JP2005345333A - 熱分析装置および熱分析方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 試料容器を常に感熱板上の一定の位置に載せることができる熱分析装置および熱分析方法を提供する。
【解決手段】 試料容器24を載置する感熱板16と、試料容器24を挿入可能であって且つ試料容器24を位置決め可能な一対の穴43を備えた治具41とを有する熱分析装置である。この熱分析装置において、治具41は、ガイド部材である円筒状の隔壁8により、感熱板16に対する所定位置で着脱可能に支持される。一対の穴43のそれぞれに、測定試料22を収容した試料容器24、および基準物質23を収容した試料容器24を挿入することによって、感熱板16上の所定位置にそれらの試料容器24を載置する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、感熱板上に試料を載せた状態で当該試料の熱的な特性を測定する熱分析装置に関する。また、本発明は、その熱分析装置を用いて行う熱分析方法に関する。
熱分析装置に、DTA(Differential Thermal Analysis:示差熱分析)装置や、DSC(Differential Scanning Calorimeter:示差走査熱量測定)装置等があることは、従来から、良く知られている。DTAとは、測定試料および基準物質の温度を所定のプログラムに従って変化させながら、測定試料と基準物質との間に生じる温度差を温度または時間の関数として測定する測定方法である。また、DSCとは、測定試料および基準物質の温度を所定のプログラムに従って変化させながら、測定試料と基準物質に対するエネルギー入力の差を温度または時間の関数として測定する測定方法である。
DSCについては、測定方法の違いにより、熱補償型DSCと熱流束型DSCの2種類が知られている。熱補償型DSCは入力補償型DSCとも呼ばれることがある。また、熱流束型DSCは定量DTAとも呼ばれることがある。
熱補償型DSCでは、測定試料および基準物質の温度を所定のプログラムに従って変化させ、そのときに生じる測定試料と基準物質との間の温度差が0(ゼロ)になるように測定試料または基準物質に熱量すなわちエネルギーを供給し、そのエネルギーを温度または時間に対して測定する。一方、熱流束型DSCでは、測定試料および基準物質の表面温度を測定し、その表面温度の温度差に基づいて、測定試料と基準物質との間の熱流束の差を求める。
熱補償型DSCと熱流束型DSCとの間では、熱補償型DSCが直接に熱量を測定するのに対して、熱流束型DSCが測定試料と基準物質との間に生じる表面温度差に基づいて間接的に熱量を測定するという点において相違がある。また、一般的なDTAと熱流束型DSC(すなわち、定量DTA)との間では、一般的なDTAが熱電対等といった検温装置の測温点を試料等の内部へ挿入して試料等の内部温度を直接測定するのに対して、定量DTAが試料等の外部に測温点を置いて試料等の表面温度を測定するという点において相違がある。
上記のようなDSCを行う装置として、例えば、試料室を形成すると共に加熱されて昇温する隔壁と、その試料室内に配置されていて隔壁から熱を受けて昇温する感熱板とを有した熱分析装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。この装置において、測定試料および基準物質を収容した試料容器は、その感熱板の上に載せられて加熱される。そして、測定試料と基準物質との間に生じる温度差に基づいて測定試料の温度依存性を測定する。
特開平8−247977号公報(第4頁、図6)
広く一般的に行なわれているDSC等の測定においては、測定者が目視によってだいたい同じであろうと認識する感熱板上の所定位置に試料容器を置き、この試料容器に対して測定を行う。しかしながら、場合によっては、試料容器を感熱板上の所定位置に正確に置いた状態で測定を行いたい場合がある。例えば、比熱測定を行う場合や、同一種類の多数の物質について品質管理部門で品質チェックを行う場合等が、そのような場合として考えられる。
ここで、比熱測定とは次のような測定である。すなわち、まず、空の試料容器、比熱容量が既知である物質を入れた試料容器、そして比熱を測定したい試料を入れた試料容器といった3種類の試料容器を準備する。そして、それらの試料容器のそれぞれを個別にDSC装置等の感熱板上に置いて熱量の変化を測定する。つまり、3種類の試料容器に対して1回ずつ、合計で3回、測定を行う。そして、これら3回の測定によって得られた結果に基づいて試料の比熱を求める。このような比熱測定において再現性の高い結果を得るためには、上記の3種類の試料容器を個別に感熱板上に置く際に、それらの試料容器を感熱板上の同じ位置に正確に置く必要がある。
