JP2005292839A - スリット共焦点顕微鏡およびその作動方法 - Google Patents
スリット共焦点顕微鏡およびその作動方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005292839A JP2005292839A JP2005107427A JP2005107427A JP2005292839A JP 2005292839 A JP2005292839 A JP 2005292839A JP 2005107427 A JP2005107427 A JP 2005107427A JP 2005107427 A JP2005107427 A JP 2005107427A JP 2005292839 A JP2005292839 A JP 2005292839A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- detector array
- detection system
- slit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
【課題】焦点の変化にともなう映像の強度低下を防止する。
【解決手段】直線光源と、検知系と、光源からの光を試料上に集光させかつ戻り光を検知系に集光させる集光系とを配設する。さらに、検知系には、試料からの光が集光系によって直接または間接に集光される1次元の直線検知器アレイと、試料におけるピクセルの対応するラインからの光を直線検知器アレイに積分させる制御系を配設する。
【選択図】図5A
【解決手段】直線光源と、検知系と、光源からの光を試料上に集光させかつ戻り光を検知系に集光させる集光系とを配設する。さらに、検知系には、試料からの光が集光系によって直接または間接に集光される1次元の直線検知器アレイと、試料におけるピクセルの対応するラインからの光を直線検知器アレイに積分させる制御系を配設する。
【選択図】図5A
Description
本発明は、スリット共焦点顕微鏡およびその作動方法に関する。
共焦点顕微鏡は特許文献1に記載されたのが最初であったが、現在では技術的に公知となっている。典型的な共焦点顕微鏡は、光源と、検知系と、その光源からの光を試料に集光させかつ戻り光を検知系に集光させる集光系とを具備している。典型的な例では、検知ピクセルに対して共焦点関係にある単一ピクセルの寸法を有する小さい領域から、物体が照射される。図1Aおよび1Bは、このような従来の構成を示している。
このようにして、点光源1が光ビームを生成し、その光ビームがビーム分割器に入射し、そこから集光レンズ3に反射される。レンズ3は、光を物体4に集光し、そしてその物体によって反射されたまたは放射された光がレンズ3に戻り、そこで、視野絞りとして作用するピンホール(図示せず)の背後に配置された二次電子増倍管のような検知器5にビーム分割器2を通じて集光される。照射光源1はそのピンホールと同じ寸法である。
この系は円対称であり、したがって図1は側面からのおよび平面でのシステムの外観を示している。
共焦点性は、物体が焦点から離れる方向に移動すると、物体の映像の強度を低下させる。従来の多光子系では、ピンぼけ(defocusing)の影響は映像を不鮮明にするだけであった。共焦点系では、映像を不鮮明にするだけでなく、映像を暗くすることにもなる。これは、焦点外の物体は焦点内の物体に影響しないことを意味する。
焦点外の状況が図2に示されている。完全な2次元映像を生成するためには、検知器5および照射領域が通常、移動ミラーを通常有するラスター走査機構で物体4を横切って移動される。3次元映像が必要とされる場合には、異なる焦点面に2次元映像を生成することによって3次元映像が生成される。この3次元映像は、3次元映像形成装置を用いてあるいは3次元視覚化パッケージを用いて、視覚化することができる。あるいは、異なる焦点面の2次元映像を合体させて2次元映像を生成し、同じ分解能を有する多光子顕微鏡で生成できるものよりも焦点深度の大きい映像を生成することができる。
共焦点顕微鏡は光軸のまわりで回転対称であるから、光レベルの低下は、焦点からのずれ量(defocus)の4乗に比例する。これは、物体を照射する光レベルは焦点からのずれ量の2乗に比例して低下し、物体から検知される光レベルは焦点からのずれ量の2乗に比例して低下するからである。典型的な経験則では、PSF(point spread function)が焦点状態よりも4倍だけ大きくなるまで映像は通常焦点が合った状態に見える。このことは、共焦点顕微鏡では、焦点深度の経験則状態に達した時点までに、光レベルが44=256倍だけ低下したことを意味する。これによって、共焦点顕微鏡の映像を4つのPSFに類似した焦点からのずれ距離だけ分離された場合に互いに加え合わすことができ、かつ各面が他の面によって影響されないようにすることができる。
