JP2006227290A - 表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、表示画素毎に画素電極を備えたアレイ基板と、複数の画素電極に対向する対向電極を備えた対向基板と、アレイ基板と対向基板との間に保持された光変調層と、を備え、アレイ基板上において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線COMと、コモン配線COMと対向電極とを接続する接続部CNと、有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線80と、を備え、接続部CNは、検査用配線80と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする。
【選択図】 図5
【解決手段】複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、表示画素毎に画素電極を備えたアレイ基板と、複数の画素電極に対向する対向電極を備えた対向基板と、アレイ基板と対向基板との間に保持された光変調層と、を備え、アレイ基板上において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線COMと、コモン配線COMと対向電極とを接続する接続部CNと、有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線80と、を備え、接続部CNは、検査用配線80と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする。
【選択図】 図5
Description
この発明は、表示装置に係り、特に、品質に関わる検査を行うための検査部を備えた表示装置に関する。
液晶表示装置などの表示装置は、マトリクス状の表示画素によって構成された有効表示部を備えている。この有効表示部は、表示画素の行方向に沿って延在する複数の走査線、表示画素の列方向に沿って延在する複数の信号線、これら走査線と信号線との交差部付近に配置されたスイッチング素子、スイッチング素子に接続された画素電極などを備えている。これら各走査線及び各信号線は、有効表示部の外周部に引き出されている。
近年では、表示画素数の増加に伴い、有効表示部及びその外周部において、走査線や信号線などの各種配線は、細い線幅でしかも僅かな間隔で隣接するように配置されている。このため、配線間でのショートや各配線の断線などといった配線不良を厳密に検査する必要がある。例えば、検査制御回路を液晶表示装置に接続し、隣接する走査線に位相の異なる信号を供給することにより、配線不良を検査する方法が提案されている(例えば、特許文献1。)。また、有効表示部の外周部に検査配線を備えた液晶表示装置も提案されている(例えば、特許文献2参照。)。
特開平06−160898号公報
特開2003−157053号公報
この発明は、上述した問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することにある。
この発明の第1の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
表示画素毎に画素電極を備えたアレイ基板と、
複数の前記画素電極に対向する対向電極を備えた対向基板と、
前記アレイ基板と前記対向基板との間に保持された光変調層と、を備え、
前記アレイ基板上において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線と、
前記コモン配線と前記対向電極とを接続する接続部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、を備え、
前記接続部は、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする。
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
表示画素毎に画素電極を備えたアレイ基板と、
複数の前記画素電極に対向する対向電極を備えた対向基板と、
前記アレイ基板と前記対向基板との間に保持された光変調層と、を備え、
前記アレイ基板上において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線と、
前記コモン配線と前記対向電極とを接続する接続部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、を備え、
前記接続部は、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする。
この発明の第2の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
表示画素毎に画素電極を備えたアレイ基板と、
複数の前記画素電極に対向する対向電極を備えた対向基板と、
前記アレイ基板と前記対向基板との間に保持された光変調層と、を備え、
前記アレイ基板上において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線と、
