JP2005153059A - Manufacturing method for plate polishing device and active matrix substrate - Google Patents

Manufacturing method for plate polishing device and active matrix substrate Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for a plate polishing device and an active matrix substrate capable of easily cleaning a plate after chamfering and preventing attachment of polishing powder to the plate while preventing breakage of the plate in a chamfering process by polishing the plate. <P>SOLUTION: The plate polishing device 10 chamfers a cut surface of a substrate cut in specified size by polishing. A shower part 8 for leveling to form a film of water by an open system on an overall surface of a surface of the cut substrate 1 is provided. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、所定の大きさに切断したTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)マザーガラスやカラーフィルタマザーガラス板等のアクティブマトリクス基板の切断面を砥石による研磨により面取りする板研磨装置及び、面取り工程を含むアクティブマトリクス基板の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a plate polishing apparatus for chamfering a cut surface of an active matrix substrate such as a TFT (Thin Film Transistor) mother glass or a color filter mother glass plate cut into a predetermined size by polishing with a grindstone, and a chamfering process. The present invention relates to a manufacturing method of an active matrix substrate.

従来から、液晶表示装置の製造工程においては、例えば、1500mm×1800mmの大きさのTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)マザーガラスやカラーフィルタマザーガラス等のアクティブマトリクス基板を例えば1500mm×900mm等の大きさに分断することが行われている。これらマザーガラスを分断した箇所は、角部が鋭利になっており、マザーガラスの割れの原因となるので、面取りをする必要がある。   Conventionally, in a manufacturing process of a liquid crystal display device, an active matrix substrate such as a TFT (Thin Film Transistor) mother glass or a color filter mother glass having a size of 1500 mm × 1800 mm, for example, has a size of, for example, 1500 mm × 900 mm. It has been divided into two. Since these corners of the mother glass have sharp corners that cause cracks in the mother glass, they must be chamfered.

ここで、面取り工程においては、研磨するときのカレット(Cullet:ガラスの屑)が飛散するので、面取り部分に注水しながら行うのが一般的である。しかし、そのようにしても、研磨粉を含んだ懸濁水が飛散してガラス板表面に付着するので、その研磨後にガラス板表面の洗浄が必要となる。   Here, in the chamfering step, cullet (Cullet: glass scrap) at the time of polishing is scattered, and therefore, it is generally performed while pouring water into the chamfered portion. However, even in such a case, since the suspended water containing the abrasive powder is scattered and adheres to the glass plate surface, the glass plate surface needs to be washed after the polishing.

そこで、ガラス板表面の洗浄を容易にするために、例えば、特許文献1に記載された研磨装置では、ガラス板の表面にフードを被せている。   Therefore, in order to facilitate cleaning of the glass plate surface, for example, in the polishing apparatus described in Patent Document 1, a hood is placed on the surface of the glass plate.

すなわち、上記研磨装置では、図8に示すように、定位置にある研磨機101に対して、テーブル102上にセットしたガラス板103をテーブル102と一緒に移動させる間に、ガラス板103の端面に対して研磨を行うようになっている。   That is, in the above polishing apparatus, as shown in FIG. 8, the end surface of the glass plate 103 is moved while the glass plate 103 set on the table 102 is moved together with the table 102 with respect to the polishing machine 101 in a fixed position. Polishing is performed.

そして、この研磨装置では、研磨位置にあるガラス板103を覆うフード104を設け、そのフード104の中央に設けた通水管105から給水し、図9に示すように、フード周縁部でのギャップ106・106から漏出する水を研磨液として用いると共に、図10に示すように、研磨後にさらにダクト110にてエア吹き付けを行うか、純水を流すことにより、ガラス板103を最終的に洗浄するとしている。   In this polishing apparatus, a hood 104 that covers the glass plate 103 at the polishing position is provided, and water is supplied from a water pipe 105 provided in the center of the hood 104. As shown in FIG.・ The water leaked from 106 is used as a polishing liquid, and as shown in FIG. 10, the glass plate 103 is finally cleaned by further blowing air in the duct 110 after polishing or by flowing pure water. Yes.

これにより、研磨粉を含んだ懸濁水が飛散してもフード104に遮られ、ガラス板103の表面自体には付着することはないので、研磨後にガラス板103にエアを吹き付けつ程度でも充分である。
特開平10−58293号公報(1998年3月3日公開)
As a result, even if the suspended water containing the polishing powder is scattered, the hood 104 is shielded and does not adhere to the surface of the glass plate 103. Therefore, it is sufficient to blow air on the glass plate 103 after polishing. is there.
JP 10-58293 A (published March 3, 1998)

しかしながら、上記従来の板研磨装置では、図11に示すように、通水管105はフード104の中央に設けられており、かつその通水管105から流れる水は、通水管105の下方に設けられた受水器107に一旦受けられ、その受水器107の両側から各研磨位置に流れていくようになっている。   However, in the conventional plate polishing apparatus, as shown in FIG. 11, the water pipe 105 is provided at the center of the hood 104, and the water flowing from the water pipe 105 is provided below the water pipe 105. Once received by the water receiver 107, it flows from each side of the water receiver 107 to each polishing position.

したがって、ガラス板103の中央部には、水は流れていない。そして、この注水方法では、その受水器107の両側から各研磨位置に流れていくときに、必ずしも平面的に流れるのではなく、筋状に流れていく。その結果、研磨機101での研磨粉がギャップ106・106を通って、フード104内に入り込み、水の流れていないガラス板103の中央部に堆積する。   Accordingly, water does not flow in the central portion of the glass plate 103. In this water injection method, when flowing from both sides of the water receiver 107 to each polishing position, it does not necessarily flow in a plane but flows in a streak shape. As a result, the polishing powder from the polishing machine 101 enters the hood 104 through the gaps 106 and 106 and accumulates at the center of the glass plate 103 where no water flows.

上記特許文献1の研磨装置では、そのような場合でも、研磨後にさらにエア吹き付けを行うか、純水を流すことにより、ガラス板103を最終的にきれいに洗浄できるものとなっている。   Even in such a case, the polishing apparatus of Patent Document 1 can finally clean the glass plate 103 by blowing air further after polishing or by flowing pure water.

ここで、上述のように、研磨装置における研磨の対象が、単なるガラス板103の場合には、該ガラス板103に付着した研磨粉を、少なくとも純水を流すことにより洗浄できる。   Here, as described above, when the object of polishing in the polishing apparatus is the simple glass plate 103, the polishing powder adhering to the glass plate 103 can be cleaned by flowing at least pure water.

しかしながら、研磨装置における研磨の対象が、単なるガラス板ではなく、例えば、液晶表示装置に使用されるTFTマザーガラスやカラーフィルタマザーガラスの場合には、その表面層に一旦付着した研磨粉は、純水で洗い流しても、容易には洗浄できないという問題点を有している。   However, when the object to be polished in the polishing apparatus is not a mere glass plate, for example, TFT mother glass or color filter mother glass used in a liquid crystal display device, the polishing powder once adhered to the surface layer is pure. There is a problem that even if it is washed away with water, it cannot be easily washed.

その理由は、TFTマザーガラス及びカラーフィルタマザーガラスの各表面層は、高分子からなる樹脂層となっており、その樹脂層に研磨粉が吸着されるような状態となっているためと考えられる。   The reason is considered that each surface layer of the TFT mother glass and the color filter mother glass is a resin layer made of a polymer, and the polishing powder is adsorbed on the resin layer. .

