JP2007257126A - Ic card direction inspecting method, ic card direction inspecting device, and ic card direction inspecting program - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an IC card direction inspecting method which easily inspects a direction of an IC card. <P>SOLUTION: The IC card direction inspecting method for inspecting the direction of the IC card including a determination reference part inside the card based on photographed patterns has; a process in which the IC card is irradiated with near-infrared light whose transmissivity is higher in the basic material of the IC card than in the determination reference part; a process in which the IC card is photographed, from a direction opposite to the direction in which the IC card is irradiated with the near-infrared light, by using a camera having sensitivity to a near-infrared area; and a process in which a storage means, storing the patterns of the determination reference part and the directions of the IC card in association with each other, is referred to, and the direction of the IC card is determined based on the pattern of the determination reference part in the photographed images. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、ＩＣカードの向きを判定するＩＣカードの向き検査方法、ＩＣカードの向き検査装置及びＩＣカードの向き検査プログラムに関する。   The present invention relates to an IC card orientation inspection method for determining the orientation of an IC card, an IC card orientation inspection apparatus, and an IC card orientation inspection program.

例えば、ＩＣカードの製造工程において、ＩＣカードの外観検査工程や印刷工程にＩＣカードを搬送する際に、ＩＣカードの向きが揃っているかなどを検査する必要がある。このような場合、ＩＣカードの表面に、ＩＣカードの向きを確認するための判定基準部が印刷されている場合には、外観から判定を行なう。また、特許文献１及び２には、磁気カードにおける磁気テープの設置位置に関する情報を取得する磁気カード検査装置が開示されている。
特開昭６１−２１２７０３号公報 特開昭６１−２１２７０４号公報 For example, in the IC card manufacturing process, it is necessary to inspect whether the orientation of the IC card is aligned when the IC card is transported to the IC card appearance inspection process or the printing process. In such a case, when the determination reference part for confirming the orientation of the IC card is printed on the surface of the IC card, the determination is made from the appearance. Patent Documents 1 and 2 disclose a magnetic card inspection device that acquires information about the installation position of a magnetic tape in a magnetic card.
JP-A-61-212703 Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-212704

しかし、ＩＣカードに判定基準部等が施されておらず、表面が無地の状態の場合には、外観からＩＣカードの向きを判断することができない。また、ＩＣカードの表面に判定基準部を印刷してしまうと、ＩＣカード表面の絵柄等のデザインに影響してしまうこともある。   However, when the IC card is not provided with a determination reference portion and the surface is plain, the orientation of the IC card cannot be determined from the appearance. Further, if the determination reference part is printed on the surface of the IC card, the design of the pattern or the like on the surface of the IC card may be affected.

さらに、ＩＣカードの向きによって異なる、ＩＣカード内部の構造によって、カード表面に生じる僅かな凹凸を頼りに、人が目視で確認するとなると、検査に多大な負担が生じる。   Furthermore, if a person visually confirms depending on the structure inside the IC card, which differs depending on the orientation of the IC card, on the surface of the card, a great burden is imposed on the inspection.

そこで、本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、ＩＣカード内部に、カードの向きを判定する判定基準部を備えることにより、ＩＣカードの向きを容易に検査することができるＩＣカードの向き検査方法等を提供することを目的する。   Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems, and an IC card that can easily inspect the orientation of an IC card by providing a determination reference unit that determines the orientation of the card inside the IC card. The purpose is to provide an orientation inspection method.

上記課題を解決するための請求項１に記載の発明は、撮像されたパターンによってＩＣカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むＩＣカードの向き検査方法であって、前記ＩＣカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ＩＣカードに対して照射する工程と、前記ＩＣカードに対して前記近赤外光を照射する方向とは反対の方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ＩＣカードを撮像する撮像工程と、前記判定基準部のパターンと、前記ＩＣカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ＩＣカードの向きを判定する工程と、を有することを特徴とするＩＣカードの向き検査方法である。   The invention according to claim 1 for solving the above-mentioned problem is an IC card direction inspection method including a determination reference part capable of determining the direction of an IC card based on an imaged pattern. The step of irradiating the IC card with near infrared light having a higher transmittance in the base material than the transmittance in the determination reference portion, and the direction of irradiating the IC card with the near infrared light An imaging step of imaging the IC card using a camera having sensitivity in the near-infrared region from the opposite direction, the pattern of the determination reference unit, and the orientation of the IC card are stored in association with each other. And a step of determining the direction of the IC card based on the pattern of the determination reference portion in the captured image with reference to the stored storage means. A.

これによれば、ＩＣカードの基材における透過率が、該ＩＣカードの内部に備えた判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を照射して、ＩＣカードを撮像し、撮像された判定基準部のパターンに基づいてＩＣカードの向きを判定するよう構成したので、ＩＣカードの向きを、非接触かつ容易に検査することができる。   According to this, the near-infrared light with which the transmissivity in the base material of the IC card is higher than the transmissivity in the determination reference part provided inside the IC card is used to image the IC card, Since the orientation of the IC card is determined based on the pattern of the determined determination reference portion, the orientation of the IC card can be easily inspected without contact.

上記課題を解決するための請求項２に記載の発明は、撮像されたパターンによってＩＣカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むＩＣカードの向き検査方法であって、前記ＩＣカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ＩＣカードに対して照射する工程と、前記ＩＣカードに対して前記近赤外光を照射する方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ＩＣカードを撮像する撮像工程と、前記判定基準部のパターンと、前記ＩＣカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ＩＣカードの向きを判定する工程と、を有することを特徴とするＩＣカードの向き検査方法である。   The invention according to claim 2 for solving the above-mentioned problem is a method for inspecting the orientation of an IC card including therein a judgment reference part capable of judging the orientation of the IC card based on the imaged pattern. The step of irradiating the IC card with near infrared light having a higher transmittance in the base material than the transmittance in the determination reference portion, and the direction of irradiating the IC card with the near infrared light Storage means in which an imaging process for imaging the IC card using a camera having sensitivity in the near infrared region, a pattern of the determination reference unit, and an orientation of the IC card are stored in association with each other. And a step of determining the direction of the IC card based on the pattern of the determination reference portion in the captured image.

これによれば、ＩＣカードの基材における透過率が、該ＩＣカードの内部に備えた判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を照射して、ＩＣカードを撮像し、撮像された判定基準部のパターンに基づいてＩＣカードの向きを判定するよう構成したので、ＩＣカードの向きを、非接触かつ容易に検査することができる。   According to this, the near-infrared light with which the transmissivity in the base material of the IC card is higher than the transmissivity in the determination reference part provided inside the IC card is used to image the IC card, Since the orientation of the IC card is determined based on the pattern of the determined determination reference portion, the orientation of the IC card can be easily inspected without contact.

