JP2005061949A - 電磁波測定暗箱 - Google Patents

電磁波測定暗箱 Download PDF

Info

Publication number
JP2005061949A
JP2005061949A JP2003291304A JP2003291304A JP2005061949A JP 2005061949 A JP2005061949 A JP 2005061949A JP 2003291304 A JP2003291304 A JP 2003291304A JP 2003291304 A JP2003291304 A JP 2003291304A JP 2005061949 A JP2005061949 A JP 2005061949A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electromagnetic wave
shield chamber
antenna
measurement
dark box
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003291304A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryoichi Hasumi
亮一 蓮見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
DEVICE CO Ltd
Original Assignee
DEVICE CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by DEVICE CO Ltd filed Critical DEVICE CO Ltd
Priority to JP2003291304A priority Critical patent/JP2005061949A/ja
Publication of JP2005061949A publication Critical patent/JP2005061949A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)

Abstract

【課題】 シールド室内の電磁界強度分布を均一にすると共に、不要反射波の影響を抑制して測定精度を向上させ、装置の小型化を可能とした電磁波測定暗箱を提供する。
【解決手段】 被試験用アンテナ3と測定用アンテナ4とをシールド室2内に設置して電磁波の放射特性又は受信特性を測定するための電磁波測定暗箱であって、前記シールド室2内部を球状に形成して内面全体に電磁波吸収体1を設けた。また、前記シールド室2空間を電波反射体8で覆い、多数の錐体1aからなる前記電磁波吸収体1を各錐体1aの中心軸線Pが前記シールド室2の略中心Oを指向するように設けた。
【選択図】 図1

