JP2006085907A - 電源装置及び半導体製造装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 ヒータの断線を早期に予知し、基板のロットアウトを防止する。
【解決手段】 電源装置21は、電力フィードバック部23と温度制御部24とを備え、これらによって交流電源1からヒータ7に電力を供給するように構成されている。ヒータ供給電力制御時は、温度制御部24から回線100を介して電力フィードバック部23に温度制御信号を送り、電力フィードバック部23はこの温度制御信号に電力制御信号を重畳して電力調整用サイリスタ回路5を制御する。ヒータ劣化判定時は、電力フィードバック部23から温度制御部24に測定電流及び測定電圧を送り、温度制御部24は、この測定電流と測定電圧とに基づいて求めたヒータ抵抗と、測定温度と抵抗温度係数とに基づいて求めたヒータの基準時の抵抗とに基づいてヒータ7の劣化を判定する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、ヒータに電力を供給する電源装置、及びそれを搭載した半導体製造装置に関するものである。
図5に従来のヒータ用の電源装置の構成を示す。ヒータ用の電源装置20は、その入力端に交流電源1に接続される受電端子台2を持ち、その出力端にヒータ7に接続される分配用端子台6を持つ。受電端子台2と分配用端子台6との間に、電源ブレーカ3、電源トランス4、電力調整器としての電力調整用サイリスタ回路5が接続される。ヒータ7に温度測定用熱電対8が設けられる。
交流電源1を受電端子台2で受電し、電源ブレーカ3を通して、電源トランス4に電力を供給する。電源トランス4で変圧された電力は、電力調整用サイリスタ回路5で制御され、分配用端子台6からヒータ7に供給される。これによりヒータ7が加熱されて、ヒータ7の温度が変化する。このヒータ温度は熱電対8によって測定されて温度調節計9に入力される。温度調節計9は、熱電対8で測定された測定温度と設定温度との差を求め、その温度差に応じてヒータ7に供給すべき電力量を演算する。この演算結果は位相制御量に換算されて、温度調節計9から電力調整用サイリスタ回路5に制御信号として出力される。電力調整用サイリスタ回路5は、その制御信号のタイミングに応じた電力をヒータ7に供給する。
しかし、従来の技術は、ヒータの断線を検知する方法として、ヒータの電流を監視するしかなく、ヒータを断線前に交換するためには、せいぜい、ヒータの材料、使用時の環境により判断するしかなかった。
ヒータが断線すると、加熱炉で正常な熱処理ができなくなり、基板のロット不良を出してしまう等、生産性に影響が出るという問題があった。特に半導体製造装置の縦型炉にあっては、一度に処理する被処理体の数が大量であるため影響は大きかった。これを補うために、予備のヒータを準備して、定期交換しているが、ヒータの寿命判断が甘いため、寿命予測範囲期間内で断線するという問題点もある。
本発明の課題は、上述した従来技術の問題点を解消して、ヒータの断線を早期に予知し、基板のロットアウトを防止することが可能な電源装置及びそれを搭載した半導体製造装置を提供することにある。
第1の発明は、交流電源からヒータに電力を供給しつつ、ヒータの劣化を判定する電源装置において、前記交流電源から制御信号に応じた電力を前記ヒータに供給する電力調整器と、前記ヒータに供給される電流及び電圧を測定し、測定電流及び測定電圧に応じた電力制御信号を前記電力調整器に与えて、該電力調整器を制御する電力フィードバック部と、前記ヒータの温度を測定し、測定温度に応じた温度制御信号を前記電力調整器に与えて、該電力調整器を制御することが可能な温度制御部とを備え、前記電力フィードバック部と前記温度制御部とは回線で接続され、ヒータ供給電力制御時は、前記温度制御部から前記電力フィードバック部に温度制御信号を送り、前記電力フィードバック部は前記温度制御信号を前記電力制御信号で補正した補正制御信号で電力調整器を制御するようにし、ヒータ劣化判定時は、前記電力フィードバック部から前記温度制御部に前記測定電流及び前記測定電圧を送り、前記温度制御部は、前記測定電流と前記測定電圧とに基づいて求めたヒータ抵抗と、前記測定温度と抵抗温度係数とに基づいて求めたヒータの基準時の抵抗とに基づいて前記ヒータの劣化を判定するようにしたものであることを特徴とする電源装置である。
