JP2008112027A - 液晶表示パネル用検査治具 - Google Patents
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Abstract
【課題】リード配線を用いることなく、被検査液晶表示パネルの機種に対応して検査信号経路を容易に選択できるようにする。
【解決手段】被検査液晶表示パネル1の端子部3に形成されている各電極端子4に対してパネル検査機30から出力される検査信号を供給する液晶表示パネル用検査治具100において、端子部3の各電極端子4に電気的接続手段20を介して接続され、その各々が所定の長さを有する帯状パターンとして形成されたプローブ電極111を備える第1基板110と、パネル検査機30に接続され、第1基板110上に配置される第2基板120とを含み、第2基板120の上面に、帯状をなす複数本の信号入力配線パターン130をプローブ電極111と交差するように配線するとともに、信号入力配線パターン130とプローブ電極111との交差部にスルーホール121を穿設し、スルーホール121を介して所定の信号入力配線パターン130とプローブ電極111とを電気的に接続する。
【選択図】図1
【解決手段】被検査液晶表示パネル1の端子部3に形成されている各電極端子4に対してパネル検査機30から出力される検査信号を供給する液晶表示パネル用検査治具100において、端子部3の各電極端子4に電気的接続手段20を介して接続され、その各々が所定の長さを有する帯状パターンとして形成されたプローブ電極111を備える第1基板110と、パネル検査機30に接続され、第1基板110上に配置される第2基板120とを含み、第2基板120の上面に、帯状をなす複数本の信号入力配線パターン130をプローブ電極111と交差するように配線するとともに、信号入力配線パターン130とプローブ電極111との交差部にスルーホール121を穿設し、スルーホール121を介して所定の信号入力配線パターン130とプローブ電極111とを電気的に接続する。
【選択図】図1
Description
本発明は、被検査液晶表示パネルの端子部とパネル検査機との間に接続され、パネル検査機から出力される点灯信号などの検査信号を液晶表示パネルに与える液晶表示パネル用検査治具に関し、さらに詳しく言えば、被検査液晶表示パネルの機種に対応して検査信号経路を容易に選択できるようにした液晶表示パネル用検査治具に関するものである。
通常、完成品を出荷する前に不具合の有無の最終検査が行われるが、液晶表示パネルの分野では、その最終検査項目のひとつとして、液晶表示パネルを実際に点灯させ、表示電極の断線や表示電極間のリークの有無などを検査する点灯検査がある(例えば、特許文献1参照)。
この点灯検査においては、液晶表示パネルの端子部に形成されている各電極端子に、パネル検査機から点灯信号が加えられるが、機種ごとに電極端子の端子配列などが異なっているため、それぞれ専用とした検査治具が用いられる。
その一例を図3および図4により説明する。図3は被検査液晶表示パネルに検査治具を介してパネル検査機を接続した状態を示す模式図,図4は検査治具に配線されるリード配線を示す側面図である。
この例において、被検査液晶表示パネル1は、7個の表示電極2a〜2gを「日」の字状に配置した表示部2を小数点表示を挟んで2つ備えている表示器で、端子部3には引き回し配線を介して各表示電極2a〜2gおよび小数点表示電極2hに接続される多数の電極端子4が形成されている。
検査治具10にはプリント基板が用いられ、その片面には多数の銅箔配線11が帯状パターンとして電極端子4と同一のピッチで形成されている。この銅箔配線11には、電極端子4の各々に接続されるプローブ電極11Aのほかに、セグメント側の入力電極11Bとコモン側の入力電極11Cとが含まれている。
多くの場合、プローブ電極11Aと電極端子4との接続には、セブラゴム(通称)などの取り外し可能な電気的接続手段20が用いられる。
点灯検査において、「日」の字に配列された各表示電極2a〜2gのリーク検査を行うには、セグメント側,コモン側ともに4分割に配線する必要があるため、セグメント側の入力電極11Bには4本の入力電極配線S1〜S4が含まれ、コモン側の入力電極11Cにも4本の入力電極配線C1〜C4が含まれている。
セグメント側の入力電極配線S1〜S4およびコモン側の入力電極配線C1〜C4には、パネル検査機30の出力端子であるソケット31が接続される。
パネル検査機30は、被検査液晶表示パネル1の各表示電極2a〜2gおよび小数点表示電極2hに点灯電圧を印加するとともに、各表示電極間に流れる電流を測定し、その点灯電圧と電流とから表示電極間の抵抗値を算出し、リークの有無を検査する機能を備えている。