上記課題を解決するための請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、前記近赤外光の波長は、８００ｎｍ〜９５０ｎｍであって、前記カメラは、汎用のＣＣＤカメラであることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法である。   Invention of Claim 3 for solving the said subject is the direction inspection method of IC card of Claim 1 or 2, Comprising: The wavelength of the said near-infrared light is 800 nm-950 nm, The camera is a general-purpose CCD camera, and is an IC card orientation inspection method.

これによれば、広く普及し、汎用されているＣＣＤカメラを用いてＩＣカード内部の判定基準部を撮像することができ、コストの削減を図ることができる。   According to this, it is possible to take an image of the determination reference portion inside the IC card using a widely spread and widely used CCD camera, and it is possible to reduce the cost.

上記課題を解決するための請求項４に記載の発明は、請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、前記判定基準部は、銅やアルミ等の金属からなり、前記ＩＣカードの基材は、ＰＥＴ等のプラスチック材料からなることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法である。   The invention according to claim 4 for solving the above-mentioned problem is the IC card orientation inspection method according to any one of claims 1 to 3, wherein the determination reference portion is made of copper or aluminum. The IC card orientation inspection method is characterized in that the base material of the IC card is made of a plastic material such as PET.

これによれば、ＩＣカードの基材を、近赤外光の透過率が、判定基準部に比して高い材料で形成したので、ＩＣカードを透過して内部の判定基準部を確実に撮像することができる。   According to this, since the base material of the IC card is formed of a material having a higher near-infrared light transmittance than the determination reference portion, the internal determination reference portion is reliably imaged through the IC card. can do.

上記課題を解決するための請求項５に記載の発明は、請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、前記判定基準部の形状は、前記ＩＣカードの平面に対して、左右非対称、且つ、上下非対称であって、前記判定基準部の位置は、前記ＩＣカードの平面に対して、略平行であることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法である。   The invention according to claim 5 for solving the above problem is the IC card orientation inspection method according to any one of claims 1 to 4, wherein the shape of the determination reference portion is the An IC card orientation test characterized in that it is asymmetrical with respect to the plane of the IC card and is asymmetric with respect to the plane of the IC card, and the position of the judgment reference part is substantially parallel to the plane of the IC card. Is the method.

これによれば、撮像された判定基準部のパターンに基づいてＩＣカードの向きを容易に判定することができる。   According to this, the direction of the IC card can be easily determined based on the imaged pattern of the determination reference portion.

上記課題を解決するための請求項６に記載の発明は、請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、前記判定基準部は、前記ＩＣカードが機能するために必須の構成部材であることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法である。   The invention according to claim 6 for solving the above-described problem is the IC card orientation inspection method according to any one of claims 1 to 5, wherein the determination reference unit is the IC card. It is an IC card orientation inspection method characterized in that it is an indispensable constituent member in order to function.

これによれば、ＩＣカード内に向き検査のためのみに使用される判定基準部を設ける必要がなく、ＩＣカードが機能するために必須の構成部材をそのまま判定基準部として使用することができ、より簡便容易な向き検査方法を提供することができる。   According to this, it is not necessary to provide a determination reference part used only for direction inspection in the IC card, and an essential component member for the IC card to function can be used as it is as a determination reference part. A simpler and easier orientation inspection method can be provided.

上記課題を解決するための請求項７に記載の発明は、請求項６に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、前記判定基準部は、前記ＩＣカードのデータが記憶されたＩＣ部、又は、前記ＩＣ部と外部とのデータの授受を行なうアンテナであることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法である。   Invention of Claim 7 for solving the said subject is the direction inspection method of IC card of Claim 6, Comprising: The said determination reference | standard part is an IC part in which the data of the said IC card were memorize | stored, Alternatively, the IC card orientation inspection method is an antenna for exchanging data between the IC unit and the outside.

これによれば、ＩＣカード内に向き検査のためのみに使用される判定基準部を設ける必要がなく、ＩＣカードが機能するために必須のＩＣ部又はアンテナをそのまま判定基準部として使用することができ、より簡便容易な向き検査方法を提供することができる。   According to this, it is not necessary to provide a determination reference part used only for the direction inspection in the IC card, and an IC part or an antenna essential for the functioning of the IC card can be used as it is as the determination reference part. It is possible to provide a simpler and easier direction inspection method.

上記課題を解決するための請求項８に記載の発明は、請求項１乃至請求項７の何れか一項に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、前記撮像工程は、前記ＩＣカードが搬送されている際に、前記ＩＣカードを撮像することを特徴とするＩＣカードの向き検査方法である。   The invention according to claim 8 for solving the above-described problem is the IC card orientation inspection method according to any one of claims 1 to 7, wherein the imaging step is performed by the IC card. An IC card direction inspection method characterized in that the IC card is imaged while being conveyed.

これによれば、ＩＣカードを搬送したまま向き検査を行なえるので、一連のＩＣカード製造工程の中に、このＩＣカード検査のための工程を容易に組み込むことができる。   According to this, since the direction inspection can be performed while the IC card is conveyed, the process for the IC card inspection can be easily incorporated in a series of IC card manufacturing processes.

本発明によれば、ＩＣカードの基材における透過率が、該ＩＣカードの内部に備えた判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を照射して、ＩＣカードを撮像し、撮像された判定基準部のパターンに基づいてＩＣカードの向きを判定するよう構成したので、ＩＣカードの向きを、非接触かつ容易に検査することができる。   According to the present invention, the transmittance of the base material of the IC card is irradiated with near infrared light that is higher than the transmittance of the determination reference portion provided inside the IC card, and the IC card is imaged. Since the orientation of the IC card is determined based on the captured image of the determination reference portion, the orientation of the IC card can be easily inspected in a non-contact manner.

以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて説明する。   DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described with reference to the accompanying drawings.

＜ＩＣカードの構成＞
まず、図１を参照して、本実施形態の向き（表裏、天地）の検査対象となるＩＣカードについて詳細に説明する。なお、本発明の検査対象となるＩＣカードは、一般に流通し汎用されているＩＣカードであるが、本発明の向き検査対象として最も適したＩＣカードの構成について説明する。 <Configuration of IC card>
First, with reference to FIG. 1, an IC card to be inspected in the direction (front and back, top and bottom) of this embodiment will be described in detail. The IC card to be inspected according to the present invention is a generally distributed and widely used IC card. The configuration of the IC card that is most suitable as the direction inspecting object according to the present invention will be described.