前記コモン配線と前記対向電極とを接続する接続部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線と、を備え、
前記接続部は、前記検査用制御配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする。
複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
表示画素毎に画素電極を備えたアレイ基板と、
複数の前記画素電極に対向する対向電極を備えた対向基板と、
前記アレイ基板と前記対向基板との間に保持された光変調層と、を備え、
前記アレイ基板上において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線と、
前記コモン配線と前記対向電極とを接続する接続部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線と、を備え、
前記接続部は、前記検査用制御配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする。
この発明によれば、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することができる。
以下、この発明の一実施の形態に係る表示装置について図面を参照して説明する。
図1に示すように、表示装置の一例としての液晶表示装置は、略矩形平板状の液晶表示パネル1を備えている。この液晶表示パネル1は、一対の基板すなわちアレイ基板3及び対向基板4と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層5と、によって構成されている。この液晶表示パネル1は、画像を表示する矩形状の有効表示部6を備えている。この有効表示部6は、マトリクス状に配置された複数の表示画素PXによって構成されている。
アレイ基板3は、有効表示部6に配置された配線、例えば、表示画素PXの行方向に沿って延在する複数の走査線Y(1、2、3、…、m)や、表示画素PXの列方向に沿って延在する複数の信号線X(1、2、3、…、n)などを備えている。また、アレイ基板3は、有効表示部6において、これらの各種配線の他に、これら走査線Yと信号線Xとの交差部付近において表示画素PX毎に配置されたスイッチング素子7、スイッチング素子7に接続された画素電極8などを備えている。
スイッチング素子7は、薄膜トランジスタ(TFT)などで構成されている。このスイッチング素子7のゲート電極7Gは、対応する走査線Yに電気的に接続されている(あるいは走査線と一体に形成されている)。スイッチング素子7のソース電極7Sは、対応する信号線Xに電気的に接続されている(あるいは信号線と一体に形成されている)。スイッチング素子7のドレイン電極7Dは、対応する表示画素PXの画素電極8に電気的に接続されている。
対向基板4は、有効表示部6において、全表示画素PXに共通の対向電極9などを備えている。これらアレイ基板3及び対向基板4は、全表示画素PXの画素電極8と対向電極9とを対向させた状態で配設され、これらの間にギャップを形成する。液晶層5は、アレイ基板3と対向基板4とのギャップに封止された液晶組成物によって形成されている。
カラー表示タイプの液晶表示装置では、液晶表示パネル1は、複数種類の表示画素、例えば赤(R)を表示する赤色画素、緑(G)を表示する緑色画素、青(B)を表示する青色画素を有している。すなわち、赤色画素は、赤色の主波長の光を透過する赤色カラーフィルタを備えている。緑色画素は、緑色の主波長の光を透過する緑色カラーフィルタを備えている。青色画素は、青色の主波長の光を透過する青色カラーフィルタを備えている。これらカラーフィルタは、アレイ基板3または対向基板4の主面に配置される。
液晶表示パネル1は、有効表示部6の外側に位置する外周部10に配置された駆動ICチップ11を備えている。図1に示した例では、駆動ICチップ11は、対向基板4の端部4Aより外方に延在したアレイ基板3の延在部10A上に配置されている。また、液晶表示パネル1は、有効表示部6に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板FPCを接続可能な複数の接続パッドを有したパッド部PPを備えている。図1に示した例では、パッド部PPは、駆動ICチップ11と同様に延在部10A上に形成されている。
液晶表示パネル1に実装された駆動ICチップ11は、有効表示部6の各信号線Xに駆動信号(映像信号)を供給する信号線駆動部11X、及び、有効表示部6の各走査線Yに駆動信号(走査信号)を供給する走査線駆動部11Yを有している。走査線駆動部11Yは、奇数番走査線Y(1、3、5、…)に対して駆動信号を出力する第1駆動部11Y1、及び、偶数番走査線Y(2、4、6、…)に対して駆動信号を出力する第2駆動部11Y2を含んでいる。これら第1駆動部11Y1及び第2駆動部11Y2は、信号線駆動部11Xを挟んだ両側にそれぞれ配置されている。