直線光源がスリットと共焦点の光の線である場合には、多光子映像形成と共焦点画像形成の勲記合わせのハイブリッド系を生成することができる。この場合には、共焦点映像形成と多光子映像形成との混合を得る。それは、視覚的共焦点顕微鏡に対して用いられることが多く、それについての記述が非特許文献1に見られる。このような顕微鏡が「スリット共焦点顕微鏡」と呼ばれる。
試料上でスリットを光学的に走査することによって、2次元映像の生成が行われる。デジタル映像の場合には、低い光レベルの状態に対しては、フィルム・カメラ、またはCCDまたは冷却CCDのような2D検知器を使用することが、非特許文献1の第12章、第195頁に記載されている。
ここで、
であり、ここで、
であり、ここで、
λ=光の波長
w=ピクセル寸法
z=焦点面からの距離
na=開口数
I=強度
wo=焦点面におけるピクセル寸法
wz=焦点面から距離zにおけるピクセル寸法
ISC=スリット共焦点系の強度
である。
であり、ここで、
であり、ここで、
λ=光の波長
w=ピクセル寸法
z=焦点面からの距離
na=開口数
I=強度
wo=焦点面におけるピクセル寸法
wz=焦点面から距離zにおけるピクセル寸法
ISC=スリット共焦点系の強度
である。
ここで、
であり、ここで、
である。
米国特許第3013467号
ジェームズ ビー ポーリ著「ハンドブック・オブ・バイオロジカル・コンフォーカル・マイクロスコピイ」第2版、プレナム・プレス("Handbook of Biological Confocal Microscopy", 2nd Edition, James B Pawley, Plenum Press)
であり、ここで、
である。
これは、図3に示されているように、焦点の変化にともなってかなり似通った強度の低下を生ずる。
スリット共焦点の場合には、2つの焦点面間のクロストークがこのようにして増大するが、図4に見られるように、これは限定されており、非共焦点の場合や多光子系の場合よりもはるかに少ない。
スリット・スキャナーに対して2D検知器を使用することは難点が多い。1つは、積分時間、すなわち検知器が光子を受け取る時間が、全フレームのための時間として設定されることである。積分時間が長いと、検知器からのダークノイズが大きくなる。温度を下げることでサーマルノイズを少なくするから、これらの系で冷却CCDカメラで用いられるのは、そのためである。
本発明の第1の態様によれば、スリット共焦点顕微鏡が、直線光源と、検知系と、光源からの光を試料上に集光させかつ戻り光を検知系に集光させる集光系とを具備しており、検知系が、試料からの光が集光系によって直接または間接に集光される1次元の直線検知器アレイと、試料におけるピクセルの対応するラインからの光を直線検知器アレイに積分させる制御系を具備している。
本発明の第2の態様によれば、本発明の第1の態様によるスリット共焦点顕微鏡を動作する方法が、a)試料からのピクセルのラインを照射し、試料からの光が直線検知器アレイに集光されるようにする工程と、b)ピクセルのラインに対応した検知器に対する入射光を積分する工程と、c)試料におけるピクセルの一連のラインに対して同じ直線検知器アレイでもって工程a)およびb)を反復する工程を含む。
本発明では、公知の2D検知器に代えて、検知器スリットの位置でCCDのような1次元ライン走査検知器を用いるか、あるいは、それと共焦点状態で他の映像形成光学系を用いて、積分時間が単一ライン積分時間と同程度の長さであればよいようにする。例えば、512ライン映像の場合には、熱的効果によるノイズは、2D検知器では、ライン走査検知器の場合よりも512倍大きくなる。映像が大きい場合、例えば10,000本のラインを有する場合には、2D検知器では、サーマルノイズが10,000倍大きい。このように、ライン走査検知器を用いると、ノイズが相当に小さくなって、大きい映像を走査することができ、あるいは低い光レベルを検知でき、あるいはまた検知器の冷却の使用を回避できる点で、2D検知器よりも明らかな利点がある。
2D映像を形成するためには、照射のラインと試料との間で相対移動を生じさせなければならないが、これは種々の従来方法で行うことができる。例えば、試料を顕微鏡に対して動かすだけでも、あるいはその逆を行うだけでもよい。あるいは、直線検知器アレイを、移動スリットまたは固定スリット構成で配設された任意のスリットと同期した状態で映像形成面を横切る方向に移動させてもよい。ミラー等を使用した適当な走査系が非特許文献1の第25章における図2および3に示されている。
