JP2003116060A - 欠陥画素補正装置 - Google Patents
欠陥画素補正装置Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
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- Signal Processing (AREA)
- Color Television Image Signal Generators (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複雑なエッジ構造や連続した欠陥画素がある
場合においても、正確な補正が可能な欠陥画素補正装置
を提供する。 【解決手段】 ＣＣＤ102 で撮影された画像信号をＡ／
Ｄ変換器103 によりデジタル化して画像用バッファ104
上に記録し、欠陥位置記録ＲＯＭ205 上に記録されてい
る欠陥画素の位置情報に基づき、所定サイズの周囲画素
を入出力制御部200 によってラインバッファ201 に取り
込み、指標値算出部202 で所定方向における複数の指標
値から統合された指標値を求め、方向算出部203 で相関
が最大となる方向を求め、補正値算出部204 で前記相関
のある方向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補正値
を算出する。
場合においても、正確な補正が可能な欠陥画素補正装置
を提供する。 【解決手段】 ＣＣＤ102 で撮影された画像信号をＡ／
Ｄ変換器103 によりデジタル化して画像用バッファ104
上に記録し、欠陥位置記録ＲＯＭ205 上に記録されてい
る欠陥画素の位置情報に基づき、所定サイズの周囲画素
を入出力制御部200 によってラインバッファ201 に取り
込み、指標値算出部202 で所定方向における複数の指標
値から統合された指標値を求め、方向算出部203 で相関
が最大となる方向を求め、補正値算出部204 で前記相関
のある方向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補正値
を算出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、固体撮像素子に
存在する欠陥画素の補正装置に関し、特に欠陥画素が連
続する場合でも高品位な補正を可能とする欠陥画素補正
装置に関する。
存在する欠陥画素の補正装置に関し、特に欠陥画素が連
続する場合でも高品位な補正を可能とする欠陥画素補正
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、ディジタルカメラなど固体撮像素
子を用いた撮像装置が様々な用途に使用されている。使
用される固体撮像素子の画素数は、年々増大する傾向に
あり、これに伴い欠陥画素の発生も増大することにな
る。このような問題に対して、従来は製造時の検査によ
り欠陥画素の位置をあらかじめ記録しておき、その記録
された画素を隣接する画素と置き換える手法や、周囲画
素の中央値や平均値で補間するなどの手法がとられてき
た。しかし、これらの手法では、欠陥画素近傍に濃淡の
境界が存在する場合やコントラストが急激に変化してい
る場合などでは、補正跡が不連続となってしまうことが
あった。
子を用いた撮像装置が様々な用途に使用されている。使
用される固体撮像素子の画素数は、年々増大する傾向に
あり、これに伴い欠陥画素の発生も増大することにな
る。このような問題に対して、従来は製造時の検査によ
り欠陥画素の位置をあらかじめ記録しておき、その記録
された画素を隣接する画素と置き換える手法や、周囲画
素の中央値や平均値で補間するなどの手法がとられてき
た。しかし、これらの手法では、欠陥画素近傍に濃淡の
境界が存在する場合やコントラストが急激に変化してい
る場合などでは、補正跡が不連続となってしまうことが
あった。
【０００３】この問題を解決するため、従来特許公報第
２８０８８１３号に示すような手法が提案されている。
この手法は、欠陥画素の１画素前と後ろに隣接する画素
と、欠陥画素の１ライン前で隣接する３画素の合計５画
素について、それぞれ隣接する２画素間の信号レベルの
差分の絶対値を算出して、この差の大小関係を比較して
欠陥画素周囲をパターン分類し、分類結果に応じた欠陥
画素の補正を行うものである。また、表示画像に悪影響
を及ぼさずに高品質の画像を表示するために、特開平８
−９３９４号公報に示すように、欠陥画素周囲の各色画
素の強度平均値を計算し、注目色画素の強度平均値と他
の色画素の強度平均値との比を求め、この比演算値を原
画像信号に乗算してメディアンフィルタをかけること
で、傷信号が除去された信号を得るという方法がとられ
てきた。
２８０８８１３号に示すような手法が提案されている。
この手法は、欠陥画素の１画素前と後ろに隣接する画素
と、欠陥画素の１ライン前で隣接する３画素の合計５画
素について、それぞれ隣接する２画素間の信号レベルの
差分の絶対値を算出して、この差の大小関係を比較して
欠陥画素周囲をパターン分類し、分類結果に応じた欠陥
画素の補正を行うものである。また、表示画像に悪影響
を及ぼさずに高品質の画像を表示するために、特開平８
−９３９４号公報に示すように、欠陥画素周囲の各色画
素の強度平均値を計算し、注目色画素の強度平均値と他
の色画素の強度平均値との比を求め、この比演算値を原
画像信号に乗算してメディアンフィルタをかけること
で、傷信号が除去された信号を得るという方法がとられ
てきた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記特
許公報第２８０８８１３号に示される補正回路では、欠
陥画素に隣接する前後の画素と１ライン前で隣接する３
画素のレベル差のみでパターンを識別しているため、こ
のパターン認識を誤る可能性がある。例えば、図12の
（Ａ）に示すように、欠陥画素（？マーク付き画素）に
隣接する前の画素，左上の画素，上の画素の輝度レベル
差が小さいような場合、パターンは垂直方向であると判
定される。このため、欠陥画素の位置は上に隣接する画
素の値で補間されるが、実際には図12の（Ｂ）に示すよ
うに右上がりのパターンである場合も考えられ、正確な
パターン分類を行うことができない。また、欠陥画素が
連続して発生しているような場合では、参照する隣接画
素に欠陥画素が含まれてしまうため、パターン識別がで
きないという問題もある。
許公報第２８０８８１３号に示される補正回路では、欠
陥画素に隣接する前後の画素と１ライン前で隣接する３
画素のレベル差のみでパターンを識別しているため、こ
のパターン認識を誤る可能性がある。例えば、図12の
（Ａ）に示すように、欠陥画素（？マーク付き画素）に
隣接する前の画素，左上の画素，上の画素の輝度レベル
差が小さいような場合、パターンは垂直方向であると判
定される。このため、欠陥画素の位置は上に隣接する画
素の値で補間されるが、実際には図12の（Ｂ）に示すよ
うに右上がりのパターンである場合も考えられ、正確な
パターン分類を行うことができない。また、欠陥画素が
連続して発生しているような場合では、参照する隣接画
素に欠陥画素が含まれてしまうため、パターン識別がで
きないという問題もある。
【０００５】本発明はこの点に着目し、欠陥画素の周辺
に複雑なエッジ構造がある場合や、欠陥画素が連続して
発生している場合においても、正確な補正を可能とする
欠陥画素補正装置を提供することを目的とする。
に複雑なエッジ構造がある場合や、欠陥画素が連続して
発生している場合においても、正確な補正を可能とする
欠陥画素補正装置を提供することを目的とする。
【０００６】また、欠陥画素には、入射光のレベルにか
かわりなく、白レベル又は黒レベルの信号を出力する白
傷や黒点欠陥などがある。上記特開平８−９３９４号に
示される補正方法においては、欠陥画素は入射光のレベ
ルに応じて出力値が増大すると仮定して欠陥補正を行っ
ているため、白傷や黒点欠陥などの欠陥画素は補正する
ことができない。また、Bayer 型などの出現頻度が異な
る色フィルタを前面に配置した撮像素子の場合、出現頻
度の多い色の画素の欠陥に対しても同色の離れた画素信
号の平均値を用いて補正するため、画素に含まれる高周
波成分が失われてしまうという問題があった。更に、欠
陥画素周囲中に別の欠陥画素が含まれている場合、欠陥
画素を含む平均値を求めてしまうため、精度の高い補正
を行うことができないという問題があった。
かわりなく、白レベル又は黒レベルの信号を出力する白
傷や黒点欠陥などがある。上記特開平８−９３９４号に
示される補正方法においては、欠陥画素は入射光のレベ
ルに応じて出力値が増大すると仮定して欠陥補正を行っ
ているため、白傷や黒点欠陥などの欠陥画素は補正する
ことができない。また、Bayer 型などの出現頻度が異な
る色フィルタを前面に配置した撮像素子の場合、出現頻
度の多い色の画素の欠陥に対しても同色の離れた画素信
号の平均値を用いて補正するため、画素に含まれる高周
波成分が失われてしまうという問題があった。更に、欠
陥画素周囲中に別の欠陥画素が含まれている場合、欠陥
画素を含む平均値を求めてしまうため、精度の高い補正
を行うことができないという問題があった。
【０００７】本発明はこの点に着目し、白傷や黒点欠陥
の欠陥画素に対しても補正が可能な欠陥画素補正装置を
提供することを目的とする。
の欠陥画素に対しても補正が可能な欠陥画素補正装置を
提供することを目的とする。
【０００８】更に、本発明は、出現頻度が異なる色フィ
ルタの撮像素子において高周波成分を失うことなく高精
度な補正を可能とし、欠陥画素周囲に別の欠陥画素が存
在する場合においても誤動作することのない欠陥画素補
正装置を提供することを目的とする。
ルタの撮像素子において高周波成分を失うことなく高精
度な補正を可能とし、欠陥画素周囲に別の欠陥画素が存
在する場合においても誤動作することのない欠陥画素補
正装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項１に係る発明は、固体撮像素子の欠陥画素を
補正する欠陥画素補正装置において、前記欠陥画素の位
置情報を記憶する欠陥記憶手段と、該欠陥記憶手段に記
憶されている前記位置情報に基づき欠陥画素の周囲画素
を取り込む画素取り込み手段と、該画素取り込み手段で
取り込まれた前記周囲画素において所定方向に関する複
数のエッジ強度指標値から統合された指標値を算出する
指標値算出手段と、該指標値算出手段で算出された前記
統合された指標値に基づき相関が最大となる方向を算出
する方向算出手段と、該方向算出手段で算出された前記
方向に基づき選択された周囲画素から前記欠陥画素の補
正値を算出する補正値算出手段とを備えていることを特
徴とするものである。
め、請求項１に係る発明は、固体撮像素子の欠陥画素を
補正する欠陥画素補正装置において、前記欠陥画素の位
置情報を記憶する欠陥記憶手段と、該欠陥記憶手段に記
憶されている前記位置情報に基づき欠陥画素の周囲画素
を取り込む画素取り込み手段と、該画素取り込み手段で
取り込まれた前記周囲画素において所定方向に関する複
数のエッジ強度指標値から統合された指標値を算出する
指標値算出手段と、該指標値算出手段で算出された前記
統合された指標値に基づき相関が最大となる方向を算出
する方向算出手段と、該方向算出手段で算出された前記
方向に基づき選択された周囲画素から前記欠陥画素の補
正値を算出する補正値算出手段とを備えていることを特
徴とするものである。
【００１０】この請求項１に係る発明に関する実施の形
態には、図１〜図７に示す第１の実施の形態が対応す
る。そして、請求項１における構成要件の欠陥記憶手
段、画素取り込み手段、指標値算出手段、方向算出手
段、補正値算出手段には、第１の実施の形態における欠
陥位置記録ＲＯＭ205 ，入出力制御部200 ，指標値算出
部202 ，方向算出部203 ，補正値算出部204 が、それぞ
れ対応している。
態には、図１〜図７に示す第１の実施の形態が対応す
る。そして、請求項１における構成要件の欠陥記憶手
段、画素取り込み手段、指標値算出手段、方向算出手
段、補正値算出手段には、第１の実施の形態における欠
陥位置記録ＲＯＭ205 ，入出力制御部200 ，指標値算出
部202 ，方向算出部203 ，補正値算出部204 が、それぞ
れ対応している。
【００１１】この発明を適用した図１に示した第１の実
施の形態においては、ＣＣＤ102 にて撮影された画像信
号をＡ／Ｄ変換器103 にてデジタル化して画像用バッフ
ァ104 上に記録し、欠陥位置記録ＲＯＭ205 上に記録さ
れた欠陥画素の位置情報に基づき、所定サイズの周囲画
素を入出力制御部200 にてラインバッファ201 に取り込
み、指標値算出部202 にて所定方向における複数の指標
値から統合された指標値を求め、方向算出部203 にて相
