JP2007071684A - 光ファイバ束検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光ファイバ束の各光ファイバの光透過具合を濃度に対応させて示した光ファイバ束の端面の画像情報を格納する画像メモリと、
この画像メモリからの前記画像情報から光ファイバの総数を計測する画像処理手段とを備えてなり、
この画像処理手段は、前記濃度に対応するしきい値を順次変化させることによって前記濃度の全範囲を複数の区分に分ける濃度範囲区分手段と、
変化したしきい値とその変化の前のしきい値の間の濃度区分内にある光ファイバの数を算出する算出手段と、
各濃度区分内における光ファイバの数の合計を得る計測手段と、を備える。
【選択図】図1
Description
この画像メモリからの前記画像情報から光ファイバの総数を計測する画像処理手段とを備えてなり、
この画像処理手段は、前記濃度に対応するしきい値を順次変化させることによって前記濃度の全範囲を複数の区分に分ける濃度範囲区分手段と、
変化したしきい値とその変化の前のしきい値の間の濃度区分内にある光ファイバの数を算出する算出手段と、
各濃度区分内における光ファイバの数の合計を得る計測手段と、を備えることを特徴とする。
光ファイバ束の各光ファイバの光透過具合を濃度に対応させて示した光ファィバ束の端面の画像情報を格納する画像メモリと、
この画像メモリからの前記画像情報から、前記光ファイバ束の端面を各光ファイバを個別に識別できる光ファイバ束表示と前記各光ファイバのそれぞれに対応する各ファイバ表示を濃度に応じて表示させるグラフ表示とを前記ディスプレィ上にて行う画像処理手段とを備え、
前記画像処理手段は、前記ディスプレィ上で前記グラフ表示のファイバ表示を選択するファイバ表示選択手段と、選択されたファイバ表示に対応する前記光ファイバ束内の光ファイバを他の光ファイバと区別できる表示を行う光ファイバ特定手段とを備えることを特徴とする。
光ファイバ束の各光ファイバの光透過具合を濃度に対応させて示した光ファイバ束の端面の画像情報を格納する画像メモリと、
この画像メモリからの前記画像情報から前記光ファィバ束の端面を各光ファイバを個別に識別できる光ファイバ束表示を前記ディスプレィ上にて行う画像処理手段とを備え、
前記画像処理手段は、前記濃度の範囲内において該濃度に対応する少なくとも2個の数値の入力にともない、前記画像メモリからの前記画像情報の各光ファイバの濃度のうち前記2個の数値の範囲内のものを選択し、かつ、選択された各光ファィバを前記光ファイバ束表示上において他の光ファイバと区別できる表示を行う表示手段を備えることを特徴とする。
Claims (5)
- 光ファイバ束の各光ファイバの光透過具合を濃度に対応させて示した光ファイバ束の端面の画像情報を格納する画像メモリと、
この画像メモリからの前記画像情報から光ファイバの総数を計測する画像処理手段とを備えてなり、
この画像処理手段は、前記濃度に対応するしきい値を順次変化させることによって前記濃度の全範囲を複数の区分に分ける濃度範囲区分手段と、
変化したしきい値とその変化の前のしきい値の間の濃度区分内にある光ファイバの数を算出する算出手段と、
各濃度区分内における光ファイバの数の合計を得る計測手段と、を備えることを特徴とする光ファイバ束検査装置。 - ディスプレィを有し、
光ファイバ束の各光ファイバの光透過具合を濃度に対応させて示した光ファィバ束の端面の画像情報を格納する画像メモリと、
この画像メモリからの前記画像情報から、前記光ファイバ束の端面を各光ファイバを個別に識別できる光ファイバ束表示と前記各光ファイバのそれぞれに対応する各ファイバ表示を濃度に応じて表示させるグラフ表示とを前記ディスプレィ上にて行う画像処理手段とを備え、
前記画像処理手段は、前記ディスプレィ上で前記グラフ表示のファイバ表示を選択するファイバ表示選択手段と、選択されたファイバ表示に対応する前記光ファイバ束内の光ファイバを他の光ファイバと区別できる表示を行う光ファイバ特定手段とを備えることを特徴とする光ファイバ束検査装置。 - 前記グラフ表示は、一の方向に各ファイバ表示を並設させて表示させ、これら各ファイバ表示は前記一の方向と交叉する方向にその濃度に対応した位置に配置されて表示されていることを特徴とする請求項2に記載の光ファイバ束検査装置。
- ディスプレィを有し、
光ファイバ束の各光ファイバの光透過具合を濃度に対応させて示した光ファイバ束の端面の画像情報を格納する画像メモリと、
この画像メモリからの前記画像情報から前記光ファィバ束の端面を各光ファイバを個別に識別できる光ファイバ束表示を前記ディスプレィ上にて行う画像処理手段とを備え、
前記画像処理手段は、前記濃度の範囲内において該濃度に対応する少なくとも2個の数値の入力にともない、前記画像メモリからの前記画像情報の各光ファイバの濃度のうち前記2個の数値の範囲内のものを選択し、かつ、選択された各光ファィバを前記光ファイバ束表示上において他の光ファイバと区別できる表示を行う表示手段を備えることを特徴とする光ファイバ束検査装置。 - 前記濃度の範囲内において該濃度に対応する少なくとも2個の数値の入力は、前記ディスプレィ上にて表示されている数値設定欄によって行うことを特徴とする請求項4に記載の光ファイバ束検査装置。