Description

本発明は、被試験体の電磁波の放射特性又は受信特性を測定する電磁波測定暗箱に関し、特に、シールド室内の電磁界強度分布を均一にすると共に、不要反射波の影響を抑制して測定精度を向上させ、小型化を可能とした電磁波測定暗箱に関する。
従来の電磁波測定暗箱は、図7に示すように金属等で外部と電磁シールドされたシールド室2を平行六面体の形状に形成し、各内側面2a(壁面、天井、床)に多数の錐体1aからなる電磁波吸収体1を設けて安定した電磁波測定環境を形成しており、シールド室2の内部に被試験用アンテナ3と測定用アンテナ4とを設置して被試験用アンテナの電磁波の放射特性又は受信特性を測定するようにしている(例えば、特許文献1参照)。
特2002−107398号公報
しかし、このような従来の電磁波測定暗箱は、図7に示すようにシールド室2の内部が平行六面体の形状であり、各内側面2aに電磁波吸収体1の各錐体1aを、その中心軸線Pが各内側面2aに対して垂直となるように設けているため、図8に示すように錐体1aの中心軸線Pに対して斜めに入射する電磁波が多く存在することになる。
一般に、錐体状の電磁波吸収体1は、その錐体1aの正面で中心軸線P方向から入射する電磁波の入力インピーダンスを自由空間インピーダンスに整合させることにより反射を防ぎ、例えばポリウレタン等からなる電磁波吸収体1内に侵入した電磁波のエネルギーを内在するカーボンやフェライト等により熱損失に変換して吸収するようにしたものであり、電磁波の入射方向が電磁波吸収体1の中心軸線P方向からずれると、即ち電磁波の入射角度が増大するとインピーダンス整合が崩れ、電磁波の不要反射波が増大する。したがって、従来の平行六面体形状のシールド室2からなる電磁波測定暗箱においては、電磁波吸収体1表面における電磁波の不要反射波の影響は無視することができず、均一な電磁波強度分布を得ることができなかった。このため、被試験用アンテナ3の電磁波の測定精度を悪くしていた。
例えば、図9は、平行六面体形状のシールド室2内でダイポールアンテナの電磁波強度分布を測定したものである。具体的には、試験信号の周波数として2.4GHzを使用し、被試験用及び測定用のダイポールアンテナを互いに水平に配置した状態で両アンテナ間隔を300mm〜700mmまで等間隔で変化させて測定したものである。同図中矢印Aで示す部分の電磁波強度分布の乱れや、同図中矢印Bで示す部分の強度分布におけるディップの位置ずれや、同図中矢印Cで示す部分の強度分布が均等になっていない点は、不要反射波の影響によるものである。
このような場合、不要反射波の影響を抑制するためには、両アンテナ3,4間隔に対して各アンテナ3,4とシールド室2の内側面2aとの離隔距離を相対的に大きくすれば、電磁波の電磁波吸収体1に対する入射角度を小さくすることができ、不要反射波を低減することができる。しかし、この場合、シールド室2が大きくなってしまう問題がある。
そこで、本発明は上記問題点に着目してなされたもので、シールド室内の電磁界強度分布を均一にすると共に、不要反射波の影響を抑制して測定精度を向上させ、装置の小型化を可能とした電磁波測定暗箱を提供することを目的とする。
このために、請求項1の発明は、被試験体と測定用アンテナとをシールド室内に設置して電磁波の放射特性又は受信特性を測定するための電磁波測定暗箱であって、前記シールド室内部を球状に形成して内面全体に電磁波吸収体を設けた。
このような構成により、球状の内面全体に電磁波吸収体を設けて形成したシールド室内部で被試験体の電磁波の放射特性又は受信特性を測定する。
この場合、請求項2のように前記シールド室空間が電波反射体で覆われているようにするとよい。また、前記電磁波吸収体は、請求項3のように多数の錐体からなり、各錐体の中心軸線が前記シールド室の略中心を指向するように設けるとよい。
本発明の電磁波測定暗箱は、具体的には請求項4のように、前記被試験体及び測定用アンテナのいずれか一方を前記シールド室の略中心部に設置可能とし、他方をシールド室の周辺部に設置可能な構成とするとよい。この場合、請求項5のように前記シールド室の略中心部に設置した被試験体又は測定用アンテナを縦方向の回転軸回りに回転可能に構成してもよい。また、前記被試験体及び測定用アンテナは、請求項6のようにそれぞれ、前記シールド室の外部から中心に向かって延設された保持機構の先端部に保持される構成とするとよい。
ここで、請求項7のように、前記被試験体及び測定用アンテナのいずれか一方を保持して前記シールド室の周方向に移動可能に構成したポジショナーを一体的に備えてもよい。
請求項8の構成においては、シールド室を、縦方向に二分割して形成した半体を開閉可能な状態に連結して構成した。この場合、請求項9のように前記半体下部に移動用コロを設けるとよい。
また、前記シールド室は、請求項10のように電磁波反射体自体で形成してもよく、請求項11のように樹脂材料で形成し、内面全体に金属を付着形成してもよい。
本発明の電磁波測定暗箱によれば、シールド室内部を球状に形成し、その内面に多数の錐体からなる電磁波吸収体を、錐体の中心軸線がシールド室の略中心を指向するように設けたことにより、放射電磁波の電磁波吸収体表面における不要反射波を従来よりも抑制できるので、シールド室内の電磁波強度分布を均一にすることができる。したがって、電磁波測定精度が向上すると共に、シールド室内を小さくすることができ、電磁波測定暗箱の小型化を図ることができる。
また、シールド室空間を覆って電磁波吸収体を設けたことにより、外部からの不要電磁波の侵入を防止することができ、電磁波測定精度をより向上することができる。
さらに、被試験体及び測定用アンテナのいずれか一方をシールド室の略中心部に設置可能とすると共に縦方向の回転軸回りに回転可能とし、他方をシールド室の周辺部に設置可能としたことにより、二次元の放射電磁波特性を測定することができる。
そして、シールド室の外部から中心に向かって延設された保持機構の先端部に各アンテナを保持する構成としたことにより、保持機構による不要反射波の発生を抑制することができ、電磁波測定精度を向上することができる。
また、シールド室の中心部に被試験体及び測定用アンテナのいずれか一方を設置し、他方をシールド室と一体的に形成したポジショナーにより周方向に移動可能に構成したことにより、一方の被試験体又は測定用アンテナを回転すれば球状の放射電磁波特性を測定することができる。
