JP2007319482A - X線ct装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】被検体(40)を動かさずに被検体の体感を損ねないヘリカルシャトルスキャンの撮影を実現するX線CT装置(100)を提供する。
【解決手段】 X線管(21)とX線検出器(24)とを含むガントリ回転部(15)をz軸方向に往復移動させる。走査ガントリ(20)全体をz軸方向に往復動作させること、または走査ガントリ内部のX線管(21)とX線検出器(24)のみをz軸方向に往復動作させることにより、被検体(40)とX線管(21)とX線検出器(24)とのz軸方向への相対的な動きを実現させてヘリカルシャトルスキャンのX線データ収集を実現する。
【選択図】図12
【解決手段】 X線管(21)とX線検出器(24)とを含むガントリ回転部(15)をz軸方向に往復移動させる。走査ガントリ(20)全体をz軸方向に往復動作させること、または走査ガントリ内部のX線管(21)とX線検出器(24)のみをz軸方向に往復動作させることにより、被検体(40)とX線管(21)とX線検出器(24)とのz軸方向への相対的な動きを実現させてヘリカルシャトルスキャンのX線データ収集を実現する。
【選択図】図12
Description
本発明は、医療用X線CT(Computed
Tomography)装置、または産業用X線CT装置におけるヘリカルスキャンなどのX線管およびX線検出器の動作の制御の技術に関する。
Tomography)装置、または産業用X線CT装置におけるヘリカルスキャンなどのX線管およびX線検出器の動作の制御の技術に関する。
従来、多列X線検出器または二次元X線エリア検出器によるX線CT装置のヘリカルシャトルスキャンにおいては、図23に示すようにクレードルに乗った被検体をクレードルの進行方向であるz軸方向に往復動作をさせてX線データ収集を行っていた。しかし、被検体はz軸方向に複数回往復動作をさせられるので、被検体によっては“乗り物酔い”を感じる場合があり、被検体の体感の観点から不快感を減少させる必要があった。
特開2005-040582号公報
一方で、多列X線検出器または二次元X線エリア検出器によるX線CT装置は、X線検出器のz軸方向の幅は広くなる方向である。また、被検体をz軸方向に動かして仮想的にX線検出器のz軸方向の幅を広く検出できるヘリカルシャトルスキャンはz軸方向に広い幅を一度に撮影でき、そのz軸方向に広い範囲の時間的な変化も見ることができる。このため、ヘリカルシャトルスキャンを使ったz軸方向に広い範囲を撮る撮影方法は、三次元パフュージョン(Perfusion)撮影、CTアンジオ撮影などの用途で普及しつつある。この状況で、被検体の不快感を解消することは重要である。
本発明の目的は、多列X線検出器または二次元X線エリア検出器を持ったX線CT装置のヘリカルシャトルスキャンにおいて、被検体を動かさずに被検体の体感を損ねないヘリカルシャトルスキャンの撮影を実現するX線CT装置を提供することにある。
本発明は、被検体を動かさずにヘリカルシャトルスキャンを実現するために、X線管とX線検出器とを含むガントリ回転部をz軸方向に往復移動させる。走査ガントリ全体をz軸方向に往復動作させること、または走査ガントリ内部のX線管とX線検出器系のみをz軸方向に往復動作させることにより、被検体とX線データ収集系(X線管およびX線検出器)とのz軸方向への相対的な動きを実現させてヘリカルシャトルスキャンのX線データ収集を実現する。
第1の観点のX線CT装置は、被検体にX線ビームを照射するX線源と、被検体の所定領域を透過した投影データを収集するX線検出器と、X線源およびX線検出器を被検体の体軸方向にヘリカルシャトルスキャンさせる駆動手段とを有する。
X線源およびX線検出器を、クレードル進行方向であるz軸方向に往復運動させることでヘリカルシャトルスキャンを実現することができる。このX線源およびX線検出器をz軸方向に往復運動させる際には、走査ガントリ全体をz軸方向往復動作させても良いし、走査ガントリ内部の回転部をz軸方向往復動作させても良いし、走査ガントリ内部の回転部の中においてX線源およびX線検出器をz軸方向往復動作させても良い。また、X線管とX線検出器を独立にz軸方向に往復動作させても良い。このように、被検体とX線X線管およびX線検出器とのz軸方向の相対的な動きを実現させてヘリカルシャトルスキャンを実現できる。
X線源およびX線検出器を、クレードル進行方向であるz軸方向に往復運動させることでヘリカルシャトルスキャンを実現することができる。このX線源およびX線検出器をz軸方向に往復運動させる際には、走査ガントリ全体をz軸方向往復動作させても良いし、走査ガントリ内部の回転部をz軸方向往復動作させても良いし、走査ガントリ内部の回転部の中においてX線源およびX線検出器をz軸方向往復動作させても良い。また、X線管とX線検出器を独立にz軸方向に往復動作させても良い。このように、被検体とX線X線管およびX線検出器とのz軸方向の相対的な動きを実現させてヘリカルシャトルスキャンを実現できる。
本発明のX線CT装置によれば、ヘリカルシャトルスキャンにおいて、被検体を動かさずに被検体の体感を損ねないヘリカルシャトルスキャンの撮影を実現できる効果がある。
<X線CT装置100の全体構成>
図1は、本発明の一実施形態にかかるX線CT装置100の構成ブロック図である。このX線CT装置100は、操作コンソール1と、撮影テーブル10と、走査ガントリ20とを具備している。
図1は、本発明の一実施形態にかかるX線CT装置100の構成ブロック図である。このX線CT装置100は、操作コンソール1と、撮影テーブル10と、走査ガントリ20とを具備している。
操作コンソール1は、操作者の入力を受け付ける入力装置2と、前処理、画像再構成処理、後処理などを実行する中央処理装置3と、走査ガントリ20で収集したX線検出器データを収集するデータ収集バッファ5と、X線検出器データを前処理して求められた投影データから画像再構成した断層像を表示するモニタ6と、プログラムやX線検出器データや投影データやX線断層像を記憶する記憶装置7とを具備している。撮影条件の入力はこの入力装置2から入力され、記憶装置7に記憶される。図2にモニタ6に表示された撮影条件入力画面13Aの例を示す。画面撮影条件入力画面13Aには、所定の入力を行うための入力ボタン13aが表示されている。図2においてはスキャンのタブが選択されている画面である。タブをP−Reconを選択すると図2の下に描かれているように入力用の表示が切り換わる。入力ボタン13aの上方には断層像13bが表示され、下方には再構成領域13cが表示されている。また、必要とあれば右上に表示されているように、生体信号を表示してもよい。
図1に戻り、撮影テーブル10は、被検体40を乗せるクレードル12を具備している。クレードル12は撮影テーブル10に内蔵するモータで昇降およびテーブル直線移動される。
走査ガントリ20は、X線管21と、コリメータ23と、ビーム形成X線フィルタ28と、多列X線検出器24とを含むガントリ回転部15を備える。また、走査ガントリ20は、X線コントローラ22と、データ収集装置(DAS:Data Acquisition System)25と、被検体40の体軸の回りに回転しているX線管21などを制御する回転部コントローラ26と、制御信号などを操作コンソール1や撮影テーブル10とやり取りする制御コントローラ29とを具備している。ビーム形成X線フィルタ28は撮影中心である回転中心に向かうX線の方向にはフィルタの厚さが最も薄く、周辺部に行くに従いフィルタの厚さが増し、X線をより吸収できるようになっているX線フィルタである。このため、円形または楕円形に近い断面形状の被検体40の体表面の被曝を少なくできるようになっている。また、走査ガントリコントローラ27により、走査ガントリ20はz軸方向の前方および後方に±30度ほど傾斜できる。また、走査ガントリコントローラ27は、X線管21および多列X線検出器24またはガントリ回転部15をz軸方向に移動させることができる。
X線管21と多列X線検出器24は、回転中心ICの回りを回転する。鉛直方向をy方向とし、水平方向をx方向とし、これらに垂直なテーブル10の長手方向をz軸方向とするとき、X線管21および多列X線検出器24の回転平面は、xy平面である。
