JP2007305265A - Method and device for inspecting defect of disk - Google Patents

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten a period of a defect detecting test of a magnetic disk. <P>SOLUTION: In one implementation shape of this defect detecting test of the magnetic disk, a write test of each data track is carried out toward the inner peripheral side from outer peripheral side to write test data on each data track. After that, read and write tests of each data track are executed toward the inner peripheral side from the outer peripheral side. To put it concretely, after the read test of a data track 113a is carried out, the write test of this data track is carried out. Next, the read test of an adjacent track 113b of the inner peripheral side is carried out. In this read test, the test data are being written on the data track 113b prior to be written on the tracks 113a, 113c of its both sides. Thus, the defect of the data track is effectively detected, and also the testing period is shortened. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明はディスクの欠陥検査方法及びディスクの欠陥検査装置に関する。   The present invention relates to a disk defect inspection method and a disk defect inspection apparatus.

ディスク・ドライブ装置として、光ディスク、光磁気ディスク、あるいはフレキシブル磁気ディスクなどの様々な態様のディスクを使用する装置が知られているが、その中で、ハードディスク・ドライブ（Hard Disk Drive：ＨＤＤ）は、コンピュータの記憶装置として広く普及し、現在のコンピュータ・システムにおいて欠かすことができない記憶装置の一つとなっている。更に、コンピュータにとどまらず、動画像記録再生装置、カーナビゲーション・システム、携帯電話、あるいはデジタル・カメラなどで使用されるリムーバブルメモリなど、ＨＤＤの用途は、その優れた特性により益々拡大している。   As a disk drive device, a device using a disk of various modes such as an optical disk, a magneto-optical disk, or a flexible magnetic disk is known. Among them, a hard disk drive (Hard Disk Drive: HDD) Widely used as a computer storage device, it has become one of the storage devices indispensable in current computer systems. Further, the use of HDDs such as a removable memory used in a moving image recording / reproducing apparatus, a car navigation system, a mobile phone, a digital camera, and the like is expanding more and more due to its excellent characteristics.

ヘッド素子部によりデータの記録再生を行うＨＤＤは、磁気ディスク上に形成されたサーボ・データに基づき、ヘッドの位置決め制御を行う。磁気ディスク上で同心円状に形成されたトラックのそれぞれは複数のサーボ・セクタを備え、各サーボ・セクタはサーボ・データとユーザ・データから構成されている。サーボ・データは、ＨＤＤの製造工程において、磁気ディスク上にサーボ・ライタ等により記録される。   An HDD that records and reproduces data by a head element unit performs head positioning control based on servo data formed on a magnetic disk. Each of the tracks formed concentrically on the magnetic disk has a plurality of servo sectors, and each servo sector is composed of servo data and user data. Servo data is recorded on a magnetic disk by a servo writer or the like in the HDD manufacturing process.

近年、ＨＤＤにおける記憶容量高密度化のため、データ・トラック及びサーボ・トラックの間隔、データ・セクタの間隔が狭くなってきている。そのため、ヘッド素子部の揺らぎに対する許容量が減少してきている。ＨＤＤの構造上のばらつきや、サーボ・ライトにおけるヘッド位置のばらつきに起因して、サーボ・トラックの間隔のばらつきが生じる。このサーボ・トラック間隔のばらつきは、トラック又はセクタの間隔が狭くなるにつれて、無視できない大きさになってきている。   In recent years, the interval between data tracks and servo tracks and the interval between data sectors are becoming narrower in order to increase the storage capacity of HDDs. For this reason, the tolerance for fluctuations in the head element portion is decreasing. Due to the structural variation of the HDD and the variation of the head position in servo writing, the servo track interval varies. The variation in the servo track interval becomes a non-negligible magnitude as the track or sector interval becomes narrower.

例えば、サーボ・トラックの間隔がばらつくことによって、サーボ・トラックが局部的に狭くなるところが生じる。局部的にサーボ・トラックが狭くなると、所望のトラックの隣のトラックに寄ってライトを行いその隣のトラックのデータを消去してしまうスクイーズ（Squeeze）・エラーというエラーをひきおこす可能性がある。スクイーズ・エラーは、ヘッド素子部がサーボ・トラックを正常にリードできないことや、サーボ・トラックが局部的に狭くなるなどの原因によって、所望のデータ・トラックに隣接するデータ・トラックに、データを上書きしてしまう現象である。   For example, when the servo track interval varies, the servo track is locally narrowed. When the servo track is locally narrowed, there is a possibility of causing an error called a squeeze error in which writing is performed near the track adjacent to the desired track and the data of the adjacent track is erased. A squeeze error causes data to be overwritten on the data track adjacent to the desired data track because the head element unit cannot read the servo track normally or the servo track is locally narrowed. This is a phenomenon.

そこで、ＨＤＤの製造工程において、ＳＲＳＴ(Self Run Self Test)とよばれる磁気ディスク上の欠陥を検出するテストを行う（例えば、特許文献１を参照）。ＳＲＳＴにおいては、磁気ディスクへのデータ・ライトとデータ・リード行ってキズが形成された欠陥領域などを検出するＳＡＴ（Surface Analysis Test）と呼ばれるテストを行う。ＳＲＳＴにおいて検出された欠陥データ領域は、ＰＤＭ（Primary Defect Map）とよばれる欠陥管理テーブルに登録される。ＰＤＭに登録された領域はスキップされ、ユーザ・データの記録には使用されない。
特開２００２−２６０３５５号公報 Therefore, a test for detecting defects on the magnetic disk called SRST (Self Run Self Test) is performed in the HDD manufacturing process (see, for example, Patent Document 1). In the SRST, a test called SAT (Surface Analysis Test) is performed to detect a defective area in which a scratch is formed by performing data writing and data reading to a magnetic disk. The defect data area detected in the SRST is registered in a defect management table called PDM (Primary Defect Map). The area registered in the PDM is skipped and is not used for recording user data.
JP 2002-260355 A

ＨＤＤの用途拡張と、記録密度の向上に伴い、その信頼性をさらに高めることが要求されている。信頼性向上のためには、ＳＡＴにおいて加速テストを行い、製品出荷後において顕在化する欠陥領域を低減することが好ましい。欠陥領域の検出に好適な加速条件の一つは、ターゲットとしているデータ・トラックの両側の隣接データ・トラックにデータを書き込むことである。この加速テストは、トラック幅が異常な欠陥データ・トラックの検出、あるいは、スクイーズ・マージンがないために、エラー・レートが悪化して顕在化するような欠陥の検出に有効である。   With the expansion of HDD usage and the improvement of recording density, it is required to further improve the reliability. In order to improve the reliability, it is preferable to perform an accelerated test in the SAT to reduce the defective area that becomes apparent after product shipment. One of the acceleration conditions suitable for detecting a defective area is to write data to adjacent data tracks on both sides of the target data track. This acceleration test is effective for detecting a defective data track with an abnormal track width, or detecting a defect that becomes apparent due to a deterioration in error rate because there is no squeeze margin.

両側隣接トラックにデータをライトした状態におけるＳＡＴのシーケンスの一例は、まず、偶数番目の各データ・トラックにデータを順次ライトする。その後、奇数番目の各データ・トラックにデータを順次ライトする。次に、偶数番目の各データ・トラックのデータのリード・テストを行う。これによって、偶数番目の各データ・トラックについて、両側のデータ・トラックがライトされた状態におけるＳＡＴが完了する。   In an example of a SAT sequence in a state where data is written to both adjacent tracks, first, data is sequentially written to even-numbered data tracks. Thereafter, data is sequentially written to each odd-numbered data track. Next, the data read test of each even-numbered data track is performed. As a result, the SAT in the state where the data tracks on both sides are written is completed for each even-numbered data track.

続いて、このテスト・シーケンスは、偶数番目の各データ・トラックにデータを順次ライトする。さらに、奇数番目の各データ・トラックのデータのリード・テストを行う。これによって、奇数番目の各データ・トラックのＳＡＴが完了する。以上のシーケンスによって、記録面上の全てのデータ・トラックについて、両側データ・トラックがライトされた状態におけるＳＡＴが完了する。   Subsequently, this test sequence sequentially writes data to each even-numbered data track. Further, the data read test of each odd-numbered data track is performed. This completes the SAT for each odd-numbered data track. With the above sequence, the SAT in the state where both data tracks are written is completed for all the data tracks on the recording surface.