関が最大となる方向を求め、補正値算出部204にて前記
相関のある方向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補
正値が算出される。
施の形態においては、ＣＣＤ102 にて撮影された画像信
号をＡ／Ｄ変換器103 にてデジタル化して画像用バッフ
ァ104 上に記録し、欠陥位置記録ＲＯＭ205 上に記録さ
れた欠陥画素の位置情報に基づき、所定サイズの周囲画
素を入出力制御部200 にてラインバッファ201 に取り込
み、指標値算出部202 にて所定方向における複数の指標
値から統合された指標値を求め、方向算出部203 にて相
関が最大となる方向を求め、補正値算出部204にて前記
相関のある方向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補
正値が算出される。
【００１２】このように、欠陥画素の周囲画素から相関
性の高い方向を求め、この方向に属する周囲画素を用い
て補正値を算出し、その際、所定方向に関して複数の指
標値を求め、これを統合することで、この方向の指標値
としているので、得られる指標値の精度が高く方向検出
が高性能となり、エッジ領域などの複雑な画像において
も高精度の欠陥画素の補正が可能となる。
性の高い方向を求め、この方向に属する周囲画素を用い
て補正値を算出し、その際、所定方向に関して複数の指
標値を求め、これを統合することで、この方向の指標値
としているので、得られる指標値の精度が高く方向検出
が高性能となり、エッジ領域などの複雑な画像において
も高精度の欠陥画素の補正が可能となる。
【００１３】請求項２に係る発明は、色フィルタを前面
に配置した固体撮像素子の欠陥画素を補正する欠陥画素
補正装置において、前記欠陥画素の位置情報を記憶する
欠陥記憶手段と、該欠陥記憶手段に記憶されている前記
位置情報に基づき、固体撮像素子の前面に配置された色
フィルタの各色のうち欠陥画素と同色の周囲画素を取り
込む画素取り込み手段と、該画素取り込み手段で取り込
まれた前記欠陥画素と同色の周囲画素において所定方向
に関する複数のエッジ強度指標値から統合された指標値
を算出する指標値算出手段と、該指標値算出手段で算出
された前記統合された指標値に基づき相関が最大となる
方向を算出する方向算出手段と、該方向算出手段で算出
された前記方向に基づき選択された周囲画素から前記欠
陥画素の補正値を算出する補正値算出手段とを備えてい
ることを特徴とするものである。
に配置した固体撮像素子の欠陥画素を補正する欠陥画素
補正装置において、前記欠陥画素の位置情報を記憶する
欠陥記憶手段と、該欠陥記憶手段に記憶されている前記
位置情報に基づき、固体撮像素子の前面に配置された色
フィルタの各色のうち欠陥画素と同色の周囲画素を取り
込む画素取り込み手段と、該画素取り込み手段で取り込
まれた前記欠陥画素と同色の周囲画素において所定方向
に関する複数のエッジ強度指標値から統合された指標値
を算出する指標値算出手段と、該指標値算出手段で算出
された前記統合された指標値に基づき相関が最大となる
方向を算出する方向算出手段と、該方向算出手段で算出
された前記方向に基づき選択された周囲画素から前記欠
陥画素の補正値を算出する補正値算出手段とを備えてい
ることを特徴とするものである。
【００１４】この請求項２に係る発明に関する実施の形
態には、図１〜図７に示す第１の実施の形態が対応す
る。そして、請求項２における構成要件の欠陥記憶手
段、画素取り込み手段、指標値算出手段、方向算出手
段、補正値算出手段には、第１の実施の形態における欠
陥位置記録ＲＯＭ205 ，入出力制御部200 ，指標値算出
部202 ，方向算出部203 ，補正値算出部204 が、それぞ
れ対応している。
態には、図１〜図７に示す第１の実施の形態が対応す
る。そして、請求項２における構成要件の欠陥記憶手
段、画素取り込み手段、指標値算出手段、方向算出手
段、補正値算出手段には、第１の実施の形態における欠
陥位置記録ＲＯＭ205 ，入出力制御部200 ，指標値算出
部202 ，方向算出部203 ，補正値算出部204 が、それぞ
れ対応している。
【００１５】この発明を適用した図１に示した第１の実
施の形態においては、色フィルタを前面に配置されたＣ
ＣＤ102 にて撮影された画像信号をＡ／Ｄ変換器103 に
てデジタル化して画像用バッファ104 上に記録し、欠陥
位置記録ＲＯＭ205 上に記録された欠陥画素の位置情報
に基づき、所定サイズの欠陥画素と同色の周囲画素を入
出力制御部200 にてラインバッファ201 に取り込み、指
標値算出部202 にて所定方向における複数の指標値から
統合された指標値を求め、方向算出部203 にて相関が最
大となる方向を求め、補正値算出部204 にて前記相関の
ある方向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補正値が
算出される。
施の形態においては、色フィルタを前面に配置されたＣ
ＣＤ102 にて撮影された画像信号をＡ／Ｄ変換器103 に
てデジタル化して画像用バッファ104 上に記録し、欠陥
位置記録ＲＯＭ205 上に記録された欠陥画素の位置情報
に基づき、所定サイズの欠陥画素と同色の周囲画素を入
出力制御部200 にてラインバッファ201 に取り込み、指
標値算出部202 にて所定方向における複数の指標値から
統合された指標値を求め、方向算出部203 にて相関が最
大となる方向を求め、補正値算出部204 にて前記相関の
ある方向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補正値が
算出される。
【００１６】このように、欠陥画素と同色の周囲画素か
ら相関性の高い方向を求め、この方向に属する周囲画素
を用いて補正値を算出し、その際、所定方向に関して複
数の指標値を求め、これを統合することで、この方向の
指標値としているので、得られる指標値の精度が高く方
向検出が高性能となり、エッジ領域などの複雑な画像に
おいても高精度の欠陥画素の補正が可能となる。
ら相関性の高い方向を求め、この方向に属する周囲画素
を用いて補正値を算出し、その際、所定方向に関して複
数の指標値を求め、これを統合することで、この方向の
指標値としているので、得られる指標値の精度が高く方
向検出が高性能となり、エッジ領域などの複雑な画像に
おいても高精度の欠陥画素の補正が可能となる。
【００１７】請求項３に係る発明は、出現頻度が不均一
な色フィルタを前面に配置した固体撮像素子の欠陥画素
を補正する欠陥画素補正装置において、前記欠陥画素の
位置情報を記憶する欠陥記憶手段と、該欠陥記憶手段に
記憶されている前記位置情報に基づき欠陥画素の周囲画
素を取り込む画素取り込み手段と、該画素取り込み手段
で取り込まれた前記周囲画素において出現頻度が多い色
の画素の所定方向に関する複数のエッジ強度指標値から
統合された指標値を算出する指標値算出手段と、該指標
値算出手段で算出された前記複数の指標値に基づき出現
頻度が多い色の画素の相関が最大となる方向を算出する
方向算出手段と、該方向算出手段で算出された前記方向
に基づき選択された周囲画素中の出現頻度が多い色の画
素から前記欠陥画素の補正値を算出する第１の補正値算
出手段と、前記欠陥画素周囲の画素中の出現頻度が多い
色の画素と出現頻度が少ない色の画素から色比率を算出
する色比率算出手段と、前記欠陥画素周囲の画素中の出
現頻度が多い色の画素から算出した補間値、及び前記色
比率算出手段で算出された色比率に基づき前記欠陥画素
の補正値を算出する第２の補正値算出手段と、前記欠陥
画素の色に基づき前記第１の補正値算出手段と前記第２
の補正値算出手段を切り換える切換手段とを備えている
ことを特徴とするものである。
な色フィルタを前面に配置した固体撮像素子の欠陥画素
を補正する欠陥画素補正装置において、前記欠陥画素の
位置情報を記憶する欠陥記憶手段と、該欠陥記憶手段に
記憶されている前記位置情報に基づき欠陥画素の周囲画
素を取り込む画素取り込み手段と、該画素取り込み手段
で取り込まれた前記周囲画素において出現頻度が多い色
の画素の所定方向に関する複数のエッジ強度指標値から
統合された指標値を算出する指標値算出手段と、該指標
値算出手段で算出された前記複数の指標値に基づき出現
頻度が多い色の画素の相関が最大となる方向を算出する
方向算出手段と、該方向算出手段で算出された前記方向
に基づき選択された周囲画素中の出現頻度が多い色の画
素から前記欠陥画素の補正値を算出する第１の補正値算
出手段と、前記欠陥画素周囲の画素中の出現頻度が多い
色の画素と出現頻度が少ない色の画素から色比率を算出
する色比率算出手段と、前記欠陥画素周囲の画素中の出
現頻度が多い色の画素から算出した補間値、及び前記色
比率算出手段で算出された色比率に基づき前記欠陥画素
の補正値を算出する第２の補正値算出手段と、前記欠陥
画素の色に基づき前記第１の補正値算出手段と前記第２
の補正値算出手段を切り換える切換手段とを備えている
ことを特徴とするものである。
【００１８】この請求項３に係る発明に関する実施の形
態には、図８〜図11に示される第２の実施の形態が対応
する。そして、請求項３における構成要件の欠陥記憶手
段、画素取り込み手段、指標値算出手段、方向算出手
段、第１の補正値算出手段、色比率算出手段、第２の補
正値算出手段及び切換手段には、第２の実施の形態にお
ける欠陥位置記憶ＲＯＭ205 ，入出力制御部200 ，指標
値算出部202 ，方向算出部203 ，補正値算出部204 ，色
比率算出部207 ，第２補正値算出部208 及び制御部108
が、それぞれ対応している。
態には、図８〜図11に示される第２の実施の形態が対応
する。そして、請求項３における構成要件の欠陥記憶手
段、画素取り込み手段、指標値算出手段、方向算出手
段、第１の補正値算出手段、色比率算出手段、第２の補
正値算出手段及び切換手段には、第２の実施の形態にお
ける欠陥位置記憶ＲＯＭ205 ，入出力制御部200 ，指標
値算出部202 ，方向算出部203 ，補正値算出部204 ，色
比率算出部207 ，第２補正値算出部208 及び制御部108
が、それぞれ対応している。
【００１９】この発明を適用した図８に示した第２の実
施の形態においては、色フィルタ109 を前面に配置した
ＣＣＤ102 にて撮影された画像信号をＡ／Ｄ変換器103
にてデジタル化して画像用バッファ104 上に記録し、欠
陥位置記録ＲＯＭ205 上に記録された欠陥画素の位置情
報に基づき、所定サイズの周囲画素を入出力制御部200
にてラインバッファ201 に取り込み、欠陥画素が出現頻
度の多い色の画素の場合は、指標値算出部202 にて所定
方向における複数の指標値から統合された指標値を求
め、方向算出部203 にて相関が最大となる方向を求め、
補正値算出部204にて前記相関のある方向に属する周囲
画素を用いて欠陥画素の補正値を算出し、欠陥画素が出
現頻度の少ない色の画素の場合は、色比率算出部207 に
て欠陥画素周囲における出現頻度の少ない色の画素と出
現頻度の多い色の画素間の色比率を求め、第２補正値算
出部208 にて出現頻度の多い色の画素から求めた補間値
と上記色比率を乗算することで、欠陥画素の補正値が算
出される。
施の形態においては、色フィルタ109 を前面に配置した
ＣＣＤ102 にて撮影された画像信号をＡ／Ｄ変換器103
にてデジタル化して画像用バッファ104 上に記録し、欠
陥位置記録ＲＯＭ205 上に記録された欠陥画素の位置情
報に基づき、所定サイズの周囲画素を入出力制御部200
にてラインバッファ201 に取り込み、欠陥画素が出現頻
度の多い色の画素の場合は、指標値算出部202 にて所定
方向における複数の指標値から統合された指標値を求
め、方向算出部203 にて相関が最大となる方向を求め、
補正値算出部204にて前記相関のある方向に属する周囲
画素を用いて欠陥画素の補正値を算出し、欠陥画素が出
現頻度の少ない色の画素の場合は、色比率算出部207 に
て欠陥画素周囲における出現頻度の少ない色の画素と出
現頻度の多い色の画素間の色比率を求め、第２補正値算
出部208 にて出現頻度の多い色の画素から求めた補間値
と上記色比率を乗算することで、欠陥画素の補正値が算
出される。
【００２０】このように、欠陥画素が出現頻度の多い色
の画素の場合、その色の画素のみを用いて相関性の高い
方向を求め、この方向に属する周囲画素を用いて補正値
を算出し、一方、出現頻度の少ない色の画素の場合、欠
陥画素の周囲画素を用いて出現頻度の多い色の画素と少
ない色の画素間で色比率を求め、更に欠陥画素位置にお
ける出現頻度の多い色の画素値を補間により求め、両者
を乗算することで補正値を算出するようにしている。
の画素の場合、その色の画素のみを用いて相関性の高い
方向を求め、この方向に属する周囲画素を用いて補正値