一方、上記の特許文献1では、水をガラス板103の全面に流すことも行っている。すなわち、特許文献1では、フード104とガラス板103との間の空間内に水を満たし、内圧を高めにしておく方法も採用している。この方法は、フード104とガラス板103との隙間をオリフィスとして使用するものと考えられ、その隙間はある程度狭いものと推測される。   On the other hand, in Patent Document 1 described above, water is also allowed to flow over the entire surface of the glass plate 103. That is, Patent Document 1 also adopts a method in which the space between the hood 104 and the glass plate 103 is filled with water and the internal pressure is increased. In this method, it is considered that the gap between the hood 104 and the glass plate 103 is used as an orifice, and the gap is estimated to be narrow to some extent.

したがって、このような隙間から水を外部に向かって導出した場合には、隙間近傍で乱流が発生し、フード104の端面が乱流の影響により振動してガラス板103に接触し、その結果、ガラス板103が破損するおそれがある。   Therefore, when water is led out from such a gap toward the outside, turbulent flow is generated in the vicinity of the gap, and the end surface of the hood 104 vibrates due to the influence of the turbulent flow and contacts the glass plate 103. The glass plate 103 may be damaged.

また、ガラス板103にTFTやカラーフィルタを形成した後の基板では、乱流によってTFTやカラーフィルタに悪影響を及ぼす可能性がある。さらに、上述したTFTマザーガラス及びカラーフィルタマザーガラスの厚さは、0.7mm程度であり、基板に対向するステージを用いない場合には、圧力を加えると基板が割れたり、損傷したりするという問題点を有している。   Further, in the substrate after the TFT and the color filter are formed on the glass plate 103, the TFT and the color filter may be adversely affected by the turbulent flow. Furthermore, the thickness of the TFT mother glass and the color filter mother glass described above is about 0.7 mm, and when a stage facing the substrate is not used, the substrate is cracked or damaged when pressure is applied. Has a problem.

また、フード104による密閉系では、圧力を高めなければ、筋状の水の道ができ、板の表面全体に水が行き渡らないという問題点を有している。   Further, the closed system using the hood 104 has a problem that if the pressure is not increased, a path of streaky water is formed, and water does not spread over the entire surface of the plate.

本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、板の研磨による面取り工程において、板の破損を防止しつつ、研磨粉の板への付着を防止し、面取り後の板の洗浄を容易にし得る板研磨装置及びアクティブマトリクス基板の製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and its purpose is to prevent the adhesion of abrasive powder to the plate while preventing the breakage of the plate in the chamfering step by polishing the plate, and chamfering. It is an object of the present invention to provide a plate polishing apparatus and an active matrix substrate manufacturing method capable of facilitating subsequent cleaning of the plate.

本発明の板研磨装置は、上記課題を解決するために、所定の大きさに切断した板の切断面を研磨により面取りする板研磨装置において、上記切断した板の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成する板表面水膜形成手段が設けられていることを特徴としている。   In order to solve the above problems, the plate polishing apparatus of the present invention is a plate polishing apparatus that chamfers a cut surface of a plate cut into a predetermined size by polishing. The plate polishing device is an open system on the entire surface of the cut plate. A plate surface water film forming means for forming a water film is provided.

また、本発明の板研磨装置は、上記記載の板研磨装置において、前記板表面水膜形成手段に対して、前記切断した板の少なくとも研磨前に、板の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成するように制御する制御手段が設けられていることを特徴としている。   Further, the plate polishing apparatus of the present invention is the above-described plate polishing apparatus, wherein the plate surface water film forming means has an open system on the entire surface of the plate at least before polishing the cut plate. The present invention is characterized in that a control means for controlling the film to be formed is provided.

また、本発明のアクティブマトリクス基板の製造方法は、上記課題を解決するために、所定の大きさに切断した基板の切断面を研磨により面取りする板研磨工程を含むアクティブマトリクス基板の製造方法において、上記板研磨工程では、上記切断した基板の少なくとも研磨前に板表面の全面にオープン系にて水の膜を形成した後、上記切断した板を研磨することを特徴としている。なお、オープン系とは、フードによる密閉系ではなく、大気に晒されていることをいう。   Moreover, in order to solve the above-described problem, the active matrix substrate manufacturing method of the present invention includes a plate polishing step of chamfering a cut surface of the substrate cut into a predetermined size by polishing. The plate polishing step is characterized in that a water film is formed in an open system on the entire surface of the plate at least before polishing the cut substrate, and then the cut plate is polished. In addition, an open system means that it is exposed to air | atmosphere instead of the closed system by a hood.

上記の発明によれば、板研磨工程において、板表面水膜形成手段にて切断した板の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成する。   According to the above invention, in the plate polishing step, the water film is formed in an open system on the entire surface of the plate cut by the plate surface water film forming means.

すなわち、板研磨工程では、水を流しながら砥石による分断された板の研磨を行うが、その際、研磨粉が飛散し、板に付着する。   That is, in the plate polishing step, the divided plate is polished by the grindstone while flowing water, and at that time, the polishing powder is scattered and adheres to the plate.

しかしながら、本発明のように、切断した板の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成しておけば、研磨粉が板に直接付着することはない。   However, if a water film is formed in an open system on the entire surface of the cut plate as in the present invention, the abrasive powder does not adhere directly to the plate.

また、水の膜の形成はオープン系にて行われるので、板の上方にフードを被せてそのフードと板との間の空間に圧をかけて水を満たすのではないので、水やフードによる板への影響がない。   In addition, since the water film is formed in an open system, the hood is placed over the plate and the space between the hood and the plate is not filled with water. There is no effect on the board.

したがって、板の研磨による面取り工程において、板の破損を防止しつつ、研磨粉の板への付着を防止し、面取り後の板の洗浄を容易にし得る板研磨装置及びアクティブマトリクス基板の製造方法を提供することができる。   Therefore, in a chamfering process by polishing a plate, a plate polishing apparatus and an active matrix substrate manufacturing method that can prevent the plate from being damaged, prevent adhesion of polishing powder to the plate, and facilitate cleaning of the plate after chamfering. Can be provided.

また、本発明では、制御手段によって、切断した板の少なくとも研磨前に、板の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成する。   In the present invention, the control means forms a water film on the entire surface of the cut plate at least before polishing the cut plate.

したがって、研磨中に、研磨粉が飛散してもその研磨粉が研磨粉が板に直接付着することはない。この結果、確実に、板の研磨による面取り工程において、研磨粉の板への付着を防止し、面取り後の板の洗浄を容易にし得る板研磨装置及びアクティブマトリクス基板の製造方法を提供することができる。   Therefore, even if the polishing powder is scattered during polishing, the polishing powder does not adhere directly to the plate. As a result, it is possible to reliably provide a plate polishing apparatus and an active matrix substrate manufacturing method capable of preventing the adhesion of polishing powder to the plate and facilitating cleaning of the plate after chamfering in the chamfering step by polishing the plate. it can.

また、本発明の板研磨装置は、上記記載の板研磨装置において、前記板は、薄膜トランジスタが実装された基板、又はカラーフィルタが実装された基板であることを特徴としている。   The plate polishing apparatus of the present invention is characterized in that in the plate polishing apparatus described above, the plate is a substrate on which a thin film transistor is mounted or a substrate on which a color filter is mounted.

