JP2005150214A - Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor manufacturing equipment used therefor - Google Patents
Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor manufacturing equipment used therefor Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005150214A JP2005150214A JP2003382449A JP2003382449A JP2005150214A JP 2005150214 A JP2005150214 A JP 2005150214A JP 2003382449 A JP2003382449 A JP 2003382449A JP 2003382449 A JP2003382449 A JP 2003382449A JP 2005150214 A JP2005150214 A JP 2005150214A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor chip
- push
- needle
- piece
- adhesive sheet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
本発明は、半導体製造技術に関し、特に、半導体チップをピックアップする機構の制御の容易化に適用して有効な技術に関する。 The present invention relates to a semiconductor manufacturing technique, and more particularly to a technique effective when applied to facilitating control of a mechanism for picking up a semiconductor chip.
従来のピックアップ方法およびピックアップ装置では、分割された半導体チップは、その端部が粘着テープより剥離された状態で突き上げられ、この状態でさらに突き上げ棒で突き上げられた半導体チップの角部近傍位置4点からそれぞれの突き上げ棒が中心部近傍位置へ移動しながら半導体チップ裏面を所定の高さまで突き上げ、その後、コレットによって半導体チップは真空吸着される(例えば、特許文献1参照)。
上記特許文献1のピックアップ方法およびピックアップ装置には、突き上げ棒の上昇とともに突き上げ棒を中心部近傍位置へ移動させる方法については記載されているが、突き上げ棒を中心部近傍位置へ移動させる具体的構造については全く記載されていない。 The pickup method and pickup device of Patent Document 1 describe a method for moving a push-up rod to a position near the center portion as the push-up rod rises, but a specific structure for moving the push-up rod to a position near the center portion. Is not described at all.
なお、従来のピックアップ装置において、突き上げ棒の上昇とともに突き上げ棒を中心部近傍位置へ移動させる方法を具体的に実現しようとすると、ピックアップ部の構造が複雑になるとともに、その制御が困難なことが問題である。 In the conventional pickup device, if a specific method for moving the push-up rod to the position near the center portion with the rise of the push-up rod is specifically realized, the structure of the pickup portion becomes complicated and its control is difficult. It is a problem.
また、従来のピックアップ装置では、チップピックアップ時に粘着シートの粘着力のばらつきにより、半導体チップが傾く場合があり、ピックアップ時に半導体チップが傾くと、コレットによって半導体チップを真空吸着する際、真空漏れが発生してチップピックアップエラーとなり、ピックアップ装置が停止するという問題が起こる。 In addition, in the conventional pickup device, the semiconductor chip may be tilted due to variations in the adhesive force of the adhesive sheet at the time of chip pickup. If the semiconductor chip is tilted at the time of pickup, a vacuum leak occurs when the semiconductor chip is vacuum-adsorbed by the collet. As a result, a chip pickup error occurs and the pickup device stops.
本発明の目的は、制御が容易で、かつ製造コストの低減化を図る半導体装置の製造方法およびそれに用いられる半導体製造装置を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a semiconductor device that is easy to control and can reduce the manufacturing cost, and a semiconductor manufacturing device used therefor.
また、本発明のその他の目的は、製品の信頼性の向上を図る半導体装置の製造方法およびそれに用いられる半導体製造装置を提供することにある。 Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a semiconductor device that improves the reliability of a product and a semiconductor manufacturing apparatus used therefor.
さらに、本発明のその他の目的は、製造性の向上を図る半導体装置の製造方法およびそれに用いられる半導体製造装置を提供することにある。 Furthermore, another object of the present invention is to provide a method for manufacturing a semiconductor device and a semiconductor manufacturing apparatus used for the method for improving the productivity.
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。 The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、以下のとおりである。 Of the inventions disclosed in this application, the outline of typical ones will be briefly described as follows.
すなわち、本発明は、粘着シートの半導体チップが固定された第1の主面と反対側の第2の主面側から、突き上げ針と前記突き上げ針を収容する突き上げ駒とによって前記半導体チップを突き上げて前記粘着シートから前記半導体チップを剥離し、前記半導体チップを取り出す工程と、前記取り出した半導体チップを用いて半導体装置を組み立てる工程とを有し、前記半導体チップを前記粘着シートから取り出す工程において前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げる際に、前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げながら、前記突き上げ針と前記突き上げ駒とから成るカム機構によって前記突き上げ針を前記半導体チップの中心方向に移動させるものである。 That is, the present invention pushes up the semiconductor chip from the second main surface side opposite to the first main surface to which the semiconductor chip of the pressure-sensitive adhesive sheet is fixed, by a push-up needle and a push-up piece that houses the push-up needle. In the step of removing the semiconductor chip from the adhesive sheet and taking out the semiconductor chip, and assembling a semiconductor device using the taken out semiconductor chip, the step of taking out the semiconductor chip from the adhesive sheet When the semiconductor chip is pushed up by the push-up needle, the push-up needle is moved in the central direction of the semiconductor chip by a cam mechanism comprising the push-up needle and the push-up piece while pushing up the semiconductor chip by the push-up needle. is there.
