JP2007059110A - Poor crimping contact determining data creation method for poor terminal crimping detecting device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被覆部を皮剥ぎした被覆電線の端末部に、端子圧着装置により端子を圧着する際、端子の圧着状態を監視して圧着不良を自動的に検出する端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法に関するものである。 The present invention provides a crimping terminal detecting device for automatically detecting a crimping failure by monitoring a crimping state of a terminal when a terminal is crimped by a terminal crimping device to a terminal portion of a covered electric wire whose cover is peeled off. The present invention relates to a defect determination data creation method.
従来、端子圧着装置は、被覆部が所定長さ皮剥ぎされた被覆電線の端末部に、所定形状の端子を圧着する構造とされていた。そして、このような端子圧着装置において、端子圧着処理時に、芯線部の一部が端子から食み出した状態で圧着されるいわゆる芯線食み出し不良や、芯線部に圧着されるべき部分が被覆部の一部をも含めて圧着されるいわゆる被覆噛み不良等の圧着不良が発生することがあり、そのような圧着不良が発生した場合に、それらを検出して排除する必要がある。 Conventionally, a terminal crimping device has a structure in which a terminal having a predetermined shape is crimped to a terminal portion of a covered electric wire whose covering portion has been peeled off by a predetermined length. In such a terminal crimping apparatus, during the terminal crimping process, a so-called core wire protrusion failure that is crimped in a state where a part of the core wire part protrudes from the terminal, or a part to be crimped to the core wire part is covered. In some cases, there is a case where a crimp failure such as a so-called covering bite failure that is crimped including a part of the portion occurs, and when such a crimp failure occurs, it is necessary to detect and eliminate them.
そこで、端子圧着処理時の異常を検出して圧着状態を識別するための端子圧着不良検出装置が登場している（例えば、特許文献１参照。）。 Therefore, a terminal crimping failure detection device for detecting an abnormality during terminal crimping processing and identifying a crimped state has appeared (for example, see Patent Document 1).
即ち、図４に示されるように、端子圧着装置１は、ベース板２上にアプリケータ３を備え、該アプリケータ３は被覆電線４の端末部に端子５を圧着するためのアンビル６およびクリンパ７を備える。また、端子５は被覆電線４の芯線部４ａに圧着される芯線圧着部５ａと、被覆部４ｂに圧着される被覆圧着部５ｂとを備えている。
That is, as shown in FIG. 4, the
そして、ベース板２の下側に圧力センサ１０（例えばピエゾセンサ）が備えられ、圧力センサ１０からリード線１１が引き出されている。
A pressure sensor 10 (for example, a piezo sensor) is provided below the
端子５の圧着処理に際しては、端末部の被覆部４ｂが皮剥ぎされた被覆電線４と端子５とが、アンビル６とクリンパ７との間の所定位置に配置され、この状態で、クリンパ７を下降操作することにより、クリンパ７とアンビル６とで端子５の芯線圧着部５ａと被覆圧着部５ｂが圧縮され、芯線圧着部５ａが被覆電線４の芯線部４ａに圧着されると共に被覆圧着部５ｂが被覆電線４の被覆部４ｂに圧着されて、被覆電線４の端末部に端子５が接続固定される構造とされていた。
In the crimping process of the terminal 5, the covered
そして、このクリンパ７による端子圧着処理において、圧力センサ１０はアンビル６やベース板２等を介して圧力を受け、その圧力値に応じた信号を出力する。端子圧着不良検出装置は、この圧力センサ１０からの出力の時間的変化を波形として捉え、デジタル処理して、予めメモリ等に記憶された正常時の基準波形データと、検査時に出力された検出波形データとを比較することにより、良品か不良品かを判定し、不良品を排除する方式とされていた。
In the terminal crimping process by the
このような検出された波形データにより圧着状態の良否を判定する方法として、図５に示されるように、正常圧着状態における基準波形データＡを基準に上下方向に所定値シフトして得られる許容値Ｓの範囲を許容公差とし、検出波形データが、その波形データ全域に渡ってその許容公差範囲内にあるか否かで圧着状態の良否を判定する方法や、検出波形データを時間軸に沿って複数の領域（例えばＴ１、Ｔ２、Ｔ３等）に分割し、各領域の面積を基準波形データＡの対応領域（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３等）の面積と比較して許容公差範囲内にあるか否かにより圧着状態の良否を判定する方法や、波形データのピーク値や総面積を基準波形データのものと比較して許容公差範囲内にあるか否かにより圧着状態の良否を判定する方法等がある。 