JP2006170997A - 方位角を測定する地磁気センサ及びその方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】地磁気に対応する所定大きさの電気的信号値を出力する地磁気検出モジュール、所定の基準面上で傾いた程度を示すチルト角を検出するチルト検出モジュール、伏角による地磁気影響を反映するための定数値を毎方位角別に予め設定して記録したデータベースを保存するメモリ、及び定数値の初期値、電気的信号値、及びチルト角を用いて方位角を1次演算した後、1次演算された方位角に対応する定数値をメモリから検出して検出された定数値を用いて方位角を再演算する中央処理装置を含む。
【選択図】 図1
Description
フラックスゲートセンサはパーマロイ(permalloy)のような高透磁率材料よりなるフラックスゲートコア、コアを巻線した駆動コイル及び検出コイルで構成される。この場合、フラックスゲートコアの個数は2個または3個とすることができる。各フラックスゲートコアは互いに直交する形態に作製される。すなわち、2軸フラックスゲートセンサの場合、X軸及びY軸フラックスゲートで具現され、3軸フラックスゲートセンサの場合はX軸、Y軸及びZ軸フラックスゲートで具現される。これにより、各フラックスゲートコアを巻線した各駆動コイルに駆動信号を印加した後コアにより磁気が誘導されると、検出コイルを用いて外部磁場に比例する2次高調波成分を検出することによって外部磁場の大きさ及び方向を測定することができる。
すなわち、所定角度に傾いた状態で地磁気センサを用いて方位角などを測定すれば、実際方位角と違う値が測定されるという問題点があった。このような問題点を解決するため、最近は加速度センサなどを用いてチルト角を測定した後、これを用いて傾きによる影響を補償して正確な方位角を演算するようにしている。この場合、3軸フラックスゲートを使用する地磁気センサの場合、伏角(dip angle : λ)による影響を考慮する必要がないが、2軸フラックスゲートを使用する地磁気センサの場合は伏角による影響を考慮しなければならない。なぜならば、2軸フラックスゲートセンサの場合、地表面上に置かれたX軸及びY軸フラックスゲートだけを備えるため、地表面に投射される実際の地磁気ベクトルの水平成分値だけを用いて方位角を測定するからである。すなわち、伏角とは地磁気が地表面に入射する角度を意味するので、フラックスゲートにより測定された実際地磁気ベクトル値にcosλを乗算すべきであり、2軸フラックスゲートセンサでは伏角に対する情報を必要とする。
これにより、前記中央処理装置は、前記地磁気検出モジュール及び前記チルト検出モジュールで前記電気的信号値及び前記チルト角をそれぞれ検出する毎に、前記アップデートされた定数値を用いて前記方位角1次演算作業及び再演算作業を行なうように構成できる。
一方、前記地磁気検出モジュールは互いに直交する形態に作製され、所定の駆動信号に応じて誘導される磁気に対応する所定大きさの電気的信号をそれぞれ出力するX軸及びY軸フラックスゲートを含む。
一方、本発明の一実施形態によれば、伏角による地磁気影響を反映するための定数値を毎方位角別に予め設定して記録したデータベースを保存したメモリを含む地磁気センサにおける方位角測定方法は、(a)地磁気に対応する所定大きさの電気的信号値を出力する段階、(b)前記電気的信号値の大きさを所定範囲にマッピングして正規化する段階、(c)前記地磁気センサが所定の基準面に対する傾斜角度であるチルト角を検出する段階、(d)前記定数値の初期値、前記正規化された電気的信号値、及び前記チルト角を用いて方位角を1次演算する段階、(e)前記1次演算された方位角に対応する定数値を前記メモリから検出する段階、及び(f)前記検出された定数値、前記正規化された電気的信号値、及び前記チルト角を用いて前記方位角を再演算する段階を含む。
また望ましくは、前記電気的信号値及び前記チルト角が検出される毎に、前記アップデートされた定数値を用いて前記方位角1次演算作業及び再演算作業を行なう段階をさらに含む構成とすることが好ましい。
一方、前記(a)段階は、互いに直交する形態に作製されたX軸及びY軸フラックスゲートに所定の駆動信号を印加する段階、及び前記駆動信号に応じて前記X軸及びY軸フラックスゲートに誘導される磁気に対応する所定大きさの電気的信号値をそれぞれ検出する段階とを含む。
