JP2006210252A - 電池監視装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 監視ICの小型化を図る。
【解決手段】 電池監視装置に組み込まれる監視ICであり、外部電極端子として、放電端子、充電端子、入力端子、第1電源端子、第2電源端子とを有するとともに、基準電圧発生回路と、基準電圧発生回路及び入力端子から信号を受け取る放電電流検出回路と、基準電圧発生回路から信号を受け取る下限電圧検出回路と、基準電圧発生回路から信号を受け取る上限電圧検出回路と、発振器及びこの発振器に接続されるカウンタと、第1電源端子及び入力端子から信号を受け取る充電器電圧検出回路と、下限電圧検出回路、上限電圧検出回路、放電電流検出回路、充電器電圧検出回路及びカウンタから信号を受け取り、発振器に信号を送る制御回路と、制御回路から信号を受け取り、充電端子または放電端子に信号を送る駆動回路とを有する。
【選択図】 図1

Description

本発明はリチウムイオン二次電池監視装置及びその電池監視装置に組み込む半導体装置に係わり、監視回路付きリチウムイオン二次電池に適用して有効な技術に関する。
リチウムイオン二次電池は、電池の過充電及び過放電等を常時監視する監視IC(Integrated Circuit)を取り付けた状態で使用される(例えば、非特許文献1、2)。
非特許文献1には、リチウムイオン2次電池保護用LSIについて記載されている。非特許文献2には、3品種のリチウムイオン二次電池用監視ICと、その動作説明について記載されている。動作説明では、電池電圧の監視、放電電流の監視、過電流状態からの復帰、過放電状態とスタンバイ機能(消費電流削減機能)、充電器電圧の監視機能について説明されている。
工業調査会発行「電子材料」2001年4月号、80頁〜84頁。
株式会社 日立超LSIシステムズ、データシート、Rev.2-0-0,04.03.18 、「MD170B15TELV/MD170B15USL/MD170B15PLP」1頁〜12頁。
リチウムイオン二次電池は、電池監視装置(リチウムイオン二次電池監視装置)が接続されて使用される。図15は、従来の監視回路付きリチウムイオン二次電池80を模式的に示すものである。図15には、リチウムイオン二次電池70と、このリチウムイオン二次電池70に接続された電池監視装置(リチウムイオン二次電池監視装置)71が示されている。
電池監視装置71は、薄くかつ細長い矩形板からなる配線を有する実装基板72を有する。この実装基板の第1の面(図14では上面)には監視IC73と、放電スイッチ及び充電スイッチを構成するFET(MOSFET、以下単にMOSとも表記する)を組み込んだ制御IC74が固定されている。また、実装基板の一端には第1電源端子(Vcc)75が取り付けられるとともに、他端側には第2電源端子(Gnd)76が取り付けられている。
第1電源端子(Vcc)75はリチウムイオン二次電池70の図示しない第1電源端子(Vcc)に接続コード77を介して接続されている。第2電源端子(Gnd)76はリチウムイオン二次電池70の第2電源端子(GND)78に接続コード79を介して接続されている。
図16は非特許文献2に開示されている監視回路を有するリチウムイオン二次電池を示す回路図である。この監視回路付きリチウムイオン二次電池80は、外部端子としてプラス端子81及びマイナス端子82を有し、この端子81,82が充電器または負荷回路等の負荷83の外部端子84,85に接続される。
監視IC73は、外部電極端子として、放電(DCH)端子、充電(CHG)端子、入力(IDT)端子、テスト(T)端子、第1電源(VCC)端子、第2電源(GND)端子を有している。
監視IC73のVCC端子はリチウムイオン二次電池70のプラス側の電源端子にヒューズ86を介して接続されている。監視IC73のGND端子はリチウムイオン二次電池70のマイナス側の電源端子に接続されている。DCH端子とマイナス端子82との間には放電スイッチ87がMOSFET(MOS1)等によって形成され、CHG端子とマイナス端子82との間には充電スイッチ88がMOSFET(MOS2)等によって形成されている。
図17に監視IC73の一例を示す。図15では、監視IC73はパッケージの両側からそれぞれ外部電極端子であるリードを突出させる構造であるが、図17ではパッケージの下面側にリード(外部電極端子)を露出させ、パッケージの周縁から外側に突出しないいわゆるノンリード型半導体装置を示す。図17(a)は平面図、図17(b)は側面図、図17(c)は底面図である。監視IC73は、外観的には偏平な四角形の絶縁性樹脂からなる封止体(パッケージ)91の下面に、図17(c)に示すように、外部電極端子92を有する構造になっている。外部電極端子92は前述のDCH,CHG,IDT,T,VCC,GND端子であり、これら端子は、パッケージ91の対面する一対の辺に沿って配置されている。また、中央にはタブ93を有している。このタブ93の下面はパッケージ91の下面から露出する。そして、図17(b)に示すように、タブ93の上面側に半導体チップ94が固定されている。また、半導体チップ94の電極と外部電極端子92は導電性のワイヤ95で電気的に接続されている。半導体チップ94及びワイヤ95はパッケージ91によって覆われている。タブ93はパッケージ91の内部で半導体チップの基板に接続され、基板電位(VCB)端子となる。このタブ93は回路的には開放またはVCCに接続されて使用される。
外部電極端子92において、DCH端子は放電回路遮断用外付けFET駆動信号出力(出力端子)であり、電池の電圧が正常な時はハイ(High)レベル(VCC)となり、過放電状態または過電流状態を検出するとロウ(Low)レベル(GND)になる。CHG端子は充電回路遮断用外付けFET駆動信号出力であり、電池の電圧が正常な時はハイレベル(VCC)となり、過充電状態または過大な充電器電圧を検出するとロウレベル(IDT)になる。
IDT端子は過電流電圧検出入力端子及び充電出力のマイナス電源端子であり、マイナス端子82に抵抗を介して接続されている。IDT端子では、放電電流が増加してIDTの入力電圧が過電流検出電圧(V5)、または短絡電流検知電圧(V6)を越えるとDCH出力がロウレベル(GND)になり、その後、入力電圧がV5以下になると過電流状態から復帰する。またGND端子に対するIDT端子の電圧(VIDT)が充電過電流検出時間(Tsp9)以上の間、充電過電流検出電圧(V9)以下にある場合、充電過電流状態になり、CHG端子はロウレベルとなり、その後、VIDTがV9以上になると充電過電流検出状態から復帰する。
T端子はVCC端子に接続される入力端子である。T端子はハイレベル(動作モード)またはロウレベル(テストモード)となる。通常はハイレベル(T=VCC)で使用される。テストモード(スパイク回避時間の短縮)ではロウレベルで使用される。テストモードでは、例えば、過放電電圧スパイク回避時間(Tsp1)が100msecから7.5msecに短縮、過充電電圧スパイク回避時間(Tsp3)が6.25secから7.5msecに短縮された状態となる。