図１は、本実施形態のＩＣカードの説明図であって、基材上にアンテナ及びＩＣ部を形成した状態を示す平面図である。   FIG. 1 is an explanatory diagram of an IC card according to the present embodiment, and is a plan view showing a state in which an antenna and an IC part are formed on a base material.

同図に示すように、ＩＣカード１００は、基材１０１上に、ＩＣ部（本実施形態では判定基準部１０２として使用）にデータを送出したり、ＩＣタグの情報を読み取るリーダにデータを送出するアンテナ１０３と、判定基準部１０２を形成して構成されている。   As shown in the figure, the IC card 100 sends data to the IC unit (used as the determination reference unit 102 in the present embodiment) on the base material 101, or sends data to the reader that reads the information of the IC tag. Antenna 103 and a determination reference unit 102 are formed.

基材１０１は、ＩＣカード自体を成形するもので、近赤外光の透過率が、判定基準部１０２の透過率に比して高い性質を有する材料から成り、例えば、ＰＥＴ（PolyEthyleneTerephtalate）等のプラスチック材料によって形成される。なお、基材１０１は、近赤外光の透過率が、判定基準部１０２の透過率に比して高い性質を有する材料にて形成すればプラスチック材料でなくともよい。特に、基材１０１は、後に詳述するＩＣカードの撮像時に照射する８００ｎｍ〜９５０ｎｍの光の透過率が数％〜数十％程度である材料で形成されればより好ましい。   The substrate 101 is for molding the IC card itself, and is made of a material having a property that the transmittance of near-infrared light is higher than the transmittance of the determination reference unit 102, such as PET (PolyEthyleneTerephtalate). Formed by plastic material. Note that the base material 101 does not have to be a plastic material as long as the base material 101 is formed of a material having higher properties than the transmittance of the determination reference unit 102. In particular, it is more preferable that the base material 101 is formed of a material having a transmittance of about 800% to 950 nm for irradiation of an IC card, which will be described in detail later, in the order of several% to several tens of%.

判定基準部１０２は、ＩＣカードの向きを判定するためのもので、ＩＣカード１００の平面に対して、左右非対称、且つ、上下非対称な形状を成す。また、ＩＣカード１００平面に対して略平行に形成することが好ましい。判定基準部１０２は、近赤外光の透過率が、基材１０１の透過率に比して低い性質を有する材料から成り、例えば、銅やアルミ等の金属によって形成される。なお、判定基準部１０２は、近赤外光の透過率が、基材１０１の透過率に比して低い性質を有する材料にて形成すれば金属でなくともよい。特に、判定基準部１０２は、後に詳述するＩＣカードの撮像時に照射する８００ｎｍ〜９５０ｎｍの光の透過率が略０％である材料で形成されることがより好ましい。本実施形態では、判定基準部１０２として、ＩＣカードを識別するための固有の識別情報等各種データが記憶されているＩＣ部を用いる。   The determination reference unit 102 is for determining the orientation of the IC card, and has a left-right asymmetric shape and a vertically asymmetric shape with respect to the plane of the IC card 100. Moreover, it is preferable to form it substantially parallel to the IC card 100 plane. The determination reference unit 102 is made of a material having a property that the transmittance of near-infrared light is lower than the transmittance of the base material 101, and is formed of, for example, a metal such as copper or aluminum. Note that the determination reference portion 102 does not have to be a metal as long as it is formed of a material having a property that the transmittance of near infrared light is lower than the transmittance of the base material 101. In particular, the determination reference unit 102 is more preferably formed of a material having a transmittance of approximately 0% for light of 800 nm to 950 nm that is irradiated during imaging of an IC card, which will be described in detail later. In the present embodiment, an IC unit that stores various data such as unique identification information for identifying an IC card is used as the determination reference unit 102.

そして、基材１０１と同材料同形状からなる図示しない基材が、当該判定基準部１０２及びアンテナ１０３上に積層されてＩＣカード１００が成形される。従って、ＩＣカード１００の外観から判定基準部１０２を視認することはできない。   Then, a base material (not shown) made of the same material and shape as the base material 101 is laminated on the determination reference portion 102 and the antenna 103 to form the IC card 100. Therefore, the determination reference portion 102 cannot be visually recognized from the appearance of the IC card 100.

ＩＣカード１００のその他の構成は、通常の構成であればよく、ここでの説明は省略する。   The other configuration of the IC card 100 may be a normal configuration, and a description thereof is omitted here.

図２（Ａ）は、基材１０１を形成する材料の一例としてのＰＥＴの透過特性スペクトルであり、図２（Ｂ）は、ＰＥＴを基材１０１として用いたＩＣカード１００の透過特性スペクトルである。   2A is a transmission characteristic spectrum of PET as an example of a material forming the base material 101, and FIG. 2B is a transmission characteristic spectrum of an IC card 100 using PET as the base material 101. FIG. .

ＩＣカード１００は、ＰＥＴを基材１０１として用いて形成した後に、カードの表面や裏面に文字、図形、記号、番号、絵柄等の様々な情報を印刷するために、ＰＥＴ基材に顔料を混ぜたり、着書したフィルムを基材間に挟んで積層されるので、透過率が、図２（Ａ）のＰＥＴの透過特性スペクトルと比して全波長帯域に渡り小さくなる（図２（Ｂ）参照）。しかし、近赤外域の透過率はその他の波長帯域の透過率に比べて高い。本発明は、この近赤外域の光をＩＣカード１００に照射して撮像する。   After the IC card 100 is formed using PET as the base material 101, a pigment is mixed into the PET base material in order to print various information such as letters, figures, symbols, numbers, and patterns on the front and back surfaces of the card. Or the laminated film with the written film sandwiched between the substrates, the transmittance is reduced over the entire wavelength band as compared with the transmission characteristic spectrum of PET in FIG. 2A (FIG. 2B). reference). However, the transmittance in the near infrared region is higher than the transmittance in other wavelength bands. In the present invention, the IC card 100 is irradiated with this near-infrared light to pick up an image.

＜向き検査装置の構成及び機能＞
次に、図３乃至図５を参照して本実施形態にかかる、ＩＣカードの向きを検査する向き検査装置の構成及び機能を説明する。 <Configuration and function of orientation inspection device>
Next, the configuration and function of the orientation inspection apparatus for inspecting the orientation of the IC card according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.

図３は、本実施形態にかかる向き検査装置１の概要構成例を示すブロック図である。   FIG. 3 is a block diagram illustrating a schematic configuration example of the orientation inspection apparatus 1 according to the present embodiment.

図３に示すように、向き検査装置１は、カード載置作業部２、近赤外光照明部３、ＣＣＤカメラ４及び動作処理部５を備えて構成されている。   As shown in FIG. 3, the orientation inspection apparatus 1 includes a card placement work unit 2, a near infrared light illumination unit 3, a CCD camera 4, and an operation processing unit 5.