しかし、上記シーケンスはデータのライトとリードを繰り返し行うため、多くのテスト時間を必要とする。例えば、４つのヘッド素子部及び記録面を有するＨＤＤにおいて、上記のシーケンスによるテストは１０時間程の時間を必要とする。ＨＤＤのトータルの製造時間を短縮するためには、そのテスト時間を短縮することが強く要求される。   However, since the above sequence repeatedly writes and reads data, it requires a lot of test time. For example, in an HDD having four head element units and a recording surface, the test by the above sequence requires about 10 hours. In order to shorten the total manufacturing time of the HDD, it is strongly required to shorten the test time.

本発明の一態様はデータを記憶するディスクの欠陥検査方法である。この方法は、まず、ディスク上の一定半径方向において、順次、連続するデータ・トラックのそれぞれにデータをライトする。その後、一つのデータ・トラックにおいて、前記ライトしたデータのリード・テストを行う。さらに、前記リード・テストの後に、そのリード・テストを行ったデータ・トラックに新たなデータをライトする。その後、前記新たなデータをライトしたデータ・トラックの前記一定半径方向における隣接データ・トラックにシークする。上記方法は、前記リード・テストの実行、新たなデータのライト及び隣接データ・トラックへのシークを繰り返す。このシーケンスにより、両側が後にライトされた状態におけるデータ・トラックのリード・テストを効率的に行うことができる。   One embodiment of the present invention is a defect inspection method for a disk storing data. In this method, data is first written to each successive data track in a constant radial direction on the disk. Thereafter, a read test of the written data is performed in one data track. Further, after the read test, new data is written to the data track on which the read test was performed. After that, seek is performed to the adjacent data track in the constant radius direction of the data track in which the new data is written. The above method repeats execution of the read test, writing of new data, and seeking to an adjacent data track. With this sequence, it is possible to efficiently perform a data track read test in a state where both sides are written later.

前記リード・テストを行った後にそのデータ・トラックのライト・テストを行い、前記ライト・テストにおいて前記新たなデータをライトすることが好ましい。これによって、ライト・テストを効率的に行うことができる。あるいは、前記リード・テストは、そのデータ・トラックを複数周回リードすることが好ましい。これによって、欠陥領域の検出率を上げることができる。   It is preferable to perform a write test on the data track after the read test and write the new data in the write test. As a result, the write test can be performed efficiently. Alternatively, in the read test, it is preferable to read the data track a plurality of times. As a result, the defect area detection rate can be increased.

前記一定半径方向における各データ・トラックへのデータ・ライト及び前記新たなデータのライトは、ランダム・パターンをライトすることが好ましい。これによって、欠陥領域の検出率を上げることができる。また、前記新たにライトしたデータのリード・テストをさらに行うことが好ましい。これによって、欠陥領域の検出率を上げることができる。   The data write to each data track and the new data write in the constant radius direction preferably write a random pattern. As a result, the defect area detection rate can be increased. Further, it is preferable to further perform a read test on the newly written data. As a result, the defect area detection rate can be increased.

前記ライトしたデータのリード・テストと前記新たにライトしたデータのリード・テストとは、異なる欠陥判定基準を有することが好ましい。これによって、ライトされたデータの状態に応じた欠陥判定を行うことができる。さらに、前記新たにライトしたデータのリード・テストの欠陥判定基準は、前記ライトしたデータのリード・テストの欠陥判定基準よりも厳しいことが好ましい。また、前記新たにライトしたデータのリード・テストにおけるエラー・レートに関する欠陥判定基準値は、前記ライトしたデータのリード・テストにおける欠陥判定基準値よりも小さいことが好ましい。これによって、欠陥と判定される領域が徒に増加することを防ぐことができる。   It is preferable that the read test for the written data and the read test for the newly written data have different defect determination criteria. Thereby, it is possible to perform defect determination according to the state of the written data. Furthermore, it is preferable that a defect determination criterion for the read test of the newly written data is stricter than a defect determination criterion for the read test of the written data. Further, it is preferable that a defect determination reference value related to an error rate in the read test of the newly written data is smaller than a defect determination reference value in the read test of the written data. As a result, it is possible to prevent an increase in the area determined to be a defect.

本発明の他の態様は、データを記憶するディスクの欠陥検査装置である。この欠陥検査装置は、ディスクにアクセスするヘッドと、前記ヘッドを支持し、そのヘッドをディスク上で移動する移動機構と、コントローラとを備える。コントローラは、前記ヘッド及び移動機構を使用して、前記ディスク上の一定半径方向において、順次、連続するデータ・トラックのそれぞれにデータをライトする。コントローラは、さらに、前記一定半径方向において、順次、各データ・トラック上における前記ライトしたデータのリード・テスト及びそのリード・テストの後の新たなデータ・ライトを実行する。本態様によれば、両側が後にライトされた状態におけるデータ・トラックのリード・テストを効率的に行うことができる。   Another aspect of the present invention is a disk defect inspection apparatus for storing data. The defect inspection apparatus includes a head that accesses a disk, a moving mechanism that supports the head and moves the head on the disk, and a controller. The controller uses the head and the moving mechanism to sequentially write data to each successive data track in a constant radial direction on the disk. Further, the controller sequentially executes a read test of the written data on each data track and a new data write after the read test in the constant radius direction. According to this aspect, it is possible to efficiently perform a data track read test in a state where both sides are written later.

本発明によれば、データを記憶するディスクの信頼性を高めると共に、その検査時間を短縮することができる。   According to the present invention, the reliability of a disk for storing data can be improved and the inspection time can be shortened.

以下に、本発明を適用可能な実施の形態を説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略及び簡略化がなされている。又、各図面において、同一要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略されている。以下においては、ディスク・ドライブ装置の一例であるハードディスク・ドライブ（ＨＤＤ）を例として、本発明の実施形態を説明する。   Hereinafter, embodiments to which the present invention can be applied will be described. For clarity of explanation, the following description and drawings are omitted and simplified as appropriate. Moreover, in each drawing, the same code | symbol is attached | subjected to the same element and the duplication description is abbreviate | omitted as needed for clarification of description. In the following, embodiments of the present invention will be described by taking a hard disk drive (HDD) as an example of a disk drive device as an example.

本実施形態は、特に、ＨＤＤにおける磁気ディスクの欠陥検出テストに関する。本形態の欠陥検出テストは、各データ・トラックの加速テストを行う。具体的には、テスト対象のデータ・トラックにテスト・データをライトした後に、その両側データ・トラックにテスト・データを書き込む。その後、テスト対象のデータ・トラックのリード・テストを行う。欠陥検出テストのシーケンスにおける各工程の実行順序を適切なものとすることで、加速テストのためのテスト時間を短縮する。   The present embodiment particularly relates to a magnetic disk defect detection test in an HDD. The defect detection test of this embodiment performs an acceleration test for each data track. Specifically, after writing the test data to the data track to be tested, the test data is written to the data tracks on both sides. Thereafter, a read test is performed on the data track to be tested. By making the execution order of each step in the defect detection test sequence appropriate, the test time for the accelerated test is shortened.

本実施形態の特徴点の理解を容易とするため、最初に、ＨＤＤの全体構成を説明する。図１は、本実施の形態に係るＨＤＤ１の全体構成を模式的に示すブロック図である。図１に示すように、ＨＤＤ１は、エンクロージャ１０内に、メディア（記録媒体）の一例である磁気ディスク１１、ヘッド素子部１２、アーム電子回路（アームエレクトロニクス：ＡＥ）１３、スピンドル・モータ（ＳＰＭ）１４、ボイス・コイル・モータ（ＶＣＭ）１５、そしてアクチュエータ１６を備えている。   In order to facilitate understanding of the feature points of the present embodiment, the overall configuration of the HDD will be described first. FIG. 1 is a block diagram schematically showing the overall configuration of the HDD 1 according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, an HDD 1 includes an enclosure 10 and a magnetic disk 11 as an example of a medium (recording medium), a head element unit 12, an arm electronic circuit (arm electronics: AE) 13, and a spindle motor (SPM). 14, a voice coil motor (VCM) 15, and an actuator 16.

ＨＤＤ１は、エンクロージャ１０の外側に固定された回路基板２０を備えている。回路基板２０上には、リード・ライト・チャネル（ＲＷチャネル）２１、モータ・ドライバ・ユニット２２、ハードディスク・コントローラ（ＨＤＣ）とＭＰＵの集積回路（以下、ＨＤＣ／ＭＰＵ）２３及び半導体メモリの一例であるＲＡＭ２４などの各ＩＣを備えている。尚、各回路構成は一つのＩＣに集積すること、あるいは、複数のＩＣに分けて実装することができる。   The HDD 1 includes a circuit board 20 that is fixed to the outside of the enclosure 10. An example of a read / write channel (RW channel) 21, a motor driver unit 22, a hard disk controller (HDC) and an MPU integrated circuit (hereinafter referred to as HDC / MPU) 23, and a semiconductor memory is provided on the circuit board 20. Each IC such as a RAM 24 is provided. Each circuit configuration can be integrated into one IC, or can be divided into a plurality of ICs.

