JP2008086099A - インバータ装置 - Google Patents

インバータ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008086099A
JP2008086099A JP2006261821A JP2006261821A JP2008086099A JP 2008086099 A JP2008086099 A JP 2008086099A JP 2006261821 A JP2006261821 A JP 2006261821A JP 2006261821 A JP2006261821 A JP 2006261821A JP 2008086099 A JP2008086099 A JP 2008086099A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
conductor plate
natural number
switching element
diode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006261821A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Otsuka
浩 大塚
Kazuhiro Saito
和弘 齋藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honda Motor Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honda Motor Co Ltd filed Critical Honda Motor Co Ltd
Priority to JP2006261821A priority Critical patent/JP2008086099A/ja
Publication of JP2008086099A publication Critical patent/JP2008086099A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/20Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
    • H05K7/2089Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating for power electronics, e.g. for inverters for controlling motor
    • H05K7/20927Liquid coolant without phase change
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3735Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/42Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
    • H01L23/433Auxiliary members in containers characterised by their shape, e.g. pistons
    • H01L23/4334Auxiliary members in encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/46Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
    • H01L23/467Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing gases, e.g. air
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/46Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
    • H01L23/473Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49517Additional leads
    • H01L23/49531Additional leads the additional leads being a wiring board
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • H01L23/49562Geometry of the lead-frame for devices being provided for in H01L29/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49575Assemblies of semiconductor devices on lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/39Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
    • H01L24/40Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/39Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
    • H01L2224/40Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
    • H01L2224/401Disposition
    • H01L2224/40135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/40137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/34Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/39Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
    • H01L2224/40Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
    • H01L2224/401Disposition
    • H01L2224/40135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/40137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • H01L2224/40139Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate with an intermediate bond, e.g. continuous strap daisy chain
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • H01L2224/48139Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate with an intermediate bond, e.g. continuous wire daisy chain
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • H01L2224/49111Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain the connectors connecting two common bonding areas, e.g. Litz or braid wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/832Applying energy for connecting
    • H01L2224/83201Compression bonding
    • H01L2224/83205Ultrasonic bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/83801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/84Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a strap connector
    • H01L2224/848Bonding techniques
    • H01L2224/84801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)

Abstract

【課題】
トリプルブリッジインバータ回路の初段及び最終段のIGBT素子よりも中段のIGBT素子をより冷却してインバータ回路全体の熱バランスを均等化する。
【解決手段】
3段に配置された複数のスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、3つの直列回路が並列に接続されたトリプルブリッジインバータ回路を有するインバータ装置において、2段目のスイッチング素子がトリプルブリッジインバータ回路の冷却のための冷媒が供給される冷却経路の上流側に配置され、1段目及び3段目のスイッチング素子が前記冷却経路の下流側に配置されている。
【選択図】図2

Description

