JP2006289505A - 型と加工対象物との相対的な変位等を制御可能な加工装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 型のパターン面と加工対象物の被加工面の位置や、パターン面と被加工面の位置を変化させる変位速度をマイクロメートル、ナノメートルレベルでコントロールすることができる離型制御可能な加工装置を提供すること。
【解決手段】 所定のパターンを有する型100と加工対象物200とを押圧して、型のパターンを加工対象物に転写する加工装置であって、型100と加工対象物200との相対的な位置およびその位置を変化させる変位速度を調節可能な変位手段5と、型100および加工対象物200の少なくともいずれか一方に振動を加える加振手段6と、型100と加工対象物200との相対的な位置を検出する位置検出手段7と、型100と加工対象物200との間の圧力を検出する圧力検出手段8と、位置検出手段7および圧力検出手段8の検出情報に基づいて、変位手段5および加振手段6の作動を制御する制御手段300と、を具備する。
【選択図】 図1
【解決手段】 所定のパターンを有する型100と加工対象物200とを押圧して、型のパターンを加工対象物に転写する加工装置であって、型100と加工対象物200との相対的な位置およびその位置を変化させる変位速度を調節可能な変位手段5と、型100および加工対象物200の少なくともいずれか一方に振動を加える加振手段6と、型100と加工対象物200との相対的な位置を検出する位置検出手段7と、型100と加工対象物200との間の圧力を検出する圧力検出手段8と、位置検出手段7および圧力検出手段8の検出情報に基づいて、変位手段5および加振手段6の作動を制御する制御手段300と、を具備する。
【選択図】 図1
Description
この発明は、型と加工対象物との相対的な変位等を制御可能な加工装置に関するものである。
LSI(大規模集積回路)に代表される微細回路パターンを半導体基板(以下、単に基板と称する)上に形成するには、フォトリソグラフィーと呼ばれる技術が一般に用いられている。しかしながら、この方法では、形成するパターンの微細化にともない、装置の大型化やコストの増大を招いていた。
また、微細な成型物を得るために、加熱されて溶融した樹脂を、この樹脂のガラス転移温度以下に加熱された金型に高速・高圧で流し込み、圧力をコントロールしながら凝固させて成型する射出成型も用いられている。しかしながら、この方法では、供給された樹脂が金型に熱を奪われながら凝固するため、金型の微細なパターンの中に樹脂が侵入し難く、微細な形状を形成することは困難であった。また、金型を加熱し、微細なパターン内に樹脂が侵入するのを待った後、金型を冷却し成型することも考えられる。しかしながら、射出成型では、金型に樹脂を高圧で流し込む必要があるため、高圧に耐えられる大きな金型が必要であり、金型の熱容量が大きくなる結果、加熱・冷却に時間がかかるという問題があった。
近年、上記問題を解決するものとして、超微細なパターンを基板上に形成するナノインプリンティングプロセス技術が注目されている(例えば、非特許文献1参照。)。このプロセスは、簡単に説明すると以下の手順で行われる。
まず、形成したいパターンが表面に作りこまれた金型を準備し、ガラス転移温度以下の温度に保持された樹脂に、ガラス転移温度以上に加熱された金型を押圧する。すると、樹脂表面が溶融、流動されて、金型のパターンが樹脂に転写される。次に、金型を冷却して樹脂を凝固させ、金型を離型する。これにより、樹脂にパターンが形成される。
この方法では、高価な電子ビーム光源や光学系を必要とせず、加熱用ヒータとプレス装置を基本とした簡易な構造を用いることができる。
また、この方法では、樹脂が金型に熱を奪われて凝固するという問題もなく、樹脂を金型の微細なパターン内に進入させることができる。また、射出成型のような高圧に耐える大型の金型は不要であるため、高速に昇降温が可能であり、スループットの問題は生じない。
実際、型に作り込まれた形状をそのまま精度良く転写することが可能となっており、すでにこの方法によって約20nmの線幅をもつ細線が形成されたという報告がある(例えば、非特許文献2参照。)。
更に、このようなナノインプリンティングプロセス技術を用いることで、回折格子、フォトニック結晶、導波路、等の光デバイスや、マイクロチャネル、リアクター等の流体デバイスのような、各種のマイクロチップ、マイクロデバイスの製作も可能な状況が実現しつつある。
このようなナノインプリンティングプロセスにおいては、金型を加工対象物から引き離す離型工程で、加工対象物が金型に密着したまま引き伸ばされて塑性変形を生じ、加工対象物に形成されたパターンが崩れたり、剥がれたりするという問題があった。特に、孔や溝、柱や壁の幅に対し、深さ、高さの寸法が大きい、いわゆる高アスペクト比のパターンを形成しなければならない場合には、このような問題がより顕著なものとなる。
このような問題の対策としては、通常の金型を用いたパターン成形プロセスのように、金型に離型剤(潤滑剤)を塗布したり、酸化膜を形成する等して、金型と加工対象物の間の摩擦を低減させたり、あるいは離型時の金型の移動速度を極端に遅くし、金型と加工対象物の間に急激な剥離力(離型力)が生じ無いようにすること等が考えられる。
