JP2008072435A - Image sensor - Google Patents

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Takashi Kitada
貴司 北田
Masahiro Inoue
雅博 井上
Takahiro Komatsu
隆宏 小松
Masakazu Mizusaki
正和 水崎
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image sensor having high reliability capable of reading information with high S/N by decreasing the number of connections between photoelectric conversion elements and a driving circuit. <P>SOLUTION: The image sensor has, on a glass substrate 2, a plurality of photoelectric conversion element arrays 3 such that photoelectric conversion elements each comprising a photoelectric conversion layer sandwiched between a pair of an anode and a cathode and formed of an organic compound layer are arranged in array, and an IC chip 4 which detects signal charges that photoelectric conversion elements photoelectrically convert and reads the signal charges out. An ITO anode 5a of each of photoelectric conversion elements constituting a photoelectric conversion element array 3 is formed integrally with wiring 5b connected to the IC chip 4 one to one and a cathode constituting each of the photoelectric conversion elements in the photoelectric conversion element array 3 is formed of wiring 6, having a pattern connected to two or more photoelectric conversion elements in common, on the photoelectric conversion element array 3. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、物体の形状や画像などの各種情報を電気信号として取り出すイメージセンサに関するものである。   The present invention relates to an image sensor that extracts various information such as an object shape and an image as an electrical signal.

ファクシミリやスキャナなどにおけるイメージセンサとして、光学系がロッドレンズだけで済み、小型化が容易な密着型リニアセンサが用いられている。この密着型リニアセンサは原稿と同等サイズのセンサ長を持つものであり、単結晶シリコンで形成されるCMOS(Complementary Metal−Oxide Semiconductor)センサチップやCCD(Charge−Coupled Device)センサチップを複数個並べて構成される。   As an image sensor in a facsimile, a scanner, or the like, a contact-type linear sensor that uses only a rod lens as an optical system and can be easily miniaturized is used. This close contact type linear sensor has a sensor length equivalent to that of an original, and includes a plurality of CMOS (Complementary Metal-Oxide Semiconductor) sensor chips and CCD (Charge-Coupled Device) sensor chips formed of single crystal silicon. Composed.

また、近年、イメージセンサに用いられる光電変換素子に関して、有機材料を用いた非常に簡便な方法で光電変換素子を形成できる技術が開発されている(たとえば、特許文献1参照)。
特表2002−502120号公報
In recent years, a technique capable of forming a photoelectric conversion element by an extremely simple method using an organic material has been developed for a photoelectric conversion element used in an image sensor (see, for example, Patent Document 1).
Special Table 2002-502120

しかしながら、上記従来の技術では、以下のような課題を有していた。   However, the above conventional techniques have the following problems.

(1)単結晶シリコンで形成されるCMOSセンサチップやCCDセンサチップを用いた従来の密着型リニアセンサの場合、複数のチップを精度良く配置する必要があり、またチップ間のつなぎ目に相当する箇所の情報を正確に読み取れないという課題を有していた。   (1) In the case of a conventional close contact type linear sensor using a CMOS sensor chip or a CCD sensor chip formed of single crystal silicon, it is necessary to arrange a plurality of chips with high accuracy, and a portion corresponding to a joint between the chips. There was a problem that the information could not be read accurately.

(2)(特許文献1)に記載の有機半導体製画像センサのように有機材料を用いて光電変換素子を形成すれば、非常に簡便な方法にて所定サイズ、所定解像度を有する光電変換素子アレイを形成できるため、上記(1)の課題を解決することはできる。しかしながら、有機材料を用いた光電変換素子とシリコンなどのトランジスタで形成した駆動回路との接続形態が明確化されてないという課題を有していた。   (2) If a photoelectric conversion element is formed using an organic material like the organic semiconductor image sensor described in (Patent Document 1), a photoelectric conversion element array having a predetermined size and a predetermined resolution by a very simple method. Therefore, the above problem (1) can be solved. However, there is a problem that a connection form between a photoelectric conversion element using an organic material and a driving circuit formed of a transistor such as silicon is not clarified.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、所定のセンサ長に亘って所定の配列ピッチでシームレスに読み取り可能で、光電変換素子と駆動回路との接続形態を明確化させたイメージセンサを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and is an image sensor that can be read seamlessly at a predetermined arrangement pitch over a predetermined sensor length, and the connection form between the photoelectric conversion element and the drive circuit is clarified. The purpose is to provide.

上記課題を解決するために本発明は、一対の陽極と陰極との間に狭持され有機化合物層からなる光電変換層によって構成される光電変換素子がアレイ状に配置された複数の光電変換素子アレイと、前記光電変換素子が光電変換した信号電荷を検知し、その信号電荷を読み出す駆動回路と、を基板上に備えるイメージセンサであって、前記光電変換素子アレイを構成する前記各光電変換素子の陽極は、前記駆動回路と1対1で接続される配線と一体的に形成されるとともに、前記光電変換素子アレイ中の前記各光電変換素子を構成する陰極は、2つ以上の光電変換素子に共通接続されたパターンを有する配線によって前記光電変換素子アレイ上に形成されるようにしたものである。   In order to solve the above-described problems, the present invention provides a plurality of photoelectric conversion elements in which photoelectric conversion elements each including an organic compound layer sandwiched between a pair of an anode and a cathode are arranged in an array. Each of the photoelectric conversion elements constituting the photoelectric conversion element array is an image sensor including an array and a drive circuit that detects a signal charge photoelectrically converted by the photoelectric conversion element and reads the signal charge. The anode is integrally formed with the wiring connected to the drive circuit on a one-to-one basis, and the cathode constituting each photoelectric conversion element in the photoelectric conversion element array is two or more photoelectric conversion elements Are formed on the photoelectric conversion element array by wiring having a pattern connected in common.