また、品質管理部門においてDSC等を用いて品質チェックを行う場合には、品質管理の信頼性を高めるために、多数の試料を感熱板上の同じ位置に正確に載せた上で測定を行うことが必要である。
しかしながら、従来の熱分析装置では、試料容器を感熱板上に載置する際に、載置する位置の確認を目視によって行っていたので、試料容器を載置する位置にずれが生じるおそれがあった。このような位置ずれが生じると、測定結果の再現性が悪化するおそれがあった。
本発明は上記の問題点に鑑みて成されたものであって、試料容器を常に感熱板上の一定の位置に載せることができる熱分析装置および熱分析方法を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するため、本発明に係る熱分析装置は、試料容器を載置する感熱板と、前記試料容器を挿入可能であって且つ試料容器を位置決め可能な穴を備えた治具と、該治具を前記感熱板に対する所定位置で着脱可能に支持するガイド部材とを有することを特徴とする。ここで、試料容器を挿入するための上記の穴は試料容器を出し入れ可能な大きさであって、しかも、熱分析測定の結果の再現性のバラツキが許容範囲に納まる程度に試料容器よりも大きい穴である。具体的には、試料容器の外周面よりも、0.5mm〜1.0mm程度大きい円形状の穴、正方形状の穴等とすることができる。
上記構成の熱分析装置によれば、試料容器を支持する治具は、ガイド部材によって熱分析装置の感熱板に対して所定の位置に支持される。この治具に設けた穴に試料容器を挿入すれば、試料容器は、熱分析装置の感熱板上における所定の位置に、正確に載置できる。その結果、熱分析装置を用いた測定において、測定結果の再現性を高く維持できる。
本発明に係る熱分析装置においては、前記感熱板が配設される試料室を形成する隔壁をさらに有し、前記ガイド部材はこの隔壁であることが望ましい。この熱分析装置において、試料室は、隔壁によって形成された空間であり、実際に測定が行なわれる場所である。熱分析装置では、試料室内に配設した感熱板上に試料を載置し、例えば電気炉等といったヒータによって隔壁を加熱する。こうすることにより、試料室内部の感熱板を通して試料に熱が伝達される。
感熱板への熱の伝達を良好にするため、隔壁は熱伝導性の高い材料、例えば銀等によって形成することが望ましい。このように、熱伝導性の高い材料で形成された隔壁は、熱を吸収し、さらに放散させるための要素であるヒートシンク、すなわち熱だめとして機能する。この隔壁をガイド部材として用いれば、新たにガイド部材を設置する必要がなくなるので熱分析装置の構造を簡単にできる。
本発明に係る熱分析装置において、前記治具は前記ガイド部材の内周面に嵌合する外周面を有することが望ましい。ここでいう嵌合とは、治具をガイド部材に挿入し、ガタツキが無い程度のはめあいの関係にある状態を言う。治具の外周面をガイド部材の内周面に嵌合させれば、治具を感熱板に対して所定の位置に、正確に支持できる。
本発明に係る熱分析装置において、前記感熱板はガスを通すためのガス穴をさらに有し、前記治具は前記ガス穴に対する位置を計測するための穴を有することが望ましい。熱分析装置を用いた測定においては、試料室内へ不活性ガスを導入して試料室内部をガス置換し、試料を不活性化する場合がある。このような場合において、感熱板にガス穴を設ければ、そのガス穴を通じて試料室内へガスを導入できる。
また、ガス穴に対する位置を計測するための位置計測用穴を治具に設ければ、感熱板上に試料容器を載置する場合に、治具の位置計測用穴と感熱板のガス穴との位置を合わせることにより、治具を感熱板に対して所定の位置に、より正確に置くことができる。従って、治具の穴に挿入した試料容器は、感熱板に対して所定の位置に、より正確に載置できる。
本発明に係る熱分析装置においては、前記感熱板の試料容器載置面の上方へ突出する均熱ブロックをさらに有し、前記治具は、前記感熱板から突出する部分の前記均熱ブロックに嵌合する段差部を有することが望ましい。この場合における治具と均熱ブロックとの嵌合は、ガタツキがあっても良い。治具の段差部が均熱ブロックに嵌合することにより、感熱板に対する治具のだいたいの位置を決めることができる。