このリーク検査を行うため、各表示電極2a〜2gのうち、隣接する表示電極間に点灯電圧が印加される。そのため、セグメント側には好ましくは4色のリード配線R(R1〜R4)が用いられ、次のような配線が行われる。
入力電極配線S1は、リード配線R1を介して各表示部2の表示電極2aと表示電極2gとに接続される。入力電極配線S2は、リード配線R2を介して各表示部2の表示電極2bと表示電極2fとに接続される。入力電極配線S3は、リード配線R3を介して各表示部2の表示電極2dと小数点表示電極2hとに接続される。入力電極配線S4は、リード配線R4を介して各表示部2の表示電極2eと表示電極2cとに接続される。
接続はハンダ付けで、図4に示すように、プローブ電極11Aおよびセグメント側の入力電極11Bに対するリード配線Rのハンダ付け箇所Aの絶縁被覆12bを図示しないストリッパーなどで剥がして導体芯線12aを露出させ、その部分の導体芯線12aをハンダ付けする。コモン側の入力電極11Cも同様にして所定のコモン側の表示電極に接続される。
被検査液晶表示パネルの機種ごとに、上記のような検査治具10が作製されるのであるが、配線部材として色の異なるリード配線を用意し、各リード配線のハンダ付け箇所(リード配線ごとに位置が異なる)の絶縁被覆を剥がしたうえで、ハンダ付けするようにしているため、検査治具の作製に大変な手間がかかるという問題がある。
また、ハンダ付け箇所が剥き出し状態であるため、乱雑な取り扱いや経時的に生ずる酸化腐蝕などによりハンダ付けが外れてしまい、その修正にも手間がかかるという問題がある。特に、点灯検査中にハンダ付け外れが発生すると、点灯検査作業の稼働率が大幅に低下してしまう。
したがって、本発明の課題は、リード配線を用いることなく、被検査液晶表示パネルの機種に対応して検査信号経路を容易に選択できるようにした液晶表示パネル用検査治具を提供することにある。
上記課題を解決するため、請求項1に記載の発明は、被検査液晶表示パネルの端子部とパネル検査機との間に接続され、上記端子部に形成されている各電極端子に対して上記パネル検査機から出力される検査信号を供給する液晶表示パネル用検査治具において、上記端子部の上記各電極端子に所定の電気的接続手段を介して接続され、その各々が所定の長さを有する帯状パターンとして形成されたプローブ電極を備えている第1基板と、上記パネル検査機に接続され、下面側が上記第1基板のプローブ電極形成面側に重ねて配置される第2基板とを含み、上記第2基板の上面には、帯状をなす複数本の信号入力配線パターンが上記プローブ電極と交差するように配線されているとともに、上記信号入力配線パターンと上記プローブ電極との交差部に、上記信号入力配線パターンおよび上記第2基板を貫通し、上記信号入力配線パターンと上記プローブ電極とを所定の導電手段にて導通させるためのスルーホールが穿設されていることを特徴としている。
請求項2に記載の発明は、上記請求項1の液晶表示パネル用検査治具において、上記導電手段としてハンダ材が用いられることを特徴としている。
請求項3に記載の発明は、上記請求項2の液晶表示パネル用検査治具において、上記スルーホール内には、上記プローブ電極に対して非接触のめっき層が形成されていることを特徴としている。
請求項1に記載の発明によれば、検査治具には、被検査液晶表示パネルの端子部に形成されている各電極端子に所定の電気的接続手段を介して接続され、その各々が所定の長さを有する帯状パターンとして形成されたプローブ電極を備えている第1基板と、パネル検査機に接続され、下面側が第1基板のプローブ電極形成面側に重ねて配置される第2基板とが含まれ、第2基板の上面には、帯状をなす複数本の信号入力配線パターンが第1基板側のプローブ電極と交差するように配線されているとともに、信号入力配線パターンとプローブ電極との交差部に、信号入力配線パターンおよび第2基板を貫通し、信号入力配線パターンとプローブ電極とを所定の導電手段にて導通させるためのスルーホールが穿設されていることにより、リード配線やそのハンダ付けを要することなく、スルーホールを介して所定の信号入力配線パターンとプローブ電極とを接続するだけで検査信号経路を容易に選択することができる。また、導電手段はスルーホール内に設けられるため、乱雑な扱いや酸化腐蝕などにより、容易に外れることもない。
導電手段には導通ピンなどが用いられてもよいが、請求項2に記載の発明のように、導電手段としてハンダ材が用いられることにより、半永久的な接続状態が得られる。
請求項3に記載の発明によれば、スルーホール内にはプローブ電極に対して非接触のめっき層が設けられていることにより、ハンダ材の濡れ性が良好となり、スルホール内に溶融ハンダを容易に埋め込むことができる。