ＳＰＭ１４は、そこに固定されている磁気ディスク１１を、所定の角速度で回転する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３からの制御データに従って、モータ・ドライバ・ユニット２２がＳＰＭ１４を駆動する。本例の磁気ディスク１１は、データを記録する記録面を両面に備え、各記録面に対応するヘッドの一例であるヘッド素子部１２が設けられている。   The SPM 14 rotates the magnetic disk 11 fixed thereto at a predetermined angular velocity. The motor driver unit 22 drives the SPM 14 according to control data from the HDC / MPU 23. The magnetic disk 11 of this example has recording surfaces for recording data on both sides, and is provided with a head element unit 12 which is an example of a head corresponding to each recording surface.

各ヘッド素子部１２はスライダ（不図示）に固定されている。また、スライダはアクチュエータ１６に固定されている。ヘッドを移動する機構の一例であるアクチュエータ１６はＶＣＭ１５に連結され、回動軸を中心に回動することによって、ヘッド素子部１２（及びスライダ）を磁気ディスク１１上において半径方向に移動する。モータ・ドライバ・ユニット２２は、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３からの制御データに従ってＶＣＭ１５を駆動する。ヘッド素子部１２には、典型的には、ライト・データに応じて電気信号を磁界に変換するライト素子及び磁気ディスク１１からの磁界を電気信号に変換するリード素子を備えている。なお、磁気ディスク１１は、１枚以上あればよく、記録面は磁気ディスク１１の片面あるいは両面に形成することができる。また、本発明をリード素子のみを備えるデータ記憶装置に適用することができる。   Each head element unit 12 is fixed to a slider (not shown). The slider is fixed to the actuator 16. An actuator 16, which is an example of a mechanism for moving the head, is connected to the VCM 15, and moves around the rotation axis to move the head element unit 12 (and slider) in the radial direction on the magnetic disk 11. The motor driver unit 22 drives the VCM 15 according to control data from the HDC / MPU 23. The head element unit 12 typically includes a write element that converts an electric signal into a magnetic field according to write data and a read element that converts a magnetic field from the magnetic disk 11 into an electric signal. One or more magnetic disks 11 may be provided, and the recording surface can be formed on one side or both sides of the magnetic disk 11. Further, the present invention can be applied to a data storage device having only a read element.

ＡＥ１３は、複数のヘッド素子部１２の中からデータ・アクセスが行われる１つのヘッド素子部１２を選択し、選択されたヘッド素子部１２により再生される再生信号を一定のゲインで増幅（プリアンプ）し、ＲＷチャネル２１に送る。また、ＲＷチャネル２１からの記録信号を選択されたヘッド素子部１２に送る。   The AE 13 selects one head element unit 12 to which data access is performed from the plurality of head element units 12, and amplifies a reproduction signal reproduced by the selected head element unit 12 with a certain gain (preamplifier). To the RW channel 21. Further, the recording signal from the RW channel 21 is sent to the selected head element unit 12.

ＲＷチャネル２１は、ライト処理において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３から供給されたライト・データをコード変調し、更にコード変調されたライト・データをライト信号に変換してＡＥ１３に供給する。リード処理において、ＲＷチャネル２１はＡＥ１３から供給されたリード信号を一定の振幅となるように増幅し、取得したリード信号からデータを抽出し、デコード処理を行う。読み出されるデータは、ユーザ・データとサーボ・データを含む。デコード処理されたリード・データは、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３に供給される   In the write process, the RW channel 21 code-modulates the write data supplied from the HDC / MPU 23, converts the code-modulated write data into a write signal, and supplies the write signal to the AE 13. In the read process, the RW channel 21 amplifies the read signal supplied from the AE 13 to have a constant amplitude, extracts data from the acquired read signal, and performs a decoding process. Data to be read out includes user data and servo data. The decoded read data is supplied to the HDC / MPU 23.

ＨＤＣ／ＭＰＵ２３において、ＭＰＵはＲＡＭ２４にロードされたマイクロ・コードに従って動作する。ＨＤＤ１の起動に伴い、ＲＡＭ２４には、ＭＰＵ上で動作するマイクロ・コードの他、制御及びデータ処理に必要とされるデータが磁気ディスク１１あるいはＲＯＭ（不図示）からロードされる。ＨＤＣはロジック回路として構成され、ＭＰＵと一体的に様々な処理を実行する。例えば、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、コマンド実行順序の管理、ヘッド素子部１２のポジショニング制御、インターフェース制御、ディフェクト管理などのデータ処理に関する必要な処理の他、ＨＤＤ１の全体制御を実行する。本形態のＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、磁気ディスク１１の欠陥検出テストの実行制御を行う。この点については、後に説明する。   In the HDC / MPU 23, the MPU operates according to the microcode loaded in the RAM 24. As the HDD 1 starts up, the RAM 24 is loaded with data necessary for control and data processing from the magnetic disk 11 or ROM (not shown), in addition to the microcode operating on the MPU. The HDC is configured as a logic circuit and executes various processes integrally with the MPU. For example, the HDC / MPU 23 performs overall control of the HDD 1 in addition to necessary processing relating to data processing such as command execution order management, head element unit 12 positioning control, interface control, and defect management. The HDC / MPU 23 of this embodiment performs execution control of the defect detection test of the magnetic disk 11. This point will be described later.

ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＲＷチャネル２１から取得した磁気ディスク１１からのリード・データを、ホスト５１に転送する。磁気ディスク１１からのリード・データは、ＲＡＭ２４内のリード・バッファに一旦格納された後、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３を介してホスト５１に転送される。また、ホスト５１からのライト・データは、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３を介して、ＲＡＭ２４内のライト・バッファに一旦格納され、その後、所定のタイミングでＨＤＣ／ＭＰＵ２３を介して磁気ディスク１１に転送される。   The HDC / MPU 23 transfers the read data from the magnetic disk 11 acquired from the RW channel 21 to the host 51. Read data from the magnetic disk 11 is temporarily stored in a read buffer in the RAM 24 and then transferred to the host 51 via the HDC / MPU 23. The write data from the host 51 is temporarily stored in the write buffer in the RAM 24 via the HDC / MPU 23 and then transferred to the magnetic disk 11 via the HDC / MPU 23 at a predetermined timing.

図２を参照して、磁気ディスク１１上の記録データについて説明する。図２は、磁気ディスク１１の記録面の記録データの状態を模式的に示している。磁気ディスク１１の記録面には、磁気ディスク１１の中心から半径方向に放射状に延び、所定の角度毎に形成された複数のサーボ領域１１１と、隣り合う２つのサーボ領域１１１の間にデータ領域１１２が形成されている。サーボ領域１１１とデータ領域１１２は、所定の角度で交互に設けられている。各サーボ領域１１１には、ヘッド素子部１２の位置決め制御を行うためのサーボ・データが記録される。各データ領域１１２には、ユーザ・データが記録される。   The recording data on the magnetic disk 11 will be described with reference to FIG. FIG. 2 schematically shows the state of the recording data on the recording surface of the magnetic disk 11. On the recording surface of the magnetic disk 11, a data area 112 extends radially from the center of the magnetic disk 11, and is formed between a plurality of servo areas 111 formed at predetermined angles and two adjacent servo areas 111. Is formed. The servo areas 111 and the data areas 112 are alternately provided at a predetermined angle. Servo data for controlling the positioning of the head element unit 12 is recorded in each servo area 111. In each data area 112, user data is recorded.

磁気ディスク１１の記録面には、半径方向の所定幅を有し、同心円状に形成された複数本のデータ・トラック１１３が形成されている。ユーザ・データは、データ・トラック１１３に沿って記録される。また、磁気ディスク１１の記録面上には、同心円状に形成された複数のサーボ・トラックが形成されており、各サーボ・トラックは同一半径位置の各サーボ領域１１１によって構成されている。サーボ・トラック・ピッチとデータ・トラック・ピッチとは、同一もしくは異なる。   On the recording surface of the magnetic disk 11, a plurality of data tracks 113 having a predetermined width in the radial direction and formed concentrically are formed. User data is recorded along the data track 113. Further, a plurality of concentric servo tracks are formed on the recording surface of the magnetic disk 11, and each servo track is constituted by a servo area 111 at the same radial position. The servo track pitch and the data track pitch are the same or different.

