JP2006180099A - 画素欠陥補正装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】デジタルカメラの欠陥補正回路76は、撮影画像の点キズや縦線キズ、横線キズを同時並行して補正する。点キズと縦線キズとが隣接して存在することを考慮し、欠陥補正回路76は補正すべき注目画素の周囲の画素を用いた所定の差分演算を実行し、差分演算値の大小比較に応じて補間パターンを決定する。また、欠陥補正回路76は点キズと線キズの隣接パターンに応じて予め用意された補間パターンから選択して補間する。隣接パターンは欠陥デコード回路78で検出する。
【選択図】図1
Description
G23=(G12+G14+G32+G34)/4
によりG23画素の画素値を補間することで補正する。上式は、G23画素を周囲4画素の平均として補正することを意味する。
R22=(R02+R42+R20+R24)/4
によりR22画素の画素値を補正する。B画素の配置はR画素と同様であるため、B画素の点欠陥もR画素の点欠陥と同様に補正し得る。
G(sla)=ABS(G14−G32)
である。ここに、ABSは絶対値を意味する。図54(b)は補正すべきG23の隣接左上画素G12と隣接右下画素G34の差分を演算するパターンであり、この方向の差分演算をBacと略称すると
G(Bac)=ABS(G12−G34)
である。図54(c)は補正すべきG23の左右の直近の水平方向画素G21、G25の差分を演算するパターンであり、この方向の差分演算をHorと略称すると
G(Hor)=ABS(G21−G25)
である。図54(d)は補正すべきG23の直近の垂直方向画素G12、G32、G14、G34の差分を演算するパターンであり、この方向の差分演算をG(Ver)と略称すると
G(ver)=ABS(G12+G14−G32−G34)
である。縦線キズ検出パターン部14は、これら4つの差分演算を実行し、その演算値を演算パターンセレクタ部16に供給する。
G23=(G12+G14+G32+G34)/4
である。図55(b)は、補正すべき画素G23の水平方向の画素G21、G25を用いて補正する演算であり、
G23=(G21+G25)/2
である。図55(c)は、補正すべき画素G23の隣接右上及び隣接左下の画素G14、G32を用いて補正する演算であり、
G23=(G14+G32)/2
である。図55(d)は、補正すべき画素G23の隣接左上及び隣接右下の画素G12、G34を用いて補正する演算であり、
G23=(G12+G34)/2
である。補間パターン部12は、これら4つの補正パターンで補正した補正値を演算パターンセレクタ部16に供給する。演算パターンセレクタ部16は、縦線キズ検出パターン部14からの4つの差分演算値の大小比較に応じて、補間パターン部12からの4つの補正値のいずれかを選択して出力する。具体的には、演算パターンセレクタ部16は、差分演算値が小さい演算パターンを演算し、その演算パターンに対応する補正パターンを選択する。演算パターンセレクタ部16は、4つの差分演算値G(Sla)、G(Bac)、G(Hor)、G(Ver)において、
(1)G(Hor)<G(Sla)、かつ、G(Hor)<G(Bac)
を判定する。水平方向画素の差分が小さく、この条件式を満足する場合には、次に、
(2)G(Ver)<しきい値
を判定する。垂直方向の差分が小さく、この条件式も満足する場合には、水平方向及び垂直方向いずれも差分値が小さいことを意味するから、図55(a)の補正パターンを選択する。(1)式は満たすものの(2)式は満たさない場合には、垂直方向の差分値が大きいことを意味するから水平方向の画素のみで補正すべく、図55(b)の補正パターンを選択する。
(3)G(Sla)<G(Bac)
を判定する。Sla方向の差分値が小さい場合には、図55(c)の補正パターンを選択する。(3)式を満たさない場合には、逆に図55(d)の補正パターンを選択する。要は、差分演算値が小さく、その画素値が大きく相違しない周囲画素から注目画素を補正するアルゴリズムである。
G’(Sla)=(G12+G21+G23+G32−G01−G10−G34−G43)/2
である。図57(b)は、補正すべき画素R22の周囲画素と、さらに右上及び左下にあるG03、G14、G30、G41を用いた差分演算であり、この方向の差分演算をBacと略称すると
G’(Bac)=(G12+G21+G23+G32−G03−G14−G30−G41)/2
である。図57(c)は、補正すべき画素R22の周囲画素と、さらに水平方向のG10、G30、G14、G34を用いた差分演算であり、この方向の差分演算をHorと略称すると
G’(Hor)=(G12+G21+G23+G32−G10−G30−G14−G34)/2
である。縦線キズ検出パターン部22は、これら3つの差分演算値を演算パターンセレクタ部24に供給する。
R22=(R20+R24+G’(Hor))/2
である。図58(b)は、補正すべき画素R22の左上及び右下の画素R00、R44を用いた補正演算であり、
R22=(R00+R44+G’(Sla))/2
である。図58(c)は、補正すべき画素R22の右上及び左下の画素R04、R40を用いた補正演算であり、
R22=(R04+R40+G’(Bac))/2
である。補間パターン部20は、これら3つの補正値を演算パターンセレクタ部24に供給する。演算パターンセレクタ部24は、縦線キズ検出パターン部22からの3つの差分演算値を大小比較する。そして、
(4)ABS(G’(Hor))<ABS(G’(Sla))、かつ、ABS(G’(Hor))<ABS(G’(Bac))
を判定する。水平方向の差分値が小さく、(4)式を満たす場合には、図58(a)の補正パターンを選択する。一方、(1)式を満たさない場合には、次に、
(5)ABS(G’(Sla))<ABS(G’(Bac))
を判定する。水平方向の差分が大きいものの、Slaの差分が小さく上記(5)式を満たす場合には、図58(b)の補正パターンを選択し、(5)式を満たさない場合には図58(c)の補正パターンを選択する。
G(Sla)=ABS(G14−G32)=72
G(Bac)=ABS(G12−G34)=43
G(Hor)=ABS(G21−G25)=59
G(Ver)=ABS(G12+G14−G32−G34)=115
であり、演算パターンセレクタ部16は、G(Bac)<G(Hor)であるため図55(d)の補正パターンを選択し、G12とG34とを用いてG23を補正することになる。しかしながら、G12は点キズが生じており、G12が正確な画素値でない限り、G23を補正することができない。
図1は、本実施形態の画素欠陥補正回路を組み込んだデジタルカメラの全体構成を示す。絞り50及びレンズ52を含む光学系は、被写体からの光をCCD54に導く。絞り50の前に遮光フィルタ51を配置してもよい。CCD54は、被写体からの光をその光量に応じて電気信号に変換し、CDS(相関2重サンプリング)56に供給する。CDS56は、画像信号をサンプリングし、アンプ(AMP)58を介してA/D60に供給する。アンプ(AMP)58は画像信号のゲインを調整し、A/D60はサンプリングされた画像信号をデジタル信号に変換してフレームメモリとしての画像メモリ62に供給する。CCD54、CDS56、A/D60の動作は、シグナルジェネレータ(SG)68及びタイミングジェネレータ(TG)66からのタイミング信号で制御され、画像メモリ62のデータの読み出し/書き込みは、メモリコントローラ70で制御される。タイミングジェネレータ66及びメモリコントローラ70の動作は、CPU72からの制御信号で制御される。CPU72は、操作部92からの操作信号やCCD54の温度を検出する温度センサ64からの温度信号に応じて制御信号を各部に供給する。画像メモリ62は、メモリコントローラ70からのコントロール信号に応じて画像データを欠陥検出回路74、欠陥補正回路76及び欠陥デコード回路78に供給する。欠陥検出回路74は、画像データから撮影画像内に存在する欠陥を検出し、検出結果をCPU72に供給する。CPU72は、欠陥が存在する場合にその欠陥画素のアドレスをEEPROM等の欠陥メモリ80に記憶する。欠陥メモリ80は、欠陥画素のアドレスデータを欠陥デコード回路78に供給する。欠陥デコード回路78は、欠陥画素のアドレスデータに基づいて画像メモリ62からの現信号に同期して欠陥情報を読み出して欠陥補正回路76に供給する。欠陥補正回路76は、画像メモリ62からの画像データと、欠陥デコード回路78からの欠陥情報から、欠陥を補正して画像信号処理回路82に供給する。