本発明によれば、基板上に光電変換素子の陽極とこの陽極と駆動回路を接続する配線とを一体に形成するようにしたので、容易にパターニングができ、断線やショートのない信頼性に優れたイメージセンサを提供することができるという効果を有する。また、光電変換素子上に陰極を直接形成するようにしたので、光電変換素子と陰極との密着性が向上し、光電変換素子の光電変換効率が向上する。その結果、高SN比(Signal to Noise ratio)で信号電荷を検知することができるという効果も有する。さらに、複数の光電変換素子の間で陰極を共通配線させるようにしたので、光電変換素子の陰極のパターニング数を減らすことができ、信頼性に優れたイメージセンサを提供することができるという効果も有する。   According to the present invention, since the anode of the photoelectric conversion element and the wiring connecting the anode and the drive circuit are integrally formed on the substrate, the patterning can be easily performed, and the reliability without disconnection or short circuit is excellent. An image sensor can be provided. In addition, since the cathode is directly formed on the photoelectric conversion element, the adhesion between the photoelectric conversion element and the cathode is improved, and the photoelectric conversion efficiency of the photoelectric conversion element is improved. As a result, the signal charge can be detected with a high signal-to-noise ratio (Signal to Noise ratio). Furthermore, since the cathodes are commonly wired between the plurality of photoelectric conversion elements, the number of patterning of the cathodes of the photoelectric conversion elements can be reduced, and an effect of providing an image sensor excellent in reliability can be provided. Have.

本発明の第1の発明のイメージセンサは、一対の陽極と陰極との間に狭持され有機化合物層からなる光電変換層によって構成される光電変換素子がアレイ状に配置された複数の光電変換素子アレイと、光電変換素子が光電変換した信号電荷を検知し、その信号電荷を読み出す駆動回路と、を基板上に備えるイメージセンサであって、光電変換素子アレイを構成する各光電変換素子の陽極は、駆動回路と1対1で接続される配線と一体的に形成されるとともに、光電変換素子アレイ中の各光電変換素子を構成する陰極は、2つ以上の光電変換素子に共通接続されたパターンを有する配線によって光電変換素子アレイ上に形成されるようにしたものであり、基板上に陽極と駆動回路に接続する配線のパターニングが同時にできるので所定サイズ長に亘って継ぎ目がなく、また、光電変換素子アレイの形成後に陰極を形成することで、光電変換素子アレイと陰極との密着性が向上するという作用を有する。   An image sensor according to a first aspect of the present invention includes a plurality of photoelectric conversion devices in which photoelectric conversion elements each including an organic compound layer sandwiched between a pair of anodes and cathodes are arranged in an array. An image sensor comprising an element array and a drive circuit that detects a signal charge photoelectrically converted by the photoelectric conversion element and reads the signal charge on a substrate, the anode of each photoelectric conversion element constituting the photoelectric conversion element array Is formed integrally with the wiring connected to the drive circuit in a one-to-one manner, and the cathode constituting each photoelectric conversion element in the photoelectric conversion element array is commonly connected to two or more photoelectric conversion elements. It is designed to be formed on the photoelectric conversion element array by wiring having a pattern, and the wiring connecting to the anode and the driving circuit can be patterned on the substrate at the same time, so that a predetermined size length Over no seams, also, by forming the cathode after forming the photoelectric conversion element array, with the effect that adhesion between the photoelectric conversion element array and the cathode is improved.

第2の発明のイメージセンサは、第1の発明において、駆動回路は、単結晶シリコンを用いたトランジスタで形成されたICチップ、または多結晶シリコンもしくはアモルファスシリコンの薄膜トランジスタで構成されるようにしたものであり、単結晶シリコンでトランジスタを形成するようにした場合には、移動度が高く、閾値のばらつきを低減した駆動回路が得られ、また、多結晶シリコンまたはアモルファスシリコンで薄膜トランジスタを形成するようにした場合には、基板上に直接に駆動回路を形成することができるという作用を有する。   In the image sensor of the second invention according to the first invention, the drive circuit is constituted by an IC chip formed of a transistor using single crystal silicon, or a thin film transistor of polycrystalline silicon or amorphous silicon. When a transistor is formed using single crystal silicon, a driving circuit with high mobility and reduced variation in threshold is obtained, and a thin film transistor is formed using polycrystalline silicon or amorphous silicon. In this case, the drive circuit can be formed directly on the substrate.

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1におけるイメージセンサを示す平面図であり、図2はその断面図である。図1において、1は本発明の実施の形態1におけるイメージセンサ、2はイメージセンサ1の基板としてのガラス基板、3は有機材料で形成されたイメージセンサ1の光電変換素子アレイ、4は単結晶シリコンで形成された駆動回路を搭載したIC(Integrated Circuit)チップ、5は各光電変換素子アレイ3の第1電極としてのITO(Indium Tin Oxide)陽極およびこのITO陽極から引き出されたICチップ4と接続される配線、6は各光電変換素子アレイ3の第2電極としての全てを共通にしたアルミニウム陰極(以下、アルミ陰極という)およびこのアルミ陰極から引き出された所定電圧(Vref)と接続する配線である。なお、図示しないが、ICチップ4は、光電変換素子アレイ3で生成された信号電荷を検知する検知手段と、検知手段で検知した信号電荷を読み出す信号電荷読出手段と、を有する。なお、光電変換素子アレイ3は、一対のITO陽極とアルミ陰極に挟まれた複数の光電変換素子(画素)が、ガラス基板2上にアレイ状に配列したものである。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a plan view showing an image sensor according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view thereof. In FIG. 1, 1 is an image sensor according to Embodiment 1 of the present invention, 2 is a glass substrate as a substrate of the image sensor 1, 3 is a photoelectric conversion element array of the image sensor 1 formed of an organic material, and 4 is a single crystal. An IC (Integrated Circuit) chip on which a drive circuit formed of silicon is mounted, 5 is an ITO (Indium Tin Oxide) anode as a first electrode of each photoelectric conversion element array 3, and an IC chip 4 drawn from the ITO anode A wiring 6 to be connected is an aluminum cathode (hereinafter referred to as an aluminum cathode) in which all the second electrodes of each photoelectric conversion element array 3 are shared, and a wiring for connecting to a predetermined voltage (Vref) drawn from the aluminum cathode. It is. Although not shown, the IC chip 4 includes detection means for detecting the signal charge generated by the photoelectric conversion element array 3 and signal charge reading means for reading the signal charge detected by the detection means. The photoelectric conversion element array 3 is configured such that a plurality of photoelectric conversion elements (pixels) sandwiched between a pair of ITO anodes and aluminum cathodes are arrayed on the glass substrate 2.