このように、図16の回路構成によって、電池70の過充電及び過放電を防止する。
図18は監視IC73の機能構成を示すブロック図である。監視IC73は、基準電圧発生回路50、下限電圧検出回路51、上限電圧検出回路52、制御回路53、発振器54、カウンタ55、放電電流検出回路56、充電器電圧検出回路57、駆動回路58で構成されている。監視IC73は、電池側の異常状態を過大な充電状態は上限電圧検出回路52で、過大な放電状態は下限電圧検出回路51で電圧値によって監視している。また充電器及び負荷側の異常状態を充電器電圧検出回路57及び放電電流検出回路56で電圧値によって監視している。異常状態を検出した場合、異常状態に応じた遅延時間をカウンタ55によりカウントした後に制御回路53よりDCH端子、もしくはCHG端子にFETスイッチ(放電スイッチまたは充電スイッチ)を遮断する信号を出力する働きを有する。
図19は電池電圧の監視を行う基本動作のタイミングチャートである。縦軸には上から下に向かって、充電停止電圧V1、充電停止復帰電圧V2、放電停止復帰電圧V3、放電停止電圧V4、過放電充電禁止電圧V7、短絡電流検出電圧V6、スタンバイ検出電圧Vstb 、過電流検出電圧V5、GND(0V)、過大充電器検出電圧VCC−V8rec,VCC−V8dec、DCH(放電スイッチ制御:VCC,GND)、CHG(充電スイッチ制御:VCC,IDTレベル)がとられている。縦軸のV1〜V7の段は電池電圧(VBAT )であり、縦軸のV6〜GNDの段はIDT電圧(VIDT )である。
出力端子では充電スイッチ及び放電スイッチのオン・オフ状態を示す。IDT電圧(VIDT )部分では充電及び放電の状態を示す。電池電圧(VBAT )では、4種類の線によって通常状態、過充電状態、過放電状態、過放電充電禁止状態を示す。
タイミングチャートの横軸におけるTsp1は過放電電圧スパイク回避時間であり、例えば、100msecである。Tsp3は過充電電圧スパイク回避時間であり、例えば、6.25secである。Td1は充電タイマリセット遅延時間であり、Td2は充電停止復帰遅延時間である。
図20乃至図24に各種の状態におけるタイミングチャートを示す。図20は過充電状態[1](V1<VBAT )を示すタイミングチャートである。この状態では過電流検出状態は動作せず、短絡電流検出機能だけが動作する。VIDT がTsp4以上の間V6以上にあるDCHがロウレベルになる。VIDT がV6以下になるとDCHはハイレベルに戻る。過充電状態のためCHGはロウレベルのままとなる。
図21は過充電状態[2](V2<VBAT <V1)を示すタイミングチャートである。この状態ではVIDT がV5以上になるとCHGはハイレベルになり、DCHもハイレベルなので充放電が可能な通常状態になる。
図22は通常状態を示すタイミングチャートである。この状態では、VIDT がTsp2(過放電電流スパイク回避時間、例えば、20.0msec))以上の間V5以上にあるかまたはTsp4(短絡電流スパイク回避時間、例えば、2.0msec)以上の間V6以上にあるとDCHがロウレベルになる。また、VIDT がV5以下になるとDCHはハイレベルに戻る。通常状態のためCHGはハイレベルのままである。
図23は過放電状態、過放電充電禁止状態を示すタイミングチャートである。過放電状態、過放電充電禁止状態ではすでにDCHはロウレベルにあるのでVIDT の変化はDCHの状態に影響しない。CHGは過放電充電禁止状態にあるとき(VBAT <V7)はロウレベルになる。
図24は過充電電流検出状態を示すタイミングチャートである。充電と放電スイッチの放電電流による電圧降下を観測することにより充電電流を監視する。すなわち、GND端子に対するIDT端子の電圧(VIDT)がTsp9以上の間V9以下にある場合、充電過電流状態となる。充電過電流状態になるとCHG端子はロウレベルになり充電を禁止する。また充電過電流検出状態からはVIDTがV9以上となる事でCHG端子がハイレベルとなる。
以上のように、従来のリチウムイオン二次電池用監視ICの基本機能は、電池電圧の監視, 充電器側の負荷による短絡電流,過放電電流を監視する機能を備えている。またテスト機能として通常、電源VCCレベルに接続しているテスト専用端子Tをロウレベルにすることによって電池電圧の過充電電圧(V1)レベルを検出する時間(Tsp3)、過放電電圧(V4)レベルを検出する時間(Tsp1)を早める機能を有している。
図17(a)〜(c)に示すような従来の監視IC73では、テスト機能の設定に外部端子を使用している。この結果、(1)テスト状態では、テスト端子Tを電源VCCレベルからロウレベルに変化させることで各種テスト状態への設定を行っていた。そのため、テスト端子用に一端子確保しなければならず、チップ面積, 実装面積, パッケージの小型化に制限が生じる。
(2)テスト端子Tを削減した場合, チップ面積、実装面積は低減するが、Tsp3,Tsp1を実時問で測定しなければならないため、選別試験時問が長くなり(例えば、Tsp3は6.25sec、Tsp1は100msec)、量産性が落ちる難点がある。
本発明の目的は、電池監視装置を構成する半導体装置(監視IC)の小型化を図ることにある。
本発明の他の目的は、過放電電圧スパイク回避時間(Tsp1)及び過充電電圧スパイク回避時間(Tsp3)を短縮できる電池監視装置(リチウムイオン二次電池監視装置)を提供することにある。
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
(1)本発明の電池監視装置(リチウムイオン二次電池監視装置)は、
リチウムイオン二次電池に並列に接続される放電スイッチ及び充電スイッチと、前記スイッチを制御する監視IC(半導体装置)を有する電池監視装置であって、
前記監視ICは、
前記リチウムイオン二次電池監視装置の前記放電スイッチに接続される放電端子と、
前記リチウムイオン二次電池監視装置の前記充電スイッチに接続される充電端子と、
リチウムイオン二次電池の第2電源端子に充電スイッチ、放電スイッチを介して接続される入力端子と、
前記リチウムイオン二次電池の第1電源端子に接続される第1電源端子と、
前記リチウムイオン二次電池の第2電源端子に第2電源端子と、
基準電圧発生回路と、
前記基準電圧発生回路及び前記入力端子から信号を受け取る放電電流検出回路と、
前記基準電圧発生回路から信号を受け取る下限電圧検出回路と、
前記基準電圧発生回路から信号を受け取る上限電圧検出回路と、
発振器及びこの発振器に接続されるカウンタと、
第1電源端子及び前記入力端子から信号を受け取る充電器電圧検出回路と、
前記下限電圧検出回路、前記上限電圧検出回路、前記放電電流検出回路、前記充電器電圧検出回路及び前記カウンタから信号を受け取り、前記発振器に信号を送る制御回路と、
前記制御回路から信号を受け取り、前記充電端子または前記放電端子に信号を送る駆動回路とを有し、
前記放電スイッチは前記監視ICの前記放電端子と前記リチウムイオン二次電池の前記第2電源端子間に接続され、
前記充電スイッチは前記監視ICの前記充電端子と前記リチウムイオン二次電池の前記第2電源端子間に接続され、