本発明によれば、ヒータの劣化の程度を割り出すことが可能となるので、ヒータの断線を早期に予知することができる。
第2の発明は、第1の発明において、前記温度制御部は、前記ヒータの基準時の抵抗を演算するための抵抗温度係数を記憶するメモリと、前記測定電流と前記測定電圧とに基づいて前記ヒータ抵抗を求め、前記測定温度と前記メモリに記憶してある抵抗温度係数とに基づいて前記ヒータの基準時の抵抗を演算し、前記ヒータの基準時の抵抗と前記ヒータ抵抗とに基づいて当該ヒータの劣化の程度を割り出す割出手段とを備えることを特徴とする電源装置である。
本発明によれば、ヒータの抵抗温度係数からヒータの基準時の抵抗を求め、これとヒータ抵抗とを比較するだけで、ヒータの劣化の程度を割り出すことができるので、ヒータの断線を容易に予知することができる。
第3の発明は、第1又は第2の発明の電源装置を備えた半導体製造装置である。ヒータ劣化判定機能を有する第1又は第2の発明の電源装置を備えているので、基板のロットアウトを防止することができる。
本発明によれば、ヒータの断線を早期に予知し、基板のロットアウトを防止することができる。
以下に本実施の形態による電源装置を説明する。
図1に示すように、交流電源(例えば商用電源)1からヒータ7に電力を供給する電源装置21は、その入力端に交流電源1に接続する受電端子台2を備え、その出力端にヒータ7に接続する分配用端子台6とを備える。交流電源1は、例えば周波数50/60Hz、AC200Vの商用電源である。ヒータ7は、例えばニケイ化モリブデン製の抵抗加熱ヒータである。
受電端子台2には、電源ブレーカ3が接続され、さらに必要に応じて電源トランス4が接続される。交流電源1を受電端子台2で受電し、電源ブレーカ3を通して、電源トランス4に電力を供給するようになっている。この電源トランス4は、ヒータ7の仕様により、使われない場合もある。なお、電源装置によっては、ヒータ7を複数の領域に分割して個別に電力制御が可能なように、電力調整用サイリスタ回路5を複数用意しているものある。
電源トランス4の2次側には、さらに電力調整器としての電力調整用サイリスタ回路5と、電力フィードバック部23と、温度制御部24とを備える。電源トランス4で変圧された電力は、電力フィードバック部23により制御される電力調整用サイリスタ回路5へ供給され、分配用端子台6に接続されたヒータ7に加えられるようになっている。
電力調整用サイリスタ回路5は、電力フィードバック部23からの指令に基づいた電力をヒータ7に供給する。この電力調整用サイリスタ回路5は、電力フィードバック部23から加えられる制御信号の周波数に応じた交流電力をヒータ7に供給する。
電力フィードバック部23は、ヒータ7の状態を監視しながら電力変動を補正する。この電力フィードバック部23は、電力調整用サイリスタ回路5の出力線間電圧(ヒータ電圧)を測定する電圧測定ライン17と、ヒータ7に流れるヒータ電流を測定するカレントトランス18と、電力変動を検出する電力フィードバック回路16とを有する。電力変動を検出する電力フィードバック回路16は、電圧測定ライン17で測定した測定電圧と設定電圧との差、及びカレントトランス18で測定した測定電流と設定電流との差を求める。これらの差が電力変動となる。この電力変動に応じて、ヒータ7に供給すべき電力量を演算し、その演算結果を電力調整用サイリスタ回路5に電力制御信号としてフィードバック出力する。また、電力フィードバック部23は、温度調節計9と通信回線100で接続されて、温度調節計9からの通信により、ヒータ温度をコントロールする温度制御信号を受け取り、この温度制御信号を電力制御信号で補正し、この補正した制御信号を電力調整用サイリスタ回路5に出力する。