しかしながら、これらの対策では、パターン成形を多数回繰り返すうちに金型表面の潤滑剤が加工対象物側に付着して少なくなったり、加工対象物側との摩擦により酸化膜が摩耗したりする。このため、潤滑剤を定期的に補給したり、酸化膜の摩耗状況を適宜点検したり、必要に応じて酸化膜を再形成したりする必要が生じるが、これでは高スループット化を妨げることになる。特に、集積回路を製作するような場合、加工対象物に対し金型が小さく、一つの加工対象物に金型を多数回プレスするため、この問題はより顕著になる。
また、加工対象物が、薬液を流す流路や、形成した孔や溝で化学反応を生じさせるようなものである場合、加工対象物への離型剤の付着等は薬液や化学反応に影響を及ぼすため好ましくない。
さらに、離型時の金型の移動速度を遅くする方法では、スループットの低下に直結するため、好ましくない。
これを解決するために、離型する直前に、金型に超音波振動を加えて加工対象物表面の材料と金型との密着性を低下させるようにしたものもある(例えば、特許文献1参照)。この方法によれば、パターン崩れや剥離等の問題を回避しつつ、スループットの向上を図ることができる。
G. M. Whitesides, J. C. Love、「ナノ構造を作る新技術」、"日経サイエンス"、日本経済新聞社、平成13年(2001年)12月1日、31巻、12号、p.30−41
C. M. Sotomayor, et. al.、"Nanoimprint lithography: an alternative nanofabrication approach"、「Materials Science & Engineering C」、Elsevier Science、平成14年(2002年)、989巻、p.1−9
国際公開番号WO2004/093171(第12頁、第2図)
しかしながら、本発明者等が鋭意・研究した結果、パターンの大きさが超音波の振幅の大きさに近くなると、単に超音波振動を加えるだけでは、うまく離型することはできず、離型性を十分に向上するには、超音波の振幅や振動数、金型のパターン面と加工対象物の被加工面の相対的な位置や変位速度、圧力、温度等をそれぞれ正確にコントロールする必要があることを見出した。
そこで本発明は、金型のパターン面と加工対象物の被加工面の位置や変位速度、圧力、温度、超音波振動の振動数や振幅等をそれぞれ正確にコントロールすることができる加工装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の加工装置は、所定のパターンを有する型と加工対象物とを押圧して、前記型のパターンを前記加工対象物に転写する加工装置であって、前記加工対象物に対する前記型の相対的な位置および前記位置を変化させる変位速度を調節可能な変位手段と、前記型および前記加工対象物の少なくともいずれか一方に振動を加える加振手段と、前記加工対象物に対する前記型の相対的な位置を検出可能な位置検出手段と、を具備することを特徴とする。この場合、前記型と前記加工対象物との間の圧力を検出する圧力検出手段を具備する方が好ましい。また、前記型を加熱する型加熱手段と、前記型を冷却する型冷却手段と、前記型の温度を検出可能な型温度検出手段と、を具備する方が好ましい。また、前記加工対象物を加熱する加工対象物加熱手段と、前記加工対象物を冷却する加工対象物冷却手段と、前記加工対象物の温度を検出可能な加工対象物温度検出手段と、を具備する方が好ましい。また、前記加振手段は、加える振動の振幅を変化させる振幅可変手段を有する方が好ましい。
また、前記位置検出手段が検出した情報に基づいて、前記変位手段および前記加振手段の作動を制御する制御手段を具備する方が好ましい。
また、前記位置検出手段および前記圧力検出手段が検出した情報に基づいて、前記変位手段および前記加振手段の作動を制御する制御手段を具備する方が好ましい。
また、前記位置検出手段、前記圧力検出手段および前記型温度検出手段が検出した情報に基づいて、前記変位手段、前記加振手段、前記型加熱手段および前記型冷却手段の作動を制御する制御手段を具備する方が好ましい。
また、前記位置検出手段、前記圧力検出手段、前記型温度検出手段、前記加工対象物温度検出手段が検出した情報に基づいて、前記変位手段、前記加振手段、前記型加熱手段、前記型冷却手段、前記加工対象物加熱手段および前記加工対象物冷却手段の作動を制御する制御手段を具備する方が好ましい。
請求項1,6記載の発明によれば、型のパターンの深さや加工対象物に対する型の相対的な位置、加振手段が加える振動の振幅の大きさに基づいて、加振手段が振動を加える位置を正確に調節したり、離型時の変位速度を正確に調節したりすることができる。したがって、パターンに生じる塑性変形を極力防止した離型を行うことができる。
請求項2,7記載の発明によれば、圧力検出手段で型と加工対象物との間の圧力を正確に検出し、加振手段が振動を加える位置や離型時の変位速度を正確に調節することができる。したがって、パターンに生じる塑性変形を極力防止した離型を行うことができる。
請求項3,8記載の発明によれば、型の温度を型温度検出手段によって正確に検出し、型加熱手段や型冷却手段によって型の温度を正確に調節できるので、加工対象物のガラス転移温度や型の熱収縮等を考慮した離型を行うことができる。したがって、パターンに生じる塑性変形を極力防止した離型を行うことができる。
請求項4,9記載の発明によれば、加工対象物の温度を加工対象物温度検出手段によって検出し、加工対象物加熱手段や加工対象物冷却手段によって加工対象物の温度を正確に調節できるので、加工対象物のガラス転移温度や熱収縮等を考慮して離型を行うことができる。したがって、パターンに生じる永久歪を極力防止した離型を行うことができる。