As a method of determining the quality of the crimped state based on such detected waveform data, as shown in FIG. 5, an allowable value obtained by shifting a predetermined value in the vertical direction with reference to the reference waveform data A in the normal crimped state. The range of S is set as an allowable tolerance, and a method of determining the quality of the crimped state based on whether or not the detected waveform data is within the allowable tolerance range over the entire waveform data, or the detected waveform data along the time axis It is divided into a plurality of regions (for example, T1, T2, T3, etc.), and the area of each region is compared with the area of the corresponding region (T1, T2, T3, etc.) of the reference waveform data A, and whether or not it is within an allowable tolerance range. The method of judging the quality of the crimped state by the above, the method of judging the quality of the crimped state by checking whether the peak value and total area of the waveform data are within the allowable tolerance range by comparing with those of the reference waveform data, etc. is there.
上記のような許容公差を設定する方法として、先ず、正常な圧着状態における基準波形データを作成するためにティーチング加工を行う。例えば、正常状態の端子圧着処理を複数本行い、その際の圧力センサからの出力の時間的変化を解析処理し、その平均をとって基準波形データを求める。その後、その基準波形データに対する許容公差を操作画面より人手で入力する方法がある。 As a method of setting the allowable tolerance as described above, first, teaching processing is performed in order to create reference waveform data in a normal crimped state. For example, a plurality of terminal crimping processes in a normal state are performed, a temporal change in output from the pressure sensor at that time is analyzed, and the average is obtained to obtain reference waveform data. Thereafter, there is a method of manually inputting an allowable tolerance for the reference waveform data from an operation screen.
しかしながら、許容公差を人手により入力する方法によれば、入力に手間がかかると共に、入力ミスが発生するおそれもあるという問題がある。 However, according to the method of manually inputting the allowable tolerance, there is a problem that input is troublesome and an input error may occur.
また、予め許容公差のデフォルト値が入力されている場合であっても、端子形状や材質等の端子圧着条件により大きく変化するため、端子圧着条件に応じた適切な許容公差に調整する必要があり、この場合にも調整のための入力が必要とされ、その際、入力者はどの調整箇所にどの値を入力すればよいのか解りがたいため、時間がかかり、考え違いによる入力ミスが発生するおそれもある。 Even if the default value of allowable tolerance is entered in advance, it varies greatly depending on the terminal crimping conditions such as the terminal shape and material, so it is necessary to adjust to an appropriate tolerance according to the terminal crimping conditions. In this case as well, input for adjustment is required, and it is difficult for the input person to input which value should be input to which adjustment point, which takes time and may cause input mistakes due to misunderstandings. There is also.
そこで、実績データのある端子と被覆電線との組合せによる端子圧着条件の場合における端子圧着処理に際しては、パソコンの操作画面より、予め記憶されている端子と被覆電線との組合せによる端子圧着条件に対応する基準波形データと、それに対応する良否判定用の許容公差との組合せのデータの中から、その端子と被覆電線との組合せ条件に適合するデータを選択後、設定する方法がある。 Therefore, in the case of terminal crimping in the case of terminal crimping conditions using a combination of a terminal with a track record data and a covered wire, it corresponds to the terminal crimping condition based on the combination of the terminal and the covered wire stored in advance from the PC operation screen. There is a method of setting after selecting data suitable for the combination condition of the terminal and the covered electric wire from the data of the combination of the reference waveform data to be performed and the allowable tolerance for pass / fail judgment corresponding thereto.