第1駆動部11Y1は、外周部10の一端側10Bに配置された奇数番配線群20を介して奇数番走査線Y(1、3、5、…)と電気的に接続されている。この奇数番配線群20は、奇数番走査線Y(1、3、5、…)のそれぞれに接続された配線W(1、3、5、…)によって構成されている。つまり、第1駆動部11Y1から出力された駆動信号は、各配線W(1、3、5、…)を介して対応する奇数番走査線Y(1、3、5、…)に供給され、奇数行目の表示画素PXをオン・オフさせる。すなわち、奇数行目の各表示画素PXに含まれるスイッチング素子7は、対応する走査線Yから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
第2駆動部11Y2は、外周部10の他端側10Cに配置された偶数番配線群30を介して偶数番走査線Y(2、4、6、…)と電気的に接続されている。この偶数番配線群30は、偶数番走査線Y(2、4、6、…)のそれぞれに接続された配線W(2、4、6、…)によって構成されている。つまり、第2駆動部11Y2から出力された駆動信号は、各配線W(2、4、6、…)を介して対応する偶数番走査線Y(2、4、6、…)に供給され、偶数行目の表示画素PXをオン・オフさせる。すなわち、偶数行目の各表示画素PXに含まれるスイッチング素子7は、対応する走査線Yから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
また、信号線駆動部11Xは、各信号線X(1、2、3、…)と電気的に接続されている。各列の各表示画素PXに含まれるスイッチング素子7は、オンしたタイミングで対応する信号線Xから供給された映像信号を画素電極8に書き込む。
アレイ基板3は、図2に示すように、奇数番配線群20の配線不良、偶数番配線群30の配線不良、及び、有効表示部6における配線不良や表示画素PXの表示品位など、有効表示部6での品質に関わる検査を行うための検査部40を備えている。この検査部40は、信号線駆動部11Xに対応して設けられた信号線検査部41、走査線駆動部11Yの第1駆動部11Y1に対応して設けられた第1走査線検査部42、第2駆動部11Y2に対応して設けられた第2走査線検査部43、及び、各検査部41、42、43に検査用の信号を入力するためのパッド部44を有している。
信号線検査部41は、有効表示部6を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに各信号線Xに接続された信号線検査用駆動配線51を備えている。また、信号線検査部41は、各信号線X(1、2、…、n)と信号線検査用駆動配線51との間にスイッチ素子61を備えている。さらに、信号線検査部41は、有効表示部6を検査する際にスイッチ素子61のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線55を備えている。つまり、信号線検査用駆動配線51及び検査用制御配線55は、信号線検査部41において、有効表示部6を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
スイッチ素子61は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子61のゲート電極61Gは、検査用制御配線55に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子61のソース電極61Sは、信号線検査用駆動配線51に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子61のドレイン電極61Dは、対応する信号線Xに電気的に接続されている。
第1走査線検査部42は、有効表示部6を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに奇数番配線群20の各配線21、例えば配線W1、W3、W5…に接続された第1検査用駆動配線52を備えている。また、第1走査線検査部42は、各配線21と第1検査用駆動配線52との間にスイッチ素子62を備えている。さらに、第1走査線検査部42は、有効表示部6を検査する際にスイッチ素子62のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線55を備えている。この検査用制御配線55は、信号線検査部41と共通である。つまり、第1検査用駆動配線52及び検査用制御配線55は、第1走査線検査部42において、有効表示部6を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
スイッチ素子62は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子62のゲート電極62Gは、検査用制御配線55に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子62のソース電極62Sは、第1検査用駆動配線52に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子62のドレイン電極62Dは、対応する配線21に電気的に接続されている。