前記監視ICの前記第1電源端子に接続される外部電源端子であるVbvcc端子と、
前記監視ICの前記入力端子に接続され、かつ前記第1電源端子との間に直列にスイッチを接続してなる外部入力端子であるVbidt端子とを有することを特徴とする。
また、前記カウンタは、
前記発振器の出力信号を入力信号とし、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第1のカウンタと、
前記第1のカウンタに接続され、短絡電流検出信号を出力する第1のキャリービット検出回路と、
前記入力端子に入力されるIDT信号と短絡電流検知電圧V6を入力し、前記第1のカウンタの前記各ハイリセットカウンタに信号を出力する第1の差動増幅器と、
前記発振器の出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第2のカウンタと、
前記第2のカウンタの出力信号を入力するとともに、前記短絡電流検出信号の反転信号を入力する第1のANDゲートと、
前記発振器の出力信号と前記短絡電流検出信号を入力する第2のANDゲートと、
前記第1のANDゲートの出力信号及び前記第2のANDゲートの出力信号を入力するNORゲートと、
前記NORゲートの出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第3のカウンタと、
前記第3のカウンタの出力信号を入力し、過充電電圧検出信号を出力する第2のキャリービット検出回路と、
前記第1電源電圧VCCと前記上限電圧検出回路の出力信号である充電停止電圧V1を入力し、前記第2のカウンタの前記各ハイリセットカウンタ及び前記第3のカウンタの前記各ハイリセットカウンタに出力する第2の差動増幅器とによって、過充電電圧検出時間短縮モード実現機構を構成し、
(a)短絡電流スパイク回避時間Tsp4を経過する時間、前記入力端子の端子電圧(VIDT )が端子電圧(VIDT )>前記短絡電流検知電圧V6なる電圧を前記Vbidt端子に印加して短絡電流検出状態に遷移させ、
(b)前記VCC端子電圧(Vbvcc)がVbvcc>充電停止電圧V1となる電圧を前記Vbvcc端子に印加することにより、過充電電圧(V1)を検出する時間(Tsp3)を短縮させた状態である過充電電圧検出時間短縮テスト状態に遷移させることを特徴とする。
また、前記カウンタは、
前記発振器の出力信号を入力信号とし、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第1のカウンタと、
前記第1のカウンタに接続され、充電過電流検出信号を出力する第1のキャリービット検出回路と、
前記入力端子に入力されるIDT信号と充電過電流検出電圧V9を入力し、前記第1のカウンタの前記各ハイリセットカウンタに信号を出力する第1の差動増幅器と、
前記発振器の出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第2のカウンタと、
前記第2のカウンタの出力信号を入力するとともに、前記充電過電流検出信号の反転信号を入力する第1のANDゲートと、
前記発振器の出力信号と前記充電過電流検出信号を入力する第2のANDゲートと、
前記第1のANDゲートの出力信号及び前記第2のANDゲートの出力信号を入力するNORゲートと、
前記NORゲートの出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第3のカウンタと、
前記第3のカウンタの出力信号を入力し、過放電電圧検出信号を出力する第2のキャリービット検出回路と、
前記第1電源電圧VCCと前記下限電圧検出回路の出力信号である放電停止電圧V4を入力し、前記第2のカウンタの前記各ハイリセットカウンタ及び前記第3のカウンタの前記各ハイリセットカウンタに出力する第2の差動増幅器とによって、過放電電圧検出時間短縮モード実現機構を構成し、
(a)充電過電流検出時間Tsp9を経過する時間、前記入力端子の端子電圧(VIDT )が端子電圧(VIDT )<前記充電過電流検出電圧V9なる電圧を前記Vbidt端子に印加して充電過電流検出状態に遷移させ、
(b)前記VCC端子電圧(Vbvcc)がVbvcc<放電停止電圧V4となる電圧を前記Vbvcc端子に印加することにより、過放電電圧(V4)を検出する時間(Tsp1)が短縮された状態である過放電電圧検出時間短縮テスト状態に遷移させることを特徴とする。
前記監視ICは、
前記リチウムイオン二次電池監視装置の放電スイッチに接続される放電端子と、
前記リチウムイオン二次電池監視装置の充電スイッチに接続される充電端子と、
リチウムイオン二次電池の第2電源端子に充電スイッチ、放電スイッチを介して接続される入力端子と、
前記リチウムイオン二次電池の第1電源端子に接続される第1電源端子と、
前記リチウムイオン二次電池の第2電源端子に第2電源端子と、
基準電圧発生回路と、
前記基準電圧発生回路及び前記入力端子から信号を受け取る放電電流検出回路と、
前記基準電圧発生回路から信号を受け取る下限電圧検出回路と、
前記基準電圧発生回路から信号を受け取る上限電圧検出回路と、
発振器及びこの発振器に接続されるカウンタと、
前記基準電圧発生回路及び前記入力端子から信号を受け取る充電器電圧検出回路と、
前記下限電圧検出回路、前記上限電圧検出回路、前記放電電流検出回路、前記充電器電圧検出回路及び前記カウンタから信号を受け取り、前記発振器に信号を送る制御回路と、
前記制御回路から信号を受け取り、前記充電端子または前記放電端子に信号を送る駆動回路とを有することを特徴とする。
また、前記監視ICは、
絶縁性樹脂からなる封止体と、
前記封止体に封止され、一部を前記封止体から露出させる導体からなる支持板と、
前記支持板の側面に内端を臨ませ一部を前記封止体の外に露出させる導体からなる4個の外部電極端子と、
前記支持体の上面に固定され、前記封止体内に位置する半導体チップと、
前記半導体チップの電極と前記外部電極端子を電気的に接続し、かつ前記封止体内に位置する接続手段とを有し、
前記支持板が前記第1電源端子となり、
前記4個の外部電極端子が前記充電端子,前記放電端子、前記入力端子及び前記第2電源端子となっている。
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
前記(1)の手段によれば、(a)監視ICにおいて、外部電極端子としてのT端子が不要になることで半導体チップの小型化合が可能になる。また、半導体チップの小型化とパッケージの周縁側に配置する外部電極端子も一つ減ることになり、パッケージの小型化、即ち、半導体装置(監視IC)の小型化が可能になる。これにより監視ICを組み込む電池監視装置の小型化も達成できる。
(b)監視ICにおいて、T端子をなくしても、実装基板にテスト時に使用するVbidt端子及びVbvcc端子を設け、かつ監視ICのカウンタも、過充電電圧検出時間短縮モード実現機構及び過充電電圧検出時間短縮モード実現機構を構成する構造とすることから、過充電電圧検出時間(Tsp3)及び過放電電圧検出時間(Tsp1)をそれぞれ短縮でき、テスト時間の短縮が可能になる。
