JP2007053659A - 計測用撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 撮像センサ2の構成画素がマスクされてなる光学的遮光領域としてのOB部25(遮光部)と、OB部25の画素出力情報に基づき作成されたスミア補正時のリファレンスデータとして用いるスミアリファレンスと、OB部25における欠陥画素情報及び各構成画素の暗時出力特性情報とを記憶する画像メモリ9と、画像メモリ9に記憶されている欠陥画素情報及び暗時出力特性情報に基づいて、欠陥画素及び暗時出力特性によるスミアリファレンスに対する影響を該スミアリファレンスから除外するスミアリファレンス補正を行う画像処理部5とを備える。
【選択図】 図1
Description
この場合、垂直転送部22(垂直CCD;ここではVCCDと表現する)の遮光膜223を透過した光線224がVCCD内で光電変換されることで電荷が発生する。これは、遮光膜223は金属からなると言えどもその厚みが薄いため(Al薄膜であるため)、強い光は透過してしまうことによる。なお、VCCDも光電変換素子の一種であるため、光が当たると光電変換されて電荷が発生する。なお、この(1)の場合がスミア発生の最大要因となる。
(2):転送部遮光膜の縁部からの回り込み光による発生電荷
この場合、VCCDの遮光膜223の外側から斜めに入射した光線225が、VCCDに到達してVCCD内で光電変換されることで電荷が発生する。
(3):正規の光電変換領域のPD部以外の場所、例えば符号2261に示すエネルギー的な量子移動の障壁部(不感領域)での発生電荷
この場合、光線226の入射角度にも依るが、ハイライト照射部において、VCCDの遮光膜223の外側に位置する量子井戸外での発生電荷が多くなり、この発生電荷(不正電荷)がVCCDに迷い込むことで生じる。
(A)2B=(2A+2C)/2
(B)2B=(1B+2A+2C+3B)/4
(C)2B=(1A+1B+1C+2A+2C+3A+3B+3C)/8
(A)上記実施形態においては、撮影画像に対するスミアリファレンス補正処理やスミア補正処理を、計測用撮像装置1内(画像処理部5や制御部6)で行う構成としているが、これに限らず、計測用撮像装置1外の所定の処理部において実行する構成としてもよい。具体的には、OB部25の画像データを含めた全撮影画像データを撮像センサ2から読み出した後、この画像データを画像メモリ9にバッファせずに、外部インタフェース部10を経由して外部装置100(図1参照)へ転送し、この外部装置100において例えば所定のソフトウェアを用いて演算処理することで上記実施形態と同様の各種補正処理を行う構成としてもよい。
2 撮像センサ
5 画像処理部
9 画像メモリ(記憶部)
91 フレームメモリ
92 リファレンス用メモリ
93 補正データ用メモリ
22 垂直転送部(垂直転送CCD部)
223、227 遮光膜
25 OB部(遮光部)
26 撮像有効領域
311 OBライン出力
321 スミア成分
332 バラツキ特性(バラツキ)
333、334 欠陥画素出力(欠陥画素情報)
Claims (5)
- CCDを用いて所定の計測対象を撮影する撮像センサを備え、該撮像センサによる撮影画像に発生したスミアの補正が可能に構成された計測用撮像装置であって、
前記撮像センサの構成画素がマスクされてなる光学的遮光領域としての遮光部と、
前記遮光部の画素出力情報に基づき作成されたスミア補正時のリファレンスデータとして用いるスミアリファレンスと、前記遮光部における欠陥画素情報及び各構成画素の暗時出力特性情報とを記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶されている欠陥画素情報及び暗時出力特性情報に基づいて、欠陥画素及び暗時出力特性による前記スミアリファレンスに対する影響を該スミアリファレンスから除外するスミアリファレンス補正を行う画像処理部とを備えることを特徴とする計測用撮像装置。 - 前記画像処理部は、前記スミアリファレンス補正として、前記スミアリファレンスにおける前記暗時出力特性のバラツキを補正することを特徴とする請求項1記載の計測用撮像装置。
- 前記欠陥画素情報は、欠陥画素のアドレス情報を含んだものであって、
前記画像処理部は、前記欠陥画素のアドレス情報を基に、欠陥画素の画素値を該欠陥画素の周辺画素の画素値を用いて補間することにより前記欠陥画素による影響をスミアリファレンスから除外するスミアリファレンス補正を行うことを特徴とする請求項1又は2記載の計測用撮像装置。 - 前記遮光部は、撮像センサにおける垂直転送CCD部と垂直な所定数の画素ラインからなり、
前記画像処理部は、スミアリファレンスとしての前記画素ラインの出力データに対する前記暗時出力特性のバラツキを減算する処理及び欠陥画素の画素値を補間する処理によって前記スミアリファレンス補正を行い、該スミアリファレンス補正によって得られた画素ラインの出力データを、撮像センサの撮像有効領域における前記画素ラインと平行な各有効画素ラインの出力データから減算することで撮影画像に対するスミア補正を行うことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の計測用撮像装置。 - 前記計測用撮像装置は、2次元の色彩及び輝度を測定する2次元色彩輝度計であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の計測用撮像装置。
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2005
- 2005-08-19 JP JP2005238534A patent/JP2007053659A/ja active Pending
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