スリット・スキャナーに対する2D検知器の第2の難点は、カラー映像形成が必要とされる場合である。通常、2D CCDカメラは、赤、緑、および青の感光サイトのモザイクで作製される。このことは、単一のピクセルが3色全部を試料の正確に同じ場所から検知される場所が存在しないことを意味する。このことは、映像の実解像度の低下をもたらす。2Dカメラでこの問題を克服するために検知器をデイザリング(dithering)する通常の方法は、映像の連続したフレーム走査間で検知器がデイザリングされなければスリット・スキャナーでは有効に作用しないし、また映像のジッタ−を防止するために各フレームが非常に正確に整列される(aligned)必要があるので、この方法は遅くてかつ難しい。1つのピクセルの10分の1の誤差を検知でき、1つのピクセルの5分の1の誤差を容易に検知することができる。
ライン走査検知器アレイを用いる場合には、カラー映像を2つの異なる方法で生成することができる。1つは、スリー・ストライプCCD検知器を用いることである。これは、少数のラインだけ互いに変位される3の検知器ラインを有している。これを行うためには、異なるカラーの、例えば赤、緑および青(RGB)の3つのラインで試料を照射して、事実上、3つの共焦点ラインを有するようにする必要がある。次に、それらのラインが映像を横切って移動され、そしてそれらのカラーのうちの2つを適当な量だけ遅延まはたシフトさせることによって、各カラーが位置合わせし直される(reregistered)。これは、ジッタ−の問題を排除することになり、かつカラー位置合わせが1ピクセルの約3分の1程度と裕度がはるかに大きいので、実施するのがその分だけ容易であり、数個のフレーム程度の長い時間にわたって高い精度を要求するものではなく、数本のライン程度の短い時間だけ精度を有していればよいのである。これはまた、その時間の間に移動する試料に対する感度を低下させる。このようにして、試料のすべてのピクセルが、3色のカラー全部を検知される。
カラー映像を生成するためにライン走査検知器アレイを使用する他の方法は、単一のモノクロ・ライン走査検知器を使用し、かつ直線光源からの光のカラーを変更することである。例えば、光のカラーをライン毎に変更することができ、その場合には、カラーは1ピクセルの3分の1だけ常に位置ずれするが、それは、必要に応じて、補間法を用いて補償することができ、長時間の積分を維持することを必要としない。これを行う他の方法は、フレーム毎にカラーを変更することであるが、これは、満足しうる映像を生成するためには3つのフレームにわたって1ピクセルの3分の1の位置合わせを必要とし、それはさらに困難である。
添付図面を参照し、公知の顕微鏡と対比して、本発明によるスリット共焦点顕微鏡の幾つかの実施例について説明する。
図5Aおよび5Bは、本発明によるスリット共焦点顕微鏡の1つの実施例を、それぞれ側面図および平面図で示している。この場合には、光源1は、1本の白色光ラインを生成する直線光源10よりなり、その白色光ラインがレンズ3によって物体上に集光され、そこで、平面図において、直線領域11を照射する。戻り光は、直線検知器アレイ13に集光される。その直線検知器アレイ13の正面には、実効的にレンズ3の焦点に、光スリット開口12が配設されている。
検知器13は処理器14に接続され、そしてその処理器14はデータ記憶器15に接続されている。
使用時には、物体が光源10からの1本の光のラインによって照射され、これによって、物体によって反射されたおよび/または放出された光が、典型的にはCCDアレイである検知器13の直線アレイに集光される。積分時間の後で、処理器14がアレイ13を制御して、各検知器における蓄積電荷を転送ゲートに転送させ、そしてその電荷が処理器14に直列にダウンロードされ、記憶器15に格納される。
図5Aは直線スリット開口12が存在していることを示しているが、検知器13がレンズ3の焦点位置に配置される場合には、それは必要でなく、したがって、図5Bでは省略されている。
他の構成(図示せず)では、スリット開口12に、それの背後に離間された検知器13と、スリット開口12を通じて受光された光を検知器アレイ13に集光させるための他の集光光学系とを配設してもよい。言い換えると、検知器13とスリット開口12との間に第2の共焦点構成が配設される。これは、検知器アレイをレンズ3の焦点位置に配置することが難しい場合の観点から有用である。
物体4の表面の2次元映像を生成できる方法は多数ある。1つの手法は、一方におけるスリット共焦点顕微鏡と他方における物体4との間で相対的な本体移動を生じさせ、光源10に物体の表面上の一連のピクセル・ラインを照射させるようにすることである。そして、これらのピクセル・ラインからの光が、記憶器15の対応するアレイに格納される。