次に、本発明に係る熱分析方法は、試料を収容した試料容器を感熱板上に置いた状態で測定を行う熱分析方法において、前記試料容器を挿入可能であって且つ試料容器を位置決め可能な穴を備えた治具を感熱板に対する所定位置に置き、前記試料容器を前記穴を通して前記感熱板上に置き、該試料容器を前記感熱板上に置いたまま前記治具を前記感熱板から取り除くことを特徴とする。この熱分析方法によれば、試料容器は、治具を用いて感熱板上の所定位置に正確に載置されるので、熱分析装置を用いた測定において、測定結果の再現性を高く維持できる。
本発明に係る熱分析装置によれば、感熱板に試料容器を載置する際、ガイド部材を用いて治具を感熱板に対する所定位置に支持し、その治具に設けた穴に試料容器を挿入するようにした。これにより、試料容器は、熱分析装置の感熱板に対して所定の位置に、正確に載置できる。その結果、測定結果の再現性を高く維持できる。
以下、本発明に係る熱分析装置および熱分析方法を、熱流束型DSC装置およびそれを用いた熱分析方法に適用した場合を例に挙げて説明する。なお、本発明がこの実施形態に限定されるものでないことは、もちろんである。
図1は、本発明に係る熱分析装置の一実施形態の主要部を示している。図2は、その熱分析装置の一実施形態の一部であるDSC装置を示している。また、図3は、その熱分析装置の一実施形態の他の一部である治具を示している。図2において、DSC装置40は、筐体テーブル1の上面に固定されたベースブロック2と、ベースブロック2の上に固定された測定部ユニット3と、測定部ユニット3の全体を覆う断熱ケース4とを有している。断熱ケース4は概ね円筒状に形成されていて、外側枠5と内側枠6との間に綿状の断熱材10を満遍なく充填することによって形成されている。断熱ケース4は、ベースブロック2の上面に着脱可能に載せられる。
測定部ユニット3は、図1に示すように、外周にヒータ線7が巻き回された円筒状の隔壁8と、隔壁8の外周を覆う円筒状のカバー9とを有している。隔壁8とカバー9とは、それらの上端部において溶接などによって固定されて互いに一体になっている。隔壁8の内部には円柱状の空間である試料室Rが形成されていて、隔壁8の底壁8aがその試料室Rの底部となっている。隔壁8は熱伝導性の高い材料、例えば銀等によって形成され、試料室R内の温度を安定に保持するためのヒートシンクとしての働きを有する。また、カバー9も同様に熱伝導性の高い材料によって形成される。
試料室Rの底面、すなわち隔壁8の底壁8aの上面には、隔壁8の側壁に接触または近接するように台15が配置される。この台15は、図3に示すように、試料室Rの内径寸法と略等しい直径を有する円形状のブロックとして形成され、その中心部には碍子管およびガス管を挿入するための長穴11が開けられ、さらに外周縁側の適所には止めネジ13を挿入するための4個の貫通穴14が開けられる。
そして、この台15の上には感熱板16が載せられる。感熱板16の略中央には上方へ起立する試料載置部16aが形成されている。感熱板16の上には2つの均熱ブロック17が試料載置部16aを挟んで互いに対向した位置に載せられる。そして、それらの均熱ブロック17、感熱板16および台15は、止めネジ13によって隔壁8の底壁8aに締め付け固着されている(図1参照)。均熱ブロック17は、熱伝導率の高い材料、例えば銀等によって形成され、円弧状の側面を有する部分円盤形状に形成されている。また、均熱ブロック17には、止めネジ13を挿入するための貫通穴20が開けられる。均熱ブロック17の円弧状側面の円弧形状は、試料室Rの内周側面の円弧面に合致するようになっている。
感熱板16は、熱伝導率の高い材料、例えば白金、白金ロジウム合金等、もしくは起電力の高い材料、例えばコンスタンタン等によって形成され、図3に示すように、概ね円形状に形成されている。この感熱板16の外径直径は、試料室Rの内径と略等しく設定される。感熱板16は、折り曲げ加工を受けることにより、固定部16bおよび固定部16bの上方へ突出する上記の試料載置部16aを有するように構成される。
なお、試料載置部16aと固定部16bの折り曲げ形状は、折り曲げ加工に限られず切削加工その他の任意の加工によっても形成できる。感熱板16の各固定部16bには止めネジ13を挿入するための貫通穴18が開けられる。また、試料載置部16aには、測定試料および基準物質を載置するための領域FaおよびFbが設けられる。さらに、両領域の間には、試料室R内に充填するガスを通すための2個のガス穴19aおよび19bが開けられる。
図2において、隔壁8の上端には銀製の蓋21が着脱可能に載せられ、これにより試料室Rが外部から気密に遮蔽されている。図4は蓋21を外した状態での試料室Rの内部を示している。図4に示すように、測定試料22および基準物質23は試料容器24に収容された状態で感熱板16の試料載置部16aの上に載せられる。