図3Aおよび図3Bは、X線管21と多列X線検出器24の幾何学的配置の図である。図3Aは、X線管21と多列X線検出器24の幾何学的配置をxy平面から見た図であり、図3BはX線管21と多列X線検出器24の幾何学的配置をyz平面から見た図である。X線管21の陽極51は、コーンビームと呼ばれるX線ビームXRを発生する。コーンビームの中心軸方向がy方向に平行なときを、ビュー角度0度とする。多列X線検出器24は、z軸方向にJ列、例えば256列のX線検出器列を有する。また、各X線検出器列はチャネル方向にIチャネル、例えば1024チャネルのX線検出器チャネルを有する。図3Aにおいて、X線管21のX線焦点を出たX線ビームがビーム形成X線フィルタ28により、再構成領域Pの中心ではより多くのX線が、再構成領域Pの周辺部ではより少ないX線が照射される。このようにX線線量を空間的に制御した後に、再構成領域Pの内部に存在する被検体にX線が吸収され、透過したX線が多列X線検出器24でX線検出器データとして収集される。
図3Bでは、X線管21の陽極51を出たX線ビームXRはX線コリメータ23により断層像のスライス厚方向に制御されて、回転中心軸IC近辺に存在する被検体40にX線が吸収され、透過したX線は多列X線検出器24でX線検出器データとして収集される。X線が被検体40に照射されて収集された投影データは、多列X線検出器24からデータ収集装置25でA/D変換され、スリップリング30を経由してデータ収集バッファ5に入力される。データ収集バッファ5に入力されたデータは、記憶装置7のプログラムにより中央処理装置3で処理され、断層像に画像再構成されてモニタ6に表示される。なお、本実施形態では多列X線検出器24を適用した場合であるが、フラットパネルX線検出器に代表されるマトリクス構造の二次元X線エリア検出器を適用することもできるし、1列のX線検出器を適用することができる。
<X線CT装置100の動作フローチャート>
図4は本実施形態のX線CT装置100の動作の概要を示すフローチャートである。
図4は本実施形態のX線CT装置100の動作の概要を示すフローチャートである。
ステップP1では、被検体40をクレードル12に乗せ位置合わせを行う。クレードル12の上に乗せられた被検体40は各部位の基準点に走査ガントリ20のスライスライト中心位置を合わせる。
ステップP2では、スカウト像(スキャノ像、X線透視像ともいう。)収集を行う。スカウト像は被検体40の体の大きさによって成人又は子供の2種類のスカウト像が撮影できるようになっており、さらに通常0度,90度で撮影することができる。部位によっては例えば頭部のように、90度スカウト像のみの場合もある。スカウト像撮影では、X線管21と多列X線検出器24とクレードル12とを相対的に直線移動させながらX線検出器データのデータ収集動作を行う。
ステップP3では、スカウト像上に撮影する断層像の位置、大きさを表示しながら撮影条件設定を行う。本実施形態では、コンベンショナルスキャン(アキシャルスキャン)、ヘリカルスキャン、可変ピッチヘリカルスキャン、ヘリカルシャトルスキャンなどの複数のスキャンパターンを有している。コンベンショナルスキャンとは、クレードル12とX線管21及びX線検出部24とを相対的にZ軸方向に所定ピッチ移動するごとにX線管21及びX線検出部24を回転させて投影データを取得するスキャン方法である。ヘリカルスキャンとは、X線管21とX線検出部24とが回転している状態でクレードル12とX線管21及びX線検出部24とを相対的に所定速度で移動させ、投影データを取得するスキャン方法である。可変ピッチヘリカルスキャンとは、ヘリカルスキャンと同様にX線管21及びX線検出部24を回転させながらクレードル12とX線管21及びX線検出部24とを相対速度を可変させて投影データを取得するスキャン方法である。ヘリカルシャトルスキャンとは、ヘリカルスキャンと同様にX線管21及びX線検出部24を回転させながらクレードル12とX線管21及びX線検出部24とを相対的にZ軸方向又は−Z軸方向に往復移動させて投影データを取得するスキャン方法である。これら複数のスキャンを設定する際には1回分の全体としてのX線線量情報の表示を行う。また、シネスキャンにおいては、回転数または時間を入れるとその関心領域における入力された回転数分、または入力された時間分のX線線量情報が表示される。
ステップP4では、断層像撮影を行う。断層像撮影およびその画像再構成の詳細については図5で後述する。ステップP5では、画像再構成された断層像を表示する。ステップP6では、z軸方向に連続に撮影された断層像を三次元画像として用いて、三次元画像表示を行う。
<断層像撮影およびスカウト像撮影の動作フローチャート>
図5は、本発明のX線CT装置100の断層像撮影およびスカウト像撮影の動作の概略を示すフローチャートである。
図5は、本発明のX線CT装置100の断層像撮影およびスカウト像撮影の動作の概略を示すフローチャートである。
ステップS1において、ヘリカルスキャンは、X線管21と多列X線検出器24とを被検体40の回りに回転させ、かつ撮影テーブル10上のクレードル12とX線管21及びX線検出部24とを相対的に直線移動させながらX線検出器データのデータ収集動作を行う。ビュー角度viewと、検出器列番号jと、チャネル番号iとで表わされるX線検出器データD0(view,j,i)(j=1〜ROW,i=1〜CH)にz軸方向の座標位置Ztable(view)を付加させて、一定速度の範囲のデータ収集を行う。
このz軸方向座標位置はX線投影データに付加させてもよいし、また別ファイルとしてX線投影データと関連付けて用いてもよい。ヘリカルシャトルスキャン、可変ピッチヘリカルスキャン時にX線投影データを三次元画像再構成する場合に、このz方向座標位置の情報は用いられる。また、ヘリカルスキャン、コンベンショナルスキャンまたはシネスキャン時にz方向座標位置の情報を用いることにより、画像再構成された断層像の制度改善、画質改善を実現することもできる。このz方向座標位置はクレードル10の位置制御データを用いてもよいし、撮影条件設定時に設定された撮影動作から予測される時刻におけるz方向座標を用いることもできる。
また、可変ピッチヘリカルスキャンまたはヘリカルシャトルスキャンにおいては、一定速度の範囲のデータ収集に加えて、加速時、減速時においてもデータ収集を行うものとする。また、コンベンショナルスキャン(アキシャルスキャン)またはシネスキャンでは撮影テーブル10上のクレードル12をあるz軸方向位置に固定させたまま、X線管21と多列X線検出器24とを1回転または複数回転させてX線検出器データのデータ収集を行う。必要に応じて、次のz軸方向位置に移動した後に、再度、X線管21と多列X線検出器24とを1回転または複数回転させてX線検出器データのデータ収集を行う。また、スカウト像撮影では、X線管21と多列X線検出器24とを固定させ、撮影テーブル10上のクレードル12を直線移動させながらX線検出器データのデータ収集動作を行うものとする。
ステップS2では、X線検出器データD0(view,j,i)に対して前処理を行い、投影データに変換する。図6にステップS2の前処理について具体的な処理を示す。ステップS21ではオフセット補正を行い、ステップS22では対数変換を行い、ステップS23ではX線線量補正を行い、ステップS24では感度補正を行う。スカウト像撮影の場合は、前処理されたX線検出器データをチャネル方向の画素サイズおよびクレードル12の長手方向であるz軸方向の画素サイズを、モニタ6の表示画素サイズに合わせて表示すればスカウト像として完成である。
図5に戻り、ステップS3において、前処理された投影データD1 (view,j,i)に対して、ビームハードニング補正を行う。ステップS3のビームハードニング補正は、前処理S2のステップS24の感度補正が行われた投影データをD1(view,j,i)とし、ステップS3のビームハードニング補正の後のデータをD11(view,j,i)とすると、ビームハードニング補正は以下の(数式1)のように、例えば多項式形式で表わされる。なお、本明細書において乗算演算は、「●」で表してある。
…(数式1)
この時、検出器のj列ごとに独立したビームハードニング補正を行えるため、撮影条件で各X線管電圧が異なっていれば、列ごとの検出器のX線エネルギー特性の違いを補正できる。
この時、検出器のj列ごとに独立したビームハードニング補正を行えるため、撮影条件で各X線管電圧が異なっていれば、列ごとの検出器のX線エネルギー特性の違いを補正できる。
ステップS4では、ビームハードニング補正された投影データD11(view,j,i)に対して、z軸方向(列方向)のフィルタをかけるzフィルタ重畳処理を行う。すなわち、各ビュー角度、各データ収集系における前処理後、ビームハードニング補正された多列X線検出器D11(view,j,i) (i=1〜CH, j=1〜ROW)の投影データに対し、列方向に例えば下記の(数式2),(数式3)に示すような、列方向フィルタサイズが5列のフィルタをかける。
(w1(i),w2(i),w3(i),w4(i),w5(i)) …(数式2)
(w1(i),w2(i),w3(i),w4(i),w5(i)) …(数式2)
ただし、
…(数式3)