その場合は、端子圧着処理に際しての圧力センサからの圧力値の変化が端子圧着不良検出装置に送られ、データ取得部でその検出データが解析されて検出波形データを生成し、、表示制御部を通じてパソコンの表示画面にその検出波形データに基づく検出波形が、基準波形データに基づく基準波形に重ねられた状態で表示されていく。 In that case, the change in the pressure value from the pressure sensor during the terminal crimping process is sent to the terminal crimping defect detection device, the detection data is analyzed by the data acquisition unit to generate detection waveform data, and the display control unit The detected waveform based on the detected waveform data is displayed on the display screen of the personal computer while being superimposed on the reference waveform based on the reference waveform data.
そして、比較部で、この検出波形データが基準波形データの許容公差の範囲内にあるかどうかが比較される。例えば図６に示されるように、比較部で、この検出波形データＢ（Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３）が時間軸に沿って分割された複数の領域（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３）において基準波形データＡの各許容公差Ｓ（Ｓ１ｕ−Ｓ１ｄ、Ｓ２ｕ−Ｓ２ｄ、Ｓ３ｕ−Ｓ３ｄ）の範囲内にあるかどうかが比較され、それぞれの領域（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３）において全て許容公差Ｓの範囲内であれば、判定部により良品である旨の判定がなされ、表示画面２６ａ上に良品である旨の表示をさせる共に、制御部２４に良品信号を出力する。
Then, the comparison unit compares whether or not the detected waveform data is within the allowable tolerance range of the reference waveform data. For example, as shown in FIG. 6, in the comparison unit, the detected waveform data B (
しかしながら、この場合もアプリケータ交換時にその取付け位置の僅かな違いや、クリンパの繰り返し使用による微妙な変形等の条件の変化で、圧着処理時に検出される検出波形が変化することがある。 However, even in this case, the detected waveform detected during the crimping process may change due to a slight difference in the mounting position when the applicator is replaced or a change in conditions such as subtle deformation due to repeated use of the crimper.
このような場合、その記録されているデータの基準波形は、実際の検出波形とその形状が異なるため、基準波形として利用できなくなる。 In such a case, the reference waveform of the recorded data cannot be used as the reference waveform because its shape is different from the actual detected waveform.
さらに、特許文献１に開示のように、許容公差をサンプリングしたデータから算出された標準偏差に基づいて自動的に設定する方法もある。
Furthermore, as disclosed in
しかしながら、この場合も前記同様、端子形状や材質等の端子圧着条件により大きく変化するため、許容公差の調整に際しても、調整箇所を特定しがたく、従ってどの値を調整すればよいのか解りがたく、時間がかかり、考え違いによる入力ミスが発生するおそれもある。 However, in this case as well, since it varies greatly depending on the terminal crimping conditions such as the terminal shape and material, it is difficult to specify the adjustment location when adjusting the tolerance, so it is difficult to determine which value should be adjusted. However, it takes time, and there is a possibility that an input error due to misunderstanding occurs.
そこで、本発明はこれらの問題点に鑑み、端子形状等の端子圧着条件に応じた適切な許容公差が自動的に容易に設定できる端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法を提供することを目的とする。 Therefore, in view of these problems, the present invention provides a method for creating a crimping failure determination data of a terminal crimping failure detection device capable of automatically and easily setting an appropriate tolerance according to a terminal crimping condition such as a terminal shape. With the goal.