図2に戻って、隔壁8の底壁8aの中心部には碍子管25が設けられ、その碍子管25の中に熱電対束26が挿入されている。熱電対束26は、図5に示すように4本の熱電対線によって構成され、一対の熱電対の測温点S1およびS2は、それぞれ、測定試料22および基準試料23に対応する位置の感熱板16の下面に、例えばスポット溶接によって固着されている。これらの熱電対束26は、温度差測定回路29に導かれる。この温度差測定回路29の出力は熱量演算回路30に導かれ、さらにその熱量演算回路30の出力結果はCRT等といった映像表示装置31に映像表示されたり、プリンタ32によってハードコピーされる。
図2に戻って、隔壁8の右側面には別の碍子管27が設けられ、その碍子管27の中に一対の熱電対線28が挿入されている。この熱電対線28の測温点S3は、図5に示すように隔壁8、特にその底壁8aの適所に設定される。この熱電対線28の出力端子側は温度測定回路33へ導かれ、この温度測定回路33の出力はヒータ温度制御回路34へ送られる。ヒータ温度制御回路34の出力信号は、給電回路37への給電電流量をその送られた信号に基づいて制御する。給電回路37からの給電線35は、図2に示すように、隔壁8の左側面に設けたチューブ36を通ってヒータ線7に接続される。
熱電対碍子管25の右側には、ガス管38が配設される。このガス管38の上端は隔壁8の底壁8aに嵌合し、その下端はベースブロック2の右側面に設けたガス導入端子39に接続される。
図3に示した治具41については、図6(a)にその平面図、図6(b)にその断面図が示されている。図6(a)は図3の矢印Bに従った平面図である。また、図6(b)は図6(a)のA−A線に従った断面図である。
これらの図に示すように、治具41は、概ね円筒形状に形成され、フランジ41a、嵌合部41b、および段差部41cを有する。フランジ41aおよび嵌合部41bの外周は円形状である。また、治具41の上端には、上方へ向けて開く開口Qが設けられる。図6(b)に示すように、治具41の内部は空間である。また、段差部41cの底壁の厚さT0は試料容器24(図3参照)の高さLhよりも小さくなっている。また、図1において、嵌合部41bの外径φ0は、隔壁8の内径φ1よりもわずかに小さく形成され、これにより、嵌合部41bは隔壁8の内周面に緩く嵌合する。
ここでいう「緩く嵌合」とは、人がフランジ41aを摘んで治具41を試料室Rの直近上方まで持ち運び、その位置から手を離して治具41を落下させたとき、治具41が自重で隔壁8の底部へ向けて落下する程度に寸法差が大きい状態であり、しかし、嵌合部41bが隔壁8の内部に収まったとき、治具41と隔壁8との間に大きなガタツキが生じない程度に寸法差が小さい状態である。
図3に示すように、治具41の下部に設けた段差部41cの外形形状は、嵌合部41bの直径を中心とする略長方形状であり、その両端の外形形状は図6(a)に示すように嵌合部41と略同じ曲率の曲面となっている。この段差部41cの幅方向の長さL0は、図1において互いに対向する均熱ブロック17,17の間の間隔D0よりも少し小さく設定されている。
均熱ブロック17,17は、それらをねじ13によって感熱板16上に固定したとき、それらの上面が感熱板16の試料載置部16aの上方へ突出する程度の高さを有する。つまり、均熱ブロック17,17と試料載置部16aとの間には、凹部が形成される。治具41の嵌合部41bを隔壁8の内周面に嵌合させながら、治具41を隔壁8にはめ込んだとき、治具41の段差部41cは、均熱ブロック17,17と試料載置部16aとが形成する凹部の中にその全体が入り込むようになっている。この場合の段差部41cと凹部との関係は、治具41の嵌合部41bと隔壁8の内周面との間の嵌合のようなガタツキのない嵌め合い状態ではない。従って、隔壁8の内周面に嵌合した状態の治具41は、段差部41cの外周面が均熱ブロック17,17にぶつかってその回転移動が規制される角度範囲内で、隔壁8の中で回転移動が可能である。
図6(a)および図6(b)に示すように、段差部41cの底壁には段差部41cの長手方向の両端部のそれぞれに円形状の穴43が設けられる。これらの穴43は、図1において治具41を隔壁8にはめ込んだときに、それらの穴43の中心が図3の感熱板16の試料載置部16a上の試料載置領域Fa,Fbの中心に一致できるようなところに形成されている。また、これらの穴43の直径は、試料容器24を挿入可能であって且つ試料容器24を位置決め可能な寸法、具体的には、試料容器24の外周面よりも0.5mm〜1.0mm程度大きい寸法に設定されている。