本発明は、トリプルブリッジインバータ回路等複数の負荷が接続されるブリッジインバータ回路を有するインバータ装置の実装構造に関する。
図20(a)に示すモータ196(負荷)が1個のインバータ回路192は、IGBT素子(スイッチング素子)とフライホイールダイオードとを逆並列接続したIGBTモジュールが三相インバータ回路の各アームを構成する。U相,V相,W相の上アームと下アームを構成するIGBTモジュールは直列接続されて三相インバータ回路を構成する。
IGBT素子U1及びフライホイールダイオードDU1は、U相の上アーム(ハイ側)を構成する。また、IGBT素子V1及びフライホイールダイオードDV1は、V相の上アームを構成し、IGBT素子W1及びフライホイールダイオードDW1は、W相の上アームを構成する。
IGBT素子U2及びフライホイールダイオードDU2は、U相の下アーム(ロー側)を構成する。また、IGBT素子V2及びフライホイールダイオードDV2は、V相の下アームを構成し、IGBT素子W2及びフライホイールダイオードDW2は、W相の下アームを構成する。
IGBT素子U1,V1,W1のコレクタがバッテリ194のPバスバーPBに接続されている。IGBT素子U2,V2,W2のエミッタがバッテリ194のNバスバーNBに接続されている。各IGBT素子U1,V1,W1,U2,V2,W2のコレクタ−エミッタ間は、エミッタからコレクタの方向が順方向となるようにフライホイールダイオードDU2,DV2,DW2,DU1,DV1,DW1が接続されている。
IGBT素子U1,U2,V1,V2,W1,W2をパルス幅変調によりON/OFFするパルス信号(ゲート信号)が図示しないECUよりIGBT素子U1,U2,V1,V2,W1,W2のゲートに入力される。各IGBT素子U1,V1,W1のエミッタ及び各IGBT素子U2,V2,W2のコレクタは、モータ6のU,V,W相の各コイル端子に接続されている。
図20(b)に示すように、インバータ回路190の実装構造は、絶縁材212上に6個の導体板206#Ui(i=1〜2),206#Vi(i=1〜2),206#Vi(i=1〜2),206#Wi(i=1〜2)が並べて配置される。導体板206#Ui(i=1〜2),206#Vi(i=1〜2),206#Wi(i=1〜2)上に、IGBT素子208#Ui(i=1〜2),208#Vi(i=1〜2),208#Wi(i=1〜2)及びフライホイールダイオード210#Ui(i=1〜2),210#Vi(i=1〜2),210#Wi(i=1〜2)が形成されている。
正極接続端子200#U,200#V,200#Wは、導体板206#U1,206#V1,206#W1に接続される。負極接続端子202#U,202#V,202#Wは、IGBT素子208#U,208#V,208#W及びフライホイールダイオード210#U2,210#V2,210#W2に接続される。
出力端子204#U,204#V,204#Wは、導体板206#U2,206#V2,206#W2に接続される。IGBT素子208#U1,208#V1,208#W1のエミッタ及びフライホイールダイオード210#U1,210#V1,210#W1のアノード並びに導体板206#U2,206#V2,206#W2は接続導体203#U,203#V,203#Wにより接続される。
一方、例えば、特許文献1には、3段に配置されたスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、3つの直列回路が並列に接続されたトリプルブリッジインバータ回路と、該トリプルブリッジインバータ回路の各相の1段目の前記スイッチング素子と2段目のスイッチング素子との接続点に接続された各制御端子からなる3つの制御端子を有する第1負荷と、トリプルブリッジインバータ回路の各列の2段目の前記スイッチング素子と3段目のスイッチング素子との接続点に接続された各制御端子からなる3つの制御端子を有する第2負荷と、スイッチング素子のオン/オフ状態を制御するインバータ制御手段とを備えたインバータ装置が知られている。
特開2004−112970号公報
しかしながら、従来のトリプルブリッジインバータ回路には以下のような問題がある。トリプルブリッジインバータ回路を実現するモジュールでは1相あたり出力が2箇所必要となり、図20(b)に示したモジュール構造では実現不可能である。また、トリプルブリッジインバータ回路の2段目のU,V,W相のIGBT素子は、第1負荷を駆動制御する場合及び第2負荷を駆動制御する場合において、パルス幅変調(PWM変調)によりON/OFFが制御されることから、1段目及び3段目のU,V,W相のIGBT素子よりもスイッチング回数が多くなる。
IGBT素子のスイッチングがあると、スイッチングロスにより発熱する。従って、2段目のIGBT素子は1段目及び3段目のIGBT素子よりも発熱が大きくなる。そのため、2段目のIGBT素子を1段目及び3段目のIGBT素子よりもより冷却する必要がある。
同様に、2×M又は(2×M+1)(M≧2以上の自然数)段に配置されたスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、N(Nは2以上の自然数)個の直列回路が並列に接続されたM段N相のブリッジインバータ回路を有するインバータ装置においても、初段及び最終段以外のIGBT素子は初段及び最終段のIGBT素子よりも発熱が大きくなることから、より冷却する必要がある。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、トリプルブリッジインバータ回路やL(L≧4)段N相(N≧2)ブリッジインバータ回路の初段及び最終段のIGBT素子よりもそれ以外のIGBT素子をより冷却してインバータ回路全体の熱バランスを均等化するインバータ装置を提供することを目的とする。
請求項1記載の発明によると、3段に配置された複数のスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、3つの前記直列回路が並列に接続されたトリプルブリッジインバータ回路を有するインバータ装置であって、2段目の前記スイッチング素子が前記トリプルブリッジインバータ回路の冷却のための冷媒が供給される冷却経路の上流側に配置され、1段目及び3段目の前記スイッチング素子が前記冷却経路の下流側に配置されていることを特徴とするインバータ装置が提供される。
請求項2記載の発明によると、請求項1記載の発明において、前記トリプルブリッジインバータ回路の所定相の1段目の前記スイッチング素子及び2段目の前記スイッチング素子に接続された第1出力端子、並びに前記トリプルブリッジインバータ回路の前記所定相の2段目のスイッチング素子及び3段目の前記スイッチング素子に接続された第2出力端子が、前記冷却経路の上流側に配置され、1段目の前記スイッチング素子に接続された直流電源の正極入力端子及び3段目の前記スイッチング素子に接続された前記直流電源の負極入力端子が前記冷却経路の下流側に配置されていることを特徴とするインバータ装置が提供される。
請求項3記載の発明によると、請求項2記載の発明において、第1導体板を含み該第1導体板上に1段目の前記スイッチング素子及びダイオードが設けられた第1基板と、絶縁材上に第2導体板が形成され該第2導体板上に2段目の前記スイッチング素子及びダイオードが設けられた第2基板と、絶縁材上に第3導体板が形成され該第3導体板上に3段目の前記スイッチング素子及びダイオードが設けられた第3基板と、2段目の前記スイッチング素子及びダイオード並びに前記第2導体板に接続された第1接続導体とを備え、前記第2基板は前記第1及び第3基板よりも前記冷却経路の上流側に配置されていることを特徴とするインバータ装置が提供される。
請求項4記載の発明によると、請求項3記載の発明において、前記正極入力端子は前記第1導体板に接続され、前記第1出力端子は前記第2導体板に接続され、前記第2出力端子は2段目の前記スイッチング素子及びダイオード並びに前記第3導体板に接続された第2接続導体から成り、第1電流は、前記正極入力端子、前記第1導体板、1段目の前記スイッチング素子、前記第1接続導体及び前記第2導体板を通して前記第1出力端子に流れ、第2電流は、前記第2接続導体及び3段目の前記スイッチング素子を通して前記負極入力端子に流れるよう構成されていることを特徴とするインバータ装置が提供される。
請求項5記載の発明によると、請求項4記載の発明において、前記第1、第2及び第3基板は、互いに所定距離離間して配置され、前記第1、第2及び第3基板間に、1段目、2段目、及び3段目の前記スイッチング素子をON/OFFするための駆動信号端子が配置されていることを特徴とするインバータ装置が提供される。
請求項6記載の発明によると、(2×M+1)(Mは2以上の自然数)段に配置されたスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、N(Nは2以上の自然数)個の前記直列回路が並列に接続されたM段N相ブリッジインバータ回路を有するインバータ装置であって、j(j=2から2×Mまでの自然数)段目の前記スイッチング素子が、1段目及び(2×M+1)段目の前記スイッチング素子よりも、前記M段N相ブリッジインバータ回路の冷却のための冷媒が供給される冷却経路の上流側に配置されていることを特徴とするインバータ装置が提供される。
請求項7記載の発明によると、請求項6記載の発明において、第k(kは1〜(2×M+1)までの自然数)導体板を含み該第k導体板上にk(kは1〜(2×M+1)までの自然数)段目の前記スイッチング素子及び第kダイオードが設けられた第k基板と、前記第k導体板(kは1)に接続された直流電源の正極入力端子と、(2×M+1)段目の前記スイッチング素子及び第kダイオード(kは(2×M+1))に接続された前記直流電源の負極入力端子と、第k(kは1〜(2×M)までの自然数)段目のスイッチング素子及び第kダイオード並びに第(k+1)(kは1〜(2×M)までの自然数)導体板に接続された第k出力端子とを備え、前記第k基板(kは(1からMまでの自然数))は前記第(k+1)基板(kは(1からMまでの自然数))よりも前記冷却経路の下流側に配置され、前記第k基板(kは(M+1)から2×Mまでの自然数))は前記第(k+1)基板(kは((M+1)から2×Mまでの自然数))よりも前記冷却経路の上流側に配置されていることを特徴とするインバータ装置が提供される。