また、本発明は、外周傾斜面を有しており、粘着シート上に固定された半導体チップを突き上げる突き上げ針と、内周傾斜面を有しており、前記突き上げ針を収容する筒状の突き上げ駒と、突き上げられた前記半導体チップを取り出す吸着コレットとを有し、前記粘着シートから前記半導体チップを剥離して取り出す際に、前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げながら、前記突き上げ駒の前記内周傾斜面によって前記突き上げ針の前記外周傾斜面を案内して前記突き上げ針を前記半導体チップの中心方向に移動させて前記粘着シートから前記半導体チップを剥離させるものである。 The present invention also has an outer peripheral inclined surface, a push-up needle that pushes up a semiconductor chip fixed on the adhesive sheet, and a cylindrical push-up that has an inner peripheral inclined surface and accommodates the push-up needle And a suction collet for taking out the semiconductor chip that has been pushed up, and when the semiconductor chip is peeled off from the adhesive sheet and taken out, the semiconductor chip is pushed up by the push-up needle while the inner circumference of the push-up piece is The inclined surface guides the outer peripheral inclined surface of the push-up needle and moves the push-up needle toward the center of the semiconductor chip to peel the semiconductor chip from the adhesive sheet.
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、以下のとおりである。 Of the inventions disclosed in the present application, effects obtained by typical ones will be briefly described as follows.
チップピックアップ時に、突き上げ針によって半導体チップを突き上げながら、突き上げ針と突き上げ駒とから成るカム機構により突き上げ針を半導体チップの中心方向に移動させることにより、突き上げ針の横移動の機構を簡単なカム機構としたため、突き上げ針の横移動の制御を容易にすることができる。さらに、カム機構を採用したことにより、構造が簡単なため、製造コストの低減化を図ることができる。 A simple cam mechanism for lateral movement of the push-up needle by moving the push-up needle toward the center of the semiconductor chip by a cam mechanism consisting of the push-up needle and push-up piece while pushing up the semiconductor chip with the push-up needle at the time of chip pickup Therefore, the lateral movement of the push-up needle can be easily controlled. Furthermore, since the structure is simple by adopting the cam mechanism, the manufacturing cost can be reduced.
以下の実施の形態では特に必要なとき以外は同一または同様な部分の説明を原則として繰り返さない。 In the following embodiments, the description of the same or similar parts will not be repeated in principle unless particularly necessary.
さらに、以下の実施の形態では便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細、補足説明などの関係にある。 Further, in the following embodiment, when it is necessary for the sake of convenience, the description will be divided into a plurality of sections or embodiments, but they are not irrelevant to each other unless otherwise specified. The other part or all of the modifications, details, supplementary explanations, and the like are related.
また、以下の実施の形態において、要素の数など(個数、数値、量、範囲などを含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合などを除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でも良いものとする。 Also, in the following embodiments, when referring to the number of elements (including the number, numerical value, quantity, range, etc.), particularly when clearly indicated and when clearly limited to a specific number in principle, etc. Except, it is not limited to the specific number, and it may be more or less than the specific number.
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の機能を有する部材には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that components having the same function are denoted by the same reference symbols throughout the drawings for describing the embodiments, and the repetitive description thereof will be omitted.
(実施の形態)
図1は本発明の実施の形態の半導体装置の製造方法で用いられる半導体製造装置の一例であるピックアップ装置の構造を一部断面にして示す正面図、図2〜図7はそれぞれ本発明の実施の形態の半導体装置の製造方法におけるチップピックアップ時のピックアップ部の動作の一例を示す部分断面図と突き上げ駒の先端構造の一例を示す平面図、図8〜図10はそれぞれ図1に示すピックアップ装置に設けられた突き上げ針の先端形状の一例を示す部分断面図、図11は図1に示すピックアップ装置を用いて組み立てられる半導体装置の構造の一例を封止体を透過して示す平面図、図12は図11に示す半導体装置の構造を示す断面図である。
(Embodiment)
FIG. 1 is a front view showing, in partial cross section, the structure of a pickup device which is an example of a semiconductor manufacturing apparatus used in a method for manufacturing a semiconductor device according to an embodiment of the present invention. FIGS. FIG. 8 to FIG. 10 are respectively a partial cross-sectional view showing an example of the operation of the pickup section during chip pickup and a plan view showing an example of the tip structure of the push-up piece. FIG. 11 is a partial cross-sectional view showing an example of the tip shape of the provided push-up needle. FIG. 11 is a plan view showing an example of the structure of a semiconductor device assembled using the pickup device shown in FIG. FIG. 12 is a cross-sectional view showing the structure of the semiconductor device shown in FIG. 11.