また、図6(a)に示すように、上記の一対の穴43の間には、2個の位置計測用の穴42が設けられる。これらの穴42は、図1において治具41を隔壁8にはめ込んだときに、それらの穴42の中心が図3の感熱板16の試料載置部16a上のガス穴19a,19bの中心に一致できるようなところに形成されている。
以上から明らかなように、治具41の段差部41cの底壁に形成した穴43と位置計測用穴42との位置関係は、感熱板16の試料載置部16aにおける試料載置領域Fa,Fbとガス穴19a,19bとの位置関係と同じである。なお、位置計測用穴42は、ガス穴19a,19bに対する位置を確認するための穴であるので、ガス穴19a,19bよりも著しく小さく形成するとその目的を達成できない場合が考えられる。位置計測用穴42の大きさは、好ましくは、ガス穴19a,19bと略同じ大きさか、それらよりも少し大きく設定する。
以下、上記構成より成る熱分析装置についてその動作を説明する。まず、図2において、断熱ケース4を取外しさらに蓋21を取り外して、試料室R内の感熱板16の上、特に試料載置部16aの上に試料容器24に収容された測定試料22および基準物質23を載置する。その後、蓋21を隔壁8の上に被せ、さらに断熱ケース4を測定部ユニット3の上に被せる。
その後、ヒータ線7が所定のプログラムに従って給電されて発熱し、その熱が隔壁8に伝わって昇温する。隔壁8が昇温することにより、特にその底壁8aから台15を通して感熱板16へ熱が伝達されてその感熱板16が昇温する。そして、その感熱板16の熱が試料容器24を通して測定試料22および基準物質23へ伝えられる。これにより、測定試料22および基準物質23の温度が所定プログラムに従って昇温または降温する。
基準物質23は熱的に安定な材料によって形成されており、温度が変化しても融解、蒸発などの物性変化は生じない。これに対して、測定試料22が自らの特性に従って温度変化に対応して物性変化を生じると、測定試料22と基準物質23との間に温度差が生じる。
図5において、測定試料22および基準物質23の温度、特に表面温度は、熱電対26によって検出されて温度信号として温度差測定回路29へ送られる。温度差測定回路29は、送られた温度信号に基づいて測定試料22と基準物質23との間の温度差ΔTを算出し、その算出結果を熱量演算回路30へ送る。熱量演算回路30は、温度差ΔTに基づいて測定試料22に流れ込む熱流速、従って、熱量を演算する。演算された熱量は測定時間または試料室R内の温度の関数として映像表示装置31に映像表示されたり、あるいはプリンタ32によって出力される。この表示に基づいて、測定試料22の温度依存性を知ることができる。
ところで、上記のような熱分析装置を用いて測定を行う場合には、図3に示すように、試料容器24を試料載置部16a上における領域FaおよびFb内に、正確に置いた状態で測定を行うことを必要とする場合がある。例えば、比熱測定を行う場合がそれにあたる。
ここで、比熱測定とは次のような測定である。すなわち、まず、図5に示すように、空の試料容器24a、比熱容量が既知である物質22bを入れた試料容器24b、そして比熱を測定したい試料22cを入れた試料容器24cといった3種類の試料容器を準備する。そして、それらの試料容器24a、24b、24cのそれぞれを個別に感熱板16上に置いて熱量の変化を測定する。つまり、3種類の試料容器24a、24b、24cに対して1回ずつ、合計で3回、測定を行う。そして、これら3回の測定によって得られた結果に基づいて測定試料22cの比熱を求める。
通常、熱分析装置を用いて測定を行う場合、測定者は、試料容器24を載置する位置を目視によって判断していた。つまり、試料載置部16a上の領域FaおよびFbを目視によって判断していた。この場合、試料容器24を載置する位置が試料容器24を取り替えるごとに変化してしまうおそれがあった。通常行われる測定においては、目視で判断することによって発生する試料容器24の載置位置の変化は問題にならない範囲である。しかしながら、比熱測定においては、試料容器24を載置する位置によって測定結果が左右されるので、測定結果に再現性を要する。そのため、目視による判断では正確な測定ができないおそれがあった。図3の治具41を用いる本実施形態の熱分析装置によれば、再現性の高い熱分析測定が可能となったので、上記のような比熱測定を行う場合に非常に有利である。
以下に、本実施形態の熱分析装置を用いて比熱測定を行う場合の一実施形態を説明する。図7は熱分析装置を用いた比熱測定の測定方法を工程順に示している。また、図8は、図7の工程のうち基準物質および試料を載置する工程を詳しく示している。この比熱測定においては、第1回DSC工程P2、第2回DSC工程P5、および第3回DSC工程P8の合計3回のDSC工程を実行する。