さらに、縦方向に二分割して形成した半体を開閉可能な状態に連結してシールド室を構成したことにより、被試験体及び測定用アンテナの取付け及び交換作業が容易になる。
そして、各半体の下部に移動用コロを設けたことにより、シールド室の開閉操作が容易になり、被試験体及び測定用アンテナの取付け及び交換作業をより容易に行うことができる。
また、シールド室を電磁波反射体自体で形成すれば、球形状の半体を金属板の絞り加工で形成することができ、電磁波反射体を別途取り付ける作業が省略できて製造が容易となる。
そして、シールド室を樹脂材料で形成し、電磁波反射体を金属メッキや蒸着等により形成すれば、樹脂成型加工することができ、軽量化及び製造の容易化を図ることができる。
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、図7と同一の要素については、同一符号を用いて示す。
図1に、本発明に係る電磁波測定暗箱の第1実施形態の断面図を示す。
図1において、本第1実施形態の電磁波測定暗箱は、例えばアンテナの電磁波の放射特性及び受信特性を測定するものであり、球形のシールド室2と、電磁波吸収体1とを備えて構成する。そして、シールド室2の内部に被試験用アンテナ3及び測定用アンテナ4を設置するための保持機構6,7を備えて被試験用アンテナ4の電磁波特性の測定を可能にしている。なお、ここでは、被試験用アンテナ3を送信アンテナとし、測定用アンテナ4を受信アンテナとした場合を例に説明する。
上記シールド室2は、安定な電磁波測定環境を形成するためのものであり、金属等の電磁波反射体8で球状に形成し、外部から不要な電磁波が室内に侵入するのを防止すると共に、アンテナから放射される放射電磁波がシールド室2外に漏れないようにしている。そして、図2に示すように縦方向に二分割して形成した半体としての半球体2a,2bを蝶番9で開閉可能な状態に連結して構成しており、各半球体2a,2bの下部に移動用コロ10a,10bを設けて開閉操作を容易にしている。なお、シールド室2は、電磁波反射体8自体で形成されたものに限られず、少なくともシールド室2の空間を覆って電磁波反射体8が設けられていればよく、例えばプラスチック等の樹脂材料で形成したカプセルの内面全体に電磁波反射体8を金属メッキ又は蒸着等により形成してもよい。また、電磁波反射体8は、軟磁性体を非磁性導体で挟んだサンドウィッチ構造の複合体であってもよい。
また、上記シールド室2の電磁波反射体8の内側面8aには、電磁波吸収体1が設けられている。この電磁波吸収体1は、入射した放射電磁波を吸収して不要反射波の発生を抑制するものであり、例えばカーボンやフェライトを含有したポリウレタン等からなる円錐や角錐等の錐体1aを、その中心軸線Pがシールド室2の略中心Oを指向するように設けている。
さらに、上記シールド室2の内部には、保持機構6,7が配設されている。このうち保持機構6は、例えば被試験体としての被試験用アンテナ3をシールド室2の略中心部Oに設置して保持するものであり、シールド室2の上下方向で外部から中心に向かって延設されている。この保持機構6は、例えば樹脂製の筒の内部に発泡体の電磁波吸収体を収容した構成をなしており、下端部を回転手段11に回転可能に保持されて図1中縦方向の回転軸回りに被試験用アンテナ3を回転させて、円周方向の二次元の電磁波強度分布の測定を可能としている。そして、信号配線12によりシールド室2の外部に配置した信号発生器13と被試験用アンテナ3とを接続し、試験用信号を被試験用アンテナ3に供給できるようにしている。なお、保持機構6の発泡体からなる電磁波吸収体の下部には、例えば上記電磁波吸収体1と同一材料からなる電磁波吸収体を埋設してもよい。これにより、保持機構6の中心軸方向の電磁波を効率よく吸収して不要反射波の発生を抑制することができる。また保持機構6の外周面にも電磁波吸収体1と同一材料からなる電磁波吸収体を設けてもよい。これにより、保持機構6における電磁波の不要反射波の発生をより一層抑制することができる。
また、上記保持機構7は、例えば測定用アンテナ4を先端部に保持するものであり、シールド室2の外部から中心に向かって延設されている。この保持機構7は、上記保持機構6と同様の構成を有しており、後端部をシールド室2の外側面に一体的に設けたポジショナー14に支持され、常時被試験用アンテナ3を指向させて測定用アンテナ4を保持できるようになっている。そして、ポジショナー14に対応してシールド室2の側面に図示省略のスリットを、被試験用アンテナ3を含む縦方向の面内で周方向に形成し、保持機構7が半周移動可能とされ、被試験用アンテナ3の回転と相まって球面状の電磁波強度分布の測定ができるようにしている。ここで、上記スリットの両側には、このスリット上を覆うようにはみ出してフレキシブルなシート状の電磁波吸収体が設けられ、スリット部における不要反射波の発生を防止すると共に、保持機構7を移動自由にしている。なお、フレキシブルな電磁波吸収体は、上記シート状のものに限られず、スリットに沿って保持機構7の自由な移動を確保すると共に、スリット部における電磁波の不要反射を防止することができればいかなるものであってもよい。さらに、保持機構7は、被試験用アンテナ3と測定用アンテナ4との間隔Dを調整できるように伸縮自在に設けられている。上記間隔Dは、手動により調整してもよく、また保持機構7の伸縮動作を自動制御可能として外部から自動調整してもよい。そして、信号配線15によりシールド室2の外部に配置したスペクトルアナライザーやネットワークアナライザー等の分析装置16と測定用アンテナ4とを接続している。
上記各保持機構6,7に設置される各アンテナ3,4は、上述とは逆であってもよい。この場合、保持機構6側に分析装置16が接続され、保持機構7側に信号発生器13が接続される。また、ポジショナー14は、シールド室2の外側面ではなく内側面に設けてもよい。
次に、このように構成された第1実施形態に係る電磁波測定暗箱の動作を、図1〜図5を参照して説明する。
先ず、図2に示すシールド室2の移動用コロ10a,10bのうち、例えば移動用コロ10bを固定し、移動用コロ10aを移動可能な状態にしておく。