温度制御部24は、温度調整機能と断線予知機能とを有する。温度調整機能は、ヒータ7の温度変動を検出して、その変動に応じた温度制御信号を電力フィードバック回路16に出力することによって、ヒータ7の温度をコントロールする。断線予知機能は、電力フィードバック部23で測定したヒータ電圧、ヒータ電流を受け取り、これらと温度制御部24で測定したヒータ温度の3要素を、ヒータ固有のデータとを比較することによって、ヒータ7の劣化を検出して断線の予知を行う。
温度調整機能を実現するために、温度制御部24は、温度センサとしての熱電対8と、ヒータ温度を調節するための温度調節計9とを有する。熱電対8は、ヒータ7の近傍に設けられ、熱起電力によりヒータ温度を測定する。熱電対8は、ヒータ7が複数に分割されいれば、各ヒータ毎に設けられる。温度調節計9は、熱電対8で測定されたヒータ7の測定温度と設定温度との温度差(温度変動)を求める。この温度差に応じて、ヒータ7に供給すべき電力量を演算し、電力フィードバック回路16を介して、電力調整用サイリスタ回路5に演算結果としての温度制御信号としてフィードバック出力する。また、温度調節計9は、温度異常やヒータ劣化等を検出したときは、アラームを出力する。
また、断線予知機能を実現するために、温度制御部24は、電力フィードバック部23と通信回線100で接続され、電力フィードバック部23で測定したヒータ電圧及びヒータ電流を受け取り、これらと温度制御部24で測定したヒータ温度との3要素を、ヒータ固有のデータとを比較することによって、ヒータ7の劣化を検出して断線の予知を行い、その結果をアラーム出力とする。
つぎに、図2を用いて、ヒータ7を制御する電力フィードバック回路16及び温度調節計9とについて具体的な説明を行う。
図2においては、ヒータ7を3つの分割ヒータ7a、7b、7cに分割して制御する場合を示す。これに応じて3つの電力調整用サイリスタ回路5a、5b、5cが設けられる。また、3つのカレントトランス18a、18b、18c、3つの電圧測定ライン17a、17b、17c、及び3つの熱電対8a、8b、8cが設けられる。
電力フィードバック回路16は、CPU161、プログラムメモリ162、複数のアナログ信号をデジタル信号に変換するマルチA/Dユニット163、複数のデジタル信号をアナログ信号に変換するマルチD/Aユニット164を備える。また、CPU161と、温度調節計9のCPU90とが通信回線100で接続されて、電力フィードバック回路16と温度調節計9との間でCPU間通信が可能になっている。
電力フィードバック回路16は、3つのカレントトランス18a、18b、18c、及び3つの電圧測定ライン17a、17b、17cで測定した測定電圧及び測定電流(いずれもアナログ信号)をマルチA/Dユニット163に取り込み、測定電圧及び測定電流をデジタル信号に変換して、CPU161に入力する。CPU161は、これらのデジタル信号から測定電力を求めた上で、プログラムメモリ162に予めプログラムされた電力プロフィールに基づく設定電力と前記測定電力とを比較して、ヒータ7に供給すべき電力量を演算し、その演算結果をマルチD/Aユニット164に入力して、アナログ信号に変換する。電力フィードバック回路16は、このアナログ信号を電力制御信号として、電力調整用サイリスタ回路5a、5b、5cに出力する。
このように電力フィードバック回路16から電力調整用サイリスタ回路5にフィードバック制御を行い、これにより、ヒータ7に加えられる電力変動が抑制されるために、ヒータ7には安定した電力が供給される。
また、電力フィードバック回路16は、CPU間通信により、温度調節計9のCPU161から温度制御信号を受け取り、CPU161はこの温度制御信号の指令値に電力制御信号の電力量を併せた補正演算を行い、その補正演算結果をマルチD/Aユニット164でアナログ信号に変換し、補正制御信号として電力調整用サイリスタ回路5a、5b、5cにフィードバック出力する。