請求項5記載の発明によれば、パターンの深さや加工対象物に対する型の相対的な位置に基づいて、加振手段が加える振動の振幅を正確に調節することができる。したがって、パターンに生じる永久歪を極力防止した離型を行うことができる。
以下に、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
本発明の加工装置1は、図1に示すように、所定のパターンを有する型100と加工対象物200とを押圧して、型のパターンを加工対象物に転写する加工装置であって、型100を保持する型保持部2と、加工対象物200を保持する加工対象物保持部12と、加工対象物200に対する型100の相対的な位置およびその位置を変化させる変位速度を調節可能な変位手段5と、型100および加工対象物200の少なくともいずれか一方に振動を加える加振手段6と、加工対象物200に対する型100の相対的な位置を検出する位置検出手段7と、型100と加工対象物200との間の圧力を検出する圧力検出手段8と、型100を加熱する型加熱手段3と、型100を冷却する型冷却手段4と、型100の温度を検出する型温度検出手段31と、加工対象物200を加熱する加工対象物加熱手段13と、加工対象物200を冷却する加工対象物冷却手段14と、加工対象物200の温度を検出する加工対象物温度検出手段131と、位置検出手段7、圧力検出手段8、型温度検出手段31および加工対象物温度検出手段131の検出情報に基づいて、変位手段5、加振手段6、型加熱手段3、型冷却手段4、加工対象物加熱手段13および加工対象物冷却手段14の作動を制御する制御手段300と、で主に構成される。
型100は、加工対象物200に押圧して加工対象物200を加工し得るものであればどのようなものでもよいが、その一端面に、所定のパターンとしての凹凸が形成されたパターン面100aを有している。この凹凸には、型100をニッケル等の金属、セラミックス、ガラス状カーボン等の炭素素材、シリコンなどが用いられ、そのパターン面100aに精密機械加工を施すことで形成することができる。また、型100の原盤となるシリコン基板等にエッチング等の半導体微細加工技術によって所定のパターンを形成した後、このシリコン基板等の表面に電気鋳造(エレクトロフォーミング)法、例えばニッケルメッキ法によって金属メッキを施し、この金属メッキ層を剥離して、凹凸を有した型100を形成することもできる。もちろん型100は、微細パターンが形成できるものであれば材質やその製造法が特に限定されるものではない。この凹凸の幅は、用いられる加工対象物200の種類にもよるが、100μm以下、好ましくは10μm以下、更に好ましくは1μm以下、更に好ましくは100nm以下、更に好ましくは10nm以下に形成される。なお、この型100は、型加熱手段3および型冷却手段4によって加熱・冷却されるため、なるべく薄型化してその熱容量をできる限り小さくするのが好ましい。
加工対象物200としては、種々のものを用いることができ、例えばポリカーボネート、ポリイミド等の樹脂の他、アルミニウム等の金属、ガラス、石英ガラス、シリコン、ガリウム砒素、サファイア、酸化マグネシウム等の材料など、成形素材がそのまま基板形状をなしているものを用いることができる。また、シリコンやガラス等からなる基板本体の表面に、樹脂、フォトレジスト、配線パターンを形成するためのアルミニウム、金、銀などの金属薄膜の被覆層等が形成されたものを用いることもできる。更に、加工対象物200は、基板以外の形状、例えばフィルム等であっても勿論良い。
型保持部2は、図1に示すように、型100を保持する型保持面2aに、ねじやクランプ金具等の締結具で型100を面接触するように固定可能に形成される。なお、型保持部2の構造は、型100を型保持面2a上に保持するものであればどのようなものでも良く、例えば、型保持面2aに静電吸着や真空吸着により吸着保持する構造とすることも可能である。
また、型保持部2には、型100を加熱するための型加熱手段3、例えば非常に応答性の良いカーボンヒータを備えている。カーボンヒータは、制御手段300によって図示しない電源からの電流供給を制御されており、型100を所定の一定温度に維持することができる。なお、ヒータとしては、例えば、伝熱ヒータやセラミックヒータ、ハロゲンヒータ、IHヒータ等を用いることも可能である。
また、型保持部2には、型100を冷却する型冷却手段4が設けられている。型冷却手段4としては、例えばアルミニウムや銅等の熱伝導性の高い金属で形成された型保持部2の内部に水や油等の冷却液、空気や不活性ガス等の冷却気体を流すことで、型100を冷却することができる冷却流路を用いることができる。
また、型保持部2には、型100の温度を検出する型温度検出手段31、例えば熱伝対が設けられている。また、型温度検出手段31は、制御手段300に電気的に接続されており、検出した型100の温度に関する情報を制御手段300に伝達するように形成されている。
加工対象物保持部12は、図1に示すように、加工対象物200を略水平状態に保持するものであり、上面に加工対象物保持面12aを有した保持ステージを備えている。