請求項8記載の発明によると、(2×M)(Mは2以上の自然数)段に配置されたスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、N(Nは2以上の自然数)個の前記直列回路が並列に接続されたM段N相ブリッジインバータ回路であって、j(j=2から(2×M−1)の自然数)段目の前記スイッチング素子が、前記1段目及び(2×M)段目の前記スイッチング素子よりも前記M段N相ブリッジインバータ回路の冷却のための冷媒が供給される冷却経路の上流側に配置されていることを特徴とするインバータ装置が提供される。
請求項9記載の発明によると、請求項8記載の発明において、第k(kは1〜(2×M)までの自然数)導体板を含み該第k導体板上にk(kは1〜(2×M)までの自然数)段目の前記スイッチング素子及び第kダイオードが設けられた第k基板と、前記第k導体板(kは1)に接続された直流電源の正極入力端子と、(2×M)段目の前記スイッチング素子及び第kダイオード(kは(2×M))に接続された前記直流電源の負極入力端子と、第k(kは1〜(2×M−1)までの自然数)段目のスイッチング素子及び第kダイオード並びに第(k+1)(kは1〜(2×M−1)までの自然数)導体板に接続された第k出力端子とを備え、前記第k基板(kは1から(M−1)までの自然数)は前記第(k+1)基板(kは(1から(M−1)までの自然数))よりも前記冷却経路の下流側に縦列に配置され、前記第k基板(kは(M+1)から(2×M−1)までの自然数)は前記第(k+1)基板(kは(M+1)から(2×M−1)までの自然数)よりも前記冷却経路の上流側に縦列に配置されていることを特徴とするインバータ装置が提供される。
請求項1記載の発明によれば、発熱の大きい2段目のスイッチング素子が冷却経路の上流側に配置され、発熱がより小さい1段目及び3段目のスイッチング素子が冷却経路の下流側に配置されているので、インバータ全体の熱バランスが均等化され、スイッチング素子の統一化が図れて、インバータ装置の小型化及び低コストとなる。
請求項2記載の発明によれば、第1出力端子及び第2出力端子が、冷却経路の上流側に配置され、正極入力端子及び負極入力端子が冷却経路の下流側に配置されているので、インバータ装置の製造性の向上及び低コストとなる。
請求項3記載の発明によれば、基板並びにスイッチング素子及びダイオードを統一することができ更に製造性の向上及び低コストとなる。
請求項4記載の発明によれば、正極入力端子を第1導電板に接続し、第1出力端子を第2導体板に接続し、第2出力端子を第2接続導体により構成したので、インバータ装置の構成が簡単になり、更に製造性の向上及び低コストとなる。
請求項5記載の発明によれば、駆動信号端子をスイッチング素子に近接して配置することが可能となり、インバータ装置のサイズを小さくでき、更に製造性の向上及び低コストとなる。
請求項6記載の発明によれば、(2×M)(M≧2の自然数)段N相ブリッジインバータ回路の1段目及び(2×M)段目のスイッチング素子がそれ以外のスイッチング素子よりも冷却経路の下流側に配置されているので、インバータ全体の熱バランスが均等化され、スイッチング素子の統一化が図れて、インバータ装置の小型化及び低コストとなる。
請求項7記載の発明によれば、(2×M)(M≧2の自然数)段N相ブリッジインバータ回路を有するインバータ装置の基板並びにスイッチング素子及びダイオードを統一することができ製造性の向上及び低コストとなる。
請求項8記載の発明によれば、(2×M+1)(M≧2の自然数)段N相ブリッジインバータ回路の1段目及び(2×M+1)段目のスイッチング素子がそれ以外のスイッチング素子よりも冷却経路の下流側に配置されているので、インバータ全体の熱バランスが均等化され、スイッチング素子の統一化が図れて、インバータ装置の小型化及び低コストとなる。
請求項9記載の発明によれば、(2×M+1)(M≧2の自然数)段N相ブリッジインバータ回路を有するインバータ装置の基板並びにスイッチング素子及びダイオードを統一することができ製造性の向上及び低コストとなる。
図1はトリプルブリッジインバータ装置1の回路図である。トリプルブリッジインバータ装置1は、直流電源2、トリプルブリッジインバータ回路4、第1モータ6及び第2モータ8を具備する。
直流電源2は、第1モータ6及び第2モータ8にインバータ回路4を介して電力供給するための蓄電装置であり、リチウムイオン電池やニッケル水素電池などであり、複数の単電池がモジュール化された複数のバッテリブロックが直列接続されている。直流電源2はキャパシタでも良い。
インバータ回路4は、各3段に配置されたスイッチング素子であるIGBT素子Ui(i=1〜3),Vi(i=1〜3),Wi(i=1〜3)により3つの直列回路が並列に接続されたトリプルブリッジインバータ回路である。
直流電源2のハイ(Hi)側IGBT素子U1,V1,W1のコレクタは正極接続端子(正極接続バスバー)により直流電源2の正極側端子に接続され、下段(Lo)側IGBT素子U3,V3,W3のエミッタは負極接続端子(負極接続バスバー)により直流電源2の負極側端子に接続され、上段(Hi)側IGBT素子U1,V1,W1のエミッタは中段(Mid)側IGBT素子U2,V2,W2のコレクタに接続され、Mid側IGBT素子U2,V2,W2のエミッタはLo側IGBT素子U3,VL,WLのコレクタに接続され、Hi側IGBT素子U1,V1,W1、MiD側IGBT素子U2,V2,W2、Lo側IGBT素子U3,V3,W3のコレクタ−エミッタ間にはエミッタからコレクタに向けて順方向となるようにしてフライホイールダイオードDUi(i=1〜3),DVi(i=1〜3),DWi(i=1〜3)が接続されている。
IGBT素子Ui(i=1〜3),Vi(i=1〜3),Wi(i=1〜3)のゲートには図示しないECUよりゲートドライブ回路を介してIGBT素子Ui(i=1〜3),IGBT素子Vi(i=1〜3),IGBT素子Wi(i=1〜3)をオン/オフするパルス信号が入力される。各IGBT素子U1,V1,W1のエミッタ及び各IGBT素子U2,V2,W2のコレクタは、第1モータ6のU,V,W相の例えば固定子巻線などのコイル端子(制御端子)に各相個別に接続されている。また、各IGBT素子U2,V2,W2のエミッタ及び各IGBT素子U3,V3,W3のコレクタは、第2モータ8のU,V,W相の例えば固定子巻線などのコイル端子(制御端子)に各相個別に接続されている。
インバータ回路4においては、第1モータ6の駆動及び回生作動を制御する際には、各相にある3つのIGBT素子においてLo側IGBT素子U3,V3,W3がON状態に固定され、IGBT素子U1,U2、V1,V2、W1,W2による構成される等価的な第1インバータに対して、IGBT素子U1,U2、V1,V2、W1,W2をパルス幅変調(PWM)方式によりON/OFF駆動するゲート信号がECUから入力される。
また、第2モータ8の駆動及び回生作動を制御する際には、トリプルブリッジインバータ回路4の各相にある3つのIGBT素子においてHi側IGBT素子U1,V1,W1がON状態に固定され、IGBT素子U2,U3、V2,V3、W2,W3により構成される等価的な第2インバータに対して、IGBT素子U2,U3、V2,V3、W2,W3をパルス幅変調方式によりON/OFF駆動するゲート信号がECUから入力される。
第1及び第2モータ6,8は、トリプルブリッジインバータ回路4との間で電力変換が行われる負荷であり、3相電力機器、例えば、ハイブリッド車両や電動車両などの車両に駆動源として搭載されるDCブラシレスモータ等である。第1モータ6は、例えば、車両に駆動源として搭載されるDCブラシレスモータ等であり、第2モータ8は、例えば、車両に搭載される空調装置等を駆動する車両用補機としてのDCブラシレスモータ等である。
図2は、図1に示すトリプルブリッジインバータ回路4の実装構造を示す図である。フィン37が下部に形成されたヒートシンク36上にU相インバータモジュール20#U,V相インバータモジュール20#V及びW相インバータモジュール20#Wが、フィン37の下方に形成されるトリプルブリッジインバータ回路4を冷却するための冷却経路38に供給される冷媒の流動方向と直角に並べて配置されている。
U相の正極接続端子22#U及び負極接続端子24#U、V相の正極接続端子22#V及び負極接続端子24#V、並びにW相の正極接続端子22#W及び負極接続端子24#Wが、冷却経路38の下流側38Dに設けられる。U相の第1及び第2出力端子26#U,28#U、V相の第1及び第2出力端子26#V,28#V及びW相の第1及び第2出力端子26#W,28#Wが冷却経路38の上流側38Uに設けられる。
正極接続端子22#U,22#V,22#Wは正極側の電源ラインを通して直流電源2の正極に接続される。負極接続端子24#U,24#V,24#Wは、負極側の電源ラインを通して直流電源2の負極に接続される。第1出力端子26#U,26#V,26#Wは、第1出力ラインを通して第1モータ6のU,V,W相のコイルの端子に接続される。第2出力端子28#U,28#V,28#Wは、第2出力ラインを通して第2モータ8のU,V,W相のコイルの端子に接続される。
U相インバータモジュール20#Uの上面から突出する信号端子30#Ui(i=1〜3)はECUからU相のIGBT素子Ui(i=1〜3)のゲートなどにゲート信号を入力する端子である。V相インバータモジュール20#Vの上面から突出する信号端子30#Vi(i=1〜3)はECUからV相のIGBT素子Vi(i=1〜3)のゲートなどにゲート信号などを入力する端子である。W相インバータモジュール20#Wの上面から突出する信号端子30#Wi(i=1〜3)はECUからW相のIGBT素子Wi(i=1〜3)のゲートなどにゲート信号を入力する端子である。信号端子30#Ui(i=1〜3),30#Vi(i=1〜3),30#Ui(i=1〜3)が図示しないコネクタを通して、図示しないゲートドライブ回路などに接続される。