を算出し、一方、出現頻度の少ない色の画素の場合、欠
陥画素の周囲画素を用いて出現頻度の多い色の画素と少
ない色の画素間で色比率を求め、更に欠陥画素位置にお
ける出現頻度の多い色の画素値を補間により求め、両者
を乗算することで補正値を算出するようにしている。
【００２１】これにより、出現頻度の多い色の画素の場
合、その色の画素のみを用いて補正値を算出するため、
出現頻度の少ない色の影響を受けずに高周波成分を維持
した高精度な補正が可能となり、また出現頻度の少ない
色の画素の場合、多い色の画素との色比率に基づき補正
値を算出するため、出現頻度の多い色の画素の情報を利
用してより精度の高い補正が可能となる。
合、その色の画素のみを用いて補正値を算出するため、
出現頻度の少ない色の影響を受けずに高周波成分を維持
した高精度な補正が可能となり、また出現頻度の少ない
色の画素の場合、多い色の画素との色比率に基づき補正
値を算出するため、出現頻度の多い色の画素の情報を利
用してより精度の高い補正が可能となる。
【００２２】請求項４に係る発明は、請求項１に係る欠
陥画素補正装置において、前記エッジ強度指標値は、前
記欠陥画素の周囲の正常な画素において前記欠陥画素と
近接する２画素間の画素値の絶対値差であることを特徴
とするものであり、この発明に係る実施の形態には、第
１の実施の形態が対応する。
陥画素補正装置において、前記エッジ強度指標値は、前
記欠陥画素の周囲の正常な画素において前記欠陥画素と
近接する２画素間の画素値の絶対値差であることを特徴
とするものであり、この発明に係る実施の形態には、第
１の実施の形態が対応する。
【００２３】請求項５に係る発明は、請求項１又は２に
係る欠陥画素補正装置において、前記エッジ強度指標値
は、前記欠陥画素の周囲の正常な画素において前記欠陥
画素と同色の近接する２画素間の画素値の絶対値差であ
ることを特徴とするものであり、この発明に係る実施の
形態には、第１及び第２の実施の形態が対応する。
係る欠陥画素補正装置において、前記エッジ強度指標値
は、前記欠陥画素の周囲の正常な画素において前記欠陥
画素と同色の近接する２画素間の画素値の絶対値差であ
ることを特徴とするものであり、この発明に係る実施の
形態には、第１及び第２の実施の形態が対応する。
【００２４】請求項６に係る発明は、請求項１〜３のい
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記統合
された指標値は、前記エッジ強度指標値を所定の方向毎
に加算した値であることを特徴とするものであり、この
発明に係る実施の形態には、第１及び第２の実施の形態
が対応する。
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記統合
された指標値は、前記エッジ強度指標値を所定の方向毎
に加算した値であることを特徴とするものであり、この
発明に係る実施の形態には、第１及び第２の実施の形態
が対応する。
【００２５】請求項７に係る発明は、請求項１〜３のい
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記画素
取り込み手段は、前記欠陥画素の位置情報に基づき周囲
画素中に欠陥画素が含まれている場合に該欠陥画素を除
去する除去手段を備えていることを特徴とするものであ
る。この発明に関する実施の形態には、第１及び第２の
実施の形態が対応し、そして請求項７における構成要件
の除去手段には、第１及び第２の実施の形態における周
囲欠陥除去部206 が対応する。
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記画素
取り込み手段は、前記欠陥画素の位置情報に基づき周囲
画素中に欠陥画素が含まれている場合に該欠陥画素を除
去する除去手段を備えていることを特徴とするものであ
る。この発明に関する実施の形態には、第１及び第２の
実施の形態が対応し、そして請求項７における構成要件
の除去手段には、第１及び第２の実施の形態における周
囲欠陥除去部206 が対応する。
【００２６】この発明を適用した図１及び図８に示した
第１及び第２の実施の形態においては、欠陥位置記録Ｒ
ＯＭ205 上に記録された欠陥画素の位置情報に基づき入
出力制御部200 にて所定サイズの周囲画素を取り込み、
周囲欠陥除去部206 にてこの周囲画素中から欠陥位置記
録ＲＯＭ205 上に記録された欠陥画素の位置情報に基づ
き欠陥画素を除去する。そして、欠陥画素の周囲画素に
存在する欠陥画素を除去した後に補正値を求める。これ
により、欠陥画素が連続する場合でも、その影響を除去
し、精度の高い補正が可能となる。
第１及び第２の実施の形態においては、欠陥位置記録Ｒ
ＯＭ205 上に記録された欠陥画素の位置情報に基づき入
出力制御部200 にて所定サイズの周囲画素を取り込み、
周囲欠陥除去部206 にてこの周囲画素中から欠陥位置記
録ＲＯＭ205 上に記録された欠陥画素の位置情報に基づ
き欠陥画素を除去する。そして、欠陥画素の周囲画素に
存在する欠陥画素を除去した後に補正値を求める。これ
により、欠陥画素が連続する場合でも、その影響を除去
し、精度の高い補正が可能となる。
【００２７】請求項８に係る発明は、請求項１〜３のい
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記指標
値算出手段は、前記所定方向に属する周囲画素から所定
距離にある２つの画素の組合せを複数抽出する抽出手段
と、該抽出手段で抽出された前記複数の組合せに対する
画素間の絶対値差を算出する絶対値差算出手段と、該絶
対値差算出手段で算出された前記複数の絶対値差を前記
複数の所定方向毎に加算する加算手段とを備えているこ
とを特徴とするものである。
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記指標
値算出手段は、前記所定方向に属する周囲画素から所定
距離にある２つの画素の組合せを複数抽出する抽出手段
と、該抽出手段で抽出された前記複数の組合せに対する
画素間の絶対値差を算出する絶対値差算出手段と、該絶
対値差算出手段で算出された前記複数の絶対値差を前記
複数の所定方向毎に加算する加算手段とを備えているこ
とを特徴とするものである。
【００２８】この発明に関する実施の形態には、第１及
び第２の実施の形態が対応し、そして請求項８における
構成要件の抽出手段、絶対値差算出手段及び加算手段に
は、第１及び第２の実施の形態の指標値算出部202 にお
ける抽出位置記録ＲＯＭ300，絶対値差算出部301 及び
加算部302 が、それぞれ対応している。
び第２の実施の形態が対応し、そして請求項８における
構成要件の抽出手段、絶対値差算出手段及び加算手段に
は、第１及び第２の実施の形態の指標値算出部202 にお
ける抽出位置記録ＲＯＭ300，絶対値差算出部301 及び
加算部302 が、それぞれ対応している。
【００２９】この発明を適用した図１及び図８に示した
第１及び第２の実施の形態においては、指標値算出部20
2 内で、抽出位置記録ＲＯＭ300 に記録された位置情報
に基づき欠陥画素の周囲画素から特定方向に属する２つ
の画素の組を複数抽出し、絶対値差算出部301 で上記組
に関して絶対値差を求め、加算部302 にて絶対値差を加
算することで所定方向の指標値とする。このように、一
つの方向の指標値を複数の指標値の加算にて算出するよ
うにしているので、欠陥画素が連続する場合でも指標値
の算出が可能となり、相関性の高い方向を利用した精度
の高い補正が可能となる。
第１及び第２の実施の形態においては、指標値算出部20
2 内で、抽出位置記録ＲＯＭ300 に記録された位置情報
に基づき欠陥画素の周囲画素から特定方向に属する２つ
の画素の組を複数抽出し、絶対値差算出部301 で上記組
に関して絶対値差を求め、加算部302 にて絶対値差を加
算することで所定方向の指標値とする。このように、一
つの方向の指標値を複数の指標値の加算にて算出するよ
うにしているので、欠陥画素が連続する場合でも指標値
の算出が可能となり、相関性の高い方向を利用した精度
の高い補正が可能となる。
【００３０】請求項９に係る発明は、請求項１〜３のい
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記方向
算出手段は、算出された前記複数の所定方向における指
標値の各方向別の割合を求める割合算出手段と、該割合
算出手段で求められた前記複数の所定方向における指標
値の割合を各方向毎にそれぞれ比較する比較手段と、該
比較手段の比較結果から最も相関性の高い方向を出力す
る出力手段とを備えていることを特徴とするものであ
る。
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記方向
算出手段は、算出された前記複数の所定方向における指
標値の各方向別の割合を求める割合算出手段と、該割合
算出手段で求められた前記複数の所定方向における指標
値の割合を各方向毎にそれぞれ比較する比較手段と、該
比較手段の比較結果から最も相関性の高い方向を出力す
る出力手段とを備えていることを特徴とするものであ
る。
【００３１】この発明に関する実施の形態には、第１及
び第２の実施の形態が対応し、そして請求項９における
構成要件の割合算出手段、比較手段及び出力手段には、
第１及び第２の実施の形態の方向算出部203 における割
合算出部400 ，比較部401 及び出力部402 が、それぞれ
対応している。
び第２の実施の形態が対応し、そして請求項９における
構成要件の割合算出手段、比較手段及び出力手段には、
第１及び第２の実施の形態の方向算出部203 における割
合算出部400 ，比較部401 及び出力部402 が、それぞれ
対応している。
【００３２】この発明を適用した図１及び図８に示した
第１及び第２の実施の形態においては、方向算出部203
内で、指標値算出部202 にて算出された各方向の指標値
から割合算出部400 にて方向別の割合を求め、比較部40
1 にて方向別の割合比を比較し、出力部402 にて比較結
果に基づき相関性の高い方向もしくは特定の方向には相
関性がないという情報を出力する。
第１及び第２の実施の形態においては、方向算出部203
内で、指標値算出部202 にて算出された各方向の指標値
から割合算出部400 にて方向別の割合を求め、比較部40
1 にて方向別の割合比を比較し、出力部402 にて比較結
果に基づき相関性の高い方向もしくは特定の方向には相
関性がないという情報を出力する。
【００３３】以上のように、方向毎の指標値からそれぞ
れの割合を求め、その比を比較することで相関性のある
方向、又は相関性がないという情報を出力する。このよ
うに、各方向の指標値の比の値を比較するため、画像の
階調幅などに依存せず、閾値設定などの調整が不要で、
且つノイズなどに影響されにくく、相関性の高い方向を
高精度に検出することが可能となる。
れの割合を求め、その比を比較することで相関性のある
方向、又は相関性がないという情報を出力する。このよ
うに、各方向の指標値の比の値を比較するため、画像の
階調幅などに依存せず、閾値設定などの調整が不要で、
且つノイズなどに影響されにくく、相関性の高い方向を
高精度に検出することが可能となる。
【００３４】請求項10に係る発明は、請求項１〜３のい
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記請求
項１又は２に記載の補正値算出手段及び請求項３に記載
の第１の補正値算出手段は、前記所定方向に属する周囲
画素から補間により補正値を算出する補間算出手段と、
前記周囲画素から平均により補正値を算出する平均算出
手段と、前記方向に基づき前記補間算出手段と前記平均
算出手段を選択する選択手段とを備えていることを特徴
とするものである。
ずれか１項に係る欠陥画素補正装置において、前記請求
項１又は２に記載の補正値算出手段及び請求項３に記載
の第１の補正値算出手段は、前記所定方向に属する周囲
画素から補間により補正値を算出する補間算出手段と、
前記周囲画素から平均により補正値を算出する平均算出
手段と、前記方向に基づき前記補間算出手段と前記平均
算出手段を選択する選択手段とを備えていることを特徴
とするものである。
【００３５】この発明に関する実施の形態には、第１及
び第２の実施の形態が対応し、そして請求項10における
構成要件の補間算出手段、平均算出手段及び選択手段に
は、第１及び第２の実施の形態の補正値算出部204 にお
ける補間算出部501 ，平均算出部502 及び選択部500
が、それぞれ対応する。
び第２の実施の形態が対応し、そして請求項10における
構成要件の補間算出手段、平均算出手段及び選択手段に
は、第１及び第２の実施の形態の補正値算出部204 にお
ける補間算出部501 ，平均算出部502 及び選択部500
