JP2006520906A - 流体解析の制御用特定用途向け集積回路 - Google Patents
流体解析の制御用特定用途向け集積回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006520906A JP2006520906A JP2006507406A JP2006507406A JP2006520906A JP 2006520906 A JP2006520906 A JP 2006520906A JP 2006507406 A JP2006507406 A JP 2006507406A JP 2006507406 A JP2006507406 A JP 2006507406A JP 2006520906 A JP2006520906 A JP 2006520906A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- under test
- signal
- fluid
- fluid under
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000012530 fluid Substances 0.000 title claims abstract description 411
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 213
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 71
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 67
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 47
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 104
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 39
- 239000003921 oil Substances 0.000 claims description 33
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 32
- 239000010705 motor oil Substances 0.000 claims description 22
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 10
- 238000005553 drilling Methods 0.000 claims description 8
- 239000003292 glue Substances 0.000 claims description 7
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 26
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 17
- 230000006870 function Effects 0.000 description 12
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 10
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 7
- -1 oxides Substances 0.000 description 7
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 239000013500 performance material Substances 0.000 description 4
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N tetrachloromethane Chemical compound ClC(Cl)(Cl)Cl VZGDMQKNWNREIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NOOLISFMXDJSKH-UHFFFAOYSA-N DL-menthol Natural products CC(C)C1CCC(C)CC1O NOOLISFMXDJSKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002528 anti-freeze Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- ORCSMBGZHYTXOV-UHFFFAOYSA-N bismuth;germanium;dodecahydrate Chemical compound O.O.O.O.O.O.O.O.O.O.O.O.[Ge].[Ge].[Ge].[Bi].[Bi].[Bi].[Bi] ORCSMBGZHYTXOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- PSHMSSXLYVAENJ-UHFFFAOYSA-N dilithium;[oxido(oxoboranyloxy)boranyl]oxy-oxoboranyloxyborinate Chemical compound [Li+].[Li+].O=BOB([O-])OB([O-])OB=O PSHMSSXLYVAENJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004401 flow injection analysis Methods 0.000 description 1
- 239000004811 fluoropolymer Substances 0.000 description 1
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229920001903 high density polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004700 high-density polyethylene Substances 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004811 liquid chromatography Methods 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000314 lubricant Substances 0.000 description 1
- 239000010687 lubricating oil Substances 0.000 description 1
- 238000005461 lubrication Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229940041616 menthol Drugs 0.000 description 1
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000003607 modifier Substances 0.000 description 1
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003129 oil well Substances 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000011435 rock Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/26—Oils; Viscous liquids; Paints; Inks
- G01N33/28—Oils, i.e. hydrocarbon liquids
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/042—Wave modes
- G01N2291/0427—Flexural waves, plate waves, e.g. Lamb waves, tuning fork, cantilever
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
被試験流体の特性を決定するための回路は、センサ及びホスト電子装置とインターフェースを取るためのアナログディジタル処理回路を含む。アナログディジタル処理回路は、センサに刺激を供給し、センサから応答信号を受け取るための周波数発生器を含む。応答信号中のアナログ信号のオフセットを低減するための調整回路、及び応答信号の振幅データを同定するための信号検出回路が設けられている。更に、検出された振幅データをディジタル形式に変換するためのアナログディジタル変換回路がある。校正データ及び被試験流体の近似流体特性を保持するために、メモリを回路中に有する。応答信号のディジタル形式を校正データ及び近似流体の特性とともに処理して、実際の被試験流体の流体特性を生成する。
Description
[0001]本発明は、一般に、流体センサに関し、より詳しくは、流体センサの制御及び監視により流体についての特徴データを生成することができるよう、流体センサと結びつけるための特殊回路に関する。
[0002]流体解析の技術では、流体の特性を決定するためのいつくかの技法が存在する。自動車、エンジンその他の機械で使用される流体の場合、多くの流体解析実験もあった。例えば、機械は通常、特定の流体を必要とし、そのいくつかは、機械の構成要素を潤滑するために使用される。周知のように、そのような流体の１つはエンジンオイルであり、これを用いない場合には連続的な摩擦運動により損傷を受けるはずの重要な構成要素を潤滑するために使用される。
[0003]適時に特定のポイントで流体の状態を知るために、センサが、その流体の特性を定量化すべく使用されてきている。そのようなセンサには、共振水晶振動子センサの使用が含まれている。エンジンオイルなどの流体解析では、水晶振動子式センサの研究は、多くの異なる達成方法を取り入れてきた。センサは、あらゆるタイプの形状、サイズ、構造、動作周波数などがある。検知するための目標となる特性に応じて、センサは、特定の幾何的設計で形作られ、又は化学的層で被覆され、あるいはアレイ状に配置される。従来の検知技術は広範な形態を採っているが、流体検知デバイスは、主として実験室の設定下で試験されてきた。そのような設定下では、センサを実験室装置に接続し、必要な振動を与えてセンサから出力を検出することができる。センサからの出力は、オペレータが解析し、又は他のコンピュータプログラムによって処理させることができ、ユーザに、センサが適切なデータを検出したかどうかを判定させることができる。適切なデータが生成されている場合、データを更に解釈して流体の特性を確定することができる。
[0004]理解されるように、このプロセスは、コンピュータの助けを受けるが、煩わしく多大の時間を要する。したがって、従来の検知技術は、いくつかの流体特性の検知が可能であるが、オンザフライ又はリアルタイムの現場での測定、解析及びフィードバックが必要な工業的環境下では、不十分である恐れがある。そのような工業用途としては、例えばオイル検知用途がある。上述したように、そのオイル検知用途は、例えばエンジンオイル検知、石油掘削装置センサ、及び他の、流体特性を監視し解析する必要がある用途を含み得るものである。
[0005]前述の観点から、流体を解析するための改良された検知方法及びシステムが、当該技術分野において依然必要である。特に、制御、検知データの受信、及び、その検知データの処理により、検知される流体についての特徴データを迅速にもたらすことができるよう、センサと結びつけるための特殊回路が必要とされている。
[0006]概して述べるならば、車両などの機械の潤滑に使用される流体の品質パラメータ及び量を監視するためのシステム及び方法を提供するものである。本発明の一態様では、既知の機械用流体の特性を決定するための、より具体的には、潤滑油、例えばエンジンオイルの状態を監視するためのシステム及び方法が提供される。本発明では、センサと流体が監視される機械の間の通信インターフェースが画定される。一実施形態では、通信インターフェースは、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）によって画定される。ＡＳＩＣには、概して述べるならば、センサと通信して、センサの動作を開始させ、センサ出力を受け取り、そのセンサ出力を処理し、センサ出力をユーザインターフェースに通信して提示するための回路が組み込まれている。
[0007]一実施形態では、流体の特性を検知するためのシステムが、開示される。そのシステムは、被試験流体中に少なくとも部分的に浸漬された音叉と、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）とを含む。ＡＳＩＣは、音叉を励振させ、音叉から応答信号を受け取るためのアナログＩ／Ｏ回路を含む。応答信号中のアナログ信号のオフセットを低減するための調整回路と、応答信号の位相及び振幅データを同定するための信号検出回路とが、更にＡＳＩＣの一部として設けられる。ＡＳＩＣは、検出された位相及び振幅データをディジタル形式に変換するためのアナログディジタル変換回路を更に含む。校正データ及び被試験流体の近似された流体特性を保持するためのメモリが、ＡＳＩＣ中に集積化され、ＡＳＩＣで応答信号のディジタル形式が、校正データ及び近似流体特性と関連して処理され、それによって被試験流体の流体特性を生成する。
[0008]他の実施形態では、被試験流体の特性を決定するための回路が設けられる。この回路は、センサ及びホスト電子装置とインターフェースするためのアナログディジタル処理回路を含む。アナログディジタル処理回路は、センサを励振させセンサからの応答信号を受け取るための周波数発生器を含む。応答信号中のアナログ信号のオフセットを低減するための調整回路と、応答信号の位相及び振幅データを同定するための信号検出回路とを設ける。更に、検出された位相及び振幅データをディジタル形式に変換するためのアナログディジタル変換回路が設けられる。校正データ及び被試験流体の近似流体特性を保持するためのメモリをこの回路中に含む。応答信号のディジタル形式は、校正データ及び近似流体特性と関連して処理され、それによって実際の被試験流体の流体特性が、生成される。
[0009]他の実施形態では、機械式センサとインターフェースして、被試験流体の特性を得るための方法が、開示される。この機械式センサは、被試験流体中に少なくともその一部分が浸漬される。この方法は、可変周波数信号をセンサに印加するステップと、センサから周波数の応答を受け取るステップとを含む。周波数の応答は、調整され、周波数の応答の成分が検出される。この方法は、センサから受け取った周波数の応答を表すディジタル形式に、周波数応答を変換するステップを更に含む。次いで、メモリから第１の校正変数が、フェッチされる。本明細書で使用するように、用語「フェッチ」は、メモリ装置からデータを取得するために使用されるどのような方法又は技法も、含むと理解すべきである。メモリの特定の種類に応じて、アドレッシングは、対象の特定の記憶されたデータへのアクセスが可能になるように、適応するようにされる。第１の校正変数は、センサの物理的特性を定義する。第２の校正変数は、メモリからフェッチされる。第２の校正変数は、既知流体中のセンサの特性を定義する。次いで、センサが被試験流体中にあるとき、ディジタル形式を処理する。この処理において、フェッチされた第１及び第２の校正変数を使用してフィッティングアルゴリズムを実行し、被試験流体の特性を生成する。
[0010]他の実施形態では、音叉とインターフェースして、被試験流体の特性を得るための方法が、開示される。音叉は、被試験流体中に少なくともその一部分が浸漬されるように構成される。この方法は、可変周波数信号を音叉に印加するステップと、音叉から周波数の応答を受け取るステップとを含む。この方法は、周波数の応答を調整するステップと、周波数の応答の信号成分を検出するステップと、周波数の応答をディジタル形式に変換するステップとを更に含む。このディジタル形式は、音叉から受け取った周波数の応答を表す。次いで、この方法は、音叉についての校正変数をフェッチし、被試験流体中にあるとき音叉から受け取った応答のディジタル形式を処理する。この処理は、フェッチされた校正変数とともに実施され、フィッティングアルゴリズムを実行して被試験流体の流体特性を生成する。