次に、移動用コロ10aと一体的に半球体2aを移動してシールド室2を開き、回転手段11に保持された保持機構6に被試験用アンテナ3を設置すると共に、ポジショナー14に支持された保持機構7に測定用アンテナ4を設置する。このとき、同時に保持機構7を伸縮させて被試験用アンテナ3と測定用アンテナ4との間隔Dを手動又は自動により所定値に設定する。
各アンテナ3,4の設置が完了すると、半球体2aを上述とは反対方向に移動してシールド室2を閉じる。そして、図1に示すように保持機構6側に信号発生器13を接続し、保持機構7側に分析装置16を接続して被試験用アンテナの電磁波強度分布の測定準備が完了する。
次に、回転手段11を駆動して被試験用アンテナ3を図1中縦方向の回転軸回りに回転する。そして、信号発生器13から所定の試験用信号を発生して信号線12により被試験用アンテナ3に供給する。このとき、ポジショナー14により保持機構7を水平位置に固定して測定すると被試験用アンテナ3の水平方向の放射磁界強度分布が測定される。この場合、シールド室2の球状の内側面に電磁波吸収体1を、各錐体1aの中心軸線Pがシールド室2の略中心Oを指向するように設けているため、図3に示すように中心部Oに設置された被試験用アンテナ3から放射される電磁波は、いずれの方向においても各錐体1aの中心軸線P方向に略一致する。これにより、電磁波の入力インピーダンスと自由空間インピーダンスとが整合して不要反射波の発生が抑制される。
図4及び図5は第1実施形態に係る電磁波測定暗箱により測定したダイポールアンテナの電磁波強度分布を示したものである。図4は試験信号周波数として2GHzを適用したものであり、図5は2.4GHZを適用したものである。そして、共に被試験用及び測定用のダイポールアンテナを互いに水平位置に配置し、両アンテナ間隔Dを300mm〜700mmまで等間隔で変化させて測定した結果を示している。
図4及び図5に示されているように第1実施形態の電磁波測定暗箱によれば、図9に示す従来の箱型電波暗室2による測定結果におけるような電磁波強度分布の乱れや、アンテナ間隔を変化させたときの強度分布におけるディップの位置ずれや、強度分布が均等にならない等の不要反射波の影響は現れず、不要反射波が抑制されて測定精度が向上している。
次に、図1に示すポジショナー14を駆動して保持機構7を所定のステップで半周移動し、各ステップにおける電磁波強度分布を測定する。これにより被試験用アンテナ3の回転と相まって球面状の放射電磁波の強度分布が測定できる。
このように、第1実施形態の電磁波測定暗箱によれば、シールド室2の内部を球状に形成し、その内側面に電磁波吸収体1を、錐体1aの中心軸線Pがシールド室2の略中心Oを指向するように設けたことにより、被試験用アンテナ3と測定用アンテナ4との間隔Dに関係なく不要反射波の発生を抑制することができる。したがって、シールド室内の電磁波強度分布を均一にすることができる。これにより、電磁波強度分布の測定精度を向上することができると共に、シールド室2を小型化することができる。
また、シールド室2の外部から中心に向かって延設された保持機構6,7の先端部に各アンテナ3,4を保持する構成としたことにより、保持機構6,7における不要反射波の発生を抑制することができ、電磁波測定精度を向上することができる。
さらに、シールド室2の中心部Oに被試験用アンテナ3を設置し、測定用アンテナ4をシールド室2の外側面に設けたポジショナー14により常時被試験用アンテナ3を指向した状態で半周移動可能に構成したことにより、被試験用アンテナ3の回転と相まって放射電磁波の強度分布を球状に測定することができる。
さらにまた、シールド室2を縦方向の面で分割して半球体2a,2bとし、それぞれ蝶番9により開閉自在に連結したことにより、各アンテナ3,4の取付け及び交換作業が容易にできる。
そして、各半球体2a,2bの下部に移動用コロ10a,10bを設けたことにより、シールド室2の開閉動作が容易にできる。
次に、本発明の第2実施形態を、図6を参照して説明する。ここでは、図1と同一の要素には同一符号を付して示し、第1実施形態と異なる部分について説明する。
図6の本第2実施形態においては、保持機構6がシールド室2の外側面から略中心部に向かって水平に延設されている。この保持機構6は、先端部に被試験用アンテナ3を縦方向(同図中上下方向)軸回りに回転可能に保持する保持部16を備え、後端部には駆動用モータ17を備えており、保持部16と駆動用モータ17とをベルト18で連結して駆動用モータ16の回転力を保持部16に伝達するようにしている。
このように構成した第2実施形態の電磁波測定暗箱は、第1実施形態と同様の効果を奏する。
なお、ポジショナー14は、図6に示すようにシールド室2の球状内部を半周するように形成したものに限られず、保持機構6の中心軸線に直交し、被試験用アンテナ3の回転軸を含む面内で周回するように設けてもよい。これによっても、球面状の電磁波特性を測定することができる。
また、上述のいずれの実施形態においても被試験用アンテナ3を送信アンテナとし、測定用アンテナ4を受信アンテナとしたが、この逆であってもよい。
さらに、シールド室2の外形は、本実施形態では球状としたが、内部が球状であれば外形はいかなる形状であってもよい。
そして、本発明の電磁波測定暗箱において、被試験体はアンテナに限られず、電磁波を発するものであればいかなるものであってもよい。
本発明による電磁波測定暗箱の第1実施形態を示す断面図である。 第1実施形態のシールド室を開いた状態を示す正面図である。 第1実施形態における電磁波吸収体の錐体に対する電磁波の入射方向を示す説明図である。 第1実施形態において、周波数2GHzの電磁波に対するダイポールアンテナの電磁波強度分布の測定結果を示す説明図である。 第1実施形態において、周波数2.4GHzの電磁波に対するダイポールアンテナの電磁波強度分布の測定結果を示す説明図である。 本発明による電磁波測定暗箱の第2実施形態を示す断面図である。 従来の箱型電波暗室の構成を示す断面図である。 従来の箱型電波暗室における電磁波吸収体の錐体に対する電磁波の入射方向を示す説明図である。 従来の箱型電波暗室における周波数2.4GHzの電磁波に対するダイポールアンテナの電磁波強度分布の測定結果を示す説明図である。
符号の説明
1…電磁波吸収体
1a…錐体
2…シールド室
2a,2b…半球体
3…被試験用アンテナ
4…測定用アンテナ
6,7…保持機構
8…電磁波反射体
8a…内側面
10a,10b…移動用コロ