上記課題を解決するための技術的手段は、端子圧着装置による端子圧着処理時の所定箇所で発生する圧力値の変化から生成された検出波形データに基づき、予め生成されている基準波形データの許容公差の範囲かどうかにより圧着処理の良否を判定する端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法において、対象となる端子圧着処理を行い、その際の前記圧力値の変化を示す新規基準波形データを生成するティーチング処理工程と、前記生成された新規基準波形データと予め記憶されている基準波形データ群とを比較し、基準波形データ群の中から新規基準波形データに最も近似する基準波形データを選び出す近似波形データ選出工程と、前記選び出された基準波形データの良否を判定する許容公差を、前記対象となる端子圧着処理における良否判定用の許容公差として設定する許容公差設定工程とを備える点にある。 The technical means for solving the above-described problem is that the reference waveform data generated in advance is allowed based on the detected waveform data generated from the change in the pressure value generated at a predetermined location during the terminal crimping process by the terminal crimping apparatus. New reference waveform data indicating a change in the pressure value at the time of subjecting the terminal crimping process in the crimping defect determination data creation method of the terminal crimping defect detection device that determines whether the crimping process is good or bad depending on the tolerance range Comparing the generated new reference waveform data with the previously stored reference waveform data group, and selecting the reference waveform data closest to the new reference waveform data from the reference waveform data group. Approximate waveform data selection step to be selected, and allowable tolerance for determining the quality of the selected reference waveform data, the target terminal crimping process In that it comprises a tolerance setting step of setting as an allowable tolerances for quality determination definitive.
また、前記許容公差設定工程で設定された許容公差の微調整が必要な場合に、手動入力により許容公差の調整箇所の修正を行う許容公差微調整工程をさらに備える方法としてもよい。 Moreover, when the fine adjustment of the allowable tolerance set in the allowable tolerance setting step is necessary, the method may further include an allowable tolerance fine adjustment step of correcting the adjustment portion of the allowable tolerance by manual input.
以上のように、本発明の端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法によれば、対象となる端子圧着処理を行い、その際の圧力値の変化を示す新規基準波形データを生成するティーチング処理工程と、前記生成された新規基準波形データと予め記憶されている基準波形データ群とを比較し、基準波形データ群の中から新規基準波形データに最も近似する基準波形データを選び出す近似波形データ選出工程と、前記選び出された基準波形データの良否を判定する許容公差を、前記対象となる端子圧着処理における良否判定用の許容公差として設定する許容公差設定工程とを備える方法であり、対象となる端子形状等の端子圧着条件に応じた適切な許容公差を自動的に容易に設定できる。従って、許容公差のための入力手間が省ける利点がある。 As described above, according to the crimping failure determination data creation method of the terminal crimping failure detection device of the present invention, teaching is performed to perform the target terminal crimping process and generate new reference waveform data indicating a change in pressure value at that time. Approximate waveform data that compares the processing step with the generated new reference waveform data and a pre-stored reference waveform data group and selects the reference waveform data that most closely approximates the new reference waveform data from the reference waveform data group A selection step and an allowable tolerance setting step for setting an allowable tolerance for determining pass / fail of the selected reference waveform data as an allowable tolerance for pass / fail determination in the target terminal crimping process. Appropriate tolerances can be automatically set easily according to the terminal crimping conditions such as the terminal shape. Therefore, there is an advantage that input labor for allowable tolerance can be saved.
また、許容公差設定工程で設定された許容公差の微調整が必要な場合に、手動入力により許容公差の調整箇所の修正を行う許容公差微調整工程をさらに備える方法とすれば、許容公差を微調整する場合であっても、ほぼ適切な値となっているため、調整箇所の特定が入力者にわかり易く、調整に時間がかからず、考え違いによる入力ミスも有効に防止できる。 In addition, if it is necessary to finely adjust the allowable tolerance set in the allowable tolerance setting process, if the method further includes a tolerance tolerance fine adjustment process that corrects the adjustment area of the tolerance tolerance by manual input, the tolerance tolerance is finely adjusted. Even in the case of adjustment, since the value is almost appropriate, it is easy for the input person to identify the adjustment location, and it does not take time for adjustment, and input mistakes due to misunderstanding can be effectively prevented.