第2走査線検査部43は、有効表示部6を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに偶数番配線群30の各配線31、例えば配線W2、W4、W6…に接続された第2検査用駆動配線53を備えている。また、第2走査線検査部43は、各配線31と第2検査用駆動配線53との間にスイッチ素子63を備えている。さらに、第2走査線検査部43は、有効表示部6を検査する際にスイッチ素子63のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線55を備えている。この検査用制御配線55は、信号線検査部41と共通である。つまり、第2検査用駆動配線53及び検査用制御配線55は、第2走査線検査部43において、有効表示部6を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
スイッチ素子63は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子63のゲート電極63Gは、検査用制御配線55に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子63のソース電極63Sは、第2検査用駆動配線53に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子63のドレイン電極63Dは、対応する配線31に電気的に接続されている。
パッド部44は、信号線検査用駆動配線51の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド71、第1検査用駆動配線52の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド72、第2検査用駆動配線53の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド73、及び、検査用制御配線55の一端部に検査用の制御信号の入力を可能とする入力パッド75を備えている。
入力パッド71から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素PXの画素電極8に書き込まれる検査信号である。入力パッド72及び73から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素PXのスイッチング素子7のオン・オフを制御するための検査信号である。入力パッド75から入力される制御信号は、検査段階において、信号線検査部41のスイッチ素子61、第1走査線検査部42のスイッチ素子62、及び、第2走査線検査部43のスイッチ素子63のオン・オフを制御するための検査信号である。
各信号線X(1、2、…n)、奇数番配線群20の各配線21、及び、偶数番配線群30の各配線31は、それぞれの中途部に駆動ICチップ11との接続を可能とする接続パッドPDを備えている。
また、液晶表示パネル1は、図1に示すように、アレイ基板3側から対向電極9に対して全表示画素PXに共通の電位を供給するための接続部CNを備えている。この接続部CNは、図1に示した例では、液晶表示パネル1の外周部10に配置されているが、特にこの例に限定されるものではなく、液晶表示パネル1におけるアレイ基板3と対向基板4とが対向する位置であればいずれの位置であっても良いし、また、液晶表示パネル1に複数配置しても良い。
すなわち、図3A及び図3Bに示すように、アレイ基板3は、外周部10にコモン電位を供給するためのコモン配線COMを備えている。このコモン配線COMは、その一部、例えばコモン配線COMの端部に形成された電極部COMEが絶縁層100から露出している。給電パッドCPは、コモン配線COMの露出部分(例えば電極部COME)と接続されている。接続部材CXは、給電パッドCP上に配置されたペースト状の導電性部材であり、アレイ基板3と対向基板4とを貼り合わせた際に対向電極9と接触することで給電パッドCPと対向電極9とを接続する。
つまり、図3A及び図3Bに示した例では、電極部COME、給電パッドCP、及び、接続部材CXは、接続部CNを構成している。この接続部CNは、コモン配線COMと対向電極9との間に配置され、コモン配線COMから対向電極9にコモン電位を供給する。
上述したような構成の表示装置においては、その製造過程において帯電した電荷が比較的設置面積の大きな配線に蓄積しやすい。特に、信号線検査用駆動配線51、第1検査用駆動配線52、第2検査用駆動配線53、検査用制御配線55、あるいは、対向電極9に対して全表示画素PXに共通の電位を供給するためのコモン配線COMなど、有効表示部6を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線は、広い線幅を有し、しかも、長い配線長を有するため、設置面積が大きく、電荷が帯電しやすい。帯電した電荷は、配線の終端部や屈曲部に集中しやすく、隣接する他の導電層(配線や電極など)との間で静電放電を発生する原因となる。このような静電放電は、絶縁状態を維持すべき隣接する配線との間でのショートや、隣接する配線の断線を招くおそれがある。