カード載置作業部２は、ＩＣカード１００を、ＩＣカードカートから１枚ずつ順に吸着、搬送し、搬送路に載置させるためのものであり、動作処理部５の制御部５１によって、外部機器接続部５３を介して制御される。搬送路に載置されたＩＣカード１００は、その後、図３中矢印で示す方向（右方向）に搬送され、ＣＣＤカメラ４の撮像領域へと搬送され、撮像が行なわれた後に、図示しない外観検査、通信検査又は印刷等、種々のＩＣカードの作成／検査工程へと運ばれる。   The card placement work unit 2 is for sucking and transporting the IC cards 100 one by one from the IC card cart one by one in order, and placing them on the transport path. Control is performed via the connection unit 53. The IC card 100 placed on the transport path is then transported in the direction indicated by the arrow in FIG. 3 (right direction), transported to the imaging area of the CCD camera 4 and imaged, and then the appearance not shown. It is carried to various IC card creation / inspection processes such as inspection, communication inspection or printing.

近赤外光照明部３は、ＩＣカード１００に光を照射するためのものであり、動作処理部５の制御部５１により、外部機器接続部５３を介して制御される。そして、図４に示す如く、光の照射方向とは反対の方向から、ＣＣＤカメラ４にて当該ＩＣカード１００が撮像されることになる。図３及び４に示す例では、近赤外光照明部３は、ＩＣカード１００の下方に設置され、ＣＣＤカメラ４は、ＩＣカード１００の上方に設置されている。近赤外光照明部３より照射される光は、近赤外域の波長を有する近赤外光であり、好ましくは８００ｎｍ〜９５０ｎｍの波長を有する。   The near-infrared light illumination unit 3 is for irradiating the IC card 100 with light, and is controlled by the control unit 51 of the operation processing unit 5 via the external device connection unit 53. Then, as shown in FIG. 4, the IC card 100 is imaged by the CCD camera 4 from the direction opposite to the light irradiation direction. 3 and 4, the near-infrared light illumination unit 3 is installed below the IC card 100, and the CCD camera 4 is installed above the IC card 100. The light irradiated from the near infrared light illumination unit 3 is near infrared light having a wavelength in the near infrared region, and preferably has a wavelength of 800 nm to 950 nm.

ＣＣＤカメラ４は、ＩＣカード１００を撮像する。より具体的に説明すると、ＣＣＤカメラ４は、近赤外域に感度を有し、近赤外光照明部３から照射され、ＩＣカード１００を透過してきた光を撮像する。そして、撮像された画像は検査画像データとして動作処理部５内に入力されるようになっている。なお、図４中、ＣＣＤカメラ４の撮像領域を点線で示す。   The CCD camera 4 images the IC card 100. More specifically, the CCD camera 4 has sensitivity in the near-infrared region, and images light emitted from the near-infrared light illumination unit 3 and transmitted through the IC card 100. The captured image is input into the operation processing unit 5 as inspection image data. In FIG. 4, the imaging area of the CCD camera 4 is indicated by a dotted line.

ＣＣＤカメラ４は、通常汎用されているものを用いることができる。ＣＣＤカメラ４の一例として、図５に、汎用のＣＣＤカメラの分光感度スペクトルを示す。図５（Ａ）は、東芝Ｔｅｌｉ製 ＣＳ３９７０ＣＬのＣＣＤカメラの分光感度スペクトルであり、図５（Ｂ）は、東芝Ｔｅｌｉ製 ＣＳ３９６０ＤＣＬのＣＣＤカメラの分光感度スペクトルである。図５（Ａ）（Ｂ）両スペクトルからわかるように、汎用のＣＣＤカメラは、近赤外域に感度を有していることから、本発明のカメラとして用いることができ、より安価に向き検査装置を構成することができる。なお、レンズ前面に赤外カットフィルタが装着されたＣＣＤカメラを用いる場合には、当該フィルタを取り外して用いる。   As the CCD camera 4, a commonly used one can be used. As an example of the CCD camera 4, FIG. 5 shows a spectral sensitivity spectrum of a general-purpose CCD camera. 5A is a spectral sensitivity spectrum of a CCD camera of CS3970CL manufactured by Toshiba Teli, and FIG. 5B is a spectral sensitivity spectrum of a CCD camera of CS3960DCL manufactured by Toshiba Teli. As can be seen from both spectra in FIGS. 5A and 5B, the general-purpose CCD camera has sensitivity in the near-infrared region, and therefore can be used as the camera of the present invention. Can be configured. When a CCD camera having an infrared cut filter attached to the front surface of the lens is used, the filter is removed.

動作処理部５は、図３に示すように、コンピュータとしてのＣＰＵ等から構成された制御部５１と、各種データ等を記憶保存（格納）するための記憶部５２と、カード載置作業部２、近赤外光照明部３、ＣＣＤカメラ４と接続される外部機器接続部５３と、向き検査装置１の検査状況や検査結果等を表示してオペレータに提示するための表示部５４と、ネットワークを通じて他のコンピュータとの間の情報の通信制御を行うための通信部５５と、オペレータからの指示を受け付け当該指示に応じた指示信号を制御部５１に対して与える操作入力部（例えば、キーボード、マウス等）５６と、を備えて構成され、これらの構成要素はバス５７を介して相互に接続されている。   As shown in FIG. 3, the operation processing unit 5 includes a control unit 51 configured by a CPU as a computer, a storage unit 52 for storing and storing various data, and the card placement work unit 2. , Near-infrared light illumination unit 3, external device connection unit 53 connected to CCD camera 4, display unit 54 for displaying the inspection status and inspection results of orientation inspection apparatus 1 and presenting them to the operator, network And an operation input unit (for example, a keyboard, etc.) that receives an instruction from the operator and gives an instruction signal corresponding to the instruction to the control unit 51. 56), and these components are connected to each other via a bus 57.

外部機器接続部５３は、カード載置作業部２、近赤外光照明部３、ＣＣＤカメラ４に対して各種操作信号を出力する。また、外部機器接続部５３は、ＣＣＤカメラ４によって撮像されたＩＣカード１００の検査画像データを、画像処理に適した形式で動作処理部５内に取り込む。   The external device connection unit 53 outputs various operation signals to the card placement work unit 2, the near infrared light illumination unit 3, and the CCD camera 4. In addition, the external device connection unit 53 captures the inspection image data of the IC card 100 captured by the CCD camera 4 in the operation processing unit 5 in a format suitable for image processing.