[0011]他の実施形態では、被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための特定用途向け回路（ＡＳＩＣ）が、開示される。このＡＳＩＣは、１００ｋＨｚより低い周波数で動作するように設計された音叉と通信する。ＡＳＩＣは、周波数信号を音叉に送信するための回路と、音叉から受け取った応答信号を処理してディジタル形式にするための回路と、音叉についての校正データを格納するための回路と、フィッティングアルゴリズムを実行（この実行は、校正データを使用する）して被試験流体の特性を確定するための回路と、外部にあるＡＳＩＣ回路をＡＳＩＣにインターフェースさせるための回路とを含む。
[0012]要約すると、本発明によれば、機械式共振器センサと、流体の量、状況、又はその両方を監視するために使用されるＡＳＩＣとを含む、検知システムが提供される。検知システムは、機械式共振器センサを励磁するための入力信号発生器と、流体監視中、流体が存在する中での入力信号に対する共振器の応答に対応する出力信号を得るためのＡＳＩＣとを含むように構成される。検知システムは、更に、出力信号を受け取り、それに応答し調整して、信号を形成し、その調整された信号をマイクロプロセッサ装置に送信するための少なくとも１つの信号モディファイアを有した信号調整器を含むように（例えば、ＡＳＩＣの一部として、又はそれとは別に）、構成することができる。信号発生器、レシーバ及び信号調整器の機能は、より少ない構成要素中に集積化し、追加の構成要素間に分割し、又は複数の基板間に分けることができるが、好ましい実施形態では、これらの機能は、共通の基板上のアセンブリ、すなわち共通の集積回路によって、すべて実施される。
[0013]したがって、上記から理解できるように、本発明は、油受け、流路及び循環システム中に、機械式共振器を含むセンサを配置するステップと、共振器が油受け、流路又は循環システム中にあるとき、センサを入力信号と共振させるステップと、共振器の流体及び入力信号に対する応答を表す、センサからの出力信号を受け取るステップと、出力信号を調整するステップと、出力信号をプロセッサに送信するステップとを含み、機械用流体を監視する方法も意図する。任意選択によって、出力信号の結果に従い、表示による又は音響による指示器を始動する。
[0014]他の実施形態では、被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路が、開示される。この回路は、補償用デバイス及び集積回路を含む。集積回路は、被試験流体と接触することができる音叉及び補償用デバイスとインターフェースするために、設けられる。補償用デバイスは、差動的に音叉の信号出力を処理するように構成される。この補償用デバイスの差動的処理は、能動的に集積回路によって制御され、処理された信号を生成する。この処理済信号は、被試験流体の特性を定義する。この実施形態では、カーブフィッティング処理は、この処理済信号自体が直接情報を生じるので、必要でない。
[0015]他の実施形態では、被試験流体の特性を決定するためのシステムが、提供される。このシステムは、音叉を含み、この音叉は、少なくとも一部を被試験流体中に浸漬することができる。補償用デバイス及び集積回路が、更にシステムの一部分として設けられる。この集積回路は、音叉及び補償用デバイスとインターフェースする。補償用デバイスは、音叉から出力された信号を差動的に処理するように構成される。この補償用デバイスの差動的処理は、能動的に集積回路によって制御され、処理された信号を生成し、したがってこの処理済信号は、被試験流体の特性を定義する。この実施形態では、カーブフィッティング処理は、この処理済信号自体が直接情報を生じるので、必要でない。
[0016]他の実施形態では、被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路が、開示される。含まれるのは、被試験流体と接触することができる音叉とインターフェースするための集積回路である。この集積回路は、補償用デバイスを含む。この補償用デバイスは、音叉の信号出力を差動的に処理するように構成される。この補償用デバイスの差動的処理は、能動的に集積回路によって制御されて、処理された信号を生成する。この処理済信号は、被試験流体の特性を定義する。この実施形態では、カーブフィッティング処理は、この処理済信号自体が直接情報を生じるので、必要でない。
[0017]本発明の他の態様及び利点は、本発明の原理を例として示し、添付の図面とともに行う以下の詳細な説明から明らかになるであろう。
[0018]本発明は、そのさらなる利点とともに、添付の図面とともに行う以下の説明を参照することにより、最もよく理解することができる。
[0041]検知対象である流体の特性状態を決定するために、流体センサとインターフェースするよう用いられる特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）についての発明を開示する。本明細書で使用するが、検知対象の流体を「被試験流体」と呼ぶこととする。被試験流体としてのエンジンオイルに関して詳細に説明するが、検知してその特性（例えば、化学的成分又は物理的性質）を確定することができるどのような流体についても、本明細書で規定された教示を使用することができることを理解すべきである。例えば、用語「流体」は、液状、ガス状若しくは固体状、又は、液体、気体若しくは固体のいずれかとの組み合わせで、どのような材料をも含むものと広く解釈すべきである。
[0042]以下の説明では、本発明を完全に理解するために、多数の具体的な細部を述べる。しかし、本発明は、これら具体的な細部のいくつか又はすべてがなくとも実施することができることがあることは、当業者にとり明らかであろう。他の例では、本発明をいたずらに分かりにくくしないように、周知の処理ステップについては詳細に述べていない。
[0043]簡単には、本発明は、多用途の流体検知システムを提供するものである。より詳しくは、本発明は、効率的な動作を維持するために、（限定するものでないが）合成エンジンオイルや天然エンジンオイルなどの流体の存在若しくはその状態、又はその両方に依存する機械用の流体検知システムを提供するものである。自動車の用途では、運転中を含めどのような時でもエンジンオイルの実際の状態（又は、例えばエンジンオイルの、最初の状態又は未使用状態からの相対的な状態の変移）を決定する能力が、ユーザにもたらされる。あるいは、流体状態を見極めることに関し、本発明は、アセンブリの油受け中に残る流体の量を決定するために使用することもできる。これによって、好ましくは、機械のオペレータは、機械の継続的な動作完全性を確保する助けにしながら、流体整備作業から次の流体整備作業までの期間を延長することが可能になる。流体に依存して動作するどのような動的なアセンブリも（例えば、摩擦及び熱が重要である場合）、流体の状態を検知することができるシステムから恩恵を受けるはずである。例えば、動的に流体の状態を監視し、その監視によって得られたデータを処理し、流体の特性をインターフェースする能力又はオペレータに通報する能力には、多くの用途があり得る。本発明による実施形態から利益を得ることができるアセンブリは、多数あり、次のものには限定されないが、一般用エンジン、自動車、重機械、軍事装備品、航空機部品、掘削中の測定ツール、掘削中のロギングツール、探鉱及び石油産出井ロギングツール、海上輸送に関連する装置、水中探鉱に関連する装置、航空宇宙に関連する装置、又は他の流体を含むどのような用途も含むことができる。なお、更に、流体は、流体精製コンテナ、流体パイプライン中にある場合や、試験及び解析の対象になることがある。一例では、被試験流体は、液体クロマトグラフィの対象としてもよい。
[0044]自動車の分野では、多数の構成要素が、潤滑を必要とし、それは、エンジンオイルに限定されない。例えば、他の自動車構成要素は、変速機、移送ケース、差動装置などを含むことができる。なお更に、検知システムは、ブレーキ液、操舵装置液、不凍液、冷却液、ウィンドシールドウォッシャ液、又は自動車システム内にある他のあらゆる流体も含め、主に潤滑油として必ずしも使用されない他の流体の品質及び量を決定するために、使用することができる。
[0045]一実施形態では、エンジンオイルの成分特性及び量を決定するための、オイル検知システムを開示している。自動車の用途では、オイル検知システムによって、ユーザは、最低限、（例えば、汚染物質の存在、有効な含有物の喪失又は劣化、あるいはその他の原因で）オイル交換の必要を警告される。そのような用途では、警告は、エンジンオイルが、自動車製造業者が薦める（又はオイル製造業者が設定した）品質レベル又は状況より低い品質レベル又は状況に到達していることを、自動車のユーザに知らせる必須のものである。
[0046]流体検知システムは、流体センサとして機械式共振器を使用することが好ましい。機械式共振器は、少なくとも一部分が被試験流体中に浸漬される。被試験流体（すなわち、エンジンオイル）の状況を監視するために、電気的エネルギーが、周波数発生器を通して機械式共振器に与えられる。この周波数発生器は、所定の周波数範囲にわたりスイープする周波数信号を（機械式共振器に）加えるように設計される。次に、電子装置を使用して、機械式共振器から応答信号を検出し、その信号を処理して被試験流体の特性を確定する。本発明の一実施形態では、電子装置は、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）の形で提供される。
[0047]図１Ａ−１に、本発明の一実施形態による流体検知システム１１０を示す。流体検知システム１１０は、被試験流体１１４中に配置することができる音叉１１６を利用する。最も簡単明確に、流体は、コンテナ１１２中に存在することができる。コンテナ１１２は、所望の流体を保持することができる限り、閉ざされた形、開いた形、圧力を加えられた形などどのような形も採ることができる。具体的な例では、被試験流体１１４は、エンジンオイルである。この図に示すように、音叉１１６が、流体検知システム１１０の電子装置にフィードバックを供給する温度センサ１１７に、密着して結合される。例えば、温度センサ１１７は、抵抗温度検出器（ＲＴＤ）、又は適切な他のどのような温度監視用デバイスとすることができる。センサ制御及び処理回路１１８が、接続部１１１ｂを介して音叉１１６を励振させる（例えば、周波数などを印加）。音叉１１６からの応答が、接続部１１１ａを介してセンサ制御及び処理回路１１８に戻り、受け取られる。この応答は、音叉１１６のアナログの応答である。
[0048]一実施形態では、温度センサ１１７は、更に、接続部１１１ｃを介してセンサ制御及び処理回路１１８とインターフェースする。具体的な実施形態では、接続部１１１ｃは、温度データを、ローカルマシン電子装置１２０にも戻して供給する。接続部１１１は、音叉１１６と温度センサ１１７の間の機能的な相互接続を示すように記載されているが、より少ない又はより多い物理的ワイヤ又は接続部を使用して、電気的相互接続を完成することができることを理解すべきである。例えば、ローカルマシン電気１２０は、被試験流体１１４を含む機械の電子装置とすることができる。自動車産業では、専門化されたコンピュータ及び電子装置が、通常自動車にネイティブなものとして提供され、そのような電子装置及び関与するソフトウェアは、制御し、自動車の様々なシステムからフィードバックを受け取るために、動作する。したがって、ローカルマシン電子装置１２２は、温度データを使用することもできる。
[0049]したがって、温度センサ１１７は、音叉１１６に密着して結合した位置における被試験流体の温度データを提供し、それによって音叉１１６近傍の正確な温度を得ることができる。次に、センサ制御及び処理回路１１８は、温度センサ１１７から得た温度を使用して信号を処理することができる。
[0050]更に、ローカルマシン電子装置は、センサ制御及び処理回路１１８が処理したデータを受け取るので、ローカルマシンユーザインターフェース１２２に適切な読み出し値を出力することができる。ローカルマシンユーザインターフェース１２２は、自動車内の表示器、機械の読み出し装置上の表示器（アナログ表示器又はディジタル表示器）、又は被試験流体１１４を含む機械にローカルなコンピュータの表示器とすることができる。
[0051]概して述べるならば、センサ制御及び処理回路１１８は、音叉１１６と密に通信して、音叉を励振させ、音叉から応答を受け取り、音叉から受け取ったデータを処理して適切な形に変換し、それによって更にローカルマシン電子装置１２０が、処理するための回路として設けられる。好ましい実施形態では、センサ制御及び処理回路１１８は、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）の形で設けられる。したがって、ローカルマシン電子装置１２０は、本明細書では置き換え可能なものとして、「ＡＳＩＣ１１８」とも呼ばれる。
[0052]一実施形態では、ＡＳＩＣ１１８は、１１１ｂを経由して音叉に供給される周波数信号を発生する機能を有し、次いで、１１１ａを介して音叉からアナログ信号を受け取ることができる。次に、１１１ａを介して受け取ったアナログ信号は、ＡＳＩＣによって処理され、被試験流体１１４の特性を同定するために使用されることになる情報が、抽出される。一実施形態では、アナログデータは、ＡＳＩＣによって調整され、次にディジタル形式に変換され、その後ローカルマシン電子装置１２０に送出される。次いで、ローカルマシン電子装置１２０は、検出された被試験流体の特性をローカルマシンユーザインターフェース１２２へ送信する。
[0053]図１Ａ−２に、音叉が、被試験流体１１４ａをある量含む閉ざされた環境１２５中に維持されている、他の実施形態を示す。被試験流体の状況が、例えばモータの動作中、変動するので、被試験流体１１４の試料１１４ａを取り込み、その試料を、実質的に一定温度に維持された別の区画中に置くことが望ましい。特定のレベルに温度を維持するために、温度制御器１２５ａ（例えば、加熱用コイル、冷却システムなど）を使用することができる。そのようにして、温度制御器１２５ａは、一貫して被試験流体の試料１１４ａの温度を所与の温度に維持する。その温度は、コンテナ１１２（例えば、モータの油受け）中に含まれる被試験流体１１４とは異なることがある。温度制御器１２５ａは、単独で動作する、あるいは回路又はソフトウェアによって制御する、そのどちらも行うことができる。一実施形態では、温度制御器１２５ａはＡＳＩＣ１１８に結合される。このＡＳＩＣ１１８は、温度を監視し、必要な場合には温度を調節する回路又はファームウェアを含む。被試験流体１１４全体の温度スペクトル全体にわたる流体１１４ａの変動が可能になるのとはまったく異なり、他の実施形態では、温度制御器１２５ａに、温度変動範囲を狭くさせることを望むことができる。
[0054]図１Ｂに、エンジン１１３ａと、表示用ダッシュボード１１３ｂとを有した自動車１１３を示す。エンジン１１３ａは、この技術では周知であるように、油受け１１３ｃを含む。油受け１１３ｃは、その中に挿入された音叉１１６を含む。音叉１１６は、音叉の歯が、十分被試験流体１１４と接触する限り、油受け１１３ｃ内のどの位置にも挿入することができる。被試験流体１１４は、この例では、油受け１１３ｃ内に収容されたオイルである。音叉１１６が、一実施形態では、ＡＳＩＣ１１８に結合されているのが示されている。
[0055]ＡＳＩＣ１１８は、自動車１１３の製造業者により提供されるローカルマシン電子装置１２０に結合される。動作時、音叉１１６は、油受け１１３ｃ内に収容され、ＡＳＩＣ１１８は、音叉１１６と一体になる。他の実施形態では、ＡＳＩＣは、音叉１１６に密着して配置されるが、それとは一体的なものではない。他の実施形態では、ＡＳＩＣは、自動車１１３に接続されたプリント回路基板に搭載される（すなわち、他のローカル電子装置とともに、又はそれから別のいずれかで搭載される）。
[0056]その物理的な取り付けにかかわりなく、ＡＳＩＣ１１８は、連続的に被試験流体１１４の状況を監視し、ＡＳＩＣ１１８にデータを供給することができる。したがって、ＡＳＩＣ１１８は、連続して戻すようにローカルマシン電子装置１２０に送信し、次いで、ローカルマシン電子装置１２０は、ローカルマシンユーザインターフェース１２２にその情報を供給する。別の実施形態では、その監視は、特定の期間中、所定の時間に、又は要求（すなわち、ユーザ／整備員の要求又は問い合わせ）に応じてだけ行われる。この例では、ローカルマシンユーザインターフェース１２２は表示用ダッシュボード１１３ｂの形で設けられている。このダッシュボード１１３ｂは、視覚、聴覚、又は視覚及び聴覚の組み合わせの情報を自動車１１３のドライバ又はユーザに提供する。このように、自動車１１３のドライバ（又は整備員）は、自動車１１３の使用／整備中、被試験流体１１４の状況を知らされる。一例では、被試験流体、例えばエンジンオイルが、交換が必要になる恐れがあるレベルまで劣化したとき、ローカルマシンユーザインターフェース１２２は、表示用ダッシュボード１１３ｂによって、自動車１１３のユーザにそれを表示する。