G23=(G12+G14+G32+G34)/4
によりG23を補間する。G23に点キズが存在することは、欠陥デコード回路78からの欠陥情報に基づく。G用ポイント欠陥補正部76bは、欠陥デコード回路78からのポイントキズ情報に基づき、G23のアドレスに欠陥が生じていること、及びこの欠陥が点キズであることを判定し、G23の画素データを採用せず、上式に従ってG23の画素データを補間し、補間値をG23の画素データとして出力する。
R22=(R02+R42+R20+R24)/4
によりR22を補間する。B画素についても同様である。
G(Hor)=ABS(G12+G32−G14−G34)
を演算する。G12、G14、G32、G34は、G23を含む縦ラインに隣接する画素であり、仮に縦キズに隣接して点キズが存在している場合に、この点キズの影響を受け得る画素である。
G(Sla)=72
G(Bac)=43
G(Hor)=29
G(Ver)=115
となり、G(Hor)の値が従来の値59よりも小さくなることに着目されたい。従って、差分演算値の大小を比較するアルゴリズムにおいて、G(Hor)<G(Sla)、かつ、G(Hor)<G(Bac)を満たすことになり、図9(a)または(b)のいずれかがG(Ver)としきい値との大小に応じて選択される。例えばしきい値との関係で115>しきい値であれば、図9(b)の補間パターンが選択される。図9(b)の補間パターンは、点キズの生じているG12あるいはG14を用いない補間パターンであって、点キズの影響を受けずに縦キズを補正し得る。
G’(Sla)=(G21×2+G23×2−G01−G10−G34−G43)/2
である。図11(b)はBac方向の差分演算であり
G’(Bac)=(G21×2+G23×2−G03−G04−G30−G40)/2
である。図11(c)はHor方向の差分演算であり
G’(Hor)=(G21×2+G23×2−G10−G30−G14−G34)/2
である。いずれの差分演算も、従来と比較してG12及びG32を用いず、G21及びG23を重複して用いる点が異なる。
上記の第1実施形態では、G縦線キズとRB縦線キズとを同時に補正する例を説明したが、本実施形態では、縦キズのみならず横キズも同時に補正する場合について説明する。
G(Sla)=ABS(G14−G32)
を演算する。図16(b)はBac方向の差分演算であり、G12、G34を用いて
G(Bac)=ABS(G12−G34)
を演算する。図16(c)はVer方向の差分演算であり、G12、G14、G32、G34を用いて
G(Ver)=ABS(G12+G14−G32−G34)
を演算する。図16(d)はHor方向の差分演算であり、G12、G14、G32、G34を用いて
G(Hor)=ABS(G12+G32−G14−G34)
を演算する。通常、Ver方向の差分演算としては
G(Ver)=ABS(G03−G43)
を用いるが、本実施形態ではこれを用いず、G12、G14、G32、G34を用いて差分演算を実行する点に着目されたい。本実施形態のG(Ver)は、第1実施形態のG(Hor)に対応し、横キズに隣接して点キズが存在する場合を考慮したものである。なお、図16の差分演算は、縦キズの場合の差分演算を示す図8と同一である。図16(c)は図8(d)に対応し、図16(d)は図8(c)に対応する。
G23=(G12+G14+G32+G34)/4
により補間する。図17(b)は、G03とG43を用いて
G23=(G03+G43)/2
により補間する。図17(c)はG14とG32を用いて
G23=(G14+G32)/2
により補間する。図17(d)はG12とG34を用いて
G23=(G12+G34)/2
により補間する。演算パターンセレクタ76i3は、図16に示す4個の差分値を大小比較し、まず、G(Ver)<G(Sla)、かつ、G(Ver)<G(Bac)であるか否かを判定する。垂直方向の差分値G(Ver)が小さく、上記の式を満足する場合には、さらにG(Hor)<しきい値であるか否かを判定する。水平方向の差分値G(Hor)も小さくしきい値より小さければ、図17(a)の補間パターンを選択し、そうでなければ図17(b)の補間パターンを選択する。一方、G(Ver)が大きい場合には、次にG(Sla)<G(Bac)であるか否かを判定し、これを満たす場合には図17(c)の補間パターンを選択し、満たさない場合には図17(d)の補間パターンを選択する。
このような選択アルゴリズムにおいて、横キズに隣接して例えばG12やG14に点キズが生じていると、G(Ver)が小さくなるため図17(b)の補間パターンが選択される可能性が高くなり、点キズの生じている画素を用いて補正する事態を抑制できる。
G’(Sla)=(G12×2+G32×2−G01−G10−G34−G43)/2
である。図19(b)はBac方向の差分演算であり、
G’(Bac)=(G12×2+G32×2−G03−G14−G30−G41)/2
である。図19(c)はHor方向の差分演算であり、
G’(Hor)=(G12×2+G32×2−G01−G03−G41−G43)/2
である。
R22=(R02+R42+G’(Hor))/2
により補間する。図20(b)はR00、R44を用いた補間であって、
R22=(R00+R44+G’(Sla))/2
により補間する。図20(c)はR04、R40を用いた補間であって、
R22=(R04+R40+G’(Bac))/2
により補間する。演算パターンセレクタ部76j3は、差分値の大小を比較し、比較結果に応じていずれかの補間値を選択する。具体的には、まず、ABS(G’(Ver))<ABS(G’Sla))、かつ、ABS(G’(Ver))<ABS(G’(Bac))であるか否かを判定し、垂直方向の差分が小さく上式を満たす場合には図20(a)の補間パターンを選択する。一方、垂直方向の差分が大きくこれを満たさない場合には、次にABS(G’(Sla))<ABS(G’(Bac))であるか否かを判定する。Slaの差分値が小さくこれを満たす場合には図20(b)の補間パターンを選択し、満たさない場合には図20(c)の補間パターンを選択する。
R22=(R00+R04+R40+R44)/4
により補間する。なお、G画素の交差キズも存在し得るが、G画素の交差キズは点キズとして
G23=(G12+G14+G32+G34)/4
により補間できる。図14において、RB交差キズ補正部76kが存在し、G交差キズ補正部が存在しない所以である(G交差キズ補正部はG用ポイント欠陥補正部76bが兼用する)。
上記の第2実施形態では、縦キズと横キズを同時に並行して処理する場合について説明した。本実施形態では、点キズと縦キズを同時に並行して処理する場合について説明する。
G23=(G12+G14+G32+G34)/4
である。図26(b)はG23に対して隣接左上G12に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+G32+G34)/4