トリプルブリッジインバータ回路4の冷却経路38に冷却装置により供給される冷媒は、ファンによる冷却風や冷却水である。図3は冷却経路38に冷却水を供給する冷却装置の一例を示す図である。冷却装置50は、例えば、図3(a)に示すように、内燃機関52と第1モータ6と変速機56を直列に直結した構造のハイブリッド車両49に搭載されており、このハイブリッド車両49では、例えば内燃機関52及び走行用の第1モータ6の両方の駆動力は、変速機56を介して駆動輪Wに伝達される。
第1モータ6は、ハイブリッド車両49の運転状態に応じて内燃機関52の駆動力を補助する補助駆動力を発生するようになっている。また、ハイブリッド車両49の減速時に車輪W側から第1モータ6側に駆動力が伝達されると、第1モータ6は、発電機として機能していわゆる回生制動力を発生し、車体の運動エネルギーを電気エネルギーとして回収する。
ウォータポンプ62の下流側に配置された図示しないウォータジャケットから排出される冷却水は、ラジエータ64に流通し、ラジエータ64からインバータユニット4Aの下方に形成された冷却経路38に供給される。冷却経路38に供給された冷却水は、第1モータ6の冷却経路に供給された後、ウォータポンプ62を通して、ウォータジャケットに還流する。インバータユニット4Aとは、図2に示すインバータモジュール及び図示しない平滑コンデンサを含み、正極接続端子22#U,22#V,22#W等が正極側の電源ライン等に接続されて車両に搭載可能となったものをいう。
インバータユニット4Aは、図3(b)に示すように、略直方体箱型のケース70a内にインバータモジュール20#U,20#V,20#Wの第1及び第2出力端子26#U,28#U、26#V,28#V及び26#W,28#Wが第1側部71に隣接し、正極接続端子22#U,22#V,22#W及び負極接続端子24#U,24#V,24#Wが第2側部72に隣接するように収容される。
ケース70aの開口部近傍の位置において、側部71,72には、底面上で開口し、鉛直方向Vに向かい所定の深さを有する各側部溝部71a,72aが形成されている。ケース70aの開口部近傍の位置において、一方の側部71には、この側部71の内部に形成された側部溝部71aに連通して外部から側部溝部71aに冷却水を供給可能な供給配管71bが設けられ、他方の側部72には、この側部72の内部に形成された側部溝部72aに連通して側部溝部72a内から外部へと冷却水を排出可能な排出配管72bが設けられている。
上記ケース70aの構造により、供給配管71bから供給された冷却水は、側部溝部71a、底部及び側部72を通して,排出配管72bより排出され、供給配管71a→側部溝部71a→底部→側部溝部72a→排出配管72bの経路からなる冷却経路38が形成され、この冷却経路38に冷却水が供給されることにより、ケース70aに収納されたインバータユニット4AのIGBT素子などが冷却される。
冷却装置としてファンが使用される場合は、第1出力端子26#U,26#V,26#W及び第2出力端子28#U,28#V,28#Wを正極接続端子22#U,22#V,22#W及び負極接続端子24#U,24#V,24#Wよりもファンから供給される冷風が上流側になるよう配置する。
図4は、図2中のインバータモジュール20#U,20#V,20#Wの内部実装構造を示す図である。インバータモジュール20#U,20#V,20#Wの実装構造は、実質的に同一であり、インバータモジュール20#U,20#V,20#Wのヒートシンク36上での配置位置が異なるのみであるので、一つのインバータモジュール、例えば、インバータモジュール20#Uの実装構造について説明する。
図5は第1実施形態によるインバータモジュール20#Uの実装構造を示す図である。この第1実施形態はビームリードのインバータモジュールである。ビームリードとは、IGBT素子86#Ui(i=1〜3)及びフライホイールダイオード88#Ui(i=1〜3)の電極両面を半田で接続することをいう。
図5(a)に示すように、インバータモジュール20#Uは、絶縁材82#U上に、導体板84#Ui(i=1〜3)及び端子台92#Uが接着等により固定されている。絶縁材82#Uは、セラミックやエポキシなどである。導体板84#Ui(i=1〜3)は、第1〜3基板であり、端子台92#Uを挟んで配置されている。導体板84#Ui(i=1〜3)は、例えば、平面形状が長方形の銅板である。
図5(a)及び図5(a)のA−A線断面図である図5(b)に示すように、正極接続端子22#Uは導体板84#U1の長手方向に平行に延伸されて形成された導電板で構成され、導体板84#U1に半田又は超音波により接合されている。導体板84#U1及び導体板84#U3は、互いの長手方向が隣接するように端子台92#Uを挟んで配置される。導体板84#U2は、長手方向が導体板84#U1,84#U3の短手方向に隣接するように端子台92#Uを挟んで配置されている。
導体板84#U1上に、図5(a)及び図5(b)に示すように、その長手方向にHi側IGBT素子86#U1及びHi側フライホイールダイオード88#U1が並んで配置され、Hi側IGBT素子86#U1のコレクタ電極及びHi側フライホイールダイオード88#U1のカソード電極が半田94#U1,96#U1により接合されている。例えば、Hi側IGBT素子86#U1を正極接続端子22#U側に、Hi側フライホイールダイオード88#U1を導体板84#U2側にして、配置されている。Hi側IGBT素子86#U1及びHi側フライホイールダイオード88#U1の位置は逆でも良い。
接続導体板(接続バスバー)90#Uは、図5(a)及び図5(b)に示すように、Hi側IGBT素子86#U1のコレクタ電極に対向して形成されたエミッタ電極及びHi側フライホイールダイオード88#U1のカソード電極に対向して形成されたアノード電極に半田95#U1,97#U1により接合されている。また、接続導体板90#Uは、図5(b)に示すように、その一端が導体板84#U2に半田又は超音波により接合されている。
図5(b)及び図5(a)中のB−B線断面図である図5(c)に示すように、導体板84#U2上に、その長手方向にMid側IGBT素子86#U2及びMid側フライホイールダイオード88#U2が並んで配置され、MiD側IGBT素子86#U2のコレクタ電極及びMid側フライホイールダイオード88#U2のカソード電極が半田94#U2,96#U2により接合されている。例えば、MiD側IGBT素子86#U2を導体板84#U1の短手側に隣接し、MiD側フライホイールダイオード88#U2を導体板84#U3の短手側に隣接にして、配置されている。MiD側IGBT素子86#U2及びMiD側フライホイールダイオード88#U2の位置は逆でも良い。
第1出力端子(第1出力バスバー)26#Uは、図5(a)及び図5(c)に示すように、正極接続端子22#Uと逆方向に延伸されて形成された導電板で構成され、導体板84#U2上に、半田又は超音波により接合されている。
第2出力端子(第2出力バスバー)28#Uは、正極接続端子22#Uと逆方向、且つ第1出力端子26#Uと平行に延伸されて形成された導電板で構成され、図5(a)〜図5(c)に示すように、MiD側IGBT素子86#U2のコレクタ電極に対向して形成されたエミッタ電極及びMiD側フライホイールダイオード88#U2のカソード電極に対向して形成されたアノード電極と半田95#U2,97#U2により接合されている。第2出力端子28#Uは、図5(c)に示すように、その一端が導体板84#U3に、半田又は超音波により接合されている。
導体板84#U3上に、図5(a)及び図5(c)に示すように、その長手方向にLo側IGBT素子86#U3及びLo側フライホイールダイオード88#U3が並んで配置され、Lo側IGBT素子86#U3のコレクタ電極及びLo側フライホイールダイオード88#U3のカソード電極が半田94#U3,96#U3により接合されている。例えば、Lo側IGBT素子86#U3を導体板84#U2の長手方向に隣接し、Lo側フライホイールダイオード88#U3をLo側IGBT素子86#U3と反対側に配置されている。Lo側IGBT素子86#U3及びLo側フライホイールダイオード88#U3の位置は逆でも良い。
負極接続端子24#Uは、正極接続端子22#Uと同方向平行に延伸されて形成された導電板で構成され、図5(a)及び図5(c)に示すように、Lo側IGBT素子86#U3のコレクタ電極に対向して形成されたエミッタ電極上及びLo側フライホイールダイオード88#U3のカソード電極に対向して形成されたアノード電極に、半田95#U3,97#U3により接合されている。導体板84#Ui(i=1〜3)の形状、並びにIGBT素子86#Ui(i=1〜3)及びフライホイールダイオード88#Ui(i=1〜3)の配置及び素子が同じである。
信号端子30#Vi(i=1〜3)及び信号端子30#Vi(i=1〜3)に対応して電極パターンが形成されている端子台92#Uは、導体板84#Ui(i=1〜3)を挟んで配置されている。電極パターンは、ワイヤ92#Ui(i=1〜3)により、IGBT素子86#Ui(i=1〜3)の上面に設けられたゲート電極などに接続される。インバータモジュール20#Uは、エポキシ樹脂等のモールド材83#Uにより全面封止される。
図5に示したインバータモジュール20#U,20#V,20#Wが、図6(a)に示すように、ヒートシンク36上に塗布・形成されたサーマルコンパウンド110上に、搭載・固定されて、図6(b)に示すインバータ20が形成される。