さらに望ましくは、前記(d)段階及び前記(f)段階は、前記Z軸フラックスゲートの出力値を所定数式に代入して前記方位角を演算する段階をさらに含むこともできる。
地磁気検出モジュール110は外部地磁気に対応する所定大きさの電気的信号値を出力する役割を果たす。
メモリ140には毎方位角別に設定された所定の定数値が記録されたデータベースが保存される。このようなデータベースは地磁気センサ100の製造メーカ、あるいはユーザが予め作成して保存することができる。望ましくは、水平状態を正確に合わせられるジグ(jig)、周辺磁気場の影響を遮断するためのシールド(shield)などの装備を備えた地磁気センサ100の製造メーカが製品開発過程で地磁気センサ100を回転させながら、方位角別に最適定数値を演算してデータベースを作成してメモリ140に保存することが好ましい。
図2は本発明の他の実施形態による地磁気センサの構成を示すブロック図である。図2によれば、本地磁気センサ200は地磁気検出モジュール210、チルト検出モジュール220、中央処理装置230、メモリ240、ディスプレー部250、及び正規化部260を含む。
一方、信号処理部210bは2軸フラックスゲート213から出力された誘導起電力に対して一連の処理を施してそれぞれ所定大きさのデジタル値に変換して出力する。このため、信号処理部210bは、数個のスイッチを用いて誘導起電力をチョッピングするチョッピング回路部214、チョッピングされた電気的信号を差動増幅する第1増幅部215、増幅された電気的信号を一定範囲にフィルタリングするフィルタ216、フィルタリングされた信号を2次増幅する第2増幅部217、及び2次増幅された信号をデジタル値に変換するA/Dコンバータ218を備えている。
正規化部260はこのような正規化作業を行なう役割を果たす。望ましくは、次の数式を用いて正規化作業を行うことができる。
数式1において、Xf及びYfはそれぞれX軸及びY軸フラックスゲート出力値、Xfnorm及びYfnormはそれぞれ正規化されたX軸及びY軸フラックスゲート出力値、Xfmax及びXfminはそれぞれXfの最大値及び最小値、Yfmax及びYfminはそれぞれYfの最大値及び最小値、αは固定定数を意味する。この場合、αはX軸及びY軸フラックスゲート出力値が水平状態で±1の範囲内の値にマッピングされうるように1より小さい値を使用する。望ましくは、地磁気センサ200が使われる地域の代表的な伏角値を用いてαを設定することができる。韓国の伏角は約53°程度なので、cos53°≒0.6をαとすることができる。一方、Xfmax、Xfmin、Yfmax、Yfminは予め地磁気センサ200を所定回数以上回転させながらその出力値を測定した後、そのうち最大値及び最小値を選択して保存しておくことによって得られる。
図3はピッチ角及びロール角を測定する基準になるX軸及びY軸を示す模式図である。図3によれば、地磁気センサ200上でX軸フラックスゲート及びX軸加速度センサはX軸方向に設けられ、Y軸フラックスゲート及びY軸加速度センサはY軸方向に設けられる。この状態で、Y軸フラックスゲート及びY軸加速度センサの方向軸であるY軸を基準にして地磁気センサ200を回転させた場合、基準面との間角がピッチ角になる。そして、X軸フラックスゲート及びX軸加速度センサの方向軸であるX軸を基準にして地磁気センサ200を回転させた場合、基準面との間角がロール角になる。基準面とはX軸及びY軸がなす平面であって、地表面と平行な面を意味する。
2軸加速度センサ221は前述したように互いに直交する方向に設けられたX軸及びY軸加速度センサで構成される。X軸及びY軸加速度センサは地磁気センサ200の傾いた程度によって所定大きさの電気的信号を出力する。
数式2においてXt及びYtはそれぞれX軸及びY軸加速度センサの出力値、Xtnorm及びYtnormはそれぞれ正規化されたX軸及びY軸加速度センサ出力値、Xtmax及びXtminはそれぞれXtの最大値及び最小値、Ytmax及びYtminはそれぞれYtの最大値及び最小値を意味する。Xtmax、Xtmin、Ytmax、Ytminは地磁気検出モジュール210と同様に予め測定して保存しておいた値を用いられる。
