JP2007316234A - 液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法 - Google Patents

液晶表示装置および液晶表示装置の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】表示むらが少なく、視野角特性および透過率が優れた、高品質の表示が可能な液晶表示装置を提供する。
【解決手段】本発明の液晶表示装置は、第1基板20と、第2基板21と、第1基板20と第2基板21との間に配置された液晶層22とを備えており、第1基板20は、絶縁層35と、絶縁層35の上に形成され、絶縁層35の上で互いに電気的に分離した複数のサブ絵素電極40Sと、複数のサブ絵素電極40Sを電気的に接続するための接続部31であって、絶縁層35の下に形成された接続部37とを有し、第2基板21は、複数のサブ絵素電極40Sのそれぞれの上部に形成された、液晶の配向を制御するための複数の突起55を有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、液晶表示装置、および液晶表示装置の製造方法に関する。
液晶表示装置(LCD)は、現在、携帯電話、テレビ、コンピューター等の表示装置として広く利用されている。従来より普及している水平配向型LCDには、正の誘電率異方性を有するネマティック液晶材料を用いたTN(Twisted Nematic)モードのLCDや、STN(Super Twisted Nematic)モードのLCDなどがある。
近年、視野角特性や表示コントラストを向上させるために、VAN(Vertical Aligned Nematic)モードの垂直配向型LCDが開発され、普及してきている(例えば特許文献1)。
図9は、従来の垂直配向型LCDの絵素部分の構成を表した図である。この従来のLCDは、TFT基板と対向基板との間に、負の誘電率異方性を有する液晶分子100を封入した透過型のLCDである。TFT基板は、基板110、透明電極111、窒化シリコン等の絶縁膜112、絵素電極114、垂直配向膜115等を備えており、対向基板は、ガラス基板101、ITOなどの共通電極102、垂直配向膜103等を備えている。
透明電極111は、絶縁膜112の中に形成されたスルーホール113を介して、絵素電極114に接続されており、絵素電極114の周辺には、シールド電極116が配置されている。
共通電極102と絵素電極114との間に電圧が印加されない場合、液晶分子100は、垂直配向膜103及び115によって、基板に対してほぼ垂直に配向する。共通電極102と絵素電極114との間に電圧が印加されると、絵素電極114の周辺部から中央上部に向かう斜めに傾いた電界が発生し、液晶分子100は、この電界に沿って、図に示すように、絵素の中央に向かって倒れるように配向する。
図10は、絵素電極114の形状の一例を表している。図に示すように、絵素電極114は、電極の内側に向けて設けられた切込みを有している。絵素電極114のうち、この切込みにより分けられた部分であって、略四角形をした3つの部分を、本明細書ではサブ絵素電極120と呼ぶ。また、切込みが入った部分であってサブ絵素電極120よりも狭い幅をもつ部分を、本明細書ではブリッジ部121と呼ぶ。
このように絵素電極114は、3つのサブ絵素電極120が2つのブリッジ部121によって互いに連結された構造を有しているが、これらサブ絵素電極120とブリッジ部121は、1枚の絵素電極として、同一の部材により、同一層に、同時に形成されたものである。
特開2001−264784号公報
上述した従来の液晶表示装置では、絵素電極114のサブ絵素電極120とブリッジ部121との境界付近において、液晶配向の乱れが発生するという問題があった。
図11は、従来の絵素電極114によって発生する液晶配向の乱れを表した図である。液晶表示装置の視野角特性を向上させるためには、サブ絵素電極120の上部の液晶を、サブ絵素電極120の周辺から中央上部に向かって、辺に垂直に一様に配向させることが望ましい。
しかし、従来の液晶表示装置では、図11に示すように、サブ絵素電極120とブリッジ部121との境界付近(図中、点線で囲った部分)において、異なる方向に配向する液晶分子125が存在し、液晶の配向が一様に揃わない、いわゆる、配向乱れという問題が生じていた。また、絵素電極114の製造過程において生じたブリッジ部121の幅の不均一によって、ブリッジ部付近における液晶にも配向乱れおよびバラツキが生じ、表示むらが発生するという問題もあった。
液晶の配向を、サブ絵素電極120の中心方向に向かって応答性よく、より均一に揃えるために、共通電極102の、サブ絵素電極120の中央に対応する位置に、アクリル樹脂等による突起(リベット)を形成することが考えられる。このような突起による液晶配向制御を採用した、表示品質の高い液晶表示装置においては、上述したような配向乱れに起因する表示むらの発生は、より大きな問題となる。さらに、突起を形成した場合、ポリイミド配向膜の塗布前後に行う洗浄に起因する汚れ等によって、突起中央部から配向乱れが生じ、通常黒表示時に光漏れが発生し、これにより表示むらの発生やコントラストの低下といった問題が発生し得る。