Claims (11)

  1. 被試験体と測定用アンテナとをシールド室内に設置して電磁波の放射特性又は受信特性を測定するための電磁波測定暗箱であって、
    前記シールド室内部を球状に形成して内面全体に電磁波吸収体を設けたことを特徴とする電磁波測定暗箱。
  2. 前記シールド室空間が電波反射体で覆われていることを特徴とする請求項1に記載の電磁波測定暗箱。
  3. 前記電磁波吸収体は、多数の錐体からなり、各錐体の中心軸線が前記シールド室の略中心を指向するように設けられたことを特徴とする請求項1又は2に記載の電磁波測定暗箱。
  4. 前記被試験体及び測定用アンテナのいずれか一方を前記シールド室の略中心部に設置可能とし、他方をシールド室の周辺部に設置可能な構成としたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の電磁波測定暗箱。
  5. 前記シールド室の略中心部に設置した被試験体又は測定用アンテナを縦方向の回転軸回りに回転可能に構成したことを特徴とする請求項4に記載の電磁波測定暗箱。
  6. 前記被試験体及び測定用アンテナは、それぞれ、前記シールド室の外部から中心に向かって延設された保持機構の先端部に保持される構成としたことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の電磁波測定暗箱。
  7. 前記被試験体及び測定用アンテナのいずれか一方を保持して前記シールド室の周方向に移動可能に構成したポジショナーを一体的に備えたことを特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の電磁波測定暗箱。
  8. 前記シールド室を、縦方向に二分割して形成した半体を開閉可能な状態に連結して構成したことを特徴とする請求項1〜7のいずれか一つに記載の電磁波測定暗箱。
  9. 前記半体の下部に移動用コロを設けたことを特徴とする請求項8に記載の電磁波測定暗箱。
  10. 前記シールド室は、電磁波反射体自体で形成されたことを特徴とする請求項1〜9のいずれか一つに記載の電磁波測定暗箱。
  11. 前記シールド室は、樹脂材料で形成され、内面全体に金属を付着形成したことを特徴とする請求項1〜9のいずれか一つに記載の電磁波測定暗箱。
JP2003291304A 2003-08-11 2003-08-11 電磁波測定暗箱 Pending JP2005061949A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003291304A JP2005061949A (ja) 2003-08-11 2003-08-11 電磁波測定暗箱