したがって、ヒータ7には、温度変動と電力変動とが加味された補正電力が供給されるために、ヒータ7にはより安定した電力が供給される。
他方、温度調節計9は、CPU90、プログラムメモリ91、92と、マルチA/Dユニット93、及びマルチD/Aユニット94を備える。マルチA/Dユニット93は、熱電対8a、8b、8cで測定した3つの測定温度(アナログ信号)と、これに対応した3つの設定温度Ta、Tb、Tc(アナログ信号)を、それぞれデジタル信号に変換する。マルチD/Aユニット94は、複数(3つ)のデジタル信号を複数のアナログ信号に変換する。また、CPU90及びCPU161と上位装置等とを接続する上位通信ユニット94と、ヒータ7a、7b、7cの個別発停が可能なアラームを出力するDO(ディスクリート・アウトプット)出力回路95とを備える。
前記プログラムメモリ91は、演算で求めたヒータ抵抗を蓄積していくためのメモリを構成する。また、前記プログラムメモリ92は、ヒータの基準時の抵抗を演算するための抵抗温度係数、及び演算で求めたヒータの基準時の抵抗を記憶するメモリを構成する。
温度調節計9は、熱電対8a、8b、8cで測定した測定温度と、これらに対応した設定温度Ta、Tb、TcとをマルチA/Dユニット93で受け取り、これらのアナログ信号をデジタル信号に変換する。CPU90は、デジタル変換された測定温度と設定温度との温度差を計算する。この温度差に応じて、CPU90は、ヒータ7に供給するべき電力量をPID演算等で計算し、電力フィードバック回路16のCPU16へCPU間通信で計算結果を温度制御信号として出力する。電力フィードバック回路16のCPU16は、温度調節計9からの温度制御信号をマルチD/Aユニット164でアナログ信号に変換する。電力フィードバック回路16は、このアナログ信号を制御信号として、電力調整用サイリスタ回路5a、5b、5cに出力する。温度差に応じた電力がヒータ7a、7b、7cに供給されることにより、ヒータ7a、7b、7cの温度が変化する。
このようにヒータ7(ヒータ7a〜7c)に対して必要数の熱電対8(8a〜8c)を設け、熱起電力を温度調節計9にフィードバックして、その温度調節計9の制御信号を、電力フィードバック回路16を介して電力調整用サイリスタ回路5に出力することで、ヒータ7の温度を所定の温度に保つようになっている。
また、温度調節計9は、電力フィードバック回路16のCPU161からの測定電圧及び測定電流をCPU間通信によりCPU90で受け取る。CPU90は、測定電圧及び測定電流からヒータ7のヒータ抵抗を求め、プログラムメモリ91に蓄積する。また、温度調節計9で得ている測定温度と、プログラムメモリ92に記憶した抵抗温度係数とからヒータの基準時の抵抗を演算して、プログラムメモリ92に記憶する。CPU90は、プログラムメモリ92に記憶したヒータ7の基準時の抵抗(比較判定テーブル)と、プログラムメモリ91に蓄積したヒータ抵抗とを比較して、ヒータ7の劣化及び断線の判定を行う。CPU90でヒータの劣化が生じ又は断線と判定されたときは、DO出力回路95からアラーム信号が出力され、図示しないスピーカからアラームを出して、ヒータ7の交換の必要性があることを促す。
上述したCPU90が本発明の割出手段を構成する。
このように電力フィードバック回路16と温度調節計9とは、互いに協働することにより、リアルタイムで温度変動に電力変動の補正を行ったヒータ制御をしながら、リアルタイムでヒータ7の劣化監視を行っている。このヒータ劣化監視は、予知アルゴリズムに基づいて行う。
以下に予知アルゴリズムについて説明する。
ここで、ヒータ7の劣化の程度を割り出す原理について説明する。ヒータ7の抵抗Rは、例えばヒータ7を構成する金属素線の抵抗温度係数ρを1/℃(at 20℃)(Ω・m)、長さlを1000mとし、素線半径を1mmとすると、断面積Sは3.14×10-6(m2)となるから、
