JP2007184595A - 有機エレクトロルミネセントデバイスおよびその製造方法 - Google Patents

有機エレクトロルミネセントデバイスおよびその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】画素間の輝度の不均一または長時間動作後の輝度減衰を解決する有機ELデバイスおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】1実施形態による有機ELデバイスは、制御領域304および感知領域306を備える基板302を含む。制御領域304上方にはスイッチ素子206および駆動素子204が配置される。感知領域306上方にはフォトセンサ210が配置される。OLED素子202は感知領域306内に配置され、フォトセンサ210を照射する。フォトセンサ210および駆動素子204に蓄積容量208が接続される。OLED素子202によるフォトセンサ210への照射に応答し、フォトセンサ210にてOLED素子202の輝度に対応した光電流が発生することで、蓄積容量208の電圧が該光電流により調整されて駆動素子204を通る電流が制御され、よってOLED素子202の輝度が変化する。
【選択図】図3N

Description

本発明は表示デバイスに関し、より詳細には有機エレクトロルミネセントデバイスおよびその製造方法に関するものである。
有機エレクトロルミネセントデバイスは有機発光ダイオード(OLED)とも呼ばれる。OLEDの発光原理は、有機分子材料または高分子材料に電圧を印加して発光を生じさせるというものである。OLEDは、その自発光特性により、軽量、薄型、高コントラスト、低電力消費、高解像度、高速応答、バックライト光源不要および広視野角といった特長を持つドットマトリクスタイプの表示器に作製され、その適用可能な範囲は4mmのマイクロディスプレイから100インチの屋外電光掲示板までにも及ぶことから、人気のタイプのフラットパネルディスプレイ(FPD)となっている。図1を参照されたい。従来の有機エレクトロルミネセントデバイスにおいて、有機エレクトロルミネセント素子106はスイッチトランジスタ102により制御され、駆動トランジスタ104は電源線Vpに接続される。しかしながら、一般的に、従来の有機エレクトロルミネセントデバイスには、画素間の輝度が不均一になるという問題、特に、長期間の動作の後に輝度が減衰するという問題が存在する。
上述に鑑みて、本発明の目的は、画素間の輝度の不均一、または長時間の動作後の輝度減衰を解決できるような有機エレクトロルミネセントデバイスおよびその製造方法を提供することにある。
上記目的を解決するため、本発明の1実施形態による有機エレクトロルミネセントデバイスは、制御領域および感知領域を備える基板を含んでなる。制御領域上方にはスイッチ素子および駆動素子が配置される。感知領域上方にはフォトセンサが配置される。OLED素子は感知領域内に配置され、フォトセンサを照射する。フォトセンサおよび駆動素子に蓄積容量が接続される。OLED素子による照射に応答し、フォトセンサにてOLED素子の輝度に対応した光電流が発生することで、蓄積容量の電圧が該光電流により調整されて駆動素子を通る電流が制御され、よってOLED素子の輝度が変化することになる。
本発明の別の実施形態による有機エレクトロルミネセントデバイスは、制御領域および感知領域を備える基板と、制御領域上方に位置するスイッチ素子および駆動素子と、感知領域上方に位置するフォトセンサと、感知領域内に配置され、フォトセンサを照射するように作動するOLED素子と、フォトセンサおよび駆動素子に接続される蓄積容量と、を含む。OLED素子による照射に応答し、フォトセンサにてOLED素子の輝度に対応した光電流が発生することで、蓄積容量の電圧が該光電流により調整されて駆動素子を通る電流が制御され、よってOLED素子の輝度が変化することになる。スイッチ素子はトップゲートトランジスタであり、フォトセンサはボトムゲートトランジスタである。
また、本発明の1実施形態による有機エレクトロルミネセントデバイスの製造方法は、制御領域および感知領域を備える基板を準備する工程と、基板の制御領域上方にアクティブ層を形成する工程と、アクティブ層および基板の感知領域上方にゲート誘電体層を形成する工程と、ゲート誘電体層上に導電層を形成する工程と、導電層をパターニングして制御領域内に第1および第2のゲートを、感知領域内に第3のゲートを形成する工程と、少なくとも第1、第2および第3のゲートを覆うように誘電体層を形成する工程と、感知領域上方における誘電体層の一部上にフォトセンサアクティブ層を形成する工程と、フォトセンサアクティブ層上にフォトセンサドープ層を形成する工程と、フォトセンサドープ層の対向するサイドにそれぞれ電気的に接続されるフォトセンサソースおよびフォトセンサドレインを形成する工程と、感知領域および制御領域の一部上方にOLED素子を形成する工程と、を含む。
本発明によれば、OLED素子による照射に応答し、フォトセンサにてOLED素子の輝度に対応した光電流が発生することで、蓄積容量の電圧が該光電流により調整されて駆動素子を通る電流が制御され、ひいてはOLED素子の輝度が変化することとなって補償がなされる。したがって、有機エレクトロルミネセントデバイスの輝度の均一性がかかる補償によって改善され、かつ輝度減衰の問題も解決される。