再び図2に対する説明に戻って、中央処理装置230は地磁気検出モジュール210及びチルト検出モジュール220でそれぞれ所定大きさの出力値が検出されれば、方位角を1次演算する。この場合、地磁気検出モジュール210の出力値は正規化部260を用いて正規化して使用する。
数式4ないし6において、Zfnormは仮想のZ軸フラックスゲートの正規化された出力値(以下、Z軸出力値と称する)、βは定数値、θはピッチ角、φはロール角、Xfnorm及びYfnormはそれぞれ正規化されたX軸及びY軸フラックスゲート出力値を意味する。数式4ないし5はロール角を0°にして簡略化した。すなわち、地磁気センサ200が携帯電話、PDAのような携帯端末機に適用された場合、ユーザは携帯端末機のディスプレー画面を地表面に水平に置いたまま用いるのが一般的であるが、このような姿勢ではロール角値がほぼ0°であると見ても構わない。一方、数式4ないし6は全てZ軸出力値を演算するための数式なので、中央処理装置230は実施形態によってこのうち1つの数式を用いられる。望ましくは、演算負担の最小化が可能な数式6を用いてZ軸出力値を演算することができる。
中央処理装置230はZ軸出力値を最初に演算する場合、予め設定されたβの初期値を使用する。βの初期値はsinλを用いて設定できる。すなわち韓国の場合、sin53°≒0.8を用いてZ軸出力値を最初に演算することができる。
数式7において、ψは方位角を意味する。中央処理装置230は1次演算された結果値を図5のようなデータベースに代入して対応するβ値を読取る。
中央処理装置230は前述した数式4ないし6のうち1つに新たなβ値を代入してZ軸出力値を再演算する。この場合、β値以外の他の変数値は1次演算過程と同一の値に固定する。これにより、中央処理装置230は再演算されたZ軸出力値を数式7に代入して方位角を再演算する。同様に、Z軸出力値以外の他の変数値は1次演算過程と同一の値に固定する。
一方、中央処理装置230は地磁気検出モジュール210及びチルト検出モジュール220で次の出力値が検出されると、βの初期値を直前に使用したβ値によりアップデートする。すなわち、Z軸出力値を1次演算する過程において、直前方位角検出過程で使用したβ値を代入し演算することにより、方位角演算を行うたびにさらに最適のβ値が用いられるので、正確な方位角が測定できる。
これにより、正規化部260で所定範囲の値にマッピングする正規化作業を行なう(S615)。正規化作業は、前述した数式1を用いてなされる。
また、正規化されたX軸及びY軸フラックスゲート出力値、ピッチ角、及びロール角を用いて仮想のZ軸フラックスゲートの正規化された出力値を1次的に演算する(S625)。この場合、前述した数式4〜6のうち1つを用いて演算することができるが、演算負担を軽減するために最も簡単な数式である数式6を用いるのが望ましい。一方、Z軸出力値演算過程で使用されるβ値は既に設定された初期値を用いる。この場合、初期値は韓国の伏角値にsin関数を取った値に設定することができる。約0.8が使用可能である。
中央処理装置230は1次演算された方位角をメモリ240に保存されたデータベースに代入して対応するβ値を読み出す(S635)。このため、地磁気センサ200の製造メーカは方位角別に測定した最適β値を記録したデータベースを作製して、メモリ240に予め保存して置くべきである。
次いで、再演算されたZ軸出力値を用いて方位角を再演算する(S645)。同様に、Z軸出力値以外の変数値はそのまま固定する。
これにより、方位角再演算作業が製造メーカまたはユーザが既に設定した所定回数だけ実行されたかを確かめて(S650)、設定回数を超えたと判断した場合、最終演算された結果値をディスプレー画面上に表示させる(S655)。3回以上に設定した場合なら、2次演算された方位角に対応するβ値をメモリ240から再び読み出して(S635)、Z軸出力値及び方位角を3次演算する (S640、S645)。
120、 220 : チルト検出モジュール
130、 230 : 中央処理装置
140、 240 : メモリ
150、 250 : ディスプレー部
260 : 正規化部
Claims (20)
- 地磁気に対応する所定大きさの電気的信号値を出力する地磁気検出モジュールと、
所定の基準面上における傾斜角度であるチルト角を検出するチルト検出モジュールと、