図7は図5に示したインバータモジュール20#Uの電流の流れを示す図である。例えば、IGBT素子86#Ui(i=1〜3)が全てON状態のとき、図7に示すように、第1電流I1は、正極接続端子22#U→導体板84#U1→Hi側IGBT素子86#U1のコレクタ→Hi側IGBT素子86#U1のエミッタ→接続導体板90#U→導体板84#U2→第1出力端子26#Uと流れる。
図7に示すように、第2電流I2は、正極接続端子22#U→導体板84#U1→Hi側IGBT素子86#U1のコレクタ→Hi側IGBT素子86#U1のエミッタ→接続導体板90#U→導体板84#U2→MiD側IGBT素子86#U2のコレクタ→MiD側IGBT素子86#U2のエミッタ→第2出力端子28#Uと流れる。
図7に示すように、第3電流I3は、正極接続端子22#U→導体板84#U1→Hi側IGBT素子86#U1のコレクタ→Hi側IGBT素子86#U1のエミッタ→接続導体板90#U→導体板84#U2→MiD側IGBT素子86#U2のコレクタ→MiD側IGBT素子86#U2のエミッタ→第2出力端子28#U→導体板84#U3→Lo側IGBT素子86#U3のコレクタ→Lo側IGBT素子86#U3のエミッタ→負極接続端子24#Uと流れる。
同様に、例えば、Hi側IGBT素子86#U1がOFF状態、MiD側IGBT素子86#U2がON状態、Lo側IGBT素子86#U3がON状態、Hi側IGBT素子86#V1がON状態、MiD側IGBT素子86#V2がOFF状態、Lo側IGBT素子86#V3がON状態のとき、電流は、第1出力端子26#V→第1出力端子26#U→導体板84#U2→MiD側IGBT素子86#U2のコレクタ→MiD側IGBT素子86#U2のエミッタ→第2出力端子28#U→導体板84#U3→Lo側IGBT素子86#U3のコレクタ→Lo側IGBT素子86#U3のエミッタ→負極接続端子24#Uと流れて、第1モータ6が駆動制御される。
また、Hi側IGBT素子86#U1,86#V1,86#W1がON状態、MiD側IGBT素子86#U2がOFF状態、Lo側IGBT素子86#U3がON状態、MiD側IGBT素子86#V2がON状態、Lo側IGBT素子86#V3がOFF状態のとき、電流は、第2出力端子28#V→第2出力端子28#U→導体板84#U3→Lo側IGBT素子86#U3のコレクタ→Lo側IGBT素子86#U3のエミッタ→負極接続端子24#Uと流れて、第2モータ8が駆動制御される。
このとき、図4及び図8に示すように、発熱が大きいインバータモジュール20#U,20#V及び20#WのMiD側IGBT素子86#U2、86#V2、86#W2を冷却経路38の上流38Uに配置し、発熱がより小さいインバータモジュール20#U,20#V及び20#WのHi側IGBT素子IGBT素子86#U1,86#V1,86#W1及びLo側IGBT素子86#U3,86#V3,86#W3を冷却経路38の下流38Dに配置したので、インバータ4全体の熱バランスが均等化される。
インバータ4全体の熱バランスが均等化されるので、上述のように、IGBT素子86#Ui(i=1〜3),86#Vi(i=1〜3),86#Wi(i=1〜3)及びフライホイールダイオード88#Ui(i=1〜3),88#Vi(i=1〜3),88#Wi(i=1〜3)の統一化が図れる。
図9〜図12を参照して、ビームリードの場合のインバータユニットの製造方法を説明する。まず、インバータモジュール20#Uの製造方法の説明をする。図9(a)に示すように、導体板84#U1上に半田94#U1,96#U1、半田94#U1上にHi側IGBT素子86#U1のコレクタ、半田96#U1上にフライホイールダイオード88#U1のカソード、Hi側IGBT素子86#U1のコレクタに対向して形成されたエミッタ上に半田95#U1、フライホイールダイオード88#U1のカソードに対向して形成されたアノード上に半田97#U1、半田95#U1,97#U1上に接続導体板90#Uを配置する(半田接合前工程)。
図9(b)に示すように、半田94#U1,95#U1,96#U1,97#U1を溶融し、導体板84#U1上に、Hi側IGBT素子86#U1のコレクタ及びフライホイールダイオード88#U1のカソードを接合し、Hi側IGBT素子86#U1のエミッタ及びフライホイールダイオード88#U1のアノードに接続導体板90#Uを接合する(半田接合工程)。
同様に、導体板84#U2上に、Mid側IGBT素子86#U2のコレクタ及びフライホイールダイオード88#U2のカソードを半田により接合し、MiD側IGBT素子86#U2のエミッタ及びフライホイールダイオード88#U2のアノードにT字形状の第2出力端子28#Uを半田により接合する。
また、導体板84#U3上に、Lo側IGBT素子86#U3のコレクタ及びフライホイールダイオード88#U3のカソードを半田により接合し、Lo側IGBT素子86#U3のエミッタ及びフライホイールダイオード88#U3のアノードに負極接続端子24#Uを半田により接合する。
図9(c)に示すように、導体板84#U1及び84#U3を一定距離離間して、その長手方向が平行となるよう配置し、導体板84#U2を導体板84#U1,84#U3の短手方向の面から一定距離離間して,その長手方向が導体板84#U1、84#U3の短手方向に平行となるように配置する(半田接合後U,V,W配置工程)。
図10(a)及び図11(b)に示すように、導体板84#U1と正極接続端子22#Uの一端とを接合部110#U1において半田又は超音波接合する。導体板84#U2と第1出力端子26#Uの一端とを接合部110#U2において半田又は超音波接合する。図10(a)及び図11(b)に示すように、導体板84#U2と接続導体板90#Uの一端とを接合部110#U4において半田又は超音波接合する。また、図10(a)及び図11(c)に示すように、導体板84#U3と第2出力端子28#Uの一端とを接合部110#U3において超音波接合する。図10(a)の工程を超音波・半田接合工程と呼ぶ。
図10(b)に示すように、例えば、L字型の信号端子及び電極パターンが形成された端子台92#Uを導体板84#U1と導体板84#U2の間,導体板84#U1と導体板84#U2の間に配置し、端子台92#U上に形成された電極パターンとIGBT素子86#Ui(i=1〜3)に形成された電極パターンをアルミワイヤ92#Ui(i=1〜3)により接合する(アルミワイヤ接合工程)。尚、IGBT素子84#i(i=1〜3)は、アルミワイヤ92#Ui(i=1〜3)が最短となるように配置されている。図10(c)に示すように、導体板84#Ui(i=1〜3)の下面に接着剤等によりエポキシ樹脂等の絶縁材を接合して、絶縁材82#Uを形成する(絶縁材接合工程)。
図12(a)に示すように、絶縁材82#U、導体板84#Ui(i=1〜3)、IGBT素子86#Ui(i=1〜3)及びフライホイールダイオード88#Ui(i=1〜3)等をゲルやエポキシ樹脂等のモールド材83#Uにより封止して、インバータモジュール20#Uを形成する(モールド工程)。図10(a)〜図12(a)と同様にして、インバータモジュール20#V,20#Wを形成する。
図12(b)に示すように、ヒートシンク36上にサーマルコンパウンド110を塗布した後、サーマルコンパウンド110上にインバータモジュール20#U,20#V,20#Wを並べて配置する(サーマルコンパウンド塗布工程)。図12(c)に示すように、インバータモジュール20#U,20#V,20#Wをステー112によりボルト114締めでヒートシンク36に固定する(アセンブル工程)。以上の工程を経て、図2に示すインバータモジュール20が製作される。尚、図9(b)の半田接合工程の後に、図10(c)の絶縁材接合工程を行ってから、図10(a)の超音波・半田接合工程及び図10(b)のアルミワイヤ接合工程を行っても良い。
以上説明した第1実施形態によれば、発熱の一番高い中段のIGBT素子U2,V2,W2を冷却経路の上流側に配置したので、インバータ全体の熱バランスが均等化される。インバータ全体の熱バランスが均等化されるので、素子の統一化が図れ、小型化、低コストとなる。基板及び素子を統一することで製造性の向上及び低コストとなる。
第2実施形態
図13は、第2実施形態によるインバータモジュール20#Uの実装構造を示す図である。この第2実施形態はアルミワイヤ接合によるインバータモジュールである。アルミワイヤ接合とは、IGBT素子Ui(i=1〜3)及びフライホイールダイオードDUi(i=1〜3)の電極片面を半田で、他方の電極面をアルミワイヤで接続することをいう。導体板84#Ui(i=1〜3)とIGBT素子86#Ui(i=1〜3)のコレクタ電極及びフライホイールダイオード88#Ui(i=1〜3)のカソード電極は第1実施形態と同様に半田94#i(i=1〜3)及び96#Ui(i=1〜3)で接合されている。
図13(a)及び図13(a)のA−A線断面図である図13(b)に示すように、IGBT素子86#U1のエミッタの接合部122#U1、フライホイールダイオード88#U1のアノードの接合部124#U1及び導体板84#U2の接合部122#U4がアルミワイヤ120#U1により接続されている。図13(a)、図13(b)及び図13(a)のB−B線断面図である図13(c)に示すように、IGBT素子86#U2のエミッタの接合部122#U2、フライホイールダイオード88#U2のアノードの接合部124#U2及び第2出力端子28#Uの接合部122#U5がアルミワイヤ120#U2により接続されている。
また、図13(a)及び図13(c)に示すように、IGBT素子86#U3のエミッタの接合部122#U3、フライホイールダイオード88#U3のアノードの接合部124#U3及び負極接続端子24#Uの接合部126#U3がアルミワイヤ120#U3により接続されている。尚、第2出力端子28#U及び負極接続端子24#Uは、導体板84#U2,84#U3に対して浮いている。