が、それぞれ対応する。
【００３６】この発明を適用した図１及び図８に示した
第１及び第２の実施の形態においては、補正値算出部20
4 内で、方向算出部203 からの情報に基づきに選択部50
0 にて補間算出部501 又は平均算出部502 を選択する。
このように、相関性の有無に基づき特定方向の周囲画素
を用いた補間又は全ての周囲画素を用いた平均を切り換
える。そしてエッジなどの特定方向に相関性が高い場合
はその方向の周囲画素を用い、平坦な場合は全周囲画素
を用いるため、入力画像に対し最適な補正が可能とな
る。
第１及び第２の実施の形態においては、補正値算出部20
4 内で、方向算出部203 からの情報に基づきに選択部50
0 にて補間算出部501 又は平均算出部502 を選択する。
このように、相関性の有無に基づき特定方向の周囲画素
を用いた補間又は全ての周囲画素を用いた平均を切り換
える。そしてエッジなどの特定方向に相関性が高い場合
はその方向の周囲画素を用い、平坦な場合は全周囲画素
を用いるため、入力画像に対し最適な補正が可能とな
る。
【００３７】請求項11に係る発明は、請求項３に係る欠
陥画素補正装置において、前記色比率算出手段は、前記
欠陥画素周囲の画素において出現頻度が多い色の画素の
平均値及び出現頻度が少ない色の画素の平均値との比を
算出する比算出手段を備えていることを特徴とするもの
である。この発明に関する実施の形態には、第２の実施
の形態が対応し、そして請求項11における構成要件の比
算出手段には、第２の実施の形態の色比率算出部207 に
おける比算出部 602が対応する。
陥画素補正装置において、前記色比率算出手段は、前記
欠陥画素周囲の画素において出現頻度が多い色の画素の
平均値及び出現頻度が少ない色の画素の平均値との比を
算出する比算出手段を備えていることを特徴とするもの
である。この発明に関する実施の形態には、第２の実施
の形態が対応し、そして請求項11における構成要件の比
算出手段には、第２の実施の形態の色比率算出部207 に
おける比算出部 602が対応する。
【００３８】この発明を適用した図８に示す第２の実施
の形態においては、色比率算出部207 内で、方向算出部
203 からの情報に基づき第１平均算出部600 にて出現頻
度の多い色の画素の平均を算出し、方向算出部 203から
の情報に基づき第２平均算出部601 にて出現頻度の少な
い色の画素の平均を算出し、比算出部 602にて両者の平
均値の比を算出する。このように、相関性の高い方向に
属する周囲画素から出現頻度の多い色の画素と少ない色
の画素の色比率を算出する。したがって、エッジ領域な
どの複雑な画像においても高精度な色比率の算出が可能
となる。
の形態においては、色比率算出部207 内で、方向算出部
203 からの情報に基づき第１平均算出部600 にて出現頻
度の多い色の画素の平均を算出し、方向算出部 203から
の情報に基づき第２平均算出部601 にて出現頻度の少な
い色の画素の平均を算出し、比算出部 602にて両者の平
均値の比を算出する。このように、相関性の高い方向に
属する周囲画素から出現頻度の多い色の画素と少ない色
の画素の色比率を算出する。したがって、エッジ領域な
どの複雑な画像においても高精度な色比率の算出が可能
となる。
【００３９】請求項12に係る発明は、請求項３に係る欠
陥画素補正装置において、前記第２の補正値算出手段
は、前記所定方向に属する周囲画素中の出現頻度が多い
色の画素から補間により補間値を算出する補間算出手段
と、前記周囲画素中の出現頻度が多い色の画素から平均
により補間値を算出する平均算出手段と、相関のある方
向を調べ、前記補間算出手段と前記平均算出手段を選択
する選択手段と、前記補間値と前記色比率を乗算する乗
算手段とを備えていることを特徴とするものである。こ
の発明に関する実施の形態には、第２の実施の形態が対
応し、そして請求項12における構成要件の補間算出手
段、平均算出手段、選択手段及び乗算手段には、第２の
実施の形態の第２補正値算出部208 における補間算出部
701 ，平均算出部702 ，選択部700 及び乗算部703 が、
それぞれ対応する。
陥画素補正装置において、前記第２の補正値算出手段
は、前記所定方向に属する周囲画素中の出現頻度が多い
色の画素から補間により補間値を算出する補間算出手段
と、前記周囲画素中の出現頻度が多い色の画素から平均
により補間値を算出する平均算出手段と、相関のある方
向を調べ、前記補間算出手段と前記平均算出手段を選択
する選択手段と、前記補間値と前記色比率を乗算する乗
算手段とを備えていることを特徴とするものである。こ
の発明に関する実施の形態には、第２の実施の形態が対
応し、そして請求項12における構成要件の補間算出手
段、平均算出手段、選択手段及び乗算手段には、第２の
実施の形態の第２補正値算出部208 における補間算出部
701 ，平均算出部702 ，選択部700 及び乗算部703 が、
それぞれ対応する。
【００４０】この発明を適用した図８に示す第２の実施
の形態においては、第２補正値算出部208 内で、選択部
700 にて補間算出部701 又は平均算出部702 を選択し出
現頻度の多い色の画素の補間値を求め、色比率算出部 2
07からの色比率と乗算する。このように、相関性の高い
方向に属する周囲画素から出現頻度の多い色の画素の補
間値を求め色比率と乗算する。したがって、エッジなど
の特定方向に相関性が高い場合はその方向の周囲画素を
用い、平坦な場合は全周囲画素を用いて出現頻度の多い
色の画素の補間値を求め、これに基づき出現頻度の少な
い色の画素の補正値を求めるため、出現頻度の多い色の
画素の情報を最大限利用した最適な補正が可能となる。
の形態においては、第２補正値算出部208 内で、選択部
700 にて補間算出部701 又は平均算出部702 を選択し出
現頻度の多い色の画素の補間値を求め、色比率算出部 2
07からの色比率と乗算する。このように、相関性の高い
方向に属する周囲画素から出現頻度の多い色の画素の補
間値を求め色比率と乗算する。したがって、エッジなど
の特定方向に相関性が高い場合はその方向の周囲画素を
用い、平坦な場合は全周囲画素を用いて出現頻度の多い
色の画素の補間値を求め、これに基づき出現頻度の少な
い色の画素の補正値を求めるため、出現頻度の多い色の
画素の情報を最大限利用した最適な補正が可能となる。
【００４１】
【発明の実施の形態】次に、実施の形態について説明す
る。図１は、本発明に係る欠陥画素補正装置の第１の実
施の形態を示すブロック構成図である。図１において、
100 はレンズ系、101 はローパスフィルタ、102 はＣＣ
Ｄで、該ＣＣＤ102 を介して撮影された映像は、Ａ／Ｄ
変換器103 にてデジタル信号へ変換される。そして、Ａ
／Ｄ変換器103 からの映像信号は、画像用バッファ104
を介して欠陥画素補正部105 へ転送され、補正後の信号
が再度画像用バッファ104 へ送られるようになってい
る。画像用バッファ104 からの信号は、信号処理部106
を介してメモリカードやディスクなどの記録部107 へ入
力接続されている。
る。図１は、本発明に係る欠陥画素補正装置の第１の実
施の形態を示すブロック構成図である。図１において、
100 はレンズ系、101 はローパスフィルタ、102 はＣＣ
Ｄで、該ＣＣＤ102 を介して撮影された映像は、Ａ／Ｄ
変換器103 にてデジタル信号へ変換される。そして、Ａ
／Ｄ変換器103 からの映像信号は、画像用バッファ104
を介して欠陥画素補正部105 へ転送され、補正後の信号
が再度画像用バッファ104 へ送られるようになってい
る。画像用バッファ104 からの信号は、信号処理部106
を介してメモリカードやディスクなどの記録部107 へ入
力接続されている。
【００４２】欠陥画素補正部105 は、画像用バッファ10
4 に接続している入出力制御部200を介して接続されて
いるラインバッファ201 ，指標値算出部202 ，方向算出
部203 ，補正値算出部204 を備えており、補正値算出部
204 の出力は入出力制御部200 を介して画像用バッファ
104 へ接続されている。また、欠陥位置記録ＲＯＭ205
は入出力制御部200 と周囲欠陥除去部206 へ接続され、
周囲欠陥除去部206 はラインバッファ 201へ接続され、
更にラインバッファ201 は補正値算出部204 へ接続され
ている。また、マイクロコンピュータなどからなる制御
部108 は、信号処理部106 ，記録部107 ，入出力制御部
200 に相互に接続されている。
4 に接続している入出力制御部200を介して接続されて
いるラインバッファ201 ，指標値算出部202 ，方向算出
部203 ，補正値算出部204 を備えており、補正値算出部
204 の出力は入出力制御部200 を介して画像用バッファ
104 へ接続されている。また、欠陥位置記録ＲＯＭ205
は入出力制御部200 と周囲欠陥除去部206 へ接続され、
周囲欠陥除去部206 はラインバッファ 201へ接続され、
更にラインバッファ201 は補正値算出部204 へ接続され
ている。また、マイクロコンピュータなどからなる制御
部108 は、信号処理部106 ，記録部107 ，入出力制御部
200 に相互に接続されている。
【００４３】次に、図１に示した第１の実施の形態の概
略動作を信号の流れに基づいて説明する。なお、図１に
おいて太線は映像信号、細線は制御信号、点線はその他
のデータをそれぞれ示している。また、以下の各ブロッ
ク図においても、同様の信号を示している。まず、図示
しないシャッターボタンを押すことで撮像モードに入
る。レンズ系100 ，ローパスフィルタ101 ，ＣＣＤ102
を介して撮影された映像は、Ａ／Ｄ変換器103 にてデジ
タル信号へ変換されて画像用バッファ104 へ転送され
る。本実施の形態では、デジタル化された映像信号の階
調幅を、例えば10bit とする。画像用バッファ104 内の
映像信号は、制御部108 の制御に基づき、欠陥画素補正
部105 へ転送され、欠陥画素の補正が行われ、この補正
結果は画像用バッファ104 へ転送される。全欠陥画素の
補正が完了すると、制御部108 の制御に基づき、画像用
バッファ104 内の映像信号は信号処理部106 へ転送さ
れ、エッジ強調処理やγ補正などの公知の信号処理が行
われ、記録部107 へ転送され記録される。
略動作を信号の流れに基づいて説明する。なお、図１に
おいて太線は映像信号、細線は制御信号、点線はその他
のデータをそれぞれ示している。また、以下の各ブロッ
ク図においても、同様の信号を示している。まず、図示
しないシャッターボタンを押すことで撮像モードに入
る。レンズ系100 ，ローパスフィルタ101 ，ＣＣＤ102
を介して撮影された映像は、Ａ／Ｄ変換器103 にてデジ
タル信号へ変換されて画像用バッファ104 へ転送され
る。本実施の形態では、デジタル化された映像信号の階
調幅を、例えば10bit とする。画像用バッファ104 内の
映像信号は、制御部108 の制御に基づき、欠陥画素補正
部105 へ転送され、欠陥画素の補正が行われ、この補正
結果は画像用バッファ104 へ転送される。全欠陥画素の
補正が完了すると、制御部108 の制御に基づき、画像用
バッファ104 内の映像信号は信号処理部106 へ転送さ
れ、エッジ強調処理やγ補正などの公知の信号処理が行
われ、記録部107 へ転送され記録される。
【００４４】次に、本実施の形態における欠陥画素補正
について説明する。図２は、本実施の形態で用いられて
いるＣＣＤ102 における欠陥画素の一例を示す図であ
る。なお、この図示例では、色フィルタのない白黒用Ｃ
ＣＤを用いている。図２の（Ａ）は、欠陥画素Ｗ0 と隣
接する３×３画素サイズの周囲画素Ｗij（ｉ＝１〜３，
ｊ＝１〜３）を示す。この図示例では、注目する欠陥画
素Ｗ0 に隣接するＷ32も欠陥画素であり、ハッチングを
付して示している。欠陥画素補正部105 内の欠陥位置記
録ＲＯＭ205 には、事前の検査により入手された欠陥画
素の位置情報が記録されている。入出力制御部200 は、
制御部108 の制御に基づき、欠陥位置記録ＲＯＭ205 か
ら欠陥画素の位置情報を順次読みとり、欠陥画素を中心
とする所定サイズの周囲画素、この例では３×３画素を
ラインバッファ201 へ転送する。また、周囲欠陥除去部
206 は欠陥位置記録ＲＯＭ205 から欠陥画素の位置情報
を読みとり、周囲画素に欠陥画素が存在する場合は、こ
の周囲画素の値を特定の識別値に置き換える。識別値
は、Ａ／Ｄ変換器103 が出力する値以外であれば任意で
あり、本例では例えば−１を用いる。その後、指標値算
出部202 は、ラインバッファ201 上の欠陥画素及び周囲
画素を読みとり、所定の方向に関する指標値を算出す
る。
について説明する。図２は、本実施の形態で用いられて