である。図中斜線はキズが生じていることを示す。図26(c)はG23に対して隣接右上G14に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G12+G32+G34)/4
である。図26(d)はG23に対して隣接左上G12と隣接右上G14に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G32+2×G34)/4
である。図26(e)はG23に対して隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G34+G12+G14)/4
である。図26(f)はG23に対して隣接左上G12と隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+2×G34)/4
である。図26(g)はG23に対して隣接右上G14と隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G12+2×G34)/4
である。図26(h)はG23に対して隣接右上G14、隣接左上G12及び隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G34)/4
である。図26(i)はG23に対して隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G32+G12+G14)/4
である。図26(j)はG23に対して隣接左上G12と隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+2×G32)/4
である。図26(k)はG23に対して隣接右上G14と隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G12+2×G32)/4
である。図26(l)はG23に対して隣接左上G12、隣接右上G14及び隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G32)/4
である。図26(m)はG23に対して隣接右下G34と隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+2×G32)/4
である。図26(n)はG23に対して隣接左上G12、隣接左下G32及び隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G14)/4
である。図26(o)はG23に対して隣接右上G14、隣接右下G34及び隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G12)/4
である。図26(p)はG23に対して隣接左上G12、隣接左下G32、隣接右上G14、隣接右下G34の全てに点キズが存在する場合であり、
G23=G23
である。これは、周囲画素から補間できずそのまま出力することを意味する(補正しない場合と結果として同一)。
隣接欠陥パターン値=G12+G14×2+G32×4+G34×8
として出力する。隣接欠陥パターン値は0〜15のいずれかの値であり、これらの値はそれぞれ図26(a)〜(p)に対応する。図26(a)は隣接パターン値=0であり、図26(p)は隣接パターン値=15である。
R22=(R02+R42+R20+R24)/4
である。図29(b)はR22に対して隣接上に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R42+R20+R24)/4
である。図中斜線はキズが生じていることを示す。図29(c)はR22に対して隣接下に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R02+R20+R24)/4
である。図29(d)はR22に対して隣接上と隣接下に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R20+2×R24)/4
である。図29(e)はR22に対して隣接左に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R24+R02+R42)/4
である。図29(f)はR22に対して隣接左と隣接上に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R42+2×R24)/4
である。図29(g)はR22に対して隣接左と隣接下に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R02+2×R24)/4
である。図29(h)はR22に対して隣接上、隣接左及び隣接下に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R24)/4
である。図29(i)はR22に対して隣接右の点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R20+R02+R42)/4
である。図29(j)はR22に対して隣接上と隣接右に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R42+2×R20)/4
である。図29(k)はR22に対して隣接右と隣接下に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R02+2×R20)/4
である。図29(l)はR22に対して隣接上、隣接右及び隣接下に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R20)/4
である。図29(m)はR22に対して隣接右と隣接左に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R42+2×R20)/4
である。図29(n)はR22に対して隣接左、隣接上及び隣接右に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R42)/4
である。図29(o)はR22に対して隣接左、隣接下及び隣接右に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R02)/4
である。図29(p)はR22に対して隣接左、隣接下、隣接右、隣接上の全てに点キズが存在する場合であり、
R22=R22
である。これは、周囲画素から補間できずそのまま出力することを意味する(補正しない場合と結果として同一)。
隣接欠陥パターン値=R02+R42×2+R20×4+R24×8
として出力する。隣接欠陥パターン値は0〜15のいずれかの値であり、これらの値はそれぞれ図29(a)〜(p)に対応する。図29(a)は隣接パターン値=0であり、図29(p)は隣接パターン値=15である。
G23=(G12+G14+G32+G34)/4
である。図32(b)はG23に対して縦キズの隣接左上G12に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+G32+G34)/4
である。図32(c)はG23に対して縦キズの隣接右上G14に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G12+G32+G34)/4
である。図32(d)はG23に対して縦キズの隣接左上G12と隣接右上G14に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G32+2×G34)/4