この保持ステージには、加工対象物保持面12aに多数のバキューム孔(図示せず)が形成されており、このバキューム孔に図示しない負圧源から負圧を作用させることで、加工対象物保持面12a上に、加工対象物200を吸着保持できる構成となっている。なお、加工対象物保持部12の構造は、加工対象物200を加工対象物保持面12aに保持するものであればどのようなものでも良く、例えば、クランプ金具等の締結具で加工対象物保持面12aに固定したり、静電吸着で吸着保持したりする構造とすることも勿論可能である。
また、保持ステージの下部には保持した加工対象物200を加熱するための加工対象物加熱手段13、例えば非常に応答性の良いカーボンヒータを備えている。カーボンヒータは、制御手段300によって図示しない電源からの電流供給を制御されており、保持ステージ上の加工対象物200を所定の一定温度に維持することができる。なお、ヒータとしては、例えば、伝熱ヒータやセラミックヒータ、ハロゲンヒータ、IHヒータ等を用いることも可能である。
また、加工対象物保持部12には、加工対象物200を冷却する加工対象物冷却手段14を設けることも可能である。加工対象物冷却手段14としては、例えばアルミニウムや銅等の熱伝導性の高い金属で形成された加工対象物保持部12の内部に水や油等の冷却液、空気や不活性ガス等の冷却気体を流すことで、加工対象物200を冷却することができる冷却流路を用いることができる。
また、加工対象物保持部12には、加工対象物200の温度を検出する加工対象物温度検出手段131、例えば熱伝対が設けられている。また、加工対象物温度検出手段131は、制御手段300に電気的に接続されており、検出した加工対象物200の温度に関する情報を制御手段300に伝達するように形成されている。
変位手段5は、図1に示すように、例えば、垂直方向に配置されたボールネジ51と、このボールネジ51を回転駆動させる電気モータ52とから構成されている。また、ボールネジ51の下端部と型保持部2の上面は、押圧部53、ベアリング機構54を介して連結されている。そして、ボールネジ51を電気モータ52で回転駆動することで、基台50と上部ベース55との間に設けられた複数例えば4本の支柱56に対し、押圧部53を型100と加工対象物200の接離方向(以下、Z方向と称する)に変位させることができる。なお、電気モータ52としては、直流モータ、交流モータ、ステッピングモータ、サーボモータ等、種々のものを用いることができる。
ところで、ナノインプリントの離型プロセスは、型100と加工対象物200との間に所定の圧力(型100が加工対象物200を押圧する際の圧力を正とする)を加えて成形した後、加工対象物200に対して型100を離間する方向に変位させることで行われる。この際、型100と加工対象物200は、加工対象物200に対する型100の相対的な位置を、圧力が0になるまで変位させても離型はできない。なぜなら、型100と加工対象物200との間の摩擦力や型100と加工対象物200の熱収縮の差による噛み合い等により、型100と加工対象物200とが付着しているためである。したがって、型100と加工対象物200とを完全に離型させるためには、この付着力に応じた引張力(負の圧力)を与える必要がある。一方、この離型プロセスでは、加振手段6を用いて少なくとも型100と加工対象物200のいずれか一方に振動を付与する場合がある。加振手段6が振動を付与する位置は、型100と加工対象物200との間に押圧力(正の圧力)が付加されている位置や、引張力(負の圧力)が付加されている位置のいずれで行うこともできるが、引張力が付加されている位置で振動を与える場合には、加工対象物200に対する型100の位置が非常に重要である。なぜなら、圧力が0になる位置からの加工対象物200に対する型100の変位量が、加工対象物200を構成する材料の弾性域を超えると、加工対象物200に形成されたパターンに塑性変形が生じるためである。したがって、変位手段5は、加工対象物200に対する型100の相対的な位置を、離型する際に加工対象物200に生じるZ方向の最大弾性変形量と許容範囲内の塑性変形量(形成されたパターンに生じても構わない塑性変形量)との合計値以下の変位量で調節できるものが好ましく、更に好ましくは、Z方向の許容範囲内の塑性変形量(形成されたパターンに生じても構わない塑性変形量)以下の変位量で調節できるものが好ましい。具体的には、100μm以下で調節することができるものが良く、好ましくは10μm以下、更に好ましくは1μm以下、更に好ましくは100nm以下、更に好ましくは10nm以下、更に好ましくは1nm以下で調節できるものが好ましい。なお、加工対象物200に対する型100の位置は、加工対象物200に型100を押圧して型100のパターンを転写する成型プロセスにおいても重要であり、型100のパターンの深さ以下の変位量で調節できる方が好ましい。
また、加工対象物200の材料が高分子材料等の粘弾性を示す材料の場合、離型性は、加工対象物200に対する型100の変位速度に大きく依存する。これは、粘弾性体が、低速の変形に対しては軟らかい物体として、高速の変形に対しては硬い物体として振舞う性質のためであると考えられる。したがって、変位手段5は、加工対処物200に対する型100の変位速度を、加工対象物200に用いられる材料の粘弾性とスループットを考慮して調節できるものが好ましい。具体的には、100μm/秒以下で調節できるものが良く、好ましくは10μm/秒以下、更に好ましくは1μm/秒以下、更に好ましくは100nm/秒以下、更に好ましくは10nm/秒以下、更に好ましくは1nm/秒以下で調節できるものが良い。