いるＣＣＤ102 における欠陥画素の一例を示す図であ
る。なお、この図示例では、色フィルタのない白黒用Ｃ
ＣＤを用いている。図２の（Ａ）は、欠陥画素Ｗ0 と隣
接する３×３画素サイズの周囲画素Ｗij（ｉ＝１〜３，
ｊ＝１〜３）を示す。この図示例では、注目する欠陥画
素Ｗ0 に隣接するＷ32も欠陥画素であり、ハッチングを
付して示している。欠陥画素補正部105 内の欠陥位置記
録ＲＯＭ205 には、事前の検査により入手された欠陥画
素の位置情報が記録されている。入出力制御部200 は、
制御部108 の制御に基づき、欠陥位置記録ＲＯＭ205 か
ら欠陥画素の位置情報を順次読みとり、欠陥画素を中心
とする所定サイズの周囲画素、この例では３×３画素を
ラインバッファ201 へ転送する。また、周囲欠陥除去部
206 は欠陥位置記録ＲＯＭ205 から欠陥画素の位置情報
を読みとり、周囲画素に欠陥画素が存在する場合は、こ
の周囲画素の値を特定の識別値に置き換える。識別値
は、Ａ／Ｄ変換器103 が出力する値以外であれば任意で
あり、本例では例えば−１を用いる。その後、指標値算
出部202 は、ラインバッファ201 上の欠陥画素及び周囲
画素を読みとり、所定の方向に関する指標値を算出す
る。
【００４５】図３は、指標値算出部202 の構成の一例を
示すブロック図で、抽出位置記録ＲＯＭ300 ，絶対値差
算出部301 ，加算平均部302 ，指標値記録バッファ303
からなる。ラインバッファ201 からの信号は、絶対値差
算出部301 ，加算部302 ，指標値記録バッファ303 を介
して方向算出部203 へ接続されている。また、抽出位置
記録ＲＯＭ300 は絶対値差算出部301 へ接続されてい
る。ラインバッファ201内の欠陥画素及び周囲画素は、
絶対値差算出部301 に取り込まれ、抽出位置記録ＲＯＭ
300 に記録される位置情報に基づき特定方向毎に絶対値
差に基づく指標値が算出される。
示すブロック図で、抽出位置記録ＲＯＭ300 ，絶対値差
算出部301 ，加算平均部302 ，指標値記録バッファ303
からなる。ラインバッファ201 からの信号は、絶対値差
算出部301 ，加算部302 ，指標値記録バッファ303 を介
して方向算出部203 へ接続されている。また、抽出位置
記録ＲＯＭ300 は絶対値差算出部301 へ接続されてい
る。ラインバッファ201内の欠陥画素及び周囲画素は、
絶対値差算出部301 に取り込まれ、抽出位置記録ＲＯＭ
300 に記録される位置情報に基づき特定方向毎に絶対値
差に基づく指標値が算出される。
【００４６】図４は、抽出位置記録ＲＯＭ300 に記録さ
れる位置情報の一例を示すもので、水平と垂直方向、及
び斜め45度方向の位置情報が記録されている。位置情報
は、注目する欠陥画素の座標を原点とした場合の相対座
標で記載されている。絶対値差算出部301 は、まず抽出
位置記録ＲＯＭ300 から水平方向の位置情報を読み込
み、絶対値差を算出する。図２の（Ｂ）は、本例におけ
る水平方向の４組の指標値算出画素を示す。上記絶対値
差は加算部302 にて加算され、指標値記録バッファ303
上に記録される。水平方向の指標値ｒh は、（１）式で
示される。 ｒh ＝ (｜Ｗ11−Ｗ21｜＋｜Ｗ21−Ｗ31｜＋｜Ｗ13−Ｗ23｜ ＋｜Ｗ23−Ｗ33｜）／４ ・・・・・・・・・・・・・・・・（１）
れる位置情報の一例を示すもので、水平と垂直方向、及
び斜め45度方向の位置情報が記録されている。位置情報
は、注目する欠陥画素の座標を原点とした場合の相対座
標で記載されている。絶対値差算出部301 は、まず抽出
位置記録ＲＯＭ300 から水平方向の位置情報を読み込
み、絶対値差を算出する。図２の（Ｂ）は、本例におけ
る水平方向の４組の指標値算出画素を示す。上記絶対値
差は加算部302 にて加算され、指標値記録バッファ303
上に記録される。水平方向の指標値ｒh は、（１）式で
示される。 ｒh ＝ (｜Ｗ11−Ｗ21｜＋｜Ｗ21−Ｗ31｜＋｜Ｗ13−Ｗ23｜ ＋｜Ｗ23−Ｗ33｜）／４ ・・・・・・・・・・・・・・・・（１）
【００４７】次に、絶対値差算出部301 は、抽出位置記
録ＲＯＭ300 から垂直方向の位置情報を読み込み、絶対
値差を算出する。なお、本例では欠陥画素Ｗ0 に隣接す
るＷ 32も欠陥画素であり、周囲欠陥除去部206 により識
別値、−１が代入されている。絶対値差算出部301 は、
上記識別値が代入された画素が検出された場合、絶対値
差の算出を中止し、別の組へ移行する。図２の（Ｃ）
は、本例における垂直方向の２組の指標値算出画素を示
す。この後、水平方法と同様に指標値が算出され指標値
記録バッファ303 上に記録される。垂直方向の指標値ｒ
v は、（２）式で示される。 ｒv ＝（｜Ｗ11−Ｗ12｜＋｜Ｗ12−Ｗ13｜）／２ ・・・・・・・・（２）
録ＲＯＭ300 から垂直方向の位置情報を読み込み、絶対
値差を算出する。なお、本例では欠陥画素Ｗ0 に隣接す
るＷ 32も欠陥画素であり、周囲欠陥除去部206 により識
別値、−１が代入されている。絶対値差算出部301 は、
上記識別値が代入された画素が検出された場合、絶対値
差の算出を中止し、別の組へ移行する。図２の（Ｃ）
は、本例における垂直方向の２組の指標値算出画素を示
す。この後、水平方法と同様に指標値が算出され指標値
記録バッファ303 上に記録される。垂直方向の指標値ｒ
v は、（２）式で示される。 ｒv ＝（｜Ｗ11−Ｗ12｜＋｜Ｗ12−Ｗ13｜）／２ ・・・・・・・・（２）
【００４８】指標値記録バッファ303 上の方向別の指標
値は、方向算出部203 へ転送される。同様に絶対値差算
出部301 は、抽出位置記録ＲＯＭ300 から斜め45度方向
の位置情報を読み込み、絶対値差を算出する。本例で
は、欠陥画素Ｗ0 に隣接するＷ 32も欠陥画素であるた
め、絶対値差の算出を中止し、別の組へ移行する。図２
の（Ｄ）及び（Ｅ）が、本例における斜め45度方向の２
組の指標値算出画素を示す。この後、算出された指標値
が記録バッファ303 上に記録される。斜め45度方向の指
標値ｒu ，ｒd は、（３），（４）式で示される。 ｒu ＝｜Ｗ21−Ｗ12｜ ・・・・・・・・・・・（３） ｒd ＝｜Ｗ12−Ｗ23｜ ・・・・・・・・・・・（４）
値は、方向算出部203 へ転送される。同様に絶対値差算
出部301 は、抽出位置記録ＲＯＭ300 から斜め45度方向
の位置情報を読み込み、絶対値差を算出する。本例で
は、欠陥画素Ｗ0 に隣接するＷ 32も欠陥画素であるた
め、絶対値差の算出を中止し、別の組へ移行する。図２
の（Ｄ）及び（Ｅ）が、本例における斜め45度方向の２
組の指標値算出画素を示す。この後、算出された指標値
が記録バッファ303 上に記録される。斜め45度方向の指
標値ｒu ，ｒd は、（３），（４）式で示される。 ｒu ＝｜Ｗ21−Ｗ12｜ ・・・・・・・・・・・（３） ｒd ＝｜Ｗ12−Ｗ23｜ ・・・・・・・・・・・（４）
【００４９】図５は、方向算出部203 の構成の一例を示
すブロック図で、割合算出部400 ，比較部401 ，出力部
402 で構成されている。指標値算出部202 からの指標値
は、割合算出部400 ，比較部401 ，出力部402 を介して
補正値算出部204 へ接続されている。指標値算出部202
からの方向別の指標値は、割合算出部400 にて複数の所
定の方向に関する指標値の割合が算出され、比較部401
へ転送される。比較部401 では、所定方向に関する指標
値の割合を各方向毎に比較する。この結果は出力部402
へ転送される。出力部402 は、最も相関性の高い方向を
出力する。比較の結果、どの方向に関しても相関性があ
まり高くない場合には、特定の方向に関して相関性がな
いという情報を補正値算出部204 へ出力する。
すブロック図で、割合算出部400 ，比較部401 ，出力部
402 で構成されている。指標値算出部202 からの指標値
は、割合算出部400 ，比較部401 ，出力部402 を介して
補正値算出部204 へ接続されている。指標値算出部202
からの方向別の指標値は、割合算出部400 にて複数の所
定の方向に関する指標値の割合が算出され、比較部401
へ転送される。比較部401 では、所定方向に関する指標
値の割合を各方向毎に比較する。この結果は出力部402
へ転送される。出力部402 は、最も相関性の高い方向を
出力する。比較の結果、どの方向に関しても相関性があ
まり高くない場合には、特定の方向に関して相関性がな
いという情報を補正値算出部204 へ出力する。
【００５０】図６は、補正値算出部204 の構成の一例を
示すブロック図で、選択部500 ，補間算出部501 ，平均
算出部502 で構成されている。ラインバッファ201 から
の信号は、選択部500 を介して補間算出部501 又は平均
算出部502 へ接続されており、補間算出部501 ，平均算
出部502 はラインバッファ201 へ接続されている。ま
た、方向算出部203 の方向情報は、選択部500 及び補間
算出部501 へ接続されている。選択部500 は、方向算出
部203 の方向情報に基づき、特定方向が指定された場合
は、その方向の周囲画素を選択し、これを補間算出部50
1 へ転送する。一方、方向算出部が特定の方向を出力し
なかった場合には、全周囲画素を選択し、これを平均算
出部502 へ転送する。補間算出部501 は公知の線形補間
などを用いて、また平均算出部502 は加算平均、あるい
は周囲画素の中央値、最頻値などにより欠陥画素の補正
値を算出する。なお、周囲画素に周囲欠陥除去部206 に
より識別値が代入されていた場合は、この周囲画素は利
用されない。
示すブロック図で、選択部500 ，補間算出部501 ，平均
算出部502 で構成されている。ラインバッファ201 から
の信号は、選択部500 を介して補間算出部501 又は平均
算出部502 へ接続されており、補間算出部501 ，平均算
出部502 はラインバッファ201 へ接続されている。ま
た、方向算出部203 の方向情報は、選択部500 及び補間
算出部501 へ接続されている。選択部500 は、方向算出
部203 の方向情報に基づき、特定方向が指定された場合
は、その方向の周囲画素を選択し、これを補間算出部50
1 へ転送する。一方、方向算出部が特定の方向を出力し
なかった場合には、全周囲画素を選択し、これを平均算
出部502 へ転送する。補間算出部501 は公知の線形補間
などを用いて、また平均算出部502 は加算平均、あるい
は周囲画素の中央値、最頻値などにより欠陥画素の補正
値を算出する。なお、周囲画素に周囲欠陥除去部206 に
より識別値が代入されていた場合は、この周囲画素は利
用されない。
【００５１】欠陥画素の補正値ｖは、
ｖ＝Ｗ12 水平方向 ・・・・・・・・・・・・・（５）
ｖ＝（Ｗ21＋Ｗ23）／２ 垂直方向 ・・・・・・・（６）
ｖ＝（Ｗ31＋Ｗ13）／２ ＋45度方向 ・・・・・・（７）
ｖ＝（Ｗ11＋Ｗ33）／２ −45度方向 ・・・・・・（８）
ｖ＝（Ｗ11＋Ｗ21＋Ｗ31＋Ｗ12＋Ｗ13＋Ｗ23＋Ｗ33）／７
平坦( 平均値) ・・・・（９）
のいずれかとなる。また(9) 式は(10)式と置き換えられ
る場合もある。 ｖ＝median〔Ｗ11，Ｗ21，Ｗ31，Ｗ12，Ｗ13，Ｗ23，Ｗ33〕 平坦( 中央値) ・・・・（10）
る場合もある。 ｖ＝median〔Ｗ11，Ｗ21，Ｗ31，Ｗ12，Ｗ13，Ｗ23，Ｗ33〕 平坦( 中央値) ・・・・（10）
【００５２】補正値は、入出力制御部200 を介して画像
用バッファ104 へ転送される。制御部108 は、上記過程
を欠陥位置記録ROM205上の全欠陥画素に対して繰り返す
よう制御を行う。上記構成により、欠陥画素が連続する
ような場合でも、指標値に基づく特定方向の周囲画素か
ら補正値を求めることが可能となり、高品位な欠陥画素
の補正が可能になる。
用バッファ104 へ転送される。制御部108 は、上記過程
を欠陥位置記録ROM205上の全欠陥画素に対して繰り返す
よう制御を行う。上記構成により、欠陥画素が連続する
ような場合でも、指標値に基づく特定方向の周囲画素か
ら補正値を求めることが可能となり、高品位な欠陥画素
の補正が可能になる。
【００５３】また、相関性があまりない場合には、平坦
であるとみなして全周囲画素から補正値を求めるため、
画像に適用した最適な補正が可能となり、ノイズによる
誤動作を低減することもできる。
であるとみなして全周囲画素から補正値を求めるため、
画像に適用した最適な補正が可能となり、ノイズによる
誤動作を低減することもできる。
【００５４】なお、本実施の形態では白黒ＣＣＤの場合
を想定して説明したが、これに限定される必要はない。
例えば、図７の（Ａ）に示すように、ＣＣＤ前面にシア
ン（Ｃ），マゼンタ（Ｍ），イエロー（Ｙ），グリーン
（Ｇ）の色フィルタを配置した補色単板ＣＣＤにおいて
