JP2006118989A - 電子スペックル干渉法を用いた振動の測定方法および測定装置 - Google Patents
電子スペックル干渉法を用いた振動の測定方法および測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006118989A JP2006118989A JP2004307264A JP2004307264A JP2006118989A JP 2006118989 A JP2006118989 A JP 2006118989A JP 2004307264 A JP2004307264 A JP 2004307264A JP 2004307264 A JP2004307264 A JP 2004307264A JP 2006118989 A JP2006118989 A JP 2006118989A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vibration
- light
- laser
- modulation signal
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
【解決手段】 変調信号により波長を変調できるレーザ2を光源とし、電子スペックル干渉法を利用して被計測物6の測定面6Aの振動を計測する方法であって、レーザ2からのレーザ光を分離して、一方を測定面に照射したその反射光と、他方の光からなる参照光とを重ね合わせて結像面で干渉画像群を順次形成し、干渉画像群を画像処理することによって振動縞画像Aを得、レーザ2への変調信号を変化させることによって、前記振動縞画像A上に生ずる最大輝点の変化を利用して、前記測定面での振動を計測する。
【選択図】 図1
Description
さらには、前記振動や共振等によって、前記精密機器や車載機器等の所望の性能そのものが損なわれたり、あるいは誤動作することもある。
また、振動は瞬時瞬時で微妙に変化するが、このような瞬時瞬時に微妙に変化するその時々の振動を正確に測定することは困難であり、非接触で二次元の振動パターンをリアルタイムで測定できるものがなかった。
前記レーザ光の波長を変化させることによって振動縞画像上に生ずる最大輝点を利用して、前記測定面での振動を計測することを特徴とする。
前記レーザのレーザ光の波長を変調させて、前記測定面の測定しようとする任意の位置に前記振動縞画像における最大輝点が位置するような状態に設定し、
前記設定したときのレーザ光の波長の変調信号の振幅の値と、予め求めた変調信号の振幅の値とそれに対応する測定面の振動振幅との相関関係とに基づいて、前記任意の位置での振動振幅を求めることを特徴とする。
レーザ光の波長を変調する変調信号の変調周波数を所定範囲で、この振動縞画像中の最大輝点の輝度の最大値が求まるまで変化させて、前記処理を繰り返して、当該最大値が求まったときの変調信号の変調周波数を、前記測定面の振動周波数として、該計測面の振動周波数を求めることを特徴とする。
レーザ光の波長が変化可能な前記レーザと、
波長を変化させる変調信号の振幅の値を変えることが可能な変調信号変更手段と、
前記レーザから発する光を分離して、その一方の光を前記測定面に照射してその反射光を得るとともに、もう一方の光を参照光として、これら反射光と参照光とを重ね合わせて、結像面上で干渉画像を結像させる、光学系と、
前記結像面上で結像させた干渉画像を撮像するTVカメラと、
前記干渉画像を時系列的に得た干渉画像群を画像処理して最大輝点を有する振動縞画像を得て、前記変調信号の振幅の値を変えることによって測定しようとする任意の位置に前記最大輝点が位置したときに、そのときの変調信号の振幅の値と測定面の振動振幅との相関関係と、該変調信号の振幅との値に基づいて、測定面の最大輝点が生じている位置の振動振幅を得る制御装置とを具備することを特徴とする。
変調信号を入力することによって波長が変調可能な前記レーザと、
前記変調信号の周波数を変えることが可能な変調信号変更手段と、
前記レーザから発する光を分離して、その一方の光を前記測定面に照射してその反射光を得るとともに、もう一方の光を参照光として、これら反射光と参照光とを重ね合わせて、結像面上で結像させる、光学系と、
前記結像面上で結像させた画像を撮像するTVカメラと、
前記変調信号の変調周波数を適宜範囲で変えて得た前記振動縞画像中の最大輝点の輝度の最大値を求め、最大値が求まったときの変調周波数を計測面の振動周波数とする制御装置とを具備することを特徴とする。
次に、レーザに入力する変調信号の変調周波数を所定範囲で変化させ、得られる振動縞画像中の最大輝点の輝度と、前記比較する最大値が一致するか否か比較し、一致するまで前記所定範囲で変調周波数を変化させて前記処理を繰り返し、一致したときの変調信号の変調周波数を、前記測定面の振動周波数として、該計測面の振動周波数を求めるように構成すると、前記一致したときの変調周波数を検知されすれば、その変調周波数が、測定面における振動周波数となり、このように計測面の振動周波数を、非接触で且つリアルタイムで、しかも正確に求めることができる。
Dc +Lcos (2πft+φ)
θ(t)=2πg−−−−−−−−−−−−−−−−・・・式(1)
λc +Mcos 2πfm t
で表されるが、ここで前記「M」の値を小さくしてゆくと、TVカメラの蓄積時間内での位相の変化量が小さくなり、この結果、変調周波数の変化に伴う最大輝点の輝度の変化が図5に図示するように緩やかになることから、変調周波数と振動周波数が相違していても、最大輝点の輝度の最大値となる変調周波数(図5の「Z」で示す位置での変調周波数)を容易に見落とすことなく見つけることが可能となる。なお、前記式(1)において、分数の分子の項は、計測面からの反射光と参照光との光路差で、分数の分母の項は時間と共に変化する波長を示す。また、「Dc 」は振動しないときの光路差、「λc 」は変調しないときの波長、「L」は振動振幅、「M」は変調振幅、「f」は振動周波数、「fm 」は変調周波数、「φ」は振動と変調信号間の位相差、「g」は定数を、それぞれ表す。
また、前記ファンクションジェネレータ3は、前記制御装置4と制御線L2を介して接続されて、このファンクションジェネレータ3から制御装置4へ、前記変調信号の変調振幅の値あるいは変調周波数の値が伝達されるよう構成されている。