(c)上記(b)より、監視回路付きリチウムイオン二次電池のテスト時間も短縮できる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。なお、発明の実施の形態を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
本実施例1ではリチウムイオン二次電池の過充電及び過放電を監視する電池監視装置に本発明を適用した例について説明する。図1乃至図14は本発明の実施例1である電池監視装置(リチウムイオン二次電池監視装置)に係わる図である。
図2には、監視回路付きリチウムイオン二次電池1を模式的に示すものである。リチウムイオン二次電池2は、電池監視装置(リチウムイオン二次電池監視装置)3が接続されて使用される。
電池監視装置3は、薄くかつ細長い矩形板からなる配線を有する実装基板4を有する。この実装基板の第1の面(図2では上面)には監視IC5(半導体装置)と、放電スイッチ及び充電スイッチを構成するFET(MOSFET、以下単にMOSとも表記する)を組み込んだ制御IC6(半導体装置)が固定されている。また、実装基板4の一端には第1電源端子(Vcc)7が取り付けられるとともに、他端側には第2電源端子(Gnd)8が取り付けられている。
第1電源端子(Vcc)7はリチウムイオン二次電池2の第1電源端子(Vcc)14(図6参照)に接続コード9を介して接続されている。第2電源端子(Gnd)8はリチウムイオン二次電池2の第2電源端子(GND)10に接続コード11を介して接続されている。
また、これが本発明の特徴の一つであるが、実装基板4の第1の面には、Vbvcc端子(外部電源端子)12及びVbidt端子(外部入力端子)13が設けられている。これらVbvcc端子12及びVbidt端子13は、過充電及び過放電の監視が正確に行われているか否かを調べる過充電電圧検出テスト及び過放電電圧検出テストの際使用される。
図1は監視回路付きリチウムイオン二次電池1の回路図である。この監視回路付きリチウムイオン二次電池1は、外部端子としてプラス端子20及びマイナス端子21を有し、この端子20,21が充電器または負荷回路等の負荷22の外部端子23,24に接続される。
監視IC5は、図1に示すように、外部電極端子として、放電(DCH)端子、充電(CHG)端子、入力(IDT)端子、第1電源(VCC)端子、第2電源(GND)端子を有している。監視IC5のVCC端子はリチウムイオン二次電池2のプラス側の電源端子にヒューズ27を介して接続されている。監視IC5のGND端子はリチウムイオン二次電池2のマイナス側の電源端子に接続されている。DCH端子とマイナス端子21との間には放電スイッチ28がMOSFET(MOS1)等によって形成され、CHG端子とマイナス端子21との間には充電スイッチ29がMOSFET(MOS2)等によって形成されている。また、各部には抵抗やコンデンサが配置され、回路の整合がとられている。
本実施例1の監視IC5は、図16及び図17に示す従来の監視IC73に比較して、テスト(T)端子が存在しない構造となっている。テスト(T)端子を無くすことにより、監視IC5の半導体チップの小型化が達成できる。
しかし、テスト端子Tを削減した場合, チップ面積、実装面積は低減するが、過充電電圧検出時間(Tsp3),過放電電圧検出時間(Tsp1)を実時問で測定しなければならないため、前述のように選別試験時問が長くなり, 量産性が落ちる難点がある。
そこで、本実施例1では、図1及び図6に示すように、監視IC5の第1電源端子に接続されるVbvcc端子12と、監視IC5の入力端子IDTに接続されるVbidt端子13が設けられている。Vbidt端子13にはグランド(第2電源端子)との間に外部電源17を介して接続されるスイッチ(SW)18を接続した構成になっている。スイッチ(SW)18をオンさせることによって、Vbidt端子13の端子電圧はV9電位となる。これらVbvcc端子12及びVbidt端子13を使用することによって、過充電電圧検出テスト及び過放電電圧検出テストにおける過充電電圧検出時間(Tsp3),過放電電圧検出時間(Tsp1)を短縮できる。これについては後述する。
監視IC5は、例えば、図3のような構造になっている。図2では、監視IC5及び制御IC6はパッケージの両側からそれぞれ外部電極端子であるリードを突出させる構造である。図3では、監視IC5はパッケージの下面側にリード(外部電極端子)を露出させ、パッケージの周縁から外側に突出しないいわゆるノンリード型半導体装置である。半導体装置のパッケージ構造は特に限定されるものではない。監視IC5の構造については、図3(a)〜(c)を参照しながら説明する。
図3(a)は監視IC5の平面図、図3(b)は監視IC5の断面図、図3(c)は監視IC5の底面図である。監視IC5は、外観的には偏平な四角形の絶縁性樹脂からなる封止体(パッケージ)32の下面に、図3(c)に示すように、外部電極端子33を有する構造になっている。外部電極端子33は前述のDCH,CHG,IDT,GNDの各端子である。これら外部電極端子33は、パッケージ32の対面する一対の辺に沿って配置されている。即ち、外部電極端子33はパッケージ32の周縁寄りに配置されている。
パッケージ32の中央には幅広のタブ34が設けられている。このタブ34はパッケージ32の底に露出している。このタブ34はVCC端子を構成する。実装基板4に監視IC5を搭載した際、図示はしないが外部電極端子33は配線によって形成された電極パッドに導電性の接合材を介して接続される。また、タブ34も配線によって形成されたタブ接続パッドに導電性の接合材を介して接続される。
図3(b)に示すように、前記タブ34の上面側に半導体チップ35が固定されている。半導体チップ35の電極と外部電極端子33は導電性のワイヤ36で電気的に接続されている。半導体チップ35及びワイヤ36はパッケージ32によって覆われている。
図3(a)〜(c)からも分かるように、外部電極端子33はパッケージ32の対面する一対の辺にそれぞれ2個設ければよく、従来のようなテスト端子が存在する場合の3個(図17参照)に比較してパッケージ32の小型化が可能になる。これはパッケージ32の内部に配置する半導体チップ35の小型化にもなる。半導体チップ35においても、対向する一対の辺に沿って2個の電極を配置すればよいことによる。
外部電極端子33において、DCH端子は放電回路遮断用外付けFET駆動信号出力(出力端子)であり、電池の電圧が正常な時はハイ(High)レベル(VCC)となり、過放電状態または過電流状態を検出するとロウ(Low)レベル(GND)になる。CHG端子は充電回路遮断用外付けFET駆動信号出力であり、電池の電圧が正常な時はハイレベル(VCC)となり、過充電状態または過大な充電器電圧を検出するとロウレベル(IDT)になる。
IDT端子は過電流電圧検出入力端子及び充電出力のマイナス電源端子であり、図1に示すように、マイナス端子21に抵抗を介して接続されている。IDT端子では、放電電流が増加してIDTの入力電圧が過電流検出電圧(V5)、または短絡電流検出電圧(V6)を越えるとDCH出力がロウレベル(GND)になり、その後、入力電圧がV6以下になると過電流状態から復帰する。