各データ・トラック１１３において、ユーザ・データは、データ・セクタ単位で記録されている。また、データ・トラック１１３は、磁気ディスク１１の半径方向の位置に従って、複数のゾーン１１４ａ−１１４ｃにグループ化されている。１つのデータ・トラック１１３に含まれるセクタの数は、ゾーンのそれぞれに設定される。   In each data track 113, user data is recorded in units of data sectors. The data tracks 113 are grouped into a plurality of zones 114 a to 114 c according to the radial position of the magnetic disk 11. The number of sectors included in one data track 113 is set for each zone.

本形態のＨＤＤ１は、その製造工程において、ＳＲＳＴ(Self Run Self Test)を実行する。ＳＲＳＴにおいて、ＨＤＤ１は、インストールされているテスト・プログラムを実行することによって、自ら磁気ディスク１１上の欠陥検出テストを行う。従って、ＨＤＤ１自身が、磁気ディスク１１の欠陥検査装置として働く。図３のブロック図に示すように、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３内のＭＰＵがテスト・プログラムに従って処理を行うことで、テスト実行制御部２３１として機能する。   The HDD 1 of this embodiment executes SRST (Self Run Self Test) in the manufacturing process. In the SRST, the HDD 1 performs a defect detection test on the magnetic disk 11 by executing the installed test program. Therefore, the HDD 1 itself functions as a defect inspection device for the magnetic disk 11. As shown in the block diagram of FIG. 3, the MPU in the HDC / MPU 23 performs processing according to the test program, thereby functioning as a test execution control unit 231.

テスト実行制御部２３１は、ＨＤＤ１に実装されている通常機能としてのリード・ライト処理制御部２３２を利用して、ＳＲＳＴを実行する。テスト実行制御部２３１は、リード・ライト処理制御部（ＲＷ処理制御部）２３２に指示を行い、ヘッド素子部１２をターゲット・トラックにシークし、また、そのヘッド素子部１２によってターゲット位置におけるテスト・データのライト及びリードを行う。ＲＷ処理制御部２３２は、テスト実行制御部２３１からの指示に従い、モータ・ドライバ・ユニット２２を使用してアクチュエータ１６の移動を制御し、さらに、ＲＷチャネル２１を制御することでデータのリード及びライトを実行する。   The test execution control unit 231 executes the SRST by using the read / write process control unit 232 as a normal function mounted on the HDD 1. The test execution control unit 231 instructs the read / write processing control unit (RW processing control unit) 232 to seek the head element unit 12 to the target track, and the head element unit 12 performs test / test at the target position. Write and read data. The RW processing control unit 232 controls the movement of the actuator 16 using the motor driver unit 22 in accordance with an instruction from the test execution control unit 231 and further controls the RW channel 21 to read and write data. Execute.

ＳＲＳＴにおいて、テスト実行制御部２３１は、磁気ディスク１１へのデータ・ライトとデータ・リード行って欠陥を検出するＳＡＴ（Surface Analysis Test）に加えて、データ・ライトのみを行ってライト・エラーを引き起こす領域を検出するライト・テスト（以下、FILL-DATAと呼ぶ）を行う。図３に示すように、テスト実行制御部２３１は、ＳＲＳＴにおいて検出された欠陥データ領域を、ＰＤＭ（Primary Defect Map）２４１とよばれる欠陥管理テーブルに登録する。ＨＤＤ１は、通常動作において、ＰＤＭ２４１に登録されたデータ・セクタを使用せず、スキップする。ＳＲＳＴ及び通常動作時において、ＰＤＭ２４１は磁気ディスク１１上の管理領域からＲＡＭ２４にロードされる。   In the SRST, the test execution control unit 231 causes a write error by performing only data writing in addition to SAT (Surface Analysis Test) for detecting defects by performing data writing and data reading to the magnetic disk 11. A write test (hereinafter referred to as FILL-DATA) is performed to detect the area. As illustrated in FIG. 3, the test execution control unit 231 registers the defect data area detected in the SRST in a defect management table called a PDM (Primary Defect Map) 241. The HDD 1 skips without using the data sector registered in the PDM 241 in normal operation. During SRST and normal operation, the PDM 241 is loaded from the management area on the magnetic disk 11 to the RAM 24.

図４に示すように、本形態のＳＲＳＴにおいて、テスト実行制御部２３１は、最初にFILL-DATAを実行し（Ｓ１１）、その後にＳＡＴを実行する（Ｓ１２）。FILL-DATAは、磁気ディスク１１の記録面において、データ領域全面にデータのライト処理を行い、ライト・エラーが発生するデータ・トラックを検出する（ライト・テスト）。FILL-DATAは、ライトしたデータの正確なリードの有無を確認するリード・テストは実行しない。テスト実行制御部２３１は、そのデータ・トラックに含まれるすべてのデータ・セクタを欠陥領域としてＰＤＭ２４１に登録する。ここで、ライト処理は、ターゲットへのシークから磁気ディスク１１へのデータ書き込みまでの一連の処理である。   As shown in FIG. 4, in the SRST of the present embodiment, the test execution control unit 231 first executes FILL-DATA (S11), and then executes SAT (S12). FILL-DATA performs data write processing on the entire data area on the recording surface of the magnetic disk 11 and detects a data track in which a write error occurs (write test). FILL-DATA does not execute a read test to check whether the written data is correctly read. The test execution control unit 231 registers all data sectors included in the data track in the PDM 241 as defective areas. Here, the write process is a series of processes from the seek to the target to the data writing to the magnetic disk 11.

FILL-DATAは、サーボ・トラックが狭いことやサーボ・トラックがリードすることができない等のサーボ・トラック・エラーによってライト・エラーが頻繁に発生する欠陥領域を検出する。一つのデータ・トラックについてのライト・テストは、例えば、規定回数のライト・リトライでデータを書き込むことができるか、サーボ・データのリード・エラーが発生するセクタが基準数をこえることがないか、などを確認する。これらの条件を満たさないデータ・トラックは、ＰＤＭ２４１に欠陥領域として登録される。   FILL-DATA detects defective areas in which write errors frequently occur due to servo track errors such as a narrow servo track or a servo track that cannot be read. The write test for one data track is, for example, whether data can be written with a specified number of write retries, or whether the sector where servo data read errors occur exceeds the reference number, Check etc. Data tracks that do not satisfy these conditions are registered in the PDM 241 as defective areas.

図５に示すように、本形態のFILL-DATAにおいて、テスト実行制御部２３１は、外周側（ＯＤ側）から内周側（ＩＤ側）に向かって、各データ・トラックのライト・テストを順次実行する。テスト実行制御部２３１は、記録面におけるひとつのデータ・トラックについてライト・テストを終了すると、その内周側の隣接データ・トラックにシークし、その隣接データ・トラックのライト・テストを実行する。   As shown in FIG. 5, in the FILL-DATA of this embodiment, the test execution control unit 231 sequentially performs a write test of each data track from the outer peripheral side (OD side) to the inner peripheral side (ID side). Execute. When the test execution control unit 231 finishes the write test for one data track on the recording surface, the test execution control unit 231 seeks to the adjacent data track on the inner circumference side and executes the write test for the adjacent data track.

図５の例においては、データ・トラック１１３ａのライト・テストが終了すると、ヘッド素子部１２はその内周側隣接データ・トラック１１３ｂに移動し、テスト実行制御部２３１は、そのデータ・トラック１１３ｂのライト・テストを実行する。以下、テスト実行制御部２３１は、内周側の隣接データ・トラックに順次ヘッド素子部１２を移動しながら、各データ・トラックのライト・テストを実行する。   In the example of FIG. 5, when the write test of the data track 113a is completed, the head element unit 12 moves to the inner peripheral side adjacent data track 113b, and the test execution control unit 231 reads the data track 113b. Perform a light test. Thereafter, the test execution control unit 231 executes the write test for each data track while sequentially moving the head element unit 12 to the adjacent data track on the inner circumference side.

テスト実行制御部２３１は、各記録面においてユーザ・データを記録する全てのデータ・トラックについて、順次、ライト・テストを実行する。ＨＤＤ１が複数の記録面を有する場合、テスト実行制御部２３１は各記録面の同一半径位置の各データ・トラック（同一シリンダ）のライト・テストを行った後、内周側の隣接データ・トラックに各ヘッド素子部１２を移動し、同様に各記録面のデータ・トラックのライト・テストを行う。   The test execution control unit 231 sequentially performs a write test on all data tracks on which user data is recorded on each recording surface. When the HDD 1 has a plurality of recording surfaces, the test execution control unit 231 performs a write test on each data track (same cylinder) at the same radial position on each recording surface, and then performs an adjacent data track on the inner circumference side. Each head element unit 12 is moved, and similarly, a data track write test on each recording surface is performed.