本実施の形態は、半導体装置の組み立てについて説明するものであり、前記組み立て工程の中で、主にチップピックアップ工程について説明する。本実施の形態では、前記半導体装置の一例として、図11および図12に示すようなBGA(Ball Grid Array)7を取り上げて説明する。 In the present embodiment, the assembly of the semiconductor device will be described, and the chip pickup process will be mainly described in the assembly process. In the present embodiment, a BGA (Ball Grid Array) 7 as shown in FIGS. 11 and 12 will be described as an example of the semiconductor device.
BGA7は、図12に示すように、その外部接続用の電極である複数のバンプ電極8が、パッケージ基板2の裏面2b上にアレイ状に配列されているものであるとともに、パッケージ基板2の主面2a上に半導体チップ1がダイボンド剤9を介して搭載され、半導体チップ1の裏面1cとパッケージ基板2の主面2aとがダイボンド剤9によって接続している。
As shown in FIG. 12, the
さらに、図11に示すように、半導体チップ1の主面1bに形成された表面電極であるパッド1aと、パッケージ基板2の接続端子2cとが金属細線であるワイヤ4によって電気的に接続され、かつ半導体チップ1と複数のワイヤ4が封止体6によって樹脂封止されている。
Furthermore, as shown in FIG. 11, the pad 1a that is the surface electrode formed on the main surface 1b of the semiconductor chip 1 and the
なお、BGA7は、例えば、多ピンのものであり、半導体チップ1の主面1bに形成された複数のパッド1aが、狭パッドピッチで配置されたものである。 The BGA 7 is, for example, a multi-pin type, and a plurality of pads 1a formed on the main surface 1b of the semiconductor chip 1 are arranged at a narrow pad pitch.
次に、本実施の形態の半導体装置の製造方法におけるチップピックアップ工程で用いられるピックアップ装置3について説明する。
Next, the
図1に示す本実施の形態の半導体製造装置の一例であるピックアップ装置3は、ダイシング工程でダイシングが行われて個々の半導体チップ1に分割されたウェハシート(粘着シート)5上の半導体チップ1をピックアップして取り出すものであり、架台3gの上方に昇降可能なように取り付けられた円筒状の突き上げ駒3dと、突き上げ駒3dの内部に配置され、かつ昇降可能なように設けられた4本の突き上げ針であるニードル3aと、突き上げ駒3dおよびニードル3aの昇降を駆動するリニアモータ3hと、突き上げられた半導体チップ1を真空吸着によって吸着保持して取り出す吸着コレット3fとを備えている。
A pick-
また、4本のニードル3aは、突き上げ駒3dの内部で、四角形の半導体チップ1に対応してそれぞれその対角線上近傍に四角形を成すように配置されている。すなわち、半導体チップ1が四角形であるため、ニードル3aも四角形を成すように4本配置することが好ましく、これにより、チップ突き上げ時のチップロケーションの安定化を図ることができる。
The four
なお、ニードル3aと突き上げ駒3dはそれぞれリニアモータ3hの駆動によって昇降するが、チップ突き上げ時には、ニードル3aの先端部は、突き上げ駒3dの先端部から突出し、これによって半導体チップ1をその裏面1c(図5参照)側からウェハシート5を介して押し上げ、ウェハシート5から半導体チップ1を剥離させる。
The
また、本実施の形態のピックアップ装置3では、各ニードル3aの支持部3bの外周に傾斜面である外周傾斜面3cが形成されている。一方、円筒状の突き上げ駒3dの内壁にはニードル3aの外周傾斜面3cに対応した内周傾斜面3eが形成されており、両者によるカム機構となっている。
Further, in the
すなわち、ニードル3aがリニアモータ3hの駆動によって上昇を開始すると、ニードル3aの支持部3bの外周傾斜面3cが突き上げ駒3dの内周傾斜面3eに接触し始める。さらに、ニードル3aが上昇を続けると、突き上げ駒3dの内周傾斜面3eによってニードル3aの外周傾斜面3cが案内されて突き上げ駒3d(または半導体チップ1)の中心方向に横移動する。
That is, when the
つまり、ニードル3aはその上昇とともに、ニードル3aの外周傾斜面3cと突き上げ駒3dの内周傾斜面3eとから成るカム機構によって突き上げ駒3dの中心方向への横移動も行う。なお、4本のニードル3a全てがそれらの上昇とともに、突き上げ駒3dの中心方向への横移動を行う。
That is, as the
これにより、本実施の形態のピックアップ装置3では、チップピックアップ時に、各ニードル3aの上昇とともに、各ニードル3aを半導体チップ1の中心方向に移動させて半導体チップ1とウェハシート5の接着面積11(図2〜図6参照)を少なくしてウェハシート5から半導体チップ1を剥離させることができる。
As a result, in the
次に、本実施の形態の半導体装置の製造方法について説明する。 Next, a method for manufacturing the semiconductor device of the present embodiment will be described.