本発明は、上記の課題を鑑みてなされたものであり、その目的は、表示むらが少なく、視野角特性および透過率が優れた、高品質の表示が可能な液晶表示装置を提供することにある。
本発明による表示装置は、第1基板と、第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に配置された液晶層とを備えた液晶表示装置であって、前記第1基板は、絶縁層と、前記絶縁層の上に形成され、前記絶縁層の上で互いに電気的に分離された複数のサブ絵素電極を有する絵素電極と、前記複数のサブ絵素電極を互いに電気的に接続するための接続部であって、前記絶縁層の下に形成された接続部とを有し、前記第2基板は、前記複数のサブ絵素電極のそれぞれの上部に形成された、液晶分子の配向を制御するための複数の突起を有する。
ある実施形態において、前記複数のサブ絵素電極は、それぞれ、前記絶縁層に形成された複数のコンタクトホールを介して前記接続部に電気的に接続されている。
ある実施形態において、前記複数のコンタクトホールは、それぞれ、前記複数のサブ絵素電極の中央部に対応する位置に形成されている。
ある実施形態において、前記複数の突起は、それぞれ、前記複数のコンタクトホールと対向する位置に形成されている。
ある実施形態では、前記第1基板における前記複数のコンタクトホールのそれぞれの下に、遮光性を有する遮光層が形成されている。
ある実施形態では、前記第1基板の面法線方向から見た場合、前記複数の突起のそれぞれの少なくとも一部が、前記遮光層と重なる。
ある実施形態では、前記第1基板の面法線方向から見た場合、前記複数の突起のすべてが前記遮光層と重なる。
ある実施形態において、前記接続部は、透明導電部材のみからなる透明部を含む。
ある実施形態において、前記接続部は、透明導電部材のみからなる透明部、および、透明導電部材からなる層と遮光性を有する層とが積層された積層部を含む。
ある実施形態において、前記積層部は、前記複数のコンタクトホールのそれぞれの下に配置されている。
本発明による液晶表示装置の製造方法は、複数のサブ絵素電極を有する絵素電極を備えた液晶表示装置の製造方法であって、前記複数のサブ絵素電極を互いに電気的に接続するための接続部を形成する工程と、前記接続部の上に絶縁層を形成する工程と、前記絶縁層に複数のコンタクトホールを形成する工程と、前記絶縁層の上に、絵素電極層を形成する工程と、前記絵素電極層を整形して、前記複数のサブ絵素電極を、前記絶縁層の上で互いに電気的に分離されるように形成する工程と、液晶分子の配向を制御するための複数の突起を備えた対向基板を、前記複数のサブ絵素電極の上部に設置する工程とを含む。
ある実施形態において、前記複数のサブ絵素電極は、それぞれ、前記複数のコンタクトホールを介して前記接続部に電気的に接続されている。
ある実施形態において、前記複数のコンタクトホールは、それぞれ、前記複数のサブ絵素電極の中央部に対応する位置に形成されている。
ある実施形態において、前記複数の突起は、それぞれ、前記複数のコンタクトホールと対向する位置に形成されている。
ある実施形態は、前記複数のコンタクトホールのそれぞれの下に、遮光性を有する遮光層を形成する工程を含む。
ある実施形態では、前記対向基板の面法線方向から見た場合、前記複数の突起のそれぞれの少なくとも一部が、前記遮光層に重なる。
ある実施形態では、前記対向基板の面法線方向から見た場合、前記複数の突起のそれぞれのすべてが前記遮光層に重なる。
ある実施形態では、前記接続部の一部が、透明導電部材のみによって形成される。
ある実施形態において、前記接続部は、透明導電部材のみからなる透明部、および、透明導電部材からなる層と遮光性を有する層とが積層された積層部を含む。
ある実施形態において、前記積層部は、前記複数のコンタクトホールのそれぞれの下に配置されている。
本発明によれば、表示むらが少なく、視野角特性および透過率が優れた、高品質の表示が可能な液晶表示装置を提供することができる。
以下、本発明による実施形態の液晶表示装置について説明する。なお、本明細書では、表示の最小単位を絵素と呼び、絵素に対応する液晶表示装置の領域を絵素領域と呼ぶことにする。例えば、R(赤)、G(緑)、B(青)の3色によってカラー表示を行う液晶表示装置では、R、G、Bの3つの絵素によって1つの画素が構成される。絵素領域は、隣りあう2本のゲート線(走査線)と、ゲート線の延びる方向に垂直に延びるソース線(信号線)の隣り合う2本とによって囲まれた領域として規定する。
本発明による液晶表示装置は、第1基板(例えばTFT基板)と、第2基板(例えばカラーフィルタ基板)と、これら2つの基板の間に配置された液晶層とを備えており、マトリックス状に配置された絵素領域のそれぞれには、絵素電極と、絵素電極に電気的に接続されたTFT(Thin Film Transistor)等のスイッチング素子(図示を省略)が形成されている。
絵素電極は、第1基板の液晶層側に設けられた複数のサブ絵素電極を有している。複数のサブ絵素電極は、絶縁層の上に形成されるが、絶縁層の上では互いに電気的に分離するように形成されており、絶縁層の下に形成された接続部によって互いに電気的に接続されている。
