JP2007522349A - Method for processing a signal obtained by scanning a cloth - Google Patents
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Abstract
本発明は、布(1)の走査により得られる信号を処理する方法に関する。布にある欠陥(4,5,6)の非常に細分化された評価を可能にしかつ確認された欠陥に基いて、適切な動作を行う方法を提供するため、まずパラメータの値に対して、布にある欠陥のカテゴリーを規定する値範囲が求められる。布にある欠陥のカテゴリーのために、続いて面にある欠陥の分布が求められ、求められたカテゴリー及び布にある欠陥の分布に応じて、布に関連して動作が行われる。 The present invention relates to a method for processing a signal obtained by scanning a fabric (1). In order to allow a very fine-grained evaluation of the defects (4, 5, 6) in the fabric and to provide a way to perform appropriate actions based on the identified defects, A value range that defines the category of defects in the fabric is required. For the category of defects in the fabric, the distribution of defects on the surface is subsequently determined, and actions are performed in relation to the fabric depending on the determined category and the distribution of defects in the fabric.
Description
本発明は、布の走査により得られる信号を処理する方法に関する。 The present invention relates to a method for processing a signal obtained by scanning a fabric.
欧州特許第1100989号明細書から、例えば布の欠陥を判定する方法が公知であり、この方法により、布にある欠陥を許容するか否かが、欠陥のない布と比較して欠陥の長さ及びコントラストに基いて決定される。その際欠陥が長くコントラストが大きいほど、欠陥が望ましくないことの公算が大きい。その場合原則的に、欠陥と認識されかつ望ましくなく、従って受入れられない欠陥に対して、同じ動作が行われる。即ち布にある望ましくない欠陥の結果、可能ならばこの欠陥が除去されるか、又は布の該当する部分が低い価格で販売されるか全く販売されず、従って不良品となる。 From EP 1100899 a method is known, for example, for determining a defect in a fabric, which makes it possible to determine whether or not a defect in the fabric is tolerated compared to a defect-free fabric. And based on contrast. In this case, the longer the defect and the greater the contrast, the greater the likelihood that the defect is undesirable. In that case, in principle, the same action is taken for defects which are perceived as defects and which are undesirable and therefore unacceptable. That is, as a result of an undesired defect in the fabric, this defect is eliminated if possible, or the relevant part of the fabric is sold at a lower price or not sold at all, and thus becomes defective.
この公知の方法の欠点は、例えば許容される欠陥と許容されない欠陥との間に明確な限界が引かれていることである。この限界は、布の経済性及び品質のような相応する影響の重み付けに従って選ばれる。経済性を保証するためには、できるだけ僅かな欠陥が不良品となるように限界を選ぶ。品質を保証するためには、できるだけすべての欠陥を認めて除去するか、又は布を廃品に算入せねばならない。これらの矛盾する影響のため、許容される欠陥及び許容されない欠陥についての決定は、差異をつけられずかつ見出すことが困難な妥協である。 A disadvantage of this known method is that there is a clear limit between, for example, acceptable and unacceptable defects. This limit is chosen according to a corresponding weight of influence such as the economics and quality of the fabric. In order to guarantee economic efficiency, limits are selected so that as few defects as possible are defective. In order to guarantee quality, all possible defects must be recognized and removed, or the cloth must be counted as waste. Because of these contradictory effects, the determination of acceptable and unacceptable defects is a compromise that is indistinguishable and difficult to find.
従って本発明の課題は、請求範囲において特徴づけられているように、布にある欠陥の非常に洗練された評価を可能にしかつ確認される欠陥に基いて適切な動作を行う方法を提供することである。 The object of the present invention is therefore to provide a method that allows a very sophisticated assessment of defects in the fabric and performs appropriate actions based on the defects identified, as characterized in the claims. It is.