記憶部５２は、例えば、ハードディスク装置、磁気ディスク装置、光磁気ディスク装置等の周知の記憶装置から構成されており、図６に示すようなＩＣカード向き判定テーブルを記憶して本発明における記憶手段として機能する。ＩＣカード向き判定テーブルは、検査対象のＩＣカードを様々な向きで撮像し、撮像された画像から得られた判定基準部１０２のパターンと、ＩＣカードの向きとを対応付けて記憶しているものである。ＩＣカードの向きは、正常、表裏反転、天地反転、表裏天地反転について記憶している。   The storage unit 52 is composed of a known storage device such as a hard disk device, a magnetic disk device, a magneto-optical disk device, etc., and stores an IC card orientation determination table as shown in FIG. Function as. The IC card orientation determination table captures the IC card to be inspected in various orientations, and stores the pattern of the determination reference unit 102 obtained from the captured image in association with the orientation of the IC card. It is. The orientation of the IC card is stored for normal, front / reverse inversion, top / bottom inversion, front / back inversion.

制御部５１は、演算機能を有するＣＰＵ（Central Processing Unit）、各種プログラム（ＩＣカードの向き検査プログラムを含む）及びデータを記憶するＲＯＭ（Read Only Memory）、及び作業用メモリとしてのＲＡＭ（Random Access Memory）等を含んで構成されており、動作処理部５における構成要素全体を制御するものである。また、制御部５１は、ＩＣカードの向き検査プログラムを実行することにより、他の構成部材と協動して、本発明の照射手段、撮像手段及び判定手段として機能するようになっている。   The control unit 51 includes a CPU (Central Processing Unit) having a calculation function, various programs (including an IC card orientation inspection program), a ROM (Read Only Memory) for storing data, and a RAM (Random Access) as a working memory. Memory) and the like, and controls the entire components in the operation processing unit 5. Further, the control unit 51 functions as an irradiation unit, an imaging unit, and a determination unit of the present invention in cooperation with other components by executing an IC card orientation inspection program.

＜向き検査処理＞
次に、図７のフローチャートを用いて、向き検査装置１におけるＩＣカードの向き検査処理について説明する。 <Direction inspection process>
Next, the IC card orientation inspection processing in the orientation inspection apparatus 1 will be described with reference to the flowchart of FIG.

図７は、向き検査装置１におけるＩＣカードの向き検査処理を示すフローチャートであり、動作処理部５の制御部５１の制御に基づいて実行され、外部機器接続部５３を介してカード載置作業部２に対して、ＩＣカード１００の吸着・載置が指示されることにより、開始される。   FIG. 7 is a flowchart showing the IC card orientation inspection processing in the orientation inspection apparatus 1, which is executed based on the control of the control unit 51 of the operation processing unit 5, and the card placement working unit via the external device connection unit 53. 2 starts when the IC card 100 is instructed to be sucked and placed.

先ず、制御部５１及び近赤外光照明部３が照射手段として機能し、近赤外光照明部３は光の照射を（図３、４において上向きに）開始する（ステップＳ１）。なお、検査処理が実行されている間、常に光を照射し続けるものとする。近赤外光照明部３の光の照射パワー等が、照射開始から所定時間経過しなければ安定しないような場合には、所定時間が経過後、光の照射パワーが安定した後に以下のステップＳ２に移行する。   First, the control unit 51 and the near-infrared light illuminating unit 3 function as irradiation means, and the near-infrared light illuminating unit 3 starts light irradiation (upward in FIGS. 3 and 4) (step S1). In addition, it is assumed that light is constantly irradiated while the inspection process is being executed. When the irradiation power of the near-infrared light illuminating unit 3 is not stable unless a predetermined time elapses from the start of irradiation, the following step S2 is performed after the elapse of the predetermined time and the light irradiation power is stabilized. Migrate to

次に、カード載置作業部２にて搬送路上に載置されたＩＣカード１００が、搬送路によって搬送され、ＣＣＤカメラ４の撮像領域内（図４点線参照。）に入ると、制御部５１及びＣＣＤカメラ４が撮像手段として機能し、ＣＣＤカメラ４がＩＣカード１００を撮像する（ステップＳ２）。撮像された検査画像データは、外部機器接続部５３を介して動作処理部５内に取り込まれる。ＩＣカード１００が、ＣＣＤカメラ４の撮像領域内に入ったことを検知して、搬送路はＩＣカードの搬送を一旦停止して撮像を行なってもよく、ＣＣＤカメラ４をラインセンサＣＣＤを用いることにより、搬送しながら撮像を行なってもよい。なお、ＩＣカード１００を搬送しながら撮像する場合、近赤外光照明部３は、一枚のＩＣカード１００について撮像が完了するまで、一定の光量で照射することが望ましい。   Next, when the IC card 100 placed on the transport path by the card placement work unit 2 is transported by the transport path and enters the imaging area of the CCD camera 4 (see the dotted line in FIG. 4), the control unit 51. The CCD camera 4 functions as an imaging unit, and the CCD camera 4 images the IC card 100 (step S2). The imaged inspection image data is taken into the operation processing unit 5 via the external device connection unit 53. By detecting that the IC card 100 has entered the imaging area of the CCD camera 4, the conveyance path may temporarily stop the conveyance of the IC card and perform imaging, and the CCD camera 4 may be a line sensor CCD. Thus, the image may be taken while being conveyed. In addition, when imaging while conveying the IC card 100, it is desirable that the near-infrared light illumination unit 3 irradiates with a constant light amount until imaging of one IC card 100 is completed.

ＣＣＤカメラ４の撮像領域内に入ったことを検知する手法は、例えば、ＣＣＤカメラ４の撮像領域の手前に光電センサー等を設置し、センサーがＩＣカード１００を感知してから、ＩＣカード１００が搬送され、ＣＣＤカメラ４の撮像領域内に入るまでの時間を予め計測しておき、計測された時間でタイミングを合わせて、搬送路を停止させたり、ＩＣカード１００を停止させるためのストッパー（図示せず）を動作させたりする。   For example, a method for detecting that the image has entered the imaging area of the CCD camera 4 is, for example, that a photoelectric sensor or the like is installed in front of the imaging area of the CCD camera 4 and the IC card 100 is detected after the sensor detects the IC card 100. A stopper for stopping the conveyance path or stopping the IC card 100 by measuring the time until it is conveyed and entering the imaging area of the CCD camera 4 in advance and adjusting the timing at the measured time (see FIG. (Not shown).