である。図32(e)はG23に対して縦キズの隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G34+G12+G14)/4
である。図32(f)はG23に対して縦キズの隣接左上G12と隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+2×G34)/4
である。図32(g)はG23に対して縦キズの隣接右上G14と隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G12+2×G34)/4
である。図32(h)はG23に対して縦キズの隣接右上G14、隣接左上G12及び隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G34)/4
である。図32(i)はG23に対して縦キズの隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G32+G12+G14)/4
である。図32(j)はG23に対して縦キズの隣接左上G12と隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+2×G32)/4
である。図32(k)はG23に対して縦キズの隣接右上G14と隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G12+2×G32)/4
である。図32(l)はG23に対して縦キズの隣接左上G12、隣接右上G14及び隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G32)/4
である。図32(m)はG23に対して縦キズの隣接右下G32と隣接左下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+2×G32)/4
である。図32(n)はG23に対して縦キズの隣接左上G12、隣接左下G32及び隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G14)/4
である。図32(o)はG23に対して縦キズの隣接右上G14、隣接右下G34及び隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G12)/4
である。図32(p)はG23に対して縦キズの隣接左上G12、隣接左下G32、隣接右上G14、隣接右下G34の全てに点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G21+2×G25)/4
である。
隣接欠陥パターン値=G12+G14×2+G32×4+G34×8
として出力する。隣接欠陥パターン値は0〜15のいずれかの値であり、これらの値はそれぞれ図32(a)〜(p)に対応する。図32(a)は隣接パターン値=0であり、図32(p)は隣接パターン値=15である。
R22=(R00+R04+R40+R44)/4
である。図35(b)はR22に対してR20、R24及びR00に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R04+R40+R44)/4
である。図35(c)はR22に対してR20、R24及びR04に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R00+R40+R44)/4
である。図35(d)はR22に対してR20、R24、R00及びR04に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R40+2×R44)/4
である。図35(e)はR22に対してR20、R24及びR40に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R44+R00+R04)/4
である。図35(f)はR22に対してR20、R24、R00及びR40に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R04+2×R44)/4
である。図35(g)はR22に対してR20、R24、R04及びR40に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R00+2×R44)/4
である。図35(h)はR22に対してR20、R24、R00、R04及びR40に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R44)/4
である。図35(i)はR22に対してR20、R24及びR44に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R40+R00+R04)/4
である。図35(j)はR22に対してR20、R24、R00及びR44に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R04+2×R40)/4
である。図35(k)はR22に対してR20、R24、R04及びR44に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R00+2×R40)/4
である。図35(l)はR22に対してR20、R24、R00、R04及びR44に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R40)/4
である。図35(m)はR22に対してR20、R24、R40、及びR44に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R04+2×R40)/4
である。図35(n)はR22に対してR20、R24、R00、R40及びR44に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R04)/4
である。図35(o)はR22に対してR20、R24、R04、R40及びR44に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R00)/4
である。図35(p)はR22に対してR20、R24、R00、R04、R40及びR44に点キズが存在する場合であり、
R22=R22(補正しない)
である。
R22=(2×R20+2×R24)/4
を演算し、R24に点キズが存在しR20に点キズが存在しない場合には、図35(r)のように
R22=(4×R20)/4
を演算し、R20に点キズが存在しR24に点キズが存在しない場合には、図35(s)のように
R22=(4×R24)/4
を演算する。演算部76g4は、これら16通り+3通りの演算を実行する。
上記の第3実施形態では、点キズと縦キズを同時に並行して処理する場合について説明した。本実施形態では、点キズ、縦キズ、横キズ及び交差キズを同時に並行して処理する場合について説明する。
G23=(G12+G14+G32+G34)/4
である。図40(b)は隣接左上G12に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+G32+G34)/4
である。図40(c)は隣接右上G14に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G12+G32+G34)/4
である。図40(d)は隣接左上G12、隣接右上G14に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G32+2×G34)/4