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JP2005258777A JP2007071684A (ja) | 2005-09-07 | 2005-09-07 | 光ファイバ束検査装置 |
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JP2005258777A JP2007071684A (ja) | 2005-09-07 | 2005-09-07 | 光ファイバ束検査装置 |
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JP2007071684A5 JP2007071684A5 (ja) | 2008-10-09 |
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Family Applications (1)
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JP2005258777A Pending JP2007071684A (ja) | 2005-09-07 | 2005-09-07 | 光ファイバ束検査装置 |
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JP (1) | JP2007071684A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008180579A (ja) * | 2007-01-24 | 2008-08-07 | Hitachi Medical Corp | 光ファイバ素線計数装置 |
JP2010271258A (ja) * | 2009-05-25 | 2010-12-02 | Hitachi Medical Corp | 光ファイバ素線計数装置 |
CN104359654A (zh) * | 2014-11-07 | 2015-02-18 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种光纤传像束两端面像元偏移量的测量装置及测量方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57163850A (en) * | 1981-04-01 | 1982-10-08 | Agency Of Ind Science & Technol | Evaluating device for defect and array of array wire bundle |
JPH07230546A (ja) * | 1994-02-18 | 1995-08-29 | Mitsubishi Electric Corp | 画像処理装置及び画像処理方法 |
JPH07234328A (ja) * | 1993-12-29 | 1995-09-05 | Fujikura Ltd | 光ファイババンドルの評価方法 |
JP2001266122A (ja) * | 2000-03-17 | 2001-09-28 | Dainippon Printing Co Ltd | 色ムラ欠陥検査方法及び装置 |
-
2005
- 2005-09-07 JP JP2005258777A patent/JP2007071684A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57163850A (en) * | 1981-04-01 | 1982-10-08 | Agency Of Ind Science & Technol | Evaluating device for defect and array of array wire bundle |
JPH07234328A (ja) * | 1993-12-29 | 1995-09-05 | Fujikura Ltd | 光ファイババンドルの評価方法 |
JPH07230546A (ja) * | 1994-02-18 | 1995-08-29 | Mitsubishi Electric Corp | 画像処理装置及び画像処理方法 |
JP2001266122A (ja) * | 2000-03-17 | 2001-09-28 | Dainippon Printing Co Ltd | 色ムラ欠陥検査方法及び装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008180579A (ja) * | 2007-01-24 | 2008-08-07 | Hitachi Medical Corp | 光ファイバ素線計数装置 |
JP2010271258A (ja) * | 2009-05-25 | 2010-12-02 | Hitachi Medical Corp | 光ファイバ素線計数装置 |
CN104359654A (zh) * | 2014-11-07 | 2015-02-18 | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 | 一种光纤传像束两端面像元偏移量的测量装置及测量方法 |
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