伏角による地磁気影響を反映するための定数値を毎方位角別に予め設定して記録したデータベースを保存するメモリと、
前記定数値の初期値、前記電気的信号値、及び前記チルト角に基づいて方位角を1次演算した後、前記1次演算された方位角に対応する定数値を前記メモリから検出して前記検出された定数値に基づいて前記方位角を再演算する中央処理装置と、
を含むことを特徴とする地磁気センサ。 - 前記中央処理装置は、
前記方位角再演算作業が完了した後、前記定数値の初期値を前記検出された定数値にアップデートすることを特徴とする請求項1に記載の地磁気センサ。 - 前記中央処理装置は、
前記地磁気検出モジュール及び前記チルト検出モジュールにおいて前記電気的信号値及び前記チルト角をそれぞれ検出する毎に、前記アップデートされた定数値に基づいて前記方位角1次演算作業及び再演算作業を行なうことを特徴とする請求項2に記載の地磁気センサ。 - 前記中央処理装置は、
前記方位角再演算作業を予め設定された所定回数行なうことを特徴とする請求項3に記載の地磁気センサ。 - 前記地磁気検出モジュールは、
互いに直交する形態に作製され、所定の駆動信号に応じて誘導される磁気に対応する所定大きさの電気的信号をそれぞれ出力するX軸及びY軸フラックスゲートを含むことを特徴とする請求項1に記載の地磁気センサ。 - 前記X軸及び前記Y軸フラックスゲートから出力される前記電気的信号をそれぞれ所定範囲の値にマッピングする正規化作業を行なう正規化部と、
前記再演算された方位角を表示するディスプレー部をさらに含み、
前記中央処理装置は、前記正規化部で正規化された電気的信号値に基づいて前記方位角1次演算及び再演算作業を行うことを特徴とする請求項5に記載の地磁気センサ。 - 前記正規化部は、
に基づいて前記正規化作業を行なうことを特徴とする請求項6に記載の地磁気センサ。 - 前記チルト検出モジュールは、
互いに直交する形態に作製され、前記基準面に対する傾きに応じた所定大きさの電気的信号を出力するX軸及びY軸加速度センサと、
前記X軸及び前記Y軸加速度センサからそれぞれ出力される前記電気的信号を所定大きさの値にマッピングする正規化作業を行なうチルト正規化部と、
前記チルト正規化部で正規化された値を用いてピッチ角及びロール角を演算した後、前記ピッチ角及び前記ロール角を前記チルト角として出力するチルト演算部と、
を含むことを特徴とする請求項5に記載の地磁気センサ。 - 前記チルト演算部は、
に基づいて前記ピッチ角及び前記ロール角を演算することを特徴とする請求項8に記載の地磁気センサ。 - 前記中央処理装置は、
のうち1つの式を用いて仮想のZ軸フラックスゲートの出力値を演算した後、演算された結果値を用いて前記方位角を1次演算及び再演算することを特徴とする請求項1に記載の地磁気センサ。 - 前記中央処理装置は前記Z軸フラックスゲートの出力値を、
に代入して前記方位角を1次演算及び再演算することを特徴とする請求項10に記載の地磁気センサ。 - 伏角による地磁気影響を反映するための定数値を毎方位角別に予め設定して記録したデータベースを保存したメモリを含む地磁気センサの方位角測定方法において、
(a) 地磁気に対応する所定大きさの電気的信号値を出力する段階と、
(b) 前記電気的信号値の大きさを所定範囲にマッピングして正規化する段階と、
(c) 前記地磁気センサが所定の基準面に対して傾いた程度を示すチルト角を検出する段階と、
(d) 前記定数値の初期値、前記正規化された電気的信号値及び前記チルト角を用いて方位角を1次演算する段階と、
(e) 前記1次演算された方位角に対応する定数値を前記メモリから検出する段階と、
(f) 前記検出された定数値、前記正規化された電気的信号値、及び前記チルト角を用いて前記方位角を再演算する段階と、
を含むことを特徴とする地磁気センサの方位角測定方法。 - 前記方位角再演算作業が完了した後、前記定数値の初期値を前記検出された定数値にアップデートする段階をさらに含むことを特徴とする請求項12に記載の地磁気センサの方位角測定方法。
- 前記電気的信号値及び前記チルト角を検出する毎に、前記アップデートされた定数値を用いて前記方位角1次演算作業及び再演算作業を行なう段階をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の地磁気センサの方位角測定方法。