図13(a)及び図13(b)に示すように、正極接続端子22#Uは導体板84#U1に半田又は超音波により接合部126#U1で接合されている。図13(a)及び図13(b)に示すように、第1出力端子26#Uは導体板84#U2に半田又は超音波により接合部126#U2で接合されている。図13(a)及び図13(c)に示すように、第2出力端子28#Uは導体板84#U3に半田又は超音波により接合部126#U4で接合されている。
このアルミワイヤ接合のインバータモジュールの電流の流れ及び冷却装置による冷却効果は第1実施形態と同様である。
図14〜図16を参照して、アルミワイヤ接合の場合のインバータユニットの製造方法を説明する。まず、インバータモジュール20#Uの製造方法の説明をする。図14(a)に示すように、導体板84#U1上に半田94#U1及び半田96#U1、半田94#U1上にHi側IGBT素子86#U1のコレクタ電極、半田96#U1上にフライホイールダイオード88#U1のカソード電極となるよう配置する(半田接合前工程)。
図14(b)に示すように、半田94#U1,96#U1を溶融し、導体板84#U1上に、Hi側IGBT素子86#U1のコレクタ及びフライホイールダイオード88#U1のカソードを接合する(半田接合工程)。同様に、導体板84#U2上に、MiD側IGBT素子86#U2のコレクタ及びフライホイールダイオード88#U2のカソードを半田により接合する。導体板84#U3上に、Lo側IGBT素子86#U3のコレクタ及びフライホイールダイオード88#U3のカソードを半田により接合する。図14(a),14(b)の工程は、Hi,Mid,Loについて共通である。
図14(c)に示すように、導体板84#U1及び84#U3を一定距離離間して、その長手方向が平行となるよう配置し、導体板84#U2を導体板84#U1,84#U3の短手方向の面から一定距離離間して,その長手方向が導体板84#U1、84#U3の短手方向に平行となるように配置する(半田接合後U,V,W配置工程)。
図15(a)に示すように、導体板84#U1と正極接続端子22#Uの一端とを接合部126#U1において半田又は超音波接合する。導体板84#U2と第1出力端子26#Uの一端とを接合部126#U2において半田又は超音波接合する。導体板84#U3と第2出力端子28#Uとを接合部126#U4において半田又は超音波接合する。負極接続端子24#Uの一端を導体板84#U3上に配置する。図15(a)の工程を超音波・半田接合工程と呼ぶ。
図15(b)に示すように、信号端子及び電極パターンが形成されたL字型の端子台92#Uを導体板84#U1と導体板84#U2の間,導体板84#U1と導体板84#U3の間に配置にする。IGBT素子86#U1のエミッタ、フライホイールダイオード88#U1のアノード及び導体板84#U2をアルミワイヤ120#U1により接合する。IGBT素子86#U2のエミッタ、フライホイールダイオード88#U2のアノード及び第2出力端子28#Uをアルミワイヤ120#U2により接合する。
IGBT素子86#U3のエミッタ、フライホイールダイオード88#U3のアノード及び負極接続端子24#Uをアルミワイヤ120#U3により接合する。更に、端子台92#U上に形成された電極パターンとIGBT素子86#Ui(i=1〜3)に形成された電極パターンをアルミワイヤ92#Ui(i=1〜3)により接合する。図15(b)の工程をアルミワイヤ接合工程と呼ぶ。
図15(c)に示すように、導体板84#U1、84#U2,84#U3の下面に接着剤等によりエポキシ樹脂等の絶縁材を接合して、絶縁材82#Uを形成する(絶縁材接合工程)。図16(a)に示すように、絶縁材82#U、導体板84#Ui(i=1〜3)、IGBT素子86#Ui(i=1〜3)及びフライホイールダイオード88#Ui(i=1〜3)等をゲルやエポキシ樹脂等のモールド材83#Uにより封止して、インバータモジュール20#Uを形成する(モールド工程)。図14(a)〜図16(a)と同様にして、インバータモジュール20#V,20#Wを形成する。
図16(b)に示すように、ヒートシンク36上にサーマルコンパウンド110を塗布した後、サーマルコンパウンド110上にインバータモジュール20#U,20#V,20#Wを並べて配置する(サーマルコンパウンド塗布工程)。図16(c)に示すように、インバータモジュール20#U,20#V,20#Wをステー112によりボルト114締めでヒートシンク36に固定する(アセンブル工程)。以上の工程を経て、図2に示すインバータモジュール20が製作される。尚、図14(b)の半田接合工程の後に、図15(c)の絶縁材接合工程を行ってから、図15(a)の超音波・半田接合工程、図15(b)のアルミワイヤ接合工程を行っても良い。
以上説明した第2実施形態によれば、第1実施形態と同様の効果が得られる。更に、図14(a),14(b)の工程はHi側,MiD側及びLo側について共通であり、15(a)の超音波・半田接合工程の接合点数は、Hi側,MiD側及びLo側で同じ1個であり、正極接続端子22#U及び第1出力端子26#Uの形状が同一であることから、工程を簡単にできる。
次に、一般のL(Lは4以上の自然数)段に配置されたスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、N(Nは2以上の自然数)個の前記直列回路が並列に接続されたL段N相ブリッジインバータ回路を有するインバータ装置の場合の実装構造の説明をする。K=L−1とおく。
(1) K(=モータ数)が偶数の場合
全ての相ついて同一構造となるので、U相の場合について説明をする。Kが偶数(L=2×P+1)の場合は、IGBT素子86#Ui(i=1〜L)は奇数となる。直列に接続されたL個のIGBT素子86#Ui(i=1〜L)は初段(Hi側)を86#U1、最終段(Lo側)を86#ULとする。IGBT素子86#Ui及びフライホイールダイオード88#iが設けられた導体板(基板)84#Ui(i=1〜L)は次のように配置される。
図17(a)及び図17(b)、並びに図18(a)及び図18(b)に示すように、導体板84#Ui(i=1〜P)は、縦列に配置される。導体板84#Ui(i=P+2〜2P+1)は、導体板84#Uj(j=L+1−i)の長手方向に隣接し、縦列に配置される。また、導体板84#U(P+1)は、冷却経路の最上流側となるよう長手方向が導体板84#UP及び84#U(P+2)の短手方向に隣接して配置する。
端子台152#Ui(i=1〜P−1)は、導体板84#Ui(i=P+3〜2P+1)と導体板84#Uj(j=L+1−i)とに挟まれて形成される。端子台152#Ui(i=P)は、導体板84#Ui(i=P,P+1,P+2)に挟まれて配置される。
L個のIGBT素子86#Ui(i=1〜L)を導体板84#Ui(i=1〜L)及び正極接続端子22#U、負極接続端子24#U、K個のモータが接続される出力端子150#Ui(i=1〜K)又は接続端子90#Uを通して直列に接続する。例えば、出力端子150#Ui(i=1〜K)をIGBT素子86#Ui(i=1〜L−1)のエミッタ、フライホイールダイオード88#Ui(i=1〜L−1)のアノード及び導体板84#U(i+1)(i=1〜L−1)に接続する。
K=2の場合、図17(a)に示すように、出力端子150#Ui(i=1,2)を導体板84#U2上及び導体板84#U2の上方に平行に延伸して形成するか、図17(b)に示すように、出力端子150#U1を導体板84#U1の上方に導体板84#U1の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#U2を導体板84#U2の上方に導体板84#U2の短手方向に平行に延伸して形成する。
K=4の場合、図18(a)に示すように、出力端子150#U1,150#U2を導体板84#U1,84#U2の上方に導体板84#U1,84#U2の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#3を導体板84#U3の上方に導体板84#U3の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#U4を導体板84#U4の上方に導体板84#U4の短手方向に平行に延伸して形成する。
K=6の場合、図18(b)に示すように、出力端子150#U1,150#U2,150#U3を導体板84#U1,84#U2,84#U3の上方に導体板84#U1,84#U2,84#U3の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#U4を導体板84#U4の上方に導体板84#U4の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#U5,150#U6を導体板84#U5,84#U6の上方に導体板84#U5,84#U6の短手方向に平行に延伸して形成する。
一般化すると、出力端子150#Ui(i=1〜P)を導体板84#Ui(i=1〜P)の上方に84#Ui(i=1〜P)の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#U(P+1)を導体板84#U(P+1)の上方に84#U(P+1)の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#Ui(i=P+2〜L−1)を導体板84#Ui(i=P+1〜L−1)の上方に導体板84#Ui(i=P+1〜L−1)の短手方向に平行に延伸して形成する。
(2) K(=モータ数)が奇数の場合
Kが奇数(L=2×P)の場合は、IGBT素子86#Ui(i=1〜L)は偶数となる。但し、直列に接続されたL個のIGBT素子86#Ui(i=1〜L)は初段(Hi側)を86#U1、最終段(Lo側)を86#ULとする。IGBT素子86#Ui及びフライホイールダイオード88#iが形成された導体板(基板)84#Ui(i=1〜L)は次のように配置される。