まず、ダイシング工程においてウェハシート5上でダイシングが行われて個々の半導体チップ1に分割され、個々の半導体チップ1が固定されたウェハシート5を準備する。さらに、図1に示すように、このウェハシート5をピックアップ装置3の突き上げ駒3d上に配置する。なお、ウェハシート5はリング部材10に固定されており、その表面(第1の主面)5aには粘着層が形成され、この粘着層によって個々の半導体チップ1が固着されている。
First, in the dicing process, dicing is performed on the
その後、ピックアップ装置3によってチップピックアップを開始する。
Thereafter, chip pickup is started by the
図2に示すように、突き上げ駒3d上にウェハシート5を配置するとともに、ピックアップする半導体チップ1上に吸着コレット3fを配置する。
As shown in FIG. 2, the
続いて、図3に示すように、突き上げ駒3dと4本のニードル3aを一緒に上昇させ、突き上げ駒3dによってウェハシート5の裏面(第2の主面)5b側から半導体チップ1の裏面1c(図5参照)を僅かに押し上げる。
Subsequently, as shown in FIG. 3, the push-up
これと同時に半導体チップ1の上方から吸着コレット3fを半導体チップ1の近傍まで下降させておく。
At the same time, the
図4、図5、図6に示すように、4本のニードル3aを上昇させていき、それぞれの先端部を突き上げ駒3dから突出させてウェハシート5を介して半導体チップ1の裏面1cをその外周からニードル3aで突き上げる。これとともに図4に示すように吸着コレット3fで半導体チップ1の真空吸着を開始する。その後、図5〜図7に示すように、吸着コレット3fで半導体チップ1を吸着保持した状態で4本のニードル3aそれぞれをさらに上昇させて半導体チップ1を突き上げる。その際、各ニードル3aは上昇しながら、それぞれの支持部3bの外周傾斜面3cが突き上げ駒3dの内周傾斜面3eに案内されてそれぞれ半導体チップ1(または突き上げ駒3d)の中心方向に横移動する。
4, 5, and 6, the four
すなわち、ニードル3aの支持部3bの外周傾斜面3cと突き上げ駒3dの内周傾斜面3eとから成るカム機構によって、4本のニードル3aはそれぞれ上昇とともに突き上げ駒3dの中心方向へ横移動する。
That is, the four
したがって、4本のニードル3aが突き上げ駒3dの中心方向にそれぞれ横移動するため、半導体チップ1の裏面1cとウェハシート5の表面5aの接着面積11が少なくなる。
Therefore, since the four
これによって、半導体チップ1がウェハシート5から剥離し易くなり、この状態で、図7に示すように、半導体チップ1を吸着保持した吸着コレット3fを上昇させると、半導体チップ1はウェハシート5から完全に剥離する(剥がれる)。
As a result, the semiconductor chip 1 is easily peeled off from the
その結果、半導体チップ1をウェハシート5から吸着コレット3fによって取り出すことができる。
As a result, the semiconductor chip 1 can be taken out from the
その後、取り出した半導体チップ1をパッケージ基板2にダイボンド剤9を介して固定するダイボンディングを行う。
Thereafter, die bonding for fixing the taken-out semiconductor chip 1 to the
続いて、半導体チップ1のパッド1aとこれに対応するパッケージ基板2の接続端子2cとをワイヤ4によって電気的に接続するワイヤボンディングを行う。
Subsequently, wire bonding for electrically connecting the pads 1 a of the semiconductor chip 1 and the
その後、樹脂封止を行って封止体6を形成し、さらに、外部端子となるバンプ電極8を取り付けてBGA7の組み立て完了となる。
Thereafter, resin sealing is performed to form the sealing
なお、図8〜図10は、ニードル3aの先端部の種々の形状を示したものであり、図8は先端部の縁を小さな曲面で面取りしたもの、図9は先端部の縁を面取りしたもの、図10は先端部を半球面としたものである。
8 to 10 show various shapes of the tip portion of the
本実施の形態のピックアップ装置3では、ニードル3aは上昇とともにウェハシート5の裏面5bを横移動するため、その際のウェハシート5との摩擦を低減する上で図10に示す先端部が半球面のニードル3aが適している。この場合の半球面の大きさは、例えば、直径200μm程度である。ただし、ニードル3aの先端部の形状は、チップ突き上げ時にウェハシート5を突き破らない程度のものであれば、図10の形状に限定されるものではなく、図8や図9またはそれ以外の形状であってもよいことは言うまでもない。
In the
本実施の形態の半導体装置の製造方法およびそれに用いられる半導体製造装置では、チップピックアップ時に、ニードル3aによって半導体チップ1を突き上げながら、ニードル3aと突き上げ駒3dとから成るカム機構によりニードル3aを半導体チップ1の中心方向に移動させることにより、ニードル3aの横移動の機構を簡単なカム機構としたため、ニードル3aの横移動の制御を容易にすることができる。さらに、前記横移動のための構造が簡単なため、半導体装置の製造コストの低減化を図ることができる。