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003291304A JP2005061949A (ja) 2003-08-11 2003-08-11 電磁波測定暗箱

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005061949A true JP2005061949A (ja) 2005-03-10

Family

ID=34369024

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003291304A Pending JP2005061949A (ja) 2003-08-11 2003-08-11 電磁波測定暗箱

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005061949A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102175927A (zh) * 2011-01-11 2011-09-07 北京科环世纪电磁兼容技术有限责任公司 电磁场强测量***及用于其的方法
JP5018885B2 (ja) * 2007-07-30 2012-09-05 株式会社村田製作所 電磁波測定装置
JP2013539046A (ja) * 2010-10-08 2013-10-17 サティモ インダストリーズ 物体の電磁波試験をするための装置
CN103812585A (zh) * 2012-11-13 2014-05-21 深圳市鼎立方无线技术有限公司 暗室
US8823593B2 (en) 2010-08-16 2014-09-02 Fujitsu Limited Antenna characteristic measuring system and antenna characteristic measuring method
CN109061323A (zh) * 2018-07-23 2018-12-21 电子科技大学 一种采用球面幅度扫描的近场天线测量方法
CN112805574A (zh) * 2018-09-19 2021-05-14 阿莫技术有限公司 天线性能测试仪

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59119277A (ja) * 1982-12-27 1984-07-10 Hitachi Ltd 電場測定用球殻
JPH01208897A (ja) * 1988-02-16 1989-08-22 Kajima Corp 電波無響室
JPH01280399A (ja) * 1988-05-06 1989-11-10 Kajima Corp 電波無響室
JPH01280398A (ja) * 1988-05-06 1989-11-10 Kajima Corp 電波無響室
JPH0221699A (ja) * 1988-07-08 1990-01-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材
JPH05187076A (ja) * 1992-01-13 1993-07-27 Shimizu Corp 球体の磁気シールドルーム及びその構築法
JPH06249899A (ja) * 1993-02-23 1994-09-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電磁界分布推定方式
JPH1078465A (ja) * 1996-09-03 1998-03-24 Ando Electric Co Ltd シールドボックス
JP2000111598A (ja) * 1998-09-29 2000-04-21 Korea Electronics Telecommun 直線型結合伝送線路セル
JP2002252491A (ja) * 2000-12-21 2002-09-06 Toshiba Corp シールドケース、その製造方法、及び電子機器
JP2003043083A (ja) * 2001-07-27 2003-02-13 Murata Mfg Co Ltd 電磁波測定装置およびアンテナポジショナ
WO2003012465A1 (en) * 2001-07-27 2003-02-13 Advantest Corporation Electromagnetic wave measuring apparatus
JP2003057281A (ja) * 2001-08-20 2003-02-26 Murata Mfg Co Ltd 電波暗室、放射電磁波測定システムおよび放射電磁波の測定方法