も適用できる。図７の（Ａ）においては、注目する欠陥
画素Ｃ0 と、Ｃ51及びＧ42が欠陥画素となっている。こ
の例では、入出力制御部200 は周囲画素として５×５画
素サイズを取り込んでいるものとする。図７の（Ｂ），
（Ｃ）は、指標値算出部202 における方向別の指標値を
算出する際の組の位置情報を示す。各方向の指標値
ｒh ，ｒv ，ｒu ，ｒd は、 ｒh ＝（｜Ｃ11−Ｃ31｜＋｜Ｃ15−Ｃ35｜＋｜Ｃ35−Ｃ55｜）／３ 水平方向 ・・・・・・・（11） ｒv ＝（｜Ｃ11−Ｃ13｜＋｜Ｃ13−Ｃ15｜＋｜Ｃ53−Ｃ55｜）／３ 垂直方向 ・・・・・・・（12） ｒu ＝（｜Ｃ31−Ｃ13｜＋｜Ｃ53−Ｃ35｜）／２ ＋45度方向 ・・・・・・（13） ｒd ＝（｜Ｃ31−Ｃ53｜＋｜Ｃ13−Ｃ35｜）／２ −45度方向 ・・・・・・（14） となる。これらの座標情報は色フィルタの配置に基づき
抽出位置記録ＲＯＭ300に記録しておく。
を想定して説明したが、これに限定される必要はない。
例えば、図７の（Ａ）に示すように、ＣＣＤ前面にシア
ン（Ｃ），マゼンタ（Ｍ），イエロー（Ｙ），グリーン
（Ｇ）の色フィルタを配置した補色単板ＣＣＤにおいて
も適用できる。図７の（Ａ）においては、注目する欠陥
画素Ｃ0 と、Ｃ51及びＧ42が欠陥画素となっている。こ
の例では、入出力制御部200 は周囲画素として５×５画
素サイズを取り込んでいるものとする。図７の（Ｂ），
（Ｃ）は、指標値算出部202 における方向別の指標値を
算出する際の組の位置情報を示す。各方向の指標値
ｒh ，ｒv ，ｒu ，ｒd は、 ｒh ＝（｜Ｃ11−Ｃ31｜＋｜Ｃ15−Ｃ35｜＋｜Ｃ35−Ｃ55｜）／３ 水平方向 ・・・・・・・（11） ｒv ＝（｜Ｃ11−Ｃ13｜＋｜Ｃ13−Ｃ15｜＋｜Ｃ53−Ｃ55｜）／３ 垂直方向 ・・・・・・・（12） ｒu ＝（｜Ｃ31−Ｃ13｜＋｜Ｃ53−Ｃ35｜）／２ ＋45度方向 ・・・・・・（13） ｒd ＝（｜Ｃ31−Ｃ53｜＋｜Ｃ13−Ｃ35｜）／２ −45度方向 ・・・・・・（14） となる。これらの座標情報は色フィルタの配置に基づき
抽出位置記録ＲＯＭ300に記録しておく。
【００５５】また、欠陥画素の補正値ｖは、
ｖ＝（Ｃ13＋Ｃ53）／２ 水平方向 ・・・・・・・（15）
ｖ＝（Ｃ31＋Ｃ35）／２ 垂直方向 ・・・・・・・（16）
ｖ＝Ｃ15 ＋45度方向 ・・・・・・（17）
ｖ＝（Ｃ11＋Ｃ55）／２ −45度方向 ・・・・・・ (18)
ｖ＝（Ｃ11＋Ｃ31＋Ｃ13＋Ｃ53＋Ｃ15＋Ｃ35＋Ｃ55）／７
平坦( 平均値) ・・・・・ (19)
のいずれかとなる。また、(19)式は(20)式と置き換えら
れる場合もある。 ｖ＝median〔Ｃ11，Ｃ31，Ｃ13，Ｃ53，Ｃ15，Ｃ35，Ｃ55〕 平坦( 中央値) ・・・・・ (20)
れる場合もある。 ｖ＝median〔Ｃ11，Ｃ31，Ｃ13，Ｃ53，Ｃ15，Ｃ35，Ｃ55〕 平坦( 中央値) ・・・・・ (20)
【００５６】上記のように、色フィルタが前面に配置さ
れた撮像素子に対しても適用可能である。なお、本実施
の形態においては、指標値を求めるのに２画素の絶対値
差を用いたがこれに限定される必要はない。２画素の比
を用いるなどの他の方法も利用できる。また、各指標値
を統合するに加算平均を用いたが、これに限定される必
要はない。注目する欠陥画素からの距離に応じて重み付
けをするなどの他の方法も利用できる。
れた撮像素子に対しても適用可能である。なお、本実施
の形態においては、指標値を求めるのに２画素の絶対値
差を用いたがこれに限定される必要はない。２画素の比
を用いるなどの他の方法も利用できる。また、各指標値
を統合するに加算平均を用いたが、これに限定される必
要はない。注目する欠陥画素からの距離に応じて重み付
けをするなどの他の方法も利用できる。
【００５７】次に、本発明の第２の実施の形態を図８の
ブロック構成図に基づいて説明する。本実施の形態は、
第１の実施の形態におけるＣＣＤ102 に対して色フィル
タ109 を付加し、欠陥画素補正部105 において色比率算
出部207 及び第２補正値算出部208 を付加した構成にな
っている。基本構成は、第１の実施の形態と同等であ
り、同一の構成要素には同一の符号と名称を付して示し
ている。
ブロック構成図に基づいて説明する。本実施の形態は、
第１の実施の形態におけるＣＣＤ102 に対して色フィル
タ109 を付加し、欠陥画素補正部105 において色比率算
出部207 及び第２補正値算出部208 を付加した構成にな
っている。基本構成は、第１の実施の形態と同等であ
り、同一の構成要素には同一の符号と名称を付して示し
ている。
【００５８】以下、第１の実施の形態と異なる部分の構
成を主に説明する。ローパスフィルタ101 とＣＣＤ102
間に、色フィルタ109 が配置されている。欠陥画素補正
部105 においては、画像用バッファ104 に接続している
入出力制御部200 を介してラインバッファ201 ，指標値
算出部202 ，方向算出部203 ，補正値算出部204 が接続
されており、補正値算出部204 の出力は入出力制御部20
0 を介して画像用バッファ104 へ接続されている。更に
ラインバッファ201 から色比率算出部207 ，第2 補正値
算出部208 が接続されており、第2 補正値算出部208 の
出力は入出力制御部200 を介して画像用バッファ104 へ
接続されている。ラインバッファ201 は、補正値算出部
204 及び第２補正値算出部208 へも接続している。ま
た、欠陥位置記録ＲＯＭ205 は入出力制御部200 と周囲
欠陥除去部206 へ接続しており、周囲欠陥除去部206 は
ラインバッファ201 へ接続している。
成を主に説明する。ローパスフィルタ101 とＣＣＤ102
間に、色フィルタ109 が配置されている。欠陥画素補正
部105 においては、画像用バッファ104 に接続している
入出力制御部200 を介してラインバッファ201 ，指標値
算出部202 ，方向算出部203 ，補正値算出部204 が接続
されており、補正値算出部204 の出力は入出力制御部20
0 を介して画像用バッファ104 へ接続されている。更に
ラインバッファ201 から色比率算出部207 ，第2 補正値
算出部208 が接続されており、第2 補正値算出部208 の
出力は入出力制御部200 を介して画像用バッファ104 へ
接続されている。ラインバッファ201 は、補正値算出部
204 及び第２補正値算出部208 へも接続している。ま
た、欠陥位置記録ＲＯＭ205 は入出力制御部200 と周囲
欠陥除去部206 へ接続しており、周囲欠陥除去部206 は
ラインバッファ201 へ接続している。
【００５９】次に、このように構成されている第２の実
施の形態の動作について説明する。本実施の形態の動作
は、基本的には第１の実施の形態と同等であり、異なる
部分を主に説明する。図８において、図示しないシャッ
ターボタンを押すことで撮像モードに入る。レンズ系10
0, ローパスフィルタ101, 色フィルタ109 ，ＣＣＤ10
2 を介して撮影された映像は、Ａ／Ｄ変換器103 にてデ
ジタル信号へ変換されて、画像用バッファ104 へ転送さ
れる。画像用バッファ104 内の映像信号は、制御部108
の制御に基づき、欠陥画素補正部105 へ転送され、欠陥
画素の補正が行われ、この補正結果は画像用バッファ10
4 へ転送される。全欠陥画素の補正が完了すると、制御
部108 の制御に基づき、画像用バッファ104 内の映像信
号は信号処理部106 へ転送され、補間、ホワイトバラン
ス、エッジ色強調処理、γ補正などの公知の信号処置が
行われ、記録部107 へ転送され記録される。
施の形態の動作について説明する。本実施の形態の動作
は、基本的には第１の実施の形態と同等であり、異なる
部分を主に説明する。図８において、図示しないシャッ
ターボタンを押すことで撮像モードに入る。レンズ系10
0, ローパスフィルタ101, 色フィルタ109 ，ＣＣＤ10
2 を介して撮影された映像は、Ａ／Ｄ変換器103 にてデ
ジタル信号へ変換されて、画像用バッファ104 へ転送さ
れる。画像用バッファ104 内の映像信号は、制御部108
の制御に基づき、欠陥画素補正部105 へ転送され、欠陥
画素の補正が行われ、この補正結果は画像用バッファ10
4 へ転送される。全欠陥画素の補正が完了すると、制御
部108 の制御に基づき、画像用バッファ104 内の映像信
号は信号処理部106 へ転送され、補間、ホワイトバラン
ス、エッジ色強調処理、γ補正などの公知の信号処置が
行われ、記録部107 へ転送され記録される。
【００６０】図９は、本実施の形態において用いられて
いるＣＣＤ102 における欠陥画素の一例を示す図であ
る。なお本例では、レッド（Ｒ），グリーン（Ｇ），ブ
ルー（Ｂ）からなるＢayer型の原色ＣＣＤを用いてい
る。Ｂayer型のＣＣＤは、Ｇ画素の出現頻度がＲ，Ｂ画
素の２倍という不均一な出現頻度を有する。図９の
（Ａ）は、欠陥画素Ｒ0 ，Ｇ43，Ｂ42を含むその近傍６
×５画素サイズの周囲画素を示す。まず、出現頻度が高
い信号が欠陥である場合の補正について説明する。本例
では、図９の（Ａ）欠陥画素Ｇ43を補正する場合を考え
る。欠陥画素補正部105内の欠陥位置記録ＲＯＭ205 に
は、事前の検査により入手された欠陥画素の位置情報
が、出現頻度の多い色の画素であるＧと少ない色の画素
であるＲ，Ｂと区別され記録されている。
いるＣＣＤ102 における欠陥画素の一例を示す図であ
る。なお本例では、レッド（Ｒ），グリーン（Ｇ），ブ
ルー（Ｂ）からなるＢayer型の原色ＣＣＤを用いてい
る。Ｂayer型のＣＣＤは、Ｇ画素の出現頻度がＲ，Ｂ画
素の２倍という不均一な出現頻度を有する。図９の
（Ａ）は、欠陥画素Ｒ0 ，Ｇ43，Ｂ42を含むその近傍６
×５画素サイズの周囲画素を示す。まず、出現頻度が高
い信号が欠陥である場合の補正について説明する。本例
では、図９の（Ａ）欠陥画素Ｇ43を補正する場合を考え
る。欠陥画素補正部105内の欠陥位置記録ＲＯＭ205 に
は、事前の検査により入手された欠陥画素の位置情報
が、出現頻度の多い色の画素であるＧと少ない色の画素
であるＲ，Ｂと区別され記録されている。
【００６１】入出力制御部200 は、制御部108 の制御に
基づき、欠陥位置記録ＲＯＭ205 からＧ画素に関する欠
陥画素の位置情報を順次読みとり、欠陥画素を中心とす
る所定サイズの周囲画素、本例では５×５画素サイズ中
のＧ画素のみをラインバッファ201 へ転送する。また、
周囲欠陥除去部206 は欠陥位置記録ＲＯＭ205 から欠陥
画素の位置情報を読みとり、Ｇ画素の周囲画素に欠陥画
素が存在する場合は、この周囲画素の値を特定の識別値
に置き換える。図９の（Ｂ），（Ｃ）は水平、垂直、＋
45度、−45度の４方向で指標値を算出する際の組の画素
位置情報を示す。その後、補正値算出部204 にて方向算
出部203 の出力する方向の画素を用いて、あるいは方向
算出部が特定の方向を出力しなかった場合には、欠陥画
素に隣接する全ての画素（本例では、Ｇ32，Ｇ52，
Ｇ34，Ｇ54）を用いて欠陥画素の補正値が算出され、入
出力制御部200 を介して画像用バッファ104 へ転送され
る。制御部108 は、上記過程を欠陥位置記録ＲＯＭ205
上のＧ画素の全欠陥画素に対して繰り返すように制御を
行う。
基づき、欠陥位置記録ＲＯＭ205 からＧ画素に関する欠
陥画素の位置情報を順次読みとり、欠陥画素を中心とす
る所定サイズの周囲画素、本例では５×５画素サイズ中
のＧ画素のみをラインバッファ201 へ転送する。また、
周囲欠陥除去部206 は欠陥位置記録ＲＯＭ205 から欠陥
画素の位置情報を読みとり、Ｇ画素の周囲画素に欠陥画
素が存在する場合は、この周囲画素の値を特定の識別値
に置き換える。図９の（Ｂ），（Ｃ）は水平、垂直、＋
45度、−45度の４方向で指標値を算出する際の組の画素
位置情報を示す。その後、補正値算出部204 にて方向算
出部203 の出力する方向の画素を用いて、あるいは方向
算出部が特定の方向を出力しなかった場合には、欠陥画
素に隣接する全ての画素（本例では、Ｇ32，Ｇ52，
Ｇ34，Ｇ54）を用いて欠陥画素の補正値が算出され、入
出力制御部200 を介して画像用バッファ104 へ転送され
る。制御部108 は、上記過程を欠陥位置記録ＲＯＭ205
上のＧ画素の全欠陥画素に対して繰り返すように制御を
行う。
【００６２】次に、出現頻度の少ない色の画素である
Ｒ，Ｂ画素の欠陥画素の補正について説明する。以下で
はＲ画素に関して説明するが、Ｂ画素に関しても同様に
適用できる。図９の（Ａ）のＲ0 を補正する場合を例に
とる。入出力制御部200 は、制御部108 の制御に基づ
き、欠陥位置記録ＲＯＭ205 からＲ，及びＧ画素に関す