この課題は、布の走査の際生じる。例えばコントラスト、強さ、長さ方向等のように規定されたパラメータの値が誘導される。パラメータ値に対して限界値も規定されて、布にある欠陥を求めるために利用されることによって解決される。欠陥即ちそれを特徴づけるパラメータに対して、布にある欠陥のカテゴリーを規定する値範囲が求められる。布にある欠陥の各カテゴリーに対して、布にある欠陥の分布が求められ、布にある欠陥のカテゴリー及び分布に応じて、必要な場合例えば欠陥の計数、布用駆動装置の停止警報の開始、欠陥の無視又は記号付け等のような布への動作が開始される。 This problem occurs when scanning the fabric. For example, prescribed parameter values such as contrast, strength, length direction, etc. are derived. A limit value is also defined for the parameter value, which is solved by being used to determine defects in the fabric. For the defect, i.e. the parameters that characterize it, a value range is determined that defines the category of defects in the fabric. For each category of defects in the fabric, the distribution of defects in the fabric is determined and, depending on the category and distribution of defects in the fabric, for example, counting defects and starting a stop alarm for the fabric drive An action on the fabric is started, such as ignoring or marking the defect.
本発明により得られる利点は、欠陥及びその分布が、布の具体的に意図された使用に対してどのように有害であるかに非常に強く関係する動作をひき起こすことによって、布の製造の経済性及び布の品質を高めることが可能なことである。それにより欠陥の判定を非常に精密にかつ多様にすべての起こり得る事情に合わせることができる。 The advantage gained by the present invention is that by producing actions that are very strongly related to how the defects and their distribution are detrimental to the specifically intended use of the cloth, It is possible to improve economy and fabric quality. Thereby, the determination of defects can be adapted to all possible circumstances very precisely and diversely.
実施例及び図面により本発明が以下に詳細に説明される。 The invention is explained in more detail below by means of examples and drawings.
図1には3つの軸x,y,zを持つ座標系が示され、x軸及びy軸は検査される布の広がりに関係している。例えばx軸が布に対して直角であり、y軸は布の縦方向を示すことができる。z軸は、布の例えば強さ、コントラスト、色等のような1つ又は複数のパラメータに対応せしめられている。それによりx軸及びy軸に沿ってかつz軸に沿って、強さ、コントラスト、色等の値を記入することができる。100で、x軸及びy軸が一緒に張るx−y面上にある領域が示されている。この領域100はパラメータの値のレベルを示している。それによりx−y面と領域100との間隔に対して、この間隔がパラメータの値を示すものといえる。センサによるこのような布の公知の走査では、行が形成される。ここでは若干の行がnへn+4で示されている。厳密に見ると、これらの行は、例えば、ここでは線105上にある画素103,104の中心101,102を結んでおり、このことは、線105〜112が簡単化された図示において画素の値を示していることを意味する。113で行n+4の値列又は線110が示されている。線106〜111の特別な偏位により、線106〜111に沿う測定値により認められる領域100にある***の形で特徴をこれらの数106〜111が示していることがわかる。この特徴は欠陥114と称することもできる。布では、行には例えば横糸又は縦糸の方向に延びている。 FIG. 1 shows a coordinate system with three axes x, y, z, where the x and y axes relate to the spread of the fabric being examined. For example, the x axis can be perpendicular to the fabric and the y axis can indicate the longitudinal direction of the fabric. The z-axis is associated with one or more parameters such as strength, contrast, color, etc. of the fabric. Thereby, values such as intensity, contrast, and color can be entered along the x and y axes and along the z axis. At 100, a region on the xy plane where the x and y axes are stretched together is shown. This