次に、図1および図2により、本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。図1は本発明による検査治具,被検査液晶表示パネルおよびパネル検査機を分離して示す模式的な平面図,図2は図1のA−A線拡大断面図である。
図1を参照して、この実施形態においても、被検査液晶表示パネル1は、先の図3で説明した上記従来例と同じく、7個の表示電極2a〜2gを「日」の字状に配置した表示部2を小数点表示を挟んで2つ備えている表示器で、端子部3には引き回し配線を介して各表示電極2a〜2gおよび小数点表示電極2hに接続される多数の電極端子4が形成されている。
また、パネル検査機30も、先の図3で説明した上記従来例と同じく、被検査液晶表示パネル1の各表示電極2a〜2gおよび小数点表示電極2hに点灯電圧を印加するとともに、各表示電極間に流れる電流を測定し、その点灯電圧と電流とから表示電極間の抵抗値を算出し、リークの有無を検査する機能を備えていてよい。
本発明による検査治具100は、被検査液晶表示パネル1側に接続される検査電極基板(第1基板)110と、検査電極基板110上に配置され、パネル検査機30側に接続される配線ボード(第2基板)120とを備え、好ましくはいずれもプリント配線板が用いられる。なお、配線ボード120は図示しないネジもしくは接着材などの固定手段にて検査電極基板110に固定される。
検査電極基板110には、被検査液晶表示パネル1の端子部3に形成されている電極端子4に対して、セブラゴム(通称)などの取り外し可能な電気的接続手段20を介して接続される多数のプローブ電極111が形成されている。すなわち、各プローブ電極111は上記電極端子4と同一ピッチとして銅箔材の帯状パターンとして形成されるが、この場合、各プローブ電極111の長さは配線ボード120を横切る長さとされる。
配線ボード120の上面には、帯状をなす複数本の信号入力配線パターン130がプローブ電極基板110のプローブ電極111と交差するように配線されている。信号入力配線パターン130も銅箔材により形成されてよいが、場合によっては、帯状の金属板を配線ボード120の上面に添着してもよい。
複数本の信号入力配線パターン130は、セグメント側の入力配線部131とコモン側の入力配線部132とに分けられ、その各々にパネル検査機30の出力端子であるソケット31が図示しないコネクタを介して接続される。
なお、この例においても、上記従来例と同じく、被検査液晶表示パネル1の「日」の字に配列された各表示電極2a〜2gのリーク検査を行うため、セグメント側の入力配線部131には4本の入力配線S11〜S14が含まれ、コモン側の入力配線部132には4本の入力配線C11〜C14が含まれている。
図2を併せて参照して、信号入力配線パターン130とプローブ電極111との各交差部には、信号入力配線パターン130および配線ボード120を貫通し、信号入力配線パターン130とプローブ電極111とを所定の導電手段にて導通させるためのスルーホール(貫通孔)121が穿設されている。
上記導電手段として、スルーホール121内に打ち込まれる導通ピンなどが用いられてもよいが、電気的接続の信頼性の観点からして、スルーホール121内に図示しないハンダ材(溶融ハンダ)を埋め込むことが好ましい。
その際、スルーホール121に対するバンダ材の濡れ性をよくするため、スルーホール121内にめっき層133を形成するとよい。ただし、めっき層133はプローブ電極111と接触しないように形成する。
この検査治具100によれば、必要とする配線接続箇所に相当するスルーホール121内に導電手段(好ましくはハンダ材)を埋め込み、その導電手段を介して信号入力配線パターン130とプローブ電極111とを接続するという簡単な作業により、上記従来例のようにリード配線を用意し、その絶縁被覆をストリッパーで剥離したうえでハンダ付けすることなく、きわめて容易に被検査液晶表示パネル1の機種に対応して検査信号経路を選択することができる。
また、導電手段はスルーホール121内に埋め込まれるため、乱雑な扱いや酸化腐蝕などにより容易に外れることがなく、したがって点灯検査作業時の配線外れが皆無になり、点灯検査作業の稼働率を上記従来例に比べて大幅に向上させることができる。
1 被検査液晶表示パネル
3 端子部
4 電極端子
20 電気的接続手段(ゼブラゴム)
30 パネル検査機
31 ソケット
100 検査治具
110 検査電極基板(第1基板)
111 プローブ電極
120 配線ボード(第2基板)
121 スルーホール
130 信号入力配線パターン
133 めっき層
3 端子部
4 電極端子
20 電気的接続手段(ゼブラゴム)
30 パネル検査機
31 ソケット
100 検査治具