- 前記(e)ないし(f)段階を予め設定された所定回数だけ繰り返すことを特徴とする請求項14に記載の地磁気センサの方位角測定方法。
- 前記(a)段階は、
互いに直交する形態に作製されたX軸及びY軸フラックスゲートに所定の駆動信号を印加する段階と、
前記駆動信号に応じて前記X軸及びY軸フラックスゲートに誘導される磁気に対応する所定大きさの電気的信号値をそれぞれ検出する段階と、
を含むことを特徴とする請求項12に記載の地磁気センサの方位角測定方法。 - 前記(b)段階は、
(ただし、Xf及びYfはそれぞれX軸及びY軸フラックスゲート出力値、Xfnorm及びYfnormはそれぞれ正規化されたX軸及びY軸フラックスゲート出力値、Xfmax及びXfminはそれぞれXfの最大値及び最小値、Yfmax及びYfminはそれぞれYfの最大値及び最小値、αは定数である)
に基づいて前記正規化作業を行なうことを特徴とする請求項16に記載の地磁気センサの方位角測定方法。 - 前記(c)段階は、
互いに直交する形態に作製されたX軸及びY軸加速度センサから前記基準面に対する傾きに対応する所定大きさの電気的信号を検出する段階と、
前記X軸及び前記Y軸加速度センサからそれぞれ検出された前記電気的信号の大きさを所定範囲にマッピングして正規化する段階と、
前記正規化された値を
(前記数式において、θはピッチ角、φはロール角、Xtnormは正規化されたX軸加速度センサ出力値、Ytnormは正規化されたY軸加速度センサ出力値である)
に代入して前記ピッチ角及び前記ロール角を演算する段階と、
前記ピッチ角及び前記ロール角を前記チルト角として出力する段階と、
を含むことを特徴とする請求項12に記載の地磁気センサの方位角測定方法。 - 前記(d)段階及び前記(f)段階は、
(ただし、Zfnormは仮想のZ軸フラックスゲートの正規化された出力値、βは定数値、θはピッチ角、φはロール角、Xfnorm及びYfnormはそれぞれ正規化されたX軸及びY軸フラックスゲート出力値である)
のうち1つの式に基づいて仮想のZ軸フラックスゲートの出力値を演算する段階をさらに含むことを特徴とする請求項12に記載の地磁気センサの方位角測定方法。 - 前記(d)段階及び前記(f)段階は、
前記Z軸フラックスゲートの出力値を、
(ただし、ψは方位角、Xfnorm及びYfnormはそれぞれ正規化されたX軸及びY軸フラックスゲート出力値、Zfnormは仮想のZ軸フラックスゲートの正規化された出力値、θはピッチ角、それからφはロール角である)
に代入して前記方位角を演算する段階をさらに含むことを特徴とする請求項19に記載の地磁気センサ。
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KR100799536B1 (ko) * | 2005-11-08 | 2008-01-31 | 한국전자통신연구원 | 2축 지자계 센서의 경사각 오차를 보상하기 위한 가상축 지자계 데이터 추정 장치 및 그 방법과, 그를 이용한 방위각 산출 시스템 |
KR100655937B1 (ko) * | 2005-11-25 | 2006-12-11 | 삼성전자주식회사 | 방위각을 산출하는 지자기 센서 및 그 방법 |
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DE102009057258A1 (de) * | 2009-12-08 | 2011-06-09 | Embex Gmbh | Magnetfeldsensor und Verfahren zur Messung der horizontalen Komponente eines Magnetfelds |
EP2578992B1 (de) * | 2011-10-06 | 2017-01-25 | Vectronix AG | Geographisch nordreferenzierte Azimutbestimmung |
JP6215277B2 (ja) * | 2015-09-07 | 2017-10-18 | 京セラ株式会社 | 携帯機器、制御方法及び制御プログラム |