R=ρ×l/Sより、
R(20℃)=1(Ω・m)×1000(m)/3.14×10-6(m2)=3.185×108(Ω)となる。
ヒータ7が経時変化により劣化することで、ヒータ素線の半径が0.8mmになったとすると、このときのヒータ7の抵抗R’は、
R’=1(Ω・m)×1000(m)/(0.0008×0.0008×3.14)(m2)=4.976×108(Ω)となる。
このため、ヒータ7の理論的な抵抗に対する、ヒータ7の実際の抵抗の変化に基づいて、ヒータ7の劣化の程度を割り出すことが可能となる。
図3は、図2に示すプログラムメモリ92の記憶内容を示す図である。図3には、例示としてヒータ7として使用可能なヒータ7A及び7Bに関する情報を記憶している場合を示している。プログラムメモリ92は、ヒータ7の固有の識別番号と、ヒータ7の抵抗温度係数と、ヒータ7の長さと、ヒータ7の断面積と、ヒータ7の基準時の抵抗、例えば製造時の基準抵抗とを一組で記憶してあるメモリである。
なお、プログラムメモリ92に、ヒータ7の温度−抵抗特性を記憶してルックアップテーブル化しておくことで、CPU90においてヒータ7の理論的な抵抗を算出するという作業をしなくて済むようにしてもよい。
図3では、ヒータ7Aと、ヒータ7Aを20℃及び800℃及び1000℃に加熱したときの抵抗温度係数1.00及び1.01及び1.04(Ω・m)と、ヒータの長さ1000(m)と、ヒータ7Aの断面積4×10-6(m2)と、ヒータ7Aの製造時の基準抵抗4.557(Ω)とを対応させて記憶している様子を示している。
また、ヒータ7Bと、ヒータ7Bを20℃及び800℃及び1000℃に加熱したときの抵抗温度係数1.00及び1.01及び1.04と、ヒータ7Bの長さ1500(m)と、ヒータ7Bの断面積4×10-6(m2)と、ヒータ7Bの製造時の基準抵抗9.4(Ω)とを対応させて記憶している様子を示している。
なお、プログラムメモリ92には、少なくとも、ヒータ7を劣化を監視する際のヒータ7の温度に対応する抵抗温度係数を記憶しておけばよいが、さらに多くの抵抗温度係数を記憶しておいてもよい。
本実施の形態では、後述する数式と上記情報とに基づいて、ヒータ7の劣化の程度を割り出すようにしている。
図4は、図1及び図2に示す電源装置のヒータ劣化監視機能を説明するフローチャートである。ここでは、ヒータ7は、図示しない処理室内の被処理体を加熱処理するようになっている。
まず、交流電源1の交流電圧をヒータ7に印加して、ヒータ7を例えば800℃に向けて加熱する(ステップS1)。具体的には、交流電源1からヒータ7に対して交流電圧を印加する際に、電力フィードバック部23、温度制御部24で電力調整用サイリスタ回路5をオンしておき、交流電源1の交流電圧を、電源トランス4でヒータ7で使用可能な電圧に変換してから印加することによってヒータ7を加熱する。この状態をアイドル状態(スタンバイ状態)という。
つぎに、温度調節計9のCPU90は、ヒータ7自体の温度を測定する熱電対8から出力される起電力信号に基づいて、ヒータ7の温度が、ヒータ7の測定温度である例えば800℃に達したか否かを判別し、800℃に達するまで判別を繰り返す(ステップS2)。
ヒータ7が例えば800℃(測定温度T℃)に達した場合には、ヒータ7に印加されている電圧のレベルを、電圧測定ライン17によって測定する(ステップS3)。
また、ヒータ7に流れる電流のレベルを、カレントトランス18からの電流に基づいて測定する(ステップS4)。上述したステップS2で800℃を検出する時間を含めてステップS4で電流レベルを検出するまでの検出時間は、例えば数十mmsecオーダであり、最大でも1秒程度である。また、これら一連のステップを繰り返して複数の検出データを取得するようにしてもよい。複数の検出データを取得する場合は、それらの平均値を採用する。