In the semiconductor device manufacturing method and the semiconductor manufacturing apparatus used therefor according to the present embodiment, at the time of chip pickup, the semiconductor chip 1 is pushed up by the
また、チップ突き上げ時、始めに半導体チップ1の外周から突き上げ、ニードル3aが上昇するにつれてニードル3aを半導体チップ1の中心方向に移動させるため、半導体チップ1の突き上げ時のロケーションを安定させることができる。
Further, when the chip is pushed up, the semiconductor chip 1 is first pushed up from the outer periphery, and the
その結果、ニードル3a上昇に伴う半導体チップ1とウェハシート5の接着面積11の低減化を安定して行うことができ、半導体チップ1のウェハシート5からの剥離を容易に、かつ安定して行うことができる。
As a result, it is possible to stably reduce the
また、チップピックアップ時の半導体チップ1のロケーションが安定しているため、チップ突き上げ時の隣り合った半導体チップ1との干渉も防ぐことができ、マイクロチップクラックなどの微小なチップ欠けも低減することができる。 Further, since the location of the semiconductor chip 1 at the time of chip pick-up is stable, it is possible to prevent interference with the adjacent semiconductor chip 1 when the chip is pushed up, and to reduce micro chip cracks such as micro chip cracks. Can do.
その結果、製品(BGA7)の信頼性を向上させることができる。 As a result, the reliability of the product (BGA 7) can be improved.
また、チップ突き上げ時にニードル3aが横移動して半導体チップ1の中心方向に向かって半導体チップ1とウェハシート5との接着面積11を少なくするため、半導体チップ1をウェハシート5から容易に剥がすことができ、吸着コレット3fによって半導体チップ1を真空吸着する際に、真空漏れの発生を防ぐことができる。
Further, when the chip is pushed up, the
その結果、吸着エラーを引き起こしにくくすることができ、半導体装置(BGA7)の製造性の向上を図ることができる。 As a result, it is possible to make it difficult to cause an adsorption error, and it is possible to improve the manufacturability of the semiconductor device (BGA 7).
以上、本発明者によってなされた発明を発明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記発明の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。 As mentioned above, the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments of the invention. However, the present invention is not limited to the embodiments of the invention, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. It goes without saying that it is possible.
例えば、前記実施の形態では、半導体製造装置がピックアップ装置3の場合を説明したが、前記半導体製造装置は、チップ突き上げ時にカム機構によってニードル3aの横移動を行える装置であれば、ダイボンダなどであってもよい。
For example, in the above-described embodiment, the case where the semiconductor manufacturing apparatus is the
また、前記実施の形態では、前記半導体製造装置を用いて組み立てられる半導体装置の一例として、BGA7を取り上げて説明したが、前記半導体装置は、前記半導体製造装置を用いて組み立てられるものであれば、BGA7に限定されるものではなく、その他の何れの半導体装置であってもよい。
Moreover, in the said embodiment, although BGA7 was picked up and demonstrated as an example of the semiconductor device assembled using the said semiconductor manufacturing apparatus, if the said semiconductor device is assembled using the said semiconductor manufacturing apparatus, The semiconductor device is not limited to the
本発明は、電子装置の製造および半導体製造技術に好適である。 The present invention is suitable for electronic device manufacturing and semiconductor manufacturing technology.