なお、ここでは、変位手段5を型保持部2側に設ける場合について説明したが、加工対象物保持部12側に設けることも勿論可能である。また、変位手段5としては、型100と加工対象物200との相対的な変位量や変位速度を調節できるものであれば、ボールねじと電気モータにより構成されるものに限られず、例えば、電圧を調節して大きさ(寸法)を変化させることができる圧電素子や磁界を調節して大きさ(寸法)を変化させることができる磁歪素子を用いることもできる。また、ボールねじおよび電気モータと圧電素子又は磁歪素子の両方を用いることも勿論可能である。この場合には、型100と加工対象物200を大きく変位させる際に、ボールねじおよび電気モータを適用し、型100と加工対象物200を微小量変位させる際に、圧電素子又は磁歪素子を用いることができる。
変位手段5をこのように構成することによって、型100を保持する型保持部2を上下し、加工対象物保持部12に保持される加工対象物200に対し、型100のパターン面100aを精密に接近・押圧及び離間することができる。なお、ここでは、変位手段5を型保持部5側に設ける場合について説明したが、これに限られるものではなく、加工対象物保持部12側に設けることも可能である。
位置検出手段7は、例えば、型保持部2に配置されたリニアスケールにより形成される。このリニアスケールを用いて、加工対象物200と型保持部2との距離を測定し、その値から加工対象物200に対する型100の相対的な位置や変位速度を計算して検出することができる。また、位置検出手段7は、制御手段300に電気的に接続されており、検出した型100の位置や変位速度に関する情報を伝達するように形成されている。なお、位置検出手段7としては、リニアスケールに限らず種々のものを用いることができ、例えば、型保持部2側に設けられたレーザー測長機を用いて、加工対象物200の位置を測定するか、加工対象物保持部12側に設けられたレーザー測長機を用いて、型100の位置を測定すればよい。また、電気モータに設けられたエンコーダを用いて、変位手段5の変位量から計算により測定するものでもよい。なお、位置検出手段7の分解能は、少なくとも型100のパターンの深さ方向(Z方向)の大きさ以下、あるいは、変位手段5が調節できる変位量以下の値で検出できるものが好ましい。具体的には、100μm以下で検出することができるものが良く、好ましくは10μm以下、更に好ましくは1μm以下、更に好ましくは100nm以下、更に好ましくは10nm以下、更に好ましくは1nm以下で検出することができるものが好ましい。
位置検出手段7をこのように構成することによって、パターンの大きさや後述する加振手段6が加える振動の振幅の大きさに応じて、加工対象物200に対する型100のパターン面100aの位置を精密に調節することができるので、型100と加工対象物200との間の離型性を向上することができる。
圧力検出手段8は、型100と加工対象物200との間の圧力を検出するもので、例えば、型100と加工対象物200との間の荷重を測定するロードセルを用いることができる。これにより、荷重を測定し、型100のパターン面100aの面積で割れば型100と加工対象物200との間の圧力を検出することができる。また、圧力検出手段8は、制御手段300に電気的に接続されており、検出した圧力に関する情報を伝達するように形成されている。
圧力検出手段8をこのように構成することにより、例えば図2に示すように、加工対象物200から型100を離型する際に圧力が0になる位置(図中、時間t8の位置)を基準とし、パターンの大きさや後述する加振手段6が加える振動の振幅の大きさ、加工対象物の材質等に応じて、加工対象物200に対する型100のパターン面100aの位置や圧力を精密に調節することができる。したがって、型100と加工対象物200との間の離型性を向上することができる。
加振手段6は、図2に示すように、押圧部53の下部に配置された圧電素子61と、この圧電素子61の下面に取り付けられた超音波ホーン62とから構成される。ここで、圧電素子61は図示しない駆動回路により交流電圧が加えられたときに、その交流電圧の周波数で、Z方向の振動を発生する。また、超音波ホーン62は、圧電素子61に接している上端62aが固定端、下端62bが自由端となっている。これにより、圧電素子61が振動すると、自由端となっている超音波ホーン62の下端62bにおいて振動が増幅され、超音波ホーン62の下端62bに取り付けられた型100において、その振幅が最大となるように構成されている。
また、加振手段6は、加える振動の振幅を変化させる振幅可変手段を有する。例えば、圧電素子61に加える電圧を変化させることができる電圧可変手段(振幅可変手段)を設けることができる。これにより、圧電素子61に加える電圧を調節して、圧電素子61の伸縮を調節し、加振手段6の振幅を調節することができる。加振手段6の振幅は、10μm以下で調節できるものが良く、好ましくは1μm以下で調節できるものが良く、更に好ましくは100nm以下で調節できるものが良く、更に好ましくは10nm以下で調節できるものが好ましく、更に好ましくは1nm以下で調節できるものが好ましい。