例えば、図4Aに示すように、検査用制御配線55の終端部付近に位置するスイッチ素子63においては、半導体層63SCは、ソース電極63S及びドレイン電極63Dと電気的に接続されている。このような構成において、検査用制御配線55に電荷が帯電すると、その終端部付近に配置されたスイッチ素子63のゲート電極63Gに電荷が集中しやすく、ゲート電極63Gとソース電極63Sとの間やゲート電極63Gとドレイン電極63Dとの間でのショートを引き起すおそれがある。
また、図4Bに示すように、コモン配線COMに電荷が帯電すると、その屈曲部BDに電荷が集中しやすく、他の電位が供給される配線WXと屈曲部BDとの間でのショートを引き起すおそれがある。また、放電の規模が大きい場合には、隣接する配線WXの断線を招くおそれがある。このようなショートや断線といった配線不良は、完成した液晶表示パネルにおける欠陥を生じさせるため、製造歩留まりを低下させる。
そこで、この実施の形態に係る表示装置においては、図5及び図6に示すように、接続部CNは、検査用配線80と所定の間隔をおいて対向するように配置されている。図5に示した例では、接続部CNを構成する給電パッドCPは、コモン配線COMの電極部COMEより大きなサイズを有し、この給電パッドCPが検査用配線80と所定の間隔をおいて対向している。また、図6に示した例では、接続部CNを構成するコモン配線COMの電極部COMEは、給電パッドCPより大きなサイズを有し、この電極部COMEが検査用配線80と所定の間隔をおいて対向している。
この接続部CNは、検査用配線80に集中した電荷の放電を誘導するものであり、仮に放電が生じたとしても完成した液晶表示パネルにおいて何ら影響を及ぼさない導電層である。すなわち、接続部CNは、パッド部PPにフレキシブル配線基板FPCを接続して完成した液晶表示パネルにおいて、対向電極9に対して全表示画素PXに共通の電位を供給するための導電部材である。このため、放電の結果として接続部CNにショートや断線が生じることは望ましくないが、ショートや断線を生ずることなく検査用配線80の電荷を逃がす程度の小規模の放電に抑制可能であれば、接続部CNを放電誘導するために利用することができる。
以下に示す例において、接続部CNとは、電極部COMEまたは給電パッドCPのいずれであっても良い。
図7A及び図7Bに示した例では、接続部CNは、検査用配線80と同一層において、検査用配線80と所定の間隔Gをおいて対向するように配置されている。この接続部CNは、検査用配線80と同一層に配置されるため、検査用配線80と同一材料を用いて同一工程で形成可能である。このため、別途に接続部CNを形成する工程が不要であり、製造コストの増大や製造歩留まりの大幅な劣化を招くことはない。
図8A及び図8Bに示した例では、接続部CNは、検査用配線80とは絶縁層100を介して異なる層において、検査用配線80と所定の間隔Gをおいて対向するように配置されている。ここでは、特に、図8Aに示すように、接続部CN及び検査用配線80は、これらが配置される基板(つまりアレイ基板3)の面内において互いに重ならないように配置されている(すなわち、アレイ基板3の面内において、接続部CNと検査用配線80との間隔Gがゼロとならない)。なお、図8Bに示した例では、検査用配線80を絶縁層100の下層に配置し、接続部CNを絶縁層100の上層に配置したが、この例に限定されず、検査用配線80を絶縁層100の上層に配置し、接続部CNを絶縁層100の下層に配置しても良いことは言うまでもない。
図9A及び図9Bに示した例では、接続部CNは、検査用配線80とは絶縁層100を介して異なる層に配置され、しかも、絶縁層100を介して検査用配線80とその少なくとも一部が重なるように配置されている。つまり、図9Aに示すように、接続部CN及び検査用配線80は、これらが配置される基板(つまりアレイ基板3)の面内において互いに重なるとともに、これらの間に介在される絶縁層100を介して互いに対向するように配置されている。なお、図9Bに示した例では、検査用配線80を絶縁層100の下層に配置し、接続部CNを絶縁層100の上層に配置したが、この例に限定されず、検査用配線80を絶縁層100の上層に配置し、接続部CNを絶縁層100の下層に配置しても良いことは言うまでもない。また、図9Bに示した例では、検査用配線80を接続部CNより幅広に形成したが、この例に限定されず、接続部CNを検査用配線80より幅広に形成しても良いことは言うまでもない。
接続部CNと検査用配線80との間の所定の間隔Gとは、放電を誘導可能な距離であり、できるだけ小さいことが望ましいが、両者がショートしてしまう(間隔をゼロとする)と抵抗が小さくなりすぎてしまい、静電破壊のエネルギーを消費できないため、両者が電気的に絶縁状態となるような距離を必要とする。