図2には、図1から既知の値列113が認められ、この値列は1連の走査値115,116等から成っている。この値列はy軸の上方に記入され、このy軸に沿って例えば時間又は行程の値を記入することができる。z軸に沿って、測定された強さ、コントラスト又は色から誘導される電流、電圧等のような電気的量の値を記入することができる。値列113から、種々のパラメータの値を誘導することができる。このような値として、特に信号部分118の長さ又は持続時間117、又は値列113の偏位に比例するコントラスト、強さ等のように走査値から誘導されるパラメータ119が考えられる。パラメータ117及び119に対して、布にある欠陥を求めるのに役立つ限界値120,121を規定される。ここで限界値120はパラメータ119の直接測定される値に関係し、限界値121は、例えば所定の限界値121により監視される信号部分118の長さ又は持続時間のように値列113から誘導されるパラメータ117に関係している。 In FIG. 2, a known
図3には、例えば織機上で製造する際又は布展示、仕上げ等の際1つの巻き体から他の巻き体への巻き換えの際の場合のように、布帯として形成されてその縦方向に動かされる布1の一部が示されている。布1の前又は後に走査装置2が設けられ、公知のように、通過する布1を例えば光学的に走査する。布1のために、例えば駆動されるローラ又はローラ対から成る駆動装置3が設けられている。布1上に、例えば欠陥群4、周期的に現われる欠陥5a,5b,5c,5d及び面状欠陥6のような起こり得る欠陥の種々の例が認められる。布に沿って、例えば行程符号器を持つ回転車又は光学的に動作する装置から成る長さ測定器7も設けられている。しかし長さ測定器7は走査装置2に統合することもできる。 FIG. 3 shows the longitudinal direction of the fabric formed as a fabric band as in the case of manufacturing on a loom or when rewinding from one roll to another during fabric display, finishing, etc. A portion of the fabric 1 that is moved is shown. A scanning device 2 is provided before or after the fabric 1 and scans the passing fabric 1 optically, for example, as is well known. For the cloth 1, a drive device 3 is provided, for example comprising a driven roller or a pair of rollers. Various examples of possible defects such as
走査装置2からのアナログ又はディジタル信号を処理するため、種々のメモリ8,9、11,カウンタ10,計算機12,13,14,入−出力装置15、及び操作器16が設けられ、互いにかつ他の素子と接続線17,18,19,20,21,22,23,24,25,26,27及び28を介して接続されている。 In order to process analog or digital signals from the scanning device 2,
本発明の作用は次の通りである。なるべく布1の走査を開始する前に、欠陥とみなされるもの及び欠陥とみなされないものを規定せねばならない。即ちまず欠陥を特徴づけるパラメータを選び、選ばれたパラメータの限界値を規定せねばならず、布にある欠陥がこれらの限界値の超過を示す。更に限界値を超過するパラメータの値に対して、欠陥のカテゴリーを規定する値範囲も規定せねばならない。それから欠陥の許容の分布、及び所定値を超過した時開始されねばならない動作についての指示も規定せねばならない。これは、入−出力装置15を介して手動入力により行うことができる。しかしその一部は固定的に規定することもでき、即ちこれらの値はメモリに既に記憶されている。 The operation of the present invention is as follows. Before starting the scanning of the cloth 1 as much as possible, it is necessary to define what is considered a defect and what is not considered a defect. That is, the parameters that characterize the defects must first be selected and the limit values for the selected parameters must be defined, and defects in the fabric indicate that these limit values have been exceeded. Furthermore, for parameter values exceeding the limit value, a value range that defines the defect category must also be defined. It must also specify the distribution of defect tolerances and instructions on what action should be taken when a predetermined value is exceeded. This can be done by manual input via the input-
駆動装置3により動かされる布1が走査装置2のそばを通って引張られる間に、例えば列n,n+1,n+2,n+3,n+4等(図1)に従って布が列状に走査され、各列に対して、例えば列n+4に対する値列113のように、各列に対して1つの値列が生じる。これらの値列115,116等は、偏位あるいは例えば電流又は電圧の値として測定可能な値を持っている。しかしこれらの走査値115,116等は、この環境では、例えば明るさ、コントラスト及び強さのような物理的量でもある。これらの走査値は、布1の走査の際どんな機器又はどんな測定原理が使用されるかに関係している。これらの量、及びこれから誘導される例えば信号部分118の長さ又は持続時間のような量は、パラメータと称され、布1にある欠陥4,5,6(図3)は、このようなパラメータ及びその値により特徴づけられる。従って接続線17を介してメモリ8へ走査値115,116等が供給される。メモリ8は例えばFIFOメモリであり、順次に得られる値から、再び図1に示すように布1の一部の画像を合成し、この画像中に欠陥もそのパラメータの値により現われる。