図19(a)〜(c)に示すように、導体板84#Ui(i=1〜P)は、長手方向に縦列に配置される。導体板84#Ui(i=P+1〜2P)は、導体板84#Uj(j=L+1−i)の長手方向に隣接し、長手方向に縦列に配置される。端子台152#Ui(i=1〜P)は、導体板84#Ui(i=P+1〜2P)と導体板84#Uj(j=L+1−i)とに挟まれて形成される。
L個のIGBT素子86#Ui(i=1〜L)を導体板84#Ui(i=1〜L)及び正極接続端子22#U、負極接続端子24#U及びK個のモータが接続される出力端子160#Ui(i=1〜K)を通して直列に接続する。例えば、出力端子160#Ui(i=1〜L−1)をIGBT素子86#Ui(i=1〜L−1)のエミッタ、フライホイールダイオード88#Ui(i=1〜L−1)のアノード及び導体板84#U(i+1)(i=1〜L−1)に接続する。導体板84#UP,84#U(P+1)を冷却経路の最上流に配置する。
K=3の場合、図19(a)に示すように、出力端子160#U1を導体板84#U1の上方に導体板84#U1の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子160#U2を導体板84#U2の上方に導体板84#U2の長手方向に平行に延伸して形成し、出力端子160#U3を導体板84#U3の上方に導体板84#U3の短手方向に平行に延伸して形成する。
K=5の場合、図19(b)に示すように、出力端子160#Ui(i=1〜2)を導体板84#Ui(i=1〜2)の上方に導体板84#Ui(i=1〜2)の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子160#3を導体板84#U3の上方に導体板84#U3の長手方向に平行に延伸して形成し、出力端子160#Ui(i=4,5)を導体板84#U4,84#U5の上方に導体板84#Ui(i=4,5)の短手方向に平行に延伸して形成する。
K=7の場合、図19(c)に示すように、出力端子160#Ui(i=1〜3)を導体板84#Ui(i=1〜3)の上方に導体板84#Ui(i=1〜3)の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#4を導体板84#U4の上方に導体板84#U4の長手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#Ui(i=5〜7)を導体板84#Ui(i=5〜7)の上方に導体板84#Ui(i=5〜7)の短手方向に平行に延伸して形成する。
一般化すると、出力端子150#Ui(i=1〜P−1)を導体板84#Ui(i=1〜P−1)の上方に84#Ui(i=1〜P−1)の短手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#UPを導体板84#UPの上方に84#UPの長手方向に平行に延伸して形成し、出力端子150#Ui(i=P+1〜L−1)を導体板84#Ui(i=P+1〜L−1)の上方に導体板84#Ui(i=P+1〜L−1)の短手方向に平行に延伸して形成する。
モータ数が奇数でも偶数でも、正極接続端子22#Uが設けられた導体板84#U1、負極接続端子24#Uが設けられた導体板84#UL、導体板84#U(P+1)又は84#UP(L=2P+1又はL=2P)、それ以外の導体板と4仕様形状となる。全てにおいて、導体板(銅版)、IGBT素子及びフライホイールダイオードのチップ位置は同じであり、最上流の出力端子以外の出力端子の形状は同一であり、正極接続端子22#Uが接続されるまでは、3仕様で形成可能である。
以上説明したように、L(Lは4以上の自然数)段に配置されたスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、N(Nは2以上の自然数)個の前記直列回路が並列に接続されたL段N相ブリッジインバータ回路を有するインバータ装置においても、第1及び第2実施形態と同様の効果がある。
本発明のインバータ装置の構成図である。 本発明の実施形態によるインバータを示す図である。 冷却装置を示す図である。 本発明の実施形態によるインバータと冷却経路の関係を示す図である。 本発明の第1実施形態によるインバータを示す図である。 本発明の第1実施形態によるインバータを示す図である。 電流の流れを示す図である。 本発明の効果を説明するための図である。 本発明の第1実施形態によるインバータの製造方法を示す図である。 本発明の第1実施形態によるインバータの製造方法を示す図である。 本発明の第1実施形態によるインバータの製造方法を示す図である。 本発明の第1実施形態によるインバータの製造方法を示す図である。 本発明の第2実施形態によるインバータを示す図である。 本発明の第2実施形態によるインバータの製造方法を示す図である。 本発明の第2実施形態によるインバータの製造方法を示す図である。 本発明の第2実施形態によるインバータの製造方法を示す図である。 モータ数が偶数の場合のインバータを示す図である。 モータ数が偶数の場合のインバータを示す図である。 モータ数が奇数の場合のインバータを示す図である。 2段3相インバータを示す図である。
符号の説明
20#U,20#V,20#W インバータモジュール
22#U,22#V,22#W 正極接続端子
24#U,24#V,24#W 負極接続端子
26#U 第1出力端子
28#U 第2出力端子
38 冷却経路
84#Ui(i=1〜3) 導体板
86#Ui(i=1〜3) IGBT素子
88#Ui(i=1〜3) フライホイールダイオード
90 接続導体

Claims (9)

  1. 3段に配置された複数のスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、3つの前記直列回路が並列に接続されたトリプルブリッジインバータ回路を有するインバータ装置であって、
    2段目の前記スイッチング素子が前記トリプルブリッジインバータ回路の冷却のための冷媒が供給される冷却経路の上流側に配置され、1段目及び3段目の前記スイッチング素子が前記冷却経路の下流側に配置されていることを特徴とするインバータ装置。
  2. 前記トリプルブリッジインバータ回路の所定相の1段目の前記スイッチング素子及び2段目の前記スイッチング素子に接続された第1出力端子、並びに前記トリプルブリッジインバータ回路の前記所定相の2段目のスイッチング素子及び3段目の前記スイッチング素子に接続された第2出力端子が、前記冷却経路の上流側に配置され、1段目の前記スイッチング素子に接続された直流電源の正極入力端子及び3段目の前記スイッチング素子に接続された前記直流電源の負極入力端子が前記冷却経路の下流側に配置されていることを特徴とする請求項1記載のインバータ装置。
  3. 第1導体板を含み該第1導体板上に1段目の前記スイッチング素子及びダイオードが設けられた第1基板と、第2導体板を含み該第2導体板上に2段目の前記スイッチング素子及びダイオードが設けられた第2基板と、第3導体板を含み該第3導体板上に3段目の前記スイッチング素子及びダイオードが設けられた第3基板と、1段目の前記スイッチング素子及びダイオード並びに前記第2導体板に接続された第1接続導体とを備え、前記第2基板は前記第1及び第3基板よりも前記冷却経路の上流側に配置されていることを特徴とする請求項2記載のインバータ装置。
  4. 前記正極入力端子は前記第1導体板に接続され、前記第1出力端子は前記第2導体板に接続され、前記第2出力端子は2段目の前記スイッチング素子及びダイオード並びに前記第3導体板に接続された第2接続導体から成り、
    第1電流は、前記正極入力端子、前記第1導体板、1段目の前記スイッチング素子、前記第1接続導体及び前記第2導体板を通して前記第1出力端子に流れ、
    第2電流は、前記第2接続導体、前記第3導体板及び3段目の前記スイッチング素子を通して前記負極入力端子に流れるよう構成されていることを特徴とする請求項3記載のインバータ装置。
  5. 前記第1、第2及び第3基板は、互いに所定距離離間して配置され、前記第1、第2及び第3基板間に、1段目、2段目、及び3段目の前記スイッチング素子をON/OFFするための駆動信号端子が配置されていることを特徴とする請求項4記載のインバータ装置。
  6. (2×M+1)(Mは2以上の自然数)段に配置されたスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、N(Nは2以上の自然数)個の前記直列回路が並列に接続された(2×M+1)段N相ブリッジインバータ回路を有するインバータ装置であって、
    j(j=2から2×Mまでの自然数)段目の前記スイッチング素子が、1段目及び(2×M+1)段目の前記スイッチング素子よりも、前記M段N相ブリッジインバータ回路の冷却のための冷媒が供給される冷却経路の上流側に配置されていることを特徴とするインバータ装置。
  7. 第k(kは1〜(2×M+1)までの自然数)導体板を含み該第k導体板上にk(kは1〜(2×M+1)までの自然数)段目の前記スイッチング素子及び第kダイオードが設けられた第k基板と、前記第k導体板(kは1)に接続された直流電源の正極入力端子と、(2×M+1)段目の前記スイッチング素子及び第kダイオード(kは(2×M+1))に接続された前記直流電源の負極入力端子と、第k(kは1〜(2×M)までの自然数)段目のスイッチング素子及び第kダイオード並びに第(k+1)(kは1〜(2×M)までの自然数)導体板に接続された第k出力端子とを備え、
    前記第k基板(kは(1からMまでの自然数))は前記第(k+1)基板(kは(1からMまでの自然数))よりも前記冷却経路の下流側に配置され、
    前記第k基板(kは(M+1)から2×Mまでの自然数))は前記第(k+1)基板(kは((M+1)から2×Mまでの自然数))よりも前記冷却経路の上流側に配置されていることを特徴とする請求項6記載のインバータ装置。
  8. (2×M)(Mは2以上の自然数)段に配置されたスイッチング素子により直列回路が構成されるとともに、N(Nは2以上の自然数)個の前記直列回路が並列に接続された(2×M)段N相ブリッジインバータ回路であって、