図４に示したように、テスト実行制御部２３１は、各記録面の全面についてFILL-DATAを終了すると（Ｓ１１）、ＳＡＴを開始する（Ｓ１２）。本形態のＳＡＴは、テスト対象のデータ・トラックにデータを書き込んだ後にその両側隣接データ・トラックにデータを書き込んだ状態において、そのテスト対象のデータ・トラックのリード・テストを実行する。この加速テストによって、出荷後に顕在化しうる欠陥領域を、テスト工程において効果的に検出することができる。   As shown in FIG. 4, when the FILL-DATA is finished for the entire recording surface (S11), the test execution control unit 231 starts SAT (S12). The SAT according to the present embodiment executes a read test of the data track to be tested in a state where data is written to the data track adjacent to both sides after the data is written to the data track to be tested. By this accelerated test, it is possible to effectively detect a defective area that can become apparent after shipment in the test process.

本形態のＳＲＳＴは、テスト・シーケンスにおける各工程の手順を適切化することによって、上述の両側隣接データ・トラックにデータを書き込んだ状態におけるＳＡＴのテスト時間を大きく短縮する。本形態のＳＲＳＴにおいては、各データ・トラックへのデータのライト及びそのリード・テンスとの順序が重要となる。   The SRST according to the present embodiment significantly shortens the SAT test time in a state where data is written in the above-described adjacent data tracks on both sides by optimizing the procedure of each step in the test sequence. In the SRST of this embodiment, the order of data writing to each data track and its read tense is important.

重要な点の一つとして、上記FILL-DATAが終了した各記録面において、各データ・トラックにはデータがライトされており、さらに、その内周側の隣接データ・トラックが後にライトされた状態になっている。図５の例においては、データ・トラック１１３ａにデータがライトされた後にその内周側隣接データ・トラック１１３ｂにデータがライトされ、データ・トラック１１３ｂにデータがライトされた後にその内周側隣接データ・トラック１１３ｃにデータがライトされる。   One important point is that data has been written to each data track on each recording surface where FILL-DATA has been completed, and the adjacent data track on the inner circumference side has been written later. It has become. In the example of FIG. 5, after data is written to the data track 113a, data is written to the inner peripheral side adjacent data track 113b, and after data is written to the data track 113b, the inner peripheral side adjacent data is written. Data is written to the track 113c.

テスト実行制御部２３１は、本形態のＳＡＴにおいて、外周側から内周側に向かって、各データ・トラックのテストを順次行っていく。具体的に、図６（ａ）−（ｅ）を参照して説明する。図６（ａ）−（ｅ）は、一つの記録面におけるデータ・トラックの一部を模式的に示している。図６（ａ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、データ・トラック１１３ａにヘッド素子部１２をシークし、そのリード・テストを行う。   The test execution control unit 231 sequentially tests each data track from the outer peripheral side to the inner peripheral side in the SAT of this embodiment. Specifically, description will be made with reference to FIGS. FIGS. 6A to 6E schematically show part of the data track on one recording surface. As shown in FIG. 6A, the test execution control unit 231 seeks the head element unit 12 to the data track 113a and performs a read test thereof.

図６（ｂ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、データ・トラック１１３ａのリード・テストの後に、データ・トラック１１３ａのライト・テストを実行する。このライト・テストにおいて、データ・トラック１１３ａにデータがライトされる。その後、図６（ｃ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、ヘッド素子部１２を内周側の隣接データ・トラック１１３ｂに移動し、そのデータ・トラック１１３ｂのリード・テストを実行する。   As shown in FIG. 6B, the test execution control unit 231 executes a write test of the data track 113a after the read test of the data track 113a. In this write test, data is written to the data track 113a. Thereafter, as shown in FIG. 6C, the test execution control unit 231 moves the head element unit 12 to the adjacent data track 113b on the inner peripheral side, and executes a read test of the data track 113b.

データ・トラック１１３ｂのリード・テストが終了すると、図６（ｄ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、データ・トラック１１３ｂのライト・テストを実行する。その後、図６（ｅ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、ヘッド素子部１２を内周側の隣接データ・トラック１１３ｃに移動し、同様のシーケンスでテストを実行する。   When the read test of the data track 113b is completed, as shown in FIG. 6D, the test execution control unit 231 executes the write test of the data track 113b. Thereafter, as shown in FIG. 6E, the test execution control unit 231 moves the head element unit 12 to the adjacent data track 113c on the inner peripheral side, and executes the test in the same sequence.

上記のシーケンスにおいて、各データ・トラックのリード・テストは、そのデータ・トラックよりも後に両側の隣接データ・トラックにデータ・ライトされた状態において行われる。具体的には、図６（ｂ）において、ヘッド素子部１２がデータ・トラック１１３ａにデータを書き込んだ状態において、その内周側隣接データ・トラック１１３ｂのデータは、その両側データ・トラックにデータが上書きされた状態にある。これは、データ・トラック１１３ｃは、FILL-DATAにおいて、データ・トラック１１３ｂよりも後にデータ・ライトされており、また、上記のように、ＳＡＴにおいてデータ・トラック１１３ａにデータ・ライトされているからである（図６（ｂ））。   In the above sequence, the read test of each data track is performed in a state where data is written to adjacent data tracks on both sides after the data track. Specifically, in FIG. 6B, in the state in which the head element unit 12 has written data to the data track 113a, the data on the inner peripheral side adjacent data track 113b has the data on both side data tracks. It has been overwritten. This is because the data track 113c is written in the FILL-DATA after the data track 113b, and as described above, the data is written in the data track 113a in the SAT. Yes (FIG. 6B).

同様に、図６（ｄ）においてデータ・トラック１１３ｂにデータがライトされた状態において、その内周側隣接データ・トラック１１３ｂのデータについて、その両側データ・トラックのデータがそれよりも後に書き込まれている。なお、データ・トラック１１３ａのリード・テストも、同様の加速テストになっている。このように、本形態のＳＡＴにおいては、各データ・トラックへの１回のデータ・ライトによって、上記加速テストを行うことができる。これにより、加速テストに必要とされるテスト時間を大きく短縮することができる。   Similarly, in the state where the data is written in the data track 113b in FIG. 6D, the data in the data tracks on both sides is written later than the data on the inner peripheral side adjacent data track 113b. Yes. The read test of the data track 113a is a similar acceleration test. Thus, in the SAT of this embodiment, the acceleration test can be performed by one data write to each data track. Thereby, the test time required for the acceleration test can be greatly shortened.

上述のＳＡＴシーケンスについて、図７のフローチャートを参照して説明する。テスト実行制御部２３１は、テスト対象のデータ・トラックにヘッド素子部１２をシークさせ、そのデータ・トラックのリード・テストを実行する（Ｓ２１）。リード・テストは、データ・トラックに書き込まれているデータを予め定められた基準に従ってリードすることができることを確認する。正確にデータをリードすることができない場合、あるいは、予め設定された基準に従ってデータをリードすることができない場合、テスト実行制御部２３１は、そのデータ・セクタをＰＤＭ２４１に登録する。   The above SAT sequence will be described with reference to the flowchart of FIG. The test execution control unit 231 causes the head element unit 12 to seek the data track to be tested, and executes a read test for the data track (S21). The read test confirms that data written in the data track can be read according to a predetermined standard. If the data cannot be read accurately, or if the data cannot be read in accordance with a preset criterion, the test execution control unit 231 registers the data sector in the PDM 241.

好ましくは、テスト実行制御部２３１は、一つのデータ・トラックにおいて、複数周回のリード・テストを行う。これによって、出荷後に顕在しうる欠陥領域を効果的に検出することができる。例えば、テスト実行制御部２３１は、一つのデータ・トラックにおいて複数周回のリードを実行し（例えば５周回）、基準回数（例えば３回）以上のリード・エラーが発生した場合に、そのデータ・セクタをＰＤＭ２４１に欠陥領域として登録する。   Preferably, the test execution control unit 231 performs a read test for a plurality of turns in one data track. As a result, it is possible to effectively detect a defective area that may appear after shipment. For example, the test execution control unit 231 executes a plurality of rounds of reading in one data track (for example, 5 rounds), and if a read error occurs more than the reference number (for example, 3 times), the data sector Is registered in the PDM 241 as a defective area.