まず、工程P1において、図5の空の試料容器24aについて試料載置工程を実行する。具体的には、図8の工程P11において、図2に示す断熱ケース4を取外し、さらに蓋21を取り外して測定部ユニット3の試料室Rを開放する。
次に、工程P12において、図1の治具41を試料室Rに設置する。詳しくは、開放された試料室Rに治具41を挿入する。このとき、隔壁8の内周面と治具41の嵌合部41bの外周面とが嵌合する。また同時に、治具41の段差部41cの両側面G0と2個の均熱ブロック17の試料載置部16a側に面した側面G1とがそれぞれ対面する。この状態から、さらに、治具41に設けた2個の位置計測用穴42と感熱板16に設けたガス穴19aおよび19bとが所定の位置関係に一致するように、治具41を回してその位置を調節する。この調節により、図3において、治具41の穴43,43と感熱板16の試料載置領域Fa,Fbとの位置関係が一定の位置関係にセットされる。
次に、図8の工程P13において、図5の基準物質23を入れた試料容器24dおよび空の試料容器24aを試料載置部16a上に載置する。詳しくは、図3において、治具41に設けた2個の穴43のうちの一方に、基準物質23を収容した試料容器24dを挿入して載置領域Fa,Fbの一方に置く。さらに、空の試料容器24aを他方の穴43へ挿入して載置領域Fa,Fbの他方に置く。穴43は試料容器24a,24dがガタツキなく嵌合する大きさなので、これらの穴43を通して感熱板16の試料載置部16a上に置かれた試料容器24a,24dは、常に、載置領域Fa,Fb内の所定位置に正確に置かれる。
次に、図8の工程P14において、感熱板16上に試料容器24aおよび試料容器24dを置いたまま治具41を試料室Rから取り外す。すると、図4に示すように、感熱板16の試料載置部16a上にガス穴19aおよび19bを挟んで対向した位置に、基準物質23を収容した試料容器24dと、空の試料容器24aが残る。さらに、図8の工程P15において、図2のように蓋21を試料室Rに被せて試料室Rを密閉し、さらに断熱ケース4を測定部ユニット3に被せて試料を載置する作業を終了する。
次に、図7の工程P2において、上述の熱分析装置の動作による第1回のDSCを実行し、空の試料容器24aに関する熱量の測定を行う。この第1回のDSC終了後、工程P3において、図2に示す断熱ケース4を取外し、さらに蓋21を取り外して試料室Rを開放する。そして、感熱板16上から空の試料容器24aを取外し、空の試料容器24aに対する測定を終了する。
続いて、図7の工程P4において、図5に示す比熱容量が既知である物質22bを入れた試料容器24bを試料載置部16aに載置する。この試料載置工程P4は、上記の空の試料容器24aに関する載置工程P1と同じ手順で行う。ただし、工程P4においては既に基準物質23を収容した試料容器24dは所定位置に置かれているので、治具41は図3の穴43,43の一方を試料容器24dに嵌め込みながら、図1の隔壁8に挿入される。
次に、工程P5において第2回のDSCを実行する。上記第1回のDSCでは、空の試料容器24aに関して測定を行った。第2回のDSCでは、試料容器24bの中に比熱容量が既知である物質22bを収容してその物質22bに関して測定を行う。つまり、熱電対26によって検出される温度は、比熱容量が既知である物質22bおよび基準物質23の温度であり、これらの物質について第1回のDSCと同じ動作が実行される。そして、図7の工程P6において断熱ケース4および蓋21を取り外して試料室Rを開放し、感熱板16上から試料容器24bを取り外して測定を終了する。
次に、工程P7において、工程P1および工程P4と同様にして、比熱を測定したい試料22cを入れた試料容器24cを試料載置部16aに載置する。そして、工程P8において、第3回のDSCを実行する。第3回のDSCでは、試料容器24cの中に比熱を測定したい試料22cを収容してその試料22cに関して測定を行う。つまり、熱電対26によって検出される温度は、比熱を測定したい試料22cおよび基準物質23の温度であり、これらの物質について第1回のDSCおよび第2回のDSCと同じ動作が実行される。その後、上記3回の測定結果に基づいて測定試料22cの比熱を求めて終了する。
本実施形態においては、図1において、治具41を試料室Rに設置する場合に、治具41の嵌合部41bの外周面と試料室Rの内周面、すなわち隔壁8の内周面とが嵌合するので、隔壁8は治具41を試料室Rに設置する際のガイド部材として働く。これにより、治具41は感熱板16に対して所定の位置に、正確に設置できる。また、隔壁8をガイド部材として用いたので、新たにガイド部材を設置する必要がなく、測定部ユニット3の構造を簡単にできる。