また、図2において、5aは光電変換素子アレイ3の第1電極であるITO陽極、5bはITO陽極5aとICチップ4とを接続する配線、7は電子供与性材料からなる電子供与性層および電子受容性材料からなる電子受容性層とで形成された光電変換素子の有機光電変換層、8はICチップ4とITO陽極5aおよび配線5bとを1対1で接続するCOG(Chip On Glass)実装接点部である。   In FIG. 2, 5a is an ITO anode which is the first electrode of the photoelectric conversion element array 3, 5b is a wiring connecting the ITO anode 5a and the IC chip 4, 7 is an electron donating layer made of an electron donating material, and An organic photoelectric conversion layer of a photoelectric conversion element formed of an electron-accepting layer made of an electron-accepting material, 8 is a COG (Chip On Glass) that connects the IC chip 4 with the ITO anode 5a and the wiring 5b in a one-to-one relationship. It is a mounting contact part.

以上のように構成されたイメージセンサの製造方法について説明する。まず、スパッタリング法によりガラス基板2上に膜厚150nmのITO膜を成膜し、このITO膜の上部にレジスト材(たとえば、東京応化製、OFPR−800)をスピンコート法により塗布して厚さ5μmのレジスト膜を形成する。そして、マスキング、露光、現像を行って、レジストをITO陽極5aと配線5bの形状にパターニングする。   A method for manufacturing the image sensor configured as described above will be described. First, an ITO film having a thickness of 150 nm is formed on the glass substrate 2 by a sputtering method, and a resist material (for example, OFPR-800, manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) is applied on the ITO film by a spin coating method. A 5 μm resist film is formed. Then, masking, exposure, and development are performed to pattern the resist into the shape of the ITO anode 5a and the wiring 5b.

その後、このガラス基板2を60℃、18Nの塩酸水溶液中に浸潰し、レジスト膜が形成されていない部分のITO膜をエッチングした後に水洗し、最後にレジスト膜を除去して、所定のパターン形状のITO膜からなるITO陽極5aおよび配線5bを一体的に形成する。   Thereafter, the glass substrate 2 is immersed in an aqueous hydrochloric acid solution of 18N at 60 ° C., and the ITO film where the resist film is not formed is etched and then washed with water. Finally, the resist film is removed to obtain a predetermined pattern shape. The ITO anode 5a and the wiring 5b made of the ITO film are integrally formed.

ついで、このガラス基板2を洗剤(たとえば、フルウチ化学社製、セミコクリーン)による5分間の超音波洗浄、純水による10分間の超音波洗浄、アンモニア水(体積比)に対して過酸化水素水と水を1:5で混合した溶液による5分間の超音波洗浄、70℃の純水による5分間の超音波洗浄の順に洗浄処理した後、窒素ブロアでガラス基板2に付着した水分を除去し、さらに250℃で加熱して乾燥させる。   Next, the glass substrate 2 is subjected to ultrasonic cleaning for 5 minutes with a detergent (for example, Semico Clean, manufactured by Furuuchi Chemical Co., Ltd.), ultrasonic cleaning for 10 minutes with pure water, and aqueous hydrogen peroxide against ammonia water (volume ratio). After 5 minutes of ultrasonic cleaning with a 1: 5 mixed solution of water and water and 5 minutes of ultrasonic cleaning with pure water at 70 ° C., water attached to the glass substrate 2 is removed with a nitrogen blower. Further, it is dried by heating at 250 ° C.

続いて、このITO陽極5aが形成されたガラス基板2上に、ポリ(3,4)エチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルフオネート(PEDT/PSS)を0.45μmのフィルタを通して滴下し、スピンコート法によって均一に塗布する。その後、これを200℃のクリーンオーブン中で10分間加熱することで厚さ60nmの電荷輸送層(図示せず)を形成する。   Subsequently, poly (3,4) ethylenedioxythiophene / polystyrene sulphonate (PEDT / PSS) is dropped on the glass substrate 2 on which the ITO anode 5a is formed through a 0.45 μm filter, and spin coating is performed. Apply evenly. Thereafter, this is heated in a clean oven at 200 ° C. for 10 minutes to form a charge transport layer (not shown) having a thickness of 60 nm.

ついで、電子供与性有機材料として機能するポリ(2−メトキシ−5−(2’一エチルヘキシルオキシ)−1,4−フェニレンビニレン)(MEH−PPV)および電子受容性材料として機能する[5,6]−フェニルC61ブチリックアシッドメチルエステル([5,6]−PCBM)とが重量比1:4からなるクロロベンゼン溶液をスピンコートした後、100℃のクリーンオーブン中で30分間加熱処理し、約100nmの有機光電変換層7を形成する。ここで、有機光電変換層7の製造方法としては、均質で平滑性の高い薄膜を安定して形成できるものであればどのようなものであってもよく、真空蒸着法、スパッタリング法などの各種真空プロセスや、スピンコート、ディッピング法、インクジェット法などのウェットプロセスなどを好適に用いることができる。使用する材料や構成などに応じて任意のプロセスを選択することが可能であるが、特に大掛かりな製造装置が不要なウェットプロセスで有機光電変換層7を形成した場合、量産性、低コスト性に優れ好ましい。   Subsequently, poly (2-methoxy-5- (2′-ethylhexyloxy) -1,4-phenylenevinylene) (MEH-PPV) that functions as an electron-donating organic material and an electron-accepting material [5, 6 After spin-coating a chlorobenzene solution having a weight ratio of 1: 4 with -phenyl C61 butyric acid methyl ester ([5,6] -PCBM), it was heat-treated in a clean oven at 100 ° C. for 30 minutes, and about 100 nm The organic photoelectric conversion layer 7 is formed. Here, the organic photoelectric conversion layer 7 may be produced by any method as long as it can stably form a uniform and highly smooth thin film, such as a vacuum deposition method and a sputtering method. A vacuum process, a wet process such as a spin coating, a dipping method, and an ink jet method can be preferably used. It is possible to select any process according to the material and configuration to be used. However, when the organic photoelectric conversion layer 7 is formed by a wet process that does not require a large-scale manufacturing apparatus, mass production and low cost can be achieved. Excellent and preferred.