図7A及び図7Bに示した例や、図8A及び図8Bに示した例では、所定の間隔Gは、接続部CNと検査用配線80とが配置されるアレイ基板3の面内における距離に相当する。また、図9A及び図9Bに示した例では、接続部CNと検査用配線80とが絶縁層100を介して重なるように配置されているため、両者の間隔は、実質的に絶縁層100の膜厚Gに相当する。また、場合によっては、上層(ここでは接続部CN)が下層(ここでは検査用配線80)を乗り上げる段差部BPにおいて、上層と下層との間に介在する絶縁層100の肉厚G’が実質的な膜厚Gよりも薄くなることがある。このような場合、接続部CNと検査用配線80との間の間隔は、段差部BPにおける絶縁層100の肉厚G’に相当する。いずれにしても、接続部CNと検査用配線80との間の間隔は、これらが配置されるアレイ基板3の断面内における最短距離に相当する。
図7A及び図7Bに示した例のように、接続部CNと検査用配線80とを同一層に配置する場合、これらのパターニング工程における解像度限界により、両者の間隔Gにはある程度の限界がある。一方、図8A及び図8Bに示した例や、図9A及び図9Bに示した例のように、接続部CNと検査用配線80とを異なる層に配置する場合、これらのパターニング工程での制約から解放され、アレイ基板3の面内において両者が重なるように配置されたとしても、絶縁層100により両者を電気的に絶縁した状態を形成することが可能となる。つまり、同一層に両者を配置した場合と比較して、接続部CNと検査用配線80との間隔をより小さくすることが可能となり、より放電を誘導しやすくすることが可能となる。また、絶縁層100を介して接続部CNと検査用配線80とを重ねて配置する場合、両者の間隔は断面内における最短距離に相当するため、絶縁層100の膜厚によって両者の間隔を制御することが可能である。絶縁層100の膜厚は0.1μmオーダに設定することが可能であり、アレイ基板面内で所定の間隔を形成しようとする場合より、さらに小さな間隔を形成することが可能となり、さらに放電を誘導しやすくすることが可能となる。
上述した例において、接続部CNにおける検査用配線80との対向部CA、及び、検査用配線80における接続部CNとの対向部80Aの形状は、矩形状に限定されるものではない。すなわち、対向部CA及び80Aの少なくとも一方は、電荷が集中しやすいような形状であることが望ましく、少なくとも1つの多角形状の突角部を有している。対向部CAにおける突角部の少なくとも一つの頂点は、検査用配線80と所定の間隔をおいて対向している。また、対向部80Aにおける突角部の少なくとも1つの頂点は、接続部CNと所定の間隔をおいて対向している。
より具体的に説明すると、図10Aに示すように、対向部80A及びCAの少なくとも一方は、1つの四角形状の突角部Cを有し、2つの頂点Tを有するような形状であっても良い。また、図10Bに示すように、対向部80A及びCAの少なくとも一方は、1つの三角形状の突角部Cを有し、1つの頂点Tを有するような形状であっても良い。さらに、図10Cに示すように、対向部80A及びCAの少なくとも一方は、複数(n個)の三角形状の突角部Cを有し、複数(n個)の頂点Tを有するような形状であっても良い。図10B及び図10Cに示したような例では、図10Aに示した例と比較して、頂点Tをより鋭利な形状とすることができ、電界が集中しやすくなる。
またさらに、対向部80A及びCAの少なくとも一方は、図示しないが、n個のm角形状の突角部を有し、複数の頂点を有するような形状であっても良いが、頂点Tの形状は電界の集中しやすさを考慮するとより鋭利であることが望ましい。なお、複数の突角部C及び複数の頂点Tは、一列に並んでいる必要はなく、基板面内であらゆる方位に向いていても良い。
このような構成により、検査用配線80上で蓄積していた電荷を接続部CNとの放電により逃がすことが可能となる。これにより、検査用配線80に隣接する他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。
なお、対向部CA及び80Aの少なくとも一方が少なくとも1つの多角形状の突角部を有するような構成においては、図10Dに示すように、対向部CAの突角部Cの1つの頂点Tを含む一部が対向部80Aと重なるように配置しても良い。この場合は、特に、対向部CAにおける突角部Cの頂点Tが対向部80Aを乗り上げる段差部BPに位置することが望ましい。このような配置により、検査用配線80と接続部CNとは、電界が集中しやすい頂点Tを介して、両者の間に介在する絶縁層100の肉厚に相当する微小な間隔で対向配置されることになり、検査用配線80に帯電した電荷の放電をさらに誘導可能となる。
また、対向部80Aの突角部Cの1つの頂点Tを含む一部が対向部CAと重なるように配置しても良い。さらに、対向部CA及び80Aの少なくとも一方が複数の突角部Cを有する場合、一方の対向部における突角部Cの少なくとも1つの頂点Tを含む一部が他方の対向部と重なるように配置しても良い。
したがって、フレキシブル配線基板FPCや駆動ICチップ11を実装する前の有効表示部6での品質に関わる検査を行う検査段階において、検査部40を用いて安定的に各種配線の配線不良を検査することが可能となるとともに、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することができ、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。
(実施例)