また、本実施形態においては、試料室R内において、感熱板16の試料載置部16から上方に突出した均熱ブロック17に治具41の段差部41aが嵌合する。このとき、治具41の段差部41cの側面G0と均熱ブロック17の試料載置部16a側の面G1とは、それぞれ対向するが当接しなくても良い。つまり、ここでの嵌合には、ガタツキがあっても良い。段差部41aと均熱ブロック17とが嵌合することにより、感熱板16に対する治具41の大体の位置を決めることができる。
また、本実施形態においては、段差部41aの底面には2個の穴43と、2個の位置計測用穴42を設けた。前述のように、これらの穴43および位置計測用穴42の位置は、試料載置部16aにおける試料載置領域FaおよびFb(図3参照)、ならびにガス穴19aおよび19bの位置と同じ関係にある。つまり、ガス穴19aおよび19bに2個の位置計測用穴42の位置が合うように、治具41を試料室Rに設置すれば、2個の穴43はそれぞれ載置領域FaおよびFbの上に位置する。従って、図5の測定試料22cを収容した試料容器24cおよび基準物質23を収容した試料容器24dを、図3の穴43,43のそれぞれに挿入すれば、感熱板16に対する所定の位置、すなわち試料載置領域FaおよびFb上に正確に載置できる。その結果、熱分析装置を用いた測定において、測定結果の再現性を高く維持できる。
(その他の実施形態)
以上、好ましい実施形態を挙げて本発明を説明したが、本発明はその実施形態に限定されるものでなく、請求の範囲に記載した発明の範囲内で種々に改変できる。
例えば、以上に説明した実施形態では、熱流束型DSC装置を例示した。しかしながら、本発明は感熱板の上に試料を載せて測定を行う他の熱分析装置、例えば、DTA装置にも適用できる。
また、上記の実施形態では、DSC装置を用いて比熱測定を行う場合を例示した。しかしながら、本発明は、試料容器を感熱板上の所定位置に正確に置いた状態で測定を行う必要がある他の測定にも適用できる。例えば、同一種類の多数の物質について品質管理部門で品質チェックを行う場合等にも適用できる。もちろん、測定対象の物質が1種類であるような一般的なDSCに対して、治具41を用いた試料容器の載置方法を実施しても良い。
また、上記の実施形態では、図3の感熱板16上に測定試料を載置するための治具41の穴43を、試料容器24の外径よりもわずかに大きな円形状の穴とした。しかしながら、穴43の形状は、試料容器24を出し入れ可能な大きさであって、しかも、熱分析装置を用いた測定結果の再現性のバラツキが許容範囲に収まる程度に試料容器24よりも大きいものであれば、円形状でなくても良い。例えば、正方形状の穴とすることもできる。
また、上記の実施形態において、図3の感熱板16上に測定試料を載置するための治具41の穴43は、治具41の段差部41cの底壁に2個設けた。しかしながら、穴43は1個だけ設ける場合もある。この場合、穴43は、段差部41cの底壁における長手方向の端部に限られず、試料を載置する位置に合わせて適所に設けられる。
本発明は、感熱板の上に試料を載せて測定を行う熱分析装置、例えばDSC装置において、試料を収容した試料容器を常に感熱板上の一定の位置に載せる必要がある場合に好適に用いられる。
本発明に係る熱分析装置の主要部を示す断面図である。 本発明に係る熱分析装置の一実施形態の一部であるDSC装置を示す断面図である。 本発明に係る熱分析装置の一実施形態の他の一部である治具を示す斜視図である。 図2の熱分析装置の要部、特に測定部ユニットを示す平面図である。 図2の熱分析装置の電気制御系をブロック的に示す図である。 図3の治具を示す図であり、(a)はその平面図を示し、(b)は(a)のA−A線に従った断面図を示している。 本発明に係る熱分析方法の一実施形態を示す工程図である。 図7の主要工程の内容の一例を示す工程図である。
符号の説明
1.筐体テーブル、 2.ベースブロック、 3.測定部ユニット、
4.断熱ケース、 7.ヒータ線、 8.隔壁(ガイド部材)、 8a.隔壁の底壁
13.止めねじ、 15.台、 16.感熱板、 16a.試料載置部、
16b.固定部、 17.均熱ブロック、 18.貫通穴、 19a,19b.ガス穴、 20.貫通穴、 21.蓋、 22.測定試料、 23.基準物質、 24.試料容器、 25.碍子管、 26.熱電対束、 28.熱電対線、 31.映像表示装置、
35.給電線、 37.給電回路、 38、ガス管、 39.ガス導入端子、