図4は監視IC5の機能構成を示すブロック図である。監視IC5は、基準電圧発生回路50と、基準電圧発生回路50及び入力端子(IDT端子)から信号を受け取る放電電流検出回路56と、基準電圧発生回路50から信号を受け取る下限電圧検出回路51と、基準電圧発生回路50から信号を受け取る上限電圧検出回路52と、発振器54及びこの発振器54に接続されるカウンタ55と、第1電源端子及び入力端子(IDT端子)から信号を受け取る充電器電圧検出回路57と、下限電圧検出回路51、上限電圧検出回路52、放電電流検出回路56、充電器電圧検出回路及びカウンタ55から信号を受け取り、発振器54に信号を送る制御回路53と、制御回路53から信号を受け取り充電端子CHGまたは放電端子DCHに信号を送る駆動回路58とを有する構成になっている。
監視IC5は、電池側の異常状態を過大な充電状態は上限電圧検出回路52で、過大な放電状態は下限電圧検出回路51で電圧値によって監視している。また充電器及び負荷側の異常状態を充電器電圧検出回路57及び放電電流検出回路56で電圧値によって監視している。異常状態を検出した場合、異常状態に応じた遅延時間をカウンタ55によりカウントした後に制御回路53よりDCH端子、もしくはCHG端子にFETスイッチ(放電スイッチまたは充電スイッチ)を遮断する信号を出力する働きを有する。
図5は監視回路付きリチウムイオン二次電池1の動作状態(形態)を示す状態遷移概念図である。
VDCH (DCH端子電圧)及びVCHG (CHG端子電圧)がハイレベルである場合非検出監視状態40になる。TSP1を経過する時間、VCC<V4の場合、非検出監視状態40からVDCH がロウレベルとなる過放電電圧検出状態41に遷移する。この状態が図8に示す状態である。図8において、(1)、即ち、TSP1を経過する時間、VCC<V4であると、VDCH がロウレベルになり、結果、放電スイッチ28がオフ(OFF)になる。また、図5に示すように、VCC<V4でかつ過放電電圧検出時間(Tsp1)以上経過すると、過放電電圧検出状態41から非検出監視状態40に遷移する。
VCC>V1でかつ短絡電流スパイク回避時間(Tsp4)以上経過すると、非検出監視状態40からVCHG がロウレベルとなる過充電電圧検出状態42に遷移する。この状態が図7に示す状態である。図7において、(1)、即ち、TSP4を経過する時間、VCC>V1であると、VCHG がロウレベルになり、結果、充電スイッチ29がオフになる。また、図5に示すように、VCC<V2となると過充電電圧検出状態42から非検出監視状態40に遷移する。
VIDT <V9でかつ充電過電流検出時間(Tsp9)以上経過すると、非検出監視状態40からVCHG がロウレベルとなる充電過電流検出状態43に遷移する。この状態が図10に示す状態である。図10において、(1)、即ち、VIDT <V9であると、VCHG がロウレベルになり、結果、充電スイッチ29がオフになる。この充電過電流検出状態43の状態で、VCC<V4とさせると過放電電圧検出時間短縮テスト状態44に遷移する。この際、VDCH はロウレベルになる。過放電電圧検出時間短縮テスト状態44にすることによって過放電電圧検出時間(Tsp1)が短縮される。充電過電流状態は充電状態である。また過放電電圧検出状態は放電状態である。通常使用する上では放電状態と充電状態は同時には起こりえない。従ってテスト状態として過放電電圧検出時問短縮テスト状態を充電過電流状態と組み合わせても実使用上、問題が無い。また、図5に示すように、充電過電流検出状態43において、VIDT >V9となると、充電過電流検出状態43から非検出監視状態40に遷移する。ここで、Tsp9は充電過電流検出時間であり、V9は充電過電流検出電圧である。
VIDT >V6でかつ短絡電流スパイク回避時間(Tsp4)以上経過すると、非検出監視状態40からVDCH がロウレベルとなる短絡電流検出状態45に遷移する。この状態が図9に示す状態である。図9において、(1)、即ち、TSP4を経過する時間、VIDT >V6であると、VDCH がロウレベルになり、結果、放電スイッチ28がオフになる。この短絡電流検出状態45の状態で、VCC>V1とさせると過充電電圧検出時間短縮テスト状態46に遷移する。この際、VCHG はロウレベルになる。過充電電圧検出時間短縮テスト状態46にすることによって過充電電圧検出時間(Tsp3)が短縮される。短絡電流状態は放電状態である。また過充電電圧検出状態は充電状態である。通常使用する上では放電状態と充電状態は同時には起こりえない。従ってテスト状態として過充電電圧検出時間短縮テスト状態を短絡電流状態と組み合わせても実使用上、問題が無い。また、図5に示すように、短絡電流検出状態45において、VIDT <V6となると、短絡電流検出状態45から非検出監視状態40に遷移する。
図5において、四角で囲まれた状態が監視状態であり、細長い楕円で囲まれた状態がテスト状態である。また、実線矢印が監視状態遷移方向を示し、破線矢印がテスト状態遷移方向を示すものである。
このように状態遷移概念図に示す通り, 実使用では相互に相反し、同時に存在し得ない監視状態の組み合わせによってテスト状態への切り替えを行うことができる。
つぎに、過充電電圧検出時間短縮モード実現機構について説明する。過充電電圧検出時間短縮モード実現機構を実現するカウンタ55は図11に示すような機能構成になっている。カウンタ55は、発振器54の出力信号を入力信号とし、複数のハイリセットカウンタ60aを直列に接続してなる第1のカウンタ60を有している。
この第1のカウンタ60には第1の差動増幅器61の出力信号が入力される。第1の差動増幅器61は入力端子に入力されるIDT信号と短絡電流検出電圧V6を入力し、その出力信号を第1のカウンタ60の各ハイリセットカウンタ60aに出力する。第1のカウンタ60の末端のハイリセットカウンタ60aには短絡電流検出信号を出力する第1のキャリービット検出回路62が接続されている。
一方、カウンタ55は発振器54の出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタ63aを直列に接続してなる第2のカウンタ63を有している。第2のカウンタ63の末端のハイリセットカウンタ63aの信号は第1のANDゲート64の入力側に入力される。この第1のANDゲート64は第1のキャリービット検出回路62の出力信号である短絡電流検出信号を反転状態で入力側に入力するようになっている。
また、第1のANDゲート64に並列状態で第2のANDゲート65が配置されている。この第2のANDゲート65の入力側には発振器54の出力信号と第1のキャリービット検出回路62の出力信号である短絡電流検出信号が入力される。
第1のANDゲート64及び第2のANDゲート65の出力信号はNORゲート66の入力側に入力される。NORゲート66の出力信号は複数のハイリセットカウンタ67aを直列に接続した第3のカウンタ67に入力されるようになっている。
