JP2006520894A5 - - Google Patents

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Claims (12)

  1. 垂直フレーム(100)から形成される種類の連続的に巻き取る材料ストリップ(矢印B)における穴を検出する検出装置であって、垂直フレームが、上部本体(100a)および下部本体(100b)の2つに前記垂直フレーム(100)を区切る水平スロット(110)を通る材料ストリップの経路内に配置され、各上部および下部本体が、相互に対向して開く窓を介して前記水平スロット(110)上で開いており、上部本体(100a)が、下を通過する前記材料ストリップの方向の光源のために放射する第1の光放射サブアセンブリ(200)を支持するためのものであり、かつ下部本体(100b)が、第1の光放射サブアセンブリ(200)により放射された前記光を受容する第2の光受容サブアセンブリ(300)を支持し、上を通過する材料ストリップにおける穴を介してフィルタリングできるためのものであり、
    前記光放射サブアセンブリ(200)が、いわゆるレーザ放射、すなわち誘導放出光を含み、前記光受容サブアセンブリ(300)が、レーザ放射により放出された小さな光束を検知するフォトオード(310aおよび310b)により構成される、検出装置。
  2. 前記第1の光放射サブアセンブリ(200)のレーザ放射が、材料ストリップの全幅にわたり広がることができる複数のレーザダイオード(210aおよび210b)のストリップにより形成される、請求項1に記載の検出装置。
  3. 第2の光受容サブアセンブリ(300)が、レーザダイオードから放射される小さな光束を検知する複数のフォトダイオード(310aおよび310b)のストリップにより構成される、請求項1に記載の検出装置。
  4. 第1の光放射サブアセンブリ(200)が、2列のレーザダイオード(210aおよび210b)のストリップを備え、該2列のレーザダイオード(210aおよび210b)のストリップが、相互に平行に配置され、前記水平スロット(110)および検査されるべき材料ストリップの上に配置され、かつ前記水平スロット(110)に沿って相互に均等にずらせて配置され、一方の列のレーザダイオード(210aまたは210b)の光ビームが、他方の列のレーザダイオード(210bまたは210a)の光ビームに重なる、またはその逆である、請求項1および2に記載の検出装置。
  5. 前記レーザダイオード(210aおよび210b)それぞれが、レーザビームを発散させるラインを生成するレンズを備え、前記レーザダイオードの出力の光スポットに比べて大きい有効検出領域(Zu)を走査できる、請求項1および2に記載の検出装置。
  6. 第2の光受容サブアセンブリ(300)が、2列のフォトダイオード(310aおよび310b)のストリップを備え、該2列のフォトダイオード(310aおよび310b)のストリップが、前記水平スロット(110)および検査されるべき材料ストリップに平行に配置され、かつレーザダイオード(210aおよび210b)に対向して配置され、前記水平スロット(110)を通り連続的に通過する材料ストリップのいずれかの穴を通るフィルタリングされたレーザ放射を捕捉する、請求項1および3に記載の検出装置。
  7. いわゆる発散平凸円柱レンズ(400)が、各レーザダイオード(210aまたは210b)からの発散ビーム(Fd)出力の間に置かれることにより、前記発散ビーム(Fd)をそらし、前記発散ビーム(Fd)を検査されるべき材料ストリップを横断しかつ前記材料ストリップの平面に垂直な平行ビーム(Fp)に変換し、材料ストリップの幅での有効検査領域(Zu)を画定する、請求項1から6のいずれか一項に記載の検出装置。
  8. いわゆる収束平凸円柱レンズ(500)が、検査されるべき材料ストリップと、第2の光受容サブアセンブリ(300)のフォトダイオード(310aおよび310b)との間で水平スロット(110)の下の平行ビーム(Fp)に配置され、前記平行ビーム(Fp)をそらし、前記平行ビーム(Fp)を第2の光受容サブアセンブリ(300)のフォトダイオード(310aまたは310b)の方向に収束するビーム(Fp)に変換する、請求項1から7のいずれか一項に記載の検出装置。
  9. 第1の光放射サブアセンブリ(200)のレーザダイオード(210aおよび210b)の数が、第2の光受容サブアセンブリ(300)のフォトダイオード(310aおよび310b)の数と同一である、請求項1から8の全てに記載の検出装置。
  10. 光受容サブアセンブリ(300)のフォトダイオード(310aおよび310b)の前面に配置された干渉フィルタ(600)を組み込んでいる、請求項1から9の全てに記載の検出装置。
  11. 前記レーザダイオード(210a、210b)および/または前記平凸円柱レンズ(400、500)および/または前記フォトダイオード(310a、310b)が、取外し可能なフランジデバイス内に取り付けられかつ配置される、請求項1から10のいずれか一項に記載の検出装置。
  12. レーザ放射により放射される小さな光束が、約1mWである、請求項1から11のいずれか一項に記載の検出装置。
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008020345A1 (en) * 2006-08-18 2008-02-21 Primus Special Projects (Pty) Ltd An illuminating module for a sorter
CN101349653B (zh) * 2007-07-17 2011-09-14 深圳市比克电池有限公司 电池隔膜纸沙眼的检测方法及装置
CN101413903B (zh) * 2007-10-19 2011-05-18 欣竑科技有限公司 电子组件料带冲孔机的导带异常检测法
CN101644685B (zh) * 2009-09-11 2013-02-13 武汉钢铁(集团)公司 钢板孔洞在线检测装置及孔洞纵向尺寸的计算方法
CN102019297B (zh) * 2009-09-17 2012-11-14 宝山钢铁股份有限公司 薄带材轧制中检测针孔大小等级的装置及方法
CN102371290B (zh) * 2010-08-06 2013-04-03 上海龙阳精密复合铜管有限公司 管线成型加工过程的在线探伤检测工艺