加振手段6をこのように構成することにより、パターンの大きさや、加工対象物200に対する型100の相対的な位置に合わせて振幅を調節できる。例えば、離型プロセスでは、上述したように、圧力が0になる位置を基準にした加工対象物200に対する型100の変位量が、加工対象物200を構成する材料の弾性域を超えると、加工対象物200に形成されたパターンに塑性変形を生じる。したがって、加振手段6は、付与する振動の振幅を、離型する際に加工対象物200に生じるZ方向の最大弾性変形量と許容範囲内の塑性変形量(形成されたパターンに生じても構わない塑性変形量)との合計値以下の変位量で調節できるものが好ましく、更に好ましくは、Z方向の許容範囲内の塑性変形量(形成されたパターンに生じても構わない塑性変形量)以下の変位量で調節できるものが好ましい。これにより、加工対象物200の材料に大きな塑性変形が生じるのを極力防止することができる。
なお、上記説明では、加振手段6を圧電素子61と超音波ホーン62とから構成する旨説明したが、型100および加工対象物200の少なくともいずれか一方に振動を加えることのできるものであればこれに限らず、例えば、圧電素子61の代わりに、磁歪素子を用いることもできる。磁歪素子は、電磁石等の外部からの磁界の大きさに応じて弾性変形するものである。この場合、電磁石に加える電流の大きさや周波数を変化させることができる電流可変手段(振幅可変手段)を用いて電磁石の磁界の大きさを調節し、加振手段6の振幅を調節するようにしても良い。また、超音波ホーン62を用いないで、圧電素子61や磁歪素子等の振動を直接型100に付加するようにすることも勿論可能である。この場合、超音波ホーンをその固有振動数で共振させる必要がないので、圧電素子の電圧を変化させるか、磁歪素子の磁界を変化させることにより振動数を変化させる振動数可変手段を設けることができる。
制御手段300は、位置検出手段7、圧力検出手段8、型温度検出手段31および加工対象物温度検出手段131の検出情報に基づいて、変位手段5、押圧手段6、型加熱手段3、型冷却手段4、加工対象物加熱手段13および加工対象物冷却手段14の作動を制御するもので、例えばコンピュータを用いることができる。
次に、制御手段300の制御の一例について、図3に基づいて説明する。制御手段300は、以下のステップ1からステップ6の順番に加工装置1を制御する。
<ステップ1>
型100と加工対象物200とを接触させる前(時間t1より前)に、型温度検出手段31が検出した型100の温度に基づき、型100を例えば、加工対象物200のガラス転移温度以上に保持するように、型加熱手段3の作動・停止を制御する。また、加工対象物温度検出手段131が検出した加工対象物200の温度に基づき、加工対象物200を例えば、加工対象物のガラス転移温度以下に保持するように、加工対象物加熱手段13の作動・停止を制御する。
型100と加工対象物200とを接触させる前(時間t1より前)に、型温度検出手段31が検出した型100の温度に基づき、型100を例えば、加工対象物200のガラス転移温度以上に保持するように、型加熱手段3の作動・停止を制御する。また、加工対象物温度検出手段131が検出した加工対象物200の温度に基づき、加工対象物200を例えば、加工対象物のガラス転移温度以下に保持するように、加工対象物加熱手段13の作動・停止を制御する。
<ステップ2>
変位手段5を作動させ、型100を加工対象物200に接触させる(時間t1)。これにより、型100の熱が加工対象物200に伝熱され、加工対象物200の表面の温度がガラス転移温度以上の所定温度Tに加熱される。この際、制御手段300は、位置検出手段7が検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置、圧力検出手段8が検出した圧力(応力)、型温度検出手段31が検出した型100の温度、加工対象物温度検出手段131が検出した加工対象物200の温度に基づいて、変位手段5の変位量や変位速度を制御し、加工対象物200の表面の温度が所定温度Tに達する時間t2まで、圧力がP1を越えないように調節する。ここで、圧力P1は、加工対象物200に塑性変形が生じる圧力(応力)である。
変位手段5を作動させ、型100を加工対象物200に接触させる(時間t1)。これにより、型100の熱が加工対象物200に伝熱され、加工対象物200の表面の温度がガラス転移温度以上の所定温度Tに加熱される。この際、制御手段300は、位置検出手段7が検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置、圧力検出手段8が検出した圧力(応力)、型温度検出手段31が検出した型100の温度、加工対象物温度検出手段131が検出した加工対象物200の温度に基づいて、変位手段5の変位量や変位速度を制御し、加工対象物200の表面の温度が所定温度Tに達する時間t2まで、圧力がP1を越えないように調節する。ここで、圧力P1は、加工対象物200に塑性変形が生じる圧力(応力)である。
<ステップ3>
位置検出手段7が検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置に基づき、変位手段5の作動・停止を制御し、所定の変位速度と所定の変位量で、型100を加工対象物200に押し込むように調節する。これにより、加工対象物200を型100のパターンに十分に進入させて確実な成型をすることができる。
位置検出手段7が検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置に基づき、変位手段5の作動・停止を制御し、所定の変位速度と所定の変位量で、型100を加工対象物200に押し込むように調節する。これにより、加工対象物200を型100のパターンに十分に進入させて確実な成型をすることができる。
<ステップ4>