第2基板は、サブ絵素電極のそれぞれの上部に形成された、液晶の配向を制御するための複数の突起を備えている。サブ絵素電極は、互いに、絶縁層に形成されたコンタクトホールを介して接続部と電気的に接続されている。コンタクトホールは、サブ絵素電極のそれぞれの中央部に形成されており、各突起は、各コンタクトホールと対向する位置に形成されている。
本発明の液晶表示装置では、サブ絵素電極を、絶縁層の上に、個々に独立して形成しているため、従来のサブ絵素電極が有していたようなブリッジ部は、第1基板の液晶層側の面には形成されない。したがって、従来、ブリッジ部の存在によって発生していた液晶の配向乱れが改善され、表示むらが発生しない。
接続部は、透明導電部材(例えばITO)によって形成された透明層のみからなる透明部、および透明層と遮光性部材(例えばタンタル)によって形成された遮光層とが積層された積層部を有する。透明部は、基板に垂直に見た場合、突起が形成されていない部分に配置される。遮光層はコンタクトホールの下に、突起よりも若干大きく形成され、基板の面に垂直に見た場合、突起は遮光層によって覆われる。
したがって、製造時におけるポリイミド配向膜の塗布前後の洗浄汚れ等に起因して、突起の中央部からの光漏れが発生し得たとしても、遮光層により突起に向かう光が遮断され、表示むらの発生やコントラストの低下が防止される。また、コンタクトホール付近以外の接続部がすべて透明層となるので、透過率の減少を防止することができる。
なお、遮光層は、基板の面に垂直に見た場合、突起と同じ大きさに形成してもよく、また、突起の一部を覆うように、突起よりも小さく形成してもよい。これにより、透過率を更に向上させることができる。
以下、本発明による実施形態の液晶表示装置をさらに詳細に説明する。なお、以下の実施形態においては、スイッチング素子としてTFTを備えた透過型液晶表示装置について説明するが、本発明はこれに限定されず、TFT以外のスイッチング素子を備えた液晶表示装置にも適用することができ、また、反射型液晶表示装置や透過反射型液晶表示装置にも適用することができる。
(実施形態1)
図1及び図2を参照しながら、本発明による実施形態1の液晶表示装置11について説明する。図1は、液晶表示装置11の1つの絵素領域を模式的に示した上面図である。図2は、液晶表示装置11の1つの絵素領域を模式的に示した断面図であり、図1において線分A−Bによって示される部分の断面を表した図である。
液晶表示装置11は、図2に示すように、アクティブマトリクス基板であるTFT基板20と、対向基板(カラーフィルタ基板)21と、これらの基板の間に設けられた液晶層22とを備えている。液晶層22は、負(Δε<0)の誘電率異方性を有するネマティック液晶を含んでいる。
TFT基板20におけるガラス基板(透明基板)25の上には、図1に示すように、互いに平行に延びるようにゲート線(走査線)26が設けられており、隣り合うゲート線26の間には、補助容量線(Csライン)27が、ゲート線26と平行に延びるように設けられている。なお、図1には、ゲート線26および補助容量線27の一部(絵素領域に含まれる部分)のみを示しているが、実際には、これらの線は絵素領域の端で途切れることなく、図の左右方向に延びている。
ゲート線26および補助容量線27の上には、これらを覆うようにゲート絶縁膜28が形成されている。ゲート絶縁膜28の上には、ゲート線26と直交するようにソース線(信号線)29が、互いに並行に延びるように設けられている。
各絵素領域には、図1に示すように、ゲート線26の上にTFT30が形成されている。TFT30は、ゲート線の一部であるゲート電極30Gと、ゲート絶縁膜28の上に形成された図示しない半導体層と、ソース線29から分岐したソース電極30Sと、ドレイン電極30Dとによって構成されている。
ドレイン電極30Dからは、ドレイン電極30Dと同一構成の線が補助容量線27を超える領域まで延びるように設けられているが、この線をここではドレイン線31と呼ぶことにする。ドレイン線31は、補助容量線27の上では幅が広くなるように形成されており、この幅の広い部分と補助容量線27とによって、補助容量が形成されている。
なお、ソース線29、ソース電極30S、ドレイン電極30D、およびドレイン線31は、ITO(Indium Tin Oxide)からなるITO層32と、ITO層32の上に設けられたTa(タンタル)からなるドレインメタル層33の2層構造を有する。
TFT30、ソース線29、ドレイン線31の上には、これらの部材を覆うように保護層36が設けられ、保護層36の上には樹脂層(絶縁層)35が形成される。樹脂層35の上には、絵素領域毎に、図に示すように、2つのサブ絵素電極40Sが形成される。これら2つのサブ絵素電極40Sは、1つの絵素領域の絵素電極を構成する。サブ絵素電極40Sの大きさは、例えば、縦が80μm、横が60μmである。