そして、制御部５１は判定手段として機能し、記憶部５２のＩＣカード向き判定テーブル（図６）を参照して、撮像された画像における判定基準部１０２のパターンに基づいて、ＩＣカード１００の向きを判定する（ステップＳ３）。具体的には、制御部５３がパターンマッチングを行なうことにより、ＩＣカード向き判定テーブルに記憶された判定基準部１０２のパターンのうち、撮像されたＩＣカード１００の画像における判定基準部１０２のパターンと、同一のパターンに対応付けられたＩＣカードの向きを、撮像された（検査対象の）ＩＣカード１００の向きとして判定する。   The control unit 51 functions as a determination unit, and refers to the IC card orientation determination table (FIG. 6) in the storage unit 52, and based on the pattern of the determination reference unit 102 in the captured image, the orientation of the IC card 100 Is determined (step S3). Specifically, when the control unit 53 performs pattern matching, among the patterns of the determination reference unit 102 stored in the IC card orientation determination table, the pattern of the determination reference unit 102 in the captured image of the IC card 100 The orientation of the IC card associated with the same pattern is determined as the orientation of the imaged IC card 100 (to be inspected).

例えば、撮像されたＩＣカード１００の画像が、図８（Ａ）の場合には、ＩＣカード１００の向きは、表裏反転状態、図８（Ｂ）の場合には、天地反転状態、図８（Ｃ）の場合には、表裏天地反転状態、そして、図８（Ｄ）の場合には、正常の状態であるとして判定する。   For example, when the captured image of the IC card 100 is shown in FIG. 8A, the orientation of the IC card 100 is the front-back inverted state. In the case of FIG. In the case of C), it is determined that the front and back sides are inverted, and in the case of FIG.

そして、表示部５４に判定結果を表示して（ステップＳ４）、処理を終了する。   Then, the determination result is displayed on the display unit 54 (step S4), and the process is terminated.

以上説明した向き検査装置１によれば、ＩＣカード１００の基材における透過率が、該ＩＣカード１００の内部に備えた判定基準部１０２における透過率に比して高い近赤外光を照射して、ＣＣＤカメラ４にてＩＣカード１００を撮像し、判定基準部１０２のパターンに基づいてＩＣカード１００の向きを判定するよう構成したので、ＩＣカード１００の向きを、非接触かつ容易に検査することができる。   According to the orientation inspection apparatus 1 described above, the near-infrared light having a higher transmittance in the base material of the IC card 100 than that in the determination reference unit 102 provided in the IC card 100 is irradiated. Since the CCD camera 4 is used to image the IC card 100 and the orientation of the IC card 100 is determined based on the pattern of the determination reference unit 102, the orientation of the IC card 100 is easily inspected in a non-contact manner. be able to.

また、近赤外光を照明光として用いたので、広く普及し、汎用されているＣＣＤカメラ４を用いてＩＣカード１００内部の判定基準部１０２を撮像することができ、コストの削減を図ることができる。   In addition, since near infrared light is used as illumination light, it is possible to take an image of the determination reference unit 102 inside the IC card 100 using a widely spread and widely used CCD camera 4, thereby reducing costs. Can do.

さらに、判定基準部１０２として、ＩＣカードのデータが記憶されたＩＣ部を用いたので、ＩＣカード内に向き検査のためのみに使用される判定基準部を設ける必要がなく、ＩＣカードが機能するために必須の構成部材をそのまま判定基準部として使用することができ、より簡便容易な向き検査装置１を提供することができる。   Furthermore, since the IC unit in which the IC card data is stored is used as the determination reference unit 102, it is not necessary to provide a determination reference unit used only for orientation inspection in the IC card, and the IC card functions. Therefore, an essential constituent member can be used as it is as the determination reference portion, and the orientation inspection device 1 that is simpler and easier can be provided.

なお、上述した実施形態では、判定基準部１０２として、ＩＣ部を用いたが、本発明はこれに限定されず、近赤外光の透過率が基材１０１に比して低い材料で構成された部材であればよい。一例として、アンテナを判定基準部として用いてもいい。その場合、図９（Ａ）に示すように、アンテナを左右非対称かつ上下非対称に形成する。ＩＣカード平面に対して略平行に形成することが好ましい。また、図９（Ｂ）に示すように、全体として左右非対称上下非対称の形状となる文字列を、近赤外光の透過率が基材１０１に比して低い金属等で形成し、判定基準部１０２として用いることもできる。   In the above-described embodiment, the IC unit is used as the determination reference unit 102. However, the present invention is not limited to this, and the determination reference unit 102 is made of a material having a transmittance of near infrared light lower than that of the base material 101. Any member may be used. As an example, an antenna may be used as the determination reference unit. In that case, as shown in FIG. 9A, the antenna is formed asymmetrical in the left-right direction and vertically asymmetrical. It is preferable to form it substantially parallel to the IC card plane. Further, as shown in FIG. 9B, a character string having a shape that is asymmetrical in the left-right direction as a whole is formed of a metal or the like whose transmittance of near-infrared light is lower than that of the base material 101. It can also be used as the unit 102.

また、上述した実施形態では、光の照射方向とは反対の方向から、ＩＣカード１００を撮像したが、これに限定されず、図１０に示すように、光を照射する方向に近赤外光照明部３を設け、光を照射する方向から、光の反射光を捉えてＩＣカード１００を撮像するよう構成してもよい。この場合、近赤外光照明部３は、ＣＣＤカメラ４の撮像の邪魔にならないよう、リング形状等である必要がある。そして、撮像された画像は、基材１０１では近赤外光を透過し、判定基準部１０２では近赤外光を反射するので、判定基準部１０２は明るく、その他の箇所（判定基準部１０２の無い基材１０１だけの部分）は暗くなる。具体的には、図１１に示す如く、上述した実施形態において取得された図８に示す撮像画像を、白黒反転させた画像が得られる。   Further, in the above-described embodiment, the IC card 100 is imaged from the direction opposite to the light irradiation direction. However, the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. The illumination unit 3 may be provided, and the IC card 100 may be configured to capture the reflected light of the light from the direction in which the light is irradiated. In this case, the near-infrared light illuminating unit 3 needs to have a ring shape or the like so as not to interfere with the imaging of the CCD camera 4. And since the picked-up image permeate | transmits near-infrared light in the base material 101, and the near-infrared light is reflected in the determination reference | standard part 102, the determination reference | standard part 102 is bright, and other places (in the determination reference | standard part 102) The portion of the base material 101 that does not exist is darkened. Specifically, as shown in FIG. 11, an image obtained by reversing the captured image shown in FIG. 8 acquired in the above-described embodiment in black and white is obtained.