最後に、この有機光電変換層7の上部に0.27mPa(=2×10-6Torr)以下の真空度まで減圧した抵抗加熱蒸着装置内にて、LiFを約1nm、続いてアルミニウムを約10nmの膜厚で成膜して、各画素で共通取出しとなるようにパターニングしたアルミ陰極と配線6を形成する。このようにして、ITO陽極5aは個別に取り出し、アルミ陰極は全て共通取り出しとなる所定サイズに亘って、所定の解像度となるシームレスな光電変換素子アレイ3を形成することができる。 Finally, LiF is about 1 nm, and then aluminum is about 10 nm in a resistance heating vapor deposition apparatus reduced to a vacuum degree of 0.27 mPa (= 2 × 10 −6 Torr) or less on the organic photoelectric conversion layer 7. The aluminum cathode and the wiring 6 are formed so as to be commonly taken out in each pixel. In this way, the seamless photoelectric conversion element array 3 having a predetermined resolution can be formed over a predetermined size in which the ITO anodes 5a are individually taken out and all the aluminum cathodes are taken out in common.

なお、MEH−PPVはp型有機半導体であり、[5,6]−PCBMはn型有機半導体で、光吸収により発生した励起子の電子はコンダクションバンドを拡散して[5,6]−PCBMに、またホールはバレンスバンドを拡散してMEH−PPVに供与されて、これらのバンドを伝導して、それぞれアルミ陰極およびITO陽極5aに伝導する。   Note that MEH-PPV is a p-type organic semiconductor, [5,6] -PCBM is an n-type organic semiconductor, and exciton electrons generated by light absorption diffuse in a conduction band to [5,6]- Holes are diffused into the PCBM and diffused into the valence band and supplied to the MEH-PPV, and these bands are conducted to the aluminum cathode and the ITO anode 5a, respectively.

この[5,6]−PCBMは、修飾されたフラーレン類であり、電子移動度が非常に大きく、加えて電子供与材料であるMEH−PPVとの混合物が利用できることから、電子−ホール対の分離搬送を効率的に行うことができ、光電効率が高くなると共に低コストの作製が可能となるという利点がある。   This [5,6] -PCBM is a modified fullerene, has a very high electron mobility, and in addition, a mixture with MEH-PPV, which is an electron donating material, can be used. There is an advantage that the transfer can be efficiently performed, the photoelectric efficiency is increased, and the low-cost production is possible.

以上のように構成されたイメージセンサの動作について図3を用いて説明する。   The operation of the image sensor configured as described above will be described with reference to FIG.

図3は、本発明の実施の形態1におけるイメージセンサの一画素の構成を示す回路図である。図3において、9はオペアンプ、10は蓄積コンデンサ、11は蓄積コンデンサ10に蓄積された電荷をリセットするリセットスイッチ、12は蓄積した電圧値を読み出すための読み出し用スイッチである。ここで、蓄積コンデンサ10は、オペアンプ9の反転入力端子と出力端子との間に配置され、積分回路を構成している。また、光電変換素子アレイ3のアルミ陰極6の電位がVref1レベルとなるように、そしてオペアンプ9の非反転力入力端子の電位がVrefレベル(ただし、Vref1≧Vref)となるように接続する。なお、この図3では、ICチップ4の検知手段の部分のみを示しており、信号電荷読出手段の部分は、従来公知の回路を使用することができるので、その図示を省略している。   FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration of one pixel of the image sensor according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 3, 9 is an operational amplifier, 10 is a storage capacitor, 11 is a reset switch for resetting the charge stored in the storage capacitor 10, and 12 is a read switch for reading the stored voltage value. Here, the storage capacitor 10 is disposed between the inverting input terminal and the output terminal of the operational amplifier 9 and constitutes an integration circuit. Further, connection is made so that the potential of the aluminum cathode 6 of the photoelectric conversion element array 3 becomes Vref1 level, and the potential of the non-inverting force input terminal of the operational amplifier 9 becomes Vref level (where Vref1 ≧ Vref). In FIG. 3, only the detection means portion of the IC chip 4 is shown, and the signal charge read-out means portion can be omitted because it can use a conventionally known circuit.

図3において、まずリセットスイッチ11を制御しON状態にすることで蓄積コンデンサ10をリセットする。このとき、オペアンプ9の出力電圧はVrefレベルとなる。   In FIG. 3, first, the storage capacitor 10 is reset by controlling the reset switch 11 to turn it on. At this time, the output voltage of the operational amplifier 9 is at the Vref level.

ついで、リセットスイッチ11を制御してOFF状態にする。このとき、有機材料で形成された光電変換素子アレイ3に入射光が入ると、光電流に光電変換され、その光電流はITO陽極5aおよび配線5bを介して駆動回路を搭載したICチップ4に流れ込む。このICチップ4では、オペアンプ9の作用により、その2つの入力端子の両端の電位差が0になるように蓄積コンデンサ10を介してフィードバックがかかり、蓄積コンデンサ10にはこの光電流が蓄積される。これにより、オペアンプ9の出力レベルは流れ込んだ光電流量、蓄積コンデンサ10の容量、およびその蓄積時間に応じてVrefレベルから変化する。   Next, the reset switch 11 is controlled to be turned off. At this time, when incident light enters the photoelectric conversion element array 3 formed of an organic material, it is photoelectrically converted into a photocurrent, and the photocurrent is applied to the IC chip 4 on which the drive circuit is mounted via the ITO anode 5a and the wiring 5b. Flows in. In the IC chip 4, feedback is applied via the storage capacitor 10 so that the potential difference between both ends of the two input terminals becomes 0 by the operation of the operational amplifier 9, and this photocurrent is stored in the storage capacitor 10. As a result, the output level of the operational amplifier 9 changes from the Vref level in accordance with the flow rate of photoelectric flow, the capacity of the storage capacitor 10, and the storage time.

その後、所定時間に達すると、読み出し用スイッチ12を制御して、ICチップ4の信号電荷読出手段によって、このオペアンプ9の出力が順次読み出される。これらの動作は図示しないシフトレジスタなどでタイミング制御される。以上のようなリセット、蓄積、読み出し動作を繰り返すことで、各画素の情報を取り込むことができる。   Thereafter, when a predetermined time is reached, the read switch 12 is controlled and the output of the operational amplifier 9 is sequentially read out by the signal charge reading means of the IC chip 4. The timing of these operations is controlled by a shift register (not shown). By repeating the reset, accumulation, and readout operations as described above, information of each pixel can be captured.