しかし、従来の共焦点系では、この遅い走査は、正確に反復すること、走査速度を一定にすること、大きい面積をカバーすることが難しい走査ミラー系を用いて発生されるのが通常である。典型的には、映像寸法は512×512ピクセルである。この手法は、ライン・スキャナー・スリット共焦点系が光通路に移動ミラーを必要としない本発明では有利に利用できるとともに、反復可能性がはるかに高くかつそれを正確に行うのがより容易である。また、CCD検知器13の長さが通常10000ピクセルであり、そして横動の長さ(length of traverse)は物体をあるいは走査系をどの程度まで移動させることが所望されているかによってのみ制限されるから、大きい面積を走査するのが容易である。遅い走査方向では、典型的な走査寸法は、10,000×10,000ピクセル程度あるいはそれより長くてもよい。このようにして、スリット開口12または検知器13は固定状態に維持され、光源1からの光を物体表面4上の複数のピクセル・ラインに照射させるためにミラー系が用いられる。適当な系が非特許文献1の第25章の図2および3に示されている。
他の実施例では、物体上の一連のピクセル・ラインを光源1からの光ラインで照射させるためにミラー系が配設され、そして検知器13がレンズ3によって画定された共焦点面を横切って移動されて、各照射されたピクセル・ラインからの光を記録する。言い換えると、検知器の正面のスリットが省略され、検知器アレイが実効的に「スリット」と同期して移動される。
これまで説明した実施例では、検知器は単色型のものであり、かつ光源1は白色光または単色光のラインを生成するものであった。カラー映像形成を行えるように図5Aおよび5Bに示された装置を修正することが可能である。
第1の例では、検知器13が、図6に示されたマルチストライプCCD(または他の)アレイ13’で置換される。この場合には、検知器の3つのラインまたはストライプ、すなわち、赤感応検知器20、緑感応検知器21および青感応検知器22のラインが、共通の支持体上に配設される。検知器の各ラインは、それぞれのトランスファー・ゲート23、24、25に関連されている。これらは、処理器14に個別に接続されている。実際には、検知器20、21、22の各ラインは、検知器の隣接ラインから約12ラインだけ離間されている。この場合には、ライン光源が、異なるカラーの、典型的には赤、緑、青の3つのスリット状ビーム40、41、42を生成する。これらは、ビーム分割器2によって反射された後で、レンズ3によって物体4上の離間されたラインに集光される。そして、物体4からの光がレンズ3によって戻され、さらにビーム分割器2によって3つの異なる共焦点場所43−45に集光される(図8)。したがって、実効的には、3つのスリット共焦点系が画定されたことになる。
検知器アレイ13’が次に図8に示されているように左から右へと横動されて、該当する検知器のアレイを結像された映像と合致させる。このようにして、赤感応検知器20が焦点43に対して整列され、次にアレイ13’が移動されて緑感応検知器21を焦点位置44に対して整列した状態にし、そしてもう一度移動されて青感応検知器22を焦点45に対して整列した状態にする。完全な走査の後で、赤、緑および赤の映像が物体4上の各ラインから得られ、そしてこれらが処理器14によって簡単な態様で互いに同期して再配列され、物体4上の各ピクセルに対する合成カラーを生成することができる。
図6に示された検知器アレイは、2次元アレイとして使用されているのではなくて、物体4の表面上のピクセルの同じ直線アレイから光を得る一組の1次元アレイとして使用されていることが理解されるであろう。
他の手法が図7に示されており、単色検知器アレイ13が使用されているが、光源1によって生成されたカラーが変化される。これは、多くの異なる方法で達成できるものであり、図7はそれらの一例である。この場合には、直線光源1からの白色光が、回転自在に装着されたフィルター・ホイール33上に配置された一組の3つの赤、緑および青フィルター30−32のうちの1つを通過する。第1のステージでは、赤フィルター30が白色光に対して整列されて赤色光だけがビーム分割器2に入射する前にフィルター・ホイール33を通じて照射スリット34に到達するように、フィルター・ホイール33が構成されている。次に、物体4からの情報が検知器アレイ13によって記録され、そして処理器14にダウンロードされる。そして、フィルター・ホイール33が回転されて、緑フィルター31を白色光に対して整列した状態し、この工程が繰り返される。フィルター32を白色光源に対して整列した状態にして、この工程がもう一度繰り返される。そして、物体4上の同じライン内の各ピクセルに対する3つの組のカラー情報が上述のようにして処理される。