また、本発明のアクティブマトリクス基板の製造方法は、上記記載のアクティブマトリクス基板の製造方法において、前記基板は、薄膜トランジスタが実装された基板、又はカラーフィルタが実装された基板であることを特徴としている。   The active matrix substrate manufacturing method of the present invention is characterized in that, in the above-described active matrix substrate manufacturing method, the substrate is a substrate on which a thin film transistor is mounted or a substrate on which a color filter is mounted. .

上記の発明によれば、板は、薄膜トランジスタが実装された基板、又はカラーフィルタが実装された基板である。   According to the invention, the plate is a substrate on which a thin film transistor is mounted or a substrate on which a color filter is mounted.

すなわち、薄膜トランジスタが実装された基板、又はカラーフィルタが実装された基板は、ガラス基板とは異なり、研磨工程において、研磨粉が付着すると水にて洗浄しても容易には除去できない。   That is, unlike a glass substrate, a substrate on which a thin film transistor is mounted or a substrate on which a color filter is mounted cannot be easily removed by washing with water when polishing powder adheres in a polishing process.

したがって、薄膜トランジスタが実装された基板、又はカラーフィルタが実装された基板において、基板の全面に水膜を形成した後に研磨を行うことにより、研磨粉の基板への付着を防止し、面取り後の基板の洗浄を容易にし得る効果が大きい。   Therefore, in a substrate on which a thin film transistor is mounted, or a substrate on which a color filter is mounted, by performing polishing after forming a water film on the entire surface of the substrate, adhesion of polishing powder to the substrate is prevented, and the substrate after chamfering is performed. The effect that can be easily cleaned is great.

また、本発明の板研磨装置は、上記記載の板研磨装置において、前記板表面水膜形成手段は、板の分断線と平行に設けられたライン状部を有していると共に、そのライン状部には水を吐出する複数の吐出口がライン方向に並んで形成されていることを特徴としている。   Further, the plate polishing apparatus of the present invention is the above plate polishing apparatus, wherein the plate surface water film forming means has a line-shaped portion provided in parallel with a dividing line of the plate, and the line shape The part is characterized in that a plurality of discharge ports for discharging water are formed side by side in the line direction.

また、本発明の板研磨装置は、上記記載の板研磨装置において、前記板表面水膜形成手段は、板の分断線と平行に設けられたライン状部を有していると共に、そのライン状部には水を吐出するスリットからなる吐出口がラインに沿って形成されていることを特徴としている。   Further, the plate polishing apparatus of the present invention is the above plate polishing apparatus, wherein the plate surface water film forming means has a line-shaped portion provided in parallel with a dividing line of the plate, and the line shape The part is characterized in that a discharge port comprising a slit for discharging water is formed along the line.

また、本発明の板研磨装置は、上記記載の板研磨装置において、前記水を吐出する複数の吐出口又は水を吐出するスリットは、水がライン状部の直下方向と板の両サイド方向に流れるようにするものとが形成されていることを特徴としている。   Further, the plate polishing apparatus of the present invention is the above plate polishing apparatus, wherein the plurality of discharge ports for discharging water or the slit for discharging water are provided in a direction directly below the line-shaped portion and in both sides of the plate. It is characterized by the fact that it is made to flow.

また、本発明のアクティブマトリクス基板の製造方法は、上記記載のアクティブマトリクス基板の製造方法において、前記板研磨工程では、板の分断線と平行に設けられたライン状部にライン方向に並んで形成された複数の吐出口から水を吐出することを特徴としている。   The active matrix substrate manufacturing method according to the present invention is the active matrix substrate manufacturing method described above, wherein in the plate polishing step, the active matrix substrate is formed side by side in a line direction in a line-shaped portion provided in parallel with a dividing line of the plate. Water is discharged from the plurality of discharge ports.

また、本発明のアクティブマトリクス基板の製造方法は、上記記載のアクティブマトリクス基板の製造方法において、前記板研磨工程では、板の分断線と平行に設けられたライン状部にラインに沿って形成されたスリットからなる吐出口から水を吐出することを特徴としている。   Further, the active matrix substrate manufacturing method of the present invention is the active matrix substrate manufacturing method described above, wherein in the plate polishing step, the active matrix substrate is formed along a line in a line-shaped portion provided in parallel with the dividing line of the plate. It is characterized in that water is discharged from an outlet formed by a slit.

上記の発明によれば、板の中央ラインに水を供給できるとともに、板の両側にも水を供給できる。また、ライン状部は板の分断線と平行に設けられているので、効率よく、板の全面に水を供給することができる。   According to said invention, while being able to supply water to the center line of a board, water can be supplied also to the both sides of a board. Moreover, since the line-shaped portion is provided in parallel with the dividing line of the plate, water can be efficiently supplied to the entire surface of the plate.

また、本発明のアクティブマトリクス基板の製造方法は、上記記載のアクティブマトリクス基板の製造方法において、前記吐出口からの水の吐出量は、4000cm3/m2以上であることを特徴としている。 The active matrix substrate manufacturing method of the present invention is characterized in that, in the above-described active matrix substrate manufacturing method, the amount of water discharged from the discharge port is 4000 cm 3 / m 2 or more.

上記の発明によれば、吐出口からの水の吐出量を4000cm3/m2以上であるとすることによって、基板1に水膜を形成することができる。 According to said invention, a water film can be formed in the board | substrate 1 by the discharge amount of the water from a discharge outlet being 4000 cm < 3 > / m < 2 > or more.

また、本発明のアクティブマトリクス基板の製造方法は、上記記載のアクティブマトリクス基板の製造方法において、基板がカラーフィルタマザーガラスである場合に、樹脂膜にカラーを印刷する印刷工程の前に前記板研磨工程を含むことを特徴としている。   The active matrix substrate manufacturing method of the present invention is the active matrix substrate manufacturing method described above, in which, when the substrate is a color filter mother glass, the plate polishing is performed before a printing step of printing a color on a resin film. It is characterized by including a process.

一般に、カラーフィルタマザーガラスの樹脂膜にカラーを印刷する印刷工程においては、カラーフィルタマザーガラスを面取りすることなく印刷工程を行うと、銅版を損傷するおそれがある。また、当然、基板上のゴミはないのが望ましい。   In general, in a printing process for printing a color on a resin film of a color filter mother glass, if the printing process is performed without chamfering the color filter mother glass, the copper plate may be damaged. Of course, it is desirable that there is no dust on the substrate.

この点、本発明では、基板がカラーフィルタマザーガラスである場合に、樹脂膜にカラーを印刷する印刷工程の前に前記板研磨工程を含むので、板研磨工程の終了時においては、付着物のない面取りされた基板が得られる。このため、効率よく印刷工程を行うことができる。   In this regard, in the present invention, when the substrate is a color filter mother glass, since the plate polishing step is included before the printing step of printing a color on the resin film, at the end of the plate polishing step, No chamfered substrate is obtained. For this reason, a printing process can be performed efficiently.

本発明の板研磨装置及びアクティブマトリクス基板の製造方法では、板研磨工程において、板表面水膜形成手段にて切断した板の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成する。   In the plate polishing apparatus and active matrix substrate manufacturing method of the present invention, in the plate polishing step, a water film is formed in an open system on the entire surface of the plate cut by the plate surface water film forming means.

それゆえ、研磨粉が板に直接付着することはない。したがって、板の研磨による面取り工程において、板の破損を防止しつつ、研磨粉の板への付着を防止し、面取り後の板の洗浄を容易にし得る板研磨装置及びアクティブマトリクス基板の製造方法を提供することができるという効果を奏する。   Therefore, the abrasive powder does not adhere directly to the plate. Therefore, in a chamfering process by polishing a plate, a plate polishing apparatus and an active matrix substrate manufacturing method that can prevent the plate from being damaged, prevent adhesion of polishing powder to the plate, and facilitate cleaning of the plate after chamfering. There is an effect that it can be provided.