そして、この制御装置4の図示しないメモリ(記憶装置)内には、図4に図示するような、前記変調振幅の値と計測面6Aの振動振幅Lとの相関関係に関するテーブルが記憶されている。また、前記ファンクションジェネレータ3から、前記信号線L2を介して、前記変調信号の変調周波数が前記制御装置4へ伝達され、この変調周波数により、半導体レーザ2の光の波長を変化させているそのときの変調周波数がこの制御装置4で判るように構成されている。
そして、制御装置4で前記干渉画像を時系列的に蓄積してたものについて後述する画像処理がなされて、図2に図示するような振動縞画像Aが得られ、この振動縞画像Aは前記映像モニター10に表示される。
図1の被計測体6の計測面6Aがその中心線CLで表される部分を中心に振動している状態において、図1に図示するように、その部分に向けて、半導体レーザ2のレーザ光を照射する。この照射された光は、前記第1のビームスプリッター5で二つの光に分離されて、その内の一方の光は、前記計測面6Aに照射され、この面に当たって反射し、この反射した反射光は、前記凸レンズ7を通過することによって収束され、該通過した光は、前記第2のビームスプリッター9に入射される。一方、前記第1のビームスプリッター5で分離したもう一方の光は、前記NDフィルター8を通過して、ここで、反射光に対応するようパワーが低減した参照光が、前記第2のビームスプリッター9に入射して、前記計測面6Aで反射した反射光と重ね合わされる。そして、このように重ね合わされた光は、前記TVカメラ1のレンズに入射して、該TVカメラ1の結像面で、干渉画像を形成する。
そして、前記読み取られた変調振幅の値に基づいて、前記メモリに記憶している「変調振幅の値と計測面の振動振幅Lとの相関関係を表した」テーブル (図4参照)から、その変調信号の変調振幅の値に対応する計測面の振動振幅Lを得ることができる。その結果、振動状態にある計測面6Aの任意の位置である、移動させた最大輝点Amax の位置の振動振幅Lを非接触で且つリアルタイムで得ることができる。
そして、このように変調周波数を変化させて得た振動縞画像Aにおける最大輝点Amax の輝度を、前記制御装置4に記憶している前記最大輝点Amax 1 の最大値と一致するか否か該制御装置4において比較演算する。
前記比較演算の結果、一致していない場合には、前記半導体レーザ2への変調信号の変調周波数の所定範囲の該範囲を変えて、上記同様の手順で処理して、再び、得られた振動縞画像Aにおける最大輝点Amax の輝度が、前記記憶している最大輝点Amax 1 の最大値と一致するか否か比較する。このように変調信号の変調周波数を前記所定範囲内で順次変えてゆくと、振動縞画像Aの全体の輝度が種々変化してゆく。
このような処理は、前記手順を経て得られる振動縞画像Aにおける最大輝点Amax の輝度が、前記記憶している最大輝点Amax 1 の最大値と一致するまで、変調信号の変調周波数を変えておこなわれる。
Amax …振動縞画像の最大輝点
2…半導体レーザ
6…被計測物
6A…計測面
L…振動振幅
Claims (8)
- レーザを光源とし、このレーザ光を分離して、該分離した一方を前記測定面に照射して得たその反射光と、該分離したもう一方の光からなる参照光とを重ね合わせて、結像面上で干渉画像を形成し、時系列で蓄積した前記干渉画像群を画像処理することによって振動縞画像を得て被測定物の振動を計測する電子スペックル干渉法において、
前記レーザ光の波長を変化させることによって振動縞画像上に生ずる最大輝点を利用して、前記測定面での振動を計測することを特徴とする方法。 - レーザを光源とし、このレーザ光を分離して、該分離した一方を前記測定面に照射して得たその反射光と、該分離したもう一方の光からなる参照光とを重ね合わせて、結像面上で干渉画像を形成し、時系列で蓄積した前記干渉画像群を画像処理することによって振動縞画像を得て被測定物の振動を計測する電子スペックル干渉法において、
前記レーザのレーザ光の波長を変調させて、前記測定面の測定しようとする任意の位置に前記振動縞画像における最大輝点が位置するような状態に設定し、
前記設定したときのレーザ光の波長の変調信号の振幅の値と、予め求めた変調信号の振幅の値とそれに対応する測定面の振動振幅との相関関係とに基づいて、前記任意の位置での振動振幅を求めることを特徴とする方法。 - 前記予め求めた変調信号の振幅の値とそれに対応する測定面の振動振幅との相関関係が、テーブルの形態あるいは関数の形態で記憶させておき、この記憶されているテーブルあるいは関数から、前記振動振幅を求めるよう構成したことを特徴とする請求項2記載の方法。
- レーザを光源とし、電子スペックル干渉法を利用して被計測物の測定面の振動を計測する振動測定装置であって、
この振動測定装置が、
レーザ光の波長が変化可能な前記レーザと、
波長を変化させる変調信号の振幅の値を変えることが可能な変調信号変更手段と、
前記レーザから発する光を分離して、その一方の光を前記測定面に照射してその反射光を得るとともに、もう一方の光を参照光として、これら反射光と参照光とを重ね合わせて、結像面上で干渉画像を結像させる、光学系と、
前記結像面上で結像させた干渉画像を撮像するTVカメラと、
前記干渉画像を時系列的に得た干渉画像群を画像処理して最大輝点を有する振動縞画像を得て、前記変調信号の振幅の値を変えることによって測定しようとする任意の位置に前記最大輝点が位置したときに、そのときの変調信号の振幅の値と測定面の振動振幅との相関関係と、該変調信号の振幅との値に基づいて、測定面の最大輝点が生じている位置の振動振幅を得る制御装置とを具備することを特徴とする振動測定装置。 - レーザを光源とし、このレーザ光を分離して、該分離した一方を前記測定面に照射して得たその反射光と、該分離したもう一方の光からなる参照光とを重ね合わせて、結像面上で干渉画像を形成し、時系列で蓄積した前記干渉画像群を画像処理することによって振動縞画像を得て被測定物の振動を計測する電子スペックル干渉法において、
レーザ光の波長を変調する変調信号の変調周波数を所定範囲で、この振動縞画像中の最大輝点の輝度の最大値が求まるまで変化させて、前記処理を繰り返して、当該最大値が求まったときの変調信号の変調周波数を、前記測定面の振動周波数として、該計測面の振動周波数を求めることを特徴とする方法。 - 請求項5記載の最大輝点の輝度の最大値を求めるための振動計測方法であって、