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明すると、図１は全体概略構成を示し、２０は両端端子打機で、順次供給される被覆電線の下流側端末部における被覆部を所定長さ皮剥ぎし、その皮剥ぎされた被覆電線の端末部に所定形状の端子を圧着する。その後、所定長さに測長して切断すると共に、その切断された被覆電線の上流側端末部における被覆部を所定長さ皮剥ぎし、その皮剥ぎされた被覆電線の端末部に所定形状の端子を圧着して、両端末部に端子がそれぞれ圧着された所定長さの被覆電線を順次製造する構造とされており、その被覆電線における両端末部に端子を圧着するための端子圧着装置２１、２１がそれぞれ備えられた構造とされている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an overall schematic configuration, and 20 is a both-end terminal hitting machine, and a covering portion at a downstream end portion of a covering wire that is sequentially supplied has a predetermined length. The skin is peeled off, and a terminal having a predetermined shape is crimped to the end portion of the stripped covered electric wire. Then, while measuring and cutting to a predetermined length, the covering portion at the upstream end portion of the cut covered electric wire is peeled by a predetermined length, and the end portion of the peeled covered electric wire has a predetermined shape. A
そして、端子圧着装置２１、２１による端子圧着処理時の所定箇所で発生する圧力値を検出すべく、例えば、図４に示される従来構造と同様、端子圧着不良検出装置２２の装置本体２２ａに配線２３接続された圧力センサ（例えばピエゾセンサ）が端子圧着装置２１、２１におけるベース板の下側にそれぞれ配置された構造とされている。なお、圧力センサの配置位置はこれに何ら限定されない。
Then, in order to detect the pressure value generated at a predetermined location during the terminal crimping process by the
また、端子圧着不良検出装置２２は、圧力センサで検出された圧力値の出力に基づき波形データを生成する基準波形生成部、圧力センサで検出された圧力値のデータを取得するデータ取得部、ＲＯＭやＲＡＭ等のメモリ、許容公差の設定や調整を行う許容公差設定部、検出波形データが基準波形データの許容公差の範囲内かどうかを比較する比較部、比較部の比較結果に基づいて良否の判定を行う判定部、表示装置の表示を制御する表示制御部等を備え、このような端子圧着不良検出装置２２としては、例えば、クリンプフォースモニタがある。
The terminal crimping
前記両端端子打機２０を駆動制御する制御部２４に、端子圧着不良検出装置２２が入出力ケーブル２５を介して接続されると共に、操作部としてのパーソナルコンピュータ（いわゆるパソコン）２６がデータ通信ケーブル２７を介して接続されている。さらに、装置本体２２ａとパソコン２６とがＬＡＮケーブル２８を介してＬＡＮ接続されている。
A terminal crimping
そして、パソコン２６の表示画面２６ａに、端子打機２０の操作画面や端子圧着不良検出装置２２の操作画面や波形モニター画面等を表示する構成とされている。
The operation screen of the
また、端子圧着不良検出装置２２の記憶装置としての内部メモリもしくは外部メモリとしてのパソコン２６のハードディスクには、図２に示されるように、各種形状・各種材質の端子と各種径・各種材質の被覆電線との組合せによる各種の端子圧着条件により得られた実績データとしての複数の基準波形データＡ（１）、Ａ（２）…Ａ（ｎ）と、それに対応する良否判定用の許容公差Ｓ（１）、Ｓ（２）…Ｓ（ｎ）との組合せのデータが予め記憶されている。
Further, as shown in FIG. 2, the internal memory as a storage device of the terminal crimping
そして、本実施形態にかかる圧着不良判定用データの作成方法を、図３に示すフローチャートに基づき説明すると、先ず、対象となる新規な端子圧着条件に対応する新規の基準波形データＳ（ｎ＋１）を作成する必要があるかどうかが判断され（ステップ１）、作成する必要があれば、パソコン２６の操作部から作成開始のティーチングキー操作がなされたかどうかが判断される（ステップ２）。 The method for creating the crimping failure determination data according to the present embodiment will be described based on the flowchart shown in FIG. 3. First, new reference waveform data S (n + 1) corresponding to the target new terminal crimping condition is obtained. It is determined whether or not it is necessary to create (step 1). If it is necessary to create, it is determined whether or not the teaching key operation for starting creation has been performed from the operation unit of the personal computer 26 (step 2).