使用時には、検知器13、レンズ3および照射スリット34が互いに対してすべて固定されており、かつ物体4が連続的に移動される実施例について考える。赤、緑および青ピクセルを取り出す時間がtであるとすると、1つの特定のカラーのピクセルの各ライン、例えば、赤フィルター・ホイールが照射通路内にある場合には赤、フィルター・ホイールの緑フィルターが照射通路内にある場合に緑、あるいはフィルター・ホイールの青フィルターが照射通路内にある場合には青が、t/3の時間で得られる。試料4が時間tで顕微鏡に関してxだけ移動しているように、照射スリット34の幅はxであるようになされている。このようにして、一連の赤、緑および青ラインx/3を互いに同期していない状態で検知する。これは、もし所望されれば、補間を用いて補正できる。
もちろん、他の手段が相対移動を生じさせるようになされている場合には、同様の方法を用いてもよい。
他の実施例(図示せず)では、光源は、選択的に付勢された波長の異なる光を発生するLEDのような多数の異なるカラーの光源で構成されうる。
2 ビーム分割器
3 レンズ
4 物体
10 直線光源
12 光スリット開口
13 直線検知器アレイ
14 処理器14
15 記憶器
20 赤感応検知器
21 緑感応検知器
22 青感応検知器
23、24、25 トランスファー・ゲート
30 赤フィルター
31 緑フィルター
32 青フィルター
33 フィルター・ホイール
34 照射スリット
3 レンズ
4 物体
10 直線光源
12 光スリット開口
13 直線検知器アレイ
14 処理器14
15 記憶器
20 赤感応検知器
21 緑感応検知器
22 青感応検知器
23、24、25 トランスファー・ゲート
30 赤フィルター
31 緑フィルター
32 青フィルター
33 フィルター・ホイール
34 照射スリット
Claims (15)
- 直線光源と、検知系と、光源からの光を試料上に集光させかつ戻り光を検知系に集光させる集光系とを具備しており、検知系が、試料からの光が集光系によって直接または間接に集光される1次元の直線検知器アレイと、試料におけるピクセルの対応するラインからの光を直線検知器アレイに積分させる制御系を具備しているスリット共焦点顕微鏡。
- 前記試料からの光の焦点にスリットを画成するマスクをさらに具備している、請求項1に記載の顕微鏡。
- 前記スリットを前記直線検知器アレイに結像させる他の集光系をさらに具備している、請求項2に記載の顕微鏡。
- 前記直線検知器アレイが前記集光系の焦点に配置されている、請求項1〜3のうちの1つに記載の顕微鏡。
- 前記検知器アレイ(およびもし配設されている場合にはスリット)を、前記集光系の映像面内で試料に対して移動させる手段をさらに具備する、請求項1〜4のうちの1つに記載の顕微鏡。
- 前記検知系が、1つより多い直線検知器アレイを具備し、前記アレイは互いに実質的に平行であり、各検知器アレイがそれぞれ異なるカラーに感応する、請求項1〜5のうちの1つに記載の顕微鏡。
- 前記光源が、それぞれ異なるカラーの1つより多いビームを生成するようになされており、前記集光系が戻り光をそれぞれ異なる焦点位置に集光させ、前記検知系が、各アレイを前記集光系の対応する焦点位置に持って行くように可動である、請求項6に記載の顕微鏡。
- 前記検知系が単一の直線検知器アレイを具備しており、前記直線光源が異なるカラーのラインを交互に生成するようになされており、前記検知系は前記直線光源によって生成されるすべてのカラーに感応する、請求項1〜7のうちの1つに記載の顕微鏡。
- カラーが赤、緑および青よりなる、請求項6〜8のうちの1つに記載のスリット共焦点顕微鏡。
- 前記検知器アレイがCCDアレイよりなる、請求項1〜9のうちの1つに記載の顕微鏡。
- 直線光源と、検知系と、光源からの光を試料上に集光させかつ戻り光を検知系に集光させる集光系とを具備しており、検知系が、試料からの光が集光系によって直接または間接に集光される1次元の直線検知器アレイと、試料におけるピクセルの対応するラインからの光を直線検知器アレイに積分させる制御系を具備しているスリット共焦点顕微鏡の作動方法であって、
a)試料からのピクセルのラインを照射し、試料からの光が直線検知器アレイに集光されるようにする工程と、
b)ピクセルのラインに対応した検知器に対する入射光を積分する工程と、
c)試料におけるピクセルの一連のラインに対して同じ直線検知器アレイでもって工程a)およびb)を反復する工程を含む、スリット共焦点顕微鏡の作動方法。 - 前記試料上の異なるピクセル・ラインを照射するために、前記顕微鏡のすべてまたは一部分と前記試料との間で相対移動を生じさせる工程をさらに含む、請求項11に記載の方法。
- 1つのカラーに対して前記工程a)−c)を実行し、そして1つ以上の他のカラーで照射された場合に同じピクセル・ラインに対して前記工程a)−c)を反復する工程を含む、請求項11または12に記載の方法。
- 各ピクセル・ラインに対して、前記工程c)を実行する前に2以上のカラーのそれぞれにつき前記工程a)−b)を実行する工程を含む、請求項11〜13のうちの1つに記載の方法。