    j(j=2から(2×M−1)の自然数)段目の前記スイッチング素子が、前記1段目及び(2×M)段目の前記スイッチング素子よりも前記M段N相ブリッジインバータ回路の冷却のための冷媒が供給される冷却経路の上流側に配置されていることを特徴とするインバータ装置。
  9. 第k(kは1〜(2×M)までの自然数)導体板を含み該第k導体板上にk(kは1〜(2×M)までの自然数)段目の前記スイッチング素子及び第kダイオードが設けられた第k基板と、前記第k導体板(kは1)に接続された直流電源の正極入力端子と、(2×M)段目の前記スイッチング素子及び第kダイオード(kは(2×M))に接続された前記直流電源の負極入力端子と、第k(kは1〜(2×M−1)までの自然数)段目のスイッチング素子及び第kダイオード並びに第(k+1)(kは1〜(2×M−1)までの自然数)導体板に接続された第k出力端子とを備え、
    前記第k基板(kは1から(M−1)までの自然数)は前記第(k+1)基板(kは(1から(M−1)までの自然数))よりも前記冷却経路の下流側に縦列に配置され、
    前記第k基板(kは(M+1)から(2×M−1)までの自然数)は前記第(k+1)基板(kは(M+1)から(2×M−1)までの自然数)よりも前記冷却経路の上流側に縦列に配置されていることを特徴とする請求項8記載のインバータ装置。
JP2006261821A 2006-09-27 2006-09-27 インバータ装置 Withdrawn JP2008086099A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006261821A JP2008086099A (ja) 2006-09-27 2006-09-27 インバータ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006261821A JP2008086099A (ja) 2006-09-27 2006-09-27 インバータ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008086099A true JP2008086099A (ja) 2008-04-10

Family

ID=39356383

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006261821A Withdrawn JP2008086099A (ja) 2006-09-27 2006-09-27 インバータ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008086099A (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010137162A1 (ja) 2009-05-29 2010-12-02 トヨタ自動車株式会社 交流電動機の制御装置および制御方法
JP2011151981A (ja) * 2010-01-22 2011-08-04 Mitsubishi Electric Corp 車載用電力変換装置
JP2013048507A (ja) * 2011-08-29 2013-03-07 Toshiba Corp 電力変換装置
WO2013140704A1 (ja) * 2012-03-21 2013-09-26 富士電機株式会社 電力変換装置
WO2014041722A1 (ja) * 2012-09-12 2014-03-20 カルソニックカンセイ株式会社 半導体装置
WO2014174854A1 (ja) * 2013-04-25 2014-10-30 富士電機株式会社 半導体装置
CN104377969A (zh) * 2014-11-04 2015-02-25 广东明路电力电子有限公司 并联式集成封装大功率变流模组
JP2015156799A (ja) * 2015-04-23 2015-08-27 株式会社東芝 電力変換装置
JP5887007B1 (ja) * 2015-07-07 2016-03-16 カルソニックカンセイ株式会社 パワー半導体装置
JPWO2014033857A1 (ja) * 2012-08-29 2016-08-08 株式会社安川電機 電力変換装置
WO2019194311A1 (ja) * 2018-04-06 2019-10-10 日本電産株式会社 電力変換装置

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8519653B2 (en) 2009-05-29 2013-08-27 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Control device and control method for AC motor
WO2010137162A1 (ja) 2009-05-29 2010-12-02 トヨタ自動車株式会社 交流電動機の制御装置および制御方法
JP2011151981A (ja) * 2010-01-22 2011-08-04 Mitsubishi Electric Corp 車載用電力変換装置
JP2013048507A (ja) * 2011-08-29 2013-03-07 Toshiba Corp 電力変換装置
JPWO2013140704A1 (ja) * 2012-03-21 2015-08-03 富士電機株式会社 電力変換装置
WO2013140704A1 (ja) * 2012-03-21 2013-09-26 富士電機株式会社 電力変換装置
CN104067502B (zh) * 2012-03-21 2016-08-24 富士电机株式会社 功率转换装置
CN104067502A (zh) * 2012-03-21 2014-09-24 富士电机株式会社 功率转换装置
JPWO2014033857A1 (ja) * 2012-08-29 2016-08-08 株式会社安川電機 電力変換装置
WO2014041722A1 (ja) * 2012-09-12 2014-03-20 カルソニックカンセイ株式会社 半導体装置
JP2014056920A (ja) * 2012-09-12 2014-03-27 Calsonic Kansei Corp 半導体装置
US9607931B2 (en) 2012-09-12 2017-03-28 Calsonic Kansei Corporation Semiconductor device for suppressing a temperature increase in beam leads
WO2014174854A1 (ja) * 2013-04-25 2014-10-30 富士電機株式会社 半導体装置
JPWO2014174854A1 (ja) * 2013-04-25 2017-02-23 富士電機株式会社 半導体装置
US9673129B2 (en) 2013-04-25 2017-06-06 Fuji Electric Co., Ltd. Semiconductor device
CN104377969A (zh) * 2014-11-04 2015-02-25 广东明路电力电子有限公司 并联式集成封装大功率变流模组
JP2015156799A (ja) * 2015-04-23 2015-08-27 株式会社東芝 電力変換装置
JP5887007B1 (ja) * 2015-07-07 2016-03-16 カルソニックカンセイ株式会社 パワー半導体装置
JP2017022158A (ja) * 2015-07-07 2017-01-26 カルソニックカンセイ株式会社 パワー半導体装置
WO2019194311A1 (ja) * 2018-04-06 2019-10-10 日本電産株式会社 電力変換装置
JPWO2019194311A1 (ja) * 2018-04-06 2021-04-30 日本電産株式会社 電力変換装置
JP7264159B2 (ja) 2018-04-06 2023-04-25 ニデック株式会社 電力変換装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008086099A (ja) インバータ装置
US10966355B2 (en) Electric power conversion apparatus
US10238015B2 (en) Power conversion apparatus
JP5588895B2 (ja) パワー半導体モジュール,パワー半導体モジュールの製造方法及び電力変換装置
US8422235B2 (en) Semiconductor device, and power conversion device using semiconductor device
US20150189784A1 (en) Electric Circuit Apparatus and Method for Producing Electric Circuit Apparatus
JP4567570B2 (ja) 電力変換装置
JP6259893B2 (ja) 半導体モジュール及びこれを備えた電力変換装置
JP2006049542A (ja) パワーモジュール
JP5551808B2 (ja) 半導体モジュール及びこれを備えた電力変換装置
JP6047599B2 (ja) 半導体モジュール及びこれを備えた電力変換装置
JP5706563B2 (ja) 半導体モジュール及びこれを備えた電力変換装置
JP6511506B2 (ja) 半導体モジュール及びこれを備えた電力変換装置
JP2019149560A (ja) 半導体モジュール及びこれを備えた電力変換装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20091201