EP2726641B1 (fr) * 2011-06-30 2020-05-06 Bobst Mex Sa Procede et machine d'enduction d'un substrat en bande continue et dispositif de determination de la qualite d'enduction
EP2726855B1 (fr) 2011-07-01 2019-01-09 Bobst Mex Sa Dispositif de detection et machine d'enduction d'un support plan ainsi equipee
JP6040003B2 (ja) * 2012-11-07 2016-12-07 昭和電線ケーブルシステム株式会社 間欠型光ファイバテープ心線の検査方法、製造方法および検査装置
FR3088724B1 (fr) 2018-11-16 2022-05-27 Arck Sensor Dispositif de detection optique des defauts d’un materiau en feuille, muni de deux tetes de detection
FR3088723B1 (fr) 2018-11-16 2022-08-26 Arck Sensor Dispositif de detection optique des defauts d’un materiau en feuille, muni d’une chambre d’eclairage
CN112881305B (zh) * 2021-01-14 2022-11-25 河南天子铝业有限公司 一种用于铝型材的快速检测设备
TR2021016610A2 (tr) * 2021-10-25 2021-11-22 Agteks Oerme Ve Teks Enduestrileri San Ve Tic Ltd Sti Kumaş kali̇te kontrol terti̇bati
CN116730056B (zh) * 2023-08-15 2023-10-27 江苏铭丰电子材料科技有限公司 一种可测缺陷的铜箔收卷装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3589816A (en) * 1968-02-27 1971-06-29 Fuji Photo Film Co Ltd Apparatus for detecting imperfections on a web
US3835332A (en) * 1973-06-04 1974-09-10 Eastman Kodak Co Inspection apparatus for detecting defects in a web
JPS5034586A (ja) * 1973-07-27 1975-04-02
JPS5065487U (ja) * 1973-10-16 1975-06-12
DE2808359C3 (de) * 1978-02-27 1980-09-04 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Suchgerät für Löcher in Bahnen
US4260899A (en) * 1979-06-14 1981-04-07 Intec Corporation Wide web laser scanner flaw detection method and apparatus
US4265545A (en) * 1979-07-27 1981-05-05 Intec Corporation Multiple source laser scanning inspection system
US4728800A (en) * 1985-04-24 1988-03-01 Young Engineering, Inc. Apparatus and method for detecting defects in a moving web
JPH01197639A (ja) * 1988-02-02 1989-08-09 Dainippon Ink & Chem Inc 塗膜のピンホール検査装置
JPH04125455A (ja) * 1990-09-17 1992-04-24 Fuji Photo Film Co Ltd 表面検査装置
SE502547C2 (sv) * 1994-03-21 1995-11-13 Tetra Laval Holdings & Finance Sätt och anordning för att avkänna läget för en tvärgående big hos en förpackningsbana
JP3897826B2 (ja) * 1994-08-19 2007-03-28 株式会社半導体エネルギー研究所 アクティブマトリクス型の表示装置
US5798531A (en) * 1996-06-10 1998-08-25 Harris Instrument Corporation System for detecting small holes in moving articles
US5825501A (en) * 1997-03-14 1998-10-20 Lockheed Martin Energy Systems, Inc. Structure and yarn sensor for fabric
US5813753A (en) * 1997-05-27 1998-09-29 Philips Electronics North America Corporation UV/blue led-phosphor device with efficient conversion of UV/blues light to visible light
DE10117698A1 (de) * 2001-04-09 2002-10-10 Hubert A Hergeth Sensorleiste
JP4018347B2 (ja) * 2001-04-13 2007-12-05 富士フイルム株式会社 表面検査装置及び表面検査方法

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