ここで光電変換素子アレイ3に接続される電極の接続方法について説明する。まず、光電変換素子アレイ3のITO陽極5とICチップ4との接続方法について説明すると、この画素の光電流を検出する回路を単結晶シリコン上に形成してICチップ4を作成し、さらにベアチップICに金バンプを付ける。その後、ICチップ4の金バンプとガラス基板2のITO陽極5aから引き出された配線5bとを、ACF(Anisotropic Conductive Film)工法(異方性導電膜フィルムを基板上に仮圧着したあとに、チップを実装し、加圧加熱して本圧着接合する工法)などの実装方法で実装することによって、光電変換素子アレイ3とICチップ4とを接続することができる。一方、光電変換素子アレイ3のアルミ陰極およびそこからの配線6は、光電変換素子アレイ3の全ての画素を共通として所定電圧レベルに接続する。   Here, a method of connecting electrodes connected to the photoelectric conversion element array 3 will be described. First, a method for connecting the ITO anode 5 of the photoelectric conversion element array 3 and the IC chip 4 will be described. A circuit for detecting the photocurrent of the pixel is formed on single crystal silicon to produce the IC chip 4, and further, a bare chip. Apply gold bumps to the IC. After that, the gold bumps of the IC chip 4 and the wiring 5b drawn from the ITO anode 5a of the glass substrate 2 are temporarily pressed onto the substrate by an ACF (Anisotropic Conductive Film) method (an anisotropic conductive film). The photoelectric conversion element array 3 and the IC chip 4 can be connected to each other by mounting by a mounting method such as a method of mounting by pressurizing and heating and press-bonding and bonding. On the other hand, the aluminum cathode of the photoelectric conversion element array 3 and the wiring 6 therefrom connect all the pixels of the photoelectric conversion element array 3 to a predetermined voltage level.

このように、光電変換素子アレイ3のITO陽極5aのみが個別にICチップ4と1対1で接続され、さらに有機光電変換層7を形成した後にその上にアルミ陰極を形成することができ、有機光電変換層7とアルミ陰極との間の密着性に優れた構成となる。その結果、イメージセンサ1全体として、高い信頼性を有し、かつ高SN比で検知することができる。   Thus, only the ITO anode 5a of the photoelectric conversion element array 3 is individually connected to the IC chip 4 on a one-to-one basis, and after forming the organic photoelectric conversion layer 7, an aluminum cathode can be formed thereon, It becomes the structure excellent in the adhesiveness between the organic photoelectric converting layer 7 and an aluminum cathode. As a result, the image sensor 1 as a whole can be detected with high reliability and a high SN ratio.

また、本発明者らの実験によるとその光電変換効率は上記した構成に比べてやや劣るものの、アルミ陰極上に光電変換層を形成し、その後ITO陽極5aを形成してもよい。さらに、上述した説明では、光電変換素子アレイ3を構成するすべての光電変換素子の陰極を共通接続しているが、2以上の光電変換素子の陰極を共通接続すればよい。   Further, according to the experiments by the present inventors, the photoelectric conversion efficiency is slightly inferior to the above-described configuration, but a photoelectric conversion layer may be formed on the aluminum cathode and then the ITO anode 5a may be formed. Furthermore, in the above description, the cathodes of all the photoelectric conversion elements constituting the photoelectric conversion element array 3 are commonly connected, but the cathodes of two or more photoelectric conversion elements may be commonly connected.

なお、本実施の形態1においては、リニアセンサに適用した場合について説明したが、本発明のイメージセンサはリニアセンサへ適用するものに限定されるものではなく、エリアセンサにも同様に適用し得るものである。この場合には、信号の読出しを2個のスイッチング用トランジスタによるX−Yアドレス型とすればよい。   In the first embodiment, the case where the present invention is applied to a linear sensor has been described. However, the image sensor of the present invention is not limited to that applied to a linear sensor, and can be similarly applied to an area sensor. Is. In this case, the signal may be read out as an XY address type using two switching transistors.

また、本実施の形態1では、駆動回路としては図3を用いて説明したように光電変換素子アレイ3で発生した光電流をICチップ4で積分して検出する方法を示したが、他の方法で光電流を検出するようにしてもよい。   Further, in the first embodiment, the method of integrating and detecting the photocurrent generated in the photoelectric conversion element array 3 by the IC chip 4 as described with reference to FIG. The photocurrent may be detected by a method.

図4は、本発明の実施の形態1におけるイメージセンサの一画素の他の構成を示す回路図である。この図4では、光電変換素子アレイ3側で発生した電荷を蓄積し、それらをソースフォロアに読み出す構成としている。   FIG. 4 is a circuit diagram showing another configuration of one pixel of the image sensor according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 4, charges generated on the photoelectric conversion element array 3 side are accumulated and read out to the source follower.

具体的には、ドレインにVrefの電圧が印加された電界効果型トランジスタ(以下、単にトランジスタという)M1と、トランジスタM1のソースにゲートが接続されたトランジスタM2と、トランジスタM2からの電流を検出するトランジスタM3と、を備えて構成される。ここで、光電変換素子アレイ3のアルミ陰極とその配線6側はVref2の電位に設定されており、トランジスタM1のドレインはVrefの電位に設定されている。   Specifically, a field effect transistor (hereinafter simply referred to as a transistor) M1 having a voltage of Vref applied to the drain, a transistor M2 having a gate connected to the source of the transistor M1, and a current from the transistor M2 are detected. And a transistor M3. Here, the aluminum cathode of the photoelectric conversion element array 3 and the wiring 6 side thereof are set to the potential of Vref2, and the drain of the transistor M1 is set to the potential of Vref.

ここで、トランジスタM1のゲートがオン状態の場合には、トランジスタM2のゲートにはVrefの電圧がかかり、トランジスタM3のゲートもオン状態である場合には、トランジスタM3のソースからは、Vrefに対応した出力電流Isが出力される。一方、トランジスタM1のゲートがオフ状態の場合には、光電変換素子アレイ3で光の入射によって生じた光電流の蓄積によって生じた電位が、トランジスタM2のゲートにかかり、トランジスタM3のゲートがオン状態である場合には、トランジスタM3のソースからは、トランジスタM2のゲートにかかる電圧に対応する出力電流が流れ、この出力電流を用いて信号電荷の読出が図示しない後段の回路で行われる。   Here, when the gate of the transistor M1 is turned on, the voltage of Vref is applied to the gate of the transistor M2, and when the gate of the transistor M3 is also turned on, the source of the transistor M3 corresponds to Vref. Output current Is is output. On the other hand, when the gate of the transistor M1 is in the off state, the potential generated by the accumulation of photocurrent generated by the incidence of light in the photoelectric conversion element array 3 is applied to the gate of the transistor M2, and the gate of the transistor M3 is in the on state. In this case, an output current corresponding to the voltage applied to the gate of the transistor M2 flows from the source of the transistor M3, and signal charges are read by a subsequent circuit (not shown) using this output current.