る欠陥画素の位置情報を順次読みとり、欠陥画素を中心
とする所定サイズの周囲画素、本例では５×５画素中の
Ｒ画素及びＧ画素をラインバッファ201 へ転送する。ま
た、周囲欠陥除去部206 は、欠陥位置記録ＲＯＭ205 か
ら欠陥画素の位置情報を読みとり、周囲画素に欠陥画素
が存在する場合は、この周囲画素の値を特定の識別値に
置き換える。取り込まれたラインバッファ201 上の５×
５画素サイズの画素で、色比率算出部207 において、出
現頻度の低いＲ画素の加算値と出現頻度の多いＧ画素の
加算値から、ＲとＧの色比率を算出する。第２補正値算
出部208 では、補正する欠陥に隣接する出現頻度の高い
信号から、欠陥画素のある位置における出現頻度の高い
信号の補間値を求め、色比率算出部207 が出力する色比
率と乗算することで、欠陥画素の補正値を求める。但
し、使用する画素に欠陥画素が含まれる場合には、その
画素は使用しない。
Ｒ，Ｂ画素の欠陥画素の補正について説明する。以下で
はＲ画素に関して説明するが、Ｂ画素に関しても同様に
適用できる。図９の（Ａ）のＲ0 を補正する場合を例に
とる。入出力制御部200 は、制御部108 の制御に基づ
き、欠陥位置記録ＲＯＭ205 からＲ，及びＧ画素に関す
る欠陥画素の位置情報を順次読みとり、欠陥画素を中心
とする所定サイズの周囲画素、本例では５×５画素中の
Ｒ画素及びＧ画素をラインバッファ201 へ転送する。ま
た、周囲欠陥除去部206 は、欠陥位置記録ＲＯＭ205 か
ら欠陥画素の位置情報を読みとり、周囲画素に欠陥画素
が存在する場合は、この周囲画素の値を特定の識別値に
置き換える。取り込まれたラインバッファ201 上の５×
５画素サイズの画素で、色比率算出部207 において、出
現頻度の低いＲ画素の加算値と出現頻度の多いＧ画素の
加算値から、ＲとＧの色比率を算出する。第２補正値算
出部208 では、補正する欠陥に隣接する出現頻度の高い
信号から、欠陥画素のある位置における出現頻度の高い
信号の補間値を求め、色比率算出部207 が出力する色比
率と乗算することで、欠陥画素の補正値を求める。但
し、使用する画素に欠陥画素が含まれる場合には、その
画素は使用しない。
【００６３】図10は、色比率算出部207 の構成の一例を
示すブロック図で、第１平均算出部600 ，第２平均算出
部601 ，比算出部602 で構成されている。ラインバッフ
ァ201 からの信号は、第１平均算出部600 ，第２平均算
出部601 を介し比算出部602へ接続しており、比算出部6
02 は第2 補正値算出部208 へ接続している。ラインバ
ッファ201 内の周囲画素中のＧ画素は第１平均算出部60
0 へ取り込まれ、欠陥と隣接しないＧ画素から平均値が
算出される。同様に、ラインバッファ201 内の周囲画素
中のＲ画素は第２平均算出部601 へ取り込まれ、欠陥と
隣接しないＲ画素から平均値が算出される。第１平均算
出部600 及び第２平均算出部601 からの平均値は、比算
出部602 にて除算されて色比率が算出され、第２補正値
算出部208 へ転送される。図９の（Ｄ）は、上記色比率
を求める際に使用されるＲ，Ｇ画素を示す。本例では色
比率ｒC は、 ｒC ＝｛（Ｒ11＋Ｒ31＋Ｒ51＋Ｒ13＋Ｒ53＋Ｒ15＋Ｒ35＋Ｒ55）／８｝ ／｛（Ｇ21＋Ｇ41＋Ｇ12＋Ｇ52＋Ｇ14＋Ｇ54＋Ｇ25＋Ｇ45）／８｝ ・・・・・・・・・(21) となる。但し、(21)式で使用する画素に欠陥画素が含ま
れる場合には、その画素は使用しない。
示すブロック図で、第１平均算出部600 ，第２平均算出
部601 ，比算出部602 で構成されている。ラインバッフ
ァ201 からの信号は、第１平均算出部600 ，第２平均算
出部601 を介し比算出部602へ接続しており、比算出部6
02 は第2 補正値算出部208 へ接続している。ラインバ
ッファ201 内の周囲画素中のＧ画素は第１平均算出部60
0 へ取り込まれ、欠陥と隣接しないＧ画素から平均値が
算出される。同様に、ラインバッファ201 内の周囲画素
中のＲ画素は第２平均算出部601 へ取り込まれ、欠陥と
隣接しないＲ画素から平均値が算出される。第１平均算
出部600 及び第２平均算出部601 からの平均値は、比算
出部602 にて除算されて色比率が算出され、第２補正値
算出部208 へ転送される。図９の（Ｄ）は、上記色比率
を求める際に使用されるＲ，Ｇ画素を示す。本例では色
比率ｒC は、 ｒC ＝｛（Ｒ11＋Ｒ31＋Ｒ51＋Ｒ13＋Ｒ53＋Ｒ15＋Ｒ35＋Ｒ55）／８｝ ／｛（Ｇ21＋Ｇ41＋Ｇ12＋Ｇ52＋Ｇ14＋Ｇ54＋Ｇ25＋Ｇ45）／８｝ ・・・・・・・・・(21) となる。但し、(21)式で使用する画素に欠陥画素が含ま
れる場合には、その画素は使用しない。
【００６４】図11は、第２補正値算出部208 の構成の一
例を示すブロック図で、選択部700，補間算出部701 ，
平均算出部702 ，乗算部703 で構成されている。ライン
バッファ201 からの信号は、選択部700 を介して補間算
出部701 ，平均算出部702 へ接続されており、補間算出
部701 ，平均算出部702 は乗算部703 へ接続している。
乗算部703 はラインバッファ201 へ接続されている。ま
た、色比率算出部207の信号は、乗算部703 へ接続して
いる。ラインバッファ201 内の周囲画素中のＧ画素は、
選択部700 を介して補間算出部701 又は平均算出部702
へ取り込まれる。選択部700 では、欠陥を挟む２画素の
画素差を比較し、水平方向又は垂直方向に相関性が認め
られた場合には、その方向に属する欠陥画素に隣接する
Ｇ画素を補間算出部701 へ、特定の方向に相関性がない
場合は、欠陥画素に隣接する全Ｇ画素を平均算出部702
へ転送する。補間算出部701 では公知の線形補間などで
補間値が算出され、平均算出部702 では平均値が算出さ
れ、乗算部703 へ転送される。図９の（Ｅ）は、出現頻
度の高いＧ画素の欠陥位置における補間値を求める際に
使用する画素を示している。本例ではＧ43が欠陥画素で
あるため、垂直方向に相関がある場合にはＧ32，Ｇ34を
使用し、水平方向に相関がある場合にはＧ23を使用し、
特定方向に相関がない場合はＧ32，Ｇ34，Ｇ23を使用す
る。
例を示すブロック図で、選択部700，補間算出部701 ，
平均算出部702 ，乗算部703 で構成されている。ライン
バッファ201 からの信号は、選択部700 を介して補間算
出部701 ，平均算出部702 へ接続されており、補間算出
部701 ，平均算出部702 は乗算部703 へ接続している。
乗算部703 はラインバッファ201 へ接続されている。ま
た、色比率算出部207の信号は、乗算部703 へ接続して
いる。ラインバッファ201 内の周囲画素中のＧ画素は、
選択部700 を介して補間算出部701 又は平均算出部702
へ取り込まれる。選択部700 では、欠陥を挟む２画素の
画素差を比較し、水平方向又は垂直方向に相関性が認め
られた場合には、その方向に属する欠陥画素に隣接する
Ｇ画素を補間算出部701 へ、特定の方向に相関性がない
場合は、欠陥画素に隣接する全Ｇ画素を平均算出部702
へ転送する。補間算出部701 では公知の線形補間などで
補間値が算出され、平均算出部702 では平均値が算出さ
れ、乗算部703 へ転送される。図９の（Ｅ）は、出現頻
度の高いＧ画素の欠陥位置における補間値を求める際に
使用する画素を示している。本例ではＧ43が欠陥画素で
あるため、垂直方向に相関がある場合にはＧ32，Ｇ34を
使用し、水平方向に相関がある場合にはＧ23を使用し、
特定方向に相関がない場合はＧ32，Ｇ34，Ｇ23を使用す
る。
【００６５】乗算部703 では、補間算出部701 又は平均
算出部702 からの信号と、色比率算出部207 からの色比
率を乗算する事で、欠陥画素の補正値を求める。本例の
場合、補正値ｖは ｖ＝ｒC ×Ｇ23 水平方向 ・・・（22） ｖ＝ｒC ×（Ｇ32＋Ｇ34）／２ 垂直方向 ・・・ (23) ｖ＝ｒC ×（Ｇ32＋Ｇ23＋Ｇ34）／３ 平均 ・・・・・ (24) のいずれかとなる。なお、(24)式では隣接する画素の平
均値を使用したが、隣接する画素の中央値、最頻値など
が使用される場合もある。制御部108 は、上記過程を欠
陥位置記録ＲＯＭ205 上のＲ，Ｂ画素の全欠陥画素に対
して繰り返すように制御を行う。
算出部702 からの信号と、色比率算出部207 からの色比
率を乗算する事で、欠陥画素の補正値を求める。本例の
場合、補正値ｖは ｖ＝ｒC ×Ｇ23 水平方向 ・・・（22） ｖ＝ｒC ×（Ｇ32＋Ｇ34）／２ 垂直方向 ・・・ (23) ｖ＝ｒC ×（Ｇ32＋Ｇ23＋Ｇ34）／３ 平均 ・・・・・ (24) のいずれかとなる。なお、(24)式では隣接する画素の平
均値を使用したが、隣接する画素の中央値、最頻値など
が使用される場合もある。制御部108 は、上記過程を欠
陥位置記録ＲＯＭ205 上のＲ，Ｂ画素の全欠陥画素に対
して繰り返すように制御を行う。
【００６６】上記構成により、出現頻度が不均一な色フ
ィルタが前面に配置された撮像素子に対し、出現頻度の
高い色の画素は、その画素のみを用いてエッジ強度の指
標値に基づく特定方向の周囲画素から補正値を求めるこ
とが可能となり、出現頻度の少ない色の画素の影響を受
けず高品位な欠陥画素の補正が可能になる。出現頻度の
少ない色の画素は、出現頻度の高い色の画素との色比率
に基づき、その情報を利用することで、より精度の高い
補正値を求めることが可能となる。
ィルタが前面に配置された撮像素子に対し、出現頻度の
高い色の画素は、その画素のみを用いてエッジ強度の指
標値に基づく特定方向の周囲画素から補正値を求めるこ
とが可能となり、出現頻度の少ない色の画素の影響を受
けず高品位な欠陥画素の補正が可能になる。出現頻度の
少ない色の画素は、出現頻度の高い色の画素との色比率
に基づき、その情報を利用することで、より精度の高い
補正値を求めることが可能となる。
【００６７】なお、上記各実施の形態ではハードウェア
により処理を行うようにしたものを示したが、これに限
定される必要はない。例えば、撮像素子からの信号をそ
のままの形態で出力する rawフォーマットで画像を出力
し、計算機上でソフトウェア的に処理を行う形態にも、
本発明を適用することが可能である。
により処理を行うようにしたものを示したが、これに限
定される必要はない。例えば、撮像素子からの信号をそ
のままの形態で出力する rawフォーマットで画像を出力
し、計算機上でソフトウェア的に処理を行う形態にも、
本発明を適用することが可能である。
【００６８】
【発明の効果】以上実施の形態に基づいて説明したよう
に、請求項１に係る発明によれば、欠陥画素の周囲画素
から相関性の高い方向を求め、その方向に属する周囲画
素を用いて補正値を算出する際に、所定方向に関して複
数の指標値を求め統合してその方向の指標値としている
ので、方向検出が高性能となり、エッジ領域などの複雑
な画像においても高精度の欠陥画素の補正が可能とな
る。また請求項２に係る発明によれば、色フィルタを前
面に配置した固体撮像素子の欠陥画素の補正に関して
も、欠陥画素と同色の周囲画素から相関性の高い方向を
求めるようにしているので、同様にエッジ領域などの複
雑な画像においても高精度の欠陥画素の補正が可能とな
る。また請求項３に係る発明によれば、出現頻度が不均
一な色フィルタを前面に配置した固体撮像素子の欠陥画
素の補正に関しても、出現頻度の多い画素の場合は、そ
の色の画素のみを用いて補正値を算出するようにしてい
るので出現頻度の少ない色の影響を受けずに高周波成分
を維持した高精度の補正が可能となり、また出現頻度の
少ない色の画素の場合は、多い色の画素との色比率に基
づいて補正値を算出するようにしているので、出現頻度
の多い色の画素の情報を利用してより高精度の欠陥補正
が可能となる。また請求項４及び５に係る発明によれ
ば、欠陥画素が連続する場合でも、その影響を除去した
指標値の算出が可能となり、精度の高い指標値を算出す
ることが可能となる。また請求項６に係る発明によれ
ば、一つの方向の指標値を複数の指標値の加算にて算出
するため、ノイズなどの影響を受けにくく、高精度な指
標値を安定して得ることが可能となる。
に、請求項１に係る発明によれば、欠陥画素の周囲画素
から相関性の高い方向を求め、その方向に属する周囲画
素を用いて補正値を算出する際に、所定方向に関して複
数の指標値を求め統合してその方向の指標値としている
ので、方向検出が高性能となり、エッジ領域などの複雑
な画像においても高精度の欠陥画素の補正が可能とな
る。また請求項２に係る発明によれば、色フィルタを前
面に配置した固体撮像素子の欠陥画素の補正に関して
も、欠陥画素と同色の周囲画素から相関性の高い方向を
求めるようにしているので、同様にエッジ領域などの複
雑な画像においても高精度の欠陥画素の補正が可能とな