サブ絵素電極40Sの中心部の樹脂層35には、コンタクトホール45が形成されている。コンタクトホール45の面内形状は、例えば、一辺が8μmの四角形である。サブ絵素電極40Sの部材であるITOは、コンタクトホール45の側面および底面にも成膜されている。なお、コンタクトホール45は、四角形に限られず、例えば円形や八角形など他の形状で設けてもよい。
ドレイン線31は、サブ絵素電極40Sのそれぞれの中心付近まで延びており、各コンタクトホール45の下では、例えば、正八角形(対向する2辺間の距離が、例えば15μm)の形状を有する。サブ絵素電極40Sは、コンタクトホール45を介して、ドレイン線31と電気的に接続されている。なお、コンタクトホール45の下のドレイン線31の形状は、正八角形に限られず、例えば円形や六角形など他の形状としてもよい。
2つのサブ絵素電極40Sは、樹脂層35の上では、互いに電気的に分離するように形成されており、樹脂層35の下に配置されたドレイン線31によって、互いに電気的に接続されている。サブ絵素電極40Sを互いに電気的に接続しているドレイン線31の部分を、本明細書では接続部37と呼ぶ。この構成によれば、TFT基板20の液晶層22側の面には、絵素電極のブリッジ部が形成されないため、ブリッジ部の存在に起因する液晶の配向乱れが発生しない。
対向基板21は、図2に示すように、ガラス基板(絶縁基板)50と、カラーフィルタ層51と、共通電極52と、共通電極52の液晶層22の側の面に、島状に形成された突起(リベット)55を備えている。突起55は、図1および図2に示すように、サブ絵素電極40Sのそれぞれの中心部の上(コンタクトホール45の上部)に形成されている。基板面に垂直に見た場合の突起55の形状は、例えば、正八角形(対向する2辺間の距離が、例えば12μm)である。突起55は、液晶層22における液晶分子の配向を制御するために用いられる。なお、突起の形状は、正八角形に限られず、例えば円形や六角形など他の形状としてもよい。
なお、TFT基板20および対向基板21の液晶層22側の面には、それぞれ配向膜が形成され得るが、本願においては配向膜の図示を省略している。また、液晶分子の配向制御は、突起55の代わりに、共通電極52に形成したスリット(あるいは穴)を用いて行ってもよい。
次に、液晶表示装置11における液晶分子の配向制御について説明する。
ゲート線26からの信号に応じてTFT30がオン状態になると、ソース線29からの信号が、ソース電極30S、半導体層、ドレイン電極30D、ドレイン線31を介して各サブ絵素電極40Sに供給され、サブ絵素電極40Sに所定の電荷が書き込まれる。これにより、各サブ絵素電極40Sと共通電極52との間に電位差が生じ、液晶層22に印加された電圧によって液晶分子の配向状態が変わる。液晶分子の配向は、絵素領域毎に制御され、各絵素領域の液晶層22の光透過率が調整されて、画像が表示される。
図3は、サブ絵素電極40Sの上の液晶分子56の配向を説明するための図である。
本実施形態による液晶表示装置11では、液晶層に電圧が印加されないときは、各突起55の近傍の液晶分子56だけが突起55を中心として放射状に傾斜配向し、それ以外の、各突起55から離れた位置にある液晶分子56は、基板の面に対し実質的に垂直に配向する。
そして、液晶層22に電圧が印加されると、液晶分子56の誘電率異方性が負であるので、突起55から離れた液晶分子も、上述した放射状の傾斜配向に整合するように配向する。各絵素領域の絵素電極は複数のサブ絵素電極40Sに分割されているので、液晶分子56は、サブ絵素電極40S毎に放射状に傾斜配向する。それにより、画像表示の際の視角特性が全方位に亘って均等になり、広視野角の表示を実現することができる。
従来の表示装置では、絵素電極を構成する複数のサブ絵素電極が、基板面上においてブリッジ部によって連結されていたため、サブ絵素電極とブリッジ部との境界付近において液晶分子の配向が乱れ、その結果、表示むらが発生し、視角特性も不均一となり、表示品質の低下を引き起こしていた。本実施形態による液晶表示装置11では、サブ絵素電極40Sは基板面上にて連結されないので、液晶分子56の配向乱れが発生しない。したがって、表示むらの発生および視野角特性の劣化が抑えられ、表示品質の高い画像を提供することが可能となる。
次に、図4を用いて、本実施形態による液晶表示装置11の製造方法を説明する。
液晶表示装置11は、以下に示すTFT基板20の製造工程、対向基板21の製造工程、及び液晶表示装置11の製造工程を順次行うことによって製造される。図4の(a)〜(c)は、TFT基板20の製造工程を説明するための図であり、(d)は、対向基板21及び液晶表示装置11の製造工程を説明する図である。なお、図4は、主としてドレイン線31、樹脂層35、サブ絵素電極40S、コンタクトホール45、及び突起55の配置方法を説明するために用いており、例えばTFT30など、これら以外の要素のいくつかについては、図示することは省略している。
まず、図4の(a)〜(c)を用いて、TFT基板20の製造工程について説明する。
TFT基板20の製造においては、まず、ガラス基板(絶縁基板)25の上面全体に、Ta(タンタル)等からなる金属膜をスパッタリング法により成膜し、その後、フォトリソグラフィ技術を用いてその金属膜をパターニングすることにより、ゲート線26及び補助容量線27を形成する。これらの線の厚さは、例えば300nmである。
