JP2007017163A - 粒状製品の評価方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】粒状製品を撮像して得られる濃淡画像を所定の閾値により二値化し、抽出した粒領域にラベリング処理を行い、各粒領域の面積を求め、予め設定した第1の面積閾値に満たない面積をもつ粒領域をノイズとして評価対象から除外し、第1の面積閾値以上で第2の面積閾値未満の面積をもつ粒領域を正常粒領域として抽出し、その数および正常粒領域の面積の総和を求め、第2の面積閾値以上の面積をもつ粒領域を異常粒領域として抽出し、その数および異常粒領域の面積の総和を求め、正常粒数、正常粒総面積、異常粒数および異常粒総面積について基準値と比較し、正常粒数または正常粒総面積が基準値に満たない場合、あるいは異常粒数異常粒総面積が基準値を超える場合に当該粒状製品の品質が不均一であると判定する。
【選択図】図1
Description
ステップs2(二値化)では、入力された濃淡画像に対して所定の閾値を用いて二値化処理を行う。例えば、閾値未満の濃度値をもつ画素を暗(濃度値=0)、閾値以上の濃度値をもつ画素を明(濃度値=1)とする。本実施形態では暗領域が粒領域である。ここで用いる閾値としては、予め固定値を入力してもよいし、各種の閾値決定アルゴリズムを用いて動的に決定してもよい。
ステップs4(面積算出)では、ラベリングした各粒領域の画素数から面積を求める。
ステップs5(ノイズ除去)では、粒領域面積が予め設定した第1の面積閾値に満たない領域をノイズと判断して以後の処理対象から除外する。
ステップs7(正常粒総面積算出)では、ステップs6で抽出された正常粒領域の総面積を算出する。
ステップs8(異常粒数カウント)では、領域面積が第2の面積閾値以上であるラベルを異常粒領域として抽出し、その数をカウントする。
ステップs9(異常粒総面積算出)では、ステップs8で抽出された異常粒領域の総面積を算出する。
以上の処理を連続して実行した後、ステップs11のエンド状態に移行し、待機状態を維持し、予め設定した計測間隔(単位:ミリ秒)に基づいて次回の計測時刻に達した時点でステップs0へ移行する。
正常粒数カウント工程では、全粒領域のうち上記の第1の面積閾値以上で第2の面積閾値未満の面積をもつ粒領域を正常粒領域として抽出しその数をカウントする。正常粒総面積算出工程では、正常粒領域の面積の総和を求める。
異常粒数カウント工程では、上記第2の面積閾値以上の面積をもつ粒領域を異常粒領域として抽出しその数をカウントする。異常粒総面積算出工程では、異常粒領域の面積の総和を求める。
図4の例は、全ての項目について正常と判定される例であり、図5〜図8の例は、いずれかの項目を満たさないため、不均一であると判定された例である。図5は正常粒数が65個であり、表1に示した正常粒数基準値70個に満たない。図6は正常粒数は72個であり基準値の70個を満たしているが、個々の粒の面積が全体的に小さいため正常粒総面積の値が3493画素となっており、正常粒総面積の基準値5000画素を満たしていない。図7はいくつかの粒が連結したような異常粒がいくつか見られ、異常粒数が7個となっており、異常粒数の基準値5個を超えている。図8は非常に多数の粒が連結したような領域が1箇所見られる。このため、異常粒数は1個であり基準値5個を超えてはいないが、異常粒総面積が8717画素となっており、異常粒総面積の基準値3500画素を超えている。また同時に正常粒数がこれに対応して減少している。
2 粒状製品
3 カメラ
4 画像解析装置
Claims (1)
- 概ね一定の大きさの粒状製品が概ね等間隔に配置されている粒状製品の大きさの均一性を評価する方法であって、
(1)粒状製品を撮像して濃淡画像を生成する撮像工程と、
(2)濃淡画像を所定の閾値により二値化する二値化工程と、
(3)二値化処理によって抽出された粒領域にラベリング処理を行うラベリング工程と、
(4)ラベリングされた各粒領域の面積を求める面積算出工程と、
(5)予め設定した第1の面積閾値に満たない面積をもつ粒領域をノイズとして評価対象から除外するノイズ除去工程と、
(6)第1の面積閾値以上で第2の面積閾値未満の面積をもつ粒領域を正常粒領域として抽出し、その数をカウントする正常粒数カウント工程と、
(7)正常粒領域の面積の総和を求める正常粒総面積算出工程と、
(8)第2の面積閾値以上の面積をもつ粒領域を異常粒領域として抽出し、その数をカウントする異常粒数カウント工程と、
(9)異常粒領域の面積の総和を求める異常粒総面積算出工程と、
(10)正常粒数、正常粒総面積、異常粒数および異常粒総面積のそれぞれについて予め設定した基準値と比較し、正常粒数が基準値に満たない場合、正常粒総面積が基準値に満たない場合、異常粒数が基準値を超える場合または異常粒総面積が基準値を超える場合に、当該粒状製品の大きさが不均一であると判定する均一性評価工程と、を備えることを特徴とする粒状製品の均一性の評価方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005195827A JP2007017163A (ja) | 2005-07-05 | 2005-07-05 | 粒状製品の評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005195827A JP2007017163A (ja) | 2005-07-05 | 2005-07-05 | 粒状製品の評価方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007017163A true JP2007017163A (ja) | 2007-01-25 |
Family
ID=37754465
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005195827A Pending JP2007017163A (ja) | 2005-07-05 | 2005-07-05 | 粒状製品の評価方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2007017163A (ja) |
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RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
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