位置検出手段7が検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置に基づき、変位手段5の作動・停止を制御し、時間t3からt4までの間(圧力Pmax)、変位手段5の変位量(加工対象物200に対する型100の相対的な位置)を維持する。
位置検出手段7が検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置に基づき、変位手段5の作動・停止を制御し、時間t3からt4までの間(圧力Pmax)、変位手段5の変位量(加工対象物200に対する型100の相対的な位置)を維持する。
<ステップ5>
型温度検出手段31が検出した型100の温度に基づき、型加熱手段3、型冷却手段4の作動・停止を制御し、型100を例えばガラス転移温度以下の所定の温度になるように調節する。また、加工対象物温度検出手段131が検出した加工対象物200の温度に基づき、加工対象物加熱手段13、加工対象物冷却手段14の作動・停止を制御し、加工対象物200を所定の温度になるように調節する(時間t4からt5の間)。なお、型100の所定温度と加工対象物200の所定温度は、それぞれ任意に設定できる。例えば、型100の材料と加工対象物200の材料の熱収縮の差を考慮して設定すれば、型100が加工対象物200に噛むのを極力防止できるので、離型性を向上することができる。また、冷却中に型100と加工対象物200は熱収縮を起こして圧力が変動するので、圧力検出手段8が検出した型100と加工対象物200との間の圧力に基づき、変位手段5の作動を制御し、型100と加工対象物200との間の圧力をPmaxに維持する。
型温度検出手段31が検出した型100の温度に基づき、型加熱手段3、型冷却手段4の作動・停止を制御し、型100を例えばガラス転移温度以下の所定の温度になるように調節する。また、加工対象物温度検出手段131が検出した加工対象物200の温度に基づき、加工対象物加熱手段13、加工対象物冷却手段14の作動・停止を制御し、加工対象物200を所定の温度になるように調節する(時間t4からt5の間)。なお、型100の所定温度と加工対象物200の所定温度は、それぞれ任意に設定できる。例えば、型100の材料と加工対象物200の材料の熱収縮の差を考慮して設定すれば、型100が加工対象物200に噛むのを極力防止できるので、離型性を向上することができる。また、冷却中に型100と加工対象物200は熱収縮を起こして圧力が変動するので、圧力検出手段8が検出した型100と加工対象物200との間の圧力に基づき、変位手段5の作動を制御し、型100と加工対象物200との間の圧力をPmaxに維持する。
<ステップ6>
位置検出手段7が検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置、圧力検出手段8が検出した型100と加工対象物200との間の圧力に基づき、変位手段5の作動・停止を制御し、型100と加工対象物200との間の圧力を、型100と加工対象物200とが完全に分離しない所定の圧力P2(時間t6)に調節する。この場合、所定の圧力P2は、パターンの大きさや加振手段6が加える振動の振幅の大きさに応じて、図3に示す最大圧力Pmaxから最小圧力(最大引張力)Pminの間で自由に設定できる。勿論、圧力ではなく、パターンの大きさや加振手段6が加える振動の振幅の大きさ等を考慮して、加工対象物200に対する型100の相対的な位置を調節するようにしても良い。また、加工対象物200に対する型100の変位速度は、加工対象物200に用いられる材料の粘弾性やスループットを考慮して決定すればよい。なお、図3で時間t8以降、圧力が負の値をとるのは、型100と加工対象物200との密着力(材料の粘着力)や摩擦力等による引張力が発生するためであり、時間t9の圧力Pminが最大引張力となる。
位置検出手段7が検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置、圧力検出手段8が検出した型100と加工対象物200との間の圧力に基づき、変位手段5の作動・停止を制御し、型100と加工対象物200との間の圧力を、型100と加工対象物200とが完全に分離しない所定の圧力P2(時間t6)に調節する。この場合、所定の圧力P2は、パターンの大きさや加振手段6が加える振動の振幅の大きさに応じて、図3に示す最大圧力Pmaxから最小圧力(最大引張力)Pminの間で自由に設定できる。勿論、圧力ではなく、パターンの大きさや加振手段6が加える振動の振幅の大きさ等を考慮して、加工対象物200に対する型100の相対的な位置を調節するようにしても良い。また、加工対象物200に対する型100の変位速度は、加工対象物200に用いられる材料の粘弾性やスループットを考慮して決定すればよい。なお、図3で時間t8以降、圧力が負の値をとるのは、型100と加工対象物200との密着力(材料の粘着力)や摩擦力等による引張力が発生するためであり、時間t9の圧力Pminが最大引張力となる。
<ステップ7>
型100と加工対象物200との間の圧力を所定の圧力P2に調節した後、加振手段6の作動を制御し、型100と加工対象物200との間に所定時間(時間t6からt7の間)振動を加える。この際、振幅可変手段の作動を制御し、加振手段6が加える振動の振幅を変化させることもできる。