続いて、ゲート線26及び補助容量線27の上の基板全体に、CVD(Chemical Vapor Deposition)法により、例えば窒化シリコン(SiNx)膜を成膜して、ゲート絶縁膜28を形成する。ゲート絶縁膜28の厚さは、例えば350nmである。
さらに、ゲート絶縁膜28を含めた基板全体の上に、CVD法により真性アモルファスシリコン(Si(i))膜、および、リンがドープされたn+アモルファスシリコン(S
i(n+))膜を、連続して成膜する。その後、これら2つの膜をPEP(Photolithograpy−Etching−Process:フォトリソグラフィ−エッチング工程)によりパターニングし、ゲート電極30Gの上に、真性アモルファスシリコン層(厚さが、例えば100nm)とn+アモルファスシリコン層(厚さが、例えば50nm)とにより構成された半導体層を島状に形成する。
次いで、半導体層の上およびゲート絶縁膜28の上に、ITOからなる膜(ITO膜)およびTaからなる膜(Ta膜)をスパッタリング法により連続成膜する。その後、PEPによりこれらの膜をパターニングして、ソース線29、ソース電極30S、ドレイン電極30D、およびドレイン線31を形成する。ここで、これらの線および電極において、ITO膜およびTa膜は、それぞれ、下層(ITO層32:厚さが、例えば100nm)、および上層(ドレインメタル層33:厚さが、例えば300nm)を構成する。なお、ドレイン線31は、後に形成されるサブ絵電極40Sの中央下に延びるようにパターニングされており、サブ絵素電極40Sを電気的に接続する接続部37をその一部として含んでいる。
続いて、ソース電極30S及びドレイン電極30Dをマスクとして、半導体層のn+アモルファスシリコン層をエッチング除去することにより、TFT30のチャネル部を形成する。さらに、ソース電極30S及びドレイン電極30Dを含めた基板全体の上に、CVD法を用いて窒化シリコン膜を成膜する。成膜された窒化シリコン膜は、PEPによりTFT30等を覆うようにパターニングされ、保護層36(厚さが、例えば400nm)を形成する。
その後、図4(b)に示すように、保護層36を含めた基板全体の上に、例えば感光性アクリル樹脂を塗布した後、この樹脂をPEPによって保護層を覆うようにパターニングして、樹脂層35(厚さが、例えば2000nm)を形成する。このとき、樹脂層35には、コンタクトホール45が、次工程で形成されるサブ絵素電極40Sの中央部に位置するように形成される。
次に、図4(c)に示すように、樹脂層35を含めた基板全体の上に、例えばITOからなる透明導電膜をスパッタリング法により成膜し、PEPによりパターニングして、サブ絵素電極40S(厚さが、例えば140nm)を形成する。このとき、サブ絵素電極40Sは、樹脂層35の上面において、互いに電気的に分離して形成される。また、透明電極膜は、コンタクトホールの側面および底面(ドレインメタル層33の上面)にも形成され、サブ絵素電極40Sは、ドレイン線31の一部である接続部37を介して、互いに電気的に接続される。
その後、サブ絵素電極を含めた基板全体の上に、ポリイミド系樹脂をオフセット印刷により塗布して、配向膜(不図示)を形成する。
次に、図4(d)を用いて、対向基板21の製造方法について説明する。
まず、ガラス基板(絶縁基板)50の上に、クロム薄膜を成膜した後、PEPによりクロム薄膜をパターニングして格子状にブラックマトリクス(不図示)を形成する。続いて、ブラックマトリクスによって仕切られたそれぞれの部分に、赤、緑、及び青の何れかの着色層をパターン形成して、カラーフィルタ層51を形成する。
次に、カラーフィルタ層51の上に、ITO膜を成膜して共通電極52を形成する。その後、共通電極52の上に、例えば感光性アクリル樹脂を塗布し、その後、PEPによるパターニングを行い、TFT基板20のサブ絵素電極40Sの中心に対向する位置に、突起(リベット)55を形成する。ここで、共通電極52の上にリベットを形成する代わりに、突起55に対応する位置の共通電極52に穴を形成してもよい。
最後に、突起55を含む基板全体の上に、ポリイミド樹脂をオフセット印刷により塗布して、配向膜(不図示)を形成する。
次に、TFT基板20と対向基板21を貼り合わせて、液晶表示装置11を作製する工程について説明する。
まず、TFT基板20及び対向基板21のうちの一方に、スクリーン印刷により、熱硬化性エポキシ樹脂等からなるシール材料を塗布する。このときシール材料は、基板の周辺に、液晶注入口の部分を欠いた枠状パターンで塗布される。次に、他方の基板に液晶層22の厚さに相当する直径を有する、樹脂又はシリカ等からなる球状のスペーサを散布する。続いて、TFT基板20と対向基板21とを貼り合わせ、シール材料を硬化させて、空セルを形成する。
その後、空セルを構成するTFT基板20と対向基板21との間に、減圧法により液晶分子とカイラル剤を含む液晶材料を注入し、液晶層22を形成する。最後に、液晶注入口にUV硬化樹脂を塗布し、UV照射によって樹脂を硬化させて、注入口を封止する。
(実施形態2)