この実施例においては、検査用配線80としての検査用制御配線55の終端部55Eでの放電を誘導する構成例について説明する。図11A乃至図11Cに示すように、アレイ基板3は、延在部10Aにおいて、検査部40を備えている。検査部40は、スイッチ素子63のゲート電極63Gと一体的な検査用制御配線55を備えている。また、アレイ基板3は、対向電極に対して全表示画素PXに共通の電位を供給するためのコモン配線COMを備えている。このコモン配線COMは、対向電極と対向する位置で接続部CNに接続されている。
この実施例においては、検査用配線80としての検査用制御配線55の終端部55Eでの放電を誘導する構成例について説明する。図11A乃至図11Cに示すように、アレイ基板3は、延在部10Aにおいて、検査部40を備えている。検査部40は、スイッチ素子63のゲート電極63Gと一体的な検査用制御配線55を備えている。また、アレイ基板3は、対向電極に対して全表示画素PXに共通の電位を供給するためのコモン配線COMを備えている。このコモン配線COMは、対向電極と対向する位置で接続部CNに接続されている。
このような構成において、検査用制御配線55の端部55Eは、接続部CNと所定の間隔をおいて対向している。
すなわち、図11B及び図11Cに示すように、コモン配線COMは、アレイ基板3の外周部10に配置されている。電極部COMEは、コモン配線COMから離間して独立島状に形成されている。これらのコモン配線COM及び電極部COMEは、絶縁層100の下層に配置され、それぞれの一部が絶縁層100から露出している。給電パッドCPは、絶縁層100の上層に配置されている。この給電パッドCPは、絶縁層100を貫通するコンタクトホールを介してコモン配線COMと電極部COMEとを電気的に接続している。また、給電パッドCPは、実質的に電極部COMEより小さいサイズに形成されている。
検査用制御配線55は、絶縁層100の上層に配置されている。つまり、電極部COMEは、検査用制御配線55とは異なる層に配置されており、しかも、検査用配線55と所定の間隔Gをおいて対向するように配置されている。ここでは、特に、電極部COMEは、絶縁層100を介して検査用制御配線55の終端部55Eとその少なくとも一部(対向部CA)が重なるように配置されている。
検査用制御配線55の終端部55E、すなわち電極部COMEとの対向部は、電極部COMEより幅広な矩形状に形成されている。電極部COMEの検査用制御配線55との対向部CAは、複数の三角形状の突角部Cを有し、しかも、突角部Cの各頂点Tを含む一部が検査用制御配線55の終端部55Eに重なっている。つまり、検査用制御配線55の終端部55Eと電極部COMEの対向部CAとが所定間隔Gをおいて対向して配置されている。このとき、対向部CAに含まれる突角部Cの頂点Tが終端部55Eと実質的に絶縁層100の膜厚に相当する所定間隔Gをおいて対向する。
このような構成により、検査用制御配線55の終端部55Eに集中した電荷を電極部COMEとの放電により逃がすことが可能となる。このとき、電界を集中しやすい形状の電極部COMEの頂点Tが終端部55Eと最短距離で対向配置されるため、頂点T付近で放電を誘導しやすくなる。これにより、検査用制御配線55の終端部付近での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。
以上説明したように、この実施の形態に係る表示装置によれば、検査部を備えたアレイ基板においては、検査用配線において、電荷が集中しやすい部位に対向して接続部を配置したことにより、放電を誘導することが可能となる。これにより、検査用配線上において放電規模を拡大するような電荷の集中を防止することができる。このため、検査用配線に近接した他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した配線不良の発生を抑制することが可能となる。
このため、駆動ICチップやフレキシブル配線基板などを実装する前の検査段階において、検査部を用いて有効表示部の品質に関わる検査を安定的に行うことが可能となる。したがって、配線不良の液晶表示パネルの後工程への流出を未然に防ぐことが可能となる。また、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することが可能となる。これにより、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
例えば、上記実施形態では、走査信号を液晶表示パネルの両側から給電する構成の液晶表示パネルについて述べてきたが、第1駆動部と第2駆動部とでそれぞれ走査信号を給電する配線数が異なっても良いし、第1駆動部若しくは第2駆動部を有さず単一の走査線駆動部により片側のみから各走査線に走査信号を給電するようなレイアウトでも良く、逆に走査線駆動部がさらに第3駆動部及び第4駆動部を有するような構成であっても良い。
PX…表示画素、FPC…フレキシブル配線基板、PP…パッド部、1…液晶表示パネル、3…アレイ基板、6…有効表示部、10…外周部、10A…延在部、11…駆動ICチップ、20…奇数番配線群、21…配線、30…偶数番配線群、31…配線、40…検査部、41…信号線検査部、42…第1走査線検査部、43…第2走査線検査部、44…パッド部、51…信号線検査用駆動配線、52…第1検査用駆動配線、53…第2検査用駆動配線、55…検査用制御配線、61…スイッチ素子、61G…ゲート電極、62…スイッチ素子、62G…ゲート電極、63…スイッチ素子、63G…ゲート電極、CN…接続部、COM…コモン配線、COME…電極部、CP…給電パッド、CX…接続部材