その後に、テスト実行制御部２３１は、リード・テストを行ったデータ・トラックのライト・テストを行う（Ｓ２２）。具体的には、テスト実行制御部２３１は、そのデータ・トラックにデータをライトし、所定のライト・エラーが発生した場合には、そのデータ・トラックを欠陥領域としてＰＤＭ２４１に登録する。ライト・テストは、FILL-DATAと同様のテストとしてよい。このライト・テストにおいて、データ・トラックにデータがライトされる。   Thereafter, the test execution control unit 231 performs a write test of the data track for which the read test has been performed (S22). Specifically, the test execution control unit 231 writes data to the data track, and when a predetermined write error occurs, registers the data track as a defective area in the PDM 241. The light test may be a test similar to FILL-DATA. In this write test, data is written to the data track.

その後、テスト実行制御部２３１は、テスト対象となっている領域の最後（最内周）のデータ・トラックについてＳＡＴを終了したかを判定する、つまり、全てのデータ・トラックについてＳＡＴが終了したかを判定する（Ｓ２３）。全てのデータ・トラックについてＳＡＴが終了したと判定すると（Ｓ２３におけるＹＥＳ）、その領域におけるＳＡＴが終了する。   Thereafter, the test execution control unit 231 determines whether the SAT has been completed for the last (innermost) data track of the test target area, that is, whether the SAT has been completed for all the data tracks. Is determined (S23). If it is determined that the SAT has been completed for all the data tracks (YES in S23), the SAT in that area is completed.

テスト対象のデータ・トラックが最後のデータ・トラックでない場合（Ｓ２３におけるＮＯ）、テスト実行制御部２３１は、ヘッド素子部１２を１データ・トラック分、内周側にシークする（Ｓ２４）。シークした先のデータ・トラックにおいて、テスト実行制御部２３１は、同様にリード・テストと、その後のデータ・ライトを行う。以下、同様の処理を繰り返す。これによって、両側隣接データ・トラックにデータを書き込んだ状態におけるリード・テストを効率的に行うことができる。   If the data track to be tested is not the last data track (NO in S23), the test execution control unit 231 seeks the head element unit 12 for one data track to the inner circumference side (S24). In the seek destination data track, the test execution control unit 231 similarly performs a read test and subsequent data write. Thereafter, the same processing is repeated. As a result, it is possible to efficiently perform a read test in a state where data is written to the adjacent data tracks on both sides.

上述のように、一定半径方向（上記好ましい例において外周側から内周側）において、各データ・トラックにデータをライトし、その後、同様の方向において各データ・トラックのリード・テスト及びその後のデータ・ライトを行うことで、両側データ・トラックがライトされた状態における加速テストを効率的に行うことができる。なお、テストするデータ・トラックの順次選択は、テスト対象の全領域において一定であることが好ましいが、一部連続領域を内周側から外周側に向かってテストし（FILL-DATA及びＳＡＴ）、他の連続領域を外周側から内周側に向かってテストしてもよい。各セクションにおけるテストにおいては、上記加速テストを効率的に行うことができる。   As described above, data is written to each data track in a constant radial direction (from the outer peripheral side to the inner peripheral side in the above preferred example), and then a read test of each data track and subsequent data are performed in the same direction. -By performing writing, it is possible to efficiently perform an acceleration test in a state where both data tracks are written. Note that the sequential selection of data tracks to be tested is preferably constant in the entire area to be tested, but a partial continuous area is tested from the inner circumference side to the outer circumference side (FILL-DATA and SAT), Other continuous regions may be tested from the outer peripheral side toward the inner peripheral side. In the test in each section, the acceleration test can be efficiently performed.

また、テスト方向は、データ・トラックのシリンダ番号（データ・トラック番号）の昇順であることが好ましい。上述の例においては、外周側から内周側に向かってシリンダ番号が増加し、テストも外周側から内周側に向かっている。これは、エラー・データ・トラックを欠陥領域として登録しスキップする場合、ゾーン境界がずれることを避けるためである。なお、ユーザ・データを記録する全データ領域を一定半径方向においてテストする場合においても、ＨＤＤ１の制御プログラムや制御データが記録されている管理領域はスキップされる。   The test direction is preferably in ascending order of the data track cylinder number (data track number). In the above example, the cylinder number is increased from the outer peripheral side toward the inner peripheral side, and the test is also performed from the outer peripheral side toward the inner peripheral side. This is to prevent the zone boundary from shifting when the error data track is registered as a defective area and skipped. Even when all data areas for recording user data are tested in a constant radial direction, the management area in which the control program and control data of the HDD 1 are recorded is skipped.

上記FILL-DATA及びＳＡＴにおいてライトするテスト・データは、ランダム・データであることが好ましい。ランダム・データの隣接データ・トラックへの影響が大きいため、加速テストとして好ましいからである。具体的処理においては、例えば、ＲＷチャネル２１がランダム・データを生成する機能を有することができる。   The test data written in the FILL-DATA and SAT is preferably random data. This is because random data has a great influence on adjacent data tracks, and is preferable as an acceleration test. In the specific process, for example, the RW channel 21 can have a function of generating random data.

テスト実行制御部２３１は、ＲＷチャネル２１のレジスタにランダム・データ・ライトの指示をセットする。ＲＷチャネル２１は、ＲＷ処理制御部２３２からの制御信号に従って、ＡＥ１３に生成したランダム・データを転送する。ＡＥ１３及びヘッド素子部１２は、転送されたランダム・データを各ターゲット・セクタにライトする。なお、ランダム・データをＨＤＣ／ＭＰＵ２３内で生成し、それをＲＷチャネル２１に転送してもよい。   The test execution control unit 231 sets a random data write instruction in the register of the RW channel 21. The RW channel 21 transfers the generated random data to the AE 13 in accordance with the control signal from the RW processing control unit 232. The AE 13 and the head element unit 12 write the transferred random data to each target sector. Note that random data may be generated in the HDC / MPU 23 and transferred to the RW channel 21.

上述のように、FILL-DATAのようなライト・テストにおいてライトされたデータに対してＳＡＴを行うことが好ましいが、FILL-DATAとは別のステップとして、一定半径方向において、各データ・トラックに順次データをライトし、そのデータに対して上記ＳＡＴを行ってもよい。また、上記ＳＡＴのように、ライト・テストにおいて新たにデータをライトすることが好ましいが、テスト実行制御部２３１は、欠陥領域の検出を行うことなく、ＳＡＴにおいて、各データ・トラックに新たにデータを単にライトしてもよい。これらの点は、以下の説明において同様である。   As described above, it is preferable to perform SAT on data written in a write test such as FILL-DATA. However, as a step different from FILL-DATA, each data track is arranged in a fixed radial direction. Data may be sequentially written and the SAT may be performed on the data. In addition, it is preferable to write new data in the write test as in the SAT, but the test execution control unit 231 does not detect the defective area, and the data is newly added to each data track in the SAT. You may simply write. These points are the same in the following description.

次に、ＳＡＴの他の好ましい態様について説明する。本例において、テスト実行制御部２３１は、FILL-DATAでライトしたデータのリード・テスト（第１リード・テスト）に加えて、ＳＡＴにおいて新たにライトしたデータのリード・テスト（第２リード・テスト）を行う。これによって、欠陥領域の検出をより効果的に行うことができる。図８（ａ）−（ｆ）を参照して具体的に説明する。まず、図８（ａ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、データ・トラック１１３ａにヘッド素子部１２をシークし、そのリード・テストを行う（第１リード・テスト）。   Next, another preferred embodiment of SAT will be described. In this example, the test execution control unit 231 performs a read test (second read test) of newly written data in the SAT in addition to a read test (first read test) of data written by FILL-DATA. )I do. As a result, the defect area can be detected more effectively. A specific description will be given with reference to FIGS. First, as shown in FIG. 8A, the test execution control unit 231 seeks the head element unit 12 to the data track 113a and performs a read test (first read test).

その後、図８（ｂ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、データ・トラック１１３ａのライト・テストを実行する。その後、図８（ｃ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、図８（ｂ）のライト・テストで新たに書き込まれたデータのリード・テストを行う（第２リード・テスト）。   Thereafter, as shown in FIG. 8B, the test execution control unit 231 executes a write test of the data track 113a. Thereafter, as shown in FIG. 8C, the test execution control unit 231 performs a read test of data newly written in the write test of FIG. 8B (second read test).