前記レーザに変調信号を入力することなしに得た、前記振動縞画像中の最大輝点の輝度を、比較する最大値として予め求めておき、
次に、レーザに入力する変調信号の変調周波数を所定範囲で変化させ、得られる振動縞画像中の最大輝点の輝度と、前記比較する最大値が一致するか否か比較し、一致するまで前記所定範囲で変調周波数を変化させて前記処理を繰り返し、一致したときの変調信号の変調周波数を、前記測定面の振動周波数として、該計測面の振動周波数を求めることを特徴とする方法。 - 前記変調信号の変調周波数を所定範囲で変化させて干渉画像群を得る際に、前記変調信号の振幅を小さくすることを特徴とする請求項5記載の方法。
- 請求項5記載の計測面の振動を計測する方法を実施するための振動測定装置であって、 この振動測定装置が、
変調信号を入力することによって波長が変調可能な前記レーザと、
前記変調信号の周波数を変えることが可能な変調信号変更手段と、
前記レーザから発する光を分離して、その一方の光を前記測定面に照射してその反射光を得るとともに、もう一方の光を参照光として、これら反射光と参照光とを重ね合わせて、結像面上で結像させる、光学系と、
前記結像面上で結像させた画像を撮像するTVカメラと、
前記変調信号の変調周波数を適宜範囲で変えて得た前記振動縞画像中の最大輝点の輝度の最大値を求め、最大値が求まったときの変調周波数を計測面の振動周波数とする制御装置とを具備することを特徴とする振動測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004307264A JP4378503B2 (ja) | 2004-10-21 | 2004-10-21 | 電子スペックル干渉法を用いた振動の測定方法および測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004307264A JP4378503B2 (ja) | 2004-10-21 | 2004-10-21 | 電子スペックル干渉法を用いた振動の測定方法および測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006118989A true JP2006118989A (ja) | 2006-05-11 |
JP4378503B2 JP4378503B2 (ja) | 2009-12-09 |
Family
ID=36537010
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004307264A Expired - Fee Related JP4378503B2 (ja) | 2004-10-21 | 2004-10-21 | 電子スペックル干渉法を用いた振動の測定方法および測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4378503B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2457976A (en) * | 2008-02-28 | 2009-09-02 | Statoilhydro Asa | Laser interferometry for seismic exploration |
CN1948949B (zh) * | 2006-11-10 | 2010-07-07 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于正弦相位调制的单光源激振测振仪 |
US7933003B2 (en) | 2004-08-04 | 2011-04-26 | Statoil Asa | Method and apparatus for studying surface vibrations by moving speckle interferometer |
US8498176B2 (en) | 2005-08-15 | 2013-07-30 | Statoil Asa | Seismic exploration |
US10466032B2 (en) | 2015-11-16 | 2019-11-05 | Optonor As | Optical interferometry |
CN111247401A (zh) * | 2018-12-10 | 2020-06-05 | 合刃科技(深圳)有限公司 | 基于相干光的振动源定位装置及方法 |
-
2004
- 2004-10-21 JP JP2004307264A patent/JP4378503B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7933003B2 (en) | 2004-08-04 | 2011-04-26 | Statoil Asa | Method and apparatus for studying surface vibrations by moving speckle interferometer |
US8498176B2 (en) | 2005-08-15 | 2013-07-30 | Statoil Asa | Seismic exploration |
CN1948949B (zh) * | 2006-11-10 | 2010-07-07 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于正弦相位调制的单光源激振测振仪 |
GB2457976A (en) * | 2008-02-28 | 2009-09-02 | Statoilhydro Asa | Laser interferometry for seismic exploration |
GB2457976B (en) * | 2008-02-28 | 2012-01-25 | Statoilhydro Asa | Improved interferometric methods and apparatus for seismic exploration |
AU2009219993B2 (en) * | 2008-02-28 | 2013-08-29 | Statoil Petroleum As | Improved interferometric methods and apparatus for seismic exploration |