以下、図5及び図6を参照しながら、本発明による実施形態2の液晶表示装置71について説明する。図5は、液晶表示装置71の1つの絵素領域を模式的に示した上面図である。図6は、液晶表示装置71の1つの絵素領域を模式的に示した断面図であり、図5において線分C−Dで示した部分の断面を表した図である。
なお、以下の説明では、主として実施形態1と異なる部分を説明し、同じ部分については説明を省略している。また、液晶表示装置71の構成要素のうち、実施形態1と同じ構成要素には同じ参照符号を付して、その説明を省略している。
実施形態2の液晶表示装置71は、図5に示すように、1つの絵素領域に3つのサブ絵素電極40Sを備えている。これら3つのサブ絵素電極40Sのうちの、第1のサブ絵素電極(図5における最も下のサブ絵素電極)と第2のサブ絵素電極(図5における中間のサブ絵素電極)との間には、ゲート線26と平行に補助容量線27が配置されている。また、第2のサブ絵素電極と第3のサブ絵素電極(図5における最も上のサブ絵素電極)との間にも、ゲート線26と平行に補助容量線27が配置されている。
なお、図5には、ゲート線26および補助容量線27の一部(絵素領域に含まれる部分)のみを示しているが、実際には、これらの線は絵素領域の端で途切れることなく、図の左右方向に延びている。
ドレイン線31に含まれるドレインメタル層33’は、本実施形態においては、図5および図6に示すように、各コンタクトホール45の下にのみ配置され、遮光膜としての機能を有する。コンタクトホール45の下のドレインメタル層33’は、例えば正八角形(対向する辺の間の距離が15μm)であり、基板に垂直に見た場合、コンタクトホール45および突起55を覆うように形成される。
ドレインメタル層33’は、ドレイン電極30Dの部分にも形成され、遮光膜の機能を果たす。したがって、ドレイン電極30Dおよびコンタクトホール45の下のドレイン線31は、タンタルからなるドレインメタル層33’とITO層32の2層構造となるが、それ以外のドレイン線31はITO層32のみで形成される。なお、本実施形態においても、サブ絵素電極40Sを互いに電気的に接続するドレイン線31の部分を接続部37と呼ぶ。
本実施形態の液晶表示装置71では、絵素領域におけるドレイン線31(および接続部37)の多くの部分が透明なITO層32のみで形成されるので、実施形態1の液晶表示装置11に比べて、絵素領域における有効開口部が広くなり、表示装置の開口率(あるいは透過率)を高くすることができる。なお、絵素電極にブリッジ部が形成されないこと、および、それによって得られる効果は、実施形態1と同様である。
次に、液晶表示装置71の製造方法について説明する。液晶表示装置71の製造方法は、TFT基板20以外の製造方法は、実施形態1の液晶表示装置11の製造方法と同じである。したがって、ここでは、TFT基板20の製造方法のみを説明し、対向基板21の製造方法、およびTFT基板20と対向基板21との貼り合わせ工程(液晶の注入工程および封止工程を含む)の説明は省略する。
TFT基板20の製造においては、まず、図4(a)に示すように、ガラス基板(絶縁基板)25の上面全体に、Ta(タンタル)等からなる金属膜をスパッタリング法により成膜し、その後、フォトリソグラフィ技術を用いてその金属膜をパターニングすることにより、ゲート線26及び補助容量線27を形成する。これらの線の厚さは、例えば300nmである。
続いて、ゲート線26及び補助容量線27の上の基板全体に、CVD法により例えば窒化シリコン(SiNx)膜を成膜して、ゲート絶縁膜28を形成する。ゲート絶縁膜28の厚さは、例えば350nmである。
さらに、ゲート絶縁膜28を含めた基板全体の上に、CVD法により真性アモルファスシリコン(Si(i))膜、および、リンがドープされたn+アモルファスシリコン(S
i(n+))膜を、連続して成膜する。その後、これら2つの膜をPEPによりパターニングし、ゲート電極30Gの上に、真性アモルファスシリコン層(厚さが、例えば100nm)と、n+アモルファスシリコン層(厚さが、例えば50nm)とにより構成された半導体層を島状に形成する。
次いで、半導体層の上およびゲート絶縁膜28の上に、ITO膜およびTa膜をスパッタリング法により連続成膜する。その後、PEPによりこれらの膜をパターニングして、ソース線29、ソース電極30S、ドレイン電極30D、およびドレイン線31を形成する。
このとき、Ta膜とITO膜は、別々にパターニングされる。より詳しく述べると、まずTa膜の上にレジスト膜が形成され、フォトリソグラフィ工程によって、所定の部分のTa膜のみを露出させる。次に、例えばドライエッチングにより、露出した部分のTa膜が除去される。その結果、図5および図6に示したソース線29、ソース電極30S、ドレイン電極30D、およびドレインメタル層33’の部分にのみTa膜が形成される。
次に、再度レジスト膜が形成され、フォトリソグラフィ工程により、所定の部分のITO膜のみを露出させる。次に、例えばウェットエッチングにより、露出したITO膜が除去され、図5および図6に示したドレイン線31のうち、ITO膜のみからなる部分が形成される。なお、Ta膜のパターニング工程においてTa膜が残された部分(ソース線29、ソース電極30S、ドレイン電極30D、およびドレインメタル層33’の部分)は、Ta膜とITO膜の2層構造にて形成される。ITO膜およびTa膜は、それぞれ、例えば32nmおよび100nmの厚さで形成される。