そして、ティーチングキー操作がなされると、その操作信号が両端端子打機２０と端子圧着不良検出装置２２に供給され、両端端子打機２０はティーチング加工モードとなり（ステップ３）、端子圧着不良検出装置２２は基準波形生成モードとなる。
When the teaching key is operated, the operation signal is supplied to the both-end
次に、スタートキー操作がなされると（ステップ４）、ティーチング加工が開始される（ステップ５）。そして、各端子圧着装置２１、２１により端子が被覆電線に圧着処理される際の圧力センサからの圧力値の出力変化を取り込み、データ取得部で検出波形データを作成し、メモリに格納する（ステップ６）。
Next, when a start key operation is performed (step 4), teaching processing is started (step 5). Then, the output change of the pressure value from the pressure sensor when the terminal is crimped to the covered wire by each terminal crimping
その後、この作成された検出波形データが所定数Ｎ（例えば４）に達したかどうかが判断され（ステップ７）、所定数Ｎに達していなければ、ステップ５に戻り、所定数Ｎに達するまでティーチング加工に基づく端子圧着処理が繰り返される。 Thereafter, it is determined whether or not the generated detected waveform data has reached a predetermined number N (for example, 4) (step 7). If the predetermined number N has not been reached, the process returns to step 5 until the predetermined number N is reached. The terminal crimping process based on teaching is repeated.
そして、検出波形データの数が所定数Ｎに達すれば、基準波形生成部は、Ｎ回分の検出波形データのそれぞれのデータ位置における平均を取って新規の基準波形データＡ（ｎ＋１）を生成し、メモリの所定位置に格納する（ステップ８）（ティーチング処理工程）。なお、この新規基準波形データＡ（ｎ＋１）の生成に際し、他の検出波形データと著しく異なる検出波形データはエラーとして排除する。 When the number of detected waveform data reaches a predetermined number N, the reference waveform generation unit generates an average of the N detected waveform data at each data position and generates new reference waveform data A (n + 1). Store in a predetermined position of the memory (step 8) (teaching process). Note that when the new reference waveform data A (n + 1) is generated, detected waveform data that is significantly different from other detected waveform data is excluded as an error.
次に、この新規基準波形データＡ（ｎ＋１）とメモリに予め記憶されている基準波形データＡ（１）、Ａ（２）…Ａ（ｎ）群とを比較し、基準波形データＡ（１）、Ａ（２）…Ａ（ｎ）群の中から新規基準波形データＡ（ｎ＋１）に最も近似する基準波形データ、例えば基準波形データＡ（３）を選び出す（ステップ９）（近似波形データ選出工程）。 Next, the new reference waveform data A (n + 1) is compared with the reference waveform data A (1), A (2)... A (n) group stored in advance in the memory, and the reference waveform data A (1). , A (2)... A (n) group, the reference waveform data closest to the new reference waveform data A (n + 1), for example, reference waveform data A (3) is selected (step 9) (approximate waveform data selection step). ).
例えば、複数の近似する基準波形データがある場合は、予め設定された各ポイントでの差異を分析して、最も差異が小さいもので且つ、各ポイントで予め設定された上限、下限を超えないものを選択する。 For example, when there are multiple approximate reference waveform data, the difference at each preset point is analyzed, the difference is the smallest, and the preset upper and lower limits are not exceeded at each point Select.
その後、選び出された基準波形データＡ（３）における良否を判定するための許容公差Ｓ（３）を、今回の対象となる新規の端子圧着条件の端子圧着処理における良否判定用の許容公差Ｓ（ｎ＋１）＝許容公差Ｓ（３）として設定する（ステップ１０）（許容公差設定工程）。 After that, the allowable tolerance S (3) for determining pass / fail in the selected reference waveform data A (3) is used as the allowable tolerance S for determining pass / fail in the terminal crimping process under the new terminal crimping condition that is the current target. (N + 1) = allowable tolerance S (3) is set (step 10) (allowable tolerance setting step).