- 前記試料上の一連のピクセル・ラインが前記検知系に結像されるように前記試料と前記検知系との間に連続の相対移動を生じさせる工程と、1つのカラーで照射された1つのピクセル・ラインが次のカラーで照射された1つのピクセル・ラインと重なり合うように前記試料に所定の速度で異なるカラーを照射させる工程と、各照射されたピクセル・ラインに対して、検知器に対する入射光を積分する工程を含む、請求項11〜14のうちの1つに記載の方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/818,585 US20050225849A1 (en) | 2004-04-05 | 2004-04-05 | Slit confocal microscope and method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005292839A true JP2005292839A (ja) | 2005-10-20 |
Family
ID=34940562
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005107427A Pending JP2005292839A (ja) | 2004-04-05 | 2005-04-04 | スリット共焦点顕微鏡およびその作動方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20050225849A1 (ja) |
EP (1) | EP1586931A3 (ja) |
JP (1) | JP2005292839A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009517662A (ja) * | 2005-11-23 | 2009-04-30 | イルミナ インコーポレイテッド | 共焦点イメージング方法および装置 |
JP2017068280A (ja) * | 2016-12-27 | 2017-04-06 | カシオ計算機株式会社 | 姿勢検出装置、方法及びプログラム |
JP2018132759A (ja) * | 2017-01-25 | 2018-08-23 | スペシム スペクトラル イメージング オサケユキチュア リミテッド | 撮像装置および作動方法 |
WO2018190125A1 (ja) * | 2017-04-13 | 2018-10-18 | 横河電機株式会社 | 共焦点スキャナ、顕微鏡システム、及び共焦点顕微鏡 |
JP2018180516A (ja) * | 2017-04-13 | 2018-11-15 | 横河電機株式会社 | 共焦点スキャナ、及び共焦点顕微鏡 |
US10642013B2 (en) | 2014-04-30 | 2020-05-05 | Olympus Corporation | Specimen observation apparatus |
WO2021193177A1 (ja) * | 2020-03-27 | 2021-09-30 | ソニーグループ株式会社 | 顕微鏡システム、撮像方法、および撮像装置 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1607041B1 (en) | 2004-06-17 | 2008-01-16 | Cadent Ltd. | Method for providing data associated with the intraoral cavity |
US7684048B2 (en) | 2005-11-15 | 2010-03-23 | Applied Materials Israel, Ltd. | Scanning microscopy |
US8509565B2 (en) * | 2008-12-15 | 2013-08-13 | National Tsing Hua University | Optimal multi-resolution blending of confocal microscope images |
CN101872064B (zh) * | 2009-04-24 | 2012-07-04 | 陈亮嘉 | 线型多波长共焦显微镜模块以及其共焦显微方法与*** |
DE102011078817A1 (de) * | 2011-06-17 | 2012-12-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur dreidimensionalen Vermessung eines Körpers und Vorrichtung |
DE102011114500B4 (de) * | 2011-09-29 | 2022-05-05 | Fei Company | Mikroskopvorrichtung |