他方、第2のカウンタ63及び第3のカウンタ67には第2の差動増幅器68の出力信号が入力される。第2の差動増幅器68は、第1電源電圧VCCと上限電圧検出回路52の出力信号である充電停止電圧V1を入力し、第2のカウンタ63の各ハイリセットカウンタ63a及び第3のカウンタ67の各記ハイリセットカウンタ67aにそれぞれ出力信号を出力する。第3のカウンタ67の末尾のハイリセットカウンタ67aには過充電電圧検出信号を出力する第2のキャリービット検出回路69が接続されている。
このような構成において、(a)短絡電流スパイク回避時間Tsp4を経過する時間、前記入力端子の端子電圧(VIDT )が端子電圧(VIDT )>前記短絡電流検出電圧V6なる電圧を前記Vbidt端子に印加して短絡電流検出状態に遷移させ、
(b)前記VCC端子電圧(Vbvcc)がVbvcc>充電停止電圧V1となる電圧を前記Vbvcc端子に印加することによって、過充電電圧検出時間(Tsp3)が短縮された、過充電電圧検出時間短縮モード(テストモード)が実現する。
即ち、図11において、(a)VIDT >V6でロウ出力となり第1のカウンタ60のカウントが開始し、(b)前記(a)の成立と短絡電流スパイク回避時間Tsp4経過によって第1のキャリービット検出回路62から短絡電流検出信号が出力される。また、(c)VCC>V1で第2の差動増幅器68はロウ出力となり、第2のカウンタ63はカウントを開始する。この結果、NORゲート66には入力信号が入るようになり、(d)短絡電流検出信号ハイ時に前半部のカウンタ(第2のカウンタ63)を飛ばして後半部の第3のカウンタ67からカウントするため、過充電電圧検出時間が短縮される。
図12は過充電電圧検出時間短縮モード実現機構におけるテスト状態の一設定例を示すタイミングチャートである。図12に示す過充電電圧検出時間短縮状態は以下の操作によって行われる。
図12にテスト端子Tを使用しないで過充電電圧検出時間短縮状態へ遷移させる実施例を示す。まず短絡電流検出状態の検出条件である(図6のIDT 端子電圧(VIDT )>V6(0.9V)かつ短絡電流スパイク回避時間Tsp4(20ms以上)をVbidt端子13より入力して短絡電流検出状態45へ遷移させる。この状態で過充電電圧検出条件である(図6のVCC端子電圧(Vcc )>V1(4.28V)を、図6のVbvcc端子12より入力すると、過充電電圧検出時間Tsp3が短縮されるテスト状態となる。この例によれば、T端子を使用するテストに比較して、過充電電圧スパイク回避時間(Tsp3)は1/420と短縮される。
つぎに、過放電電圧検出時間短縮モード実現機構について、図13を参照して説明する。このカウンタ55は図11で説明した構成と同じであるが、比較する電圧が異なる。
カウンタ55は、発振器54の出力信号を入力信号とし、複数のハイリセットカウンタ60aを直列に接続してなる第1のカウンタ60を有している。
この第1のカウンタ60には第1の差動増幅器61の出力信号が入力される。第1の差動増幅器61は入力端子に入力されるIDT信号と充電過電流検出電圧V9を入力し、その出力信号を第1のカウンタ60の各ハイリセットカウンタ60aに出力する。第1のカウンタ60の末端のハイリセットカウンタ60aには充電過電流検出信号を出力する第1のキャリービット検出回路62が接続されている。
一方、カウンタ55は発振器54の出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタ63aを直列に接続してなる第2のカウンタ63を有している。第2のカウンタ63の末端のハイリセットカウンタ63aの信号は第1のANDゲート64の入力側に入力される。この第1のANDゲート64は第1のキャリービット検出回路62の出力信号である充電過電流検出信号を反転状態で入力側に入力するようになっている。
また、第1のANDゲート64に並列状態で第2のANDゲート65が配置されている。この第2のANDゲート65の入力側には発振器54の出力信号と第1のキャリービット検出回路62の出力信号である充電過電流検出信号が入力される。
第1のANDゲート64及び第2のANDゲート65の出力信号はNORゲート66の入力側に入力される。NORゲート66の出力信号は複数のハイリセットカウンタ67aを直列に接続した第3のカウンタ67に入力されるようになっている。
他方、第2のカウンタ63及び第3のカウンタ67には第2の差動増幅器68の出力信号が入力される。第2の差動増幅器68は、第1電源電圧VCCと下限電圧検出回路51の出力信号である放電停止電圧V4を入力し、第2のカウンタ63の各ハイリセットカウンタ63a及び第3のカウンタ67の各記ハイリセットカウンタ67aにそれぞれ出力信号を出力する。第3のカウンタ67の末尾のハイリセットカウンタ67aには過放電電圧検出信号を出力する第2のキャリービット検出回路69が接続されている。
このような構成において、(a)充電過電流検出時間Tsp9を経過する時間、前記入力端子の端子電圧(VIDT )が端子電圧(VIDT )<前記充電過電流検出電圧V9なる電圧を前記Vbidt端子に印加して充電過電流検出状態に遷移させ、
(b)前記VCC端子電圧(Vbvcc)がVbvcc<放電停止電圧V4となる電圧を前記Vbvcc端子に印加することによって、過放電電圧検出時間(Tsp1)が短縮された、過放電電圧検出時間短縮モード(テストモード)が実現する。
即ち、図13において、(a)VIDT <V9となった時点で第1のカウンタ60のカウントが開始し、(b)前記(a)の成立と充電過電流検出時間Tsp9経過によって第1のキャリービット検出回路62から充電過電流検出信号が出力される。また、(c)VCC<V4で第2の差動増幅器68はロウ出力となり、第2のカウンタ63はカウントを開始する。この結果、NORゲート66には入力信号が入るようになり、(d)充電過電流検出信号ハイ時に前半部のカウンタ(第2のカウンタ63)を飛ばして後半部の第3のカウンタ67からカウントするため、過放電電圧検出時間が短縮される。
図14は過放電電圧検出時間短縮モード実現機構におけるテスト状態の一設定例を示すタイミングチャートである。図14に示す過放電電圧検出時間短縮状態は以下の操作によって行われる。
図14にテスト端子Tを使用しないで過放電電圧検出時間短縮状態へ遷移させる実施例を示す。まず充電過電流検出状態43の検出条件である[VIDT ≦V9(−0.12V)かつ充電過電流検出時間(Tsp9:8ms)以上]をVbidt端子13より入力して充電過電流検出状態43へ遷移させる。この状態で過放電電圧検出条件である[Vvcc <V4(2.3V)を図6のVbvcc端子12より入力すると過放電電圧検出時問(Tsp1)が短縮されるテスト状態となる。T端子を使用するテストに比較して、過放電電圧スパイク回避時間(Tsp1)は1/32と短縮される。
本実施例1によれば、以下の効果を有する。