また、本実施の形態1では、基板としてガラス基板2を用いていたが、第1電極(ITO陽極5a)、有機光電変換層7および第2電極(アルミ陰極)を支持できるものであればどのようなものであってもよく、上記ガラス基板2のほかに、ポリエチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレート、ポリエーテルスルフォン、ポリフッ化ビニル、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリアクリレート、非晶質ポリオレフィン、フッ素系樹脂などの各種高分子材料、さらにはシリコンウエハをはじめとする各種金属材料などが用いることができる。   Moreover, in this Embodiment 1, although the glass substrate 2 was used as a board | substrate, as long as it can support the 1st electrode (ITO anode 5a), the organic photoelectric converting layer 7, and the 2nd electrode (aluminum cathode), what In addition to the glass substrate 2, polyethylene terephthalate, polycarbonate, polymethyl methacrylate, polyether sulfone, polyvinyl fluoride, polypropylene, polyethylene, polyacrylate, amorphous polyolefin, fluorine resin, etc. Various polymer materials, and various metal materials such as silicon wafers can be used.

また、有機光電変換層7を形成する電子供与性材料としては、フェニレンビニレンおよびその誘導体、フルオレンおよびその誘導体、特に骨格にキノリン基またはピリジン基を有するフルオレン系コポリマー(P0F66、P1F66、PFPV)、フルオレン含有アリールアミンポリマー、カルバゾールおよびその誘導体、インドールおよびその誘導体、ピレンおよびその誘導体、ピロールおよびその誘導体、ピコリンおよびその誘導体、チオフェンおよびその誘導体、アセチレンおよびその誘導体、ジアセチレンおよびその誘導体を繰り返し単位として有する重合体および他のモノマーとの共重合体、またデンドリマーとして総称される一群の高分子材料を用いることができる。   Examples of the electron donating material for forming the organic photoelectric conversion layer 7 include phenylene vinylene and derivatives thereof, fluorene and derivatives thereof, particularly fluorene copolymers having a quinoline group or a pyridine group in the skeleton (P0F66, P1F66, PFPV), fluorene. Containing arylamine polymers, carbazole and derivatives thereof, indole and derivatives thereof, pyrene and derivatives thereof, pyrrole and derivatives thereof, picoline and derivatives thereof, thiophene and derivatives thereof, acetylene and derivatives thereof, diacetylene and derivatives thereof as repeating units Polymers, copolymers with other monomers, and a group of polymeric materials collectively referred to as dendrimers can be used.

また、高分子材料以外にも、たとえばポルフィン、テトラフェニルポルフィン銅、フタロシアニン、銅フタロシアニン、チタニウムフタロシアニンオキサイドなどのポリフィリン化合物や、1,1−ビス{4−(ジ−P−トリルアミノ)フェニル}シクロヘキサン、4,4’,4’’−トリメチルトリフェニルアミン、N,N,N’,N’−テトラキス(P−トリル)−P−フェニレンジアミン、1−(N,N−ジ−P−トリルアミノ)ナフタレン、4,4’−ビス(ジメチルアミノ)−2−2’−ジメチルトリフェニルメタン、N,N,N’,N’−テトラフェニル−4,4’−ジアミノビフェニル、N,N’−ジフェニル−N,N’−ジ−m−トリル−4,4’−ジアミノビフェニル、N−フェニルカルバゾールなどの芳香族第三級アミンや、4−ジ−P−トリルアミノスチルベン、4−(ジ−P−トリルアミノ)−4’−〔4−(ジ−P−トリルアミノ)スチリル〕スチルベンなどのスチルベン化合物や、トリアゾールおよびその誘導体、オキサジザゾールおよびその誘導体、イミダゾールおよびその誘導体、ポリアリールアルカンおよびその誘導体、ピラゾリンおよびその誘導体、ピラゾロンおよびその誘導体、フェニレンジアミンおよびその誘導体、アニールアミンおよびその誘導体、アミノ置換カルコンおよびその誘導体、オキサゾールおよびその誘導体、スチリルアントラセンおよびその誘導体、フルオレノンおよびその誘導体、ヒドラゾンおよびその誘導体、シラザンおよびその誘導体、ポリシラン系アニリン系共重合体、高分子オリゴマー、スチリルアミン化合物、芳香族ジメチリディン系化合物、ポリ3−メチルチオフェンなども用いることができる。   In addition to polymer materials, for example, porphyrin compounds such as porphine, tetraphenylporphine copper, phthalocyanine, copper phthalocyanine, titanium phthalocyanine oxide, 1,1-bis {4- (di-P-tolylamino) phenyl} cyclohexane, 4,4 ′, 4 ″ -trimethyltriphenylamine, N, N, N ′, N′-tetrakis (P-tolyl) -P-phenylenediamine, 1- (N, N-di-P-tolylamino) naphthalene 4,4′-bis (dimethylamino) -2-2′-dimethyltriphenylmethane, N, N, N ′, N′-tetraphenyl-4,4′-diaminobiphenyl, N, N′-diphenyl- Aromatic tertiary amino such as N, N′-di-m-tolyl-4,4′-diaminobiphenyl, N-phenylcarbazole And stilbene compounds such as 4-di-P-tolylaminostilbene, 4- (di-P-tolylamino) -4 ′-[4- (di-P-tolylamino) styryl] stilbene, triazole and derivatives thereof, oxazizazole And derivatives thereof, imidazole and derivatives thereof, polyarylalkanes and derivatives thereof, pyrazolines and derivatives thereof, pyrazolone and derivatives thereof, phenylenediamine and derivatives thereof, annealed amines and derivatives thereof, amino-substituted chalcones and derivatives thereof, oxazoles and derivatives thereof, Styrylanthracene and its derivatives, fluorenone and its derivatives, hydrazone and its derivatives, silazane and its derivatives, polysilane-based aniline-based copolymer, polymer oligomer, styrylamine compound It can be used an aromatic dimethylidene type compound, also as poly 3-methylthiophene.