そしてその後、両端端子打機２０により端子圧着処理が開始され、誤判定が生じないかどうかにより、許容公差Ｓ（３）の微調整が必要かどうかが判断され（ステップ１１）、誤判定がなければ、ティーチング加工モードが解除され、通常の端子圧着処理モードの戻される（ステップ１２）。
After that, the terminal crimping process is started by the both-end
また、誤判定があれば、誤判定が生じた部分における許容公差Ｓ（例えば、図６におけるＳ１ｕ−Ｓ１ｄ、Ｓ２ｕ−Ｓ２ｄ、あるいはＳ３ｕ−Ｓ３ｄ）の調整必要箇所をパソコン２６に対する手動入力により微調整して修正し（ステップ１３）（許容公差微調整工程）、ステップ１１に戻る。そして、誤判定が生じない状態になれば、ティーチング加工モードが解除され（ステップ１２）、一連の圧着不良判定用のデータ作成が終了する。
Further, if there is an erroneous determination, a fine adjustment is made by manually inputting to the
そしてその後、この状態で端子の圧着処理が開始されると、新規基準波形データＡ（ｎ＋１）とそれに対応する許容公差Ｓ（ｎ＋１）、即ち許容公差Ｓ（３）もしくは微調整された許容公差Ｓ（ｎ＋１）を基準に、端子が圧着処理された被覆電線における圧着処理の良否が判断され、良品であるか不良品であるか識別されていく。 Thereafter, when the terminal crimping process is started in this state, the new reference waveform data A (n + 1) and the corresponding tolerance S (n + 1), that is, the tolerance S (3) or the finely adjusted tolerance S Based on (n + 1), the quality of the crimping process on the covered electric wire with the terminals crimped is judged, and it is identified whether it is a non-defective product or a defective product.
本実施形態の端子圧着不良検出装置２２における圧着不良判定データ作成方法によれば、対象となる端子と被覆電線との組合せによる新規の端子圧着処理を行って新規基準波形データＡ（ｎ＋１）を生成し、実績データとして予めメモリに記憶されている各種の端子圧着処理条件により生成されている基準波形データＡ（１）…Ａ（ｎ）群の中から最も近似する基準波形データＡ（３）を選び出し、その選び出された基準波形データＡ（３）の良否を判定する許容公差Ｓ（３）を、今回の対象となる端子圧着処理における良否判定用の許容公差Ｓ（３）として設定する方法であり、ここに、対象となる端子形状等の端子圧着条件に応じた適切な許容公差Ｓ（３）を自動的に容易に設定できる利点がある。
According to the crimping failure determination data creation method in the terminal crimping
即ち、許容公差Ｓ（３）がソフト的に設定されるため、従来のように操作画面から人手で入力する必要がなく、入力ミスや手間がかからない利点がある。 That is, since the allowable tolerance S (3) is set by software, there is an advantage that it is not necessary to input manually from the operation screen as in the prior art, and input errors and labor are not required.
また、端子圧着処理により誤判定が生じた際に、許容公差Ｓ（３）を微調整する必要がある場合であっても、ほぼ適切な値となっているため、調整箇所の特定、例えば、図６に示されるような場合においては、どの対応領域（Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３）における許容公差Ｓを微調整すればよいのかが入力者にわかり易く、従って微調整に時間がかからず、考え違いによる入力ミスも有効に防止できるという利点がある。 In addition, even when it is necessary to finely adjust the allowable tolerance S (3) when an erroneous determination occurs due to the terminal crimping process, the adjustment point is specified, for example, for example, In the case shown in FIG. 6, it is easy for the input person to easily adjust the allowable tolerance S in which corresponding region (T1, T2, T3), so that the fine adjustment does not take time, and it is due to misunderstanding. There is an advantage that input mistakes can be effectively prevented.
