特性を有する1以上の第1ナノチューブと第2の半導体の特性を有する2以上の第2ナノチューブとが1つずつ隣り合った構造を有し、両端に電極が設けられたナノチューブを含み、更にこのナノチューブには、これを挟んで対向する2種類の導体からなる導体対が複数組設けられている第1及び第2半導体装置を形成する段階と、
前記第1半導体装置の前記電極の一方に第1電圧を印加するための第1端子及び前記第2半導体装置の前記電極の一方に第2電圧を印加するための第2端子を形成する段階と、を含み、
前記第1半導体装置及び前記第2半導体装置のいずれか一方の、少なくとも1組の導体対を構成する一方の導体と他方の導体とに異なる電圧を印加することで、前記第1半導体装置及び前記第2半導体装置の前記一方の前記電極間が導通して、前記第1電圧又は前記第2電圧のいずれかが出力されるように構成されている電子装置を製造する、
製造方法。
Each has a structure in which one or more first nanotubes having the characteristics of the first semiconductor and two or more second nanotubes having the characteristics of the second semiconductor are adjacent to each other, and electrodes are provided at both ends. Forming a first and second semiconductor device in which a plurality of pairs of conductors composed of two kinds of conductors facing each other are provided on the nanotube,
Forming a first terminal for applying a first voltage to one of the electrodes of the first semiconductor device and a second terminal for applying a second voltage to one of the electrodes of the second semiconductor device; Including,
By applying different voltages to one conductor and the other conductor constituting at least one pair of conductor pairs of any one of the first semiconductor device and the second semiconductor device, the first semiconductor device and the second semiconductor device Producing an electronic device configured to conduct between the one electrode of the second semiconductor device and output either the first voltage or the second voltage;
Production method.
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