である。図40(e)は隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G34+G12+G14)/4
である。図40(f)は隣接左上G14、隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+2×G34)/4
である。図40(g)は隣接右上G14、隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G12+2×G34)/4
である。図40(h)は隣接左上G12、隣接左下G32、隣接右上G14に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G34)/4
である。図40(i)は隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G32+G12+G14)/4
である。図40(j)は隣接左上G12、隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+2×G32)/4
である。図40(k)は隣接右上G14、隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G12+2×G32)/4
である。図40(l)は隣接左上G12、隣接右上G14、隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G32)/4
である。図40(m)は隣接左下G32、隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G14+2×G32)/4
である。図40(n)は隣接左上G12、隣接左下G32、隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G14)/4
である。図40(o)は隣接右上G14、隣接右下G34、隣接左下G32に点キズが存在する場合であり、
G23=(4×G12)/4
である。図40(p)は隣接左上G12、隣接左下G32、隣接右上G14、隣接右下G34に点キズが存在する場合であり、
G23=(2×G03+2×G43)/4
である。
隣接欠陥パターン値=G12+G14×2+G32×4+G34×8
として出力する。隣接欠陥パターン値は0〜15のいずれかの値であり、これらの値はそれぞれ図40(a)〜(p)に対応する。なお、隣接画素に点キズが存在しない場合には、補間パターン部76i1、横線キズ検出パターン部76i2及び演算パターンセレクタ部76i3により上記の実施形態と同様に補正すればよい。
R22=(R00+R04+R40+R44)/4
である。図43(b)はR00、R02、R42に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R04+R40+R44)/4
である。図43(c)はR02、R04、R42に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R00+R40+R44)/4
である。図43(d)はR00、R02、R04、R42に点キズが存在する場合であり、 R22=(2×R40+2×R44)/4
である。図43(e)はR02、R40、R42に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R44+R00+R04)/4
である。図43(f)はR00、R02、R40、R42に点キズが存在する場合であり、 R22=(2×R04+2×R44)/4
である。図43(g)はR02、R04、R40、R42に点キズが存在する場合であり、 R22=(2×R00+2×R44)/4
である。図43(h)はR00、R02、R04、R40、R42に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R44)/4
である。図43(i)はR02、R42、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R40+R00+R04)/4
である。図43(j)はR00、R02、R42、R44に点キズが存在する場合であり、 R22=(2×R04+2×R40)/4
である。図43(k)はR02、R04、R42、R44に点キズが存在する場合であり、 R22=(2×R00+2×R40)/4
である。図43(l)はR00、R02、R04、R42、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R40)/4
である。図43(m)はR02、R40、R42、R44に点キズが存在する場合であり、 R22=(2×R04+2×R40)/4
である。図43(n)はR00、R02、R40、R42、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R04)/4
である。図43(o)はR02、R04、R40、R42、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R00)/4
である。図43(p)はR00、R02、R04、R40、R42、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=R22
である。一方、図43(q)はR02とR42に点キズが存在しない場合であり、
R22=(2×R02+2×R42)/4
である。図43(r)はR02に点キズがなく、R42のみに点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R02)/4
である。図43(s)はR02に点キズが存在し、R42に点キズが存在しない場合であり、
R22=(4×R42)/4
である。
R22=(R00+R04+R40+R44)/4
である。図46(b)はR00に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R04+R40+R44)/4
である。図46(c)はR04に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R00+R40+R44)/4
である。図46(d)はR00、R04に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R40+2×R44)/4
である。図46(e)はR40に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R44+R00+R04)/4
である。図46(f)はR00、R40に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R04+2×R44)/4
である。図46(g)はR04、R40に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R00+2×R44)/4
である。図46(h)はR00、R04、R40に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R44)/4
である。図46(i)はR44に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R40+R00+R04)/4
である。図46(j)はR00、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R04+2×R40)/4
である。図46(k)はR04、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R00+2×R40)/4