なお、電圧測定ライン17とカレントトランス18とによるアナログ信号は、電力フィードバック回路16のマルチA/Dユニット163によって、デジタル信号に変換され、電力フィードバック回路16のCPU161から、通信回線100を経由して温度調節計9のCPU90へ入力される。また、熱電対8によるアナログ信号は、温度調節計9のマルチA/Dユニット93によって、デジタル信号に変換されて、CPU90へ入力される。
上述したヒータ電圧、ヒータ電流、ヒータ温度などのヒータの変動(劣化等)はリアルタイムで監視される。
つぎに、CPU90は、例えば、熱電対8の測定温度(T℃)とプログラムメモリ92の記憶内容とに基づいて、測定温度(T℃)でのヒータ7の理論的な抵抗Rを算出する(ステップS5)。理論的な抵抗Rは、測定温度での抵抗温度係数をρT(at T℃)、ヒータ7の長さをl、ヒータ7の断面積をSとすると、
R=ρT×l/S
と示すことができる。
つぎに、CPU90は、電圧測定ライン17とカレントトランス18との検出結果に基づいて、ヒータ7の実際の抵抗R’を算出する(ステップS6)。抵抗R’は、ヒータ7の電圧のレベルをV、ヒータ7の電流のレベルをIとすると、
R’=V/I
と示すことができる。
つづいて、ヒータ7の理論的な抵抗Rとヒータ7の実際の抵抗R’との変化率を算出する(ステップS7)。なお、変化率は、以下のように示すことができる。
変化率=(R−R’)/R×100(%)
つぎに、CPU90は、算出した変化率が例えば±10%以上であるか否かを判定する(ステップS8)。判定の結果、変化率が例えば±10%以上である場合には、CPU90は、近々、ヒータ7の交換の必要性があるとして、DO出力回路95へ命令することによって、例えばスピーカからアラーム#1を出力してから、ステップS10へ移行する(ステップS9)。
ステップS10では、変化率が例えば30%以上であるか否かを判定する。判定の結果、変化率が例えば30%以上である場合には、CPU90は、早急に、ヒータ7の交換の必要性があるとして、DO出力回路95へ命令することによって、例えばスピーカからアラーム#1とは音色、周波数等の異なるアラーム#2を出力する(ステップS11)。
つづいて、被処理体をロット不良にすることなくヒータ7の交換を可能とするために、実際に処理室に被処理体を搬入する前に、ヒータ7の加熱を終了する(ステップS13)。
一方、変化率が例えば±10%以上でない場合、及び、変化率が例えば±30%以上でない場合には、引き続き、ヒータ7を加熱していき、温度調節計9によって、熱電対8から出力される電気信号と予め設定しているヒータ7の設定温度とに基づいて、電力調整用サイリスタ回路5をオン/オフして、アイドル状態(スタンバイ状態)を継続する。また、熱電対8から出力される電気信号が示す情報や電力調整用サイリスタ回路5のオン/オフの制御情報を上位装置等へ送信する(ステップS12)。
以上説明したように、実施の形態による予知アルゴリズムでは、同じ温度における理論的なヒータ抵抗値と実際のヒータ抵抗値との変化をとらえて、ヒータの劣化の程度を割り出すことにより、ヒータの劣化の程度からヒータの交換の必要性があれば、その旨を報知して、ヒータの交換を促すことができるようにしている。したがって、作業者の経験に基づく主観的な判断に頼ることなく、客観的な判断ができるようになり、ヒータを断線前に交換することができる。その結果、安定した電力制御が可能となる。
また、実施の形態では、商用電源をヒータ抵抗測定用の電源として用いているために、ヒータ抵抗測定用の特別な電源が不要となり、構成が簡単になる。
さらに既存の温度調節計を用いて、その出力を電力フィードバック回路に加えて、電力調整用サイリスタ回路のゲート制御信号を出力するようにしたので、従来のシステムと互換性を持たせることができ、僅かな変更を加えるだけで、従来システムから本システムに容易に変更できる。