本発明の一実施形態について、図1ないし図7に基づいて説明すれば、以下の通りである。   An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

本実施の形態の板研磨装置10は、図2に示すように、基板1の両側に砥石2にて研磨を行う研磨機3がそれぞれ2機ずつ設けられている。上記研磨機3では、砥石2が基板1に向かって進退移動できるようになっており、基板1が搬送されてきたときに、この砥石2は基板1の側面に進出移動して基板1の角部に当接し、回転させた砥石2によって基板1の角部を面取りすることができるようになっている。   As shown in FIG. 2, the plate polishing apparatus 10 of the present embodiment is provided with two polishing machines 3 each for polishing with a grindstone 2 on both sides of the substrate 1. In the polishing machine 3, the grindstone 2 can move forward and backward toward the substrate 1, and when the substrate 1 is transported, the grindstone 2 moves forward to the side surface of the substrate 1 and the corner of the substrate 1 is moved. The corners of the substrate 1 can be chamfered by the grindstone 2 that is in contact with and rotated.

本実施の形態では、基板1はTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)が実装された基板、又はカラーフィルタが実装された例えば液晶表示装置のアクティブマトリクス基板基板である。   In the present embodiment, the substrate 1 is a substrate on which a TFT (Thin Film Transistor) is mounted, or an active matrix substrate substrate of a liquid crystal display device on which a color filter is mounted.

すなわち、本実施の形態の基板1は、液晶表示装置の表示パネルに使用するものであり、アクティブマトリクス基板を製造するに際して、例えば、1500mm×1800mmの大きさで厚み0.7mmのTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)マザーガラスやカラーフィルタマザーガラスを例えば1500mm×900mm、1500mm×590mm等の所定の大きさの表示パネルのサイズにレーザにて分断されたものである。これらマザーガラスを分断した箇所は、角部が鋭利になっており、マザーガラスの割れの原因となるので、面取り工程にて面取りをする必要がある。   That is, the substrate 1 of the present embodiment is used for a display panel of a liquid crystal display device. When manufacturing an active matrix substrate, for example, a TFT (Thin Film) having a size of 1500 mm × 1800 mm and a thickness of 0.7 mm is used. Transistor: Thin film transistor mother glass or color filter mother glass is divided by a laser into a predetermined size of display panel such as 1500 mm × 900 mm, 1500 mm × 590 mm, for example. Since these corners of the mother glass have sharp corners that cause cracks in the mother glass, it is necessary to chamfer in the chamfering process.

ここで、面取り工程においては、研磨するときのカレット(Cullet:ガラスの屑)が飛散するので、面取り部分に注水しながら行うのが一般的である。しかし、そのようにしても、研磨粉を含んだ懸濁水が飛散してガラス板表面に付着するので、その研磨後にガラス板表面の洗浄が必要となる。特に、本実施の形態では、基板1は単なるガラス板ではなく、TFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)マザーガラスやカラーフィルタマザーガラスからなっているので、その表面層に一旦付着した研磨粉は、純水で洗い流しても、容易には洗浄できない。その理由は、TFTマザーガラス及びカラーフィルタマザーガラスの各表面層は、高分子からなる樹脂層となっており、その樹脂層に研磨粉が吸着されるような状態となっているためと考えられる。   Here, in the chamfering step, cullet (Cullet: glass scrap) at the time of polishing is scattered, and therefore, it is generally performed while pouring water into the chamfered portion. However, even in such a case, since the suspended water containing the abrasive powder is scattered and adheres to the glass plate surface, the glass plate surface needs to be washed after the polishing. In particular, in the present embodiment, the substrate 1 is not a mere glass plate but is made of TFT (Thin Film Transistor) mother glass or color filter mother glass, so that the polishing powder once adhered to the surface layer is pure. Even if it is washed away with water, it cannot be easily washed. The reason is considered that each surface layer of the TFT mother glass and the color filter mother glass is a resin layer made of a polymer, and the polishing powder is adsorbed on the resin layer. .

そこで、本実施の形態の板研磨装置10では、研磨中のカレット飛散防止として、まず、上記研磨機3にはその上側を覆うカバー4が設けられていると共に、図1に示すように、基板1の両端部にカレット防止板5・5が立設されている。また、これらカレット防止板5・5の裏側、つまり基板1の中央側にはカレット対策用ノズル6・6が設けられている。このカレット対策用ノズル6・6は、カレット防止板5・5と基板1との間の隙間7・7に向かって水をシャワー状に注水できるように方向付けられている。   Therefore, in the plate polishing apparatus 10 of the present embodiment, as a cullet scattering prevention during polishing, first, the polishing machine 3 is provided with a cover 4 that covers the upper side, and as shown in FIG. The cullet prevention plates 5 and 5 are erected on both ends of the rim 1. Further, cullet countermeasure nozzles 6 and 6 are provided on the back side of these cullet prevention plates 5 and 5, that is, on the center side of the substrate 1. The cullet countermeasure nozzles 6 and 6 are oriented so that water can be poured in a shower shape toward the gaps 7 and 7 between the cullet preventing plates 5 and 5 and the substrate 1.

さらに、本実施の形態では、切断した基板1の研磨前及び研磨中に、基板1の表面の全面に対してオープン系にて水の膜を形成する板表面水膜形成手段としての水盛用シャワー部8が設けられている。   Further, in the present embodiment, for the water filling as a plate surface water film forming means for forming a water film in an open system on the entire surface of the substrate 1 before and during polishing of the cut substrate 1. A shower unit 8 is provided.

この水盛用シャワー部8は、ノズルが直下方向を向く直下用ノズル8aと、基板1の各両側に向くサイド用ノズル8b・8cとの3方向に向くものを有しており、いずれも水をシャワー状に吐出できるようになっている。また、水盛用シャワー部8は、ライン状部としての注水管9に取り付けられており、図2に示すように、上記3方向に向かう直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8cが注水管9に沿う方向において繰り返し複数設けられている。また、この注水管9は、少なくとも基板1の幅方向の長さを有しており、この幅方向の長さ内に、直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8cが繰り返し設けられることによって、面積的及び水量的に、基板1の表面に水を盛れるようになっている。なお、水を盛るとは、少なくとも基板1の表面全体に水の膜ができている状態をいう。したがって、これらの直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8cにて、基板1の表面全体に水の膜ができる水量が供給される。   This water-filling shower unit 8 has three nozzles facing in three directions: a nozzle 8a for directing the nozzle facing directly below, and side nozzles 8b and 8c facing each side of the substrate 1. Can be discharged in the form of a shower. Further, the water filling shower unit 8 is attached to a water injection pipe 9 as a line-shaped part, and as shown in FIG. 2, the direct nozzles 8a and the side nozzles 8b and 8c directed in the three directions are water injection pipes. 9 are repeatedly provided in the direction along the line 9. In addition, the water injection pipe 9 has at least a width in the width direction of the substrate 1, and the nozzles 8a and the side nozzles 8b and 8c are directly provided within the length in the width direction. Water can be deposited on the surface of the substrate 1 in terms of area and amount of water. Note that the accumulation of water means a state in which a film of water is formed on at least the entire surface of the substrate 1. Therefore, the amount of water that forms a water film on the entire surface of the substrate 1 is supplied by the nozzles 8a and the nozzles 8b and 8c for the lower side.