(1)監視IC5において、外部電極端子33としてのT端子が不要になることで半導体チップ35の小型化合が可能になる。また、半導体チップ35の小型化とパッケージ32の周縁側に配置する外部電極端子33も一つ減ることになり、パッケージの小型化、即ち、半導体装置(監視IC)の小型化が可能になる。これにより監視IC5を組み込む電池監視装置3の小型化も達成できる。
(2)監視IC5において、T端子をなくしても、実装基板4にテスト時に使用するVbidt端子13及びVbvcc端子12を設け、かつ監視IC5のカウンタ55も、過充電電圧検出時間短縮モード実現機構及び過充電電圧検出時間短縮モード実現機構を構成する構造とすることから、過充電電圧検出時間(Tsp3)及び過放電電圧検出時間(Tsp1)をそれぞれ短縮でき、テスト時間の短縮が可能になる。
(3)上記(2)より、監視回路付きリチウムイオン二次電池1のテスト時間も短縮できる。即ち、T端子を使用しない本実施例1の場合、T端子を使用するテストに比較して、過放電電圧スパイク回避時間(Tsp1)は1/32と短縮でき、過充電電圧スパイク回避時間(Tsp3)は1/420と短縮できる。
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
本発明の実施例1である監視回路を有するリチウムイオン二次電池を示す回路図である。 本実施例1の電池監視装置を取り付けたリチウムイオン二次電池を示す斜視図である。 本実施例1の電池監視装置における監視ICを示す図である。 前記監視ICの機能構成を示すブロック図である。 本実施例1の電池監視における状態遷移を示す概念図である。 本実施例1の電池監視装置の基板実装状態でのテスト状態設定概念図である。 本実施例1の監視回路付きリチウムイオン二次電池における過充電電圧検出状態を示す回路図である。 本実施例1の監視回路付きリチウムイオン二次電池における過放電電圧検出状態を示す回路図である。 本実施例1の監視回路付きリチウムイオン二次電池における放電電流検出状態(短絡)を示す回路図である。 本実施例1の監視回路付きリチウムイオン二次電池における充電過電流検出状態を示す回路図である。 本実施例1の電池監視装置の監視ICにおける過充電電圧検出時間短縮モード実現機構を示すブロック図である。 前記過充電電圧検出時間短縮モード実現機構におけるテスト状態の一設定例を示すタイミングチャートである。 本実施例1の電池監視装置の監視ICにおける過放電電圧検出時間短縮モード実現機構を示すブロック図である。 前記過放電電圧検出時間短縮モード実現機構におけるテスト状態の一設定例を示すタイミングチャートである。 従来の電池監視装置を取り付けたリチウムイオン二次電池を示す斜視図である。 従来の監視回路を有するリチウムイオン二次電池を示す回路図である。 従来の電池監視装置を構成する監視ICを示す図である。 従来の電池監視装置を構成する監視ICの機能構成を示すブロック図である。 従来の電池監視装置の電池電圧を行う基本動作を示すタイミングチャートである。 従来の電池監視装置における過充電状態[1]を示すタイミングチャートである。 従来の電池監視装置における過充電状態[2]を示すタイミングチャートである。 従来の電池監視装置における通常状態を示すタイミングチャートである。 従来の電池監視装置における過放電状態、過放電充電禁止状態を示すタイミングチャートである。 従来の電池監視装置における充電過電流検出状態を示すタイミングチャートである。
符号の説明
1…監視回路付きリチウムイオン二次電池、2…リチウムイオン二次電池、3…電池監視装置(リチウムイオン二次電池監視装置)、4…実装基板、5…監視IC、6…制御IC、7…第1電源端子(Vcc)、8…第2電源端子(Gnd)、9…接続コード、10…第2電源端子(GND)、11…接続コード、12…Vbvcc端子、13…Vbidt端子、14…第1電源端子(Vcc)、17…外部電源、18…スイッチ(SW)、20…プラス端子、21…マイナス端子、22…負荷、23,24…外部端子、27…ヒューズ、28…放電スイッチ、29…充電スイッチ、32…封止体(パッケージ)、33…外部電極端子、34…タブ、35…半導体チップ、36…ワイヤ、40…非検出監視状態、41…過放電電圧検出状態、42…過充電電圧検出状態、43…充電過電流検出状態、44…過放電電圧検出時間短縮テスト状態、45…短絡電流検出状態、46…過充電電圧検出時間短縮テスト状態、50…基準電圧発生回路、51…下限電圧検出回路、52…上限電圧検出回路、53…制御回路、54…発振器、55…カウンタ、56…放電電流検出回路、57…充電器電圧検出回路、58…駆動回路、60…第1のカウンタ、60a…ハイリセットカウンタ、61…第1の差動増幅器、62…第1のキャリービット検出回路、63…第2のカウンタ、63a…ハイリセットカウンタ、64…第1のANDゲート、65…第2のANDゲート、66…NORゲート、67…第3のカウンタ、67a…ハイリセットカウンタ、68…第2の差動増幅器、69…第2のキャリービット検出回路、70…リチウムイオン二次電池、71…電池監視装置(リチウムイオン二次電池監視装置)、72…実装基板、73…監視IC、74…制御IC、75…第1電源端子(Vcc)、76…第2電源端子(Gnd)、77…接続コード、78…第2電源端子(GND)、79…接続コード、80…監視回路付きリチウムイオン二次電池、81…プラス端子、82…マイナス端子、83…負荷、84,85…外部端子、86…ヒューズ、87…放電スイッチ、88…充電スイッチ、91…封止体(パッケージ)、92…外部電極端子、93…タブ、94…半導体チップ、95…ワイヤ

Claims (5)

  1. リチウムイオン二次電池監視装置に組み込まれる監視ICであって、
    前記リチウムイオン二次電池監視装置の放電スイッチに接続される放電端子と、
    前記リチウムイオン二次電池監視装置の充電スイッチに接続される充電端子と、
    リチウムイオン二次電池の第2電源端子に充電スイッチ、放電スイッチを介して接続される入力端子と、
    前記リチウムイオン二次電池の第1電源端子に接続される第1電源端子と、
    前記リチウムイオン二次電池の第2電源端子に接続される第2電源端子と、
    基準電圧発生回路と、
    前記基準電圧発生回路及び前記入力端子から信号を受け取る放電電流検出回路と、
    前記基準電圧発生回路から信号を受け取る下限電圧検出回路と、
    前記基準電圧発生回路から信号を受け取る上限電圧検出回路と、
    発振器及びこの発振器に接続されるカウンタと、
    前記第1電源端子及び前記入力端子から信号を受け取る充電器電圧検出回路と、
    前記下限電圧検出回路、前記上限電圧検出回路、前記放電電流検出回路、前記充電器電圧検出回路及び前記カウンタから信号を受け取り、前記発振器に信号を送る制御回路と、
    前記制御回路から信号を受け取り、前記充電端子または前記放電端子に信号を送る駆動回路とを有することを特徴とする監視IC。
  2. 絶縁性樹脂からなる封止体と、
    前記封止体に封止され、一部を前記封止体から露出させる導体からなる支持板と、
    前記支持板の側面に内端を臨ませ一部を前記封止体の外に露出させる導体からなる4個の外部電極端子と、