[0057]一構成では、音叉１１６は、油抜きプラグの一部とすることができる。この構成では、オイル検知システムは、更に、音叉１１６（したがって、油抜きプラグ）が、油抜きホール中に配置されているかどうかを表すアクチュエータやセンサ又はそれらの組み合わせ（例えば、磁気センサ）とともに構成することができる。そのような指示器は、油抜きプラグの挿入又は取り出し及び再挿入が、通常エンジンからの流体の充填又は排出及び再充填と同時に起こるという点で、極めて魅力的である。このように、さらなる比較を行うための基準値を提供する機能は、容易に高められる。すなわち、油抜きホール中に油抜きプラグを挿入したとき、アクチュエータ、センサ又はその組み合わせは、実際にシステムをリセットする信号を送ることになる。その結果、一般に油抜きプラグの挿入と同時に起こることが予想される流体の充填時にただちに、流体の測定を実施することができ、その流体（すなわち、未使用状態の流体）についての基準値が確立され、その基準値は、その後に比較を行うためにシステムに関連するメモリに格納することができる。
[0058]図１Ｃに、ＡＳＩＣ１１８が、実験室の設定状態において音叉１１６及び温度センサ１１７に接続された場合の例を示す（又は、流体の特性を同定するために流体を試験することが必要な場合で机上にある）。したがって、被試験流体１１４は、ＡＳＩＣ１１８及びコンピュータシステムを使用して解析することができる。なお、更に、ＡＳＩＣ１１８はホストカード上に集積化され、このホストカードは、標準バスインターフェース（すなわち、パラレルバス、ＵＳＢ、ＩＤＥ、ＳＣＳＩなど）を使用してコンピュータ上に実装することができる。他の実施形態では、コンピュータは、特別にＡＳＩＣ１１８と集積化され、したがってホストカードをコンピュータ上に実装する必要がない。その場合、音叉１１６及び温度センサ１１７は、直接コンピュータシステムに接続され、コンピュータシステムは、被試験流体１１４の特性を決定するために必要な処理を実施することとなる。他の実施形態では、ＡＳＩＣ１１８は、携帯デバイス又は移動デバイス中に集積化することができる。そのような移動デバイスは、実験室用途、現場用途、工場用途など多くの用途を有することができる。
[0059]他の実施形態において、図１Ｃは、コンピュータが音叉１１６に接続され、ＡＳＩＣ１１８が音叉１１６と集積化されているという実験室の設定状態を示している。温度センサ１１７は、同様に、音叉１１６と密着して集積化され、したがって音叉１１６の近傍で適切な温度の読みを得ることができる。他の実施形態では、音叉１１６及び温度センサ１１７は、被試験流体１１４から流体の特性データを得るために、遠隔のポイントでＡＳＩＣ１１８と集積化することができる。例えば、図１Ｂの油田探鉱現場１１５では、音叉／ＡＳＩＣは、掘削するつもりの油の特性を同定するために、使用することができる。他の例では、音叉／ＡＳＩＣは、直接、掘削中の標準測定ツール、掘削中のロギングツール、探鉱及び揚水井ロギングツール中に集積化することができ、したがって、岩層の流体が、井戸から汲み上げられているとき、オイルの物理的特性及び／又はガスの品質をオンザフライで決定することができる。次いで、その結果は、ラップトップコンピュータ（又は、掘削中のローカル測定用の、掘削中のロギング用の、探鉱及び揚水井ロギングツールのコンピュータ表示器）などのコンピュータに戻して供給され、岩層中及びそこから汲み上げたオイル又はガスの物理的特性について、ただちに情報を提供することができる。
[0060]図２Ａに、音叉１１６を励振させ、データを受け取って処理して、被試験流体の特性に関する情報をもたらすように設計された、ＡＳＩＣ１１８及びその構成要素のブロック図を示す。一実施形態では、ＡＳＩＣは、通信ライン１５６を経由して音叉１１６を周波数で振動させるように構成された周波数発生器１３０を含む。この生成された周波数は、所定の周波数範囲にわたってスイープする、正弦波や方形波などの可変周波数入力信号であることが好ましい。スイープ範囲は、センサの共振周波数範囲を含むことが好ましい。好ましいのは、周波数は、１００ｋＨｚより低い、より好ましいのは、約５ｋＨｚから約５０ｋＨｚの範囲にあり、最も好ましいのは、約２０ｋＨｚから約３５ｋＨｚの範囲にあることである。
[0061]次に、その周波数範囲にわたる音叉の応答を監視して、被試験流体の物理的及び電気的性質を決定する。音叉１１６からの応答は、通信ライン１５８を経由して信号調整回路ブロック１３２に供給される。好ましい一実施形態では、音叉１１６は、コンデンサ３１６も含み、極めてより詳細に以下に述べる。このコンデンサ３１６は、信号調整回路１３２にも接続される。信号調整回路１３２は、音叉１１６からのアナログ形式の信号を受け取り、更に処理する前に、その信号処理がより効率的に行えるようにその信号を調整するために、設けられる。
[0062]信号調整回路１３２は、音叉１１６からのアナログ出力を受け取って、実質的に信号のオフセットを除去し又は低減し、それによって更に処理することになる信号のダイナミックレンジを広げるように設計されている。このように、信号のオフセットと関連付けられたデータとは対照的に、信号自体にさらなる処理を集中することができる。
[0063]信号検出回路（ＳＤＣ）１３４も設けられ、それは、信号調整回路１３２に結合される。信号検出回路１３４は、一実施形態では、ＤＣ変換器に出力する二乗平均平方根（ＲＭＳ）部を含む。このＤＣ変換器は、信号調整回路１３２から受け取った任意の入力のＲＭＳ値に等しいＤＣ出力（すなわち、振幅だけ）を発生するように設計される。ＲＭＳ・ＤＣ変換器の機能的動作は、当業者に周知である。他の実施形態では、信号検出回路１３４は、同期検出器の形で設けることができる。周知のように、アナログ信号をディジタル形式に変換するために、アナログ信号の前処理が望ましいとき、同期検出器は、信号の位相及び振幅を同定するように設計されている。信号検出回路ブロック１３４が、信号調整回路１３２から受け取った信号を処理した後、信号検出回路１３４は、アナログディジタル変換器（ＡＤＣ）１３６にそのデータを送出する。アナログディジタル変換器１３６は、１０ビットの分解能を使用して、１０ｋＨｚまでのサンプリング周波数で動作することが好ましい。アナログディジタル変換器（ＡＤＣ）は、信号検出回路から受け取ったデータをディジタル形式になるように処理する限り、もちろん、どのようなサンプリング周波数も用い、所望されるどのようなビットの分解能も提供することができる。
[0064]ＡＤＣ１３６は、温度センサ１１７から情報を受け取って、被試験流体１１４中の実際の温度を考慮して、アナログ形式からディジタル形式に調節して変換も行う。代替実施形態では、温度センサ１１７は、削除することができるが、温度センサ１１７は、ＡＳＩＣ１１８による処理を促進させるデータを提供する助けとなる。
[0065]次に、アナログディジタル変換器１３６が供給するディジタル信号は、ディジタルプロセッサ１３８に送られる。ディジタルプロセッサ１３８は、データバス１５０及びロジックバス１５２によってメモリ装置１４０に結合される。ロジックバス１５２は、周波数発生器１３０、信号調整回路１３２、信号検出回路１３４、及びアナログディジタル変換器１３６のそれぞれにも接続されているのが、示されている。ディジタルロジック制御部１４２は、直接ロジックバス１５２に結合される。したがって、ディジタルロジック制御部１４２は、ＡＳＩＣ１１８の各ブロックと通信して、各ブロックによる動作が行われるとき、同期を取る。ディジタルプロセッサ１３８に戻ると、ディジタルプロセッサ１３８は、ディジタル形式で音叉１１６から検知されたデータを受け取って、次に、アルゴリズムを適用して被試験流体１１４の特性を同定する。
[0066]このアルゴリズムは、被試験流体中の未知の変数を迅速に同定するように設計されている。この未知の変数は、例えば密度、粘度、誘電率及び他の変数（必要な場合、及び流体に依存して）を含むことができる。更に、試験する被試験流体１１４に応じて、メモリ装置１４０は、特定の校正された音叉についての既知の変数のデータベースを有する。一実施形態では、メモリ装置１４０は、特定の流体に関連付けられた変数を近似するための変数を保持することもできる。他の実施形態では、メモリ装置１４０は、シリアルナンバ（又は、何らかの種類の識別子）を格納して、特定の組のデータを特定の音叉と関連付けることを可能にする。そのようなシリアルナンバ構成では、メモリ装置は、多数のユニークな音叉についてユニークなデータの組を保持することができる。例えば、音叉が売却されたとき、購入者は、その割り当てられたシリアルナンバをインターフェースに入力することだけが必要であり、その音叉用に関連付けられたデータの組が、動作中、使用される。時には、新しい音叉（ユニークなシリアルナンバを有した）が製造されたとき、メモリ装置１４０に追加のデータの組をアップロードする必要があり得る。
[0067]以前の校正から、及び被試験流体に密接に似ていることがある流体からの変数データを使用するためのプロセスについて、より詳しく以下に説明する。一般に、また一方ディジタルプロセッサ１３８は、迅速にメモリ装置１４０からのデータにアクセスし、被試験流体１１４を定義する変数を生成し出力するアルゴリズムをディジタル的に処理することができる。
[0068]次に、ディジタルプロセッサは、ディジタルロジック制御部１４２及び通信ライン１５４を介して、被試験流体１１４を特徴付ける同定された変数を、ローカルマシン電子装置１２０（あるいは、ローカルに、又はネットワークを介して、そのどちらでも、ある受け取りコンピュータ）に送信する。一実施形態では、ローカルマシン電子装置１２０は、信号１５４を経由して、直接、ディジタルロジック制御部１４２からデータを受け取るエンジン制御装置（ＥＣＵ）１２１を含む。次に、エンジン制御装置１２１は、データを受け取って、プログラムされたルーティンに従ってローカルマシンユーザインターフェース１２２にフィードバックを行う。
[0069]例えば、エンジン制御装置１２１は、被試験流体１１４（すなわち、エンジンオイル）が劣化したときのために、様々な閾値を設定することができる。例えば、様々な車製造業者、したがって車毎に、様々なエンジン制御装置が、オイル交換の必要を指示することができる特定の粘度、密度及び誘電率（あるいは、その１つ又はその組み合わせ）を定義する。しかし、このプログラム可能な閾値レベルの設定は、車間で異なる。そのため、エンジン制御装置１２１は、ローカルマシンユーザインターフェース１２２に、エンジン制御装置１２１が取り付けられた特定の自動車又はエンジンのプログラムに応じて、適切な信号を供給する。
[0070]ＡＳＩＣ１１８は、いくつかの構成要素ブロックを含んでいるのが示されてきたが、以下に議論するように、構成要素は、すべてＡＳＩＣ中に含める必要がないことを理解すべきである。この例では、ディジタルプロセッサ１３８は、物理的にＡＳＩＣ１１８の外側にあり、汎用プロセッサとして表すことができる。ディジタルプロセッサ１３８がＡＳＩＣ１１８の外側に位置する場合、ディジタルロジック制御部１４２は、ＡＳＩＣ１１８の外側に位置するディジタルプロセッサ１３８と、ＡＳＩＣ１１８内に残った構成要素との間で通信できるようにさせるグルーロジックの形を取る。自動車の例では、プロセッサ１３８がＡＳＩＣの外側にある場合、プロセッサは、依然エンジン制御装置１２１と通信状態にある。
[0071]図２Ｂに、ディジタルプロセッサ１３８が、ＡＳＩＣ１１８の外側にあるときの例を示す。そのような例では、ディジタルプロセッサ１３８は、ＡＳＩＣ１１８の近傍にあるプリント回路基板中に、又は別のプリント回路基板上に集積化することができる。どちらの場合も、ＡＳＩＣ１１８は、音叉１１６と通信して、励振させ、音叉１１６から受け取ったアナログ信号を処理する。したがって、ＡＳＩＣは、音叉１１６から着信したアナログ信号を変換し、それらをディジタル形式に変換して、その後ディジタルプロセッサ１３８に送出する。
[0072]ＡＳＩＣ１１８が、自動車上に設けられ、ディジタルプロセッサ１３８が、ＡＳＩＣ１１８の外側にある場合、ディジタルプロセッサ１３８は、依然、ローカルマシン電子装置１２０のエンジン制御装置１２１と通信することができる。したがって、エンジン制御装置１２１は、ローカルマシンユーザインターフェース１２２と通信する。この例では、ユーザインターフェースは、ユーザ表示器１２２ｂを含むことができる。ユーザ表示器１２２ｂは、アナログ指示器及びディジタル指示器１２２ｄを含むことができる。アナログ指示器及びディジタル指示器１２２ｄは、被試験流体（例えば、エンジンオイル）の品質を指示することができ、被試験流体が劣化している、又は交換する必要があるとき、ユーザに指示するためのゲージ読みの形で表示することができる。
[0073]他の実施形態では、ユーザ表示器１２２ｂは、適切なグラフィカルユーザインターフェース（ＧＵＩ）によって、エンジンオイルの状況についてユーザに、ディジタル出力又は表示を行うことができるディジタル表示器１２２ｃ（例えば、モニタ）を含むことができる。ユーザインターフェース１２２は、ユーザ入力１２２ａを含むこともできる。ユーザ入力１１２ａは電気的インターフェースとすることができ、このインターフェイスは、整備員が、例えば特定の車両中に挿入された音叉についての更新された校正情報を供給するのを可能にし、又は売り出されたばかりかもしれない新しいエンジンオイルについての調節された近似値を供給するのを可能にする。
[0074]ユーザ入力１２２ａを介して、整備員は、エンジン制御装置１２１を経由してＡＳＩＣ１１８に新データを入力することができる。上で言及したように、ＡＳＩＣ１１８は、校正データを格納するための、及びいくつかの実施形態では、音叉１１６によって検知されることができる流体についての近似された特性を格納するためのメモリ装置１４０を含む。
[0075]図２Ｃに、本発明の一実施形態によるＡＳＩＣ１１８の他の詳細なブロック図を示す。この例では、ＡＳＩＣ１１８は、ＡＳＩＣ１１８中に集積化し又はその外側に置いておくことができるいくつかのブロックを表す。ＡＳＩＣの外側に置いておくことができるブロックは、ブロック１７５を含む。上位レベルの図であるので、音叉１１６は、アナログＩ／Ｏ１６０に接続される。アナログＩ／Ｏは、上記の図２Ａのブロック１３２、１３４及び１３６を表す。したがって、アナログＩ／Ｏブロック１６０は、信号調整及び音叉１１６から受け取ったデータの変換を行う。
[0076]周波数発生器１３０は、上記で述べたように、アナログＩ／Ｏ１６０を介して、可変周波数入力信号を音叉１１６に供給する。グルーロジック１６２は、ＡＳＩＣ１１８上に存在する様々な回路ブロックを互いに統合するために、設けられる。周知のように、グルーロジックは、信号ライン、インターフェース用信号、タイミング信号、及びＡＳＩＣ１１８を定義するチップを入出力する入力及び出力を提供するために必要な他のどのような回路も含む。そのようなグルーロジックは、すべてこの技術では標準で周知である。ＡＳＩＣ１１８は、更にユーザ定義データ（ＲＯＭ）１４０’を含む。上述したように、ユーザ定義データ１４０’は、校正データ、ならびに被試験流体になることがある特定の流体について近似された変数データを含むことができる。このメモリに格納されるユーザ定義データは、どのような発信源からも得ることができる。例えば、データは、流体製造業者、音叉製造業者、契約当事者などから得ることができる。なお、更に、データは、データストリーム、データベースの形で、又はネットワークを介して得ることができる。
[0077]例えば、図２Ｄ及び図２Ｅに、ユーザ定義データ１４０’内に格納することができる例示的データを示す。図２Ｄに示すように、音叉１．１（音叉中の種類を強調するように呼ぶ）は、校正変数、ならびに特定の種類の流体について近似された流体特性を提供することができる。図２Ｄの例では、選択されたオイルタイプ３は、２５℃と示された特定の温度における密度、粘度及び誘電率について、近似された流体特性を有する。本明細書で使用するように、用語「近似された流体特性」は、フィッティングアルゴリズムを開始する前の流体特性の開始点における値を表す。したがって、この開始点の値は、経験、以前の試験又は根拠のある推測から定義された初期値である。したがって、開始点の値は、一実施形態では、被試験流体の実際の流体特性値を近似する。このようにして、実際の流体特性への収束を促進することができる。
[0078]他の実施形態では、ある組の固定値（例えば、ゼロであり得る）で近似された流体特性から開始することが可能であり得る。各固定値から、フィッティングアルゴリズムは、実際の流体特性値が確定されるまで値を動かすことができる。
[0079]この例を続けると、同じオイルタイプ３について近似された流体特性は、図２Ｅに示すように、温度が４０℃まで上がったことによって、異なる近似された流体特性を有することができる。校正変数は、特定の温度に対して音叉１．１についての値を反映させるように、更新もされる。新しいオイルタイプが入手可能になったとき、ＡＳＩＣ１１８中のユーザ定義データを更新することができるように、様々な温度範囲に対する近似された流体特性を更新する必要があり得る。