また、上述した実施形態では、ＩＣカードの表裏・天地反転の向きを判定する場合について説明したが、これに限定されず、ＩＣカードの回転ずれの判定も可能である。この場合、撮像された画像における判定基準部１０２のパターンについて、予め記憶部５２に記憶されている正常の状態の判定基準部１０２のパターンに対する回転ずれを画像処理により求めることで、ずれ角度を求めることができる。   In the above-described embodiment, the case where the front / back / top / bottom inversion direction of the IC card is determined has been described. However, the present invention is not limited to this, and it is also possible to determine the rotational deviation of the IC card. In this case, with respect to the pattern of the determination reference unit 102 in the captured image, the shift angle is obtained by calculating the rotational shift with respect to the pattern of the determination reference unit 102 in the normal state stored in advance in the storage unit 52 by image processing. be able to.

基材上にアンテナ及びＩＣ部を形成した状態を示すＩＣカード１００の平面図である。It is a top view of the IC card 100 which shows the state which formed the antenna and IC part on the base material. （Ａ）は、ＰＥＴの透過特性スペクトルであり、（Ｂ）は、ＰＥＴを基材１０１として用いたＩＣカード１００の透過特性スペクトルである。(A) is the transmission characteristic spectrum of PET, and (B) is the transmission characteristic spectrum of the IC card 100 using PET as the base material 101. 本実施形態にかかる向き検査装置１の概要構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the example of a schematic structure of the direction inspection apparatus 1 concerning this embodiment. 本実施形態にかかる向き検査装置１の要部拡大図である。It is a principal part enlarged view of the direction inspection apparatus 1 concerning this embodiment. ＣＣＤカメラの分光感度スペクトルの一例である。It is an example of the spectral sensitivity spectrum of a CCD camera. 記憶部５２に記憶されたＩＣカード向き判定テーブルの説明図である。It is explanatory drawing of the IC card direction determination table memorize | stored in the memory | storage part. 向き検査装置１におけるＩＣカードの向き検査処理を示すフローチャートである。3 is a flowchart showing IC card orientation inspection processing in the orientation inspection apparatus 1. 撮像されたＩＣカード１００の画像の一例である。It is an example of the image of the imaged IC card. 判定基準部１０２の変形例である。This is a modification of the determination reference unit 102. 他の実施形態にかかる向き検査装置１の要部拡大図である。It is a principal part enlarged view of the direction inspection apparatus 1 concerning other embodiment. 他の実施形態にかかる撮像されたＩＣカード１００の画像の一例である。It is an example of the image of the imaged IC card 100 concerning other embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

１…向き検査装置
２…カード載置作業部
３…近赤外光照明部
４…ＣＣＤカメラ
５…動作処理部
５１…制御部
５２…記憶部
５３…外部機器接続部
５４…表示部
５５…通信部
５６…操作入力部
５７…バス
１００…ＩＣカード
１０１…基材
１０２…判定基準部
１０３…アンテナ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Orientation inspection apparatus 2 ... Card mounting work part 3 ... Near-infrared light illumination part 4 ... CCD camera 5 ... Operation processing part 51 ... Control part 52 ... Storage part 53 ... External apparatus connection part 54 ... Display part 55 ... Communication Unit 56 ... Operation input unit 57 ... Bus 100 ... IC card 101 ... Base material 102 ... Determination reference unit 103 ... Antenna

Claims (17)