続いて、ソース電極30S及びドレイン電極30Dをマスクとして、半導体層のn+アモルファスシリコン層をエッチング除去することにより、TFT30のチャネル部を形成する。さらに、ソース電極30S及びドレイン電極30Dを含む基板全体の上に、CVD法を用いて窒化シリコン膜を成膜する。成膜された窒化シリコン膜は、PEPによりTFT30等を覆うようにパターニングされ、保護層36(厚さが、例えば400nm)を形成する。
その後、図4(b)に示すように、保護層36を含めた基板全体の上に、例えば感光性アクリル樹脂を塗布した後、この樹脂をPEPによって保護層を覆うようにパターニングして、樹脂層35(厚さが、例えば2000nm)を形成する。このとき、樹脂層35には、コンタクトホール45が、次工程で形成されるサブ絵素電極40Sの中央部に位置するように形成される。
次に、図4(c)に示すように、樹脂層35を含めた基板全体の上に、例えばITOからなる透明導電膜をスパッタリング法により成膜し、PEPによりパターニングして、サブ絵素電極40S(厚さが、例えば140nm)を形成する。このとき、サブ絵素電極40Sは、樹脂層35の上面において、互いに電気的に分離して形成される。また、透明電極膜は、コンタクトホールの側面および底面(ドレインメタル層33’の上面)にも形成され、サブ絵素電極40Sは、ドレイン線31を介して互いに電気的に接続される。
その後、サブ絵素電極を含めた基板全体の上に、ポリイミド系樹脂をオフセット印刷により付与して、配向膜(不図示)を形成する。
図7は、液晶表示装置71における、突起55が形成された部分の断面形状を表した部分断面図である。この図に示すように、コンタクトホール45の下に形成されたドレインメタル層33’は、基板に垂直に見た場合、突起55およびコンタクトホール45を覆うように形成される。すなわち、突起55の表面に汚れ、亀裂等があった場合には配向乱れが生じ、通常黒表示時に光漏れが発生する可能性が高いが、遮光膜(ドレインメタル層33’)の存在により光漏れを完全に防止でき、表示むらの発生やコントラストの低下が抑えられる。
図8は、実施形態2の液晶表示装置71の変形例を説明する図であり、突起55が形成された部分の断面形状を表した部分断面図である。この図に示すように、コンタクトホール45の下に形成されたドレインメタル層33’は、基板に垂直に見た場合、突起55よりも(場合によってはコンタクトホール45よりも)小さく形成され、突起55の中央部分のみ(場合によってはコンタクトホール45の中央部分のみ)を覆うように形成される。特に突起55の頂上付近では汚れが多いため、図8に示す構成をしていれば、図7に示す構成と比べて、絵素領域の開口率を下げることなく、同時に突起55からの光漏れも、ある程度防止することができる。これにより、コントラストの低下を抑えることができる。
上述した実施形態では、サブ絵素電極40Sは各絵素領域に2つあるいは3つ配置されるとしたが、本発明による液晶表示装置はこれに限定されることはなく、各絵素領域に4つ以上のサブ絵素電極40Sが形成されているものも本発明の液晶表示装置に含まれる。
また、液晶表示装置の各構成要素の材料、形状、大きさ等は、上述したものに限られず、本発明の特徴を実現することができる材料、形状、大きさ等を用いた装置であれば、本発明の液晶表示装置の範囲に含まれる。
本発明によれば、透過率が高く、コントラストおよび視野角特性が優れた、高画質の液晶表示装置が提供される。本発明による液晶表示装置は、種々の液晶表示装置に好適に用いられ、例えば、携帯電話、カーナビ等の車載表示装置、ATMや販売機等の表示装置、携帯型表示装置、ノート型PCなどの液晶表示装置に好適に用いられる。
本発明による実施形態1の液晶表示装置11の1つの絵素領域を模式的に示した上面図である。 液晶表示装置11の1つの絵素領域を模式的に示した断面図であり、図1において線分A−Bで示した部分の断面を表した断面図である。 サブ絵素電極40Sの上の液晶分子56の配向を説明するための図である。 本発明による液晶表示装置の製造方法を表した図であり、(a)〜(c)はTFT基板20の製造方法を表した図、(d)は対向基板21の製造方法、およびTFT基板20と対向基板21の貼り合わせ工程を表した図である。 本発明による実施形態2の液晶表示装置71の1つの絵素領域を模式的に示した上面図である。 液晶表示装置71の1つの絵素領域を模式的に示した断面図であり、図5において線分C−Dで示した部分の断面を表した断面図である。 本発明による実施形態2の液晶表示装置71の、突起55付近の断面形状を表した部分断面図である。 液晶表示装置71の変形例における、突起55付近の断面形状を表した部分断面図である。 従来の垂直配向型LCDにおける絵素部分の構成を示した図である。 従来のLCDにおける絵素電極114の形状の一例を表した図である。 従来の絵素電極114によって発生する液晶配向の乱れを表した図である。