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59119277A (ja) * 1982-12-27 1984-07-10 Hitachi Ltd 電場測定用球殻
JPH01208897A (ja) * 1988-02-16 1989-08-22 Kajima Corp 電波無響室
JPH01280399A (ja) * 1988-05-06 1989-11-10 Kajima Corp 電波無響室
JPH01280398A (ja) * 1988-05-06 1989-11-10 Kajima Corp 電波無響室
JPH0221699A (ja) * 1988-07-08 1990-01-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材
JPH05187076A (ja) * 1992-01-13 1993-07-27 Shimizu Corp 球体の磁気シールドルーム及びその構築法
JPH06249899A (ja) * 1993-02-23 1994-09-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電磁界分布推定方式
JPH1078465A (ja) * 1996-09-03 1998-03-24 Ando Electric Co Ltd シールドボックス
JP2000111598A (ja) * 1998-09-29 2000-04-21 Korea Electronics Telecommun 直線型結合伝送線路セル
JP2002252491A (ja) * 2000-12-21 2002-09-06 Toshiba Corp シールドケース、その製造方法、及び電子機器
JP2003043083A (ja) * 2001-07-27 2003-02-13 Murata Mfg Co Ltd 電磁波測定装置およびアンテナポジショナ
WO2003012465A1 (en) * 2001-07-27 2003-02-13 Advantest Corporation Electromagnetic wave measuring apparatus
JP2003057281A (ja) * 2001-08-20 2003-02-26 Murata Mfg Co Ltd 電波暗室、放射電磁波測定システムおよび放射電磁波の測定方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5018885B2 (ja) * 2007-07-30 2012-09-05 株式会社村田製作所 電磁波測定装置
US8823593B2 (en) 2010-08-16 2014-09-02 Fujitsu Limited Antenna characteristic measuring system and antenna characteristic measuring method
JP2013539046A (ja) * 2010-10-08 2013-10-17 サティモ インダストリーズ 物体の電磁波試験をするための装置
US9267967B2 (en) 2010-10-08 2016-02-23 Satimo Industries Device for the electromagnetic testing of an object
CN102175927A (zh) * 2011-01-11 2011-09-07 北京科环世纪电磁兼容技术有限责任公司 电磁场强测量***及用于其的方法
CN103812585A (zh) * 2012-11-13 2014-05-21 深圳市鼎立方无线技术有限公司 暗室
CN109061323A (zh) * 2018-07-23 2018-12-21 电子科技大学 一种采用球面幅度扫描的近场天线测量方法
CN109061323B (zh) * 2018-07-23 2020-12-29 电子科技大学 一种采用球面幅度扫描的近场天线测量方法
CN112805574A (zh) * 2018-09-19 2021-05-14 阿莫技术有限公司 天线性能测试仪

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0217515Y2 (ja)
JP4957726B2 (ja) アンテナ特性測定装置およびアンテナ特性測定方法
US20030003883A1 (en) Method and apparatus for testing and evaluating wireless communication devices
CN110190914B (zh) 用于飞行器抗干扰卫星接收机测试的屏蔽装置
CN112425002B (zh) 用于天线阵列远程无线电控制的近场天线
US11754609B2 (en) Temperature test apparatus and temperature test method
US10746775B1 (en) Testing system and method with multiple antennas
CN106936524B (zh) 无线终端的测试***
JP2005061949A (ja) 電磁波測定暗箱
JP2021536002A (ja) アンテナシステム用の改良された測定装置
US7190301B2 (en) Radio frequency anechoic chamber with nonperturbing wireless signalling means
KR101038352B1 (ko) 전자파 측정장치
JP2007101445A (ja) 電子機器検査方法および電子機器検査装置
JP6145074B2 (ja) 携帯型無線機器用の電磁シールド装置
CN113156224A (zh) 一种ota测试暗室
JP3691590B2 (ja) シールドボックス
JP2008153475A (ja) 電波暗室
JP2009141983A (ja) 全方向性を有する誘電体レンズを用いたアンテナ装置。
KR20100103111A (ko) 이동통신 단말기 안테나의 방사특성 측정 장치 및 이에 장착되는 포지셔너
JP2016213673A (ja) 電子機器
CN214375029U (zh) 紧缩场天线测试***
JP5577300B2 (ja) 無線端末のアンテナ反射損測定方法および測定装置
JP2007134869A (ja) アンテナ収納ボックス
US20180048073A1 (en) Distortionless antenna design and method
JP2004101300A (ja) 電磁波測定装置及び電磁波測定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060524

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080424

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080507

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080909