US8797549B2 (en) | 2008-02-28 | 2014-08-05 | Statoil Petroleum As | Interferometric methods and apparatus for seismic exploration |
US10466032B2 (en) | 2015-11-16 | 2019-11-05 | Optonor As | Optical interferometry |
CN111247401A (zh) * | 2018-12-10 | 2020-06-05 | 合刃科技(深圳)有限公司 | 基于相干光的振动源定位装置及方法 |
CN111247401B (zh) * | 2018-12-10 | 2022-04-01 | 合刃科技(深圳)有限公司 | 基于相干光的振动源定位装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4378503B2 (ja) | 2009-12-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10724960B2 (en) | Inspection system and inspection method | |
KR101605386B1 (ko) | 측정 물체 표면 위에서 3d 좌표들을 결정하기 위한 광학 측정 방법 및 측정 시스템 | |
TWI448681B (zh) | 物件之二維與三維光學檢視方法及設備與物件之光學檢視資料的取得方法及設備 | |
CA2981970C (en) | Shape measurement apparatus and shape measurement method | |
KR100752758B1 (ko) | 영상 측정 장치 및 그 방법 | |
EP2327956B1 (en) | Method and apparatus for determining the height of a number of spatial positions on a sample | |
US10466032B2 (en) | Optical interferometry | |
CN109564089B (zh) | 测量装置 | |
KR100740249B1 (ko) | 영상 측정 장치 및 그 방법 | |
US20190063898A1 (en) | Method and system for monitoring parameters of a moving object | |
KR102345277B1 (ko) | 삼차원 계측장치 | |
US6924888B2 (en) | Process and apparatus for recording the deformation of objects | |
JP2005189069A (ja) | 表面形状測定方法及び表面形状測定装置 | |
JP4378503B2 (ja) | 電子スペックル干渉法を用いた振動の測定方法および測定装置 | |
JP5122729B2 (ja) | 3次元形状測定方法 | |
WO2016024487A1 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム | |
JP6998156B2 (ja) | 画像処理装置、及びプログラム | |
WO2013035847A1 (ja) | 形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、形状測定プログラム、コンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
JP2015152379A (ja) | 斜入射干渉計 | |
JP2006329807A (ja) | 画像処理方法およびこれを用いた装置 | |
JP2014199361A (ja) | 検査装置及びレーザ加工装置 | |
JP2020153992A (ja) | 白色干渉計による形状測定装置 | |
JP2017026494A (ja) | 白色干渉計による形状測定装置 | |
JP2007071817A (ja) | 二光束干渉計及び同干渉計を用いた被測定物の形状測定方法 | |
TW201344147A (zh) | 影像處理系統及其方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070906 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20080527 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20080527 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090127 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090224 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090420 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090519 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090716 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090811 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090825 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121002 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121002 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131002 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |