JP2006138645A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 同一パッケージ101内に搭載されているメモリLSI103とロジックLSI105において、メモリLSI103のテストに関しては、ロジックLSI105に搭載されたCPU109とメモリLSI103との間をテスト用のプログラム127に基づいて通常動作と同様に動作させ、ロジックLSI105(特に論理回路107)のテストに関しては、SCAN回路113とBIST回路115を駆使して動作させて、メモリLSI103とロジックLSI105の双方に対して同時に有効なバーンインストレスを与える。
【選択図】 図1
Description
図1は、本発明の実施の形態1に係る半導体装置の構成を示すブロック図である。
実施の形態2は、メモリLSIおよびロジックLSIをバーンインするモードと、ロジックLSIのみをバーンインするモードとを有し、両モードを切り替えることができる機能を有する場合である。
実施の形態3は、実施の形態1または実施の形態2に係る半導体装置をCDMA受信機に適用した場合である。
101 パッケージ
103、315 メモリLSI
105、105a、317 ロジックLSI
107 論理回路
109、109a、313 CPU
111 メモリ制御部
113、201 SCAN回路
115、203 BIST回路
117 セレクタ
119 モード端子
121、125 外部端子
123 判定端子
127 テスト用プログラム
300 CDMA受信装置
301 受信アンテナ
303 高周波信号処理部
305 AD変換部
307 データ復調部
309 データ復号部
311 CODEC部
Claims (6)
- 所定の機能を有するロジックLSIと、前記ロジックLSIと接続され、データを記憶するメモリLSIとを同一パッケージ内に搭載する半導体装置において、
前記ロジックLSIは、前記所定の機能を有する論理回路と、データを受け取り各種の処理を行うとともに前記メモリLSIを制御するCPUとを有し、
前記論理回路は、LSI用のテスト回路を有し、かつ、バーンイン時、前記CPUと機能的に分離されており、
バーンイン時、前記CPUと前記メモリLSIの間ではテスト用のプログラムに基づいて通常動作と同様の動作を行わせ、前記論理回路は前記テスト回路を駆使して動作させる、ことを特徴とする半導体装置。 - 前記テスト用のプログラムは、あらかじめ前記メモリLSIに記憶されており、バーンイン時、前記CPUによって実行される、ことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 前記CPUは、バーンイン時の良否判定を前記テスト用のプログラム上で行い、判定結果を外部に出力する、ことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 前記CPUは、LSI用のテスト回路を有し、
メモリLSIおよびロジックLSIをバーンインするモードと、ロジックLSIのみをバーンインするモードとを選択可能に有する、ことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。 - 請求項1から請求項4のいずれかに記載の半導体装置を有することを特徴とするCDMA受信装置。
- 請求項5記載のCDMA受信装置を有することを特徴とする通信装置。
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