メモリ9には、限界値、及び後で更に精確に記述される欠陥カテゴリーの群に属する特定の欠陥カテゴリーの欠陥を加算するのに役立つすべての情報が記憶されている。計算機12は、接続線18を介して現在のパラメータ値を受け、接続線19を介して現在のパラメータ値と比較される限界値を受ける。計算機に存在するパラメータと所定の限界値との比較により、計算機は欠陥をカテゴリーに関係づけ、接続線21を介して、求められたカテゴリーを示す適当な情報をカウンタ10へ供給することができる。ここで各カテゴリーにある欠陥は、利用者により規定される布1の基準長について計数されて、欠陥群が存在するか否かを確認する。走査される長さは、接続線23を介して長さ測定器7から計算機12及び13へ供給される。計算機13は、例えば各欠陥カテゴリーに対して、単位長さ当たり欠陥の数を計算し、接続線24を介してこの数を計算機14へ供給する。計算機14は、接続線25を介して、布1の単位長さ当たり計算される許容数の欠陥を各カテゴリーに対して記憶しているメモリ11から、所定値を受ける。この許容数は、入−出力装置15から接続線29を介してメモリ11へ供給され、そこに記憶される。接続線24からの現在の数及び接続線25からの所定の数から、計算機14が、操作器16に接続線26を介して動作を行うよう指示すべきか否か、又は接続線28を介して入−出力装置15へ情報を与えるべきか否かを決定する。どんな種類の情報及び動作が可能であるか、及びどんなカテゴリーを規定すべきかが、以下に説明される。 While the fabric 1 moved by the driving device 3 is pulled by the scanning device 2, the fabric is scanned in rows according to, for example, rows n, n + 1, n + 2, n + 3, n + 4, etc. (FIG. 1). On the other hand, one value column is generated for each column, for example, the
従って本発明によれば、入−出力装置15を介して、存在する布1の種類に関係しかつ固有に規定される欠陥又は欠陥カテゴリーの種類を規定することが可能である。布に対して例えば次の欠陥カテゴリーが考えられる。
短い継糸欠陥
中位の縦糸欠陥
長い縦糸欠陥
短い横糸欠陥
中位の横糸欠陥
長い横糸欠陥
横糸締まり欠陥
縁欠陥
部分横糸欠陥
小さい面欠陥
中位の面欠陥
大きい面欠陥
しかし利用者は自身でも欠陥カテゴリーを規定し、パラメータの適当な値範囲を入力することもできる。Therefore, according to the present invention, it is possible to define, via the input /
Short warp defects Medium warp defects Long warp defects Short weft defects Medium weft defects Long weft defects Weft tightening defects Edge defects Partial weft defects Small surface defects Medium surface defects Large surface defects And an appropriate value range for the parameter can be entered.
編物に対しては次の欠陥カテゴリーが考えられる。
光、
薄い個所、
厚い個所、
汚れ。
これらすべての欠陥に対して、例えば次のようにカテゴリーを規定するパラメータの値が当てはまる。
場所、
寸法、
平均の明るさ。強さ又はコントラスト。
これらも同様に入−出力装置15を介して入力され、選ばれてカテゴリーに対応せしめられる。The following defect categories can be considered for knitting.
light,
Thin part,
Thick part,
Dirty.
For all these defects, for example, the parameter values defining the category are applied as follows.
place,
Size,
Average brightness. Strength or contrast.
These are similarly input via the input /
メモリ8に一時的に記憶されているパラメータは、計算機12において、カテゴリーを規定するメモリ9からのパラメータ用規定値と比較され、こうしてカテゴリーに割当てられる。例えばパラメータとして横糸方向における欠陥の長さを規定することができ、規定値として0.5cm及び10cmが適用される。さて横糸欠陥の測定された長さが10cmより大きいと、この欠陥は“長い横糸欠陥”のカテゴリーに入り、その長さが3〜10cmであると、“中位の横糸欠陥”のカテゴリーに入り、その長さが0.5〜3cmであると、“短い横糸欠陥”のカテゴリーに入る。 The parameter temporarily stored in the memory 8 is compared with the parameter specification value from the memory 9 that defines the category in the computer 12, and is thus assigned to the category. For example, the length of the defect in the weft direction can be specified as a parameter, and 0.5 cm and 10 cm are applied as specified values. Now, if the measured length of the weft defect is larger than 10 cm, this defect will be in the category of “long weft defect”, if it is 3-10 cm, it will be in the category of “medium weft defect” When the length is 0.5 to 3 cm, it falls into the category of “short weft defect”.