EP3926298A1 (fr) | 2020-06-17 | 2021-12-22 | ETA SA Manufacture Horlogère Suisse | Instrument de navigation avec compensation d'inclinaison et méthode associée |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5985910A (ja) | 1982-11-09 | 1984-05-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 磁界ベクトル検出方式 |
DE3422490A1 (de) | 1984-06-16 | 1985-12-19 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren zur korrektur von winkelfehlern bei einem elektronischen kompass in fahrzeugen |
GB2230097B (en) | 1987-04-14 | 1991-05-15 | Secr Defence | A roll-independent magnetometer system |
JPH07119612B2 (ja) * | 1989-01-13 | 1995-12-20 | 日産自動車株式会社 | 車両用走行方位検出装置 |
DE3937160A1 (de) | 1989-11-08 | 1991-05-16 | Bosch Gmbh Robert | Elektronischer kompass mit neigungswinkelkorrektur |
US5345382A (en) * | 1992-05-15 | 1994-09-06 | Zexel Corporation | Calibration method for a relative heading sensor |
JP3008813B2 (ja) * | 1995-04-07 | 2000-02-14 | ソニー株式会社 | 方位出力装置 |
JPH1123298A (ja) | 1997-07-01 | 1999-01-29 | Unisia Jecs Corp | 車両の変位角計測装置 |
JP4026937B2 (ja) | 1998-06-29 | 2007-12-26 | 古野電気株式会社 | 電子磁気コンパス |
KR100533106B1 (ko) * | 2002-08-06 | 2005-12-05 | 삼성전자주식회사 | 지자계 센서의 자세 오차 보상장치 및 방법 |
US6860023B2 (en) * | 2002-12-30 | 2005-03-01 | Honeywell International Inc. | Methods and apparatus for automatic magnetic compensation |
JP4381162B2 (ja) * | 2003-03-27 | 2009-12-09 | シチズンホールディングス株式会社 | 方位測定装置、方位測定方法、および方位測定プログラム |
KR100555656B1 (ko) * | 2003-08-27 | 2006-03-03 | 삼성전자주식회사 | 복각 검출 기능을 지원하는 지자기 센서 및 그 검출 방법 |
KR100568285B1 (ko) * | 2003-12-13 | 2006-04-05 | 삼성전기주식회사 | 틸트 보상형 전자 나침반의 복각 탐색 방법 |
KR100565794B1 (ko) | 2003-12-30 | 2006-03-29 | 삼성전자주식회사 | 기울기의 영향을 보상하여 방위각을 연산하는 지자기센서, 및 그 연산방법 |
KR100594971B1 (ko) * | 2004-01-09 | 2006-06-30 | 삼성전자주식회사 | 지자기 센서를 이용한 입력장치 및 이를 이용한 입력신호생성방법 |
KR100574506B1 (ko) * | 2004-02-26 | 2006-04-27 | 삼성전자주식회사 | 연산된 방위각의 오류여부를 표시하는 지자기센서 및 그방위각측정방법 |
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