補正された検出器データD12(view,j,i)は以下の(数式4)のようになる。
…(数式4)
となる。なお、チャネルの最大値はCH,
列の最大値はROWとすると、
以下の(数式5),(数式6)のようになる。
…(数式5)
…(数式6)
補正された検出器データD12(view,j,i)は以下の(数式4)のようになる。
となる。なお、チャネルの最大値はCH,
列の最大値はROWとすると、
以下の(数式5),(数式6)のようになる。
また、列方向フィルタ係数をチャネルごとに変化させると画像再構成中心からの距離に応じてスライス厚を制御できる。一般的に断層像では再構成中心に比べ周辺部の方がスライス厚が厚くなる。このため、フィルタ係数を中心部と周辺部で変化させてスライス厚は周辺部でも画像再構成中心部でも一様にすることもできる。例えば、方向フィルタ係数を中心部チャンネル近辺では列方向フィルタ係数の幅を広く変化させ、周辺部チャンネル近辺では列方向フィルタ係数の幅を狭く変化させると、スライス厚は周辺部でも画像再構成中心部でも一様にすることもできる。
このように、多列X線検出器24の中心部チャネルと周辺部チャネルの列方向フィルタ係数を制御してやることにより、スライス厚も中心部と周辺部で制御できる。列方向フィルタでスライス厚を弱干厚くすると、アーチファクト、ノイズともに大幅に改善される。これによりアーチファクト改善具合、ノイズ改善具合も制御できる。つまり、三次元画像再構成された断層像つまり、xy平面内の画質が制御できる。また、その他の実施形態として列方向(z軸方向)フィルタ係数を逆重畳(デコンボリューション)フィルタにすることにより、薄いスライス厚の断層像を実現することもできる。
ステップS5では、再構成関数重畳処理を行う。すなわち、投影データを周波数領域に変換する高速フーリエ変換(FFT:Fast Fourier Transform)をして、再構成関数を掛け、逆フーリエ変換する。再構成関数重畳処理S5では、zフィルタ重畳処理後の投影データをD12とし、再構成関数重畳処理後の投影データをD13、重畳する再構成関数をKernel(j)とすると、再構成関数重畳処理は以下の(数式7)のように表わされる。なお、本明細書において重畳(コンボリューション)演算は、「*」で表してある。
…(数式7)
つまり、再構成関数Kernel(j)は検出器のj列ごとに独立した再構成関数重畳処理を行えるため、列ごとのノイズ特性、分解能特性の違いを補正できる。
つまり、再構成関数Kernel(j)は検出器のj列ごとに独立した再構成関数重畳処理を行えるため、列ごとのノイズ特性、分解能特性の違いを補正できる。
ステップS6では、再構成関数重畳処理した投影データD13(view,j,i)に対して、三次元逆投影処理を行い、逆投影データD3(x,y,z)を求める。画像再構成される画像はz軸に垂直な面、xy平面に三次元画像再構成される。以下の再構成領域Pはxy平面に平行なものとする。この三次元逆投影処理については、図7を参照して後述する。
ステップS7では、逆投影データD3(x,y,z)に対して画像フィルタ重畳、CT値変換などの後処理を行い、断層像D31(x,y,z)を得る。後処理の画像フィルタ重畳処理では、三次元逆投影後の断層像をD31(x,y,z)とし、画像フィルタ重畳後のデータをD32(x,y,z)、断層像平面であるxy平面において重畳される二次元の画像フィルタをFilter(z)とすると、以下の(数式8)のようになる。
…(数式8)
つまり、各z座標位置の断層像ごとに独立した画像フィルタ重畳処理を行えるため、列ごとのノイズ特性、分解能特性の違いを補正できる。
つまり、各z座標位置の断層像ごとに独立した画像フィルタ重畳処理を行えるため、列ごとのノイズ特性、分解能特性の違いを補正できる。
また、この二次元の画像フィルタ重畳処理の後に、下記に示す画像空間z軸方向フィルタ重畳処理を行ってもよい。また、この画像空間z軸方向フィルタ重畳処理は二次元画像フィルタ重畳処理の前に行ってもよい。さらには、三次元の画像フィルタ重畳処理を行って、この二次元の画像フィルタ重畳処理と、画像空間z軸方向フィルタ重畳処理の両方を兼ねるような効果を出してもよい。
画像空間z軸方向フィルタ重畳処理では、画像空間z軸方向フィルタ重畳処理された断層像をD33(x,y,z)、二次元の画像フィルタ重畳処理された断層像をD32(x,y,z)とすると、以下の(数式9)のようになる。ただし、v(i)はz軸方向の幅が21+1の画像空間z軸方向フィルタ係数で以下の(数式10)のような係数列となる。
…(数式9)
…(数式10)
なお、ヘリカルスキャンにおいては、画像空間フィルタ係数v(i)はz軸方向位置に依存しない画像空間z軸方向フィルタ係数であってよい。しかし、特にz軸方向に検出器幅の広い多列X線検出器24又は二次元X線エリア検出器などを用い、コンベンショナルスキャン(アキシャルスキャン)またはシネスキャンをする場合は、画像空間z軸方向フィルタ係数v(i)はz軸方向のX線検出器の列の位置に依存した画像空間z軸方向フィルタ係数を用いるのが好ましい。なぜなら、各断層像の列位置に依存した詳細な調整ができるので効果的であるからである。
<三次元逆投影処理のフローチャート>
図7は、図6のステップS6の詳細を示したもので、三次元逆投影処理のフローチャートである。本実施形態では、画像再構成される画像はz軸に垂直な面、xy平面に三次元画像再構成される。以下の再構成領域Pはxy平面に平行なものとする。
図7は、図6のステップS6の詳細を示したもので、三次元逆投影処理のフローチャートである。本実施形態では、画像再構成される画像はz軸に垂直な面、xy平面に三次元画像再構成される。以下の再構成領域Pはxy平面に平行なものとする。
ステップS61では、断層像の画像再構成に必要な全ビュー(すなわち、360度分のビュー又は「180度分+ファン角度分」のビュー)中の一つのビューに着目し、再構成領域Pの各画素に対応する投影データDrを抽出する。
ここで、図8および図9を使って、投影データDrについて説明する。図8は再構成領域上のラインをX線透過方向へ投影する状態を示す概念図であり、そのAはxy平面、Bはyz平面を示している。図9はX線検出器面に投影したラインを示す概念図である。図8に示すように、xy平面に平行な512×512画素の正方形の領域を再構成領域Pとし、y=0のx軸に平行な画素列L0,y=63の画素列L63,y=127の画素列L127,y=191の画素列L191,y=255の画素列L255,y=319の画素列L319,y=383の画素列L383,y=447の画素列L447,y=511の画素列L511を列にとる。そして、これらの画素列L0〜L511をX線透過方向に多列X線検出器24の面に投影した図9に示す如きラインT0〜T511上の投影データを抽出すれば、それらが画素列L0〜L511の投影データDr(view,x,y)となる。ただし、x,yは断層像の各画素(x,y)に対応する。
X線透過方向は、X線管21のX線焦点と各画素と多列X線検出器24との幾何学的位置によって決まるが、X線検出器データD0(view,j,i)のz座標z(view)がテーブル直線移動z軸方向位置Ztable(view)としてX線検出器データに添付されて判っているため、加速・減速中のX線検出器データD0(view,j,i)でもX線焦点、多列X線検出器のデータ収集幾何学系の中において、X線透過方向を正確に求めることができる。
なお、例えば画素列L0をX線透過方向に多列X線検出器24の面に投影したラインT0のように、ラインの一部が多列X線検出器24のチャネル方向の外に出た場合は、対応する投影データDr(view,x,y)を「0」にする。また、z軸方向の外に出た場合は投影データDr(view,x,y)を補外して求める。
図7に戻り、ステップS62では、投影データDr(view,x,y)にコーンビーム再構成加重係数を乗算する。ここで、コーンビーム再構成加重係数w(i,j)は以下の通りである。ファンビーム画像再構成の場合は、一般に、view=βaでX線管21の焦点と再構成領域P上(xy平面上)の画素g(x,y)とを結ぶ直線がX線ビームの中心軸Bcに対してなす角度をγとし、その対向ビューをview=βbとするとき、以下の(数式11)のようになる。
βb=βa+180°−2γ…(数式11)
βb=βa+180°−2γ…(数式11)
再構成領域P上の画素g(x,y)を通るX線ビームとその対向X線ビームが再構成平面Pとなす角度を、αa,αbとすると、これらに依存したコーンビーム再構成加重係数ωa,ωbを掛けて加算し、逆投影画素データD2(0,x,y)を求める。この場合、(数式12)のようになる。
D2(0,x,y)=ωa・D2(0,x,y)_ a+ωb・D2(0,x,y)_ b …(数式12)