[0080]図２Ｃに戻ると、ディジタルＩ／Ｏ１４０’が、コンピュータ１２３とインターフェースするために設けられ、テストＩ／Ｏインターフェース１６４が、設計シミュレーション中、テストベンチでの試験中、市場導入前発表中、及び現場作業中のＡＳＩＣ１１８の試験を可能にするために、設けられる。ＡＳＩＣ１１８は、タイマ１７２を含み、それによってＡＳＩＣ１１８中に収容されたロジックブロックの動作も整合させる。上記で言及したように、ＲＯＭブロック１６６、ＲＡＭブロック１６８、ＣＰＵコア１７０、及びクロック１７４は、任意選択によって、ＡＳＩＣ１１８中に含めることができ、又は移動してＡＳＩＣ１１８の外側で集積化することができる。ＲＯＭ１６６は、ＡＳＩＣ１１８の回路インターフェース及び機能を実行するためのプログラム命令を含む。ＲＡＭ１６８は、ＣＰＵコア１７０が処理するデータを読み出し書き込むためのメモリ空間を、ＣＰＵコア１７０に提供する。クロック１７４によって、ＡＳＩＣ１１８は、ＡＳＩＣ１１８のブロックが処理する様々な信号について、適切な信号の整合を実施する。
[0081]図３Ａ〜図３Ｄは、ＡＳＩＣ１１８内に収容される構成要素ブロックの柔軟性を示している。グループ２００ａから２００ｄは、ＡＳＩＣ１１８が、用途及びＡＳＩＣが集積化される場所に応じて、少ない又はより少ないブロックを含むことができることを示している。例えば、ＡＳＩＣが実験室に設定中のコンピュータ上に集積化された場合、ホストコンピュータがより多く処理するので、ＡＳＩＣには、より少ないブロックを設けることがある。ＡＳＩＣがマシン又は製造ツール中に集積化され、ローカルコンピュータが直接製品又はツールに接続されていない場合、ＡＳＩＣは、より多くの構成要素を含むことがある。しかし、グループ２００ａから２００ｄが提供される、説明図によるＡＳＩＣ１１８は、モジュール式に集積化されて、より多い又はより少ない機能ブロックを含むことができる。
[0082]完全なものとして、図３Ａに、信号調整回路１３２及びメモリ装置１４０だけを有したＡＳＩＣを示す。もちろん、ここで提供された各例では、ＡＳＩＣは、グルーロジック及びインターフェースロジックを含み、その結果得られたＡＳＩＣと他の回路のインターフェースを取る。図３Ｃに、信号調整回路１３２、信号検出回路１３４及びメモリ装置１４０を含むグループ２００ｂを有したＡＳＩＣを示す。図３Ｂに、周波数発生器１３０、信号調整回路１３２、信号検出回路１３４及びメモリ装置１４０を含むグループ２００ｃを有したＡＳＩＣを示す。図３Ｄに、周波数発生器１３０、信号調整回路１３２、信号検出回路１３４、アナログディジタル変換器１３６及びメモリ装置１４０を含むグループ２００ｄを示す。各場合、上述したように、関連するグルーロジック及びディジタルインターフェースロジックを設けて、定義されたグループ分けに従って、その結果得られたＡＳＩＣとインターフェースすることができる。
[0083]図４に、音叉等価回路２２２及び読み出し入力インピーダンス回路２２４用の回路図２２０を示す。周波数発生器は、コンデンサＣＰが並列に接続され、ならびにコンデンサＣＳ、抵抗ＲＯ、インダクタＬＯ及び等価インピーダンスＺ（ω）が直列に接続された音叉等価回路２２２に、結合される。読み出しインピーダンス回路は、並列の抵抗Ｒｉｎ及びコンデンサＣｉｎを含む。そして、出力電圧は、Ｖｏｕｔとして表す。以下の式によって、等価回路が定義される。式（２）で、等価回路のＶｏｕｔが定義される。式（３）及び（４）で、インピーダンスＺｉｎ及びＺｔｆが導かれる。式（５）に、周波数Ｚ（ω）にわたるその結果得られたインピーダンスを示す。理解することができるように、周波数Ｚ（ω）に対してグラフ化される電圧Ｖｏｕｔには、いくつかの変数の決定が必要である。
[0084]式（１）で、変数が定義される。動作時、音叉の共振点近傍における周波数応答を使用して、被試験流体の特性を定義する変数を決定する。対象の被試験流体の特性パラメータを決定するために使用されるアルゴリズムには、音叉の校正中に得られたデータの知識が必要になる。校正データにアクセスすることに加え、アルゴリズムは、データフィッティングプロセスも使用して、対象の被試験流体の近似された変数を、被試験流体についての実際の可変特性（すなわち、密度、粘度、誘電率）と融合する。
Vout(Co,Cp,Lo,Cs,Ro,Z(ω),A,B,ρ,η,ω,ε) （１）
Vout(ω)=[Vo(Zin(ω)]/[Zin(ω)+Ztf(ω)] （２）
Zin=Rin*(1/iωCin)(Rin+1/iωCin)-1 （３）
Ztf=(1/iωCp)(Ro+1/iωCs+iωLo) （４）
(1/iωCp+Ro+1/iωCs+iωLo)-1
Z(ω)=Aiωp+B*(ωρη)1/2(1+i) （５）
εmeasured=a+k*Cp(measured) （６）
εmeasured=[εcal-(εcal-1)*[Cpcal/(Cpcal-Cpo)]]
+[Cp(measured)*[(εcal-1)/(Cpcal-Cpo(vacuum)]] （７）
a=[εcal-(εcal-1)*[Cpcal/(Cpcal-Cpo)]] （８）
k=[(εcal-1)/(Cpcal-Cpo(vacuum))] （９）
Cp(measured）は、「k」の関数 （１０）
Vout(Co,Cp,Lo,Cs,Ro,Z(ω),A,B,ρ,η,ω,ε) （１）
Vout(ω)=[Vo(Zin(ω)]/[Zin(ω)+Ztf(ω)] （２）
Zin=Rin*(1/iωCin)(Rin+1/iωCin)-1 （３）
Ztf=(1/iωCp)(Ro+1/iωCs+iωLo) （４）
(1/iωCp+Ro+1/iωCs+iωLo)-1
Z(ω)=Aiωp+B*(ωρη)1/2(1+i) （５）
εmeasured=a+k*Cp(measured) （６）
εmeasured=[εcal-(εcal-1)*[Cpcal/(Cpcal-Cpo)]]
+[Cp(measured)*[(εcal-1)/(Cpcal-Cpo(vacuum)]] （７）
a=[εcal-(εcal-1)*[Cpcal/(Cpcal-Cpo)]] （８）
k=[(εcal-1)/(Cpcal-Cpo(vacuum))] （９）
Cp(measured）は、「k」の関数 （１０）
[0085]回路では、ＣＳ、ＲＯ、ＬＯは、真空中の好ましい共振器の等価特性であり、ＣＰは、特定の被試験流体中の等価並列キャパシタンスであり、ρは、流体密度であり、ηは、流体粘度であり、ωは、発振周波数であると仮定する。ＣＰは、式（６）から（１０）で示すように、ｋの関数である。定数「ｋ」は、一実施形態では、音叉の幾何形状の関数であり、一実施形態では、それぞれ（ＣＰｍｅａｓｕｒｅｄ、ＣＰｃａｌ、及びＣＰｖａｃｕｕｍ）対（εｍｅａｓｕｒｅｄ、εｃａｌ、及びεｖａｃｕｕｍ）をプロットした曲線の勾配を定義する。物理的意味では、定数「ｋ」は、音叉の幾何形状、音叉の電極の幾何形状、音叉のパッケージング（例えば、ホルダ）の幾何形状、音叉の材料特性、又は上記の要因の任意の組み合わせである。その結果得られたＣＰの値を使用して、上式によって示すように、誘電率εを決定する。
[0086]更に、以下に定義した式に基づき、粘度及び密度は、次のように逆重畳することができることが分かる。
Z(ω)=Aiωρ+B(ωρη)1/2(1+i)
Z(ω)=iωΔL+ΔZ(ω)1/2(1+i)
ΔL=Aρ, ΔZ=B(ρη)1/2
Z(ω)=Aiωρ+B(ωρη)1/2(1+i)
Z(ω)=iωΔL+ΔZ(ω)1/2(1+i)
ΔL=Aρ, ΔZ=B(ρη)1/2
[0087]いくつかのセンサの場合、ＣＰｍｅａｓｕｒｅｄの値は、通常ＣＳの値より約１〜３桁のオーダーで大きい。したがって、Ｚ（ω）を測定する機能を向上させるために、（限定するものではないが）図６Ａ、図６Ｂ又は図６Ｄの説明上の微調整回路の１つ又はその組み合わせなど、信号調整器の一部として又はそれと関連して微調整回路を使用することが望ましい。
[0088]図５に、電圧出力（Ｖｏｕｔ）対周波数（ω）をプロットしたグラフ２３０を示す。この図に示すように、実際の音叉の応答信号は、特定の周波数範囲に及ぶ信号２３２を生成することができる。周波数範囲で、信号２３２中の小刻みな揺れで表される共振応答を有した信号が示される。信号２３２中の小刻みな揺れの振幅は、約１ｍｖから約１０ｍｖの範囲内にあり得る。しかし、音叉１１６が生成する実際の信号２３２は、音叉の特性及び被試験流体に依存して、約１００から約１０００ｍｖの範囲に入り得る信号のオフセット状態になる。
[0089]音叉から受け取った信号をより効率的に処理するために、信号２３２は、信号調整されて、その信号のオフセットを除去し又は低減し、したがって音叉が生成した信号のダイナミックレンジを増加する。それゆえ、解析されるデータは、より正確に処理することができる。図５に、調整された信号を、信号２３２’として示す。信号２３２を調整して信号２３２’を生成するための例示的技法について、以下の図６Ａ及び図６Ｄを参照して説明する。
[0090]図６Ａに、本発明の一実施形態による、増幅器３１０が、音叉１１６から入力及びコンデンサ３１６から入力を受け取る回路３００ａを示す。コンデンサ３１６は、図５の信号３３２をシフトして信号のオフセットを除去／低減し、信号２３２’を生成する信号を調整する助けとなるように、設けられている。これらの図に示すように、周波数発生器が、周波数の刺激を音叉１１６に、及びコンデンサ３１６にも供給する。
[0091]コンデンサ３１６からの出力は、増幅器３１０のマイナス側端子に加えられ、音叉３１６の出力は、増幅器３１０のプラス側端子に加えられる。したがって、増幅器３１０は、コンデンサ３１６がもたらすキャパシタンスの効果のためシフトされ、増幅された信号を信号検出回路（ＳＤＣ）１３４に供給する。信号検出回路は、増幅器３１０から出力された信号の位相及び振幅を検出し、次いでアナログディジタル変換器１３６に出力を供給する。
[0092]コンデンサ３１６は、可変なものとして示してあるが、一実施形態では、音叉１１６から受け取った信号を調整するために必要な（又は予想される）シフト量に応じてある特定レベルに固定される。好ましい一実施形態では、音叉１１６自体は、コンデンサ３１６を含むように構成することができる。以下の図７Ａに、コンデンサ３１６が、音叉１１６に集積化された例を示す。
[0093]図６Ｂに、音叉が増幅器３１０に入力を供給する回路３００ｂを示す。増幅器３１０のマイナス側端子は、例示的な一実施形態では、グラウンドに接続される。増幅器３１０の出力が、信号検出回路１３４に供給されることが示されている。この実施形態では、信号検出回路１３４は、増幅器３１０から受け取ったアナログ信号を整流するように構成された二乗平均平方根（ＲＭＳ）回路とすることができる。次に、信号検出回路１３４の出力は、図６Ａに示すように、アナログディジタル変換器１３６に出力される。
[0094]この実施形態では、ディジタルアナログ（ＤＡＣ）変換器３１８が、アナログディジタル変換器（ＡＤＣ）に出力する補償信号３１７ａを生成するために、設けられている。補償信号は、図５を参照して議論したように、信号オフセットを除去するために必要なシフト量を供給する助けになる。代替実施形態では、ディジタルアナログ変換器３１８は、アナログディジタル変換器にではなく、直接、信号検出回路１３４に信号３１７を供給し、この選択肢は、点線３１７ｂで示す。ディジタルアナログ変換器３１８は、この実施形態では、図２Ａに示すディジタルロジック制御部１４２から制御を受け取るように、設計されている。他の修正実施形態では、回路３００ｂは、信号検出回路１３４を排除し、したがって信号ライン３１９を介して直接、アナログディジタル変換器１３６に増幅器３１０の出力を供給するように、設計することができる。その場合、ディジタルアナログ変換器３１８は、信号ライン３１７ａを介してその補償信号を直接、アナログディジタル変換器に供給する。この実施形態では、アナログディジタル変換器１３６は、信号、ならびにその適切な位相及び振幅を検出することができ、したがって信号検出回路１３４の必要がなくなる。
[0095]図６Ｃに、アナログ信号が音叉から出力される電圧出力対周波数のグラフを示す。アナログ信号は、一実施形態では、信号検出回路（図６ＢのＲＭＳ機能）によって処理され、整流された信号３６０ａを生成する。次に、整流された信号は、図６Ｂのディジタルアナログ変換器３１８を使用してその信号をシフトダウンすることによって調整され、それによって信号オフセットが除去される／最小になる。したがって、その結果得られた信号３６０ａ’は、被試験流体の特性を決定するためのアルゴリズムを適用するディジタル回路が、より効率的に処理することができるように、より広いダイナミックレンジを有する。
[0096]図６Ｄに、回路３００ｃが、ブロック１３６中でアナログディジタル変換を行う前に、信号調整を実施する他の実施形態を示す。この例では、音叉１１６及びコンデンサ３１６は、差動増幅器３１０に結合される。差動増幅器３１０は、密度及び粘度に関連した変数をよく表す増幅された信号を生成することができるが、被試験流体のキャパシタンス（ＣＰ）は、差動増幅器３１０による処理の間に除去される恐れがある値である。このため、加算増幅器３１２を設けることができ、この増幅器は、抵抗を介してコンデンサ３１６に結合するマイナス端子に３１１ａで接続され、それによってＣＰを表すデータを生成する。他の実施形態では、音叉の出力部及び差動増幅器３１０のプラス側入力部へ追加の接続を施すことができる。したがって、接続部３１１ｂが、追加の感受性及びデータをもたらし、被試験流体についての適切なＣＰを生成する。
[0097]加算増幅器３１２及び差動増幅器３１０からともに着信するアナログ信号は、信号検出回路１３４に供給され、信号検出回路１３４は、これら増幅器から出力された信号の適切な位相及び振幅を同定する。次に、信号検出回路１３４は、アナログディジタル変換器１３６にデータを出力する。
[0098]図６Ｅに、補償用デバイス５１６の能動制御が、ＡＳＩＣ１１８によって行われる本発明の他の実施形態を示す。ＡＳＩＣ１１８は、図３Ａ〜図３Ｄに関して言及したように、いくつかの形で実現することができる。補償用デバイス５１６が果たす機能を説明するために、音叉１１６が、ポイント５０１において交流電流源に接続されているのを示す。音叉１１６は、点線１１６’’で示すように補償用デバイス５１６ともにパッケージングすることができ、又は代替として、別々にパッケージングして周知の任意の回路相互接続を使用して集積化することができる。更に、補償用デバイスは、ＡＳＩＣ１１８中に集積化することができる。この実施形態では、音叉１１６は、直接、ＡＣ電力源及びＡＳＩＣ１１８と相互接続される。図６Ｅの例では、音叉１１６は、ポイント５０４でＡＳＩＣ１１８と結合され、補償用デバイス５１６は、ポイント５０６でＡＳＩＣ１１８と結合される。補償信号５０２が、補償用デバイス５１６にフィードバックされることが示されている。
[0099]補償信号５０２は、起動されたとき、能動的に補償用デバイス５１６の１つ又は複数の回路要素に制御を加えるように設計されている。補償用デバイス５１６の１つ又は複数の回路要素は、調節されたとき、図５を参照して説明した信号２３２を修正するように働く。しかし、図５では、信号調整は、信号オフセットを低減し又は取り除くように簡単に動作した。これとは違って、補償用デバイス５１６及び補償信号５０２を使用して、信号２３２に差動的な信号処理を適用する。一実施形態では、この差動的な信号処理は、信号の直接関連するデータ部分をより増加し、一方関連しないデータ部分を実質的に除去するように働く。図６Ｇに、その結果得られた信号２３２ａを示す。信号２３２ａは、一度調査されると、被試験流体に関する情報をもたらす。
[0100]図６Ｇに示すように、最大点が流体の粘度を定義し、周波数が流体の密度を定義し、補償信号５０２のレベルが流体の誘電率の値を定義する。当業者が理解するように、補償用デバイス５１６のキャパシタンスが、音叉１１６のキャパシタンスと整合するように調節されたとき、その結果得られた補償信号の値は、音叉１１６が浸漬された流体の誘電率の値とすることができる。
[0101]図６Ｆ−１〜図６Ｆ−３に、補償用デバイス５１６を定義するために使用することができ、信号を差動的に処理する例示的回路要素を示す。補償信号５０２が到達したレベルは、信号２３２が差動的に処理されたとき、試験する流体の誘電率εを定義する。その結果得られた信号２３２ａは、図６Ｇに示すように、際立った最大値を有し、その最大値は、特定の周波数上にある。信号２３２ａのその最大値及び周波数は、それぞれ粘度及び密度を定義する。したがって、この実施形態では、図１０のカーブフィッティングアルゴリズム４４５を実行する必要がない。カーブフィッティングが省略されるので、ＡＳＩＣは、その追加の処理を実行する必要がなく、それによって回路設計がより簡単になる。
[0102]図６Ｆ−１〜図６Ｆ−３に、信号２３２の差動的な処理を達成するための、補償信号５０２が制御することができる他の例示的回路要素を提供する。図６Ｆ−１に、補償用デバイス５１６ｂが、容量性回路を含むことを示す。容量性回路は、ＡＳＩＣ１１８が、能動的な方法で調節し制御することができる。この容量性回路は、周知の形をいくらでも取ることができると想定される。そのような形は、抵抗、コンデンサ及び能動的トランジスタデバイスさえも含む回路構成を含むことができる。これらの回路の組み合わせは、当業者に周知であり、したがって、容量的に音叉１１６のキャパシタンスを整合させ、したがって差動的に信号２３２を処理するために使用することができる。図６Ｆ−２に、補償用デバイス５１６ｃが、バリキャップデバイスを含むことを示す。周知のように、バリキャップデバイスは、コンデンサとダイオードの組み合わせである。動作時、このバリキャップデバイスのキャパシタンスは、差動的に信号２３２に信号処理することができるように、調節される。他の例では、図６Ｆ−３に、ブリッジ回路によって定義される補償用デバイス５１６ｄを示す。このブリッジ回路も、差動的に信号２３２に信号処理することができるようにする。接続ポイント５０１、５０４及び５０６は、図６Ｅの回路に関する例示的接続ポイントである。