40.DSC装置(熱分析装置)、41.治具(熱分析装置)、 41a.フランジ、 41b.嵌合部、 41c.段差部、 42.位置計測用穴、 43.穴、
R.試料室、 G0.段差部の側面、 G1.均熱ブロックの側面

Claims (6)

  1. 試料容器を載置する感熱板と、
    前記試料容器を挿入可能であって且つ前記試料容器を位置決め可能な穴を備えた治具と、
    該治具を前記感熱板に対する所定位置で着脱可能に支持するガイド部材と
    を有することを特徴とする熱分析装置。
  2. 請求項1記載の熱分析装置において、前記感熱板が配設される試料室を形成する隔壁をさらに有し、前記ガイド部材はこの隔壁であることを特徴とする熱分析装置。
  3. 請求項1または請求項2記載の熱分析装置において、前記治具は前記ガイド部材の内周面に嵌合する外周面を有することを特徴とする熱分析装置。
  4. 請求項1から請求項3のいずれか1つに記載の熱分析装置において、前記感熱板はガスを通すためのガス穴をさらに有し、前記治具は前記ガス穴に対する位置を計測するための位置計測用穴を有することを特徴とする熱分析装置。
  5. 請求項1から請求項4のいずれか1つに記載の熱分析装置において、前記感熱板の試料容器載置面の上方へ突出する均熱ブロックをさらに有し、前記治具は、前記感熱板から突出する部分の前記均熱ブロックに嵌合する段差部を有することを特徴とする熱分析装置。
  6. 試料を収容した試料容器を感熱板上に置いた状態で測定を行う熱分析方法において、
    前記試料容器を挿入可能であって且つ前記試料容器を位置決め可能な穴を備えた治具を感熱板に対する所定位置に置き、
    前記試料容器を前記穴を通して前記感熱板上に置き、
    前記試料容器を前記感熱板上に置いたまま前記治具を前記感熱板から取り除く
    ことを特徴とする熱分析方法。

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102235987A (zh) * 2010-03-29 2011-11-09 精工电子纳米科技有限公司 热分析装置
JP2012202842A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Sii Nanotechnology Inc 試料の位置決め方法およびそれを用いた熱分析装置
JP2019211469A (ja) * 2018-06-06 2019-12-12 ネッチ ゲレーテバウ ゲーエムベーハー 試料を熱分析するための測定装置及び方法
JP2020008569A (ja) * 2018-06-06 2020-01-16 ネッチ ゲレーテバウ ゲーエムベーハー 試料熱分析用の測定装置及び方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102235987A (zh) * 2010-03-29 2011-11-09 精工电子纳米科技有限公司 热分析装置
JP2011227046A (ja) * 2010-03-29 2011-11-10 Sii Nanotechnology Inc 熱分析装置
DE102011008926A1 (de) 2010-03-29 2012-02-09 Sii Nano Technology Inc. Thermischer Analysator
US8708556B2 (en) 2010-03-29 2014-04-29 Sii Nanotechnology Thermal analyzer
CN102235987B (zh) * 2010-03-29 2016-02-10 日本株式会社日立高新技术科学 热分析装置
DE102011008926B4 (de) * 2010-03-29 2021-06-02 Hitachi High-Tech Science Corporation Thermischer Analysator
JP2012202842A (ja) * 2011-03-25 2012-10-22 Sii Nanotechnology Inc 試料の位置決め方法およびそれを用いた熱分析装置
JP2019211469A (ja) * 2018-06-06 2019-12-12 ネッチ ゲレーテバウ ゲーエムベーハー 試料を熱分析するための測定装置及び方法
JP2020008569A (ja) * 2018-06-06 2020-01-16 ネッチ ゲレーテバウ ゲーエムベーハー 試料熱分析用の測定装置及び方法

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