ただし、D2(0,x,y)_aはビューβaの逆投影データ、D2(0,x,y)_bはビューβbの逆投影データとする。
なお、コーンビーム再構成加重係数の対向ビーム同士の和は、(数式13)のようになる。
ωa+ωb=1 …(数式13)
コーンビーム再構成加重係数ωa,ωbを掛けて加算することにより、コーン角アーチファクトを低減することができる。
D2(0,x,y)=ωa・D2(0,x,y)_ a+ωb・D2(0,x,y)_ b …(数式12)
ただし、D2(0,x,y)_aはビューβaの逆投影データ、D2(0,x,y)_bはビューβbの逆投影データとする。
なお、コーンビーム再構成加重係数の対向ビーム同士の和は、(数式13)のようになる。
ωa+ωb=1 …(数式13)
コーンビーム再構成加重係数ωa,ωbを掛けて加算することにより、コーン角アーチファクトを低減することができる。
例えば、コーンビーム再構成加重係数ωa,ωbは、次式により求めたものを用いることができる。なお、gaはビューβaの加重係数、gbはビューβbの加重係数である。ファンビーム角の1/2をγmaxとするとき、以下の(数式14)から(数式19)のようになる。
(例えば、q=1とする)
例えば、ga,gbの一例として、max[ ]を値の大きい方を採る関数とすると、以下の(数式20),(数式21)のようになる。
例えば、ga,gbの一例として、max[ ]を値の大きい方を採る関数とすると、以下の(数式20),(数式21)のようになる。
また、ファンビーム画像再構成の場合は、更に距離係数を再構成領域P上の各画素に乗算する。距離係数はX線管21の焦点から投影データDrに対応する多列X線検出器24の検出器列j,チャネルiまでの距離をr0とし、X線管21の焦点から投影データDrに対応する再構成領域P上の画素までの距離をr1とするとき、(r1/r0)2である。また、平行ビーム画像再構成の場合は、再構成領域P上の各画素にコーンビーム再構成加重係数w(i,j)のみを乗算すればよい。
ステップS63では、予めクリアしておいた逆投影データD3(x,y)に、投影データD2(view,x,y)を画素対応に加算する。
以上、図7の三次元逆投影処理のフローチャートは、図8に示す再構成領域Pを正方形512×512画素として説明したものである。しかしこれに限られるものではない。図10は円形の再構成領域上のラインをX線透過方向へ投影する状態を示す概念図であり、そのAはxy平面、Bはyz平面である。この図10に示すように、再構成領域Pを512×512画素の正方形の領域とせずに、直径512画素の円形の領域としてもよい。
上記の動作を行うX線CT装置100においては、ヘリカルシャトルスキャンは被検体40とX線データ収集が相対的に動くことにより、z軸方向に広い範囲の被検体40のX線投影データが収集できる。
図23のように、従来のヘリカルシャトルスキャンにおいては、X線データ収集のz軸方向の範囲を広げるために、被検体40を乗せた撮影テーブル10のクレードル12をz軸方向に往復移動させていた。しかし、この往復動作で被検体40は“乗り物酔い”を感じ、体感を損ねる場合がある。
<被検体40を動かさないヘリカルシャトルスキャン>
本実施形態においては、以下の4つの実施例により、被検体40を動かさずにヘリカルシャトルスキャンを実現させる。走査ガントリコントローラ27が、X線管21および多列X線検出器24またはガントリ回転部15を駆動制御する。
実施例1: 走査ガントリ20が往復するヘリカルシャトルスキャン
実施例2: 走査ガントリ20のガントリ回転部15が往復するヘリカルシャトルスキャン
実施例3: X線管21および多列X線検出器24が往復動作するヘリカルシャトルスキャン
実施例4: X線管21および多列X線検出器24の傾斜した往復動作によるヘリカルシャトルスキャン
本実施形態においては、以下の4つの実施例により、被検体40を動かさずにヘリカルシャトルスキャンを実現させる。走査ガントリコントローラ27が、X線管21および多列X線検出器24またはガントリ回転部15を駆動制御する。
実施例1: 走査ガントリ20が往復するヘリカルシャトルスキャン
実施例2: 走査ガントリ20のガントリ回転部15が往復するヘリカルシャトルスキャン
実施例3: X線管21および多列X線検出器24が往復動作するヘリカルシャトルスキャン
実施例4: X線管21および多列X線検出器24の傾斜した往復動作によるヘリカルシャトルスキャン
なお、この場合にヘリカルシャトルスキャンのz軸方向のX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作を図15に示す。
z0はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作の初期位置を示す。z1はその相対動作の加速終了位置を示す。z2はその相対動作の減速開始位置を示す。z3はその相対動作の停止位置を示す。
[z0,z1]の範囲はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作加速度のa1で加速される。
[z1,z2]の範囲は一定速度v1で動作する。
[z2,z3]の範囲はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作減速度のa2で減速される。
z0はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作の初期位置を示す。z1はその相対動作の加速終了位置を示す。z2はその相対動作の減速開始位置を示す。z3はその相対動作の停止位置を示す。
[z0,z1]の範囲はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作加速度のa1で加速される。
[z1,z2]の範囲は一定速度v1で動作する。
[z2,z3]の範囲はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作減速度のa2で減速される。
この場合、時刻でなくz座標で制御を行う理由としては、撮影テーブル10のクレードル12を実際に制御する撮影テーブル制御装置は制御を時刻で行うより、撮影テーブルのz座標で行う方が制御しやすいためである。勿論、上記の撮影テーブルの制御はz座標で行うのではなく、時刻で行っても同様に可能である。
また、ヘリカルシャトルスキャンは上記のz0からz3までの動作だけでなく、z0→z3→z0→z3というように複数回往復を行う。図15では、1.5往復している様子を示している。
本実施例において、走査ガントリ20が往復するヘリカルシャトルスキャンの例を示す。その概念図を図11に示す。
図11Aにおいて、X線管21および多列X線検出器24は、回転して被検体40のX線投影データを収集しながら走査ガントリ20はz軸方向に往復動作を行う。この時のX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作は図15に示す通りである。
図11Bは、走査ガントリ20内部を拡大した図である。リニアガイド89上に置かれたベース81上には回転球82が設けられている。回転球82上に、前後方向に傾斜可能なサブベース83が設けられている。不図示の回転モータがフロアに設けられ、不図示のモータが回転することで不図示のモータに取り付けられたボールネジが回転する。そしてボールネジでベース81を引っ張ったり押したりすることで、ベース81を図11B中左右に動かすと、走査ガントリ20はz軸方向に往復動作を行う。ガントリ回転部15はベアリング90を介して回転可能になっている。そして、走査ガントリ20に設けられた不図示のモータがベルトを介してガントリ回転部15の回転駆動を行う。ガントリ回転部15内には、X線管21、コリメータ23、およびX線検出部24が備えられている。
ガントリ回転部15にはさらに、スリップリング30が取り付けられている。スリップリング30は、一般には、径の異なるリングが複数個、同心円状に取り付けられた円環状の導電体であって、回転電極としての役割を果たすものである。そして、このスリップリング30には、導電体であって静止電極としての役割を果たす板バネ形状のブラシがそのバネ力を利用して押圧接触している。これによってガントリ回転部15に内蔵されているX線管21やX線検出部24等との信号の受け渡しおよび給電が行われる。
本実施例においては、走査ガントリ20の内部のガントリ回転部15がz軸方向に往復動作するヘリカルシャトルスキャンの例を示す。その概念図を図12に示す。
図12Aにおいて、X線管21および多列X線検出器24が回転して被検体40のX線投影データを収集しながら、走査ガントリ20の内部のガントリ回転部15がz軸方向に往復動作を行う。この時のX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作は図15に示す通りである。