本発明の上述およびその他の目的、特徴ならびに長所がより明らかに理解されるよう、以下に好ましい実施形態を挙げ、図面と対応させながら詳細に説明する。図中、類似および/または対応する構成要素には同等の符号を用いる。
本明細書において、例えば“基板の上方に(overlying the substrate)”、“層上方に(above the layer)”または“膜上に(on the film)”なる表現は、中間層の存在にかかわらず、ベースとなる層の表面に対する相対位置関係を説明するものに過ぎない。したがって、これらの表現は、層どうしの直接的な接触のみならず、1または複数の層の非接触状態をも示し得る。
図2に示すのは、本発明の1実施形態による補償素子を備える有機エレクトロルミネセントデバイスである。図2を見るとわかるように有機エレクトロルミネセントデバイスは画素エレメント20を含んでいる。画素エレメント20において、有機エレクトロルミネセント素子202は例えばスイッチ集積回路(IC)またはスイッチトランジスタであるスイッチ素子206により制御される。画素エレメント20はさらに、電源線Vpに接続され、駆動集積回路(駆動IC)と呼ぶこともできる駆動素子204を含んでいる。該駆動素子204を通る電流を制御することで、有機エレクトロルミネセント素子202の輝度212が決まる。スイッチ素子206は、行データ線(column data line)220と列ワード線(row word line)230によって制御される。この実施形態において、蓄積容量208は駆動素子204のゲート電極に接続される。蓄積容量208はさらにフォトセンサ210とも接続される。フォトセンサ210が感知した有機エレクトロルミネセント素子202の輝度に基づいて蓄積容量208の電圧が調整されることで駆動素子204を通る電流が制御され、これにより有機エレクトロルミネセント素子220の輝度が変化することとなって、補償がなされる。
図3Nは、本発明の1実施形態による有機エレクトロルミネセントデバイスの画素エレメントの断面図であり、図3A〜3Mは、該有機エレクトロルミネセントデバイスの製造工程の中間の断面図である。
図3Aを参照されたい。先ず、制御領域304、感知領域306および蓄積容量領域307を備える基板302を準備する。基板302上には緩衝層308が形成される。この緩衝層308は、酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコンまたはこれらの組み合わせを含んでなるものであってよく、酸化シリコン層と窒化シリコン層の堆積からなるのが好ましく、その場合、窒化シリコン層の厚さが約350〜650Å、酸化シリコン層の厚さが約1000〜1600Åであると好ましい。
次に、緩衝層308上に導電層(図示しない)を形成する。導電層はポリシリコンを含んでなるものとすることができる。その場合、例えば、先ず化学気相堆積法によりアモルファスシリコン層を堆積させて形成してから、エキシマレーザで結晶化またはーアニーリング(ELA)を行ってポリシリコン層を形成する。さらに、導電層にリソグラフィーおよびエッチングを施して、基板302の制御領域304上方に第1のアクティブ層310および第2のアクティブ層312を、基板302の蓄積容量領域307上方にボトム電極309を形成し、感知領域306上方の導電層は除去する。
図3Bを参照されたい。第2のアクティブ層312をフォトレジスト層314で覆い、チャネルドーピングを行ってドーパント316を第1のアクティブ層310に入れる。ドーパント316としてはB+を含むことが好ましく、その量(dosage)は通常、約0〜1E13/cm2である。
図3Cを参照されたい。第1のアクティブ層310のチャネル領域320を別のフォトレジスト層318で覆ってから、第1のアクティブ層にN+イオン322を打ち込んで、n型トランジスタのソース324およびドレイン326を形成する。本発明の好ましい1実施形態においては、N+イオンはリンであり、その量(dosage)は約1E14〜1E16/cm2とするのが好ましい。
図3Dを参照されたい。フォトレジスト層314および318を除去し、第1のアクティブ層310、第2のアクティブ層312、緩衝層308および蓄積容量領域307内のボトム電極309上に、例えば酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコン、これらの組み合わせ、これらの堆積層またはその他の高誘電率材料(high-K dielectric material)からなるゲート誘電体層328を全面的に堆積する(blanketly deposited)。注目すべきなのは、このゲート誘電体層328は、蓄積容量領域307において蓄積容量誘電体層として機能するという点である。
図3Eを参照されたい。ゲート誘電体層328上に、例えばドープトポリシリコンまたは金属からなるゲート導電層(図示しない)を形成する。本発明の好ましい1実施形態では、ゲート導電層はMoからなり、厚さは約1500〜2500Åである。