1 半導体チップ
1a パッド
1b 主面
1c 裏面
2 パッケージ基板
2a 主面
2b 裏面
2c 接続端子
3 ピックアップ装置(半導体製造装置)
3a ニードル(突き上げ針)
3b 支持部
3c 外周傾斜面
3d 突き上げ駒
3e 内周傾斜面
3f 吸着コレット
3g 架台
3h リニアモータ
4 ワイヤ
5 ウェハシート(粘着シート)
5a 表面(第1の主面)
5b 裏面(第2の主面)
6 封止体
7 BGA(半導体装置)
8 バンプ電極
9 ダイボンド剤
10 リング部材
11 接着面積
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor chip 1a Pad
3a Needle
5a Surface (first main surface)
5b Back surface (second main surface)
6 Sealing
8 Bump
Claims (5)
(a)前記粘着シートの前記半導体チップが固定された第1の主面と反対側の第2の主面側から、突き上げ針と前記突き上げ針を収容する突き上げ駒とによって前記半導体チップを突き上げて前記粘着シートから前記半導体チップを剥離し、前記半導体チップを取り出す工程と、
(b)前記取り出した半導体チップを用いて半導体装置を組み立てる工程とを有し、
前記(a)工程において前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げる際に、前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げながら、前記突き上げ針と前記突き上げ駒とから成るカム機構によって前記突き上げ針を前記半導体チップの中心方向に移動させることを特徴とする半導体装置の製造方法。 A semiconductor chip fixed on an adhesive sheet is peeled off from the adhesive sheet and taken out, and a semiconductor device manufacturing method assembled using this semiconductor chip,
(A) The semiconductor chip is pushed up from a second main surface side opposite to the first main surface to which the semiconductor chip is fixed of the adhesive sheet by a push-up needle and a push-up piece that accommodates the push-up needle. Peeling the semiconductor chip from the adhesive sheet and taking out the semiconductor chip;
(B) assembling a semiconductor device using the semiconductor chip taken out,
When the semiconductor chip is pushed up by the push-up needle in the step (a), the push-up needle is moved to the semiconductor chip by a cam mechanism comprising the push-up needle and the push-up piece while pushing up the semiconductor chip by the push-up needle. A method of manufacturing a semiconductor device, wherein the semiconductor device is moved in a central direction.
(a)前記粘着シートの前記半導体チップが固定された第1の主面と反対側の第2の主面側から、突き上げ針と前記突き上げ針を収容する突き上げ駒とによって前記半導体チップを突き上げて前記粘着シートから前記半導体チップを剥離し、前記半導体チップを取り出す工程と、
(b)前記取り出した半導体チップを用いて半導体装置を組み立てる工程とを有し、
前記(a)工程において前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げる際に、前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げながら、前記突き上げ駒の内周傾斜面によって前記突き上げ針の外周傾斜面を案内して前記突き上げ針を前記半導体チップの中心方向に移動させることを特徴とする半導体装置の製造方法。 A semiconductor chip fixed on an adhesive sheet is peeled off from the adhesive sheet and taken out, and a semiconductor device manufacturing method assembled using this semiconductor chip,
(A) The semiconductor chip is pushed up from a second main surface side opposite to the first main surface to which the semiconductor chip is fixed of the adhesive sheet by a push-up needle and a push-up piece that accommodates the push-up needle. Peeling the semiconductor chip from the adhesive sheet and taking out the semiconductor chip;
(B) assembling a semiconductor device using the semiconductor chip taken out,
When the semiconductor chip is pushed up by the push-up needle in the step (a), the push-up needle guides the outer peripheral inclined surface of the push-up needle by the inner peripheral inclined surface of the push-up piece while pushing up the semiconductor chip. A method of manufacturing a semiconductor device, characterized in that a needle is moved toward the center of the semiconductor chip.