具体的には、図3に示すように、注水管9に対して例えば直下用ノズル8aが例えば25mmのピッチで配されており、これによって両側に水が分流し、層流にて両サイドに流れていく。   Specifically, as shown in FIG. 3, for example, nozzles 8a directly below are arranged at a pitch of 25 mm, for example, with respect to the water injection pipe 9, whereby water is divided into both sides, and laminar flow is performed on both sides. It flows.

一方、サイド用ノズル8b・8cは、図4に示すように、円錐形ノズル(円のみ表示)にてなっており、この円錐形ノズルの円周から、水が両側に吐出され、層流にて両サイドに流れていくようになっている。この円錐形ノズルは、例えば、1500mm内に250mmのピッチで6個設けられていると共に、水の吐出口は、片側ピッチ60mmにて、25個ずつ両側に設けられている。   On the other hand, as shown in FIG. 4, the side nozzles 8b and 8c are conical nozzles (only circles are shown). From the circumference of the conical nozzles, water is discharged on both sides to form a laminar flow. To flow to both sides. For example, six conical nozzles are provided at a pitch of 250 mm within 1500 mm, and 25 water discharge ports are provided on both sides at a pitch of 60 mm on one side.

上記直下用ノズル8aとサイド用ノズル8b・8cとの吐出力については、直下用ノズル8aからの吐出力を弱くする方が、層流を形成するためには好ましい。   In order to form a laminar flow, it is preferable to weaken the discharge force from the direct nozzle 8a and the discharge nozzles 8b and 8c.

また、直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8cから基板1に水膜を形成するたの水量は、例えば、550mm×650mmのTFTマザーガラスでは、約1500cm3程度である。したがって、4000cm3/m2以上の水量であることが好ましい。カラーフィルタマザーガラスの場合は、撥水性が高いので、これよりもさらに多い水量が必要である。ただし、一般的に、分断及び研磨工程の後、PI(ポリイミド)印刷工程前には、エキシマUVにより、有機物を除去する工程を設けているが、その有機物を除去する工程を分断の前にして、カラーフィルタマザーガラスの表面性状を改質すれば、カラーフィルタマザーガラスでも4000cm3/m2の水量で足りる。 In addition, the amount of water for forming a water film on the substrate 1 from the nozzles 8a and 8c for the lower side and the side nozzles 8b and 8c is, for example, about 1500 cm 3 in a 550 mm × 650 mm TFT mother glass. Therefore, the amount of water is preferably 4000 cm 3 / m 2 or more. In the case of a color filter mother glass, since the water repellency is high, a larger amount of water is required. However, in general, after the dividing and polishing steps and before the PI (polyimide) printing step, there is a step of removing organic matter by excimer UV. However, the step of removing the organic matter is performed before dividing. If the surface properties of the color filter mother glass are modified, the amount of water of 4000 cm 3 / m 2 is sufficient for the color filter mother glass.

また、本実施の形態では、板研磨装置10の制御系として、図5に示すように、制御部20が設けられている。この制御部20には、切断された基板1をステージ11に載置して所定の研磨位置まで搬送するステージ移動制御部21、研磨機3の駆動を制御する研磨機駆動制御部22、直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8cの水流を調節する制御手段としての水盛用シャワー制御部23からなっている。   In the present embodiment, as shown in FIG. 5, a control unit 20 is provided as a control system of the plate polishing apparatus 10. The control unit 20 includes a stage movement control unit 21 that places the cut substrate 1 on the stage 11 and conveys the substrate 1 to a predetermined polishing position, a polishing machine drive control unit 22 that controls the driving of the polishing machine 3, and a direct use It comprises a water filling shower control unit 23 as control means for adjusting the water flow of the nozzle 8a and the side nozzles 8b and 8c.

上記切断された基板1の端面を板研磨装置10により面取りする面取り工程について説明する。   A chamfering process in which the end surface of the cut substrate 1 is chamfered by the plate polishing apparatus 10 will be described.

まず、切断された基板1がステージ11に載置されて、所定の研磨作業を行う場所に搬送され、位置決め調整される。次いで、図1に示すように、直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8cにて、基板1の表面全体に水の膜ができるように水が供給される。その後、直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8cでの水の供給を継続しながら、カレット対策用ノズル6・6に水が供給され、その状態で、研磨機3の砥石2が基板1の端部上面角に当接するように移動される。そして、図2に示すように、研磨機3が例えば、面取りスピード150mm/secにて基板1の側面を移動する。この研磨機3の往移動によって、基板1の端部上面角が研磨される。   First, the cut | disconnected board | substrate 1 is mounted in the stage 11, and is conveyed to the place which performs a predetermined grinding | polishing operation | work, and positioning adjustment is carried out. Next, as shown in FIG. 1, water is supplied by the direct nozzle 8 a and the side nozzles 8 b and 8 c so that a water film is formed on the entire surface of the substrate 1. Thereafter, water is supplied to the cullet countermeasure nozzles 6 and 6 while continuing to supply the water at the nozzles 8a and 8b and 8c for the side directly, and in this state, the grindstone 2 of the polishing machine 3 is attached to the substrate 1. It is moved so as to come into contact with the upper end corner of the end. Then, as shown in FIG. 2, the polishing machine 3 moves the side surface of the substrate 1 at a chamfering speed of 150 mm / sec, for example. By the forward and backward movement of the polishing machine 3, the upper end corner of the substrate 1 is polished.

研磨機3の往移動により、基板1の長さを超えると、研磨機3の砥石2は、基板1の端部下面角に当接するように角度が変えられる。   When the length of the substrate 1 is exceeded due to the forward movement of the polishing machine 3, the grindstone 2 of the polishing machine 3 is changed in angle so as to come into contact with the lower end corner of the substrate 1.

そして、研磨機3の復移動により、基板1の端部下面角が面取りされる。なお、研磨機3の復移動中も、研磨機3の往移動の時と同様に、直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8c、並びにカレット対策用ノズル6・6に水が供給されている。このとき、基板1の裏面のカレット付着については、ステージ11によって防止されると共に、基板1の裏面はガラス質であるので、付着しても図示しないエアー噴射装置等によって容易に除くことができる。すなわち、TFTマザーガラス及びカラーフィルタマザーガラスの各表面層は高分子からなる樹脂層であり、その樹脂層に研磨粉が付着すると吸着されるような状態となって除去することが難しいが、TFTマザーガラス及びカラーフィルタマザーガラスの各裏面層はガラス板であるので、研磨粉が付着しても容易に除去できる。   Then, the lower end corner of the substrate 1 is chamfered by the backward movement of the polishing machine 3. During the backward movement of the polishing machine 3, water is supplied to the direct nozzle 8a, the side nozzles 8b and 8c, and the cullet countermeasure nozzles 6 and 6 as in the forward movement of the polishing machine 3. . At this time, cullet adhesion on the back surface of the substrate 1 is prevented by the stage 11 and the back surface of the substrate 1 is glassy, so even if it adheres, it can be easily removed by an air injection device (not shown). In other words, each surface layer of the TFT mother glass and the color filter mother glass is a resin layer made of a polymer, and it is difficult to remove it when it becomes adsorbed when polishing powder adheres to the resin layer. Since each back layer of the mother glass and the color filter mother glass is a glass plate, it can be easily removed even if abrasive powder adheres.