110 検査電極基板(第1基板)
111 プローブ電極
120 配線ボード(第2基板)
121 スルーホール
130 信号入力配線パターン
133 めっき層
Claims (3)
- 被検査液晶表示パネルの端子部とパネル検査機との間に接続され、上記端子部に形成されている各電極端子に対して上記パネル検査機から出力される検査信号を供給する液晶表示パネル用検査治具において、
上記端子部の上記各電極端子に所定の電気的接続手段を介して接続され、その各々が所定の長さを有する帯状パターンとして形成されたプローブ電極を備えている第1基板と、上記パネル検査機に接続され、下面側が上記第1基板のプローブ電極形成面側に重ねて配置される第2基板とを含み、
上記第2基板の上面には、帯状をなす複数本の信号入力配線パターンが上記プローブ電極と交差するように配線されているとともに、上記信号入力配線パターンと上記プローブ電極との交差部に、上記信号入力配線パターンおよび上記第2基板を貫通し、上記信号入力配線パターンと上記プローブ電極とを所定の導電手段にて導通させるためのスルーホールが穿設されていることを特徴とする液晶表示パネル用検査治具。 - 上記導電手段としてハンダ材が用いられることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示パネル用検査治具。
- 上記スルーホール内には、上記プローブ電極に対して非接触のめっき層が形成されていることを特徴とする請求項2に記載の液晶表示パネル用検査治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006295432A JP2008112027A (ja) | 2006-10-31 | 2006-10-31 | 液晶表示パネル用検査治具 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006295432A JP2008112027A (ja) | 2006-10-31 | 2006-10-31 | 液晶表示パネル用検査治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2008112027A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102819126A (zh) * | 2012-08-06 | 2012-12-12 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 测试装置及测试方法 |
KR101300505B1 (ko) * | 2011-09-19 | 2013-08-26 | 삼성전기주식회사 | 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법 |
KR20160031076A (ko) * | 2014-09-11 | 2016-03-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치용 검사 장치 |
-
2006
- 2006-10-31 JP JP2006295432A patent/JP2008112027A/ja not_active Withdrawn
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CN102819126A (zh) * | 2012-08-06 | 2012-12-12 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 测试装置及测试方法 |
WO2014023049A1 (zh) * | 2012-08-06 | 2014-02-13 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 测试装置及测试方法 |
KR20160031076A (ko) * | 2014-09-11 | 2016-03-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치용 검사 장치 |
KR102296391B1 (ko) * | 2014-09-11 | 2021-09-02 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치용 검사 장치 |
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Legal Events
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