(a)前記粘着シートの前記半導体チップが固定された第1の主面と反対側の第2の主面側から、突き上げ針と前記突き上げ針を収容する突き上げ駒とによって前記半導体チップを突き上げて前記粘着シートから前記半導体チップを剥離し、前記半導体チップを取り出す工程と、
(b)前記取り出した半導体チップを用いて半導体装置を組み立てる工程とを有し、
前記(a)工程において前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げる際に、吸着コレットで前記半導体チップを吸着した状態で前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げながら、前記突き上げ駒の内周傾斜面によって前記突き上げ針の外周傾斜面を案内して前記突き上げ針を前記半導体チップの中心方向に移動させることにより、前記粘着シートと前記半導体チップの接着面積を少なくして前記粘着シートから前記半導体チップを剥離させることを特徴とする半導体装置の製造方法。 A semiconductor chip fixed on an adhesive sheet is peeled off from the adhesive sheet and taken out, and a semiconductor device manufacturing method assembled using this semiconductor chip,
(A) The semiconductor chip is pushed up from a second main surface side opposite to the first main surface to which the semiconductor chip is fixed of the adhesive sheet by a push-up needle and a push-up piece that accommodates the push-up needle. Peeling the semiconductor chip from the adhesive sheet and taking out the semiconductor chip;
(B) assembling a semiconductor device using the semiconductor chip taken out,
When the semiconductor chip is pushed up by the push-up needle in the step (a), the push-up needle pushes up the semiconductor chip while the semiconductor chip is sucked by the suction collet, and the push-up piece pushes the semiconductor chip up by the inner peripheral inclined surface. By guiding the outer peripheral inclined surface of the needle and moving the push-up needle toward the center of the semiconductor chip, the adhesive area between the adhesive sheet and the semiconductor chip is reduced, and the semiconductor chip is peeled from the adhesive sheet. A method of manufacturing a semiconductor device.
(a)前記粘着シートの前記半導体チップが固定された第1の主面と反対側の第2の主面側から、4本の突き上げ針と前記4本の突き上げ針を収容する突き上げ駒とによって前記半導体チップを突き上げて前記粘着シートから前記半導体チップを剥離し、前記半導体チップを取り出す工程と、
(b)前記取り出した半導体チップを用いて半導体装置を組み立てる工程とを有し、
前記(a)工程において前記4本の突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げる際に、四角に配置された前記4本の突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げながら、前記突き上げ駒の内周傾斜面によって4本それぞれの前記突き上げ針の外周傾斜面を案内して前記4本の突き上げ針それぞれを前記半導体チップの中心方向に移動させることを特徴とする半導体装置の製造方法。 A semiconductor chip fixed on an adhesive sheet is peeled off from the adhesive sheet and taken out, and a semiconductor device manufacturing method assembled using this semiconductor chip,
(A) From the second main surface side opposite to the first main surface to which the semiconductor chip of the pressure-sensitive adhesive sheet is fixed, by four push-up needles and a push-up piece that accommodates the four push-up needles Pushing up the semiconductor chip, peeling the semiconductor chip from the adhesive sheet, and taking out the semiconductor chip;
(B) assembling a semiconductor device using the semiconductor chip taken out,
When the semiconductor chip is pushed up by the four push-up needles in the step (a), the semiconductor chip is pushed up by the four push-up needles arranged in a square, and four of the semiconductor chips are pushed by the inner peripheral inclined surface of the push-up piece. A method of manufacturing a semiconductor device, characterized by guiding an outer peripheral inclined surface of each push-up needle and moving each of the four push-up needles toward the center of the semiconductor chip.