この研磨が終了した後は、基板1は90度方向を変えて別のステージ11に移動され、
当該90度異なる方向の分断が行われ、次いで、本実施の形態と同様の板研磨装置10にて、分断面の面取りが行われ、最後に、基板1の洗浄が行われる。
After this polishing is completed, the substrate 1 is moved to another stage 11 by changing the direction by 90 degrees,
The cutting in the direction different by 90 degrees is performed, and then the chamfering of the sectional surface is performed by the plate polishing apparatus 10 similar to the present embodiment, and finally the substrate 1 is cleaned.

このように、本実施の形態では、研磨を行う前に、オープン系にて基板1は全面を濡らし、水膜を形成した後に研磨を行うので、カレットが基板の表面に直接付着することがない。このため、基板1の破損を防止しつつ、研磨粉の基板1への付着を防止し、面取り後の板の洗浄を容易にし得る板研磨装置10を提供することができる。   Thus, in this embodiment, the substrate 1 is wetted in an open system before polishing and the polishing is performed after forming a water film, so that the cullet does not directly adhere to the surface of the substrate. . Therefore, it is possible to provide the plate polishing apparatus 10 that can prevent the polishing powder from adhering to the substrate 1 while preventing the substrate 1 from being damaged, and facilitate the cleaning of the plate after chamfering.

なお、本実施の形態の研磨を行う前に、オープン系にて基板1は全面を濡らし、水膜を形成した後に研磨を行うという方法について、研磨後の基板1に付着しているカレットを計量した結果、付着がないことを確認した。   Note that the cullet attached to the polished substrate 1 is measured for a method in which the substrate 1 is wetted on the entire surface in an open system and polished after forming a water film before polishing according to the present embodiment. As a result, it was confirmed that there was no adhesion.

また、カラーフィルタマザーガラスにおいては、樹脂膜に赤(R)・緑(G)・青(B)等のカラーを印刷するPI(ポリイミド)印刷工程が存在するが、その際、基板1の角部が鋭利であれば、その角部にて版銅に傷がつくおそれがある。したがって、基板1がカラーフィルタマザーガラスの場合には、このPI(ポリイミド)印刷工程前に、本実施の形態の研磨工程を設けることが特に好ましい。   In the color filter mother glass, there is a PI (polyimide) printing process for printing red (R), green (G), blue (B), etc. on the resin film. If the part is sharp, there is a risk of scratching the copper plate at the corner. Therefore, when the substrate 1 is a color filter mother glass, it is particularly preferable to provide the polishing step of this embodiment before this PI (polyimide) printing step.

なお、上記の板研磨装置10では、水盛用シャワー部8は、注水管9に独立した直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8cが注水管9に沿って複数個設けられたものであった。しかし、水盛用シャワー部8は、必ずしもこれに限らず、例えば、注水管9に沿ってその中央位置に直下用中央スリット38aを設けると共に、注水管9に沿ってその両サイドにサイド用スリット38b・38cを設けた板研磨装置30とすることが可能である。これによっても、板研磨装置10と同様の、作用効果を奏することができる。   In the plate polishing apparatus 10 described above, the water filling shower unit 8 is provided with a plurality of nozzles 8a and side nozzles 8b and 8c, which are independent from the water injection pipe 9, along the water injection pipe 9. It was. However, the water filling shower unit 8 is not necessarily limited thereto, and for example, a central slit 38a for direct lowering is provided at the central position along the water injection pipe 9, and side slits are provided on both sides along the water injection pipe 9. The plate polishing apparatus 30 provided with 38b and 38c can be obtained. Also by this, the same effects as the plate polishing apparatus 10 can be obtained.

以上のように、本実施の形態の板研磨装置10・30では、切断した基板1の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成する水盛用シャワー部8が設けられている。   As described above, in the plate polishing apparatuses 10 and 30 of the present embodiment, the water filling shower unit 8 is provided on the entire surface of the cut substrate 1 to form a water film in an open system.

また、本実施の形態の板研磨装置10・30では、水盛用シャワー部8に対して、切断した基板1の少なくとも研磨前に、基板1の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成するように制御する水盛用シャワー制御部23が設けられている。   Further, in the plate polishing apparatuses 10 and 30 of the present embodiment, a water film is formed on the entire surface of the substrate 1 in an open system at least before polishing the cut substrate 1 with respect to the shower unit 8 for water filling. A water filling shower control unit 23 is provided to control the formation.

また、本実施の形態のアクティブマトリクス基板の製造方法では、板研磨工程において、切断した基板1の少なくとも研磨前に基板1の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成した後、この切断した基板1を研磨する。   In the manufacturing method of the active matrix substrate of the present embodiment, in the plate polishing step, a water film is formed in an open system on the entire surface of the substrate 1 at least before polishing the cut substrate 1, and then this cutting is performed. The substrate 1 is polished.

すなわち、板研磨工程では、水を流しながら砥石2による分断された基板1の研磨を行うが、その際、研磨粉が飛散し、基板1に付着する。   That is, in the plate polishing process, the divided substrate 1 is polished by the grindstone 2 while flowing water. At that time, polishing powder is scattered and adheres to the substrate 1.

しかしながら、本実施の形態のように、切断した基板1の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成しておけば、研磨粉が基板1に直接付着することはない。   However, if a water film is formed in an open system on the entire surface of the cut substrate 1 as in the present embodiment, the polishing powder does not adhere directly to the substrate 1.

また、水の膜の形成はオープン系にて行われるので、基板1の上方にフードを被せてそのフードと板との間の空間に圧をかけて水を満たすのではないので、水やフードによる基板1への影響がない。   In addition, since the formation of the water film is performed in an open system, the hood is not covered with the hood above the substrate 1 to fill the water by applying pressure to the space between the hood and the plate. Does not affect the substrate 1.

したがって、基板1の研磨による面取り工程において、基板1の破損を防止しつつ、研磨粉の基板1への付着を防止し、面取り後の板の洗浄を容易にし得る板研磨装置10・30及びアクティブマトリクス基板の製造方法を提供することができる。   Therefore, in the chamfering process by polishing the substrate 1, the plate polishing apparatuses 10 and 30 that can prevent the substrate 1 from being damaged, prevent the polishing powder from adhering to the substrate 1, and facilitate cleaning of the plate after chamfering and the active A method for manufacturing a matrix substrate can be provided.

また、本実施の形態では、水盛用シャワー制御部23によって、切断した基板1の少なくとも研磨前に、基板1の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成する。   In the present embodiment, the water filling shower control unit 23 forms a water film in an open system on the entire surface of the substrate 1 at least before polishing the cut substrate 1.

したがって、研磨中に、研磨粉が飛散してもその研磨粉が研磨粉が基板1に直接付着することはない。この結果、確実に、基板1の研磨による面取り工程において、研磨粉の基板1への付着を防止し、面取り後の板の洗浄を容易にし得る板研磨装置10・30及びアクティブマトリクス基板の製造方法を提供することができる。   Therefore, even if the polishing powder is scattered during polishing, the polishing powder does not directly adhere to the substrate 1. As a result, in the chamfering process by polishing the substrate 1, it is possible to reliably prevent the polishing powder from adhering to the substrate 1 and facilitate cleaning of the plate after chamfering, and a method for manufacturing the active matrix substrate. Can be provided.