また、有機光電変換層7を形成する電子受容性材料としては1,3−ビス(4−tert−ブチルフェニル−1,3,4−オキサジアゾリル)フェニレン(OXD−7)などのオキサジアゾールおよびその誘導体、アントラキノジメタンおよびその誘導体、ジフェニルキノンおよびその誘導体、フラーレンおよびその誘導体、特にPCBM([6,6]−phenyl C61 butyric acid methyl ester)カーボンナノチューブおよびその誘導体などが用いられる。   Moreover, as an electron-accepting material which forms the organic photoelectric converting layer 7, oxadiazole, such as 1, 3-bis (4-tert- butylphenyl- 1,3,4- oxadiazolyl) phenylene (OXD-7), and its Derivatives, anthraquinodimethane and its derivatives, diphenylquinone and its derivatives, fullerene and its derivatives, in particular PCBM ([6,6] -phenyl C61 butyric acid methyl ester) carbon nanotubes and their derivatives, etc. are used.

有機光電変換層7の下に設けられる第1電極(陽極)として、本実施の形態1で用いたITOのほかに、ATO(SbをドープしたSnO2)、AZO(AlをドープしたZnO)などの透明電極を用いることができる。さらには、Al,Ag,Auなどの金属薄膜といった光透過性の材料で構成することによって、光透過性を付与することも可能となる。これによって、光透過性の受光部を提供することもできる。 As the first electrode (anode) provided under the organic photoelectric conversion layer 7, in addition to ITO used in the first embodiment, ATO (Sb-doped SnO 2 ), AZO (Al-doped ZnO), etc. The transparent electrode can be used. Furthermore, it is possible to impart light transparency by forming the material with a light transmissive material such as a metal thin film such as Al, Ag, or Au. Thereby, a light-transmitting light-receiving part can also be provided.

また、有機光電変換層7の上に設ける第2電極(陰極)として、本実施の形態1で用いたAlのほかに、Ag,Au,Cr,Cu,In,Mg,Ni,Si,Tiなどの金属や、Mg−Ag合金、Mg−In合金などのMg合金や、Al−Li合金、Al−Sr合金、Al−Ba合金などのAl合金などの薄膜を用いることができる。さらに、短絡電流の改善を図るために、有機光電変換層7と第2電極との間に金属酸化物、LiFをはじめとする金属弗化物などの薄膜を導入する手法も好適に用いられる。さらには、第2電極(陰極)としてITO、ATO、AZOなどを使用することも可能である。   Further, as the second electrode (cathode) provided on the organic photoelectric conversion layer 7, in addition to Al used in the first embodiment, Ag, Au, Cr, Cu, In, Mg, Ni, Si, Ti, etc. It is possible to use a thin film such as a metal of Mg, Mg alloy such as Mg—Ag alloy or Mg—In alloy, or Al alloy such as Al—Li alloy, Al—Sr alloy or Al—Ba alloy. Furthermore, in order to improve the short-circuit current, a method of introducing a thin film such as a metal oxide or a metal fluoride such as LiF between the organic photoelectric conversion layer 7 and the second electrode is also preferably used. Furthermore, it is also possible to use ITO, ATO, AZO or the like as the second electrode (cathode).

また、必要に応じて第1電極(陽極)または第2電極(陰極)と有機光電変換層7との間に、PEDOT:PSS(ポリチオフェンとポリスチレンスルホン酸の混合物)などの高分子材料をバッファ層として導入する素子構成、あるいはシリコン、チタニア、アルミナ、カーボン、ジルコニアなどの無機物を漏れ電流のブロック層として導入する素子構成も好適に用いることができる。   Further, a polymer layer such as PEDOT: PSS (a mixture of polythiophene and polystyrene sulfonic acid) is provided between the first electrode (anode) or the second electrode (cathode) and the organic photoelectric conversion layer 7 as necessary. A device configuration in which an inorganic material such as silicon, titania, alumina, carbon, or zirconia is introduced as a leakage current blocking layer can also be suitably used.

本実施の形態1によれば、ガラス基板2上に光電変換素子アレイ3の陽極と駆動回路の端子とを1対1で配線で接続したので、容易にパターニングができ、断線やショートのない信頼性に優れたイメージセンサを提供することができるという効果を有する。また、光電変換素子アレイ3上に直接に陰極を形成したので、光電変換素子アレイ3と陰極との密着性が向上し、光電変換素子の光電変換効率が向上するので、高SN比で信号電荷を検知することができるという効果も有する。さらに、光電変換素子アレイ3を構成する2以上の光電変換素子の陰極を共通接続するようにしたので、陰極のパターニング数を減らすことができるという効果も有する。   According to the first embodiment, since the anode of the photoelectric conversion element array 3 and the terminal of the driving circuit are connected on the glass substrate 2 by a one-to-one wiring, patterning can be easily performed and reliability without disconnection or short circuit can be achieved. It is possible to provide an image sensor excellent in performance. In addition, since the cathode is formed directly on the photoelectric conversion element array 3, the adhesion between the photoelectric conversion element array 3 and the cathode is improved, and the photoelectric conversion efficiency of the photoelectric conversion element is improved. This also has the effect that it can be detected. Furthermore, since the cathodes of two or more photoelectric conversion elements constituting the photoelectric conversion element array 3 are commonly connected, there is also an effect that the number of cathode patterning can be reduced.

また、ICチップ4を単結晶シリコンのトランジスタで形成するようにしたので、移動度が高く高速動作が可能となり、閾値のばらつきが小さく能力の均一性に優れ、個体内および個体間での品質のばらつきを低減することができる。その結果、信頼性と実用性に優れたイメージセンサを提供することができるという効果を有する。   In addition, since the IC chip 4 is formed of a single crystal silicon transistor, the mobility is high and high speed operation is possible, the variation in threshold is small, the performance is uniform, and the quality within and between individuals is high. Variations can be reduced. As a result, an image sensor having excellent reliability and practicality can be provided.