さらに、本圧着不良判定データー作成方法によれば、アプリケータ交換時にその取付け位置の僅かな違いや、クリンパの繰り返し使用による微妙な変形等の条件の変化があった場合であっても、それらの変化を取り込んだ状態で、基準波形データや良否判定用の許容公差が設定されるため、何ら支障なく対応できるという利点がある。 In addition, according to the method for preparing the data for determining defective crimping, even when the applicator is changed, even if there is a slight difference in the mounting position, or if there is a change in conditions such as subtle deformation due to repeated use of the crimper, Since the reference waveform data and acceptable tolerance for pass / fail judgment are set in a state in which the change is taken in, there is an advantage that it can be handled without any trouble.
なお、良否判定のための許容公差は、基準波形データを基準に上下方向に所定値シフトして得られる許容値の範囲によるものであってもよく、また、基準波形データを時間軸に沿って複数の領域に分割し、各領域の面積を比較する場合の許容値の範囲であってもよく、さらには、波形データのピーク値や総面積を基準波形データのものと比較する場合の許容値の範囲であってもよく、何ら限定されない。 The allowable tolerance for pass / fail judgment may be based on a range of allowable values obtained by shifting a predetermined value in the vertical direction with reference to the reference waveform data, and the reference waveform data along the time axis. It may be the range of allowable values when dividing into multiple regions and comparing the area of each region, and further, the allowable value when comparing the peak value and total area of the waveform data with those of the reference waveform data It may be the range of and is not limited at all.
また、１台のパソコン２６を両端端子打機２０と端子圧着不良検出装置２２に共用した構造を示しているが、操作部や表示部等としてのパソコン２６をそれぞれ別個に備える構造であってもよい。
In addition, although a structure in which one
さらに、端子圧着不良検出装置２２の装置本体２２ａがパソコン２６内に含まれる構成であってもよい。
Further, the device
２０ 両端端子打機
２１ 端子圧着装置
２２ 端子圧着不良検出装置
２４ 制御部
２６ パソコン
20 Both-ends
Claims (2)
対象となる端子圧着処理を行い、その際の前記圧力値の変化を示す新規基準波形データを生成するティーチング処理工程と、
前記生成された新規基準波形データと予め記憶されている基準波形データ群とを比較し、基準波形データ群の中から新規基準波形データに最も近似する基準波形データを選び出す近似波形データ選出工程と、
前記選び出された基準波形データの良否を判定する許容公差を、前記対象となる端子圧着処理における良否判定用の許容公差として設定する許容公差設定工程とを備えることを特徴とする端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データー作成方法。 Based on the detected waveform data generated from the change in the pressure value generated at the specified location during the terminal crimping process by the terminal crimping device, the quality of the crimping process is judged based on the tolerance range of the pre-generated reference waveform data In the method for preparing the crimping defect determination data of the terminal crimping defect detecting device,
A teaching processing step of performing target terminal crimping processing and generating new reference waveform data indicating a change in the pressure value at that time,
Comparing the generated new reference waveform data with a pre-stored reference waveform data group, and selecting an approximate waveform data selection step for selecting the reference waveform data that most closely approximates the new reference waveform data from the reference waveform data group;
A terminal crimping defect detection comprising: an allowable tolerance setting step of setting an allowable tolerance for determining pass / fail of the selected reference waveform data as an acceptable tolerance for pass / fail determination in the target terminal crimping process. Method for creating data for judging defective bonding of equipment.
前記許容公差設定工程で設定された許容公差の微調整が必要な場合に、手動入力により許容公差の調整箇所の修正を行う許容公差微調整工程をさらに備えることを特徴とする端子圧着不良検出装置の圧着不良判定データ作成方法。
In the method of creating a crimping failure determination data of the terminal crimping failure detection device according to claim 1,
A terminal crimping defect detection device further comprising a tolerance tolerance fine adjustment step of correcting a tolerance tolerance adjustment portion by manual input when fine adjustment of the tolerance tolerance set in the tolerance tolerance setting step is necessary. Of making defective bonding judgment data.
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| WO2016174933A1 (en) * | 2015-04-30 | 2016-11-03 | コマツ産機株式会社 | Press system and control method for press system |
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2005
- 2005-08-23 JP JP2005240666A patent/JP2007059110A/en active Pending
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