図12Bは、走査ガントリ20内部を拡大した図である。ベース81上には回転球82が設けられている。回転球82上に、前後方向に傾斜可能なサブベース83が設けられている。サブベース83に固定されたステージ84が設けられており、ステージ84にリニアガイド85が設けられている。リニアガイド85上には、z軸方向に移動可能なようにガントリ回転部15が載置されている。不図示の回転モータがサブベース83に設けられ、不図示のモータが回転することで不図示のモータに取り付けられたボールネジが回転する。ガントリ回転部15をz軸方向にボールネジが引っ張ったり押したりすることで、リニアガイド85が図12B中左右に動き、ガントリ回転部15がz軸方向に、図12Aに示すXL間を往復動作する。ガントリ回転部15はベアリング90を介して回転可能になっている。そして、走査ガントリ20に設けられた不図示のモータがベルトを介してガントリ回転部15の回転駆動を行う。ガントリ回転部15内には、X線管21、コリメータ23、およびX線検出部24が備えられている。
ガントリ回転部15にはさらに、スリップリング30が取り付けられている。そして、このスリップリング30には、導電体であって静止電極としての役割を果たす板バネ形状のブラシがそのバネ力を利用して押圧接触している。これによってガントリ回転部15に内蔵されているX線管21やX線検出部24等との信号の受け渡しおよび給電が行われる。
本実施例においては、走査ガントリ20のガントリ回転部15にあるX線管21および多列X線検出器24がz軸方向に往復動作する、または、X線管21および多列X線検出器24のうち少なくとも1つがz軸方向に往復動作するヘリカルシャトルスキャンの例を示す。その概念図を図13に示す
図13Aにおいて、X線管21および多列X線検出器24は、回転して被検体40のX線投影データを収集しながらz軸方向に往復動作を行う。または、X線管21および多列X線検出器24のうち少なくとも1つがz軸方向に往復動作を行う。この時のX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対動作は図15に示す通りである。
図13Bは、走査ガントリ20内部を拡大した図である。ベース81上には回転球82が設けられている。回転球82上に、前後方向に傾斜可能なサブベース83が設けられている。サブベース83にガントリ回転部15が固定されている。ガントリ回転部15にリニアモータ86の固定子が設けられている。リニアモータ86の可動子上には、z軸方向に移動可能なようにX線管21および多列X線検出器24が載置されている。リニアモータ86の可動子が図13B中左右に動き、X線管21および多列X線検出器24がz軸方向に、図13Aに示すXL間を往復動作する。ガントリ回転部15はベアリング90を介して回転可能になっている。そして、走査ガントリ20に設けられた不図示のモータがベルトを介してガントリ回転部15の回転駆動を行う。
ガントリ回転部15にはさらに、スリップリング30が取り付けられている。そして、このスリップリング30には、導電体であって静止電極としての役割を果たす板バネ形状のブラシがそのバネ力を利用して押圧接触している。これによってガントリ回転部15に内蔵されているX線管21やX線検出部24等との信号の受け渡しおよび給電が行われる。
本実施例においては、走査ガントリ20のガントリ回転部15にあるX線管21および多列X線検出器24がz軸方向の前後に傾斜し、その傾斜動作を往復動作させるヘリカルシャトルスキャンの例を示す。その概念図を図14に示す。
図14Aでは、X線管21および多列X線検出器24が回転して被検体40のX線投影データを収集しながら、X線管21および多列X線検出器24がz軸方向の前後に往復傾斜動作を行う。この時のX線管21および多列X線検出器24とからなるX線管21および多列X線検出器24の回転面が被検体40を照射して、被検体40の体軸と交わるz軸方向座標の位置は[z0,z1]の間を往復する。この時のX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対的動作は図15に示す通りである。
図14Bは、走査ガントリ20内部を拡大した図である。回転可能なガントリ回転部15の一方には前後方向に傾斜可能なスロープ93が設けられており、スロープ93上には回転球94が設けられている。回転球94上には、多列X線検出器24が載置されている。ガントリ回転部15の他方にも前後方向に傾斜可能なスロープ95が設けられており、不図示の回転球上には、X線管21が載置されている。ガントリ回転部15に不図示の回転モータが設けられ、モータが回転すると、X線管21および多列X線検出器24がZ軸方向に傾斜する。
ガントリ回転部15にはさらに、スリップリング30が取り付けられている。そして、このスリップリング30には、導電体であって静止電極としての役割を果たす板バネ形状のブラシがそのバネ力を利用して押圧接触している。これによってガントリ回転部15に内蔵されているX線管21やX線検出部24等との信号の受け渡しおよび給電が行われる。
なお、この時に被検体40のX線被曝を低減する実施例を以下に示す。
図16Aにヘリカルスキャン中にX線管21および多列X線検出器24を傾斜させたX線無駄被曝の少ないスキャンのデータ収集の動作の概要を示す。 図16Bに、傾斜角度制御付ヘリカルシャトルスキャンのX線管21および多列X線検出器24と被検体との相対動作を示す。
図16Aにヘリカルスキャン中にX線管21および多列X線検出器24を傾斜させたX線無駄被曝の少ないスキャンのデータ収集の動作の概要を示す。 図16Bに、傾斜角度制御付ヘリカルシャトルスキャンのX線管21および多列X線検出器24と被検体との相対動作を示す。
−θ0はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角の初期位置を示す。この時のz軸方向テーブル座標位置はz0である。
−θ1はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角の加速終了位置を示す。この時のz軸方向テーブル座標位置はz4である。
θ2はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角の減速開始位置を示す。この時のz軸方向テーブル座標位置はz5である。
+θ0はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角の停止位置を示す。この時のz軸方向テーブル座標位置はz3である。
−θ1はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角の加速終了位置を示す。この時のz軸方向テーブル座標位置はz4である。
θ2はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角の減速開始位置を示す。この時のz軸方向テーブル座標位置はz5である。
+θ0はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角の停止位置を示す。この時のz軸方向テーブル座標位置はz3である。
[−θ0,−θ1]の範囲はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角は加速される。
この時の再加速度の変化は非線形であり、以下の(数式22)で示される。
… (数式22)
[θ2,+θ0]の範囲はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角は減速される。
この時の再減速度の変化は非線形であり、以下の(数式23)で示される。
… (数式23)
この時の再加速度の変化は非線形であり、以下の(数式22)で示される。
[θ2,+θ0]の範囲はX線管21および多列X線検出器24の傾斜角は減速される。
この時の再減速度の変化は非線形であり、以下の(数式23)で示される。
ここでz0:X線管21および多列X線検出器24と被検体とのz方向相対初期位置
z1:X線管21および多列X線検出器24と被検体とのz方向相対加速終了位置
z2:X線管21および多列X線検出器24と被検体とのz方向相対減速開始位置
z3:X線管21および多列X線検出器24と被検体とのz方向相対停止位置である。
[−θ1,θ2]の範囲はX線管21および多列X線検出器24は一定角速度ω1で動作する。
[z0,z1]の範囲はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対位置の加速度a1で加速される。[z1,z2]の範囲は一定速度v1で動作する。[z2,z3]の範囲はその相対位置が減速度a2で減速される。