また、上述した実施の形態のヒータの電源装置21は、ヒータ7が処理室内の被処理体を加熱処理する一般的な場合について説明したが、具体的には、反応炉を備える半導体製造装置に搭載することが可能である。反応炉は、石英チューブと、この石英チューブを外部から加熱する筒状のヒータとから構成される。このヒータを加熱するために実施の形態の電源装置を用いる。上述した電源装置を半導体製造装置に搭載すれば、ヒータ温度の安定性が得られるので、高性能な半導体デバイスを得ることができる。
また、既存の半導体製造装置の電源装置に、本実施例の電源装置となるような変更を加えるだけ、ヒータの劣化を監視することができる装置を実現できる。この場合において、ヒータの劣化等をリアルタイム監視し、ヒータの経時変化による断線を事前に検知し、異常警報を出すことで、投入されたウェハのロットアウトを事前に防止することが可能となる。また、ヒータの劣化の程度を知ることができるので、常に反応炉で正常な熱処理ができるようになり、被処理体のロット不良を出すこともなく、生産性を向上できる。特に多数のウェハを同時処理する縦型炉の生産性を向上することができる。また、ヒータの劣化判断が正確にできるため、予備のヒータを準備して定期交換する必要がなく、必要に応じたヒータ交換ができるようになり、また交換後に寿命予測範囲期間内で断線するという問題もなくなる。
実施の形態による電源装置のブロック図である。 実施の形態による電源装置の要部のブロック詳細図である。 実施の形態によるプログラムメモリの記憶内容を示す図である。 実施の形態による電源装置の動作を示すフローチャートである。 従来例による電源装置のブロック図である。
符号の説明
1 交流電源
7 ヒータ
5 電力調整用サイリスタ回路(電力調整器)
8 熱電対(温度センサ)
9 温度調節計
16 電力フィードバック回路
17 電圧測定ライン
18 カレントトランス
21 電源装置
23 電力フィードバック部
24 温度制御部
100 通信回線

Claims (3)

  1. 交流電源からヒータに電力を供給しつつ、ヒータの劣化を判定する電源装置において、
    前記交流電源から制御信号に応じた電力を前記ヒータに供給する電力調整器と、
    前記ヒータに供給される電流及び電圧を測定し、測定電流及び測定電圧に応じた電力制御信号を前記電力調整器に与えて、該電力調整器を制御する電力フィードバック部と、
    前記ヒータの温度を測定し、測定温度に応じた温度制御信号を前記電力調整器に与えて、該電力調整器を制御することが可能な温度制御部とを備え、
    前記電力フィードバック部と前記温度制御部とは回線で接続され、
    ヒータ供給電力制御時は、前記温度制御部から前記電力フィードバック部に温度制御信号を送り、前記電力フィードバック部は前記温度制御信号を前記電力制御信号で補正した補正制御信号で電力調整器を制御するようにし、
    ヒータ劣化判定時は、前記電力フィードバック部から前記温度制御部に前記測定電流及び前記測定電圧を送り、前記温度制御部は、前記測定電流と前記測定電圧とに基づいて求めたヒータ抵抗と、前記測定温度と抵抗温度係数とに基づいて求めたヒータの基準時の抵抗とに基づいて前記ヒータの劣化を判定するようにしたものである
    ことを特徴とする電源装置。
  2. 前記温度制御部は、
    前記ヒータの基準時の抵抗を演算するための抵抗温度係数を記憶するメモリと、
    前記測定電流と前記測定電圧とに基づいて前記ヒータ抵抗を求め、前記測定温度と前記メモリに記憶してある抵抗温度係数とに基づいて前記ヒータの基準時の抵抗を演算し、前記ヒータの基準時の抵抗と前記ヒータ抵抗とに基づいて当該ヒータの劣化の程度を割り出す割出手段と
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の電源装置。
  3. 請求項1又は請求項2に記載の電源装置を備えた半導体製造装置。
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