[0103]理解されるであろうが、信号２３２に差動的な信号の処理を容易にするために使用される正確な回路は、変化することができる。しかし、各回路構成は、信号２３２の直接関係する部分が増幅され、関係しない部分が最小にされるように、差動的に信号２３２に処理することを可能にすべきである。したがって、その結果、信号２３２ａなどの信号が生成され、その信号を調べてその大きさ及び周波数中心点を決定することができる。上記したように、大きさは、被試験流体の粘度についての情報をもたらし、周波数中心点は、被試験流体の密度についての情報をもたらす。補償信号５０２によって加えられた補償のレベルは、被試験流体の誘電率を定義する。したがって、この代替実施形態は、図６Ｅ〜図６Ｇを参照して説明したように、本発明の他の実施形態を参照して説明するカーブフィッティングを履行するための追加の処理が必要でない。
[0104]図７Ａに、コンデンサ３１６が、直接音叉１１６’の表面上に集積化された音叉１１６’を示す。上記で定義されたように音叉１１６’は、電極１１６ａを含み、コンデンサ３１６は、音叉を使用可能にするための容量性電荷をそれ自体に読み出すことが可能であり、それによって信号を調整するために必要なオフセットを生成し、図５を参照して説明したシフトを施すコンデンサ電極３１６ａを含む。したがって、音叉自体が、必要な信号のオフセットの除去／低減を行う。コンデンサ３１６は、一実施形態では、製造業者が微調整し設定し、必要なオフセットをもたらすことがおおよそ可能なコンデンサの値を提供する。他の実施形態では、コンデンサは、製造後、微調整が可能な形のものとすることができる。
[0105]図７Ｂに、容量性の叉３１６ａ’と組んで機能する音叉１１６の簡単化された図を示す。音叉１１６’上に形成された、又はそれに接続されたにコンデンサ電極３１６ａの代わりに、図７Ｂの実施形態では、ブリッジ５１０によって修正された第２の音叉構造を使用している。ブリッジ５１０は、容量性の叉３１６ａ’が発振するのを防止する機械式構造である。容量性叉３１６ａ’は、例えば水晶から作製することができ、機械式ブリッジ５１０も、同じ水晶の材料から作製することができる。他の実施形態では、音叉の水晶の材料は、組み立てが必要になる別々の破片を有するものの代わりに、一体の破片から作製することができる。
[0106]本発明の好ましい１つの音叉共振器は、ピエゾ電気材料を含む１つ又は複数の歯と、ピエゾ電気材料に接続された少なくとも１つの電極（又は電極を受け入れるのに適切な構造）を有する。同調性能材料又は他の機能性も、任意選択によって基本材料に含むことができる。
[0107]電極用に金属を使用することは、最も好ましい。しかし、導電性ポリマ、カーボンあるいはその他などの他の導電性材料を使用することもできる。好ましい金属は、金、白金、銀、クロム、アルミニウム、又はその混合物から選択された金属を含む純金属又は合金である。他の貴金属又は遷移金属を使用することもできる。
[0108]本発明の共振器の基本材料は、ピエゾ電気材料、電気ひずみ材料、磁気ひずみ材料、ピエゾ抵抗性材料、弾性光学材料、異方性材料、又はその組み合わせのうちの少なくとも１つの種類のデバイスから選択されることが好ましい。例として、特定の材料は、金属材料、結晶材料、セラミック材料、又はその組む合わせとすることができる。適切な材料の例には、これらに限定するものでなく、水晶、ニオブ酸リチウム、酸化亜鉛、ジルコン酸チタン酸鉛（ＰＺＴ）、ｇａｌｌｏ−ｇｅｒｍａｎａｔｅ（例えば、Ｌａｎｇａｓｉｔｅ（Ｌａ３Ｇａ５ＳｉＯ１４）、Ｌａｎｇａｎｉｔｅ、又はＬａｎｇａｔａｔｅ）、ｄｉｏｍｉｇｎｉｔｅ（テトラホウ酸リチウム）、ビスマス酸化ゲルマニウム、又はその組み合わせが含まれる。好ましい基本材料は、技術で開示されているドーパントによってドープしてもよく、又はドープしなくともよい。
[0109]本発明によって使用される共振器の寸法は、共振器の全体積が、同調性能材料（ｐｅｒｆｏｒｍａｎｃｅ−ｔｕｎｉｎｇ ｍａｔｅｒｉａｌ）を含め、約７５ｍｍ３より少ないことが好ましく、約５０ｍｍ３より少ないことがより好ましく、約２５ｍｍ３より少ないことが更により好ましく、約１５ｍｍ３より少ないことが更になおより好ましい。好ましい共振器は、歯（ｔｉｎｅ）が、その最も長い寸法で約１５ｍｍを超えない、より好ましくはその最も長い寸法で約８ｍｍより短いことである。好ましい共振器は、厚さが、約２ｍｍより厚くない、より好ましくは約１ｍｍより厚くないことである。例として、限定するものでなく、説明用の一共振器は、寸法が、約０．５×３×５ｍｍである。もちろん、より大きい共振器を使用することもできる。一実施形態では、音叉１１６のサイズは、音波の波長より小さい。
[0110]特に好ましい同調性能材料の例は、ポリマ、セラミック、ダイヤモンド、ダイヤモンド状カーボン（例えば、Ｄｉａｍｏｎｅｘ（登録商標）ＤＬＣ）、及びその組み合わせからなる群から選択された材料又は複数の材料の組み合わせを含む。例えば、好ましい同調性能材料は、フッ素重合体、シリコーン、ポリオレフィン、カーバイド、窒化物、酸化物、ダイヤモンド、ダイヤモンド状カーボン、及びその組み合わせからなる群から選択された材料又は複数の材料の組み合わせを含むことができ、更に極めてより好ましくは、ポリテトラフルオロエチレン、フルオロシリコーン、ポリエチレン（例えば、高密度ポリエチレン）、ポリプロピレン（例えば、高密度ポリプロピレン）、炭化ケイ素、窒化ケイ素、ダイヤモンド、ダイヤモンド状カーボン、及びその組み合わせからなる群から選択された材料又は複数の材料の組み合わせを含むことができる。上で述べた基本材料の例から選択された材料は、同調性能材料として使用する場合も可能である。
[0111]図８に、本発明の一実施形態による、音叉を校正し、音叉を特徴付ける変数を得るために実行される方法ステップを表すフローチャート図４００を示す。この方法は、音叉センサを設けるステップ４０２で始まる。上述したように、音叉センサは、被試験流体中に挿入されて流体の性質を決定するように、設計することが好ましい。一実施形態では、音叉センサに電極を設けて、所定の周波数範囲にわたって可変周波数信号を加え、それによって周波数依存の共振器の応答を得ることを可能にする。ここで、この方法は、音叉を特徴付ける第１の組の変数を決定するための第１の校正を行う、ステップ４０４に進む。第１の校正に、音叉の応答を決定するために音叉を真空又は大気中に入れて、既知の共振周波数に対して音叉を校正するステップが含まれる。
[0112]図１１Ａに、真空又は大気中の音叉の既知の周波数応答の例を信号４６２によって示す。大気中の音叉について近似された信号４６４から始めて、フィッティングアルゴリズムを実行して近似信号４６４を信号４６２にフィッティングさせる。この第１の校正実施時、媒体中の音叉のインダクタンス（ＬＯ）、キャパシタンス（ＣＳ）、抵抗（ＲＯ）及び並列キャパシタンス（ＣＰ）などの変数を確定することが可能である。音叉が真空又は大気中に置かれているので、流体のインピーダンスＺ（ω）はゼロに等しくなる。
[0100]したがって、第１の校正は、図１１Ａの第１の校正で示すように、実際の音叉自体を特徴付ける第１の組の変数を生成する。図８に戻ると、次に、方法は、既知の流体中で第２の校正を行い、第２の組の変数を決定するステップ４０６に進む。第２の校正は、第１の校正から決定された第１の組の変数を使用する。ここで、第２の校正が実施される図１１Ｂを参照されたい。第２の校正では、既知の流体に対する周波数応答が、信号４７２によって示すように、得られる。既知の流体について近似された信号４７４から始めて、校正は、信号４７４が既知の流体の信号４７２にフィッティングするように行われる。カーブフィッティング操作実施時、第２の校正は、図１１Ａからの第１の校正変数を使用して、Ａ、Ｂ及びｋを含む第２の組の変数を得る。一実施形態では、第２の校正で使用される既知の流体は、音叉の汚染が最低限に維持されるように、揮発性流体が好ましい。すなわち、同じ音叉を使用して実際の被試験流体の変数を決定する前に、音叉が歯上に残渣を集める、又は積み上げることを防止することが、望まれる。一例では、既知の流体は、四塩化炭素（ＣＣｌ４）、アルコール、フッ素系溶剤、エタノール、メタノール、トルエン、メントールエーテルケトン、ヘキサン、ヘプタン、イソプロピルアルコール（ＩＰＡ）などとすることができる。なお、他の校正流体は、純水（ＤＩＷ）、又は音叉上に残渣を残さない、又は最低限しか残さない他の流体とすることができる。
[0101]再び図８に戻ると、第２の校正が、ステップ４０６で実施された後、方法は、試験する流体の特性を検知するとき音叉を機能的に使用するために、第１の組の変数及び第２の組の変数をメモリに格納するステップ４０８に進む。一実施形態では、第１の組の変数及び第２の組の変数は、図２Ｂ及び図２Ｃを参照して議論したように、メモリ装置１４０、又はユーザ定義データＲＯＭ１４０’に格納される。概して、第１の校正データ及び第２の校正データは、図２Ｄ及び図２Ｅに示すように、音叉についてある温度範囲で実施される。温度範囲は、約１Ｋから約１０００Ｋの間で変化することができる。他の実施形態では、この範囲は、約７７Ｋから約６００Ｋの間とすることができ、また他の実施形態では、範囲は、約２３３Ｋから約４２３Ｋの間とすることができる。そのような範囲は、用途に依存して変化する。したがって、第１の校正及び第２の校正から得たこれらの校正変数は、メモリに格納され、密度、粘度及び誘電率など被試験流体の特性を確定するために被試験流体を処理するとき、ＡＳＩＣによって呼び出すことができる。他の実施形態では、校正変数は、リムーバブル記憶媒体に格納することができる。校正変数をリムーバブル記憶媒体に格納したとき、校正データは、特定の音叉にリンクされる。したがって、ある音叉が、エンドユーザに供給されたとき、音叉を動作させるために適切な校正変数をＡＳＩＣにロードし、又はＡＳＩＣがアクセスできるように、リムーバブル記憶媒体（例えば、カード、チップ、メモリスティックなど）をエンドユーザに提供することもできる。校正変数をリムーバブル記憶媒体に格納することによって、新しい音叉についての校正変数を継続的に更新し更に精密にすることも、新しい音叉が販売に供されたとき、最新の校正データをエンドユーザに提供することも可能になる。
[0102]なお、更に、特定の実施形態は、パッケージとして、特定の音叉とその音叉の校正変数の販売を含むことができる。校正変数は、磁気カードに格納することもでき、次いで、このカードは、整備員が、コンピュータ又はローカルマシンユーザインターフェース中に挿入し、特定の機械中に取り付けられている特定の音叉について現在の校正データをロードすることができる。時おり、例えば、整備員が、ローカルマシンユーザインターフェースを経由して音叉についての校正データを更新することが可能になる。ローカル電子装置への更新は、無線リンクを介して、インターネットによって、その他によって行うこともできる。一実施形態では、校正データを、コンパクトに格納し、６４バイトのわずかなスペースであるディジタル形式で提供することができる。もちろん、データサイズは、必要に応じて大きくも小さくもすることができる。
[0103]図９に、ＡＳＩＣを使用して、音叉の起動を制御し、音叉からの応答を処理してディジタル形式で応答データの送信も可能にする、フローチャート図４２０を示す。この方法は、音叉センサを設けるステップ４２２で始まる。音叉センサが設けられた後、この方法は、音叉センサを被試験流体中に適用するステップ４２４に進む。音叉センサの被試験流体中への適用は、音叉の一部分（すなわち、少なくとも歯の一部分）を被試験流体中に浸漬して、試験する流体内での音叉の共振を可能にすることを含むことができる。
[0104]音叉センサを被試験流体に適用した後、この方法は、ステップ４２６へ進む。ステップ４２６で、刺激を音叉センサに加える（音叉センサを励振させる）。上で述べたように、この刺激は、周波数範囲にわたり変化させて、音叉センサに加えられ、それによって周波数に依存する共振器の応答を得るための、周波数入力信号になる。好ましいのは、印加する周波数が、約１００ｋＨｚより低いことである。次いで、ステップ４２８で、ＡＳＩＣは、音叉が、被試験流体中にある間、音叉センサからアナログ信号を受け取る。ＡＳＩＣが、音叉センサからアナログ信号を受け取った後、方法は、ステップ４３０に進み、このアナログ信号を処理してディジタル形式にする。
[0105]上述したように、ＡＳＩＣは、アナログ信号を受け取るための信号調整回路と、音叉センサから得られた信号の成分を検出するための信号検出回路と、アナログ信号データをディジタル形式に移すためのアナログディジタル変換器とを含むことが好ましい。ここで、当該方法は、受け取ったアナログ信号のディジタル形式を処理して、被試験流体の特性を同定するステップ４３２に進む。
[0106]一実施形態では、ＡＳＩＣは、ブロック４２５で、アナログ信号から受け取ったディジタル形式を処理することもできる。代替実施形態では、上記で言及したように、図２Ｂに示すように、ＡＳＩＣの外側でディジタル形式を処理することができる。どちらの実施形態でも、次いで、ディジタル形式を処理して被試験流体の特性を同定する。図１１Ｃを参照して述べるように、同定する被試験流体の特性は、被試験流体の密度、粘度及び誘電率を含むことができる。ステップ４３２で特性が同定された後、当該方法は、予め定義された受け取り装置に同定された特性を送信するステップ４３４へ進む。予め定義された受け取り装置は、車両のコンピュータ、実験室中のコンピュータ、記憶装置、インターネットを介して（接続されたワイヤ又は無線で）データを受け取る遠隔コンピュータ、又は被試験流体についての情報の受け取りを要求する他の任意の受け取り装置を含むことができる。同定された特性が、予め定義された受け取り装置に送信された後、この方法は終了する。
[0107]図１０に、本発明の一実施形態によってブロック４４５でカーブフィッティングアルゴリズムを実行するフローチャート図４４０を示す。上述したように、カーブフィッティングアルゴリズムは、図１１Ｃに示すように、特定の流体について近似された信号データを、被試験流体から受け取った実際のデータにフィッティングするように設計されている。カーブフィッティングアルゴリズムは、一実施形態によって第１の校正データ及び第２の校正データを得るためのプロセスにも適用される。
[0108]この方法は、校正中に決定された第１及び第２の組の変数をメモリにロードするステップ４４２で始まる。上で述べたように、校正データは、ＡＳＩＣ自体上のメモリに、又はＡＳＩＣとは別のホストコンピュータに、あるいは磁気カードやその他のリムーバブル記憶媒体にさえ、そのいずれにも格納することができる。上記したように、校正に対して決定された第１及び第２の組の変数は、概ね温度に依存するものであり、校正データは、被試験流体の動作中、検知された特定の温度について同定される。
[0109]ここで、当該方法は、被試験流体の特性を読み出し、被試験流体を表す信号についてのデータを得るステップ４４４に進む。ここで、様々なオイルタイプに、近似された流体特性が与えられる図２Ｄ及び図２Ｅを参照されたい。例えば、オイルタイプ３は、密度、粘度及び誘電率について近似された流体特性を含む。校正データとともにこれら近似流体特性のそれぞれは、特定の温度に関連付けられる。例えば図２Ｅに示すように、温度が上昇したとき、近似流体特性値は、変化することもあり、したがって、わずかに異なる値が、密度、粘度及び誘電率について定義される。
[0110]データが、フェッチ、ルックアップその他の手段によって記憶装置から読み出された後、これら近似流体特性値を使用して、被試験流体を表す信号を生成する。ここで、被試験流体を表す信号が、信号４８４として示された図１１Ｃを参照されたい。この図から分かるように、信号４８４は、実際の被試験流体が生じた、信号４８２として示された信号にほぼ近似している。この例では、音叉は、被試験流体中に挿入され、図１１Ｃに示すように、音叉の周波数応答から信号４８２が生成される。実際の信号４８２が、被試験流体から生成されるので、被試験流体を表す近似信号、すなわち信号４８４をカーブフィッティングすることによって、被試験信号４８２について実際の流体の特性データが生成される。その結果、密度、粘度及び誘電率を含め、被試験流体の流体特性データが、実際の被試験流体について生成される。
[0111]図１０に戻ると、被試験流体を表す信号について、データが得られた後、方法は、ステップ４４６に進む。ステップ４４６、４４８及び４５０は、ブロック４４５で定義されるカーブフィッティングアルゴリズムの一部分になる。ステップ４４６で、被試験流体についての近似信号が生成される。図１１Ｃに、被試験流体についての近似信号を信号４８４として示す。次に、方法は、フィッティングアルゴリズムを適用して、被試験流体についての実際の信号に近似信号をフィッティングする、ステップ４４８に進む。上述したように、これには、近似信号４８４の値を被試験流体の信号４８２に融合するアルゴリズムの適用が関与する。