である。図46(l)はR00、R04、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R40)/4
である。図46(m)はR40、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(2×R04+2×R00)/4
である。図46(n)はR00、R40、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R04)/4
である。図46(o)はR04、R40、R44に点キズが存在する場合であり、
R22=(4×R00)/4
である。図46(p)はR00、R04、R40、R44に点キズが存在する場合であり、 R22=R22
である。
隣接欠陥パターン値=R02+R42×2+R20×4+R24×8
として出力する。隣接欠陥パターン値は0〜15のいずれかの値であり、これらの値はそれぞれ図46(a)〜(p)に対応する。演算パターンセレクタ部76k4は、欠陥パターンに応じて16通りの演算のいずれかを選択してその演算値、すなわち補正値を出力する。なお、G用交差キズはG用ポイント欠陥補正として補正すればよい。
Claims (24)
- 水平方向及び垂直方向に配列した画素の点欠陥及び線欠陥を補正する画素欠陥補正回路であって、
点欠陥及び線欠陥の存在及びその位置を検出する手段と、
点欠陥画素に隣接する周囲画素の画素値から前記点欠陥画素の画素値を演算することで点欠陥画素を補正する手段と、
線欠陥画素内の補正すべき注目画素に対し、隣接する右上画素及び左下画素の画素値の第1差分値、隣接する左上画素及び右下画素の画素値の第2差分値、左上画素及び左下画素の画素値の和と右上画素及び右下画素の画素値の和の第3差分値、左上画素及び右上画素の画素値の和と左下画素と右下画素の画素値の和の第4差分値をそれぞれ演算する手段と、
第1差分値、第2差分値、第3差分値、及び第4差分値の大小関係に応じた補正パターンで右上画素、右下画素、左上画素、左下画素の少なくともいずれかの画素値から前記注目画素の画素値を演算することで線欠陥画素を補正する手段と、
を有することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項1記載の回路において、
前記注目画素は、ベイヤー配列におけるG画素であることを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項2記載の回路において、
前記ベイヤー配列におけるG画素をGij、R画素をRij、B画素をBij(i,jは0以上の整数)とした場合であって前記注目画素をG23としたときに、前記演算する手段は、
第1差分値=G14−G32
第2差分値=G12−G34
第3差分値=G12+G32−G14−G34
第4差分値=G12+G14−G32−G34
を演算することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 水平方向及び垂直方向に配列した画素の点欠陥及び線欠陥を補正する画素欠陥補正回路であって、
点欠陥及び線欠陥の存在及びその位置を検出する手段と、
点欠陥画素に隣接する周囲画素の画素値から前記点欠陥画素の画素値を演算することで点欠陥画素を補正する手段と、
線欠陥画素内の補正すべき注目画素に対し、隣接する水平方向画素と左上画素及び右下画素の画素値の第1差分値、隣接する水平方向画素と右上画素及び左下画素の画素値の第2差分値、隣接する水平方向画素と左画素及び右画素の画素値の第3差分値をそれぞれ演算する手段と、
第1差分値、第2差分値、及び第3差分値の大小関係に応じた補正パターンで右上画素、右下画素、左上画素、左下画素の少なくともいずれかの画素値から前記注目画素の画素値を演算することで縦線欠陥画素を補正する手段と、
を有することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 水平方向及び垂直方向に配列した画素の点欠陥及び線欠陥を補正する画素欠陥補正回路であって、
点欠陥及び線欠陥の存在及びその位置を検出する手段と、
点欠陥画素に隣接する周囲画素の画素値から前記点欠陥画素の画素値を演算することで点欠陥画素を補正する手段と、
線欠陥画素内の補正すべき注目画素に対し、隣接する垂直方向画素と左上画素及び右下画素の画素値の第1差分値、隣接する垂直方向画素と右上画素及び左下画素の画素値の第2差分値、隣接する垂直方向画素と左画素及び右画素の画素値の第3差分値をそれぞれ演算する手段と、
第1差分値、第2差分値、及び第3差分値の大小関係に応じた補正パターンで右上画素、右下画素、左上画素、左下画素の少なくともいずれかの画素値から前記注目画素の画素値を演算することで横線欠陥画素を補正する手段と、
を有することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項4、5のいずれかに記載の回路において、
前記注目画素は、ベイヤー配列におけるR画素あるいはB画素であることを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項4記載の回路において、
前記注目画素は、ベイヤー配列におけるR画素あるいはB画素であり、
前記ベイヤー配列におけるG画素をGij、R画素をRij、B画素をBij(i,jは0以上の整数)とした場合であって前記注目画素をR22としたときに、前記演算する手段は、
第1差分値=G21×2+G23×2−G01−G10−G34−G43
第2差分値=G21×2+G23×2−G03−G14−G30−G41
第3差分値=G21×2+G23×2−G10−G30−G14−G34
を演算することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項5記載の回路において、
前記注目画素は、ベイヤー配列におけるR画素あるいはB画素であり、
前記ベイヤー配列におけるG画素をGij、R画素をRij、B画素をBij(i,jは0以上の整数)とした場合であって前記注目画素をR22としたときに、前記演算する手段は、
第1差分値=G12×2+G32×2−G01−G10−G34−G43
第2差分値=G12×2+G32×2−G03−G14−G30−G41
第3差分値=G12×2+G32×2−G10−G30−G14−G34
を演算することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 水平方向及び垂直方向に配列した画素の点欠陥及び線欠陥を補正する画素欠陥補正回路であって、
点欠陥及び線欠陥の存在及びその位置を検出する手段と、
点欠陥画素に隣接する周囲画素の画素値から前記点欠陥画素の画素値を演算することで点欠陥画素を補正する手段と、
点欠陥と線欠陥とが隣接位置にある場合に、前記線欠陥内の補正すべき注目画素に対して該隣接位置のパターンに応じて前記線欠陥以外の周囲画素の画素値から前記注目画素の画素値を演算することで線欠陥画素を補正する手段と、
を有することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項9記載の回路において、
前記注目画素は、ベイヤー配列におけるG画素であることを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項10記載の回路において、
前記ベイヤー配列におけるG画素をGij、R画素をRij、B画素をBij(i,jは0以上の整数)とした場合であって前記注目画素をG23としたときに、前記補正する手段は、G23を含む縦線欠陥に対し、隣接するG12、G14、G32、G34の少なくともいずれかが点欠陥画素である場合に、点欠陥画素に応じたパターンでG23を補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項11記載の回路において、