る。また請求項３に係る発明によれば、出現頻度が不均
一な色フィルタを前面に配置した固体撮像素子の欠陥画
素の補正に関しても、出現頻度の多い画素の場合は、そ
の色の画素のみを用いて補正値を算出するようにしてい
るので出現頻度の少ない色の影響を受けずに高周波成分
を維持した高精度の補正が可能となり、また出現頻度の
少ない色の画素の場合は、多い色の画素との色比率に基
づいて補正値を算出するようにしているので、出現頻度
の多い色の画素の情報を利用してより高精度の欠陥補正
が可能となる。また請求項４及び５に係る発明によれ
ば、欠陥画素が連続する場合でも、その影響を除去した
指標値の算出が可能となり、精度の高い指標値を算出す
ることが可能となる。また請求項６に係る発明によれ
ば、一つの方向の指標値を複数の指標値の加算にて算出
するため、ノイズなどの影響を受けにくく、高精度な指
標値を安定して得ることが可能となる。
【００６９】また請求項７に係る発明によれば、欠陥画
素の周囲画素に存在する欠陥画素を除去して補正値を求
めるようにしているので、欠陥画素が連続する場合で
も、その影響を除去し精度の高い欠陥補正が可能とな
る。また請求項８に係る発明によれば、一つの方向の指
標値を複数の指標値の加算で算出するようにしているの
で、欠陥画素が連続する場合でも指標値の算出が可能と
なり、相関性の高い方向を利用した精度の高い欠陥補正
が可能となる。また請求項９に係る発明によれば、各方
向の指標値の比の値を比較するようにしているので、画
像の階調幅などに依存せず、閾値設定などの調整が不要
で、且つノイズなどに影響されにくく、相関性の高い方
向を高精度で検出することが可能となる。また請求項10
に係る発明によれば、エッジなどの特定方向に相関性が
高い場合はその方向の周囲画素を用い、平坦な場合は全
周囲画素を用いるようにしているので、入力画像に対し
て最適な欠陥補正が可能となる。また、請求項11に係る
発明によれば、エッジ領域などの複雑な画像においても
精度の高い色比率の算出が行われ、高精度の欠陥補正が
可能となる。また請求項12に係る発明によれば、エッジ
などの特定方向に相関性が高い場合はその方向の周囲画
素を用い、平坦な場合は全周囲画素を用いて出現頻度の
多い色の画素の補間値を求め、これに基づき出現頻度の
少ない色の画素の補正値を求めるようにしているので、
出現頻度の多い色の画素の情報を最大限利用した最適な
補正が可能となる。
素の周囲画素に存在する欠陥画素を除去して補正値を求
めるようにしているので、欠陥画素が連続する場合で
も、その影響を除去し精度の高い欠陥補正が可能とな
る。また請求項８に係る発明によれば、一つの方向の指
標値を複数の指標値の加算で算出するようにしているの
で、欠陥画素が連続する場合でも指標値の算出が可能と
なり、相関性の高い方向を利用した精度の高い欠陥補正
が可能となる。また請求項９に係る発明によれば、各方
向の指標値の比の値を比較するようにしているので、画
像の階調幅などに依存せず、閾値設定などの調整が不要
で、且つノイズなどに影響されにくく、相関性の高い方
向を高精度で検出することが可能となる。また請求項10
に係る発明によれば、エッジなどの特定方向に相関性が
高い場合はその方向の周囲画素を用い、平坦な場合は全
周囲画素を用いるようにしているので、入力画像に対し
て最適な欠陥補正が可能となる。また、請求項11に係る
発明によれば、エッジ領域などの複雑な画像においても
精度の高い色比率の算出が行われ、高精度の欠陥補正が
可能となる。また請求項12に係る発明によれば、エッジ
などの特定方向に相関性が高い場合はその方向の周囲画
素を用い、平坦な場合は全周囲画素を用いて出現頻度の
多い色の画素の補間値を求め、これに基づき出現頻度の
少ない色の画素の補正値を求めるようにしているので、
出現頻度の多い色の画素の情報を最大限利用した最適な
補正が可能となる。
【図１】本発明に係る欠陥画素補正装置の第１の実施の
形態を示すブロック構成図である。
形態を示すブロック構成図である。
【図２】図１に示した第１の実施の形態における白黒Ｃ
ＣＤの欠陥画素の配置例及び各方向の指標値算出画素を
示す図である。
ＣＤの欠陥画素の配置例及び各方向の指標値算出画素を
示す図である。
【図３】図１に示した第１の実施の形態における指標値
算出部の構成例を示すブロック図である。
算出部の構成例を示すブロック図である。
【図４】図３に示した指標値算出部における抽出位置記
録ＲＯＭに記録される位置情報の一例を示す図である。
録ＲＯＭに記録される位置情報の一例を示す図である。
【図５】図１に示した第１の実施の形態における方向算
出部の構成例を示すブロック図である。
出部の構成例を示すブロック図である。
【図６】図１に示した第１の実施の形態における補正値
算出部の構成例を示すブロック図である。
算出部の構成例を示すブロック図である。
【図７】補色ＣＣＤにおける欠陥画素の配置例及び各方
向の指標値算出画素を示す図である。
向の指標値算出画素を示す図である。
【図８】本発明の第２の実施の形態を示すブロック構成
図である。
図である。
【図９】原色ＣＣＤにおける欠陥画素の配置例及び指標
値算出画素並びに欠陥位置のＧの補間値を示す図であ
る。
値算出画素並びに欠陥位置のＧの補間値を示す図であ
る。
【図10】図８に示した第２の実施の形態における色比率
算出部の構成例を示すブロック図である。
算出部の構成例を示すブロック図である。
【図11】図８に示した第２の実施の形態における第２補
正値算出部の構成例を示すブロック図である。
正値算出部の構成例を示すブロック図である。
【図12】従来手法によるパターン認識で対応できないパ
ターン例を示す図である。
ターン例を示す図である。
100 レンズ系
101 ローパスフィルタ
102 ＣＣＤ
103 Ａ／Ｄ変換器
104 画像用バッファ
105 欠陥画素補正部
106 信号処理部
107 記録部
108 制御部
109 色フィルタ
200 入出力制御部
201 ラインバッファ
202 指標値算出部
203 方向算出部
204 補正値算出部
205 欠陥位置記録ＲＯＭ
206 周囲欠陥除去部
207 色比率算出部
208 第２補正値算出部
300 抽出位置記録ＲＯＭ
301 絶対値差算出部
302 加算平均部
303 指標値記録バッファ
400 割合算出部
401 比較部
402 出力部
500 選択部
501 補間算出部
502 平均算出部
600 第１平均算出部
601 第２平均算出部
602 比算出部
700 選択部
701 補間算出部
702 平均算出部
703 乗算部
Claims (12)
- 【請求項１】 固体撮像素子の欠陥画素を補正する欠陥
画素補正装置において、前記欠陥画素の位置情報を記憶
する欠陥記憶手段と、該欠陥記憶手段に記憶されている
前記位置情報に基づき欠陥画素の周囲画素を取り込む画
素取り込み手段と、該画素取り込み手段で取り込まれた
前記周囲画素において所定方向に関する複数のエッジ強
度指標値から統合された指標値を算出する指標値算出手
段と、該指標値算出手段で算出された前記統合された指
標値に基づき相関が最大となる方向を算出する方向算出
手段と、該方向算出手段で算出された前記方向に基づき
選択された周囲画素から前記欠陥画素の補正値を算出す
る補正値算出手段とを備えていることを特徴とする欠陥
画素補正装置。 - 【請求項２】 色フィルタを前面に配置した固体撮像素
子の欠陥画素を補正する欠陥画素補正装置において、前
記欠陥画素の位置情報を記憶する欠陥記憶手段と、該欠
陥記憶手段に記憶されている前記位置情報に基づき、固
体撮像素子の前面に配置された色フィルタの各色のうち
欠陥画素と同色の周囲画素を取り込む画素取り込み手段
と、該画素取り込み手段で取り込まれた前記欠陥画素と
同色の周囲画素において所定方向に関する複数のエッジ
強度指標値から統合された指標値を算出する指標値算出
手段と、該指標値算出手段で算出された前記統合された
指標値に基づき相関が最大となる方向を算出する方向算
出手段と、該方向算出手段で算出された前記方向に基づ
き選択された周囲画素から前記欠陥画素の補正値を算出
する補正値算出手段とを備えていることを特徴とする欠
陥画素補正装置。 - 【請求項３】 出現頻度が不均一な色フィルタを前面に
配置した固体撮像素子の欠陥画素を補正する欠陥画素補
正装置において、前記欠陥画素の位置情報を記憶する欠
陥記憶手段と、該欠陥記憶手段に記憶されている前記位
置情報に基づき欠陥画素の周囲画素を取り込む画素取り
込み手段と、該画素取り込み手段で取り込まれた前記周
囲画素において出現頻度が多い色の画素の所定方向に関
する複数のエッジ強度指標値から統合された指標値を算
出する指標値算出手段と、該指標値算出手段で算出され
た前記複数の指標値に基づき出現頻度が多い色の画素の
相関が最大となる方向を算出する方向算出手段と、該方
向算出手段で算出された前記方向に基づき選択された周
囲画素中の出現頻度が多い色の画素から前記欠陥画素の
補正値を算出する第１の補正値算出手段と、前記欠陥画
素周囲の画素中の出現頻度が多い色の画素と出現頻度が
少ない色の画素から色比率を算出する色比率算出手段
と、前記欠陥画素周囲の画素中の出現頻度が多い色の画
素から算出した補間値、及び前記色比率算出手段で算出
された色比率に基づき前記欠陥画素の補正値を算出する
第２の補正値算出手段と、前記欠陥画素の色に基づき前
記第１の補正値算出手段と前記第２の補正値算出手段を
切り換える切換手段とを備えていることを特徴とする欠
陥画素補正装置。 - 【請求項４】 前記エッジ強度指標値は、前記欠陥画素
の周囲の正常な画素において前記欠陥画素と近接する２
画素間の画素値の絶対値差であることを特徴とする請求
項１に係る欠陥画素補正装置。 - 【請求項５】 前記エッジ強度指標値は、前記欠陥画素
の周囲の正常な画素において前記欠陥画素と同色の近接
する２画素間の画素値の絶対値差であることを特徴とす
る請求項２又は３に係る欠陥画素補正装置。 - 【請求項６】 前記統合された指標値は、前記エッジ強
度指標値を所定の方向毎に加算した値であることを特徴
とする請求項１〜３のいずれか１項に係る欠陥画素補正
装置。 - 【請求項７】 前記画素取り込み手段は、前記欠陥画素
の位置情報に基づき周囲画素中に欠陥画素が含まれてい
る場合に該欠陥画素を除去する除去手段を備えているこ
とを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に係る欠陥
画素補正装置。 - 【請求項８】 前記指標値算出手段は、前記所定方向に
属する周囲画素から所定距離にある２つの画素の組合せ
を複数抽出する抽出手段と、該抽出手段で抽出された前
記複数の組合せに対する画素間の絶対値差を算出する絶
対値差算出手段と、該絶対値差算出手段で算出された前
記複数の絶対値差を前記複数の所定方向毎に加算する加
算手段とを備えていることを特徴とする請求項１〜３の
いずれか１項に係る欠陥画素補正装置。 - 【請求項９】 前記方向算出手段は、算出された前記複
数の所定方向における指標値の各方向別の割合を求める
割合算出手段と、該割合算出手段で求められた前記複数
の所定方向における指標値の割合を各方向毎にそれぞれ
比較する比較手段と、該比較手段の比較結果から最も相
関性の高い方向を出力する出力手段とを備えていること
を特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に係る欠陥画
素補正装置。 - 【請求項10】 前記請求項１又は２に記載の補正値算出
手段及び請求項３に記載の第１の補正値算出手段は、前
記所定方向に属する周囲画素から補間により補正値を算
出する補間算出手段と、前記周囲画素から平均により補
正値を算出する平均算出手段と、前記方向に基づき前記
補間算出手段と前記平均算出手段を選択する選択手段と
を備えていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか
１項に係る欠陥画素補正装置。 - 【請求項11】 前記色比率算出手段は、前記欠陥画素周
囲の画素において出現頻度が多い色の画素の平均値及び
出現頻度が少ない色の画素の平均値との比を算出する比
算出手段を備えていることを特徴とする請求項３に係る
欠陥画素補正装置。 - 【請求項12】 前記第２の補正値算出手段は、前記所定
方向に属する周囲画素中の出現頻度が多い色の画素から
補間により補間値を算出する補間算出手段と、前記周囲
画素中の出現頻度が多い色の画素から平均により補間値
を算出する平均算出手段と、相関のある方向を調べ、前
記補間算出手段と前記平均算出手段を選択する選択手段
と、前記補間値と前記色比率を乗算する乗算手段とを備
えていることを特徴とする請求項３に係る欠陥画素補正
装置。
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