[0112]カーブフィッティングアルゴリズムは、適切な又は最上のカーブフィッティングの結果が得られるまで、継続して演算する繰り返しアルゴリズムである。その後、この方法は、決定ステップ４５０に進み、このフィッティングが許容できるかどうかが、決定される。このフィッティングが許容できない場合、すなわち近似信号４８４が、十分に被試験流体の信号４８２に近接していないことを意味し、この方法は、ステップ４４６に戻る。ステップ４４６で、新しく更新された近似流体特性の変数を式に最新情報として与え、次いで、被試験流体により近接している可能性のある新しい近似信号４８４を生成する。再び、当該方法は、ステップ４４８に進み、フィッティングアルゴリズムを実行して、再び、図１１Ｃに示すように、近似信号４８４の被試験流体の信号４８２への融合を試行する。
[0113]この方法は、許容できる程度までカーブフィッティングが到達するまで、継続される。ループが繰り返し実行され、カーブフィッティングが向上されない場合、信号を許容できるものとして、方法をステップ４５２に進ますことが可能である。好ましい実施形態では、カーブフィッティングアルゴリズムは、シンプレックス方程式カーブフィッティングアルゴリズムを使用して、近似信号を、被試験流体から受け取った実際の信号に融合する助けとする。より好ましい実施形態では、シンプレックス方程式は、理論モデルの最小二乗値を最小にする演算を利用する。使用することができる例としてのアルゴリズムは、多次元応用向けダウンヒルシンプレックス（ｄｏｗｎｈｉｌｌ ｓｉｍｐｌｅｘ）アルゴリズムを含むことができる。このアルゴリズムは、Ｗｉｌｌｉａｍ Ｈ．他著、１９８８年著作権登録の「科学計算技術（Ｔｈｅ Ａｒｔ ｏｆ Ｓｃｉｅｎｔｉｆｉｃ Ｃｏｍｐｕｔｉｎｇ）」と題する本に定義されている。対象の具体的なページは、１０．４章「多次元におけるダウンヒルシンプレックス法（Ｄｏｗｎｈｉｌｌ Ｓｉｍｐｌｅｘ Ｍｅｔｈｏｄ ｉｎ Ｍｕｌｔｉｄｉｍｅｎｓｉｏｎｓ）」ページ３０５〜３０９を含む。この本は、すべての目的で参照により本明細書に組み込むものとする。もちろん、「フィッティング」機能が達成できる限り、他のフィッティングアルゴリズムを使用することができることも理解すべきである。
[0114]次に、当該方法は、被試験流体について実際に決定された特性データを出力し、特定の被試験流体についての確定された密度、粘度及び誘電率を生成するステップ４５２に進む。
[0115]図１１Ａ及び図１１Ｂについて、カーブフィッティング演算を参照して説明してきた。具体的に、図１１Ａに、真空又は大気における近似信号４６４を実際の真空又は大気の信号４６２にカーブフィッティングさせることによって、真空中又は大気中で行われ、第１の組の変数を得るカーブフィッティング演算を示す。図１１Ｂに、既知の流体の近似信号４７４を、既知の流体の実際の応答４７２に融合するために実行されるカーブフィッティング演算を示す。近似信号４７４を、既知の流体から受け取った実際の信号である信号４７２に融合することによって、第２の組の校正変数Ａ、Ｂ、及びｋを得ることが可能になる。最後に、図１１Ｃに、音叉を実際に使用している間に実行され、特定の被試験流体の特性変数を得るためのカーブフィッティング演算を示す。
[0116]図１２に、本発明の一実施形態による、音叉を使用して被試験流体についての流体のパラメータを生成するための、ＡＳＩＣ１１８が実施する基本機能プロセスのステップを示すフローチャート図４９０を示す。この方法は、カーブフィッティングアルゴリズムを使用して得られた第１の組の変数を記憶装置からフェッチするステップ４９２から始まる。次に、方法は、ステップ４９４に進み、第１の組の変数及びカーブフィッティングアルゴリズムを使用して得られた第２の組の変数も記憶装置からフェッチする。上述したように、第２の組の変数は、特定の音叉について校正変数を定義する。校正変数は、直接ＡＳＩＣ上に、又はＡＳＩＣから別に、あるいはある記憶媒体に、そのいずれかに格納される。校正変数が得られた後、ステップ４９６で、ＡＳＩＣの一部分である、又はＡＳＩＣと通信している、そのいずれかのプロセッサが、第１の組の変数、第２の組の変数及びカーブフィッティングアルゴリズムを使用して、被試験流体についての流体のパラメータを生成する。
[0117]本発明の音叉センサの例は、参照により本明細書に組み込まれる米国仮特許出願第６０／４１９，４０４号に見ることができる。要約すると、音叉共振器は、試料流体の粘度、密度、誘電率及び導電率など物理的及び電気的性質を測定することができる機械式ピエゾ電気共振器である。
[0118]音叉共振器は、流体中で発振することができるどのような共振器も含むと広く解釈すべきである。他の例になる共振器構造は、三叉構造、片持ち梁構造、ねじり棒構造、単一変形構造、両変形構造、膜共振器構造又はその組み合わせを含むことができる。
[0119]ほとんどの基本構成では、本発明の検知システムは、機械式共振器などのセンサと、プロセッサと、流体の量及び／又は状況をユーザに知らせるためのユーザインターフェースとともに構成される。この実施形態では、センサは、信号発生器から励磁信号を受け取り、センサは、共振する。センサの共振は、直接種類及び流体状況の現況に相関関係がある、流体の粘度と比例関係である。その結果得られる共振状態は、生じた出力信号を介してプロセッサに送信され、このプロセッサは、解析をするためにその信号を修正し、流体の現状を決定するためにそれを既知の値と比較する。
[0120]前述の発明について、明らかな理解を得る目的でいくらか詳細に説明してきたが、ある変更及び修正を、添付の特許請求の範囲に示す範囲で実施することができることは、明らかである。例えば、実施形態の特徴は、特にエンジンオイルの文脈で述べられていることがあるが、この用途に限定されるものではない。本発明の原理は、他の自動車用流体についての用途、及び自動車用途ではない用途（例えば、油田の導管中を流れる流体の性質を解析するためのデバイス、フローインジェクション解析計器に関与する検出器、微量天秤、大処理量調査及び選別用システムその他）で、用途を広範囲に広げている。したがって、本実施形態は、説明するものであって限定するものではないと見なすべきであり、本発明は、本明細書で与えられた細部に限定すべきでなく、添付の特許請求の範囲に示す範囲及び等価物内で変更することができる。
Claims (76)
- 流体の特性を検知するためのシステムであって、
少なくとも部分的に被試験流体中に浸漬するように構成された音叉と、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）とを備え、
前記ＡＳＩＣが、
前記音叉を励振させ、前記音叉から応答信号を受け取るためのアナログＩ／Ｏ回路と、
前記応答信号中のアナログ信号のオフセットを低減するための調整回路と、
前記応答信号の振幅データを同定するための信号検出回路と、
前記検出された振幅データをディジタル形式に変換するためのアナログディジタル変換回路と、
ユーザ定義データを保持するためのメモリと
を含み、前記応答信号の前記ディジタル形式を前記ユーザ定義データとともに処理して、前記被試験流体の流体特性を生成する、流体の特性を検知するためのシステム。 - 前記ユーザ定義データが、校正データ及び前記被試験流体の近似された流体特性の少なくとも１つを含む、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、フィッティングアルゴリズムを処理して前記被試験流体の前記流体特性を確定するように構成されたプロセッサと通信する、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、フィッティングアルゴリズムを処理して前記被試験流体の前記流体特性を確定するように構成された集積化されたＣＰＵを更に含む、請求項３に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記フィッティングアルゴリズムが、シンプレックス方程式を実行して最小二乗値を最小にするようになっている、請求項３に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記フィッティングアルゴリズムが、シンプレックス方程式を実行して最小二乗値を最小にするようになっている、請求項４に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記音叉近傍の温度を読み出すように設計された温度センサを更に含み、
温度で規定される組の校正データ及び前記被試験流体の近似流体特性を選択するように前記温度の読みが用いられるようになっている、請求項２に記載の流体の特性を検知するためのシステム。 - 前記ＡＳＩＣが、機械のローカルマシン電子装置に結合される、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記機械が自動車であり、前記被試験流体がエンジンオイルである、請求項８に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記被試験流体の前記流体特性に関するアナログデータ及びディジタルデータの１つを供給するためのローカルマシンユーザインターフェースを更に含む、請求項９に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記ローカルマシン電子装置が、エンジン制御電子装置を含む、請求項８に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、前記ＡＳＩＣ内にある構成要素を前記ＡＳＩＣ外にある構成要素とインターフェースさせるためのディジタルロジック制御部を含む、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、モータ、掘削中の測定用ツール、掘削中のロギングツール、探鉱及び油田ロギングツール、プリント回路基板及びコンピュータのマザーボードのうちの１つの電子装置中に集積化される、請求項１２に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記被試験流体の前記生成された流体特性が、表示用モニタ上に表示される、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記メモリが、再書き込み可能である、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記校正データ及び前記被試験流体の近似流体特性の１つ又は両方が、メモリカード、メモリスティック、ハードディスク、光ディスク及びネットワーク上のうちの１つに格納することができる、請求項２に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、前記ＡＳＩＣの構成要素をインターフェースさせるためのグルーロジックを更に含む、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、コンピュータとインターフェースするためのディジタルＩ／Ｏを更に含む、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、ＲＯＭと、ＲＡＭと、ＣＰＵと、クロックとを更に含む、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、タイマを更に含む、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記音叉が、集積化されたコンデンサを有する、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記信号調整回路が、音叉の前記応答信号である入力を前記音叉から受け取るための差動増幅器と、
前記差動増幅器の入力部に結合されたコンデンサとを含む、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。 - 前記コンデンサが、前記音叉上に集積化される、請求項２１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記信号調整回路が、音叉の前記応答信号である入力を前記音叉から受け取るための差動増幅器と、
前記信号検出回路及び前記アナログディジタル変換器の１つに補償を供給するためのディジタルアナログ変換器とを含む、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。 - 前記差動増幅器の入力部に結合されたコンデンサを更に含む、請求項２３に記載の流体の特性を検知するためのシステム。
- 前記信号調整回路が、音叉の前記応答信号である入力を前記音叉から受け取るための差動増幅器と、
前記差動増幅器の入力部に結合されたコンデンサと、
前記差動増幅器と前記コンデンサの間に結合された加算増幅器とを含む、請求項１に記載の流体の特性を検知するためのシステム。 - 被試験流体の特性を決定するための回路であって、
センサ及びホスト電子装置とインターフェースを取るためのアナログディジタル処理回路を含み、
前記アナログディジタル処理回路が、前記センサを励振するための周波数発生器と、
前記センサから応答信号を受け取り、前記応答信号中のアナログ信号のオフセットを低減するための調整回路と、
前記応答信号の振幅データを同定するための信号検出回路と、
前記検出された振幅データをディジタル形式に変換するためのアナログディジタル変換回路と、
前記センサを特徴付けるデータを保持することができるメモリとを含み、
前記応答信号の前記ディジタル形式を処理して、前記被試験流体の流体特性を生成する、被試験流体の特性を決定するための回路。 - 前記センサを特徴付ける前記データが、校正データを含む、請求項２７に記載の被試験流体の特性を決定するための回路。
- 前記メモリが、更に、前記被試験流体の近似された特性データを保持することができる、請求項２７に記載の被試験流体の特性を決定するための回路。
- 前記アナログディジタル処理回路が、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）中に組み込まれる、請求項２７に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記信号調整回路及び前記メモリが、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）中に組み込まれる、請求項２７に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記信号調整回路、前記信号検出回路及び前記メモリが、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）中に組み込まれる、請求項２７に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記信号調整回路、前記信号検出回路、前記周波数発生器及び前記メモリが、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）中に組み込まれる、請求項２７に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記信号調整回路、前記信号検出回路、前記周波数発生器、前記アナログディジタル変換回路及び前記メモリが、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）中に組み込まれる、請求項２７に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、集積化されたプロセッサを更に含む、請求項３４に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記集積化されたプロセッサが、ＣＰＵ、マイクロプロセッサのコア、マイクロコントローラ、状態マシン、ディジタル信号プロセッサの１つである、請求項３５に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記信号検出回路が、ＲＭＳ検出器及び同期検出器の１つを含む、請求項２７に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記センサが、機械式共振器である、請求項２７に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記機械式共振器が、音叉である、請求項３６に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記センサが、集積化されたコンデンサを有した音叉である、請求項２７に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、前記センサと集積化される、請求項２８に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記ＡＳＩＣが、車両電子装置中に集積化される、請求項２８に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記被試験流体が、車両用流体である、請求項２８に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記車両用流体が、オイルである、請求項２８に記載の流体の特性を決定するためのシステム。