前記補正する手段は、G12に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G14+G32+G34)/4
を演算して補正し、G14に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G12+G32+G34)/4
を演算して補正し、G12とG14に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G32+2×G34)/4
を演算して補正し、G32に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G34+G12+G14)/4
を演算して補正し、G12とG32に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G14+2×G34)/4
を演算して補正し、G14とG32に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G12+2×G34)/4
を演算して補正し、G12、G14及びG32に点欠陥が存在する場合に
G23=(4×G34)/4
を演算して補正し、G34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G32+G12+G14)/4
を演算して補正し、G12とG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G14+2×G32)/4
を演算して補正し、G14とG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G12+2×G32)/4
を演算して補正し、G12、G14及びG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(4×G32)/4
を演算して補正し、G32とG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G14+2×G32)/4
を演算して補正し、G12、G32及びG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(4×G14)/4
を演算して補正し、G14、G32及びG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(4×G12)/4
を演算して補正し、G12、G14、G32及びG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G21+2×G25)/4
を演算して補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項9記載の回路において、
前記注目画素は、ベイヤー配列におけるR画素あるいはB画素であることを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項10記載の回路において、
前記ベイヤー配列におけるG画素をGij、R画素をRij、B画素をBij(i,jは0以上の整数)とした場合であって前記注目画素をR22としたときに、前記補正する手段は、R22を含む縦線欠陥に対し、隣接するR20とR24がともに点欠陥画素である場合に、点欠陥画素に応じたパターンでR22を補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項14記載の回路において、
前記補正する手段は、R20とR24に点欠陥が存在する場合に
R22=(R00+R04+R40+R44)/4
を演算して補正し、R20、R24及びR00に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R04+R40+R44)/4
を演算して補正し、R20、R24及びR04に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R00+R40+R44)/4
を演算して補正し、R20、R24、R00及びR04に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R40+2×R44)/4
を演算して補正し、R20、R24及びR40に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R44+R00+R04)/4
を演算して補正し、R20、R24、R00及びR40に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R04+2×R44)/4
を演算して補正し、R20、R24、R04及びR40に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R00+2×R44)/4
を演算して補正し、R20、R24、R00、R04及びR40に点欠陥が存在する場合に
R22=(4×R44)/4
を演算して補正し、R20、R24及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R40+R00+R04)/4
を演算して補正し、R20、R24、R00及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R04+2×R40)/4
を演算して補正し、R20、R24、R04及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R00+2×R40)/4
を演算して補正し、R20、R24、R00、R04及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(4×R40)/4
を演算して補正し、R20、R24、R40、及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R04+2×R40)/4
を演算して補正し、R20、R24、R00、R40及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(4×R04)/4
を演算して補正し、R20、R24、R04、R40及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(4×R00)/4
を演算して補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項10記載の回路において、
前記ベイヤー配列におけるG画素をGij、R画素をRij、B画素をBij(i,jは0以上の整数)とした場合であって前記注目画素をR22としたときに、前記補正する手段は、R22を含む縦線欠陥に対し、R20が点欠陥画素である場合に
R22=(4×R24)/4
を演算して補正し、R24が点欠陥画素である場合に
R22=(4×R20)/4
を演算して補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項10記載の回路において、
前記ベイヤー配列におけるG画素をGij、R画素をRij、B画素をBij(i,jは0以上の整数)とした場合であって前記注目画素をG23としたときに、前記補正する手段は、G23を含む横線欠陥に対し、隣接するG12、G14、G32、G34の少なくともいずれかが点欠陥画素である場合に、点欠陥画素に応じたパターンでG23を補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項17記載の回路において、