撮像されたパターンによってＩＣカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むＩＣカードの向き検査方法であって、
前記ＩＣカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ＩＣカードに対して照射する工程と、
前記ＩＣカードに対して前記近赤外光を照射する方向とは反対の方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ＩＣカードを撮像する撮像工程と、
前記判定基準部のパターンと、前記ＩＣカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ＩＣカードの向きを判定する工程と、
を有することを特徴とするＩＣカードの向き検査方法。 An IC card orientation inspection method that includes a determination reference portion inside which can determine the orientation of an IC card based on an imaged pattern,
A step of irradiating the IC card with near infrared light having a higher transmittance in the base material of the IC card than the transmittance in the determination reference portion;
An imaging step of imaging the IC card using a camera having sensitivity in the near infrared region from a direction opposite to the direction of irradiating the near infrared light to the IC card;
The direction of the IC card based on the pattern of the determination reference part in the captured image with reference to the storage means in which the pattern of the determination reference part and the direction of the IC card are stored in association with each other A step of determining
An IC card orientation inspection method comprising: 撮像されたパターンによってＩＣカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むＩＣカードの向き検査方法であって、
前記ＩＣカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ＩＣカードに対して照射する工程と、
前記ＩＣカードに対して前記近赤外光を照射する方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ＩＣカードを撮像する撮像工程と、
前記判定基準部のパターンと、前記ＩＣカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ＩＣカードの向きを判定する工程と、
を有することを特徴とするＩＣカードの向き検査方法。 An IC card orientation inspection method that includes a determination reference portion inside which can determine the orientation of an IC card based on an imaged pattern,
A step of irradiating the IC card with near infrared light having a higher transmittance in the base material of the IC card than the transmittance in the determination reference portion;
From the direction of irradiating the near-infrared light to the IC card, an imaging step of imaging the IC card using a camera having sensitivity in the near-infrared region;
The direction of the IC card based on the pattern of the determination reference part in the captured image with reference to the storage means in which the pattern of the determination reference part and the direction of the IC card are stored in association with each other A step of determining
An IC card orientation inspection method comprising: 請求項１又は２に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、
前記近赤外光の波長は、８００ｎｍ〜９５０ｎｍであって、
前記カメラは、汎用のＣＣＤカメラであることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法。 An IC card orientation inspection method according to claim 1 or 2,
The wavelength of the near infrared light is 800 nm to 950 nm,
An IC card orientation inspection method, wherein the camera is a general-purpose CCD camera. 請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、
前記判定基準部は、銅やアルミ等の金属からなり、
前記ＩＣカードの基材は、ＰＥＴ等のプラスチック材料からなることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法。 An IC card orientation inspection method according to any one of claims 1 to 3,
The judgment reference part is made of a metal such as copper or aluminum,
An IC card orientation inspection method, wherein a base material of the IC card is made of a plastic material such as PET. 請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、
前記判定基準部の形状は、前記ＩＣカードの平面に対して、左右非対称、且つ、上下非対称であって、前記判定基準部の位置は、前記ＩＣカードの平面に対して、略平行であることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法。 An IC card orientation inspection method according to any one of claims 1 to 4,
The shape of the determination reference part is asymmetrical with respect to the plane of the IC card, and asymmetrical with respect to the top and bottom, and the position of the determination reference part is substantially parallel to the plane of the IC card. IC card orientation inspection method characterized by the above. 請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、
前記判定基準部は、前記ＩＣカードが機能するために必須の構成部材であることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法。 An IC card orientation inspection method according to any one of claims 1 to 5,
The method for inspecting the orientation of an IC card, wherein the determination reference part is an essential component for the functioning of the IC card. 請求項６に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、
前記判定基準部は、前記ＩＣカードのデータが記憶されたＩＣ部、又は、前記ＩＣ部と外部とのデータの授受を行なうアンテナであることを特徴とするＩＣカードの向き検査方法。 The IC card orientation inspection method according to claim 6,
The IC card orientation inspection method, wherein the determination reference unit is an IC unit in which data of the IC card is stored, or an antenna for exchanging data between the IC unit and the outside. 請求項１乃至請求項７の何れか一項に記載のＩＣカードの向き検査方法であって、
前記撮像工程は、前記ＩＣカードが搬送されている際に、前記ＩＣカードを撮像することを特徴とするＩＣカードの向き検査方法。 An IC card orientation inspection method according to any one of claims 1 to 7,
In the imaging step, the IC card is imaged while the IC card is being conveyed, and the IC card orientation inspection method is characterized in that: 撮像されたパターンによってＩＣカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むＩＣカードの向き検査装置であって、
前記ＩＣカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ＩＣカードに対して照射する照射手段と、
前記ＩＣカードに対して前記近赤外光を照射する方向とは反対の方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ＩＣカードを撮像する撮像手段と、
前記判定基準部のパターンと、前記ＩＣカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ＩＣカードの向きを判定する判定手段と、
を有することを特徴とするＩＣカードの向き検査装置。 An IC card orientation inspection device that internally includes a determination reference portion capable of determining the orientation of an IC card based on an imaged pattern,
Irradiation means for irradiating the IC card with near infrared light having a higher transmittance in the base material of the IC card than the transmittance in the determination reference unit;
Imaging means for imaging the IC card using a camera having sensitivity in the near infrared region from a direction opposite to the direction in which the near infrared light is irradiated to the IC card;
The direction of the IC card based on the pattern of the determination reference part in the captured image with reference to the storage means in which the pattern of the determination reference part and the direction of the IC card are stored in association with each other Determining means for determining
An IC card orientation inspection apparatus characterized by comprising: 撮像されたパターンによってＩＣカードの向きを判定可能な判定基準部を内部に含むＩＣカードの向き検査装置であって、
前記ＩＣカードの基材における透過率が、前記判定基準部における透過率に比して高い近赤外光を前記ＩＣカードに対して照射する照射手段と、
前記ＩＣカードに対して前記近赤外光を照射する方向から、近赤外域に感度を有するカメラを用いて前記ＩＣカードを撮像する撮像手段と、
前記判定基準部のパターンと、前記ＩＣカードの向きと、が、夫々対応付けて記憶された記憶手段を参照して、撮像された画像における前記判定基準部のパターンに基づいて前記ＩＣカードの向きを判定する判定手段と、
を有することを特徴とするＩＣカードの向き検査装置。 An IC card orientation inspection device that internally includes a determination reference portion capable of determining the orientation of an IC card based on an imaged pattern,
Irradiation means for irradiating the IC card with near infrared light having a higher transmittance in the base material of the IC card than the transmittance in the determination reference unit;
Imaging means for imaging the IC card using a camera having sensitivity in the near infrared region from the direction of irradiating the near infrared light to the IC card;
The direction of the IC card based on the pattern of the determination reference part in the captured image with reference to the storage means in which the pattern of the determination reference part and the direction of the IC card are stored in association with each other Determining means for determining
An IC card orientation inspection apparatus characterized by comprising: 請求項９又は１０に記載のＩＣカードの向き検査装置であって、
前記近赤外光の波長は、８００ｎｍ〜９５０ｎｍであって、
前記カメラは、汎用のＣＣＤカメラであることを特徴とするＩＣカードの向き検査装置。 An orientation inspection device for an IC card according to claim 9 or 10,
The wavelength of the near infrared light is 800 nm to 950 nm,
An IC card orientation inspection apparatus, wherein the camera is a general-purpose CCD camera. 請求項９乃至請求項１１のいずれか一項に記載のＩＣカードの向き検査装置であって、
前記判定基準部は、銅やアルミ等の金属からなり、
前記ＩＣカードの基材は、ＰＥＴ等のプラスチック材料からなることを特徴とするＩＣカードの向き検査装置。 An IC card orientation inspection apparatus according to any one of claims 9 to 11,
The judgment reference part is made of a metal such as copper or aluminum,
The IC card orientation inspection apparatus, wherein a base material of the IC card is made of a plastic material such as PET. 請求項９乃至請求項１２の何れか一項に記載のＩＣカードの向き検査装置であって、
前記判定基準部の形状は、前記ＩＣカードの平面に対して、左右非対称、且つ、上下非対称であって、前記判定基準部の位置は、前記ＩＣカードの平面に対して、略平行であることを特徴とするＩＣカードの向き検査装置。 An IC card orientation inspection apparatus according to any one of claims 9 to 12,
The shape of the determination reference part is asymmetrical with respect to the plane of the IC card, and asymmetrical with respect to the top and bottom, and the position of the determination reference part is substantially parallel to the plane of the IC card. IC card orientation inspection device characterized by the above. 請求項９乃至請求項１３のいずれか一項に記載のＩＣカードの向き検査装置であって、
前記判定基準部は、前記ＩＣカードが機能するために必須の構成部材であることを特徴とするＩＣカードの向き検査装置。 An IC card orientation inspection apparatus according to any one of claims 9 to 13,
The IC card orientation inspection apparatus, wherein the determination reference unit is an essential component for the functioning of the IC card. 請求項１４に記載のＩＣカードの向き検査装置であって、
前記判定基準部は、前記ＩＣカードのデータが記憶されたＩＣ部、又は、前記ＩＣ部と外部とのデータの授受を行なうアンテナであることを特徴とするＩＣカードの向き検査装置。 The IC card orientation inspection device according to claim 14,
The IC card orientation inspection apparatus, wherein the determination reference unit is an IC unit in which data of the IC card is stored, or an antenna for exchanging data between the IC unit and the outside. 請求項９乃至請求項１５の何れか一項に記載のＩＣカードの向き検査装置であって、
前記撮像工程は、前記ＩＣカードが搬送されている際に、前記ＩＣカードを撮像することを特徴とするＩＣカードの向き検査装置。 An IC card orientation inspection apparatus according to any one of claims 9 to 15,
The IC card orientation inspection apparatus characterized in that the imaging step images the IC card when the IC card is being conveyed. コンピュータを、請求項９乃至請求項１６の何れか一項に記載のＩＣカードの向き検査装置として機能させることを特徴とするＩＣカードの向き検査プログラム。   An IC card orientation inspection program for causing a computer to function as the IC card orientation inspection device according to any one of claims 9 to 16.
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