このように、X線管21および多列X線検出器24の傾斜動作の加速減速制御とX線管21および多列X線検出器24のZ軸方向動作の加速減速制御とは、独立して行われる。
なお、この時のX線管21および多列X線検出器24のX線ビームの片側の回転面はz軸に垂直方向で、xy平面にほぼ平行である。このため、被検体40に照射されるX線ビームはxyz空間において直方体で最小の範囲となり、被曝低減が実現される。
z1:X線管21および多列X線検出器24と被検体とのz方向相対加速終了位置
z2:X線管21および多列X線検出器24と被検体とのz方向相対減速開始位置
z3:X線管21および多列X線検出器24と被検体とのz方向相対停止位置である。
[−θ1,θ2]の範囲はX線管21および多列X線検出器24は一定角速度ω1で動作する。
[z0,z1]の範囲はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対位置の加速度a1で加速される。[z1,z2]の範囲は一定速度v1で動作する。[z2,z3]の範囲はその相対位置が減速度a2で減速される。
このように、X線管21および多列X線検出器24の傾斜動作の加速減速制御とX線管21および多列X線検出器24のZ軸方向動作の加速減速制御とは、独立して行われる。
なお、この時のX線管21および多列X線検出器24のX線ビームの片側の回転面はz軸に垂直方向で、xy平面にほぼ平行である。このため、被検体40に照射されるX線ビームはxyz空間において直方体で最小の範囲となり、被曝低減が実現される。
<被検体40を動かさない可変ピッチヘリカルスキャン>
本実施例1、本実施例2および本実施例3においては、被検体40とX線管21およびX線検出器24との相対動作として加速部分、減速部分、一定速度部分からなるヘリカルシャトルスキャンの例を示した。しかし、もう少し複雑な加速、減速、一定速度のパターンを持った可変ピッチヘリカルスキャンの往復スキャンの場合も同様に効果を出すことができる。図17に可変ピッチヘリカルスキャンを用いた往復スキャンのX線管21および多列X線検出器24と被検体40における一方向分の動作を示す。
本実施例1、本実施例2および本実施例3においては、被検体40とX線管21およびX線検出器24との相対動作として加速部分、減速部分、一定速度部分からなるヘリカルシャトルスキャンの例を示した。しかし、もう少し複雑な加速、減速、一定速度のパターンを持った可変ピッチヘリカルスキャンの往復スキャンの場合も同様に効果を出すことができる。図17に可変ピッチヘリカルスキャンを用いた往復スキャンのX線管21および多列X線検出器24と被検体40における一方向分の動作を示す。
z0はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対位置の初期位置で、z1はその相対位置の加速終了位置を示す。また、z2はその相対位置の減速開始位置を示し、z3はその相対位置の減速終了位置を示す。
z4はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対位置の加速開始位置を示し、z5はその相対位置の加速終了位置を示す。また、z6はその相対位置の減速開始位置を示し、z7はその相対位置の減速終了位置を示す。
z8はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対位置の減速開始位置を示し、
z9はその相対位置の停止位置を示す。
z4はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対位置の加速開始位置を示し、z5はその相対位置の加速終了位置を示す。また、z6はその相対位置の減速開始位置を示し、z7はその相対位置の減速終了位置を示す。
z8はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対位置の減速開始位置を示し、
z9はその相対位置の停止位置を示す。
[z0,z1]の範囲はX線管21および多列X線検出器24と被検体40との相対位置が加速度a1で加速される。[z2,z3]の範囲はその相対位置が減速度a2で減速される。
[z4,z5]の範囲はその相対位置が加速度a3で加速され、[z6,z7]の範囲はその相対位置が減速度a4で減速される。
[z8,z9]の範囲はその相対位置が減速度a5で減速される。
[z4,z5]の範囲はその相対位置が加速度a3で加速され、[z6,z7]の範囲はその相対位置が減速度a4で減速される。
[z8,z9]の範囲はその相対位置が減速度a5で減速される。
そして、[z1,z2]の範囲は一定速度v1で動作し、[z3,z4]の範囲は一定速度v2で動作する。また、[z5,z6]の範囲は一定速度v1で動作し、[z7,z8]の範囲は一定速度v3で動作する。このようにして可変ピッチヘリカルスキャンの往復スキャンの場合でも同様に効果を出すことができる。
<X線管電流mAの最適化>
一般的にヘリカルシャトルスキャン、z軸方向に往復する可変ピッチヘリカルスキャンにおいては、加速部分、減速部分、様々な速度または1つの速度の一定速度部分から構成されるスキャンであるため、z軸方向に断層像の画質を一定に保とうと考えた場合には、X線CT装置100の自動露出機構が必要となる。
一般的にヘリカルシャトルスキャン、z軸方向に往復する可変ピッチヘリカルスキャンにおいては、加速部分、減速部分、様々な速度または1つの速度の一定速度部分から構成されるスキャンであるため、z軸方向に断層像の画質を一定に保とうと考えた場合には、X線CT装置100の自動露出機構が必要となる。
本実施例においては、X線CT装置100に自動露出機構を持たせたz軸方向に往復する可変ピッチヘリカルスキャンやヘリカルシャトルスキャンにおけるヘリカルピッチ、画像再構成に用いる投影データの回転数の変化を考慮したX線管電流mAの最適化を述べる。
図18、図19および図20は、z軸方向に往復動作を行う可変ピッチヘリカルスキャンまたはヘリカルシャトルスキャンの座標(図A)、ヘリカルピッチ(図B)、使用データ回転数(図C)およびX線管電流mA(図D)を示したものである。図18B、図19Bおよび図20Bに示すように、z軸方向に往復する可変ピッチヘリカルスキャンやヘリカルシャトルスキャンは、z軸方向または時刻t方向とともにヘリカルピッチが変化する。被検体40とX線管21および多列X線検出器24との相対動作において特に開始点z0、停止点z3においてはヘリカルピッチは0になる。つまり、場合によっては開始点z0、停止点z3においてX線管21および多列X線検出器24は、被検体40とX線管21および多列X線検出器24との相対動作においてある一定時間滞留する。また、画像再構成に使用するX線投影データはX線管21および多列X線検出器24の加速時、減速時において1回転以上使用してS/Nを改善することができる。
図18Aにおけるz軸方向に往復する可変ピッチヘリカルスキャンまたはヘリカルシャトルスキャンでは、z座標については、以下のように制御する。
時刻[t0,t1]間における被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24はz0に滞留する。
時刻[t1,t2]間における被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24は[z0,z1]間を加速しながら移動する。
時刻[t2,t3]間における被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24は[z1,z2]間を一定速度で移動する。
時刻[t3,t4]間における被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24は[z2,z3]間を減速しながら移動する。
時刻[t4,t5]間における被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24はz3に滞留する。
時刻[t1,t2]間における被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24は[z0,z1]間を加速しながら移動する。
時刻[t2,t3]間における被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24は[z1,z2]間を一定速度で移動する。
時刻[t3,t4]間における被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24は[z2,z3]間を減速しながら移動する。