    前記支持体の上面に固定され、前記封止体内に位置する半導体チップと、
    前記半導体チップの電極と前記外部電極端子を電気的に接続し、かつ前記封止体内に位置する接続手段とを有し、
    前記支持板が前記第1電源端子となり、
    前記4個の外部電極端子が前記充電端子,前記放電端子、前記入力端子及び前記第2電源端子となることを特徴とする請求項1に記載の監視IC。
  3. リチウムイオン二次電池に並列に接続される放電スイッチ及び充電スイッチと、前記スイッチを制御する監視ICを有する電池監視装置であって、
    前記監視ICは、
    前記リチウムイオン二次電池監視装置の前記放電スイッチに接続される放電端子と、
    前記リチウムイオン二次電池監視装置の前記充電スイッチに接続される充電端子と、
    リチウムイオン二次電池の第2電源端子に充電スイッチ、放電スイッチを介して接続される入力端子と、
    前記リチウムイオン二次電池の第1電源端子に接続される第1電源端子と、
    前記リチウムイオン二次電池の第2電源端子に接続される第2電源端子と、
    基準電圧発生回路と、
    前記基準電圧発生回路及び前記入力端子から信号を受け取る放電電流検出回路と、
    前記基準電圧発生回路から信号を受け取る下限電圧検出回路と、
    前記基準電圧発生回路から信号を受け取る上限電圧検出回路と、
    発振器及びこの発振器に接続されるカウンタと、
    前記第1電源端子及び前記入力端子から信号を受け取る充電器電圧検出回路と、
    前記下限電圧検出回路、前記上限電圧検出回路、前記放電電流検出回路、前記充電器電圧検出回路及び前記カウンタから信号を受け取り、前記発振器に信号を送る制御回路と、
    前記制御回路から信号を受け取り、前記充電端子または前記放電端子に信号を送る駆動回路とを有し、
    前記放電スイッチは前記監視ICの前記放電端子と前記リチウムイオン二次電池の前記第2電源端子間に接続され、
    前記充電スイッチは前記監視ICの前記充電端子と前記リチウムイオン二次電池の前記第2電源端子間に接続され、
    前記監視ICの前記第1電源端子に接続される、基板テスト及び電池パック完成後のテストを行う際に状態設定用として設けられた外部電源端子であるVbvcc端子と、
    前記監視ICの前記入力端子に接続され、かつ前記第1電源端子との間に直列にスイッチを接続してなる、基板テスト及び電池パック完成後のテストを行う際に状態設定用として設けられた外部入力端子であるVbidt端子とを有することを特徴とする電池監視装置。
  4. 前記カウンタは、
    前記発振器の出力信号を入力信号とし、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第1のカウンタと、
    前記第1のカウンタに接続され、短絡電流検出信号を出力する第1のキャリービット検出回路と、
    前記入力端子に入力されるIDT信号と短絡電流検知電圧V6を入力し、前記第1のカウンタの前記各ハイリセットカウンタに信号を出力する第1の差動増幅器と、
    前記発振器の出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第2のカウンタと、
    前記第2のカウンタの出力信号を入力するとともに、前記短絡電流検出信号の反転信号を入力する第1のANDゲートと、
    前記発振器の出力信号と前記短絡電流検出信号を入力する第2のANDゲートと、
    前記第1のANDゲートの出力信号及び前記第2のANDゲートの出力信号を入力するNORゲートと、
    前記NORゲートの出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第3のカウンタと、
    前記第3のカウンタの出力信号を入力し、過充電電圧検出信号を出力する第2のキャリービット検出回路と、
    前記第1電源電圧VCCと前記上限電圧検出回路の出力信号である充電停止電圧V1を入力し、前記第2のカウンタの前記各ハイリセットカウンタ及び前記第3のカウンタの前記各ハイリセットカウンタに出力する第2の差動増幅器とによって、過充電電圧検出時間短縮モード実現機構を構成し、
    (a)短絡電流スパイク回避時間Tsp4を経過する時間、前記入力端子の端子電圧(VIDT )が端子電圧(VIDT )>前記短絡電流検知電圧V6なる電圧を前記Vbidt端子に印加して短絡電流検出状態に遷移させ、
    (b)前記VCC端子電圧(Vbvcc)がVbvcc>充電停止電圧V1となる電圧を前記Vbvcc端子に印加することにより、過充電電圧(V1)を検出する時間(Tsp3)を短縮させた状態である過充電電圧検出時間短縮テスト状態に遷移させることを特徴とする請求項3に記載の電池監視装置。
  5. 前記カウンタは、
    前記発振器の出力信号を入力信号とし、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第1のカウンタと、
    前記第1のカウンタに接続され、充電過電流検出信号を出力する第1のキャリービット検出回路と、
    前記入力端子に入力されるIDT信号と充電過電流検出電圧V9を入力し、前記第1のカウンタの前記各ハイリセットカウンタに信号を出力する第1の差動増幅器と、
    前記発振器の出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第2のカウンタと、
    前記第2のカウンタの出力信号を入力するとともに、前記充電過電流検出信号の反転信号を入力する第1のANDゲートと、
    前記発振器の出力信号と前記充電過電流検出信号を入力する第2のANDゲートと、
    前記第1のANDゲートの出力信号及び前記第2のANDゲートの出力信号を入力するNORゲートと、
    前記NORゲートの出力信号を入力し、複数のハイリセットカウンタを直列に接続してなる第3のカウンタと、
    前記第3のカウンタの出力信号を入力し、過放電電圧検出信号を出力する第2のキャリービット検出回路と、
    前記第1電源電圧VCCと前記下限電圧検出回路の出力信号である放電停止電圧V4を入力し、前記第2のカウンタの前記各ハイリセットカウンタ及び前記第3のカウンタの前記各ハイリセットカウンタに出力する第2の差動増幅器とによって、過放電電圧検出時間短縮モード実現機構を構成し、
    (a)充電過電流検出時間Tsp9を経過する時間、前記入力端子の端子電圧(VIDT )が端子電圧(VIDT )<前記充電過電流検出電圧V9なる電圧を前記Vbidt端子に印加して充電過電流検出状態に遷移させ、
    (b)前記VCC端子電圧(Vbvcc)がVbvcc<放電停止電圧V4となる電圧を前記Vbvcc端子に印加することにより、過放電電圧(V4)を検出する時間(Tsp1)が短縮された状態である過放電電圧検出時間短縮テスト状態に遷移させることを特徴とする請求項3に記載の電池監視装置。
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