内周傾斜面を有しており、前記突き上げ針を収容する筒状の突き上げ駒と、
突き上げられた前記半導体チップを取り出す吸着コレットとを有し、
前記粘着シートから前記半導体チップを剥離して取り出す際に、前記突き上げ針によって前記半導体チップを突き上げながら、前記突き上げ駒の前記内周傾斜面によって前記突き上げ針の前記外周傾斜面を案内して前記突き上げ針を前記半導体チップの中心方向に移動させて前記粘着シートから前記半導体チップを剥離させることを特徴とする半導体製造装置。 A push-up needle that has an outer peripheral inclined surface and pushes up a semiconductor chip fixed on the adhesive sheet;
A cylindrical push-up piece having an inner peripheral inclined surface and containing the push-up needle;
A suction collet for taking out the semiconductor chip pushed up;
When the semiconductor chip is peeled off and taken out from the adhesive sheet, the push-up needle guides the outer peripheral inclined surface of the push-up needle by the inner peripheral inclined surface of the push-up piece while pushing up the semiconductor chip by the push-up needle. Is moved in the center direction of the semiconductor chip to peel the semiconductor chip from the adhesive sheet.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003382449A JP2005150214A (en) | 2003-11-12 | 2003-11-12 | Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor manufacturing equipment used therefor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003382449A JP2005150214A (en) | 2003-11-12 | 2003-11-12 | Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor manufacturing equipment used therefor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005150214A true JP2005150214A (en) | 2005-06-09 |
Family
ID=34691517
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003382449A Pending JP2005150214A (en) | 2003-11-12 | 2003-11-12 | Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor manufacturing equipment used therefor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005150214A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015041777A (en) * | 2013-08-20 | 2015-03-02 | プロテック カンパニー リミテッドProtec Co., Ltd. | Fluorescent film pickup device for led chip |
CN107195576A (en) * | 2017-05-24 | 2017-09-22 | 广东瑞谷光网通信股份有限公司 | Chip XY movements, angle correct, Ding Qu mechanisms |
CN110660709A (en) * | 2019-08-30 | 2020-01-07 | 苏州均华精密机械有限公司 | Thin wafer separation method and apparatus |
TWI697967B (en) * | 2019-08-27 | 2020-07-01 | 均華精密工業股份有限公司 | Thin die separation method and apparatus thereof |
-
2003
- 2003-11-12 JP JP2003382449A patent/JP2005150214A/en active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015041777A (en) * | 2013-08-20 | 2015-03-02 | プロテック カンパニー リミテッドProtec Co., Ltd. | Fluorescent film pickup device for led chip |
CN107195576A (en) * | 2017-05-24 | 2017-09-22 | 广东瑞谷光网通信股份有限公司 | Chip XY movements, angle correct, Ding Qu mechanisms |
WO2018214389A1 (en) * | 2017-05-24 | 2018-11-29 | 广东瑞谷光网通信股份有限公司 | Chip xy-axis movement, angle correction and ejection mechanism |
CN107195576B (en) * | 2017-05-24 | 2020-05-05 | 广东瑞谷光网通信股份有限公司 | XY movement, angle correction and ejection mechanism for chip |
TWI697967B (en) * | 2019-08-27 | 2020-07-01 | 均華精密工業股份有限公司 | Thin die separation method and apparatus thereof |
CN110660709A (en) * | 2019-08-30 | 2020-01-07 | 苏州均华精密机械有限公司 | Thin wafer separation method and apparatus |
CN110660709B (en) * | 2019-08-30 | 2022-03-29 | 苏州均华精密机械有限公司 | Thin wafer separation method and apparatus |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101489054B1 (en) | Die bonder and pickup method and pickup device | |
JP5805411B2 (en) | Die bonder pickup method and die bonder | |
US8470130B2 (en) | Universal die detachment apparatus | |
KR100766512B1 (en) | Method and device of peeling semiconductor device | |
KR100438335B1 (en) | Pick-up device and method for semiconductor chip | |
JP4664150B2 (en) | Semiconductor device manufacturing method and semiconductor manufacturing apparatus | |
US8499813B2 (en) | System for separating a diced semiconductor die from a die attach tape | |
JP2010161155A (en) | Chip transfer method and chip transfer apparatus | |
JP2006128711A (en) | Semiconductor device and manufacturing method for the same | |
JP2007103826A (en) | Pickup device for semiconductor chip | |
JP2008103390A (en) | Manufacturing method of semiconductor device | |
JP2013034001A (en) | Die bonder, pickup method, and pickup device | |
JP2016152329A (en) | Chip pickup device and chip pickup method | |
JP2006005030A (en) | Method and apparatus for picking up semiconductor chip | |
JP2005150214A (en) | Method for manufacturing semiconductor device, and semiconductor manufacturing equipment used therefor | |
JP2012059829A (en) | Peeling device for semiconductor chip, die-bonding apparatus, peeling method for semiconductor chip, and method of manufacturing semiconductor device | |
JP4057875B2 (en) | Manufacturing method of semiconductor device | |
JP2013065628A (en) | Die bonder and die pickup device and die pickup method | |
JP5214739B2 (en) | Chip peeling method, semiconductor device manufacturing method, and chip peeling apparatus | |
JP4875263B2 (en) | Die bonding method | |
JP3208580B2 (en) | Die bonding method and semiconductor device manufacturing method | |
JPH08203962A (en) | Chip positioning equipment, chip stage, and inner lead bonding equipment and method | |
JPH11135574A (en) | Collet for ultrasonic bonding and bonding method | |
US20130344657A1 (en) | Package assembly using a carrier-free technique | |
KR100907185B1 (en) | Die attach equipment having a torque type plunger pin and die attach method thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061108 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090421 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090428 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090901 |