時刻[t4,t5]間における被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24はz3に滞留する。
図18Bに示すヘリカルピッチついては、以下のように制御する。
時刻[t0,t1]間では0である。時刻[t1,t2]間では加速する。時刻[t2,t3]間ではヘリカルピッチHP1で一定となる。時刻[t3,t4]間では減速する。時刻[t4,t5]間では0に戻る。
時刻[t0,t1]間では0である。時刻[t1,t2]間では加速する。時刻[t2,t3]間ではヘリカルピッチHP1で一定となる。時刻[t3,t4]間では減速する。時刻[t4,t5]間では0に戻る。
画像再構成に使用するX線投影データについては、以下のように制御する。ただし図18Cの通り、n>1とする。
時刻t0では1回転である。
時刻[t0,t2]間の途中で最大値n回転のX線投影データを用いる。
時刻t2においては1回転に戻る。
時刻[t2,t3]間では1回転で一定である。
時刻t3では1回転であるが、時刻[t3,t5]間の途中で最大値n回転のX線投影データを用いる。
時刻t5においては1回転に戻る。
時刻t0では1回転である。
時刻[t0,t2]間の途中で最大値n回転のX線投影データを用いる。
時刻t2においては1回転に戻る。
時刻[t2,t3]間では1回転で一定である。
時刻t3では1回転であるが、時刻[t3,t5]間の途中で最大値n回転のX線投影データを用いる。
時刻t5においては1回転に戻る。
特にヘリカルピッチが1以下の部分については、画像再構成に用いるX線投影データの範囲をより大きく取ることができ、画質を改善することができる。ヘリカルシャトルスキャン、z軸方向に往復する可変ピッチヘリカルスキャンの加減速時においては特にこれが有効となる。
この場合は、時刻[t0,t5]においては通常のコンベンショナルスキャン(アキシャルスキャン)の画像再構成により近づけ、時刻[t2,t3]においては通常のヘリカルスキャンの画像再構成に近づけるために、時刻[t0,t5]、時刻[t2,t3]においては画像再構成に使用するX線投影データを1回転にしている。
このため、画質を時刻[t0,t4]の間で一定にするようにX線管電流mAを制御することを考えると、X線管電流mAを図18Dの通りに制御する。ただし、mA2>mA1とする。
時刻t0ではX線管電流mA1である。
時刻[t0,t2]ではX線管電流mA1からX線管電流mA2に増加し、時刻t2ではX線管電流mA2になる。
時刻[t2,t3]ではX線管電流mA2で一定で、時刻t3ではX線管電流mA2である。
時刻[t3,t5]ではX線管電流mA2からX線管電流mA1に減少し、時刻t5ではX線管電流mA1に戻る。
時刻[t0,t2]ではX線管電流mA1からX線管電流mA2に増加し、時刻t2ではX線管電流mA2になる。
時刻[t2,t3]ではX線管電流mA2で一定で、時刻t3ではX線管電流mA2である。
時刻[t3,t5]ではX線管電流mA2からX線管電流mA1に減少し、時刻t5ではX線管電流mA1に戻る。
なお、時刻[t0,t2]、時刻[t3,t5]においては、ヘリカルピッチHPとX線管電流mAと画像再構成で使用するX線投影データの範囲の長さLの間には、以下の(数式24)の関係で制御するとz軸方向に一定の画質が得られる。なお、乗算演算は、「●」で表してある。
…(数式24)
つまり、X線管電流mAとX線投影データの範囲の長さLの積とヘリカルピッチHPの比が一定もしくは、ほぼ一定になるように制御することでz軸方向に一定の画質が得られる。
図19におけるz軸方向に往復する可変ピッチヘリカルスキャンまたはヘリカルシャトルスキャンは、図19Aおよび図19Bに示すように、被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24のz座標およびヘリカルピッチを制御する。図18Aおよび図18Bで示したものと同じであるので説明は割愛する。
図19Cに示す使用データ回転数ついては、次のように制御する。ただし、n>1とする。
時刻[t0,t2]間ではn回転から1回転に減少する。
時刻[t2,t3]間では1回転で一定である。
時刻[t3,t4]間では1回転からn回転に増加する。
このため、時刻[t0,t2]、時刻[t3,t4]には、より多くのX線投影データが用いられ画質が良くなる。そのため画質を時刻[t0,t4]の間で一定にすることを考えると、X線管電流mAは時刻[t0,t2]、時刻[t3,t4]の間は、より少なくすることができる。特にヘリカルピッチが1以下の部分については、画像再構成に用いるX線投影データの範囲をより大きく取ることができ、画質を改善することができる。ヘリカルシャトルスキャン、可変ピッチヘリカルスキャンの加減速時においては特にこれが有効となる。
時刻[t0,t2]間ではn回転から1回転に減少する。
時刻[t2,t3]間では1回転で一定である。
時刻[t3,t4]間では1回転からn回転に増加する。
このため、時刻[t0,t2]、時刻[t3,t4]には、より多くのX線投影データが用いられ画質が良くなる。そのため画質を時刻[t0,t4]の間で一定にすることを考えると、X線管電流mAは時刻[t0,t2]、時刻[t3,t4]の間は、より少なくすることができる。特にヘリカルピッチが1以下の部分については、画像再構成に用いるX線投影データの範囲をより大きく取ることができ、画質を改善することができる。ヘリカルシャトルスキャン、可変ピッチヘリカルスキャンの加減速時においては特にこれが有効となる。
したがって、画質を時刻[t0,t4]の間で一定にするようにX線管電流mAを制御することを考える。X線管電流mAを図19Dの通りに制御する。ただし、mA2>mA1とする。
時刻t0ではX線管電流mA1である。
時刻[t0,t2]ではX線管電流mA1からX線管電流mA2に増加し、時刻t2ではX線管電流mA2になる。
時刻[t2,t3]ではX線管電流mA2で一定で、時刻t3ではX線管電流mA2である。
時刻[t3,t5]ではX線管電流mA2からX線管電流mA1に減少し、時刻t5ではX線管電流mA1に戻る。
時刻[t0,t2]ではX線管電流mA1からX線管電流mA2に増加し、時刻t2ではX線管電流mA2になる。
時刻[t2,t3]ではX線管電流mA2で一定で、時刻t3ではX線管電流mA2である。
時刻[t3,t5]ではX線管電流mA2からX線管電流mA1に減少し、時刻t5ではX線管電流mA1に戻る。
なお、時刻[t0,t2]、時刻[t3,t5]においては、ヘリカルピッチHPとX線管電流mAと画像再構成で使用するX線投影データの範囲の長さLの間には、前記の(数式24)の関係で制御するとz軸方向に一定の画質が得られる。つまり、X線管電流mAとX線投影データの範囲の長さLの積とヘリカルピッチHPの比が一定もしくは、ほぼ一定になるように制御することでz軸方向に一定の画質が得られる。
この場合は、時刻[t2,t3]においては通常のヘリカルスキャンの画像再構成に近づけるために、時刻[t2,t3]においては画像再構成に使用する投影データを1回転にしている。時刻[t0,t2]、時刻[t3,t5]においては被検体40とX線管21およびX線検出器24との相対速度としてz軸方向に進む速度が時刻t0、時刻t5に近づくにつれ、より遅くなっている。
このため、断層像のz軸方向の厚さであるスライス厚を増やさずに、つまり断層像のz軸方向の分解能を落とさずに、より画像ノイズを改善する。これにより、X線管電流mAを少なくし、X線被曝を低減できることを考える。そのため、時刻t0、時刻t5においてn回転のX線投影データを画像再構成に使用している。
図20におけるz軸方向に往復する可変ピッチヘリカルスキャンまたはヘリカルシャトルスキャンは、図20Aおよび図20Bに示すように、被検体40から見たX線管21および多列X線検出器24のz座標およびヘリカルピッチを制御する。図18Aおよび図18Bで示したものと同じであるので説明は割愛する。
図20Cに示す画像再構成に使用するX線投影データは、時刻[t0,t5]間の間では一定にして1回転にしている。この場合は、断層像の時間分解能を一定にすることを優先して考えて、使用するX線投影データを一定にしている。
このため、画質を時刻[t0,t4]の間で一定にするように、X線管電流mAを制御することを考える。X線管電流mAを図20Dの通りに制御する。ただし、mA2>mA1とする。
時刻t0では、X線管電流mA1である。
時刻[t0,t2]ではX線管電流mA1からX線管電流mA2に増加する。なお、この時は、ヘリカルピッチが大きくなるとX線管電流mAも大きくなる。ヘリカルピッチとX線管電流mAの比が一定またはほぼ一定になるように制御するのがよい。
