JP2006085907A - 電源装置及び半導体製造装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 電源装置21は、電力フィードバック部23と温度制御部24とを備え、これらによって交流電源1からヒータ7に電力を供給するように構成されている。ヒータ供給電力制御時は、温度制御部24から回線100を介して電力フィードバック部23に温度制御信号を送り、電力フィードバック部23はこの温度制御信号に電力制御信号を重畳して電力調整用サイリスタ回路5を制御する。ヒータ劣化判定時は、電力フィードバック部23から温度制御部24に測定電流及び測定電圧を送り、温度制御部24は、この測定電流と測定電圧とに基づいて求めたヒータ抵抗と、測定温度と抵抗温度係数とに基づいて求めたヒータの基準時の抵抗とに基づいてヒータ7の劣化を判定する。
【選択図】 図1
Description
ヒータが断線すると、加熱炉で正常な熱処理ができなくなり、基板のロット不良を出してしまう等、生産性に影響が出るという問題があった。特に半導体製造装置の縦型炉にあっては、一度に処理する被処理体の数が大量であるため影響は大きかった。これを補うために、予備のヒータを準備して、定期交換しているが、ヒータの寿命判断が甘いため、寿命予測範囲期間内で断線するという問題点もある。
本発明によれば、ヒータの劣化の程度を割り出すことが可能となるので、ヒータの断線を早期に予知することができる。
本発明によれば、ヒータの抵抗温度係数からヒータの基準時の抵抗を求め、これとヒータ抵抗とを比較するだけで、ヒータの劣化の程度を割り出すことができるので、ヒータの断線を容易に予知することができる。
図1に示すように、交流電源(例えば商用電源)1からヒータ7に電力を供給する電源装置21は、その入力端に交流電源1に接続する受電端子台2を備え、その出力端にヒータ7に接続する分配用端子台6とを備える。交流電源1は、例えば周波数50/60Hz、AC200Vの商用電源である。ヒータ7は、例えばニケイ化モリブデン製の抵抗加熱ヒータである。
したがって、ヒータ7には、温度変動と電力変動とが加味された補正電力が供給されるために、ヒータ7にはより安定した電力が供給される。
前記プログラムメモリ91は、演算で求めたヒータ抵抗を蓄積していくためのメモリを構成する。また、前記プログラムメモリ92は、ヒータの基準時の抵抗を演算するための抵抗温度係数、及び演算で求めたヒータの基準時の抵抗を記憶するメモリを構成する。
上述したCPU90が本発明の割出手段を構成する。
ここで、ヒータ7の劣化の程度を割り出す原理について説明する。ヒータ7の抵抗Rは、例えばヒータ7を構成する金属素線の抵抗温度係数ρを1/℃(at 20℃)(Ω・m)、長さlを1000mとし、素線半径を1mmとすると、断面積Sは3.14×10-6(m2)となるから、
R=ρ×l/Sより、
R(20℃)=1(Ω・m)×1000(m)/3.14×10-6(m2)=3.185×108(Ω)となる。
R’=1(Ω・m)×1000(m)/(0.0008×0.0008×3.14)(m2)=4.976×108(Ω)となる。
このため、ヒータ7の理論的な抵抗に対する、ヒータ7の実際の抵抗の変化に基づいて、ヒータ7の劣化の程度を割り出すことが可能となる。
なお、プログラムメモリ92に、ヒータ7の温度−抵抗特性を記憶してルックアップテーブル化しておくことで、CPU90においてヒータ7の理論的な抵抗を算出するという作業をしなくて済むようにしてもよい。
本実施の形態では、後述する数式と上記情報とに基づいて、ヒータ7の劣化の程度を割り出すようにしている。
まず、交流電源1の交流電圧をヒータ7に印加して、ヒータ7を例えば800℃に向けて加熱する(ステップS1)。具体的には、交流電源1からヒータ7に対して交流電圧を印加する際に、電力フィードバック部23、温度制御部24で電力調整用サイリスタ回路5をオンしておき、交流電源1の交流電圧を、電源トランス4でヒータ7で使用可能な電圧に変換してから印加することによってヒータ7を加熱する。この状態をアイドル状態(スタンバイ状態)という。
ヒータ7が例えば800℃(測定温度T℃)に達した場合には、ヒータ7に印加されている電圧のレベルを、電圧測定ライン17によって測定する(ステップS3)。
上述したヒータ電圧、ヒータ電流、ヒータ温度などのヒータの変動(劣化等)はリアルタイムで監視される。
R=ρT×l/S
と示すことができる。
R’=V/I
と示すことができる。
変化率=(R−R’)/R×100(%)
7 ヒータ
5 電力調整用サイリスタ回路(電力調整器)
8 熱電対(温度センサ)
9 温度調節計
16 電力フィードバック回路
17 電圧測定ライン
18 カレントトランス
21 電源装置
23 電力フィードバック部
24 温度制御部
100 通信回線
Claims (3)
- 交流電源からヒータに電力を供給しつつ、ヒータの劣化を判定する電源装置において、
前記交流電源から制御信号に応じた電力を前記ヒータに供給する電力調整器と、
前記ヒータに供給される電流及び電圧を測定し、測定電流及び測定電圧に応じた電力制御信号を前記電力調整器に与えて、該電力調整器を制御する電力フィードバック部と、
前記ヒータの温度を測定し、測定温度に応じた温度制御信号を前記電力調整器に与えて、該電力調整器を制御することが可能な温度制御部とを備え、
前記電力フィードバック部と前記温度制御部とは回線で接続され、
ヒータ供給電力制御時は、前記温度制御部から前記電力フィードバック部に温度制御信号を送り、前記電力フィードバック部は前記温度制御信号を前記電力制御信号で補正した補正制御信号で電力調整器を制御するようにし、
ヒータ劣化判定時は、前記電力フィードバック部から前記温度制御部に前記測定電流及び前記測定電圧を送り、前記温度制御部は、前記測定電流と前記測定電圧とに基づいて求めたヒータ抵抗と、前記測定温度と抵抗温度係数とに基づいて求めたヒータの基準時の抵抗とに基づいて前記ヒータの劣化を判定するようにしたものである
ことを特徴とする電源装置。 - 前記温度制御部は、
前記ヒータの基準時の抵抗を演算するための抵抗温度係数を記憶するメモリと、
前記測定電流と前記測定電圧とに基づいて前記ヒータ抵抗を求め、前記測定温度と前記メモリに記憶してある抵抗温度係数とに基づいて前記ヒータの基準時の抵抗を演算し、前記ヒータの基準時の抵抗と前記ヒータ抵抗とに基づいて当該ヒータの劣化の程度を割り出す割出手段と
を備えることを特徴とする請求項1に記載の電源装置。 - 請求項1又は請求項2に記載の電源装置を備えた半導体製造装置。
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