続いて、ゲート導電層をリソグラフィおよびエッチングによってパターニングして、第1のアクティブ層310上方にn型トランジスタゲート330を、第2のアクティブ層312上方にp型トランジスタゲート332を、感知領域306上方のゲート誘電体層328上にフォトセンサゲート334を、蓄積容量領域307上方にトップ電極335を形成する。よって、ボトム電極309、ゲート誘電体層328およびトップ電極335により図2に示される蓄積容量208を構成されることとなる。
本発明の好ましい1実施形態において、ゲート330、332および334の形成に続き、例えばイオン注入などの軽ドープ工程を行い、n型トランジスタの第1のアクティブ層310におけるチャネル領域320の対向するサイドに薄くドープされたソース/ドレイン(LDD)336を形成させることができる。こうすると、制御領域304内に、図2に示されるn型のスイッチ素子206およびp型の駆動素子204が形成されることとなる。本発明の一部実施形態において、スイッチ素子206および駆動素子204はトップゲートトランジスタである。
図3Fを参照されたい。フォトレジスト層338を、第1のアクティブ層310を覆うように形成してから、イオン注入340を行ってp型トランジスタのチャネル領域342の対向するサイドにソース344およびドレイン346を形成する。このようなイオン注入工程において、フォトセンサゲート334下方の層は、フォトセンサゲート334に覆われているために、ドープされてしまうことはない。
図3Gを参照されたい。フォトレジスト層338を除去してから、制御領域304上方のゲート誘電体層328、n型トランジスタのゲート330、p型トランジスタのゲート332、感知領域306上方のフォトセンサゲート334、および蓄積容量領域307上方のトップ電極335上に、誘電体層348を全面的に堆積する。制御領域304上方における誘電体層348の一部は、例えばn型トランジスタおよび/またはp型トランジスタである制御素子の金属配線の層間誘電体層(inter-metal dielectric layer)となり、感知領域306上方における他の一部は、フォトセンサのゲート誘電体層として機能し得る。
通常、誘電体層348の厚さと組成は、製品の仕様またはプロセスウィンドウに応じて決めることができる。例えば、誘電体層348は、二酸化シリコン、ポリイミド、スピンオンガラス(SOG)、フッ化物ドープシリケートガラス(FSG)、ブラックダイアモンド(カリフォルニア州、サンタクララ、アプライドマテリアル社製)、キセロゲル、エーロゲル、アモルファスフッ素化カーボン、および/またはその他の材料を含んでなるものとすることができる。本発明の好ましい1実施形態では、誘電体層348は、酸化シリコンおよび窒化シリコンの堆積層で、下側の窒化層/酸化層/上側の窒化層からなる構造であるとより好ましい。この場合、下側の窒化層の厚さは約2500〜3500Å、酸化層の厚さは約2500〜3500Å、上側の窒化層の厚さは約500〜1500Åである。
図3Hを参照されたい。感知領域306上方における誘電体層348の一部の上に、フォトセンサアクティブ層350およびフォトセンサドープ層352を形成する。フォトセンサアクティブ層350は、例えば結晶シリコン、アモルファスシリコンおよび/またはポリシリコンのような基本的な半導体を含むものとすることができる。1部実施形態においては、フォトセンサアクティブ層350をアモルファスシリコン層とすることができ、こうすると、後にその上に形成されるOLED素子に照射されるときに、フォトセンサアクティブ層350はより高感度となる。
フォトセンサドープ層352は、フォトセンサアクティブ層350の材料を主な材料としてなるドープ層とすることができる。本発明の好ましい1実施形態では、フォトセンサアクティブ層350は非ドープのアモルファスシリコンからなり、フォトセンサドープ層352は、例えばリンであるN+イオンがドープされたアモルファスシリコンからなる。そして、フォトセンサアクティブ層350の厚さが約1000〜10000Å、フォトセンサドープ層352の厚さが約100〜1000Åであるとより好ましい。
図3Iを参照されたい。誘電体層348およびゲート誘電体層328をリソグラフィーおよびエッチングによりパターニングして複数の開口354を形成する。これにより、n型トランジスタのソース324、ゲート330およびドレイン326、ならびにp型トランジスタのソース344、ゲート332およびドレイン346がそれぞれ露出され、これらは後続の工程において金属配線の接続に用いられることとなる。
図3Jを参照されたい。金属層(図示しない)を全面的に堆積してから、リソグラフィーおよびエッチングによりパターニングし、開口354中に導電コンタクト356を形成すると共に、同工程において、フォトセンサアクティブ層350およびフォトセンサドープ層352の対向するサイドにフォトセンサソース358およびフォトセンサドレイン360を形成する。これにより、図2に示されるフォトセンサ210が形成される。この実施形態では、フォトセンサ210はトランジスタ、例えばボトムゲートトランジスタとすることができる。
本発明の1つの実施形態によれば、スイッチ素子、駆動素子およびフォトセンサが、同一の層に位置するゲートを備えるようにすることができる。例として、図3Jを参照されたいが、スイッチ素子206のゲート330、駆動素子204のゲート332、およびフォトセンサ210のゲート334はいずれも同一の層にある。
図3Kを参照されたい。導電コンタクト356、誘電体層348、フォトセンサソース358およびフォトセンサドレイン360上に、例えば窒化シリコンまたは酸窒化シリコンからなる保護層362を形成する。保護層362は、厚さ約1000〜5000Åの窒化シリコンからなるのが好ましい。
図3Lを参照されたい。保護層362上に、例えば有機物または酸化物からなる平坦化層364を形成する。平坦化層364の厚さは約10000〜50000Åであると好ましい。続いて、リソグラフィおよびエッチングにより平坦化層364および保護層362をパターニングして、導電コンタクト356に対応するコンタクト開口366を形成する。本発明の好ましい1実施形態において、コンタクト開口366はp型トランジスタのドレイン346の導電コンタクト356を露出させる。
図3Mを参照されたい。例えば酸化インジウムスズ(ITO)からなる画素電極層368(陽極となる)を、導電コンタクト356と電気的に接続するように平坦化層364上に形成する。次いで、平坦化層364および画素電極層368の一部上に、例えば有機物または酸化物からなる画素定義層(pixel definition layer)370を形成する。ここで特別なのは、画素定義層370が、フォトセンサの一部または全体を露出させるという点である。
図3Nを参照されたい。画素電極層368および画素定義層370上方に有機発光層372を形成する。本発明の1実施形態において、画素電極層368(陽極層と呼んでもよい)上方に配置される有機発光層372は、順次形成された正孔注入層、正孔輸送層、有機発光材料層、電子輸送層、および電子注入層を含んでなる。該陽極層は、エッチングが容易、膜形成温度および抵抗が低いといった長所を持つ酸化インジウムスズ(In23:Sn、ITO)からなる。OLED素子にバイアス電圧が印加されると、電子と正孔は電子輸送層と正孔輸送層をそれぞれ通って有機発光材料層に入り、結合して励起子を形成してから、エネルギーを放出して基底状態に戻る。用いる有機発光材料の特性に応じて、放出されるエネルギーは、赤(R)、緑(G)および青(B)を含むそれぞれ異なる色の光となる。
続いて、有機発光層372上に陰極374を形成する。陰極374は、例えば高反射率のAl、Agまたはその他の適した材料からなる反射層であり得る。こうして、画素電極層368、有機発光層372および陰極374により、図2に示される有機エレクトロルミネセント素子(OLED素子)202が構成されることとなって、ボトムエミッション有機エレクトロルミネセントデバイスが形成される。
図2および図3Nに示されるように、本発明の一部実施形態によれば、OLED素子202がフォトセンサ210を照射したときに、フォトセンサ210にて光電流が生じる。光電流の大小は、OLED素子202の輝度によって決まる。したがって、フォトセンサ210が感知したOLED素子202の輝度に応じて、駆動素子204に接続された蓄積容量208の電圧が調整され、それにより駆動素子204を通る電流が制御されるようになる。このようにして、OLED素子202の輝度が変化することとなり、補償がなされる。よって、経年劣化(aging)後、OLED素子の輝度の均一性が、かかる内部補償(internal compensation)により改善を得る。図4は、例えば図2ないし図3Nに示されるような画素エレメント20である画素エレメントが、OLEDパネルであり得るパネル(ここではパネル30)中に組み込み可能であることを示している。このパネルは各種電子装置(ここでは電子装置50)の一部となり得る。通常、電子装置50は、OLEDパネル30および入力ユニット40を含んでいる。さらに、入力ユニット40は、OLEDパネル30に操作可能に接続して、画像を生成させるために入力信号(例えば画像信号)をパネル30に供給する。該電子装置は、例えばPDA(パーソナルデータアシスタント)、ノートブックコンピュータ、タブレットコンピュータ、携帯電話、車載テレビまたはデジタルカメラなどである。
本発明を好ましい実施形態によって以上のように開示したが、これは本発明を限定しようとするものではなく、当業者であれば、本発明の精神と範囲を逸脱しない限りにおいて変更および修飾を施すことができる。よって、本発明の保護範囲は、添付の特許請求の範囲で定義されたものが基準とされる。
従来の有機エレクトロルミネセントデバイスを示すものである。 本発明の1実施形態による補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスを示すものである。 Aは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Bは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Cは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Dは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Eは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Fは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Gは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Hは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Iは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Jは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Kは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Lは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Mは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 Nは、補償素子を備えた有機エレクトロルミネセントデバイスの作製中の断面図である。 パネルに組み入れられた画素エレメントを示すものである。
符号の説明
Vp 電源線
20 画素エレメント
30 パネル
40 入力ユニット
50 電子装置
202 有機エレクトロルミネセント素子(OLED素子)
204 駆動素子
206 スイッチ素子
208 蓄積容量
210 フォトセンサ
212 輝度
302 基板
304 制御領域
306 感知領域
307 蓄積容量領域
308 緩衝層
309 ボトム電極
310 第1のアクティブ層
312 第2のアクティブ層
314 フォトレジスト層
316 ドーパント
318 フォトレジスト層
320 チャネル領域
322 N+イオン
324 ソース
326 ドレイン
328 ゲート誘電体層
330 n型トランジスタのゲート
332 p型トランジスタのゲート
334 フォトセンサゲート
335 トップ電極
336 軽ドープソース/ドレイン(LDD)
340 イオン注入
344 p型トランジスタのソース
346 p型トランジスタのドレイン
348 誘電体層
350 フォトセンサアクティブ層
352 フォトセンサドープ層
354 開口
356 導電コンタクト
358 フォトセンサソース
360 フォトセンサドレイン
362 保護層
364 平坦化層
366 コンタクト開口
368 画素電極層
370 画素定義層
372 有機発光層
374 陰極

Claims (18)

  1. 制御領域および感知領域を有する基板と、
    前記制御領域上方に位置するスイッチ素子および駆動素子と、
    前記感知領域上方に位置するフォトセンサと、
    前記感知領域内に配置されると共に前記フォトセンサを照射するよう作動するOLED素子と、
    前記フォトセンサおよび前記駆動素子に接続される蓄積容量と、
    を備えた画素エレメントを含む有機エレクトロルミネセントデバイスであって、
    前記OLED素子からの前記フォトセンサへの照射に応答し、前記フォトセンサが前記OLED素子の輝度に対応する光電流を発生させることで、前記蓄積容量の電圧が該光電流により調整されて前記駆動素子を通る電流が制御され、よって前記OLED素子の輝度が変化する有機エレクトロルミネセントデバイス。
  2. 前記スイッチ素子および前記駆動素子がトップゲートトランジスタであり、前記フォトセンサがボトムゲートトランジスタである請求項1記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  3. 前記画素エレメントが複数の層から形成され、前記スイッチ素子、前記駆動素子および前記フォトセンサが、それらの層のうちの同一の層に位置するゲートを有している請求項1記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  4. 前記スイッチ素子が第1のアクティブ層を備え、前記駆動素子が第2のアクティブ層を備えており、該第1および第2のアクティブ層がポリシリコン層である請求項1記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  5. 前記フォトセンサが第3のアクティブ層を備えており、該第3のアクティブ層がアモルファスシリコン層である請求項1記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  6. 前記スイッチ素子内に配置される第1のアクティブ層と、
    前記駆動素子内に配置される第2のアクティブ層と、
    前記第1および第2のアクティブ層ならびに前記感知領域上方に配置されるゲート誘電体層と、
    をさらに含む請求項1記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  7. 前記制御領域上方の前記ゲート誘電体層上に配置されると共に前記スイッチ素子内に位置する第1のゲート、および前記制御領域上方の前記ゲート誘電体層上に配置されると共に前記駆動素子内に位置する第2のゲートと、