その後、図８（ｄ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、ヘッド素子部１２を内周側の隣接データ・トラック１１３ｂに移動し、そのデータ・トラック１１３ｂのリード・テストを実行する（第１リード・テスト）。データ・トラック１１３ｂの第１リード・テストが終了すると、図８（ｅ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、データ・トラック１１３ｂのライト・テストを実行する。その後、その後、図８（ｆ）に示すように、テスト実行制御部２３１は、図８（ｅ）のライト・テストで新たに書き込まれたデータのリード・テストを行う（第２リード・テスト）。以上の処理を繰り返し、記録面の全てのユーザ・データ領域のＳＡＴを行う。   Thereafter, as shown in FIG. 8D, the test execution control unit 231 moves the head element unit 12 to the adjacent data track 113b on the inner peripheral side, and executes a read test of the data track 113b (see FIG. 8D). First lead test). When the first read test for the data track 113b is completed, as shown in FIG. 8E, the test execution control unit 231 executes a write test for the data track 113b. Thereafter, as shown in FIG. 8F, the test execution control unit 231 performs a read test of data newly written in the write test of FIG. 8E (second read test). . The above processing is repeated to perform SAT for all user data areas on the recording surface.

上記のシーケンスにおいて、第１リード・テストは、テスト対象のデータ・トラックよりも後に両側の隣接データ・トラックにデータ・ライトされた状態において行われる。一方、第２リード・テストは、テスト対象のデータ・トラックが両側の隣接データ・トラックよりも後にライトされた状態におけるリード・テストである。このように、異なる条件におけるリード・テストを行うことで、欠陥領域もしくは潜在的な欠陥領域を効果的に検出することができる。   In the above sequence, the first read test is performed in a state where data is written to adjacent data tracks on both sides after the data track to be tested. On the other hand, the second read test is a read test in a state where the data track to be tested is written after the adjacent data tracks on both sides. In this way, by performing a lead test under different conditions, it is possible to effectively detect a defective area or a potential defective area.

図９のフローチャートを参照して、１データ・トラックにおいて条件の異なる２種のリード・テストを行う上記のＳＡＴの処理手順を説明する。まず、テスト実行制御部２３１は、テスト対象のデータ・トラックにヘッド素子部１２をシークさせ、そのデータ・トラックのリード・テストを実行する（Ｓ３１）。これが第１リード・テストであり、FILL-DATAでライトしたデータのリード・テストである。なお、テスト方法は、図７を参照して説明した例と同様でよい。   With reference to the flowchart of FIG. 9, the above-described SAT processing procedure for performing two types of read tests with different conditions in one data track will be described. First, the test execution control unit 231 causes the head element unit 12 to seek the data track to be tested and executes a read test for the data track (S31). This is the first read test, which is a read test of data written by FILL-DATA. The test method may be the same as the example described with reference to FIG.

その後に、テスト実行制御部２３１は、リード・テストを行ったデータ・トラックのライト・テストを行う（Ｓ３２）。このテスト方法も、図７を参照して説明した例と同様でよい。さらに、テスト実行制御部２３１は、新たに書き込んだデータのリード・テストを実行する（Ｓ３３）。これが第２リード・テストであり、両側データ・トラックよりも後にライトされたデータのリード・テストとなる。好ましくは、第２リード・テストにおいて、テスト実行制御部２３１は、複数周回のリード・テストを行う。これによって、欠陥領域を効果的に検出することができる。   Thereafter, the test execution control unit 231 performs a write test of the data track for which the read test has been performed (S32). This test method may be the same as the example described with reference to FIG. Further, the test execution control unit 231 executes a read test of newly written data (S33). This is a second read test, which is a read test of data written after the data tracks on both sides. Preferably, in the second read test, the test execution control unit 231 performs a read test of a plurality of turns. Thereby, a defective area can be detected effectively.

第２リード・テストは、好ましくは、第１リード・テストと異なる欠陥判定基準を有する。具体的には、テスト実行制御部２３１は、第１及び第２リード・テストにおいて、データ・セクタのエラー・レートが基準値を超えると欠陥領域としてＰＤＭ２４１に登録し、第１及び第２リード・テストにおいて異なる基準値を使用する。好ましくは、第２リード・テストにおける基準値が、第１リード・テストにおける基準値よりも小さい。   The second lead test preferably has a different defect criterion than the first lead test. Specifically, when the error rate of the data sector exceeds a reference value in the first and second read tests, the test execution control unit 231 registers the defect area as a defective area in the PDM 241 and performs the first and second read / read operations. Use different reference values in the test. Preferably, the reference value in the second lead test is smaller than the reference value in the first lead test.

つまり、第２リード・テストの欠陥判定基準を第１リード・テストの欠陥判定基準よりも厳しくする。これは、第１リード・テストは、両側が上書きされた状態におけるデータ・トラックをテストするため、データがライトされた状態としてより厳しい条件にある。このため、欠陥判定基準を緩めることによって、欠陥領域と判定されるデータ・セクタが無用に増加することを防止することができる。なお、エラー・レートは、エラー・ビット数あるいはエラー・シンボル数などを基準とすることができる。また、エラー・レート以外の判定基準において条件を変えてもよい。   That is, the defect determination criteria for the second lead test are made stricter than the defect determination criteria for the first lead test. This is because the first read test tests a data track in a state in which both sides are overwritten, and thus is in a more severe condition as data is written. For this reason, it is possible to prevent an unnecessary increase in the number of data sectors determined as defective areas by relaxing the defect determination criteria. The error rate can be based on the number of error bits or the number of error symbols. In addition, conditions may be changed in criteria other than error rate.

具体的処理において、図４に示すように、テスト実行制御部２３１は、ＲＷ処理制御部２３２から、各データ・セクタのエラー・レートを取得する。ＲＷ処理制御部２３２は誤り訂正処理部２３３を有している。誤り訂正処理部２３３は、ＲＷチャネル２１から転送されたリード・データのエラー訂正処理を行うと共に、そのときのエラー・レートを特定し、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３内のレジスタ（不図示）に保存する。テスト実行制御部２３１は、そのレジスタからエラー・レートを取得して、欠陥セクタの判定に使用する。   In the specific processing, as shown in FIG. 4, the test execution control unit 231 acquires the error rate of each data sector from the RW processing control unit 232. The RW processing control unit 232 has an error correction processing unit 233. The error correction processing unit 233 performs error correction processing on the read data transferred from the RW channel 21, specifies the error rate at that time, and stores it in a register (not shown) in the HDC / MPU 23. The test execution control unit 231 acquires the error rate from the register and uses it for determining the defective sector.

誤り訂正処理部２３３は、通常動作において、オンライン訂正処理であるOn The Flyモード（ＯＴＦモード）とオフライン訂正処理である消失訂正処理モードの二つのモードを備える。ＳＲＳＴにおいては、誤り訂正処理部２３３は、ＯＴＦモードにおいてのみ動作する。ＯＴＦモードは、データ・セクタのシンボルを連続的に読み込み、誤り訂正をしながらデータをＲＡＭ２４に転送する。エラー訂正は、ＲＷチャネル２１から転送されたデータに付加されているＣＲＣＣ及びＥＣＣを使用する。ＥＣＣおよびＣＲＣＣには、例えば、ガロア拡大体ＧＦ（２⁸）上での演算が可能なリード・ソロモン符号を用いることができる。なお、誤り訂正の手法は広く知られた技術であり、本稿での詳細な説明は省略する。 In a normal operation, the error correction processing unit 233 has two modes of an On The Fly mode (OTF mode) that is an online correction process and an erasure correction process mode that is an offline correction process. In the SRST, the error correction processing unit 233 operates only in the OTF mode. In the OTF mode, data sector symbols are continuously read and data is transferred to the RAM 24 while error correction is performed. Error correction uses CRCC and ECC added to the data transferred from the RW channel 21. For the ECC and CRCC, for example, a Reed-Solomon code that can be operated on the Galois extension field GF (2 ⁸ ) can be used. Note that the error correction method is a well-known technique, and a detailed description thereof will be omitted.

第２リード・テストが終了すると（Ｓ３３）、テスト実行制御部２３１は、テスト対象となっている領域の最後（最内周）のデータ・トラックについてＳＡＴを終了したかを判定する、つまり、全てのデータ・トラックについてＳＡＴが終了したかを判定する（Ｓ３４）。全てのデータ・トラックについてＳＡＴが終了したと判定すると（Ｓ３４におけるＹＥＳ）、その領域におけるＳＡＴが終了する。   When the second read test is completed (S33), the test execution control unit 231 determines whether the SAT has been completed for the last (innermost circumference) data track of the test target area, that is, all It is determined whether the SAT has been completed for the data track (S34). If it is determined that the SAT has been completed for all data tracks (YES in S34), the SAT in that area is completed.