- 機械式センサとインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法であって、
前記機械式センサが、前記被試験流体中に少なくとも部分的に浸漬されており、
前記方法が、可変周波数信号を前記センサに供給するステップと、
前記センサから周波数の応答を受け取るステップと、
前記周波数応答を調整するステップと、
前記周波数応答の信号成分を検出するステップと、
前記センサから受け取った前記周波数応答を表すディジタル形式に、前記周波数応答を変換するステップと、
前記センサの物理的特性を定義する第１の校正変数をメモリからフェッチするステップと、
既知の流体中の前記センサの特性を定義する第２の校正変数をメモリからフェッチするステップと、
前記被試験流体中にあるとき、前記センサから受け取った前記応答の前記ディジタル形式を、前記フェッチされた第１及び第２の校正変数とともに、処理するステップとを含み、
前記処理が、フィッティングアルゴリズムを実行して、前記被試験流体の流体特性を生成する、機械式センサとインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。 - 前記被試験流体について生成された前記流体特性が、密度、粘度及び誘電率の値を含む、請求項４５に記載の機械式センサとインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 前記フィッティングアルゴリズムが、シンプレックス方程式を実行して最小二乗値を最小にする、請求項４５に記載の機械式センサとインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 前記センサの前記第１の校正が、大気中及び真空中の１つで実施される、請求項４５に記載の機械式センサとインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 既知の流体が、揮発性流体である、請求項４５に記載の機械式センサとインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 前記第１の校正及び前記第２の校正が、前記フィッティングアルゴリズムを使用する、請求項４５に記載の機械式センサとインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 前記方法ステップが、回路を使用して実行される、請求項４５に記載の機械式センサとインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 前記回路のいくつかが、特定用途向き集積回路（ＡＳＩＣ）の一部分である、請求項４５に記載の機械式センサとインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 音叉とインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法であって、
前記音叉が、前記被試験流体中に少なくとも部分的に浸漬されており、
前記方法が、可変周波数信号を前記音叉に印加するステップと、
前記音叉から周波数の応答を受け取るステップと、
前記周波数応答を調整するステップと、
前記周波数応答の少なくとも１つの信号成分を検出するステップと、
前記音叉から受け取った前記周波数応答を表すディジタル形式に、前記周波数応答を変換するステップと、
前記音叉についての校正変数をフェッチするステップと、
前記被試験流体中にあるとき、前記音叉から受け取った前記応答の前記ディジタル形式を、前記フェッチされた校正変数とともに、処理するステップとを含み、
前記処理が、フィッティングアルゴリズムを実行して、前記被試験流体の流体特性を生成する、音叉とインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。 - 前記可変周波数信号が、１００ｋＨｚより低い、請求項５３に記載の音叉とインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 前記可変周波数信号が、約５ｋＨｚから約５０ｋＨＺの範囲にある、請求項５３に記載の音叉とインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 前記回路のいくつかが、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）の一部分である、請求項５３に記載の音叉とインターフェースして被試験流体の特性を得るための方法。
- 被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）であって、
前記ＡＳＩＣが、１００ｋＨｚより低い周波数で動作するように設計された音叉と通信しており、
周波数信号を前記音叉に送信するための回路と、
前記音叉から受け取った応答信号を処理してディジタル形式にするための回路と、
前記音叉についての校正データを格納するための回路と、
前記校正データを使用してフィッティングアルゴリズムを実行して前記被試験流体の特性を確定するための回路と、
外部にある前記ＡＳＩＣの回路を前記ＡＳＩＣとインターフェースさせるための回路とを含む、被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）。 - 前記ＡＳＩＣが、半導体チップ中に集積化される、請求項５６に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための特定用途向け回路（ＡＳＩＣ）。
- 被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路であって、
補償用デバイスと、
前記被試験流体と接触することができる音叉、及び前記補償用デバイスとインターフェースするための集積回路とを含み、
前記補償用デバイスが、前記音叉の信号出力を差動的に処理するように構成されており、
前記補償用デバイスの前記差動的処理が、能動的に前記集積回路によって制御されて処理された信号を生成し、
前記処理済信号が、前記被試験流体の前記特性を定義する、被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。 - 前記集積回路が、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）である、請求項５９に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 前記補償用デバイスが、容量性整合用回路を含む、請求項５９に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 前記容量性整合用回路が、容量性回路、バリキャップ回路及びブリッジ回路の１つを含む、請求項６１に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 前記信号の前記差動的処理が、前記信号の直接関係する部分を増幅し、前記信号の関係しない部分を最小にして、前記処理済信号を生成する、請求項５９に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 前記処理済信号の大きさが、前記被試験流体の粘度を同定する、請求項６３に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 前記処理済信号の周波数の中心点が、前記被試験流体の密度を同定する、請求項６３に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 前記集積回路によって前記補償用デバイスに加えられた前記補償の量が、前記被試験流体の誘電率を同定する、請求項６３に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 被試験流体の特性を決定するためのシステムであって、
前記被試験流体中に少なくとも部分的に浸漬することができる音叉と、
補償用デバイスと、
前記音叉及び前記補償用デバイスとインターフェースするための集積回路とを含み、
前記補償用デバイスが、前記音叉から出力された信号を差動的に処理するように構成されており、
前記補償用デバイスの前記差動的処理が、能動的に前記集積回路によって制御されて、処理された信号を生成し、
前記処理済信号が、前記被試験流体の前記特性を定義する、被試験流体の特性を決定するためのシステム。 - 前記集積回路が、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）である、請求項６７に記載の被試験流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記補償用デバイスが、容量性整合用回路を含む、請求項６７に記載の被試験流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記容量性整合用回路が、容量性回路、バリキャップ回路及びブリッジ回路の１つを含む、請求項６９に記載の被試験流体の特性を決定するためのシステム。
- 前記信号の前記差動的処理が、前記信号の直接関係する部分を増幅し、前記信号の関係しない部分を最小にして、前記処理済信号を生成する、請求項６７に記載の被試験流体の特性を決定するためのシステム。
- 被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路であって、
前記被試験流体と接触することができる音叉とインターフェースするための集積回路を含み、
前記集積回路が、前記音叉の信号出力を差動的に処理するように構成された補償用デバイスを含み、
前記補償用デバイスの前記差動的処理が、能動的に前記集積回路によって制御されて、処理された信号を生成し、
前記処理済信号が、前記被試験流体の前記特性を定義する、被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。 - 前記集積回路が、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）である、請求項７２に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 前記補償用デバイスが、容量性整合用回路を含む、請求項７２に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 前記容量性整合用回路が、容量性回路、バリキャップ回路及びブリッジ回路の１つを含む、請求項７４に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
- 前記信号の前記差動的処理が、前記信号の直接関係する部分を増幅し、前記信号の関係しない部分を最小にして、前記処理済信号を生成する、請求項７２に記載の被試験流体の特性を決定するために使用される信号を処理するための回路。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US45676703P | 2003-03-21 | 2003-03-21 | |
| US45651703P | 2003-03-21 | 2003-03-21 | |
| US10/394,543 US6873916B2 (en) | 2002-10-18 | 2003-03-21 | Application specific integrated circuitry for controlling analysis of a fluid |
| PCT/US2004/008555 WO2004086020A2 (en) | 2003-03-21 | 2004-03-19 | Application specific integrated circuitry for controlling analysis of a fluid |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2006520906A true JP2006520906A (ja) | 2006-09-14 |
Family
ID=33102136
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006507406A Pending JP2006520906A (ja) | 2003-03-21 | 2004-03-19 | 流体解析の制御用特定用途向け集積回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP1558911B1 (ja) |
| JP (1) | JP2006520906A (ja) |
| AT (1) | ATE401565T1 (ja) |
| DE (1) | DE602004015059D1 (ja) |
| WO (1) | WO2004086020A2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010530072A (ja) * | 2007-06-15 | 2010-09-02 | エクソンモービル リサーチ アンド エンジニアリング カンパニー | 所定の状態によって作動または停止する機械的振動体 |
| CN103674167A (zh) * | 2013-12-25 | 2014-03-26 | 深圳市易流科技有限公司 | 一种油量精准定标仪及其实现方法 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004049580A1 (de) * | 2004-10-12 | 2006-04-13 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur Erfassung von Zustandsparametern einer Flüssigkeit |
| DE102005007544A1 (de) * | 2005-02-18 | 2006-08-24 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung zweier Parameter eines Fluids |
| US7634937B2 (en) | 2005-07-01 | 2009-12-22 | Symyx Solutions, Inc. | Systems and methods for monitoring solids using mechanical resonator |
| CN103837666B (zh) * | 2014-02-25 | 2016-03-09 | 天地（常州）自动化股份有限公司 | 矿用设备润滑油状态在线监测***及其监测方法 |
| GB2540338A (en) * | 2015-05-18 | 2017-01-18 | Rosemount Measurement Ltd | Improvements in or relating to field devices |
| WO2020170006A1 (en) * | 2019-02-18 | 2020-08-27 | Dghaish Osama Saeed Azzo | A device and method for examining petroleum liquids |
| CN111678839B (zh) * | 2020-06-10 | 2022-10-04 | 上海市计量测试技术研究院 | 一种磁力悬浮法标定密度标准液的装置与方法 |
Citations (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63308528A (ja) * | 1987-03-11 | 1988-12-15 | ソーラートロン グループ リミテッド | 流体トランスジューサ |
| JPH04230599A (ja) * | 1990-10-18 | 1992-08-19 | Hottinger Baldwin Messtech Gmbh | 測定値検出および伝送装置 |
| JPH04310872A (ja) * | 1991-04-10 | 1992-11-02 | Murata Mfg Co Ltd | 電圧定在波比測定装置 |
| JPH08261915A (ja) * | 1995-03-20 | 1996-10-11 | Olympus Optical Co Ltd | 触覚センサプローブ及び触覚センサ |