US20150192461A1 (en) * | 2012-07-05 | 2015-07-09 | National University Of Singapore | Light microscope and method of controlling the same |
FR3015659B1 (fr) | 2013-12-20 | 2016-01-29 | Centre Nat Rech Scient | Appareil et procede de tomographie optique |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3013467A (en) * | 1957-11-07 | 1961-12-19 | Minsky Marvin | Microscopy apparatus |
JP3343276B2 (ja) * | 1993-04-15 | 2002-11-11 | 興和株式会社 | レーザー走査型光学顕微鏡 |
JP3438855B2 (ja) * | 1997-01-23 | 2003-08-18 | 横河電機株式会社 | 共焦点装置 |
US5963676A (en) * | 1997-02-07 | 1999-10-05 | Siemens Corporate Research, Inc. | Multiscale adaptive system for enhancement of an image in X-ray angiography |
US6134002A (en) * | 1999-01-14 | 2000-10-17 | Duke University | Apparatus and method for the rapid spectral resolution of confocal images |
JP2000275027A (ja) * | 1999-03-23 | 2000-10-06 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | スリット共焦点顕微鏡とそれを用いた表面形状計測装置 |
DE10029680B4 (de) * | 2000-06-23 | 2016-06-16 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskop-Aufbau |
KR20020084786A (ko) * | 2001-05-04 | 2002-11-11 | 이재웅 | 선형 선 스캐닝을 이용하는 공초점 영상 형성 장치 및 방법 |
-
2004
- 2004-04-05 US US10/818,585 patent/US20050225849A1/en not_active Abandoned
-
2005
- 2005-03-10 EP EP05251461A patent/EP1586931A3/en not_active Withdrawn
- 2005-04-04 JP JP2005107427A patent/JP2005292839A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009517662A (ja) * | 2005-11-23 | 2009-04-30 | イルミナ インコーポレイテッド | 共焦点イメージング方法および装置 |
US10642013B2 (en) | 2014-04-30 | 2020-05-05 | Olympus Corporation | Specimen observation apparatus |
JP2017068280A (ja) * | 2016-12-27 | 2017-04-06 | カシオ計算機株式会社 | 姿勢検出装置、方法及びプログラム |
JP2018132759A (ja) * | 2017-01-25 | 2018-08-23 | スペシム スペクトラル イメージング オサケユキチュア リミテッド | 撮像装置および作動方法 |
WO2018190125A1 (ja) * | 2017-04-13 | 2018-10-18 | 横河電機株式会社 | 共焦点スキャナ、顕微鏡システム、及び共焦点顕微鏡 |
JP2018180516A (ja) * | 2017-04-13 | 2018-11-15 | 横河電機株式会社 | 共焦点スキャナ、及び共焦点顕微鏡 |
CN110462483A (zh) * | 2017-04-13 | 2019-11-15 | 横河电机株式会社 | 共聚焦扫描仪、显微镜***以及共聚焦显微镜 |