(実施の形態2)
図5は、本発明の実施の形態2におけるイメージセンサの光電変換素子と駆動回路の配置を示す平面図である。図5において、4aは、光電変換素子アレイ3を駆動する多結晶シリコンやアモルファスシリコンでガラス基板2上に一括して形成された薄膜トランジスタからなる駆動回路である。なお、その他の構成は、実施の形態1の図1と基本的に同一であるので、その説明を省略する。
(Embodiment 2)
FIG. 5 is a plan view showing the arrangement of photoelectric conversion elements and drive circuits of the image sensor according to Embodiment 2 of the present invention. In FIG. 5, reference numeral 4 a denotes a drive circuit composed of thin film transistors that are collectively formed on the glass substrate 2 with polycrystalline silicon or amorphous silicon that drives the photoelectric conversion element array 3. Other configurations are basically the same as those of the first embodiment shown in FIG.

このような構成によれば、実施の形態1のように、単結晶シリコンで形成された駆動回路を搭載したICチップ4をベア実装する必要がないので、信頼性の高いイメージセンサ1aをさらに安価に生産することができる。   According to such a configuration, unlike the first embodiment, since it is not necessary to barely mount the IC chip 4 on which the drive circuit formed of single crystal silicon is mounted, the highly reliable image sensor 1a is further inexpensive. Can be produced.

本実施の形態2におけるイメージセンサによれば、実施の形態1の効果に加え、駆動回路を構成するシリコントランジスタを、多結晶シリコンまたはアモルファスシリコンの薄膜トランジスタで形成するようにしたので、ガラス基板2上にICチップをチップ実装する必要がない。また、単結晶シリコンを使用しないので、安価で量産性に優れるという効果を有する。さらに、駆動回路としてICチップ4を用いた場合に比較して、光電変換素子アレイ3と駆動回路4aとの配線距離が短くなるので、外部からのノイズの影響が抑えられ、高いSN比で確実に信号電荷を検知することができる。その結果、信頼性、実用性に優れたイメージセンサを提供することができるという効果を有する。   According to the image sensor of the second embodiment, in addition to the effects of the first embodiment, the silicon transistor constituting the drive circuit is formed of a thin film transistor of polycrystalline silicon or amorphous silicon. There is no need to mount an IC chip on the chip. In addition, since single crystal silicon is not used, it has the effect of being inexpensive and excellent in mass productivity. Furthermore, since the wiring distance between the photoelectric conversion element array 3 and the drive circuit 4a is shorter than when the IC chip 4 is used as the drive circuit, the influence of noise from the outside is suppressed, and a high SN ratio is ensured. The signal charge can be detected. As a result, an image sensor excellent in reliability and practicality can be provided.

以上のように、本発明にかかるイメージセンサは、物体の形状や画像などの各種情報を電気信号として取り出すスキャナ、ファックスなどに有用である。   As described above, the image sensor according to the present invention is useful for scanners, fax machines, and the like that extract various types of information such as object shapes and images as electrical signals.

本発明の実施の形態1におけるイメージセンサの平面図1 is a plan view of an image sensor according to Embodiment 1 of the present invention. 本発明の実施の形態1におけるイメージセンサの断面図Sectional drawing of the image sensor in Embodiment 1 of this invention 本発明の実施の形態1におけるイメージセンサの一画素の構成を示す回路図1 is a circuit diagram showing a configuration of one pixel of an image sensor according to Embodiment 1 of the present invention. 本発明の実施の形態1におけるイメージセンサの一画素の他の構成を示す回路図The circuit diagram which shows the other structure of one pixel of the image sensor in Embodiment 1 of this invention 本発明の実施の形態2におけるイメージセンサの光電変換素子と駆動回路の配置を示す平面図The top view which shows arrangement | positioning of the photoelectric conversion element and drive circuit of the image sensor in Embodiment 2 of this invention

符号の説明Explanation of symbols

1,1a イメージセンサ
2 ガラス基板
3 光電変換素子アレイ
4 ICチップ
4a 駆動回路
5 ITO陽極とそれに接続された配線
5a ITO陽極
5b 配線
6 アルミ陰極とそれに接続された配線
7 有機光電変換層
8 COG実装接続部
9 オペアンプ
10 蓄積コンデンサ
11 リセットスイッチ
12 読み出し用スイッチ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,1a Image sensor 2 Glass substrate 3 Photoelectric conversion element array 4 IC chip 4a Drive circuit 5 ITO anode and wiring connected to it 5a ITO anode 5b wiring 6 Aluminum cathode and wiring connected to it 7 Organic photoelectric conversion layer 8 COG mounting Connection unit 9 Operational amplifier 10 Storage capacitor 11 Reset switch 12 Read switch

Claims (2)

一対の陽極と陰極との間に狭持され有機化合物層からなる光電変換層によって構成される光電変換素子がアレイ状に配置された複数の光電変換素子アレイと、
前記光電変換素子が光電変換した信号電荷を検知し、その信号電荷を読み出す駆動回路と、
を基板上に備えるイメージセンサであって、
前記光電変換素子アレイを構成する前記各光電変換素子の陽極は、前記駆動回路と1対1で接続される配線と一体的に形成されるとともに、前記光電変換素子アレイ中の前記各光電変換素子を構成する陰極は、2つ以上の光電変換素子に共通接続されたパターンを有する配線によって前記光電変換素子アレイ上に形成されることを特徴とするイメージセンサ。
A plurality of photoelectric conversion element arrays in which photoelectric conversion elements constituted by photoelectric conversion layers formed of organic compound layers sandwiched between a pair of anodes and cathodes are arranged in an array;
A driving circuit for detecting the signal charge photoelectrically converted by the photoelectric conversion element and reading the signal charge;
An image sensor provided on a substrate,
The anode of each photoelectric conversion element constituting the photoelectric conversion element array is formed integrally with a wiring connected to the drive circuit on a one-to-one basis, and each photoelectric conversion element in the photoelectric conversion element array The image sensor is characterized in that the cathode constituting the electrode is formed on the photoelectric conversion element array by wiring having a pattern commonly connected to two or more photoelectric conversion elements.
前記駆動回路は、単結晶シリコンを用いたトランジスタで形成されたICチップ、または多結晶シリコンもしくはアモルファスシリコンの薄膜トランジスタで構成されること特徴とする請求項1に記載のイメージセンサ。 The image sensor according to claim 1, wherein the drive circuit includes an IC chip formed of a transistor using single crystal silicon, or a thin film transistor of polycrystalline silicon or amorphous silicon.
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