| JPH09257682A (ja) * | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Riken Corp | 粘度センサ |
| JPH1194726A (ja) * | 1997-09-19 | 1999-04-09 | Riken Corp | 音叉型圧電振動子 |
| JPH11173968A (ja) * | 1997-12-12 | 1999-07-02 | Riken Corp | 液体性状測定方法及び液体性状測定装置 |
| JP2000035483A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-02-02 | Yamamoto Eng Corp | 堆積物中の透水係数及び地下流体を含んだ地盤構造の画像化方法、及び、媒質の物理特性の測定方法 |
| JP2000065774A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ |
| JP2001264148A (ja) * | 2000-03-15 | 2001-09-26 | Ngk Spark Plug Co Ltd | レベル及び粘性測定装置 |
| JP2002519778A (ja) * | 1998-05-15 | 2002-07-02 | バース・テック・リミテッド | マルチポイントデジタル温度制御装置 |
| JP2002524729A (ja) * | 1998-09-04 | 2002-08-06 | ブリード オートモティブ テクノロジィ、 インク． | 力センサアセンブリ |
| JP2002525578A (ja) * | 1998-09-11 | 2002-08-13 | フェムトメトリクス，インコーポレイテッド | 化学センサーアレイ |
| JP2002539427A (ja) * | 1999-03-05 | 2002-11-19 | マルコニ アップライド テクノロジーズ リミテッド | 化学的センサーシステム |
| US6494079B1 (en) * | 2001-03-07 | 2002-12-17 | Symyx Technologies, Inc. | Method and apparatus for characterizing materials by using a mechanical resonator |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4429564A (en) * | 1981-01-23 | 1984-02-07 | Yokogawa Hokushin Electric Corporation | Vibration type density meter |
| US5921928A (en) * | 1996-12-05 | 1999-07-13 | Mayo Foundation For Medical Education And Research | Acoustic force generation by amplitude modulating a sonic beam |
| US6378364B1 (en) * | 2000-01-13 | 2002-04-30 | Halliburton Energy Services, Inc. | Downhole densitometer |
| GB2369887B (en) * | 2000-12-08 | 2005-03-09 | Sondex Ltd | Densitometer |
-
2004
- 2004-03-19 EP EP04757933A patent/EP1558911B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2004-03-19 AT AT04757933T patent/ATE401565T1/de not_active IP Right Cessation
- 2004-03-19 DE DE602004015059T patent/DE602004015059D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2004-03-19 WO PCT/US2004/008555 patent/WO2004086020A2/en active Application Filing
- 2004-03-19 JP JP2006507406A patent/JP2006520906A/ja active Pending
Patent Citations (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63308528A (ja) * | 1987-03-11 | 1988-12-15 | ソーラートロン グループ リミテッド | 流体トランスジューサ |
| JPH04230599A (ja) * | 1990-10-18 | 1992-08-19 | Hottinger Baldwin Messtech Gmbh | 測定値検出および伝送装置 |
| JPH04310872A (ja) * | 1991-04-10 | 1992-11-02 | Murata Mfg Co Ltd | 電圧定在波比測定装置 |
| JPH08261915A (ja) * | 1995-03-20 | 1996-10-11 | Olympus Optical Co Ltd | 触覚センサプローブ及び触覚センサ |
| JPH09257682A (ja) * | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Riken Corp | 粘度センサ |
| JPH1194726A (ja) * | 1997-09-19 | 1999-04-09 | Riken Corp | 音叉型圧電振動子 |
| JPH11173968A (ja) * | 1997-12-12 | 1999-07-02 | Riken Corp | 液体性状測定方法及び液体性状測定装置 |
| JP2002519778A (ja) * | 1998-05-15 | 2002-07-02 | バース・テック・リミテッド | マルチポイントデジタル温度制御装置 |
| JP2000035483A (ja) * | 1998-06-30 | 2000-02-02 | Yamamoto Eng Corp | 堆積物中の透水係数及び地下流体を含んだ地盤構造の画像化方法、及び、媒質の物理特性の測定方法 |
| JP2000065774A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Shimadzu Corp | ガスクロマトグラフ |
| JP2002524729A (ja) * | 1998-09-04 | 2002-08-06 | ブリード オートモティブ テクノロジィ、 インク． | 力センサアセンブリ |
| JP2002525578A (ja) * | 1998-09-11 | 2002-08-13 | フェムトメトリクス，インコーポレイテッド | 化学センサーアレイ |
| JP2002539427A (ja) * | 1999-03-05 | 2002-11-19 | マルコニ アップライド テクノロジーズ リミテッド | 化学的センサーシステム |
| JP2001264148A (ja) * | 2000-03-15 | 2001-09-26 | Ngk Spark Plug Co Ltd | レベル及び粘性測定装置 |
| US6494079B1 (en) * | 2001-03-07 | 2002-12-17 | Symyx Technologies, Inc. | Method and apparatus for characterizing materials by using a mechanical resonator |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010530072A (ja) * | 2007-06-15 | 2010-09-02 | エクソンモービル リサーチ アンド エンジニアリング カンパニー | 所定の状態によって作動または停止する機械的振動体 |
| CN103674167A (zh) * | 2013-12-25 | 2014-03-26 | 深圳市易流科技有限公司 | 一种油量精准定标仪及其实现方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1558911B1 (en) | 2008-07-16 |
| WO2004086020A3 (en) | 2005-03-24 |
| WO2004086020A2 (en) | 2004-10-07 |
| ATE401565T1 (de) | 2008-08-15 |
| DE602004015059D1 (de) | 2008-08-28 |
| EP1558911A2 (en) | 2005-08-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6873916B2 (en) | Application specific integrated circuitry for controlling analysis of a fluid | |
| US7158897B2 (en) | Integrated circuitry for controlling analysis of a fluid | |
| US7562557B2 (en) | Flexural resonator sensing device and method | |
| EP1804048B1 (en) | A density and viscosity sensor | |
| US6044694A (en) | Resonator sensors employing piezoelectric benders for fluid property sensing | |
| Chon et al. | Experimental validation of theoretical models for the frequency response of atomic force microscope cantilever beams immersed in fluids | |
| US7210332B2 (en) | Mechanical resonator | |
| CN109716116A (zh) | 用于确定材料的至少一个性质的***和方法 | |
| WO2005085819A1 (en) | In situ fluid condition monitoring | |
| CN105738420A (zh) | 感测方法和*** | |
| EP1558911B1 (en) | Application specific integrated circuitry for controlling analysis of a fluid | |
| Zhang et al. | Determination of liquid density with a low frequency mechanical sensor based on quartz tuning fork | |
| WO1996035103A9 (en) | A piezoelectric crystal microbalance device | |
| EP3214424A1 (en) | A detection device, a system and a method for measuring fluid properties including viscosity and/or density | |
| WO2007087936A3 (de) | Vorrichtung und verfahren zur detektion einer substanz in einer flüssigkeit | |
| CN105115858B (zh) | 一种基于机电阻抗法的粘度计及其检测方法 | |
| JPH11173968A (ja) | 液体性状測定方法及び液体性状測定装置 | |
| US20090064766A1 (en) | Method and device for measuring the viscosity of non-newtonian liquids, in particular engine operating materials | |
| EP1092133B1 (en) | Method and apparatus for determining a resonant frequency of a resonator containing a gas composition | |
| JP2007093573A (ja) | バイオセンサ計測システム、粘性率測定方法、および微量質量測定方法 | |
| US9032797B2 (en) | Sensor device and method | |
| CN1455239A (zh) | 一种测定大气环境中金属腐蚀电位的方法和装置 | |
| Kim et al. | On-line estimation of effective bulk modulus in fluid power systems using piezoelectric transducer impedance | |
| Durdag et al. | Real-Time Viscosity Measurement for Condition-Based Monitoring Using Solid-State Viscosity Sensor | |
| CN115917291A (zh) | 用于计算振动计q值的方法和设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070316 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20070703 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20070703 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091130 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100302 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100602 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100609 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100701 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100708 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100714 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101019 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110118 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110125 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110221 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110228 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110322 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110329 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110419 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110517 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110817 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110824 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110914 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20111018 |