前記補正する手段は、G12に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G14+G32+G34)/4
を演算して補正し、G14に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G12+G32+G34)/4
を演算して補正し、G12とG14に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G32+2×G34)/4
を演算して補正し、G32に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G34+G12+G14)/4
を演算して補正し、G14とG32に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G14+2×G34)/4
を演算して補正し、G14とG32に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G12+2×G34)/4
を演算して補正し、G12、G14及びG32に点欠陥が存在する場合に
G23=(4×G34)/4
を演算して補正し、G34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G32+G12+G14)/4
を演算して補正し、G12とG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G14+2×G32)/4
を演算して補正し、G14とG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G12+2×G32)/4
を演算して補正し、G12、G14及びG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(4×G32)/4
を演算して補正し、G32とG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G14+2×G32)/4
を演算して補正し、G12、G32及びG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(4×G14)/4
を演算して補正し、G14、G32及びG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(4×G12)/4
を演算して補正し、G12、G14、G32及びG34に点欠陥が存在する場合に
G23=(2×G03+2×G43)/4
を演算して補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項10記載の回路において、
前記ベイヤー配列におけるG画素をGij、R画素をRij、B画素をBij(i,jは0以上の整数)とした場合であって前記注目画素をR22としたときに、前記補正する手段は、R22を含む横線欠陥に対し、隣接するR02及びR42がともに点欠陥画素である場合に、点欠陥画素に応じたパターンでR22を補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項19記載の回路において、
前記補正する手段は、R02、R42に点欠陥が存在する場合に
R22=(R00+R04+R40+R44)/4
を演算して補正し、R00、R02及びR42に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R04+R40+R44)/4
を演算して補正し、R02、R04及びR42に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R00+R40+R44)/4
を演算して補正し、R00、R02、R04及びR42に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R40+2×R44)/4
を演算して補正し、R02、R40及びR42に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R44+R00+R04)/4
を演算して補正し、R00、R02、R40及びR42に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R04+2×R44)/4
を演算して補正し、R02、R04、R40及びR42に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R00+2×R44)/4
を演算して補正し、R00、R02、R04、R40及びR42に点欠陥が存在する場合に
R22=(4×R44)/4
を演算して補正し、R02、R42及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R40+R00+R04)/4
を演算して補正し、R00、R02、R42及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R04+2×R40)/4
を演算して補正し、R02、R04、R42及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R00+2×R40)/4
を演算して補正し、R00、R02、R04、R42及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(4×R40)/4
を演算して補正し、R02、R40、R42及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(2×R04+2×R40)/4
を演算して補正し、R00、R02、R40、R42及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(4×R04)/4
を演算して補正し、R02、R04、R40、R42及びR44に点欠陥が存在する場合に
R22=(4×R00)/4
を演算して補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項10記載の回路において、
前記ベイヤー配列におけるG画素をGij、R画素をRij、B画素をBij(i,jは0以上の整数)とした場合であって前記注目画素をR22としたときに、前記補正する手段は、R22を含む横線欠陥に対し、R02が点欠陥画素である場合に
R22=(4×R42)/4
を演算して補正し、R42が点欠陥画素である場合に
R22=(4×R02)/4
を演算して補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項1〜21のいずれかに記載の回路において、
前記補正する手段は、点欠陥画素及び線欠陥画素を同時並行して補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項1〜21のいずれかに記載の回路において、
前記補正する手段は、点欠陥画素、縦線欠陥画素及び横線欠陥画素を同時並行して補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。 - 請求項22、23のいずれかに記載の回路において、
前記補正する手段は、R、G,B画素を同時並行して補正することを特徴とする画素欠陥補正回路。
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