Claims (16)
- 複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
表示画素毎に画素電極を備えたアレイ基板と、
複数の前記画素電極に対向する対向電極を備えた対向基板と、
前記アレイ基板と前記対向基板との間に保持された光変調層と、を備え、
前記アレイ基板上において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線と、
前記コモン配線と前記対向電極とを接続する接続部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、を備え、
前記接続部は、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする表示装置。 - 前記接続部は、前記検査用配線と同一層に配置されたことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記接続部は、前記検査用配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されたことを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記接続部の少なくとも一部は、前記絶縁層を介して前記検査用配線と重なるように配置されたことを特徴とする請求項3に記載の表示装置。
- 前記接続部は、少なくとも1つの多角形状の突角部を有し、しかも、前記突角部の少なくとも1つの頂点が前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向することを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記検査用配線は、少なくとも1つの多角形状の突角部を有し、しかも、前記突角部の少なくとも1つの頂点が前記接続部と所定の間隔をおいて対向することを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、
表示画素毎に画素電極を備えたアレイ基板と、
複数の前記画素電極に対向する対向電極を備えた対向基板と、
前記アレイ基板と前記対向基板との間に保持された光変調層と、を備え、
前記アレイ基板上において複数の表示画素に共通の電位を供給するためのコモン配線と、
前記コモン配線と前記対向電極とを接続する接続部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線と、を備え、
前記接続部は、前記検査用制御配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする表示装置。 - 前記接続部は、検査用制御配線と同一層に配置されたことを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
- 前記接続部は、前記検査用制御配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されたことを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
- 前記接続部の少なくとも一部は、前記絶縁層を介して前記検査用制御配線と重なるように配置されたことを特徴とする請求項9に記載の表示装置。
- 前記接続部は、少なくとも1つの多角形状の突角部を有し、しかも、前記突角部の少なくとも1つの頂点が前記検査用制御配線と所定の間隔をおいて対向することを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
- 前記検査用制御配線は、少なくとも1つの多角形状の突角部を有し、しかも、前記突角部の少なくとも1つの頂点が前記接続部と所定の間隔をおいて対向することを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
- 前記配線は、走査線及び信号線の少なくとも一方であることを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
- 前記スイッチ素子は、薄膜トランジスタであり、そのゲート電極が前記検査用制御配線と接続されたことを特徴とする請求項7に記載の表示装置。
- 前記有効表示部は、一対の基板間に液晶層を保持することによって構成された液晶表示パネルに備えられたことを特徴とする請求項1または7に記載の表示装置。
- 前記接続部は、前記コモン配線の端部に形成された電極部と、前記電極部に接続された給電パッドと、前記給電パッドと前記対向電極とを接続する導電部材と、を備えたことを特徴とする請求項1または7に記載の表示装置。
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