時刻[t2,t3]ではX線管電流mA2で一定である。
時刻[t3,t5]ではX線管電流mA2からX線管電流mA1に減少する。なお、この時ヘリカルピッチが小さくなるとX線管電流mAも小さくなる。ヘリカルピッチとX線管電流mAの比が一定またはほぼ一定になるように制御するのがよい。
時刻t5ではX線管電流mA1に戻る。
時刻t0では、X線管電流mA1である。
時刻[t0,t2]ではX線管電流mA1からX線管電流mA2に増加する。なお、この時は、ヘリカルピッチが大きくなるとX線管電流mAも大きくなる。ヘリカルピッチとX線管電流mAの比が一定またはほぼ一定になるように制御するのがよい。
時刻[t2,t3]ではX線管電流mA2で一定である。
時刻[t3,t5]ではX線管電流mA2からX線管電流mA1に減少する。なお、この時ヘリカルピッチが小さくなるとX線管電流mAも小さくなる。ヘリカルピッチとX線管電流mAの比が一定またはほぼ一定になるように制御するのがよい。
時刻t5ではX線管電流mA1に戻る。
このように、図18では断層像の画質を通常のコンベンショナルスキャン、ヘリカルスキャンに近づけるように制御した。図19では、加減速時にX線被曝をより少なくするように制御しつつ、断層像の画質は落とさないように制御した。図20では、断層像の時間分解能を一定に保つように制御した。
これらの例では、まず断層像の画質の変数であるヘリカルピッチ、画像再構成に使用されるデータ量の変数の制御をまず第1に優先して制御し、その後にX線管電流mAの制御を行っている。このように、スカウト像より得られたz軸方向のX線管電流mAの変化テーブルに対応するために、まず第1にX線管電流mAという断層像の画質を制御する変数を使うのではなく、その他の画質を制御する変数を優先して制御し、それらの変数の制御により、始めに得られたスカウト像からのz軸方向のX線管電流mAの変化テーブルを補正する。この後にX線管電流mAの制御を行って、X線CT装置100の自動露出機能を実現することもできる。
図18,図19および図20の可変ピッチヘリカルスキャンまたはヘリカルシャトルスキャンは、図21に示す処理の流れで制御される。
ステップA11では、スカウト像より各z軸方向のプロファイル面積を求め、各z軸方向位置の最適なX線管電流mAを求める。
ステップA12では、z=zsとする。ただし、z軸方向開始座標をzsとする。
ステップA13では、可変ピッチヘリカルスキャン、ヘリカルシャトルスキャンの動作制御パターンより、各z軸方向位置のヘリカルピッチを求める。
ステップA14では、動作制御パターンより、各z軸方向位置の画像再構成に使用されるデータ範囲を求める。
ステップA12では、z=zsとする。ただし、z軸方向開始座標をzsとする。
ステップA13では、可変ピッチヘリカルスキャン、ヘリカルシャトルスキャンの動作制御パターンより、各z軸方向位置のヘリカルピッチを求める。
ステップA14では、動作制御パターンより、各z軸方向位置の画像再構成に使用されるデータ範囲を求める。
ステップA15では、動作制御パターンで決められたヘリカルピッチ、画像再構成に使用されるデータ範囲より、使用されるデータ量を考慮し、最適なX線管電流mAを補正する。
ステップA16では、zの位置のX線管電流mAは出力できるかを判断し、YESであればステップA17へ行き、NOであればステップA18へ行く。
ステップA17では、z=z+Δzとする。
ステップA18では、投影データ空間チャネル方向フィルタリングを行う。
ステップA19では、z≧zeかを判断し、YESであれば処理を終了し、NOであればステップA13へ戻る。ただし、z軸方向終点座標をzeとする。
ステップA16では、zの位置のX線管電流mAは出力できるかを判断し、YESであればステップA17へ行き、NOであればステップA18へ行く。
ステップA17では、z=z+Δzとする。
ステップA18では、投影データ空間チャネル方向フィルタリングを行う。
ステップA19では、z≧zeかを判断し、YESであれば処理を終了し、NOであればステップA13へ戻る。ただし、z軸方向終点座標をzeとする。
なお、上記の例では、X線管電流mAよりも優先して制御する断層像の画質の変数として、ヘリカルピッチ、画像再構成におけるX線投影データの使用する範囲の長さ以外の画質の変数を用いても同様な効果を出せる。
以上のX線CT装置100によれば、被検体40を動かさずに被検体40の体感を損ねないヘリカルシャトルスキャンの撮影を実現できる。
なお、本実施形態における画像再構成法は、従来公知のフェルドカンプ法による三次元画像再構成法でもよい。さらに、他の三次元画像再構成方法でもよい。または二次元画像再構成でも良い。また三次元表示方法は。図22に示すように、ボリュームレンダリング三次元画像表示方法40、三次元MIP(Maximum Intensity Projection)画像表示方法41、およびMPR(Multi Plain Reformat)画像表示方法42などの三次元再投影画像表示方法がある。各種の画像表示方法は診断用途により適宜使い分けることができる。
本実施形態は、走査ガントリ20が傾斜していない場合で書かれているが、走査ガントリ20が傾斜した、いわゆるチルト・スキャンの場合でも同様な効果を出すことができる。本実施形態は、生体信号に同期しない場合で書かれているが、生体信号、特に心拍信号に同期させても同様な効果を出すことができる。また、本実施形態では、多列X線検出器または、二次元X線エリア検出器を持ったX線CT装置について書かれているが、一列のX線検出器のX線CT装置においても同様の効果を出せる。
また、本実施形態では、列ごとに係数の異なった列方向(z方向)フィルタを重畳することにより、画質のばらつきを調整し、各列において均一なスライス厚、アーチファクト、ノイズの画質を実現しているが、これには様々なz方向フィルタ係数が考えられるが、いずれも同様の効果を出すことができる。
本実施形態では、医用X線CT装置100を元に書かれているが、産業用X線CT装置100または他の装置と組み合わせたX線CT−PET装置,X線CT−SPECT装置などにも利用できる。
1 … 操作コンソール
2 … 入力装置
3 … 中央処理装置
5 … データ収集バッファ
6 … モニタ
7 … 記憶装置
10 … 撮影テーブル
12 … クレードル
15 … 走査ガントリ回転部
20 … 走査ガントリ
21 … X線管
22 … X線コントローラ
23 … コリメータ
24 … 多列X線検出器または二次元X線エリア検出器
25 … データ収集装置(DAS)
26 … 回転部コントローラ
27 … 走査ガントリコントローラ
28 … ビーム形成X線フィルタ
29 … 制御コントローラ
30 … スリップリング
40 … 被検体
85,86 … リニアガイド
90 … ベアリング
94 … 回転球
95 … スロープ
2 … 入力装置
3 … 中央処理装置
5 … データ収集バッファ
6 … モニタ
7 … 記憶装置
10 … 撮影テーブル
12 … クレードル
15 … 走査ガントリ回転部
20 … 走査ガントリ
21 … X線管
22 … X線コントローラ
23 … コリメータ
24 … 多列X線検出器または二次元X線エリア検出器
25 … データ収集装置(DAS)
26 … 回転部コントローラ
27 … 走査ガントリコントローラ
28 … ビーム形成X線フィルタ
29 … 制御コントローラ
30 … スリップリング
40 … 被検体
85,86 … リニアガイド
90 … ベアリング
94 … 回転球
95 … スロープ
Claims (1)
- 被検体にX線ビームを照射するX線源と、
前記被検体の所定領域を透過した投影データを収集するX線検出器と、
前記X線源および前記X線検出器を、前記被検体の体軸方向に移動させてヘリカルシャトルスキャンさせる駆動手段と、
を備えることをX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006154094A JP2007319482A (ja) | 2006-06-02 | 2006-06-02 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2006154094A JP2007319482A (ja) | 2006-06-02 | 2006-06-02 | X線ct装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
2006
- 2006-06-02 JP JP2006154094A patent/JP2007319482A/ja not_active Withdrawn
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