欠陥の特性により決定される第1の種類の上記カテゴリーに加えて、布1における欠陥の分布を特徴づける別の種類のカテゴリーも規定される。これら別の種類のカテゴリーとして次のものがあげられる。
見分けることができる規則なしに現われる個別欠陥、又は最初に現われてから既に使用者に示したい欠陥、
等間隔で現われる欠陥、及び
それ自体では許容できると思われる個別欠陥から成る欠陥の局部的に限られた集積から成る欠陥群。そのため入−出力装置15を介して、例えば周期的欠陥に対して最小欠陥数が入力され、この欠陥数から、規則的に現われる欠陥が周期的なものとみなされる。In addition to the first type of the above category determined by the characteristics of the defect, another type of category characterizing the distribution of defects in the fabric 1 is also defined. These different types of categories include:
Individual defects that appear without discernable rules, or defects that you want to show to the user since they first appeared
A group of defects consisting of a locally limited collection of defects consisting of defects appearing at regular intervals and individual defects that appear to be acceptable by themselves. Therefore, for example, the minimum number of defects is input to the periodic defect via the input /
欠陥群に対して、入−出力装置15を介して欠陥数が入力されるようにする。この場合欠陥数は、布1の基準長さ当り最小数に関係し、この最小数から欠陥が欠陥群とみなされる。カテゴリー及び分布を規定するために、個々のパラメータの値範囲を個々に選ぶことが可能である。 The number of defects is input to the defect group via the input /
値範囲により前もって固定的に入力される第1の種類の欠陥カテゴリーが、適当な入力により決定された後、図による装置は、欠陥の求められた分布により決定される別の種類のカテゴリーを求める。両方のカテゴリーから装置は、実行すべき動作を決定する。そのため計算機1において、欠陥の特性及び欠陥の分布が所定のプログラムに従って処理され、それから動作が決定される。動作の可能な例として次のものがあげられる。
計数する、
警報を発生する、
駆動装置を停止する、
無視する、
記号付けする。After the first type of defect category, which is fixedly input in advance by the value range, is determined by appropriate input, the illustrated apparatus determines another type of category determined by the determined distribution of defects. . From both categories, the device determines the action to be performed. Therefore, in the computer 1, the defect characteristics and the defect distribution are processed according to a predetermined program, and the operation is determined therefrom. Possible examples of operation include:
Counting,
Generate an alarm,
Stop the drive,
ignore,
Add a symbol.
計算機14は、数えられた欠陥を、接続線28を介して入−出力装置15へ表示のため伝送することができる。これは警報にも当てはまる。駆動装置3を停止する場合、適当な信号が接続線26を介して操作器16へ、かつ接続線27を介して駆動装置3へ与えられる。 The computer 14 can transmit the counted defects to the input /
利用者は、パラメータのために、入−出力装置15を介して、考えられる布に対して第1の種類の重要と思われるカテゴリーを規定する値を入力することができる。しかしパラメータの入力を直接行う代わりに、例えば接続線20´を介して測定値を入−出力装置15及びメモリ9へ与えて、入−出力装置15を介してこれらの測定値をカテゴリーに対応させることによって、走査装置2から信号の誘導によって行うことができる。 The user can enter values for the parameters via the input-
図に示すメモリ、計算機等のような素子は、データ処理プログラムの機能ブロックとしてまとめることができる。しかしこれらの素子は、信号処理回路の個々のモジュールとして構成することもできる。 Elements such as a memory and a computer shown in the figure can be collected as functional blocks of a data processing program. However, these elements can also be configured as individual modules of the signal processing circuit.
上述した方法は、以下に再現される表に示すことができる。この例では、値範囲により規定されるパラメータのみが述べられている。しかし別の値又は範囲により規定される別のパラメータもあげることができる。欠陥カテゴリーは、常になるべく複数のパラメータと各パラメータの値範囲との組合せにより規定されている。 The method described above can be shown in the table reproduced below. In this example, only the parameters defined by the value range are described. However, other parameters defined by other values or ranges can also be mentioned. The defect category is always defined by a combination of a plurality of parameters and a value range of each parameter as much as possible.
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