テスト対象のデータ・トラックが最後のデータ・トラックでない場合（Ｓ３４におけるＮＯ）、テスト実行制御部２３１は、ヘッド素子部１２を１データ・トラック分、内周側にシークする（Ｓ３５）。シークした先のデータ・トラックにおいて、テスト実行制御部２３１は、同様にリード・テストと、その後のデータ・ライトを行う。以下、同様の処理を繰り返す。以上のように、本態様はＳＡＴにおいて新たにライトしてデータに対してもリード・テストを行い、欠陥領域の検出制度を向上することができる。   If the data track to be tested is not the last data track (NO in S34), the test execution control unit 231 seeks the head element unit 12 for one data track to the inner circumference side (S35). In the seek destination data track, the test execution control unit 231 similarly performs a read test and subsequent data write. Thereafter, the same processing is repeated. As described above, according to the present aspect, it is possible to improve the defect region detection system by newly writing data in the SAT and performing a read test on the data.

以上、本発明を好ましい実施形態を例として説明したが、本発明が上記の実施形態に限定されるものではない。当業者であれば、上記の実施形態の各要素を、本発明の範囲において容易に変更、追加、変換することが可能である。例えば、本発明は磁気ディスク装置に限らず、他のタイプのメディアを使用するディスク・ドライブ装置に適用することができる。本形態のテスト方法は、ＳＲＳＴと異なるテストに適用することができる。   As mentioned above, although this invention was demonstrated taking preferable embodiment as an example, this invention is not limited to said embodiment. A person skilled in the art can easily change, add, and convert each element of the above-described embodiment within the scope of the present invention. For example, the present invention is not limited to a magnetic disk device, but can be applied to a disk drive device that uses other types of media. The test method of this embodiment can be applied to a test different from SRST.

本実施形態にかかるＨＤＤの全体構成を模式的に示すブロック図である。1 is a block diagram schematically showing an overall configuration of an HDD according to an embodiment. 本実施形態にかかる磁気ディスク上に記録されているデータの物理フォーマットを模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the physical format of the data currently recorded on the magnetic disc concerning this embodiment. 本実施形態において、ＳＲＳＴを実行する各論理構成要素を模式的に示すブロック図である。In this embodiment, it is a block diagram which shows typically each logic component which performs SRST. 本実施形態にかかるＳＲＳＴのシーケンスを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the sequence of SRST concerning this embodiment. 本実施形態にかかるFILL-DATAおいて、各データ・トラックのライト・テストを実行する順序を模式的に示している。In the FILL-DATA according to the present embodiment, the order in which the write test of each data track is executed is schematically shown. 本実施形態にかかるＳＡＴおいて、各データ・トラックのテストを実行する順序を模式的に示している。In the SAT according to the present embodiment, the order in which the test of each data track is executed is schematically shown. 本実施形態にかかるＳＡＴの処理シーケンスを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the processing sequence of SAT concerning this embodiment. 他の好ましい実施形態にかかるＳＡＴおいて、各データ・トラックのテストを実行する順序を模式的に示している。In the SAT according to another preferred embodiment, the order in which the test of each data track is executed is schematically shown. 他の好ましい実施形態かかるＳＡＴの処理シーケンスを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the processing sequence of SAT concerning other preferable embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

１ ハードディスク・ドライブ、１０ エンクロージャ、１１ 磁気ディスク
１２ ヘッド素子部、１４ スピンドル・モータ、１５ ボイス・コイル・モータ
１６ アクチュエータ、２０ 回路基板、２１ リード・ライト・チャネル
２２ モータ・ドライバ・ユニット、２３ ハードディスク・コントローラ／ＭＰＵ
５１ ホスト、１１１ サーボ領域、１１２ データ領域、１１３ データ・トラック
２３１ テスト実行制御部、２３２ ＲＷ処理制御部、２３３ 誤り訂正処理部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Hard disk drive, 10 Enclosure, 11 Magnetic disk 12 Head element part, 14 Spindle motor, 15 Voice coil motor 16 Actuator, 20 Circuit board, 21 Read / write channel 22 Motor driver unit, 23 Hard disk drive Controller / MPU
51 Host, 111 Servo area, 112 Data area, 113 Data track 231 Test execution control section, 232 RW processing control section, 233 Error correction processing section

Claims (13)

ディスクの欠陥検査方法であって、
ディスク上の一定半径方向において、順次、連続するデータ・トラックのそれぞれにデータをライトし、
一つのデータ・トラックにおいて、前記ライトしたデータのリード・テストを行い、
前記リード・テストの後に、そのリード・テストを行ったデータ・トラックに新たなデータをライトし、
前記新たなデータをライトしたデータ・トラックの前記一定半径方向における隣接データ・トラックにシークし、
前記リード・テストの実行、新たなデータのライト及び隣接データ・トラックへのシークを繰り返す、方法。 A disc defect inspection method,
Write data to each successive data track in a certain radial direction on the disk,
In one data track, perform a read test of the written data,
After the read test, new data is written to the data track on which the read test was performed,
Seek to the adjacent data track in the constant radial direction of the data track to which the new data was written;
A method of repeatedly executing the read test, writing new data, and seeking to an adjacent data track. 前記リード・テストを行った後にそのデータ・トラックのライト・テストを行い、
前記ライト・テストにおいて、前記新たなデータをライトする、
請求項１に記載の方法。 After performing the read test, perform a write test of the data track,
Writing the new data in the write test;
The method of claim 1. 前記リード・テストは、そのデータ・トラックを複数周回リードする、
請求項１に記載の方法。 The read test reads the data track a plurality of times,
The method of claim 1. 前記一定半径方向における各データ・トラックへのデータ・ライト及び前記新たなデータのライトは、ランダム・パターンをライトする、
請求項１に記載の方法。 The data write to each data track in the constant radial direction and the write of the new data write a random pattern.
The method of claim 1. 前記新たにライトしたデータのリード・テストをさらに行う、
請求項１に記載の方法。 Further performing a read test of the newly written data;
The method of claim 1. 前記ライトしたデータのリード・テストと前記新たにライトしたデータのリード・テストとは、異なる欠陥判定基準を有する、
請求項５に記載の方法。 The read test of the written data and the read test of the newly written data have different defect criteria.
The method of claim 5. 前記新たにライトしたデータのリード・テストの欠陥判定基準は、前記ライトしたデータのリード・テストの欠陥判定基準よりも厳しい、
請求項６に記載の方法。 The defect criteria for the read test of the newly written data are stricter than the defect criteria for the read test of the written data.
The method of claim 6. 前記新たにライトしたデータのリード・テストにおけるエラー・レートに関する欠陥判定基準値は、前記ライトしたデータのリード・テストにおける欠陥判定基準値よりも小さい、
請求項６に記載の方法。 The defect determination reference value related to the error rate in the read test of the newly written data is smaller than the defect determination reference value in the read test of the written data.
The method of claim 6. データを記憶するディスクの欠陥検査装置であって、
ディスクにアクセスするヘッドと、
前記ヘッドを支持し、そのヘッドをディスク上で移動する移動機構と、
コントローラと、を備え、
前記コントローラは、
前記ヘッド及び移動機構を使用して、前記ディスク上の一定半径方向において、順次、連続するデータ・トラックのそれぞれにデータをライトし、
さらに、前記一定半径方向において、順次、各データ・トラック上における前記ライトしたデータのリード・テスト及びそのリード・テストの後の新たなデータ・ライトを実行する、
欠陥検査装置。 A disk defect inspection device for storing data,
A head to access the disk;
A moving mechanism for supporting the head and moving the head on the disk;
A controller, and
The controller is
Using the head and moving mechanism, sequentially write data to each successive data track in a constant radial direction on the disk;
Further, in the constant radius direction, sequentially execute a read test of the written data on each data track and a new data write after the read test.
Defect inspection equipment. 前記リード・テストを行ったデータ・トラックへの新たなデータのライトは、各データ・トラックにおけるライト・テストにおいて行われる、
請求項９に記載の欠陥検査装置。 Writing new data to the data track on which the read test has been performed is performed in a write test on each data track.
The defect inspection apparatus according to claim 9. 前記コントローラは、前記リード・テストにおいて、前記ヘッドを使用してそのデータ・トラックを複数周回リードする、
請求項９に記載の欠陥検査装置。 The controller reads the data track a plurality of times using the head in the read test.
The defect inspection apparatus according to claim 9. 前記コントローラは、前記新たにライトしたデータのリード・テストをさらに行う、
請求項９に記載の欠陥検査装置。 The controller further performs a read test of the newly written data;
The defect inspection apparatus according to claim 9. 前記コントローラは、前記ライトしたデータのリード・テストと前記新たにライトしたデータのリード・テストにおいて、異なる欠陥判定基準を使用する、
請求項１２に記載の欠陥検査装置。
The controller uses different defect criteria in the read test of the written data and the read test of the newly written data;
The defect inspection apparatus according to claim 12.

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