また、本実施の形態の板研磨装置10・30及びアクティブマトリクス基板の製造方法においては、基板1は、薄膜トランジスタが実装された基板、又はカラーフィルタが実装された基板である。   In the plate polishing apparatuses 10 and 30 and the active matrix substrate manufacturing method of the present embodiment, the substrate 1 is a substrate on which a thin film transistor is mounted or a substrate on which a color filter is mounted.

すなわち、薄膜トランジスタが実装された基板、又はカラーフィルタが実装された基板は、ガラス基板とは異なり、研磨工程において、研磨粉が付着すると水にて洗浄しても容易には除去できない。   That is, unlike a glass substrate, a substrate on which a thin film transistor is mounted or a substrate on which a color filter is mounted cannot be easily removed by washing with water when polishing powder adheres in a polishing process.

したがって、薄膜トランジスタが実装された基板1、又はカラーフィルタが実装された基板1において、基板1の全面に水膜を形成した後に研磨を行うことにより、研磨粉の基板1への付着を防止し、面取り後の基板1の洗浄を容易にし得る効果が大きい。   Therefore, in the substrate 1 on which the thin film transistor is mounted or the substrate 1 on which the color filter is mounted, by performing polishing after forming a water film on the entire surface of the substrate 1, the adhesion of the polishing powder to the substrate 1 is prevented, The effect of facilitating the cleaning of the substrate 1 after chamfering is great.

また、本実施の形態の板研磨装置10では、水盛用シャワー部8は、基板1の分断線と平行に設けられた注水管9を有していると共に、その注水管9には水を吐出する複数の吐出口としての直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8cがライン方向に並んで形成されている。   Further, in the plate polishing apparatus 10 of the present embodiment, the water filling shower unit 8 has a water injection pipe 9 provided in parallel with the dividing line of the substrate 1, and water is supplied to the water injection pipe 9. Directly below nozzles 8a and side nozzles 8b and 8c are formed side by side in the line direction as a plurality of discharge ports to be discharged.

また、本実施の形態の板研磨装置10及びアクティブマトリクス基板の製造方法では、水盛用シャワー部8は、基板1の分断線と平行に設けられた注水管9を有していると共に、その注水管9には水を吐出するスリットからなる吐出口としての直下用中央スリット38a及びサイド用スリット38b・38cがライン方向に並んで形成されている。   Further, in the plate polishing apparatus 10 and the active matrix substrate manufacturing method of the present embodiment, the water filling shower unit 8 has the water injection pipe 9 provided in parallel to the dividing line of the substrate 1, and The water injection pipe 9 is formed with a central slit 38a directly below and side slits 38b and 38c, which are formed as slits for discharging water, side by side in the line direction.

また、本実施の形態の板研磨装置10・30及びアクティブマトリクス基板の製造方法では、水を吐出する複数の直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8c又は水を吐出する直下用中央スリット38a及びサイド用スリット38b・38cは、水が注水管9の直下方向と基板1の両サイド方向に流れるようにするものとが形成されている。   Further, in the plate polishing apparatuses 10 and 30 and the active matrix substrate manufacturing method of the present embodiment, a plurality of directly below nozzles 8a and side nozzles 8b and 8c for discharging water, or a directly below central slit 38a for discharging water, and The side slits 38 b and 38 c are formed to allow water to flow in a direction directly below the water injection pipe 9 and in both sides of the substrate 1.

上記の発明によれば、基板1の中央ラインに水を供給できるとともに、基板1の両側にも水を供給できる。また、注水管9は基板1の分断線と平行に設けられているので、効率よく、基板1の全面に水を供給することができる。   According to the above invention, water can be supplied to the central line of the substrate 1 and water can also be supplied to both sides of the substrate 1. Moreover, since the water injection pipe 9 is provided in parallel with the dividing line of the board | substrate 1, water can be efficiently supplied to the whole surface of the board | substrate 1. FIG.

また、本実施の形態のアクティブマトリクス基板の製造方法では、直下用ノズル8a及びサイド用ノズル8b・8c又は水を吐出する直下用中央スリット38a及びサイド用スリット38b・38cからの水の吐出量は、4000cm3/m2以上である。 Further, in the manufacturing method of the active matrix substrate of the present embodiment, the amount of water discharged from the direct nozzle 8a and the side nozzles 8b and 8c or the central slit 38a and the side slits 38b and 38c for discharging water is 4000 cm 3 / m 2 or more.

それゆえ、水の吐出量を4000cm3/m2以上であるとすることによって、基板1に水膜を形成することができる。 Therefore, a water film can be formed on the substrate 1 by setting the water discharge amount to 4000 cm 3 / m 2 or more.

また、本実施の形態のアクティブマトリクス基板の製造方法では、基板1がカラーフィルタマザーガラスである場合に、樹脂膜にカラーを印刷する印刷工程の前に板研磨工程を含む。   Moreover, in the manufacturing method of the active matrix substrate of this Embodiment, when the board | substrate 1 is a color filter mother glass, a plate grinding | polishing process is included before the printing process which prints a color on a resin film.

すなわち、一般に、カラーフィルタマザーガラスの樹脂膜にカラーを印刷する印刷工程においては、カラーフィルタマザーガラスを面取りすることなく印刷工程を行うと、銅版を損傷するおそれがある。また、当然、基板1上のゴミはないのが望ましい。   That is, generally, in a printing process for printing a color on a resin film of a color filter mother glass, if the printing process is performed without chamfering the color filter mother glass, the copper plate may be damaged. Of course, it is desirable that there is no dust on the substrate 1.

この点、本実施の形態では、基板1がカラーフィルタマザーガラスである場合に、樹脂膜にカラーを印刷する印刷工程の前に板研磨工程を含むので、板研磨工程の終了時においては、付着物のない面取りされた基板1が得られる。このため、効率よく印刷工程を行うことができる。   In this regard, in the present embodiment, when the substrate 1 is a color filter mother glass, a plate polishing step is included before the printing step for printing a color on the resin film. A chamfered substrate 1 without a kimono is obtained. For this reason, a printing process can be performed efficiently.

本発明は、所定の大きさに切断したTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)マザーガラスやカラーフィルタマザーガラス板等のアクティブマトリクス基板の切断面を砥石による研磨により面取りする板研磨装置及び、面取り工程を含むアクティブマトリクス基板の製造方法に利用に好適である。   The present invention relates to a plate polishing apparatus for chamfering a cut surface of an active matrix substrate such as a TFT (Thin Film Transistor) mother glass or a color filter mother glass plate cut into a predetermined size by polishing with a grindstone, and a chamfering process. It is suitable for use in a manufacturing method of an active matrix substrate.

また、アクティブマトリクス基板としては、液晶表示装置の基板に限らず、電気泳動型ディスプレイ、ツイストボール型ディスプレイ、微細なプリズムフィルムを用いた反射型ディスプレイ、デジタルミラーデバイス等の光変調素子を用いたディスプレイの他、発光素子として、有機EL発光素子、無機EL発光素子、LED(Light Emitting Diode) 等の発光輝度が可変の素子を用いたディスプレイ、フィールドエミッションディスプレイ(FED)、プラズマディスプレイ等の基板にも利用することができる。   In addition, the active matrix substrate is not limited to the substrate of the liquid crystal display device, but an electrophoretic display, a twist ball display, a reflective display using a fine prism film, a display using a light modulation element such as a digital mirror device, etc. In addition, as a light emitting element, an organic EL light emitting element, an inorganic EL light emitting element, a display using a variable light emitting element such as an LED (Light Emitting Diode), a substrate such as a field emission display (FED), a plasma display, etc. Can be used.