符号の説明
11 液晶表示装置
20 TFT基板
21 対向基板
22 液晶層
25 ガラス基板
26 ゲート線
27 補助容量線
28 ゲート絶縁膜
29 ソース線
30 TFT
30G ゲート電極
30S ソース電極
30D ドレイン電極
31 ドレイン線
32 ITO層
33 ドレインメタル層
35 樹脂層
36 保護層
37 接続部
40S サブ絵素電極
45 コンタクトホール
50 ガラス基板
51 カラーフィルタ層
52 共通電極
55 突起
56 液晶分子

Claims (20)

  1. 第1基板と、第2基板と、前記第1基板と前記第2基板との間に配置された液晶層とを備えた液晶表示装置であって、
    前記第1基板は、
    絶縁層と、
    前記絶縁層の上に形成され、前記絶縁層の上で互いに電気的に分離された複数のサブ絵素電極を有する絵素電極と、
    前記複数のサブ絵素電極を互いに電気的に接続するための接続部であって、前記絶縁層の下に形成された接続部と、を有し、
    前記第2基板は、前記複数のサブ絵素電極のそれぞれの上部に形成された、液晶分子の配向を制御するための複数の突起を有する液晶表示装置。
  2. 前記複数のサブ絵素電極は、それぞれ、前記絶縁層に形成された複数のコンタクトホールを介して前記接続部に電気的に接続されている、請求項1に記載の液晶表示装置。
  3. 前記複数のコンタクトホールは、それぞれ、前記複数のサブ絵素電極の中央部に対応する位置に形成されている、請求項2に記載の液晶表示装置。
  4. 前記複数の突起は、それぞれ、前記複数のコンタクトホールと対向する位置に形成されている、請求項2または3に記載の液晶表示装置。
  5. 前記第1基板における前記複数のコンタクトホールのそれぞれの下に、遮光性を有する遮光層が形成されている、請求項2から4のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
  6. 前記第1基板の面法線方向から見た場合、前記複数の突起のそれぞれの少なくとも一部が、前記遮光層と重なる、請求項5に記載の液晶表示装置。
  7. 前記第1基板の面法線方向から見た場合、前記複数の突起のすべてが前記遮光層と重なる、請求項5に記載の液晶表示装置。
  8. 前記接続部は、透明導電部材のみからなる透明部を含む、請求項1から7のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
  9. 前記接続部は、透明導電部材のみからなる透明部、および、透明導電部材からなる層と遮光性を有する層とが積層された積層部を含む、請求項1から4のいずれか1項に記載の液晶表示装置。
  10. 前記積層部は、前記複数のコンタクトホールのそれぞれの下に配置されている、請求項9に記載の液晶表示装置。
  11. 複数のサブ絵素電極を有する絵素電極を備えた液晶表示装置の製造方法であって、
    前記複数のサブ絵素電極を互いに電気的に接続するための接続部を形成する工程と、
    前記接続部の上に絶縁層を形成する工程と、
    前記絶縁層に複数のコンタクトホールを形成する工程と、
    前記絶縁層の上に、絵素電極層を形成する工程と、
    前記絵素電極層を整形して、前記複数のサブ絵素電極を、前記絶縁層の上で互いに電気的に分離されるように形成する工程と、
    液晶分子の配向を制御するための複数の突起を備えた対向基板を、前記複数のサブ絵素電極の上部に設置する工程と、を含む製造方法。
  12. 前記複数のサブ絵素電極は、それぞれ、前記複数のコンタクトホールを介して前記接続部に電気的に接続されている、請求項11に記載の製造方法。
  13. 前記複数のコンタクトホールは、それぞれ、前記複数のサブ絵素電極の中央部に対応する位置に形成されている、請求項11または12に記載の製造方法。
  14. 前記複数の突起は、それぞれ、前記複数のコンタクトホールと対向する位置に形成されている、請求項11から13のいずれか1項に記載の製造方法。
  15. 前記複数のコンタクトホールのそれぞれの下に、遮光性を有する遮光層を形成する工程を含む、請求項11から14のいずれか1項に記載の製造方法。
  16. 前記対向基板の面法線方向から見た場合、前記複数の突起のそれぞれの少なくとも一部が、前記遮光層に重なる、請求項15に記載の製造方法。
  17. 前記対向基板の面法線方向から見た場合、前記複数の突起のそれぞれのすべてが前記遮光層に重なる、請求項15に記載の製造方法。
  18. 前記接続部の一部が、透明導電部材のみによって形成されている、請求項11から17のいずれか1項に記載の製造方法。
  19. 前記接続部は、透明導電部材のみからなる透明部、および、透明導電部材からなる層と遮光性を有する層とが積層された積層部を含む、請求項11から14のいずれか1項に記載の製造方法。
  20. 前記積層部は、前記複数のコンタクトホールのそれぞれの下に配置されている、請求項19に記載の製造方法。
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