型100と加工対象物200との間の圧力を所定の圧力P2に調節した後、加振手段6の作動を制御し、型100と加工対象物200との間に所定時間(時間t6からt7の間)振動を加える。この際、振幅可変手段の作動を制御し、加振手段6が加える振動の振幅を変化させることもできる。
<ステップ8>
位置検出手段7の検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置に基づき、変位手段5の作動を制御し、型100と加工対象物200とが所定の変位速度で離れるように調節する。これにより、時間t10で、型100と加工対象物200とが完全に分離する。この際、加工対象物200に対する型100の変位速度は、加工対象物200に用いられる材料の粘弾性やスループット等を考慮して決定する。
位置検出手段7の検出した加工対象物200に対する型100の相対的な位置に基づき、変位手段5の作動を制御し、型100と加工対象物200とが所定の変位速度で離れるように調節する。これにより、時間t10で、型100と加工対象物200とが完全に分離する。この際、加工対象物200に対する型100の変位速度は、加工対象物200に用いられる材料の粘弾性やスループット等を考慮して決定する。
なお、上記説明では、変位手段5を型100側に配置する場合について説明したが、これに限られるものではなく、変位手段5を加工対象物200側に配置することも可能である。
また、加振手段6が振動を加える際の圧力をP2で一定にしているが、これに限られるものではなく、変位手段5の作動を制御し、型100と加工対象物200との間の圧力を減圧しながら(離型しながら)振動を加えるようにすることも勿論可能である。
1 加工装置
3 型加熱手段
4 型冷却手段
5 変位手段
6 押圧手段
7 位置検出手段
8 圧力検出手段
13 加工対象物加熱手段
14 加工対象物冷却手段
31 型温度検出手段
100 型
131 加工対象物温度検出手段
200 加工対象物
300 制御手段
3 型加熱手段
4 型冷却手段
5 変位手段
6 押圧手段
7 位置検出手段
8 圧力検出手段
13 加工対象物加熱手段
14 加工対象物冷却手段
31 型温度検出手段
100 型
131 加工対象物温度検出手段
200 加工対象物
300 制御手段
Claims (9)
- 所定のパターンを有する型と加工対象物とを押圧して、前記型のパターンを前記加工対象物に転写する加工装置において、
前記加工対象物に対する前記型の相対的な位置および前記位置を変化させる変位速度を調節可能な変位手段と、
前記型および前記加工対象物の少なくともいずれか一方に振動を加える加振手段と、
前記加工対象物に対する前記型の相対的な位置を検出可能な位置検出手段と、
を具備することを特徴とする加工装置。 - 前記型と前記加工対象物との間の圧力を検出する圧力検出手段を具備することを特徴とする請求項1記載の加工装置。
- 前記型を加熱する型加熱手段と、
前記型を冷却する型冷却手段と、
前記型の温度を検出可能な型温度検出手段と、
を具備することを特徴とする請求項1又は2記載の加工装置。 - 前記加工対象物を加熱する加工対象物加熱手段と、
前記加工対象物を冷却する加工対象物冷却手段と、
前記加工対象物の温度を検出可能な加工対象物温度検出手段と、
を具備することを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の加工装置。 - 前記加振手段は、加える振動の振幅を変化させる振幅可変手段を有することを特徴とする請求項1ないし4のいずれかに記載の加工装置。
- 前記位置検出手段が検出した情報に基づいて、前記変位手段および前記加振手段の作動を制御する制御手段を具備することを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の加工装置。
- 前記位置検出手段および前記圧力検出手段が検出した情報に基づいて、前記変位手段および前記加振手段の作動を制御する制御手段を具備することを特徴とする請求項2ないし5のいずれかに記載の加工装置。
- 前記位置検出手段、前記圧力検出手段および前記型温度検出手段が検出した情報に基づいて、前記変位手段、前記加振手段、前記型加熱手段および前記型冷却手段の作動を制御する制御手段を具備することを特徴とする請求項3ないし5のいずれかに記載の加工装置。
- 前記位置検出手段、前記圧力検出手段、前記型温度検出手段、前記加工対象物温度検出手段が検出した情報に基づいて、前記変位手段、前記加振手段、前記型加熱手段、前記型冷却手段、前記加工対象物加熱手段および前記加工対象物冷却手段の作動を制御する制御手段を具備することを特徴とする請求項4又は5記載の加工装置。
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JP2005109078A JP2006289505A (ja) | 2005-04-05 | 2005-04-05 | 型と加工対象物との相対的な変位等を制御可能な加工装置 |
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ID=37410654
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2005
- 2005-04-05 JP JP2005109078A patent/JP2006289505A/ja active Pending
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