CN110462483B (zh) * | 2017-04-13 | 2022-08-12 | 横河电机株式会社 | 共聚焦扫描仪、显微镜***以及共聚焦显微镜 |
US11506878B2 (en) | 2017-04-13 | 2022-11-22 | Yokogawa Electric Corporation | Confocal scanner, microscope system, and confocal microscope |
WO2021193177A1 (ja) * | 2020-03-27 | 2021-09-30 | ソニーグループ株式会社 | 顕微鏡システム、撮像方法、および撮像装置 |
DE112021001887T5 (de) | 2020-03-27 | 2023-01-05 | Sony Group Corporation | Mikroskopsystem, bildgebungsverfahren und bildgebungsvorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1586931A3 (en) | 2006-10-11 |
EP1586931A2 (en) | 2005-10-19 |
US20050225849A1 (en) | 2005-10-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2005292839A (ja) | スリット共焦点顕微鏡およびその作動方法 | |
US7335898B2 (en) | Method and apparatus for fluorescent confocal microscopy | |
US9864182B2 (en) | High-resolution scanning microscopy | |
JP4723806B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
US7619732B2 (en) | Method and microscope for high spatial resolution examination of samples | |
JPWO2019230878A1 (ja) | 蛍光観察装置及び蛍光観察方法 | |
JP2010506203A (ja) | 並行化された顕微鏡イメージングのための方法および装置 | |
JP2013515249A (ja) | 物体の2次元または3次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法 | |
US8446502B2 (en) | Time domain multiplexing for imaging using time delay and integration sensors | |
JP2017167535A (ja) | ライトフィールド顕微鏡および照明方法 | |
US11106026B2 (en) | Scanning microscope for 3D imaging using MSIA | |
EP3198324B1 (en) | Resolution enhancement for line scanning excitation microscopy systems and methods | |
JP2014530381A (ja) | レーザ走査顕微鏡の走査フィールドを変化させる方法 | |
US11143855B2 (en) | Scanning microscope using pulsed illumination and MSIA | |
JP2007506146A (ja) | 共焦点レーザ走査顕微鏡 | |
CN115066641A (zh) | 显微镜***、成像方法和成像设备 | |
JP4185711B2 (ja) | 複数の光源を備えた顕微鏡 | |
JP5019279B2 (ja) | 共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法 | |
JP2008051772A (ja) | 蛍光画像取得装置、及び蛍光画像取得方法 | |
JP2018194634A (ja) | ライトフィールド顕微鏡 | |
US20220043245A1 (en) | Method and device for scanning a sample | |
JP4185712B2 (ja) | カラー顕微鏡 | |
JP5316883B2 (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JP2004029373A (ja) | カラー顕微鏡 | |
US20190137742A1 (en) | Microscope and microscopy method |