本発明における板研磨装置の実施の一形態を示す正面図である。It is a front view which shows one Embodiment of the plate polishing apparatus in this invention. 上記板研磨装置の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the said plate polishing apparatus. 上記板研磨装置における水盛用シャワー部の直下用ノズルからの水流を示す平面図である。It is a top view which shows the water flow from the nozzle for direct under of the shower part for water accumulation in the said plate polishing apparatus. 上記板研磨装置における水盛用シャワー部のサイド用ノズルからの水流を示す平面図である。It is a top view which shows the water flow from the nozzle for sides of the shower part for water accumulation in the said plate polishing apparatus. 上記板研磨装置における制御部の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the control part in the said plate polishing apparatus. 本発明における板研磨装置の他の実施の形態を示す正面からの断面図である。It is sectional drawing from the front which shows other embodiment of the plate polishing apparatus in this invention. 上記板研磨装置の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the said plate polishing apparatus. 従来の板研磨装置の構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of the conventional plate grinding | polishing apparatus. 上記板研磨装置の構成を示す正面からの断面図である。It is sectional drawing from the front which shows the structure of the said plate polishing apparatus. 上記板研磨装置の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the said plate polishing apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板(板)
2 砥石
3 研磨機
5 カレット防止板
6 カレット対策用ノズル
7 隙間
8 水盛用シャワー部(板表面水膜形成手段)
8a 直下用ノズル(吐出口)
8b サイド用ノズル(吐出口)
8c サイド用ノズル(吐出口)
9 注水管(ライン状部)
10 板研磨装置
20 制御部
21 ステージ移動制御部
22 研磨機駆動制御部
23 水盛用シャワー制御部(制御手段)
30 板研磨装置
38a 直下用中央スリット(吐出口)
38b サイド用スリット(吐出口)
38c サイド用スリット(吐出口)
1 Substrate (board)
2 Grinding wheel 3 Polishing machine 5 Caret prevention plate 6 Nozzle for cullet measures 7 Clearance 8 Shower part for water filling (plate surface water film forming means)
8a Directly below nozzle (discharge port)
8b Nozzle for side (discharge port)
8c Nozzle for side (discharge port)
9 Water injection pipe (line-shaped part)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Plate polishing apparatus 20 Control part 21 Stage movement control part 22 Polishing machine drive control part 23 Shower control part (control means) for water filling
30 Plate polisher 38a Central slit for directly below (Discharge port)
38b Side slit (discharge port)
38c Side slit (discharge port)

Claims (12)

所定の大きさに切断した板の切断面を研磨により面取りする板研磨装置において、
上記切断した板の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成する板表面水膜形成手段が設けられていることを特徴とする板研磨装置。
In a plate polishing apparatus for chamfering a cut surface of a plate cut into a predetermined size by polishing,
A plate polishing apparatus characterized in that plate surface water film forming means for forming a water film in an open system on the entire surface of the cut plate is provided.
前記板表面水膜形成手段に対して、前記切断した板の少なくとも研磨前に、板の表面の全面にオープン系にて水の膜を形成するように制御する制御手段が設けられていることを特徴とする請求項1記載の板研磨装置。   The plate surface water film forming means is provided with a control means for controlling to form a water film in an open system on the entire surface of the plate at least before polishing the cut plate. The plate polishing apparatus according to claim 1, wherein: 前記板は、薄膜トランジスタが実装された基板、又はカラーフィルタが実装された基板であることを特徴とする請求項1又は2記載の板研磨装置。   The plate polishing apparatus according to claim 1, wherein the plate is a substrate on which a thin film transistor is mounted or a substrate on which a color filter is mounted. 前記板表面水膜形成手段は、板の分断線と平行に設けられたライン状部を有していると共に、そのライン状部には水を吐出する複数の吐出口がライン方向に並んで形成されていることを特徴とする請求項1又は2記載の板研磨装置。   The plate surface water film forming means has a line-shaped portion provided in parallel with the dividing line of the plate, and a plurality of discharge ports for discharging water are formed side by side in the line direction in the line-shaped portion. The plate polishing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the apparatus is a plate polishing apparatus. 前記板表面水膜形成手段は、板の分断線と平行に設けられたライン状部を有していると共に、そのライン状部には水を吐出するスリットからなる吐出口がラインに沿って形成されていることを特徴とする請求項1又は2記載の板研磨装置。   The plate surface water film forming means has a line-shaped portion provided in parallel with the dividing line of the plate, and a discharge port comprising a slit for discharging water is formed along the line in the line-shaped portion. The plate polishing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the apparatus is a plate polishing apparatus. 前記水を吐出する複数の吐出口又は水を吐出するスリットは、水がライン状部の直下方向と板の両サイド方向に流れるようにするものとが形成されていることを特徴とする請求項4又は5記載の板研磨装置。   The plurality of discharge ports for discharging water or the slit for discharging water are formed so that water flows in a direction directly below the line-shaped portion and in both sides of the plate. The plate polishing apparatus according to 4 or 5. 所定の大きさに切断した基板の切断面を研磨により面取りする板研磨工程を含むアクティブマトリクス基板の製造方法において、
上記板研磨工程では、上記切断した基板の少なくとも研磨前に板表面の全面にオープン系にて水の膜を形成した後、上記切断した板を研磨することを特徴とするアクティブマトリクス基板の製造方法。
In a manufacturing method of an active matrix substrate including a plate polishing step of chamfering a cut surface of a substrate cut into a predetermined size by polishing,
In the plate polishing step, a water film is formed in an open system over the entire surface of the plate at least before polishing the cut substrate, and then the cut plate is polished. .
前記基板は、薄膜トランジスタが実装された基板、又はカラーフィルタが実装された基板であることを特徴とする請求項7記載のアクティブマトリクス基板の製造方法。   8. The method of manufacturing an active matrix substrate according to claim 7, wherein the substrate is a substrate on which a thin film transistor is mounted or a substrate on which a color filter is mounted. 前記板研磨工程では、板の分断線と平行に設けられたライン状部にライン方向に並んで形成された複数の吐出口から水を吐出することを特徴とする請求項7記載のアクティブマトリクス基板の製造方法。   8. The active matrix substrate according to claim 7, wherein in the plate polishing step, water is discharged from a plurality of discharge ports formed in a line direction in a line-shaped portion provided in parallel with a dividing line of the plate. Manufacturing method. 前記板研磨工程では、板の分断線と平行に設けられたライン状部にラインに沿って形成されたスリットからなる吐出口から水を吐出することを特徴とする請求項7記載のアクティブマトリクス基板の製造方法。   8. The active matrix substrate according to claim 7, wherein, in the plate polishing step, water is discharged from a discharge port formed of a slit formed along a line in a line-shaped portion provided in parallel with a dividing line of the plate. Manufacturing method. 前記吐出口からの水の吐出量は、4000cm3/m2以上であることを特徴とする請求項9又は10記載のアクティブマトリクス基板の製造方法。 11. The method of manufacturing an active matrix substrate according to claim 9, wherein a discharge amount of water from the discharge port is 4000 cm 3 / m 2 or more. 基板がカラーフィルタマザーガラスである場合に、樹脂膜にカラーを印刷する印刷工程の前に前記板研磨工程を含むことを特徴とする請求項7記載のアクティブマトリクス基板の製造方法。   8. The method of manufacturing an active matrix substrate according to claim 7, wherein when the substrate is a color filter mother glass, the plate polishing step is included before the printing step of printing a color on the resin film.
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