    前記感知領域上方の前記ゲート誘電体層上に配置される第3のゲートと、
    をさらに含み、
    前記第1、第2および第3のゲートが同一の層にある請求項6記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  8. 少なくとも前記第1、第2および第3のゲートを覆う誘電体層と、
    前記感知領域上方における前記誘電体層の一部上方に配置される第3のアクティブ層と、
    をさらに含む請求項7記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  9. 前記第3のアクティブ層上方に配置されるフォトセンサドープ層と、
    前記フォトセンサドープ層の対向するサイドにそれぞれ電気的に接続するフォトセンサソースおよびフォトセンサドレインと、
    をさらに含む請求項8記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  10. 前記誘電体層が、前記第1および第2のゲートならびに前記第1および第2のアクティブ層の一部を露出させる複数の開口をさらに備え、かつ、該開口は導電コンタクトで充填される請求項6記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  11. 前記導電コンタクト、前記誘電体層、前記フォトセンサソースおよび前記フォトセンサドレイン上方に配置される保護層と、
    前記保護層およびその下の前記フォトセンサの上方に配置される平坦化層と、
    をさらに含む請求項10記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  12. 前記平坦化層上方に位置する第1の電極と、
    前記第1の電極上に配置される有機発光層と、
    前記有機発光層上方に配置される第2の電極と、
    をさらに含み、
    前記第1の電極、前記有機発光層および前記第2の電極が前記OLED素子を形成する請求項11記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  13. ディスプレイパネルをさらに含み、前記画素エレメントが、該ディスプレイパネルの画素エレメントのアレイとして配列される請求項1記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  14. 前記ディスプレイパネルに接続されて、前記ディスプレイパネルに画像を表示させるべく前記ディスプレイパネルへ入力を供給するよう作動する入力ユニットをさらに含む請求項13記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  15. 前記ディスプレイパネルに入力を供給するための手段をさらに含む請求項13記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  16. 前記ディスプレイパネルが電子装置の一部である請求項13記載の有機エレクトロルミネセントデバイス。
  17. 制御領域および感知領域を有する基板と、
    前記制御領域上方に位置するスイッチ素子および駆動素子と、
    前記感知領域上方に位置するフォトセンサと、
    前記感知領域内に配置されると共に前記フォトセンサを照射するよう作動するOLED素子と、
    前記フォトセンサおよび前記駆動素子に接続される蓄積容量と、
    を含み、
    前記OLED素子からの前記フォトセンサへの照射に応答し、前記フォトセンサにて前記OLED素子の輝度に対応する光電流が発生することで、前記蓄積容量の電圧が該光電流により調整されて前記駆動素子を通る電流が制御され、よって前記OLED素子の輝度が変化することとなり、
    前記スイッチ素子がトップゲートトランジスタであり、前記フォトセンサがボトムゲートトランジスタである有機エレクトロルミネセントデバイス。
  18. 制御領域および感知領域を備える基板を準備する工程と、
    前記基板の前記制御領域上方にアクティブ層を形成する工程と、
    前記アクティブ層および前記基板の前記感知領域上方にゲート誘電体層を形成する工程と、
    前記ゲート誘電体層上に導電層を形成する工程と、
    前記導電層をパターニングして、前記制御領域内に第1および第2のゲートを、前記感知領域内に第3のゲートを形成する工程と、
    少なくとも前記第1、第2および第3のゲートを覆うように誘電体層を形成する工程と、
    前記感知領域上方における前記誘電体層の一部上にフォトセンサアクティブ層を形成する工程と、
    前記フォトセンサアクティブ層上にフォトセンサドープ層を形成する工程と、
    前記フォトセンサドープ層の対向するサイドにそれぞれ電気的に接続するフォトセンサソースおよびフォトセンサドレインを形成する工程と、
    前記感知領域および前記制御領域の一部上方にOLED素子を形成する工程と、
    を含む有機エレクトロルミネセントデバイスの製造方法。
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